JP4629780B2 - Test optical disc manufacturing method and test optical disc manufacturing apparatus - Google Patents
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Description
本願は、テスト用光ディスク製造方法及びテスト用光ディスク製造装置並びにテスト用光ディスクの技術分野に属し、より詳細には、情報記録装置の光学的な耐性等の特性又は情報再生装置の光学的な耐性等の特性を、例えば各装置の製造段階等においてテストするためのテスト用光ディスクを製造するテスト用光ディスク製造方法及びテスト用光ディスク製造装置並びに当該テスト用光ディスク製造装置等により製造されたテスト用光ディスクの技術分野に属する。 The present application belongs to a technical field of a test optical disc manufacturing method, a test optical disc manufacturing apparatus, and a test optical disc, and more specifically, characteristics such as optical tolerance of an information recording apparatus or optical tolerance of an information reproducing apparatus For example, a test optical disk manufacturing method and a test optical disk manufacturing apparatus for manufacturing a test optical disk for testing the characteristics of each apparatus in the manufacturing stage of each apparatus, and a test optical disk technology manufactured by the test optical disk manufacturing apparatus and the like Belonging to the field.
近年、大容量の記録媒体として、DVD(Digital Versatile Disc)や当該DVDよりも更に記録密度を増加させた高記録密度光ディスク等の光ディスクが広く一般化している。そしてこれに伴い、当該光ディスクに対して情報を記録する情報記録装置や、当該光ディスクから情報を再生する情報再生装置等も一般化している。 In recent years, optical discs such as DVDs (Digital Versatile Discs) and high recording density optical discs having a higher recording density than DVDs have been widely used as large-capacity recording media. Along with this, information recording devices for recording information on the optical disc, information reproducing devices for reproducing information from the optical disc, and the like are also generalized.
ここで、当該情報記録装置や情報再生装置(以下、適宜情報記録装置等と称する)においては、各種の光ディスクに対するいわゆる動作耐性(プレイアビリティー)が求められる。 Here, in the information recording apparatus and the information reproducing apparatus (hereinafter referred to as an information recording apparatus as appropriate), so-called operation tolerance (playability) for various optical disks is required.
すなわち、現在、当該光ディスクは複数の国内外のメーカにより製造されており、各メーカはその光ディスクについて定められている物理特性の規格に適合するように当該光ディスクを製造している。しかしながら、当該規格自体がある範囲を持つものとして策定されている場合があるため、当該規格に準拠して製造された光ディスクであっても、本来、その範囲内で上記物理特性にある程度のバラツキを有している。 In other words, the optical disc is currently manufactured by a plurality of domestic and foreign manufacturers, and each manufacturer manufactures the optical disc so as to conform to the physical property standards defined for the optical disc. However, since the standard itself may be formulated as having a certain range, even an optical disc manufactured according to the standard inherently has some variation in the physical characteristics within that range. Have.
また、メーカにおける製造方法によっては、上記規格に正確に準拠しない光ディスクが含まれている場合があり、その場合に当該バラツキは更に顕著になる。 In addition, depending on the manufacturing method in the manufacturer, an optical disc that does not exactly conform to the above-mentioned standard may be included, and in that case, the variation becomes more remarkable.
一方、製造段階においては当該規格に正確に準拠している光ディスクであっても、その購入者が取り扱っているうちに、或いは上記情報記録装置等に対する装填や取り出し等の動作が繰り返されるうちに、当該光ディスクの表面に種々の傷や人の指紋が付着したり、或いは光ディスクの全体形状自体が変形してしまう、といった事象が起こり得る。 On the other hand, even in the manufacturing stage, even if the optical disc is exactly compliant with the standard, while the purchaser is handling it, or while operations such as loading and unloading the information recording device etc. are repeated, Various scratches and human fingerprints may adhere to the surface of the optical disc, or the entire shape of the optical disc itself may be deformed.
従って、上記情報記録装置等においては、その表面に傷がある光ディスクや、物理特性についての規格外の光ディスク、或いは変形した光ディスクの存在をある程度前提とし、そのような光ディスクが装填された場合でも正常に動作するための上記動作耐性が求められるのである。このとき、特に上記高記録密度光ディスクにおいては、上記DVDよりも基板厚が約六分の一に薄くなっているため、その取り扱い上当該基板表面に形成される傷や指紋に対する上記動作耐性がより厳しい条件として求められるようになっている。そして、当該情報記録装置等の製造時においては、当該動作耐性の有無を確認するため、上記種々の傷や変形等を加えたテスト用光ディスクを用いた性能テストが実行される。 Therefore, in the above information recording apparatus and the like, it is assumed that there is an optical disk having a scratch on its surface, an optical disk that is out of specification with respect to physical characteristics, or a deformed optical disk, and even when such an optical disk is loaded, it is normal. Therefore, the above-mentioned operation resistance for operation is required. At this time, particularly in the high recording density optical disc, the substrate thickness is about one-sixth thinner than that of the DVD, so that the operation resistance against scratches and fingerprints formed on the surface of the substrate is more improved in handling. It has been demanded as a strict condition. At the time of manufacturing the information recording apparatus or the like, a performance test using the test optical disk to which the above various scratches and deformations are added is executed in order to confirm the presence or absence of the operation resistance.
ここで、従来のテスト用光ディスクとしては、例えば下記特許文献1に記載されたものがある。
しかしながら、上述した従来のテスト用光ディスクでは、そのテスト用光ディスクを製造する際の材料となる原光ディスク自体の動作特性等については全く考慮されていないため、結果的に所望の規格の下での各種テストに供させることが可能な諸元を備えるテスト用光ディスクとはならない場合があるという問題点があった。 However, in the conventional test optical disc described above, the operating characteristics of the original optical disc itself, which is a material for manufacturing the test optical disc, are not considered at all. There has been a problem that it may not be a test optical disc having specifications that can be used for testing.
すなわち、上述した従来のテスト用光ディスクは、その材料となる原光ディスクの表面に種々の傷を人為的に付けることにより製造されるものであるが、当該原光ディスクとしては、通常、一般に販売されている光ディスクそのものが用いられる。ところが、当該販売されている光ディスク自体には、上記した理由により既に上記バラツキや変形等が含まれている場合があり、このような原光ディスクを材料として製造されたテスト用光ディスク自体にも、当該バラツキ等が内包されることとなる。そしてこの結果、所望の規格の下での各種テストに供させることが可能な諸元を備えるテスト用光ディスクとはならない場合があるのである。 That is, the above-described conventional test optical disc is manufactured by artificially attaching various scratches to the surface of the original optical disc that is the material, and the original optical disc is usually sold to the general public. The optical disc itself is used. However, the sold optical disc itself may already include the above-described variations and deformations for the reasons described above, and the test optical disc itself manufactured using such an original optical disc as a material also includes Variations and the like are included. As a result, the test optical disc may not be provided with specifications that can be used for various tests under a desired standard.
また、上記特許文献1に記載されている如き傷を人為的に形成する場合、具体的には、例えばヤスリや切削工具等を用いて傷を付けることとなるが、このような方法では、当該ヤスリの目詰まりや切削工具等の摩耗に起因して、均一な傷が形成されたテスト用光ディスクを大量に製造するのが困難となるという問題点もあった。
In addition, when artificially forming a scratch as described in the above-mentioned
そこで、本願は上記の各問題点に鑑みて為されたもので、その課題は、材料となる原光ディスク自体の特性にバラツキがある場合でも、所望の規格の下での各種テストに供させることが可能な諸元を備えるテスト用光ディスクを、当該原光ディスクを材料として大量に製造することが可能なテスト用光ディスク製造方法及びテスト用光ディスク製造装置並びに当該装置等により製造されたテスト用光ディスクを提供することにある。 Therefore, the present application has been made in view of the above-mentioned problems, and the problem is to provide various tests under a desired standard even when there are variations in the characteristics of the original optical disc itself. A test optical disc manufacturing method, a test optical disc manufacturing apparatus and a test optical disc manufactured by the apparatus can be manufactured in large quantities using the original optical disc as a material. There is to do.
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、原光ディスクの表面にテスト用の変形を形成してテスト用光ディスクを製造するテスト用光ディスク製造方法において、前記原光ディスクに対する記録特性又は当該原光ディスクからの再生特性の少なくともいずれか一方の特性を検出する検出工程と、前記検出工程によって検出された前記特性が、予め規定された閾値以上の当該特性を有する前記原光ディスクの表面上の位置に、予め規定された規定態様の前記変形として、当該表面に凹形状打痕を形成する暫定形成工程と、前記暫定形成工程において前記変形が形成された前記原光ディスクにおける前記いずれか一方の特性を再検出する再検出工程と、前記検出された特性と、前記再検出された特性と、を比較し、前記再検出された特性が所望特性を有するか否かを判断し、実際の前記テスト用として前記表面に形成される前記変形の態様を決定する決定工程と、前記決定された態様の前記変形を前記原光ディスクの前記表面に形成して前記テスト用光ディスクとする形成工程と、を含む。
In order to solve the above problems, the invention described in
上記の課題を解決するために、請求項10の発明は、原光ディスクの表面にテスト用の変形を形成してテスト用光ディスクを製造するテスト用光ディスク製造装置において、前記原光ディスクに対する記録特性又は当該原光ディスクからの再生特性の少なくともいずれか一方の特性を検出する検出手段と、前記検出工程によって検出された前記特性が、予め規定された閾値以上の当該特性を有する前記原光ディスクの表面上の位置に、予め規定された規定態様の前記変形として、当該表面に凹形状打痕を形成するCPU等の暫定形成手段と、前記暫定形成手段により前記変形が形成された前記原光ディスクにおける前記いずれか一方の特性を再検出する再検出手段と、前記検出された特性と、前記再検出された特性と、を比較し、前記再検出された特性が所望特性を有するか否かを判断し、実際の前記テスト用として前記表面に形成される前記変形の態様を決定するCPU等の決定手段と、前記決定された態様の前記変形を前記原光ディスクの前記表面に形成して前記テスト用光ディスクとする形成手段とを備える。
In order to solve the above problems, the invention of
1 CPU
2 特性検出部
3 増幅/サーボ部
4 ピックアップ
B 光ビーム
5 打痕量制御部
6 打痕部
6A キャリッジ
7、20 打痕ヘッド
7A、20A 先端部
8、25 クランパ
9 テーブル
10 スピンドルモータ
21 XYステージ
22 ヘッド支持部
20B ネジ山
23 トルクレンチ
24 トルク調整部
30 レジスト膜
31 加熱ステージ
32 スタンパ
100 検査部
200 形成部
300 確認部
S、SS テスト用光ディスク製造装置
SF 表面
W1、W2 変形部
SDK 材料ディスク
DKtest テスト用光ディスク1 CPU
2 Characteristic detection unit 3 Amplification / servo unit 4 Pickup
次に、本願を実施するための最良の形態について、図1乃至図5を用いて説明する。 Next, the best mode for carrying out the present application will be described with reference to FIGS.
なお、以下に説明する実施形態は、情報記録装置等における上記動作耐性をその製造時等においてテストする際に用いられるテスト用光ディスクを製造するテスト用光ディスク製造装置に対して本願を適用した場合の実施の形態である。 In the embodiment described below, the present application is applied to a test optical disc manufacturing apparatus that manufactures a test optical disc that is used when testing the operation tolerance in an information recording device or the like at the time of manufacture. It is an embodiment.
また、図1は実施形態に係るテスト用光ディスク製造装置の概要構成及び動作を示すブロック図であり、図2は当該動作全体を示すフローチャートであり、図3乃至図5は当該テスト用光ディスク製造装置における後述する形成部の構成例を夫々示すブロック図である。 FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration and operation of the test optical disk manufacturing apparatus according to the embodiment, FIG. 2 is a flowchart showing the entire operation, and FIGS. 3 to 5 are the test optical disk manufacturing apparatus. It is a block diagram which shows the example of a structure of the formation part mentioned later in FIG.
図1に示すように、実施形態に係るテスト用光ディスク製造装置Sは、検出手段及び再検出手段としての検査部100と、暫定形成手段及び形成手段としての形成部200と、決定手段としての確認部300と、により構成されている。
As shown in FIG. 1, the test optical disc manufacturing apparatus S according to the embodiment includes an
次に動作を説明する。 Next, the operation will be described.
実施形態に係るテスト用光ディスク製造装置Sの動作としては、実施形態に係るテスト用光ディスク上に当該テスト用として形成される変形部の形状を決定する形状決定動作(図1(a))と、当該決定された形状を有する変形部を、テスト用光ディスクの材料となる原光ディスク上に形成して当該テスト用光ディスクを製造するディスク製造動作(図1(b))と、の二つがある。 As an operation of the test optical disc manufacturing apparatus S according to the embodiment, a shape determining operation (FIG. 1A) for determining the shape of the deformed portion formed for the test on the test optical disc according to the embodiment, There are two disc manufacturing operations (FIG. 1 (b)) in which the deformed portion having the determined shape is formed on the original optical disc as the material of the test optical disc to manufacture the test optical disc.
このうち、形状決定動作においては、図1(a)に示すように、先ず、検査部100において、実施形態に係るテスト用光ディスクの材料となる上記原光ディスクSDKに対する情報の記録特性又は当該原光ディスクSDKからの情報の再生特性の少なくともいずれか一方(以下、情報の記録特性又は情報の再生特性の少なくともいずれか一方を、一般に「特性」と称する)を検出し、その結果を示す検査信号Sckを生成して形成部200及び確認部200に出力する。
Among these, in the shape determination operation, as shown in FIG. 1A, first, in the
一方、検査部100において上記特性が検出された原光ディスクSDKは、形成部200に移送され、当該形成部200において、上記変形部の初期形状として予め規定されている形状により上記テスト用の変形部W1及びW2がその表面SFに形成され、テスト用光ディスクDKtest(変形部W1及びW2の形状が上記初期形状であるテスト用光ディスクDKtest)が製造される。この形成部200における変形部W1及びW2の形成方法及び当該変形部W1及びW2自体の形状については、後ほど図3乃至図5を用いて説明する。
On the other hand, the original optical disk SDK whose characteristics are detected by the
次に、当該初期形状を有する変形部W1及びW2が形成されたテスト用光ディスクDKtestは確認部300に移送され、当該変形部W1及びW2が形成された部分における上記特性が再度検出される。そして、その再検出された特性(すなわち、上記初期形状を有する変形部W1及びW2が形成されたテスト用光ディスクDKtestの部分における特性)と、検査部100において原光ディスクSDKについて検出された特性と、が比較され、当該形成された変形部W1及びW2が、実施形態に係るテスト用光ディスクDKtestとして求められている特性(以下、当該の変形部W1及びW2に夫々求められているテスト用光ディスクDKtestとして特性を、単に「所望特性」と称する)を有しているか否かが確認される。そして、当該確認の結果としての比較結果を示す確認信号Sfbが形成部200に出力される。
Next, the test optical disk DKtest in which the deformed portions W1 and W2 having the initial shape are formed is transferred to the
これにより、形成部200は、当該確認信号Sfbに基づき、後述のテスト用光ディスクDKtestの大量生産において各原光ディスクSDKの表面SFに形成される各変形部W1及びW2が、夫々に上記所望特性を有するように当該変形部W1及びW2の形状を改めて決定する。
As a result, the forming
そして、形成部200は、上記ディスク製造動作として、図1(b)に示すように、図1(a)に示す形状決定動作により最終的に決定された変形部W1及びW2としての形状を記憶し、その記憶している形状をもって、複数の原光ディスクSDKに対して同一の変形部W1及びW2を夫々形成することで、上記所望特性を備えるテスト用光ディスクDKtestを大量生産する。
Then, as shown in FIG. 1B, the forming
次に、図1を用いて概要を説明した実施形態に係るテスト用光ディスク製造装置Sの各動作について、図1乃至図5を用いてより具体的に説明する。 Next, each operation of the test optical disc manufacturing apparatus S according to the embodiment whose outline has been described with reference to FIG. 1 will be described more specifically with reference to FIGS.
検査部100は、上述した原光ディスクSDKの特性検査として、例えば一般に販売されている通常の光ディスクである当該原光ディスクSDKの上記特性を検査し、その結果を示す上記検査信号Sckを生成して形成部200及び確認部300に出力する(図2ステップS1)。このとき、当該特性として具体的には、例えば当該原光ディスクSDKにおけるいわゆるジッタ特性(いわゆるジッタボトム特性)が挙げられるが、この他に、故意に記録条件(例えば、記録用光ビームの強度等)を変動させることで、テスト用光ディスとしての元々の特性を悪く設定しておくことも、テスト用光ディスクとしては有効である。また、当該特性は、原光ディスクSDKの表面SFの全領域に渡って検査される。
The
次に、当該検査した特性に基づき、上記変形部W1及びW2を形成する原光ディスクSDKの表面SF上の位置を、形成部200において特定する(図2ステップS2)。
Next, the position on the surface SF of the original optical disk SDK that forms the deformed portions W1 and W2 is specified in the forming
このとき、当該特定の方法として具体的には、例えば、変形部W1及びW2夫々の表面SF上の形成位置及び形状が最終的に決定されるまでに用いられる原光ディスクSDKの全てについて同一の位置としてもよいし、或いは、当該各原光ディスクSDKにおいて予め規定された閾値以上の上記特性を有する表面SF上の位置を、上記変形部W1及びW2を形成する位置としてもよい。 At this time, as the specific method, specifically, for example, the same position for all of the original optical discs SDK used until the formation positions and shapes of the deformed portions W1 and W2 on the surface SF are finally determined. Alternatively, a position on the surface SF having the above-described characteristics equal to or greater than a predetermined threshold value in each original optical disc SDK may be set as the position where the deformed portions W1 and W2 are formed.
また、当該位置として具体的には、例えば、光ディスクにおいては一般にその内周部がその機能発揮上最も重要な部位であるので、当該内周部に変形部W1又はW2を形成することが、テスト用光ディスクとして最も厳しい特性を模擬する上で有効である。 Further, as the position, specifically, for example, in an optical disc, the inner peripheral part is generally the most important part for functioning. Therefore, forming the deformed part W1 or W2 on the inner peripheral part is a test. This is effective in simulating the most severe characteristics of an optical disc for use.
そして、形成部200は、当該特定された形成位置の表面SFに、上記初期形状を有する変形部W1及びW2を形成し(図2ステップS3)、暫定的なテスト用光ディスクDKtestとして確認部300に移送する。
Then, the forming
これにより、確認部300は、形成部200において初期形状の変形部W1及びW2が形成されたテスト用光ディスクDKtestの当該変形部W1及びW2が形成された位置の上記特性が、上記所望特性となっているか否かを上記検査信号Sckを参照しつつ確認する(図2ステップS4、S5)。
As a result, the
ここで、当該所望特性として具体的には、例えばテスト用光ディスクDKtestを用いたテストの対象となる情報記録装置等が、動作対象の光ディスクに起因する6.5%のジッタに対して動作耐性を有すべきものと対応規格等により定められている場合、変形部W1としては6%のジッタが生じるような特性を有するものとし、一方、変形部W2としては7%のジッタが生じるような特性を有するものとするのが好ましい。 Here, as the desired characteristic, specifically, for example, an information recording apparatus to be tested using the test optical disk DKtest has an operation resistance against 6.5% jitter caused by the optical disk to be operated. When it is determined by the corresponding standard and the like that should be present, the deformed portion W1 has a characteristic that causes 6% jitter, while the deformed portion W2 has a characteristic that causes 7% jitter. It is preferable to have it.
また、当該確認においては、上述したように変形部W1及びW2が形成された位置についてその形成前後の上記特性を確認する他、変形部W1等が形成された位置における上記特性と当該変形部W1等が形成されていない位置における上記特性とを比較した上で確認する構成としてもよい。 Further, in the confirmation, in addition to confirming the characteristics before and after the formation of the deformed portions W1 and W2 as described above, the characteristics at the positions where the deformed portions W1 and the like are formed and the deformed portions W1. It is good also as a structure confirmed after comparing with the said characteristic in the position in which etc. are not formed.
そして、当該確認の結果、上記初期形状を有して形成された変形部W1及びW2が夫々に当該テスト用光ディスクDKtestとしての上記所望特性を有している場合は(図2ステップS5;YES)、形成部200における後述のテスト用光ディスクDKtestの大量生産において、当該初期形状を有する変形部W1及びW2を備える当該テスト用光ディスクDKtestを大量生産するものと決定し(図2ステップS6)、当該初期形状を有する変形部W1及びW2が形成されるように当該形成部200を制御するための確認信号Sfbが、当該形成部200に出力される。
As a result of the confirmation, if the deformed portions W1 and W2 formed with the initial shape have the desired characteristics as the test optical disc DKtest, respectively (step S5 in FIG. 2; YES) In the mass production of the test optical disc DKtest described later in the forming
一方、当該確認の結果、上記初期形状を有して形成された変形部W1及びW2が当該テスト用光ディスクDKtestとしての上記所望特性を有していなかった場合は(図2ステップS5;NO)、再度上記ステップS2の動作に戻り、他の原光ディスクSDKを用いて上記ステップS2乃至S5の動作を再度実行する。この場合、ステップS2及びS3の動作においては、前回の上記ステップS4及びS5の動作により特性が確認された形状及び形成位置とは異なる形状及び形成位置として改めて変形部W1及びW2を形成し(ステップS2及びS3)、再度その変形部W1及びW2が形成されたテスト用光ディスクDKtestの特性を確認する(ステップS4)。以上のステップS2乃至S5の動作が複数の原光ディスクSDKについて繰り返されることにより、上記所望特性を有するテスト用光ディスクDKtestとしての諸元(すなわち、変形部W1及びW2の形状、形成位置及び形成数等の諸元)を最終的に決定し、当該決定された諸元を示す上記確認信号Sfbを確認部300から形成部200に出力する(ステップS6)。
On the other hand, as a result of the confirmation, if the deformed portions W1 and W2 formed with the initial shape do not have the desired characteristics as the test optical disc DKtest (FIG. 2, step S5; NO), The operation returns to the operation in step S2 again, and the operations in steps S2 to S5 are executed again using another original optical disk SDK. In this case, in the operations in steps S2 and S3, the deformed portions W1 and W2 are formed again as shapes and formation positions different from the shapes and formation positions whose characteristics have been confirmed by the previous operations in steps S4 and S5 (steps). S2 and S3) The characteristics of the test optical disk DKtest in which the deformed portions W1 and W2 are formed are confirmed again (step S4). By repeating the operations in steps S2 to S5 for a plurality of original optical discs SDK, the specifications as the test optical disc DKtest having the desired characteristics (that is, the shape, the formation position, the number of formations, etc. of the deformed portions W1 and W2) Are finally determined, and the confirmation signal Sfb indicating the determined specifications is output from the
そして、上記ステップS6の動作により最終的に決定された諸元をもって、形成部200において図1(b)に示すディスク製造動作を実行する。すなわち、確認部300から出力された確認信号Sfbの内容に基づいて当該決定された諸元を形成部200において記憶し、その諸元に相当する形状、形成位置及び形成数等をもって複数の原光ディスクSDKに対して変形部W1及びW2(上記形成数が二つの場合。なお、当該変形部が三つ以上形成されるものであってもよいことは、言うまでもない。)を形成する動作を繰り返し(ステップS7、S8;NO)、所望数のテスト用光ディスクDKtestの製造が終了したならば(ステップS8;YES)、一連のテスト用光ディスク製造装置Sとしての動作を終了する。
Then, the disk manufacturing operation shown in FIG. 1B is executed in the forming
なお、上記ステップS3及びS7において形成される変形部W1及びW2の具体的な形状としては、例えば上記特許文献1に記載されている形状、すなわち、テスト対象である上記情報記録装置等の使用者が情報記録用又は情報再生用の光ディスクを取り扱う際にその表面に形成されるとされる傷や指紋等に相当する形状、又は当該情報記録装置等が動作する際に光ディスクの表面に形成されるとされる傷に相当する形状とすることが好適である。更に、当該テスト対象である情報記録装置等が有するいわゆるサーボ特性の上記動作耐性をテストする場合に用いるテスト用光ディスクDKtestを製造する場合には、当該テスト用光ディスクDKtestにおける周方向に沿って円弧状の形状とされるのが好ましい。
In addition, as a specific shape of the deformation | transformation part W1 and W2 formed in the said step S3 and S7, for example, the shape described in the said
次に、上記形成部200の具体的な構成例について、図3乃至図5を用いて説明する。なお、当該構成例としては、いわゆるナノインプリント技術を用いる第1実施形態、打痕により変形部W1及びW2を形成する第2実施形態、及び第2実施形態に係る形成部200の構成を簡略化した構成例である第3実施形態、の三つがある。
Next, a specific configuration example of the
(I)形成部の第1実施形態
始めに、上記ナノインプリント技術を用いる形成部200の第1実施形態について、具体的に図3を用いて説明する。なお、図3に示す形成部200の第1実施形態は、上記ナノインプリント技術のうち熱を用いて変形部W1及びW2を形成する熱ナノインプリント技術を用いた場合について説明するものである。(I) First Embodiment of Forming Section First, a first embodiment of the forming
図3に示すように、当該形成部200の第1実施形態においては、先ず、材料となる原光ディスクSDKの表面SFに熱可塑性樹脂であるレジスト膜30を形成し(ステップS10)、当該レジスト膜30が形成された原光ディスクSDKを加熱ステージ31上に載置して加熱する(ステップS11)。
As shown in FIG. 3, in the first embodiment of the forming
そして、レジスト膜30が十分に加熱された後、上記初期形状を形成する型としての形状(図2ステップS3の場合)又は上記決定された形状を形成する型としての形状(図2ステップS7の場合)にその表面が加工されたスタンパ32を圧力をかけて押し付け(ステップS12)、その状態のまま冷却する(ステップS13)。この段階で、上記レジスト膜30の表面(原光ディスクSDK側とは反対の表面)が変形部W1及びW2としての形状を備えることとなる。
Then, after the resist
その後、十分冷却した後に元のスタンパ32を取り除けば(ステップS14)、当該スタンパ32の表面形状が転写されることで変形部W1及びW2が原光ディスクSDKの表面SF上に形成され、テスト用光ディスクDKtestが完成される。
After that, if the
なお、ナノインプリント技術を用いる形成部200としては、図3に示す熱ナノインプリント技術を用いる場合の他に、上記レジスト膜30として光硬化性のレジスト膜を用い、更に上記スタンパ32として光硬化樹脂により形成されたスタンパを用い、当該レジスト膜に当該スタンパを押し付けつつ例えば紫外線をこれらに照射して当該レジスト膜を硬化させることにより変形部W1及びW2を形成する、いわゆる光ナノインプリント技術を採用した形成部200を用いることも可能である。
In addition to the case where the thermal nanoimprint technique shown in FIG. 3 is used, the
また、上記高記録密度光ディスクに対応するテスト用光ディスクの場合について上記ナノインプリント技術を用いる場合には、当該ナノインプリント技術を用いて形成される変形部W1及びW2自体の厚さを考慮して、当該変形部W1及びW2を含む全体としての基板厚の厚さを、例えば当該高記録密度光ディスクに適用される規格上の基板厚さ±2乃至5μmとすると有効である。 Further, in the case of using the nanoimprint technique for the test optical disk corresponding to the high recording density optical disk, the deformation is performed in consideration of the thickness of the deformed portions W1 and W2 themselves formed using the nanoimprint technique. It is effective that the thickness of the entire substrate including the portions W1 and W2 is, for example, a standard substrate thickness of ± 2 to 5 μm applied to the high recording density optical disc.
(II)形成部の第2実施形態
次に、形成部200の第2実施形態として、上記打痕により変形部W1及びW2を形成する場合について、具体的に図4を用いて説明する。(II) Second Embodiment of Formation Portion Next, as a second embodiment of the
図4に示すように、当該形成部200の第2実施形態は、打痕部6と、先端部7Aを備えた打痕ヘッド7と、クランパ8と、テーブル9と、スピンドルモータ10と、により構成されている。
As shown in FIG. 4, the second embodiment of the forming
この構成において、形成部200の第2実施形態においては、先ず、スピンドルモータ10により予め設定された回転態様で回転されるテーブル9上に原光ディスクSDKを載置し、クランパ8により当該原光ディスクSDKをテーブル9に固定する。
In this configuration, in the second embodiment of the forming
一方、打痕部6は、半球形で硬度の高い先端部7Aをその先端に夫々備える複数の打痕ヘッド7を、原光ディスクの表面SFに垂直な方向に上下させることで当該先端部7Aを表面SFに打ち付ける。 On the other hand, the dent portion 6 is formed by moving up and down a plurality of dent heads 7 each having a hemispherical and hard tip portion 7A at the tip thereof in a direction perpendicular to the surface SF of the original optical disc. Strike to the surface SF.
そして、テーブル9を介して当該原光ディスクSDKを回転させつつ、打痕ヘッド7及び打痕部6を原光ディスクSDKの半径方向に移動させ、同時に打痕ヘッド7を上下させて先端部7Aを表面SFに打ち付けることで、先端部7Aの形状に対応した円形の打痕を当該表面SFに一又は複数形成する。これにより、当該打痕の集合として上記変形部W1及びW2を原光ディスクSDKに形成するのである。
Then, while rotating the original optical disc SDK via the table 9, the
このとき、先端部7Aを表面SFに接触させたまま原ディスクSDKを回転させることで、情報記録装置等における実際の動作上形成され得る引っ掻き傷等を模擬した形状の傷を変形部W1又はW2として形成することも好適である。 At this time, by rotating the original disk SDK while the front end portion 7A is in contact with the surface SF, a scratch having a shape simulating a scratch or the like that can be formed in actual operation in the information recording apparatus or the like is transformed into the deformed portion W1 or W2. It is also preferable to form as.
この形成部200の第2実施形態においては、上記初期形状を示すデータ(図2ステップS3の場合)又は図2ステップS6の動作により決定された諸元を示すデータ(図2ステップS7の場合)は、夫々打痕部6及びスピンドルモータ10に供給され、夫々の位置制御又は回転制御等に供される。これにより当該初期形状又は諸元に対応した形状の打痕により変形部W1及びW2が原光ディスクSDKの表面SF上に形成され、テスト用光ディスクDKtestが完成される。
In the second embodiment of the forming
(III)形成部の第3実施形態
次に、図4を用いて説明した第2実施形態の構成を簡略化した形成部200の第3実施形態について、具体的に図5を用いて説明する。(III) Third Embodiment of Formation Part Next, a third embodiment of the
図5に示すように、当該形成部200の第3実施形態は、先端部20Aを備え且つネジ山20Bが切られている打痕ヘッド20と、クランパ25を備える移動ステージ21と、ヘッド支持部22と、ツマミ24を備えるトルクレンチ23と、により構成されている。
As shown in FIG. 5, the third embodiment of the forming
そして、当該形成部200の第3実施形態においては、原光ディスクSDKは、形成部200の第2実施形態の如き回転するテーブル9ではなく、図5に示すX方向及びY方向夫々に移動可能な移動ステージ21上に載置され、クランパ25により移動ステージ21に固定される。
In the third embodiment of the forming
一方、形成部200の第2実施形態と同様の半球形状を有する先端部20Aを備える第3実施形態に係る打痕ヘッド20には、ネジ山20Bを介してヘッド支持部22により回転可能に支持されている。そして、当該打痕ヘッド20における先端部20Aが備えられた端部と反対の端部には、トルクレンチ23がネジ山20Bと噛み合う形で取り付けられており、このトルクレンチ23がツマミ24を用いて操作されることにより打痕ヘッド20が上下に移動し、これにより先端部20Aを原光ディスクSDKの表面SFに押し付ける時の圧力(換言すれば、先端部20Aにより当該表面SRに形成される打痕の大きさ)が決定される。
On the other hand, the dent head 20 according to the third embodiment including the tip portion 20A having the same hemispherical shape as the second embodiment of the forming
そして、当該押し付け時の圧力が決定された状態で支持部22により先端部20Aが原光ディスクSDKの表面SFに押し付けられ、この動作が必要数の打痕分だけ繰り返されることで、上記形成部200の第2実施形態と同様に変形部W1及びW2としての打痕が表面SFに形成される。
Then, the tip portion 20A is pressed against the surface SF of the original optical disc SDK by the
この形成部200の第3実施形態においては、上記初期形状を示すデータ(図2ステップS3の場合)又は図2ステップS6の動作により決定された諸元を示しデータ(図2ステップS7の場合)は、夫々XYステージ21及び支持部22並びにツマミ24における調整量として供給され、夫々の位置制御及び押し付け圧力の調整等に供される。これにより当該初期形状又は諸元に対応した形状の打痕により変形部W1及びW2が原光ディスクSDKの表面SF上に形成され、テスト用光ディスクDKtestが完成される。
In the third embodiment of the forming
次に、本願に係る実施例として、図1乃至図5を用いて説明した検査部100、形成部200及び確認部300を一体化し且つ自動化したテスト用光ディスク製造装置の実施例について、具体的に図6を用いて説明する。
Next, as an embodiment according to the present application, an embodiment of a test optical disc manufacturing apparatus in which the
なお、図6は実施例に係るテスト用光ディスク製造装置の概要構成を示すブロック図である。また、実施例に係るテスト用光ディスク製造装置は、原光ディスクSDKに対して変形部W1及びW2を形成する方法として、上述した形成部200の第2実施形態の構成を採用するものである。
FIG. 6 is a block diagram illustrating a schematic configuration of the test optical disc manufacturing apparatus according to the embodiment. The test optical disc manufacturing apparatus according to the example employs the configuration of the second embodiment of the forming
図6に示すように、実施例に係るテスト用光ディスク製造装置SSは、図4に示した形成部200に係る、先端部7Aを備えた打痕ヘッド7、打痕部6、クランパ8、テーブル9及びスピンドルモータ10に加えて、暫定形成手段、決定手段及び形成手段としてのCPU1と、検出手段及び再検出手段としての特性検出部2と、増幅/サーボ部3と、ピックアップ4と、打痕量制御部5と、打痕部6を原光ディスクSDKの半径方向に移動させるキャリッジ6Aと、により構成されている。
As shown in FIG. 6, the test optical disc manufacturing apparatus SS according to the example includes a
この構成において、上記検査部100の動作に相当する動作としては、テーブル9上に原光ディスクSDKが載置されると、CPU1は、当該原光ディスクSDKを予め設定されている回転態様で回転させるようにスピンドルモータ10を制御すべく回転制御信号Sdを生成して当該スピンドルモータ10に出力する。
In this configuration, as an operation corresponding to the operation of the
これと並行して、ピックアップ4は、予め設定された強度の光ビームBを原光ディスクSDKに対して照射し、その反射光を当該ピックアップ4において受光し、更に当該受光した反射光に対応する検出信号Spを生成して増幅/サーボ部3に出力する。このとき、当該光ビームBの原光ディスクSDK上における照射位置(すなわち、原光ディスクSDKの情報記録面に垂直な方向及び平行な方向夫々の集光位置)は、増幅/サーボ部3からのサーボ信号Ssvに基づき、当該光ビームBが原光ディスクSDKの表面SFの全領域に渡って照射されるようにピックアップ4において制御される。 In parallel with this, the pickup 4 irradiates the original optical disc SDK with the light beam B having a preset intensity, receives the reflected light at the pickup 4, and further detects the light corresponding to the received reflected light. A signal Sp is generated and output to the amplification / servo unit 3. At this time, the irradiation position of the light beam B on the original optical disc SDK (that is, the condensing position in the direction perpendicular to and parallel to the information recording surface of the original optical disc SDK) is a servo signal from the amplification / servo unit 3. Based on Ssv, the pickup 4 is controlled so that the light beam B is irradiated over the entire area of the surface SF of the original optical disk SDK.
次に、増幅/サーボ部3は、当該生成された検出信号Spに対して予め設定された増幅率による増幅処理等を施し、増幅信号Saを生成して特性検出部2に出力する。 Next, the amplification / servo unit 3 performs an amplification process or the like on the generated detection signal Sp with a preset amplification factor, generates an amplified signal Sa, and outputs the amplified signal Sa to the characteristic detection unit 2.
これにより、特性検出部2は、当該増幅信号Saに基づき、原光ディスクSDKについての上記特性を示す上記検査信号Sckを生成し、CPU1に出力する。
Thereby, the characteristic detector 2 generates the inspection signal Sck indicating the characteristic of the original optical disk SDK based on the amplified signal Sa, and outputs it to the
そして、CPU1は、当該検査信号Sckの内容としての上記検査結果を一時的に記憶する(図2ステップS1参照)。
Then, the
次に、CPU1は、上記形成部200における形状決定動作に相当する動作として、上記初期形状を有する変形部W1及びW2を形成すべき原光ディスクSDKの表面SF上の位置を特定し(図2ステップS2参照)、当該位置に対応する回転制御信号Sdを生成してスピンドルモータ10に出力すると共に、当該位置に対応する半径位置信号Sposを生成してキャリッジ6Aに出力する。これにより、スピンドルモータ10及びキャリッジ6Aは、上記初期形状を有する変形部W1及びW2を形成する位置に先端部7Aが位置するように打痕部6の半径方向の位置及び原光ディスクSDKの回転位置を設定する。
Next, the
そして、当該設定された位置に初期形状を有する変形部W1及びW2を形成すべく、CPU1は、当該初期形状に相当する打痕を形成するための制御信号Scを打痕量制御部5に出力する。これにより、打痕量制御部5は、当該初期形状を有する打痕を計制するように打痕部6及び打痕ヘッド7を夫々制御するための打痕制御信号Scdを生成して打痕部6に出力する。
Then, in order to form the deformed portions W1 and W2 having the initial shape at the set position, the
この後、打痕部6が当該打痕制御信号Scdに基づいて各打痕ヘッド7を上下動させて夫々の先端部7Aを原光ディスクSDKの表面SFに押し付けることにより、上記初期形状を有する変形部W1及びW2を原光ディスクSDKの表面SFに形成し、暫定的なテスト用光ディスクDKtestを形成する(図2ステップS3参照)。 Thereafter, the dent portion 6 moves the dent heads 7 up and down based on the dent control signal Scd and presses the respective leading end portions 7A against the surface SF of the original optical disc SDK, thereby deforming the initial shape. The parts W1 and W2 are formed on the surface SF of the original optical disk SDK, and a temporary test optical disk DKtest is formed (see step S3 in FIG. 2).
次に、ピックアップ4は、上記確認部300における形状決定動作に相当する動作として、上記初期形状の変形部W1及びW2が形成されたテスト用光ディスクDKtestの当該変形部W1及びW2が形成された位置に対して再度光ビームBを照射し、その反射光を当該ピックアップ4において受光し、更に当該受光した反射光に対応する検出信号Spを生成して増幅/サーボ部3に出力する。
Next, as an operation corresponding to the shape determining operation in the
次に、増幅/サーボ部3は、当該生成された検出信号Spに対して上記増幅処理等を施し、増幅信号Saを生成して特性検出部2に出力する。 Next, the amplification / servo unit 3 performs the above amplification processing and the like on the generated detection signal Sp, generates an amplified signal Sa, and outputs the amplified signal Sa to the characteristic detection unit 2.
これにより、特性検出部2は、当該増幅信号Saに基づき、テスト用光ディスクDKtestについて再検出された上記特性を示す上記確認信号Sfbを生成し、CPU1に出力する。
Thereby, the characteristic detection unit 2 generates the confirmation signal Sfb indicating the characteristic re-detected for the test optical disk DKtest based on the amplified signal Sa, and outputs the confirmation signal Sfb to the
そして、CPU1は、上記確認部300の動作として、先に記憶されている(変形部W1及びW2が形成されていない段階での)原光ディスクSDKについて検出された特性と、当該初期形状の変形部W1及びW2が暫定的に形成されたテスト用光ディスクDKtestの部分における特性と、を比較し、初期形状を有して当該形成された変形部W1及びW2が夫々に上記所望特性を有しているか否かを確認する(図2ステップS4、S5参照)。
Then, as the operation of the
これにより、当該確認の結果、上記初期形状を有して形成された変形部W1及びW2が当該テスト用光ディスクDKtestとして求められている特性を有している場合は(図2ステップS5;YES)、CPU1は、上記初期形状を有して形成されている変形部W1及びW2が上記所望特性を有するテスト用光ディスクDKtestとしての諸元を有するものであると決定する(図2ステップS6参照)。
Thereby, as a result of the confirmation, when the deformed portions W1 and W2 formed with the initial shape have the characteristics required as the test optical disc DKtest (step S5 in FIG. 2; YES) The
その後、上記ディスク製造動作時の動作(図1(b)参照)に相当する動作として、CPU1は、上記初期形状としての変形部W1及びW2を原光ディスクSDKの表面SFに形成すべく、上記スピンドルモータ10、打痕量制御部5及びキャリッジ6Aを制御するための上記回転制御信号Sd、半径位置信号Spos及び制御信号Scを生成して当該スピンドルモータ10、打痕量制御部5及びキャリッジ6Aに出力し、複数の原光ディスクSDKを用いて上記所望特性を備えるテスト用光ディスクDKtestを当該原光ディスクSDKの数分だけ製造させる(図2ステップS7、S8参照)。
Thereafter, as an operation corresponding to the operation at the time of the disc manufacturing operation (see FIG. 1B), the
これに対し、上記CPU1における確認の結果、上記初期形状を有して形成された変形部W1及びW2が当該テスト用光ディスクDKtestとしての所望特性を有していなかった場合は(図2ステップS5;NO参照)、再度上記ステップS2の動作に戻って他の原光ディスクSDKを用いた上記ステップS2乃至S5の動作を実行すべく、CPU1は、上記初期形状とは異なる形状を有する変形部W1及びW2を原光ディスクSDKの表面SFに形成すべく、上記スピンドルモータ10、打痕量制御部5及びキャリッジ6Aを制御するための上記回転制御信号Sd、半径位置信号Spos及び制御信号Scを生成して当該スピンドルモータ10、打痕量制御部5及びキャリッジ6Aに出力し、当該異なる形状を有する変形部W1及びW2を原光ディスクSDKの表面SFに形成して再度その特性を確認する動作を繰り返させる(図2ステップS2乃至S4参照)。この変形部W1及びW2の再形成及びその特性の確認の動作は、上記所望特性を有する変形部W1及びW2の形状や形成位置が最終的に確定されるまで(図2ステップS6参照)繰り返されることとなる。
On the other hand, as a result of confirmation by the
そして、上記ディスク製造動作時の動作(図1(b)参照)に相当する動作として、CPU1は、上記最終的に確定された形状及び形成位置により変形部W1及びW2を原光ディスクSDKの表面SFに形成すべく、上記スピンドルモータ10、打痕量制御部5及びキャリッジ6Aを制御するための上記回転制御信号Sd、半径位置信号Spos及び制御信号Scを生成して当該スピンドルモータ10、打痕量制御部5及びキャリッジ6Aに出力し、複数の原光ディスクSDKを用いて上記所望特性を備えるテスト用光ディスクDKtestを当該原光ディスクSDKの数分だけ製造させる(図2ステップS7、S8参照)。
Then, as an operation corresponding to the operation at the time of the disc manufacturing operation (see FIG. 1B), the
以上夫々説明したように、実施形態及び実施例に係るテスト用光ディスク製造装置S及びSSの動作によれば、初期形状の変形部W1及びW2を形成する前の原光ディスクSDKの特性と、当該初期形状の変形部W1及びW2を暫定的に形成した後に再検出された当該特性と、に基づいて実際のテスト用としての変形部W1及びW2の形状及び形成位置を決定するので、原光ディスクSDK自体の特性にバラツキがある場合でも、所望の規格の下での各種テストに供させることが可能な諸元を備えるテスト用光ディスクDKtestを、当該原光ディスクSDKを材料として製造することができる。 As described above, according to the operation of the test optical disc manufacturing apparatuses S and SS according to the embodiment and the example, the characteristics of the original optical disc SDK before forming the deformed portions W1 and W2 having the initial shape, and the initial Since the shapes and positions of the deformed portions W1 and W2 for actual testing are determined based on the characteristics re-detected after the shape deformed portions W1 and W2 are provisionally formed, the original optical disc SDK itself Even if the characteristics vary, a test optical disk DKtest having specifications that can be used for various tests under a desired standard can be manufactured using the original optical disk SDK as a material.
また、原光ディスクSDKにおける信号記録面ではなくその表面SFに変形部W1及びW2を形成してテスト用光ディスクDKtestとするので、一般に販売されている未記録光ディスク等を原光ディスクSDKとして、簡易な構成のテスト用光ディスク製造装置を用いて必要な諸元を備えるテスト用光ディスクDKtestを製造することができる。 Further, since the deformed portions W1 and W2 are formed not on the signal recording surface of the original optical disc SDK but on the surface SF thereof and used as the test optical disc DKtest, a simple structure can be obtained by using an unrecorded optical disc or the like on the market as the original optical disc SDK. The test optical disc DKtest having the necessary specifications can be manufactured using the test optical disc manufacturing apparatus.
更に、形成部200の第1実施形態の構成を形状決定動作に用いる場合は、初期形状に相当する表面形状を有するスタンパ32の当該表面形状を原光ディスクSDKの表面SFに形成されたレジスト膜30に転写することで初期形状の変形部W1及びW2を当該表面SFに形成するので、例えば設計値として予め規定された初期形状を正確に有する変形部W1及びW2を多数の原光ディスクSDKの表面SFに同一に形成することができ、より定量的且つ正確に必要なテストを実行することが可能なテスト用光ディスクDKtestを大量に製造することができる。
Further, when the configuration of the first embodiment of the forming
更にまた、形成部200の第2実施形態又は第3実施形態の構成を形状決定動作に用いる場合は、原光ディスクSDKの表面SFに凹形状打痕を形成して初期形状の変形部W1及びW2を当該表面SFに形成することにより初期形状の変形部W1及びW2を当該表面SFに形成するので、テスト用光ディスク製造装置S又はSSとしての構成を簡略化しつつ、例えば設計値として予め規定された初期形状を正確に有する変形部W1及びW2を多数の原光ディスクSDKの表面SFに同一に形成することができ、より定量的且つ正確に必要なテストを実行することが可能なテスト用光ディスクDKtestを簡易に且つ大量に製造することができる。
Furthermore, when the configuration of the second embodiment or the third embodiment of the forming
また、初期形状の変形部W1及びW2を形成する前後の特性に基づいて決定された形状及び形成位置で変形部W1及びW2を形成して実際のテストに用いられるテスト用光ディスクDKtestを製造するので、原光ディスクSDK自体の特性にバラツキがある場合でも、所望の規格の下での各種テストに供させることが可能な諸元を備えるテスト用光ディスクDKtestを、当該原光ディスクSDKを材料として形成することができる。 Further, since the deformed portions W1 and W2 are formed at the shapes and positions determined based on the characteristics before and after forming the deformed portions W1 and W2 having the initial shape, the test optical disc DKtest used for the actual test is manufactured. Even if the characteristics of the original optical disk SDK itself vary, a test optical disk DKtest having specifications that can be used for various tests under a desired standard is formed using the original optical disk SDK as a material. Can do.
更に、形成部200の第1実施形態の構成をディスク製造動作に用いる場合は、当該決定された形状及び形成位置に相当する表面形状を有するスタンパ32の当該表面形状を原光ディスクSDKの表面SFに形成されたレジスト膜30に転写することにより当該決定された形状及び形成位置の変形部W1及びW2を当該表面SFに形成するので、より定量的且つ正確に必要なテストを実行することが可能なテスト用光ディスクDKtestを大量に製造することができる。
Further, when the configuration of the first embodiment of the forming
更に、形成部200の第2実施形態又は第3実施形態の構成をディスク製造動作に用いる場合は、原光ディスクSDKの表面SFに凹形状打痕を形成することにより決定された形状及び形成位置に相当する変形部W1及びW2を当該表面SFに形成するので、テスト用光ディスク製造装置S又はSSとしての構成を簡略化しつつ、例えば設計値として予め規定された初期形状を正確に有する変形部W1及びW2を原光ディスクSDKの表面SFに形成することができ、より定量的且つ正確に必要なテストを実行することが可能なテスト用光ディスクDKtestを簡易に且つ大量に製造することができる。
Further, when the configuration of the second embodiment or the third embodiment of the forming
更にまた、変形部W1及びW2を、テスト用光ディスクDKtestにおける周方向に沿って円弧状に形成する場合には、例えば光ディスクに対する情報の記録時又は当該光ディスクからの情報の再生時におけるサーボ特性のテストに好適なテスト用光ディスクDKtestを、原光ディスクSDK自体の特性にバラツキがある場合でも効率的に製造することができる。 Furthermore, when the deformed portions W1 and W2 are formed in an arc shape along the circumferential direction of the test optical disk DKtest, for example, a servo characteristic test when recording information on the optical disk or reproducing information from the optical disk A test optical disc DKtest suitable for the above can be efficiently manufactured even when the characteristics of the original optical disc SDK itself vary.
また、変形部W1及びW2を、使用者による光ディスクの取り扱い時に形成される可能性のある傷に相当する形状及び形成位置で原光ディスクSDKの表面SFに形成する場合には、当該傷に対する動作耐性のテストに好適なテスト用光ディスクDKtestを、原光ディスクSDK自体の特性にバラツキがある場合でも効率的に製造することができる。 Further, when the deformed portions W1 and W2 are formed on the surface SF of the original optical disc SDK at a shape and a position corresponding to a scratch that may be formed when the user handles the optical disc, the operation resistance against the scratch The test optical disk DKtest suitable for the above test can be efficiently manufactured even when the characteristics of the original optical disk SDK itself vary.
更に、変形部W1及びW2を、光ディスクに対する実際の情報記録/再生動作中に形成される可能性のある傷に相当する形状及び形成位置で原光ディスクSDKの表面SFに形成する場合には、当該傷に対する耐性のテストに好適なテスト用光ディスクDKtestを、原光ディスクSDK自体の特性にバラツキがある場合でも効率的に製造することができる。 Further, when the deformed portions W1 and W2 are formed on the surface SF of the original optical disc SDK in a shape and a formation position corresponding to scratches that may be formed during actual information recording / reproducing operation with respect to the optical disc, The test optical disk DKtest suitable for the scratch resistance test can be efficiently manufactured even when the characteristics of the original optical disk SDK itself vary.
なお、上述した形成部200の第2実施形態の構成においては、打痕ヘッド7の先端部7A又は打痕ヘッド20の先端部20Aを原光ディスクSDKの表面SFに押し付けることにより変形部W1及びW2を夫々形成する場合について説明したが、これ以外に、当該各先端部7A及び20Aを加熱しつつ表面SFに押し付ける構成とすれば、一回の押し付けてより大きな打痕を表面SFに形成できることとなり、結果としてテスト用光ディスクDKtestの製造時間の短縮化に資することができることになる。
In the configuration of the second embodiment of the forming
Claims (10)
前記原光ディスクに対する記録特性又は当該原光ディスクからの再生特性の少なくともいずれか一方の特性を検出する検出工程と、
前記検出工程によって検出された前記特性が、予め規定された閾値以上の当該特性を有する前記原光ディスクの表面上の位置に、予め規定された規定態様の前記変形として、当該表面に凹形状打痕を形成する暫定形成工程と、
前記暫定形成工程において前記変形が形成された前記原光ディスクにおける前記いずれか一方の特性を再検出する再検出工程と、
前記検出された特性と、前記再検出された特性と、を比較し、前記再検出された特性が所望特性を有するか否かを判断し、実際の前記テスト用として前記表面に形成される前記変形の態様を決定する決定工程と、
前記決定された態様の前記変形を前記原光ディスクの前記表面に形成して前記テスト用光ディスクとする形成工程と、
を含むことを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In a test optical disk manufacturing method for manufacturing a test optical disk by forming a test deformation on the surface of an original optical disk,
A detection step of detecting at least one of a recording characteristic for the original optical disc or a reproduction characteristic from the original optical disc;
A concave dent is formed on the surface of the original optical disc having the characteristic detected by the detection step at a position on the surface of the original optical disc having a characteristic equal to or greater than a predetermined threshold. A temporary forming step of forming
A re-detection step of re-detecting one of the characteristics of the original optical disc on which the deformation is formed in the provisional formation step;
The detected characteristic and the re-detected characteristic are compared to determine whether or not the re-detected characteristic has a desired characteristic, and the surface formed for the actual test is used on the surface. A determining step for determining a mode of deformation;
Forming the deformation of the determined aspect on the surface of the original optical disc to form the test optical disc;
A method of manufacturing an optical disc for testing, comprising:
前記暫定形成工程においては、前記規定態様に相当する表面形状を有する型の当該表面形状を、前記原光ディスクの前記表面に形成された材料層に転写して当該規定態様の前記変形を当該表面に形成することを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。The test optical disc manufacturing method according to claim 1,
In the temporary forming step, the surface shape of a mold having a surface shape corresponding to the specified mode is transferred to a material layer formed on the surface of the original optical disc, and the deformation of the specified mode is applied to the surface. A method for producing a test optical disc, comprising: forming a test optical disc.
前記再検出工程においては、前記表面における前記変形が形成された位置における前記いずれか一方の特性を再検出することを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In the test optical disc manufacturing method according to claim 1 or 2,
In the redetection step, the optical disc manufacturing method for testing is characterized by redetecting any one of the characteristics at a position where the deformation is formed on the surface.
前記再検出工程においては、前記表面における前記変形が形成された位置における前記いずれか一方の特性と、当該変形が形成された位置以外の当該表面の位置における前記いずれか一方の特性と、を共に再検出することを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In the test optical disc manufacturing method according to any one of claims 1 to 3,
In the re-detection step, the one of the characteristics at the position where the deformation is formed on the surface and the one of the characteristics at the position of the surface other than the position where the deformation is formed. A test optical disc manufacturing method, characterized by performing re-detection.
前記形成工程においては、前記表面に凹形状打痕を形成することで前記決定された態様の前記変形を当該表面に形成することを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In the test optical disc manufacturing method according to any one of claims 1 to 4,
In the forming step, the deformation of the determined mode is formed on the surface by forming a concave dent on the surface.
前記変形は、前記テスト用光ディスクにおける周方向に沿って円弧状に形成される変形であることを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In the test optical disc manufacturing method according to any one of claims 1 to 6,
The test optical disc manufacturing method, wherein the deformation is a deformation formed in an arc shape along a circumferential direction of the test optical disc.
前記変形は、使用者が光ディスクを取り扱う際に当該光ディスクの表面に形成されるとされる傷に相当する態様を有することを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In the test optical disc manufacturing method according to any one of claims 1 to 6,
The method of manufacturing an optical disc for testing, wherein the deformation has an aspect corresponding to a scratch formed on a surface of the optical disc when a user handles the optical disc.
前記変形は、光ディスクに情報を記録する情報記録装置又は当該光ディスクから情報を再生する情報再生装置の少なくともいずれか一方が動作する際に当該光ディスクの表面に形成されるとされる傷に相当する態様を有することを特徴とするテスト用光ディスク製造方法。In the test optical disc manufacturing method according to any one of claims 1 to 6,
The deformation corresponds to a scratch that is formed on the surface of the optical disc when at least one of an information recording device that records information on the optical disc and an information reproduction device that reproduces information from the optical disc operates. A test optical disc manufacturing method comprising:
前記原光ディスクに対する記録特性又は当該原光ディスクからの再生特性の少なくともいずれか一方の特性を検出する検出手段と、
前記検出工程によって検出された前記特性が、予め規定された閾値以上の当該特性を有する前記原光ディスクの表面上の位置に、予め規定された規定態様の前記変形として、当該表面に凹形状打痕を形成する暫定形成手段と、
前記暫定形成手段により前記変形が形成された前記原光ディスクにおける前記いずれか一方の特性を再検出する再検出手段と、
前記検出された特性と、前記再検出された特性と、を比較し、前記再検出された特性が所望特性を有するか否かを判断し、実際の前記テスト用として前記表面に形成される前記変形の態様を決定する決定手段と、
前記決定された態様の前記変形を前記原光ディスクの前記表面に形成して前記テスト用光ディスクとする形成手段とを備えることを特徴とするテスト用光ディスク製造装置。 In a test optical disk manufacturing apparatus for manufacturing a test optical disk by forming a test deformation on the surface of an original optical disk,
Detecting means for detecting at least one of a recording characteristic for the original optical disc and a reproduction characteristic from the original optical disc;
A concave dent is formed on the surface of the original optical disc having the characteristic detected by the detection step at a position on the surface of the original optical disc having a characteristic equal to or greater than a predetermined threshold. Provisional forming means for forming
Re-detection means for re-detecting one of the characteristics of the original optical disc on which the deformation is formed by the temporary formation means;
The detected characteristic and the re-detected characteristic are compared to determine whether or not the re-detected characteristic has a desired characteristic, and the surface formed for the actual test is used on the surface. Determining means for determining a mode of deformation;
An apparatus for producing a test optical disc, comprising: forming means for forming the deformation of the determined mode on the surface of the original optical disc to form the test optical disc .
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