JP4848513B2 - 回転体測定方法および装置 - Google Patents
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Description
+x(θ)(w1cosφ1+w2cosφ2+w3cosφ3)
+y(θ)(w1sinφ1+w2sinφ2+w3sinφ3) (3)
w1sinφ1+w2sinφ2+w3sinφ3=0 (4)
=w1Σ{Akcos(k(θ+φ1))+Bksin(k(θ+φ1))}
+w2Σ{Akcos(k(θ+φ2))+Bksin(k(θ+φ2))}
+w3Σ{Akcos(k(θ+φ3))+Bksin(k(θ+φ3))}
(5)
w1sin(kφ1)+w2sin(kφ2)+w3sin(kφ3):=βk (6)
dr(θ)=Σ{(Akαk−Bkβk)cos(kθ)
+(Bkαk+Akβk)sin(kθ)}
=Σ{Fkcos(kθ)+Gksin(kθ)} (7)
Bk=(−βkFk+αkGk)/(αk2+βk2) (8)
+(d1(θ)-r(θ+φ1))sinφ2}/sin(φ1−φ2)
y(θ)={(d2(θ)-r(θ+φ2))cosφ1
−(d1(θ)-r(θ+φ1))cosφ2}/sin(φ1−φ2)
(9)
y(θ)=Σ{Nkcos(kθ)+Mksin(kθ)} (10)
+x(θ)(w11cosφ1+w12cosφ2+w13cosφ3)
+y(θ)(w11sinφ1+w12sinφ2+w13sinφ3)
(12)
dr2(θ)=w21r(θ+φ1)+w24r(θ+φ2)+w23r(θ+φ3)
+x(θ)(w21cosφ1+w24cosφ2+w23cosφ3)
+y(θ)(w21sinφ1+w24sinφ2+w23sinφ3)
(13)
w11sinφ1+w12sinφ2+w13sinφ3=0 (14)
w21cosφ1+w24cosφ4+w23cosφ3=0
w21sinφ1+w24sinφ4+w23sinφ3=0 (15)
=w11Σ{Akcos(k(θ+φ1))+Bksin(k(θ+φ1))}
+w12Σ{Akcos(k(θ+φ2))+Bksin(k(θ+φ2))}
+w13Σ{Akcos(k(θ+φ3))+Bksin(k(θ+φ3))}
(16)
dr2(θ)=w21r(θ+φ1)+w24r(θ+φ4)+w23r(θ+φ3)
=w21Σ{Akcos(k(θ+φ1))+Bksin(k(θ+φ1))}
+w24Σ{Akcos(k(θ+φ4))+Bksin(k(θ+φ4))}
+w23Σ{Akcos(k(θ+φ3))+Bksin(k(θ+φ3))}
(17)
w11sin(kφ1)+w12sin(kφ2)+w13sin(kφ3):=β1k
(18)
w21cos(kφ1)+w24cos(kφ4)+w23cos(kφ3):=α2k
w21sin(kφ1)+w24sin(kφ4)+w23sin(kφ3):=β2k
(19)
dr1(θ)=Σ{(A1kα1k−B1kβ1k)cos(kθ)
+(B1kα1k+A1kβ1k)sin(kθ)}
=Σ{F1kcos(kθ)+G1ksin(kθ)} (20)
dr2(θ)=Σ{(A2kα2k−B2kβ2k)cos(kθ)
+(B2kα2k+A2kβ2k)sin(kθ)}
=Σ{F2kcos(kθ)+G2ksin(kθ)} (21)
B1k=(−β1kF1k+α1kG1k)/(α1k 2+β1k 2) (22)
A2k=(α2kF2k+β2kG2k)/(α2k 2+β2k 2)
B2k=(−β2kF2k+α2kG2k)/(α2k 2+β2k 2) (23)
H2k=√(α2k 2+β2k 2) (25)
+(d1(θ)-r(θ+φ1))sinφ2}/sin(φ1−φ2)
y(θ)={(d2(θ)-r(θ+φ2))cosφ1
−(d1(θ)-r(θ+φ1))cosφ2}/sin(φ1−φ2)
(9)
y(θ)=Σ{Nkcos(kθ)+Mksin(kθ)} (10)
Claims (10)
- 回転体の形状を含む特性を測定する回転体測定方法であって、該回転体の回転円周上に測定中心に向けて配置された少なくとも4本の検出器群と、該検出器群に接続された処理部とを用いるものであり、
前記検出器群の内の3本を一組とする第1組の検出器の配置角度は、前記回転体の形状のフーリエ級数成分算出時に用いる第1組の倍率が所定の条件に従う角度に設定され、該所定の条件は、複数の配置角度に関する第1組の倍率におけるフーリエ級数の次数中での最大値が最小となる倍率の場合の配置角度であり、
前記検出器群の内の、第1組と少なくとも1本が異なる3本を一組とする第2組の検出器の配置角度は、前記回転体の形状のフーリエ級数成分算出時に用いる第2組の倍率が第1組の倍率を補完する補完条件に従う角度に設定されており、該補完条件は、各組の倍率が所定の値以上の近似的に均一な値となる倍率の場合の配置角度であり、
前記処理部は、前記検出器群の出力と、3点法により第1組の倍率と第2組の倍率とを求め、大きい方の倍率の組をその次数の係数として採用する所定の多点法とに基づき回転体の形状を算出することを特徴とする回転体測定方法。 - 請求項1記載の回転体測定方法において、前記検出器群の内に3本を一組とする第m組(m>2)を設定し、第m組は第1組乃至第m−1組と少なくとも1本が異なるものであり、第m組の検出器の配置角度は、前記回転体の形状のフーリエ級数成分算出時に用いる第m組の倍率が第1組乃至第m−1組の各倍率を補完する前記補完条件に従う角度に設定されたことを特徴とする回転体測定方法。
- 請求項1又は2記載の回転体測定方法において、回転体の形状は回転角によるフーリエ級数で表され、変位検出器の出力である検出変位は回転体の偏心量と該変位検出器の配置角度における回転体の形状とに基づき表され、
前記処理部が、
各組毎に、各検出器の検出変位の重み付け加算を求める際における重みを、偏心量が0となるように求める重み算出処理ステップと、
各組毎に、前記重み算出処理ステップにより求めた重みを用いて各変位検出器の配置角度毎のフーリエ成分を加算した倍率係数を求める倍率係数算出処理ステップと、
各組毎に前記倍率係数算出処理ステップにより求めた倍率係数に基づく倍率を求め、フーリエ級数の各次数毎に各組の倍率の大小を比較し、各次数毎に大きい方の組を選択する選択処理ステップと、
各組毎に、前記重み算出処理ステップにより求めた重みを用いて各検出器の検出変位の重み付け加算を求める重み付け加算処理ステップと、
各組毎に、前記重み付け加算処理ステップにより求めた重み付け加算のフーリエ係数を求めるフーリエ係数算出処理ステップと、
各組毎に、前記倍率係数算出処理ステップにより求めた倍率係数と前記フーリエ係数算出処理ステップにより求めた重み付け加算のフーリエ係数とを用いて、回転体の形状のフーリエ係数を求める形状フーリエ係数算出処理ステップと、
前記形状フーリエ係数算出処理ステップにより求めた各組毎の回転体の形状のフーリエ係数について、前記選択処理ステップにより各次数毎に選択した組の方の回転体の形状のフーリエ係数を各次数毎の正の回転体の形状のフーリエ係数として求める正形状フーリエ係数算出処理ステップと、
前記正形状フーリエ係数算出処理ステップにより求めた正の回転体の形状のフーリエ係数に基づき、回転体の形状を求める形状算出処理ステップとを実行することを特徴とする回転体測定方法。 - 請求項3記載の回転体測定方法において、前記処理部は、前記形状算出処理ステップにより求めた形状と前記重み付け加算処理ステップにより求めた各組毎の重み付け加算とに基づき、回転体の回転振れ量を求める回転振れ量算出ステップをさらに備えたことを特徴とする回転体測定方法。
- 請求項1乃至4のいずれかに記載の回転体測定方法において、検出器が4本の場合、変位検出器の配置角度は、各々、0°、110°、120°及び−135°であることを特徴とする回転体測定方法。
- 回転体の形状を含む特性を測定する回転体測定装置であって、該回転体の回転円周上に測定中心に向けて配置された少なくとも4本の検出器群と、該検出器群に接続された処理部とを備え、
前記検出器群の内の3本を一組とする第1組の検出器の配置角度は、前記回転体の形状のフーリエ級数成分算出時に用いる第1組の倍率が所定の条件に従う角度に設定され、該所定の条件は、複数の配置角度に関する第1組の倍率におけるフーリエ級数の次数中での最大値が最小となる倍率の場合の配置角度であり、
前記検出器群の内の、第1組と少なくとも1本が異なる3本を一組とする第2組の検出器の配置角度は、前記回転体の形状のフーリエ級数成分算出時に用いる第2組の倍率が第1組の倍率を補完する補完条件に従う角度に設定されており、該補完条件は、各組の倍率が所定の値以上の近似的に均一な値となる倍率の場合の配置角度であり、
前記処理部は、前記検出器群の出力と、3点法により第1組の倍率と第2組の倍率とを求め、大きい方の倍率の組をその次数の係数として採用する所定の多点法とに基づき回転体の形状を算出することを特徴とする回転体測定装置。 - 請求項6記載の回転体測定装置において、前記検出器群の内に3本を一組とする第m組(m>2)を設定し、第m組は第1組乃至第m−1組と少なくとも1本が異なるものであり、第m組の検出器の配置角度は、前記回転体の形状のフーリエ級数成分算出時に用いる第m組の倍率が第1組乃至第m−1組の各倍率を補完する補完条件に従う角度に設定されたことを特徴とする回転体測定装置。
- 請求項6又は7記載の回転体測定装置において、回転体の形状は回転角によるフーリエ級数で表され、変位検出器の出力である検出変位は回転体の偏心量と該変位検出器の配置角度における回転体の形状とに基づき表され、
前記処理部は、
各組毎に、各検出器の検出変位の重み付け加算を求める際における重みを、偏心量が0となるように求める重み算出処理手段と、
各組毎に、前記重み算出処理手段により求めた重みを用いて各変位検出器の配置角度毎のフーリエ成分を加算した倍率係数を求める倍率係数算出処理手段と、
各組毎に前記倍率係数算出処理手段により求めた倍率係数に基づく倍率を求め、フーリエ級数の各次数毎に各組の倍率の大小を比較し、各次数毎に大きい方の組を選択する選択処理手段と、
各組毎に、前記重み算出処理手段により求めた重みを用いて各検出器の検出変位の重み付け加算を求める重み付け加算処理手段と、
各組毎に、前記重み付け加算処理手段により求めた重み付け加算のフーリエ係数を求めるフーリエ係数算出処理手段と、
各組毎に、前記倍率係数算出処理手段により求めた倍率係数と前記フーリエ係数算出処理手段により求めた重み付け加算のフーリエ係数とを用いて、回転体の形状のフーリエ係数を求める形状フーリエ係数算出処理手段と、
前記形状フーリエ係数算出処理手段により求めた各組毎の回転体の形状のフーリエ係数について、前記選択処理手段により各次数毎に選択した組の方の回転体の形状のフーリエ係数を各次数毎の正の回転体の形状のフーリエ係数として求める正形状フーリエ係数算出処理手段と、
前記正形状フーリエ係数算出処理手段により求めた正の回転体の形状のフーリエ係数に基づき、回転体の形状を求める形状算出処理手段とを備えたことを特徴とする回転体測定装置。 - 請求項8記載の回転体測定装置において、前記処理部は、前記形状算出処理手段により求めた形状と前記重み付け加算処理手段により求めた各組毎の重み付け加算とに基づき、回転体の回転振れ量を求める回転振れ量算出手段をさらに備えたことを特徴とする回転体測定装置。
- 請求項6乃至9のいずれかに記載の回転体測定装置において、検出器が4本の場合、変位検出器の配置角度は、各々、0°、110°、120°及び−135°であることを特徴とする回転体測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005377912A JP4848513B2 (ja) | 2005-12-28 | 2005-12-28 | 回転体測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005377912A JP4848513B2 (ja) | 2005-12-28 | 2005-12-28 | 回転体測定方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007178296A JP2007178296A (ja) | 2007-07-12 |
JP4848513B2 true JP4848513B2 (ja) | 2011-12-28 |
Family
ID=38303628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005377912A Active JP4848513B2 (ja) | 2005-12-28 | 2005-12-28 | 回転体測定方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4848513B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
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---|---|---|---|---|
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CN112105889B (zh) * | 2018-05-08 | 2022-09-20 | 汉阳大学校Erica产学协力团 | 对象物的表面测定装置及测定方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3401444B2 (ja) * | 1998-12-15 | 2003-04-28 | 株式会社ミツトヨ | 微細形状測定装置 |
JP3564637B2 (ja) * | 2000-03-02 | 2004-09-15 | 株式会社東京精密 | 粗さ測定装置 |
-
2005
- 2005-12-28 JP JP2005377912A patent/JP4848513B2/ja active Active
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