JP3741021B2 - Optical disc and manufacturing method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ビームによるアニールが必要な光ディスクとその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、光ディスクのAV(オーディオ・ビジュアル)への応用が活発である。例えば、主に映画コンテンツ向けのDVD(Digital Versatile Disc)では、DVD−R、DVD−RAM、DVD−RWといった追記型や書換型のフォーマットが開発され、VTRの次世代録画機として普及しつつある。今後BSデジタル放送やブロードバンド通信の普及で、より高画質の圧縮映像を記録できる大容量の光ディスク・フォーマットや、同じ容量でもより小型でポータブルでネットワーク親和性の高い高密度の光ディスク・フォーマットの登場が期待される。このような高密度記録を実現する例として、超解像方式の一種であるDWDD(Domain Wall Displacement Detection:磁壁移動検出)方式の光ディスクが提案されている。DWDD方式の光ディスクでは、隣接する記録トラック間で磁気的な結合を弱める必要がある(磁気異方性の低減)。このため、DWDD方式の光ディスクを製造する場合には、情報信号の記録を行う前に、隣接する記録トラック間の磁気的な結合を弱める初期化(以下アニール、アニール方法もしくはアニール処理と呼ぶ)を行う。
【0003】
特願2001−120689号では、前記のアニール方法におけるアニールパワーの最適な設定方法が示されている。この従来例では、アニールの最適パワーを求めるため、光ディスク上に設けたパワーテスト領域に、テスト用のアニールパワーを照射してその反射率を測定してアニールの最適パワーを決定する方法ならびに、テスト用のアニールパワー照射中の反射率測定で最適なパワーを決定する方法が示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、以上のようなアニールパワーの決定方法では、記録膜の構成によってはアニールパワーに対する反射率の変化が小さいため、決定した最適パワーがバラつき再現性に乏しい場合のあることが分かった。従ってこの方法は、特に高密度化を狙い、結果的にアニールパワー・マージンが狭くなるような使い方に対しては十分とはいえず、より正確なアニールパワーの学習方法が必要となる。そのためには、やはり実際と同じ記録再生を行って、記録再生の可否を確認する、もしくはジッタやエラーレートを測定して、アニールが最適かどうかを判定するテスト(通常録再検査と呼ぶ)を実施するのがベストと考えられる。
【0005】
ところで、アニールはディスク製造過程において実施されるので、その時点で通常録再検査を実施することが困難な場合がある。前記DWDDの光ディスクの例では、アニールは最も光スポットを絞った状態で実施するのが望ましい。通常の記録再生の光投入面側(基板越し)からのアニールは、基板厚みムラやチルトによる収差の影響で高NAのレンズが使えないので、実用的ではない。DWDDの光ディスクは片面仕様なので、記録膜の付いた側(膜面)からアニールを実施すれば、光スポットは前記収差の影響がないので短波長(青色)の光ビームを高NAレンズで小さく絞れる。但し、この場合も収差の影響となる保護コートを塗布する前に、膜面からアニールするのが望ましい。以上のようにアニールは保護コートのない膜面から実施するのが好ましいが、保護コートがない状態で磁気ヘッドを使うと記録面を傷つけてしまうので、磁気ヘッドが必要な通常録再検査はこの段階では実施できない。また仮にフライング磁気ヘッドなどを使って通常録再検査ができたとしても、保護コートを塗布すると録再感度が若干シフトするので、最適なアニールパワーの算出には補正が必要になる。
【0006】
前記通常録再検査をするには、光ディスクの保護コートなどを済ませ、カートリッジに入った完成形であることが望ましい。この形態になっていれば、この光ディスク対応の量産ドライブ装置が使え経済的である。量産ドライブ装置なら、ローディング機構とカートリッジとの関係で、磁気ヘッドと光ヘッドが光ディスクに対して所定の位置に簡単にポジショニングできる。
【0007】
一方、カートリッジに入ったアニールの可能性はどうかを考える。まず、保護コートの収差問題を克服して保護コート越しにアニールを可能にする必要がある。そして、アニール用光ヘッドを磁気ヘッド側からカートリッジ開口に入るようにして、光ディスク全領域をアクセスできるようにする必要がある。そのためには、青色レーザを使う製造装置用のアニール光ヘッドを、量産用に最適化した光ヘッド以下のサイズに納め、ローディングを含むアニール専用の新規な機構を開発する必要がある。こうした多額の投資を要する開発をしても、カートリッジの開口に磁気ヘッドとアニール用光ヘッドを同じ側に配置することは現実的に困難である。つまり、アニールと前記通常録再検査とは同じ装置で実施できないので、カートリッジに入った光ディスクをアニールするメリットはないと考えられる。
【0008】
以上説明したように、現状ではアニール実施工程とその最適アニールパワーを精度良く決定する検査工程が一箇所にできず、最適なアニールパワーを決定する有効な手段が存在しないという課題があった。この課題を解決するため、本発明は最適なアニールパワーを見つけ、最適アニールパワーでアニールした光ディスクとその製造方法を提供する。
【0009】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため、本発明の光ディスクは、データを記録再生するための録再トラックの両側を、所定パワーの光ビームでアニールする光ディスクであって、前記アニールの最適なパワーを見つけ出すための複数のテスト用トラックと、前記アニールを実施するアニール装置の識別番号(ID)を記録再生するためのID用トラックを備えたことを特徴とする。
【0010】
本発明の光ディスクによれば、アニール装置の録再トラックをアニールする前後に、そのアニールパワーが適切か、あるいは適正値からどれだけシフトしているかを、下流の検査工程で検査するためのテスト用トラックが作成できる。また、同時にアニール装置のIDをID用トラックに記録できるので、複数のアニール装置でアニールを実施する場合でも、下流の検査工程でアニール装置が特定でき、アニールパワーがシフトしている場合には、間違いなく対象のアニール装置のアニールパワーを適正値(最適アニールパワー)に補正できる。
【0011】
また、本発明の光ディスクにおいて、前記ID用トラックのIDの各ビット記録は、前記所定のアニールパワーもしくはそれより高いアニールパワーで、所定長以上の複数の区間をアニールするかしないかで記録する記録方法であり、前記IDの再生は、予め所定パターンのデータを前記ID用トラック全体に記録して、前記記録後に前記ID用トラック上の前記区間毎のデータの有/無または大/小によってそれぞれアニール無し/有りの部分を判別してIDの各ビットを再生する再生方法であることが好ましい。この好ましい例によれば、IDの記録は、アニール装置のアニール機能を使えばよく、IDの再生も通常の記録再生に信号の有無検出しマイコンで採り込むレベルの簡単な機能を実装するだけで実現できる。
【0012】
また、本発明の光ディスクにおいて、前記ID用トラックにはIDに加えて所定のルールに基づいた番号情報が記録され、前記IDおよび/または前記番号情報を前記録再トラックに記録再生するデータ管理用のメディアIDとして使用されることが好ましい。この好ましい例によれば、著作権保護などに使えるメディアID情報を、新規な別工程を導入することなく対象の光ディスクに埋め込むことができる。
【0013】
さらに、前記目的を達成するため、本発明の光ディスクの製造方法は、データを記録再生するための録再トラックの両側を、所定パワーの光ビームでアニールする光ディスクで、前記アニールに最適なパワーを見つけ出すための複数のテスト用トラックと、前記アニールを実施するアニール装置の識別番号(ID)を記録再生するためのID用トラックを備えた光ディスクの製造方法であって、前記録再トラックの両側を前記所定パワーに対応した設定パワーでアニールする第1のステップと、前記テスト用トラックを、前記設定パワーを中心とした複数の異なるパワーでアニールしたアニール検査トラックを作成する第2のステップを含む前記アニール装置を用いて前記光ディスクをアニールするアニール工程と、アニール済みの録再トラックの一部もしくは全部をライト/ベリファイして前記録再トラックの良否を判定する第3のステップと、前記アニール検査トラックをライト/ベリファイして前記アニール装置の最適アニールパワーを見つけ出す第4のステップを含む光ディスク検査装置を用いて前記光ディスクの良否を判定する検査工程と、前記設定パワーを前記検査工程で見つけ出した最適アニールパワーに変更するアニールパワー調整ステップを含むことを特徴とする。
【0014】
本発明による光ディスクの製造方法によれば、アニール工程で作成したテスト用トラックを、光ディスク検査工程で実際に記録再生してアニールパワーが適正かどうか正確に判定でき、アニール装置のアニールパワーがシフトしている場合には最適アニールパワーに再調整できるので、常に最適なアニールパワーでアニールされた光ディスクが得られる。
【0015】
また、本発明の光ディスクの製造方法において、前記アニール工程は、IDを付与した複数のアニール装置から成り、各アニール装置はそれぞれのIDを前記ID用トラックに記録する第5のステップを含み、前記検査工程の光ディスク検査装置は、前記ID用トラックからIDを読取る第6のステップを含み、前記複数のアニール装置から前記IDで特定したアニール装置1台毎に前記設定パワーを最適アニールパワーに変更することが好ましい。この好ましい例によれば、アニール工程が複数のアニール装置から構成される場合でも、アニール装置を特定して間違いなく最適アニールパワーに再調整ができる。
【0016】
また、本発明の光ディスクの製造方法において、前記第5のステップにおける前記ID用トラックのIDの各ビット記録は、前記所定のアニールパワーもしくはそれより高いアニールパワーで、所定長以上の複数の区間をアニールするかしないかで記録する記録方法であり、前記IDの再生は、予め所定パターンのデータを前記ID用トラック全体に記録して、前記記録後に前記ID用トラック上の前記区間毎のデータの有/無または大/小によってそれぞれアニール無し/有りの部分を判別してIDの各ビットを再生する再生方法であることが好ましい。この好ましい例によれば、この好ましい例によれば、IDの記録は、アニール装置のアニール機能を使えばよく、IDの再生も通常の記録再生に信号の有無検出しマイコンで採り込むレベルの簡単な機能を実装するだけで実現できる。
【0017】
また、本発明の光ディスクの製造方法において、前記第5のステップは、前記IDに加えて所定のルールに基づいた番号情報を前記ID用トラックに前記メディアIDとして記録することが好ましい。この好ましい例によれば、著作権保護などに使えるメディアID情報を、新規な別工程を導入することなく対象の光ディスクに埋め込むことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。図1は、実施形態の光ディスク100の全体図と各トラックの用途を示す図である。図1において、光ディスク100はサンプルサーボ方式の光磁気ディスクであり、101は複数のトラックから成り、ユーザデータや管理情報など実際にデータを記録再生するためのデータ領域(録再トラック)であり、ドライブ用のテスト領域を含み、この領域の録再トラック101が全てアニールされて記録再生できるようにする必要がある。各トラックは複数のセグメント102から構成される。セグメント102のトラック当りの数は例えば1280個と、トラッキングサーボに十分な個数から成る。セグメント102は、サンプルサーボ信号やアドレス信号を記録するためのピット領域103と、データを記録再生するためのグルーブ領域104から構成される。光ディスクの内周と外周にはそれぞれ、リードイン領域105とリードアウト領域106が配置される。後述するコントロールトラック105aのグルーブ領域以外は、データ領域101と同じようにセグメント102で構成されている。
【0019】
各領域のトラック構成は図1の右側に示した。即ち、リードイン領域105は、内周から順に、ディスクの使い方に関する情報などを予め記録したコントロールトラック105a、アニールパワーをテスト(通常データのパワー学習に相当)するための複数本のトラックからなるテスト用トラック105b、ならびにアニール装置のIDなどID情報を記録するためのID用トラック105cの3領域から構成される。コントロールトラック105aのセグメント102内のグルーブ領域104は、グルーブの一部がプリピット(エンボスとも呼ぶ)から構成される。リードアウト領域106は、ID用トラック106aならびにテスト用トラック106bから構成される。ID用トラック105cと106aはいずれも1本でも十分機能する。
【0020】
図2は、光ディスク100がDWDD再生方式の時の構造を示す図で、データ領域101の一部断面を示した斜視図(2a)と断面の拡大図(2b)である。図2(2a)において、201は光ディスク100の基板であり、ポリカーボネートのインジェクション成形などで形成され、厚みは、例えば0.4mm〜1.2mm程度である。トラック・ピッチは高密度化のため0.7μm以下と小さく設定している。202と203はそれぞれ、グルーブ領域104を構成するグルーブとランドである。204、205、206および213はそれぞれ、ピット領域103を構成する第1ウォブルピット、第2ウォブルピット、アドレスピットおよびミラー部である。207は第1誘電体層、208は磁性層、209は第2誘電体層で基板上にこの順で成膜され、全体で積層薄膜200を構成する。第1誘電体層207および第2誘電体層209には、例えば、Si3N4、AlN、SiO2、SiO、ZnS、MgF2およびこれらの複合材料などの透明誘電材料が使用できる。
【0021】
210は磁気結合遮断領域であり、光ディスク100のトラック間を分離し、DWDD再生時に隣接トラックからの悪影響を防止するためのものである。磁気結合遮断領域210の形成には、光ディスク100の製造工程で、後述のアニール装置を使う。そのアニール装置の一部である対物レンズを211でレーザビームを絞り込んだ高パワーのアニール用光ビーム(光スポット)212を、ランド203ならびにその延長線上の積層薄膜200に当てて、磁気的な特性を劣化させることで形成される。実際のディスク製造では、光ディスク1枚毎に、データ領域101を含め通常の記録再生を行うトラックの両側を全てアニールすることが必要になる。具体的には所定のアニールパワーでアニールすべき領域のランドにトラッキングをかけながら走査することで、アニールは実現できる。この場合、製造コストを下げるためにはできるだけ走査速度が速く短時間で実現されることが求められる。
【0022】
磁気結合遮断領域210の幅は、トラックピッチを狭めて高密度化するために、小さければ小さい程よい。小さくする必要のある理由の一つは、アニール用光ビーム212のエネルギー密度を上げて局所的に、積層薄膜200を劣化できると共に、同じパワーでも走査速度即ち線速を高められることができることであり、もう一つの理由は、よりトラックピッチの小さいトラックのランドからプッシュプル信号を検出して、トラッキングをかけるためである。アニール用光ビーム212の直径をできるだけ小さくするため、ここでは例えばGaNの半導体レーザ素子や赤色レーザの波長を半分にするSHG素子などの波長λが400nm程度の短いレーザ光源を用い、対物レンズのNAは通常より大きく0.65〜0.85とすることで、λ/NAで決まるアニール用光ビームを小さく絞り込んでいる。
【0023】
また、短波長や高NAの対物レンズを使った場合、通常の記録再生で行うような基板201越し(図の下方からレーザ光を入射させる)で、積層薄膜200上に光ビームを形成しようとすると、通常の光ビームに比べて基板のチルトに対して光ビームの絞り性能が著しく劣化するため好ましい方法とは言えない。逆説的に、基板越しに、安定な光ビームを形成しようとすると、レーザ光源の短波長化や、対物レンズの高NA化は難しい。
【0024】
そこで、ここではアニール処理は積層薄膜200側からレーザ光を入射させている。こうすることで、基板チルトの影響を取り除けるため、レーザ光源の短波長化と対物レンズの高NA化によって、積層薄膜200上に小さくて良好なアニール用光ビームが形成できる。例えば、λ=405nm、NA=0.85のアニール用光ビーム212のサイズは、通常記録再生に使う波長λ=650nm、NA=0.6の光ビームと比較すると、約0.44倍と小さくできる。
【0025】
なお、積層薄膜200面側からディスクを見ると、ランド203は手前に見えるため、通常再生のグルーブのように見えるので、トラッキング極性には注意が必要である。また、通常この種の光ディスクは、製膜後に数μm程度の保護コートをスピンコートで塗布するが、この保護コートがあると、フォーカスのS字が干渉して膜面へのフォーカス精度が甘くなる、保護コートの厚みムラで対物レンズの収差が発生する、保護コートの厚みによるチルトの影響が無視できなくなるなどの問題点が発生するので、アニールは保護コート無しが好ましい。但し、保護コート時のホコリによるコートムラ、不良を避けるため、アニール工程はクリーンな環境で実施する必要がある。
【0026】
ランド203は、トラック間の熱的な分離効果に加え、主にはアニールを実現するために配置したものである。また、通常の記録再生のために、ランド203とは別に、第1ウォブルピット204と第2ウォブルピット205が設けてある。それぞれのウオブル信号の大きさが同一になるようにサンプルサーボをかけて、再生光ビームがグルーブ202の中央を走査できるようにしている。ウォブルピットの配置は、記録再生ビームが、アニール用光ビーム212の径の2倍でも、トラッキングがかかるように、奇数、偶数トラックで交互にピットが配置されるよう工夫してある。
【0027】
次に磁性層208の構成を説明する。図2(2b)において、21,22,23はそれぞれ、磁壁移動層、遮断層および記録層であり、この順に第1誘電体層207の上に形成されて、磁性層208を構成する。
【0028】
第2誘電体層209の厚さは、第2誘電体層209側からアニール用のレーザ光を照射した時に、その反射率が低く、光が効率よく吸収されるように設定される。具体的には、第2誘電体層209の厚さは、λ/(4×n)の前後が好ましく、λ/(12×n)以上λ/(2×n)以下(好ましくは、λ/(6×n)以上λ/(2×n)以下)である。
【0029】
磁性層208は、DWDD方式で再生が可能なように3層以上の磁性体層を含む。磁性層208は、第2誘電体層209側から入射された波長λの光を用いてアニールされた層である。磁性層208の一例として、磁性層208が、基板201側から順に積層された磁壁移動層21、遮断層22および記録層23を含む場合には、各層の材料として、以下のものを用いることができる。磁壁移動層21の材料には、小さな磁壁抗磁力を有し、遮断層22のキュリー温度近傍の温度範囲で飽和磁化が小さな材料で、そのキュリー温度が記録層23よりも低く遮断層22よりも高い材料を用いることができる。例えば、GdCoやGdFeCo、またはその合金でキュリー温度が220℃〜260℃程度のものを用いることができる。
【0030】
遮断層22の材料としては、キュリー温度が磁壁移動層21や記録層23よりも低いものであり、そのキュリー温度直下まで大きな磁壁抗磁力を有する材料を用いることが好ましい。例えば、DyFeやTbFe、またはその合金を用いることができ、その典型的なキュリー温度として140℃〜180℃のものを用いることができる。
【0031】
記録層23は大きな磁壁抗磁力を有し、磁壁移動層21や遮断層22よりも高いキュリー温度を有し、遮断層22のキュリー温度近傍の温度範囲で飽和磁化が小さな材料を用いることができる。例えば、TbFeCo、またはその合金で、キュリー温度が280℃〜300℃のものを用いることができる。
【0032】
図3は、以上で説明した光ディスク100の製造工程(3a)と製造手順(3b)を、アニールを中心に説明した図である。なお以下の説明では、説明の都合上、テスト用トラックは105bと106bのうち106bを、ID用トラックは105cと106aのうち106aを使うこととするが、実際の使い方は、反対のものを使ったり、信頼性向上のために両方を使う場合もある。
【0033】
(3a)の製造工程ではまず、S301の成形・製膜工程で、光ディスク基板は射出成形で成形され、その基板上に前述の磁性層208などがスパッタリングで製膜される。その後にアニールされる(S302:アニール工程)。アニールされた光ディスク100は、保護コートや潤滑剤が塗布され、マグネット・クランプのためのクランピングプレートが溶着され、カートリッジに納められる(S303:保護コート・組立て工程)。カートリッジに納められた光ディスク100は、光ディスク検査工程S304でアニールの良否判定に関わる試験のほか、記録再生のテストや、良品の光ディスクに対する、物理、論理、アプリケーション等のフォーマットなど、出荷検査、設定に相当する処理が施される。ここで良品となり完成した光ディスク100は、梱包・出荷工程S305を経て市場に出荷される。
【0034】
アニール工程S302と光ディスク検査工程S304は、他の工程に比べて1枚あたり多くの時間がかかるので、工程の時間を調整するために、それぞれ複数のアニール装置と複数の光ディスク検査装置を配置して使う。図3における複数の矢印はそれを示す。後述するように、光ディスク検査工程S304では、アニール装置毎の設定アニールパワーと最適アニールパワーとの差分を測定できるので、それに基づいて各アニール装置のアニールパワーを最適に補正する(S306:アニールパワー調整)。
【0035】
なお、光ディスク100の感度バラつきや不良混入などにより、光ディスク1枚毎にアニールパワー補正すると不具合が生じる可能性があるので、平均化などの統計処理して定期的にアニール装置にフィードバックするのが好ましい。但し、アニールが不完全で記録再生が不良となる場合には、対象のアニール装置はすぐに停止し、その装置を交換・修理する。以上の動作は人手を介していたのでは効率が悪く間違いも発生する可能性があるので、コンピュータを使った自動化を導入するのが好ましい。
【0036】
アニール装置、光ディスク検査装置の具体的構成例は、それぞれ図6と図7を使って後述するが、それぞれの動作手順(ステップ)は図3(3b1)と(3b2)に示した通りである。
【0037】
即ち(3b1)のアニール装置の動作手順では、まず通常録再するグルーブ202に再生パワーでトラッキングした状態で起動し、アドレスを読んでデータ領域101の少なくとも一つ手前のトラックにシークし、ランド203にトラッキング極性を変更するようにハーフジャンプしてスチルジャンプを解除し、アニール設定パワーにパワーを上げて、スパイラルに配置されたランド203を連続的に走査し、全録再トラック101の両側を全てアニールする(S307)。アニールを終えると、一旦パワーを再生パワーに戻し、グルーブ202にトラッキングし、アドレスを読めるスタンバイ状態とする。
【0038】
次に、アニールパワーの検査用トラックをするためテスト用トラック106bにシークして、設定パワーを中心に異なるアニールパワーでアニールしたテスト用トラック106bを作成する(S308)。テスト用トラック106bは、例えば設定パワーを5mWとし、3.5mW〜6.5mWを0.25mW刻みで13通りの106bをそれぞれ5本ずつ作成する。テスト用トラック106bの作成は、各パワー毎に、アニール動作を5本で打ち切るような動作を実施するか、アニール動作中にアニールパワーを順次上げていく動作を実施することによって実現できる。
【0039】
一旦スタンバイ状態に戻し、最後にID用トラック106aにシークして、IDを記録する(S309)。この時のトラッキング極性は基本的にグルーブ202とする。IDの記録パワーは、設定アニールパワーかそれより高いパワーとして、対象グルーブの区間を確実に劣化させる。なお、簡略化のためにアニール時のトラッキング極性を変えずに、ID用トラック106aの両端を高パワーでアニールして、グルーブの特性を劣化させてもよいが、隣接トラックも同時に劣化するので好ましい方法とは言えない。
【0040】
次に(3b2)の光ディスク検査装置の動作手順を説明する。検査すべき光ディスク100は既にカートリッジに入っている。光ディスク検査装置には、通常の記録再生を備えた量産用の通常ドライブ装置を使うのが経済的に適切である。ここでの動作説明はアニールの良否判定に関わるもののみを示し、前述のようなフォーマット動作や他の出荷検査に関わるような内容の説明は省略する。
【0041】
光ディスク検査装置は光ディスク起動後、アニール済みの録再トラック101を例えば16本に1本の割合でライト/ベリファイ(W/V)して、それらのトラックの良否判定を行う(S310)。この段階で所定レベルの不良が発生した場合には、被検査光ディスクを不良とするが、この不良がアニールによるものかどうかを判定するために、不良でも以降のステップを実施する。
【0042】
次にアニール装置で作成したアニールパワーの設定値毎のテスト用トラック106bをW/Vして、W/VでNGとなる上限と下限のアニールパワーを見つけ、その平均パワーを最適アニールパワーとして算出する(S311)。この最適パワー算出のステップでは、より正確なパワーを検出するため通常のGO/NOGOのW/Vではなく、ジッタ測定やエラーレート測定を行うことや、さらにアニールパワー変動に敏感な再生パラメータに変更して再生特性の検査を実施することでより、最適アニールパワーが正確に見つけられる。なお、ここで見つけた上限と下限パワーの差が所定の値を切る時はNGとする。また、テスト用トラック106bに欠陥が見つかった場合には、それを最適パワー演算から除外するよう処理する。
【0043】
最後に、ID用トラック106aにシークして、ID情報を読取り(詳細は後述)、今検査した光ディスク100がどのアニール装置でアニールされたかを特定し、アニールパワー調整S306に使う。
【0044】
なお、アニール中にトラックジャンプ等が発生して、アニールが中断した場合には、中断した点からアニールのリトライを試みて、それでもトラックジャンプが発生するようなら、そこをスキップしてアニールする。但し、スキップするトラックの長さは、以降の通常録再に影響のないレベルに限定する必要がある。また、アニール中には、ランド203やピット領域103のピット品質などを検査して、上流の成形・製膜工程S301にフィードバックすることも有効である。もちろん、アニール装置そのものの故障や不良を検出して、不良光ディスクを作成しないようにすることも大事である。
【0045】
図4は、前述のID記録と再生の具体的な方法を説明する図である。まず装置IDの記録を(4a)に示す。記録するのは、ID用トラック106aを、所定長以上の長さに分割した区間にID情報のビットを割り当てる。ここでは、簡単のためセグメント102の1つを1区間としている。ID情報の記録は、そのビットの“1”、“0”に応じて、セグメント102毎にそれぞれ“設定アニールパワー以上のパワー”、“再生パワーレベル”を照射する。
【0046】
設定アニールパワー以上を照射された部分は、アニールと同様その磁気特性が劣化される。この劣化の度合いを以下の再生処理で検出する。(4b)は、再生前のパターン記録を示す。ID用トラック106aにシークして、レーザ強度を、記録レベルにして、磁気ヘッドを磁界変調してID用トラック106aに等価的に記録を行う。ここでのデータパターンは単一周波数の信号とする。セグメント毎に記録でき、しかも超解像再生を要する程高周波数でなく通常MO再生のできる低周波数で十分なので、実装上の問題は少ない。次にここで準備したID用トラック106aを再生する(4c)。セグメント102の磁気特性を劣化の有/無で、MOの再生振幅はそれぞれ小/大となり、それをエンベロープとして検出して、それぞれビット“1”/“0”と再生できる。
【0047】
なお、以上の実施形態では、1セグメントを1ビットに割り当てたが、1トラックは例えば1280セグメントと多いので、ID情報を128ビット入れても1ビット当り8セグメント以上を割り当ててもよい。また、複数セグメントに1ビットを割当てる場合には、再生信頼性を向上するために、1ビット毎にアニールするセグメント数を一定とするようなDCフリー変調などの工夫も好ましい。
【0048】
図5には、ID用トラック106aに記録するID情報の例を示した。アニール装置のIDだけなら16ビットも十分だが、ここでのID情報の記録は光ディスク100の1枚毎に、不揮発的な記録を実施しているので、特に最近急速に普及しつつあるメディア情報の配信などに使うメディアIDとして拡張して使うことが有効と考えられる。また、そのために新たな工程を必要としない点もメリットである。
【0049】
(5a)は、単純なID情報の例である。401は装置IDで、402はそのエラー検出コードCRCである。ここでは、読取り信頼性を向上するために2重書きしている。
【0050】
(5b)と(5c)は、光ディスク100の1枚毎にIDを与え、しかもその製造履歴も分かるようにしたID情報の例である。403、404、405はそれぞれ光ディスク100の製造者ID、製造年月日、シリアル番号である。シリアル番号405は、製造日毎に初期化したシリアル番号でも十分である。付与ID406は、著作権管理機構などから与えられる番号である。407と408は、以上の情報の集合集413に対する、それぞれエラー検出コードCRCとエラー訂正コードECCである。この例では、情報の集合413をメディアIDとして使うことを想定している。
【0051】
(5c)は情報の集合413を、付与ID406を除く情報の集合414と付与ID406とに分けた例である。409と410は前者のCRCとECC、411と412は後者のCRCとECCである。これによって、情報の集合414と付与IDを別々のメディアIDとして使えることを可能としている。なお、ID情報にはメディアIDとは別に、アニール装置で同時に実施すると好適と考えられる光ディスクのピット信号品質の検査結果データや、アニール中のエラー発生箇所などを記録して、工程管理に使うことも可能である。
【0052】
図6は、本実施形態のアニール工程に使うアニール装置の主要部のブロック図である。図6において、501はλ=405nmのGaNの半道体レーザ、502は半導体レーザ501の出射光の一部を照射パワーとして測定する照射パワー検出器、503はビームスプリッタ、211はNA0.75の対物レンズである。半導体レーザ501から出射されたレーザ光はビームスプリッタ503、対物レンズ211を通過して、光ディスク100のランド203に集光されアニール用光ビーム212を形成する。半導体レーザ501の出射パワーは、照射パワー検出器502の検出結果に基づいて、通常のパワーサーボ方式で506のアニールパワー制御部で制御する。
【0053】
アニール用光ビーム212は、光ディスク100の積層薄膜200に吸収され熱に変化すると共に、反射されてアニール用光ヘッド500に反射光として戻ってくる。対物レンズ211とビームスプリッタ503の間に不図示のλ/4板を配置し、前記反射光はビームスプリッタ503で光路を変更し反射パワー検出器505に導く。反射パワー検出器505の出力は、フォーカス誤差信号検出、トラッキング誤差信号検出やトラックアドレス読みなどに使われる。507は最適アニールパワー設定部であり、DIPスイッチまたはEEPROMなどに設定パワー値がコードとして設定され、その値に基づいてアニール装置の一連の処理が実施される。
【0054】
508はID設定部であり、これもDIPスイッチまたはEEPROMなどに装置ID情報が記憶され、この値に基づいてID情報が作成され、ID用トラック106aに記録される。図5(5b)、(5c)のようにID情報を拡張する場合には、アニール装置をスレーブとして上位のコントローラから情報を送るのが好適である。なお、CRCやECCは不図示のアニール装置コントロール用のマイコンで予め計算する構成にすれば、ハード量の増加は少なくて済む。
【0055】
図7は、本実施形態の光ディスク検査工程に使う光ディスク検査装置の主要部のブロック図である。図7において、601は波長λ=650の半道体レーザ、602は半導体レーザ601の出射光の一部を照射パワーとして測定する出射(照射)パワー検出器、603はビームスプリッタ、604はNA0.6の対物レンズである。半導体レーザ601から出射されたレーザ光はビームスプリッタ603、対物レンズ604を通過して、光ディスク100のグルーブ202に集光され録再用光ビーム610を形成する。半導体レーザ601の出射パワーは、出射パワー検出器602の検出結果に基づいて録再制御部606で制御される。
【0056】
録再用光ビーム610はMO信号を検出するため直線偏光とする。光ビーム610は、記録時には記録パワー(周波数一定パルス変調)として磁気ヘッド609を磁界変調させながら光ディスク100の積層薄膜200を、磁気ヘッド609で磁化して情報を記録する。また光ビーム610は、再生時には再生パワーを積層薄膜200に当て、磁壁移動および/または通常の光磁気状態をカー回転角の変化をMO信号として検出する。MO検出信号として反射された光ビーム610は、対物レンズ604に戻り、ビームスプリッタ603で、MO信号検出器605に導かれる。MO信号検出器は、フォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号のほか、MO差動信号とサンプルサーボ/アドレス読み用の加算信号を録再制御部606に送る。607は、録再制御部606によって実施するステップS311で得た、最適アニールパワーが格納される最適アニールパワー格納部である。607は、録再制御部606によって実施するID再生ステップS312で読み出されたID情報を格納する、再生ID格納部である。なお、ID情報のCRCやECCは不図示の光ディスク検査装置コントロール用のマイコンで後から計算すればハードの追加は少なくて済む。
【0057】
なお、以上の本発明における実施形態では、DWDD再生方式でサンプルサーボの光ディスクを具体例として説明してきた。しかし本発明は、DWDDの光ディスクの記録材料に限定するものではなく、DWDD以外の光磁気材料の特性改善や、相変化材料のトラック間を予め所定のパワーを当てて反射率や記録特性を安定化するためのトラック間アニールなどにも適用可能である。また、サーボ方式も連続サーボにも使えることはいうまでもない。さらに、磁気ディスク上に光ビームでガイドを構成するなどの光ディスク以外の製造にも有効に使えると考えられる。
【0058】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明による光ディスクおよびその製造方法を使えば、アニール工程に使うアニール装置のアニールパワーを常に最適に保つことができ、常に最適なアニールパワーでアニールされた光ディスクおよびその製造装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態における光ディスクの構造を示す図
【図2】(a)本発明の実施形態における光ディスクの断面斜視図
(b)本発明の実施形態における光ディスクの拡大図
【図3】本発明の実施形態における製造工程と製造手順を示す図
【図4】本発明の実施形態におけるIDの記録・再生方法の説明図
【図5】本発明の実施形態におけるID情報のデータ例を示す図
【図6】本発明の実施形態における光ディスクの製造工程に用いるアニール装置のブロック図
【図7】本発明の実施形態における光ディスクの製造工程に用いる光ディスク検査装置のブロック図
【符号の説明】
100 光ディスク
101 データ領域(録再トラック)
102 セグメント
103 ピット領域
104 グルーブ領域
105 リードイン領域
105a コントロールトラック
105b アニールパワーテスト用トラック
105c ID用トラック
106 リードアウト領域
106a ID用トラック
106b アニールパワーテスト用トラック
200 積層薄膜
201 基板
202 グルーブ
203 ランド
204 第1ウォブルピット
205 第2ウォブルピット
206 アドレスピット
207 第1誘電体層
208 磁性層
21 磁壁移動層
22 遮断層
23 記録層
209 第2誘電体層
210 磁気結合遮断領域
211 対物レンズ(アニール用)
212 アニール用光ビーム
213 ミラー部
S301 成形・製膜工程
S302 アニール工程
S303 保護コート・組立て工程
S304 ディスク検査工程
S305 梱包・出荷工程
S306 アニールパワー調整
401 装置ID
402,407,409,411 CRC
403 製造者ID
404 製造年月日
405 シリアル番号
406 付与ID
408,410,412 ECC
500 アニール用光ヘッド
501 半導体レーザ
502 照射パワー検出器
503 ビームスプリッタ
505 反射パワー検出器
506 アニールパワー制御部
507 最適アニールパワー設定部
508 ID情報設定部
600 録再用光ヘッド
601 半導体レーザ
602 出射パワー検出器
603 ビームスプリッタ
604 対物レンズ
605 MO信号検出器
606 アニールパワー制御部
607 最適アニールパワー格納部
608 再生ID格納部
609 磁気ヘッド
610 録再用光ビーム[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical disc that needs to be annealed by a light beam and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
In recent years, optical discs have been actively applied to AV (audio / visual). For example, in DVD (Digital Versatile Disc) mainly for movie content, write-once and rewritable formats such as DVD-R, DVD-RAM, and DVD-RW have been developed and are becoming popular as next-generation recorders for VTRs. . With the spread of BS digital broadcasting and broadband communications in the future, the appearance of large-capacity optical disc formats capable of recording compressed images with higher image quality, and the appearance of high-density optical disc formats that are smaller, portable, and have high network compatibility with the same capacity. Be expected. As an example for realizing such high-density recording, a DWDD (Domain Wall Displacement Detection) type optical disc, which is a kind of super-resolution type, has been proposed. In the DWDD type optical disc, it is necessary to weaken the magnetic coupling between adjacent recording tracks (reduction of magnetic anisotropy). For this reason, when manufacturing an optical disk of the DWDD system, initialization (hereinafter referred to as annealing, annealing method or annealing process) for weakening the magnetic coupling between adjacent recording tracks is performed before recording the information signal. Do.
[0003]
Japanese Patent Application No. 2001-120688 discloses an optimum setting method of annealing power in the above annealing method. In this conventional example, in order to determine the optimum power for annealing, a method for determining the optimum power for annealing by irradiating the test annealing power to the power test area provided on the optical disk and measuring the reflectivity, and the test A method for determining the optimum power by measuring the reflectance during annealing power irradiation is shown.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the method for determining the annealing power as described above, it has been found that since the change in reflectance with respect to the annealing power is small depending on the configuration of the recording film, the determined optimum power varies and the reproducibility may be poor. Therefore, this method is not sufficient for a usage that aims at higher density and consequently the annealing power margin becomes narrower, and a more accurate annealing power learning method is required. For this purpose, the same recording / reproduction as in actual practice is performed to check whether recording / reproduction is possible, or by measuring the jitter and error rate to determine whether annealing is optimal (referred to as normal recording / reproduction inspection). Implementation is considered best.
[0005]
By the way, since annealing is performed in the disc manufacturing process, it may be difficult to perform normal recording / playback inspection at that time. In the example of the DWDD optical disc, it is desirable that the annealing be performed with the light spot being most focused. Annealing from the light input surface side (over the substrate) for normal recording / reproduction is not practical because a lens with a high NA cannot be used due to the influence of substrate thickness unevenness or aberration due to tilt. Since the DWDD optical disk has a single-sided specification, if annealing is performed from the recording film-attached side (film surface), the light spot is not affected by the aberrations, so that a short wavelength (blue) light beam can be reduced with a high NA lens. . However, in this case as well, it is desirable to anneal from the film surface before applying the protective coating that affects the aberration. As described above, annealing is preferably performed from the film surface without the protective coating, but if the magnetic head is used without the protective coating, the recording surface will be damaged. Cannot be implemented at the stage. Even if normal recording / playback inspection can be performed using a flying magnetic head or the like, the recording / playback sensitivity slightly shifts when a protective coat is applied, so that correction is required for calculating the optimum annealing power.
[0006]
In order to perform the normal recording / reproduction inspection, it is desirable that the optical disk is a completed form in which a protective coat or the like is finished and the cartridge is contained. If it is in this form, this mass production drive device corresponding to the optical disk can be used and is economical. In the mass production drive device, the magnetic head and the optical head can be easily positioned at predetermined positions with respect to the optical disk due to the relationship between the loading mechanism and the cartridge.
[0007]
On the other hand, consider the possibility of annealing in the cartridge. First, it is necessary to overcome the aberration problem of the protective coat and enable annealing over the protective coat. Then, it is necessary to make the annealing optical head enter the cartridge opening from the magnetic head side so that the entire area of the optical disk can be accessed. To that end, it is necessary to develop a new mechanism dedicated to annealing, including loading, by placing an annealing optical head for a manufacturing apparatus using a blue laser in a size smaller than an optical head optimized for mass production. Even with such a development requiring a large investment, it is practically difficult to arrange the magnetic head and the annealing optical head on the same side in the opening of the cartridge. In other words, since annealing and the normal recording / reproducing inspection cannot be performed by the same apparatus, it is considered that there is no merit of annealing the optical disk contained in the cartridge.
[0008]
As described above, at present, there is a problem that the annealing process and the inspection process for determining the optimum annealing power with high accuracy cannot be performed in one place, and there is no effective means for determining the optimum annealing power. In order to solve this problem, the present invention provides an optical disc annealed with an optimal annealing power, and an optical disc manufacturing method.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an optical disc of the present invention is an optical disc in which both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data are annealed with a light beam of a predetermined power for finding the optimum power of the annealing. A plurality of test tracks and an ID track for recording / reproducing an identification number (ID) of an annealing apparatus for performing the annealing are provided.
[0010]
According to the optical disk of the present invention, before and after annealing the recording / reproducing track of the annealing apparatus, for the test for inspecting in the downstream inspection process whether the annealing power is appropriate or how much it is shifted from the appropriate value. A track can be created. In addition, since the ID of the annealing apparatus can be recorded on the ID track at the same time, even when annealing is performed with a plurality of annealing apparatuses, the annealing apparatus can be specified in the downstream inspection process, and the annealing power is shifted, Without a doubt, the annealing power of the target annealing device can be corrected to an appropriate value (optimal annealing power).
[0011]
In the optical disc of the present invention, each bit recording of the ID of the ID track is performed by recording whether or not a plurality of sections having a predetermined length or more are annealed with the predetermined annealing power or higher annealing power. The reproduction of the ID is performed by previously recording data of a predetermined pattern on the entire ID track, and after the recording, depending on presence / absence or large / small of the data for each section on the ID track. It is preferable that the reproduction method regenerates each bit of the ID by discriminating whether there is no annealing or not. According to this preferred example, the ID recording can be performed by using the annealing function of the annealing device, and the ID reproduction can be performed by simply detecting the presence or absence of a signal in normal recording / reproducing and implementing a simple function that is adopted by a microcomputer. realizable.
[0012]
In the optical disc of the present invention, number information based on a predetermined rule is recorded on the ID track in addition to ID, and the ID and / or the number information is recorded and reproduced on a pre-recording / retrack. It is preferably used as a media ID. According to this preferred example, media ID information that can be used for copyright protection or the like can be embedded in the target optical disk without introducing a new separate process.
[0013]
Furthermore, in order to achieve the above object, an optical disc manufacturing method of the present invention is an optical disc in which both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data are annealed with a light beam having a predetermined power, and an optimum power for the annealing is obtained. An optical disc manufacturing method comprising a plurality of test tracks for finding out and an ID track for recording / reproducing an identification number (ID) of an annealing apparatus for performing the annealing, wherein both sides of the pre-recording re-track are provided A first step of annealing at a set power corresponding to the predetermined power; and a second step of creating an anneal inspection track in which the test track is annealed at a plurality of different powers centered on the set power. An annealing process for annealing the optical disk using an annealing apparatus, and an annealed recording / playback track A third step of writing / verifying a part or all of the disk to determine the quality of the pre-recording re-track, and a fourth step of writing / verifying the annealing inspection track to find the optimum annealing power of the annealing apparatus. And an annealing power adjustment step of changing the set power to the optimum annealing power found in the inspection process.
[0014]
According to the optical disk manufacturing method of the present invention, the test track created in the annealing process can be actually recorded and reproduced in the optical disk inspection process to accurately determine whether the annealing power is appropriate, and the annealing power of the annealing apparatus is shifted. In such a case, the optical disk can be readjusted to the optimum annealing power, so that an optical disc annealed with the optimum annealing power is always obtained.
[0015]
In the method of manufacturing an optical disc according to the present invention, the annealing step includes a plurality of annealing apparatuses to which IDs are assigned, and each annealing apparatus includes a fifth step of recording each ID on the ID track, The optical disc inspection apparatus in the inspection step includes a sixth step of reading the ID from the ID track, and changes the set power to the optimum annealing power for each annealing apparatus specified by the ID from the plurality of annealing apparatuses. It is preferable. According to this preferred example, even when the annealing step is constituted by a plurality of annealing apparatuses, it is possible to specify the annealing apparatus and to readjust the optimum annealing power without fail.
[0016]
In the optical disk manufacturing method of the present invention, each bit recording of the ID track ID in the fifth step may be performed with a plurality of sections having a predetermined length or more with the predetermined annealing power or higher annealing power. In the recording method, recording is performed by annealing or not, and the reproduction of the ID is performed by previously recording data of a predetermined pattern on the entire ID track, and after the recording, data of each section on the ID track is recorded. It is preferable that the reproduction method reproduces each bit of the ID by discriminating whether there is no annealing or not depending on presence / absence or large / small. According to this preferred example, according to this preferred example, the ID recording may be performed by using the annealing function of the annealing apparatus, and the reproduction of the ID can be performed simply by detecting the presence / absence of a signal in normal recording / reproduction and adopting it by a microcomputer. This can be achieved simply by implementing various functions.
[0017]
In the optical disk manufacturing method of the present invention, it is preferable that the fifth step records number information based on a predetermined rule in addition to the ID as the media ID on the ID track. According to this preferred example, media ID information that can be used for copyright protection or the like can be embedded in the target optical disk without introducing a new separate process.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an overall view of an
[0019]
The track configuration of each area is shown on the right side of FIG. That is, the lead-in
[0020]
FIG. 2 is a diagram showing a structure when the
[0021]
[0022]
The width of the magnetic
[0023]
Further, when an objective lens having a short wavelength or high NA is used, an attempt is made to form a light beam on the laminated
[0024]
Therefore, here, in the annealing process, laser light is incident from the laminated
[0025]
When the disk is viewed from the side of the laminated
[0026]
The
[0027]
Next, the configuration of the magnetic layer 208 will be described. In FIG. 2 (2 b), 21, 22, and 23 are a domain wall motion layer, a blocking layer, and a recording layer, respectively, and are formed on the
[0028]
The thickness of the
[0029]
The magnetic layer 208 includes three or more magnetic layers so that reproduction can be performed by the DWDD method. The magnetic layer 208 is a layer annealed using light having a wavelength λ incident from the
[0030]
As the material of the blocking layer 22, it is preferable to use a material having a Curie temperature lower than that of the domain
[0031]
The
[0032]
FIG. 3 is a diagram illustrating the manufacturing process (3a) and the manufacturing procedure (3b) of the
[0033]
In the manufacturing process (3a), first, in the forming and film forming process of S301, the optical disk substrate is formed by injection molding, and the magnetic layer 208 and the like are formed on the substrate by sputtering. Thereafter, annealing is performed (S302: annealing process). The annealed
[0034]
The annealing step S302 and the optical disc inspection step S304 take more time per sheet than the other steps. Therefore, in order to adjust the process time, a plurality of annealing devices and a plurality of optical disc inspection devices are arranged respectively. use. A plurality of arrows in FIG. As will be described later, in the optical disc inspection step S304, since the difference between the set annealing power and the optimum annealing power for each annealing apparatus can be measured, the annealing power of each annealing apparatus is optimally corrected based on the difference (S306: annealing power adjustment). ).
[0035]
It should be noted that there is a possibility that a malfunction may occur if the annealing power correction is performed for each optical disk due to sensitivity variation of the
[0036]
Specific configuration examples of the annealing apparatus and the optical disk inspection apparatus will be described later with reference to FIGS. 6 and 7, respectively. The operation procedures (steps) are as shown in FIGS. 3 (3b1) and (3b2).
[0037]
That is, in the operation procedure of the annealing apparatus (3b1), the normal recording / reproducing groove 202 is activated while being tracked with the reproduction power, and the address is read to seek to at least one track before the
[0038]
Next, the test track 106b is seeked to be used as a test track for annealing power, and the test track 106b annealed with different annealing power around the set power is created (S308). For the test track 106b, for example, the set power is 5 mW, and 13 types of 106b are created in increments of 0.25 mW from 3.5 mW to 6.5 mW. The production of the test track 106b can be realized by performing an operation that terminates the annealing operation with five lines for each power, or performing an operation of sequentially increasing the annealing power during the annealing operation.
[0039]
First, it returns to the standby state, and finally seeks to the
[0040]
Next, the operation procedure of the optical disk inspection apparatus (3b2) will be described. The
[0041]
After the optical disk is started, the optical disk inspection apparatus writes / verifies (W / V) the annealed recording /
[0042]
Next, W / V is applied to the test track 106b for each set value of the annealing power created by the annealing apparatus, the upper and lower annealing powers that are NG at W / V are found, and the average power is calculated as the optimum annealing power. (S311). In this optimal power calculation step, instead of using normal GO / NOGO W / V to detect more accurate power, jitter measurement and error rate measurement are performed, and playback parameters that are more sensitive to annealing power fluctuations are changed. Thus, the optimum annealing power can be accurately found by performing the inspection of the reproduction characteristics. When the difference between the upper limit and the lower limit power found here falls below a predetermined value, it is determined as NG. Further, when a defect is found in the test track 106b, processing is performed so as to exclude it from the optimum power calculation.
[0043]
Finally, seek to the
[0044]
If a track jump or the like occurs during annealing and the annealing is interrupted, the annealing is retried from the point of interruption, and if the track jump still occurs, the annealing is skipped. However, the length of the track to be skipped must be limited to a level that does not affect subsequent normal recording / playback. During annealing, it is also effective to inspect the pit quality of the
[0045]
FIG. 4 is a diagram for explaining a specific method of ID recording and reproduction described above. First, the record of the device ID is shown in (4a). Recording is performed by allocating ID information bits to a section obtained by dividing the
[0046]
The part irradiated with the set annealing power or more deteriorates its magnetic characteristics as in the case of annealing. The degree of deterioration is detected by the following reproduction process. (4b) shows pattern recording before reproduction. The seek is performed on the
[0047]
In the above embodiment, one segment is assigned to one bit. However, since one track has as many as 1280 segments, for example, 128 bits of ID information may be inserted or 8 segments or more may be assigned to one bit. In addition, when 1 bit is assigned to a plurality of segments, in order to improve reproduction reliability, a device such as DC-free modulation that makes the number of segments annealed for each bit constant is also preferable.
[0048]
FIG. 5 shows an example of ID information recorded on the
[0049]
(5a) is an example of simple ID information. 401 is a device ID, and 402 is the error detection code CRC. Here, double writing is performed in order to improve reading reliability.
[0050]
(5b) and (5c) are examples of ID information in which an ID is given to each
[0051]
(5c) is an example in which the information set 413 is divided into the information set 414 excluding the
[0052]
FIG. 6 is a block diagram of the main part of the annealing apparatus used in the annealing process of this embodiment. In FIG. 6, 501 is a half-wave laser of GaN of λ = 405 nm, 502 is an irradiation power detector that measures part of the emitted light of the semiconductor laser 501 as irradiation power, 503 is a beam splitter, 211 is NA0.75. It is an objective lens. Laser light emitted from the semiconductor laser 501 passes through the beam splitter 503 and the objective lens 211, and is condensed on the
[0053]
The
[0054]
Reference numeral 508 denotes an ID setting unit, which also stores device ID information in a DIP switch or EEPROM, and ID information is created based on this value and recorded in the
[0055]
FIG. 7 is a block diagram of the main part of the optical disk inspection apparatus used in the optical disk inspection process of this embodiment. In FIG. 7, 601 is a half-wave laser having a wavelength λ = 650, 602 is an emission (irradiation) power detector that measures a part of the emitted light of the semiconductor laser 601 as irradiation power, 603 is a beam splitter, 604 is NA0. 6 objective lens. Laser light emitted from the semiconductor laser 601 passes through the beam splitter 603 and the objective lens 604, and is condensed on the groove 202 of the
[0056]
The recording / reproducing light beam 610 is linearly polarized in order to detect the MO signal. The light beam 610 records information by magnetizing the laminated
[0057]
In the above-described embodiments of the present invention, the sample servo optical disk has been described as a specific example in the DWDD reproduction method. However, the present invention is not limited to the recording material of the DWDD optical disc, but improves the characteristics of magneto-optical materials other than DWDD, and applies a predetermined power between the tracks of the phase change material to stabilize the reflectance and recording characteristics. It can also be applied to annealing between tracks in order to make it easier. Needless to say, the servo system can also be used for continuous servo. Furthermore, it is considered that the present invention can be effectively used for manufacturing other than the optical disk, such as forming a guide with a light beam on the magnetic disk.
[0058]
【The invention's effect】
As is clear from the above description, if the optical disk according to the present invention and the manufacturing method thereof are used, the annealing power of the annealing apparatus used in the annealing process can always be kept optimal, and the optical disk annealed with the optimal annealing power always. The manufacturing apparatus can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing the structure of an optical disc according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2A is a cross-sectional perspective view of an optical disc according to an embodiment of the present invention.
(B) Enlarged view of the optical disc in the embodiment of the present invention
FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process and a manufacturing procedure in the embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory diagram of an ID recording / reproducing method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a data example of ID information in the embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a block diagram of an annealing apparatus used in an optical disc manufacturing process according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a block diagram of an optical disc inspection apparatus used in an optical disc manufacturing process according to an embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
100 optical disc
101 Data area (recording / playback track)
102 segments
103 Pit area
104 Groove area
105 Lead-in area
105a control track
105b Track for annealing power test
105c ID truck
106 Lead-out area
106a ID truck
106b Track for annealing power test
200 Multilayer thin film
201 substrate
202 Groove
203 rand
204 1st wobble pit
205 2nd wobble pit
206 Address pit
207 First dielectric layer
208 Magnetic layer
21 Domain wall moving layer
22 Barrier layer
23 Recording layer
209 Second dielectric layer
210 Magnetic coupling blocking region
211 Objective lens (for annealing)
212 Light beam for annealing
213 Mirror part
S301 Molding / Filming process
S302 Annealing process
S303 Protective coat and assembly process
S304 Disc inspection process
S305 Packing / shipping process
S306 Annealing power adjustment
401 Device ID
402,407,409,411 CRC
403 Manufacturer ID
404 Date of manufacture
405 serial number
406 Grant ID
408, 410, 412 ECC
500 Optical head for annealing
501 Semiconductor laser
502 Irradiation power detector
503 Beam splitter
505 Reflected power detector
506 Annealing power controller
507 Optimal annealing power setting part
508 ID information setting part
600 Optical head for recording and playback
601 Semiconductor laser
602 Output power detector
603 Beam splitter
604 Objective lens
605 MO signal detector
606 Annealing power controller
607 Optimal annealing power storage
608 Playback ID storage unit
609 Magnetic head
610 Light beam for recording and reproduction
Claims (7)
前記録再トラックの両側を前記所定パワーに対応した設定パワーでアニールする第1のステップと、前記テスト用トラックを、前記設定パワーを中心とした複数の異なるパワーでアニールしたアニール検査トラックを作成する第2のステップを含む前記アニール装置を用いて前記光ディスクをアニールするアニール工程と、
アニール済みの録再トラックの一部もしくは全部をライト/ベリファイして前記録再トラックの良否を判定する第3のステップと、前記アニール検査トラックをライト/ベリファイして前記アニール装置の最適アニールパワーを見つけ出す第4のステップを含む光ディスク検査装置を用いて前記光ディスクの良否を判定する検査工程と、
前記設定パワーを前記検査工程で見つけ出した最適アニールパワーに変更するアニールパワー調整ステップを含むことを特徴とする光ディスクの製造方法。An optical disc that anneals both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data with a light beam of a predetermined power, a plurality of test tracks for finding the optimum power for the annealing, and an annealing apparatus for performing the annealing A method of manufacturing an optical disc having an ID track for recording / reproducing the identification number (ID) of
A first step of annealing both sides of the pre-recording re-track with a set power corresponding to the predetermined power, and creating an anneal inspection track in which the test track is annealed with a plurality of different powers centered on the set power An annealing step of annealing the optical disc using the annealing apparatus including a second step;
A third step of writing / verifying part or all of the annealed recording / reproducing track to determine the quality of the pre-recording / retracking, and writing / verifying the annealing inspection track to obtain the optimum annealing power of the annealing apparatus. An inspection step of determining pass / fail of the optical disc using an optical disc inspection apparatus including a fourth step of finding out;
An optical disk manufacturing method comprising an annealing power adjustment step of changing the set power to the optimum annealing power found in the inspection step.
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