JP2003123335A - Optical disk and production method therefor - Google Patents

Optical disk and production method therefor

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JP2003123335A
JP2003123335A JP2001309584A JP2001309584A JP2003123335A JP 2003123335 A JP2003123335 A JP 2003123335A JP 2001309584 A JP2001309584 A JP 2001309584A JP 2001309584 A JP2001309584 A JP 2001309584A JP 2003123335 A JP2003123335 A JP 2003123335A
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泰守 日野
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正博 尾留川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical disk, which is annealed with an optimal annealing power, and a production method therefor. SOLUTION: The optical disk is provided with a track for test for finding out an optimal power for annealing both the sides of a recording and reproducing track with a light beam and a track for ID for recording and reproducing the identification number of an anneal device. The production method for optical disk is provided with a step for annealing both the sides of the recording and reproducing track with the set power, step for preparing an inspection track, in which the track for test is annealed with a plurality of different powers with the set power as a center, step for deciding the propriety of the annealed recording and reproducing track, step for finding out the optimal anneal power, and step for changing the set power to the optimal anneal power.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームによるア
ニールが必要な光ディスクとその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disc that requires annealing by a light beam and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、光ディスクのAV(オーディオ・
ビジュアル)への応用が活発である。例えば、主に映画
コンテンツ向けのDVD(Digital Versatile Disc)で
は、DVD−R、DVD−RAM、DVD−RWといっ
た追記型や書換型のフォーマットが開発され、VTRの
次世代録画機として普及しつつある。今後BSデジタル
放送やブロードバンド通信の普及で、より高画質の圧縮
映像を記録できる大容量の光ディスク・フォーマット
や、同じ容量でもより小型でポータブルでネットワーク
親和性の高い高密度の光ディスク・フォーマットの登場
が期待される。このような高密度記録を実現する例とし
て、超解像方式の一種であるDWDD(Domain Wall Di
splacement Detection:磁壁移動検出)方式の光ディス
クが提案されている。DWDD方式の光ディスクでは、
隣接する記録トラック間で磁気的な結合を弱める必要が
ある(磁気異方性の低減)。このため、DWDD方式の
光ディスクを製造する場合には、情報信号の記録を行う
前に、隣接する記録トラック間の磁気的な結合を弱める
初期化(以下アニール、アニール方法もしくはアニール
処理と呼ぶ)を行う。
2. Description of the Related Art In recent years, AV (audio and
Application to visual) is active. For example, in DVDs (Digital Versatile Discs) mainly for movie contents, write-once and rewritable formats such as DVD-R, DVD-RAM, and DVD-RW have been developed and are becoming popular as VTR next-generation recorders. . With the spread of BS digital broadcasting and broadband communication in the future, a large-capacity optical disc format capable of recording higher quality compressed video and a compact, portable, high-density optical disc format with the same network capacity will appear. Be expected. As an example of realizing such high-density recording, DWDD (Domain Wall Di
An optical disc of the displacement detection (domain wall movement detection) method has been proposed. In the DWDD type optical disc,
It is necessary to weaken magnetic coupling between adjacent recording tracks (reduction of magnetic anisotropy). Therefore, in the case of manufacturing a DWDD type optical disc, initialization (hereinafter referred to as annealing, annealing method or annealing treatment) for weakening magnetic coupling between adjacent recording tracks is performed before recording an information signal. To do.

【0003】特願2001−120689号では、前記
のアニール方法におけるアニールパワーの最適な設定方
法が示されている。この従来例では、アニールの最適パ
ワーを求めるため、光ディスク上に設けたパワーテスト
領域に、テスト用のアニールパワーを照射してその反射
率を測定してアニールの最適パワーを決定する方法なら
びに、テスト用のアニールパワー照射中の反射率測定で
最適なパワーを決定する方法が示されている。
Japanese Patent Application No. 2001-120689 discloses an optimum setting method of annealing power in the above-mentioned annealing method. In this conventional example, in order to obtain the optimum annealing power, a method for irradiating the power test area provided on the optical disk with a test annealing power and measuring the reflectance thereof to determine the optimum annealing power and the test A method for determining the optimum power by reflectance measurement during irradiation of annealing power for a laser is shown.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、以上のような
アニールパワーの決定方法では、記録膜の構成によって
はアニールパワーに対する反射率の変化が小さいため、
決定した最適パワーがバラつき再現性に乏しい場合のあ
ることが分かった。従ってこの方法は、特に高密度化を
狙い、結果的にアニールパワー・マージンが狭くなるよ
うな使い方に対しては十分とはいえず、より正確なアニ
ールパワーの学習方法が必要となる。そのためには、や
はり実際と同じ記録再生を行って、記録再生の可否を確
認する、もしくはジッタやエラーレートを測定して、ア
ニールが最適かどうかを判定するテスト(通常録再検査
と呼ぶ)を実施するのがベストと考えられる。
However, in the above-described method for determining the annealing power, since the change in the reflectance with respect to the annealing power is small depending on the structure of the recording film,
It was found that the determined optimum power varied and the reproducibility was poor in some cases. Therefore, this method cannot be said to be sufficient for the usage in which the annealing power margin is narrowed as a result, especially aiming at higher density, and a more accurate annealing power learning method is required. For that purpose, a test (normally referred to as a recording / playback inspection) is performed to check whether recording / reproduction is possible or not by performing the same recording / reproduction as in actuality, or measuring the jitter or error rate to determine whether annealing is optimal. It is considered best to carry out.

【0005】ところで、アニールはディスク製造過程に
おいて実施されるので、その時点で通常録再検査を実施
することが困難な場合がある。前記DWDDの光ディス
クの例では、アニールは最も光スポットを絞った状態で
実施するのが望ましい。通常の記録再生の光投入面側
(基板越し)からのアニールは、基板厚みムラやチルト
による収差の影響で高NAのレンズが使えないので、実
用的ではない。DWDDの光ディスクは片面仕様なの
で、記録膜の付いた側(膜面)からアニールを実施すれ
ば、光スポットは前記収差の影響がないので短波長(青
色)の光ビームを高NAレンズで小さく絞れる。但し、
この場合も収差の影響となる保護コートを塗布する前
に、膜面からアニールするのが望ましい。以上のように
アニールは保護コートのない膜面から実施するのが好ま
しいが、保護コートがない状態で磁気ヘッドを使うと記
録面を傷つけてしまうので、磁気ヘッドが必要な通常録
再検査はこの段階では実施できない。また仮にフライン
グ磁気ヘッドなどを使って通常録再検査ができたとして
も、保護コートを塗布すると録再感度が若干シフトする
ので、最適なアニールパワーの算出には補正が必要にな
る。
By the way, since the annealing is carried out in the disk manufacturing process, it may be difficult to carry out the normal recording / reproducing inspection at that time. In the example of the DWDD optical disc, it is desirable that the annealing is performed with the light spot being most narrowed. Annealing from the light input surface side (over the substrate) for normal recording / reproduction is not practical because a lens with a high NA cannot be used due to the effects of aberration due to substrate thickness unevenness and tilt. Since the DWDD optical disc has a single-sided specification, if the annealing is performed from the side with the recording film (the film surface), the light spot is not affected by the above-mentioned aberration, so that the short wavelength (blue) light beam can be narrowed down by the high NA lens. . However,
In this case as well, it is desirable to anneal from the film surface before applying the protective coat that affects the aberration. As described above, it is preferable to perform the annealing from the film surface without the protective coating, but if the magnetic head is used without the protective coating, the recording surface will be damaged. It cannot be done in stages. Even if a normal recording / reproduction inspection can be performed using a flying magnetic head or the like, if a protective coat is applied, the recording / reproduction sensitivity will shift slightly, so correction is necessary to calculate the optimum annealing power.

【0006】前記通常録再検査をするには、光ディスク
の保護コートなどを済ませ、カートリッジに入った完成
形であることが望ましい。この形態になっていれば、こ
の光ディスク対応の量産ドライブ装置が使え経済的であ
る。量産ドライブ装置なら、ローディング機構とカート
リッジとの関係で、磁気ヘッドと光ヘッドが光ディスク
に対して所定の位置に簡単にポジショニングできる。
In order to carry out the normal recording / reproducing inspection, it is desirable that the optical disc has a protective coat and the like and is in a completed cartridge. With this configuration, it is economical to use this mass-produced drive device compatible with optical disks. In a mass-produced drive device, the magnetic head and the optical head can be easily positioned at predetermined positions with respect to the optical disc due to the relationship between the loading mechanism and the cartridge.

【0007】一方、カートリッジに入ったアニールの可
能性はどうかを考える。まず、保護コートの収差問題を
克服して保護コート越しにアニールを可能にする必要が
ある。そして、アニール用光ヘッドを磁気ヘッド側から
カートリッジ開口に入るようにして、光ディスク全領域
をアクセスできるようにする必要がある。そのために
は、青色レーザを使う製造装置用のアニール光ヘッド
を、量産用に最適化した光ヘッド以下のサイズに納め、
ローディングを含むアニール専用の新規な機構を開発す
る必要がある。こうした多額の投資を要する開発をして
も、カートリッジの開口に磁気ヘッドとアニール用光ヘ
ッドを同じ側に配置することは現実的に困難である。つ
まり、アニールと前記通常録再検査とは同じ装置で実施
できないので、カートリッジに入った光ディスクをアニ
ールするメリットはないと考えられる。
On the other hand, consider the possibility of annealing in the cartridge. First, it is necessary to overcome the aberration problem of the protective coat and enable annealing through the protective coat. Then, it is necessary to make the annealing optical head enter the cartridge opening from the magnetic head side so that the entire area of the optical disk can be accessed. To do so, the annealing optical head for manufacturing equipment that uses a blue laser should be stored in a size that is equal to or smaller than the optical head optimized for mass production.
It is necessary to develop a new mechanism dedicated to annealing including loading. Even with the development requiring such a large investment, it is practically difficult to dispose the magnetic head and the annealing optical head on the same side in the opening of the cartridge. That is, since the annealing and the normal recording / playback inspection cannot be performed by the same device, it is considered that there is no merit to anneal the optical disk contained in the cartridge.

【0008】以上説明したように、現状ではアニール実
施工程とその最適アニールパワーを精度良く決定する検
査工程が一箇所にできず、最適なアニールパワーを決定
する有効な手段が存在しないという課題があった。この
課題を解決するため、本発明は最適なアニールパワーを
見つけ、最適アニールパワーでアニールした光ディスク
とその製造方法を提供する。
As described above, at present, there is a problem that the annealing process and the inspection process for accurately determining the optimum annealing power cannot be performed in one place, and there is no effective means for determining the optimum annealing power. It was In order to solve this problem, the present invention finds an optimum annealing power and provides an optical disk annealed with the optimum annealing power and a manufacturing method thereof.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の光ディスクは、データを記録再生するため
の録再トラックの両側を、所定パワーの光ビームでアニ
ールする光ディスクであって、前記アニールの最適なパ
ワーを見つけ出すための複数のテスト用トラックと、前
記アニールを実施するアニール装置の識別番号(ID)
を記録再生するためのID用トラックを備えたことを特
徴とする。
In order to achieve the above object, the optical disk of the present invention is an optical disk in which both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data are annealed with a light beam of a predetermined power. A plurality of test tracks for finding the optimum annealing power, and an identification number (ID) of the annealing device for performing the annealing.
Is provided with an ID track for recording and reproducing.

【0010】本発明の光ディスクによれば、アニール装
置の録再トラックをアニールする前後に、そのアニール
パワーが適切か、あるいは適正値からどれだけシフトし
ているかを、下流の検査工程で検査するためのテスト用
トラックが作成できる。また、同時にアニール装置のI
DをID用トラックに記録できるので、複数のアニール
装置でアニールを実施する場合でも、下流の検査工程で
アニール装置が特定でき、アニールパワーがシフトして
いる場合には、間違いなく対象のアニール装置のアニー
ルパワーを適正値(最適アニールパワー)に補正でき
る。
According to the optical disk of the present invention, before and after annealing the recording / reproducing track of the annealing device, it is inspected in the downstream inspection step whether the annealing power is appropriate or how much it is shifted from the appropriate value. You can create a test track for. At the same time, the annealing device I
Since D can be recorded on the ID track, the annealing device can be specified in the downstream inspection process even if annealing is performed by a plurality of annealing devices, and if the annealing power is shifted, the target annealing device is sure to be used. The annealing power of can be corrected to an appropriate value (optimal annealing power).

【0011】また、本発明の光ディスクにおいて、前記
ID用トラックのIDの各ビット記録は、前記所定のア
ニールパワーもしくはそれより高いアニールパワーで、
所定長以上の複数の区間をアニールするかしないかで記
録する記録方法であり、前記IDの再生は、予め所定パ
ターンのデータを前記ID用トラック全体に記録して、
前記記録後に前記ID用トラック上の前記区間毎のデー
タの有/無または大/小によってそれぞれアニール無し
/有りの部分を判別してIDの各ビットを再生する再生
方法であることが好ましい。この好ましい例によれば、
IDの記録は、アニール装置のアニール機能を使えばよ
く、IDの再生も通常の記録再生に信号の有無検出しマ
イコンで採り込むレベルの簡単な機能を実装するだけで
実現できる。
Further, in the optical disc of the present invention, each bit recording of the ID of the ID track is performed with the predetermined annealing power or higher annealing power.
It is a recording method of recording whether or not a plurality of sections having a predetermined length or more are annealed or not, and in reproducing the ID, data of a predetermined pattern is recorded in advance on the entire ID track,
After the recording, it is preferable that the reproducing method is to reproduce each bit of the ID by discriminating the presence / absence or the large / small of the data for each section on the ID track and determining whether or not there is annealing. According to this preferred example,
The ID can be recorded by using the annealing function of the annealing device, and the reproduction of the ID can be realized only by mounting a simple function of detecting the presence / absence of a signal in normal recording / reproduction and incorporating it in the microcomputer.

【0012】また、本発明の光ディスクにおいて、前記
ID用トラックにはIDに加えて所定のルールに基づい
た番号情報が記録され、前記IDおよび/または前記番
号情報を前記録再トラックに記録再生するデータ管理用
のメディアIDとして使用されることが好ましい。この
好ましい例によれば、著作権保護などに使えるメディア
ID情報を、新規な別工程を導入することなく対象の光
ディスクに埋め込むことができる。
In the optical disc of the present invention, number information based on a predetermined rule is recorded on the ID track in addition to the ID, and the ID and / or the number information is recorded / reproduced on the pre-recording / re-recording track. It is preferably used as a media ID for data management. According to this preferable example, the media ID information that can be used for copyright protection or the like can be embedded in the target optical disc without introducing a new separate process.

【0013】さらに、前記目的を達成するため、本発明
の光ディスクの製造方法は、データを記録再生するため
の録再トラックの両側を、所定パワーの光ビームでアニ
ールする光ディスクで、前記アニールに最適なパワーを
見つけ出すための複数のテスト用トラックと、前記アニ
ールを実施するアニール装置の識別番号(ID)を記録
再生するためのID用トラックを備えた光ディスクの製
造方法であって、前記録再トラックの両側を前記所定パ
ワーに対応した設定パワーでアニールする第1のステッ
プと、前記テスト用トラックを、前記設定パワーを中心
とした複数の異なるパワーでアニールしたアニール検査
トラックを作成する第2のステップを含む前記アニール
装置を用いて前記光ディスクをアニールするアニール工
程と、アニール済みの録再トラックの一部もしくは全部
をライト/ベリファイして前記録再トラックの良否を判
定する第3のステップと、前記アニール検査トラックを
ライト/ベリファイして前記アニール装置の最適アニー
ルパワーを見つけ出す第4のステップを含む光ディスク
検査装置を用いて前記光ディスクの良否を判定する検査
工程と、前記設定パワーを前記検査工程で見つけ出した
最適アニールパワーに変更するアニールパワー調整ステ
ップを含むことを特徴とする。
Further, in order to achieve the above object, the optical disk manufacturing method of the present invention is an optical disk in which both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data are annealed with a light beam of a predetermined power, and is optimal for the annealing. Of a plurality of test tracks for finding various powers and an ID track for recording / reproducing the identification number (ID) of the annealing device for performing the annealing, which is a pre-recording / re-recording track. A first step of annealing both sides of the test track with a set power corresponding to the predetermined power, and a second step of creating an annealing inspection track in which the test track is annealed with a plurality of different powers centered on the set power. An annealing step of annealing the optical disk using the annealing device including A third step of writing / verifying a part or all of the recording / reproducing track to determine the quality of the pre-recording / reproducing track, and writing / verifying the annealing inspection track to find the optimum annealing power of the annealing apparatus. It is characterized by including an inspection step of determining the quality of the optical disk by using an optical disk inspection apparatus including the step 4 and an annealing power adjustment step of changing the set power to the optimum annealing power found in the inspection step.

【0014】本発明による光ディスクの製造方法によれ
ば、アニール工程で作成したテスト用トラックを、光デ
ィスク検査工程で実際に記録再生してアニールパワーが
適正かどうか正確に判定でき、アニール装置のアニール
パワーがシフトしている場合には最適アニールパワーに
再調整できるので、常に最適なアニールパワーでアニー
ルされた光ディスクが得られる。
According to the optical disc manufacturing method of the present invention, it is possible to accurately determine whether the annealing power is appropriate by actually recording / reproducing the test track created in the annealing process in the optical disc inspection process, and to determine the annealing power of the annealing device. If is shifted, it can be readjusted to the optimum annealing power, so that an optical disk annealed with the optimum annealing power can always be obtained.

【0015】また、本発明の光ディスクの製造方法にお
いて、前記アニール工程は、IDを付与した複数のアニ
ール装置から成り、各アニール装置はそれぞれのIDを
前記ID用トラックに記録する第5のステップを含み、
前記検査工程の光ディスク検査装置は、前記ID用トラ
ックからIDを読取る第6のステップを含み、前記複数
のアニール装置から前記IDで特定したアニール装置1
台毎に前記設定パワーを最適アニールパワーに変更する
ことが好ましい。この好ましい例によれば、アニール工
程が複数のアニール装置から構成される場合でも、アニ
ール装置を特定して間違いなく最適アニールパワーに再
調整ができる。
Further, in the optical disc manufacturing method of the present invention, the annealing step comprises a plurality of annealing devices to which IDs are assigned, and each annealing device has a fifth step of recording the respective IDs on the ID tracks. Including,
The optical disc inspection device in the inspection step includes a sixth step of reading an ID from the ID track, and the annealing device 1 specified by the ID from the plurality of annealing devices.
It is preferable to change the set power to the optimum annealing power for each table. According to this preferable example, even when the annealing process is composed of a plurality of annealing devices, the annealing device can be specified and readjusted to the optimum annealing power without fail.

【0016】また、本発明の光ディスクの製造方法にお
いて、前記第5のステップにおける前記ID用トラック
のIDの各ビット記録は、前記所定のアニールパワーも
しくはそれより高いアニールパワーで、所定長以上の複
数の区間をアニールするかしないかで記録する記録方法
であり、前記IDの再生は、予め所定パターンのデータ
を前記ID用トラック全体に記録して、前記記録後に前
記ID用トラック上の前記区間毎のデータの有/無また
は大/小によってそれぞれアニール無し/有りの部分を
判別してIDの各ビットを再生する再生方法であること
が好ましい。この好ましい例によれば、この好ましい例
によれば、IDの記録は、アニール装置のアニール機能
を使えばよく、IDの再生も通常の記録再生に信号の有
無検出しマイコンで採り込むレベルの簡単な機能を実装
するだけで実現できる。
Further, in the optical disc manufacturing method of the present invention, each bit recording of the ID of the ID track in the fifth step has a predetermined annealing power or a higher annealing power and has a plurality of predetermined lengths or more. Is recorded by annealing or not annealing, and the ID is reproduced by recording data of a predetermined pattern on the entire ID track in advance, and after recording, for each of the sections on the ID track. It is preferable that the reproduction method is to reproduce the respective bits of the ID by determining the presence / absence of the data and the presence / absence of annealing depending on the presence / absence of the data. According to this preferred example, according to this preferred example, the ID can be recorded by using the annealing function of the annealing device, and the reproduction of the ID can be easily performed by a microcomputer for detecting the presence / absence of a signal in normal recording / reproduction. It can be realized only by implementing various functions.

【0017】また、本発明の光ディスクの製造方法にお
いて、前記第5のステップは、前記IDに加えて所定の
ルールに基づいた番号情報を前記ID用トラックに前記
メディアIDとして記録することが好ましい。この好ま
しい例によれば、著作権保護などに使えるメディアID
情報を、新規な別工程を導入することなく対象の光ディ
スクに埋め込むことができる。
In the optical disc manufacturing method of the present invention, it is preferable that, in the fifth step, number information based on a predetermined rule is recorded as the media ID on the ID track in addition to the ID. According to this preferable example, a media ID that can be used for copyright protection and the like
Information can be embedded in the target optical disc without introducing a new separate process.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。図1は、実施形態の光
ディスク100の全体図と各トラックの用途を示す図で
ある。図1において、光ディスク100はサンプルサー
ボ方式の光磁気ディスクであり、101は複数のトラッ
クから成り、ユーザデータや管理情報など実際にデータ
を記録再生するためのデータ領域(録再トラック)であ
り、ドライブ用のテスト領域を含み、この領域の録再ト
ラック101が全てアニールされて記録再生できるよう
にする必要がある。各トラックは複数のセグメント10
2から構成される。セグメント102のトラック当りの
数は例えば1280個と、トラッキングサーボに十分な
個数から成る。セグメント102は、サンプルサーボ信
号やアドレス信号を記録するためのピット領域103
と、データを記録再生するためのグルーブ領域104か
ら構成される。光ディスクの内周と外周にはそれぞれ、
リードイン領域105とリードアウト領域106が配置
される。後述するコントロールトラック105aのグル
ーブ領域以外は、データ領域101と同じようにセグメ
ント102で構成されている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall view of the optical disc 100 of the embodiment and a diagram showing the uses of each track. In FIG. 1, an optical disk 100 is a sample servo type magneto-optical disk, 101 is a plurality of tracks, and is a data area (recording / reproducing track) for actually recording and reproducing data such as user data and management information. It is necessary to include the test area for the drive, and all the recording / reproducing tracks 101 in this area should be annealed so that recording / reproducing can be performed. Each track has multiple segments 10
It consists of two. The number of the segments 102 per track is, for example, 1280, which is a sufficient number for the tracking servo. The segment 102 is a pit area 103 for recording a sample servo signal and an address signal.
And a groove area 104 for recording and reproducing data. On the inner and outer circumferences of the optical disc,
A lead-in area 105 and a lead-out area 106 are arranged. Except for the groove area of the control track 105a, which will be described later, the segment 102 is formed in the same manner as the data area 101.

【0019】各領域のトラック構成は図1の右側に示し
た。即ち、リードイン領域105は、内周から順に、デ
ィスクの使い方に関する情報などを予め記録したコント
ロールトラック105a、アニールパワーをテスト(通
常データのパワー学習に相当)するための複数本のトラ
ックからなるテスト用トラック105b、ならびにアニ
ール装置のIDなどID情報を記録するためのID用ト
ラック105cの3領域から構成される。コントロール
トラック105aのセグメント102内のグルーブ領域
104は、グルーブの一部がプリピット(エンボスとも
呼ぶ)から構成される。リードアウト領域106は、I
D用トラック106aならびにテスト用トラック106
bから構成される。ID用トラック105cと106a
はいずれも1本でも十分機能する。
The track configuration of each area is shown on the right side of FIG. That is, the lead-in area 105 is composed of a control track 105a in which information about how to use the disk is previously recorded, and a plurality of tracks for testing the annealing power (corresponding to power learning of normal data) in order from the inner circumference. Track 105b and an ID track 105c for recording ID information such as an annealing device ID. In the groove area 104 in the segment 102 of the control track 105a, a part of the groove is composed of prepits (also called emboss). The lead-out area 106 is I
D track 106a and test track 106
b. ID tracks 105c and 106a
Any one of them works well.

【0020】図2は、光ディスク100がDWDD再生
方式の時の構造を示す図で、データ領域101の一部断
面を示した斜視図(2a)と断面の拡大図(2b)であ
る。図2(2a)において、201は光ディスク100
の基板であり、ポリカーボネートのインジェクション成
形などで形成され、厚みは、例えば0.4mm〜1.2
mm程度である。トラック・ピッチは高密度化のため
0.7μm以下と小さく設定している。202と203
はそれぞれ、グルーブ領域104を構成するグルーブと
ランドである。204、205、206および213は
それぞれ、ピット領域103を構成する第1ウォブルピ
ット、第2ウォブルピット、アドレスピットおよびミラ
ー部である。207は第1誘電体層、208は磁性層、
209は第2誘電体層で基板上にこの順で成膜され、全
体で積層薄膜200を構成する。第1誘電体層207お
よび第2誘電体層209には、例えば、Si34、Al
N、SiO2、SiO、ZnS、MgF2およびこれらの
複合材料などの透明誘電材料が使用できる。
FIG. 2 is a diagram showing the structure of the optical disc 100 in the DWDD reproduction system, and is a perspective view (2a) showing a partial cross section of the data area 101 and an enlarged view (2b) of the cross section. In FIG. 2 (2 a), 201 is the optical disc 100.
The substrate is formed by injection molding of polycarbonate and has a thickness of, for example, 0.4 mm to 1.2.
It is about mm. The track pitch is set as small as 0.7 μm or less for higher density. 202 and 203
Are a groove and a land that form the groove area 104, respectively. Reference numerals 204, 205, 206, and 213 are a first wobble pit, a second wobble pit, an address pit, and a mirror portion that form the pit area 103, respectively. 207 is a first dielectric layer, 208 is a magnetic layer,
209 is a second dielectric layer which is formed on the substrate in this order to form the laminated thin film 200 as a whole. The first dielectric layer 207 and the second dielectric layer 209 include, for example, Si 3 N 4 and Al.
Transparent dielectric materials such as N, SiO 2 , SiO, ZnS, MgF 2 and composites thereof can be used.

【0021】210は磁気結合遮断領域であり、光ディ
スク100のトラック間を分離し、DWDD再生時に隣
接トラックからの悪影響を防止するためのものである。
磁気結合遮断領域210の形成には、光ディスク100
の製造工程で、後述のアニール装置を使う。そのアニー
ル装置の一部である対物レンズを211でレーザビーム
を絞り込んだ高パワーのアニール用光ビーム(光スポッ
ト)212を、ランド203ならびにその延長線上の積
層薄膜200に当てて、磁気的な特性を劣化させること
で形成される。実際のディスク製造では、光ディスク1
枚毎に、データ領域101を含め通常の記録再生を行う
トラックの両側を全てアニールすることが必要になる。
具体的には所定のアニールパワーでアニールすべき領域
のランドにトラッキングをかけながら走査することで、
アニールは実現できる。この場合、製造コストを下げる
ためにはできるだけ走査速度が速く短時間で実現される
ことが求められる。
Reference numeral 210 denotes a magnetic coupling interruption area, which is for separating tracks of the optical disk 100 and for preventing adverse effects from adjacent tracks during DWDD reproduction.
To form the magnetic coupling blocking area 210, the optical disc 100 is formed.
In the manufacturing process of, the annealing device described later is used. A high-power annealing light beam (light spot) 212 obtained by narrowing a laser beam with an objective lens 211 which is a part of the annealing device is applied to the land 203 and the laminated thin film 200 on the extension line thereof to obtain magnetic characteristics. Is formed by deteriorating. In the actual disc manufacturing, the optical disc 1
For each sheet, it is necessary to anneal both sides of the track for normal recording and reproduction, including the data area 101.
Specifically, by scanning the land in the area to be annealed with a predetermined annealing power while tracking,
Annealing can be realized. In this case, in order to reduce the manufacturing cost, it is required that the scanning speed be as fast as possible and the scanning be realized in a short time.

【0022】磁気結合遮断領域210の幅は、トラック
ピッチを狭めて高密度化するために、小さければ小さい
程よい。小さくする必要のある理由の一つは、アニール
用光ビーム212のエネルギー密度を上げて局所的に、
積層薄膜200を劣化できると共に、同じパワーでも走
査速度即ち線速を高められることができることであり、
もう一つの理由は、よりトラックピッチの小さいトラッ
クのランドからプッシュプル信号を検出して、トラッキ
ングをかけるためである。アニール用光ビーム212の
直径をできるだけ小さくするため、ここでは例えばGa
Nの半導体レーザ素子や赤色レーザの波長を半分にする
SHG素子などの波長λが400nm程度の短いレーザ
光源を用い、対物レンズのNAは通常より大きく0.6
5〜0.85とすることで、λ/NAで決まるアニール
用光ビームを小さく絞り込んでいる。
The width of the magnetic coupling interruption region 210 is preferably as small as possible in order to narrow the track pitch and increase the density. One of the reasons why it is necessary to reduce the size is to increase the energy density of the annealing light beam 212 locally.
The laminated thin film 200 can be deteriorated, and the scanning speed, that is, the linear velocity can be increased with the same power.
Another reason is that a push-pull signal is detected from a land of a track having a smaller track pitch to perform tracking. In order to make the diameter of the annealing light beam 212 as small as possible, here, for example, Ga is used.
A short laser light source with a wavelength λ of about 400 nm, such as an N semiconductor laser element or an SHG element that halves the wavelength of a red laser, is used, and the NA of the objective lens is 0.6 or more than usual.
By setting the ratio to 5 to 0.85, the annealing light beam determined by λ / NA is narrowed down.

【0023】また、短波長や高NAの対物レンズを使っ
た場合、通常の記録再生で行うような基板201越し
(図の下方からレーザ光を入射させる)で、積層薄膜2
00上に光ビームを形成しようとすると、通常の光ビー
ムに比べて基板のチルトに対して光ビームの絞り性能が
著しく劣化するため好ましい方法とは言えない。逆説的
に、基板越しに、安定な光ビームを形成しようとする
と、レーザ光源の短波長化や、対物レンズの高NA化は
難しい。
When an objective lens having a short wavelength or a high NA is used, the laminated thin film 2 is passed through the substrate 201 (a laser beam is made incident from the lower side of the figure) as in normal recording and reproduction.
If a light beam is to be formed on the optical axis 00, the aperture performance of the light beam is significantly deteriorated with respect to the tilt of the substrate as compared with a normal light beam, and this is not a preferable method. Paradoxically, in order to form a stable light beam through the substrate, it is difficult to shorten the wavelength of the laser light source and increase the NA of the objective lens.

【0024】そこで、ここではアニール処理は積層薄膜
200側からレーザ光を入射させている。こうすること
で、基板チルトの影響を取り除けるため、レーザ光源の
短波長化と対物レンズの高NA化によって、積層薄膜2
00上に小さくて良好なアニール用光ビームが形成でき
る。例えば、λ=405nm、NA=0.85のアニー
ル用光ビーム212のサイズは、通常記録再生に使う波
長λ=650nm、NA=0.6の光ビームと比較する
と、約0.44倍と小さくできる。
Therefore, here, in the annealing treatment, laser light is made incident from the laminated thin film 200 side. By doing so, the influence of the substrate tilt can be removed, so that the laminated thin film 2 can be formed by shortening the wavelength of the laser light source and increasing the NA of the objective lens.
A small and excellent light beam for annealing can be formed on 00. For example, the size of the annealing light beam 212 with λ = 405 nm and NA = 0.85 is about 0.44 times smaller than the size of the light beam with wavelength λ = 650 nm and NA = 0.6 used for normal recording and reproduction. it can.

【0025】なお、積層薄膜200面側からディスクを
見ると、ランド203は手前に見えるため、通常再生の
グルーブのように見えるので、トラッキング極性には注
意が必要である。また、通常この種の光ディスクは、製
膜後に数μm程度の保護コートをスピンコートで塗布す
るが、この保護コートがあると、フォーカスのS字が干
渉して膜面へのフォーカス精度が甘くなる、保護コート
の厚みムラで対物レンズの収差が発生する、保護コート
の厚みによるチルトの影響が無視できなくなるなどの問
題点が発生するので、アニールは保護コート無しが好ま
しい。但し、保護コート時のホコリによるコートムラ、
不良を避けるため、アニール工程はクリーンな環境で実
施する必要がある。
When the disc is viewed from the surface of the laminated thin film 200, the land 203 is seen in the foreground, so that it looks like a groove for normal reproduction, so attention must be paid to the tracking polarity. Also, in this type of optical disk, a protective coat of about several μm is usually applied by spin coating after film formation, but if this protective coat is provided, the S-shape of the focus interferes and the precision of focusing on the film surface becomes weak. However, since there are problems such as the aberration of the objective lens occurring due to the uneven thickness of the protective coat and the influence of the tilt due to the thickness of the protective coat cannot be ignored, annealing is preferably performed without the protective coat. However, uneven coating due to dust during protective coating,
To avoid defects, the annealing process needs to be performed in a clean environment.

【0026】ランド203は、トラック間の熱的な分離
効果に加え、主にはアニールを実現するために配置した
ものである。また、通常の記録再生のために、ランド2
03とは別に、第1ウォブルピット204と第2ウォブ
ルピット205が設けてある。それぞれのウオブル信号
の大きさが同一になるようにサンプルサーボをかけて、
再生光ビームがグルーブ202の中央を走査できるよう
にしている。ウォブルピットの配置は、記録再生ビーム
が、アニール用光ビーム212の径の2倍でも、トラッ
キングがかかるように、奇数、偶数トラックで交互にピ
ットが配置されるよう工夫してある。
The land 203 is arranged mainly for realizing annealing in addition to the effect of thermal separation between the tracks. In addition, for normal recording and reproduction, the land 2
Separately from 03, a first wobble pit 204 and a second wobble pit 205 are provided. Apply sample servo so that each wobble signal has the same magnitude,
The reproducing light beam can scan the center of the groove 202. The wobble pits are arranged so that even if the recording / reproducing beam has twice the diameter of the annealing light beam 212, the pits are alternately arranged on the odd-numbered and even-numbered tracks.

【0027】次に磁性層208の構成を説明する。図2
(2b)において、21,22,23はそれぞれ、磁壁
移動層、遮断層および記録層であり、この順に第1誘電
体層207の上に形成されて、磁性層208を構成す
る。
Next, the structure of the magnetic layer 208 will be described. Figure 2
In (2b), reference numerals 21, 22, and 23 are a domain wall motion layer, a blocking layer, and a recording layer, which are formed in this order on the first dielectric layer 207 to form a magnetic layer 208.

【0028】第2誘電体層209の厚さは、第2誘電体
層209側からアニール用のレーザ光を照射した時に、
その反射率が低く、光が効率よく吸収されるように設定
される。具体的には、第2誘電体層209の厚さは、λ
/(4×n)の前後が好ましく、λ/(12×n)以上
λ/(2×n)以下(好ましくは、λ/(6×n)以上
λ/(2×n)以下)である。
The thickness of the second dielectric layer 209 is determined by irradiating laser light for annealing from the second dielectric layer 209 side.
The reflectance is low, and the light is set to be efficiently absorbed. Specifically, the thickness of the second dielectric layer 209 is λ
It is preferably around λ / (12 × n) or more and λ / (2 × n) or less (preferably λ / (6 × n) or more and λ / (2 × n) or less). .

【0029】磁性層208は、DWDD方式で再生が可
能なように3層以上の磁性体層を含む。磁性層208
は、第2誘電体層209側から入射された波長λの光を
用いてアニールされた層である。磁性層208の一例と
して、磁性層208が、基板201側から順に積層され
た磁壁移動層21、遮断層22および記録層23を含む
場合には、各層の材料として、以下のものを用いること
ができる。磁壁移動層21の材料には、小さな磁壁抗磁
力を有し、遮断層22のキュリー温度近傍の温度範囲で
飽和磁化が小さな材料で、そのキュリー温度が記録層2
3よりも低く遮断層22よりも高い材料を用いることが
できる。例えば、GdCoやGdFeCo、またはその
合金でキュリー温度が220℃〜260℃程度のものを
用いることができる。
The magnetic layer 208 includes three or more magnetic layers so that reproduction can be performed by the DWDD system. Magnetic layer 208
Is a layer annealed by using the light of wavelength λ incident from the second dielectric layer 209 side. As an example of the magnetic layer 208, when the magnetic layer 208 includes the domain wall motion layer 21, the blocking layer 22, and the recording layer 23 which are sequentially stacked from the substrate 201 side, the following materials are used for each layer. it can. The material of the domain wall displacement layer 21 is a material having a small domain wall coercive force and a small saturation magnetization in the temperature range near the Curie temperature of the blocking layer 22, and the Curie temperature of which is the recording layer 2.
A material lower than 3 and higher than the barrier layer 22 can be used. For example, GdCo, GdFeCo, or an alloy thereof having a Curie temperature of about 220 ° C. to 260 ° C. can be used.

【0030】遮断層22の材料としては、キュリー温度
が磁壁移動層21や記録層23よりも低いものであり、
そのキュリー温度直下まで大きな磁壁抗磁力を有する材
料を用いることが好ましい。例えば、DyFeやTbF
e、またはその合金を用いることができ、その典型的な
キュリー温度として140℃〜180℃のものを用いる
ことができる。
The material of the blocking layer 22 has a Curie temperature lower than that of the domain wall displacement layer 21 and the recording layer 23.
It is preferable to use a material having a large domain wall coercive force just below the Curie temperature. For example, DyFe and TbF
e, or an alloy thereof, can be used, and one having a typical Curie temperature of 140 ° C. to 180 ° C. can be used.

【0031】記録層23は大きな磁壁抗磁力を有し、磁
壁移動層21や遮断層22よりも高いキュリー温度を有
し、遮断層22のキュリー温度近傍の温度範囲で飽和磁
化が小さな材料を用いることができる。例えば、TbF
eCo、またはその合金で、キュリー温度が280℃〜
300℃のものを用いることができる。
The recording layer 23 has a large domain wall coercive force, has a higher Curie temperature than the domain wall displacement layer 21 and the blocking layer 22, and uses a material having a small saturation magnetization in a temperature range near the Curie temperature of the blocking layer 22. be able to. For example, TbF
eCo or its alloy, Curie temperature 280 ℃ ~
Those at 300 ° C. can be used.

【0032】図3は、以上で説明した光ディスク100
の製造工程(3a)と製造手順(3b)を、アニールを
中心に説明した図である。なお以下の説明では、説明の
都合上、テスト用トラックは105bと106bのうち
106bを、ID用トラックは105cと106aのう
ち106aを使うこととするが、実際の使い方は、反対
のものを使ったり、信頼性向上のために両方を使う場合
もある。
FIG. 3 shows the optical disc 100 described above.
FIG. 3 is a diagram for explaining the manufacturing process (3a) and the manufacturing procedure (3b) of FIG. In the following description, for convenience of explanation, it is assumed that 106b of 105b and 106b is used for the test track and 106a of 105c and 106a is used for the ID track, but the actual usage is the opposite. Or both may be used to improve reliability.

【0033】(3a)の製造工程ではまず、S301の
成形・製膜工程で、光ディスク基板は射出成形で成形さ
れ、その基板上に前述の磁性層208などがスパッタリ
ングで製膜される。その後にアニールされる(S30
2:アニール工程)。アニールされた光ディスク100
は、保護コートや潤滑剤が塗布され、マグネット・クラ
ンプのためのクランピングプレートが溶着され、カート
リッジに納められる(S303:保護コート・組立て工
程)。カートリッジに納められた光ディスク100は、
光ディスク検査工程S304でアニールの良否判定に関
わる試験のほか、記録再生のテストや、良品の光ディス
クに対する、物理、論理、アプリケーション等のフォー
マットなど、出荷検査、設定に相当する処理が施され
る。ここで良品となり完成した光ディスク100は、梱
包・出荷工程S305を経て市場に出荷される。
In the manufacturing step (3a), first, in the molding / film forming step of S301, the optical disk substrate is molded by injection molding, and the magnetic layer 208 and the like are formed on the substrate by sputtering. Then, it is annealed (S30
2: Annealing process). Annealed optical disc 100
Is coated with a protective coat and a lubricant, a clamping plate for a magnet clamp is welded, and then stored in a cartridge (S303: protective coat / assembly process). The optical disc 100 stored in the cartridge is
In the optical disk inspection step S304, in addition to the test relating to the quality of annealing, a recording / reproduction test and a process corresponding to shipping inspection and setting such as physical, logical, and application formats for a non-defective optical disk are performed. The optical disc 100, which is a non-defective product and is completed here, is shipped to the market through the packaging / shipping process S305.

【0034】アニール工程S302と光ディスク検査工
程S304は、他の工程に比べて1枚あたり多くの時間
がかかるので、工程の時間を調整するために、それぞれ
複数のアニール装置と複数の光ディスク検査装置を配置
して使う。図3における複数の矢印はそれを示す。後述
するように、光ディスク検査工程S304では、アニー
ル装置毎の設定アニールパワーと最適アニールパワーと
の差分を測定できるので、それに基づいて各アニール装
置のアニールパワーを最適に補正する(S306:アニ
ールパワー調整)。
Since the annealing process S302 and the optical disc inspection process S304 take a lot of time per sheet as compared with the other processes, a plurality of annealing devices and a plurality of optical disc inspection devices are respectively provided to adjust the process time. Place and use. The arrows in FIG. 3 indicate this. As will be described later, in the optical disc inspection step S304, since the difference between the set annealing power and the optimum annealing power for each annealing apparatus can be measured, the annealing power of each annealing apparatus is optimally corrected based on the difference (S306: annealing power adjustment). ).

【0035】なお、光ディスク100の感度バラつきや
不良混入などにより、光ディスク1枚毎にアニールパワ
ー補正すると不具合が生じる可能性があるので、平均化
などの統計処理して定期的にアニール装置にフィードバ
ックするのが好ましい。但し、アニールが不完全で記録
再生が不良となる場合には、対象のアニール装置はすぐ
に停止し、その装置を交換・修理する。以上の動作は人
手を介していたのでは効率が悪く間違いも発生する可能
性があるので、コンピュータを使った自動化を導入する
のが好ましい。
Since there is a possibility that a defect may occur if the annealing power is corrected for each optical disk due to variations in sensitivity of the optical disk 100, mixing of defects, etc., statistical processing such as averaging is performed and the feedback is periodically provided to the annealing apparatus. Is preferred. However, when the annealing is incomplete and the recording / reproducing becomes defective, the target annealing apparatus is immediately stopped, and the apparatus is replaced / repaired. It is preferable to introduce computer-based automation because the above operation is inefficient and may cause errors if it is performed manually.

【0036】アニール装置、光ディスク検査装置の具体
的構成例は、それぞれ図6と図7を使って後述するが、
それぞれの動作手順(ステップ)は図3(3b1)と
(3b2)に示した通りである。
Specific examples of the annealing device and the optical disc inspection device will be described later with reference to FIGS. 6 and 7, respectively.
Each operation procedure (step) is as shown in (3b1) and (3b2) of FIG.

【0037】即ち(3b1)のアニール装置の動作手順
では、まず通常録再するグルーブ202に再生パワーで
トラッキングした状態で起動し、アドレスを読んでデー
タ領域101の少なくとも一つ手前のトラックにシーク
し、ランド203にトラッキング極性を変更するように
ハーフジャンプしてスチルジャンプを解除し、アニール
設定パワーにパワーを上げて、スパイラルに配置された
ランド203を連続的に走査し、全録再トラック101
の両側を全てアニールする(S307)。アニールを終
えると、一旦パワーを再生パワーに戻し、グルーブ20
2にトラッキングし、アドレスを読めるスタンバイ状態
とする。
That is, in the operation procedure of the annealing device of (3b1), first, the normal recording / reproducing groove 202 is started in a state of being tracked by the reproducing power, the address is read, and the seek is performed to the track at least one before the data area 101. , The land 203 is half-jumped so as to change the tracking polarity to cancel the still jump, the power is increased to the annealing setting power, the lands 203 arranged in the spiral are continuously scanned, and the whole recording / reproducing track 101
Both sides of are annealed (S307). When the annealing is finished, the power is once returned to the reproduction power and the groove 20
Track to 2 and set the standby state where the address can be read.

【0038】次に、アニールパワーの検査用トラックを
するためテスト用トラック106bにシークして、設定
パワーを中心に異なるアニールパワーでアニールしたテ
スト用トラック106bを作成する(S308)。テス
ト用トラック106bは、例えば設定パワーを5mWと
し、3.5mW〜6.5mWを0.25mW刻みで13
通りの106bをそれぞれ5本ずつ作成する。テスト用
トラック106bの作成は、各パワー毎に、アニール動
作を5本で打ち切るような動作を実施するか、アニール
動作中にアニールパワーを順次上げていく動作を実施す
ることによって実現できる。
Next, the test track 106b is sought to serve as a test track for the annealing power, and the test track 106b annealed with different annealing powers around the set power is created (S308). The test track 106b has, for example, a set power of 5 mW and 3.5 mW to 6.5 mW in 13 steps of 0.25 mW.
Create five street 106b each. The test track 106b can be created by performing an operation of cutting off the annealing operation with five powers for each power, or by performing an operation of sequentially increasing the annealing power during the annealing operation.

【0039】一旦スタンバイ状態に戻し、最後にID用
トラック106aにシークして、IDを記録する(S3
09)。この時のトラッキング極性は基本的にグルーブ
202とする。IDの記録パワーは、設定アニールパワ
ーかそれより高いパワーとして、対象グルーブの区間を
確実に劣化させる。なお、簡略化のためにアニール時の
トラッキング極性を変えずに、ID用トラック106a
の両端を高パワーでアニールして、グルーブの特性を劣
化させてもよいが、隣接トラックも同時に劣化するので
好ましい方法とは言えない。
After returning to the standby state once, the ID track 106a is finally sought to record the ID (S3).
09). The tracking polarity at this time is basically the groove 202. The recording power of the ID is set to the set annealing power or higher, and surely deteriorates the section of the target groove. For simplification, the ID track 106a is used without changing the tracking polarity during annealing.
Both ends of the groove may be annealed with high power to deteriorate the characteristics of the groove, but this is not a preferable method because the adjacent tracks are also deteriorated at the same time.

【0040】次に(3b2)の光ディスク検査装置の動
作手順を説明する。検査すべき光ディスク100は既に
カートリッジに入っている。光ディスク検査装置には、
通常の記録再生を備えた量産用の通常ドライブ装置を使
うのが経済的に適切である。ここでの動作説明はアニー
ルの良否判定に関わるもののみを示し、前述のようなフ
ォーマット動作や他の出荷検査に関わるような内容の説
明は省略する。
Next, the operation procedure of the optical disc inspection apparatus of (3b2) will be described. The optical disc 100 to be inspected is already in the cartridge. The optical disc inspection device has
It is economically appropriate to use a mass-production normal drive device with normal recording / playback. Only the operations related to the quality judgment of annealing are shown here, and the description of the contents related to the above-described formatting operation and other shipping inspections is omitted.

【0041】光ディスク検査装置は光ディスク起動後、
アニール済みの録再トラック101を例えば16本に1
本の割合でライト/ベリファイ(W/V)して、それら
のトラックの良否判定を行う(S310)。この段階で
所定レベルの不良が発生した場合には、被検査光ディス
クを不良とするが、この不良がアニールによるものかど
うかを判定するために、不良でも以降のステップを実施
する。
The optical disc inspection apparatus starts the optical disc,
For example, 1 in 16 recording / playback tracks 101 that have been annealed
Write / verify (W / V) is performed at the ratio of books to determine whether the tracks are good or bad (S310). If a defect of a predetermined level occurs at this stage, the optical disk to be inspected is determined to be defective. However, in order to determine whether this defect is due to annealing, the subsequent steps are performed even if it is defective.

【0042】次にアニール装置で作成したアニールパワ
ーの設定値毎のテスト用トラック106bをW/Vし
て、W/VでNGとなる上限と下限のアニールパワーを
見つけ、その平均パワーを最適アニールパワーとして算
出する(S311)。この最適パワー算出のステップで
は、より正確なパワーを検出するため通常のGO/NO
GOのW/Vではなく、ジッタ測定やエラーレート測定
を行うことや、さらにアニールパワー変動に敏感な再生
パラメータに変更して再生特性の検査を実施することで
より、最適アニールパワーが正確に見つけられる。な
お、ここで見つけた上限と下限パワーの差が所定の値を
切る時はNGとする。また、テスト用トラック106b
に欠陥が見つかった場合には、それを最適パワー演算か
ら除外するよう処理する。
Next, the test track 106b for each set value of the annealing power created by the annealing device is W / V, the upper and lower annealing powers at which W / V becomes NG are found, and the average power is optimized. It is calculated as power (S311). In this optimum power calculation step, normal GO / NO is used to detect more accurate power.
The optimum anneal power can be found more accurately by performing jitter measurement and error rate measurement instead of GO / V of GO, and by changing the reproduction parameter sensitive to annealing power variation and performing reproduction characteristic inspection. To be When the difference between the upper limit power and the lower limit power found here falls below a predetermined value, the result is NG. Also, the test track 106b
When a defect is found in the above, it is processed so as to be excluded from the optimum power calculation.

【0043】最後に、ID用トラック106aにシーク
して、ID情報を読取り(詳細は後述)、今検査した光
ディスク100がどのアニール装置でアニールされたか
を特定し、アニールパワー調整S306に使う。
Finally, the ID track 106a is sought, the ID information is read (details will be described later), the annealing device for the optical disc 100 that has just been inspected is specified, and this is used for the annealing power adjustment S306.

【0044】なお、アニール中にトラックジャンプ等が
発生して、アニールが中断した場合には、中断した点か
らアニールのリトライを試みて、それでもトラックジャ
ンプが発生するようなら、そこをスキップしてアニール
する。但し、スキップするトラックの長さは、以降の通
常録再に影響のないレベルに限定する必要がある。ま
た、アニール中には、ランド203やピット領域103
のピット品質などを検査して、上流の成形・製膜工程S
301にフィードバックすることも有効である。もちろ
ん、アニール装置そのものの故障や不良を検出して、不
良光ディスクを作成しないようにすることも大事であ
る。
If a track jump or the like occurs during the annealing and the annealing is interrupted, an attempt is made to retry the annealing from the point of interruption, and if a track jump still occurs, the track jump is skipped and the annealing is performed. To do. However, it is necessary to limit the length of the skipped track to a level that does not affect subsequent normal recording / playback. Also, during the annealing, the land 203 and the pit area 103
Pit quality etc. is checked and the upstream molding / film forming process S
Feedback to 301 is also effective. Of course, it is also important not to create a defective optical disc by detecting a failure or defect in the annealing device itself.

【0045】図4は、前述のID記録と再生の具体的な
方法を説明する図である。まず装置IDの記録を(4
a)に示す。記録するのは、ID用トラック106a
を、所定長以上の長さに分割した区間にID情報のビッ
トを割り当てる。ここでは、簡単のためセグメント10
2の1つを1区間としている。ID情報の記録は、その
ビットの“1”、“0”に応じて、セグメント102毎
にそれぞれ“設定アニールパワー以上のパワー”、“再
生パワーレベル”を照射する。
FIG. 4 is a diagram for explaining a specific method of the above-mentioned ID recording and reproduction. First, record the device ID (4
Shown in a). The ID track 106a is recorded.
Is allocated to a section divided into a predetermined length or more, and bits of ID information are assigned. Here, for simplicity, segment 10
One of 2 is set as one section. The ID information is recorded by irradiating a "power equal to or higher than a preset annealing power" and a "reproduction power level" for each segment 102 according to "1" and "0" of the bit.

【0046】設定アニールパワー以上を照射された部分
は、アニールと同様その磁気特性が劣化される。この劣
化の度合いを以下の再生処理で検出する。(4b)は、
再生前のパターン記録を示す。ID用トラック106a
にシークして、レーザ強度を、記録レベルにして、磁気
ヘッドを磁界変調してID用トラック106aに等価的
に記録を行う。ここでのデータパターンは単一周波数の
信号とする。セグメント毎に記録でき、しかも超解像再
生を要する程高周波数でなく通常MO再生のできる低周
波数で十分なので、実装上の問題は少ない。次にここで
準備したID用トラック106aを再生する(4c)。
セグメント102の磁気特性を劣化の有/無で、MOの
再生振幅はそれぞれ小/大となり、それをエンベロープ
として検出して、それぞれビット“1”/“0”と再生
できる。
The magnetic properties of the portion irradiated with the set annealing power or more are deteriorated similarly to the annealing. The degree of this deterioration is detected by the following reproduction processing. (4b) is
The pattern recording before reproduction is shown. ID track 106a
Then, the laser intensity is set to the recording level, the magnetic head is magnetically modulated, and recording is equivalently performed on the ID track 106a. The data pattern here is a signal of a single frequency. There is little problem in mounting because a low frequency that can be recorded for each segment and that is capable of normal MO reproduction rather than a high frequency that requires super-resolution reproduction is sufficient. Next, the ID track 106a prepared here is reproduced (4c).
With or without deterioration of the magnetic characteristics of the segment 102, the reproduction amplitude of the MO becomes small / large respectively, which can be detected as an envelope and reproduced as bits "1" / "0".

【0047】なお、以上の実施形態では、1セグメント
を1ビットに割り当てたが、1トラックは例えば128
0セグメントと多いので、ID情報を128ビット入れ
ても1ビット当り8セグメント以上を割り当ててもよ
い。また、複数セグメントに1ビットを割当てる場合に
は、再生信頼性を向上するために、1ビット毎にアニー
ルするセグメント数を一定とするようなDCフリー変調
などの工夫も好ましい。
In the above embodiment, one segment is assigned to one bit, but one track has, for example, 128 bits.
Since there are as many as 0 segments, 128 bits of ID information may be inserted or 8 segments or more may be allocated per bit. Further, when 1 bit is assigned to a plurality of segments, it is also preferable to devise such as DC-free modulation so that the number of segments annealed for each 1 bit is constant in order to improve the reproduction reliability.

【0048】図5には、ID用トラック106aに記録
するID情報の例を示した。アニール装置のIDだけな
ら16ビットも十分だが、ここでのID情報の記録は光
ディスク100の1枚毎に、不揮発的な記録を実施して
いるので、特に最近急速に普及しつつあるメディア情報
の配信などに使うメディアIDとして拡張して使うこと
が有効と考えられる。また、そのために新たな工程を必
要としない点もメリットである。
FIG. 5 shows an example of ID information recorded on the ID track 106a. 16 bits are sufficient for the ID of the annealing device, but the ID information is recorded in a nonvolatile manner for each optical disc 100. It is considered effective to extend and use as a media ID used for distribution. Another advantage is that no new process is required for that purpose.

【0049】(5a)は、単純なID情報の例である。
401は装置IDで、402はそのエラー検出コードC
RCである。ここでは、読取り信頼性を向上するために
2重書きしている。
(5a) is an example of simple ID information.
401 is a device ID, and 402 is its error detection code C.
It is RC. Here, double writing is performed in order to improve read reliability.

【0050】(5b)と(5c)は、光ディスク100
の1枚毎にIDを与え、しかもその製造履歴も分かるよ
うにしたID情報の例である。403、404、405
はそれぞれ光ディスク100の製造者ID、製造年月
日、シリアル番号である。シリアル番号405は、製造
日毎に初期化したシリアル番号でも十分である。付与I
D406は、著作権管理機構などから与えられる番号で
ある。407と408は、以上の情報の集合集413に
対する、それぞれエラー検出コードCRCとエラー訂正
コードECCである。この例では、情報の集合413を
メディアIDとして使うことを想定している。
(5b) and (5c) are the optical disc 100
This is an example of ID information in which an ID is given for each sheet and the manufacturing history is also known. 403, 404, 405
Are the manufacturer ID, the date of manufacture, and the serial number of the optical disc 100, respectively. The serial number 405 may be a serial number initialized every manufacturing date. Grant I
D406 is a number given by the copyright management mechanism or the like. Reference numerals 407 and 408 are an error detection code CRC and an error correction code ECC for the above collection of information 413, respectively. In this example, it is assumed that the information set 413 is used as a media ID.

【0051】(5c)は情報の集合413を、付与ID
406を除く情報の集合414と付与ID406とに分
けた例である。409と410は前者のCRCとEC
C、411と412は後者のCRCとECCである。こ
れによって、情報の集合414と付与IDを別々のメデ
ィアIDとして使えることを可能としている。なお、I
D情報にはメディアIDとは別に、アニール装置で同時
に実施すると好適と考えられる光ディスクのピット信号
品質の検査結果データや、アニール中のエラー発生箇所
などを記録して、工程管理に使うことも可能である。
(5c) is a set of information 413, the assigned ID
In this example, the set 414 of information excluding 406 and the assigned ID 406 are divided. 409 and 410 are the former CRC and EC
C, 411 and 412 are the latter CRC and ECC. This makes it possible to use the information set 414 and the assigned ID as different media IDs. Note that I
In addition to the media ID, the D information can also be used for process control by recording the inspection result data of the pit signal quality of the optical disk, which is considered to be suitable to be performed simultaneously by the annealing device, and the error occurrence point during annealing. Is.

【0052】図6は、本実施形態のアニール工程に使う
アニール装置の主要部のブロック図である。図6におい
て、501はλ=405nmのGaNの半道体レーザ、
502は半導体レーザ501の出射光の一部を照射パワ
ーとして測定する照射パワー検出器、503はビームス
プリッタ、211はNA0.75の対物レンズである。
半導体レーザ501から出射されたレーザ光はビームス
プリッタ503、対物レンズ211を通過して、光ディ
スク100のランド203に集光されアニール用光ビー
ム212を形成する。半導体レーザ501の出射パワー
は、照射パワー検出器502の検出結果に基づいて、通
常のパワーサーボ方式で506のアニールパワー制御部
で制御する。
FIG. 6 is a block diagram of the main part of the annealing apparatus used in the annealing process of this embodiment. In FIG. 6, 501 is a GaN semi-aperture laser with λ = 405 nm,
502 is an irradiation power detector that measures a part of the emitted light of the semiconductor laser 501 as irradiation power, 503 is a beam splitter, and 211 is an objective lens with NA 0.75.
The laser light emitted from the semiconductor laser 501 passes through the beam splitter 503 and the objective lens 211 and is focused on the land 203 of the optical disc 100 to form an annealing light beam 212. The emission power of the semiconductor laser 501 is controlled by the anneal power control unit 506 based on the detection result of the irradiation power detector 502 by the normal power servo method.

【0053】アニール用光ビーム212は、光ディスク
100の積層薄膜200に吸収され熱に変化すると共
に、反射されてアニール用光ヘッド500に反射光とし
て戻ってくる。対物レンズ211とビームスプリッタ5
03の間に不図示のλ/4板を配置し、前記反射光はビ
ームスプリッタ503で光路を変更し反射パワー検出器
505に導く。反射パワー検出器505の出力は、フォ
ーカス誤差信号検出、トラッキング誤差信号検出やトラ
ックアドレス読みなどに使われる。507は最適アニー
ルパワー設定部であり、DIPスイッチまたはEEPR
OMなどに設定パワー値がコードとして設定され、その
値に基づいてアニール装置の一連の処理が実施される。
The annealing light beam 212 is absorbed by the laminated thin film 200 of the optical disc 100 and converted into heat, and is reflected and returned to the annealing optical head 500 as reflected light. Objective lens 211 and beam splitter 5
A λ / 4 plate (not shown) is arranged between the light sources 03 and 03, the optical path of the reflected light is changed by the beam splitter 503, and the reflected light is guided to the reflected power detector 505. The output of the reflected power detector 505 is used for focus error signal detection, tracking error signal detection, track address reading, and the like. 507 is an optimum annealing power setting unit, which is a DIP switch or EEPR
The set power value is set as a code in the OM or the like, and a series of processes of the annealing device is executed based on the set power value.

【0054】508はID設定部であり、これもDIP
スイッチまたはEEPROMなどに装置ID情報が記憶
され、この値に基づいてID情報が作成され、ID用ト
ラック106aに記録される。図5(5b)、(5c)
のようにID情報を拡張する場合には、アニール装置を
スレーブとして上位のコントローラから情報を送るのが
好適である。なお、CRCやECCは不図示のアニール
装置コントロール用のマイコンで予め計算する構成にす
れば、ハード量の増加は少なくて済む。
Reference numeral 508 is an ID setting section, which is also a DIP.
The device ID information is stored in a switch or EEPROM, and the ID information is created based on this value and recorded in the ID track 106a. Figure 5 (5b) and (5c)
In the case of extending the ID information as described above, it is preferable to send the information from the host controller using the annealing device as a slave. If CRC and ECC are calculated in advance by an unillustrated microcomputer for controlling the annealing device, the increase in the amount of hardware can be small.

【0055】図7は、本実施形態の光ディスク検査工程
に使う光ディスク検査装置の主要部のブロック図であ
る。図7において、601は波長λ=650の半道体レ
ーザ、602は半導体レーザ601の出射光の一部を照
射パワーとして測定する出射(照射)パワー検出器、6
03はビームスプリッタ、604はNA0.6の対物レ
ンズである。半導体レーザ601から出射されたレーザ
光はビームスプリッタ603、対物レンズ604を通過
して、光ディスク100のグルーブ202に集光され録
再用光ビーム610を形成する。半導体レーザ601の
出射パワーは、出射パワー検出器602の検出結果に基
づいて録再制御部606で制御される。
FIG. 7 is a block diagram of the main part of the optical disc inspection apparatus used in the optical disc inspection process of this embodiment. In FIG. 7, 601 is a semi-transparent laser having a wavelength λ = 650, 602 is an emission (irradiation) power detector that measures a part of the emission light of the semiconductor laser 601 as irradiation power, and 6
Reference numeral 03 is a beam splitter, and 604 is an objective lens with NA of 0.6. The laser light emitted from the semiconductor laser 601 passes through the beam splitter 603 and the objective lens 604 and is focused on the groove 202 of the optical disc 100 to form a recording / reproducing light beam 610. The emission power of the semiconductor laser 601 is controlled by the recording / reproduction control unit 606 based on the detection result of the emission power detector 602.

【0056】録再用光ビーム610はMO信号を検出す
るため直線偏光とする。光ビーム610は、記録時には
記録パワー(周波数一定パルス変調)として磁気ヘッド
609を磁界変調させながら光ディスク100の積層薄
膜200を、磁気ヘッド609で磁化して情報を記録す
る。また光ビーム610は、再生時には再生パワーを積
層薄膜200に当て、磁壁移動および/または通常の光
磁気状態をカー回転角の変化をMO信号として検出す
る。MO検出信号として反射された光ビーム610は、
対物レンズ604に戻り、ビームスプリッタ603で、
MO信号検出器605に導かれる。MO信号検出器は、
フォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号のほか、M
O差動信号とサンプルサーボ/アドレス読み用の加算信
号を録再制御部606に送る。607は、録再制御部6
06によって実施するステップS311で得た、最適ア
ニールパワーが格納される最適アニールパワー格納部で
ある。607は、録再制御部606によって実施するI
D再生ステップS312で読み出されたID情報を格納
する、再生ID格納部である。なお、ID情報のCRC
やECCは不図示の光ディスク検査装置コントロール用
のマイコンで後から計算すればハードの追加は少なくて
済む。
The recording / reproducing light beam 610 is linearly polarized in order to detect the MO signal. During recording, the light beam 610 magnetizes the laminated thin film 200 of the optical disc 100 by the magnetic head 609 while recording the information while magnetically modulating the magnetic head 609 as a recording power (constant frequency pulse modulation). Further, the light beam 610 applies reproduction power to the laminated thin film 200 during reproduction, and detects domain wall movement and / or a normal magneto-optical state as a MO signal indicating a change in Kerr rotation angle. The light beam 610 reflected as the MO detection signal is
Returning to the objective lens 604, the beam splitter 603
It is guided to the MO signal detector 605. MO signal detector
In addition to the focus error signal and tracking error signal, M
The O differential signal and the addition signal for sample servo / address reading are sent to the recording / reproducing control unit 606. 607 is a recording / reproducing control unit 6
The optimum annealing power storage unit stores the optimum annealing power obtained in step S311 executed in 06. Reference numeral 607 denotes I performed by the recording / reproduction control unit 606.
A reproduction ID storage unit that stores the ID information read in the D reproduction step S312. In addition, CRC of ID information
The hardware and ECC are not necessary to add hardware if they are calculated later by a microcomputer for controlling the optical disk inspection device (not shown).

【0057】なお、以上の本発明における実施形態で
は、DWDD再生方式でサンプルサーボの光ディスクを
具体例として説明してきた。しかし本発明は、DWDD
の光ディスクの記録材料に限定するものではなく、DW
DD以外の光磁気材料の特性改善や、相変化材料のトラ
ック間を予め所定のパワーを当てて反射率や記録特性を
安定化するためのトラック間アニールなどにも適用可能
である。また、サーボ方式も連続サーボにも使えること
はいうまでもない。さらに、磁気ディスク上に光ビーム
でガイドを構成するなどの光ディスク以外の製造にも有
効に使えると考えられる。
In the above embodiments of the present invention, the optical disk of the sample servo in the DWDD reproducing system has been described as a specific example. However, the present invention
DW is not limited to the recording material of the optical disc
It can also be applied to the improvement of the characteristics of magneto-optical materials other than DD, and the inter-track annealing for stabilizing the reflectance and recording characteristics by applying a predetermined power between the tracks of the phase change material in advance. Needless to say, the servo system can also be used for continuous servo. Further, it can be effectively used for manufacturing other than the optical disc, such as forming a guide with a light beam on the magnetic disc.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
による光ディスクおよびその製造方法を使えば、アニー
ル工程に使うアニール装置のアニールパワーを常に最適
に保つことができ、常に最適なアニールパワーでアニー
ルされた光ディスクおよびその製造装置を提供すること
ができる。
As is apparent from the above description, by using the optical disk and the manufacturing method thereof according to the present invention, the annealing power of the annealing device used in the annealing process can be always kept optimum, and the optimum annealing power can always be maintained. An annealed optical disc and its manufacturing apparatus can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施形態における光ディスクの構造を
示す図
FIG. 1 is a diagram showing a structure of an optical disc according to an embodiment of the present invention.

【図2】(a)本発明の実施形態における光ディスクの
断面斜視図 (b)本発明の実施形態における光ディスクの拡大図
FIG. 2A is a sectional perspective view of an optical disc according to an embodiment of the present invention. FIG. 2B is an enlarged view of an optical disc according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施形態における製造工程と製造手順
を示す図
FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process and a manufacturing procedure in the embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施形態におけるIDの記録・再生方
法の説明図
FIG. 4 is an explanatory diagram of an ID recording / reproducing method according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施形態におけるID情報のデータ例
を示す図
FIG. 5 is a diagram showing a data example of ID information according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施形態における光ディスクの製造工
程に用いるアニール装置のブロック図
FIG. 6 is a block diagram of an annealing device used in an optical disc manufacturing process according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施形態における光ディスクの製造工
程に用いる光ディスク検査装置のブロック図
FIG. 7 is a block diagram of an optical disc inspection apparatus used in an optical disc manufacturing process according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 光ディスク 101 データ領域(録再トラック) 102 セグメント 103 ピット領域 104 グルーブ領域 105 リードイン領域 105a コントロールトラック 105b アニールパワーテスト用トラック 105c ID用トラック 106 リードアウト領域 106a ID用トラック 106b アニールパワーテスト用トラック 200 積層薄膜 201 基板 202 グルーブ 203 ランド 204 第1ウォブルピット 205 第2ウォブルピット 206 アドレスピット 207 第1誘電体層 208 磁性層 21 磁壁移動層 22 遮断層 23 記録層 209 第2誘電体層 210 磁気結合遮断領域 211 対物レンズ(アニール用) 212 アニール用光ビーム 213 ミラー部 S301 成形・製膜工程 S302 アニール工程 S303 保護コート・組立て工程 S304 ディスク検査工程 S305 梱包・出荷工程 S306 アニールパワー調整 401 装置ID 402,407,409,411 CRC 403 製造者ID 404 製造年月日 405 シリアル番号 406 付与ID 408,410,412 ECC 500 アニール用光ヘッド 501 半導体レーザ 502 照射パワー検出器 503 ビームスプリッタ 505 反射パワー検出器 506 アニールパワー制御部 507 最適アニールパワー設定部 508 ID情報設定部 600 録再用光ヘッド 601 半導体レーザ 602 出射パワー検出器 603 ビームスプリッタ 604 対物レンズ 605 MO信号検出器 606 アニールパワー制御部 607 最適アニールパワー格納部 608 再生ID格納部 609 磁気ヘッド 610 録再用光ビーム 100 optical disks 101 data area (recording / playback track) 102 segments 103 pit area 104 groove area 105 Lead-in area 105a control track 105b Annealing power test track 105c ID truck 106 Lead-out area 106a ID truck 106b Annealing power test track 200 laminated thin film 201 substrate 202 groove 203 land 204 First Wobble Pit 205 Second Wobble Pit 206 address pit 207 First dielectric layer 208 magnetic layer 21 Domain wall moving layer 22 Barrier layer 23 recording layer 209 Second dielectric layer 210 Magnetic coupling blocking area 211 Objective lens (for annealing) 212 Light beam for annealing 213 Mirror section S301 Molding / film forming process S302 Annealing process S303 Protective coat and assembly process S304 Disc inspection process S305 Packing / shipping process S306 Annealing power adjustment 401 Device ID 402, 407, 409, 411 CRC 403 Manufacturer ID 404 Date of manufacture 405 serial number 406 Assigned ID 408,410,412 ECC 500 Optical head for annealing 501 semiconductor laser 502 Irradiation power detector 503 beam splitter 505 Reflection power detector 506 Annealing power controller 507 Optimal annealing power setting section 508 ID information setting section 600 Recording / playback optical head 601 Semiconductor laser 602 Output power detector 603 beam splitter 604 Objective lens 605 MO signal detector 606 Annealing power controller 607 Optimal annealing power storage 608 Playback ID storage unit 609 Magnetic head 610 Recording / reproducing optical beam

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾留川 正博 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 井上 貴司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D075 EE03 FF11 GG16 5D090 AA01 BB04 BB10 CC01 DD03 GG01 GG16    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Masahiro Oberagawa             1006 Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric             Sangyo Co., Ltd. (72) Inventor Takashi Inoue             1006 Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric             Sangyo Co., Ltd. F-term (reference) 5D075 EE03 FF11 GG16                 5D090 AA01 BB04 BB10 CC01 DD03                       GG01 GG16

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】データを記録再生するための録再トラック
の両側を、所定パワーの光ビームでアニールする光ディ
スクであって、前記アニールの最適なパワーを見つけ出
すための複数のテスト用トラックと、前記アニールを実
施するアニール装置の識別番号(ID)を記録再生する
ためのID用トラックを備えたことを特徴とする光ディ
スク。
1. An optical disc in which both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data are annealed with a light beam having a predetermined power, and a plurality of test tracks for finding an optimum power of the annealing, and An optical disk comprising an ID track for recording and reproducing an identification number (ID) of an annealing device for performing annealing.
【請求項2】前記ID用トラックのIDの各ビット記録
は、前記所定のアニールパワーもしくはそれより高いア
ニールパワーで、所定長以上の複数の区間をアニールす
るかしないかで記録する記録方法であり、前記IDの再
生は、予め所定パターンのデータを前記ID用トラック
全体に記録して、前記記録後に前記ID用トラック上の
前記区間毎のデータの有/無または大/小によってそれ
ぞれアニール無し/有りの部分を判別してIDの各ビッ
トを再生する再生方法であることを特徴とする請求項1
記載の光ディスク。
2. A recording method for recording each bit of an ID of the ID track by recording with a predetermined annealing power or a higher annealing power depending on whether a plurality of sections having a predetermined length or more are annealed or not. In the reproduction of the ID, a predetermined pattern of data is recorded in advance on the entire ID track, and after the recording, the presence / absence or the large / small of the data for each section on the ID track is not annealed / 2. A reproducing method for reproducing each bit of the ID by discriminating the presence portion.
The described optical disc.
【請求項3】前記ID用トラックにはIDに加えて所定
のルールに基づいた番号情報が記録され、前記IDおよ
び/または前記番号情報を前記録再トラックに記録再生
するデータ管理用のメディアIDとして使用されること
を特徴とする請求項1または2記載の光ディスク。
3. A medium ID for data management, wherein number information based on a predetermined rule is recorded in addition to the ID on the ID track, and the ID and / or the number information is recorded / reproduced in a previous recording / reproducing track. The optical disc according to claim 1 or 2, wherein the optical disc is used as.
【請求項4】データを記録再生するための録再トラック
の両側を、所定パワーの光ビームでアニールする光ディ
スクであり、前記アニールに最適なパワーを見つけ出す
ための複数のテスト用トラックと、前記アニールを実施
するアニール装置の識別番号(ID)を記録再生するた
めのID用トラックを備えた光ディスクの製造方法であ
って、 前記録再トラックの両側を前記所定パワーに対応した設
定パワーでアニールする第1のステップと、前記テスト
用トラックを、前記設定パワーを中心とした複数の異な
るパワーでアニールしたアニール検査トラックを作成す
る第2のステップを含む前記アニール装置を用いて前記
光ディスクをアニールするアニール工程と、 アニール済みの録再トラックの一部もしくは全部をライ
ト/ベリファイして前記録再トラックの良否を判定する
第3のステップと、前記アニール検査トラックをライト
/ベリファイして前記アニール装置の最適アニールパワ
ーを見つけ出す第4のステップを含む光ディスク検査装
置を用いて前記光ディスクの良否を判定する検査工程
と、 前記設定パワーを前記検査工程で見つけ出した最適アニ
ールパワーに変更するアニールパワー調整ステップを含
むことを特徴とする光ディスクの製造方法。
4. An optical disc in which both sides of a recording / reproducing track for recording / reproducing data are annealed with a light beam of a predetermined power, and a plurality of test tracks for finding an optimum power for the annealing, and the annealing. A method of manufacturing an optical disc having an ID track for recording / reproducing an identification number (ID) of an annealing device for carrying out the method, comprising annealing both sides of a pre-recording / re-recording track at a set power corresponding to the predetermined power. Annealing step of annealing the optical disk by using the annealing apparatus including the step 1 and the second step of forming an annealing inspection track by annealing the test track with a plurality of different powers centering on the set power. And write / verify some or all of the annealed recording / playback tracks. The quality of the optical disk is checked by using an optical disk inspection apparatus including a third step of determining the quality of the recording / reproducing track and a fourth step of finding the optimum annealing power of the annealing apparatus by writing / verifying the annealing inspection track. An optical disk manufacturing method, comprising: an inspecting step for judging; and an annealing power adjusting step for changing the set power to the optimum annealing power found in the inspecting step.
【請求項5】前記アニール工程は、IDを付与した複数
のアニール装置から成り、各アニール装置はそれぞれの
IDを前記ID用トラックに記録する第5のステップを
含み、前記検査工程の光ディスク検査装置は、前記ID
用トラックからIDを読取る第6のステップを含み、前
記アニールパワー調整ステップは、前記複数のアニール
装置から前記IDで特定したアニール装置1台毎に前記
設定パワーを最適アニールパワーに変更することを特徴
とする請求項4記載の光ディスクの製造方法。
5. The optical disc inspection apparatus of the inspecting step, wherein the annealing step comprises a plurality of annealing apparatuses having IDs, each annealing apparatus including a fifth step of recording the respective IDs on the ID track. Is the ID
A sixth step of reading an ID from the track for use, wherein the annealing power adjusting step changes the set power to an optimum annealing power for each of the annealing devices specified by the ID from the plurality of annealing devices. 5. The method for manufacturing an optical disc according to claim 4, wherein.
【請求項6】前記第5のステップにおける前記ID用ト
ラックのIDの各ビット記録は、前記所定のアニールパ
ワーもしくはそれより高いアニールパワーで、所定長以
上の複数の区間をアニールするかしないかで記録する記
録方法であり、前記IDの再生は、予め所定パターンの
データを前記ID用トラック全体に記録して、前記記録
後に前記ID用トラック上の前記区間毎のデータの有/
無または大/小によってそれぞれアニール無し/有りの
部分を判別してIDの各ビットを再生する再生方法であ
ることを特徴とする請求項5記載の光ディスクの製造方
法。
6. The bit recording of each ID of the ID track in the fifth step is performed with or without annealing at a predetermined annealing power or a higher annealing power for a plurality of sections having a predetermined length or more. This is a recording method of recording, and in the reproduction of the ID, data of a predetermined pattern is recorded in advance on the entire ID track, and after the recording, the presence / absence of data for each section on the ID track is recorded.
6. The method of manufacturing an optical disk according to claim 5, wherein the reproducing method is for reproducing each bit of the ID by discriminating the non-annealed / non-annealed portions depending on the absence or large / small.
【請求項7】前記第5のステップは、前記IDに加えて
所定のルールに基づいた番号情報を前記ID用トラック
に前記メディアIDとして記録することを特徴とする請
求項5または6記載の光ディスクの製造方法。
7. The optical disk according to claim 5, wherein in the fifth step, number information based on a predetermined rule in addition to the ID is recorded as the media ID in the ID track. Manufacturing method.
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