JP4763924B2 - Level shift circuit - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、低電圧の信号を高電圧の信号に変換するレベルシフト回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図8は、従来のレベルシフト回路の一例の構成回路図である。
同図に示すレベルシフト回路30は、低電圧の信号VINを高電圧の信号VOUTに変換するもので、プリドライバの2つのインバータ12,14と、レベルシフタ16と、出力最終段ドライバのインバータ18とを備えている。ここで、電源VDD1は低電圧の電源であり、電源VDD2は高電圧の電源である。すなわち、電源VDD1<電源VDD2である。
【0003】
以下、通常動作時の、すなわち、電源VDD1,VDD2が共に供給されている場合のレベルシフト回路30の動作を説明する。
【0004】
まず、信号VINがロウレベルの時、内部ノードAは、信号VINのロウレベルがインバータ12により反転されてハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)、内部ノードBは、内部ノードAのハイレベルがインバータ14により反転されてロウレベルである。
【0005】
これに応じて、レベルシフタ16のN型MOSトランジスタ(NMOS)N3はオン、NMOSN4はオフであり、内部ノードCはロウレベルである。また、内部ノードCのロウレベルにより、P型MOSトランジスタ(PMOS)P4はオンであり、内部ノードDはハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)、PMOSP3はオフである。
【0006】
したがって、内部ノードDのハイレベルはインバータ18により反転され、信号VOUTとしてロウレベルが出力される。
【0007】
一方、信号VINがハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)の時、内部ノードAは、信号VINのハイレベルがインバータ12により反転されてロウレベル、内部ノードBは、内部ノードAのロウレベルがインバータ14により反転されてハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)である。
【0008】
これに応じて、レベルシフタ16のNMOSN3はオフ、NMOSN4はオンであり、内部ノードDはロウレベルである。また、内部ノードDのロウレベルにより、PMOSP3はオンであり、内部ノードCはハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)、PMOSP4はオフである。
【0009】
したがって、内部ノードDのロウレベルはインバータ18により反転され、信号VOUTとしてハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)が出力される。
【0010】
次に、電源VDD1,VDD2の投入時(立ち上げ時)の動作を説明する。
【0011】
まず、電源VDD2よりも先に電源VDD1が立ち上がった場合、内部ノードA,Bは、ハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)またはロウレベルのどちらかに確定する。
続いて、電源VDD2が立ち上がった時、内部ノードC,Dは、内部ノードA,Bの状態に応じて、ハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)またはロウレベルのどちらかに確定し、貫通電流は流れないので何ら問題はない。
【0012】
これに対し、電源VDD1よりも先に電源VDD2が立ち上がった場合、図9のタイミングチャートに示すように、内部ノードA,Bは、電源VDD1が立ち上がるまでの期間は、不定電圧状態である。
【0013】
したがって、もしも内部ノードA,Bが中間レベルの場合は、レベルシフタ16のPMOSP3およびNMOSN3、もしくは、PMOSP4およびNMOSN4を介して貫通電流が流れる。また、PMOSP4およびNMOSN4を介して貫通電流が流れて内部ノードDが中間レベルになると、さらに出力最終段ドライバのインバータ18のPMOSP5およびNMOSN5を介して貫通電流が流れるという問題が発生する。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、前記従来技術に基づく問題点を解消し、電源電圧の異なる2つの電源の投入順序に係わらず、電源投入時の貫通電流を防止することができるレベルシフト回路を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、低電圧の電源が供給されて低電圧の信号を出力するプリドライバと、高電圧の電源が供給されて前記低電圧の信号を高電圧の信号に変換するレベルシフタとを備えるレベルシフト回路であって、
前記レベルシフタは、前記低電圧の信号が入力される入力用のトランジスタを備え、この入力用のトランジスタのオン/オフの状態に応じて当該レベルシフタの出力信号を発生するものであり、
前記低電圧の電源よりも先に前記高電圧の電源が投入された場合に、前記レベルシフタの入力用のトランジスタへの入力信号を確定する手段を備えていることを特徴とするレベルシフト回路を提供するものである。
【0016】
ここで、前記レベルシフタの入力用のトランジスタへの入力信号を確定する手段は、前記高電圧の電源もしくはグランドと前記レベルシフタの入力用のトランジスタの入力端子との間に設けられた容量素子、ないしは抵抗素子であるのが好ましい。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下に、添付の図面に示す好適実施例に基づいて、本発明のレベルシフト回路を詳細に説明する。
【0018】
図1は、本発明のレベルシフト回路の一実施例の構成回路図である。
同図に示すレベルシフト回路10は、低電圧の信号を高電圧の信号にレベル変換して出力するもので、プリドライバの2つのインバータ12,14と、レベルシフタ16と、出力最終段ドライバのインバータ18と、2つの容量素子C1,C2とを備えている。ここで、電源VDD1は低電圧の電源であり、電源VDD2は高電圧の電源である(電源VDD1<電源VDD2)。
【0019】
図示例のレベルシフト回路10において、まず、プリドライバのインバータ12は、低電圧の信号VINを反転出力するもので、P型MOSトランジスタ(以後、PMOSと記す)P1と、N型MOSトランジスタ(以後、NMOSと記す)N1とを備えている。これらのPMOSP1およびNMOSN1は、低電圧の電源VDD1とグランドとの間に直列に接続され、そのゲートは共に信号VINに接続され、そのドレインは共に内部ノードAに接続されている。
【0020】
また、プリドライバのインバータ14は、インバータ12の出力信号(内部ノードA)を反転出力するもので、PMOSP2と、NMOSN2とを備えている。これらのPMOSP2およびNMOSN2は、低電圧の電源VDD1とグランドとの間に直列に接続され、そのゲートは共に内部ノードAに接続され、そのドレインは共に内部ノードBに接続されている。
【0021】
続いて、レベルシフタ16は、プリドライバの2つのインバータ12,14の低電圧の出力信号に応じて、信号VINをこれに対応する高電圧の信号に変換するもので、プリドライバのインバータ12,14の出力信号が入力される入力用トランジスタのNMOSN3およびN4と、この入力用トランジスタのオン/オフの状態に応じて、レベルシフタ16の出力信号を発生する出力負荷としてのPMOSP3およびP4とを備えている。
【0022】
ここで、PMOSP3およびNMOSN3は、高電圧の電源VDD2とグランドとの間に直列に接続され、そのゲートは、それぞれ内部ノードDおよび内部ノードAに接続されている。同じく、PMOSP4およびNMOSN4は、高電圧の電源VDD2とグランドとの間に直列に接続され、そのゲートは、それぞれ内部ノードCおよび内部ノードBに接続されている。
【0023】
出力最終段ドライバのインバータ18は、レベルシフタ16の出力信号(内部ノードD)を反転し、信号VOUTとして出力するもので、PMOSP5と、NMOSN5とを備えている。これらのPMOSP5およびNMOSN5は、高電圧の電源VDD2とグランドとの間に直列に接続され、そのゲートは共に内部ノードDに接続され、そのドレインは共に信号VOUTに接続されている。
【0024】
また、容量素子C1は、低電圧の電源VDD1よりも先に高電圧の電源VDD2が投入された場合に、レベルシフタ16の入力用トランジスタのNMOSN3への入力信号(内部ノードA)を確定するもので、高電圧の電源VDD2と内部ノードAとの間に接続されている。この容量素子C1により、電源投入時の内部ノードAの電圧レベルは、高電圧の電源VDD2の電圧レベル付近まで上昇される。
【0025】
最後に、容量素子C2は、低電圧の電源VDD1よりも先に高電圧の電源VDD2が投入された場合に、レベルシフタ16の入力用トランジスタのNMOSN4への入力信号(内部ノードB)を確定するもので、内部ノードBとグランドとの間に接続されている。この容量素子C2により、電源投入時の内部ノードBの電圧レベルは、グランドの電圧レベル付近に抑えられる。
【0026】
以下、レベルシフト回路10の動作を説明する。
【0027】
まず、通常動作時の、すなわち、電源VDD1,VDD2が共に供給されている場合のレベルシフト回路10の動作、および、電源VDD2よりも先に電源VDD1が立ち上がった場合のレベルシフト回路10の動作は、図8に示す従来のレベルシフト回路30の動作と全く同じである。
したがって、以下の説明では、電源VDD1よりも先に電源VDD2が立ち上がった場合のレベルシフト回路10の動作について説明を行う。
【0028】
図2のタイミングチャートに示すように、レベルシフト回路10では、電源VDD1により先に電源VDD2が立ち上がると、内部ノードAは、容量素子C1を介して電源VDD2に交流的に接続されているので、容量素子C1のカップリングにより電源VDD2の立ち上がりと共に立ち上がる。
【0029】
また、内部ノードBは、容量素子C2を介してグランドに交流的に接続されているので、電源VDD2が立ち上がる過渡状態ではほぼグランド近傍の電圧レベルとなる。そして、内部ノードAが立ち上がり、プリドライバのインバータ14のNMOSN2がオンすると、内部ノードBは、このNMOSN2を介してグランドの電圧レベルに引き落とされる。
【0030】
この結果、レベルシフタ16のNMOSN3はオン、NMOSN4はオフとなり、内部ノードCはロウレベルになる。また、内部ノードCがロウレベルになると、PMOSP4はオンし、内部ノードDはハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)となり、PMOSP3はオフする。
【0031】
また、内部ノードDのハイレベルは出力最終段ドライバのインバータ18により反転され、信号VOUTとしてロウレベルが出力される。すなわち、レベルシフト回路10では、電源VDD1,VDD2の投入順序に係わらず、貫通電流は流れない。
【0032】
なお、上記実施例では、内部ノードBとグランドとの間に容量素子C2を設けているが、前述のように、電源VDD2の投入時に、容量素子C1によって内部ノードAが立ち上がると、インバータ14により内部ノードBはグランドの電圧レベルに引き落とされるので、容量素子C2は必須の要件ではない。従って、図3に示すレベルシフト回路20のように、容量素子C1を設けるだけでも図1の場合とほぼ同じ効果が得られる。
【0033】
また、上記実施例の場合とは逆に、内部ノードAとグランドとの間に容量素子C1を設け、かつ、電源VDD2と内部ノードBとの間に容量素子C2を設けるようにしても当然よい。この場合も、容量素子C2は必須の要件ではないが、電源VDD2の投入時に、容量素子C1によって内部ノードAの電圧レベルはグランド近傍の電圧レベルとなり、完全にグランドの電圧レベルとはならないので、容量素子C2を設ける方が好ましい。
【0034】
また、上記実施例では、容量素子C1,C2を用いたが、これに限定されず、図4に示すレベルシフト回路22のように、容量素子C1,C2の代わりに抵抗素子R1,R2を用いても同様の効果が得られる。ここで、抵抗素子R1,R2は、共に通常動作時には殆ど問題にならない程度の高抵抗値であるとする。
【0035】
図4に示すレベルシフト回路22では、電源VDD1よりも先に電源VDD2が立ち上がると、内部ノードAは、抵抗素子R1を介して電源VDD2の立ち上がりと共に立ち上がる。また、内部ノードBは、抵抗素子R2を介してほぼグランドの電圧レベルとなる。以後の動作は、図1に示すレベルシフト回路10の場合と同じである。
【0036】
また、図4に示すレベルシフト回路22のように、抵抗素子R1,R2を用いた場合も、抵抗素子R2は必須の要件ではない。また、図4に示す例の場合とは逆に、内部ノードAとグランドとの間に抵抗素子R1を設け、かつ、電源VDD2と内部ノードBとの間に抵抗素子R2を設けるようにしても当然よい。この場合も、抵抗素子R2は必須の要件ではないが、容量素子C2の場合と同じ理由で抵抗素子R2を設ける方が好ましい。
【0037】
また、プリドライバおよび出力最終段ドライバは、必ずしもインバータである必要はない。また、レベルシフタは、プリドライバの出力信号が入力される入力用トランジスタを備え、この入力用トランジスタのオン/オフの状態に応じてレベルシフタの出力信号を発生するものであって、プリドライバの出力信号に応じて、低電圧の信号VINを高電圧の信号に変換するものであれば、その回路構成は図示例のものに何ら限定されない。
【0038】
以下、本発明の範囲を明らかにするために、図5〜7に示す本発明のレベルシフト回路の別の実施例を挙げて説明する。
【0039】
まず、図5に示すレベルシフト回路24は、図3に示すレベルシフト回路20において、レベルシフタ16の代わりに、PMOSP3とNMOSN3との間にPMOSP6を挿入し、かつ、PMOSP4とNMOSN4との間にPMOSP7を挿入したレベルシフタ16bを用いたものである。このレベルシフタ16bのPMOSP6,P7のゲートは、それぞれ内部ノードAおよびBに接続されている。
【0040】
次に、図6に示すレベルシフト回路26は、図3に示すレベルシフト回路20において、レベルシフタ16の代わりに、PMOSP3とNMOSN3との間にNMOSN6を挿入し、かつ、PMOSP4とNMOSN4との間にNMOSN7を挿入したレベルシフタ16cを用いたものである。このレベルシフタ16cのNMOSN6,N7のゲートは、共に電源VDD1に接続されている。
【0041】
これらの図5および図6に示すレベルシフト回路24,26の動作は、基本的に図1に示すレベルシフト回路10の動作と同じである。
【0042】
また、図7に示すレベルシフト回路28は、図5に示すレベルシフト回路24において、プリドライバとして直列に接続した2つのインバータ12bを用い、レベルシフタ16bの代わりに、図中左側半分のPMOSP3,P6およびNMOSN3からなるレベルシフタ16dを用いたものである。レベルシフタ16dのPMOSP3のゲートは信号VOUTに接続され、出力最終段ドライバのNMOSN5のゲートは内部ノードBに接続されている。
【0043】
図7に示すレベルシフト回路28では、通常動作時に、信号VINがロウレベルの場合、内部ノードAおよびBは、それぞれロウレベルおよびハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)である。
【0044】
したがって、インバータ14のPMOSP2はオン、NMOSN2はオフであり、出力最終段ドライバのインバータ18の出力信号VOUTはロウレベルである。また、信号VOUTのロウレベルにより、レベルシフタ16dのPMOSP3はオン、PMOSP6はオン、NMOSN3はオフであり、従って、内部ノードCはハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)であり、出力最終段ドライバのインバータ18のPMOSP5はオフである。
【0045】
一方、通常動作時に、信号VINがハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)の場合、内部ノードAおよびBは、それぞれハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)およびロウレベルである。
【0046】
したがって、レベルシフタ16dのPMOSP6はオフ、NMOSN3はオンであり、内部ノードCはロウレベルである。これに応じて、出力最終段ドライバのインバータ18のPMOSP5はオン、NMOSN5はオフであり、その出力信号VOUTはハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)である。また、信号VOUTのハイレベルにより、レベルシフタ16dのPMOSP3はオフである。
【0047】
次に、電源VDD1,VDD2の投入時において、まず、電源VDD2よりも先に電源VDD1が立ち上がった場合、内部ノードA,Bは、ハイレベル(電源VDD1の電圧レベル)またはロウレベルのどちらかに確定する。
続いて、電源VDD2が立ち上がった時、内部ノードCは、内部ノードA,Bの状態に応じて、ハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)またはロウレベルのどちらかに確定し、貫通電流は流れない。
【0048】
一方、電源VDD1よりも先に電源VDD2が立ち上がった場合、内部ノードAは、容量素子C1により電源VDD2の立ち上がりと共に立ち上がる。また、内部ノードBは、内部ノードAが立ち上がり、プリドライバのインバータ14のNMOSN2がオンすると、このNMOSN2を介してグランドの電圧レベルに引き落とされる。
【0049】
また、レベルシフタ16dのPMOSP6はオフ、NMOSN3はオンとなり、内部ノードCはロウレベルになる。従って、出力最終段ドライバのインバータ18のPMOSP5はオン、NMOSN5はオフし、その出力信号VOUTはハイレベル(電源VDD2の電圧レベル)となり、レベルシフタ16dのPMOSP3はオフする。すなわち、レベルシフト回路28においても、電源VDD1,VDD2の投入順序に係わらず、貫通電流は流れない。
【0050】
本発明のレベルシフト回路は、低電圧の電源VDD1よりも先に高電圧の電源VDD2が投入された場合に、レベルシフタの入力用トランジスタへの入力信号を確定する手段を備えることを特徴とするものであり、プリドライバ、レベルシフタおよび出力最終段ドライバの具体的な回路構成は、図5〜図7に一例を示すように各種の変更が可能である。なお、図5〜7では、容量素子C1を用いているが、もちろん抵抗素子を使用してもよい。
【0051】
上記容量の構成に関しては、ゲート容量、ポリシリコン層−絶縁体層−ポリシリコン層で形成された容量、金属層−絶縁体層−ポリシリコン層で形成した容量等の様々な構成が可能で、特に限定されない。また、上記抵抗素子に関しても、拡散抵抗、ポリシリコン抵抗、金属抵抗等の様々な構成が可能で、特に限定されない。
【0052】
本発明のレベルシフト回路は、基本的に以上のようなものである。
以上、本発明のレベルシフト回路について詳細に説明したが、本発明は上記実施例に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
【0053】
【発明の効果】
以上詳細に説明した様に、本発明のレベルシフト回路は、低電圧の電源よりも先に高電圧の電源が投入された場合に、レベルシフタの入力用のトランジスタへの入力信号を確定する手段を備えるものである。
これにより、本発明のレベルシフト回路によれば、高電圧および低電圧の電源の投入順序に係わらず、電源投入時の貫通電流を防止することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のレベルシフト回路の一実施例の構成回路図である。
【図2】 本発明のレベルシフト回路の動作を表す一実施例のタイミングチャートである。
【図3】 本発明のレベルシフト回路の別の実施例の構成回路図である。
【図4】 本発明のレベルシフト回路の別の実施例の構成回路図である。
【図5】 本発明のレベルシフト回路の別の実施例の構成回路図である。
【図6】 本発明のレベルシフト回路の別の実施例の構成回路図である。
【図7】 本発明のレベルシフト回路の別の実施例の構成回路図である。
【図8】 従来のレベルシフト回路の一例の構成回路図である。
【図9】 従来のレベルシフト回路の動作を表す一例のタイミングチャートである。
【符号の説明】
10,20,22,24,26,28,30 レベルシフト回路
12,12b,14,18 インバータ
16,16b,16c,16d レベルシフタ
P1,P2,P3,P4,P5,P6,P7 P型MOSトランジスタ(PMOS)
N1,N2,N3,N4,N5,N6,N7 N型MOSトランジスタ(NMOS)
C1,C2 容量素子
R1,R2 抵抗素子
VDD1,VDD2 電源
A,B,C,D 内部ノード
VIN,VOUT 信号[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a level shift circuit that converts a low voltage signal into a high voltage signal.
[0002]
[Prior art]
FIG. 8 is a configuration circuit diagram of an example of a conventional level shift circuit.
The
[0003]
Hereinafter, the operation of the
[0004]
First, when the signal VIN is at a low level, the internal node A has the low level of the signal VIN inverted by the
[0005]
Accordingly, the N-type MOS transistor (NMOS) N3 of the
[0006]
Therefore, the high level of the internal node D is inverted by the
[0007]
On the other hand, when the signal VIN is at the high level (the voltage level of the power supply VDD1), the internal node A is inverted by the
[0008]
Accordingly, the NMOS N3 of the
[0009]
Therefore, the low level of the internal node D is inverted by the
[0010]
Next, the operation at the time of turning on (starting up) the power supplies VDD1 and VDD2 will be described.
[0011]
First, when the power supply VDD1 rises before the power supply VDD2, the internal nodes A and B are determined to be either high level (voltage level of the power supply VDD1) or low level.
Subsequently, when the power supply VDD2 rises, the internal nodes C and D are determined to be either high level (voltage level of the power supply VDD2) or low level according to the state of the internal nodes A and B, and the through current flows. There is no problem because there is no.
[0012]
On the other hand, when the power supply VDD2 rises before the power supply VDD1, as shown in the timing chart of FIG. 9, the internal nodes A and B are in an indefinite voltage state until the power supply VDD1 rises.
[0013]
Therefore, if internal nodes A and B are at an intermediate level, a through current flows through PMOSP3 and NMOSN3 of
[0014]
[Problems to be solved by the invention]
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a level shift circuit that solves the problems based on the above prior art and can prevent a through current at the time of power-on regardless of the order of power-on of two power supplies having different power-supply voltages. It is in.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a pre-driver that outputs a low-voltage signal when supplied with a low-voltage power supply, and a low-voltage signal that is supplied with a high-voltage power supply into a high-voltage signal. A level shift circuit comprising a level shifter for conversion,
The level shifter includes an input transistor to which the low voltage signal is input, and generates an output signal of the level shifter according to the on / off state of the input transistor.
Wherein when the power supply of the high voltage before the power supply of low voltage is turned on, providing a level shift circuit, characterized in that it comprises a means for determining an input signal to the transistor for input of the level shifter To do.
[0016]
Here, means for determining an input signal to the input transistor of the level shifter is a capacitive element or resistor provided between the high voltage power supply or ground and the input terminal of the input transistor of the level shifter. An element is preferred.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The level shift circuit of the present invention will be described below in detail with reference to the preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
[0018]
FIG. 1 is a configuration circuit diagram of an embodiment of a level shift circuit according to the present invention.
The
[0019]
In the
[0020]
Further, the
[0021]
Subsequently, the
[0022]
Here, the PMOS P3 and the NMOS N3 are connected in series between the high-voltage power supply VDD2 and the ground, and their gates are connected to the internal node D and the internal node A, respectively. Similarly, the PMOS P4 and the NMOS N4 are connected in series between the high-voltage power supply VDD2 and the ground, and their gates are connected to the internal node C and the internal node B, respectively.
[0023]
The
[0024]
The capacitive element C1 determines an input signal (internal node A) to the NMOS N3 of the input transistor of the
[0025]
Finally, the capacitive element C2 determines an input signal (internal node B) to the NMOS N4 of the input transistor of the
[0026]
Hereinafter, the operation of the
[0027]
First, the operation of the
Therefore, in the following description, the operation of the
[0028]
As shown in the timing chart of FIG. 2, in the
[0029]
Further, since the internal node B is AC-connected to the ground via the capacitive element C2, the voltage level is almost near the ground in the transient state where the power supply VDD2 rises. When the internal node A rises and the NMOS N2 of the
[0030]
As a result, the NMOS N3 of the
[0031]
The high level of the internal node D is inverted by the
[0032]
In the above embodiment, the capacitive element C2 is provided between the internal node B and the ground. However, as described above, when the internal node A rises by the capacitive element C1 when the power supply VDD2 is turned on, the
[0033]
Contrary to the case of the above embodiment, the capacitive element C1 may be provided between the internal node A and the ground, and the capacitive element C2 may be provided between the power supply VDD2 and the internal node B. . In this case as well, the capacitive element C2 is not an essential requirement, but when the power supply VDD2 is turned on, the voltage level of the internal node A becomes a voltage level near the ground by the capacitive element C1, and is not completely the ground voltage level. It is preferable to provide the capacitor element C2.
[0034]
In the above-described embodiment, the capacitive elements C1 and C2 are used. However, the present invention is not limited to this, and resistive elements R1 and R2 are used instead of the capacitive elements C1 and C2, as in the
[0035]
In the
[0036]
Further, when the resistance elements R1 and R2 are used as in the
[0037]
Further, the pre-driver and the output final stage driver do not necessarily need to be inverters. The level shifter includes an input transistor to which the output signal of the predriver is input, and generates an output signal of the level shifter according to the on / off state of the input transistor. Accordingly, as long as the low-voltage signal VIN is converted into a high-voltage signal, the circuit configuration is not limited to that of the illustrated example.
[0038]
Hereinafter, in order to clarify the scope of the present invention, another embodiment of the level shift circuit of the present invention shown in FIGS.
[0039]
First, in the
[0040]
Next, in the
[0041]
The operations of the
[0042]
Further, the
[0043]
In the
[0044]
Accordingly, the PMOS P2 of the
[0045]
On the other hand, when signal VIN is at a high level (voltage level of power supply VDD1) during normal operation, internal nodes A and B are at a high level (voltage level of power supply VDD1) and a low level, respectively.
[0046]
Accordingly, the PMOS P6 of the
[0047]
Next, when the power supply VDD1 or VDD2 is turned on, first, when the power supply VDD1 rises before the power supply VDD2, the internal nodes A and B are determined to be either high level (voltage level of the power supply VDD1) or low level. To do.
Subsequently, when the power supply VDD2 rises, the internal node C is determined to be either high level (voltage level of the power supply VDD2) or low level according to the state of the internal nodes A and B, and no through current flows.
[0048]
On the other hand, if the previous power supply VDD2 rises to than the power supply VDD 1, the internal node A, rises with the rise of the power supply VDD2 by capacitive element C1. The internal node B is pulled down to the ground voltage level via the NMOS N2 when the internal node A rises and the NMOS N2 of the
[0049]
Also, the PMOS P6 of the
[0050]
The level shift circuit according to the present invention includes means for determining an input signal to the input transistor of the level shifter when the high voltage power supply VDD2 is turned on before the low voltage power supply VDD1. The specific circuit configurations of the pre-driver, level shifter, and output final stage driver can be variously changed as shown in FIGS. 5-7, the capacitive element C1 is used, but a resistive element may be used as a matter of course.
[0051]
Regarding the configuration of the capacitor, various configurations such as a gate capacitor, a capacitor formed of a polysilicon layer-insulator layer-polysilicon layer, a capacitor formed of a metal layer-insulator layer-polysilicon layer, and the like are possible. There is no particular limitation. In addition, the resistance element can be variously configured such as a diffusion resistance, a polysilicon resistance, and a metal resistance, and is not particularly limited.
[0052]
The level shift circuit of the present invention is basically as described above.
The level shift circuit of the present invention has been described in detail above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and changes may be made without departing from the spirit of the present invention. is there.
[0053]
【The invention's effect】
As described above in detail, the level shift circuit of the present invention has means for determining an input signal to the input transistor of the level shifter when the high voltage power supply is turned on before the low voltage power supply. It is to be prepared.
As a result, according to the level shift circuit of the present invention, there is an effect that it is possible to prevent a through current when the power is turned on regardless of the turn-on order of the high-voltage and low-voltage power supplies.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration circuit diagram of an embodiment of a level shift circuit of the present invention.
FIG. 2 is a timing chart of an embodiment illustrating the operation of the level shift circuit of the present invention.
FIG. 3 is a configuration circuit diagram of another embodiment of the level shift circuit of the present invention.
FIG. 4 is a configuration circuit diagram of another embodiment of the level shift circuit of the present invention.
FIG. 5 is a configuration circuit diagram of another embodiment of the level shift circuit of the present invention.
FIG. 6 is a configuration circuit diagram of another embodiment of the level shift circuit of the present invention.
FIG. 7 is a configuration circuit diagram of another embodiment of the level shift circuit of the present invention.
FIG. 8 is a configuration circuit diagram of an example of a conventional level shift circuit.
FIG. 9 is an example timing chart showing the operation of a conventional level shift circuit.
[Explanation of symbols]
10, 20, 22, 24, 26, 28, 30
N1, N2, N3, N4, N5, N6, N7 N-type MOS transistor (NMOS)
C1, C2 Capacitance elements R1, R2 Resistance elements VDD1, VDD2 Power supplies A, B, C, D Internal nodes VIN, VOUT signals
Claims (3)
前記レベルシフタは、前記低電圧の信号が入力される入力用のトランジスタを備え、この入力用のトランジスタのオン/オフの状態に応じて当該レベルシフタの出力信号を発生するものであって、
前記低電圧の電源よりも先に前記高電圧の電源が投入された場合に、前記レベルシフタの入力用のトランジスタへの入力信号を確定する手段を備えていることを特徴とするレベルシフト回路。 A level shift circuit comprising a pre-driver that is supplied with a low voltage power and outputs a low voltage signal, and a level shifter that is supplied with a high voltage power and converts the low voltage signal into a high voltage signal. ,
The level shifter includes an input transistor to which the low voltage signal is input, and generates an output signal of the level shifter according to the on / off state of the input transistor,
Wherein when the power supply of the high voltage before the power supply of low voltage is turned on, the level shift circuit, characterized in that it comprises a means for determining an input signal to the transistor for input of the level shifter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001196582A JP4763924B2 (en) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Level shift circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001196582A JP4763924B2 (en) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Level shift circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003017996A JP2003017996A (en) | 2003-01-17 |
JP4763924B2 true JP4763924B2 (en) | 2011-08-31 |
Family
ID=19034364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001196582A Expired - Fee Related JP4763924B2 (en) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Level shift circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4763924B2 (en) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3888464B2 (en) * | 2004-05-10 | 2007-03-07 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | Semiconductor integrated circuit |
JP5012208B2 (en) * | 2006-06-09 | 2012-08-29 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Level converter |
JP2008035200A (en) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Semiconductor integrated circuit device, and its related technology |
JP4985212B2 (en) | 2006-08-24 | 2012-07-25 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Semiconductor integrated circuit device and level shift circuit |
KR101265218B1 (en) | 2006-08-28 | 2013-05-24 | 삼성전자주식회사 | Input/output device with fixed value at sleep mode, or at supply initial voltage to system |
JP5018262B2 (en) * | 2007-06-15 | 2012-09-05 | 株式会社デンソー | Signal output device and communication driver device |
JP5090083B2 (en) * | 2007-06-29 | 2012-12-05 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Semiconductor device |
JP2011091601A (en) * | 2009-10-22 | 2011-05-06 | Seiko Epson Corp | Level shifter circuit, integrated circuit device and electronic equipment |
JP6036272B2 (en) * | 2012-12-21 | 2016-11-30 | 株式会社リコー | Level shift circuit, power-on reset circuit, and semiconductor integrated circuit |
JP5991299B2 (en) | 2012-12-26 | 2016-09-14 | 株式会社デンソー | Voltage detection device for battery pack |
KR101745753B1 (en) * | 2013-06-21 | 2017-06-13 | 매그나칩 반도체 유한회사 | Multi Power supply Type Level Shifter |
JP2016116220A (en) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Semiconductor device and electronic device |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07231252A (en) * | 1994-02-21 | 1995-08-29 | Fuji Electric Co Ltd | Level shift circuit |
JP3705880B2 (en) * | 1996-11-28 | 2005-10-12 | 富士通株式会社 | Level converter and semiconductor device |
JPH10336007A (en) * | 1997-05-29 | 1998-12-18 | Fujitsu Ltd | Level converter, output circuit, and input-output circuit |
-
2001
- 2001-06-28 JP JP2001196582A patent/JP4763924B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003017996A (en) | 2003-01-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080424 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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