JP4670775B2 - measuring device - Google Patents
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Description
本発明は、デジタルサンプリング方式で電流・電圧・電力を測定する測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus that measures current, voltage, and power by a digital sampling method.
従来、入力回路で測定したアナログの電流、電圧値を所定のサンプリング周期でデジタル変換し、電流値、電圧値あるいは演算による電力値を測定値として出力する、いわゆるデジタルサンプリング方式で電流・電圧・電力を測定する測定装置がある。例えば、特許文献1には、デジタルサンプリング方式の積算電力量計であって、インターバル毎の積算電力を求める機能に加えて、積算電力をリアルタイムでモニタリングする技術が開示されている。
Conventionally, analog, current, and voltage values measured with an input circuit are digitally converted at a specified sampling period, and the current value, voltage value, or calculated power value is output as a measured value. There is a measuring device to measure. For example,
すなわち図4は、上述した従来の測定装置100の構成を模式的に示すブロック図である。測定装置100は、入力回路111、112、A/D121、122、ピーク検出回路123、124、DSP130、ピークラッチ回路140、CPU150、表示部160を有する構成である。
That is, FIG. 4 is a block diagram schematically showing the configuration of the
入力回路111、112は、特に図示しない端子から入力される電圧V、電流Iを正規化する。A/D121、122は、入力回路111、112の出力を所定のダイナミックレンジ(変換範囲)でアナログ・デジタル変換する。なお、A/D121、122は、変換範囲の上限値又は下限値を超えた値が入力された場合はその上限値又は下限値を出力する。ピーク検出回路123、124は、入力回路111、112の出力がA/D121、122の変換範囲外である場合のピークオーバを検出し、ピークオーバ信号をピークラッチ回路140に出力する。
The
DSP130(Digital Signal Processor)は、特に図示しない作業用RAM(Random Access Memory)などを有し、所定のサンプリング周期でA/D121、122の出力を取得、つまり電圧値や電流値を取得し、瞬時電力(電流値×電圧値)の算出を行う。また、DSP130は、作業用RAMに所定時間分のデータ(例えば1サイクル分のデータ)を格納することで、積算電力の算出、平均電流値や平均電圧値の算出などを行う。例えば、DSP130は、上記所定時間を1周期(1波)分に設定することで、周期ごとの電圧、電流、電力を求めるサイクルバイサイクル測定を行う。
The DSP 130 (Digital Signal Processor) has a working RAM (Random Access Memory) (not shown) and the like, acquires the outputs of the A /
具体的には、DSP130は、電流、電圧、電力の測定(サイクルバイサイクル測定)時において図5に示すような動作処理を行う。同図に示すように、先ず、所定のサイクル分の測定を行うための測定ループ処理(ステップS101〜S109)が開始される。次いで、電圧VのA/D値(瞬時電圧)がA/D121から取得され(ステップS102)、電流IのA/D値(瞬時電流)がA/D122から取得され(ステップS103)、その取得された瞬時電圧と瞬時電流の積による瞬時電力が算出されて(ステップS104)、取得された瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力が作業用RAMなどに格納される(ステップS105)。
Specifically, the
ステップS105に次いで、所定の測定区間、例えばサイクルバイサイクル測定時における1サイクル分の測定区間が終了したか否かが判定され(ステップS106)、終了していない場合はステップS102へ戻る。つまり、このステップS102〜S106までの一連の処理は、瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力をサンプリングする処理であり、予め設定されたサンプリング周期で行われる。 After step S105, it is determined whether or not a predetermined measurement section, for example, a measurement section for one cycle at the time of cycle-by-cycle measurement, is completed (step S106). If not completed, the process returns to step S102. That is, a series of processing from step S102 to S106 is processing for sampling the instantaneous voltage, the instantaneous current, and the instantaneous power, and is performed at a preset sampling cycle.
ステップS106に次いで、1測定区間のサンプリングが終了した場合(ステップS106:YES)、作業用RAMなどに格納された瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力などを元に積算電力の算出、平均電流値や平均電圧値の算出などの測定値の算出が行われ(ステップS107)、その算出された測定値がCPU150へ転送され(ステップS108)、次のループに移行される(ステップS109)。DSP130では、上述した動作処理を行い、測定値をCPU150へ出力する。
Following step S106, when sampling of one measurement section is completed (step S106: YES), the integrated power is calculated based on the instantaneous voltage, instantaneous current, instantaneous power, etc. stored in the working RAM or the like, the average current value, A measurement value such as an average voltage value is calculated (step S107), and the calculated measurement value is transferred to the CPU 150 (step S108), and the process proceeds to the next loop (step S109). The DSP 130 performs the above-described operation process and outputs a measurement value to the
ピークラッチ回路140は、ピーク検出回路123、124から出力されるピークオーバ信号をラッチし、そのピークオーバ信号を割り込みハンドラを通じてCPU150に伝える。CPU150(Central Processing Unit)は、制御プログラムなどが格納されたROM(Read Only Memory)やRAMなどを備え、当該制御プログラムをRAMに読み出して順次実行することで測定装置100の各部を統括制御する。表示部160は、LCD(Liquid Crystal Display)などであり、CPU150からの指示に基づいた画面表示を行う。
The
測定装置100は、CPU150の制御の下、DSP130での測定・演算結果や、割り込みハンドラを通じたピークオーバ信号に基づいたピークオーバ情報などを表示部160の画面に表示する。具体的には、図6に示すように、入力電流を所定のサンプリング周期でデジタル変換し、測定区間K1、K2、K3…でサイクルバイサイクル測定を行った場合、DSP130では測定区間K1、K2、K3でのサンプリングに次いで、演算、出力が順次行われ、CPU150ではその出力を受けて測定値の表示制御が行われる。また、時刻t1〜t2の間や時刻t3〜t4の間のA/D変換範囲外のピークオーバ部分は、ピーク検出回路124での検出に基づいて、直ちにCPU150でピークオーバの表示制御が行われる。
上述したように、従来の測定装置100におけるピークオーバの検出・表示は、測定区間ごとの測定値との間で同期を取ってはいなかった。これは、ピークオーバの検出・表示が入力回路の保護と危険防止を本来の目的とするためである。
As described above, the detection and display of peak over in the
また、サンプリングの過程において、瞬間的に過大入力などが発生し、A/D変換範囲を超えてしまった場合、誤って変化されたデジタル値(測定値)を含んだまま演算された電流・電圧・電力の測定値は、演算結果が許容範囲内であっても、測定値は正常でないといった事象が発生する。しかし、測定区間を複数周期にわたって長く設定する場合などでは、サンプリング数が多くなるため、それほど大きく影響するものではなかった。 In addition, when an excessive input occurs instantaneously in the sampling process and exceeds the A / D conversion range, the current / voltage calculated with the digital value (measurement value) changed by mistake. -Even if the calculation result is within the allowable range, an event that the measurement value is not normal occurs. However, when the measurement interval is set to be long over a plurality of periods, the number of samplings increases, so that the influence is not so great.
しかしながら、近年では、風力発電や小型モータの評価等において、1周期(1波)ごとに電圧、電流、電力を求めるサイクルバイサイクル測定の要求が高まってきている。このサイクルバイサイクル測定では、従来の複数周期にわたるサンプリングに比べてサンプリング数も少なく、1周期ごとの測定値を厳密に要求している背景からも、ピークオーバ検出時の測定値の正当性が無視できなくなる。ところが、従来の測定装置100では、ピークオーバの検出と測定値との間で同期が取れていないため、測定値の正当性を評価することができなかった。
However, in recent years, in the evaluation of wind power generation and small motors, there has been an increasing demand for cycle-by-cycle measurement for obtaining voltage, current, and power for each cycle (one wave). In this cycle-by-cycle measurement, the number of samples is smaller than the conventional sampling over multiple periods, and the validity of the measured value at the time of peak over detection is ignored because of the strict demand for the measured value for each period. become unable. However, in the
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力を測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる測定装置を提供することである。 The present invention has been made in view of such problems, and the object of the present invention is to determine the validity of the measurement value when measuring current, voltage, and power with a plurality of sampling data for each predetermined section. An object of the present invention is to provide a measuring apparatus capable of evaluating the sex.
上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、入力データを所定のサンプリング周期でA/D変換して取得するサンプリングデータに基づいて、測定区間ごとの測定値を算出する演算手段を有する測定装置において、前記いずれかの測定区間において、A/D変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該A/D変換範囲に基づいた値であるか否かを検出する検出手段と、前記いずれかの測定区間に関する前記検出結果を格納するフラグ用メモリと、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記フラグ用メモリに格納された検出結果とを出力するデータ出力手段と、前記データ出力手段により出力された測定値と検出結果とを表示部に表示させる表示制御手段と、を備え、前記検出手段は、前記A/D変換したサンプリングデータが当該A/D変換範囲内に予め設定された上限閾値以上の値又は下限閾値以下の値であるか否かを判定し、当該判定の際、前記いずれかの測定区間において、前記A/D変換したサンプリングデータが前記上限閾値以上の値である場合に上限を超えたピークオーバ状態であることを検出し、前記いずれかの測定区間において、前記A/D変換したサンプリングデータが前記下限閾値以下の値である場合に下限を下回るピークオーバ状態であることを検出し、前記データ出力手段は、前記検出手段により上限を超えたピークオーバ状態であることが検出された場合、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記上限を超えたピークオーバ状態である検出結果とを出力し、前記検出手段により下限を下回るピークオーバ状態であることが検出された場合、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記下限を下回るピークオーバ状態である検出結果とを出力し、前記表示制御手段は、前記データ出力手段により前記演算手段で算出された測定値と前記上限を超えたピークオーバ状態である検出結果とが出力された場合、前記上限を超えたピークオーバ状態であることを示す情報を、前記上限を超えたピークオーバ状態が検出された測定区間に対応する位置に表示させ、前記演算手段で算出された測定値と前記下限を下回るピークオーバ状態である検出結果とが出力された場合、前記下限を超えたピークオーバ状態であることを示す情報を、前記下限を超えたピークオーバ状態が検出された測定区間に対応する位置に表示させることを特徴とする。
In order to solve the above-described problem, the invention according to
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記検出手段における予め設定された上限閾値は前記A/D変換範囲の上限値であることを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the preset upper limit threshold in the detection means is an upper limit value of the A / D conversion range.
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記検出手段における予め設定された下限閾値は前記A/D変換範囲の下限値であることを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the preset lower limit threshold value in the detecting means is a lower limit value of the A / D conversion range.
本発明によれば、入力データを所定のサンプリング周期でA/D変換して取得するサンプリングデータに基づいて測定区間ごとの測定値の算出する測定装置において、いずれかの測定区間に関して、A/D変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該A/D変換範囲に基づいた値であるか否かを検出した検出結果と、前記算出された測定値とを出力する構成であるため、所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力などを測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる。 According to the present invention, in a measurement apparatus that calculates a measurement value for each measurement section based on sampling data acquired by A / D converting input data at a predetermined sampling period, A / D Since it is a configuration for outputting a detection result obtained by detecting whether or not input data when converting and obtaining sampling data is a value based on the A / D conversion range, and the calculated measurement value, When current, voltage, power, etc. are measured with a plurality of sampling data for each predetermined section, the validity of the measured value can be evaluated.
以下、この発明の実施の形態について図1〜3を参照して説明するが、この発明は以下の実施の形態に限定しない。また、この発明の実施の形態は発明の最も好ましい一形態を示すものであり、発明の用途や用語はこれに限定しない。図1は、本発明である測定装置1の機能的構成を模式的に示すブロック図である。図2は、測定装置1の測定時の動作を例示するフローチャートである。図3は、測定装置1の表示部50に表示される測定結果を例示する概念図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3, but the present invention is not limited to the following embodiments. Further, the embodiment of the present invention shows the most preferable embodiment of the invention, and the uses and terms of the invention are not limited to this. FIG. 1 is a block diagram schematically showing a functional configuration of a
図1に示すように、測定装置1は、入力回路11、12、A/D21、22、DSP30、CPU40、表示部50を有する構成である。入力回路11、12は、特に図示しない端子から入力される電圧V、電流Iを正規化する。A/D21、22は、入力回路11、12の出力をアナログ・デジタル変換する。
As shown in FIG. 1, the
DSP30は、メモリ31、32、演算手段33、検出手段34、フラグ用メモリ35、データ出力手段36を有し、所定のサンプリング周期でA/D21、22の出力を取得、つまり電圧値や電流値の取得や、瞬時電力(電流値×電圧値)の算出を行う構成である。なお、DSP30における上記各部の機能は、特に図示しないDSP30内のROMに格納された制御プログラムを同じく特に図示しないRAMの作業領域に展開して順次実行することで、実現する構成であってよい。
The
メモリ31、32は、A/D21、22で変換されたデジタルデータ(電圧V、電流I)であり、所定のサンプリング周期で取得されたサンプリングデータを順次格納する。演算手段33は、メモリ31、メモリ32に格納されたサンプリングデータに基づいた演算を行い、測定値を算出する。演算手段33における演算は、A/D21、22で同時に取得された電圧値、電流値を元にした瞬時電力の算出など、サンプリングデータごとに演算した測定値の算出や、測定区間内のサンプリングデータの平均値(平均電圧、平均電流、平均電圧…)の算出など、測定区間ごとに演算した測定値の算出を行う。なお、測定区間は、例えばサイクルバイサイクル測定では1周期(1波)分の時間であり、特に図示しないスイッチ等の操作部などにより、予め所定の時間が設定されている。
The
検出手段34は、A/D21、22の変換範囲の最大値/最小値が予め設定されており、メモリ31、32に格納されたサンプリングデータを順次読み出して比較することで、最大値の場合は+側のピークオーバ状態、最小値の場合は−側のピークオーバ状態であることを検出する。例えば、A/D21、22が16bitのA/D変換を行ってFFFF〜0000の値を出力する場合、検出手段34は、サンプリングデータを読み出して、入力が正しく変換されたか否かの真偽が不明な最大値(FFFF)又は最小値(0000)である場合にピークオーバ状態であることを検出する。フラグ用メモリ35は、検出手段34で検出された結果をメモリ31、32に格納されるサンプリングデータと対応付けて記憶するメモリである。
In the detection means 34, the maximum value / minimum value of the conversion ranges of the A /
なお、検出手段34は、A/D21、22の変換範囲の最大値/最小値が予め設定される構成だけでなく、当該最大値/最小値に対して、若干のマージンを持って上限又は下限を示す閾値が予め設定されており、その上限の閾値以上又は下限の閾値以下の場合にピークオーバ状態を検出する構成であってよい。例えば、A/D21、22が16bitのA/D変換を行ってFFFF〜0000の値を出力し、上限の閾値がFFF0、下限の閾値が000Fに設定されている場合、検出手段34は、サンプリングデータを読み出して、FFFF〜FFF0までの値又は0000〜000Fまでの値の場合にピークオーバ状態であることを検出する。
Note that the detection means 34 is not limited to a configuration in which the maximum value / minimum value of the conversion ranges of the A /
データ出力手段36は、いずれかの測定区間に関して、検出手段34で検出した結果と演算手段33で算出された測定値とをCPU40に出力する機能部であり、演算手段33で測定区間ごとに演算して算出された測定値を出力する際に、その測定区間のサンプリングデータに関する検出手段34での検出結果をフラグ用メモリ35から読み出して出力する。
The data output means 36 is a functional unit that outputs a result detected by the detection means 34 and a measurement value calculated by the calculation means 33 to the
ここで、電流、電圧、電力の測定(例えばサイクルバイサイクル測定)時にDSP30が行う動作について説明する。図2に示すように、先ず、所定のサイクル分の測定を行うための測定ループ処理(ステップS11〜S31)が開始される。
Here, an operation performed by the
なお、この測定ループ処理において、電圧の取得に関するステップS12、S13はメモリ31で行われる処理である。また、電圧のA/D値の判定とその結果であるピークオーバ情報をフラグ用メモリ35へ格納するステップS14〜S18は検出手段34で行われる処理である。また、電流の取得に関するステップS19、S20はメモリ32で行われる処理である。また、電流のA/D値の判定とその結果であるピークオーバ情報をフラグ用メモリ35へ格納するステップS21〜S25は検出手段34で行われる処理である。また、瞬時電圧の算出から測定区間終了判定及び測定値算出に関するステップS26〜S29は演算手段33で行われる処理である。また、測定値の出力と測定ループの終了判定に関するステップS30、S31はデータ出力手段36で行われる処理である。
In this measurement loop process, steps S12 and S13 related to voltage acquisition are processes performed in the
次いで、電圧VのA/D値(瞬時電圧)がA/D21から取得され(ステップS12)、取得された電圧Vがメモリ31に格納される(ステップS13)。 Next, an A / D value (instantaneous voltage) of the voltage V is acquired from the A / D 21 (step S12), and the acquired voltage V is stored in the memory 31 (step S13).
次いで、電圧VのA/D値が変換範囲の最大値であるか否かが判定され(ステップS14)、最大値でない場合は電圧VのA/D値が変換範囲の最小値であるか否かが判定される(ステップS15)。なお、ステップS14において最大値である場合は電圧が+側のピークオーバであることがメモリ31に格納された電圧Vに対応付けてフラグ用メモリ35に格納され(ステップS16、S18)、同様に、ステップS15において最小値である場合は電圧が−側のピークオーバであることがメモリ31に格納された電圧Vに対応付けてフラグ用メモリ35に格納される(ステップS17、S18)。
Next, it is determined whether or not the A / D value of the voltage V is the maximum value in the conversion range (step S14). If not, the A / D value of the voltage V is the minimum value in the conversion range. Is determined (step S15). If the voltage is the maximum value in step S14, it is stored in the
次いで、電流IのA/D値(瞬時電流)がA/D22から取得され(ステップS19)、取得された電流Iがメモリ32に格納される(ステップS20)。 Next, the A / D value (instantaneous current) of the current I is acquired from the A / D 22 (step S19), and the acquired current I is stored in the memory 32 (step S20).
次いで、電流IのA/D値が変換範囲の最大値であるか否かが判定され(ステップS21)、最大値でない場合は電流IのA/D値が変換範囲の最小値であるか否かが判定される(ステップS22)。なお、ステップS21において最大値である場合は電流が+側のピークオーバであることがメモリ32に格納された電流Iに対応付けてフラグ用メモリ35に格納され(ステップS23、S25)、同様に、ステップS22において最小値である場合は電流が−側のピークオーバであることがメモリ32に格納された電流Iに対応付けてフラグ用メモリ35に格納される(ステップS24、S25)。
Next, it is determined whether or not the A / D value of the current I is the maximum value in the conversion range (step S21). If not, the A / D value of the current I is the minimum value in the conversion range. Is determined (step S22). If the current value is the maximum value in step S21, it is stored in the
次いで、瞬時電圧と瞬時電流の積による瞬時電力が算出され(ステップS26)、メモリ31、32等のメモリに格納され(ステップS27)、所定の測定区間、例えばサイクルバイサイクル測定時における1サイクル分の測定区間が終了したか否かが判定されて(ステップS28)、終了していない場合はステップS12に戻って、次のサンプリングデータに関する処理が行われる。つまり、このステップS12〜S28までの一連の処理は、瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力を取得する処理であり、予め設定されたサンプリング周期で行われる。
Next, the instantaneous power by the product of the instantaneous voltage and the instantaneous current is calculated (step S26), stored in a memory such as the
ステップS28に次いで、1測定区間のサンプリングが終了した場合(ステップS28:YES)、メモリ31、32に格納された瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力などを元に、積算電力の算出、平均電流値や平均電圧値の算出などの上記測定区間における測定値の算出が行われる(ステップS29)。
After step S28, when sampling of one measurement section is completed (step S28: YES), calculation of integrated power, average current value based on instantaneous voltage, instantaneous current, instantaneous power, etc. stored in
次いで、その算出された測定値と共に、フラグ用メモリ35に格納された上記測定区間の測定値の算出に係るサンプリングデータのピークオーバに関する情報(電圧/電流)がCPU40に出力され(ステップS30)、次のループに移行される(ステップS31)。
Next, information (voltage / current) relating to the peak over of sampling data related to the calculation of the measurement value of the measurement section stored in the
DSP30では、上述した動作を行うことで、測定区間ごとの測定値(電圧、電流、電力)を出力する際に、その測定区間に係るサンプリングデータがA/D21、22のダイナミックレンジ(変換範囲)内の値であるか否かを検出した結果であるピークオーバ情報を出力する。
In the
なお、上述したDSP30の動作説明はサンプリングデータが変換範囲の最大値(上限値)又は最小値(下限値)の場合を検出する構成であるが、前述した上限の閾値以上又は下限の閾値以下の場合を検出する構成も同様であることは言うまでもない。
The above description of the operation of the
CPU40は、制御プログラムなどが格納されたROMやRAMなどを備え、当該制御プログラムをRAMに読み出して順次実行することで測定装置1の各部を統括制御する。表示部50は、LCDやCRT(Cathode Ray Tube)などであり、CPU40からの指示に基づいた画面表示を行う。
The
測定装置1は、上述した構成により、表示部50において、図3に示すようなDSP30からの出力に基づいた測定結果を表示することができる。つまり、表示部50には、
測定区間である「No.」ごとの「周波数」、「測定電圧」、「測定電流」、「測定電力」などの測定結果が表示される。
With the above-described configuration, the measuring
Measurement results such as “frequency”, “measurement voltage”, “measurement current”, “measurement power” for each “No.” that is a measurement section are displayed.
また、表示部50には、DSP30からの出力に基づいて行われるため、いずれかの測定区間に係るサンプリングデータが変換範囲の下限を下回ったピークオーバである場合に、そのことを示す「P−」がその測定区間に対応する位置に表示される。同様に、表示部50には、DSP30からの出力に基づいて、いずれかの測定区間に係るサンプリングデータが変換範囲の上限を上回ったピークオーバである場合に、そのことを示す「P+」がその測定区間に対応する位置に表示される。このため、ユーザは、測定区間の測定値の正当性を視認することができる。
Further, since the
以上のように、測定装置1は、入力データを所定のサンプリング周期でA/D変換して取得するサンプリングデータに基づいて、演算手段33で測定区間ごとの測定値を算出し、A/D変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該A/D変換範囲に収まる値であるか否かを検出手段34で検出し、当該いずれかの測定区間に関して、検出手段34で検出した結果と演算手段33で算出された測定値とを出力するデータ出力手段36を備える構成である。このため、測定装置1は、所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力などを測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる。
As described above, the measuring
なお、本実施の形態における記述は、本発明の一例を示すものであり、これに限定するものではない。本実施の形態における構成及び動作に関しては、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。 Note that the description in the present embodiment shows an example of the present invention, and the present invention is not limited to this. The configuration and operation in the present embodiment can be changed as appropriate without departing from the spirit of the present invention.
1 測定装置
11、12 入力回路
21、22 A/D
30 DSP
31、32 メモリ
33 演算手段
34 検出手段
35 フラグ用メモリ
36 データ出力手段
40 CPU
50 表示部
V 電圧
I 電流
1 Measuring
30 DSP
31, 32
50 Display V Voltage I Current
Claims (3)
前記いずれかの測定区間において、A/D変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該A/D変換範囲に基づいた値であるか否かを検出する検出手段と、
前記いずれかの測定区間に関する前記検出結果を格納するフラグ用メモリと、
前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記フラグ用メモリに格納された検出結果とを出力するデータ出力手段と、
前記データ出力手段により出力された測定値と検出結果とを表示部に表示させる表示制御手段と、を備え、
前記検出手段は、前記A/D変換したサンプリングデータが当該A/D変換範囲内に予め設定された上限閾値以上の値又は下限閾値以下の値であるか否かを判定し、当該判定の際、前記いずれかの測定区間において、前記A/D変換したサンプリングデータが前記上限閾値以上の値である場合に上限を超えたピークオーバ状態であることを検出し、前記いずれかの測定区間において、前記A/D変換したサンプリングデータが前記下限閾値以下の値である場合に下限を下回るピークオーバ状態であることを検出し、
前記データ出力手段は、前記検出手段により上限を超えたピークオーバ状態であることが検出された場合、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記上限を超えたピークオーバ状態である検出結果とを出力し、前記検出手段により下限を下回るピークオーバ状態であることが検出された場合、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記下限を下回るピークオーバ状態である検出結果とを出力し、
前記表示制御手段は、
前記データ出力手段により前記演算手段で算出された測定値と前記上限を超えたピークオーバ状態である検出結果とが出力された場合、前記上限を超えたピークオーバ状態であることを示す情報を、前記上限を超えたピークオーバ状態が検出された測定区間に対応する位置に表示させ、前記演算手段で算出された測定値と前記下限を下回るピークオーバ状態である検出結果とが出力された場合、前記下限を超えたピークオーバ状態であることを示す情報を、前記下限を超えたピークオーバ状態が検出された測定区間に対応する位置に表示させることを特徴とする測定装置。 In a measurement apparatus having a calculation means for calculating a measurement value for each measurement section based on sampling data obtained by A / D converting input data at a predetermined sampling period,
Detecting means for detecting whether or not input data when acquiring sampling data by performing A / D conversion in any one of the measurement sections is a value based on the A / D conversion range;
A flag memory for storing the detection result relating to any one of the measurement sections;
Data output means for outputting the measurement value calculated by the calculation means and the detection result stored in the flag memory for any one of the measurement sections;
Display control means for displaying the measurement value and the detection result output by the data output means on a display unit ,
The detection means determines whether the A / D converted sampling data is a value greater than or equal to a preset upper limit threshold value or less than a lower limit threshold value within the A / D conversion range. In any one of the measurement sections, the A / D converted sampling data is detected to be in a peak over state exceeding the upper limit when the sampling data is a value equal to or higher than the upper limit threshold. When the A / D converted sampling data is a value equal to or lower than the lower limit threshold, it is detected that the peak over state is below the lower limit,
It said data output means, when it is the peak over condition exceeding the upper limit is detect by the detector, wherein for any of the measured section, exceeds the upper limit and the measured value calculated by the arithmetic means outputs the detection result and a peak over condition, if it is the peak over condition is below the lower limit is detect by the detector, wherein for any of the measurement period, the measurement value calculated by the arithmetic means Output a detection result that is a peak over state below the lower limit ,
The display control means includes
When the data output means outputs the measurement value calculated by the computing means and the detection result in the peak over state exceeding the upper limit, information indicating the peak over state exceeding the upper limit, When the peak over state exceeding the upper limit is displayed at a position corresponding to the detected measurement section, and the measurement value calculated by the calculation means and the detection result of the peak over state below the lower limit are output, Information indicating that a peak over state exceeding the lower limit is displayed at a position corresponding to a measurement section in which a peak over state exceeding the lower limit is detected .
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