JP4859019B2 - X-ray diffractometer - Google Patents

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、X線を用いて試料を解析するX線回折装置に関する。   The present invention relates to an X-ray diffraction apparatus for analyzing a sample using X-rays.

一般に、X線回折装置では、試料にX線を照射すると共に該試料で回折したX線をX線検出器によって検出するという測定が行われる。このような測定を行うにあたっては、通常、オペレータによって複数の測定条件が所定の値又は所定の範囲に設定される。測定条件としては、例えば、測定軸としてどの軸を選択するかとか、回折角度の何度から何度までを測定範囲にするかとか、何度の角度ステップ幅で回折角度を走査するかとか、どの程度の速さの走査速度で回折角度を走査するか、等といった条件が考えられる。   In general, in an X-ray diffractometer, measurement is performed such that a sample is irradiated with X-rays and X-rays diffracted by the sample are detected by an X-ray detector. In performing such measurement, usually, a plurality of measurement conditions are set to a predetermined value or a predetermined range by an operator. The measurement conditions include, for example, which axis is selected as the measurement axis, how many times the diffraction angle is set to the measurement range, how many times the diffraction angle is scanned with an angular step width, Conditions such as the scanning speed at which the diffraction angle is scanned can be considered.

このようにX線回折装置において測定条件を設定する際、測定条件を入力するための画像をディスプレイの画面上に表示する技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。このX線回折装置によれば、オペレータが入力画面を視認しながらマウス等といった入力装置を操作することにより、測定条件を所望の値又は範囲に設定できる。   As described above, when setting measurement conditions in an X-ray diffraction apparatus, a technique for displaying an image for inputting measurement conditions on a screen of a display is known (for example, see Patent Document 1). According to this X-ray diffractometer, the measurement condition can be set to a desired value or range by operating an input device such as a mouse while the operator visually recognizes the input screen.

特開平11−237348号公報(第3頁、図2)JP 11-237348 A (page 3, FIG. 2)

しかしながら、上記従来の入力画像に関しては、測定条件を入力するための欄又は領域は表示されるものの、その測定条件に関する説明は表示されなかった。このため、入力不可能な数値を誤って入力してしまうことがあった。そして、このような誤りを避けるためにはX線回折装置の取扱説明書を参照する必要があった。   However, regarding the conventional input image, although the column or region for inputting the measurement condition is displayed, the explanation about the measurement condition is not displayed. For this reason, a numerical value that cannot be input may be erroneously input. And in order to avoid such an error, it was necessary to refer to the instruction manual of the X-ray diffractometer.

また、従来のX線回折装置の画面表示において、測定条件を入力するための欄又は領域の近傍に、その測定条件に関する説明を常に表示させるようにした画面表示技術が知られている。この従来の技術では、入力領域が増えるほど測定条件の説明のための表示が増えることになるので、画面表示が見難くなると共に、画面表示の面積が大きくなるという問題があった。   Also, a screen display technique is known in which, in the screen display of a conventional X-ray diffractometer, an explanation regarding the measurement condition is always displayed in the vicinity of a column or region for inputting the measurement condition. In this conventional technique, as the input area increases, the display for explaining the measurement conditions increases, and thus there is a problem that the screen display becomes difficult to see and the area of the screen display increases.

本発明は、上記の問題点に鑑みて成されたものであって、測定条件に関する説明を表示装置の画面上でオペレータに提示することができ、しかも、その提示を行う場合でも画面が見難くなることのないX線回折装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and it is possible to present an explanation regarding measurement conditions to an operator on the screen of a display device, and even when the presentation is performed, the screen is difficult to see. It is an object of the present invention to provide an X-ray diffraction apparatus that does not become.

本発明に係るX線回折装置は、(1)複数の移動系の連動によって規定される測定軸を含む複数の測定軸を有すると共にそれら複数の測定軸のうちの1つを選択してその測定軸を基準としてX線要素を移動させて測定を行う測定手段と、(2)画像データに基づいて画面上に画像を表示する表示手段と、(3)該表示手段の画面内の領域を指定して入力を行う入力手段と、(4)前記1つの測定軸を選択するための入力を行うための測定軸入力領域、その1つの測定軸を基準とする前記X線要素の走査速度を入力するための走査速度入力領域、及び走査のステップ幅を入力するためのステップ幅入力領域の3つの領域を含む入力用画像の画像データを生成し、その画像データを前記表示手段へ供給し、該表示手段の画面上に前記入力用画像を表示させる入力用画像生成表示手段と、(5)複数の移動系の連動によって規定される前記測定軸の1つが前記入力手段によって指示され、さらに前記入力手段によって前記走査速度が入力されたときに、前記ステップ幅入力領域に入力できるステップ幅の値の有効範囲を、指示された前記1つの測定軸を規定する前記複数の移動系及び入力された前記走査速度に応じて演算によって決める有効範囲データ生成手段と、(6)該有効範囲データ生成手段によって決められたステップ幅の有効範囲の値を含む画像の画像データを生成し、その画像データを前記表示手段へ供給し、前記入力手段によって前記ステップ幅入力領域が指示された後の所定時間だけ前記表示手段の画面上に前記測定軸入力領域及び前記ステップ幅入力領域と同時にステップ幅の有効範囲を表示させる有効範囲用画像生成表示手段とを有することを特徴とする。   The X-ray diffractometer according to the present invention has (1) a plurality of measurement axes including a measurement axis defined by the interlocking of a plurality of moving systems, and one of the plurality of measurement axes is selected and measured. Measuring means for measuring by moving an X-ray element with respect to an axis, (2) Display means for displaying an image on a screen based on image data, and (3) Designating an area in the screen of the display means And (4) a measurement axis input region for performing input for selecting the one measurement axis, and a scanning speed of the X-ray element with reference to the one measurement axis. Generating image data of an input image including three areas of a scanning speed input area for inputting a step width input area for inputting a scanning step width, and supplying the image data to the display means, The input image is displayed on the screen of the display means. (5) When one of the measurement axes defined by the interlocking of a plurality of moving systems is instructed by the input means, and the scanning speed is input by the input means The effective range data for determining the effective range of the step width value that can be input to the step width input area by calculation according to the plurality of moving systems that specify the specified one measurement axis and the input scanning speed (6) generating image data of an image including a value of the effective range of the step width determined by the effective range data generating unit, supplying the image data to the display unit, and the input unit On the screen of the display means for a predetermined time after the step width input area is instructed, the step and the step width input area are simultaneously displayed on the screen. And having an effective range image generating display means for displaying the effective range of up width.

上記構成において、「測定軸」とは、測定を行う際にその測定の基準となる軸のことである。X線回折装置にはX線源、試料支持装置、X線検出装置、その他、種々のX線要素が含まれる。また、これらのX線要素を測定のために駆動する各種の駆動系、すなわち移動系も含まれる。上記の測定軸はこの駆動系の1つずつによって実現される場合もあるし、複数の駆動系の動作の組合せによって1つの測定軸が実現されることもある。   In the above configuration, the “measurement axis” is an axis that is a reference for measurement when performing measurement. The X-ray diffractometer includes an X-ray source, a sample support device, an X-ray detector, and various other X-ray elements. Further, various drive systems that drive these X-ray elements for measurement, that is, moving systems are also included. The above measurement axes may be realized by one of these drive systems, or one measurement axis may be realized by a combination of operations of a plurality of drive systems.

上記構成において、「測定手段」は、例えば、X線を放射するX線源、そのX線を試料へ導く入射側光学系、試料を支持する試料支持装置、試料で回折したX線をX線検出器へ導く受光側光学系、そしてX線を検出するX線検出器等といったX線要素をそれぞれに所定の位置に配置することによって形成できる。   In the above configuration, the “measuring means” includes, for example, an X-ray source that emits X-rays, an incident-side optical system that guides the X-rays to the sample, a sample support device that supports the sample, and X-rays diffracted by the sample. It can be formed by arranging X-ray elements such as a light receiving side optical system that leads to a detector and an X-ray detector that detects X-rays at predetermined positions.

「表示手段」は、例えば、CRT(Cathode Ray Tube)を用いたディスプレイ、液晶表示装置等といったフラットパネルディスプレイを用いたディスプレイ、その他任意の構造で画像を表示する表示装置によって構成できる。また、「入力手段」は、例えば、キーボード、マウス等といった入力装置を含んで構成される。   The “display means” can be configured by, for example, a display using a CRT (Cathode Ray Tube), a display using a flat panel display such as a liquid crystal display device, or any other display device that displays an image with an arbitrary structure. The “input unit” includes an input device such as a keyboard and a mouse.

また、「入力用画像生成表示手段」、「有効範囲データ生成手段」、及び「有効範囲用画像生成表示手段」は、例えば、コンピュータの演算機能及び制御機能を実現するCPU(Central Processing Unit)や、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、ハードディスク等といった記憶媒体や、それらを機能実現手段として機能させるアプリケーションソフトや、表示手段に適した画像信号を生成して供給する画像信号処理回路等を組み合わせて構成できる。   Further, the “input image generation / display unit”, “effective range data generation unit”, and “effective range image generation / display unit” include, for example, a CPU (Central Processing Unit) that realizes a calculation function and a control function of a computer. , RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), hard disk and other storage media, application software that allows them to function as function realizing means, and image signal processing that generates and supplies image signals suitable for display means A circuit or the like can be combined.

「有効範囲データ生成手段」は、例えば、測定軸として2θ軸が選択されたときにはその2θ軸に適合する有効範囲を決定し、測定軸としてω軸が選択されたときにはそのω軸に適合する有効範囲を決定し、また、測定軸として2θ/ω軸が選択されたときにはその2θ/ω軸に適合する有効範囲を決定する。決定の仕方としては、例えば、アプリケーションソフトの中に演算式を記憶させておいて、逐次、演算によって決定する方法が考えられる。また、データテーブルを用いて決定する方法を採用することもできる。   “Effective range data generation means” determines, for example, an effective range that fits the 2θ axis when the 2θ axis is selected as the measurement axis, and an effective fit that matches the ω axis when the ω axis is selected as the measurement axis. The range is determined, and when the 2θ / ω axis is selected as the measurement axis, an effective range that matches the 2θ / ω axis is determined. As a method of determination, for example, a method of storing an arithmetic expression in application software and sequentially determining by calculation is conceivable. A method of determining using a data table can also be employed.

上記構成のX線回折装置によれば、入力用画像生成表示手段によって入力用画像を表示手段の画面上に表示すると共に、入力手段によって画面内の領域を指示できるようにしたので、オペレータは測定手段に関する測定条件を画面を見ながら設定できる。   According to the X-ray diffraction apparatus having the above configuration, the input image generation and display means displays the input image on the screen of the display means, and the input means can indicate the area in the screen. Measurement conditions related to the means can be set while viewing the screen.

また、入力値に関する有効範囲の画像は、入力手段によって入力領域が指示された後の所定時間だけ画面上に表示されるだけで、入力領域が指示されないときにはその画像を表示しないので、すなわち有効範囲の画像はポップアップ表示されるので、入力用画像の通常時の画面は簡単な表示内容とすることができ、それ故、通常時の画面が見難くなることを防止できる。   Further, the image of the effective range related to the input value is only displayed on the screen for a predetermined time after the input area is instructed by the input means, and the image is not displayed when the input area is not instructed, that is, the effective range. Since the image is displayed in a pop-up, the normal screen of the input image can have simple display contents, and therefore it is possible to prevent the normal screen from becoming difficult to see.

また、入力手段によって測定軸の1つが指示され、さらに入力手段によって走査速度が入力されたときに、前記ステップ幅入力領域に入力できるステップ幅の値の有効範囲を、前記1つの測定軸及び前記走査速度に応じて演算によって決めると共に、その有効範囲を前記有効範囲用画像生成表示手段によって前記表示手段の画面上に表示するようにしたので、オペレータは有効範囲を計算等によって自分自身で決める必要なく、画面に表示された有効範囲を参考にして適正なステップ幅をステップ幅入力領域へ入力できる。   In addition, when one of the measurement axes is instructed by the input unit and the scanning speed is further input by the input unit, an effective range of step width values that can be input to the step width input area is defined as the one measurement axis and the one of the measurement axes. Since the effective range is determined on the screen of the display means by the effective range image generation and display means, the operator needs to determine the effective range by calculation or the like. Instead, an appropriate step width can be input to the step width input area with reference to the effective range displayed on the screen.

次に、本発明に係るX線回折装置において、前記有効範囲データ生成手段は、前記有効範囲に加えて、(1)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動するときの設定可能な角度走査最小ステップ幅、(2)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸に沿って平行移動するときの設定可能な距離走査最小ステップ幅、(3)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動するか、又は当該1つの測定軸に沿って平行移動するときの設定可能な最低走査速度、(4)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動することによって行われる測定の際の時間あたりの角度値で示される最高走査速度、及び(5)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸に沿って平行移動することによって行われる測定の際の時間あたりの距離値で示される最高走査速度の(1)から(5)の少なくとも1つ又はそれらの少なくとも2つの組合せを演算によって決めることができる。この構成によれば、測定手段に関する測定条件をオペレータが入力する際の操作を、より一層簡単且つ適切に行うことができるようになる。   Next, in the X-ray diffraction apparatus according to the present invention, in addition to the effective range, the effective range data generating means (1) the X-ray element rotates and moves around the designated one measurement axis. Settable angle scanning minimum step width when, (2) settable distance scanning minimum step width when the X-ray element is translated along the designated one measurement axis, (3) X-ray A minimum scan speed that can be set when an element rotates around the indicated single measurement axis or translates along the single measurement axis; (4) the X-ray element is indicated; A maximum scanning speed indicated by an angle value per time during a measurement performed by rotating around one measurement axis, and (5) the X-ray element is along the one measurement axis indicated. By moving in parallel At least one thereof or a combination of at least two of the highest scanning speed indicated by the distance value per time from (1) (5) at the time of measurement can be determined by calculation to be. According to this configuration, the operation when the operator inputs measurement conditions relating to the measurement means can be performed more easily and appropriately.

次に、本発明に係るX線回折装置において、前記複数の移動系の連動によって規定される複数の測定軸は、(1)X線発生系が試料を見込む角度θsを変化させるためのθs移動系とX線検出手段が試料を見込む角度θdを変化させるためのθd移動系との連動によって規定される軸であって、入射X線に対する回折角度2θを規定する2θ軸か、(2)前記θs移動系と前記θd移動系とをθd=2θ−θsのように連動させたときのθsと同じ値の軸であって、試料に入射するX線の入射角度ωを規定するω軸か、(3)前記θs移動系と前記θd移動系との連動によって規定される軸であって、試料に入射するX線の入射角度ωと試料で回折するX線の回折角度2θとを連動して変化させる際の基準となる2θ/ω軸か、のいずれかであることが望ましい。   Next, in the X-ray diffraction apparatus according to the present invention, the plurality of measurement axes defined by the interlocking of the plurality of movement systems are (1) θs movement for changing the angle θs at which the X-ray generation system looks at the sample. An axis defined by the interlocking of the system and the θd moving system for changing the angle θd at which the X-ray detection means looks at the sample, and the 2θ axis that defines the diffraction angle 2θ with respect to the incident X-ray, (2) an axis having the same value as θs when the θs moving system and the θd moving system are interlocked as θd = 2θ−θs, and the ω axis that defines the incident angle ω of X-rays incident on the sample, (3) An axis defined by the interlocking of the θs moving system and the θd moving system, wherein the X-ray incident angle ω incident on the sample and the X-ray diffraction angle 2θ diffracted by the sample are interlocked. It is desirable to use either the 2θ / ω axis, which is a reference for changing.

以下、本発明に係るX線回折装置を一実施形態を例示して説明する。なお、本発明がその実施形態に限定されるものでないことは、もちろんである。
図1は、本発明に係るX線回折装置の一実施形態を示している。このX線回折装置1は、適宜の物質を試料として測定を行う測定装置2と、キーボード、マウス等によって構成される入力装置3と、表示手段としての画像表示装置4と、印刷手段としてのプリンタ6と、CPU(Central Processing Unit)7と、RAM(Random Access Memory)8と、ROM(Read Only Memory)9と、外部記憶媒体としてのハードディスク11とを有する。これらの要素はバス12によって互いにつながれている。
Hereinafter, an X-ray diffraction apparatus according to the present invention will be described by exemplifying an embodiment. Of course, the present invention is not limited to the embodiment.
FIG. 1 shows an embodiment of an X-ray diffraction apparatus according to the present invention. The X-ray diffractometer 1 includes a measuring device 2 that measures an appropriate substance as a sample, an input device 3 that includes a keyboard, a mouse, and the like, an image display device 4 as a display unit, and a printer as a printing unit. 6, a CPU (Central Processing Unit) 7, a RAM (Random Access Memory) 8, a ROM (Read Only Memory) 9, and a hard disk 11 as an external storage medium. These elements are connected to each other by a bus 12.

画像表示装置4は、CRTディスプレイ、液晶ディスプレイ等といった画像表示機器によって構成されており、画像制御回路13によって生成される画像信号に従って画面上に画像を表示する。画像制御回路13はこれに入力される画像データに基づいて画像信号を生成する。画像制御回路13に入力される画像データは、CPU7、RAM8、ROM9及びハードディスク11を含んで構成されるコンピュータによって実現される各種の演算手段の働きによって形成される。プリンタ6は、インクプロッタ、ドットプリンタ、インクジェットプリンタ、静電転写プリンタ、その他任意の構造の印刷用機器を用いることができる。なお、ハードディスク11は、光磁気ディスク、半導体メモリ、その他任意の構造の記憶媒体によって構成することもできる。   The image display device 4 is configured by an image display device such as a CRT display or a liquid crystal display, and displays an image on a screen according to an image signal generated by the image control circuit 13. The image control circuit 13 generates an image signal based on the image data input thereto. The image data input to the image control circuit 13 is formed by the operation of various arithmetic means realized by a computer including the CPU 7, RAM 8, ROM 9 and hard disk 11. As the printer 6, an ink plotter, a dot printer, an ink jet printer, an electrostatic transfer printer, or any other printing apparatus having an arbitrary structure can be used. The hard disk 11 can also be configured by a magneto-optical disk, a semiconductor memory, or any other storage medium having an arbitrary structure.

ハードディスク11の内部には、本実施形態に係るX線回折装置1の全般的な動作を司る分析用アプリケーションソフト16と、測定装置2を用いた測定処理の動作を司る測定用アプリケーションソフト17と、画像表示装置4を用いた表示処理の動作を司る表示用アプリケーションソフト18とが格納されている。これらのアプリケーションソフトは、必要に応じてハードディスク11から読み出されてRAM8へ転送された後に所定の機能を実現する。また、ハードディスク11の内部には、測定装置2によって求められた各種の測定データを記憶するためのデータファイル19が設けられている。   Inside the hard disk 11, analysis application software 16 that controls the overall operation of the X-ray diffraction apparatus 1 according to the present embodiment, measurement application software 17 that controls the operation of the measurement process using the measurement apparatus 2, and Stored is display application software 18 that controls the operation of display processing using the image display device 4. These application software implement predetermined functions after being read from the hard disk 11 and transferred to the RAM 8 as necessary. In addition, a data file 19 for storing various measurement data obtained by the measurement device 2 is provided in the hard disk 11.

データファイル19の中に複数の測定データを記憶するためのファイル管理方法としては、個々の測定データを個別のファイル内に格納する方法も考えられるが、本実施形態では、図1(a)に示すように、複数の測定データを1つのデータファイル19内に連続して格納することにしている。なお、図1(a)において「条件」と記載された記憶領域は、測定データが得られたときの測定条件を記憶するための領域である。   As a file management method for storing a plurality of measurement data in the data file 19, a method of storing individual measurement data in individual files is also conceivable. In the present embodiment, FIG. As shown, a plurality of measurement data are stored continuously in one data file 19. Note that the storage area described as “condition” in FIG. 1A is an area for storing measurement conditions when measurement data is obtained.

このような測定条件としては、(1)測定対象物質名、(2)測定装置の種類、(3)何度から何度までの測定温度範囲、(4)測定開始時刻、(5)測定終了時刻、(6)何度から何度までの測定角度範囲、(7)走査移動系の移動速度、(8)走査条件、(9)試料に入射するX線の種類、(10)試料高温装置等といったアタッチメントを使ったか否か、その他の各種の条件が考えられる。   Such measurement conditions include (1) the name of the substance to be measured, (2) the type of measuring device, (3) the measurement temperature range from how many times to (4) the measurement start time, and (5) the measurement end. Time, (6) Measurement angle range from time to time, (7) Moving speed of the scanning movement system, (8) Scanning conditions, (9) Type of X-ray incident on the sample, (10) Sample high temperature apparatus Various other conditions are conceivable, such as whether or not an attachment such as is used.

測定装置2としては、例えば、図2に示す装置を用いることにする。この測定装置2は、測定対象である試料Sを支持する試料支持装置21と、X線を発生するX線源22と、X線を検出するX線検出器23とを有する。X線源22と試料Sとの間には、例えば単結晶材料によって形成されたモノクロメータ24が設けられている。X線検出器23は、例えば、ゼロ次元カウンタであるSC(Scintillation Counter)によって構成できる。この測定装置2は、粉末試料の解析や、単結晶試料の解析や、単結晶の薄膜試料の解析を行うことができる。   As the measuring device 2, for example, the device shown in FIG. 2 is used. The measuring device 2 includes a sample support device 21 that supports a sample S to be measured, an X-ray source 22 that generates X-rays, and an X-ray detector 23 that detects X-rays. A monochromator 24 made of, for example, a single crystal material is provided between the X-ray source 22 and the sample S. The X-ray detector 23 can be configured by, for example, an SC (Scintillation Counter) that is a zero-dimensional counter. The measuring device 2 can analyze a powder sample, a single crystal sample, and a single crystal thin film sample.

X線源22は、例えば、加熱されて熱電子を放出する陰極、すなわちフィラメントと、フィラメントから出た熱電子が高速で衝突する対陰極、すなわちターゲットとを用いて構成できる。フィラメントから出た熱電子がターゲットに衝突する領域がX線焦点であり、このX線焦点からX線が放射される。熱電子が衝突するターゲットの表面は、例えば銅(Cu)によって形成することができ、この場合には、CuKαの特性線を含んだ連続X線がX線焦点から放出される。なお、X線焦点からは、断面点状のX線、いわゆるポイントフォーカスのX線を取り出すこともできるし、あるいは、断面長方形状のX線、いわゆるラインフォーカスのX線を取り出すこともできる。   The X-ray source 22 can be configured using, for example, a cathode that is heated and emits thermoelectrons, that is, a filament, and a counter cathode that collides the thermoelectrons emitted from the filament at high speed, that is, a target. The region where the thermoelectrons emitted from the filament collide with the target is the X-ray focal point, and X-rays are emitted from this X-ray focal point. The surface of the target on which the thermal electrons collide can be formed by, for example, copper (Cu). In this case, continuous X-rays including CuKα characteristic lines are emitted from the X-ray focal point. From the X-ray focal point, it is possible to take out a cross-sectional X-ray, so-called point-focused X-ray, or a cross-sectional rectangular X-ray, so-called line-focused X-ray.

X線源22及びモノクロメータ24を含んだX線発生系20はTs移動系25によって支持される。また、Ts移動系25はθs移動系26によって支持される。また、θs移動系26は、試料Sを通る水平軸線X0を中心としてX線発生系20を回転させることにより、X線源22から出射してモノクロメータ24で単色化されたX線の水平線X0に対する出射角度θsを調整するための移動系である。なお、X線発生系20はモノクロメータ24を含まない構成とすることができる。そしてこの場合には、X線発生系20から出射するX線の出射角度θsはX線源22から出射するX線の出射角度ということになる。また、Ts移動系25は、X線発生系20から出て試料Sへ入射するX線の光軸に対して直角の方向Tsに沿ってX線発生系20の位置を微調整するための移動系である。   An X-ray generation system 20 including an X-ray source 22 and a monochromator 24 is supported by a Ts moving system 25. The Ts moving system 25 is supported by the θs moving system 26. Further, the θs moving system 26 rotates the X-ray generation system 20 around the horizontal axis line X0 passing through the sample S, whereby the X-ray horizontal line X0 emitted from the X-ray source 22 and monochromatized by the monochromator 24 is obtained. This is a moving system for adjusting the emission angle θs with respect to. The X-ray generation system 20 can be configured not to include the monochromator 24. In this case, the X-ray emission angle θs emitted from the X-ray generation system 20 is the X-ray emission angle emitted from the X-ray source 22. Further, the Ts moving system 25 is a movement for finely adjusting the position of the X-ray generating system 20 along the direction Ts perpendicular to the optical axis of the X-ray that exits the X-ray generating system 20 and enters the sample S. It is a system.

X線源22から出たX線はモノクロメータ24へ照射される。モノクロメータ24はωM1 移動系28に支持されている。このωM1 移動系28は、モノクロメータ24へ入射するX線の入射角度ωMを調整するための移動系である。モノクロメータ24はX線源22から放射された連続X線から自らの材質に対応した特性X線を回折して出射する。モノクロメータ24は、例えばCuKαを回折によって出射し、この回折線はスリットS1を通って試料Sへ入射する。   X-rays emitted from the X-ray source 22 are irradiated to the monochromator 24. The monochromator 24 is supported by the ωM 1 moving system 28. The ωM1 moving system 28 is a moving system for adjusting the incident angle ωM of X-rays incident on the monochromator 24. The monochromator 24 diffracts and emits characteristic X-rays corresponding to its own material from continuous X-rays emitted from the X-ray source 22. For example, the monochromator 24 emits CuKα by diffraction, and the diffraction line enters the sample S through the slit S1.

試料Sを支持する試料支持装置21は、試料Sを垂直方向(すなわち、Z方向)へ平行移動させるZ移動系31と、そのZ移動系31によって支持されたφ移動系32と、そのφ移動系32によって支持されたあおり移動系33とを有する。試料Sは直接的には、あおり移動系33によって支持されている。φ移動系32は、試料Sを直角方向に横切る軸線であるφ軸線を中心として試料Sを矢印φのように回転、いわゆる面内回転させる移動系である。   The sample support device 21 that supports the sample S includes a Z movement system 31 that translates the sample S in the vertical direction (that is, the Z direction), a φ movement system 32 supported by the Z movement system 31, and the φ movement. And a tilting movement system 33 supported by the system 32. The sample S is directly supported by the tilt movement system 33. The φ moving system 32 is a moving system that rotates the sample S as indicated by an arrow φ around the φ axis that is an axis that crosses the sample S in a perpendicular direction, that is, a so-called in-plane rotation.

あおり移動系33は試料Sを矢印Rx及び矢印Ryのように揺動運動、いわゆるあおり移動させるための移動系である。ここで、あおり移動Rxは試料Sに入射するX線に対して横方向のあおり移動である。また、あおり移動Ryは試料Sに入射するX線に沿った方向のあおり移動である。次に、Z移動系31は試料Sを垂直方向(すなわち、Z方向)へ平行移動させるための移動系である。   The tilt moving system 33 is a moving system for swinging the sample S as indicated by arrows Rx and Ry, that is, so-called tilt moving. Here, the tilt movement Rx is a tilt movement in the horizontal direction with respect to the X-rays incident on the sample S. The tilt movement Ry is a tilt movement in the direction along the X-ray incident on the sample S. Next, the Z movement system 31 is a movement system for translating the sample S in the vertical direction (that is, the Z direction).

試料SにX線が入射した場合、入射X線と試料Sとの間で回折条件、いわゆるブラッグ条件が満足されると、X線が試料Sで回折する。この回折線は受光スリットS2に集光して該スリットS2を通過した後、X線検出器23によって検出される。スリットS3は不要なX線がX線検出器23に取り込まれることを防止するためのスリットである。X線検出器23はθd移動系37によって支持されている。このθd移動系37はX線検出器23の入射X線に対する角度2θを調整するためにX線検出器23を水平軸線X0を中心として回転させるための移動系である。   When X-rays are incident on the sample S, the X-rays are diffracted by the sample S when a diffraction condition between the incident X-rays and the sample S, that is, a so-called Bragg condition is satisfied. The diffracted rays are condensed on the light receiving slit S2 and pass through the slit S2, and then detected by the X-ray detector 23. The slit S <b> 3 is a slit for preventing unnecessary X-rays from being taken into the X-ray detector 23. The X-ray detector 23 is supported by a θd moving system 37. The θd moving system 37 is a moving system for rotating the X-ray detector 23 about the horizontal axis X0 in order to adjust the angle 2θ with respect to the incident X-ray of the X-ray detector 23.

本実施形態に係る測定装置2は複数の測定軸を持っている。この測定軸とは、X線発生系20、試料S、X線検出器23等といった要素を単独で又は連動させて移動させるときの基準となる軸のことである。これらの測定軸に関しては、上記の各移動系のうちの1つの単独の動作によって実現される測定軸もあるし、上記の各移動系のうちの複数の連動によって実現される測定軸もある。以下、これらの測定軸について説明する。   The measuring apparatus 2 according to the present embodiment has a plurality of measuring axes. The measurement axis is an axis that serves as a reference when the elements such as the X-ray generation system 20, the sample S, the X-ray detector 23, and the like are moved alone or in conjunction with each other. With respect to these measurement axes, there are measurement axes that are realized by a single operation of each of the above-described moving systems, and there are measurement axes that are realized by a plurality of interlocks of each of the above-described moving systems. Hereinafter, these measurement axes will be described.

(1)θs軸
この測定軸は、X線発生系20が試料Sを見込む角度θsを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、θs移動系26が作動してX線発生系20を回転移動させるときの基準となる回転軸のことである。
(1) θs axis This measurement axis is a measurement axis when the angle θs at which the X-ray generation system 20 looks at the sample S is changed. This measurement axis is a rotation axis that serves as a reference when the θs moving system 26 operates to rotate the X-ray generation system 20.

(2)θd軸
この測定軸は、X線検出器23が試料Sを見込む角度θdを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、θd移動系37が作動してX線検出器23を回転移動させるときの基準となる回転軸のことである。
(2) θd axis This measurement axis is a measurement axis when the angle θd at which the X-ray detector 23 looks at the sample S is changed. This measurement axis is a rotation axis that serves as a reference when the θd moving system 37 is operated to rotate the X-ray detector 23.

(3)Rx軸
この測定軸は、試料Sのあおり角度Rxを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、あおり移動系(Rx)が作動して試料SをRx方向へあおり移動させるときの基準となる回転軸のことである。
(3) Rx axis This measurement axis is a measurement axis when the tilt angle Rx of the sample S is changed. This measurement axis is a rotation axis that serves as a reference when the tilt movement system (Rx) operates to tilt the sample S in the Rx direction.

(4)Ry軸
この測定軸は、試料Sのあおり角度Ryを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、あおり移動系(Ry)が作動して試料SをRy方向へあおり移動させるときの基準となる回転軸のことである。
(4) Ry axis This measurement axis is a measurement axis when the tilt angle Ry of the sample S is changed. This measurement axis is a rotation axis that serves as a reference when the tilt movement system (Ry) operates to tilt the sample S in the Ry direction.

(5)Z軸
この測定軸は、試料Sを垂直方向(すなわち、上下方向)へ平行移動させるときの測定軸である。この測定軸は、Z移動系31が作動して試料Sを垂直方向、すなわちZ方向へ平行移動させるときの基準となる軸のことである。
(5) Z axis This measurement axis is a measurement axis when the sample S is translated in the vertical direction (that is, the vertical direction). This measurement axis is an axis that serves as a reference when the Z moving system 31 operates to translate the sample S in the vertical direction, that is, in the Z direction.

(6)φ軸
この測定軸は、試料Sを面内回転させるときの測定軸である。この測定軸は、φ移動系32が作動して試料Sを垂直軸線φを中心として回転移動させるときの基準となる軸のことである。
(6) φ axis This measurement axis is a measurement axis when the sample S is rotated in-plane. This measurement axis is an axis that serves as a reference when the φ moving system 32 operates to rotate the sample S about the vertical axis φ.

(7)2θ軸
この測定軸は、試料Sに入射するX線に対する回折X線の成す角度2θを規定する測定軸である。回折角度2θは2θ=θs+θdによって決まる値であり、θs移動系26とθd移動系37との連動によって決まる値である。
(7) 2θ axis This measurement axis is a measurement axis that defines the angle 2θ formed by the diffracted X-rays with respect to the X-rays incident on the sample S. The diffraction angle 2θ is a value determined by 2θ = θs + θd, and a value determined by the interlocking of the θs moving system 26 and the θd moving system 37.

(8)ω軸
この測定軸は、試料Sに入射するX線の入射角度ωを規定する軸である。ω軸はθs軸と同じ測定軸のように感じられるが、角度θsはθs移動系26の単独の動作によって規定される角度であるのに対し、角度ωは回折角度2θを保持したまま、その値を変化させなければならない。すなわち、角度θsはθs移動系26の単独の動作によって変化させることができるのに対し、角度ωはθs移動系26とθd移動系37とを、θd=2θ−θsとなるように連動させることにより変化させることができる。このように動かしたとき、角度ωは角度θsに一致する。このような事情から、ω測定軸とθs測定軸とは互いに異なった測定軸として存在する。
(8) ω-axis This measurement axis is an axis that defines the incident angle ω of X-rays incident on the sample S. While the ω axis feels like the same measurement axis as the θs axis, the angle θs is an angle defined by a single operation of the θs moving system 26, whereas the angle ω maintains the diffraction angle 2θ, The value must be changed. That is, the angle θs can be changed by a single operation of the θs moving system 26, while the angle ω links the θs moving system 26 and the θd moving system 37 so that θd = 2θ−θs. Can be changed. When moved in this way, the angle ω coincides with the angle θs. For these reasons, the ω measurement axis and the θs measurement axis exist as different measurement axes.

(9)2θ/ω軸
この測定軸は、X線入射角度ωとX線回折角度2θとを互いに連動して変化させる際の基準となる軸である。この2θ/ω軸を基準とする角度値は、θs移動系26とθd移動系37との連動によって決まる値である。
(9) 2θ / ω axis This measurement axis is a reference axis when the X-ray incident angle ω and the X-ray diffraction angle 2θ are changed in conjunction with each other. The angle value with reference to the 2θ / ω axis is a value determined by the interlocking of the θs moving system 26 and the θd moving system 37.

図2の測定装置2に関しては、上記複数の測定軸のそれぞれについて、測定可能な有効範囲が決まっている。この有効範囲は、装置の機械的な構成や、その他の種々の要因によって決まるものである。以下、この有効範囲がどのようにして決められるかを、論理軸であるω軸を例に挙げて説明する。
図8(a)においてθs=θd=5°に設定されている。つまり、2θ=10°に設定されている。このとき、ω=5°である。この状態から、図8(b)に示すように2θ=10°に保ったままでωを0°にすると、θsは5°から0°に変化し、θdは5°から10°に変化する。
With respect to the measuring apparatus 2 in FIG. 2, the measurable effective range is determined for each of the plurality of measuring axes. This effective range depends on the mechanical configuration of the apparatus and various other factors. Hereinafter, how the effective range is determined will be described by taking the ω axis as a logical axis as an example.
In FIG. 8A, θs = θd = 5 ° is set. That is, 2θ = 10 ° is set. At this time, ω = 5 °. From this state, when ω is set to 0 ° while maintaining 2θ = 10 ° as shown in FIG. 8B, θs changes from 5 ° to 0 °, and θd changes from 5 ° to 10 °.

また、図8(c)において、機械的な構造上の理由からθsの有効範囲は−1.5°から77°に決められる。このため、ωの低角度側の限界、すなわちローリミットは−1.5°になる。2θ=10°に保ったままでω=−1.5°にする場合を考えると、θsは0°から−1.5°に変化し、θdは10°から11.5°に変化する。   In FIG. 8C, the effective range of θs is determined from −1.5 ° to 77 ° for mechanical structural reasons. Therefore, the lower angle limit of ω, that is, the low limit is −1.5 °. Considering the case where ω = −1.5 ° while maintaining 2θ = 10 °, θs changes from 0 ° to −1.5 °, and θd changes from 10 ° to 11.5 °.

次に、図8(d)において、機械的な構造上の理由からθdの有効範囲は−5°から120°に決められる。このため、ωの高角度側の限界、すなわちハイリミットは15°になる。2θ=10°に保ったままでω=15°にする場合を考えると、θsは−1.5°から15°に変化し、θdは11.5°から−5°に変化する。   Next, in FIG. 8D, the effective range of θd is determined from −5 ° to 120 ° for mechanical structural reasons. Therefore, the limit on the high angle side of ω, that is, the high limit is 15 °. Considering a case where ω = 15 ° while keeping 2θ = 10 °, θs changes from −1.5 ° to 15 °, and θd changes from 11.5 ° to −5 °.

以上より、測定装置2の現状が2θ=10°になっている場合を考えれば、ωの有効範囲は−1.5°から15°ということになる。現在のX線回折装置の分野では、測定装置2の初期状態は2θ=10°に設定されることが多い。つまり、測定装置2の電源をONにすると、装置は自動的に2θ=10°の状態に移動してその位置に停止して待機するという初期制御が行われることが多い。   From the above, considering the case where the current state of the measuring apparatus 2 is 2θ = 10 °, the effective range of ω is −1.5 ° to 15 °. In the field of the current X-ray diffraction apparatus, the initial state of the measurement apparatus 2 is often set to 2θ = 10 °. That is, when the power of the measuring device 2 is turned on, initial control is often performed in which the device automatically moves to a state of 2θ = 10 °, stops at that position, and stands by.

以上の説明は測定装置2が2θ=10°に設定されている場合のものであるが、次に、測定装置2が2θ=0°に設定されている場合について図9を用いて考える。図9(a)においてθs=θd=0°に設定されている。つまり、2θ=ω=0°に設定されている。   The above description is for the case where the measuring device 2 is set to 2θ = 10 °. Next, the case where the measuring device 2 is set to 2θ = 0 ° will be considered with reference to FIG. In FIG. 9A, θs = θd = 0 ° is set. That is, 2θ = ω = 0 ° is set.

次に、図9(b)において、機械的な構造上の理由からθsの有効範囲は−1.5°から77°に決められる。このため、ωの低角度側の限界、すなわちローリミットは−1.5°になる。2θ=0°に保ったままでωを−1.5°にすると、θsは0°から−1.5°に変化し、θdは0°から1.5°に変化する。   Next, in FIG. 9B, the effective range of θs is determined from −1.5 ° to 77 ° for mechanical structural reasons. Therefore, the lower angle limit of ω, that is, the low limit is −1.5 °. When ω is set to −1.5 ° while maintaining 2θ = 0 °, θs changes from 0 ° to −1.5 °, and θd changes from 0 ° to 1.5 °.

次に、図9(c)において、機械的な構造上の理由からθd の有効範囲は−5°から120°に決められる。このため、ωの高角度側の限界、すなわちハイリミットは5°になる。2θ=0°に保ったままでω=5°にする場合を考えると、θsは−1.5°から5°に変化し、θdは1.5°から−5°に変化する。以上より、測定装置2の現状が2θ=0°になっている場合を考えれば、ωの有効範囲は−1.5°から5°ということになる。   Next, in FIG. 9C, the effective range of θd is determined from -5 ° to 120 ° for mechanical structural reasons. Therefore, the limit on the high angle side of ω, that is, the high limit is 5 °. Considering the case where ω = 5 ° while maintaining 2θ = 0 °, θs changes from −1.5 ° to 5 °, and θd changes from 1.5 ° to −5 °. From the above, considering the case where the current state of the measuring apparatus 2 is 2θ = 0 °, the effective range of ω is −1.5 ° to 5 °.

次に、図10(a)において、2θはθsとθdとの成す角度である。また、角度ωは角度2θを一定に保った状態の角度θsである。つまり、角度ωは、図10(a)及び図10(b)に示すように、角度θsと角度θdとが1:−1で連動して動く場合の角度である。   Next, in FIG. 10A, 2θ is an angle formed by θs and θd. The angle ω is an angle θs in a state where the angle 2θ is kept constant. That is, as shown in FIGS. 10A and 10B, the angle ω is an angle when the angle θs and the angle θd move in association with each other at 1: -1.

上記のように、測定にあたってどの測定軸を選定するかに応じて図2のどの移動系を選択して作動させるかが決まる。また、選定した測定軸に対応して入力可能な有効測定範囲が決まる。このような測定軸と移動系との関係、及び測定軸と有効測定範囲との関係は、例えば、図1のハードディスク11内の適宜の記憶領域に、例えばデータテーブルの形で記憶されている。また、所定の記憶領域に数式を記憶しておき、その数式を用いて上記の有効測定範囲を求めても良い。   As described above, which moving system in FIG. 2 is selected and operated is determined according to which measurement axis is selected in the measurement. Also, the effective measurement range that can be input is determined according to the selected measurement axis. The relationship between the measurement axis and the moving system and the relationship between the measurement axis and the effective measurement range are stored, for example, in the form of a data table in an appropriate storage area in the hard disk 11 of FIG. Further, a mathematical expression may be stored in a predetermined storage area, and the above effective measurement range may be obtained using the mathematical expression.

なお、既述の説明から理解されるように、2θ軸、ω軸、2θ/ω軸の各軸は、これらの各軸を基準とするX線要素の移動量に応じて、その他の測定軸を基準としてX線要素が移動できる範囲、すなわち移動有効範囲が変化するものである。一方、θs軸、θd軸、Rx軸、Ry軸、Z軸、及びφ軸の各軸を基準としてX線要素が移動できる移動有効範囲は他の軸に連動することなく独自に決まる範囲である。   As can be understood from the above description, each axis of the 2θ axis, the ω axis, and the 2θ / ω axis has other measurement axes depending on the movement amount of the X-ray element with reference to these axes. Is a range in which the X-ray element can move, that is, a moving effective range changes. On the other hand, the effective movement range in which the X-ray element can move with reference to the axes of θs axis, θd axis, Rx axis, Ry axis, Z axis, and φ axis is a range uniquely determined without being linked to other axes. .

図2に示す測定装置2は、以上に例示した複数の測定軸のいずれか1つを選択して測定を行うことができる。以下、上記構成より成るX線回折装置1の動作を図3に示すフローチャートに基づいて説明する。図1の入力装置3を介してオペレータによってスタートの指示が成されると、分析用アプリケーション16が起動して図3のステップS1において、図4のメインフレーム41が図1の画像表示装置4の画面上に表示される。   The measurement apparatus 2 shown in FIG. 2 can perform measurement by selecting any one of the plurality of measurement axes exemplified above. Hereinafter, the operation of the X-ray diffraction apparatus 1 having the above configuration will be described with reference to the flowchart shown in FIG. When the start instruction is given by the operator via the input device 3 in FIG. 1, the analysis application 16 is activated, and in step S1 in FIG. 3, the main frame 41 in FIG. 4 is connected to the image display device 4 in FIG. Displayed on the screen.

このメインフレーム41において、符号46は状態表示画面である。この状態表示画面46の「名称」の欄に表示されたθs,θd,2θ/ω,φ,Z,Rx,Ry,S,Ts,ω,2θ,ωM1は、ぞれぞれ、以上に説明したθs軸,θd軸,2θ/ω軸,φ軸,Z軸,Rx軸,Ry軸,S軸,Ts軸,ω軸,2θ軸,ωM1軸の各測定軸を示している。そして、「状態」は、図2の測定装置2がそれらの各測定軸に関して現在どのような状態に設定されているかを表示する。例えば、2θ軸に関して2θ=0°に設定されていれば、2θに対応する「状態」欄には「0°」の数値が表示される。また、2θ軸に関して2θ=10°に設定されていれば、2θに対応する「状態」欄には「10°」の数値が表示される。   In the main frame 41, reference numeral 46 is a status display screen. The θs, θd, 2θ / ω, φ, Z, Rx, Ry, S, Ts, ω, 2θ, and ωM1 displayed in the “name” column of the status display screen 46 are described above. The measurement axes of θs axis, θd axis, 2θ / ω axis, φ axis, Z axis, Rx axis, Ry axis, S axis, Ts axis, ω axis, 2θ axis, and ωM1 axis are shown. The “state” indicates what state the measuring apparatus 2 in FIG. 2 is currently set with respect to each of those measurement axes. For example, if 2θ = 0 ° is set for the 2θ axis, a numerical value “0 °” is displayed in the “status” column corresponding to 2θ. If 2θ = 10 ° is set for the 2θ axis, a value of “10 °” is displayed in the “status” column corresponding to 2θ.

メインフレーム41を見たオペレータは、測定を開始する前に図2の測定装置2内の各光学要素の初期位置を調整することができる。この初期位置の調整はゼロ調整と呼ばれることがある。オペレータがゼロ調整を希望する場合、オペレータは図4のメインフレーム41内のメニューバー42内の該当するメニューを指示する。図1のCPU7が図3のステップS2においてゼロ調整の指示があったことを確認すると(ステップS2でYES)、ステップS3でゼロ調整を行う。   The operator who sees the main frame 41 can adjust the initial positions of the optical elements in the measuring apparatus 2 in FIG. 2 before starting the measurement. This initial position adjustment is sometimes referred to as zero adjustment. If the operator desires zero adjustment, the operator points to the corresponding menu in the menu bar 42 in the main frame 41 of FIG. When the CPU 7 in FIG. 1 confirms that there is an instruction for zero adjustment in step S2 in FIG. 3 (YES in step S2), zero adjustment is performed in step S3.

具体的には、図2において、試料支持装置21によって試料Sを支持しない状態でX線光路上の適所にX線フィルタを配置した上で、X線源22からX線を放射し、θs移動系26、θd移動系37等といった各移動系を調節しながら、X線検出器23によってX線を検出する。そして、各移動系を適切な位置にセットする。   Specifically, in FIG. 2, an X-ray filter is disposed at an appropriate position on the X-ray optical path without supporting the sample S by the sample support device 21, and then X-rays are emitted from the X-ray source 22 to move θs. The X-ray detector 23 detects X-rays while adjusting each moving system such as the system 26 and the θd moving system 37. Then, each moving system is set at an appropriate position.

その後、オペレータが測定を希望する場合には、オペレータは図4の画面のメニューバー42で「マニュアル制御」を選択する。すると、図3のステップS4でそのことが認識され、ステップS5に進んで図5のメインフレーム41内の適所にマニュアル制御画面43が表示される。このマニュアル制御画面43を詳細に示せば図6(a)の通りである。   Thereafter, when the operator desires measurement, the operator selects “manual control” from the menu bar 42 on the screen of FIG. Then, this is recognized in step S4 in FIG. 3, and the process proceeds to step S5, and the manual control screen 43 is displayed at an appropriate position in the main frame 41 in FIG. The manual control screen 43 is shown in detail as shown in FIG.

図6(a)において、「制御対象軸」の欄は、図2の測定装置2の中の複数の測定軸2θ、2θ/ω、…、φ、ωのうちのいずれを測定対象の軸とするかを指示する領域である。また、「移動条件」の欄は、測定に先立って図2のX線発生系20及びX線検出器23を希望する場所へ移動させたい場合に、その移動先等を指示するための領域である。また、「測定条件」の欄は、測定開始角度を何度にするかや、測定終了角度を何度にするかや、何度のステップ角度幅で走査を行うかや、何度のスキャン速度で走査を行うか等といった条件を指示する領域である。   In FIG. 6A, the column “control target axis” indicates any of a plurality of measurement axes 2θ, 2θ / ω,..., Φ, ω in the measurement apparatus 2 of FIG. This is an area for instructing whether to do this. Further, the “movement condition” column is an area for instructing the movement destination and the like when the X-ray generation system 20 and the X-ray detector 23 of FIG. 2 are to be moved to a desired place prior to measurement. is there. In the “Measurement condition” column, how many times the measurement start angle is set, how many times the measurement end angle is set, how many step angle widths are scanned, and how many scan speeds This is an area for instructing conditions such as whether or not to perform scanning.

移動条件の欄及び測定条件の欄の中には、オペレータが希望する数値を入力するための複数の入力領域が設定されている。図ではそれらの入力領域を数値を囲んでいる四角い実線枠で示している。オペレータは、例えば、マウス入力具によって移動させることができる領域指示用の画像であるポインタ38によっていずれかの入力領域を指示した上でキーボード等といった入力機器を用いて数値を入力することにより、希望する入力項目に関して希望する値を入力できる。なお、「測定条件」の欄の中には測定の開始を指示するための「測定実行」のアイコン44が表示されている。   A plurality of input areas for inputting numerical values desired by the operator are set in the movement condition column and measurement condition column. In the figure, these input areas are indicated by a rectangular solid line frame surrounding numerical values. The operator, for example, inputs a numerical value using an input device such as a keyboard after instructing one of the input areas with a pointer 38 that is an image for area indication that can be moved by a mouse input tool. You can enter the desired value for the input item. In the “measurement condition” column, a “measurement execution” icon 44 for instructing the start of measurement is displayed.

マニュアル制御画面43を用いて行った設定の内容は、図1のハードディスク11内の所定の記憶領域に記憶される。なお、CPU7はマニュアル制御画面43の画面立ち上げに先立って、ハードディスク11内の所定の記憶領域をアクセスして、前回の測定の際に設定された条件がどのような条件であったかを読み出し、その条件をマニュアル制御画面43の中に表示する。図6(a)に示す表示状態は、矢印Aで示すように測定軸としてω軸が選択され、移動条件の増減量として0.0020degが指示され、測定条件の測定開始角度として10.0000degが指示され、測定条件の測定終了角度として13.0000degが指示され、測定条件のステップ幅として1.0004degが指示され、測定条件のスキャン速度として4.8000deg/minが指示されている状態を示している。   The contents of the setting performed using the manual control screen 43 are stored in a predetermined storage area in the hard disk 11 of FIG. Prior to the start-up of the manual control screen 43, the CPU 7 accesses a predetermined storage area in the hard disk 11 to read out what conditions were set in the previous measurement. The conditions are displayed in the manual control screen 43. In the display state shown in FIG. 6A, the ω axis is selected as the measurement axis as indicated by the arrow A, 0.0020 deg is designated as the increase / decrease amount of the movement condition, and 10.0000 deg is set as the measurement start angle of the measurement condition. This indicates a state in which 13.0000 deg is designated as the measurement end angle of the measurement condition, 1.0004 deg is designated as the step width of the measurement condition, and 4.8000 deg / min is designated as the scan speed of the measurement condition. Yes.

オペレータがこの条件の下で測定を行うことを希望する場合には、表示された条件に変更を加えること無く測定実行のアイコン44をクリックして指示する。すると、図3のステップS6で測定実行の指示が認識される(ステップS6でYES)。今考えているのは、図6(a)のマニュアル制御画面43の内容に変更が加えられない場合であるので、図3のステップS7では「NO」と判断され、ステップS11へ進んで、図6(a)の条件で測定が実行される。すなわち、ω軸を測定軸として測定が行われる。   When the operator desires to perform measurement under these conditions, the measurement execution icon 44 is clicked and instructed without changing the displayed conditions. Then, a measurement execution instruction is recognized in step S6 of FIG. 3 (YES in step S6). Since we are now considering the case where no change is made to the contents of the manual control screen 43 in FIG. 6A, it is determined “NO” in step S7 in FIG. 3, and the process proceeds to step S11. Measurement is performed under the conditions of 6 (a). That is, measurement is performed with the ω axis as the measurement axis.

より具体的には、図2において、X線発生系20からX線を出射し、X線入射角度ωを所定のステップ幅で所定のステップ速度で変化させながら、試料Sで回折する回折線を所定の2θ位置に配置されたX線検出器23によって検出する。これにより、角度ωの何度の所に強度Iがいくつの回折線が出たかを測定でき、(ω,I)の測定データが得られる。   More specifically, in FIG. 2, X-rays are emitted from the X-ray generation system 20, and the diffraction lines diffracted by the sample S are changed while changing the X-ray incident angle ω with a predetermined step width at a predetermined step speed. Detection is performed by an X-ray detector 23 arranged at a predetermined 2θ position. As a result, it is possible to measure how many diffraction lines having the intensity I appear at the angle ω, and measurement data (ω, I) can be obtained.

こうして測定データが得られると、必要に応じて、ステップS12において図7に示すように測定の結果をX線プロファイルP1として表示する。また、ステップS13において測定データを図1のRAM8に記憶する。その後、測定装置2から測定終了の信号が伝送されると、ステップS14においてそのことが認識され(ステップS14でYES)、ステップS15において図1のRAM8内の測定データがハードディスク11内のデータファイル19へ転送されて保存される。   When the measurement data is obtained in this way, the measurement result is displayed as an X-ray profile P1 in step S12 as shown in FIG. 7 as necessary. In step S13, the measurement data is stored in the RAM 8 of FIG. Thereafter, when a measurement end signal is transmitted from the measuring device 2, this is recognized in step S14 (YES in step S14), and in step S15, the measurement data in the RAM 8 in FIG. Transferred to and saved.

図3のステップS14において測定終了の指示が成されていないと判断されると(ステップS14でNO)、ステップS5へ戻って図7のマニュアル制御画面43が表示され続ける。マニュアル制御画面43は、測定中も表示されているが、入力はできないようになっている。測定が終了するとマニュアル制御画面43の入力が可能となる。マニュアル制御画面43の表示は「閉じる」ボタンで終了する。   If it is determined in step S14 in FIG. 3 that the measurement end instruction has not been issued (NO in step S14), the process returns to step S5 and the manual control screen 43 in FIG. 7 continues to be displayed. The manual control screen 43 is displayed during measurement but cannot be input. When the measurement is completed, the manual control screen 43 can be input. The display of the manual control screen 43 is terminated by a “Close” button.

オペレータが測定の条件を変えて測定を続けたいと希望する場合には、オペレータは図6(a)のマニュアル制御画面43において希望する条件を変化させる。例えば、測定条件の欄の測定開始の入力領域にポインタ38を当てて、マウスの入力ボタンをクリックして指示する。図3のステップS7でその指示が認識されると(ステップS7でYES)、その指示された条件項目がポップアップ表示を行うべき項目であるか否かがステップS8において判断される。   When the operator desires to continue the measurement while changing the measurement conditions, the operator changes the desired conditions on the manual control screen 43 in FIG. For example, the pointer 38 is placed on the measurement start input area in the measurement condition column, and an instruction is clicked by clicking the input button of the mouse. When the instruction is recognized in step S7 of FIG. 3 (YES in step S7), it is determined in step S8 whether or not the instructed condition item is an item to be displayed in a pop-up display.

ここで、ポップアップ表示とは、測定条件に関する事項、例えば、入力可能な測定の有効範囲は何度から何度までであるとか、設定可能な測定の分解能は何度までであるかとか、等といった事項を説明するための画像を、図1の画像表示装置4の画面上に常に表示させるのではなく、対応する測定条件が選択されて指示された場合にだけ、マニュアル制御画面43に重ねて又はマニュアル制御画面43に重ならない画面上の領域に表示することである。   Here, the pop-up display is a matter related to measurement conditions, for example, how many times the effective range of measurement that can be input is, how many times the resolution of the measurement that can be set is, etc. An image for explaining the matter is not always displayed on the screen of the image display device 4 in FIG. 1, but only when the corresponding measurement condition is selected and instructed, or is superimposed on the manual control screen 43 or It is to display in an area on the screen that does not overlap with the manual control screen 43.

このポップアップ表示は、オペレータによって別の何等かの指示が行われるまでの間、ずっと表示し続けることもできるし、オペレータによる操作に関係なく一定の時間だけ表示させた後に自動的に消すようにしても良い。   This pop-up display can continue to be displayed until another instruction is given by the operator, or it can be turned off automatically after being displayed for a certain time regardless of the operation by the operator. Also good.

指示された条件項目がポップアップ表示を行うべき項目であるとステップS8において判定されると(ステップS8でYES)、CPU7は表示用アプリケーションソフト18を起動して、選択されている測定軸(今の場合はω軸)に関する有効測定範囲を演算によって求める。この演算は、例えば、図8及び図9に関連して説明したような規則に従って行われる。この演算の結果、選択されている測定軸に関する有効測定範囲が求められると、ステップS10においてその有効測定範囲が図6(b)に符号47で示すようにマニュアル制御画面43に重ねて、又は図5に示すメインフレーム41に重ねて、又はメインフレーム41と重ならない領域の画面上に表示される。   If it is determined in step S8 that the instructed condition item is an item to be displayed in a pop-up display (YES in step S8), the CPU 7 activates the display application software 18 to select the selected measurement axis (current In this case, the effective measurement range with respect to the ω axis) is obtained by calculation. This calculation is performed according to the rules described with reference to FIGS. 8 and 9, for example. As a result of this calculation, when an effective measurement range for the selected measurement axis is obtained, the effective measurement range is superimposed on the manual control screen 43 as shown by reference numeral 47 in FIG. 5 is superimposed on the main frame 41 shown in FIG. 5 or displayed on a screen in an area that does not overlap with the main frame 41.

図6(b)に示す例では、ポップアップ表示47として、入力可能な有効角度走査範囲が角度−2.4998°〜角度153.4998°であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(いわゆる、分解能)が角度0.0002°であることを示している。これを見たオペレータは、測定開始角度及び測定終了角度をどの範囲内で選択すれば良いかを極めて簡単に判断できる。また、どのような分解能で測定が行われるかを極めて容易に知ることができる。こうしてオペレータは、測定開始角度及び測定終了角度を誤りなく入力できる。   In the example shown in FIG. 6B, as the pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be input is an angle of −2.4998 ° to an angle of 153.4998 °, and a settable angle scanning minimum step width (so-called resolution). ) Indicates an angle of 0.0002 °. The operator who sees this can very easily determine in which range the measurement start angle and the measurement end angle should be selected. In addition, it is very easy to know at what resolution measurement is performed. Thus, the operator can input the measurement start angle and the measurement end angle without error.

以上の説明は測定開始角度及び測定終了角度に関するポップアップ表示47に関するものであるが、本実施形態の表示用アプリケーションソフト18は多数の入力項目に関するデータを持っている。例えば、「移動条件」の欄の「移動先」に関する有効範囲のデータや、「測定条件」の欄の「スキャン速度」に関する有効範囲のデータ等も有している。従って、図6(a)においてオペレータがポインタ38を、「測定開始角度」の欄に代えて、「移動条件」の欄の「移動先」の入力欄に合わせると、その移動先に関する有効範囲の情報がポップアップ表示される。また、オペレータがポインタを「スキャン速度」の入力欄に合わせると、そのスキャン速度に関する有効範囲の情報がポップアップ表示される。   The above description relates to the pop-up display 47 relating to the measurement start angle and the measurement end angle, but the display application software 18 of this embodiment has data relating to a large number of input items. For example, it also has effective range data related to “movement destination” in the “movement condition” column, effective range data related to “scan speed” in the “measurement condition” column, and the like. Accordingly, when the operator moves the pointer 38 to the “movement destination” input field in the “movement condition” field instead of the “measurement start angle” field in FIG. Information pops up. When the operator moves the pointer to the “scan speed” input field, information on the effective range related to the scan speed pops up.

以下、ポップアップ表示の具体例を説明する。図11(a)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、2θ軸周りの角度2θが2θ=0°のときに示される、ω軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度−1.5000°〜角度5.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲や分解能は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてω軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   Hereinafter, a specific example of pop-up display will be described. FIG. 11A illustrates a case where the movement destination field in the movement condition field is instructed by the operator, and the movement destination around the ω axis shown when the angle 2θ around the 2θ axis is 2θ = 0 °. A pop-up display 47 for is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle −1.5000 ° to angle 5.0000 °, and the settable angle scanning minimum step width (that is, resolution) is 0.0001. Indicates that it is °. This effective range and resolution are determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. The operator can input the movement destination around the ω axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

次に、図11(b)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、2θ軸周りの角度2θが2θ=10°のときに示される、ω軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度−1.5000°〜角度15.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてω軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   Next, FIG. 11B shows a case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and is shown when the angle 2θ around the 2θ axis is 2θ = 10 °. A pop-up display 47 relating to the movement destination is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle −1.5000 ° to angle 15.0000 °, and the settable angle scanning minimum step width (that is, resolution) is 0.0001. Indicates that it is °. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. 1 or by a data table stored in a proper place in the hard disk 11. The operator can input the movement destination around the ω axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

次に、図12(a)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、ω軸周りの角度ωがω=0°のときに示される、2θ軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度−5.0000°〜角度120.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にして2θ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   Next, FIG. 12A shows a case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and is shown when the angle ω around the ω axis is ω = 0 °. A pop-up display 47 relating to the movement destination is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle −5.000 ° to angle 120.0000 °, and the settable angle scanning minimum step width (that is, resolution) is 0.0001. Indicates that it is °. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. The operator can input the movement destination around the 2θ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図12(b)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、ω軸周りの角度ωがω=5°のときに示される、2θ軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度0.0000°〜角度125.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にして2θ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 12B shows a case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and the movement destination around the 2θ axis shown when the angle ω around the ω axis is ω = 5 °. A pop-up display 47 for is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle 0.00000 ° to angle 125.0000 °, and the angle scanning minimum step width (that is, resolution) that can be set is 0.0001 °. It is shown that. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. 1 or by a data table stored in a proper place in the hard disk 11. The operator can input the movement destination around the 2θ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図13(a)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、2θ/ω軸周りの角度2θ/ωが2θ/ω=0°のときに示される、ω軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度−1.5000°〜角度5.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてω軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 13A shows a case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and is shown when the angle 2θ / ω about the 2θ / ω axis is 2θ / ω = 0 °. A pop-up display 47 relating to the movement destination around the ω axis is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle −1.5000 ° to angle 5.0000 °, and the settable angle scanning minimum step width (that is, resolution) is 0.0001. Indicates that it is °. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. 1 or by a data table stored in a proper place in the hard disk 11. The operator can input the movement destination around the ω axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図13(b)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、2θ/ω軸周りの角度2θ/ωが2θ/ω=20°のときに示される、ω軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度−1.5000°〜角度25.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてω軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 13B shows a case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and is shown when the angle 2θ / ω about the 2θ / ω axis is 2θ / ω = 20 °. A pop-up display 47 relating to the movement destination around the ω axis is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle −1.5000 ° to angle 25.0000 °, and the settable angle scanning minimum step width (that is, resolution) is 0.0001. Indicates that it is °. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. 1 or by a data table stored in a proper place in the hard disk 11. The operator can input the movement destination around the ω axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図14(a)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、2θ/ω軸周りの角度2θ/ωが2θ/ω=0°のときに示される、2θ軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度−5.0000°〜角度120.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にして2θ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 14A shows a case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and is shown when the angle 2θ / ω about the 2θ / ω axis is 2θ / ω = 0 °. A pop-up display 47 relating to the movement destination around the 2θ axis is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle −5.000 ° to angle 120.0000 °, and the settable angle scanning minimum step width (that is, resolution) is 0.0001. Indicates that it is °. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. 1 or by a data table stored in a proper place in the hard disk 11. The operator can input the movement destination around the 2θ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図14(b)は、移動条件欄の移動先の入力欄がオペレータによって指示された場合であって、2θ/ω軸周りの角度2θ/ωが2θ/ω=20°のときに示される、2θ軸周りの移動先に関するポップアップ表示47を示している。このポップアップ表示47は、移動先として設定できる有効角度走査範囲が角度5.0000°〜角度130.0000°の範囲であり、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。この有効範囲は、図1の表示用アプリケーションソフト18の演算により又はハードディスク11内の適所に保存したデータテーブルにより決められる。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にして2θ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 14B shows the case where the input field of the movement destination in the movement condition field is instructed by the operator, and is shown when the angle 2θ / ω around the 2θ / ω axis is 2θ / ω = 20 °. A pop-up display 47 relating to the movement destination around the 2θ axis is shown. In this pop-up display 47, the effective angle scanning range that can be set as the movement destination is in the range of angle 5.0000 ° to angle 130.0000 °, and the angle scanning minimum step width (that is, resolution) that can be set is 0.0001 °. It is shown that. This effective range is determined by the calculation of the display application software 18 shown in FIG. 1 or by a data table stored in a proper place in the hard disk 11. The operator can input the movement destination around the 2θ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図15(a)は、θs軸周りの角度をθs=5°にし、θd軸周りの角度をθd=30°にしたときの、2θ軸の移動先の有効範囲をポップアップ表示47によって表示する場合を示している。θs=5°、θd=30°に移動すると、2θ軸周りの角度は2θ=35°になり、θ軸周りの角度はθ=5°になる。この場合、2θ軸周りの角度の移動先の有効角度走査範囲は、ポップアップ表示47が示すように0.0000〜125.0000°である。また、ポップアップ表示47は、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にして2θ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 15A shows a case where the pop-up display 47 displays the effective range of the movement destination of the 2θ axis when the angle around the θs axis is θs = 5 ° and the angle around the θd axis is θd = 30 °. Is shown. When moving to θs = 5 ° and θd = 30 °, the angle around the 2θ axis becomes 2θ = 35 °, and the angle around the θ axis becomes θ = 5 °. In this case, the effective angle scanning range of the movement destination of the angle around the 2θ axis is 0.0000 to 125.0000 ° as shown by the pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the minimum angle scanning step width (that is, resolution) that can be set is 0.0001 °. The operator can input the movement destination around the 2θ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図15(b)は、θs軸周りの角度をθs=5°にし、θd軸周りの角度をθd=30°に移動したときの、ω軸の移動先の有効範囲をポップアップ表示47によって表示する場合を示している。θs=5°、θd=30°に移動すると、2θ軸周りの角度は2θ=35°になり、θ軸周りの角度はθ=5°になる。この場合、ω軸周りの角度の移動先の有効範囲は、ポップアップ表示47が示すように−1.5000〜40.0000°である。また、ポップアップ表示47は、分解能が0.0001°であることを示している。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてω軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   In FIG. 15B, the pop-up display 47 displays the effective range of the ω axis when the angle around the θs axis is θs = 5 ° and the angle around the θd axis is moved to θd = 30 °. Shows the case. When moving to θs = 5 ° and θd = 30 °, the angle around the 2θ axis becomes 2θ = 35 °, and the angle around the θ axis becomes θ = 5 °. In this case, the effective range of the movement destination of the angle around the ω axis is −1.5000 to 40.0000 ° as shown by the pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the resolution is 0.0001 °. The operator can input the movement destination around the ω axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図15(c)は、図15(a)及び図15(b)の場合に図5の状態表示画面46に表示される、各軸の現在位置に関する表示を示している。   FIG. 15C shows a display regarding the current position of each axis displayed on the status display screen 46 of FIG. 5 in the case of FIGS. 15A and 15B.

図16(a)は、θs軸周りの角度をθs=30°にし、θd軸周りの角度をθd=5°にしたときの、2θ軸の移動先の有効範囲をポップアップ表示47によって表示する場合を示している。θs=30°、θd=5°に移動すると、2θ軸周りの角度は2θ=35°になり、θ軸周りの角度はθ=30°になる。この場合、2θ軸周りの角度の移動先の有効角度走査範囲は、ポップアップ表示47が示すように25.0000〜150.0000°である。また、ポップアップ表示47は、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にして2θ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 16A shows a case where the pop-up display 47 displays the effective range of the movement destination of the 2θ axis when the angle around the θs axis is θs = 30 ° and the angle around the θd axis is θd = 5 °. Is shown. When moving to θs = 30 ° and θd = 5 °, the angle around the 2θ axis becomes 2θ = 35 °, and the angle around the θ axis becomes θ = 30 °. In this case, the effective angle scanning range of the movement destination of the angle around the 2θ axis is 25.000 to 150.0000 ° as indicated by the pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the minimum angle scanning step width (that is, resolution) that can be set is 0.0001 °. The operator can input the movement destination around the 2θ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図16(b)は、θs軸周りの角度をθs=30°にし、θd軸周りの角度をθd=5°に移動したときの、ω軸の移動先の有効範囲をポップアップ表示47によって表示する場合を示している。θs=30°、θd=5°に移動すると、2θ軸周りの角度は2θ=35°になり、θ軸周りの角度はθ=30°になる。この場合、ω軸周りの角度の移動先の有効範囲は、ポップアップ表示47が示すように−1.5000〜40.0000°である。また、ポップアップ表示47は、分解能が0.0001°であることを示している。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてω軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   In FIG. 16B, the pop-up display 47 displays the effective range of the movement destination of the ω axis when the angle around the θs axis is θs = 30 ° and the angle around the θd axis is moved to θd = 5 °. Shows the case. When moving to θs = 30 ° and θd = 5 °, the angle around the 2θ axis becomes 2θ = 35 °, and the angle around the θ axis becomes θ = 30 °. In this case, the effective range of the movement destination of the angle around the ω axis is −1.5000 to 40.0000 ° as shown by the pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the resolution is 0.0001 °. The operator can input the movement destination around the ω axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図16(c)は、図16(a)及び図16(b)の場合に図5の状態表示画面46に表示される、各軸の現在位置に関する表示を示している。   FIG. 16C shows a display relating to the current position of each axis displayed on the status display screen 46 of FIG. 5 in the case of FIGS. 16A and 16B.

図17(a)は、θs軸周りの移動先の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が−1.5000〜77.0000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。θs軸は物理軸なので、θs軸の有効範囲は他の軸の位置に関係なく、常に、θs軸の機械的な有効範囲として表示される。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてθs軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 17A shows a case where the effective range of the movement destination around the θs axis is displayed in a pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is -1.5000 to 77.0000 °. Further, it indicates that the settable minimum angular scanning step width (that is, resolution) is 0.0001 °. Since the θs axis is a physical axis, the effective range of the θs axis is always displayed as the mechanical effective range of the θs axis regardless of the positions of the other axes. The operator can input the movement destination around the θs axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図17(b)は、θd軸周りの移動先の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が−5.0000〜120.0000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。θd軸は物理軸なので、θd軸の有効範囲は他の軸の位置に関係なく、常に、θd軸の機械的な有効範囲として表示される。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてθd軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 17B shows a case where the effective range of the movement destination around the θd axis is displayed in a pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is −5.00000 to 120.0000 °. Further, it indicates that the settable minimum angular scanning step width (that is, resolution) is 0.0001 °. Since the θd axis is a physical axis, the effective range of the θd axis is always displayed as the mechanical effective range of the θd axis regardless of the positions of the other axes. The operator can input the movement destination around the θd axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図18(a)は、Rx軸周りの移動先の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が−3.000〜3.000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.002°であることを示している。Rx軸は物理軸なので、Rx軸の有効範囲は他の軸の位置に関係なく、常に、Rx軸の機械的な有効範囲として表示される。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてRx軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 18A shows a case where the effective range of the movement destination around the Rx axis is displayed in a pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is −3,000 to 3.000 °. In addition, the settable minimum angle scanning step width (that is, resolution) is 0.002 °. Since the Rx axis is a physical axis, the effective range of the Rx axis is always displayed as the mechanical effective range of the Rx axis regardless of the position of other axes. The operator can input the movement destination around the Rx axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図18(b)は、Ry軸周りの移動先の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が−3.000〜3.000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.002°であることを示している。Ry軸は物理軸なので、Ry軸の有効範囲は他の軸の位置に関係なく、常に、Ry軸の機械的な有効範囲として表示される。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてRy軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 18B shows a case where the effective range of the movement destination around the Ry axis is displayed in a pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is −3,000 to 3.000 °. In addition, the settable minimum angle scanning step width (that is, resolution) is 0.002 °. Since the Ry axis is a physical axis, the effective range of the Ry axis is always displayed as the mechanical effective range of the Ry axis regardless of the position of other axes. The operator can input the movement destination around the Ry axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図19(a)は、Z軸に沿った移動先の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効距離走査範囲が−10.0000〜2.0000mmであることを示している。また、設定可能な距離走査最小ステップ幅(すなわち、分解能が0.0001mmであることを示している。Z軸は物理軸なので、Z軸の有効範囲は他の軸の位置に関係なく、常に、Z軸の機械的な有効範囲として表示される。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてZ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 19A shows a case where the effective range of the movement destination along the Z axis is displayed in a pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective distance scanning range is -10.0000 to 2.0000 mm. Further, the distance scanning minimum step width that can be set (that is, the resolution is 0.0001 mm. Since the Z axis is a physical axis, the effective range of the Z axis is always regardless of the position of the other axis. This is displayed as the mechanical effective range of the Z axis, and the operator can input the movement destination around the Z axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図19(b)は、φ軸周りの移動先の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が−720.000〜720.000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.002°であることを示している。φ軸は物理軸なので、φ軸の有効範囲は他の軸の位置に関係なく、常に、φ軸の機械的な有効範囲として表示される。オペレータは、このポップアップ表示47に示された有効範囲を参考にしてφ軸周りの移動先を誤り無く入力できる。   FIG. 19B shows a case where the effective range of the movement destination around the φ axis is displayed in a pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is −720.000 to 720.000 °. In addition, the settable minimum angle scanning step width (that is, resolution) is 0.002 °. Since the φ axis is a physical axis, the effective range of the φ axis is always displayed as the mechanical effective range of the φ axis regardless of the position of other axes. The operator can input the movement destination around the φ axis without error with reference to the effective range shown in the pop-up display 47.

図20(a)は、マニュアル制御画面43内の測定条件欄のステップ幅がオペレータによって指示されたときに表示されるポップアップ表示47を示している。指定可能な最低のステップ幅は、そのときに指定されているスキャン速度から1ステップ当りの計数時間が50msec以下にならないステップ幅を計算して表示する。ここで、臨界時間を50msecに設定したのは電気回路の特性に従ったためである。   FIG. 20A shows a pop-up display 47 displayed when the step width in the measurement condition column in the manual control screen 43 is instructed by the operator. The minimum step width that can be specified is displayed by calculating a step width from which the count time per step does not become 50 msec or less from the scan speed specified at that time. Here, the reason why the critical time is set to 50 msec is that it follows the characteristics of the electric circuit.

図20(a)は、スキャン速度が0.1°/minである場合のω軸のステップ幅の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が0.0002〜1.0000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。スキャン速度が0.1°/minのときに1ステップ当りの計数時間が50msecになるステップ幅は
0.05sec×0.1°÷60.0sec=0.000083°
である。0.000083°は駆動軸の物理的な最低ステップ幅(分解能×2=0.0002°)より小さいので、最低ステップ幅は0.0002°となる。
FIG. 20A shows a case where the pop-up display 47 displays the effective range of the step width of the ω axis when the scan speed is 0.1 ° / min. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is 0.0002 to 1.0000 °. Further, it indicates that the settable minimum angular scanning step width (that is, resolution) is 0.0001 °. The step width at which the counting time per step is 50 msec when the scanning speed is 0.1 ° / min is 0.05 sec × 0.1 ° ÷ 60.0 sec = 0.000083 °
It is. Since 0.000083 ° is smaller than the physical minimum step width (resolution × 2 = 0.0002 °) of the drive shaft, the minimum step width is 0.0002 °.

図20(b)は、スキャン速度が8.0°/minである場合のω軸のステップ幅の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効角度走査範囲が0.0066〜1.0000°であることを示している。また、設定可能な角度走査最小ステップ幅(すなわち、分解能)が0.0001°であることを示している。スキャン速度が8.0°/minのときに1ステップ当りの計数時間が50msecになるステップ幅は
0.05sec×8.0°÷60.0sec=0.0066°
である。0.0066°は駆動軸の物理的な最低ステップ幅(分解能×2=0.0002°)より大きいので、最低ステップ幅は0.0066°となる。
FIG. 20B shows a case where the pop-up display 47 displays the effective range of the step width of the ω axis when the scan speed is 8.0 ° / min. The pop-up display 47 indicates that the effective angle scanning range is 0.0066 to 1.0000 °. Further, it indicates that the settable minimum angular scanning step width (that is, resolution) is 0.0001 °. The step width at which the counting time per step is 50 msec when the scanning speed is 8.0 ° / min is 0.05 sec × 8.0 ° ÷ 60.0 sec = 0.666 °
It is. Since 0.0066 ° is larger than the physical minimum step width (resolution × 2 = 0.0002 °) of the drive shaft, the minimum step width is 0.0066 °.

図21(a)は、マニュアル制御画面43内の測定条件欄のスキャン速度がオペレータによって指示されたときに表示されるポップアップ表示47を示している。指定可能な最高スキャン速度は、そのときに指定されているステップ幅から1ステップ当りの計数時間が50msec以下にならないスキャン速度を計算して表示する。ここで、臨界時間を50msecに設定したのは電気回路の特性に従ったためである。   FIG. 21A shows a pop-up display 47 displayed when the scan speed in the measurement condition column in the manual control screen 43 is instructed by the operator. The maximum scan speed that can be specified is calculated by displaying a scan speed at which the counting time per step does not become 50 msec or less from the step width specified at that time. Here, the reason why the critical time is set to 50 msec is that it follows the characteristics of the electric circuit.

図21(a)は、ステップ幅が0.1°である場合のω軸のスキャン速度の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効スキャン速度範囲が0.0001〜100.0000°/minであることを示している。また、設定可能な最低走査速度が0.0001°/minであることを示している。ステップ幅が0.1°のときに1ステップ当りの計数時間が50msecになるスキャン速度は
60.0sec×0.1°÷0.05sec=120.0°/min
である。120.0°/minは駆動軸の物理的な最高スキャン速度(100.0°/min)より大きいので、最高スキャン速度は100.0°/minとなる。
FIG. 21A shows a case where the effective range of the scan speed of the ω axis when the step width is 0.1 ° is displayed in the pop-up display 47. The pop-up display 47 indicates that the effective scan speed range is 0.0001 to 100.000 ° / min. It also indicates that the minimum scan speed that can be set is 0.0001 ° / min. The scan speed at which the counting time per step is 50 msec when the step width is 0.1 ° is 60.0 sec × 0.1 ° ÷ 0.05 sec = 120.0 ° / min
It is. Since 120.0 ° / min is larger than the physical maximum scanning speed (100.0 ° / min) of the drive shaft, the maximum scanning speed is 100.0 ° / min.

図21(b)は、ステップ幅が0.001°である場合のω軸のスキャン速度の有効範囲をポップアップ表示47で表示する場合を示している。ポップアップ表示47は、有効スキャン速度範囲が0.0001〜1.2000°/minであることを示している。また、設定可能な走査速度最小ステップ幅が0.0001°/minであることを示している。ステップ幅が0.001°のときに1ステップ当りの計数時間が50msecになるスキャン速度は
60.0sec×0.001°÷0.05sec=1.2°/min
である。1.2°/minは駆動軸の物理的な最高スキャン速度(100.0°/min)より小さいので、最高スキャン速度は1.2°/minとなる。
FIG. 21B shows a case where the pop-up display 47 displays the effective range of the scan speed of the ω axis when the step width is 0.001 °. The pop-up display 47 indicates that the effective scan speed range is 0.0001 to 1.2000 ° / min. In addition, the scan speed minimum step width that can be set is 0.0001 ° / min. The scanning speed at which the counting time per step becomes 50 msec when the step width is 0.001 ° is 60.0 sec × 0.001 ° ÷ 0.05 sec = 1.2 ° / min
It is. Since 1.2 ° / min is smaller than the physical maximum scanning speed (100.0 ° / min) of the drive shaft, the maximum scanning speed is 1.2 ° / min.

なお、本実施形態に係る装置によって実施可能なポップアップ表示は、以上のように図示して説明したポップアップ表示に限られず、必要に応じて種々の事項を選定できる。例えば、図19(b)におけるφ軸に関する設定の際に、オペレータのポインティング操作によってスキャン速度の入力領域が指示されたときに、測定の際の時間当たりの角度値で示される最高走査速度をポップアップ表示することができる。また、図19(a)におけるZ軸に関する設定の際に、オペレータのポインティング操作によってスキャン速度の入力領域が指示されたときに、測定の際の時間当たりの距離値で示される最高走査速度をポップアップ表示することができる。   Note that the pop-up display that can be performed by the apparatus according to the present embodiment is not limited to the pop-up display illustrated and described above, and various items can be selected as necessary. For example, when setting the φ axis in FIG. 19B, when the scan speed input area is instructed by the operator's pointing operation, the maximum scanning speed indicated by the angle value per time at the time of measurement is popped up. Can be displayed. Further, when setting the Z axis in FIG. 19A, when the scan speed input area is instructed by the operator's pointing operation, the maximum scanning speed indicated by the distance value per time at the time of measurement is popped up. Can be displayed.

以上のように、本実施形態によれば、図6(a)に示すようなマニュアル制御画面43、すなわち入力用画面を図1の画像表示装置4の画面上に表示すると共に、入力装置3によって画面43内の領域を指示できるようにしたので、オペレータは測定装置2に関する測定条件を画面43を見ながら設定できる。また、測定条件に関する事項(例えば、入力可能な測定有効範囲の情報、設定可能な分解能の情報等)を画面上に表示するようにしたので、オペレータはわざわざ取扱説明書等を参照すること無く正確な入力操作を行うことができる。   As described above, according to the present embodiment, the manual control screen 43 as shown in FIG. 6A, that is, the input screen is displayed on the screen of the image display device 4 in FIG. Since the area in the screen 43 can be designated, the operator can set the measurement conditions related to the measuring apparatus 2 while viewing the screen 43. In addition, items related to measurement conditions (for example, information on the effective measurement range that can be entered, information on the resolution that can be set, etc.) are displayed on the screen, so that the operator does not have to bother to refer to the instruction manual. Input operations can be performed.

さらに、入力可能な測定有効範囲等といった測定に関する事項は、入力装置3によって入力領域が指示されたときに画面上に表示され、入力領域が指示されていないときには画面上に表示されないようになっている。つまり、測定に関する事項の画像は必要なときだけに画面上に表示、いわゆるポップアップ表示される。このため、入力用画面それ自体は非常に簡潔な表示で足りるので、画面が見難くなることを防止できる。   Furthermore, items related to measurement, such as a measurement effective range that can be input, are displayed on the screen when the input area is instructed by the input device 3, and are not displayed on the screen when the input area is not instructed. Yes. That is, an image of matters relating to measurement is displayed on the screen only when necessary, so-called pop-up display. For this reason, since the input screen itself needs only a very simple display, it is possible to prevent the screen from becoming difficult to see.

さらに、ポップアップ表示される内容は、既に設定されている条件(例えば、どの測定軸が選択されているかや、2θがいくつに設定されているかや、ωがいくつに設定されているかや、2θ/ωがいくつに設定されているかや、θs 及びθd がいくつに設定されているかや、ステップ幅がいくつに設定されているかや、スキャン速度がいくつに設定されているか等)に基づいてコンピュータの演算によって求められた値であるので、入力を行おうとしているオペレータは、自分で計算をすることなしに情報が得られことになり、非常に便利である。   Further, the pop-up display includes the conditions that have already been set (for example, which measurement axis is selected, how many 2θ are set, how many ω are set, 2θ / how many ω are set, how many θs and θd are set, how many step widths are set, how many scan speeds are set, etc. Therefore, the operator who is trying to input information can obtain information without performing calculations by himself / herself, which is very convenient.

以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はその実施形態に限定されるものでなく、請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々に改変できる。
例えば、図1の測定装置2は図2に示した構成のX線回折装置に限られず、他の任意の構成のX線回折装置とすることができる。また、入力用画像は図5に符号43で示すようなマニュアル制御画面43に限られず、必要に応じて、他の任意の構成の画像とすることができる。
The present invention has been described with reference to the preferred embodiments. However, the present invention is not limited to the embodiments, and various modifications can be made within the scope of the invention described in the claims.
For example, the measuring apparatus 2 in FIG. 1 is not limited to the X-ray diffractometer having the configuration shown in FIG. 2, and may be an X-ray diffractometer having any other configuration. Further, the input image is not limited to the manual control screen 43 as indicated by reference numeral 43 in FIG. 5 and may be an image having any other configuration as necessary.

本発明に係るX線回折装置の一実施形態を示すブロック図である。1 is a block diagram showing an embodiment of an X-ray diffraction apparatus according to the present invention. 測定装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a measuring apparatus. 図1の装置によって実行される制御の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of control performed by the apparatus of FIG. 表示装置の画面上に表示される画像の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the image displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される画像の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the image displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image displayed on the screen of a display apparatus. 図2の測定装置における測定軸に関する有効測定範囲を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the effective measurement range regarding the measurement axis in the measuring apparatus of FIG. 図2の測定装置における測定軸に関する有効測定範囲を説明するための他の図である。It is another figure for demonstrating the effective measurement range regarding the measurement axis in the measuring apparatus of FIG. 図2の測定装置における測定軸に関する有効測定範囲を説明するためのさらに他の図である。FIG. 10 is still another diagram for explaining an effective measurement range related to a measurement axis in the measurement apparatus of FIG. 2. 表示装置の画面上に表示される入力用画像の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the image for an input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus. 表示装置の画面上に表示される入力用画像のさらに他の例を示す図である。It is a figure which shows the further another example of the image for input displayed on the screen of a display apparatus.

1.X線回折装置、 2.測定装置、 3.入力装置(入力手段)、
4.画像表示装置(表示手段)、 11.ハードディスク(記憶手段)、 12.バス、
20.X線発生系、 21.試料支持装置、 22.X線源、 23.X線検出器、
24.モノクロメータ、 38.ポインタ、 41.メインフレーム、
43.マニュアル制御画面(入力用画面)、 44.測定実行のアイコン、
46.状態表示画面、 47.ポップアップ表示、 P1.X線プロファイル、
S.試料、 S0.発散規制スリット、 S1.スリット、 S2.受光スリット、
X0.水平軸線、 Z.垂直方向、 Rx,Ry.あおり移動
1. 1. X-ray diffractometer, 2. measuring device; Input device (input means),
4). 10. Image display device (display means) 11. Hard disk (storage means) bus,
20. X-ray generation system, 21. Sample support device, 22. X-ray source, 23. X-ray detector,
24. Monochromator, 38. Pointer, 41. main frame,
43. Manual control screen (input screen) 44. Measurement execution icon,
46. Status display screen, 47. Pop-up display, P1. X-ray profile,
S. Sample, S0. Divergence regulation slit, S1. Slit, S2. Receiving slit,
X0. Horizontal axis, Z. Vertical direction, Rx, Ry. Moving

Claims (3)

複数の移動系の連動によって規定される測定軸を含む複数の測定軸を有すると共にそれら複数の測定軸のうちの1つを選択してその測定軸を基準としてX線要素を移動させて測定を行う測定手段と、
画像データに基づいて画面上に画像を表示する表示手段と、
該表示手段の画面内の領域を指定して入力を行う入力手段と、
前記1つの測定軸を選択するための入力を行うための測定軸入力領域、その1つの測定軸を基準とする前記X線要素の走査速度を入力するための走査速度入力領域、及び走査のステップ幅を入力するためのステップ幅入力領域の3つの領域を含む入力用画像の画像データを生成し、その画像データを前記表示手段へ供給し、該表示手段の画面上に前記入力用画像を表示させる入力用画像生成表示手段と、
複数の移動系の連動によって規定される前記測定軸の1つが前記入力手段によって指示され、さらに前記入力手段によって前記走査速度が入力されたときに、前記ステップ幅入力領域に入力できるステップ幅の値の有効範囲を、指示された前記1つの測定軸を規定する前記複数の移動系及び入力された前記走査速度に応じて演算によって決める有効範囲データ生成手段と、
該有効範囲データ生成手段によって決められたステップ幅の有効範囲の値を含む画像の画像データを生成し、その画像データを前記表示手段へ供給し、前記入力手段によって前記ステップ幅入力領域が指示された後の所定時間だけ前記表示手段の画面上に前記測定軸入力領域及び前記ステップ幅入力領域と同時にステップ幅の有効範囲を表示させる有効範囲用画像生成表示手段と
を有することを特徴とするX線回折装置。
It has a plurality of measurement axes including a measurement axis defined by the linkage of a plurality of moving systems, and selects one of the plurality of measurement axes and moves the X-ray element with reference to the measurement axis to perform measurement. Measuring means to perform;
Display means for displaying an image on a screen based on image data;
Input means for designating and inputting an area in the screen of the display means;
A measurement axis input area for performing input for selecting the one measurement axis, a scanning speed input area for inputting a scanning speed of the X-ray element with reference to the one measurement axis, and a scanning step Generate image data of an input image including three areas of step width input areas for inputting a width, supply the image data to the display means, and display the input image on the screen of the display means Input image generation and display means,
Step width value that can be input to the step width input area when one of the measurement axes defined by the interlocking of a plurality of moving systems is instructed by the input means and the scanning speed is input by the input means. Effective range data generating means for determining the effective range of the plurality of moving systems defining the designated one measurement axis and calculation according to the input scanning speed;
The image data of the image including the value of the effective range of the step width determined by the effective range data generating means is generated, the image data is supplied to the display means, and the step width input area is indicated by the input means. And an effective range image generation and display means for displaying the effective range of the step width simultaneously with the measurement axis input area and the step width input area on the screen of the display means for a predetermined time after X. Line diffraction device.
請求項1記載のX線回折装置において、
前記有効範囲データ生成手段は、前記有効範囲に加えて、
(1)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動するときの設定可能な角度走査最小ステップ幅、
(2)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸に沿って平行移動するときの設定可能な距離走査最小ステップ幅、
(3)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動するか、又は当該1つの測定軸に沿って平行移動するときの設定可能な最低走査速度、
(4)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸の回りに回転移動することによって行われる測定の際の時間あたりの角度値で示される最高走査速度、及び
(5)前記X線要素が前記指示された1つの測定軸に沿って平行移動することによって行われる測定の際の時間あたりの距離値で示される最高走査速度、
の(1)から(5)の少なくとも1つ又はそれらの少なくとも2つの組合せを演算によって決める
ことを特徴とするX線回折装置。
In X-ray diffraction apparatus according to claim 1 Symbol placement,
The effective range data generation means, in addition to the effective range,
(1) A settable angle scanning minimum step width when the X-ray element rotates around the designated one measurement axis,
(2) a settable distance scanning minimum step width when the X-ray element is translated along the designated one measurement axis;
(3) The minimum scan speed that can be set when the X-ray element rotates around the designated one measurement axis or translates along the one measurement axis,
(4) a maximum scanning speed indicated by an angle value per time at the time of measurement performed by rotating the X-ray element around the designated one measurement axis; and (5) the X-ray element. Is the maximum scanning speed indicated by the distance value per time during the measurement performed by translating along one of the indicated measurement axes,
An X-ray diffractometer characterized in that at least one of (1) to (5) or a combination of at least two thereof is determined by calculation.
請求項1又は請求項2記載のX線回折装置において、
前記複数の移動系の連動によって規定される複数の測定軸は、
(1)X線発生系が試料を見込む角度θsを変化させるためのθs移動系とX線検出手段が試料を見込む角度θdを変化させるためのθd移動系との連動によって規定される軸であって、入射X線に対する回折角度2θを規定する2θ軸か、
(2)前記θs移動系と前記θd移動系とをθd=2θ−θsのように連動させたときのθsと同じ値の軸であって、試料に入射するX線の入射角度ωを規定するω軸か、
(3)前記θs移動系と前記θd移動系との連動によって規定される軸であって、試料に入射するX線の入射角度ωと試料で回折するX線の回折角度2θとを連動して変化させる際の基準となる2θ/ω軸か、のいずれかである
ことを特徴とするX線回折装置。
The X-ray diffractometer according to claim 1 or 2 ,
The plurality of measurement axes defined by the interlocking of the plurality of moving systems is
(1) An axis defined by the linkage of the θs moving system for changing the angle θs at which the X-ray generation system looks at the sample and the θd moving system for changing the angle θd at which the X-ray detection means looks at the sample. The 2θ axis that defines the diffraction angle 2θ with respect to the incident X-ray,
(2) An axis having the same value as θs when the θs moving system and the θd moving system are interlocked as θd = 2θ−θs, and defines an incident angle ω of X-rays incident on the sample. ω axis,
(3) An axis defined by the interlocking of the θs moving system and the θd moving system, wherein the X-ray incident angle ω incident on the sample and the X-ray diffraction angle 2θ diffracted by the sample are interlocked. An X-ray diffractometer that is either a 2θ / ω axis that serves as a reference for the change.
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