JP4708735B2 - Method for manufacturing mask structure - Google Patents

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本発明は、基板上の所望箇所に有機物層を蒸着するに際して、該基板上に配されるマスク構造体の製造方法に関する。 The present invention is, when depositing an organic material layer in a desired position on the substrate, a method for manufacturing a mask structures disposed on the substrate.

フルカラー表示パネルの中で有機発光材を使用したものがあり、その表示パネルは、ガラスから成る基板上に一定間隔で設けた多数の微細電極と酸化インジウムなどの透明電極との間に有機発光材料を挟み、これらの電極間に通電し選択的に発光させて表示画像を得るもので、上記ガラス基板には、電極に接続する電気回路、駆動素子、及び隣接する画素同士を電気的に分離する画素分離膜等、精密な発光に必要な構成部材が形成されている。   Some full-color display panels use an organic light-emitting material, and the display panel is an organic light-emitting material between a large number of fine electrodes provided at regular intervals on a glass substrate and a transparent electrode such as indium oxide. A display image is obtained by electrifying and selectively emitting light between these electrodes, and the glass substrate electrically separates an electric circuit connected to the electrodes, a driving element, and adjacent pixels. Components necessary for precise light emission, such as a pixel separation film, are formed.

また、フルカラー表示パネルは、通常3色の画素を一組としてそれらを所定の間隔をおいて表示面内全体に多数配置され、天然色の再現が可能であり、例えば、テレビ受像機の画面、デジタルカメラのモニター、コンピューターのモニターなどの表示装置において静止画や動画を表示するのに用いることが可能である。   A full-color display panel usually has a set of three color pixels as a set, and a large number of them are arranged on the entire display surface with a predetermined interval, and natural colors can be reproduced. For example, a screen of a television receiver, It can be used to display still images and moving images on display devices such as digital camera monitors and computer monitors.

このフルカラー有機発光表示パネル等を製造する際には、従来より、蒸着法によって複数色の有機材料が積層され、その際、所謂マスクと呼ばれる薄板状の微細穴を有する部材が用いられている。これは、基板側に設けた多数の微細電極に一致するように所定位置に穴が明けられ、その穴の部分に対応した電極のみに有機物質を蒸着させ、言い換えればそれ以外には蒸着されず、これを所定回数繰り返し行って、混色などのない表示パネルが製造されるものである。   When manufacturing this full-color organic light emitting display panel or the like, conventionally, a plurality of color organic materials are laminated by a vapor deposition method, and at that time, a member having a thin plate-like minute hole called a mask is used. This is because a hole is drilled at a predetermined position so as to coincide with a large number of fine electrodes provided on the substrate side, and an organic substance is vapor-deposited only on the electrode corresponding to the hole portion, in other words, no other vapor deposition is performed. By repeating this a predetermined number of times, a display panel free from color mixing is manufactured.

表示パネルが高精細な一定パターンの画素配列であるなどの場合、マスクには必然的に高精度な穴配列精度が要求されるため、フォトリソグラフィ法と電鋳(メッキ)工程によりマスクが製造されることがあるが、電鋳(メッキ)工程により形成するのでマスクの厚みは一般的に薄く、0.01mm〜0.1mm程度である。また、蒸着源からの飛翔角度によっては、有機物質の蒸着がマスク穴の角部に阻止されることがあるので、マスクの厚みは薄いことが望ましい。   When the display panel has a high-definition pixel pattern with a fixed pattern, etc., the mask is inevitably required to have a high precision in the hole arrangement, so the mask is manufactured by photolithography and electroforming (plating) processes. However, since it is formed by an electroforming (plating) process, the thickness of the mask is generally thin and is about 0.01 mm to 0.1 mm. Further, depending on the flight angle from the vapor deposition source, the vapor deposition of the organic substance may be blocked at the corner of the mask hole, so that the mask is desirably thin.

このようにマスクは薄板状であるので、それ自身の平面度を維持する力が強いとは言えず、補強するために強固なフレーム枠体に貼られてマスク構造体として使用されることが一般的である。   Since the mask is thin like this, it cannot be said that the force to maintain its own flatness is strong, and it is generally used as a mask structure by being affixed to a strong frame frame for reinforcement. Is.

図6は従来のマスク構造体を示す側断面図である。図6において、1はフレーム枠体、3はマスク、4は蒸着物質が通過しうる穴、6は貫通穴、7は接着層である。   FIG. 6 is a side sectional view showing a conventional mask structure. In FIG. 6, 1 is a frame body, 3 is a mask, 4 is a hole through which a vapor deposition material can pass, 6 is a through hole, and 7 is an adhesive layer.

図示するように、マスク3は薄板状に形成され、蒸着の際に蒸着物質が通過しうる多数の穴4を有しており、使用に際して充分な強度を有し、貫通穴6を有するフレーム枠体1に所定の張力を付与した状態で接着層7により固定されてマスク構造体として形成されており、接着層7は溶接でも代用可能である。   As shown in the figure, the mask 3 is formed in a thin plate shape, has a plurality of holes 4 through which a vapor deposition substance can pass during vapor deposition, has a sufficient strength in use, and has a frame frame having a through hole 6. The body 1 is fixed with an adhesive layer 7 in a state where a predetermined tension is applied, and is formed as a mask structure, and the adhesive layer 7 can be substituted by welding.

かかるマスクの穴の位置精度は、不図示の電鋳母材上にフォトリソグラフィ法により高精度に位置決めされ、メッキによりその位置精度を維持したままマスクが形成される。その後、マスクは、特許文献1に開示されているように、一旦、電鋳母材(母型)から剥がされ、フレーム枠体に接着層を介して、所定の張力を付与した状態で貼り付けられてマスク構造体として完成することになる。   The position accuracy of the mask hole is positioned with high accuracy on an electroformed base material (not shown) by photolithography, and the mask is formed while maintaining the position accuracy by plating. Thereafter, as disclosed in Patent Document 1, the mask is once peeled off from the electroformed base material (matrix) and attached to the frame frame body with a predetermined tension applied through an adhesive layer. As a result, a mask structure is completed.

特開平2003−231964号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-231964

しかしながら、従来のマスク構造体にあっては、母材から剥がされた際、電鋳工程中に発生していた内部応力により、マスクが収縮或いは膨張してしまうことがあり、剥がす以前の高精度を保持できないことがあった。また、引き剥がす際にマスクに掛かる張力の大きさ、又はそのバラツキなどによっても、マスクの高精度を維持できないこともあった。   However, in the conventional mask structure, when it is peeled off from the base material, the mask may shrink or expand due to internal stress generated during the electroforming process. Could not be held. In addition, the high accuracy of the mask may not be maintained depending on the magnitude of the tension applied to the mask during peeling or variations thereof.

このような精度が不十分なマスク構造体を使用すれば、有機物を所定の位置に蒸着できないため、パネル表示色の混色や部分的な色のバラツキなどの不具合や、電気的問題などを引き起こすことがあった。   If such a mask structure with insufficient accuracy is used, organic matter cannot be deposited at a predetermined position, which may cause problems such as color mixing of panel display colors, partial color variations, and electrical problems. was there.

また、マスクをフレーム枠体に接着固定する際に張力などを付与し精度の調整を行うことも考えられるが、手間と時間を要するものであり、更に数ミクロンを争う精度調整をマスク全面にわたって均一に行うことは困難であった。   In addition, it may be possible to adjust the accuracy by applying tension when the mask is bonded and fixed to the frame. However, it takes time and effort, and the accuracy adjustment over several microns is evenly distributed over the entire mask surface. It was difficult to do.

本発明は、上記の課題に鑑みて創案されたものであり、その目的は、フォトリソグラフィ法により得られたマスクの高精度をそのまま維持することができ、それを使用して高精度表示パネルを作製することができるマスク構造体及びその製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and the object of the present invention is to maintain the high accuracy of a mask obtained by a photolithography method as it is. An object of the present invention is to provide a mask structure that can be manufactured and a method of manufacturing the same.

上記の目的を達成すべく、本発明に係るマスク構造体の他の製造方法は、額縁状のフレーム枠体の枠辺に囲まれて形成される貫通穴に補助部材を装填して電鋳母材を構成する工程と、
該電鋳母材の補助部材上に、フォトリソグラフィ法により所定形状のレジストを形成する工程と、
該レジストを形成した電鋳母材上に、前記補助部材を跨いで枠辺に至る、マスクとなる金属膜を形成する工程と、
前記レジストを取り除いて、マスクに複数の微細穴を形成する工程と、
前記補助部材を取り除いて、フレーム枠体の貫通穴を開口する工程とを有することを特徴とする。
In order to achieve the above object, another method for manufacturing a mask structure according to the present invention is to form an electroforming mother by loading an auxiliary member in a through hole formed surrounded by a frame side of a frame-like frame frame. A process of constituting the material;
On the auxiliary member of the electroformed base material, a step of forming a resist having a predetermined shape by a photolithography method;
On the electroformed base material on which the resist is formed, a step of forming a metal film that serves as a mask , straddling the auxiliary member and reaching the frame side ;
Removing the resist and forming a plurality of fine holes in the mask; and
And removing the auxiliary member to open a through hole of the frame body.

本発明によれば、マスクを形成した後に一旦剥がすという工程を要しないので、フォトリソグラフィ法により得られたマスクの高精度をそのまま維持することができ、それを使用して高精度表示パネルを作製することができるという優れた効果を奏するものである。   According to the present invention, since the process of removing the mask once is not required, the high accuracy of the mask obtained by the photolithography method can be maintained as it is, and a high accuracy display panel is manufactured using the mask. It has an excellent effect that it can be performed.

以下、本発明を実施するための最良の形態を説明するが、本発明は本実施形態に限るものではない。   Hereinafter, the best mode for carrying out the present invention will be described, but the present invention is not limited to this embodiment.

図1は本発明に係るマスク構造体の一実施形態を示す平面図であり、図2は図1の側断面図である。図1及び図2において、1は電鋳母材(フレーム枠体)、3はマスク、4は蒸着物質の通過しうる微細穴、6は貫通穴、8は保護層である。   FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a mask structure according to the present invention, and FIG. 2 is a side sectional view of FIG. 1 and 2, 1 is an electroformed base material (frame frame), 3 is a mask, 4 is a fine hole through which a vapor deposition material can pass, 6 is a through hole, and 8 is a protective layer.

図示するように、本実施形態のマスク構造体は、正方形状または長方形状を呈し、中央部に蒸着物質の通過しうる多数の微細穴4を有するマスク3と、該マスク3の平面度を維持すべく、これを付設して保持する枠体状(額縁状)のフレーム枠体1とから構成されている。マスク3に形成された多数の微細穴4には、これを用いて製造する表示パネルの各画素を形成する所定のパターンニングが施されている。そして、マスク構造体は、表示パネルの基板上の所望箇所に有機物層を蒸着するに際して用いられ、該基板上にマスク3を密着させるように配される。   As shown in the drawing, the mask structure of the present embodiment has a square shape or a rectangular shape, and has a mask 3 having a large number of fine holes 4 through which a vapor deposition material can pass in the center, and the flatness of the mask 3 is maintained. In particular, it is composed of a frame-like (frame-like) frame frame 1 that is attached and held. The numerous fine holes 4 formed in the mask 3 are subjected to predetermined patterning for forming each pixel of a display panel manufactured using the fine holes 4. The mask structure is used to deposit an organic layer on a desired location on the substrate of the display panel, and is arranged so that the mask 3 is in close contact with the substrate.

次に、マスク構造体の各構成要素について説明する。   Next, each component of the mask structure will be described.

本発明におけるマスク3は、有機発光材料等を真空蒸着等により特定位置に塗り分ける際に用いる部材であり、上記発光材料などが通過しうる微細穴4が開設され、フレーム枠体1に張力を付与した状態で固定される形式のものであり、とりわけ1インチ当たり概ね100〜300画素程度の高密度配列の画素を有し、有機発光材料の塗り分け時に高精度を必要とする表示パネルの作製に好適である。   The mask 3 in the present invention is a member used when an organic light-emitting material or the like is applied separately to a specific position by vacuum deposition or the like. Production of a display panel that is fixed in the applied state and has high-density pixels of about 100 to 300 pixels per inch, and requires high accuracy when the organic light-emitting material is separately applied. It is suitable for.

マスク3に開設する微細穴4の位置精度としては、約±0〜0.005mm程度が理想である。マスク3の厚みは約0.01mm〜0.1mm程度であることが好ましく、マスク3の材料としてはAuを芯にしてNiなどを表面に被覆したものが挙げられるが、これに限るものではなく、作製時に支障がなく、同様の特性などを有する合金、セラミックなどであれば採用可能である。   As the positional accuracy of the fine hole 4 opened in the mask 3, about ± 0 to 0.005 mm is ideal. The thickness of the mask 3 is preferably about 0.01 mm to 0.1 mm, and examples of the material of the mask 3 include a material in which Ni is coated on the surface with Au as a core, but is not limited thereto. Any alloy, ceramic, or the like that has no problem during production and has similar characteristics can be used.

フレーム枠体1は、マスク3の大きさや要求強度によるが、概ね3〜20mm程度の厚みを有し、材質としては、ステンレス鋼(SUS)、ガラス材、その他の剛性が充分であって、電鋳工程の電鋳母材として使用可能であり、且つエッチング可能な材質であれば採用しうる。   The frame body 1 has a thickness of about 3 to 20 mm, depending on the size and required strength of the mask 3, and is made of stainless steel (SUS), glass material, and other rigid materials. Any material that can be used as an electroforming base material in a casting process and can be etched can be used.

このマスク構造体は、図3(a)〜(f)に示すような製造方法により製造される。   This mask structure is manufactured by a manufacturing method as shown in FIGS.

即ち、図3(a)に示すように、まず、電鋳母材1上に、フォトリソグラフィ法を用いて、後にマスク3の微細穴4となる形状の凸状のレジスト2を形成する工程を行う。この電鋳母材1は後工程においてフレーム枠体として形成される。   That is, as shown in FIG. 3A, first, a step of forming a convex resist 2 having a shape that will later become the fine hole 4 of the mask 3 on the electroformed base material 1 by using a photolithography method. Do. The electroformed base material 1 is formed as a frame frame body in a subsequent process.

次に、図3(b)に示すように、上記レジスト2を形成した電鋳母材1上に、電鋳(メッキ)工程によりマスク3となる金属膜を形成する工程を行う。そのとき、マスクを形成する金属はAu(金)であることが好ましい。   Next, as shown in FIG. 3B, a step of forming a metal film to be a mask 3 by an electroforming (plating) process is performed on the electroformed base material 1 on which the resist 2 is formed. At that time, the metal forming the mask is preferably Au (gold).

その後、図3(c)に示すように、レジスト2のみを取り除いてマスク3に多数の蒸着物質が通過しうる微細穴4を形成する工程を行う。   Thereafter, as shown in FIG. 3C, a step of removing only the resist 2 and forming fine holes 4 through which a large number of vapor deposition materials can pass through the mask 3 is performed.

さらに、図3(d)に示すように、マスク3に多数の微細穴4が明いている領域に相当する電鋳母材以外の部分をマスキング5する工程を行う。   Further, as shown in FIG. 3 (d), a step of masking 5 is performed on portions other than the electroformed base material corresponding to a region where many fine holes 4 are formed in the mask 3.

そして、図3(e)に示すように、電鋳母材1を溶かすことが可能な、例えば、フッ酸などの薬剤に所定時間浸してエッチングを行い、電鋳母材1の所定位置に貫通穴6を開設する。このとき、マスク3はAuであるので上記薬剤に解けてしまうことはない。   Then, as shown in FIG. 3 (e), the electroformed base material 1 can be melted, for example, immersed in a chemical such as hydrofluoric acid for a predetermined time for etching, and penetrated into the electroformed base material 1 at a predetermined position. Open hole 6. At this time, since the mask 3 is made of Au, it does not dissolve in the medicine.

次に、図3(f)に示すように、上記薬剤から引き上げ洗浄した後、マスク3の保護及び補強、磁石への吸着のために、マスク3上に強度及び強磁性を有する保護層8として、例えば、Niをメッキで被覆する。   Next, as shown in FIG. 3 (f), after lifting and cleaning from the above chemicals, as a protective layer 8 having strength and ferromagnetism on the mask 3 for protection and reinforcement of the mask 3 and adsorption to the magnet. For example, Ni is coated with plating.

このような工程により、マスク3を母材1から剥がすことなく、高精度な多数の微細穴4を有するマスク3と、蒸着物質が通過しうる貫通穴6を有するフレーム枠体1とを同時に得ることができ、フォトリソグラフィ法により得られたマスク3の高精度をそのまま維持することができ、それを使用して高精度表示パネルを作製することができるマスク構造体が作製可能である。   By such a process, the mask 3 having a large number of fine holes 4 with high accuracy and the frame frame body 1 having the through holes 6 through which the vapor deposition material can pass are simultaneously obtained without peeling off the mask 3 from the base material 1. The mask structure obtained by photolithography can be maintained as it is, and a mask structure that can be used to manufacture a high-precision display panel can be manufactured.

また、上記エッチング工程を効率良く行うためには、電鋳母材の肉厚を薄くすることが好ましいが、この場合には貫通穴を開設したフレーム枠体の強度が劣るため、補強フレームを付設してフレーム枠体を補強してもよい。   In order to perform the etching process efficiently, it is preferable to reduce the thickness of the electroformed base material. However, in this case, since the strength of the frame body having the through holes is inferior, a reinforcing frame is attached. Then, the frame body may be reinforced.

さらに、貫通穴を有するフレーム枠体を用いて電鋳(メッキ)工程を行い、電鋳母材のエッチング工程を省略することもできる。   Furthermore, an electroforming (plating) process can be performed using a frame body having a through hole, and an electroforming base material etching process can be omitted.

すなわち、本発明に係るマスク構造体の他の製造方法は、まず、フレーム枠体の貫通穴に、例えば、フレーム枠体の構成材料と共材からなる補助部材を装填して電鋳母材を構成する工程を行う。   That is, in another method for manufacturing a mask structure according to the present invention, first, an auxiliary member made of a material common to the frame frame body, for example, is loaded into the through hole of the frame frame body, and the electroformed base material is loaded. Steps to configure are performed.

次に、該電鋳母材の補助部材上に、フォトリソグラフィ法により所定形状のレジストを形成する工程を行った後、該レジストを形成した電鋳母材上に、マスクとなる金属膜を形成する工程を行う。   Next, after performing a step of forming a resist of a predetermined shape on the auxiliary member of the electroformed base material by a photolithography method, a metal film serving as a mask is formed on the electroformed base material on which the resist is formed The process to do is performed.

その後、上記レジストを取り除いて、マスクに複数の微細穴を形成する工程を行い、最後に、上記補助部材を取り除いて、フレーム枠体の貫通穴を開口する工程を行う。   Thereafter, the step of removing the resist and forming a plurality of fine holes in the mask is performed. Finally, the step of removing the auxiliary member and opening the through holes of the frame body is performed.

このようにして図3(e)に示したと同様のマスク構造体をエッチング工程を行わずに得ることができる。この場合にも、図3(f)に示したように、マスク3の保護及び補強、磁石への吸着のために、マスク3上に強度及び強磁性を有する保護層8として、例えば、Niをメッキで被覆することが好ましい。   In this way, a mask structure similar to that shown in FIG. 3E can be obtained without performing an etching process. Also in this case, as shown in FIG. 3 (f), for protection and reinforcement of the mask 3 and adsorption to the magnet, as the protective layer 8 having strength and ferromagnetism on the mask 3, for example, Ni is used. It is preferable to coat with plating.

以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限るものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and this invention is demonstrated concretely, this invention is not limited to these Examples.

<実施例1(参考例)
図1、図2及び図3を用いて、実施例1を説明する。
図1は本発明に係るマスク構造体を表す平面図であり、図2は図1の側断面図である。また図3は、本発明に係るマスク構造体の作製工程を示す側断面図である。これらの図において、1は電鋳母材(フレーム枠体)、2はレジスト、3はマスク、4は蒸着物が通過しうる穴、5はマスキング、6は貫通穴、8は保護層である。
<Example 1 (reference example) >
Example 1 will be described with reference to FIGS. 1, 2, and 3.
FIG. 1 is a plan view showing a mask structure according to the present invention, and FIG. 2 is a side sectional view of FIG. FIG. 3 is a cross-sectional side view showing a manufacturing process of the mask structure according to the present invention. In these drawings, 1 is an electroformed base material (frame frame), 2 is a resist, 3 is a mask, 4 is a hole through which a deposit can pass, 5 is a mask, 6 is a through hole, and 8 is a protective layer. .

図3(a)に示すように、まず、電鋳母材1上に、フォトリソグラフィ法を用いて、後にマスク3の穴4となる形状及び所定サイズの凸状のレジスト2を形成する。   As shown in FIG. 3A, first, a photolithography resist is used to form a resist 2 having a shape that will later become the hole 4 of the mask 3 and a predetermined size of convexity 2 on the electroformed base material 1.

次に図3(b)に示すように、レジスト2を形成した電鋳母材1上に、電鋳(メッキ)によりマスク3となる金属膜を形成する。金属はAu(金)であり、その厚みは約0.02mmである。   Next, as shown in FIG. 3B, a metal film to be a mask 3 is formed by electroforming (plating) on the electroformed base material 1 on which the resist 2 is formed. The metal is Au (gold), and its thickness is about 0.02 mm.

そして、図3(c)に示すように、レジスト2を取り除くと、所定の微細穴4が明いたマスク3の形状が形成される。   Then, as shown in FIG. 3C, when the resist 2 is removed, the shape of the mask 3 in which predetermined fine holes 4 are clear is formed.

次に図3(d)に示すように、後にフレーム枠体となる電鋳母材1に貫通穴6を開設するため、該貫通穴6に相当する部分(図3(d)において、Bで示す部分)以外の箇所をマスキング5で覆い、電鋳母材1を溶かすことが可能な、例えば、フッ酸などの薬剤に所定時間浸してエッチングを行い、貫通穴6を開設する。このときマスク3はAuであるので、前記薬剤に解けてしまうことはない。図3(e)に示すのは、貫通穴6が開設され、マスキング5を取り去った状態である。なお、電鋳母材には貫通穴6に相当する位置にあらかじめある程度の深さまで掘り込みを入れておき、上記のエッチング時間を短縮させても良い。   Next, as shown in FIG. 3 (d), in order to open a through hole 6 in the electroformed base material 1 that will later become a frame frame, a portion corresponding to the through hole 6 (in FIG. A portion other than the portion shown) is covered with a masking 5, and the electroformed base material 1 can be dissolved, for example, immersed in a chemical such as hydrofluoric acid for a predetermined time to perform etching, and the through hole 6 is opened. At this time, since the mask 3 is made of Au, it does not dissolve in the medicine. FIG. 3E shows a state in which the through hole 6 is opened and the masking 5 is removed. The etching time may be shortened by previously digging the electroformed base material to a certain depth at a position corresponding to the through hole 6.

次に図3(f)に示すように、洗浄した後、マスク3の保護及び補強、磁石への吸着を目的とし、Niメッキによって保護層8を施す。その厚みは約0.003mmである。   Next, as shown in FIG. 3 (f), after cleaning, a protective layer 8 is applied by Ni plating for the purpose of protection and reinforcement of the mask 3 and adsorption to a magnet. Its thickness is about 0.003 mm.

<実施例2>
図4は、実施例2のマスク構造体を示す側断面図である。図において、1は電鋳母材(フレーム枠体)、2はレジスト、1’は別の補助部材である。
<Example 2>
FIG. 4 is a side sectional view showing the mask structure of the second embodiment. In FIG. 4 , 1 is an electroformed base material (frame frame), 2 is a resist, and 1 'is another auxiliary member.

実施例2では、電鋳母材1に予め貫通穴6を所定位置に明けておき、その部分を別の補助部材1’で完全に埋めてあり、このような電鋳母材1にフォトリソグラフィ法を用いて後にマスク3の穴4となる形状の凸状のレジスト2を形成する。そして、このレジスト2を形成した電鋳母材1上にマスク3を形成し、レジスト2を除去した後、別の補助部材1’を取り外しマスク構造体を完成する。   In Example 2, the through-hole 6 is previously opened at a predetermined position in the electroformed base material 1 and the portion is completely filled with another auxiliary member 1 ′. By using this method, a convex resist 2 having a shape that will later become a hole 4 of the mask 3 is formed. Then, a mask 3 is formed on the electroformed base material 1 on which the resist 2 is formed, and after removing the resist 2, another auxiliary member 1 'is removed to complete a mask structure.

したがって、実施例2では実施例1の図3(d)に示したエッチング工程は必要なく、それ以外は実施例1と同様であるので、説明を省略する。 Therefore, the etching step shown in FIG. 3 of Example 2 in Example 1 (d) is not necessary, since otherwise the same as in Example 1, the description thereof is omitted.

<実施例3(参考例)>
図5は、実施例3のマスク構造体を示す側断面図である。図において、1は電鋳母材(フレーム枠体)、3はマスク、4は蒸着物が通過しうる穴、5はマスキング、6は貫通穴、8は保護層、9は補強フレームである。
<Example 3 (reference example)>
FIG. 5 is a side sectional view showing the mask structure of the third embodiment. In FIG. 5 , 1 is an electroformed base material (frame frame), 3 is a mask, 4 is a hole through which a deposited material can pass, 5 is masking, 6 is a through hole, 8 is a protective layer, and 9 is a reinforcing frame. .

実施例3では、フレーム枠体となる電鋳母材1に貫通穴6を開設するエッチング時間を短縮するため、実施例1と比較し薄い板材を使用している。そのため、フレーム枠体1に要求される強度が不足することがあるので、さらにその補強として補強フレーム9を追加したものであり、それ以外は実施例1と同様であるので、説明を省略する。   In the third embodiment, a thinner plate material is used than in the first embodiment in order to shorten the etching time for opening the through hole 6 in the electroformed base material 1 to be the frame body. Therefore, since the strength required for the frame body 1 may be insufficient, the reinforcement frame 9 is further added as the reinforcement, and the rest is the same as in the first embodiment, and the description thereof is omitted.

本発明のマスク構造体を示す平面図である。It is a top view which shows the mask structure of this invention. 図1の側断面図である。It is a sectional side view of FIG. 本発明のマスク構造体の作製工程を示す側断面図である。It is a sectional side view which shows the manufacturing process of the mask structure of this invention. 実施例2のマスク構造体の作製工程を示す側断面図である。6 is a side cross-sectional view illustrating a manufacturing process of a mask structure according to Example 2. 実施例3のマスク構造体の作製工程を示す側断面図である。10 is a side cross-sectional view illustrating a manufacturing process of a mask structure according to Example 3. 従来のマスク構造体を示す側断面図である。It is a sectional side view which shows the conventional mask structure.

符号の説明Explanation of symbols

1 電鋳母材(フレーム枠体)
2 レジスト
3 マスク
4 穴
5 マスキング
6 貫通穴
8 保護層
9 別の部材
1 Electroforming base material (frame frame)
2 resist 3 mask 4 hole 5 masking 6 through hole 8 protective layer 9 another member

Claims (3)

額縁状のフレーム枠体の枠辺に囲まれて形成される貫通穴に補助部材を装填して電鋳母材を構成する工程と、
該電鋳母材の補助部材上に、フォトリソグラフィ法により所定形状のレジストを形成する工程と、
該レジストを形成した電鋳母材上に、前記補助部材を跨いで枠辺に至る、マスクとなる金属膜を形成する工程と、
前記レジストを取り除いて、マスクに複数の微細穴を形成する工程と、
前記補助部材を取り除いて、フレーム枠体の前記貫通穴を開口する工程とを有することを特徴とするマスク構造体の製造方法。
A step of constructing an electroformed base material by loading an auxiliary member into a through hole formed surrounded by a frame side of a frame-like frame frame; and
On the auxiliary member of the electroformed base material, a step of forming a resist having a predetermined shape by a photolithography method;
On the electroformed base material on which the resist is formed, a step of forming a metal film that serves as a mask , straddling the auxiliary member and reaching the frame side ;
Removing the resist and forming a plurality of fine holes in the mask; and
Remove the auxiliary member, the manufacturing method of the mask structure, characterized in that a step of opening the through hole of the frame frame.
前記フレーム枠体に補強フレームを付設することを特徴とする請求項1に記載のマスク構造体の製造方法。   The method for manufacturing a mask structure according to claim 1, wherein a reinforcing frame is attached to the frame body. 前記マスク上に強度及び強磁性を有する保護層を形成することを特徴とする請求項1または2に記載のマスク構造体の製造方法。   The method for manufacturing a mask structure according to claim 1, wherein a protective layer having strength and ferromagnetism is formed on the mask.
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