JP4817987B2 - Impedance measuring device - Google Patents

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本発明は、測定対象体のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置に関するものである。   The present invention relates to an impedance measuring apparatus for measuring the impedance of a measurement object.

この種のインピーダンス測定装置として、出願人は、特開平11−295362号公報に開示されたインピーダンス測定装置を開発している。このインピーダンス測定装置は、測定対象体に電流供給用プローブを介して交流定電流を供給するための交流定電流源と、電圧検出用プローブを介して入力した測定対象体の両端間電圧を差動増幅するための差動増幅回路と、差動増幅回路の出力電圧を交流定電流に同期した同期信号に基づいて同期検波する同期検波回路と、同期検波回路の出力電圧に基づいてインピーダンスを演算するCPUと、差動増幅回路の出力電圧の飽和を検出する差動増幅回路飽和検出手段とを備えている。このインピーダンス測定装置では、差動増幅回路の出力電圧が飽和して歪んだ場合には、差動増幅回路飽和検出手段がこれを検出して出力し、CPUが、差動増幅回路飽和検出手段のこの検出結果に基づいて、測定対象体のインピーダンスが大きいことに起因して測定対象体の測定が正常に行われていないことを報知したり、測定を停止したりすることにより、誤測定の回避が可能となっている。
特開平11−295362号公報(第3−4頁、第1図)
As this type of impedance measuring apparatus, the applicant has developed an impedance measuring apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-295362. This impedance measuring device differentially calculates the voltage between both ends of an AC constant current source for supplying an AC constant current to the measurement object via the current supply probe and the measurement object input via the voltage detection probe. A differential amplifier circuit for amplifying, a synchronous detector circuit for synchronously detecting the output voltage of the differential amplifier circuit based on a synchronous signal synchronized with an AC constant current, and calculating an impedance based on the output voltage of the synchronous detector circuit A CPU and differential amplifier circuit saturation detection means for detecting saturation of the output voltage of the differential amplifier circuit are provided. In this impedance measuring apparatus, when the output voltage of the differential amplifier circuit is saturated and distorted, the differential amplifier circuit saturation detection means detects and outputs it, and the CPU detects the differential amplifier circuit saturation detection means. Based on this detection result, avoiding erroneous measurement by notifying that the measurement object is not normally measured due to the large impedance of the measurement object or stopping the measurement. Is possible.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-295362 (page 3-4, FIG. 1)

ところが、出願人が既に開発した上記のインピーダンス測定装置には、以下の改善すべき点がある。すなわち、差動増幅回路の出力電圧が飽和して歪む場合としては、上記特許文献1において開示した例以外に、例えばダイオードのような非線形素子を測定対象体として、この測定対象体に対して適正な検査用信号を供給していないとき(具体的には、過大な振幅の交流信号を検査用信号として供給しているとき)が挙げられる。この場合には、測定対象体に供給する検査用信号を適正な電圧に制御することにより、測定対象体についてインピーダンスの測定を続行することができるが、上記のインピーダンス測定装置では、検査用信号の電圧値を制御できないため、インピーダンス測定を続行することができず、この点の改善が望まれている。   However, the impedance measuring apparatus already developed by the applicant has the following points to be improved. That is, when the output voltage of the differential amplifier circuit is saturated and distorted, in addition to the example disclosed in Patent Document 1, for example, a non-linear element such as a diode is used as a measurement object, and the measurement object is appropriate. When a large inspection signal is not supplied (specifically, when an AC signal having an excessive amplitude is supplied as the inspection signal). In this case, by controlling the inspection signal supplied to the measurement target object to an appropriate voltage, the measurement of the impedance of the measurement target object can be continued. Since the voltage value cannot be controlled, the impedance measurement cannot be continued, and improvement of this point is desired.

本発明は、かかる改善点に鑑みてなされたものであり、測定対象体から検出された電流や電圧に歪みが発生したときに誤測定を回避して正確なインピーダンスを測定し得るインピーダンス測定装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of such improvements, and an impedance measuring apparatus capable of measuring an accurate impedance by avoiding an erroneous measurement when distortion occurs in a current or voltage detected from a measurement object. The main purpose is to provide.

上記目的を達成すべく請求項記載のインピーダンス測定装置は、測定対象体に検査用信号を供給する信号供給部と、当該検査用信号の供給時における前記測定対象体を流れる交流電流および当該交流電流の供給に起因して当該測定対象体の両端に発生する両端間電圧に基づいて当該測定対象体のインピーダンスを測定する測定部とを備え、前記信号供給部は、前記検査用信号として直流信号が重畳された交流信号を前記測定対象体に供給し、前記測定部は、前記交流電流および前記両端間電圧の少なくとも一方に含まれている前記検査信号の歪みを検出すると共に当該歪みが規定値以上のときに検出信号を出力する歪み検出部と、当該歪み検出部から前記検出信号が出力されているときに前記信号供給部を制御して前記直流信号の電圧値および電流値のいずれかを増加させる制御部とを備えている。 In order to achieve the above object, the impedance measuring apparatus according to claim 1 includes a signal supply unit that supplies an inspection signal to the measurement object, an alternating current that flows through the measurement object when the inspection signal is supplied, and the alternating current. A measurement unit that measures the impedance of the measurement object based on a voltage between both ends generated at both ends of the measurement object due to supply of current, and the signal supply unit is a DC signal as the inspection signal. Is supplied to the object to be measured, and the measurement unit detects distortion of the inspection signal included in at least one of the AC current and the voltage between both ends, and the distortion is a specified value. A distortion detection unit that outputs a detection signal at the time described above, and when the detection signal is output from the distortion detection unit, the signal supply unit is controlled to control the voltage value of the DC signal. And a control unit for increasing either the fine current value.

請求項記載のインピーダンス測定装置は、請求項1記載のインピーダンス測定装置において、前記歪み検出部は、フーリエ変換演算によって前記検査信号の歪みを検出する。 Impedance measuring apparatus according to claim 2, wherein, in the impedance measuring apparatus according to claim 1 Symbol placement, the distortion detection unit detects a distortion of the test signal by the Fourier transform operation.

請求項記載のインピーダンス測定装置は、請求項1記載のインピーダンス測定装置において、前記歪み検出部は、バンドエリミネーションフィルタを備えて構成されて、当該バンドエリミネーションフィルタを通過した前記検査信号の高調波成分に基づいて当該検査信号の歪みを検出する。 Impedance measuring apparatus according to claim 3, wherein, in the impedance measuring apparatus according to claim 1 Symbol placement, the strain detection unit is configured with a band elimination filter, the test signal which passes through the band-elimination filter A distortion of the inspection signal is detected based on the harmonic component.

求項記載のインピーダンス測定装置では、信号供給部が検査用信号として交流信号を測定対象体に供給している状態において、歪み検出部が測定対象体を流れている交流電流およびその両端間電圧の少なくとも一方に含まれている検査信号の歪みを検出すると共にこの歪みが規定値以上のときに検出信号を出力し、制御部が、歪み検出部から検出信号が出力されている間、信号供給部を制御して直流電圧の電圧値および電流値のいずれかを増加させる。したがって、このインピーダンス測定装置によれば、測定対象体がダイオードのような非線形素子の場合において交流信号の電圧値が所定値以上となったときであっても、測定対象体を流れる交流電流およびその両端間電圧の各波形に含まれている検査信号の歪みが規定値以下となるまで直流信号の電圧値および電流値のいずれかを自動的に増加させつつ、インピーダンスの測定を続行することができるため、誤測定を回避しつつインピーダンスを正確に測定することができる。 In the impedance measuring device Motomeko 1 wherein, in a state in which the signal supply unit is supplied to the measurement object an alternating signal as a test signal, between the alternating current and its both end distortion detector is flowing through the measured object Detects distortion of the inspection signal included in at least one of the voltages and outputs a detection signal when the distortion is equal to or greater than a specified value. The control unit outputs a signal while the detection signal is output from the distortion detection unit. The supply unit is controlled to increase either the voltage value or the current value of the DC voltage. Therefore, according to this impedance measuring apparatus, even when the voltage value of the AC signal is equal to or higher than a predetermined value when the measurement object is a nonlinear element such as a diode, the alternating current flowing through the measurement object and its Impedance measurement can be continued while automatically increasing either the voltage value or the current value of the DC signal until the distortion of the inspection signal contained in each waveform of the voltage across the terminal falls below the specified value. Therefore, it is possible to accurately measure the impedance while avoiding erroneous measurement.

請求項のインピーダンス測定装置によれば、歪み検出部がフーリエ変換演算によって検査信号の歪みを検出することにより、検査信号の歪みを正確に算出することができる。 According to the impedance measuring apparatus of the second aspect , the distortion detector can detect the distortion of the inspection signal accurately by detecting the distortion of the inspection signal by Fourier transform calculation.

請求項記載のインピーダンス測定装置によれば、歪み検出部がバンドエリミネーションフィルタを通過した検査信号の高調波成分に基づいて検査信号の歪みを検出することにより、この歪みを簡易な構成で算出することができる。 According to the impedance measuring apparatus of claim 3 , the distortion detector calculates the distortion with a simple configuration by detecting the distortion of the inspection signal based on the harmonic component of the inspection signal that has passed through the band elimination filter. can do.

以下、添付図面を参照して、インピーダンス測定装置の最良の形態について説明する。 Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, illustrating the best mode impedance measuring device.

最初に、インピーダンス測定装置1の構成について、図面を参照して説明する。   First, the configuration of the impedance measuring apparatus 1 will be described with reference to the drawings.

インピーダンス測定装置1は、図1に示すように、信号供給部2、電流検出部3、電圧検出部4、歪み検出部5、演算制御部6および表示部7を備えて構成されて、測定対象体11のインピーダンスZを測定する。信号供給部2は、正弦波信号である交流信号Vsを検査用信号として生成する。また信号供給部2は、電流供給プローブ12(以下、「プローブ12」ともいう)を介して測定対象体11の一端側に接続可能に構成されて、生成した交流信号Vsを測定対象体11に供給する。また、信号供給部2は、交流信号Vsの電圧値(振幅値)を変更する機能を備えている。この場合、信号供給部2は、演算制御部6の制御に従って交流信号Vsの電圧値の変更を実行する。   As shown in FIG. 1, the impedance measuring apparatus 1 includes a signal supply unit 2, a current detection unit 3, a voltage detection unit 4, a distortion detection unit 5, a calculation control unit 6, and a display unit 7, and is a measurement target. The impedance Z of the body 11 is measured. The signal supply unit 2 generates an AC signal Vs that is a sine wave signal as an inspection signal. The signal supply unit 2 is configured to be connectable to one end side of the measurement target body 11 via a current supply probe 12 (hereinafter also referred to as “probe 12”), and the generated AC signal Vs is supplied to the measurement target body 11. Supply. Further, the signal supply unit 2 has a function of changing the voltage value (amplitude value) of the AC signal Vs. In this case, the signal supply unit 2 changes the voltage value of the AC signal Vs according to the control of the arithmetic control unit 6.

電流検出部3は、電流/電圧変換器(以下、「I/V変換器」ともいう)31、フィルタ32およびA/D変換器33を備え、電圧検出部4、歪み検出部5および演算制御部6と共に本発明における測定部MEを構成する。また、電流検出部3は、電流検出プローブ13(以下、「プローブ13」ともいう)を介して測定対象体11の他端側に接続可能に構成されて、測定対象体11を流れる交流電流I1を検出する。具体的には、I/V変換器31が、プローブ13を介して入力した交流電流I1(測定対象体11を流れる電流)を、交流電流I1の電圧値に比例してその電圧値が変化する電圧信号S1に電流−電圧変換して出力する。フィルタ32は、低域通過型フィルタに構成されて、入力した電圧信号S1に含まれているノイズ成分を除去して電圧信号S2として出力する。A/D変換器33は、入力した電圧信号S2を所定のサンプリング周期でサンプリングすることにより、電圧信号S2の電圧値を示すディジタルデータDiを出力する。   The current detection unit 3 includes a current / voltage converter (hereinafter also referred to as “I / V converter”) 31, a filter 32, and an A / D converter 33, and includes a voltage detection unit 4, a distortion detection unit 5, and arithmetic control. The measurement part ME in this invention is comprised with the part 6. FIG. Further, the current detection unit 3 is configured to be connectable to the other end side of the measurement target body 11 via a current detection probe 13 (hereinafter also referred to as “probe 13”), and an alternating current I 1 flowing through the measurement target body 11. Is detected. Specifically, the voltage value of the alternating current I1 (current flowing through the measurement object 11) input by the I / V converter 31 via the probe 13 changes in proportion to the voltage value of the alternating current I1. Current-voltage converted to voltage signal S1 is output. The filter 32 is configured as a low-pass filter, removes a noise component contained in the input voltage signal S1, and outputs it as a voltage signal S2. The A / D converter 33 outputs the digital data Di indicating the voltage value of the voltage signal S2 by sampling the input voltage signal S2 at a predetermined sampling period.

電圧検出部4は、差動増幅器41、フィルタ42およびA/D変換器43を備えている。また、電圧検出部4は、一対の電圧検出プローブ14,15(以下、「プローブ14,15」ともいう)を介して測定対象体11の各端部に接続可能に構成されて、交流電流I1の供給に起因して測定対象体11の両端間に発生する電圧(本発明における両端間電圧)V1を検出する。具体的には、差動増幅器41が、各プローブ14,15を介して検出した電圧V1を増幅して電圧信号S3として出力する。フィルタ42は、低域通過型フィルタに構成されて、入力した電圧信号S3に含まれているノイズ成分を除去して電圧信号S4として出力する。A/D変換器43は、入力した電圧信号S4を所定のサンプリング周期でサンプリングすることにより、電圧信号S4の電圧値を示すディジタルデータDvを出力する。   The voltage detection unit 4 includes a differential amplifier 41, a filter 42, and an A / D converter 43. Further, the voltage detection unit 4 is configured to be connectable to each end of the measurement object 11 via a pair of voltage detection probes 14 and 15 (hereinafter also referred to as “probes 14 and 15”), and an alternating current I1. The voltage (the voltage between both ends in the present invention) V1 generated between both ends of the measurement object 11 due to the supply of is detected. Specifically, the differential amplifier 41 amplifies the voltage V1 detected via each probe 14, 15 and outputs it as a voltage signal S3. The filter 42 is configured as a low-pass filter, removes a noise component contained in the input voltage signal S3, and outputs it as a voltage signal S4. The A / D converter 43 outputs the digital data Dv indicating the voltage value of the voltage signal S4 by sampling the input voltage signal S4 at a predetermined sampling period.

歪み検出部5は、一例としてDSPで構成されて、入力した電圧信号S2および電圧信号S4の少なくとも一方の波形に発生している歪みを検出する。また、歪み検出部5は、検出した歪みが予め設定された規定値以上のときに検出信号S5を出力する。本例では、歪み検出部5は、例えば、電圧信号S2,S4についての各波形(交流信号Vs)の基本波成分に対する高調波成分の比率(本発明における歪みであって、以下、歪み率ともいう)をFFT(本発明におけるフーリエ変換の一例としての高速フーリエ変換)演算によって算出して、この比率が規定値以上のときに検出信号S5を出力する。なお、FFT演算に代えてDFT(離散フーリエ変換)演算によって上記の歪み率を算出することもできる。このようにフーリエ変換演算を用いることで歪み率を正確に算出することができる。   The distortion detector 5 is configured by a DSP as an example, and detects distortion occurring in at least one of the waveforms of the input voltage signal S2 and voltage signal S4. The distortion detector 5 outputs a detection signal S5 when the detected distortion is equal to or greater than a preset specified value. In this example, the distortion detection unit 5 is, for example, the ratio of the harmonic component to the fundamental component of each waveform (AC signal Vs) for the voltage signals S2 and S4 (the distortion in the present invention. Is calculated by FFT (fast Fourier transform as an example of Fourier transform in the present invention), and the detection signal S5 is output when this ratio is equal to or greater than a specified value. Note that the distortion rate can also be calculated by DFT (Discrete Fourier Transform) calculation instead of FFT calculation. In this way, the distortion rate can be accurately calculated by using the Fourier transform operation.

また、バンドエリミネーションフィルタを備えて歪み検出部5を構成することもできる。この構成では、歪み検出部5は、バンドエリミネーションフィルタを通過した電圧信号S2,S4の高調波成分に基づいて、この電圧信号S2,S4の歪み率を検出する。具体的には、歪み検出部5は、電圧信号S2,S4についての各波形(交流信号Vs)の高調波成分をバンドエリミネーションフィルタを通過させ、電圧信号S2,S4についての各波形(交流信号Vs)の基本波成分に対する通過させた高調波成分の比率を算出して、この歪み率が規定値以上のときに検出信号S5を出力する。このようにバンドエリミネーションフィルタを用いて構成することで、歪み率を簡易な構成で算出することができる。また、前述した従来例と同様にして、信号の波形が飽和しているか否かを検出して、飽和しているときに検出信号S5を出力する構成を採用することもできる。   Further, the distortion detection unit 5 can be configured by including a band elimination filter. In this configuration, the distortion detector 5 detects the distortion rate of the voltage signals S2 and S4 based on the harmonic components of the voltage signals S2 and S4 that have passed through the band elimination filter. Specifically, the distortion detector 5 passes the harmonic component of each waveform (AC signal Vs) for the voltage signals S2 and S4 through the band elimination filter, and each waveform (AC signal) for the voltage signals S2 and S4. The ratio of the passed harmonic component to the fundamental wave component of Vs) is calculated, and the detection signal S5 is output when the distortion rate is equal to or greater than a specified value. In this way, by using the band elimination filter, the distortion rate can be calculated with a simple configuration. Further, similarly to the above-described conventional example, it is possible to employ a configuration in which it is detected whether or not the signal waveform is saturated and the detection signal S5 is output when the signal waveform is saturated.

演算制御部6は、CPUおよび内部メモリ(いずれも図示せず)を備え、本発明における制御部として構成されて、ディジタルデータDiおよびディジタルデータDvに基づくインピーダンス演算処理、および算出したインピーダンスなどを表示部7に表示させる表示処理を実行する。また、演算制御部6は、検出信号S5を入力したときには、制御信号S6を出力して信号供給部2の動作制御を実行する。表示部7は、LCDなどで構成されて、演算制御部6の制御下で、算出されたインピーダンスZなどを表示する。   The arithmetic control unit 6 includes a CPU and an internal memory (both not shown), and is configured as a control unit in the present invention to display impedance calculation processing based on the digital data Di and the digital data Dv, and the calculated impedance and the like. Display processing to be displayed on the unit 7 is executed. In addition, when the detection signal S5 is input, the arithmetic control unit 6 outputs the control signal S6 and executes operation control of the signal supply unit 2. The display unit 7 includes an LCD or the like, and displays the calculated impedance Z and the like under the control of the arithmetic control unit 6.

次に、このインピーダンス測定装置1の測定動作について説明する。なお、測定対象体11として、ダイオードのインピーダンスを測定する例について説明する。   Next, the measurement operation of the impedance measuring apparatus 1 will be described. In addition, the example which measures the impedance of a diode as the measuring object 11 is demonstrated.

まず、測定対象体11に各プローブ12,13,14,15を接続する。次いで、その状態でインピーダンス測定装置1による測定を開始させる。この際には、信号供給部2、電流検出部3、電圧検出部4、歪み検出部5および演算制御部6がそれぞれの動作を開始する。信号供給部2は、予め設定された初期電圧値で交流信号Vsを生成して出力する。これにより、プローブ12を介して交流信号Vsが測定対象体11に供給されるため、測定対象体11には交流電流I1が流れ始める。   First, each probe 12, 13, 14, 15 is connected to the measurement object 11. Next, measurement by the impedance measuring device 1 is started in that state. At this time, the signal supply unit 2, the current detection unit 3, the voltage detection unit 4, the distortion detection unit 5, and the calculation control unit 6 start their respective operations. The signal supply unit 2 generates and outputs an AC signal Vs with a preset initial voltage value. As a result, the AC signal Vs is supplied to the measurement object 11 via the probe 12, and thus the alternating current I <b> 1 starts to flow through the measurement object 11.

この状態において、電流検出部3では、I/V変換器31がプローブ13を介して入力した交流電流I1を電圧信号S1に変換して出力し、フィルタ32が電圧信号S1に含まれているノイズ成分を除去して電圧信号S2として出力し、A/D変換器33が電圧信号S2をディジタルデータDiに変換して出力する。また、電圧検出部4では、差動増幅器41が各プローブ14,15を介して検出した電圧V1を増幅して電圧信号S3として出力し、フィルタ42が電圧信号S3に含まれているノイズ成分を除去して電圧信号S4として出力し、A/D変換器43が電圧信号S4をディジタルデータDvに変換して出力する。また、歪み検出部5は、電圧信号S2,S4について、それぞれの波形の歪みを検出すると共に、検出した歪み率が規定値以上であるか否かを検出する。また、演算制御部6は、ディジタルデータDiおよびディジタルデータDvに基づいてインピーダンス演算処理を実行してインピーダンスZを算出し、表示処理を実行して、算出したインピーダンスZを表示部7に表示させる。   In this state, the current detector 3 converts the alternating current I1 input by the I / V converter 31 via the probe 13 into the voltage signal S1 and outputs the voltage signal S1, and the filter 32 includes noise included in the voltage signal S1. The component is removed and output as a voltage signal S2, and the A / D converter 33 converts the voltage signal S2 into digital data Di and outputs it. In the voltage detector 4, the differential amplifier 41 amplifies the voltage V1 detected via the probes 14 and 15 and outputs it as a voltage signal S3, and the filter 42 removes the noise component contained in the voltage signal S3. The A / D converter 43 converts the voltage signal S4 into digital data Dv and outputs the voltage signal S4. Further, the distortion detection unit 5 detects distortion of each waveform of the voltage signals S2 and S4, and detects whether or not the detected distortion rate is equal to or greater than a specified value. The arithmetic control unit 6 executes impedance calculation processing based on the digital data Di and the digital data Dv to calculate the impedance Z, executes display processing, and causes the display unit 7 to display the calculated impedance Z.

ところで、本例では、測定対象体11が非線形素子のダイオードであるため、適正な電圧値(振幅値)の交流信号Vsが信号供給部2から測定対象体11に対して供給されていないときには、交流電流I1および電圧V1の少なくとも一方の波形に規定値以上の歪みが発生して、正しいインピーダンスZの測定が行えないことがある。この場合、歪み検出部5は、検出した波形の歪み率が規定値以上であることを検出して検出信号S5を出力する。演算制御部6は、この検出信号S5を入力したときには、検出信号S5を入力している間(検出信号S5の入力が停止するまで)、表示処理において表示部7に誤測定の可能性のある旨を表示させると共に、制御信号S6を出力して信号供給部2を制御することにより、交流信号Vsの電圧値を徐々に低下させる。この場合、制御信号S6を出力して信号供給部2を制御することにより、交流信号Vsの電流値を徐々に低下させてもよい。   By the way, in this example, since the measurement object 11 is a diode of a nonlinear element, when the AC signal Vs having an appropriate voltage value (amplitude value) is not supplied from the signal supply unit 2 to the measurement object 11, In some cases, distortion of a specified value or more occurs in at least one of the alternating current I1 and the voltage V1, and the correct impedance Z cannot be measured. In this case, the distortion detector 5 detects that the distortion rate of the detected waveform is equal to or greater than a specified value, and outputs a detection signal S5. When the detection signal S5 is input, the arithmetic control unit 6 may cause an erroneous measurement on the display unit 7 during display processing while the detection signal S5 is being input (until the input of the detection signal S5 is stopped). In addition, the control signal S6 is output to control the signal supply unit 2 to gradually decrease the voltage value of the AC signal Vs. In this case, the current value of the AC signal Vs may be gradually decreased by outputting the control signal S6 and controlling the signal supply unit 2.

この場合、測定対象体11としてのダイオードは、供給される交流信号Vsの電圧値が所定の電圧値以下(ダイオードによって異なるが、例えば600mV以下)となったときには、直流的には順方向および逆方向のいずれについても非導通状態となる一方で、交流的には双方向で導通状態となり、交流信号Vsに対して電流がほぼ線形に変化する線形特性を示すようになる。このため、この状態では、交流電流I1および電圧V1の波形歪みが減少して、電圧信号S2,S4の各波形歪み率も規定値未満となる結果、歪み検出部5は検出信号S5の出力を停止する。したがって、演算制御部6は、表示処理において、算出したインピーダンスZの表示を続行しつつ、誤測定の可能性のある旨の表示については停止する。   In this case, when the voltage value of the supplied AC signal Vs is equal to or lower than a predetermined voltage value (which varies depending on the diode, for example, 600 mV or less), the diode as the measurement object 11 is forward and reverse in terms of DC. While any of the directions is in a non-conductive state, it is in a bidirectional conductive state in terms of alternating current, and exhibits a linear characteristic in which the current changes substantially linearly with respect to the alternating current signal Vs. For this reason, in this state, the waveform distortion of the alternating current I1 and the voltage V1 is reduced, and the waveform distortion rates of the voltage signals S2 and S4 are also less than the specified value. As a result, the distortion detector 5 outputs the detection signal S5. Stop. Accordingly, the arithmetic control unit 6 stops displaying the possibility of erroneous measurement while continuing to display the calculated impedance Z in the display process.

このように、このインピーダンス測定装置1では、信号供給部2が検査用信号として交流信号Vsを測定対象体11に供給している状態において、歪み検出部5が測定対象体11を流れている交流電流I1およびその両端間の電圧V1の各波形に含まれている交流信号Ssの歪みを検出すると共に歪み率が規定値以上のときに検出信号S5を出力し、演算制御部6は、歪み検出部5から検出信号S5が出力されている間、信号供給部2を制御して交流信号Vsの電圧値および電流値のいずれかを低下させる。したがって、このインピーダンス測定装置1によれば、測定対象体11がダイオードのような非線形素子の場合において交流信号Vsの電圧値が所定値以上となったときであっても、測定対象体11を流れる交流電流I1およびその両端間の電圧V1の各波形に含まれている交流信号Ssの歪み率が規定値以下となるまで交流信号Vsの電圧値および電流値のいずれかを自動的に低下させつつ、誤測定の可能性のある旨を表示部7に表示させると共にインピーダンスZの測定を続行することができるため、誤測定を回避しつつインピーダンスZを正確に測定することができる。   As described above, in this impedance measuring apparatus 1, the distortion detection unit 5 is flowing through the measurement target body 11 while the signal supply unit 2 is supplying the AC signal Vs to the measurement target body 11 as an inspection signal. The distortion of the AC signal Ss included in each waveform of the current I1 and the voltage V1 between both ends thereof is detected, and the detection signal S5 is output when the distortion rate is equal to or greater than a specified value. While the detection signal S5 is being output from the unit 5, the signal supply unit 2 is controlled to reduce either the voltage value or the current value of the AC signal Vs. Therefore, according to this impedance measuring apparatus 1, even when the voltage value of the AC signal Vs becomes equal to or higher than a predetermined value when the measurement object 11 is a nonlinear element such as a diode, the measurement object 11 flows through the measurement object 11. While automatically reducing either the voltage value or the current value of the AC signal Vs until the distortion rate of the AC signal Ss included in each waveform of the AC current I1 and the voltage V1 between both ends thereof is equal to or less than a specified value. Since the fact that there is a possibility of erroneous measurement can be displayed on the display unit 7 and the measurement of the impedance Z can be continued, the impedance Z can be accurately measured while avoiding erroneous measurement.

なお、例えば、信号供給部2が検査用信号として交流信号Vsを出力する例について上記したが、検査用信号として直流電圧Vdが重畳された交流信号Vsを測定対象体11に供給する構成を採用することもできる。また、この構成を採用したインピーダンス測定装置1では、演算制御部6は、歪み検出部5が検出信号S5を出力している間、算出したインピーダンスZと共に誤測定の可能性のある旨を表示部7に表示させつつ、信号供給部2を制御して直流電圧Vdの電圧値および電流値のいずれかを増加させる。測定対象体11であるダイオードは、順方向電圧が所定値以上(例えば0.7ボルト以上)のときには、電圧−電流特性がほぼ線形となる。したがって、この構成を採用したインピーダンス測定装置1においても、測定対象体11がダイオードのような非線形素子の場合において、測定対象体11を流れる交流電流I1およびその両端間の電圧V1の各波形に含まれている交流信号Ssの歪み率が規定値以下となるまで直流電圧Vdの電圧値および電流値のいずれかを自動的に増加させつつ、誤測定の可能性のある旨を表示部7に表示させると共にインピーダンスZの測定を続行することができるため、誤測定を回避しつつ正しいインピーダンスZを測定することができる。 Incidentally, if example embodiment, the signal supplying section 2 described above for example for outputting the AC signal Vs as a test signal, a configuration for supplying the AC signal Vs DC voltage Vd is superimposed as a test signal to the measured object 11 It can also be adopted. Further, in the impedance measuring apparatus 1 adopting this configuration, the calculation control unit 6 displays a display unit indicating that there is a possibility of erroneous measurement together with the calculated impedance Z while the distortion detection unit 5 outputs the detection signal S5. 7, the signal supply unit 2 is controlled to increase either the voltage value or the current value of the DC voltage Vd. When the forward voltage is equal to or higher than a predetermined value (for example, 0.7 volts or higher), the diode that is the measurement object 11 has a substantially linear voltage-current characteristic. Therefore, also in the impedance measuring apparatus 1 adopting this configuration, when the measuring object 11 is a non-linear element such as a diode, it is included in each waveform of the alternating current I1 flowing through the measuring object 11 and the voltage V1 between both ends thereof. The display unit 7 displays that there is a possibility of an erroneous measurement while automatically increasing either the voltage value or the current value of the DC voltage Vd until the distortion rate of the AC signal Ss is less than a specified value. Since the measurement of the impedance Z can be continued, the correct impedance Z can be measured while avoiding erroneous measurement.

また、歪み検出部5および演算制御部6を別体に構成した例について上記したが、演算制御部6が、入力したディジタルデータDiとディジタルデータDvとに基づいて、交流電流I1および電圧V1の各波形に規定以上の歪みが発生しているか否かを検出する構成、つまり演算制御部6が歪み検出部5としても機能する構成を採用することもできる。また、検出信号S5を入力している間、算出したインピーダンスZと共に誤測定の可能性のある旨をLCDで構成された表示部7に表示させる例について上記したが、検出信号S5を入力している間だけ、表示部としてのLEDやランプなどを点灯させる構成を採用することもできる。また、測定対象体11としてのダイオードのインピーダンスZを測定(算出)する例について上記したが、非線形な電圧−電流特性を示す電子部品であれば、ダイオード以外のものインピーダンスZをインピーダンス測定装置1で測定できるのは勿論である。   In addition, the example in which the distortion detection unit 5 and the calculation control unit 6 are configured separately has been described above. However, the calculation control unit 6 generates the AC current I1 and the voltage V1 based on the input digital data Di and digital data Dv. It is also possible to employ a configuration for detecting whether or not a distortion exceeding a specified value is generated in each waveform, that is, a configuration in which the arithmetic control unit 6 functions also as the distortion detection unit 5. In addition, while the detection signal S5 is input, the example in which the calculated impedance Z and the possibility of erroneous measurement are displayed on the display unit 7 constituted by the LCD has been described above. However, the detection signal S5 is input. It is also possible to adopt a configuration in which an LED, a lamp, or the like as a display unit is lit only while the display unit is on. Further, the example of measuring (calculating) the impedance Z of the diode as the measurement object 11 has been described above. However, if the electronic component exhibits nonlinear voltage-current characteristics, the impedance measuring device 1 can use the impedance measuring device 1 to connect the impedance Z other than the diode. Of course, it can be measured.

また、上記した交流信号Vsの電圧値を低下させる機能、および直流電圧Vdを交流信号Vsに重畳させると共に直流電圧Vdの電圧値を増加させる機能の双方を備えて信号供給部2を構成することもできる。この構成によれば、演算制御部6が交流信号Vsの電圧値の低下および直流電圧Vdの電圧値の増加のいずれかを自動的に切り替えることで、上記した2種類のインピーダンスZ(直流電圧Vdの印加によってダイオードがオン状態となっている作動領域とオン状態となっていない作動領域でのインピーダンス)を自動的に測定することができる。   Further, the signal supply unit 2 is configured to have both the function of reducing the voltage value of the AC signal Vs and the function of superimposing the DC voltage Vd on the AC signal Vs and increasing the voltage value of the DC voltage Vd. You can also. According to this configuration, the arithmetic control unit 6 automatically switches between the decrease in the voltage value of the AC signal Vs and the increase in the voltage value of the DC voltage Vd, whereby the two types of impedance Z (the DC voltage Vd described above). , The impedance in the operating region where the diode is on and the operating region where the diode is not on) can be automatically measured.

インピーダンス測定装置1の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of an impedance measuring device 1. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 インピーダンス測定装置
2 信号供給部
5 歪み検出部
6 演算制御部
11 測定対象体
I1 電流
ME 測定部
Vs 交流信号
Z インピーダンス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Impedance measurement apparatus 2 Signal supply part 5 Strain detection part 6 Operation control part 11 Measurement object I1 Current ME measurement part Vs AC signal Z Impedance

Claims (3)

測定対象体に検査用信号を供給する信号供給部と、当該検査用信号の供給時における前記測定対象体を流れる交流電流および当該交流電流の供給に起因して当該測定対象体の両端に発生する両端間電圧に基づいて当該測定対象体のインピーダンスを測定する測定部とを備え、
前記信号供給部は、前記検査用信号として直流信号が重畳された交流信号を前記測定対象体に供給し、
前記測定部は、前記交流電流および前記両端間電圧の少なくとも一方に含まれている前記検査信号の歪みを検出すると共に当該歪みが規定値以上のときに検出信号を出力する歪み検出部と、当該歪み検出部から前記検出信号が出力されているときに前記信号供給部を制御して前記直流信号の電圧値および電流値のいずれかを増加させる制御部とを備えているインピーダンス測定装置。
A signal supply unit that supplies an inspection signal to the measurement object, an alternating current that flows through the measurement object when the inspection signal is supplied, and is generated at both ends of the measurement object due to the supply of the alternating current A measurement unit that measures the impedance of the measurement object based on the voltage between both ends,
The signal supply unit supplies an AC signal on which a DC signal is superimposed as the inspection signal to the measurement object,
The measurement unit detects a distortion of the inspection signal included in at least one of the alternating current and the voltage between both ends, and outputs a detection signal when the distortion is a specified value or more, An impedance measuring apparatus comprising: a control unit that controls the signal supply unit to increase either the voltage value or the current value of the DC signal when the detection signal is output from a distortion detection unit.
前記歪み検出部は、フーリエ変換演算によって前記検査信号の歪みを検出する請求項1記載のインピーダンス測定装置。 The strain detection unit, according to claim 1 Symbol placement of the impedance measuring device for detecting the distortion of the test signal by the Fourier transform operation. 前記歪み検出部は、バンドエリミネーションフィルタを備えて構成されて、当該バンドエリミネーションフィルタを通過した前記検査信号の高調波成分に基づいて当該検査信号の歪みを検出する請求項1記載のインピーダンス測定装置。 The strain detection unit is configured with a band elimination filter, the impedance of claim 1 Symbol placement detecting the distortion of the test signal based on the harmonic component of the test signal which passes through the band-elimination filter measuring device.
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