JP4656063B2 - メモリカードの特定方法 - Google Patents
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Description
2 フラッシュメモリ
3 メモリコントローラ
4 ホストシステム
6 マイクロプロセッサ
7 ホストインターフェースブロック
8 ワークエリア
9 バッファ
10 フラッシュメモリインターフェースブロック
11 ECCブロック
12 ROM
13 外部バス
14 内部バス
25 ユーザ領域
26 冗長領域
Claims (3)
- 記憶媒体として物理ブロック単位で記憶データの消去が行われるフラッシュメモリを用いたメモリカードの特定方法であって、
前記メモリカードに搭載されたフラッシュメモリ内にある全ての先天性不良ブロックの物理ブロックアドレス及びそれらのチェックサムを含む不良ブロック情報を、該メモリカードを特定するための情報として登録する登録ステップと、
特定対象の前記メモリカードから当該メモリカードに搭載されたフラッシュメモリ内にある全ての先天性不良ブロックの物理ブロックアドレスを読み出す読み出しステップと、
前記読み出しステップにより読み出された物理ブロックアドレスのチェックサムを求める算出ステップと、
前記登録ステップで登録された複数の前記不良ブロック情報から、算出ステップにより求められたチェックサムと一致するチェックサムが含まれる前記不良ブロック情報を抽出し、更に、当該抽出された前記不良ブロック情報に含まれる物理ブロックアドレスが前記読み出しステップにより読み出された物理ブロックアドレスと一致するか否かを判断する特定ステップと、
を含むことを特徴とするメモリカードの特定方法。 - 前記登録ステップで、前記不良ブロック情報が該不良ブロック情報と対応する前記メモリカードの製造日又は製造ロットと関連付けて登録されることを特徴とする請求項1に記載のメモリカードの特定方法。
- 検索ステップで検出された前記不良ブロック情報と関連付けて登録されている情報に基づいて、特定対象の前記メモリカードの製造日又は製造ロットを判別する判別ステップを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載のメモリカードの特定方法。
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