JP4653132B2 - Thermocompression bonding method and thermocompression bonding apparatus - Google Patents
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Description
本発明は、本発明は、第1の部品と第2の部品とを熱圧着する熱圧着方法および熱圧着装置に関し、とりわけ表示パネルなどの基板の電極に、テープキャリアパッケージ等の電子部品のアウターリードを熱圧着するものに用いて好適な熱圧着方法および熱圧着装置に関する。 The present invention relates to a thermocompression bonding method and a thermocompression bonding apparatus for thermocompression bonding a first component and a second component, and more particularly to an outer electrode of an electronic component such as a tape carrier package on an electrode of a substrate such as a display panel. The present invention relates to a thermocompression bonding method and a thermocompression bonding apparatus suitable for use in thermocompression bonding of leads.
電子機器のディスプレイとして用いられる表示パネルの縁部に狭ピッチで形成された電極には、表示パネル駆動用ドライバとして多数の電子部品が実装される。 A large number of electronic components are mounted on the electrodes formed at a narrow pitch on the edge of a display panel used as a display of an electronic device as a driver for driving the display panel.
図6は、従来の電子部品のアウターリードの熱圧着方法を説明する図である。 FIG. 6 is a diagram for explaining a conventional thermocompression bonding method for outer leads of electronic components.
図6の(a)は熱圧着前、図6の(b)は熱圧着後である。 6A is before thermocompression bonding, and FIG. 6B is after thermocompression bonding.
電子部品51は、ポリイミド樹脂等で形成されたフィルムキャリア52にベアチップ53をボンディングして作られている。フィルムキャリア52の表面には、銅などからなる線によって多数本のアウターリード54が狭ピッチ間隔で形成されている。
The
表示パネルを構成する透明板56の縁部には、極細の電極58が狭ピッチ間隔で多数個形成されている。フィルムキャリア52の両端部には位置検出用の第1のマークMAと第2のマークMBが間隔をあけて設けられている。一方、透明板56の電極58列の両端部には、第1のマークMA,第2のマークMBに対応して、それぞれのマークMA,MBと対で用いられる第1のマークNAと第2のマークNBとが設けられている。
A large number of
まず、図6の(a)に示す熱圧着前の状態において、カメラ(図示せず)を用いて第1のマークMAと第1のマークNAとの位置ずれ、第2のマークMBと第2のマークNBとの位置ずれをそれぞれ検出する。 First, in the state before the thermocompression bonding shown in FIG. 6A, the positional deviation between the first mark MA and the first mark NA, the second mark MB and the second mark using a camera (not shown). The positional deviation from the mark NB is detected.
次に、第1のマークMAと第1のマークNAとの位置ずれ量と、第2のマークMBと第2のマークNBとの位置ずれ量が均等になるように、アウターリード54と電極58とを相対的に位置合わせし、フィルムキャリア52に圧着部材(図示せず)を押し当てて、アウターリード54を電極58に熱圧着する(図6の(b))。このようにして、アウターリード54は電極58に熱圧着されて、電子部品51は表示パネルの透明板56に実装される。
Next, the
フィルムキャリア52の表面にはアウターリード54が狭ピッチ間隔で多数本設けられている。このため、アウターリード54を表示パネルの電極58に正確に位置合わせをしてから、熱圧着しなければならない。
A large number of
しかし、フィルムキャリア52はポリイミド樹脂などで作られているため、熱圧着時にフィルムキャリア52が伸びる。このため、予めこの伸びを見込んでフィルムキャリア52は短めに作られている。しかし、製造誤差があるため、同じ条件で熱圧着をしても、アウターリード54を電極58に対して正確な位置に接着できずに不良品が発生してしまう場合がある。不良品が発生するとその都度、熱圧着条件を見直していた。今後より一層の狭ピッチ化が進むと製品の不良率が高くなると予想される。
However, since the
そこで、熱圧着完了後の状態を観察し、この観察により得られたデータに基づいて、その後に行う熱圧着の条件を適宜変更することにより、不良率を抑えるという方法が提案されている。 Therefore, a method has been proposed in which the state after completion of thermocompression bonding is observed, and the defect rate is suppressed by appropriately changing the conditions of subsequent thermocompression bonding based on the data obtained by this observation.
しかしながら、既に熱圧着が完了したフィルムキャリアが有する製造誤差等と、これから熱圧着の対象となるフィルムキャリアが有する製造誤差等は必ずしも同じではない。このため、既に熱圧着が完了したフィルムキャリアから得られたデータに基づいて決定された熱圧着条件が、それ以降のフィルムキャリアの圧着に適さない場合があるという問題がある。 However, the manufacturing error or the like of a film carrier that has already been subjected to thermocompression bonding is not necessarily the same as the manufacturing error or the like of a film carrier that will be subjected to thermocompression bonding. For this reason, there exists a problem that the thermocompression-bonding conditions determined based on the data obtained from the film carrier which has already completed thermocompression bonding may not be suitable for subsequent film carrier crimping.
本発明は、上述の如き従来の課題を解決するためになされたもので、その目的は、部品の製造誤差等が必ずしも一定でない場合であっても、不良品発生率の抑制を可能とする方法及び装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the conventional problems as described above, and its purpose is a method that can suppress the occurrence rate of defective products even when the manufacturing error of parts is not always constant. And an apparatus.
前記目的を達成するために、本発明の熱圧着方法および熱圧着装置では、熱圧着条件に応じて伸び量が変化する第1の部品を第2の部品に熱圧着するにあたり、前記第1の部品に形成された第1のマークと第2のマークを熱圧着前に検出し、これらマーク間の距離を求め、この求められた距離に基づいて熱圧着の条件を決定し、このようにして決定された条件下で熱圧着を行うことを特徴とする。 In order to achieve the above object, in the thermocompression bonding method and the thermocompression bonding apparatus of the present invention, when the first component whose amount of elongation changes according to the thermocompression bonding condition is thermocompression bonded to the second component, The first mark and the second mark formed on the part are detected before thermocompression bonding, the distance between these marks is obtained, and the thermocompression bonding conditions are determined based on the obtained distance, and thus It is characterized by performing thermocompression bonding under the determined conditions.
以上詳細に説明したように、本発明によれば、熱圧着前に第1の部品のマーク間距離を測定し、この距離に応じて、熱圧着条件を適宜変更して熱圧着をし、又は熱圧着を中止することによって、不良品発生率を低下させることが可能となる。 As described above in detail, according to the present invention, the distance between marks of the first component is measured before thermocompression bonding, and thermocompression bonding is performed by appropriately changing the thermocompression bonding conditions according to this distance, or By stopping the thermocompression bonding, it is possible to reduce the defective product occurrence rate.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
実施の形態1.
図1はマーク間距離測定部の部分斜視図、図2は圧着部の部分斜視図、図3は熱圧着条件の決定方法を説明するためのフローチャート、図4は図3に示した「設計値+X1」等の大小関係を示す図、図5は熱圧着条件の具体例を示すテーブルである。なお、図6に示す従来例と同一要素には、同一符号を付し、説明を省略する。
FIG. 1 is a partial perspective view of a mark distance measuring unit, FIG. 2 is a partial perspective view of a crimping unit, FIG. 3 is a flowchart for explaining a method for determining thermocompression bonding conditions, and FIG. FIG. 5 is a table showing a specific example of thermocompression bonding conditions. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same element as the prior art example shown in FIG. 6, and description is abbreviate | omitted.
図1において、ノズル1は、真空吸着手段(図示せず)によって電子部品(第1の部品)51のフィルムキャリア52を真空吸着している。そして、フィルムキャリア52の下側から、カメラ(撮像装置)3により第1のマークMAを、カメラ(撮像装置)4により第2のマークMBをそれぞれ撮像し、カメラ3,4による取込み画像を基に画像処理装置5により両マーク間の距離を求める。
In FIG. 1, a
図2は圧着部の部分斜視図である。圧着ヘッド21の圧着ツール22はヒータ23が装着されたブロック24に取り付けられ、このブロック24はシリンダ25の作動軸に固定されている。サーボモータ26を駆動することによって圧着ヘッド21を上下に移動させることができる。
FIG. 2 is a partial perspective view of the crimping portion. The
モータ制御部11は、圧着ツール22の下降速度を制御し、時間制御部14は、圧着時間を制御する。圧力制御部12は、圧着ツール22の加圧力を制御する。温度制御部13は、圧着ツール22の圧着温度を制御する。
The
これらモータ制御部11,圧力制御部12,温度制御部13,時間制御部14は、制御装置15にて統括制御される。
These
制御装置15は、記憶装置を有し、この記憶装置には、図5に示すようなフィルムキャリア52の製造誤差(第1のマークMAと第2のマークMBとの距離と設計値との差)に応じた熱圧着条件が記憶されている。また、制御装置15は、画像処理装置5とも接続されており、画像処理装置5により検出結果に基づいて、後述するように、電子部品51を透明板(第2の部品)56に熱圧着する際の圧着ツール22に対する熱圧着条件を自動的に決定する。
The
図3に基づいて熱圧着条件の決定方法を説明する。
図4に、「設計値+X2」、「設計値+X1」、「設計値」、「設計値−X3」、「設計値−X4」の大小関係を示す。ここで、X1,X2,X3,X4は正数であり、X1<X2,X3<X4とする。
まず、ステップS301において、測定結果(第1のマークMAと第2のマークMBとの距離D1(図6の(a))が、「設計値+X1よりも大きく、かつ設計値+X2よりも小さい」か否かを判定する。
A method for determining the thermocompression bonding condition will be described with reference to FIG.
FIG. 4 shows the magnitude relationship between “design value + X2”, “design value + X1”, “design value”, “design value−X3”, and “design value−X4”. Here, X1, X2, X3, and X4 are positive numbers, and X1 <X2, X3 <X4.
First, in step S301, the measurement result (the distance D1 (FIG. 6A) between the first mark MA and the second mark MB is “larger than the design value + X1 and smaller than the design value + X2”). It is determined whether or not.
YESと判定された場合は、熱圧着条件が条件2に変更される(ステップS305)。そして、条件2に基づいて熱圧着を実施すべき旨の指令が発せられる(ステップS310)。 If it is determined as YES, the thermocompression bonding condition is changed to condition 2 (step S305). Then, a command is issued to the effect that thermocompression bonding should be performed based on condition 2 (step S310).
図5に示すように、条件2は、標準的な圧着条件である条件1と比較して、圧着温度が高く、圧着時間が短く、圧着荷重が大きく、圧着ツール22の下降速度が速い。条件2の内容で圧着すると、条件1の内容で圧着した場合に比べて、圧着によって生じるフィルムキャリア52の伸び量は小さい。
As shown in FIG. 5, Condition 2 has a higher crimping temperature, a shorter crimping time, a larger crimping load, and a lowering speed of the
ステップS301においてYESと判定されるのは、標準的な圧着条件で圧着するにはフィルムキャリア52が設計値に比して長すぎる場合である。しかし、条件2の内容で圧着することによって、圧着によって生じるフィルムキャリア52の伸び量が抑えられるため、不良品の発生を回避することができる。
In step S301, YES is determined when the
ステップS301においてNOと判定された場合は、さらにステップS302おいて、測定結果が「設計値−X4よりも大きく、かつ設計値−X3よりも小さい」か否かを判定する。YESと判定された場合は、熱圧着条件として条件3が選択される(ステップS308)。そして、条件3に基づいて熱圧着を実施すべき旨の指令が発せられる(ステップS310)。
If it is determined NO in step S301, it is further determined in step S302 whether or not the measurement result is “greater than design value−X4 and smaller than design value−X3”. When it determines with YES, the
図5に示すように、条件3は、標準的な圧着条件である条件1と比較して、圧着温度が低く、圧着時間が長く、圧着荷重が小さく、圧着ツール22の下降速度が遅い。条件3の内容で圧着すると、条件1の内容で圧着した場合に比べて、圧着によって生じるフィルムキャリア52の伸び量は大きい。
As shown in FIG. 5,
ステップS302においてYESと判定されるのは、標準的な圧着条件で圧着するにはフィルムキャリア52が設計値に比して短すぎる場合である。しかし、条件3の内容で圧着することによって、圧着によって生じるフィルムキャリア52の伸び量が大きくなるため、不良品の発生を回避することができる。
In step S302, “YES” is determined when the
ステップS302においてNOと判定された場合は、さらにステップS303おいて、測定結果が、「設計値−X3以上、かつ設計値+X1以下」か否かを判定する。YESと判定された場合は、熱圧着条件として標準的な条件1が選択される(ステップS307)。そして、条件1に基づいて熱圧着を実施すべき旨の指令が発せられる(ステップS310)。
If NO is determined in step S302, it is further determined in step S303 whether or not the measurement result is “design value −X3 or more and design value + X1 or less”. If it is determined YES,
ステップS303においてYESと判定されるのは、標準的な圧着条件で圧着すれば良い場合である。従って、条件1の内容で圧着すれば、良品を得ることができる。
The determination of YES in step S303 is a case where crimping is performed under standard crimping conditions. Therefore, a good product can be obtained by pressure bonding under the
ステップS303においてNOと判定された場合は、圧着を中止する(ステップS306)。 If it is determined NO in step S303, the pressure bonding is stopped (step S306).
ステップS303においてNOと判定されるのは、圧着条件の変更では対処できないほど、フィルムキャリア52が設計値に比して長すぎるか又は短すぎる場合である。従って、圧着を中止せざるを得ない。
The determination of NO in step S303 is when the
なお、各熱圧着条件に基づく熱圧着に際しては、フイルムキャリア52に設けられた第1のマークMAと圧着対象である、例えば図6の(a)に示される透明板56に設けられた第1のマークNA(第1のマークMAと対応する)との位置ずれ、そして、フイルムキャリア52に設けられた第2のマークMBと透明板56に設けられた第2のマークNB(第2のマークMBと対応する)との位置ずれが、カメラ3,4を用いてそれぞれ検出され、両位置ずれ量が均等になるように、アウターリード54と電極58との相対的な位置合わせが行われるようになっており、この点は従来と同様である。
In the thermocompression bonding based on each thermocompression bonding condition, the first mark MA provided on the
上記の如く、熱圧着前にフィルムキャリアのマーク間距離を測定し、この距離に応じて、熱圧着条件を適宜変更して熱圧着をし、又は熱圧着を中止することによって、不良品発生率を低下させることが可能となる。 Measure the distance between the marks on the film carrier before thermocompression bonding as described above, and change the thermocompression bonding conditions as appropriate according to this distance, or cancel the thermocompression bonding, resulting in a defective product incidence. Can be reduced.
上記実施形態においては、フィルムキャリア上のマーク間距離のみを測定し、この距離に応じて熱圧着条件を変更している。これは、透明板56の素材が一般的にガラス板などであり、ガラス板などは極めて寸法精度が良くかつ回路形成等の工程を経ても変形しにくいからである。
In the said embodiment, only the distance between marks on a film carrier is measured and the thermocompression bonding conditions are changed according to this distance. This is because the material of the
しかし、フィルムキャリアの圧着対象の素材が、寸法精度が良くないか又は回路形成等の工程を経ても変形しやすい樹脂などである場合は、フィルムキャリア上のマーク間距離のみならず、圧着対象上のマーク間の距離をも測定して、フィルムキャリア上のマーク間距離および圧着対象上のマーク間距離を比較した上で、熱圧着条件を決定するとしても良い。 However, if the material to be crimped on the film carrier is a resin that does not have good dimensional accuracy or is easily deformed even after a process such as circuit formation, not only the distance between marks on the film carrier, The distance between the marks may also be measured and the distance between the marks on the film carrier and the distance between the marks on the object to be bonded may be compared before determining the thermocompression bonding conditions.
具体的には、図6の(a)に示すように、カメラ3により電子部品51におけるフィルムキャリア52上の第1のマークMAと透明板56における第1のマークMAに対応する第1のマークNAを撮像し、カメラ4により電子部品51における第2のマークMBと透明板56における第2のマークMBに対応する第2のマークNBを撮像する。
Specifically, as shown in FIG. 6A, the first mark MA corresponding to the first mark MA on the
次いで、画像処理装置5が、カメラ3,4の取込み画像に基づいて、電子部品51における第1のマークMAと第2のマークMBとの間の距離D1、および透明板56における第1のマークNAと第2のマークNBとの間の距離D2を求める。
Next, the
そして、制御装置15にて、下記の比較に基づいて、図5に示すいずれかの熱圧着条件(条件1,条件2,条件3)が自動的に選択される。ただし以下には、フィルムキャリア52の伸び率が、透明板56の伸び率よりも大きい場合を例に説明する。
Then, one of the thermocompression bonding conditions (
すなわち、距離D2−(マイナス)距離D1が、「基準値+X1よりも大きく、かつ基準値+X2よりも小さい」(X1<X2)場合は、熱圧着条件として条件3が選択され、条件3に基づいて熱圧着が実施される。
That is, when the distance D2− (minus) distance D1 is “larger than the reference value + X1 and smaller than the reference value + X2” (X1 <X2), the
また、距離D2−距離D1が、「基準値−X4よりも大きく、かつ基準値−X3よりも小さい」(X4>X3)場合は、熱圧着条件として条件2が選択され、条件2に基づいて熱圧着が実施される。 When the distance D2−the distance D1 is “larger than the reference value−X4 and smaller than the reference value−X3” (X4> X3), the condition 2 is selected as the thermocompression bonding condition. Thermocompression bonding is performed.
さらに、距離D2−距離D1が、「基準値−X3以上、かつ基準値+X1以下(許容値内)」の場合、熱圧着条件として条件1が選択され、条件1に基づいて熱圧着が実施される。
Further, when the distance D2−the distance D1 is “reference value −X3 or more and the reference value + X1 or less (within tolerance)”, the
このようにすることで、電子部品51および透明板56双方に寸法誤差が生じ得る場合であっても、不良品を発生させることを防止しつつ、電子部品1を透明板56に熱圧着することができる。ここで、基準値とは、設計値に基づく距離D2−距離D1の値であり、X1,X2,X3,X4はいずれも正数とする。
By doing in this way, even if a dimensional error may occur in both the
なお、上記において、マークMA,MB間の距離D1とマークNA,NB間の距離D2の差に基づいて熱圧着条件を選択するものとしたが、マークMA,MB間の距離D1とマークNA,NB間の距離D2の比率に基づいて熱圧着条件を選択するようにしても良い。 In the above description, the thermocompression bonding condition is selected based on the difference between the distance D1 between the marks MA and MB and the distance D2 between the marks NA and NB, but the distance D1 between the marks MA and MB and the marks NA, The thermocompression bonding conditions may be selected based on the ratio of the distance D2 between the NBs.
すなわち、設計値に基づく距離D2に対する距離D1の比率(D1/D2×100%)R0と、実際の距離D2に対する距離D1の比率R1とを比較し、比率R1が、「R0+X1よりも大きく、かつR0+X2よりも小さい」(X1<X2)場合は、条件2を選択する。 That is, the ratio (D1 / D2 × 100%) R0 of the distance D1 to the distance D2 based on the design value is compared with the ratio R1 of the distance D1 to the actual distance D2, and the ratio R1 is larger than “R0 + X1 and If it is smaller than R0 + X2 (X1 <X2), condition 2 is selected.
また、比率R1が、「R0−X4よりも大きく、かつR0−X3よりも小さい」(X4>X3)場合は、条件3を選択する。
If the ratio R1 is “larger than R0-X4 and smaller than R0-X3” (X4> X3), the
さらに、比率R1が、「R0−X3以上、かつR0+X1以下(許容値内)」の場合、条件1を選択するのである。
Furthermore, when the ratio R1 is “R0−X3 or more and R0 + X1 or less (within tolerance)”, the
なお、本発明において、第1の部品および第2の部品に形成されるマークは、検出用として形成されたマークに限らず、形状に特徴を有する端子等、他と識別可能なマークであればよいことは言うまでもない。 In the present invention, the mark formed on the first component and the second component is not limited to a mark formed for detection, but may be any mark that can be distinguished from others, such as a terminal having a characteristic in shape. Needless to say, it is good.
また、上記実施の形態において、第1の部品を電子部品51とし、第2の部品を透明板56として、本発明をアウターリードボンディング装置に適用した例で説明したが、例えば、第1の部品をテープ状部品とし、第2の部品をICチップとし、テープ状部品にICチップを実装する実装装置等に本発明を適用することも可能である。
In the above embodiment, the first component is the
また、上記実施の形態において、圧着ツール22にヒータ23を設けた例で説明したが、必ずしも圧着ツール22にヒータを設ける必要は無く、例えば、圧着ツール22にヒータ23を設ける代わりに、圧着ツール22による加圧時に圧着ツール22による加圧力に抗して透明板56を支持する支持手段にヒータ等の加熱手段を設け、圧着ツール22の温度を制御する代わりに支持手段の設けた加熱手段の発熱量を制御するようにしても良い。
In the above-described embodiment, the example in which the
また、熱圧着条件には、前記第1の部品と前記第2の部品とを熱圧着する前記圧着ツールの温度、圧着荷重、圧着時間又は圧着速度のうちの少なくとも1つが含まれるものである。 The thermocompression bonding condition includes at least one of the temperature, the crimping load, the crimping time, and the crimping speed of the crimping tool for thermocompression bonding the first component and the second component.
1 ノズル
3、4 カメラ
51 電子部品
52 フィルムキャリア
53 ベアチップ
54 アウターリード
56 透明板
58 電極
MA 第1のマーク
MB 第2のマーク
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記第1の部品に形成された第1のマークと第2のマーク、および前記第2の部品に形成された前記第1の部品の第1のマークに対応する第1のマークと前記第1の部品の第2のマークに対応する第2のマークを撮像する撮像工程と、The first mark and the second mark formed on the first part, and the first mark and the first mark corresponding to the first mark of the first part formed on the second part An imaging step of imaging a second mark corresponding to the second mark of the component;
この撮像工程による取込み画像を基に、前記第1の部品の第1のマークと第2のマークとの間の距離D1を求めるとともに、前記第2の部品の第1のマークと第2のマークとの間の距離D2を求める画像処理工程と、A distance D1 between the first mark and the second mark of the first part is obtained based on the captured image obtained by the imaging process, and the first mark and the second mark of the second part are obtained. An image processing step for obtaining a distance D2 between
設計値に基づく前記距離D2に対する前記距離D1の比率(D1/D2×100%)R0と、前記画像処理工程にて求めた前記距離D2に対する前記距離D1の比率(D1/D2×100%)R1との比較に基づいて前記圧着ツールに対する熱圧着条件を決定し、前記圧着ツールによる熱圧着動作を制御する制御工程と、を備え、A ratio (D1 / D2 × 100%) R0 of the distance D1 to the distance D2 based on a design value and a ratio (D1 / D2 × 100%) R1 of the distance D1 to the distance D2 obtained in the image processing step. And determining a thermocompression bonding condition for the crimping tool based on the comparison with, and controlling the thermocompression operation by the crimping tool,
前記熱圧着条件が、標準的な圧着条件である条件1と、前記条件1と比較して、圧着温度が高く、圧着時間が短く、圧着荷重が大きく、前記圧着ツールの下降速度が速い条件2と、前記条件1と比較して、圧着温度が低く、圧着時間が長く、圧着荷重が小さく、圧着ツールの下降速度が遅い条件3とからなり、Condition 1 where the thermocompression bonding conditions are standard crimping conditions, and condition 2 where the crimping temperature is high, the crimping time is short, the crimping load is large, and the descending speed of the crimping tool is high compared to the condition 1 Compared with the above condition 1, the crimping temperature is low, the crimping time is long, the crimping load is small, and the lowering speed of the crimping tool is slow.
前記熱圧着条件の決定が、前記比率R1が、「R0+X1よりも大きく、かつR0+X2よりも小さい」(X1<X2)場合は、前記条件2とされ、前記比率R1が、「R0−X4よりも大きく、かつR0−X3よりも小さい」(X4>X3)場合は、前記条件3とされ、前記比率R1が、「R0−X3以上、かつR0+X1以下(許容値内)」の場合、条件1とされる(ここで、X1,X2,X3,X4は正数であり、X1<X2,X3<X4とする)、ことを特徴とする熱圧着方法。In the determination of the thermocompression bonding condition, when the ratio R1 is “larger than R0 + X1 and smaller than R0 + X2” (X1 <X2), the condition 2 is satisfied, and the ratio R1 is greater than “R0−X4”. When it is “larger and smaller than R0−X3” (X4> X3), the condition 3 is satisfied, and when the ratio R1 is “R0−X3 or more and R0 + X1 or less (within tolerance)”, the condition 1 (Where X1, X2, X3, and X4 are positive numbers, and X1 <X2, X3 <X4).
前記第1の部品に形成された第1のマークと第2のマーク、および前記第2の部品に形成された前記第1の部品の第1のマークに対応する第1のマークと前記第1の部品の第2のマークに対応する第2のマークを撮像する撮像装置と、The first mark and the second mark formed on the first part, and the first mark and the first mark corresponding to the first mark of the first part formed on the second part An imaging device for imaging a second mark corresponding to the second mark of the component;
この撮像装置による取込み画像を基に、前記第1の部品の第1のマークと第2のマークとの間の距離D1を求めるとともに、前記第2の部品の第1のマークと第2のマークとの間の距離D2を求める画像処理装置と、A distance D1 between the first mark and the second mark of the first part is obtained based on the captured image by the imaging device, and the first mark and the second mark of the second part are obtained. An image processing device for obtaining a distance D2 between
設計値に基づく前記距離D2に対する前記距離D1の比率(D1/D2×100%)R0と、前記画像処理工程にて求めた前記距離D2に対する前記距離D1の比率(D1/D2×100%)R1との比較に基づいて前記圧着ツールに対する熱圧着条件を決定し、前記圧着ツールによる熱圧着動作を制御する制御装置と、を備え、A ratio (D1 / D2 × 100%) R0 of the distance D1 to the distance D2 based on a design value and a ratio (D1 / D2 × 100%) R1 of the distance D1 to the distance D2 obtained in the image processing step. A controller for determining a thermocompression bonding condition for the crimping tool based on the comparison with the control tool, and controlling a thermocompression operation by the crimping tool,
前記熱圧着条件が、標準的な圧着条件である条件1と、前記条件1と比較して、圧着温度が高く、圧着時間が短く、圧着荷重が大きく、前記圧着ツールの下降速度が速い条件2と、前記条件1と比較して、圧着温度が低く、圧着時間が長く、圧着荷重が小さく、圧着ツールの下降速度が遅い条件3とからなり、Condition 1 where the thermocompression bonding conditions are standard crimping conditions and Condition 2 where the crimping temperature is high, the crimping time is short, the crimping load is large, and the descending speed of the crimping tool is high compared with Condition 1 Compared with the above condition 1, the crimping temperature is low, the crimping time is long, the crimping load is small, and the crimping tool descending speed is slow.
前記熱圧着条件の決定が、前記比率R1が、「R0+X1よりも大きく、かつR0+X2よりも小さい」(X1<X2)場合は、前記条件2とされ、前記比率R1が、「R0−X4よりも大きく、かつR0−X3よりも小さい」(X4>X3)場合は、前記条件3とされ、前記比率R1が、「R0−X3以上、かつR0+X1以下(許容値内)」の場合、条件1とされる(ここで、X1,X2,X3,X4は正数であり、X1<X2,X3<X4とする)、ことを特徴とする熱圧着装置。In the determination of the thermocompression bonding condition, when the ratio R1 is “larger than R0 + X1 and smaller than R0 + X2” (X1 <X2), the condition 2 is satisfied, and the ratio R1 is greater than “R0−X4”. When it is “larger and smaller than R0−X3” (X4> X3), the condition 3 is satisfied, and when the ratio R1 is “R0−X3 or more and R0 + X1 or less (within tolerance)”, the condition 1 (Where X1, X2, X3, and X4 are positive numbers, and X1 <X2, X3 <X4).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007067245A JP4653132B2 (en) | 2000-12-21 | 2007-03-15 | Thermocompression bonding method and thermocompression bonding apparatus |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000388532 | 2000-12-21 | ||
JP2007067245A JP4653132B2 (en) | 2000-12-21 | 2007-03-15 | Thermocompression bonding method and thermocompression bonding apparatus |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001386431A Division JP2002261117A (en) | 2000-12-21 | 2001-12-19 | Thermo-compression bonding method and thermo- compression bonding apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007184633A JP2007184633A (en) | 2007-07-19 |
JP4653132B2 true JP4653132B2 (en) | 2011-03-16 |
Family
ID=38340364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007067245A Expired - Lifetime JP4653132B2 (en) | 2000-12-21 | 2007-03-15 | Thermocompression bonding method and thermocompression bonding apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4653132B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7394314B2 (en) | 2019-08-08 | 2023-12-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Component mounting equipment and component mounting method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0897245A (en) * | 1994-09-27 | 1996-04-12 | Toshiba Microelectron Corp | Method and device for assembling semiconductor device |
JPH0982764A (en) * | 1995-09-13 | 1997-03-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Thermocompression bonding method for chip |
JPH09330957A (en) * | 1996-06-10 | 1997-12-22 | Toshiba Corp | Device and method for bonding |
-
2007
- 2007-03-15 JP JP2007067245A patent/JP4653132B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH09330957A (en) * | 1996-06-10 | 1997-12-22 | Toshiba Corp | Device and method for bonding |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007184633A (en) | 2007-07-19 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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EXPY | Cancellation because of completion of term |