JP4834521B2 - Power supply device and electronic device - Google Patents

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Description

本発明は電子装置に係り、特に電源部の予防保全が可能な電子装置に関するものである。   The present invention relates to an electronic device, and more particularly to an electronic device capable of preventive maintenance of a power supply unit.

電源装置および電子装置は、電源入力電圧を許容範囲の内で動作させることが必要で、装置に入力される電圧を検出し、異常が検出された場合には装置を保護するために適切な処理が行なわれる。また同様に、出力電圧や電流も異常が検出された場合には装置を保護するために適切な処理が行なわれる。一般には、電源装置や電子装置に入力される電源電圧や出力電圧、電流を監視する回路を備え、許容範囲の外になった場合は、電源を遮断する、警報を発する、などの処置が施される。このような検知機能について次のような提案がなされている。   Power supply devices and electronic devices must operate within the allowable range of power supply input voltage, detect the voltage input to the device, and take appropriate measures to protect the device if an abnormality is detected Is done. Similarly, when an abnormality is detected in the output voltage or current, appropriate processing is performed to protect the device. In general, it is equipped with a circuit that monitors the power supply voltage, output voltage, and current input to the power supply device and electronic device, and when it falls outside the allowable range, measures such as shutting off the power supply and issuing an alarm are taken. Is done. The following proposal is made about such a detection function.

特許文献1には、入力電源の電圧低下時に負荷である電子装置を破損や誤動作から保護することを目的として、入力電源の電圧と電流を監視する電源監視装置が記載されている。特許文献2には、電源装置の交流入力電圧を監視し、電圧異常や瞬時停電、停電等が検出された場合は、検出された内容に応じた各種の異常情報を出力することで警報等を発生させる技術が開示されている。   Patent Document 1 describes a power supply monitoring device that monitors the voltage and current of an input power supply for the purpose of protecting an electronic device as a load from damage or malfunction when the voltage of the input power supply drops. In Patent Document 2, an AC input voltage of a power supply device is monitored, and when a voltage abnormality, an instantaneous power failure, a power failure, or the like is detected, an alarm or the like is output by outputting various abnormality information according to the detected content. Techniques for generating are disclosed.

特許文献3には、停電検出までの遅延設定などの処理設定が可能な無停電電源装置が記載されている。特許文献4には、内部の電池の電源電圧を監視してサンプリングタイムを制御するデータ収集装置が記載されている。特許文献5には、時間領域反射測定検査技術を適用して、システムインターフェースからケーブル等を取り外すことなく障害を隔離することができる障害隔離検査装置が記載されている。   Patent Document 3 describes an uninterruptible power supply capable of setting processing such as delay setting until power failure detection. Patent Document 4 describes a data collection device that controls the sampling time by monitoring the power supply voltage of an internal battery. Patent Document 5 describes a fault isolation inspection apparatus that can isolate a fault without removing a cable or the like from a system interface by applying a time domain reflection measurement inspection technique.

特許文献6には、携帯型端末の障害切り分けのため、端末内部の電池等の監視を行う障害の切り分け装置が記載されている。特許文献7には、パラメータの一つとして電源電圧、電流の監視を行う構成可変電子制御装置が記載されている。特許文献8には、充放電条件の変更に対して容易に対応可能な電池充放電装置が記載されている。また、特許文献9には、車載バッテリから供給される電圧に異常が生じたとき、電源を遮断する電子制御装置が記載されている。   Patent Document 6 describes a fault isolation device that monitors a battery or the like inside a terminal for fault isolation of a portable terminal. Patent Document 7 describes a configuration variable electronic control device that monitors power supply voltage and current as one of parameters. Patent Document 8 describes a battery charge / discharge device that can easily cope with changes in charge / discharge conditions. Patent Document 9 describes an electronic control device that shuts off a power supply when an abnormality occurs in a voltage supplied from an in-vehicle battery.

特開平09−091045号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 09-091045 特開平11−202005号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-202005 特開平04−150737号公報JP 04-150737 A 特開平08−202740号公報Japanese Patent Laid-Open No. 08-202740 特開平09−506448号公報JP 09-506448 A 特開平11−191026号公報JP-A-11-191026 特開2001−314690号公報JP 2001-314690 A 特開2002−374631号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2002-374631 特開2003−140755号公報JP 2003-140755 A

特許文献1および特許文献8等においては、装置に入力される電源の電圧の上昇、電圧低下、瞬時停電、低迷、瞬時上昇などの異常な波形となり、装置の動作が正常に行われなくなった場合に、入力電圧監視回路にて検出し、装置の切離しを実施することで装置の破損を防止している。しかし、このとき装置が停止した原因が装置自身にあるのか、もしくは原因が電源設備側にあって、その現象が、電圧が高くなったことによるものか、低くなったことによるものか、異常な波形になったことによるものかなどの原因を判断する情報がなく、障害の原因が切り分けできない場合がある。   In Patent Literature 1 and Patent Literature 8, etc., when the power supply voltage input to the device is abnormal, such as a rise, a voltage drop, an instantaneous power failure, a stagnation, or an instantaneous rise, the operation of the device is not performed normally. In addition, the device is prevented from being damaged by detecting the input voltage monitoring circuit and disconnecting the device. However, at this time, the cause of the equipment stoppage is the equipment itself, or the cause is the power supply equipment side, and the phenomenon is caused by the voltage becoming higher or lower, or abnormal. In some cases, there is no information for determining a cause such as a waveform, and the cause of the failure cannot be identified.

また、装置の電源が停止すると、警報等が出力されない、中断するなどの場合もある。この場合、もし電源設備側に問題があるならば、装置を交換、修理しても、同様の故障が再発するから、この修理は抜本解決にならない。また、その場合は交換した装置を調査したとしても障害は再現しないから、詳細な原因の調査が困難であり、原因判明に相当の時間を要する。   Moreover, when the power supply of the apparatus is stopped, an alarm or the like may not be output or may be interrupted. In this case, if there is a problem on the power supply equipment side, even if the device is replaced or repaired, the same failure will reoccur, so this repair is not a drastic solution. In this case, since the failure is not reproduced even if the replaced device is investigated, it is difficult to investigate the cause in detail, and it takes a considerable time to identify the cause.

本発明での課題は、障害が発生したときの原因の切り分けが可能なまたは事前に障害予知が可能な電子装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an electronic device capable of identifying a cause when a failure occurs or predicting a failure in advance.

上記課題は、電源回路と、この電源回路の入力に接続された第1の測定器と、電源回路の出力に接続された第2の測定器と、第1の測定器と第2の測定器に接続された制御回路と、この制御回路に接続された記憶素子とからなり、制御回路は、第1の測定器が測定した電源回路の入力電圧または入力電流と、第2の測定器が測定した電源回路の出力電圧または出力電流と、時刻とを対応付けて、予め定めた間隔で記憶素子に記録する電子装置により、達成できる。   The above-described problems include a power supply circuit, a first measuring instrument connected to the input of the power supply circuit, a second measuring instrument connected to the output of the power supply circuit, the first measuring instrument, and the second measuring instrument. And a storage element connected to the control circuit. The control circuit measures the input voltage or input current of the power supply circuit measured by the first measuring instrument and the second measuring instrument. This can be achieved by an electronic device that records the output voltage or output current of the power supply circuit in association with the time and records them in a memory element at predetermined intervals.

また、複数の電源装置と、これらの電源装置を監視する2次制御回路と、この2次制御回路に接続されたインターフェイス回路とからなり、電源装置は、電源回路と、この電源回路の入力に接続された第1の測定器と、電源回路の出力に接続された第2の測定器と、第1の測定器と第2の測定器に接続された制御回路と、この制御回路に接続された記憶素子とからなり、制御回路は、第1の測定器が測定した電源回路の入力電圧または入力電流と、第2の測定器が測定した電源回路の出力電圧または出力電流と、時刻とを対応付けて、予め定めた間隔で記憶素子に記録し、入力電圧、入力電流、出力電圧、出力電流のいずれかが、予め定めた範囲から予め定めた時間外れたとき、2次制御回路に異常報告を送信し、2次制御回路は、制御回路から受信した異常報告を、インターフェイス回路を介して送信する電子装置により、達成できる。   The power supply device includes a plurality of power supply devices, a secondary control circuit that monitors these power supply devices, and an interface circuit connected to the secondary control circuit. The power supply device is connected to the power supply circuit and an input of the power supply circuit. A first measuring instrument connected, a second measuring instrument connected to the output of the power supply circuit, a control circuit connected to the first measuring instrument and the second measuring instrument, and a control circuit connected to the control circuit; The control circuit includes the input voltage or input current of the power circuit measured by the first measuring instrument, the output voltage or output current of the power circuit measured by the second measuring instrument, and the time. Correspondingly, it is recorded in the memory element at a predetermined interval, and when any of the input voltage, input current, output voltage, and output current is out of the predetermined range for a predetermined time, the secondary control circuit is abnormal. Send the report, the secondary control circuit is the control circuit La received anomaly reported by the electronic device to be transmitted via the interface circuit can be achieved.

本発明によれば、障害が発生したときの原因の切り分けが可能な、または事前に障害予知が可能な電子装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the electronic device which can isolate the cause when a failure generate | occur | produces, or can predict a failure in advance can be provided.

以下、本発明の実施形態について実施例を用い図面を参照しながら説明する。なお、同一部位には同じ参照番号を振り、説明は繰り返さない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described using examples with reference to the drawings. Note that the same reference numerals are assigned to the same parts, and description thereof is not repeated.

実施例1について、図1ないし図3を用いて説明する。ここで、図1は電源装置の要部ブロック図である。図2は測定手順を説明するフロー図である。図3は測定値テーブル、ピーク測定値テーブルを説明する図である。   A first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 3. Here, FIG. 1 is a principal block diagram of the power supply apparatus. FIG. 2 is a flowchart for explaining the measurement procedure. FIG. 3 is a diagram for explaining the measurement value table and the peak measurement value table.

図1において、電源装置1は、電源設備2からAC100Vの供給を受け、安定なDC48Vを出力する電源回路20と、電源回路20の入力を測定する交流用測定器21と、電源回路20の出力を測定する直流用測定器22と、測定器21、22と接続された制御回路23と、制御回路23に接続された記憶素子24と、制御回路23と記憶素子24と接続されたインターフェイス(I/F)回路25とから構成される。   In FIG. 1, a power supply device 1 receives a supply of AC 100 V from a power supply facility 2 and outputs a stable DC 48 V, an AC measuring instrument 21 that measures the input of the power supply circuit 20, and an output of the power supply circuit 20. DC measuring instrument 22, measuring circuit 21, control circuit 23 connected to measuring instrument 22, storage element 24 connected to control circuit 23, interface connected to control circuit 23 and storage element 24 (I / F) circuit 25.

一般に電源装置は、入力電圧の許容範囲、瞬時低下等の耐量などが決められており、それらの値は装置毎に異なる。電源装置1の測定器21は、電源装置1に入力される電圧および電流を測定する。測定器22は、同様に出力電圧および電流を測定する。これらの測定器は、プローブからのアナログ電圧についてADコンバータを使用して詳細なディジタル値として測定する。これらの測定値を、制御回路23は、記憶素子24に記録する。制御回路23は、記憶素子24とインターフェイス回路25を制御して、図示しない上位装置に報告する。また、逆に、上位装置から読み出すことができる。   In general, the power supply apparatus has an allowable range of input voltage, a tolerance for an instantaneous drop, and the like, and these values differ for each apparatus. Measuring instrument 21 of power supply device 1 measures the voltage and current input to power supply device 1. The measuring device 22 similarly measures the output voltage and current. These instruments measure the analog voltage from the probe as a detailed digital value using an AD converter. The control circuit 23 records these measured values in the storage element 24. The control circuit 23 controls the storage element 24 and the interface circuit 25 and reports it to a host device (not shown). Conversely, it can be read from the host device.

制御回路23は、測定器21、22で測定した電圧値、電流値と、予め定めたそれらの値の閾値とを比較し、規定時間以上閾値以上(または以下)を継続したとき、異常と判定して、その結果を上位装置に対してインターフェイス回路25を通して報告する。なお、ここでの異常とは、故障とは異なり、故障の予兆のことである。逆に、故障の閾値を更に設け、故障を判定しても良い。   The control circuit 23 compares the voltage value and current value measured by the measuring devices 21 and 22 with threshold values of those values determined in advance, and determines that there is an abnormality when the threshold value is continued for more than a specified time (or less) for a specified time. Then, the result is reported to the host device through the interface circuit 25. Here, the abnormality is a sign of failure unlike a failure. Conversely, a failure threshold may be further provided to determine the failure.

図2において、制御回路23は、まず測定器21、22から測定値を収集する(S11)。制御回路23は、収集した測定値に時刻データと測定箇所データとを加えて、記憶素子24に記録する(S12)。制御回路23は、10msecのディレイ(S13)後、再びステップ11に戻る。ここで、ステップ13のディレイは、サイクルタイムを20msecに調整するためである。   In FIG. 2, the control circuit 23 first collects measurement values from the measuring devices 21 and 22 (S11). The control circuit 23 adds time data and measurement location data to the collected measurement values and records them in the storage element 24 (S12). The control circuit 23 returns to Step 11 again after a delay of 10 msec (S13). Here, the delay in step 13 is for adjusting the cycle time to 20 msec.

図3において、制御回路23は、記憶素子24に測定値テーブル80とピーク測定値テーブル90を保持する。測定値テーブル80は、時刻81、測定箇所82、値83から構成された、20msec毎の連続データである。一方、ピーク測定値テーブル90は、日時91、測定箇所92、値93から構成され、測定箇所、測定箇所毎のピーク値およびボトム値を記録するデータである。   In FIG. 3, the control circuit 23 holds a measurement value table 80 and a peak measurement value table 90 in the storage element 24. The measurement value table 80 is continuous data composed of time 81, measurement location 82, and value 83 every 20 msec. On the other hand, the peak measurement value table 90 is composed of a date 91, a measurement location 92, and a value 93, and is data for recording the measurement location, the peak value and the bottom value for each measurement location.

記憶素子24は、フラッシュメモリ、EPROM等の不揮発性の素子を用いて、電源装置が停止しても記憶した測定値を保持する。記憶素子24の容量は、2GByte程度あればサイクルタイム20msecの連続測定で1ヶ月間程度の16Byteデータを保持できる。1ヶ月以上の連続データは不要なので、古いデータを1日単位で削除することが好ましい。また、古いデータを削除せず、単に上書きしても良い。   The storage element 24 uses a non-volatile element such as a flash memory or EPROM, and holds the stored measurement value even when the power supply device is stopped. If the capacity of the storage element 24 is about 2 GB, 16 bytes of data for about one month can be held by continuous measurement with a cycle time of 20 msec. Since continuous data of one month or longer is unnecessary, it is preferable to delete old data in units of one day. Also, old data may be simply overwritten without being deleted.

インターフェイス回路25は、シリアル出力のI2C(Inter-Integrated Circuit)が好適であるが、ピン出力(Hi、Lo信号)、パラレル出力、シリアル出力(RS232C、Etherなど)を任意に使用することが出来る。
なお、測定器が測定する値は、電圧値と電流値の両者でなくとも構わない。この場合、電圧値を測定/記録することがより好ましい。
The interface circuit 25 is preferably a serial output I2C (Inter-Integrated Circuit), but a pin output (Hi, Lo signal), a parallel output, and a serial output (RS232C, Ether, etc.) can be arbitrarily used.
Note that the value measured by the measuring device may not be both a voltage value and a current value. In this case, it is more preferable to measure / record the voltage value.

測定器、ADコンバータの分解能については必要に応じて適宜、決定する。また、ADコンバータでは無く、電圧または電流比較器群として、複数のしきい値を持つことにより、ある分解能、ある範囲での値を知るようにすることでも、測定の目的が十分に達成される。例えば、入力電圧の測定の分解能を5つの範囲に分けてコード化するなどしても、それは測定値と言える。具体例を挙げると、過電圧異常の電圧範囲、動作可能だが限界に近い高電圧の範囲、正常な電圧範囲、動作可能だが限界に近い低電圧の範囲、過剰に電圧が低い範囲などの5つのコードに分けた場合、その5つのコードは測定値と言える。正常、異常の状態を示すコードでなく、より細かい範囲を表現する値であるからであり、後に平均値などの値としての処理が可能で、分解能すなわち測定誤差が大きいか小さいかの問題にすぎず、設計者が適宜決めれば良い事項である。   The resolution of the measuring instrument and AD converter is appropriately determined as necessary. In addition, by having a plurality of threshold values as voltage or current comparator groups instead of AD converters, the purpose of measurement can be sufficiently achieved by knowing values within a certain resolution and a certain range. . For example, even if the input voltage measurement resolution is divided into five ranges and encoded, it can be said to be a measurement value. For example, five codes such as overvoltage abnormal voltage range, operable high voltage range close to limit, normal voltage range, operable low voltage range close to limit, excessively low voltage range, etc. The five codes are measured values. This is not a code indicating a normal or abnormal state, but a value that expresses a finer range, and can be processed as a value such as an average value later. However, this is a matter that the designer should decide appropriately.

また、ここで単純に電圧、電流の測定だけでなく、測定値と時間の組合せを記録することもできる。例えば、測定値とその継続していた時間の記録でも良いし、時間と電圧の複数組の値により波形を記録しても良いし、ピーク値を記録しても良いし、平均値を記録しても良い。   In addition to simply measuring voltage and current, a combination of measured value and time can also be recorded. For example, it is possible to record the measured value and its continuous time, or to record a waveform with a plurality of values of time and voltage, to record a peak value, or to record an average value. May be.

本実施例に拠れば、電源装置から読み出した測定値は、電源系統に障害が発生した場合の原因の切り分けや分析に利用することができる。具体的には、電源装置内部に原因があるのか、電源設備に原因があるのかの切り分けをして、分析や修理の的確な手配が可能になる。これによって、正確・迅速で抜本的な対策を行うことなどができる。   According to the present embodiment, the measurement value read from the power supply device can be used to isolate and analyze the cause when a failure occurs in the power supply system. Specifically, it is possible to determine whether there is a cause in the power supply device or in the power supply facility, and to make an accurate arrangement for analysis and repair. As a result, it is possible to take an accurate, quick and drastic measure.

また、測定値から、装置の許容範囲ぎりぎりである、または少しずつ変化しているなど、装置の動作に支障をきたすことが予想される場合は、装置管理者に報告を発することにより、電源装置を計画的に停止し、電源設備側の故障の原因を調査することが出来る。   In addition, if it is expected from the measured values that the device is close to the allowable range or is changing little by little, it is expected that the operation of the device will be hindered. Can be systematically stopped and the cause of the failure on the power supply equipment side can be investigated.

さらに、測定値は、不揮発性の記憶素子24に記録することにより、後から記録されたデータを読み出すことが可能である。これは、故障または装置停止となった後に受電環境を調査することが可能であることを意味する。
以上のように、本実施例では、故障原因の切り分けが容易に可能となる。本実施例の電源装置によれば、電源装置の入力および出力の電圧または電流を、遡って調査することができる。なお、電源装置は、電子装置でもある。
Furthermore, by recording the measurement value in the nonvolatile storage element 24, it is possible to read out the recorded data later. This means that it is possible to investigate the power receiving environment after a failure or device shutdown.
As described above, in the present embodiment, the cause of the failure can be easily identified. According to the power supply device of the present embodiment, the voltage or current of the input and output of the power supply device can be investigated retrospectively. The power supply device is also an electronic device.

実施例2について、図4を用いて説明する。ここで、図4は電子装置の要部ブロック図である。
図4において、電子装置4Aは、電源装置1Aと、制御回路23と、記憶素子24と、インターフェイス(I/F)回路25とから構成される。また、電源装置1Aは、外部の電源設備6と接続され、電源回路26と、測定器22−1、22−2とから構成される。電源回路26は、DC−DCコンバータであり、入力されたDC48VをDC12Vに変換し、電子装置4Aに供給する。測定器22−1は、電源回路26の入力側の電圧と電流を測定する。同様に、測定器22−1は、電源回路26の出力側の電圧と電流を測定する。測定器22は、プローブからのアナログ電圧についてADコンバータを使用して詳細なディジタル値として測定する。これらの測定値を、制御回路23は、記憶素子24に記録する。制御回路23は、記憶素子24とインターフェイス回路25を制御して、図示しない上位装置に報告する。また、逆に、上位装置は、記憶素子24から読み出すことができる。
Example 2 will be described with reference to FIG. Here, FIG. 4 is a principal block diagram of the electronic device.
In FIG. 4, the electronic device 4 </ b> A includes a power supply device 1 </ b> A, a control circuit 23, a storage element 24, and an interface (I / F) circuit 25. The power supply device 1A is connected to an external power supply facility 6 and includes a power supply circuit 26 and measuring instruments 22-1 and 22-2. The power supply circuit 26 is a DC-DC converter, converts the input DC48V into DC12V, and supplies it to the electronic device 4A. The measuring device 22-1 measures the voltage and current on the input side of the power supply circuit 26. Similarly, the measuring instrument 22-1 measures the voltage and current on the output side of the power supply circuit 26. The measuring device 22 measures the analog voltage from the probe as a detailed digital value using an AD converter. The control circuit 23 records these measured values in the storage element 24. The control circuit 23 controls the storage element 24 and the interface circuit 25 and reports it to a host device (not shown). Conversely, the host device can read from the storage element 24.

制御回路23は、測定器22で測定した電圧値、電流値と、予め定めたそれらの値の閾値とを比較し、規定時間以上閾値以上(または以下)を継続したとき、異常と判定して、その結果を上位装置に対してインターフェイス回路25を通して報告する。   The control circuit 23 compares the voltage value and current value measured by the measuring instrument 22 with threshold values of those values determined in advance, and determines that an abnormality has occurred when the threshold value is continued for the specified time or more (or less). The result is reported to the host device through the interface circuit 25.

実施例1の図1との対比から明らかなように、実施例2は、電源装置の入力がDC48Vであること、記憶素子、制御回路、インターフェイス回路を、電源装置ではなく、電子装置に実装したことのみの違いである。この結果、実施例2は、実施例1で説明したと同様な効果を奏する。   As is clear from the comparison of FIG. 1 with the first embodiment, in the second embodiment, the input of the power supply device is DC48V, and the storage element, the control circuit, and the interface circuit are mounted on the electronic device instead of the power supply device. The only difference is that. As a result, the second embodiment has the same effects as described in the first embodiment.

実施例3について、図5を用いて説明する。ここで、図5は電子装置の要部ブロック図である。   Example 3 will be described with reference to FIG. Here, FIG. 5 is a principal block diagram of the electronic apparatus.

図5において、電子装置4Bは、電源装置1Bと、2次制御回路36Aと、記憶素子24と、インターフェイス(I/F)回路25とから構成される。また、電源装置1Bは、外部の電源設備2と接続され、電源回路20と、測定器21、22と、制御回路23と、記憶素子38から構成される。電源回路26は、入力されたAC100VをDC48Vに変換し、電子装置4Bに供給する。測定器21は、電源回路20の入力側の電圧と電流を測定する。同様に、測定器22は、電源回路20の出力側の電圧と電流を測定する。測定器21、22は、プローブからのアナログ電圧についてADコンバータを使用して詳細なディジタル値として測定する。これらの測定値を、制御回路23は、記憶素子38に記録し、また2次制御回路36Aに送信する。   In FIG. 5, the electronic device 4B includes a power supply device 1B, a secondary control circuit 36A, a storage element 24, and an interface (I / F) circuit 25. The power supply device 1 </ b> B is connected to an external power supply facility 2 and includes a power supply circuit 20, measuring instruments 21 and 22, a control circuit 23, and a storage element 38. The power supply circuit 26 converts the input AC100V into DC48V and supplies it to the electronic device 4B. The measuring instrument 21 measures the voltage and current on the input side of the power supply circuit 20. Similarly, the measuring instrument 22 measures the voltage and current on the output side of the power supply circuit 20. The measuring devices 21 and 22 measure the analog voltage from the probe as a detailed digital value using an AD converter. The control circuit 23 records these measured values in the storage element 38 and transmits them to the secondary control circuit 36A.

2次制御回路36Aは、受信した測定値を記憶素子24に記録し、インターフェイス回路25を制御して、図示しない上位装置に報告する。また、逆に、上位装置は、2次制御装置36Aから読み出すことができる。   The secondary control circuit 36A records the received measurement value in the storage element 24, controls the interface circuit 25, and reports it to a host device (not shown). Conversely, the host device can read from the secondary control device 36A.

制御回路23は、測定器22で測定した電圧値、電流値と、予め定めたそれらの値の閾値とを比較し、規定時間以上閾値以上(または以下)を継続したとき、異常と判定して、その結果を上位装置に対してインターフェイス回路25を通して報告する。   The control circuit 23 compares the voltage value and current value measured by the measuring instrument 22 with threshold values of those values determined in advance, and determines that an abnormality has occurred when the threshold value is continued for the specified time or more (or less). The result is reported to the host device through the interface circuit 25.

実施例1の図1および実施例2の図4との対比から明らかなように、実施例3では、制御回路の機能を分割し、測定値データを電源装置と電源装置の両者に置く。このように構成することで、実施例3は、実施例1で説明したと同様な効果を奏すると同時に、電源装置単体での障害調査を容易にしている。   As is clear from the comparison between FIG. 1 of the first embodiment and FIG. 4 of the second embodiment, in the third embodiment, the function of the control circuit is divided and the measured value data is placed in both the power supply device and the power supply device. With this configuration, the third embodiment achieves the same effect as described in the first embodiment, and at the same time facilitates the investigation of a failure in the power supply unit alone.

実施例4について、図6および図7を用いて説明する。ここで、図6は電子装置の要部ブロック図である。図7はサーバ装置の要部ブロック図である。
図6において、電子装置4Cは、実施例3で説明した電源装置1B 4台からなる電源装置群11と、2次制御回路36Bと、記憶素子24Aと、インターフェイス回路25とから構成される。2次制御回路36Bは、電源装置1B−1〜1B−4から時分割で受信した測定値を、記憶素子24Aに記録し、インターフェイス回路25を制御して、図示しない上位装置に報告する。また、逆に、上位装置は、2次制御回路36Aから読み出すことができる。
Example 4 will be described with reference to FIGS. 6 and 7. Here, FIG. 6 is a principal block diagram of the electronic apparatus. FIG. 7 is a principal block diagram of the server device.
In FIG. 6, the electronic device 4C includes the power supply device group 11 including the four power supply devices 1B described in the third embodiment, the secondary control circuit 36B, the storage element 24A, and the interface circuit 25. The secondary control circuit 36B records the measurement values received from the power supply apparatuses 1B-1 to 1B-4 in a time-sharing manner in the storage element 24A, controls the interface circuit 25, and reports it to a host device (not shown). Conversely, the host device can read from the secondary control circuit 36A.

2次制御回路36Bは、電源装置1Bにアクセスして、測定値を得ても良い。また、異常判定は電源装置1B自体で実施し、2次制御回路36Bは、電源装置1B間の測定値の差を監視することが、好適である。   The secondary control circuit 36B may access the power supply device 1B to obtain a measurement value. Further, it is preferable that the abnormality determination is performed by the power supply device 1B itself, and the secondary control circuit 36B monitors a difference in measured values between the power supply devices 1B.

図7を参照して、電子装置であるサーバ装置への適用を説明する。図7にいて、サーバ装置100は、バックプレーン40に図示しないコネクタを介して接続された3台のサーバモジュール50と、3台のサービスプロセッサ60と、I/Oモジュール55と、2台のシステムマネージメントモジュール70と、3台の冷却モジュール65と、3台の電源モジュール1Cとから構成されている。サーバモジュール50は、並列的に演算処理等を行う処理装置である。サービスプロセッサ60は、サーバモジュール50の制御装置である。I/Oモジュール55は、サーバ装置100の入出力を制御する。システムマネージメントモジュール70は、システム(サーバ装置)全体のマネージメントを行う。また、システムマネージメントモジュール70は、図示を省いたが実施例3(図6)の記憶素子24A、2次制御回路36B、I/F回路25を実装する。冷却モジュール65は、各モジュールを冷却する。電源モジュール1Cは、実施例2の電源装置1Bを2出力(12V、48V)とした電源装置であり、冷却モジュール65にDC12Vを、他の各モジュールにDC48Vを供給する。システムマネージメントモジュール70は、さらに制御線75を介して各電源モジュールの電源異常を監視し、電圧値、電流値データを収集する。システムマネージメントモジュール70は、また制御線85を介して冷却モジュールの冷却ファン異常を監視する。   With reference to FIG. 7, the application to the server apparatus which is an electronic device is demonstrated. In FIG. 7, the server device 100 includes three server modules 50, three service processors 60, an I / O module 55, and two systems connected to the backplane 40 via connectors (not shown). The management module 70 includes three cooling modules 65 and three power supply modules 1C. The server module 50 is a processing device that performs arithmetic processing and the like in parallel. The service processor 60 is a control device for the server module 50. The I / O module 55 controls input / output of the server device 100. The system management module 70 manages the entire system (server device). Further, although not shown, the system management module 70 mounts the storage element 24A, the secondary control circuit 36B, and the I / F circuit 25 of the third embodiment (FIG. 6). The cooling module 65 cools each module. The power supply module 1C is a power supply apparatus in which the power supply apparatus 1B of the second embodiment has two outputs (12V, 48V), and supplies DC12V to the cooling module 65 and DC48V to the other modules. The system management module 70 further monitors the power supply abnormality of each power supply module via the control line 75 and collects voltage value and current value data. The system management module 70 also monitors the cooling fan abnormality of the cooling module via the control line 85.

3台の冷却モジュール65と3台の電源モジュールは、冗長構成され、システムマネージメントモジュール70による監視制御により、稼動/不稼動を制御される。また、システムマネージメントモジュール70自身も、冗長構成されている。サーバモジュール50もn+1(この場合n=2)の冗長構成としても良い。   The three cooling modules 65 and the three power supply modules are configured redundantly, and their operation / non-operation is controlled by monitoring control by the system management module 70. Further, the system management module 70 itself has a redundant configuration. The server module 50 may also have a redundant configuration of n + 1 (in this case, n = 2).

本実施例に拠れば、さらに、複数の電源装置の測定値を比較できるので、電流のアンバランスなどを検出することも可能である。アンバランスを検出した場合も、異常電圧、異常電流を検出したときと同様に上位装置に報告し、故障前の異常の段階で電源装置を計画的に停止し、障害の原因を調査することが出来る。   According to the present embodiment, the measurement values of a plurality of power supply devices can be compared, so that it is possible to detect current imbalance and the like. When an imbalance is detected, it can be reported to the host device in the same way as when an abnormal voltage or current is detected, and the power supply can be shut down systematically at the stage of abnormality before the failure, and the cause of the failure can be investigated. I can do it.

以上、実施例を用いて詳細に説明したが、本実施例の技術による実施の形態は他にも多数考えられる。記憶素子とインターフェイス回路とは、同一の集積回路に納めることができる。測定回路と記憶素子、また、インターフェイス回路を同一の集積回路に納めることも可能である。制御回路をことさら必要としない場合もある。   As described above, the embodiment has been described in detail, but many other embodiments according to the technique of the present embodiment are conceivable. The memory element and the interface circuit can be housed in the same integrated circuit. The measurement circuit, the storage element, and the interface circuit can be housed in the same integrated circuit. In some cases, no additional control circuitry is required.

記憶素子には幾多の形態も考えることができる。また、技術の進歩とともに新しい素子も出現すると考えられる。これらの手段は、各時代のものを各都合に合わせて使用すればよく、測定回路と記憶素子とが具備されていれば、良い。   Many forms of the storage element can be considered. In addition, new devices are expected to appear as technology advances. These means may be used for each period according to circumstances, and it is sufficient if a measurement circuit and a storage element are provided.

電源装置の要部ブロック図である。It is a principal part block diagram of a power supply device. 測定手順を説明するフロー図である。It is a flowchart explaining a measurement procedure. 測定値テーブル、ピーク測定値テーブルを説明する図である。It is a figure explaining a measured value table and a peak measured value table. 電子装置の要部ブロック図である(その1)。It is a principal part block diagram of an electronic device (the 1). 電子装置の要部ブロック図である(その2)。It is a principal part block diagram of an electronic device (the 2). 電子装置の要部ブロック図である(その3)。It is a principal part block diagram of an electronic device (the 3). サーバ装置の要部ブロック図である。It is a principal part block diagram of a server apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1…電源装置(電源モジュール)、2…電源設備、4…電子装置、6…電源設備、11…電源装置群、20…電源回路、21…測定器、22…測定器、23…制御回路、24…記憶素子、25…インターフェイス回路、26…電源回路、36…2次制御回路、38…記憶素子、40…バックプレーン、50…サーバモジュール、55…I/Oモジュール、60…サービスプロセッサ、65…冷却モジュール、70…システムマネージメントモジュール、75…制御線、80…測定値テーブル、85…制御線、90…ピーク測定値テーブル、100…サーバ装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Power supply device (power supply module), 2 ... Power supply equipment, 4 ... Electronic device, 6 ... Power supply equipment, 11 ... Power supply device group, 20 ... Power supply circuit, 21 ... Measuring instrument, 22 ... Measuring instrument, 23 ... Control circuit, 24 ... Memory element, 25 ... Interface circuit, 26 ... Power supply circuit, 36 ... Secondary control circuit, 38 ... Memory element, 40 ... Backplane, 50 ... Server module, 55 ... I / O module, 60 ... Service processor, 65 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Cooling module, 70 ... System management module, 75 ... Control line, 80 ... Measurement value table, 85 ... Control line, 90 ... Peak measurement value table, 100 ... Server apparatus.

Claims (4)

電源回路と、この電源回路の入力に接続された第1の測定器と、前記電源回路の出力に接続された第2の測定器と、前記第1の測定器と前記第2の測定器に接続された制御回路と、この制御回路に接続された不揮発性記憶素子とからなる電源装置であって
前記制御回路は、前記第1の測定器が測定した前記電源回路の入力電圧または入力電流と、前記第2の測定器が測定した前記電源回路の出力電圧または出力電流値に、時刻データを加えて、予め定めた間隔で前記不揮発性記憶素子に常時更新しながら記録し、
前記制御回路に接続されたインターフェイス回路を更に含み、
前記制御回路は、前記インターフェイス回路を介して、前記不揮発性記憶素子に記録した前記入力電圧値、前記入力電流値、前記出力電圧値、前記出力電流値、及び前記時刻データを、上位装置に出力することを特徴とする電源装置。
A power circuit, a first measuring device connected to the input of the power circuit, a second measuring device connected to the output of the power circuit, the first measuring device and the second measuring device; a connected control circuit, a power supply device comprising a connected non-volatile storage elements to the control circuit,
The control circuit sets a time to an input voltage value or an input current value of the power circuit measured by the first measuring instrument and an output voltage value or an output current value of the power circuit measured by the second measuring instrument. Add data and record while constantly updating the non-volatile storage element at predetermined intervals ,
An interface circuit connected to the control circuit;
Wherein the control circuit, via the interface circuit, the input voltage value recorded in the nonvolatile storage device, the input current value, the output voltage value, the output current value, and the time data, output to the host device A power supply device characterized by that.
請求項に記載の電源装置であって、
前記制御回路は、前記入力電圧、前記入力電流、前記出力電圧、前記出力電流のいずれかが、予め定めた範囲から予め定めた時間外れたとき、前記インターフェイス回路介して、異常報告を送信することを特徴とする電源装置。
The power supply device according to claim 1 ,
The control circuit reports an abnormality via the interface circuit when any of the input voltage value , the input current value , the output voltage value , and the output current value deviates from a predetermined range for a predetermined time. The power supply device characterized by transmitting.
複数の電源装置と、これらの電源装置を監視する2次制御回路と、この2次制御回路に接続されたインターフェイス回路とからなる電子装置であって、
前記電源装置は、電源回路と、この電源回路の入力に接続された第1の測定器と、前記電源回路の出力に接続された第2の測定器と、前記第1の測定器と前記第2の測定器に接続された制御回路と、この制御回路に接続された不揮発性記憶素子とからなり、
前記制御回路は、前記第1の測定器が測定した前記電源回路の入力電圧または入力電流と、前記第2の測定器が測定した前記電源回路の出力電圧または出力電流値に、時刻データを加えて、予め定めた間隔で前記不揮発性記憶素子に記録し、前記入力電圧、前記入力電流、前記出力電圧、前記出力電流のいずれかが、予め定めた範囲から予め定めた時間外れたとき、前記2次制御回路に異常報告を送信し、
前記2次制御回路は、前記制御回路から受信した前記異常報告を、前記インターフェイス回路を介して送信することを特徴とする電子装置。
An electronic device comprising a plurality of power supply devices, a secondary control circuit for monitoring these power supply devices, and an interface circuit connected to the secondary control circuit,
The power supply device includes a power supply circuit, a first measuring device connected to an input of the power supply circuit, a second measuring device connected to an output of the power supply circuit, the first measuring device, and the first measuring device. 2 comprising a control circuit connected to the measuring instrument 2 and a non-volatile memory element connected to the control circuit,
The control circuit sets a time to an input voltage value or an input current value of the power circuit measured by the first measuring instrument and an output voltage value or an output current value of the power circuit measured by the second measuring instrument. Data is added and recorded in the nonvolatile memory element at a predetermined interval, and any one of the input voltage value , the input current value , the output voltage value , and the output current value is determined in advance from a predetermined range. When the time is off, an abnormality report is sent to the secondary control circuit,
The electronic device, wherein the secondary control circuit transmits the abnormality report received from the control circuit via the interface circuit.
請求項に記載の電子装置であって、
前記2次制御回路は、複数の前記電源装置の前記入力電圧と前記入力電流と前記出力電圧と前記出力電流とを監視し、アンバランスを検出したとき、異常報告を前記インターフェイス回路を介して送信することを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 3 ,
The secondary control circuit monitors the input voltage value , the input current value , the output voltage value, and the output current value of a plurality of the power supply devices, and detects an abnormality when the imbalance is detected. An electronic device characterized by transmitting via
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