JP4672277B2 - measuring device - Google Patents
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Description
この発明は、フライングキャパシタと半導体スイッチとを備えた測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus including a flying capacitor and a semiconductor switch.
従来から、複数の熱電対によって各測定点の温度を検出する温度測定装置が知られている(特許文献1参照)。 2. Description of the Related Art Conventionally, a temperature measurement device that detects the temperature at each measurement point using a plurality of thermocouples is known (see Patent Document 1).
かかる温度測定装置は、各熱電対に半導体スイッチをそれぞれ接続し、それぞれの半導体スイッチをオンオフ制御することにより、各熱電対から出力される電圧を順番に取り出して、各測定点の温度測定を1つの測定部で行うようになっている。 Such a temperature measuring device connects a semiconductor switch to each thermocouple, and controls each semiconductor switch to turn on and off, thereby sequentially extracting the voltage output from each thermocouple and measuring the temperature at each measurement point by 1 It is designed to be performed by two measuring units.
しかしながら、このような温度測定装置では、1つの測定部だけしか備えていないことにより各測定点の温度測定を同時に行うことができないという問題があった。 However, such a temperature measuring device has a problem that it cannot measure the temperature at each measurement point at the same time because it has only one measuring unit.
そこで、図3に示すようにフライングキャパシタC1,C2を使用して各測定点の温度測定を同時に行えるようにした温度測定装置が提案されている。 Therefore, as shown in FIG. 3, there has been proposed a temperature measuring device that can simultaneously measure the temperature at each measurement point using flying capacitors C1 and C2.
この温度測定装置は、半導体スイッチS1,S3,S1′,S3′をオンし、熱電対T1,T2から出力される電圧をフライングキャパシタC1,C2に印加させて充電させる。この後、半導体スイッチS1,S3,S1′,S3′をオフし、半導体スイッチS2,S4をオンして熱電対T1によって測定した温度を図示しない測定部によって求める。 In this temperature measuring device, the semiconductor switches S1, S3, S1 ′, S3 ′ are turned on, and the voltages output from the thermocouples T1, T2 are applied to the flying capacitors C1, C2 to be charged. Thereafter, the semiconductor switches S1, S3, S1 ′, S3 ′ are turned off, the semiconductor switches S2, S4 are turned on, and the temperature measured by the thermocouple T1 is obtained by a measuring unit (not shown).
次に、半導体スイッチS2,S4をオフし、半導体スイッチS2′,S4′をオンして熱電対T2によって測定した温度を図示しない測定部によって求める。このようにすることにより、複数の測定点を同時に測定することができる。
しかしながら、このような温度測定装置にあっては、測定電圧Vnに商用周波数帯等のコモンモード電圧Vc(不要電圧)が重畳する。このため、半導体スイッチS1,S3がオンするとフライングキャパシタC1に測定電圧Vnがサンプリングされると同時に、半導体スイッチS2,S4の浮遊容量Cf2,Cf4がコモンモード電圧Vcにより充電される。 However, in such a temperature measurement device, a common mode voltage Vc (unnecessary voltage) such as a commercial frequency band is superimposed on the measurement voltage Vn. Therefore, when the semiconductor switches S1 and S3 are turned on, the measurement voltage Vn is sampled in the flying capacitor C1, and at the same time, the stray capacitances Cf2 and Cf4 of the semiconductor switches S2 and S4 are charged by the common mode voltage Vc.
そして、半導体スイッチS1,S3がオフした後、半導体スイッチS2,S4がオンするが、完全に同時に半導体スイッチS2,S4がオンすることは不可能であり、約0.1m秒の時間のズレが生じる。このため、例えば半導体スイッチS4がオンした後に半導体スイッチS2がオンすると、半導体スイッチS4のオンと同時に浮遊容量Cf2に充電された電荷がフライングキャパシタC1に流れ込むため、下記の式に示す電圧V′がフライングキャパシタC1のサンプリング電圧に影響を与える。 Then, after the semiconductor switches S1 and S3 are turned off, the semiconductor switches S2 and S4 are turned on, but it is impossible to turn on the semiconductor switches S2 and S4 at the same time, and there is a time lag of about 0.1 msec. Arise. For this reason, for example, when the semiconductor switch S2 is turned on after the semiconductor switch S4 is turned on, the charge charged in the stray capacitance Cf2 flows into the flying capacitor C1 simultaneously with the turning on of the semiconductor switch S4. This affects the sampling voltage of the flying capacitor C1.
V′=Vc×Cf2/(Cf2+C1)
ただし、Vcは浮遊容量Cf2の電圧
浮遊容量Cf2は5PF程度であり、C1は1μFなので、フライングキャパシタC1への影響は1/200000に圧縮されるが、コモンモード電圧Vcが数10Vであるため、μVのオーダの計測への影響は大きなものとなる。
V ′ = Vc × Cf2 / (Cf2 + C1)
However, Vc is the voltage of the stray capacitance Cf2. Since the stray capacitance Cf2 is about 5 PF and C1 is 1 μF, the influence on the flying capacitor C1 is compressed to 1/200000, but the common mode voltage Vc is several tens of volts. The influence on the measurement of the order of μV is large.
さらに、フライングキャパシタC1の電圧測定の際、半導体スイッチS1,S3をオフにして半導体スイッチS2,S4をオンにするため、半導体スイッチS3の浮遊容量Cf3を介してコモンモード電圧VcによりラインLに矢印で示すように電流IGが流れる。この電流IGによって、ラインLが抵抗を有していることによりラインLに電圧が発生し、この電圧が測定電圧に重畳する。このため、正確な測定を行うことができないという問題があった。 Further, when measuring the voltage of the flying capacitor C1, in order to turn off the semiconductor switches S1 and S3 and turn on the semiconductor switches S2 and S4, an arrow is applied to the line L by the common mode voltage Vc via the stray capacitance Cf3 of the semiconductor switch S3. As shown in FIG. The current IG causes a voltage to be generated in the line L because the line L has a resistance, and this voltage is superimposed on the measurement voltage. For this reason, there was a problem that accurate measurement could not be performed.
この発明の目的は、フライングキャパシタの電圧測定の際、オンする2つの半導体スイッチのオン時間のズレや、コモンモード電圧の影響を受けることなくフライングキャパシタの電圧測定を正確に行うことのできる測定装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a measuring device capable of accurately measuring the voltage of a flying capacitor without being affected by the deviation of the on-time of two semiconductor switches that are turned on or the influence of a common mode voltage when measuring the voltage of the flying capacitor. Is to provide.
請求項1の発明は、センサと、このセンサの一方の出力端子に接続された第1半導体スイッチと、この第1半導体スイッチに接続された第2半導体スイッチと、前記センサの他方の出力端子に接続された第3半導体スイッチと、この第3半導体スイッチに接続された第4半導体スイッチと、第1,第2半導体スイッチの接続中間点と第3,第4半導体スイッチの接続中間点との間に接続されるとともに直列接続された第1,第2フライングキャパシタとを備えた測定装置であって、
前記第1,第2フライングキャパシタの接続中間点を第5半導体スイッチを介して接地し、
前記第2半導体スイッチの出力電圧と、前記第4半導体スイッチの出力電圧との差を検出する差動電圧検出回路を設け、
この差動電圧検出回路の非反転入力端子および反転入力端子を第6半導体スイッチを介して接地したことを特徴とする測定装置。
The invention of
A connection intermediate point of the first and second flying capacitors is grounded via a fifth semiconductor switch;
A differential voltage detection circuit for detecting a difference between an output voltage of the second semiconductor switch and an output voltage of the fourth semiconductor switch ;
A non-inverting input terminal and an inverting input terminal of the differential voltage detection circuit are grounded via a sixth semiconductor switch .
請求項2の発明は、センサと、このセンサの一方の出力端子に接続された第1半導体スイッチと、この第1半導体スイッチに接続された第2半導体スイッチと、前記センサの他方の出力端子に接続された第3半導体スイッチと、この第3半導体スイッチに接続された第4半導体スイッチと、第1,第2半導体スイッチの接続中間点と第3,第4半導体スイッチの接続中間点との間に接続され且つ直列接続された第1,第2フライングキャパシタとの組み合わせを複数備えた測定装置であって、
各第1,第2フライングキャパシタの接続中間点を第5半導体スイッチを介してそれぞれ接地し、
各第2半導体スイッチの出力電圧と、各第4半導体スイッチの出力電圧との差をそれぞれ検出する1つの差動電圧検出回路を設け、
この差動電圧検出回路の非反転入力端子および反転入力端子を第6半導体スイッチを介して接地したことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a sensor, a first semiconductor switch connected to one output terminal of the sensor, a second semiconductor switch connected to the first semiconductor switch, and the other output terminal of the sensor. Between the connected third semiconductor switch, the fourth semiconductor switch connected to the third semiconductor switch, and the connection intermediate point of the first and second semiconductor switches and the connection intermediate point of the third and fourth semiconductor switches And a plurality of combinations with the first and second flying capacitors connected in series,
The connection midpoint of each of the first and second flying capacitors is grounded via the fifth semiconductor switch,
One differential voltage detection circuit for detecting the difference between the output voltage of each second semiconductor switch and the output voltage of each fourth semiconductor switch ;
The differential voltage detection circuit is characterized in that the non-inverting input terminal and the inverting input terminal are grounded via a sixth semiconductor switch .
この発明によれば、フライングキャパシタの電圧測定の際にオンする2つの半導体スイッチのオン時間にズレがあっても正確な測定を行うことができる。また、コモンモード電圧の影響を受けることなくフライングキャパシタの電圧測定を正確に行うことができる。 According to the present invention, accurate measurement can be performed even if there is a deviation in the on-time of the two semiconductor switches that are turned on when measuring the voltage of the flying capacitor. In addition, the flying capacitor voltage can be accurately measured without being affected by the common mode voltage.
以下、この発明に係る測定装置の1つである多点温度測定装置の実施例を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, an embodiment of a multi-point temperature measuring device which is one of measuring devices according to the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は多点温度測定装置10の構成を示した回路図である。この多点温度測定装置10は、各測定点の温度を測定する複数の測定回路11A,11B…と、各測定回路11A,11B…から出力される電圧の差を検出する差動電圧検出回路12と、半導体スイッチ(第6半導体スイッチ)13と、差動電圧検出回路12が出力する出力電圧をA/D変換するA/D変換器14と、A/D変換器14から出力されるデジタル信号に基づいて各測定点の温度を算出する測定制御部20等とを備えている。
FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the multipoint
測定回路11Aは、所定の測定点の温度を検出する熱電対(センサ)TU1と、この熱電対TU1の一方の端子に接続された半導体スイッチ(第1半導体スイッチ)SW1と、この半導体スイッチSW1に直列接続された半導体スイッチ(第2半導体スイッチ)SW2と、熱電対TU1の他方の端子に接続された半導体スイッチ(第3半導体スイッチ)SW3と、この半導体スイッチSW3に直列接続された半導体スイッチ(第4半導体スイッチ)SW4と、直列接続されたフライングキャパシタ(第1,第2フライングキャパシタ)CF1,CF2と、フライングキャパシタCF1,CF2の接続中間点に接続された半導体スイッチSW5とを備えている。
The
直列接続された第1,第2フライングキャパシタCF1,CF2は、半導体スイッチSW1,SW2の接続中間点と半導体スイッチSW3,SW4の接続中間点との間に接続されており、半導体スイッチSW5は接地され、この半導体スイッチSW5を介してフライングキャパシタCF1,CF2の接続中間点が接地されている。また、第1,第2フライングキャパシタCF1,CF2の容量は同一となっている。 The first and second flying capacitors CF1 and CF2 connected in series are connected between the connection intermediate point of the semiconductor switches SW1 and SW2 and the connection intermediate point of the semiconductor switches SW3 and SW4, and the semiconductor switch SW5 is grounded. The intermediate connection point of the flying capacitors CF1 and CF2 is grounded through the semiconductor switch SW5. Further, the first and second flying capacitors CF1 and CF2 have the same capacitance.
また、半導体スイッチSW2と差動電圧検出回路12の入力端子(非反転入力端子)12aとを接続するラインL1と、半導体スイッチSW4と差動電圧検出回路12の入力端子(反転入力端子)12bとを接続するラインL2とが半導体スイッチ13を介して接地されている。
Further, a line L1 connecting the semiconductor switch SW2 and the input terminal (non-inverting input terminal) 12a of the differential
測定制御部20は、CPU等から構成され、各半導体スイッチSW1〜SW5,13や測定回路B…の各半導体スイッチのオン・オフを制御するようになっている。
The
測定回路Bは、測定回路Aと同様な構成となっているので、その説明は省略する。 Since the measurement circuit B has the same configuration as the measurement circuit A, the description thereof is omitted.
なお、半導体スイッチSW1,SW3,SW1′,SW3′…は1つのマルチプレクサで構成し、半導体スイッチSW2,SW4,SW5,SW2′,SW4′,SW5′…は1つのマルチプレクサで構成してもよい。
[動 作]
次に、上記のように構成される多点温度測定装置10の動作を図2に示すタイムチャートを参照しながら説明する。
The semiconductor switches SW1, SW3, SW1 ′, SW3 ′,... May be configured by one multiplexer, and the semiconductor switches SW2, SW4, SW5, SW2 ′, SW4 ′, SW5 ′,.
[Operation]
Next, the operation of the multipoint
先ず、測定制御部20の制御により、測定回路11Aの半導体スイッチSW1,SW3および半導体スイッチ13がオンし、半導体スイッチSW2,SW4がオフする(時点t1)。
First, under the control of the
半導体スイッチSW1,SW3のオンにより、フライングキャパシタCF1,CF2の両端に測定電圧Vnがチャージされる。これと同時にコモンモード電圧Vcにより半導体スイッチSW2,SW4,SW5の浮遊容量Cf2,Cf4,Cf5はチャージされる。 When the semiconductor switches SW1 and SW3 are turned on, the measurement voltage Vn is charged across the flying capacitors CF1 and CF2. At the same time, the stray capacitances Cf2, Cf4, Cf5 of the semiconductor switches SW2, SW4, SW5 are charged by the common mode voltage Vc.
浮遊容量Cf2,Cf4にチャージされる電荷は、浮遊容量Cf2,Cf4が等しいことによりコモンモード電圧Vc分について等しい量となる。また、浮遊容量Cf2には測定電圧Vn分もチャージされる。 The charges charged in the stray capacitances Cf2 and Cf4 have the same amount for the common mode voltage Vc because the stray capacitances Cf2 and Cf4 are equal. The stray capacitance Cf2 is also charged with the measurement voltage Vn.
次に、半導体スイッチSW1,SW3,13がオフして(時点t2)、サンプリングが終了すると、この終了時点までチャージされた各電荷量がフライングキャパシタCF1,CF2や浮遊容量Cf2,Cf4,Cf5に保持される。 Next, when the semiconductor switches SW1, SW3, and 13 are turned off (time t2) and the sampling is completed, the respective charge amounts charged up to the end time are held in the flying capacitors CF1 and CF2 and the stray capacitances Cf2, Cf4, and Cf5. Is done.
そして、半導体スイッチSW5がオンする(時点t3)。この半導体スイッチSW5のオンにより、浮遊容量Cf2,Cf4にチャージされた電荷が放電されてフライングキャパシタCF1,CF2に充電される。 Then, the semiconductor switch SW5 is turned on (time point t3). When the semiconductor switch SW5 is turned on, the charges charged in the stray capacitances Cf2 and Cf4 are discharged and charged in the flying capacitors CF1 and CF2.
浮遊容量Cf2,Cf4の電荷の放電は矢印P1,P2で示す方向に同時に行われ、しかも浮遊容量Cf2,Cf4が等しいことにより、コモンモード電圧Vcによる測定電圧Vnへの影響は相殺されることになる。 The discharge of the stray capacitances Cf2 and Cf4 is simultaneously performed in the directions indicated by the arrows P1 and P2, and the stray capacitances Cf2 and Cf4 are equal to each other, so that the influence of the common mode voltage Vc on the measurement voltage Vn is offset. Become.
半導体スイッチSW5がオンした後(時点t4)、半導体スイッチSW2,SW4がオンされる。この半導体スイッチSW2,SW4のオンにより、フライングキャパシタCF1,CF2の電圧Va,Vbが差動電圧検出回路12の入力端子12a,12bに入力される。そして、差動電圧検出回路12は入力端子12a,12bの入力電圧の差に応じた電圧を出力する。
After the semiconductor switch SW5 is turned on (time point t4), the semiconductor switches SW2 and SW4 are turned on. By turning on the semiconductor switches SW2 and SW4, the voltages Va and Vb of the flying capacitors CF1 and CF2 are input to the
そして、半導体スイッチSW2,SW4がオンする時間がズレていても、半導体スイッチSW5のオンによってコモンモード電圧Vcによる測定電圧Vnへの影響は相殺されていることにより、差動電圧検出回路12の出力はコモンモード電圧Vcによる影響を受けないことになる。 Even if the time when the semiconductor switches SW2 and SW4 are turned on is deviated, the influence of the common mode voltage Vc on the measured voltage Vn is canceled by the turning on of the semiconductor switch SW5. Is not affected by the common mode voltage Vc.
また、差動電圧検出回路12は、フライングキャパシタCF1,CF2の接続中点を基準にしたVa−Vbの電圧差に応じた電圧を出力する。すなわち、測定電圧Vnに応じた出力電圧Vjが差動電圧検出回路12から出力され、この出力電圧Vjはコモンモード電圧Vcの影響を受けていない。
The differential
A/D変換器14は、その出力電圧Vjをデジタル量Djに変換し、測定制御部20がそのデジタル量Djに基づいて、熱電対TU1によって測定した測定点の温度を演算して求める。
The A /
ところで、半導体スイッチSW5がオンしたとき、浮遊容量Cf4に蓄えられた電荷量のフライングキャパシタCF2への影響をΔVcとすると、浮遊容量Cf2に蓄えられた電荷量のフライングキャパシタCF1への影響は、ΔVc+ΔVnで表され、上述のように、測定電圧Vnへのコモンモード電圧の影響は相殺されることになる。 When the semiconductor switch SW5 is turned on, if the amount of charge stored in the stray capacitance Cf4 on the flying capacitor CF2 is ΔVc, the amount of charge stored in the stray capacitance Cf2 on the flying capacitor CF1 is ΔVc + ΔVn. As described above, the influence of the common mode voltage on the measurement voltage Vn is canceled out.
Vnによる影響は、Cf2/CF1=1/400000となり(CF1,CF2=2μF、Cf1,Cf2=5pF)、フライングキャパシタCF1,CF2の電圧(Va−Vb=Vf)は、Vf=Vn(1+1/400000)となる。この値VfはVnに比例するものであり、1》1/400000であることにより、AD変換時にVn/400000の値はデジタル値として現れない。すなわち、AD変換時にゲイン補正されることになる。 The influence of Vn is Cf2 / CF1 = 1/400000 (CF1, CF2 = 2 μF, Cf1, Cf2 = 5 pF), and the voltage (Va−Vb = Vf) of the flying capacitors CF1, CF2 is Vf = Vn (1 + 1/400000). ) This value Vf is proportional to Vn. Since 1 >> 1/400000, the value of Vn / 400000 does not appear as a digital value during AD conversion. That is, gain correction is performed during AD conversion.
また、半導体スイッチSW5がオンした以後において、コモンモード電圧VcがフライングキャパシタCF1,CF2にそれぞれ与える電圧の影響の大きさは、フライングキャパシタCF1,CF2の接続中点を基準にして、熱電対TU1からその接続中点までの2つ回路が同一回路構成となっていることにより、同じ大きさの電圧値となる。このため、差動電圧検出回路12によりコモンモード電圧Vcの影響は除去される。
In addition, after the semiconductor switch SW5 is turned on, the magnitude of the influence of the common mode voltage Vc on the flying capacitors CF1 and CF2 is determined from the thermocouple TU1 based on the connection midpoint of the flying capacitors CF1 and CF2. Since the two circuits up to the connection midpoint have the same circuit configuration, the voltage values have the same magnitude. Therefore, the influence of the common mode voltage Vc is removed by the differential
上述のように、半導体スイッチSW2,SW4のオン時間のズレによって、コモンモード電圧の影響を受けることなくフライングキャパシタの電圧測定を正確に行うことができる。また、半導体スイッチSW2,SW4がオンしているとき、半導体スイッチSW5がオンしているので、差動電圧検出回路12によりコモンモード電圧Vcの影響が除去される。このため、さらにフライングキャパシタの電圧測定を正確に行うことができる。
As described above, it is possible to accurately measure the voltage of the flying capacitor without being affected by the common mode voltage due to the deviation of the on-time of the semiconductor switches SW2 and SW4. Further, since the semiconductor switch SW5 is on when the semiconductor switches SW2 and SW4 are on, the differential
多点温度の測定を行う場合、測定回路11Aの半導体スイッチSW1,SW3のオンと同時に、各測定回路11B…の半導体スイッチSW1′,SW3′をオンし、測定回路11Aの半導体スイッチSW1,SW3のオフと同時に、各測定回路11B…の半導体スイッチSW1′,SW3′をオフする。
When measuring the multipoint temperature, the semiconductor switches SW1 ', SW3' of each
この後、測定回路11Aの測定終了後に、すなわち、測定回路11Aの半導体スイッチSW2,SW4,SW5をオフした後(時点t5)、測定回路11Aの半導体スイッチSW2,SW4,SW5のオンと同様にして測定回路11Bの半導体スイッチSW2′,SW4′,SW5′をオンして、測定回路11Bの熱電対TU2によって測定した測定点の温度を演算制御部12が演算して求める。
Thereafter, after the measurement of the
この測定回路11Bによって測定した測定点の温度を求めたら、上記と同様にして各測定点の温度を求めていく。
When the temperature at the measurement point measured by the
上記実施例では、多点温度測定装置について説明したが、1点の温度測定を行う温度測定装置であってもよく、また、温度以外の他のものを測定する測定装置であってもよい。 In the above embodiment, the multi-point temperature measuring device has been described. However, a temperature measuring device that measures temperature at one point may be used, or a measuring device that measures other than temperature may be used.
10 多点温度測定装置
12 差動電圧検出回路
TU1 熱電対(センサ)
TU2 熱電対(センサ)
SW1 半導体スイッチ
SW2 半導体スイッチ
SW3 半導体スイッチ
SW4 半導体スイッチ
SW5 半導体スイッチ
CF1 フライングキャパシタ
CF2 フライングキャパシタ
10 Multi-point
TU2 thermocouple (sensor)
SW1 Semiconductor switch SW2 Semiconductor switch SW3 Semiconductor switch SW4 Semiconductor switch SW5 Semiconductor switch CF1 Flying capacitor CF2 Flying capacitor
Claims (3)
前記第1,第2フライングキャパシタの接続中間点を第5半導体スイッチを介して接地し、
前記第2半導体スイッチの出力電圧と、前記第4半導体スイッチの出力電圧との差を検出する差動電圧検出回路を設け、
この差動電圧検出回路の非反転入力端子および反転入力端子を第6半導体スイッチを介して接地したことを特徴とする測定装置。 A sensor, a first semiconductor switch connected to one output terminal of the sensor, a second semiconductor switch connected to the first semiconductor switch, and a third semiconductor switch connected to the other output terminal of the sensor And a fourth semiconductor switch connected to the third semiconductor switch, and a series connection between a connection intermediate point of the first and second semiconductor switches and a connection intermediate point of the third and fourth semiconductor switches. A measuring device comprising first and second flying capacitors,
A connection intermediate point of the first and second flying capacitors is grounded via a fifth semiconductor switch;
A differential voltage detection circuit for detecting a difference between an output voltage of the second semiconductor switch and an output voltage of the fourth semiconductor switch ;
A non-inverting input terminal and an inverting input terminal of the differential voltage detection circuit are grounded via a sixth semiconductor switch .
各第1,第2フライングキャパシタの接続中間点を第5半導体スイッチを介してそれぞれ接地し、
各第2半導体スイッチの出力電圧と、各第4半導体スイッチの出力電圧との差をそれぞれ検出する1つの差動電圧検出回路を設け、
この差動電圧検出回路の非反転入力端子および反転入力端子を第6半導体スイッチを介して接地したことを特徴とする測定装置。 A sensor, a first semiconductor switch connected to one output terminal of the sensor, a second semiconductor switch connected to the first semiconductor switch, and a third semiconductor switch connected to the other output terminal of the sensor And a fourth semiconductor switch connected to the third semiconductor switch, and a series connection between a connection middle point of the first and second semiconductor switches and a connection middle point of the third and fourth semiconductor switches. A measuring device having a plurality of combinations with the first and second flying capacitors,
The connection midpoint of each of the first and second flying capacitors is grounded via the fifth semiconductor switch,
One differential voltage detection circuit for detecting the difference between the output voltage of each second semiconductor switch and the output voltage of each fourth semiconductor switch ;
A non-inverting input terminal and an inverting input terminal of the differential voltage detection circuit are grounded via a sixth semiconductor switch .
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