JP4694914B2 - Surface inspection method and apparatus - Google Patents

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本発明は、検査対象物の表面欠陥を検出する表面検査方法および同装置に関する。   The present invention relates to a surface inspection method and apparatus for detecting a surface defect of an inspection object.

従来、高い表面精度が求められる感光ドラム用基体等は、キズ、凹凸、異物付着および汚れ等の表面欠陥を検出するため、表面検査が行われている。   Conventionally, a substrate for a photosensitive drum or the like that requires high surface accuracy has been subjected to surface inspection in order to detect surface defects such as scratches, unevenness, foreign matter adhesion, and dirt.

このような表面検査方法として、たとえば下記特許文献1では、ストライプ状の明暗をもった照明を用いて正反射光量を減少させることにより、表面欠陥の検出精度の向上を図る方法が提案されている。   As such a surface inspection method, for example, the following Patent Document 1 proposes a method for improving the detection accuracy of surface defects by reducing the amount of specular reflection using illumination with stripe-like light and darkness. .

また下記特許文献2では、微細チェッカーパターンを被検体に照明し、その反射光を撮影して得たチェッカーパターンのゆがみと、明部と暗部の明るさの変化の度合いによって表面欠陥を評価する方法が提案されている。   Further, in Patent Document 2 below, a method for evaluating surface defects based on the distortion of a checker pattern obtained by illuminating a subject with a fine checker pattern and photographing the reflected light, and the degree of change in brightness between a bright part and a dark part Has been proposed.

また、下記特許文献3では、検査対象物を撮影して得た画像データから高周波成分画像データと低周波成分画像データを作成し、両者を用いて加工痕とそれ以外の傷や巣あるいは汚れ等とを区別する方法が提案されている。
特開平5−52766号公報 特開2001−21332号公報 特開2003−329605号公報
Further, in Patent Document 3 below, high-frequency component image data and low-frequency component image data are created from image data obtained by photographing an inspection object, and both are used to form a processing mark and other scratches, nests, dirt, etc. A method for discriminating between the two has been proposed.
JP-A-5-52766 JP 2001-21332 A JP 2003-329605 A

ところで、種々の原因によって発生する表面欠陥には、形状や大きさ等によって、光源やカメラの位置関係等の光学条件が極めて狭い範囲内に設定されていなければ検出されないことがある。このため、従来の各種の表面検査方法では、検査時の光学条件下では僅かな変化しか現れない欠陥を検出できずに流出されてしまうおそれがあった。   By the way, surface defects caused by various causes may not be detected unless the optical conditions such as the positional relationship between the light source and the camera are set within a very narrow range depending on the shape and size. For this reason, in various conventional surface inspection methods, there is a possibility that defects that show only a slight change under the optical conditions at the time of inspection cannot be detected and flow out.

また逆に、欠陥の種類によっては、たとえば検査後の工程で行われる表面処理等によって解消されるなど、不良として扱う必要のない場合もある。しかしながら、従来の表面検査方法では、欠陥の種類を判別できないために、欠陥が存在すればその種類によらず不良品とせざるを得ず、収率を低下させてしまうおそれがあった。   Conversely, depending on the type of defect, there is a case where it is not necessary to treat it as a defect, for example, it is eliminated by a surface treatment performed in a process after inspection. However, in the conventional surface inspection method, since the type of the defect cannot be discriminated, if there is a defect, it has to be a defective product regardless of the type, and the yield may be reduced.

本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、欠陥の種類を判別することができる表面検査方法および同装置等を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a surface inspection method and apparatus that can determine the type of defect.

本発明は、下記の手段を提供する。すなわち、
[1]検査対象領域に照明光を照射し、その反射光をカメラで検出することにより表面欠陥を検出する表面検査方法であって、
検査対象領域の各部に対して、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域となる光学条件と、反射光が検出されない暗領域となる光学条件を含む、複数種類の光学条件下で表面欠陥の検出を行い、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定することを特徴とする表面検査方法。
The present invention provides the following means. That is,
[1] A surface inspection method for detecting surface defects by irradiating illumination light to an inspection target region and detecting the reflected light with a camera,
For each part of the inspection target area, if there is no surface defect, there are a plurality of types including an optical condition that becomes a bright area where reflected light of illumination light is detected by the camera, and an optical condition that becomes a dark area where no reflected light is detected Detect surface defects under optical conditions,
A surface inspection method comprising: determining a type of a detected surface defect based on a combination pattern of presence / absence of defect detection under each optical condition.

[2]前記明領域および暗領域の形成位置を移動させる前項2に記載の表面検査方法。   [2] The surface inspection method according to item 2, wherein the formation positions of the bright region and the dark region are moved.

[3]前記明領域と暗領域を同時に形成する前項1または2に記載の表面検査方法。   [3] The surface inspection method according to item 1 or 2, wherein the bright region and the dark region are formed simultaneously.

[4]前記複数の光学条件には、前記明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含む前項3に記載の表面検査方法。   [4] The surface inspection method according to item 3, wherein the plurality of optical conditions include an optical condition that is a boundary region between the bright region and the dark region.

[5]検査対象領域に照射される照明光を遮光体によって遮ることにより、前記暗領域を形成する前項1〜4のいずれかに記載の表面検査方法。   [5] The surface inspection method according to any one of the above items 1 to 4, wherein the dark region is formed by blocking illumination light applied to the region to be inspected by a light shielding body.

[6]複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成されたスリット体によって、検査対象領域に照射される照明光を断続的に遮ることにより、検査対象領域上に複数の前記明領域および暗領域を交互に繰り返し形成する前項1〜4のいずれかに記載の表面検査方法。   [6] The slit body formed such that the plurality of light transmitting portions and the light shielding portions are alternately repeated alternately interrupts the illumination light applied to the inspection target region, so that a plurality of the above-described portions are formed on the inspection target region. 5. The surface inspection method according to any one of items 1 to 4, wherein the bright region and the dark region are alternately and repeatedly formed.

[7]複数の光学条件のうち少なくとも1条件については複数回の表面欠陥の検出が行われる前項1〜6のいずれかに記載の表面検査方法。   [7] The surface inspection method according to any one of 1 to 6 above, in which surface defects are detected a plurality of times for at least one of a plurality of optical conditions.

[8]管体の外周面に照明光を照射し、その反射光をカメラで検出することにより表面欠陥を検出する表面検査方法であって、
管体の軸方向に沿ったカメラの検出領域に、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域と、反射光が検出されない暗領域とを交互に繰り返して形成し、
管体を軸回りに回転させながら、前記明領域及び暗領域の形成位置を管体の軸方向に移動させ、管体が複数回転する間、カメラにより管体の外周面を連続して撮影することにより、管体の外周面の各部に対して、前記明領域、前記暗領域および前記明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含む、複数の光学条件下での欠陥検出を行い、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定することを特徴とする管体の表面検査方法。
[8] A surface inspection method for detecting surface defects by irradiating the outer peripheral surface of a tubular body with illumination light and detecting the reflected light with a camera,
In the detection area of the camera along the axial direction of the tubular body, if there is no surface defect, a bright area where the reflected light of the illumination light is detected by the camera and a dark area where the reflected light is not detected are alternately repeated,
While the tube body is rotated around the axis, the formation position of the bright region and the dark region is moved in the axial direction of the tube body, and the outer peripheral surface of the tube body is continuously photographed by the camera while the tube body is rotated a plurality of times. Thereby, for each part of the outer peripheral surface of the tubular body, the defect detection under a plurality of optical conditions including the optical region that is the bright region, the dark region, and the boundary region between the bright region and the dark region is performed,
A method for inspecting a surface of a tubular body, comprising: determining a type of a detected surface defect based on a combination pattern of presence / absence of defect detection under each optical condition.

[9]複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成されたスリット体によって、管体に照射される照明光を断続的に遮ることにより、前記明領域と暗領域とを交互に繰り返し形成する前項8に記載の表面検査方法。   [9] The light region and the dark region are alternately switched by intermittently blocking the illumination light applied to the tube body by the slit body formed so that the plurality of light transmitting portions and the light shielding portions are alternately repeated. 9. The surface inspection method according to 8 above, wherein the method is repeatedly formed.

[10]前記明領域および暗領域とともに、前記カメラによる検出領域を前記管体の軸方向に移動させることを特徴とする前項8または9に記載の表面検査方法。   [10] The surface inspection method according to the above item 8 or 9, wherein a detection area by the camera is moved in the axial direction of the tubular body together with the bright area and the dark area.

[11]前記管体は、感光ドラム用基体であることを特徴とする前項8〜10のいずれかに記載の表面検査方法。   [11] The surface inspection method according to any one of items 8 to 10, wherein the tube is a photosensitive drum substrate.

[12]表面精度が求められる物品を成形する工程と、
前記物品を検査対象物として前項1〜11のいずれかに記載の表面検査方法を行う表面検査工程と、
前記表面検査工程により判定された欠陥の種類が所定の基準を満たすか否かにより物品を判別し、前記所定の基準を満たす場合に当該物品を完成品とする判別工程と、
を備えたことを特徴とする物品の製造方法。
[12] A step of forming an article for which surface accuracy is required;
A surface inspection step for performing the surface inspection method according to any one of the preceding items 1 to 11 as the inspection object,
Determining the article according to whether or not the type of defect determined by the surface inspection process satisfies a predetermined criterion, and determining the article as a finished product when the predetermined criterion is satisfied;
A method for producing an article, comprising:

[13]前項12に記載の物品の製造方法により製造されたことを特徴とする感光ドラム用基体。   [13] A photosensitive drum substrate manufactured by the method for manufacturing an article according to item 12 above.

[14]検査対象領域に照明光を照射し、その反射光をカメラで検出することにより表面欠陥を検出する表面検査装置であって、
検査対象領域の各部に対して、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域と、反射光が検出されない暗領域とを形成可能な照明系と、
前記照明系による明領域および暗領域の形成位置を変化させながら、前記カメラにより検査対象領域の各部に対して明領域となる光学条件および暗領域となる光学条件を含む、複数の光学条件下で欠陥検出を行わせる制御手段と、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする表面検査装置。
[14] A surface inspection apparatus for detecting surface defects by irradiating an inspection target region with illumination light and detecting the reflected light with a camera,
An illumination system capable of forming a bright area in which reflected light of illumination light is detected by the camera and a dark area in which reflected light is not detected if there is no surface defect for each part of the inspection target area,
Under a plurality of optical conditions, including an optical condition that becomes a bright area and an optical condition that becomes a dark area with respect to each part of the inspection target area by the camera while changing the formation position of the bright area and the dark area by the illumination system Control means for performing defect detection;
Based on the combination pattern of the presence or absence of defect detection under each optical condition, determination means for determining the type of detected surface defects,
A surface inspection apparatus comprising:

[15]表面精度が求められる物品を成形する成形手段と、
前記物品を検査対象とする前項14に記載の表面検査装置と、
前記表面検査装置により判定された表面欠陥の種類が所定の基準を満たすか否かにより物品を分別し、前記所定の基準を満たす場合に当該物品を完成品とする判別手段と、
を備えたことを特徴とする製造システム。
[15] Molding means for molding an article for which surface accuracy is required;
The surface inspection apparatus according to item 14, wherein the article is an inspection target;
Discriminating the article according to whether or not the type of surface defect determined by the surface inspection apparatus satisfies a predetermined standard, and when the predetermined standard is satisfied, a determination unit that makes the article a finished product,
A manufacturing system characterized by comprising:

[16]管体の表面欠陥を検出する表面検査装置であって、
管体の外周面に照明光を照射する照明と、
管体の軸方向に沿った検出領域における照明光の反射光を検出するカメラと、
複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成され、照明光を管体の軸方向について断続的に遮ることにより、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域と、反射光が検出されない暗領域を交互に繰り返し形成するスリット体と、
管体を軸回りに回転させながら、前記スリット体を管体の軸方向に移動させ、管体が複数回転する間、カメラにより管体の外周面を連続して撮影させることにより、管体の外周面の各部に対して、前記明領域、前記暗領域および前記明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含む、複数の光学条件下で欠陥検出を行わせる制御手段と、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする管体の表面検査装置。
[16] A surface inspection apparatus for detecting a surface defect of a tubular body,
Illumination for illuminating the outer peripheral surface of the tube with illumination light;
A camera that detects the reflected light of the illumination light in the detection region along the axial direction of the tubular body;
A plurality of light-transmitting portions and light-shielding portions are alternately formed, and the illumination light is intermittently blocked in the axial direction of the tube, so that the reflected light of the illumination light is detected by the camera if there is no surface defect. A slit body that alternately and repeatedly forms a bright area and a dark area in which reflected light is not detected;
While rotating the tube body around the axis, the slit body is moved in the axial direction of the tube body, and while the tube body is rotated a plurality of times, the outer peripheral surface of the tube body is continuously photographed by the camera. Control means for performing defect detection under a plurality of optical conditions, including optical conditions that are the bright region, the dark region, and a boundary region between the bright region and the dark region, for each part of the outer peripheral surface;
Based on the combination pattern of the presence or absence of defect detection under each optical condition, determination means for determining the type of detected surface defects,
A surface inspection apparatus for a tubular body, comprising:

[17]表面精度が求められる管体を成形する成形手段と、
前記管体を検査対象物とする前項16に記載の表面検査装置と、
前記表面検査装置により判定された表面欠陥の種類が所定の基準を満たすか否かにより管体を分別し、前記所定の基準を満たす場合に当該管体を完成品とする判別手段と、
を備えたことを特徴とする管体の製造システム。
[17] Molding means for molding a tubular body that requires surface accuracy;
The surface inspection apparatus according to 16 above, wherein the tubular body is an inspection object;
Classifying the tube according to whether or not the type of surface defect determined by the surface inspection apparatus satisfies a predetermined criterion, and a discriminating means that makes the tube a finished product when the predetermined criterion is satisfied;
A tubular body manufacturing system comprising:

上記発明[1]によると、複数種類の光学条件下で表面欠陥の検出を行い、各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定するため、検査対象領域内に存在する各種の欠陥をいずれかの光学条件下において発見することができるとともに、発見された各欠陥が検出される光学条件と検出されない光学条件の組合せパターンにより、表面欠陥の種類を判別することができる。   According to the above invention [1], in order to detect surface defects under a plurality of types of optical conditions, and to determine the type of detected surface defects based on the combination pattern of the presence or absence of defect detection under each optical condition, Various defects existing in the inspection target area can be found under any optical condition, and the types of surface defects are determined by the combination of the optical conditions under which each detected defect is detected and the optical conditions that are not detected. Can be determined.

上記発明[2]によると、明領域および暗領域の形成位置を移動させるため、検査対象領域の全域について順次明領域および暗領域の光学条件下で表面欠陥の検出を行うことができる。   According to the invention [2], since the formation positions of the bright region and the dark region are moved, it is possible to sequentially detect surface defects under the optical conditions of the bright region and the dark region over the entire region to be inspected.

上記発明[3]によると、明領域と暗領域を同時に形成するため、検査対象領域内の各部で明領域における欠陥検出と暗領域における欠陥検出を同時に行うことができる。   According to the invention [3], since the bright region and the dark region are formed at the same time, the defect detection in the bright region and the defect detection in the dark region can be simultaneously performed at each part in the inspection target region.

上記発明[4]によると、明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含むため、各種の欠陥をより確実に発見することができるとともに、発見された欠陥の種類をより正確に判別することができる。   According to the above invention [4], since the optical condition that is the boundary region between the bright region and the dark region is included, various types of defects can be detected more reliably, and the types of the detected defects can be more accurately determined. be able to.

上記発明[5]によると、検査対象領域に照射される照明光を遮光体によって遮ることにより暗領域を形成するため、容易に暗領域を形成することができる。   According to the invention [5], since the dark region is formed by blocking the illumination light irradiated to the inspection target region by the light shielding body, the dark region can be easily formed.

上記発明[6]によると、複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成されたスリット体によって、検査対象領域に照射される照明光を断続的に遮るため、検査対象領域上に複数の前記明領域および暗領域を容易に形成することができる。   According to the above invention [6], since the slit light formed so that the plurality of light transmitting portions and the light shielding portions are alternately repeated, the illumination light irradiated to the inspection target region is intermittently blocked. A plurality of bright regions and dark regions can be easily formed.

上記発明[7]によると、複数の光学条件のうち少なくとも1条件については複数回の表面欠陥の検出が行われるため、検出漏れを軽減してより正確に欠陥の種類を判別することができる。   According to the above invention [7], the surface defect is detected a plurality of times for at least one of the plurality of optical conditions, so that it is possible to reduce the detection omission and more accurately determine the type of the defect.

上記発明[8]によると、管体を軸回りに回転させながら、明領域及び暗領域の形成位置を管体の軸方向に移動させ、管体が複数回転する間、カメラにより管体の外周面を連続して撮影するため、管体の外周面の各部に対して複数の光学条件を連続的に形成することができるとともに、明領域、暗領域および境界領域となる光学条件を含む複数の光学条件下での欠陥検出を行い、各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定するため、外周面に存在する各種の欠陥をいずれかの光学条件下においてより確実に発見し、発見された各欠陥が検出される光学条件と検出されない光学条件の組合せパターンにより、表面欠陥の種類をより正確に判別することができる。   According to the invention [8], while the tube is rotated about the axis, the formation position of the bright region and the dark region is moved in the axial direction of the tube, and the outer periphery of the tube is rotated by the camera while the tube rotates a plurality of times. Since the surface is continuously photographed, a plurality of optical conditions can be continuously formed for each part of the outer peripheral surface of the tubular body, and a plurality of optical conditions including a light region, a dark region, and a boundary region are included. In order to detect defects under optical conditions and determine the type of detected surface defects based on the combination pattern of presence / absence of defect detection under each optical condition, any of the various defects present on the outer peripheral surface is selected. It is possible to more accurately determine the type of surface defect based on the combination pattern of the optical condition in which each detected defect is detected and the optical condition in which each detected defect is detected more reliably under optical conditions.

上記発明[9]によると、複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成されたスリット体によって、管体に照射される照明光を断続的に遮るため、複数の明領域と暗領域と容易に形成することができる。   According to the above invention [9], the slit body formed so that the plurality of light transmitting portions and the light shielding portions are alternately repeated intermittently blocks the illumination light applied to the tube body. It can be easily formed with a dark region.

上記発明[10]によると、明領域および暗領域とともに、カメラによる検出領域を前記管体の軸方向に移動させるため、カメラの視野内における各光学条件の形成位置が変化せず、より正確に表面欠陥を検出してその種類を判別することができる。   According to the invention [10], since the detection area by the camera is moved in the axial direction of the tubular body together with the bright area and the dark area, the formation position of each optical condition in the field of view of the camera does not change and more accurately. The type of the surface defect can be detected and determined.

上記発明[11]によると、感光ドラム用基体に求められる表面状態を正確に評価して、好適な感光ドラム用基体の生産に寄与することができる。   According to the invention [11], it is possible to accurately evaluate the surface condition required for the photosensitive drum substrate and contribute to the production of a suitable photosensitive drum substrate.

上記発明[12]によると、成形した物品を上記いずれかの表面検査方法で判定された欠陥の種類により判別するため、不良品の流出を防止しながら、不良として扱う必要のない欠陥を有する物品を不良品として収率を低下させてしまう事態を防止することができる。   According to the above invention [12], an article having a defect that does not need to be treated as a defect while preventing the outflow of a defective product, because the molded article is discriminated by the type of the defect determined by any one of the above surface inspection methods. It is possible to prevent a situation in which the yield is reduced as a defective product.

上記発明[13]によると、表面欠陥について所定の基準を満たす感光ドラム用基体を確保することができる。   According to the invention [13], it is possible to secure a photosensitive drum substrate that satisfies a predetermined standard for surface defects.

上記発明[14]によると、複数種類の光学条件下で表面欠陥の検出を行い、各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定するため、検査対象領域内に存在する各種の欠陥をいずれかの光学条件下において発見することができるとともに、発見された各欠陥が検出される光学条件と検出されない光学条件の組合せパターンにより、表面欠陥の種類を判別することができる。   According to the above invention [14], in order to detect surface defects under a plurality of types of optical conditions, and to determine the type of detected surface defects based on the combination pattern of the presence or absence of defect detection under each optical condition, Various defects existing in the inspection target area can be found under any optical condition, and the types of surface defects are determined by the combination of the optical conditions under which each detected defect is detected and the optical conditions that are not detected. Can be determined.

上記発明[15]によると、成形した物品を上記いずれかの表面検査方法で判定された欠陥の種類により判別するため、不良品の流出を防止しながら、不良として扱う必要のない欠陥を有する物品を不良品として収率を低下させてしまう事態を防止することができる。   According to the above invention [15], an article having a defect that does not need to be treated as a defect while preventing the outflow of a defective product because the molded article is discriminated by the type of defect determined by any one of the above surface inspection methods. It is possible to prevent a situation in which the yield is reduced as a defective product.

上記発明[16]によると、管体を軸回りに回転させながら、明領域及び暗領域の形成位置を管体の軸方向に移動させ、管体が複数回転する間、カメラにより管体の外周面を連続して撮影するため、管体の外周面の各部に対して複数の光学条件を連続的に形成することができるとともに、明領域、暗領域および境界領域となる光学条件を含む複数の光学条件下での欠陥検出を行い、各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定するため、外周面に存在する各種の欠陥をいずれかの光学条件下においてより確実に発見し、発見された各欠陥が検出される光学条件と検出されない光学条件の組合せパターンにより、表面欠陥の種類をより正確に判別することができる。   According to the invention [16], while the tube is rotated about the axis, the formation position of the bright region and the dark region is moved in the axial direction of the tube, and the outer periphery of the tube is rotated by the camera while the tube rotates a plurality of times. Since the surface is continuously photographed, a plurality of optical conditions can be continuously formed for each part of the outer peripheral surface of the tubular body, and a plurality of optical conditions including a light region, a dark region, and a boundary region are included. In order to detect defects under optical conditions and determine the type of detected surface defects based on the combination pattern of presence / absence of defect detection under each optical condition, any of the various defects present on the outer peripheral surface is selected. It is possible to more accurately determine the type of surface defect based on the combination pattern of the optical condition in which each detected defect is detected and the optical condition in which each detected defect is detected more reliably under optical conditions.

上記発明[17]によると、成形した管体を上記いずれかの表面検査方法で判定された欠陥の種類により判別するため、不良品の流出を防止しながら、不良として扱う必要のない欠陥を有する管体を不良品として収率を低下させてしまう事態を防止することができる。   According to the invention [17], since the formed tubular body is discriminated by the type of the defect determined by any one of the surface inspection methods, it has a defect that does not need to be handled as a defect while preventing the outflow of a defective product. It is possible to prevent a situation in which the yield of the tubular body is reduced as a defective product.

[第1実施形態]
本発明の第1実施形態について、模式的な説明図を参照しながら説明する。
[First Embodiment]
A first embodiment of the present invention will be described with reference to schematic explanatory diagrams.

図1は、この第1実施形態にかかる表面検査装置(円筒体検査装置)の検査対象物とされる円筒体(管体)の斜視図である。   FIG. 1 is a perspective view of a cylindrical body (tubular body) as an inspection object of the surface inspection apparatus (cylindrical body inspection apparatus) according to the first embodiment.

<検査対象物>
この図1に示すように、円筒体(管体)90は、たとえば電子写真システムを構成する複写機、プリンタ、FAX装置、これらの複合機等において、感光ドラム、転写ローラ、現像ローラ、その他各部に利用されるものであり、その外周面91が表面検査の検査対象領域とされる。
<Inspection object>
As shown in FIG. 1, a cylindrical body (tubing body) 90 is a photosensitive drum, a transfer roller, a developing roller, and other parts in a copying machine, a printer, a FAX machine, and a multi-function machine constituting an electrophotographic system. The outer peripheral surface 91 is used as an inspection target region for surface inspection.

このような円筒体90としては、具体的には、電子写真システムを採用した複写機やプリンタ等における感光ドラム用の素管や基体を挙げることができる。なお、感光ドラム用の基体とは、切削加工や引抜き加工等が行われた後の円筒体であって、感光層の形成前の円筒体をいう。また、感光ドラム用基体に感光層を形成した後の円筒体も、本発明の検査を行う対象たる円筒体とできる。感光ドラム用基体外周面の検査対象領域91は、金属光沢を有し、入射した光のほとんどを正反射する鏡面となっている。   Specific examples of such a cylindrical body 90 include an element tube and a substrate for a photosensitive drum in a copying machine, a printer, or the like that employs an electrophotographic system. The substrate for the photosensitive drum is a cylindrical body that has been subjected to cutting, drawing, or the like, and is a cylindrical body before the formation of the photosensitive layer. Further, the cylindrical body after the photosensitive layer is formed on the photosensitive drum substrate can also be a cylindrical body to be subjected to the inspection of the present invention. The inspection target area 91 on the outer peripheral surface of the photosensitive drum substrate has a metallic luster and is a mirror surface that regularly reflects most of the incident light.

この表面検査装置の検査対象物とされる感光ドラム用基体は、たとえば直径が10〜60mm、長さ200〜500mm程度のものである。   The substrate for a photosensitive drum to be inspected by the surface inspection apparatus has a diameter of about 10 to 60 mm and a length of about 200 to 500 mm, for example.

このような円筒体90の製造方法としては、後述するように、押出成形および引き抜き成形の組み合わせを挙げることができる。ただし、これに限定されるものではなく、押出成形、引き抜き成形、鋳造、鍛造、射出成形、切削加工またはこれらの組み合わせなど、円筒体を製管できる方法であればよい。   As a manufacturing method of such a cylindrical body 90, a combination of extrusion molding and pultrusion molding can be mentioned as described later. However, the method is not limited to this, and any method can be used as long as the cylindrical body can be piped, such as extrusion molding, pultrusion molding, casting, forging, injection molding, cutting, or a combination thereof.

また、対象とする円筒体90の材質は特に限定されるものでなく、各種の金属材料の他、合成樹脂等を適用することができる。たとえば、アルミニウムおよびアルミニウム合金(1000〜7000系)、銅および銅合金、鋼材、マグネシウムおよびマグネシウム合金を挙げることができる。   The material of the target cylindrical body 90 is not particularly limited, and various types of metal materials, synthetic resins, and the like can be applied. For example, aluminum and aluminum alloys (1000 to 7000 series), copper and copper alloys, steel materials, magnesium and magnesium alloys can be mentioned.

特に好ましい材質の例として、アルミニウム合金の3003合金、6061合金、6051合金および7075合金を挙げることができる。たとえば3003合金は好ましくは感光ドラム用基体として用いることができ、6061合金は好ましくは自動車部品であるプロペラシャフトとして用いることができ、6051合金は好ましくは一般機械部品として用いることができ、7075合金は好ましくはバット用素管として用いることができる。なお、本明細書中の「アルミニウム」はアルミニウム合金を含むものである。   Examples of particularly preferable materials include aluminum alloys 3003, 6061, 6051, and 7075. For example, 3003 alloy can be preferably used as a substrate for a photosensitive drum, 6061 alloy can be preferably used as a propeller shaft which is an automobile part, 6051 alloy can be preferably used as a general mechanical part, and 7075 alloy is Preferably it can be used as a bat tube. In addition, “aluminum” in this specification includes an aluminum alloy.

<全体構成>
図2は、本発明の第1実施形態にかかる表面検査装置の正面図である。図3は、同装置の平面図である。図4は、同装置の側面図である。
<Overall configuration>
FIG. 2 is a front view of the surface inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3 is a plan view of the apparatus. FIG. 4 is a side view of the apparatus.

この表面検査装置1は、図2に示すように、照明(光源)10、遮光体20、カメラ30、検査位置の円筒体(検査対象物)90を支持するチャック部70、各部を統括制御する管理コンピュータ80等を備えた検査装置本体2と、検査装置本体2に円筒体90を供給する円筒体供給コンベア51と、検査装置本体2から円筒体90を順次搬出する合格品搬出コンベア52および不合格品搬出コンベア53とを備えている。   As shown in FIG. 2, the surface inspection apparatus 1 performs overall control of an illumination (light source) 10, a light shielding body 20, a camera 30, a chuck unit 70 that supports a cylindrical body (inspection object) 90 at an inspection position, and each unit. The inspection apparatus main body 2 including the management computer 80 and the like, the cylindrical body supply conveyor 51 that supplies the cylindrical body 90 to the inspection apparatus main body 2, the acceptable product unloading conveyor 52 that sequentially unloads the cylindrical body 90 from the inspection apparatus main body 2, and the And an acceptable product carry-out conveyor 53.

管理コンピュータ80は、CPU、RAMおよびROM等のメモリ、ハードディスク記憶装置、入出力手段、各部とのインタフェース等を備えたパーソナルコンピュータ等から構成され、機能的には、カメラ30によって撮像された画像を処理する画像処理手段、各部の駆動を制御する制御手段、さらに後述するように、表面欠陥の種類を判定する判定手段、および検査した管体(円筒体)を合否判別する判別手段とを備えている。   The management computer 80 includes a CPU, a memory such as a RAM and a ROM, a hard disk storage device, an input / output unit, a personal computer provided with an interface with each unit, and the like. Functionally, an image captured by the camera 30 is displayed. Image processing means for processing, control means for controlling driving of each part, and further, as will be described later, determination means for determining the type of surface defect, and determination means for determining pass / fail of the inspected tube (cylindrical body). Yes.

円筒体供給コンベア51は、上縁部がV型に切り欠かれた円筒体支持台59…で各円筒体90…の両端近傍部分を支持し、各円筒体支持台59…を図示しない駆動チェーンで移動させることにより、検査前の円筒体90を検査装置本体2に移送する。   The cylindrical body supply conveyor 51 supports the vicinity of both ends of each cylindrical body 90 with a cylindrical body support base 59 having an upper edge cut into a V shape, and each cylindrical body support base 59 is not illustrated with a drive chain (not shown). The cylindrical body 90 before the inspection is transferred to the inspection apparatus main body 2 by moving the inspection body.

検査装置本体2の円筒体供給側(図2,図3の左側)には、円筒体90を両側端部から挟んで持ち上げて移送するコンベア間移載装置54が設けられており、円筒体供給コンベア51によって搬送されてきた円筒体90を、コンベア間移載装置54によって検査装置本体2内の搬送コンベア61に移載するようになっている。   On the cylindrical body supply side (the left side in FIGS. 2 and 3) of the inspection apparatus main body 2, an inter-conveyor transfer device 54 that lifts and transfers the cylindrical body 90 from both side ends is provided. The cylindrical body 90 transported by the conveyor 51 is transferred to the transport conveyor 61 in the inspection apparatus main body 2 by the inter-conveyor transfer device 54.

合格品搬出コンベア52および不合格品搬出コンベア53は、ともに、上縁部がV型に切り欠かれた円筒体支持台59…で各円筒体90…の両端近傍部分を支持し、各円筒体支持台59…を図示しない駆動チェーンで移動させることにより、検査後の円筒体90を検査装置本体2から搬出する。また、合格品搬出コンベア52と不合格品搬出コンベア53をまたぐ位置には、不合格品払出ロボット56が設けられており、検査装置本体2における検査で不合格品と判定された円筒体90を、合格品搬出コンベア52上から不合格品搬出コンベア53上に送り出すようになっている。   Both the accepted product carry-out conveyor 52 and the rejected product carry-out conveyor 53 support the vicinity of both ends of each cylindrical body 90 with cylindrical support bases 59 having upper edges cut into V-shapes. The cylindrical body 90 after inspection is carried out of the inspection apparatus main body 2 by moving the support bases 59 with a drive chain (not shown). Further, an unacceptable item delivery robot 56 is provided at a position across the acceptable item unloading conveyor 52 and the unacceptable item unloading conveyor 53. The undelivered product delivery conveyor 53 is fed out from the accepted product delivery conveyor 52.

検査装置本体2の円筒体搬出側(図2,図3の右側)には、円筒体90を両側端部から挟んで持ち上げて移送するコンベア間移載装置55が設けられており、検査装置本体2内の搬送コンベア62上の円筒体90を、コンベア間移載装置55によって合格品搬出コンベア52に移載するようになっている。   On the cylinder carrying-out side (right side in FIGS. 2 and 3) of the inspection apparatus body 2, an inter-conveyor transfer device 55 that lifts and transfers the cylindrical body 90 from both side ends is provided. The cylindrical body 90 on the transport conveyor 62 in 2 is transferred to the accepted product delivery conveyor 52 by the inter-conveyor transfer device 55.

検査装置本体2内の搬送コンベア61,62は、上縁部がV型に切り欠かれた円筒体支持台63…で各円筒体90…の両端近傍部分を支持し、各円筒体支持台63…を駆動チェーンで移動させることにより、検査直前および直後の円筒体90を移送する。   The conveyors 61 and 62 in the inspection apparatus main body 2 support the vicinity of both ends of each cylindrical body 90 with cylindrical support bases 63 having upper edges cut into V-shapes, and each cylindrical support base 63. Are moved by the drive chain, thereby transferring the cylindrical body 90 immediately before and immediately after the inspection.

<回転移送装置>
検査前後の搬送コンベア61,62の間には、円筒体90を検査位置Bに移送する回転移送装置64が配置されている。この回転移送装置64は、円筒体90を支持するチャック部70を複数(ここでは4個)備えている。
<Rotary transfer device>
A rotary transfer device 64 that transfers the cylindrical body 90 to the inspection position B is disposed between the conveyors 61 and 62 before and after the inspection. The rotary transfer device 64 includes a plurality of (here, four) chuck portions 70 that support the cylindrical body 90.

各チャック部70…は、回転駆動モータ65の回転軸66に接続された回転フレーム67に取り付けられており、搬送コンベア61から円筒体90を取り出すの取出位置Aと、光源10、遮光体20およびカメラ30等の検査光学系による検査を実行する検査位置Bと、搬送コンベア62に円筒体90を送り出す送出位置Cとに同時に位置するチャック部70…が存在するように配置されている。   Each chuck portion 70 is attached to a rotary frame 67 connected to a rotary shaft 66 of a rotation drive motor 65, and an extraction position A for taking out the cylindrical body 90 from the conveyor 61, the light source 10, the light shielding body 20, and the like. The chuck portions 70... Are located at the same time at an inspection position B where inspection by an inspection optical system such as the camera 30 is performed and a delivery position C where the cylindrical body 90 is sent to the transport conveyor 62.

そして、取出位置Aに位置するチャック部70は搬送コンベア61から検査前の円筒体90をチャックして取り出し、検査位置Bに位置するチャック部70は円筒体90を回転支持して表面検査を実行し、送出位置Cに位置するチャック部70は検査後の円筒体90のチャックを解除して搬送コンベア62に送り出す作業を、同時並行して行うことができるようになっている。また、取出位置Aから検査位置Bに移動するチャック部70は、検査位置Bに搬送するまでに円筒体90の回転が安定するように、予め円筒体90の回転駆動を開始するようになっており、これにより検査位置Cに到着すれば即座に表面検査を実行して、サイクルタイムの短縮を図ることができるようになっている。   The chuck unit 70 located at the take-out position A chucks and takes out the cylindrical body 90 before inspection from the transport conveyor 61, and the chuck unit 70 located at the inspection position B rotates and supports the cylindrical body 90 to perform surface inspection. The chuck portion 70 located at the delivery position C can simultaneously perform the work of releasing the chuck of the cylindrical body 90 after inspection and sending it to the transport conveyor 62. Further, the chuck portion 70 that moves from the take-out position A to the inspection position B starts to rotate the cylindrical body 90 in advance so that the rotation of the cylindrical body 90 is stabilized before the chuck portion 70 is conveyed to the inspection position B. As a result, when the inspection position C is reached, the surface inspection is immediately performed, and the cycle time can be shortened.

<チャック部>
図5は、第1実施形態におけるチャック部70の正面図である。図6は、同チャック部70の側面図である。
<Chuck part>
FIG. 5 is a front view of the chuck portion 70 according to the first embodiment. FIG. 6 is a side view of the chuck portion 70.

これらの図に示すように、各チャック部70は、1つの基準ローラ71と、2つの支持ローラ72,72とを備えており、円筒体90の両側に配置された一対のチャック部70,70が協働して、1本の円筒体90をチャックするようになっている。   As shown in these drawings, each chuck portion 70 includes one reference roller 71 and two support rollers 72 and 72, and a pair of chuck portions 70 and 70 disposed on both sides of the cylindrical body 90. Cooperate to chuck one cylindrical body 90.

各チャック部70における基準ローラ71は、検査位置Bにおける姿勢では、円筒体90の内周面の上側に接触してその高さ位置を規定する。基準ローラ71は、チャック部本体76に対して回転可能に取り付けられ、検査実行時に円筒体90とともに回転する。また、協働して1本の円筒体90をチャックする一対のチャック部70の一方には、基準ローラ回転駆動モータ73が設けられ、検査実行時に基準ローラ71を回転駆動することにより、円筒体90を回転させることができるようになっている。   In the posture at the inspection position B, the reference roller 71 in each chuck portion 70 is in contact with the upper side of the inner peripheral surface of the cylindrical body 90 and defines its height position. The reference roller 71 is rotatably attached to the chuck portion main body 76, and rotates together with the cylindrical body 90 when performing inspection. In addition, a reference roller rotation drive motor 73 is provided on one of the pair of chuck portions 70 that cooperate to chuck one cylindrical body 90, and the reference roller 71 is driven to rotate at the time of inspection. 90 can be rotated.

支持ローラ72,72は、検査位置Bにおける姿勢では、円筒体90の内周面の下側左右にそれぞれ接触し、エア駆動圧によって円筒体90を下方に付勢することにより、円筒体90の内周面の上側を確実に基準ローラ71に接触させて、その高さ位置を安定させる。また、支持ローラ72、72は、チャック部本体76に対して回転可能に取り付けられ、検査実行時には円筒体90とともに回転する。また、支持ローラ72,72は、図5,図6に破線と実線とで示すように、検査位置Bにおける姿勢では、上下方向に移動することにより基準ローラ71との距離を円筒体90の内径よりも小さくして、円筒体90をチャックする前後には基準ローラ71とともに円筒体90の内側に挿入することができるようになっている。これらの動作のため、各チャック部70…には、支持ローラ72,72をエア駆動圧によって上下に移動動作させる支持ローラ駆動部74が設けられている。   In the posture at the inspection position B, the support rollers 72 and 72 are respectively in contact with the lower left and right sides of the inner peripheral surface of the cylindrical body 90 and urge the cylindrical body 90 downward by air driving pressure. The upper side of the inner peripheral surface is reliably brought into contact with the reference roller 71 to stabilize the height position. Further, the support rollers 72 and 72 are rotatably attached to the chuck portion main body 76, and rotate together with the cylindrical body 90 when the inspection is executed. Further, as shown by the broken line and the solid line in FIGS. 5 and 6, the support rollers 72, 72 are moved in the vertical direction in the posture at the inspection position B, so that the distance from the reference roller 71 is set to the inner diameter of the cylindrical body 90. The cylindrical roller 90 can be inserted into the cylindrical body 90 together with the reference roller 71 before and after chucking the cylindrical body 90. For these operations, each chuck unit 70 is provided with a support roller driving unit 74 that moves the support rollers 72 and 72 up and down by air driving pressure.

基準ローラ71および支持ローラ72,72が取り付けられたチャック部本体76は、回転移送装置64の回転フレーム67に取り付けられたチャック部ベース77に対し、スライド駆動部75によって円筒体90の軸方向にスライド動作可能となっており、円筒体90を両外側から挟み込んでチャックすることができるようになっている。   The chuck body 76 to which the reference roller 71 and the support rollers 72 and 72 are attached is moved in the axial direction of the cylindrical body 90 by the slide drive portion 75 with respect to the chuck portion base 77 attached to the rotary frame 67 of the rotary transfer device 64. The sliding operation is possible, and the cylindrical body 90 can be sandwiched from both outer sides and chucked.

回転移送装置64およびチャック部70は、円筒体90を所定の検査位置Bで回転可能に支持する支持部を構成している。   The rotary transfer device 64 and the chuck portion 70 constitute a support portion that supports the cylindrical body 90 so as to be rotatable at a predetermined inspection position B.

<照明(光源)>
照明(光源)10は、検査位置Bに搬送されてきた円筒体90の外表面に対して検査のための照明光を照射する。この照明10は、高輝度が得られる蛍光灯等のライン状光源から構成され、円筒体90の長手方向に沿った広がりを有している。この照明10は、図2に示すように、光源支持フレーム13によって、検査位置Bにある円筒体90のほぼ真上に配置され、照射する光を効率的に円筒体90側に向けるため、光源フード12によって下方以外が覆われている。
<Lighting (light source)>
The illumination (light source) 10 irradiates the outer surface of the cylindrical body 90 conveyed to the inspection position B with illumination light for inspection. The illumination 10 is composed of a linear light source such as a fluorescent lamp capable of obtaining high brightness, and has an extension along the longitudinal direction of the cylindrical body 90. As shown in FIG. 2, the illumination 10 is disposed almost directly above the cylindrical body 90 at the inspection position B by the light source support frame 13, and effectively directs the light to be irradiated toward the cylindrical body 90. The hood 12 covers other than the lower part.

この照明10は、所定の広がりを有し、拡散光を照射する光源を備えている。   The illumination 10 includes a light source that has a predetermined spread and that emits diffused light.

拡散光とは、光源から様々な方向に拡散して照射される光をいう。なお、拡散光でない光としては、平行光が挙げられる。平行光とは、光源から発せられた光を、例えばレンズまたはファイバーを用いて集光させ、方向性を持った光の束として照射されるようにしたものである。   Diffused light refers to light that is diffused and irradiated in various directions from a light source. In addition, parallel light is mentioned as light which is not diffused light. Parallel light refers to light emitted from a light source that is collected using, for example, a lens or fiber, and is irradiated as a bundle of light with directionality.

照明10の光源が所定の広がりを有するとは、光源が実質的に点光源でなく、拡散光を発する部位が一定の面積を有することをいう。   The phrase “the light source of the illumination 10 has a predetermined spread” means that the light source is not a point light source but a portion that emits diffused light has a certain area.

このような所定の広がりを有し、拡散光を照射する照明10を用いれば、円筒体90の表面の各部位には、この照明10の各部から種々の方向の光が入射することとなる。   If the illumination 10 that has such a predetermined spread and irradiates diffused light is used, light in various directions enters each part of the surface of the cylindrical body 90 from each part of the illumination 10.

<遮光体>
遮光体20は、光源10から照射される光の一部を遮光して、円筒体90の外周面91に明暗縞を形成することで種々の異なる光学条件を構成する。この遮光体20は照明10とともに照明系として機能している。
<Shading body>
The light shielding body 20 shields part of the light emitted from the light source 10 and forms bright and dark stripes on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90 to constitute various different optical conditions. The light blocking body 20 functions as an illumination system together with the illumination 10.

図7は、第1実施形態における遮光体20の斜視図である。図7に示すように、第1実施形態の遮光体20は、複数のスリット孔状の透光部23…と、遮光部24…とが交互に繰り返すように形成されたスリット体から構成されている。   FIG. 7 is a perspective view of the light blocking body 20 in the first embodiment. As shown in FIG. 7, the light shielding body 20 of the first embodiment is configured by a slit body formed such that a plurality of slit hole-like light transmitting portions 23... And light shielding portions 24. Yes.

透光部23および遮光部24の大きさは、適宜設定することができるが、たとえば、透光部23の幅(開口幅)aは1〜6mm程度、遮光部24の幅は3〜6mm程度が好ましい。   The sizes of the light transmitting part 23 and the light shielding part 24 can be appropriately set. For example, the width (opening width) a of the light transmitting part 23 is about 1 to 6 mm, and the width of the light shielding part 24 is about 3 to 6 mm. Is preferred.

この遮光体20は、図2〜図4に示すように、遮光体支持台25に取り付けられ、照明10と検査位置Bの円筒体90との間に常設配置されている。   As shown in FIGS. 2 to 4, the light shield 20 is attached to the light shield support base 25 and is permanently disposed between the illumination 10 and the cylindrical body 90 at the inspection position B.

このような透光部23…および遮光部24…が形成された遮光体(スリット体)20を介し、所定の広がりを有し、拡散光を照射する照明10によって円筒体90を照明すると、円筒体90の表面では、部位によって遮光部24…により遮光される光量が異なることとなるため、到達光量が連続的に変化した明暗縞が形成されることになる。   When the cylindrical body 90 is illuminated by the illumination 10 that has a predetermined spread and irradiates diffused light through the light-shielding body (slit body) 20 in which the light-transmitting portions 23 and the light-shielding portions 24 are formed, the cylinder 90 is illuminated. On the surface of the body 90, the amount of light shielded by the light shielding portions 24 differs depending on the part, so that light and dark stripes in which the amount of light reached continuously changes are formed.

<カメラ>
カメラ30は、多数の光量検出要素が一次元的に配列されてなるラインセンサ32と、円筒体90の軸方向に延びる所定の検出領域31をラインセンサ32上に結像するレンズ等を備えたラインセンサカメラとして構成されており、検出領域31の各部から入射する光量を検出する。
<Camera>
The camera 30 includes a line sensor 32 in which a large number of light quantity detection elements are arranged one-dimensionally, a lens that forms an image of a predetermined detection region 31 extending in the axial direction of the cylindrical body 90 on the line sensor 32, and the like. It is configured as a line sensor camera, and detects the amount of light incident from each part of the detection region 31.

一般にラインセンサは、光を受光する感光部が一列だけに配置されたセンサで、エリア(2次元)センサと比べて、1ラインの画素数を多くできる点が大きな特長となる。エリアセンサでは、水平方向の画素数が高品位TV用でも例えば約1000画素程度であるが、ラインセンサでは、1000〜7500画素の画素数が容易に実現でき、近年では、画素数が10000画素を越えるセンサも登場しており、高い解像度を容易かつ安価に得ることができる。また、ラインセンサを用いることにより、エリアセンサに比べて画像を逐次処理することが可能であり、より高速の検査を実現できる利点もある。   In general, a line sensor is a sensor in which photosensitive portions that receive light are arranged in a single line, and has a great feature that the number of pixels in one line can be increased as compared with an area (two-dimensional) sensor. In the area sensor, the number of pixels in the horizontal direction is, for example, about 1000 pixels even for high-definition TV, but in the line sensor, the number of pixels of 1000 to 7500 pixels can be easily realized. Sensors that exceed this level have also appeared, and high resolution can be obtained easily and inexpensively. Further, by using a line sensor, it is possible to sequentially process images as compared to an area sensor, and there is an advantage that a higher-speed inspection can be realized.

なお、ラインセンサ32は、一次元的な光量情報を検出できるものであればよく、一列の白黒ラインセンサでも、たとえばRGB等の各色用のセンサが合計3列に並べられたカラーラインセンサ、あるいは各色用のセンサを交互に配列してなるカラーラインセンサでもよい。さらに、ラインセンサの主たる配列方向とは垂直方向に複数列のセンサを配列したTDIラインセンサでもよい。あるいは、2次元的に配列されたセンサの特定の1または複数列のみを選択的に用いることで実質的にラインセンサとして利用されるパーシャルスキャンカメラ等であってもよい。   The line sensor 32 only needs to be capable of detecting one-dimensional light amount information. Even if it is a single line black and white line sensor, for example, a color line sensor in which sensors for each color such as RGB are arranged in a total of three lines, or A color line sensor in which sensors for respective colors are alternately arranged may be used. Furthermore, a TDI line sensor in which a plurality of rows of sensors are arranged in a direction perpendicular to the main arrangement direction of the line sensors may be used. Alternatively, it may be a partial scan camera or the like that is substantially used as a line sensor by selectively using only one or a plurality of specific rows of sensors that are two-dimensionally arranged.

このカメラ30は、その位置および角度を微調整可能なカメラ支持台34に取り付けられ、検査位置Bの円筒体90の外周面91のうち、軸方向に延びる所定の領域を検出領域31として狙っている。   This camera 30 is attached to a camera support base 34 whose position and angle can be finely adjusted, and aims at a predetermined area extending in the axial direction as the detection area 31 in the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90 at the inspection position B. Yes.

<スライドテーブル>
遮光体20が取り付けられる遮光体支持台25およびカメラ30が取り付けられるカメラ支持台34は、ともにスライドテーブル40上に取り付けられ、検査位置Bの円筒体90の軸方向についてスライド移動動作可能となっている。すなわち、スライドテーブル40は、本体フレームに固定されたスライドテーブル支持台42上をスライドコロ41によってスライド移動動作可能に支持され、スライド駆動モータ43によってスライド駆動されるようになっている。
<Slide table>
The light-shielding body support base 25 to which the light-shielding body 20 is attached and the camera support base 34 to which the camera 30 is attached are both mounted on the slide table 40 and can be slid in the axial direction of the cylindrical body 90 at the inspection position B. Yes. That is, the slide table 40 is supported by a slide roller 41 so as to be slidable on a slide table support 42 fixed to the main body frame, and is slid by a slide drive motor 43.

このスライド駆動動作のストロークは、遮光体20の透光部23の幅aおよび遮光部24の幅bの和よりも大きく設定されている。具体的には、たとえば、透光部23の幅aおよび遮光部24の幅bの和の1.1倍以上程度が好ましい。これにより、円筒体90の外周面の検査対象領域91の軸方向位置の全域が、遮光体20の透光部23および遮光部24の直下に位置する場合が実現されるようになっている。   The stroke of this slide driving operation is set to be larger than the sum of the width a of the light transmitting portion 23 of the light shielding body 20 and the width b of the light shielding portion 24. Specifically, for example, about 1.1 times or more of the sum of the width a of the light transmitting portion 23 and the width b of the light shielding portion 24 is preferable. As a result, a case where the entire axial position of the inspection target region 91 on the outer peripheral surface of the cylindrical body 90 is located immediately below the light transmitting portion 23 and the light shielding portion 24 of the light shielding body 20 is realized.

<表面検査の原理>
図8は、第1実施形態にかかる円筒体90の表面検査装置の要部の概略を表した側面図である。図9は、同斜視図である。
<Principle of surface inspection>
FIG. 8 is a side view illustrating an outline of a main part of the surface inspection apparatus for the cylindrical body 90 according to the first embodiment. FIG. 9 is a perspective view of the same.

図8に示すように、カメラ30は、円筒体90の曲率に応じて、遮光体20が存在しなければ常に光源10から円筒体90外周面の検査対象領域91に入射する光の正反射光を受光する位置に配置されている。   As shown in FIG. 8, according to the curvature of the cylindrical body 90, the camera 30 regularly reflects light that is incident on the inspection target area 91 on the outer peripheral surface of the cylindrical body 90 from the light source 10 unless the light shielding body 20 exists. It is arrange | positioned in the position which light-receives.

また、カメラ30による検出領域31は、円筒体90の内周面側が基準ローラ71によって支持されている部分に対向する外周面91側部分となっている。この部分は、円筒体90の各部のうちで、基準ローラ71によって支持されているために最も位置および角度が安定する部分である。したがって、円筒体90の曲がり等の形状精度により、表面検査の結果に影響が及ぶことを低減することができる。   Further, the detection region 31 by the camera 30 is a portion on the outer peripheral surface 91 side facing the portion where the inner peripheral surface side of the cylindrical body 90 is supported by the reference roller 71. This portion is the portion where the position and angle are most stable because each portion of the cylindrical body 90 is supported by the reference roller 71. Therefore, it is possible to reduce the influence on the result of the surface inspection due to the shape accuracy such as the bending of the cylindrical body 90.

また、カメラ30による検出領域31は基準ローラ71に対向する部分となっているため、サイズ(直径)が異なる円筒体90であっても、ほぼ同一の光学条件を構成することができる。とくに、円筒体90の厚みが同一であれば、検出領域31については実質的に同一の光学条件を構成することができる。したがって、種々のサイズの円筒体90の表面検査を行う場合であっても、段取り替えに要する手間および時間を最小限に抑え、効率的に表面検査を実行することができる。   Further, since the detection region 31 by the camera 30 is a portion facing the reference roller 71, even the cylindrical bodies 90 having different sizes (diameters) can constitute substantially the same optical conditions. In particular, if the cylindrical body 90 has the same thickness, the detection region 31 can be configured with substantially the same optical conditions. Therefore, even when the surface inspection of the cylindrical body 90 of various sizes is performed, it is possible to efficiently perform the surface inspection while minimizing the labor and time required for the setup change.

また、円筒体90は、その内周面側から支持されているため、基準ローラ71等が円筒体90の外周面91に影を生じるなどの表面検査への悪影響を低減することができる。   Further, since the cylindrical body 90 is supported from the inner peripheral surface side, it is possible to reduce adverse effects on the surface inspection such as the reference roller 71 and the like causing a shadow on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90.

また、図9に示すように、光源10は、円筒体90の軸方向に広がりを有し、下向きに種々の角度の光を照射するため、円筒体90外周面91の検査対象領域の各部位には遮光体20の透光部23を通過した種々の角度の光が入射するが、遮光体20の遮光部24…により入射する光の角度が制限されている。   Moreover, as shown in FIG. 9, since the light source 10 has an extension in the axial direction of the cylindrical body 90 and emits light of various angles downward, each part of the inspection target region on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90 Although light of various angles that have passed through the light transmitting portion 23 of the light shielding body 20 is incident on the light, the angle of the incident light is limited by the light shielding portions 24 of the light shielding body 20.

図10は、カメラから見た検査対象領域の各部位の光学条件の説明図である。図11は、カメラによって撮影された画像における各種光学条件の説明図である。図10に示すように、カメラ30から見ると、カメラ30の検出領域31には、表面欠陥がなければカメラ30に入射する正反射光が存在する明領域(正反射光領域)28と、正反射光が存在しない暗領域(正反射光制限領域)29とが形成されている。また、検出領域31には、明領域28と暗領域29の境界には、境界領域(際領域)27が含まれている。   FIG. 10 is an explanatory diagram of the optical conditions of each part of the inspection target region viewed from the camera. FIG. 11 is an explanatory diagram of various optical conditions in an image photographed by the camera. As shown in FIG. 10, when viewed from the camera 30, the detection region 31 of the camera 30 includes a bright region (regular reflection light region) 28 in which regular reflection light incident on the camera 30 exists, and a normal region. A dark region (regular reflection light limiting region) 29 in which no reflected light exists is formed. Further, the detection area 31 includes a boundary area (edge area) 27 at the boundary between the bright area 28 and the dark area 29.

明領域28では、表面欠陥がなければカメラ30に正反射光が入射するが、表面欠陥があると反射角度が変化してカメラ30に捉えられなくなる。このため、表面欠陥が明領域28にあるとき、周囲より暗い欠陥(黒欠陥)として検出される場合が多い。このような黒欠陥として検出される表面欠陥は、反射角度を大きく変化させる鋭い欠陥や比較的深い欠陥である場合が多い。   In the bright region 28, specularly reflected light is incident on the camera 30 if there is no surface defect. However, if there is a surface defect, the reflection angle changes and the camera 30 cannot capture it. For this reason, when the surface defect is in the bright region 28, it is often detected as a defect (black defect) darker than the surroundings. The surface defects detected as such black defects are often sharp defects or relatively deep defects that greatly change the reflection angle.

なお、明領域28であっても正常部の検出階調が飽和していなければ、正常部よりさらに明るい欠陥(白欠陥)が検出される場合もある。   Even in the bright region 28, if the detection gradation of the normal part is not saturated, a defect (white defect) brighter than the normal part may be detected.

暗領域29では、表面欠陥がなければカメラ30に正反射光は入射しない。図12は、暗領域29内に表面欠陥が存在しない場合の説明図である。   In the dark region 29, the regular reflection light does not enter the camera 30 if there is no surface defect. FIG. 12 is an explanatory diagram in the case where there is no surface defect in the dark region 29.

同図(a)に示すように、暗領域29内の特定の着目部位29aに着目すると、この着目部位29で反射してカメラ30に正反射光として入射するはずの光12aは遮光部24によって遮光されている。この着目部位29aには光源10から光12b、12cが入射しているが、着目部位29aに表面欠陥がなく正常であれば、これらの光12b、12cの正反射光13b、13cは斜め方向に向かい、カメラに正反射光として入射しない。したがって、カメラから見てこの着目部位29aは暗い。   As shown in FIG. 5A, when focusing on a specific target region 29 a in the dark region 29, the light 12 a that should be reflected by the target region 29 and enter the camera 30 as specularly reflected light is reflected by the light shielding unit 24. Shaded. Lights 12b and 12c from the light source 10 are incident on the target part 29a. If the target part 29a has no surface defects and is normal, the specularly reflected lights 13b and 13c of these lights 12b and 12c are obliquely directed. Opposite, it does not enter the camera as regular reflection light. Therefore, the region of interest 29a is dark when viewed from the camera.

具体的には、図12(b)の受光量分布図に示すように、暗領域29では、カメラ30の受光量が少なくなっており、明領域28は正反射光が入射するので受光量が多く明るくなっている。明領域28と暗領域29の境界領域27は、光の回折等により明領域28から暗領域29へと受光量が連続的に変化している。なお、図12(b)において二点鎖線は、遮光体24がなかった場合の受光量を示している。   Specifically, as shown in the distribution diagram of received light amount in FIG. 12B, the received light amount of the camera 30 is small in the dark region 29, and regular light is incident on the bright region 28. Many are brighter. In the boundary region 27 between the bright region 28 and the dark region 29, the amount of received light continuously changes from the bright region 28 to the dark region 29 due to light diffraction or the like. In FIG. 12B, the alternate long and two short dashes line indicates the amount of light received when the light shield 24 is not provided.

図13は、暗領域29内に表面欠陥が存在する場合の説明図である。   FIG. 13 is an explanatory diagram when a surface defect is present in the dark region 29.

同図(a)に示すように、着目部位29aに表面欠陥があれば、その形状によっては光源10からの光12b、12cの正反射光がカメラに検出される真上に向く場合がある。ここでは着目部位29aに入射角度αで入射した光12bが真上に反射方向を変えている。このとき、カメラから見て当該着目部位29aが明るくなる。この部位29aはもともと暗領域29内にあるため、周辺の正常部からは正反射光が存在しないため、表面欠陥による正反射光は際立った光量として捉えられることになる。   As shown in FIG. 6A, if the target portion 29a has a surface defect, the specularly reflected light of the lights 12b and 12c from the light source 10 may be directed right above the camera, depending on the shape. Here, the reflection direction of the light 12b incident on the region of interest 29a at an incident angle α is changed directly above. At this time, the region of interest 29a becomes brighter as viewed from the camera. Since this part 29a is originally in the dark region 29, there is no specular reflection light from the surrounding normal part, so that the specular reflection light due to the surface defect is regarded as an outstanding light quantity.

具体的には、図13(b)の受光量分布図に示すように、着目部位29aを含む暗領域29では表面欠陥がなければカメラによって検出される受光量が少なく、ここに表面欠陥によってカメラに入射する正反射光が生じれば、受光量分布図ではその周囲に対して際立った光量変化として確実に捉えられることになる。すなわち、明領域28のような周囲の正常部の正反射光に埋もれさせてしまうことなく、高いコントラストをもって表面欠陥を検出することができる。   Specifically, as shown in the distribution diagram of received light amount in FIG. 13B, in the dark region 29 including the region of interest 29a, the amount of received light detected by the camera is small if there is no surface defect. If specularly reflected light incident on the light is generated, it can be reliably captured as a change in the amount of light that stands out with respect to the surroundings in the received light amount distribution diagram. That is, the surface defect can be detected with high contrast without being buried in the regular reflection light of the surrounding normal part such as the bright region 28.

このように、表面欠陥が暗領域29にあるとき、周囲より明るい欠陥(白欠陥)として検出される場合が多い。このような白欠陥として検出される表面欠陥は、反射角度を僅かにしか変化させない緩やかな欠陥や比較的浅い欠陥である場合が多い。   Thus, when the surface defect is in the dark region 29, it is often detected as a defect (white defect) brighter than the surroundings. Such surface defects detected as white defects are often gradual defects or relatively shallow defects that change the reflection angle only slightly.

なお、暗領域29であっても正常部の検出階調が飽和していなければ、正常部よりさらに暗い欠陥(黒欠陥)が検出される場合もある。   Even in the dark region 29, a defect (black defect) that is darker than the normal part may be detected if the detection gradation of the normal part is not saturated.

境界領域27は、明領域28と暗領域29の境界に位置するため、上述した明領域28および暗領域29の両方の性質があり、黒欠陥および白欠陥のいずれも検出される。   Since the boundary region 27 is located at the boundary between the bright region 28 and the dark region 29, it has the properties of both the bright region 28 and the dark region 29 described above, and both black defects and white defects are detected.

以上のように、光学条件を明領域28,暗領域29および境界領域27と大きく分類すると、各種の表面欠陥はそのサイズ、深さ、鋭いあるいはなだらかといった形状等によって、欠陥として検出される光学条件や、検出されない光学条件がある。   As described above, when the optical conditions are roughly classified into the bright region 28, the dark region 29, and the boundary region 27, various surface defects are detected as defects depending on their sizes, depths, sharp shapes, or gentle shapes. There are optical conditions that are not detected.

この実施形態では、いずれかの光学条件下で検出された表面欠陥候補について、他の光学条件下においても欠陥として検出されるのか否か、すなわち各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンを求め、これに基づいて表面欠陥の種類を判定するようになっている。具体的な判定方法については後述する。   In this embodiment, whether or not a surface defect candidate detected under any optical condition is detected as a defect under other optical conditions, that is, a combination pattern of presence or absence of defect detection under each optical condition is determined. The type of the surface defect is determined based on this. A specific determination method will be described later.

なお、光学条件を明領域28、暗領域29および境界領域27と大きく分類したが、明領域28や暗領域29内においても、遮光部24…との距離によって遮光部24…によって制限される照明光の入射角度が異なるため、種々の光学条件が形成される。したがって、欠陥の種類によっては、同じ明領域あるいは暗領域内にあっても、黒欠陥として検出されたりされなかったりすることがある。   Although the optical conditions are broadly classified into the bright region 28, the dark region 29, and the boundary region 27, illumination that is limited by the light shielding unit 24 in the bright region 28 and the dark region 29 depending on the distance from the light shielding unit 24. Since the incident angle of light is different, various optical conditions are formed. Therefore, depending on the type of defect, even if it is in the same bright region or dark region, it may not be detected as a black defect.

この実施形態では、後述するように、明領域28および暗領域29について光学条件が異なる複数回の欠陥検出を行うようになっており、各種類の表面欠陥をより確実に検出することが可能となっている。   In this embodiment, as will be described later, the defect detection is performed a plurality of times with different optical conditions for the bright region 28 and the dark region 29, and each type of surface defect can be detected more reliably. It has become.

具体的な表面検査の実行は、検査位置Bに送り込まれ、基準ローラ70によって軸回りに回転駆動される円筒体90に対して、カメラ30により連続的にその外周面91を撮像することによって行われる。したがって、円筒体90の外周面91の各周方向位置が順次カメラ30の検出領域31となり、その全域を検査することができる。   Specifically, the surface inspection is performed by continuously imaging the outer peripheral surface 91 by the camera 30 with respect to the cylindrical body 90 which is sent to the inspection position B and rotated about the axis by the reference roller 70. Is called. Therefore, each circumferential position of the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90 sequentially becomes the detection region 31 of the camera 30, and the entire region can be inspected.

この円筒体90の回転速度は、検出したい欠陥サイズとカメラ30のラインセンサ取込速度に応じて設定される。すなわち、カメラ30によって撮影される検出領域31の実質的な幅は、円筒体90が回転している場合、ラインセンサ取込速度と円筒体90の回転速度に応じて決定されることになるが、この検出領域31の実質的な幅が、検出したい欠陥サイズより小さくなるように設定されている。   The rotational speed of the cylindrical body 90 is set according to the defect size to be detected and the line sensor capture speed of the camera 30. That is, the substantial width of the detection region 31 photographed by the camera 30 is determined according to the line sensor capture speed and the rotational speed of the cylindrical body 90 when the cylindrical body 90 is rotating. The substantial width of the detection area 31 is set to be smaller than the defect size to be detected.

具体的に検出される表面欠陥は、カメラの解像度30等にもよるが、たとえばミリオーダー、ミクロンオーダー、サブミクロンオーダー等の種々の大きさや深さの欠陥、さらに凹み角度等の形状の異なる多様な欠陥を検出することができる。   The specific surface defects to be detected depend on the resolution 30 of the camera, but various sizes and depths such as millimeter order, micron order, submicron order, etc. Faults can be detected.

また、こうして円筒体90を回転させながら、遮光体20は円筒体90の軸方向について、遮光体20の透光部23の幅aおよび遮光部24の幅bの和よりも大きなストロークでスライド移動動作する。このため、円筒体90の外周面91全域を明領域28および暗領域29、さらにこれらの境界領域27としてカメラ30の検出領域31に含れることとなり、外周面91の全域について微細な表面欠陥をも検出できる表面検査を行うことができる。   Further, while rotating the cylindrical body 90 in this way, the light shielding body 20 slides with a stroke larger than the sum of the width a of the light transmitting portion 23 and the width b of the light shielding portion 24 in the axial direction of the cylindrical body 90. Operate. For this reason, the entire outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90 is included in the detection region 31 of the camera 30 as the bright region 28 and the dark region 29 and the boundary region 27 thereof. Can be detected.

図14は、円筒体を回転させながらカメラによって連続的に撮影して得られる画像の説明図である。この図において、横軸方向の各ラインが各瞬間にカメラ(ラインセンサ)30によって検出された検出領域31の明るさを示しており、管体90を回転させながら順次連続的に撮像を繰り返して得られた画像を縦軸方向に並べている。   FIG. 14 is an explanatory diagram of an image obtained by continuously photographing with a camera while rotating a cylindrical body. In this figure, each line in the horizontal axis direction indicates the brightness of the detection region 31 detected by the camera (line sensor) 30 at each moment, and imaging is repeated successively and sequentially while rotating the tube 90. The obtained images are arranged in the vertical axis direction.

カメラ30は遮光体20とともにスライド移動動作するため、カメラ30から見ると常に同じ位置に同じ光学条件が形成されている。このため、後述するように、表面欠陥の検出を、単純な画像処理によって確実に行うことができる。   Since the camera 30 slides together with the light blocking body 20, the same optical conditions are always formed at the same position when viewed from the camera 30. For this reason, as will be described later, the surface defect can be reliably detected by simple image processing.

また、このカメラ30による欠陥検出は、円筒体を複数回転(ここでは6回転)させる間、連続して行われている。このため、円筒体の外周面91上の各部は、円筒体90が複数回転して複数回、カメラ30の検出領域31に至る間に、明領域28,暗領域29および境界領域27という異なる光学条件下での欠陥検出が行われるようになっている。さらに、ここでは6回転させているため、明領域28であっても照明光の入射角度の制限が異なる光学条件や、境界領域27であっても暗領域29の右側と左側のように、制限される照明光の向きが異なる光学条件が構成されている。   The defect detection by the camera 30 is continuously performed while the cylindrical body is rotated a plurality of times (six rotations here). For this reason, each part on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body has different optical areas such as a bright area 28, a dark area 29, and a boundary area 27 while the cylindrical body 90 rotates a plurality of times and reaches the detection area 31 of the camera 30. Defect detection under conditions is performed. Further, since the rotation is performed six times here, the optical conditions in which the limit of the incident angle of the illumination light is different even in the bright region 28, or the boundary region 27 is limited as on the right side and the left side of the dark region 29. The optical conditions differ in the direction of the illumination light.

また、円筒体90を回転させながら遮光体20およびカメラ30が円筒体90の軸方向に移動するため、円筒体90の外周面91上の明領域28や暗領域29、さらにカメラ30の検出領域31は、円筒体90の外周面91上を螺旋状に移動することとなる。これをカメラ30側から見ると、円筒体90の各部は、各周回毎に、カメラ30の検出領域31内を移動することになる。具体的には、図14に示すように、円筒体90のある部位が、カメラ30の撮像画像では、1周目に位置A1に現れていたとすると、2周目では1周当たりのカメラ30のスライド量だけ横方向にずれた位置A2に現れ、以下各周毎に同じく横方向にずれた位置A3〜A6に現れることになる。これにより、円筒体90の外周面91上の各部位は、遮光体20およびカメラ30の移動により、円筒体90の一回転毎に異なる光学条件の下で表面検査されていることが分かる。   Further, since the light shielding body 20 and the camera 30 move in the axial direction of the cylindrical body 90 while rotating the cylindrical body 90, the bright area 28 and the dark area 29 on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90, and the detection area of the camera 30. 31 moves spirally on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90. When this is viewed from the camera 30 side, each part of the cylindrical body 90 moves within the detection region 31 of the camera 30 for each round. Specifically, as shown in FIG. 14, if a part of the cylindrical body 90 appears at the position A1 in the first round in the captured image of the camera 30, the camera 30 per round in the second round. It appears at a position A2 that is shifted in the horizontal direction by the amount of slide, and thereafter appears at positions A3 to A6 that are also shifted in the horizontal direction for each circumference. Thereby, it can be seen that the surface of each part on the outer peripheral surface 91 of the cylindrical body 90 is surface-inspected under different optical conditions for each rotation of the cylindrical body 90 due to the movement of the light shielding body 20 and the camera 30.

以上のようなカメラ30により複数の光学条件下で円筒体を撮影する一連の動作は、管理コンピュータ80の制御手段によって制御され、実行されるようになっている。   A series of operations for photographing a cylindrical body under a plurality of optical conditions by the camera 30 as described above is controlled and executed by the control means of the management computer 80.

図15は、カメラによって撮像された画像から表面欠陥を検出するため、管理コンピュータ80の画像処理手段によって行われる画像処理工程の例を示す説明図である。   FIG. 15 is an explanatory diagram illustrating an example of an image processing process performed by an image processing unit of the management computer 80 in order to detect a surface defect from an image captured by a camera.

図15(a)は、円筒体90を回転させながらカメラ30によって撮影された画像の例である。   FIG. 15A is an example of an image photographed by the camera 30 while rotating the cylindrical body 90.

こうして得られる画像に対しては、まず欠陥検出を容易にするため、微分処理、積分処理、膨張処理、収縮処理などの画像処理を駆使して、暗領域29や境界領域27の微弱信号を強調する加工を行う。   For the image thus obtained, first, in order to facilitate defect detection, weak signals in the dark region 29 and the boundary region 27 are emphasized by using image processing such as differentiation processing, integration processing, expansion processing, and contraction processing. The processing to do.

そして、明領域28や暗領域29がなす縞模様の中から表面欠陥を浮き立たせるため、差分処理を行う。図15(b)は差分処理を行った画像の例である。この差分処理は、各ラインのデータについて、以前の1または複数のラインの同位置のデータとの差分を算出し、その差分の大きさを濃淡で表現したものである。   Then, a difference process is performed to make the surface defect stand out from the stripe pattern formed by the bright area 28 and the dark area 29. FIG. 15B is an example of an image that has been subjected to difference processing. In this difference process, the difference between each line of data and the data at the same position of one or more previous lines is calculated, and the magnitude of the difference is expressed by shading.

この実施形態では、上述したようにカメラ30は遮光体20とともに管体90の軸方向に移動するため、撮像画像では、明領域28、暗領域29および境界領域27の横方向位置が変化していない。これにより、撮影画像の上下の差を求めることで容易に差分処理を行うことができる。ちなみに、遮光体20とカメラ30を連動させない場合には、明領域28等は、図中で斜め方向に延びることになるため、両者の相対速度に応じて撮影画像では斜め方向に差分を求めればよい。   In this embodiment, as described above, the camera 30 moves in the axial direction of the tubular body 90 together with the light blocking body 20, so that the lateral positions of the bright region 28, the dark region 29, and the boundary region 27 are changed in the captured image. Absent. Thus, the difference process can be easily performed by obtaining the difference between the upper and lower sides of the captured image. Incidentally, when the light shield 20 and the camera 30 are not interlocked, the bright region 28 and the like extend in the oblique direction in the figure. Therefore, if the difference is obtained in the oblique direction in the photographed image according to the relative speed of the two. Good.

差分処理を行った撮影画像からは、周囲に対して明るいあるいは暗い欠陥候補を見出すことができる。   A bright or dark defect candidate can be found from the captured image that has been subjected to the difference processing.

こうして欠陥候補が検出されるが、同一部位について複数回(ここでは6回)の欠陥検出を行っているため、管理コンピュータ80の画像処理手段は、同一部位毎に検出された結果を束ね、各欠陥候補の部位毎に、明領域28,暗領域29および境界領域27の各光学条件下において欠陥候補として検出されたか検出されなかったかの欠陥検出の有無を求める。   In this way, defect candidates are detected. However, since defect detection is performed a plurality of times (here, six times) for the same part, the image processing means of the management computer 80 bundles the results detected for the same part. For each defect candidate site, the presence / absence of defect detection as to whether it was detected as a defect candidate or not detected under each optical condition of the bright region 28, dark region 29, and boundary region 27 is determined.

この実施形態では、同一部位について明領域28となる光学条件下での欠陥検出を複数回行っているが、そのうち1回以上欠陥が検出されれば、明領域28で検出される欠陥候補であると判断する。同じ明領域28であっても照明光の入射角度の異なる複数の光学条件が構成され、そのいずれかでしか検出されない欠陥候補についても、明領域28で検出可能な欠陥候補として扱うためである。暗領域29および境界領域27でも同様に扱うこととする。   In this embodiment, the defect detection is performed a plurality of times under the optical condition of becoming the bright region 28 for the same part, but if a defect is detected one or more times, it is a defect candidate detected in the bright region 28. Judge. This is because, even in the same bright region 28, a plurality of optical conditions having different incident angles of illumination light are configured, and defect candidates that are detected only in one of them are treated as defect candidates that can be detected in the bright region 28. The same applies to the dark area 29 and the boundary area 27.

こうして各部位の欠陥候補について、各光学条件下における欠陥検出の有無が求められれば、管理コンピュータ80の判定手段は、その組合せパターンに基づいて、当該欠陥候補の種類を判定する。   In this way, if the presence or absence of defect detection under each optical condition is obtained for the defect candidate at each part, the determination means of the management computer 80 determines the type of the defect candidate based on the combination pattern.

各種の欠陥は、その形状、サイズ(面積)、深さ等で分類される種類によって、検出され得る光学条件や、検出されない光学条件が存在するため、明領域28,暗領域29,境界領域27等の各種の光学条件下において検出されるか否かの組合せパターンと、欠陥の種類との間に、一定の関係が認められることに基づくものである。   Various defects have optical conditions that can be detected or optical conditions that cannot be detected depending on the type classified by shape, size (area), depth, and the like. Therefore, the bright region 28, the dark region 29, and the boundary region 27 are present. This is based on the fact that a certain relationship is recognized between the combination pattern of whether or not to be detected under various optical conditions such as the above and the type of defect.

管理コンピュータ80の判定手段は、こうして検出された表面欠陥(候補)の欠陥種類を判定することができるようになっている。   The determination means of the management computer 80 can determine the defect type of the surface defect (candidate) thus detected.

<表面欠陥の検出例>
図16は、各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンと表面欠陥の種類との関係の一例である。
<Example of detection of surface defects>
FIG. 16 is an example of the relationship between the combination pattern of presence / absence of defect detection and the type of surface defect under each optical condition.

たとえば検査対象の同一部位に対して、明領域28、暗領域29および境界領域(際領域)27となる光学条件下で欠陥検出を行ったとき、例えば明領域28において異常(表面欠陥)が検出され、境界領域(際領域)27および暗領域29においては異常が検出されなかったとする。この場合、この欠陥候補は、明領域28では検出される異常であるが、逆に、境界領域27および暗領域29の条件下では検出できない状態であると判断できる。   For example, when defect detection is performed on the same region to be inspected under the optical conditions of the bright region 28, the dark region 29, and the boundary region (interference region) 27, an abnormality (surface defect) is detected in the bright region 28, for example. Then, it is assumed that no abnormality is detected in the boundary region (edge region) 27 and the dark region 29. In this case, it can be determined that the defect candidate is an abnormality detected in the bright region 28 but cannot be detected under the conditions of the boundary region 27 and the dark region 29.

このように明領域28で検出され、境界領域(際領域)27および暗領域29では検出されなかった場合、図16に例示した検出結果の組合せパターンと表面欠陥の種類との関係が予め求められているならば、大または特大サイズで浅いまたは深い鋭利な線キズ、あるいは特大サイズで極めて深い(超深)鋭利な線キズであると判定できる。   As described above, when the detection is performed in the bright region 28 and not detected in the boundary region (border region) 27 and the dark region 29, the relationship between the combination pattern of the detection result illustrated in FIG. 16 and the type of surface defect is obtained in advance. If so, it can be determined that the line is a large or extra large size shallow or deep sharp line scratch, or an extra large size or extremely deep (ultra deep) sharp line scratch.

また、明領域28に加えて境界領域(際領域)27でも検出され、暗領域29でのみ検出されなかった場合には、鋭利な線キズであれば、境界領域27で検出されなかったときの線キズよりも欠陥の大きさが小さく、中サイズ程度であると判定でき、鋭利な点キズであっても、境界領域27で検出されなかったときの点キズよりも欠陥の大きさが小さく、大サイズ程度であると判定できる。さらに、大または特大サイズの汚れの可能性もある。   Further, in addition to the bright area 28, the boundary area (edge area) 27 is also detected, and if it is not detected only in the dark area 29, a sharp line flaw is detected when the boundary area 27 is not detected. It can be determined that the defect size is smaller than the line scratch and is about the medium size, and even if it is a sharp point scratch, the defect size is smaller than the point scratch when it is not detected in the boundary region 27, It can be determined that the size is large. In addition, there is the possibility of large or oversized dirt.

また、境界領域(際領域)27のみで検出され、明領域28および暗領域29で検出されなかった場合には、小サイズで深い鋭利な線キズまたは、中サイズの汚れであると判定できる。   In addition, when it is detected only in the boundary region (interference region) 27 and not detected in the bright region 28 and the dark region 29, it can be determined that it is a small and deep sharp line flaw or a medium-sized stain.

また、暗領域28で検出される場合には、特大サイズの緩やかな凹みであると判定される場合が多く、暗領域29のみで検出される場合には、非常に浅い凹みであると判断できる。暗領域29に加えて境界領域(際領域)27でも検出される場合には、浅い凹みであると判断できる。さらに明領域28、境界領域(際領域)27および暗領域29のいずれでも検出される場合には、深いあるいは極めて深い(超深)凹み、あるいは特大サイズで非常に深く(超深)凸を有する鋭利な点キズであると判断できる。   Further, when it is detected in the dark region 28, it is often determined that the dent is a moderately large dent, and when it is detected only in the dark region 29, it can be determined that it is a very shallow dent. . If the boundary region (edge region) 27 is detected in addition to the dark region 29, it can be determined that the dent is shallow. Further, when any of the bright region 28, the boundary region (boundary region) 27, and the dark region 29 is detected, it has a deep or extremely deep (ultra deep) dent, or an extra large size and an extremely deep (ultra deep) convex. It can be judged that it is a sharp point scratch.

こうして同一部位に対する異なる光学条件下での検査結果の組合せパターンに基づいて判断することによって、明領域28、暗領域29または境界領域(際領域)27等のうち特定の光学条件下でしか検出できない表面欠陥が検出できるだけでなく、表面欠陥の種類を判定することができる。   In this way, by determining based on the combination pattern of the inspection results under different optical conditions for the same part, it can be detected only under specific optical conditions among the bright area 28, the dark area 29, the boundary area (edge area) 27, and the like. Not only can surface defects be detected, but the type of surface defects can be determined.

さらに、表面欠陥の種類を判断することにより、ある光学条件下で表面欠陥と疑われる異常が検出された場合であっても、管理コンピュータ80の判別手段により、その異常が許容できない種類の表面欠陥であるか否かまで評価するようになっている。これにより、許容できる表面欠陥であるにもかかわらずその種類判別ができないために不良品として扱ってしまう事態を未然に防止して、収率の向上を図ることができる。   Further, even if an abnormality suspected to be a surface defect is detected under certain optical conditions by determining the type of surface defect, the type of surface defect whose abnormality cannot be tolerated by the discriminating means of the management computer 80 Whether or not it is to be evaluated. As a result, it is possible to prevent a situation in which the type of the surface defect is not acceptable in spite of an acceptable surface defect, and the product is handled as a defective product, thereby improving the yield.

[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について、図面を参照しながら説明する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

この第2実施形態は、上述した第1実施形態にかかる表面検査装置1を備えた円筒体90の製造システムである。   This 2nd Embodiment is a manufacturing system of the cylindrical body 90 provided with the surface inspection apparatus 1 concerning 1st Embodiment mentioned above.

図17は、第2実施形態にかかる円筒体の製造システム700の構成を示す機能ブロック図である。   FIG. 17 is a functional block diagram showing a configuration of a cylindrical body manufacturing system 700 according to the second embodiment.

この製造システム700は、円筒体90を製管する製管装置710と、上述した円筒体の表面検査装置1と、表面検査装置1の検査結果を製管装置710にフィードバックするフィードバック部720とを備えている。   The manufacturing system 700 includes a pipe manufacturing apparatus 710 for manufacturing the cylindrical body 90, the above-described cylindrical surface inspection apparatus 1, and a feedback unit 720 that feeds back the inspection result of the surface inspection apparatus 1 to the pipe manufacturing apparatus 710. I have.

製管装置710は、たとえば、アルミニウム合金の引抜き加工によって感光ドラム基体を製管する場合であれば、原料を溶解させて押出加工材料を製造する工程、押出工程、引抜工程、曲がり矯正工程、所定長さへの切断工程、粗洗浄工程、仕上げ洗浄工程等を実行する各機械装置の集合として構成されている。なお、製管装置710は、これらの全ての工程を行うものでなくてもよい。この製管装置710は、表面精度が求められる物品である円筒体を成形する成形手段として機能している。   For example, if the photosensitive drum base is to be piped by drawing an aluminum alloy, the pipe making apparatus 710 is a process for dissolving the raw material to produce an extruded material, an extrusion process, a drawing process, a bending correction process, a predetermined correction process, etc. It is configured as a set of mechanical devices that perform a cutting process to length, a rough cleaning process, a finishing cleaning process, and the like. In addition, the pipe making apparatus 710 may not perform all these processes. This pipe making apparatus 710 functions as a forming means for forming a cylindrical body that is an article for which surface accuracy is required.

押出工程は、たとえばアルミニウム製のビレットを押出してアルミニウム押出素管を得る工程である。   The extrusion process is a process of obtaining an aluminum extruded element tube by extruding, for example, an aluminum billet.

図18は、この押出工程を行う押出機の概略平面図である。押出機本体730から押し出されたアルミニウム押出素管740は、複数対配置された支持ローラ750…によって押出方向前方に搬送され、切断機760により所定長さRに切断される。   FIG. 18 is a schematic plan view of an extruder that performs this extrusion process. The aluminum extruding element tubes 740 extruded from the extruder main body 730 are conveyed forward in the extrusion direction by a plurality of pairs of support rollers 750, and are cut into a predetermined length R by a cutting machine 760.

図19は、押出機本体が備える押出ダイスの一例における断面図である。この押出ダイス770は、ポートホールダイスであり、771はダイス雌型、772はダイス雄型である。ダイス雌型771には中央部に貫通上の押出孔773が形成されるとともに、押出孔773の入口側の周面が円形のベアリング部774となされている。なお、775はレリーフ部である。一方、ダイス雄型772は、その中央部に断面円形の成型凸部776を有するとともに、成形凸部776の先端周面に円形のベアリング部777が形成されている。なお778は、アルミニウムビレットを通過させる通過孔である。そして、前記ダイス雌型771と前記ダイス雄型772とが組み合わされ、雄型772の成形凸部776先端が雌型771の押出孔773に望んで雌雄両型のベアリング部774,777が環状の成形間隙779を介して対向状の配置されている。   FIG. 19 is a cross-sectional view of an example of an extrusion die provided in the extruder body. This extrusion die 770 is a port hole die, 771 is a female die, and 772 is a male die. The die female die 771 is formed with a through-hole through-hole 773 formed in the center, and the peripheral surface on the inlet side of the extrusion hole 773 is a circular bearing portion 774. Reference numeral 775 denotes a relief portion. On the other hand, the die male die 772 has a molding convex portion 776 having a circular cross section at the center thereof, and a circular bearing portion 777 is formed on the tip peripheral surface of the molding convex portion 776. Reference numeral 778 denotes a passage hole through which the aluminum billet passes. Then, the die female die 771 and the die male die 772 are combined, and the tip of the molding convex portion 776 of the male die 772 is desired in the extrusion hole 773 of the female die 771, and both male and female bearing portions 774, 777 are annular. They are arranged opposite to each other with a molding gap 779 therebetween.

なお、押出方式は特に限定されることはなく、ポートホールダイスを用いたものでもマンドレル押出でもよい。   The extrusion method is not particularly limited, and may be one using a porthole die or mandrel extrusion.

引抜き工程は、押出加工によって得られた所定長さのアルミニウム押出素管を引抜き加工してアルミニウム引抜管を得る工程である。   The drawing process is a process of drawing an aluminum extruded tube having a predetermined length obtained by extrusion to obtain an aluminum drawn tube.

図20は、この引抜き工程を行う引抜き機の一例を示す断面である。この引抜き機780は、たとえば、アルミニウム押出素管781を引抜きダイス782と引抜きプラグ783との間に通し、押出素管781先端に形成された口付け部784をキャリッジ部のチャック部785で掴んで該キャリッジ部を前方に移動させることにより、アルミニウム引抜き管786を得るようになっている。引抜きプラグ783は、ロッド787によって支持されている。このロッド787には1個または複数個の中子788がその略全長に亘って装着されており、この中子788は、押出素管781の内周面に当接して自重により押出素管781がたわむことを防止して、引抜きの初めから終わりまで押出素管781の軸線をダイス782の軸線に一致した状態に保持できるようになっている。また、引抜き加工中には、引抜きダイス782と押出素管781との間に潤滑油が供給されるようになっている。   FIG. 20 is a cross-sectional view showing an example of a drawing machine that performs this drawing step. For example, the drawing machine 780 includes an aluminum extrusion tube 781 passed between a drawing die 782 and a drawing plug 783, and a mouth portion 784 formed at the tip of the extrusion tube 781 is gripped by a chuck 785 of the carriage portion. By moving the carriage portion forward, an aluminum drawing tube 786 is obtained. The extraction plug 783 is supported by a rod 787. One or a plurality of cores 788 are attached to the rod 787 over substantially the entire length thereof, and the core 788 abuts against the inner peripheral surface of the extrusion element pipe 781 and pushes the extrusion element pipe 781 by its own weight. Therefore, the axis of the extruded element pipe 781 can be held in a state where it coincides with the axis of the die 782 from the beginning to the end of drawing. Further, during the drawing process, lubricating oil is supplied between the drawing die 782 and the extrusion element pipe 781.

なお、この引抜き工程は、プラグを固定しない浮きプラグ引き方式によって引抜きを行うようにしてもよい。また、引抜きは、1回だけ行ってアルミニウム引抜き管を得るようにしてもよいが、引抜きを複数回繰り返し行って順次的に縮径し、もってアルミニウム引抜き管を得るようにするのが好ましい。とくに、引抜きを2回行ってアルミニウム引抜き管を得るのが好ましい。   In this drawing step, the drawing may be performed by a floating plug drawing method in which the plug is not fixed. The drawing may be performed only once to obtain an aluminum drawn tube. However, it is preferable to repeat the drawing a plurality of times to reduce the diameter in order to obtain the aluminum drawn tube. In particular, it is preferable to obtain an aluminum drawn tube by performing drawing twice.

曲がり矯正工程は、引抜き加工によって得られたアルミニウム引抜き管の曲がりを矯正する工程である。具体的には、引抜き加工によって得られたアルミニウム引抜き管は、まず、その口付け部がプレス切断法により除去され、その後、ロール矯正機に投入され、内部の矯正ロールの作用で真っ直ぐに矯正される。   The bending correction process is a process of correcting the bending of the aluminum drawn tube obtained by the drawing process. Specifically, the aluminum drawn tube obtained by the drawing process is first removed at its mouth by a press cutting method, then put into a roll straightening machine, and straightened by the action of an internal straightening roll. .

図21は、口付け部切除工程を行う切断機の一例を示す断面図である。この切断機790は、アルミニウム引抜き管791の口付け部792側の端部を金型793,793の内方に挿入し、切断刃794を下降させることにより、該口付け部792を切断除去する。この切断は突切り刃によって行われるから切粉の発生はなく、切粉等がロール矯正機内に持ち込まれ、アルミニウム引抜き管791にキズがつくことがないようになっている。   FIG. 21 is a cross-sectional view illustrating an example of a cutting machine that performs the mouthpiece part cutting step. This cutting machine 790 inserts the end portion of the aluminum drawing tube 791 on the side of the mouthpiece 792 into the inside of the molds 793 and 793, and lowers the cutting blade 794 to cut and remove the mouthpiece portion 792. Since this cutting is performed by a parting blade, no chips are generated, and chips and the like are brought into the roll straightening machine so that the aluminum drawing tube 791 is not scratched.

図22は、曲がり矯正工程を行うロール矯正機の一例を示す概念図である。このロール矯正機810は、その内部の矯正ローラ812の作用によって、口付け部が切除されたアルミニウム引抜き管811を真っ直ぐに矯正するようになっている。   FIG. 22 is a conceptual diagram illustrating an example of a roll straightening machine that performs a bending straightening process. The roll straightening machine 810 straightly straightens the aluminum drawing tube 811 whose mouth is cut off by the action of the straightening roller 812 inside.

粗洗浄工程は、上記引抜き工程等においてアルミニウム引抜き管に付着した潤滑油等を除去する工程である。この粗洗浄工程は、たとえば脱脂力を有する溶剤を用いて行われる。具体的手法としては、特に限定されないが、たとえば浸漬法、シャワー法等が挙げられる。   The rough cleaning step is a step of removing lubricating oil or the like adhering to the aluminum drawing pipe in the drawing step or the like. This rough cleaning process is performed using, for example, a solvent having a degreasing power. Although it does not specifically limit as a specific method, For example, the immersion method, the shower method, etc. are mentioned.

仕上げ洗浄工程は、好適には、たとえば超音波洗浄によって行われる。   The finish cleaning step is preferably performed by ultrasonic cleaning, for example.

図23は、超音波洗浄機の一例を示す概念図である。この超音波洗浄機830は、洗浄増831に貯められた洗浄液832に被洗浄物である複数個のアルミニウム引抜き管833を浸漬しておき、振動子834によって洗浄液832中に超音波を送ることにより、被洗浄物であるアルミニウム引抜き管833を洗浄するものである。   FIG. 23 is a conceptual diagram illustrating an example of an ultrasonic cleaning machine. This ultrasonic cleaning machine 830 immerses a plurality of aluminum drawing tubes 833 that are objects to be cleaned in the cleaning liquid 832 stored in the cleaning increment 831, and sends ultrasonic waves into the cleaning liquid 832 by the vibrator 834. The aluminum drawing tube 833, which is an object to be cleaned, is cleaned.

超音波の照射方式は特に限定されることはなく、上述の投げ込み型のほか、接着型、振動伝達子型その他各種の洗浄機を用いることができる。また、洗浄液としては、一般には白灯油、軽油、アルカリ、界面活性剤あるいはトリクロロエチレンなどが用いられるが、これらに限定されることはなく、水系、炭化水素系、塩素系有機溶媒などを適宜用いればよい。   The ultrasonic irradiation method is not particularly limited, and an adhesive type, a vibration transmitter type, and other various washing machines can be used in addition to the above-described throwing type. The cleaning liquid is generally white kerosene, light oil, alkali, surfactant, trichloroethylene, or the like, but is not limited thereto, and water-based, hydrocarbon-based, chlorinated organic solvents, etc. may be used as appropriate. Good.

上記のような押出工程、切断工程、引抜き工程、曲がり矯正工程、洗浄工程、仕上げ洗浄工程を経て得られた円筒体(アルミニウム引抜き管)90は、表面品質精度に優れ、複写機、プリンタ、ファクシミリ等の電子写真装置の感光ドラム基体として好適である。   The cylindrical body (aluminum drawing tube) 90 obtained through the extrusion process, the cutting process, the drawing process, the bending correction process, the cleaning process, and the finishing cleaning process as described above has excellent surface quality accuracy, and is a copier, printer, facsimile machine. It is suitable as a photosensitive drum substrate of an electrophotographic apparatus such as the above.

こうして製管された円筒体(アルミニウム引抜き管)90は、上述した表面検査装置1においてその表面状態が所定の許容範囲内にあるか否かが検査され、この検査結果が所定の許容範囲内にあるのであれば、その円筒体90を完成品と判定する。   The cylindrical body (aluminum drawn pipe) 90 manufactured in this way is inspected by the surface inspection apparatus 1 as to whether or not the surface state is within a predetermined allowable range, and the inspection result is within the predetermined allowable range. If there is, the cylindrical body 90 is determined as a finished product.

また、表面検査装置1において、円筒体90に発生している不良の種類や特徴等が判別された場合には、この検査結果をフィードバック部720が製管装置710にフィードバックし、これにより不良管の発生を未然に防止するようになっている。   Further, in the surface inspection apparatus 1, when the type or characteristic of the defect occurring in the cylindrical body 90 is determined, the feedback unit 720 feeds back the inspection result to the pipe making apparatus 710, thereby the defective pipe It is designed to prevent the occurrence of this.

こうして検査結果がフィードバックされた製管装置710においては、検査結果の内容に応じて、製管条件の設定に供される。具体的には、押出ダイスの取付状態や押出速度等の押出条件の設定、素管の選別、引抜きダイスの取付状態の確認や引抜き速度等の引抜き条件の設定、ロール矯正機におけるロール高さ調整や搬送速度等のロール矯正機条件が制御される。これにより、より確実に必要十分な表面精度を持った円筒体を得ることができるとともに、仮に不良管が発生した場合でも、速やかにこれに対応し、不良管の発生数を抑えることができる。   In the pipe manufacturing apparatus 710 to which the inspection result is fed back in this manner, the pipe manufacturing conditions are set according to the contents of the inspection result. Specifically, setting of extrusion conditions such as extrusion die attachment state and extrusion speed, selection of raw pipe, confirmation of attachment state of drawing die and setting of drawing conditions such as drawing speed, adjustment of roll height in roll straightener The roll straightening machine conditions such as the transport speed and the like are controlled. As a result, it is possible to obtain a cylindrical body having a necessary and sufficient surface accuracy more reliably, and even when a defective pipe is generated, it is possible to quickly cope with this and suppress the number of generated defective pipes.

このような製造システム700によれば、所定の形状精度を有する円筒体、および円筒体の集合を確実に得ることができる。   According to such a manufacturing system 700, a cylindrical body having a predetermined shape accuracy and a set of cylindrical bodies can be reliably obtained.

[その他の実施形態]
(1)上記実施形態では、欠陥検出の有無の組合せパターンを設定する際、光学条件を明領域、暗領域および境界領域の3つに分類したが、明領域および暗領域の2つとしても、明領域や暗領域をさらに複数に分類してもよい。
[Other Embodiments]
(1) In the above embodiment, when setting a combination pattern for the presence or absence of defect detection, the optical conditions are classified into three areas: a bright area, a dark area, and a boundary area. The bright area and the dark area may be further classified into a plurality.

(2)上記実施形態では、検査対象領域内に明領域と暗領域を同時に形成したが、明領域と暗領域とを順次形成するようにしてもよい。   (2) In the above embodiment, the bright area and the dark area are simultaneously formed in the inspection target area. However, the bright area and the dark area may be sequentially formed.

(3)上記実施形態では、カメラをラインセンサカメラから構成したが、二次元的な広がりを有する撮像領域をもつエリアセンサや、特定の一点の光量を検出する光センサから構成されるカメラ等を採用してもよい。   (3) In the above embodiment, the camera is configured from a line sensor camera. However, an area sensor having an imaging region having a two-dimensional extent, a camera configured from an optical sensor that detects a specific one-point light amount, and the like. It may be adopted.

(4)上記実施形態では、遮光体を用いて暗領域および境界領域を形成したが、照明とカメラの角度関係により、反射光がカメラに直接検出されない暗領域を構成するようにしてもよい。   (4) In the above embodiment, the dark region and the boundary region are formed by using the light shielding body. However, a dark region in which reflected light is not directly detected by the camera may be configured depending on the angular relationship between the illumination and the camera.

(5)上記実施形態では、透光部および遮光部の光学特性が変化しないスリット体により明暗縞を形成したが、減光フィルター(NDフィルター)を用いたスリット体により、明部や暗部の光量を調整できるようにしてもよい。また、液晶パネルを用いたスリット体により、明部や暗部の光量を調整したり、遮光形態を連続的にまた自由に可変できるようにしてもよい。   (5) In the above embodiment, the bright and dark stripes are formed by the slit body in which the optical characteristics of the light transmitting part and the light shielding part do not change. However, the light quantity of the bright part and the dark part is obtained by the slit body using the neutral density filter (ND filter). May be adjusted. Moreover, the light quantity of a bright part and a dark part may be adjusted with the slit body using a liquid crystal panel, and you may enable it to change the light-shielding form continuously and freely.

(6)上記実施形態では、1つの長尺の光源を用いたが、複数の光源を用いてもよい。   (6) In the above embodiment, one long light source is used, but a plurality of light sources may be used.

(7)上記実施形態では、円筒体を回転させながら表面検査を行ったが、長尺平板材等を連続移動させながらその表面検査を行うようにしても良い。   (7) In the above embodiment, the surface inspection is performed while rotating the cylindrical body. However, the surface inspection may be performed while continuously moving a long flat plate material or the like.

図24は、長尺平板材を連続移動させながら表面検査を行う例である。この例では、連続的に繰り出されるシート状の長尺平板材93に対し、平板材93の移動方向に対して斜めに形成された透光部623…および遮光部624…を有するスリット体62を介して光源61からの照明が平板材93上に照射されている。   FIG. 24 shows an example in which surface inspection is performed while continuously moving a long flat plate material. In this example, a slit body 62 having light-transmitting portions 623... And light-shielding portions 624. The illumination from the light source 61 is irradiated on the flat plate material 93.

これにより、平板材93の各部位は繰り出し方向に移動するにつれて、明領域625…、暗領域626…およびそれらの境界領域を通過するようになっている。そして、ラインセンサを有する複数個のカメラ63…が、平板材の移動方向について異なる領域を検出領域631…となるように配置されていることにより、平板材93の各部位は、各カメラ63…の撮像により、明領域625…、暗領域626…および境界領域を含む種々の異なる光学条件下での検出が行われるようになっている。   Thereby, each part of the flat plate 93 passes through the bright region 625..., The dark region 626. Then, the plurality of cameras 63... Having line sensors are arranged so that different areas in the moving direction of the flat plate material become detection regions 631. In this way, detection is performed under various different optical conditions including a bright region 625..., A dark region 626.

図25は、長尺平板材を連続移動させながら表面検査を行う別の例である。この例では、複数組の光源64およびスリット体65が平板材93の繰り出し方向に直交する幅方向について、異なる位置に明暗縞を形成するように配置されており、複数のカメラ66が各明暗縞ごとに検出領域661を受け持つように配置されることにより、平板材93の各部位が明領域655…、暗領域656…および境界領域を含む種々の異なる光学条件下での検出を行うことができる。   FIG. 25 is another example in which surface inspection is performed while continuously moving a long flat plate material. In this example, a plurality of sets of light sources 64 and slit bodies 65 are arranged so as to form light and dark stripes at different positions in the width direction orthogonal to the feeding direction of the flat plate material 93, and a plurality of cameras 66 are provided with each light and dark stripe. By being arranged so as to be in charge of each detection region 661, each part of the flat plate 93 can be detected under various different optical conditions including a bright region 655, a dark region 656, and a boundary region. .

第1実施形態にかかる表面検査装置の検査対象物たる円筒体の斜視図である。It is a perspective view of the cylindrical body which is a test object of the surface inspection apparatus concerning 1st Embodiment. 本発明の第1実施形態にかかる表面検査装置の正面図である。It is a front view of the surface inspection apparatus concerning a 1st embodiment of the present invention. 同装置の平面図である。It is a top view of the apparatus. 同装置の側面図である。It is a side view of the same apparatus. 第1実施形態におけるチャック部の正面図である。It is a front view of the chuck | zipper part in 1st Embodiment. 同チャック部の側面図である。It is a side view of the chuck part. 第1実施形態における遮光体の斜視図である。It is a perspective view of the light-shielding body in 1st Embodiment. 第1実施形態にかかる円筒体の表面検査装置の要部の概略を表した側面図である。It is a side view showing the outline of the principal part of the cylindrical surface inspection apparatus concerning a 1st embodiment. 同斜視図である。It is the same perspective view. カメラから見た検査対象領域の各部位の光学条件の説明図である。It is explanatory drawing of the optical conditions of each site | part of the test | inspection area | region seen from the camera. カメラによって撮影された画像における各種光学条件の説明図である。It is explanatory drawing of the various optical conditions in the image image | photographed with the camera. 暗領域内に表面欠陥が存在しない場合の説明図である。It is explanatory drawing when a surface defect does not exist in a dark area | region. 暗領域内に表面欠陥が存在する場合の説明図である。It is explanatory drawing when a surface defect exists in a dark area. 円筒体を回転させながらカメラによって連続的に撮影して得られる画像の説明図である。It is explanatory drawing of the image obtained by image | photographing continuously with a camera, rotating a cylindrical body. 画像処理装置によって行われる画像処理工程の例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of the image processing process performed by an image processing apparatus. 各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンと表面欠陥の種類との関係の一例である。It is an example of the relationship between the combination pattern of the presence or absence of the defect detection in each optical condition, and the kind of surface defect. 第2実施形態にかかる円筒体の製造システムの構成を示す機能ブロック図である。It is a functional block diagram which shows the structure of the manufacturing system of the cylindrical body concerning 2nd Embodiment. 押出工程を行う押出機の概略平面図である。It is a schematic plan view of the extruder which performs an extrusion process. 押出機本体が備える押出ダイスの一例における断面図である。It is sectional drawing in an example of the extrusion die with which an extruder main body is provided. は、この引抜き工程を行う引抜き機の一例を示す断面である。These are the cross sections which show an example of the drawing machine which performs this drawing process. 口付け部切除工程を行う切断機の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the cutting machine which performs a lip attachment part cutting process. 曲がり矯正工程を行うロール矯正機の一例を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows an example of the roll straightening machine which performs a bending correction process. 超音波洗浄機の一例を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows an example of an ultrasonic cleaner. 長尺平板材を連続移動させながら表面検査を行う例である。This is an example in which surface inspection is performed while continuously moving a long flat plate material. 長尺平板材を連続移動させながら表面検査を行う別の例である。It is another example which performs a surface test | inspection, moving a long flat plate material continuously.

符号の説明Explanation of symbols

10 照明
20 遮光体(スリット体)
23 透光部
24 遮光部
27 境界領域
28 明領域
29 暗領域
30 カメラ
31 検出領域
80 管理コンピュータ
90 円筒体
10 Illumination 20 Shading body (slit body)
23 Light-transmitting part 24 Light-shielding part 27 Boundary area 28 Bright area 29 Dark area 30 Camera 31 Detection area 80 Management computer 90 Cylindrical body

Claims (16)

検査対象領域に照明光を照射し、その反射光をカメラで検出することにより表面欠陥を検出する表面検査方法であって、
検査対象領域の各部に対して、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域となる光学条件と、反射光が検出されない暗領域となる光学条件を含む、複数種類の光学条件下で表面欠陥の検出を行い、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定するものとし、
前記カメラの検出領域に、前記明領域と暗領域を同時に形成して、明領域における欠陥検出と暗領域における欠陥検出とを同時に行うようにしたことを特徴とする表面検査方法。
A surface inspection method for detecting surface defects by irradiating an inspection target region with illumination light and detecting the reflected light with a camera,
For each part of the inspection target area, if there is no surface defect, there are a plurality of types including an optical condition that becomes a bright area where reflected light of illumination light is detected by the camera, and an optical condition that becomes a dark area where no reflected light is detected Detect surface defects under optical conditions,
Based on the combination pattern of presence or absence of defect detection under each optical condition, the type of detected surface defects shall be determined ,
A surface inspection method , wherein the bright region and the dark region are simultaneously formed in the detection region of the camera, and defect detection in the bright region and defect detection in the dark region are performed simultaneously .
前記明領域および暗領域の形成位置を移動させる請求項に記載の表面検査方法。 The surface inspection method according to claim 1 , wherein formation positions of the bright region and the dark region are moved. 前記複数の光学条件には、前記明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含む請求項1または2に記載の表面検査方法。 The plurality of optical conditions, the surface inspection method according to claim 1 or 2 including the optical conditions to be the bright and dark regions of the boundary region. 検査対象領域に照射される照明光を遮光体によって遮ることにより、前記暗領域を形成する請求項1〜のいずれかに記載の表面検査方法。 By blocking the light shield illumination light irradiated on the inspection area, the surface inspection method according to any one of claims 1 to 3 for forming the dark area. 複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成されたスリット体によって、検査対象領域に照射される照明光を断続的に遮ることにより、検査対象領域上に複数の前記明領域および暗領域を交互に繰り返し形成する請求項1〜のいずれかに記載の表面検査方法。 By intermittently blocking the illumination light irradiated to the inspection target area by the slit body formed so that the plurality of light transmitting parts and the light shielding part are alternately repeated, the plurality of bright areas and surface inspection method according to any one of claims 1 to 3 for repeatedly forming a dark region alternately. 複数の光学条件のうち少なくとも1条件については複数回の表面欠陥の検出が行われる請求項1〜のいずれかに記載の表面検査方法。 Surface inspection method according to any one of claims 1 to 5, the detection of multiple surface defects is performed for at least 1 condition of the plurality of optical conditions. 管体の外周面に照明光を照射し、その反射光をカメラで検出することにより表面欠陥を検出する表面検査方法であって、
管体の軸方向に沿ったカメラの検出領域に、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域と、反射光が検出されない暗領域とを交互に繰り返して形成し、
管体を軸回りに回転させながら、前記明領域及び暗領域の形成位置を管体の軸方向に移動させ、管体が複数回転する間、カメラにより管体の外周面を連続して撮影することにより、管体の外周面の各部に対して、前記明領域、前記暗領域および前記明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含む、複数の光学条件下での欠陥検出を行い、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定するものとし、
前記カメラの検出領域に、前記明領域、前記暗領域および前記暗領域と暗領域との境界領域を同時に形成して、明領域における欠陥検出と暗領域における欠陥検出と境界領域における欠陥検出とを同時に行うようにしたことを特徴とする管体の表面検査方法。
A surface inspection method for detecting surface defects by irradiating illumination light to the outer peripheral surface of a tubular body and detecting the reflected light with a camera,
In the detection area of the camera along the axial direction of the tubular body, if there is no surface defect, a bright area where the reflected light of the illumination light is detected by the camera and a dark area where the reflected light is not detected are alternately repeated,
While the tube body is rotated around the axis, the formation position of the bright region and the dark region is moved in the axial direction of the tube body, and the outer peripheral surface of the tube body is continuously photographed by the camera while the tube body is rotated a plurality of times. Thereby, for each part of the outer peripheral surface of the tubular body, the defect detection under a plurality of optical conditions including the optical region that is the bright region, the dark region, and the boundary region between the bright region and the dark region is performed,
Based on the combination pattern of presence or absence of defect detection under each optical condition, the type of detected surface defects shall be determined ,
In the detection region of the camera, the bright region, the dark region, and the boundary region between the dark region and the dark region are simultaneously formed, and defect detection in the bright region, defect detection in the dark region, and defect detection in the boundary region are performed. A method for inspecting a surface of a tubular body, characterized by being performed simultaneously .
複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成されたスリット体によって、管体に照射される照明光を断続的に遮ることにより、前記明領域と暗領域とを交互に繰り返し形成する請求項に記載の表面検査方法。 The light region and the dark region are alternately and repeatedly formed by intermittently blocking the illumination light applied to the tube body by a slit body formed so that a plurality of light transmitting portions and light shielding portions are alternately repeated. The surface inspection method according to claim 7 . 前記明領域および暗領域とともに、前記カメラによる検出領域を前記管体の軸方向に移動させることを特徴とする請求項7または8に記載の表面検査方法。 The surface inspection method according to claim 7 or 8 , wherein a detection area by the camera is moved in an axial direction of the tubular body together with the bright area and the dark area. 前記管体は、感光ドラム用基体であることを特徴とする請求項7〜9のいずれかに記載の表面検査方法。 The surface inspection method according to claim 7 , wherein the tubular body is a photosensitive drum substrate. 表面精度が求められる物品を成形する工程と、
前記物品を検査対象物として請求項1〜10のいずれかに記載の表面検査方法を行う表面検査工程と、
前記表面検査工程により判定された欠陥の種類が所定の基準を満たすか否かにより物品を判別し、前記所定の基準を満たす場合に当該物品を完成品とする判別工程と、
を備えたことを特徴とする物品の製造方法。
Forming an article requiring surface accuracy;
A surface inspection process for performing the surface inspection method according to any one of claims 1 to 10 as the inspection object,
Determining the article according to whether or not the type of defect determined by the surface inspection process satisfies a predetermined criterion, and determining the article as a finished product when the predetermined criterion is satisfied;
A method for producing an article, comprising:
請求項11に記載の物品の製造方法により製造されたことを特徴とする感光ドラム用基体。 A photosensitive drum substrate manufactured by the method for manufacturing an article according to claim 11 . 検査対象領域に照明光を照射し、その反射光をカメラで検出することにより表面欠陥を検出する表面検査装置であって、
検査対象領域の各部に対して、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域と、反射光が検出されない暗領域とを形成可能な照明系と、
前記照明系による明領域および暗領域の形成位置を変化させながら、前記カメラにより検査対象領域の各部に対して明領域となる光学条件および暗領域となる光学条件を含む、複数の光学条件下で欠陥検出を行わせる制御手段と、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定する判定手段と、
を備え
前記カメラの検出領域に、前記明領域と暗領域を同時に形成して、明領域における欠陥検出と暗領域における欠陥検出とを同時に行うようにしたことを特徴とする表面検査装置。
A surface inspection device that detects surface defects by irradiating an inspection target region with illumination light and detecting the reflected light with a camera,
An illumination system capable of forming a bright area in which reflected light of illumination light is detected by the camera and a dark area in which reflected light is not detected if there is no surface defect for each part of the inspection target area,
Under a plurality of optical conditions, including an optical condition that becomes a bright area and an optical condition that becomes a dark area with respect to each part of the inspection target area by the camera while changing the formation position of the bright area and the dark area by the illumination system Control means for performing defect detection;
Based on the combination pattern of the presence or absence of defect detection under each optical condition, determination means for determining the type of detected surface defects,
Equipped with a,
The surface inspection apparatus characterized in that the bright region and the dark region are simultaneously formed in the detection region of the camera, and defect detection in the bright region and defect detection in the dark region are performed simultaneously .
表面精度が求められる物品を成形する成形手段と、
前記物品を検査対象とする請求項13に記載の表面検査装置と、
前記表面検査装置により判定された表面欠陥の種類が所定の基準を満たすか否かにより物品を分別し、前記所定の基準を満たす場合に当該物品を完成品とする判別手段と、
を備えたことを特徴とする製造システム。
Molding means for molding an article that requires surface accuracy;
The surface inspection apparatus according to claim 13 , wherein the article is an inspection target.
Discriminating the article according to whether or not the type of surface defect determined by the surface inspection apparatus satisfies a predetermined standard, and when the predetermined standard is satisfied, a determination unit that makes the article a finished product,
A manufacturing system characterized by comprising:
管体の表面欠陥を検出する表面検査装置であって、
管体の外周面に照明光を照射する照明と、
管体の軸方向に沿った検出領域における照明光の反射光を検出するカメラと、
複数の透光部と遮光部とが交互に繰り返すように形成され、照明光を管体の軸方向について断続的に遮ることにより、表面欠陥がなければ照明光の反射光がカメラに検出される明領域と、反射光が検出されない暗領域を交互に繰り返し形成するスリット体と、
管体を軸回りに回転させながら、前記スリット体を管体の軸方向に移動させ、管体が複数回転する間、カメラにより管体の外周面を連続して撮影させることにより、管体の外周面の各部に対して、前記明領域、前記暗領域および前記明領域と暗領域の境界領域となる光学条件を含む、複数の光学条件下で欠陥検出を行わせる制御手段と、
各光学条件下における欠陥検出の有無の組合せパターンに基づいて、検出された表面欠陥の種類を判定する判定手段とを備え、
前記カメラの検出領域に、前記明領域、前記暗領域および前記暗領域と暗領域との境界領域を同時に形成して、明領域における欠陥検出と暗領域における欠陥検出と境界領域における欠陥検出とを同時に行うようにしたことを特徴とする管体の表面検査装置。
A surface inspection device for detecting a surface defect of a tubular body,
Illumination for illuminating the outer peripheral surface of the tube with illumination light;
A camera that detects the reflected light of the illumination light in the detection region along the axial direction of the tubular body;
A plurality of light-transmitting portions and light-shielding portions are alternately formed, and the illumination light is intermittently blocked in the axial direction of the tube, so that the reflected light of the illumination light is detected by the camera if there is no surface defect. A slit body that alternately and repeatedly forms a bright area and a dark area in which reflected light is not detected;
While rotating the tube body around the axis, the slit body is moved in the axial direction of the tube body, and while the tube body is rotated a plurality of times, the outer peripheral surface of the tube body is continuously photographed by the camera. Control means for performing defect detection under a plurality of optical conditions, including optical conditions that are the bright region, the dark region, and a boundary region between the bright region and the dark region, for each part of the outer peripheral surface;
Based on a combination pattern of the presence or absence of defect detection under each optical condition, comprises a determination means for determining the type of surface defect detected ,
In the detection region of the camera, the bright region, the dark region, and the boundary region between the dark region and the dark region are simultaneously formed, and defect detection in the bright region, defect detection in the dark region, and defect detection in the boundary region are performed. A tubular surface inspection apparatus characterized by being performed simultaneously .
表面精度が求められる管体を成形する成形手段と、
前記管体を検査対象物とする請求項15に記載の表面検査装置と、
前記表面検査装置により判定された表面欠陥の種類が所定の基準を満たすか否かにより管体を分別し、前記所定の基準を満たす場合に当該管体を完成品とする判別手段と、
を備えたことを特徴とする管体の製造システム。
Molding means for molding a tubular body that requires surface accuracy;
The surface inspection apparatus according to claim 15 , wherein the tubular body is an inspection object;
Classifying the tube according to whether or not the type of surface defect determined by the surface inspection apparatus satisfies a predetermined criterion, and a discriminating means that makes the tube a finished product when the predetermined criterion is satisfied;
A tubular body manufacturing system comprising:
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