JP4636989B2 - 遅延解析装置、遅延解析方法、遅延解析プログラム、および記録媒体 - Google Patents
遅延解析装置、遅延解析方法、遅延解析プログラム、および記録媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4636989B2 JP4636989B2 JP2005296534A JP2005296534A JP4636989B2 JP 4636989 B2 JP4636989 B2 JP 4636989B2 JP 2005296534 A JP2005296534 A JP 2005296534A JP 2005296534 A JP2005296534 A JP 2005296534A JP 4636989 B2 JP4636989 B2 JP 4636989B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- branch point
- tracking
- failure
- capture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
- G01R31/3016—Delay or race condition test, e.g. race hazard test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
まず、この発明の実施の形態にかかる遅延解析装置のハードウェア構成について説明する。図1は、この発明の実施の形態にかかる遅延解析装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
つぎに、この発明の実施の形態にかかる遅延解析装置の機能的構成について説明する。図2は、この発明の実施の形態にかかる遅延解析装置の機能的構成を示すブロック図である。図2において、遅延解析装置200は、抽出部201と、追跡部202と、決定部203と、判定部204と、出力部205と、検出部206と、特定部207と、判断部208とを備えている。
▲:故障可能性のある経路(出力分岐点〜入力端子までの経路)
×:故障可能性のない経路
太線:故障検証の結果、故障可能性を内包している経路(故障推定範囲)
まず、フェイルキャプチャーFF300のデータ入力端子Dを出発点としてバックトレースする。データ入力端子Dは、テスター測定により遅延信号が取り込まれた端子である。
つぎに、フェイルキャプチャーFF300のデータ入力端子Dを出発点としてバックトレースすることにより、フェイルキャプチャーFF300のデータ入力端子D前段の出力分岐点を追跡する。この場合、フェイルキャプチャーFF300のデータ入力端子Dと、当該フェイルキャプチャーFF300の前段のセル301の出力端子Xとを接続するラインL1には出力分岐点がないため、さらに、セル301の入力端子A1からバックトレースする。
つぎに、セル301の入力端子A1からバックトレースすることにより、セル301の入力端子A1前段の出力分岐点を追跡する。この場合、セル301の入力端子A1と、当該セル301の前段のセル302の出力端子Xとを接続するラインL2には出力分岐点がないため、さらに、セル302の入力端子A1からバックトレースする。
つぎに、セル302の入力端子A1からバックトレースすることにより、セル302の入力端子A1前段の出力分岐点を追跡する。この場合、セル302の入力端子A1と、当該セル302の前段のセル303の出力端子Xとを接続するラインL3には出力分岐点P1があるため、セル303の前段には故障発生源はないと判断される。したがって、セル303の前段に対してはバックトレースをおこなわない。この場合、セル302の未処理の入力端子A2からバックトレースする。
つぎに、セル302の入力端子A2からバックトレースすることにより、セル302の入力端子A2前段の出力分岐点を追跡する。この場合、セル302の入力端子A2と、当該セル302の前段のセル304の出力端子Xとを接続するラインL4には出力分岐点P2があるため、セル304の前段には、故障発生源はないと判断される。したがって、セル304の前段に対してはバックトレースをおこなわない。この場合、セル301の未処理の入力端子A2からバックトレースする。
以後、上記手順2〜手順5までと同様の手法により、セル305の入力端子A1〜A3から、残余のすべての入力信号経路(たとえば、セル306〜セル309)にバックトレースをおこなう。そして、未追跡の入力端子がすべて▲となるまで実行する。未追跡の入力端子がなくなった場合、故障可能性のある経路(図3中、太線表示)の範囲が、回路構成上から判別可能な故障可能性のある故障推定箇所ということになる。
▲:故障可能性のある経路(出力分岐点〜入力端子までの経路)
△:故障可能性のある経路(出力端子〜出力分岐点までの経路)
×:故障可能性のない経路
■:その入力経路先に故障検可能性がない経路
太線:故障検証の結果、故障可能性を内包している経路(故障推定範囲)
まず、フェイルキャプチャーFF400A〜400Cの各データ出力端子Dを出発点としてバックトレースする。各データ入力端子Dは、テスター測定により遅延信号が取り込まれた端子である。
つぎに、フェイルキャプチャーFF400Aのデータ入力端子Dを出発点としてバックトレースすることにより、フェイルキャプチャーFF400Aのデータ入力端子D前段の出力分岐点を追跡する。この場合、フェイルキャプチャーFF400Aのデータ入力端子Dと、当該フェイルキャプチャーFF400Aの前段のセル401の出力端子Xとを接続するラインL11には出力分岐点がないため、ラインL11は、フェイルキャプチャーFF400Aだけに影響を与える経路となる。
つぎに、セル401の入力端子A1からバックトレースすることにより、セル401の入力端子A1前段の出力分岐点を追跡する。この場合、セル401の入力端子A1と、当該セル401の前段のセル403の出力端子Xとを接続するラインL14には出力分岐点P12があるため、セル403の前段には、故障発生源はないと判断される。したがって、セル403の前段に対してはバックトレースをおこなわない。
つぎに、セル401の入力端子A2と、セル402の入力端子A1および入力端子A2とからバックトレースすることにより、セル401およびセル402前段の出力分岐先を追跡する。この場合、セル401の入力端子A2と、当該セル401の前段のセル404の出力端子Xとを接続するラインL15には出力分岐点P13が検出される。同様に、セル402の入力端子A1と、当該セル402の前段のセル404の出力端子Xとを接続するラインL16にも、出力分岐点P13が検出される。
つぎに、セル404の入力端子A1および入力端子A2と、セル405の入力端子A1および入力端子A2とからバックトレースすることにより、セル404およびセル405の前段に、出力分岐点を追跡する。このバックトレースにより、セル404の入力端子A1とセル406の出力端子Xとを接続するラインL18と、セル405の入力端子A2とセル406の出力端子Xとを接続するラインL21とから、出力分岐点P14が検出される。
つぎに、セル406の入力端子A1および入力端子A2と、セル407の入力端子A1および入力端子A2とからバックトレースすることにより、セル406およびセル407の前段に、出力分岐点を追跡する。このバックトレースにより、セル406の入力端子A1の前段およびセル407の入力端子A1の前段に、フェイルキャプチャーFF400A〜400C以外のFF(たとえば、FF400D)に繋がる出力分岐点(不図示)が検出されたとすると、当該出力分岐点(不図示)から前段の経路は、故障対象外となる。
つぎに、上述した手順6と同様、セル408およびセル409からバックトレースをすることにより、セル408およびセル409の前段の出力分岐点を追跡する。そして、フェイルキャプチャーFF400A〜400Cに繋がる出力分岐点(不図示)が検出されると、当該出力分岐点(不図示)から、当該出力分岐点(不図示)に接続されているセルの出力端子までの経路が、故障可能性ありと判断される。以後、図3に示した場合と同様、未処理の入力端子からのバックトレースが終了するまで、バックトレースを実行する。
つぎに、検出部206で用いるフェイルアドレスについて具体的に説明する。図5は、フェイルアドレスの一例を示す説明図である。図5に示したフェイルアドレス1は、図3の手順6に示した設計対象回路に関する一つのフェイルアドレスを示している。図5においては、故障推定箇所が、図5に示した16個の端子から、信号変化のある9個の端子に絞り込まれている。この信号変化している9個の端子を結ぶ経路が、故障推定箇所となる。図5では、信号変化がある端子が複数(9個)存在するため、故障箇所を特定することができない。故障推定箇所を絞り込んで故障箇所を特定するためには、フェイルアドレスを複数用いるのが好ましい。
つぎに、擬似遅延故障シミュレーションによる故障箇所の特定処理内容について具体的に説明する。この特定処理は、上述した特定部207および判断部208を用いる。図7−1〜図7−5は、擬似遅延故障シミュレーションによる故障箇所の特定処理内容を示す説明図である。図7−1は、図3の<手順6>に示したバックトレース後の状態から、図5に示したフェイルアドレス1により故障推定箇所(図7−1中、●表示)を絞り込んだ状態を示している。
つぎに、この発明の実施の形態にかかる遅延解析装置200の遅延解析処理手順について説明する。図8は、この発明の実施の形態にかかる遅延解析装置200の遅延解析処理手順を示すフローチャートである。図8において、まず、抽出部201により未処理の取込先を抽出する(ステップS801)。抽出する取込先の数は、初期設定によりあらかじめ設定しておいてもよく、また、その都度、ユーザの指定により設定できるようにしてもよい。
前記抽出手段によって抽出された取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先から追跡する追跡手段と、
前記追跡手段によって追跡された出力分岐点に基づいて、前記設計対象回路内の故障推定箇所を決定する決定手段と、
前記決定手段によって決定された決定結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする遅延解析装置。
前記出力分岐点から前記取込先までの経路を前記故障推定箇所に決定することを特徴とする付記1に記載の遅延解析装置。
前記出力分岐点から前の経路を非故障箇所に決定することを特徴とする付記1または2に記載の遅延解析装置。
前記出力分岐点の前段に配置されている出力分岐元からの追跡をおこなわないことを特徴とする付記3に記載の遅延解析装置。
前記抽出手段によって前記取込先が複数抽出された場合、前記各取込先から前記出力分岐点が出現するまでの経路を、非故障箇所に決定することを特徴とする付記1に記載の遅延解析装置。
前記決定手段は、
前記判定手段によって判定された判定結果に基づいて、前記故障推定箇所を決定することを特徴とする付記1または5に記載の遅延解析装置。
前記判定手段によって前記出力分岐点が前記複数の取込先すべてに繋がっていないと判定された場合、前記出力分岐点から当該出力分岐点に繋がっている取込先までの経路を、前記非故障箇所に決定することを特徴とする付記6に記載の遅延解析装置。
前記判定手段によって前記出力分岐点が前記複数の取込先すべてに繋がっていないと判定された場合、前記出力分岐点から前の経路を、前記非故障箇所に決定することを特徴とする付記6または7に記載の遅延解析装置。
前記出力分岐点の前段に配置されている出力分岐元からの追跡をおこなわないことを特徴とする付記8に記載の遅延解析装置。
前記判定手段によって前記出力分岐点が前記複数の取込先すべてに繋がっていると判定された場合、前記出力分岐点と当該出力分岐点の出力分岐元との間の経路を、前記故障推定箇所に決定することを特徴とする付記6〜9のいずれか一つに記載の遅延解析装置。
前記検出手段によって検出された検出結果に基づいて、前記故障推定箇所の中から故障箇所を特定する特定手段と、を備え、
前記出力手段は、
前記特定手段によって特定された故障箇所を出力することを特徴とする付記1〜10のいずれか一つに記載の遅延解析装置。
前記検出手段によって検出された検出結果に基づいて、前記故障推定箇所の中から故障箇所を特定する特定手段と、を備え、
前記出力手段は、
前記特定手段によって特定された故障箇所を出力することを特徴とする付記1〜10のいずれか一つに記載の遅延解析装置。
前記特定手段は、
前記判断手段によって判断された判断結果に基づいて、前記故障推定箇所の中から前記故障箇所を特定することを特徴とする付記11または12に記載の遅延解析装置。
前記故障推定箇所のうち、前記判断手段により前記比較結果と完全一致する擬似遅延故障シミュレーションの結果が得られた経路を、前記故障箇所に特定することを特徴とする付記13に記載の遅延解析装置。
前記故障推定箇所のうち、前記判断手段により前記比較結果と一部一致する擬似遅延故障シミュレーションの結果が得られた経路に接続されているセル内部を、前記故障箇所に特定することを特徴とする付記13に記載の遅延解析装置。
前記抽出工程によって抽出された取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先から追跡する追跡工程と、
前記追跡工程によって追跡された出力分岐点に基づいて、前記設計対象回路内の故障推定箇所を決定する決定工程と、
前記決定工程によって決定された決定結果を出力する出力工程と、
を含んだことを特徴とする遅延解析方法。
前記抽出工程によって抽出された取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先から追跡させる追跡工程と、
前記追跡工程によって追跡された出力分岐点に基づいて、前記設計対象回路内の故障推定箇所を決定させる決定工程と、
前記決定工程によって決定された決定結果を出力させる出力工程と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする遅延解析プログラム。
201 抽出部
202 追跡部
203 決定部
204 判定部
205 出力部
206 検出部
207 特定部
208 判断部
Claims (10)
- 設計対象回路の試験により得られる遅延信号の取込先の中から複数の取込先を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された複数の取込先の各取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先ごとに前記各取込先から追跡する追跡手段と、
前記取込先ごとに前記各取込先から前記追跡手段による追跡で前記出力分岐点が出現するまでの経路を、非故障箇所に決定する決定手段と、
前記決定手段によって決定された決定結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする遅延解析装置。 - 設計対象回路の試験により得られる遅延信号の取込先の中から任意の取込先を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先から追跡する追跡手段と、
前記追跡手段によって追跡された出力分岐点に基づいて、前記設計対象回路内の故障推定箇所を決定する決定手段と、
前記取込先が前記遅延信号を取り込む前の、前記決定手段により決定された故障推定箇所中に存在するセルの端子の信号遷移をあらわすフェイルアドレスに基づいて、前記信号遷移があった端子を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された検出結果に基づいて、前記故障推定箇所の中から故障箇所を特定する特定手段と、
前記特定手段によって特定された故障箇所を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする遅延解析装置。 - 設計対象回路の試験により得られる遅延信号の取込先の中から任意の取込先を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先から追跡する追跡手段と、
前記追跡手段によって追跡された出力分岐点に基づいて、前記設計対象回路内の故障推定箇所を決定する決定手段と、
前記取込先が前記遅延信号を取り込む前の、前記決定手段により決定された故障推定箇所中に存在するセルの端子の信号遷移をあらわす複数のフェイルアドレスに基づいて、前記セルの端子の中から、前記全フェイルアドレスにおいて信号遷移が同一となる端子を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された検出結果に基づいて、前記故障推定箇所の中から故障箇所を特定する特定手段と、
前記特定手段によって特定された故障箇所を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする遅延解析装置。 - 前記決定手段は、
前記出力分岐点から前記取込先までの経路を前記故障推定箇所に決定することを特徴とする請求項2または3に記載の遅延解析装置。 - 前記決定手段は、
前記出力分岐点から前の経路を非故障箇所に決定することを特徴とする請求項2〜4のいずれか一つに記載の遅延解析装置。 - 前記追跡手段は、
前記出力分岐点の前段に配置されている出力分岐元からの追跡をおこなわないことを特徴とする請求項5に記載の遅延解析装置。 - 前記決定手段は、
前記抽出手段によって前記取込先が複数抽出された場合、前記各取込先から前記出力分岐点が出現するまでの経路を、非故障箇所に決定することを特徴とする請求項2または3に記載の遅延解析装置。 - 抽出手段と、追跡手段と、決定手段と、出力手段と、を備え、設計対象回路の試験により得られる遅延信号の取込先を記憶する記憶手段にアクセス可能なコンピュータが、
前記抽出手段により、前記記憶手段に記憶された遅延信号の取込先の中から複数の取込先を抽出する抽出工程と、
前記追跡手段により、前記抽出工程によって抽出された複数の取込先の各取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先ごとに前記各取込先から追跡する追跡工程と、
前記決定手段により、前記取込先ごとに前記各取込先から前記追跡工程による追跡で前記出力分岐点が出現するまでの経路を、非故障箇所に決定する決定工程と、
前記出力手段により、前記決定工程によって決定された決定結果を出力する出力工程と、
を実行することを特徴とする遅延解析方法。 - 設計対象回路の試験により得られる遅延信号の取込先の中から複数の取込先を抽出する抽出工程と、
前記抽出工程によって抽出された複数の取込先の各取込先に至る経路中の出力分岐点を前記取込先ごとに前記各取込先から追跡する追跡工程と、
前記取込先ごとに前記各取込先から前記追跡工程による追跡で前記出力分岐点が出現するまでの経路を、非故障箇所に決定する決定工程と、
前記決定工程によって決定された決定結果を出力する出力工程と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする遅延解析プログラム。 - 請求項9に記載の遅延解析プログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005296534A JP4636989B2 (ja) | 2005-10-11 | 2005-10-11 | 遅延解析装置、遅延解析方法、遅延解析プログラム、および記録媒体 |
US11/341,617 US7516383B2 (en) | 2005-10-11 | 2006-01-30 | Method and apparatus for analyzing delay in circuit, and computer product |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005296534A JP4636989B2 (ja) | 2005-10-11 | 2005-10-11 | 遅延解析装置、遅延解析方法、遅延解析プログラム、および記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007108863A JP2007108863A (ja) | 2007-04-26 |
JP4636989B2 true JP4636989B2 (ja) | 2011-02-23 |
Family
ID=37912202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005296534A Expired - Fee Related JP4636989B2 (ja) | 2005-10-11 | 2005-10-11 | 遅延解析装置、遅延解析方法、遅延解析プログラム、および記録媒体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7516383B2 (ja) |
JP (1) | JP4636989B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4992905B2 (ja) * | 2006-09-29 | 2012-08-08 | 富士通株式会社 | サーバ配備プログラム及びサーバ配備方法 |
JP5292164B2 (ja) * | 2009-04-16 | 2013-09-18 | 株式会社日立製作所 | 故障診断方法および故障診断システム |
JP5262985B2 (ja) | 2009-05-19 | 2013-08-14 | 富士通株式会社 | 遅延故障検査プログラム、遅延故障検査装置、および遅延故障検査方法 |
JP5270458B2 (ja) * | 2009-06-12 | 2013-08-21 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 故障箇所推定装置 |
US8495537B1 (en) * | 2012-01-12 | 2013-07-23 | International Business Machines Corporation | Timing analysis of an array circuit cross section |
JP2013224917A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-10-31 | Renesas Electronics Corp | スキャンテスト回路、テストパタン生成制御回路及びスキャンテスト制御方法 |
JP6381409B2 (ja) * | 2014-10-30 | 2018-08-29 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 故障診断システム、故障診断方法および故障診断プログラム |
US11494537B1 (en) * | 2021-05-13 | 2022-11-08 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and system for efficient testing of digital integrated circuits |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2788820B2 (ja) * | 1991-08-30 | 1998-08-20 | 三菱電機株式会社 | シミュレーション装置 |
JP2921502B2 (ja) * | 1996-08-19 | 1999-07-19 | 日本電気株式会社 | 順序回路の故障箇所推定方法 |
US5920830A (en) * | 1997-07-09 | 1999-07-06 | General Electric Company | Methods and apparatus for generating test vectors and validating ASIC designs |
JP3168988B2 (ja) * | 1997-09-24 | 2001-05-21 | 日本電気株式会社 | 順序回路の故障箇所推定方法及び故障箇所推定における候補抽出並びにその重み付け方法更にはその装置 |
JP2000067105A (ja) * | 1998-06-08 | 2000-03-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 集積回路の検査容易化設計方法 |
JP2000304820A (ja) * | 1999-04-22 | 2000-11-02 | Mitsubishi Electric Corp | 故障診断装置および故障診断方法ならびに半導体集積回路 |
JP4488595B2 (ja) * | 2000-06-08 | 2010-06-23 | 株式会社アドバンテスト | テストパターン生成方法 |
JP2002257903A (ja) * | 2001-03-01 | 2002-09-11 | Nec Corp | 半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム |
US6708139B2 (en) * | 2002-04-30 | 2004-03-16 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for measuring the quality of delay test patterns |
JP4020731B2 (ja) | 2002-08-27 | 2007-12-12 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路の故障診断方法 |
US7082558B2 (en) * | 2002-11-25 | 2006-07-25 | Texas Instruments Incorporated | Increasing possible test patterns which can be used with sequential scanning techniques to perform speed analysis |
JP2005037995A (ja) * | 2003-07-15 | 2005-02-10 | Toshiba Corp | 半導体集積回路の検証システム |
US7555689B2 (en) * | 2005-06-28 | 2009-06-30 | Dhiraj Goswami | Generating responses to patterns stimulating an electronic circuit with timing exception paths |
-
2005
- 2005-10-11 JP JP2005296534A patent/JP4636989B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-01-30 US US11/341,617 patent/US7516383B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7516383B2 (en) | 2009-04-07 |
JP2007108863A (ja) | 2007-04-26 |
US20070083804A1 (en) | 2007-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4636989B2 (ja) | 遅延解析装置、遅延解析方法、遅延解析プログラム、および記録媒体 | |
US7844873B2 (en) | Fault location estimation system, fault location estimation method, and fault location estimation program for multiple faults in logic circuit | |
Yang et al. | Quick scan chain diagnosis using signal profiling | |
JP6381409B2 (ja) | 故障診断システム、故障診断方法および故障診断プログラム | |
US7888971B2 (en) | Verification support system and method | |
Wang et al. | Delay-fault diagnosis using timing information | |
Ghosh-Dastidar et al. | Adaptive techniques for improving delay fault diagnosis | |
JPWO2007113940A1 (ja) | 半導体検査装置 | |
Karimi et al. | Testing of clock-domain crossing faults in multi-core system-on-chip | |
JP2007271290A (ja) | 故障解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、故障解析方法、および故障解析装置 | |
JP2655105B2 (ja) | 順序回路の故障箇所推定方法 | |
US8943457B2 (en) | Simulating scan tests with reduced resources | |
US10234502B1 (en) | Circuit defect diagnosis based on sink cell fault models | |
Guo et al. | Detection and diagnosis of static scan cell internal defect | |
US20050289419A1 (en) | Test pattern generator, test circuit tester, test pattern generating method, test circuit testing method, and computer product | |
Al-Terkawi Hasib et al. | Multi-PVT-point analysis and comparison of recent small-delay defect quality metrics | |
JP2008527322A (ja) | 回路配置並びにその検査および/または診断方法 | |
US7694248B2 (en) | Method and apparatus for supporting verification, and computer product | |
Chen et al. | On diagnosis of timing failures in scan architecture | |
JP4747036B2 (ja) | Lsi解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、lsi解析装置、およびlsi解析方法 | |
JP2012073148A (ja) | 故障診断装置、故障診断方法、及び故障診断プログラム | |
Jiang et al. | Effective error diagnosis for RTL designs in HDLs | |
JP3860030B2 (ja) | 故障解析方法、故障解析支援装置および故障解析支援プログラム | |
US20060206772A1 (en) | Method and apparatus for supporting test pattern generation, and computer product | |
JP3161345B2 (ja) | Iddq異常を有する故障ブロック特定化方式 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20080730 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080814 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100824 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101025 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101116 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101122 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131203 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |