JP4617607B2 - Electronic component positioning apparatus and method - Google Patents

Electronic component positioning apparatus and method Download PDF

Info

Publication number
JP4617607B2
JP4617607B2 JP2001168106A JP2001168106A JP4617607B2 JP 4617607 B2 JP4617607 B2 JP 4617607B2 JP 2001168106 A JP2001168106 A JP 2001168106A JP 2001168106 A JP2001168106 A JP 2001168106A JP 4617607 B2 JP4617607 B2 JP 4617607B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
data
collet
mounted object
pyramid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001168106A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2002368493A (en
Inventor
圭介 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2001168106A priority Critical patent/JP4617607B2/en
Publication of JP2002368493A publication Critical patent/JP2002368493A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4617607B2 publication Critical patent/JP4617607B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品位置決め装置およびその方法に関し、特に、半導体素子などのチップ部品を、基板などの被搭載物に対して位置決めする電子部品位置決め装置およびその方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体装置や電子部品などは、高性能化されるとともに、小型化され続けてきた。そして、半導体装置や電子部品が、高性能化されかつ小型化されるにつれて、これら半導体装置や電子部品を、被搭載物に実装するために、高密度実装技術も進歩してきた。
つまり、半導体装置や電子部品が、高性能化されかつ小型化されるにつれて、様々な電子部品位置決め装置や、電子部品位置決め方法に関する技術が開発され、実用化されてきた。
【0003】
このような電子部品位置決め装置や、電子部品位置決め方法に関する技術の一つとして、たとえば、特開平04−010551号公報に開示された、透明な材料からなる、吸着穴の穿設された平板状のコレットを用いた技術がある。
この技術は、チップ部品を吸着保持した状態で、コレットを透過してチップ部品の表面パターンを撮像装置により観察し、画像処理装置により表面パターンの位置を計測し、表面パターンの位置がずれている場合に、この位置ずれを補正して、チップ部品を精度良く位置決めする技術である。
【0004】
このコレットは、透明な材料からなる平板に真空発生装置と連通する吸着穴を穿設した構造としてあり、真空発生装置の真空度および吸着穴の面積に比例した吸着力で、チップ部品を吸着保持する。
そして、このコレットを用いた電子部品位置決め装置は、通常、チップ部品を吸着保持した状態で被搭載物上に半田付けしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このコレットは、たとえば、半田の溶融時に生じる表面張力などにより、コレットの平面部分に対して平行方向のずれ力がチップ部品に加わった場合、このずれ力が、コレットとチップ部品との接触部分に生じる摩擦力より大きくなると、チップ部品がコレットの平面を移動してしまい、チップ部品の位置がずれるといった問題があった。
【0006】
また、通常、コレットの材料として、石英ガラスが用いられ、チップ部品の表面パターンの材料として、石英ガラスより硬度の低い金が用いられてきた。
このため、コレットがチップ部品を吸着保持し、コレットとチップ部品の表面の一部が接触しているときに、コレットとチップ部品表面との接触部分に過大な圧力が加わると、チップ部品の表面パターンが変形してしまうといった問題があった。
【0007】
さらに、たとえば、金より硬度の高いガリウム砒素化合物からなるチップ部品の砕片などが、コレットとチップ部品との間に挟みこまれた状態で、コレットとチップ部品表面との接触部分に過大な圧力が加わると、砕片などにより、チップ部品の表面パターンが圧痕状に変形してしまうといった問題があった。
【0008】
また、コレットの材料として、透明な材料を使用しているものの、チップ部品を半田付けする際のフラックスやチップ部品の砕片などの付着物が、チップ部品の表面パターンとこの表面パターンを観察する撮像装置との中間位置に付着すると、表面パターンの一部または全部が付着物により隠れて観察できなくなり、チップ部品の表面パターンを正確に位置計測できないといった問題があった。
さらにまた、電子部品の位置決め精度をより向上させる、あるいは、位置決め精度の信頼性をより向上させるといった要求に応えなければならないといった問題があった。
【0009】
本発明は、上述した従来の技術が有する問題を解決するために提案されたものであり、電子部品を半田付けする際に位置ずれを起こさず、かつ、電子部品の表面パターンにダメージを与えることなく、精度良く電子部品の位置決めを行う電子部品の位置決め装置及びその方法の提供を目的とする。
【0010】
なお、特開平8−45970号公報において、テーパ面を形成したコレットに半導体チップを吸着し、半導体チップを吸着した状態で撮像したコレット端部のパターン画像と基準パターンとの位置ずれ量を算出し、この位置ずれ量だけコレットの移動量を補正して、半導体チップを位置決めするダイボンディング装置の技術が提案されている。
ところが、この技術は、半導体チップが正確にコレットに吸着されなくても、あるいは、コレットの製作精度が不十分な場合であっても、精度良く被搭載物に半導体チップを被着できるものの、半導体チップが正確にコレットに吸着されないために、すなわち、半導体チップが傾いてコレットに吸着されるために、搭載精度をさらに向上させたり、搭載精度の信頼性を向上させる上で、改善の余地があった。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため本発明の電子部品位置決め装置は、上面に表面パターンの形成された電子部品が載置される予備認識ステージと、この予備認識ステージの上方に設けられ、前記電子部品を撮像し、画像データを出力する電子部品用撮像装置と、四角錐台状の凹部が形成してあり、前記電子部品を、前記四角錐台の対向する傾斜面に接触させた状態でピックアップする角錐コレット,この角錐コレットの位置修正を行う位置修正装置,及び,前記角錐コレットに設けられ、ピックアップされた前記電子部品の位置を認識するための位置認識部を備えた、前記電子部品を被搭載物に搭載する搭載ヘッドユニットと、前記被搭載物の載置された搭載ステージと、この搭載ステージの上方に設けられ、当該搭載ステージ上に移動してきた前記位置認識部及び前記被搭載物を撮像し、画像データを出力する被搭載物用撮像装置と、前記電子部品用撮像装置及び前記被搭載物用撮像装置と接続され、前記電子部品の画像データを入力し、前記電子部品の位置、前記電子部品の表面パターン、及び、前記電子部品の位置と前記該電子部品の表面パターンとのパターン位置ずれを計測し、また、前記位置認識部及び前記被搭載物の画像データを入力し、前記位置認識部及び前記被搭載物の位置を計測する画像処理装置と、前記画像処理装置及び前記搭載ヘッドユニットと接続され、前記画像処理装置が計測した前記電子部品の位置データを入力し、この電子部品の位置データにもとづいて、前記搭載ヘッドユニットの前記角錐コレットが、前記電子部品に対する相対的な位置修正を行ってから、前記電子部品をピックアップするように制御し、また、前記画像処理装置が計測した前記位置認識部及び前記被搭載物の位置データ、並びに、前記パターン位置ずれのデータを入力し、前記位置認識部の位置データ,前記被搭載物の位置データ,前記角錐コレットにピックアップされた前記電子部品と前記位置認識部との位置関係データ,及び,前記パターン位置ずれのデータにもとづいて、前記搭載ヘッドユニットの前記角錐コレットが、前記被搭載物に対する相対的な位置修正を行ってから、前記電子部品を前記被搭載物に搭載するように制御するコントローラと、を具備した構成としてある。
【0012】
このようにすると、予備認識ステージに載置された電子部品の位置データにもとづいて位置修正された角錐コレットが、電子部品を精度良く位置決め可能な状態でピックアップし、さらに、位置認識部の位置データ,被搭載物の位置データ,及び,角錐コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データにもとづいて位置修正された角錐コレットが、電子部品を被搭載物に搭載するので、電子部品の位置決め精度及び位置決め精度の信頼性を向上させることができる
【0013】
また、電子部品用撮像装置は、角錐コレットに吸着保持されていない電子部品を直接観察するため、たとえば、角錐コレットに付着物が付着した場合であっても、付着物による画像認識する際の悪影響を排除することができる。
【0014】
また、電子部品の吸着部に四角錐台状の凹部を形成した角錐コレット(適宜、角錐コレットと略称する。)が、電子部品を、四角錐台の対向する傾斜面に接触させた状態でピックアップするので、たとえば、電子部品を半田付けする際、半田の溶融時に生じる表面張力などにより、水平方向のずれ力が電子部品に加わった場合であっても、このずれ力に対する反力を、角錐コレットの傾斜面により生じさせることができ、電子部品の位置ずれ(移動)を効果的に防止することができる。
また、電子部品の表面パターンと角錐コレットとの接触がないため、電子部品の表面パターンにダメージを与えるといった不具合を確実に防止することができる。
【0015】
また、ピックアップされる電子部品の近くに、位置認識部を設けることにより角錐コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データの精度を高めることができる。
【0016】
また、電子部品の表面パターンが、電子部品の外形に対して、位置ずれしている場合(適宜、パターン位置ずれと略称する。)であっても、表面パターンを基準として、電子部品を被搭載物に位置決めすることができる。
【0017】
なお、電子部品用撮像装置は、電子部品の表面パターンを直接観察するため、たとえば、コレットに付着物が付着した場合であっても、付着物による画像認識における悪影響を受けずに、表面パターンの位置を正確に計測できる。
【0018】
また、本発明の電子部品位置決め装置は、前記位置認識部を、位置認識ピンとしてもよい。
このようにすると、位置認識部を、単純な形状(ピン形状)とすることができるので、製造コストのコストダウンを図ることができるとともに、角錐コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データを容易に算出することができる。
【0019】
なお、この位置認識部から、電子部品のX方向及びY方向の座標位置と、電子部品のθ方向の回転角度とを認識する必要があるので、一本の位置認識ピンを用いるときは、位置認識ピンを水平方向に倒して設け、位置認識ピンの面積重心位置や先端部で、X方向及びY方向の座標位置を認識し、位置認識ピンの突出した方向から、θ方向の回転角度を認識する。
【0020】
また、本発明の電子部品位置決め装置は、前記搭載ステージに、前記電子部品と被搭載物を接続する半田片を溶融させるための、加熱手段を設けてもよい。
このようにすると、電子部品を位置決めした状態で、被搭載物に半田付けでき、生産効率を向上させることができる。
【0021】
また、本発明の電子部品位置決め方法は、予備認識ステージ載置され上面に表面パターンの形成された電子部品を、搭載ステージに載置された被搭載物に位置決めして搭載する、電子部品位置決め方法であって、電子部品用撮像装置が、前記電子部品を撮像して、画像データを画像処理装置に出力し、前記画像処理装置が、前記画像データを入力して、前記電子部品の位置、前記電子部品の表面パターン、及び、前記電子部品の位置と前記電子部品の表面パターンとのパターン位置ずれを計測し、搭載ヘッドユニットをコントロールするコントローラが、前記画像処理装置が計測した前記予備認識ステージに載置された前記電子部品の位置データを入力し、前記電子部品の位置データにもとづいて、前記電子部品をピックアップする角錐コレットの位置を求め、前記搭載ヘッドユニットの角錐コレットが、前記電子部品をピックアップする角錐コレットの位置に、位置修正されてから、前記電子部品をピックアップし、前記被搭載物の載置された前記搭載ステージに移動し、被搭載物用撮像装置が、前記角錐コレットに設けられた位置認識部及び前記被搭載物を撮像して、前記位置認識部及び前記被搭載物の画像データを前記画像処理装置に出力し、前記画像処理装置が、前記位置認識部及び前記被搭載部の画像データを入力して、前記位置認識部と前記被搭載物の位置を計測し、前記搭載ヘッドユニットをコントロールする前記コントローラが、前記画像処理装置が計測した前記位置認識部及び前記被搭載物の位置データ、並びに、前記パターン位置ずれのデータを入力し、前記位置認識部の位置データ,前記被搭載物の位置データ,前角錐コレットにピックアップされた前記電子部品と前記位置認識部との位置関係データ,及び,前記パターン位置ずれのデータにもとづいて、前記電子部品を搭載する角錐コレットの位置を求め、前記搭載ヘッドユニットの角錐コレットが、前記電子部品を搭載する角錐コレットの位置に、位置修正されてから、前記電子部品を前記被搭載物に搭載する方法としてある。
【0022】
このように、本発明は、電子部品位置決め方法としても有効であり、予備認識ステージに載置された電子部品の位置データにもとづいて位置修正されたコレットが、電子部品を精度良く位置決め可能な状態でピックアップし、さらに、位置認識部の位置データ,被搭載物の位置データ,及び,コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データにもとづいて位置修正されたコレットが、電子部品を被搭載物に搭載するので、電子部品の位置決め精度及び位置決め精度の信頼性を向上させることができる。
また、電子部品の表面パターンが、電子部品の外形に対して、位置ずれしている場合(適宜、パターン位置ずれと略称する。)であっても、表面パターンを基準として、電子部品を被搭載物に位置決めすることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施形態について、図面を参照して説明する。
まず、本発明に係る電子部品位置決め装置の実施形態について説明する。
【0024】
「電子部品位置決め装置」
図1は、本発明に係る電子部品位置決め装置を説明するための概略構成図を示している。
同図において、電子部品位置決め装置1は、電子部品20が載置される予備認識ステージ2と、被搭載物30の載置される搭載ステージ3と、予備認識ステージ2の上方に設けられた電子部品用撮像装置4と、搭載ステージ3の上方に、上下移動装置5により上下移動自在に設けられた被搭載物用撮像装置6と、電子部品用撮像装置4および被搭載物用撮像装置6から画像データを入力し画像処理する画像処理装置7と、電子部品20をピックアップし搭載する搭載ヘッドユニット8と、予備認識ステージ2,搭載ステージ3,上下移動装置5及び搭載ヘッドユニット8を制御するコントローラ9とからなっており、予備認識ステージ2上の電子部品20をピックアップし、搭載ステージ3上の被搭載物30に位置決めする。
【0025】
ここで、電子部品20は、上面から見ると正方形の平板状の形状であり、上面に表面パターンが形成され、かつ、下面に外部電極が配設された構造としてある。なお、電子部品20の構造は、この構造に限定するものではないことは勿論である。
また、電子部品20は、一個だけ予備認識ステージ2上に載置される構成としてあるが、たとえば、トレイにセットされた状態でまとめて載置する構成としてもよい。
さらにまた、電子部品20は、通常、半導体チップなどの半導体素子であるが、たとえば、抵抗やコンデンサなどのチップ部品,基板,コネクタなどの電子部品であればよく、特に、半導体素子に限定するものではない。
【0026】
予備認識ステージ2は、電子部品20が載置される上面を回転移動させる、角度制御用モータ(図示せず)が取り付けてあり、このモータが、コントローラ9からの制御信号により回転し、載置された電子部品20を回転方向(θ方向)に位置調整する構成としてある。
なお、本実施形態においては、角度制御用モータを備認識ステージ2に設ける構成としてあるが、たとえば、搭載ヘッドユニット8に設ける構成としてもよい。
また、予備認識ステージ2は、図示してないが、電子部品20を固定するための吸着式固定装置や、水平方向から押さえつけて固定するクランプなどを設けた構成としてもよい。
【0027】
電子部品用撮像装置4は、予備認識ステージ2の上方に設けられ、電子部品20を撮像し、画像データを出力する構成としてある。
ここで、電子部品用撮像装置4は、電子部品20の外形を認識するとともに、電子部品20の表面パターンをも認識できる撮像能力を有する構成とするとよく、このようにすると、電子部品位置決め装置1は、外形に対し表面パターンが位置ずれしている電子部品20に対しても、電子部品20の表面パターンを基準に位置決めすることができる。
【0028】
画像処理装置7は、電子部品用撮像装置4と電気的に接続してあり、電子部品用撮像装置4が撮像した電子部品20の画像データを入力し、電子部品20の位置を計測する構成としてある。
なお、本実施形態において、画像処理装置7は、後述する被搭載物用撮像装置6からの画像データをも入力し処理する構成としてあり、このようにすることにより、画像処理装置を、電子部品用撮像装置4および被搭載物用撮像装置6ごとに設ける必要がなくなるので、画像処理装置費用のコストダウンを図ることができる。また、画像処理装置を、電子部品用撮像装置4および被搭載物用撮像装置6ごとに設ける構成としてもよいことは、勿論である。
【0029】
搭載ヘッドユニット8は、電子部品20をピックアップする角錐コレット81,角錐コレット81のX方向及びY方向の位置修正を行う水平移動装置82,角錐コレット81を上下方向に移動させる昇降装置83,ピックアップされた電子部品20の位置を認識するための位置認識ピン84,及び,電子部品20を真空吸着するための真空発生装置85を備えた構成としてあり、予備認識ステージ2上の電子部品20をピックアップし、被搭載物30に位置決めして搭載する。
【0030】
ここで、水平移動装置82が、角錐コレット81のX方向及びY方向の位置修正を行い、さらに、上述した予備認識ステージ2が、電子部品20の回転方向(θ方向)の位置を調整するので、電子部品位置決め装置1は、角錐コレット81を、電子部品20のX方向,Y方向及びθ方向に対して位置修正することができる。つまり、本実施形態においては、水平移動装置82と予備認識ステージ2が、角錐コレット81の位置修正を行う位置修正装置としての機能を果たしている。
なお、水平移動装置82は、予備認識ステージ2および搭載ステージ3の位置を含む水平方向の可動ストロークを有しており、また、昇降装置83は、電子部品20を吸着保持し、ピックアップするための上下方向の可動ストロークを有している。
【0031】
コントローラ9は、画像処理装置7,搭載ヘッドユニット8の水平移動装置82,昇降装置83,真空発生装置85及び予備認識ステージ2と電気的に接続され、画像処理装置7が計測した予備認識ステージ2に載置された電子部品20の位置データ(X方向,Y方向及びθ方向の位置データ)を入力し、電子部品20の位置データにもとづいて、角錐コレット81が、電子部品20に対する相対的な位置修正を行ってから、電子部品20をピックアップするように制御する。
なお、相対的な位置修正としたのは、予備認識ステージ2によって、θ方向の位置修正が行われるからである。
【0032】
なお、本実施形態において、コントローラ9は、後述する被搭載物用撮像装置6からの被搭載物30および位置認識ピン84の位置データをも入力し処理する構成としてあり、このようにすることにより、コントローラを、電子部品用撮像装置4および被搭載物用撮像装置6ごとに設ける必要がなくなるので、コントローラ費用のコストダウンを図ることができる。また、コントローラを、電子部品用撮像装置4および被搭載物用撮像装置6ごとに設ける構成としてもよいことは、勿論である。
【0033】
このように、電子部品位置決め装置1は、予備認識ステージ2に載置された電子部品20を、電子部品20の位置データにもとづいて位置修正された角錐コレット81が、精度良く位置決め可能な状態でピックアップする。つまり、電子部品20が角錐コレット81の吸着位置(精度良く位置決め可能な吸着位置)に正確に吸着されるので、たとえば、電子部品20が傾いて角錐コレット81に吸着されるといった不具合を防止でき、搭載精度をさらに向上させ、かつ、搭載精度の信頼性を向上させることができる。
また、電子部品用撮像装置4は、角錐コレット81に吸着保持されていない電子部品20を直接観察するため、たとえば、角錐コレット81に付着物が付着した場合であっても、付着物による画像認識する際の悪影響を排除することができる。
【0034】
被搭載物30は、搭載ステージ3上に載置されている。
ここで、被搭載物30は、通常、被搭載基板などであるが、たとえば、半導体装置などの電子部品であってもよく、特に、被搭載基板に限定するものではない。
また、被搭載物30の上面には、半田片40が載置してあり、このようにすると、電子部品20を被搭載物30に位置決めして搭載し、さらに、半田付けを要領よく行うことができる。
【0035】
つまり、電子部品位置決め装置1は、搭載ステージ3に、電子部品20と被搭載物30を接続する半田片40を溶融させるための、加熱手段(図示せず)を設けた構成とするとよく、このようにすると、電子部品20を位置決めした状態で、被搭載物30に要領よく半田付けできる。
【0036】
また、搭載ステージ3は、予備認識ステージ2と同様に、被搭載物30が載置される上面を回転移動させる、角度制御用モータ(図示せず)が取り付けてあり、このモータが、コントローラ9からの制御信号により回転し、載置された被搭載物30を回転方向(θ方向)に位置調整する構成としてある。
なお、角錐コレット81にピックアップされた電子部品20に対して、θ方向の位置ずれがない状態で、被搭載物30がセット可能なときや、θ方向の位置ずれを無視できる場合などには、上記モータを設けなくてもよい。
また、搭載ステージ3は、図示してないが、被搭載物30を固定するための吸着式固定装置や、水平方向から押さえつけて固定するクランプなどを設けた構成としてもよい。
【0037】
被搭載物用撮像装置6は、搭載ステージ3の上方に設けられ、搭載ステージ3上に移動してきた位置認識ピン84および被搭載物30(被搭載物30の表面パターンを含む。)を撮像し、これらの画像データを画像処理装置7に出力する構成としてある。
ここで、被搭載物用撮像装置6は、コントローラ9により制御される上下移動装置5によって、上下移動することにより、焦点距離のことなる位置認識ピン84と被搭載物30を撮像することができる。
また、被搭載物用撮像装置6は、被搭載物30を撮像する際、被搭載物30の被搭載位置を認識できるように撮像することは勿論である。
【0038】
画像処理装置7は、被搭載物用撮像装置6と電気的に接続してあり、被搭載物用撮像装置6が撮像した、位置認識ピン84および被搭載物30の画像データを入力し、位置認識ピン84および被搭載物30(被搭載物30の表面パターンを含む。)の位置を計測する構成としてある。
【0039】
コントローラ9は、上下移動装置5および搭載ステージ3とも電気的に接続され、画像処理装置7が計測した位置認識ピン84および被搭載物30の位置データ(X方向,Y方向及びθ方向の位置データ)を入力し、位置認識ピン84の位置データ,被搭載物30の位置データ,及び,角錐コレット81にピックアップされた電子部品20と位置認識ピン84との位置関係データにもとづいて、搭載ヘッドユニット8の角錐コレット81が、被搭載物30に対する相対的な位置修正を行ってから、電子部品20を被搭載物30に位置決めして搭載するように制御する。
なお、相対的な位置修正としたのは、搭載ステージ3によって、θ方向の位置修正が行われるからである。
【0040】
このようにすると、電子部品位置決め装置1は、位置認識ピン84の位置データ,被搭載物30の位置データ,及び,角錐コレット81にピックアップされた電子部品20と位置認識ピン84との位置関係データにもとづいて位置修正された角錐コレット81が、電子部品20を被搭載物30に位置決めして搭載するので、電子部品20の位置決め精度及び位置決め精度の信頼性を向上させることができる。
【0041】
また、電子部品位置決め装置1は、画像処理装置7が、電子部品20の位置と電子部品20の表面パターンとのパターン位置ずれデータを計測し、画像処理装置7と接続されたコントローラ9が、パターン位置ずれデータをも考慮して、搭載ヘッドユニット8に、被搭載物30に対する角錐コレット81の位置修正を行わせる構成とするとよく、このようにすると、電子部品20の表面パターンが、電子部品20の外形に対して、位置ずれしている場合、あるいは、被搭載物30の表面パターンが、被搭載物30の外形に対して、位置ずれしている場合であっても、表面パターンを基準として、電子部品20を被搭載物30に精度良く位置決めすることができる。
なお、電子部品20が半導体素子の場合、通常、表面パターンと外部接続電極との位置ずれは無視できることから、表面パターンを基準とすることにより、電子部品20の外部接続電極を被搭載物30により精度良く位置決めすることができる。
【0042】
また、電子部品用撮像装置1は、直接電子部品20の表面パターンを観察するため、たとえば、角錐コレット81に付着物が付着した場合であっても、付着物による画像認識の際の悪影響を受けずに、表面パターンの位置を正確に計測できる。
【0043】
次に、角錐コレット81について、図面を参照して説明する。
図2は、本発明に係る電子部品位置決め装置の角錐コレットを説明するための概略図を示しており、(a)は電子部品を被搭載物に搭載した状態を説明するための上面図を、(b)は(a)におけるA−A断面図を、(c)は(a)におけるB−B断面図を示している。
【0044】
なお、同図(a)において、理解しやすいように、角錐コレット81を省略してあり、長方形平板状の被搭載物30に、正方形平板状の電子部品20が位置決めされ搭載してある。
【0045】
また、角錐コレット81は、同図(b),(c)に示すように、90°の半分の45°で傾斜した傾斜面812,814を有する四角錐台状の凹部811が形成してあり、かつ、電子部品20を、四角錐台の対向する傾斜面812に接触させた状態で、ピックアップする構成としてある。
また、角錐コレット81は、四角錐台の上面に、真空発生装置85と連通した吸着孔813が穿設してあり、真空発生装置85によって真空引きされると、電子部品20を吸着保持することができる。
【0046】
このように、角錐コレット81は、電子部品20の吸着部として、四角錐台状の凹部811が形成してあり、この四角錐台の対向する傾斜面812に、電子部品20の上面外周縁を接触させた状態でピックアップする。
したがって、角錐コレット81は、たとえば、電子部品20を半田付けする際、半田の溶融時に生じる表面張力などにより、水平方向のずれ力が電子部品に加わった場合であっても、その力に対する反力を、傾斜面812を介して生じさせることができ、電子部品20の位置ずれを防止することができる。
また、角錐コレット81は、電子部品20の表面パターンとの接触がないため、電子部品20の表面パターンにダメージを与えるといった不具合を確実に防止することができる。
【0047】
なお、本実施形態においては、傾斜面812の開口距離H2を傾斜面814の開口距離H1より短く形成して、一組の対向する傾斜面812を利用して、電子部品20をピックアップしているが、開口距離H2と開口距離H1を同じ長さに形成して、残りもう一組の対向する傾斜面814にも、電子部品20の上面外周縁を接触させた状態でピックアップする構成としてもよいことは、勿論である。
また、対向する傾斜面812と電子部品20の上面外周縁との接触状態は、点接触ではなく、接触部が平行な二直線からなる線接触とするとよく、このようにすると、より大きな力で、電子部品20を保持することができる。
【0048】
また、電子部品位置決め装置1は、位置認識部である位置認識ピン84を、角錐コレット81に設けた構成としてもよく、このようにすると、ピックアップされる電子部品20の近くに、位置認識部である位置認識ピン84を設けることができるので、角錐コレット81にピックアップされた電子部品20と位置認識ピン84との位置関係データの精度を高めることができ、結果的に、電子部品20の位置決め精度を高め、かつ、位置決め精度の信頼性を向上させることができる。
【0049】
なお、好ましくは、電子部品位置決め装置1は、位置認識部を、位置認識ピン84とするとよく、このようにすると、位置認識部を、単純な形状(ピン形状)とすることができるので、製造コストのコストダウンを図ることができ、また、角錐コレット81にピックアップされた電子部品20と位置認識部との位置関係データを容易に算出することができる。
また、電子部品20と位置認識部との位置関係データは、あらかじめ精度良く実測し、測定された位置関係データは、画像処理装置7及び/又はコントローラ9に記憶してある。
【0050】
なお、位置認識部から、電子部品20のX方向及びY方向の座標位置と、電子部品20のθ方向の回転角度とを認識する必要があるので、一本の位置認識ピン84を用て、同図(b)に示すように、位置認識ピン84を水平方向に突設する構成とするとよく、このようにすると、位置認識ピン84の面積重心位置や先端部で、X方向及びY方向の座標位置を認識し、位置認識ピン84の向きで、θ方向の回転角度を認識することができる。
つまり、画像認識を精度良く、かつ、高い信頼性で実施するには、撮像対象が単純な形状、たとえば、本発明のようにピン形状とすることが有効である。
【0051】
次に、上記構成の電子部品位置決め装置1の動作及び作用について、説明する。
まず、電子部品位置決め装置1は、図1に示すように、電子部品20が、予備認識ステージ2に固定される。
続いて、電子部品用撮像装置4が、電子部品20を撮像し、画像データを出力する。そして、画像処理装置7が、電子部品20の画像データを入力し、電子部品20の位置を計測する(すなわち、位置データを作成する。)。
【0052】
コントローラ9は、画像処理装置7が計測した予備認識ステージ2に載置された電子部品20の位置データ(X方向,Y方向及びθ方向の位置データ)を入力し、電子部品20の位置データにもとづいて、搭載ヘッドユニット8が、電子部品20に対して角錐コレット81の位置修正を行ってから、電子部品20をピックアップするように制御する。
これにより、角錐コレット81は、電子部品20が位置のずれた状態で予備認識ステージ2に載置されても、電子部品20を吸着位置に正確に吸着保持できるので、たとえば、電子部品20が傾いて角錐コレット81に吸着保持されるといった不具合を防止でき、搭載精度をさらに向上させ、かつ、搭載精度の信頼性を向上させることができる。
【0053】
ここで、上述したように、電子部品位置決め装置1は、画像処理装置7が、電子部品20の位置と電子部品20の表面パターンとのパターン位置ずれデータを計測し、画像処理装置7と接続されたコントローラ9が、パターン位置ずれデータをも考慮して、搭載ヘッドユニット8に、被搭載物30に対する角錐コレット81の位置修正を行わせる。
ただし、コントローラ9は、電子部品20がピックアップされると、この時点以降、電子部品20の表面パターン及び外形を観察できなくなることから、パターン位置ずれを算出し記憶する。
次に、この場合の制御方法について、説明する。
【0054】
コントローラ9は、先ず、図3に示すように、画像処理装置7の内部に記憶される基準パターン91に対する観察された表面パターン(適宜、観察パターン92と略称する。)の角度θおよび観察パターン92の面積重心位置(Gx,Gy)を求める。
ここで、基準パターン91の角度は、角錐コレット81の位置修正を行わなくても、電子部品20の上面外周縁が、傾斜面812と平行な二直線で接触する角度である。
【0055】
次に、コントローラ9は、観察パターン92の角度を基準パターン91の角度に一致させるため、予備認識ステージ2を角度θだけ回転する。また、回転後の観察パターン93の面積重心位置を(Gx´,Gy´)とする。
この値は、観察パターン92の面積重心位置(Gx,Gy)と予備認識ステージ2の回転中心位置(Ctx,Cty)から、演算により求めることができる。
また、この角度θの回転移動は、コントローラ9により制御された予備認識ステージ2が行う。
【0056】
次に、コントローラ9は、回転後の観察パターン93の面積重心位置(Gx´,Gy´)と基準パターン91の面積重心位置(Gbx,Gby)との差、すなわちdx=Gx´−Gbxおよびdy=Gy´−Gbyを求める
【0057】
なお、同様の制御方法により、コントローラ9は、画像処理装置7が計測した電子部品20の外形の位置データにもとづいて、搭載ヘッドユニット8に、電子部品20に対する角錐コレット81の位置修正を行わせてから、電子部品20をピックアップするように制御することもできる。
【0058】
また、コントローラ9は、上述したように、電子部品20がピックアップされると、この時点以降、電子部品20の表面パターン及び外形を観察できなくなることから、上記パターン位置ずれを記憶しておき、電子部品20を搭載するときは、このパターン位置ずれを考慮して電子部品20を位置決めして搭載する。
【0059】
つまり、コントローラ9は、たとえば、図3,図4に示すように、電子部品20の外形と観察パターン92の面積重心位置が、Y方向にずれているときは、電子部品20のY方向の位置決めに関わる外形周縁の座標E1およびE2の位置データを画像処理装置7により計測する。
【0060】
続いて、コントローラ9は、角錐コレット81に吸着保持された状態における、電子部品20の表面パターン面積重心のY方向位置は、角錐コレット81の中心軸に対して、δy=(E1+E2)/2−Gy´の距離だけ位置がずれていることを算出し記憶する。
そして、電子部品位置決め装置1は、後述するように、コントローラ9が、水平移動装置82にδyを補正値として加えることにより、搭載ヘッドユニット8に、被搭載物30に対する角錐コレット81の位置修正を行わせる。
【0061】
次に、コントローラ9は、その位置で昇降装置83を作動させ、角錐コレット81を降下させ、電子部品20と傾斜面812が接触したときに、角錐コレット81の吸着孔813と連通している真空発生装置85を作動させ、電子部品20を吸着保持する。
【0062】
次に、電子部品位置決め装置1は、上下移動装置5により下方位置に移動した被搭載物用撮像装置6が、被搭載物30を撮像し、被搭載物30の画像データを画像処理装置7に出力する。
図示してないが、電子部品20に行ったのと同様の方法で、コントローラ9は、画像処理装置7からの被搭載物30の位置データにより、観察された被搭載物30画像の面積重心位置を計測し、画像処理装置7の内部に記憶されている基準画像の面積重心位置との差、dcx,dcy及び基準画像に対する観察された被搭載物30画像の角度dcθを演算により求める。
なお、角度dcθを無視できる場合は、コントローラ9は、dcxとdcyのみを演算により求める。
【0063】
さらに、電子部品位置決め装置1は、水平移動装置82が、電子部品20をピックアップした角錐コレット81の位置認識ピン84を被搭載物用撮像装置6の直下に移動させ、上下移動装置5により上方位置に移動した被搭載物用撮像装置6が、位置認識ピン84を撮像し、位置認識ピン84の画像データを画像処理装置7に出力する。
【0064】
図示してないが、電子部品20に行ったのと同様の方法で、コントローラ9は、画像処理装置7からの位置認識ピン84の位置データにより、観察された位置認識ピン84画像の面積重心位置を計測し、画像処理装置7の内部に記憶された基準画像の面積重心位置との差、dpx,dpy及び基準画像に対する観察された位置認識ピン84画像の角度dpθを演算により求める。
なお、角度dpθを無視できる場合は、コントローラ9は、dpxとdpyのみを演算により求める。
【0065】
次に、電子部品位置決め装置1は、水平移動装置82が電子部品20を搭載する位置に、dcx,dcy,dcθ,dpx,dpy及びdpθを補正値として加えることで、被搭載物30の搭載ステージ3への搭載位置ずれや、水平移動装置82の位置決め誤差および昇降装置83の熱膨張などによる位置認識ピン84位置の微小変化に起因する電子部品20の搭載位置誤差を吸収し、電子部品20を被搭載物30に対し精度よく位置決めして搭載することができる。
なお、角度dcθ,dpθを無視できる場合は、電子部品位置決め装置1は、dcx,dcy,dpx及びdpyを補正値として加える。
また、電子部品20の外形と観察パターン92が、たとえば、上述したようにδyの距離だけ位置がずれているときは、δyをも補正値として加える。さらに、被搭載物30の外形と、被搭載物30の表面パターンの観察パターンとが位置ずれているときは、この位置ずれ量をも補正値として加える。
【0066】
このように、電子部品位置決め装置1は、位置認識ピン84の位置データ,被搭載物30の位置データ,角錐コレット81にピックアップされた電子部品20と位置認識ピン84との位置関係データ,及び,前記パターン位置ずれのデータにもとづいて位置修正された角錐コレット81が、電子部品20を被搭載物30に搭載するので、電子部品20の位置決め精度及び位置決め精度の信頼性を向上させることができる。
【0067】
<実施例>
次に、上記電子部品位置決め装置の実施例について、説明する。
電子部品20は、ガリウム砒素化合物を主材とした、寸法が縦約0.3mm×横約0.3mm×厚さ約0.15mmおよび縦約0.4mm×横約0.4mm×厚さ約0.15mmの2種類のチップ部品を使用した。
また、被搭載物30は、セラミックを主材とした、寸法が縦約1.0mm×横約2.0mm×厚さ約0.5mmの基板を使用した。
【0068】
角錐コレット81は、上記縦横寸法の異なる2種類のチップ部品を、同一の角錐コレットで吸着保持するため、凹部811の傾斜面812,814の開口寸法をX方向約550μm,Y方向約500μm、開口角度をX方向,Y方向共に約90°、深さ寸法を約150μmとした。
また、角錐コレット81は、傾斜面812の加工容易性およびチップ部品との接触による磨耗抑制のため、材料をステンレス材とし、加工後に焼入れ処理を行った。
さらに、角錐コレット81は、位置認識ピン84を、角錐コレット81の中心軸に対して直角方向外側に突出した。
【0069】
ここで、チップ部品の要求搭載精度は、X方向±30μm以内に比べてY方向±10μm以内と高精度であった。これに対し、角錐コレット81のX方向の開口寸法を、Y方向の開口寸法より約50μm大きくし、チップ部品のY方向の位置決めに関わる側のチップ部品の上面外周縁を、確実に傾斜面812に接触させて吸着保持することで、Y方向の位置決め精度を非常に精度良く行うことができ、上記高精度の位置決めを高い信頼性で実現することができた。
【0070】
また、搭載ステージ3が、角錐コレット81にピックアップされた電子部品20に対して、θ方向の位置ずれを無視できるレベルで、被搭載物30をセット可能なことから、搭載ステージ3に、角度制御用モータを設けない構成とした。
その他の構造及び作用は、上記実施形態における電子部品位置決め装置1と同様とした。
【0071】
この実施例における電子部品位置決め装置は、チップ部品の要求搭載精度(X方向±30μm以内及びY方向±10μm以内)を満足することができた。
なお、X方向の位置決めについては、±約25μmの範囲内でずれる可能性があるが、要求搭載精度以内であり、特に、問題はなかった。
【0072】
「電子部品位置決め方法」
また、本発明は、予備認識ステージ載置され上面に表面パターンの形成された電子部品を、搭載ステージに載置された被搭載物に位置決めして搭載する、電子部品位置決め方法としても有効である。
次に、この電子部品位置決め方法について、図5を参照して説明する。
図5は、本発明に係る電子部品位置決め方法を説明するための概略フローチャート図を示している。
【0073】
同図において、先ず、電子部品が載置される予備認識ステージの上方に設けられた電子部品用撮像装置が、電子部品を撮像し、画像データを画像処理装置に出力する(ステップS1)。
続いて、画像処理装置が、電子部品の画像データを入力し、電子部品の位置、電子部品の表面パターン、及び、電子部品の位置と電子部品の表面パターンとのパターン位置ずれを計測する(ステップS2)。
【0074】
次に、搭載ヘッドユニットをコントロールするコントローラが、画像処理装置が計測した予備認識ステージに載置された電子部品の位置データを入力し、電子部品の位置データにもとづいて、電子部品をピックアップする角錐コレットの位置を求める(ステップS3)。
続いて、搭載ヘッドユニットの角錐コレットが、電子部品をピックアップする角錐コレットの位置に、位置修正されてから、電子部品をピックアップし、被搭載物の載置された搭載ステージに移動する(ステップS4)。
【0075】
ここで、本発明に係る電子部品位置決め装置方法によると、予備認識ステージに載置された電子部品を、電子部品の位置データにもとづいて位置修正された角錐コレットがピックアップするので、電子部品が角錐コレットのピックアップ位置に正確に位置した状態でピックアップされ、電子部品の位置決め精度が向上し、かつ、位置決め精度の信頼性も向上する。
また、電子部品用撮像装置は、角錐コレットに保持されていない電子部品を直接観察するため、たとえば、角錐コレットに付着物が付着した場合であっても、付着物による画像認識する際の悪影響を排除することができる。
【0076】
次に、搭載ステージの上方に設けられた被搭載物用撮像装置が、角錐コレットに設けられた位置認識部および被搭載物を撮像し、これら位置認識部および被搭載物の画像データを画像処理装置に出力する(ステップS5)。
続いて、この画像処理装置が、位置認識部および被搭載物の画像データを入力し、位置認識部と被搭載物の位置を計測する(ステップS6)。
【0077】
次に、搭載ヘッドユニットをコントロールするコントローラが、画像処理装置が計測した位置認識部及び被搭載物の位置データ、並びに、パターン位置ずれのデータを入力し、位置認識部の位置データ,被搭載物の位置データ,角錐コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データ,及び,パターン位置ずれのデータにもとづいて、電子部品を搭載する角錐コレットの位置を求める(ステップS7)。
続いて、搭載ヘッドユニットの角錐コレットが、電子部品を搭載する角錐コレットの位置に、位置修正されてから、電子部品を被搭載物に搭載する(ステップS8)。
【0078】
このように、電子部品位置決め方法によると、位置認識部の位置データ,被搭載物の位置データ,及び,コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データにもとづいて位置修正されたコレットが、電子部品を被搭載物に搭載するので、電子部品の位置決め精度及び位置決め精度の信頼性を向上させることができる。
【0079】
なお、本発明に係る電子部品位置決め装置において、角錐コレットを用いた電子部品位置決め装置,位置認識部をコレットに設けた電子部品位置決め装置,位置認識部を位置認識ピンとした電子部品位置決め装置,及び,加熱手段を有する電子部品位置決め装置は、それぞれ単独で実施することができるとともに、これらの組み合わせとしても実施することができ、それぞれの効果を発揮することができることは勿論である。
また、電子部品位置決め装置として説明したが、電子部品位置決め方法としても、同様の効果を発揮できる。
【0080】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明における電子部品位置決め装置及び電子部品位置決め方法によれば、予備認識ステージに載置された電子部品の位置データにもとづいて位置修正されたコレットが、電子部品を精度良く位置決め可能な状態でピックアップし、さらに、位置認識部の位置データ,被搭載物の位置データ,及び,コレットにピックアップされた電子部品と位置認識部との位置関係データにもとづいて位置修正されたコレットが、電子部品を被搭載物に搭載するので、電子部品の位置決め精度及び位置決め精度の信頼性を向上させることができる。
【0081】
また、電子部品用撮像装置は、コレットに吸着保持されていない電子部品を直接観察するため、たとえば、コレットに付着物が付着した場合であっても、付着物による画像認識する際の悪影響を排除することができる。
また、角錐コレットを用いることにより、電子部品の位置ずれ(移動)を効果的に防止することができ、電子部品の表面パターンと角錐コレットとの接触がないため、電子部品の表面パターンにダメージを与えるといった不具合を確実に防止することができる。
【0082】
また、ピックアップされる電子部品の近くに、位置認識部を設けることにより、電子部品と位置認識部との位置関係データの精度を高めることができ、また、位置認識部を、位置認識ピンとすることにより、製造コストのコストダウンを図ることができる。
さらにまた、パターン位置ずれデータにもとづいて、被搭載物に対するコレットの位置修正を行うことにより、電子部品の表面パターンが、電子部品の外形に対して、位置ずれしている場合であっても、表面パターンを基準として、電子部品を被搭載物に精度良く位置決めすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明に係る電子部品位置決め装置を説明するための概略構成図を示している。
【図2】 図2は、本発明に係る電子部品位置決め装置の角錐コレットを説明するための概略図を示しており、(a)は電子部品を被搭載物に搭載した状態を説明するための上面図を、(b)は(a)におけるA−A断面図を、(c)は(a)におけるB−B断面図を示している。
【図3】 図3は、電子部品の表面パターンにもとづく角錐コレットの位置修正を説明するための概略図を示している。
【図4】 図4は、パターン位置ずれの電子部品に対する角錐コレットの位置修正を説明するための概略図を示しており、(a)は電子部品の外形及び観察パターンの概略図を、(b)は電子部品をピックアップした状態を説明するための断面図を示している。
【図5】 図5は、本発明に係る電子部品位置決め方法を説明するための概略フローチャート図を示している。
【符号の説明】
1 電子部品位置決め装置
2 予備認識ステージ
3 搭載ステージ
4 電子部品用撮像装置
5 上下移動装置
6 被搭載物用撮像装置
7 画像処理装置
8 搭載ヘッドユニット
9 コントローラ
20 電子部品
30 被搭載物
40 半田片
81 角錐コレット
82 水平移動装置
83 昇降装置
84 位置認識ピン
85 真空発生装置
91 基準パターン
92 観察パターン
93 回転後の観察パターン
811 凹部
812,814 傾斜面
813 吸着孔
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  The present invention relates to an electronic component positioning apparatus and method, and more particularly to an electronic component positioning apparatus and method for positioning a chip component such as a semiconductor element with respect to a mounted object such as a substrate.
[0002]
[Prior art]
  Semiconductor devices and electronic components have been improved in performance and have been reduced in size. As semiconductor devices and electronic components have been improved in performance and reduced in size, high-density mounting techniques have also been advanced in order to mount these semiconductor devices and electronic components on an object to be mounted.
  That is, as the performance of semiconductor devices and electronic components has been improved and miniaturized, various electronic component positioning devices and techniques related to electronic component positioning methods have been developed and put into practical use.
[0003]
  As one of technologies related to such an electronic component positioning device and electronic component positioning method, for example, disclosed in JP-A No. 04-010551, a flat plate-shaped suction hole made of a transparent material is disclosed. There is technology using collets.
  In this technology, the chip part is sucked and held, the collet is transmitted, the surface pattern of the chip part is observed by the imaging device, the position of the surface pattern is measured by the image processing device, and the position of the surface pattern is shifted. In this case, this positional deviation is corrected to accurately position the chip component.
[0004]
  This collet has a structure in which a suction hole that communicates with the vacuum generator is drilled in a flat plate made of a transparent material, and the chip components are held by suction with a suction force proportional to the vacuum level of the vacuum generator and the area of the suction hole. To do.
  And the electronic component positioning device using this collet is usually soldered on the mounted object in a state where the chip component is held by suction.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
  However, when this collet is applied to the chip component in a direction parallel to the plane part of the collet due to, for example, surface tension generated when the solder melts, this colleting force is applied to the contact between the collet and the chip component. When the frictional force generated in the portion becomes larger, there is a problem that the chip component moves on the collet plane and the position of the chip component is shifted.
[0006]
  Also, quartz glass is usually used as the material for the collet, and gold having a lower hardness than quartz glass has been used as the material for the surface pattern of the chip component.
  For this reason, when the collet adsorbs and holds the chip component and a part of the surface of the collet and the chip component is in contact, if excessive pressure is applied to the contact portion between the collet and the chip component surface, the surface of the chip component There was a problem that the pattern was deformed.
[0007]
  In addition, for example, chip parts made of a gallium arsenide compound, which is harder than gold, are sandwiched between the collet and the chip part, and excessive pressure is applied to the contact portion between the collet and the chip part surface. When it adds, there existed a problem that the surface pattern of a chip component will deform | transform into an indentation shape by a fragment.
[0008]
  In addition, although a transparent material is used as the material for the collet, the surface pattern of the chip component and an image of observing this surface pattern are observed when the chip component is soldered. If it is attached at an intermediate position with respect to the apparatus, a part or all of the surface pattern is hidden by the attached matter and cannot be observed, and the surface pattern of the chip component cannot be accurately measured.
  Furthermore, there has been a problem that it is necessary to meet a demand for further improving the positioning accuracy of the electronic component or improving the reliability of the positioning accuracy.
[0009]
  The present invention has been proposed in order to solve the above-described problems of the prior art, and does not cause misalignment when soldering an electronic component and damages the surface pattern of the electronic component. It is an object of the present invention to provide an electronic component positioning apparatus and method for accurately positioning an electronic component.
[0010]
  In JP-A-8-45970, a semiconductor chip is adsorbed on a collet having a tapered surface, and the amount of positional deviation between the pattern image of the collet end imaged with the semiconductor chip adsorbed and the reference pattern is calculated. A technique of a die bonding apparatus that positions a semiconductor chip by correcting the amount of movement of the collet by this amount of positional deviation has been proposed.
  However, although this technology can accurately attach the semiconductor chip to the mounted object even if the semiconductor chip is not accurately attracted to the collet or the production accuracy of the collet is insufficient, the semiconductor Since the chip is not accurately attracted to the collet, that is, the semiconductor chip is tilted and attracted to the collet, there is room for improvement in further improving the mounting accuracy and improving the reliability of the mounting accuracy. It was.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
  To achieve the above object, the present inventionPower ofThe child component positioning deviceSurface pattern is formed on the upper surfaceA preliminary recognition stage on which the electronic component is placed, and provided above the preliminary recognition stage, images the electronic component,TheAn imaging device for electronic parts that outputs image data;A pyramid collet that has a quadrangular pyramid-shaped recess and picks up the electronic component in contact with the opposing inclined surfaces of the quadrangular pyramid,thispyramidA position correction device for correcting the position of the collet; andProvided in the pyramid collet;A mounting head unit having a position recognition unit for recognizing the position of the picked-up electronic component;,in frontA mounting stage on which the object to be mounted is mounted, and the position recognition unit provided above the mounting stage and moved on the mounting stageas well asImage the load,TheAn imaging device for an object to output image data;The electronic component imaging device and the mounted object imaging device are connected, and image data of the electronic component is input, the position of the electronic component, the surface pattern of the electronic component, and the position of the electronic component and the An image processing apparatus that measures a pattern positional deviation with respect to a surface pattern of the electronic component, inputs image data of the position recognition unit and the mounted object, and measures positions of the position recognition unit and the mounted object And input the position data of the electronic component measured by the image processing apparatus and connected to the image processing apparatus and the mounting head unit, and based on the position data of the electronic component, the pyramid collet of the mounting head unit However, after the relative position correction with respect to the electronic component is performed, the electronic component is controlled to be picked up, and the image processing apparatus performs measurement. The position recognition unit, the position data of the mounted object, and the pattern position deviation data are input, the position data of the position recognition unit, the position data of the mounted object, and the electrons picked up by the pyramid collet. The pyramid collet of the mounting head unit corrects the relative position with respect to the mounted object based on the positional relationship data between the component and the position recognition unit, and the pattern positional deviation data. A controller for controlling the electronic component to be mounted on the mounted object;It is set as the structure comprised.
[0012]
  In this way, the position was corrected based on the position data of the electronic component placed on the preliminary recognition stage.pyramidThe collet picks up the electronic component in a state where the electronic component can be accurately positioned. Further, the position data of the position recognition unit, the position data of the mounted object, andpyramidThe position was corrected based on the positional relationship data between the electronic component picked up by the collet and the position recognition unit.pyramidSince the collet mounts the electronic component on the mounted object, the positioning accuracy of the electronic component and the reliability of the positioning accuracy can be improved..
[0013]
  In addition, since the imaging device for electronic parts directly observes the electronic parts that are not attracted and held by the pyramid collet, for example, even when the attached matter adheres to the pyramid collet, the adverse effect when the image is recognized by the attached matter Can be eliminated.
[0014]
  Also,A quadrangular frustum-shaped recess was formed in the suction part of the electronic component.pyramidSince the collet (appropriately referred to as a pyramid collet) picks up the electronic component in contact with the opposing inclined surface of the quadrangular pyramid, for example, when soldering the electronic component, it occurs when the solder melts. Even when a horizontal displacement force is applied to the electronic component due to surface tension, the reaction force against the displacement force can be generated by the inclined surface of the pyramid collet, and the electronic component is displaced (moved). Can be effectively prevented.
  In addition, since there is no contact between the surface pattern of the electronic component and the pyramid collet, it is possible to reliably prevent problems such as damage to the surface pattern of the electronic component.
[0015]
  AlsoTheProvide a position recognition unit near the electronic component to be backed upBy,pyramidThe accuracy of the positional relationship data between the electronic component picked up by the collet and the position recognition unit can be increased.
[0016]
  Further, even when the surface pattern of the electronic component is misaligned with respect to the outer shape of the electronic component (appropriately referred to as pattern misalignment), the electronic component is mounted on the basis of the surface pattern. Can be positioned on an object.
[0017]
  In addition, since the imaging device for electronic components directly observes the surface pattern of the electronic component, for example, even when the deposit adheres to the collet, the surface pattern of the surface pattern is not adversely affected by the image recognition due to the deposit. The position can be measured accurately.
[0018]
  In the electronic component positioning device of the present invention, the position recognition unit may be a position recognition pin.
  In this way, since the position recognizing part can be made into a simple shape (pin shape), the manufacturing cost can be reduced, and the electronic parts picked up by the pyramid collet and the position recognizing part can be reduced. The positional relationship data can be easily calculated.
[0019]
  Since it is necessary to recognize the coordinate position of the electronic component in the X direction and the Y direction and the rotation angle of the electronic component in the θ direction from this position recognition unit, when using one position recognition pin, Recognize the pin in the horizontal direction, recognize the coordinate position in the X and Y directions at the center of gravity and tip of the position recognition pin, and recognize the rotation angle in the θ direction from the protruding direction of the position recognition pin. To do.
[0020]
  Moreover, the electronic component positioning apparatus of this invention may provide the heating means for melting the solder piece which connects the said electronic component and a to-be-mounted object to the said mounting stage.
If it does in this way, it can solder to a to-be-mounted thing in the state which positioned the electronic component, and can improve production efficiency.
[0021]
  In addition, the present inventionPower ofThe child component positioning method is a preliminary recognition stage.InPlacedSurface pattern is formed on the upper surfaceAn electronic component positioning method for positioning and mounting an electronic component on a mounted object placed on a mounting stage, wherein the electronic component imaging device images the electronic component and outputs image data.The pictureOutput to image processorDrawingAn image processing device inputs the image data, and the position of the electronic component, Surface pattern of the electronic component, and pattern positional deviation between the position of the electronic component and the surface pattern of the electronic componentTo control the mounted head unitRucoThe frontDrawingPlaced on the preliminary recognition stage measured by the image processing deviceAboveEnter the electronic component position data,AbovePicking up the electronic component based on the electronic component position datapyramidThe position of the collet is obtained and the mounting head unit ispyramidCollet picks up the electronic componentpyramidAfter the position is corrected at the collet position, the electronic component is picked up.The aboveThe loaded object was placedAboveMove to the mounting stage, and the imaging device for the mounted objectpyramidImage the position recognition unit provided on the collet and the mounted object,AbovePosition recognition unit andAboveThe image data of the loaded objectAboveOutput to the image processor,The pictureAn image processing apparatus inputs image data of the position recognition unit and the mounted portion, and the position recognition unitAboveMeasure the position of the mounted object and control the mounted head unitAboveThe controller isDrawingThe position recognition unit measured by the image processing apparatus; andAbovePosition data of the load, And data of the pattern position deviationEnterAbovePosition data of the position recognition unit,AbovePosition data of the load,in frontRecordpyramidPosition relationship data between the electronic component picked up by a collet and the position recognition unit, And data of the pattern misalignmentBased on the above, mount the electronic partspyramidThe position of the collet is obtained and the mounting head unitpyramidCollet mounts the electronic componentspyramidAfter the position is corrected at the collet position, the electronic component is mounted on the mounted object.
[0022]
  As described above, the present invention is also effective as an electronic component positioning method, and the collet whose position is corrected based on the position data of the electronic component placed on the preliminary recognition stage can accurately position the electronic component. Further, the collet whose position is corrected based on the position data of the position recognition unit, the position data of the mounted object, and the positional relation data between the electronic component picked up by the collet and the position recognition unit is an electronic component. Therefore, the positioning accuracy of the electronic component and the reliability of the positioning accuracy can be improved.
  Further, even when the surface pattern of the electronic component is misaligned with respect to the outer shape of the electronic component (appropriately referred to as pattern misalignment), the electronic component is mounted on the basis of the surface pattern. Can be positioned on an object.
[0023]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
  Hereinafter, each embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
  First, an embodiment of an electronic component positioning device according to the present invention will be described.
[0024]
"Electronic component positioning device"
  FIG. 1 is a schematic configuration diagram for explaining an electronic component positioning apparatus according to the present invention.
  In the figure, an electronic component positioning apparatus 1 includes a preliminary recognition stage 2 on which an electronic component 20 is mounted, a mounting stage 3 on which an object 30 is mounted, and an electronic device provided above the preliminary recognition stage 2. From the imaging device for parts 4, the imaging device for mounted object 6 provided so as to be movable up and down by the vertical movement device 5 above the mounting stage 3, the imaging device for electronic parts 4, and the imaging device for mounted object 6 An image processing device 7 that inputs image data and processes the image, a mounting head unit 8 that picks up and mounts the electronic component 20, a preliminary recognition stage 2, a mounting stage 3, a vertical movement device 5, and a controller that controls the mounting head unit 8. 9, the electronic component 20 on the preliminary recognition stage 2 is picked up and positioned on the mounted object 30 on the mounting stage 3.
[0025]
  Here, the electronic component 20 has a square flat plate shape when viewed from the upper surface, and has a structure in which a surface pattern is formed on the upper surface and an external electrode is disposed on the lower surface. Of course, the structure of the electronic component 20 is not limited to this structure.
  Further, although only one electronic component 20 is placed on the preliminary recognition stage 2, for example, it may be placed together in a state of being set on a tray.
  Furthermore, the electronic component 20 is usually a semiconductor element such as a semiconductor chip. However, the electronic component 20 may be a chip component such as a resistor or a capacitor, an electronic component such as a substrate, or a connector, and is particularly limited to a semiconductor element. is not.
[0026]
  The preliminary recognition stage 2 is provided with an angle control motor (not shown) that rotates and moves the upper surface on which the electronic component 20 is placed. This motor is rotated by a control signal from the controller 9 and placed. The position of the electronic component 20 is adjusted in the rotational direction (θ direction).
  In this embodiment, the angle control motor isForecastAlthough it is configured to be provided on the equipment recognition stage 2, for example, it may be configured to be provided on the mounting head unit 8.
  Although not shown, the preliminary recognition stage 2 may be configured to include a suction-type fixing device for fixing the electronic component 20, a clamp for pressing and fixing from the horizontal direction, and the like.
[0027]
  The electronic component imaging device 4 is provided above the preliminary recognition stage 2 and is configured to capture an image of the electronic component 20 and output image data.
  Here, the electronic device imaging device 4 may be configured to have an imaging capability capable of recognizing the outer shape of the electronic component 20 and also recognizing the surface pattern of the electronic component 20, and in this way, the electronic component positioning device 1. Can be positioned with respect to the surface pattern of the electronic component 20 even with respect to the electronic component 20 whose surface pattern is displaced from the outer shape.
[0028]
  The image processing device 7 is electrically connected to the electronic component imaging device 4 and is configured to input image data of the electronic component 20 captured by the electronic component imaging device 4 and measure the position of the electronic component 20. is there.
  In the present embodiment, the image processing device 7 is configured to also input and process image data from the mounting object imaging device 6 to be described later. By doing so, the image processing device is replaced with an electronic component. Therefore, it is not necessary to provide the image pickup device 4 for each object and the image pickup device 6 for the mounted object, so that the cost of the image processing device can be reduced. Of course, the image processing device may be provided for each of the electronic device imaging device 4 and the mounted object imaging device 6.
[0029]
  The mounted head unit 8 is picked up by a pyramid collet 81 for picking up the electronic component 20, a horizontal movement device 82 for correcting the position of the pyramid collet 81 in the X direction and the Y direction, an elevating device 83 for moving the pyramid collet 81 in the vertical direction. The position recognition pin 84 for recognizing the position of the electronic component 20 and the vacuum generator 85 for vacuum-sucking the electronic component 20 are provided, and the electronic component 20 on the preliminary recognition stage 2 is picked up. Then, it is positioned and mounted on the mounted object 30.
[0030]
  Here, the horizontal movement device 82 corrects the position of the pyramid collet 81 in the X direction and the Y direction, and the preliminary recognition stage 2 described above adjusts the position of the electronic component 20 in the rotation direction (θ direction). The electronic component positioning apparatus 1 can correct the position of the pyramid collet 81 with respect to the X direction, the Y direction, and the θ direction of the electronic component 20. That is, in the present embodiment, the horizontal movement device 82 and the preliminary recognition stage 2 function as a position correction device that corrects the position of the pyramid collet 81.
  The horizontal moving device 82 has a horizontal movable stroke including the positions of the preliminary recognition stage 2 and the mounting stage 3, and the lifting device 83 sucks and holds the electronic component 20 and picks it up. It has a vertically movable stroke.
[0031]
  The controller 9 is electrically connected to the image processing device 7, the horizontal movement device 82 of the mounted head unit 8, the lifting / lowering device 83, the vacuum generator 85 and the preliminary recognition stage 2, and the preliminary recognition stage 2 measured by the image processing device 7. The position data (position data in the X direction, Y direction, and θ direction) of the electronic component 20 placed on the electronic component 20 is input, and the pyramid collet 81 is relative to the electronic component 20 based on the position data of the electronic component 20. After the position is corrected, the electronic component 20 is controlled to be picked up.
  The reason for the relative position correction is that the position correction in the θ direction is performed by the preliminary recognition stage 2.
[0032]
  In the present embodiment, the controller 9 is configured to input and process the position data of the mounted object 30 and the position recognition pin 84 from the mounted object imaging device 6 to be described later. By doing this, Since it is not necessary to provide a controller for each of the electronic device imaging device 4 and the mounted object imaging device 6, the cost of the controller can be reduced. Of course, a controller may be provided for each of the electronic device imaging device 4 and the mounted object imaging device 6.
[0033]
  As described above, the electronic component positioning apparatus 1 is in a state in which the pyramid collet 81 whose position is corrected based on the position data of the electronic component 20 can be accurately positioned with respect to the electronic component 20 placed on the preliminary recognition stage 2. Pick up. That is, since the electronic component 20 is accurately attracted to the adsorption position of the pyramid collet 81 (adsorption position that can be accurately positioned), for example, it is possible to prevent the electronic component 20 from being inclined and adsorbed to the pyramid collet 81. The mounting accuracy can be further improved and the reliability of the mounting accuracy can be improved.
  In addition, since the electronic device imaging device 4 directly observes the electronic component 20 that is not attracted and held by the pyramid collet 81, for example, even when an adhering material adheres to the pyramid collet 81, image recognition by the adhering material is performed. It is possible to eliminate the adverse effects when doing so.
[0034]
  The mounted object 30 is placed on the mounting stage 3.
  Here, the mounted object 30 is usually a mounted substrate or the like, but may be an electronic component such as a semiconductor device, for example, and is not particularly limited to the mounted substrate.
  Moreover, the solder piece 40 is mounted on the upper surface of the mounted object 30. In this way, the electronic component 20 is positioned and mounted on the mounted object 30, and soldering is performed in a proper manner. Can do.
[0035]
  That is, the electronic component positioning device 1 may be configured to include a heating means (not shown) for melting the solder pieces 40 that connect the electronic component 20 and the mounted object 30 to the mounting stage 3. As a result, the electronic component 20 can be soldered to the mounted object 30 in a proper manner with the electronic component 20 positioned.
[0036]
  Similarly to the preliminary recognition stage 2, the mounting stage 3 is attached with an angle control motor (not shown) that rotates and moves the upper surface on which the mounted object 30 is placed. And the position of the mounted object 30 is adjusted in the rotation direction (θ direction).
  It should be noted that the electronic component 20 picked up by the pyramid collet 81 can be set in a state where there is no positional deviation in the θ direction, or when the positional deviation in the θ direction can be ignored. The motor may not be provided.
  Although not shown, the mounting stage 3 may be configured to include a suction-type fixing device for fixing the object to be mounted 30, a clamp for pressing and fixing from the horizontal direction, and the like.
[0037]
  The mounted object imaging device 6 is provided above the mounting stage 3 and images the position recognition pins 84 and the mounted object 30 (including the surface pattern of the mounted object 30) that have moved onto the mounting stage 3. The image data is output to the image processing device 7.
  Here, the imaging device 6 for the mounted object can image the position recognition pin 84 and the mounted object 30 having different focal lengths by moving up and down by the vertical movement device 5 controlled by the controller 9. .
  Of course, the imaging device 6 for a mounted object captures an image so that the mounted position of the mounted object 30 can be recognized when the mounted object 30 is imaged.
[0038]
  The image processing device 7 is electrically connected to the mounted object imaging device 6, and inputs the image data of the position recognition pin 84 and the mounted object 30 captured by the mounted object imaging device 6, The position of the recognition pin 84 and the mounted object 30 (including the surface pattern of the mounted object 30) is measured.
[0039]
  The controller 9 is also electrically connected to the vertical movement device 5 and the mounting stage 3, and the position recognition pin 84 and the position data of the mounted object 30 (position data in the X, Y, and θ directions) measured by the image processing device 7. ) And the position data of the position recognition pin 84, the position data of the mounted object 30, and the positional relationship data between the electronic component 20 picked up by the pyramid collet 81 and the position recognition pin 84. After the eight pyramid collets 81 correct the relative position with respect to the mounted object 30, the electronic component 20 is controlled to be positioned and mounted on the mounted object 30.
  The reason for the relative position correction is that the position correction in the θ direction is performed by the mounting stage 3.
[0040]
  In this way, the electronic component positioning apparatus 1 has the position data of the position recognition pin 84, the position data of the mounted object 30, and the positional relationship data between the electronic component 20 picked up by the pyramid collet 81 and the position recognition pin 84. Since the pyramid collet 81 whose position has been corrected based on the electronic component 20 is positioned and mounted on the mounted object 30, the positioning accuracy of the electronic component 20 and the reliability of the positioning accuracy can be improved.
[0041]
  Further, in the electronic component positioning device 1, the image processing device 7 measures pattern positional deviation data between the position of the electronic component 20 and the surface pattern of the electronic component 20, and the controller 9 connected to the image processing device 7 In consideration of the positional deviation data, the mounting head unit 8 may be configured to correct the position of the pyramid collet 81 with respect to the mounted object 30. In this way, the surface pattern of the electronic component 20 is changed to the electronic component 20. Even if the position of the object 30 is shifted with respect to the outer shape, or the surface pattern of the mounted object 30 is shifted with respect to the outer shape of the mounted object 30, the surface pattern is used as a reference. The electronic component 20 can be accurately positioned on the mounted object 30.
  In the case where the electronic component 20 is a semiconductor element, the positional deviation between the surface pattern and the external connection electrode is normally negligible. Therefore, the external connection electrode of the electronic component 20 is placed on the mounted object 30 by using the surface pattern as a reference. Positioning can be performed with high accuracy.
[0042]
  In addition, since the electronic device imaging apparatus 1 directly observes the surface pattern of the electronic component 20, for example, even when an adhering matter adheres to the pyramid collet 81, it is adversely affected during image recognition by the adhering matter. The position of the surface pattern can be accurately measured.
[0043]
  Next, the pyramid collet 81 will be described with reference to the drawings.
  FIG. 2 is a schematic view for explaining the pyramid collet of the electronic component positioning device according to the present invention, and (a) is a top view for explaining a state in which the electronic component is mounted on the mounted object. (B) is an AA cross-sectional view in (a), and (c) is a BB cross-sectional view in (a).
[0044]
  In FIG. 2A, for easy understanding, the pyramid collet 81 is omitted, and the square flat plate-like electronic component 20 is positioned and mounted on the rectangular flat plate mounted object 30.
[0045]
  Further, the pyramid collet 81 is formed with a quadrangular pyramid-shaped concave portion 811 having inclined surfaces 812 and 814 inclined at 45 °, which is half of 90 °, as shown in FIGS. And it is set as the structure picked up in the state which made the electronic component 20 contact the inclined surface 812 which a square pyramid opposes.
  Further, the pyramid collet 81 has a suction hole 813 communicating with the vacuum generator 85 formed on the upper surface of the quadrangular pyramid. When the vacuum generator 85 evacuates, the electronic component 20 is held by suction. Can do.
[0046]
  As described above, the pyramid collet 81 is formed with the quadrangular pyramid-shaped concave portion 811 as the suction portion of the electronic component 20, and the upper peripheral edge of the electronic component 20 is placed on the inclined surface 812 facing the quadrangular pyramid. Pick up in contact.
  Therefore, when the electronic component 20 is soldered, for example, the pyramid collet 81 has a reaction force against the force even when a horizontal displacement force is applied to the electronic component due to surface tension generated when the solder melts. Can be generated via the inclined surface 812, and displacement of the electronic component 20 can be prevented.
  Moreover, since the pyramid collet 81 is not in contact with the surface pattern of the electronic component 20, it is possible to reliably prevent problems such as damaging the surface pattern of the electronic component 20.
[0047]
  In the present embodiment, the electronic component 20 is picked up using a pair of opposing inclined surfaces 812, with the opening distance H2 of the inclined surface 812 being shorter than the opening distance H1 of the inclined surface 814. However, the opening distance H2 and the opening distance H1 may be formed to have the same length, and the remaining upper surface of the electronic component 20 may be brought into contact with the other pair of opposing inclined surfaces 814. Of course.
  Further, the contact state between the opposed inclined surface 812 and the outer peripheral edge of the upper surface of the electronic component 20 is preferably not a point contact, but a line contact composed of two straight lines in which the contact portions are parallel. The electronic component 20 can be held.
[0048]
  Further, the electronic component positioning device 1 may have a configuration in which the position recognition pin 84 which is a position recognition unit is provided in the pyramid collet 81. In this way, the position recognition unit is located near the electronic component 20 to be picked up. Since a certain position recognition pin 84 can be provided, the accuracy of the positional relationship data between the electronic component 20 picked up by the pyramid collet 81 and the position recognition pin 84 can be increased, and as a result, the positioning accuracy of the electronic component 20 can be improved. And the reliability of positioning accuracy can be improved.
[0049]
  Preferably, in the electronic component positioning device 1, the position recognition unit may be the position recognition pin 84, and in this way, the position recognition unit can be formed in a simple shape (pin shape). The cost can be reduced, and the positional relationship data between the electronic component 20 picked up by the pyramid collet 81 and the position recognition unit can be easily calculated.
  In addition, the positional relationship data between the electronic component 20 and the position recognition unit is measured in advance with high accuracy, and the measured positional relationship data is stored in the image processing device 7 and / or the controller 9.
[0050]
  Since it is necessary to recognize the coordinate position of the electronic component 20 in the X direction and the Y direction and the rotation angle of the electronic component 20 in the θ direction from the position recognition unit, a single position recognition pin 84 is used.NoThen, as shown in FIG. 6B, the position recognition pin 84 may be configured to protrude in the horizontal direction. In this way, the position of the position recognition pin 84 in the X direction and The coordinate position of the direction is recognized, and the rotation angle in the θ direction can be recognized by the direction of the position recognition pin 84.
  That is, in order to perform image recognition with high accuracy and high reliability, it is effective that the imaging target has a simple shape, for example, a pin shape as in the present invention.
[0051]
  Next, the operation and action of the electronic component positioning apparatus 1 configured as described above will be described.
  First, as shown in FIG. 1, in the electronic component positioning apparatus 1, the electronic component 20 is fixed to the preliminary recognition stage 2.
Subsequently, the electronic component imaging device 4 images the electronic component 20 and outputs image data. Then, the image processing device 7 inputs the image data of the electronic component 20 and measures the position of the electronic component 20 (that is, creates position data).
[0052]
  The controller 9 inputs position data (position data in the X direction, Y direction, and θ direction) of the electronic component 20 placed on the preliminary recognition stage 2 measured by the image processing device 7, and outputs the position data of the electronic component 20. Basically, the mounting head unit 8 performs control so that the electronic component 20 is picked up after correcting the position of the pyramid collet 81 with respect to the electronic component 20.
  Thereby, even if the pyramid collet 81 is placed on the preliminary recognition stage 2 in a state where the electronic component 20 is displaced, the electronic component 20 can be accurately sucked and held at the sucking position. For example, the electronic component 20 is tilted. Thus, it is possible to prevent problems such as being attracted and held by the pyramid collet 81, further improving the mounting accuracy, and improving the reliability of the mounting accuracy.
[0053]
  Here, as described above, in the electronic component positioning device 1, the image processing device 7 measures the pattern positional deviation data between the position of the electronic component 20 and the surface pattern of the electronic component 20, and is connected to the image processing device 7. The controller 9 causes the mounting head unit 8 to correct the position of the pyramid collet 81 with respect to the mounted object 30 in consideration of the pattern position deviation data.
  However, when the electronic component 20 is picked up, the controller 9 can no longer observe the surface pattern and the outer shape of the electronic component 20, and calculates and stores the pattern position deviation.
  Next, a control method in this case will be described.
[0054]
  First, as shown in FIG. 3, the controller 9 detects the angle θ of the observed surface pattern (abbreviated as observation pattern 92 as appropriate) and the observation pattern 92 with respect to the reference pattern 91 stored in the image processing apparatus 7. The area centroid position (Gx, Gy) is obtained.
  Here, the angle of the reference pattern 91 is an angle at which the outer peripheral edge of the upper surface of the electronic component 20 contacts with two straight lines parallel to the inclined surface 812 without correcting the position of the pyramid collet 81.
[0055]
  Next, the controller 9 rotates the preliminary recognition stage 2 by an angle θ in order to make the angle of the observation pattern 92 coincide with the angle of the reference pattern 91. Further, the area centroid position of the observation pattern 93 after rotation is set to (Gx ′, Gy ′).
  This value can be obtained by calculation from the area centroid position (Gx, Gy) of the observation pattern 92 and the rotation center position (Ctx, Cty) of the preliminary recognition stage 2.
  In addition, the rotational movement of the angle θ is performed by the preliminary recognition stage 2 controlled by the controller 9.
[0056]
  Next, the controller 9 determines the difference between the area centroid position (Gx ′, Gy ′) of the observation pattern 93 after rotation and the area centroid position (Gbx, Gby) of the reference pattern 91, that is, dx = Gx′−Gbx and dy. = Find Gy'-Gby.
[0057]
  By the same control method, the controller 9 causes the mounting head unit 8 to correct the position of the pyramid collet 81 relative to the electronic component 20 based on the position data of the outer shape of the electronic component 20 measured by the image processing device 7. Then, the electronic component 20 can be controlled to be picked up.
[0058]
  Further, as described above, when the electronic component 20 is picked up, the controller 9 cannot observe the surface pattern and the outer shape of the electronic component 20 after this point. When the component 20 is mounted, the electronic component 20 is positioned and mounted in consideration of this pattern position shift.
[0059]
  That is, for example, as shown in FIGS. 3 and 4, the controller 9 positions the electronic component 20 in the Y direction when the outer shape of the electronic component 20 and the area center of gravity of the observation pattern 92 are shifted in the Y direction. The image processing apparatus 7 measures the position data of the coordinates E1 and E2 of the outer periphery of the outer periphery.
[0060]
  Subsequently, the controller 9 determines that the position in the Y direction of the surface pattern area center of gravity of the electronic component 20 in the state of being held by the pyramid collet 81 with respect to the central axis of the pyramid collet 81 is δy = (E1 + E2) / 2− The fact that the position has shifted by the distance of Gy ′ is calculated and stored.
As will be described later, in the electronic component positioning device 1, the controller 9 corrects the position of the pyramid collet 81 relative to the mounted object 30 in the mounting head unit 8 by adding δy as a correction value to the horizontal movement device 82. Let it be done.
[0061]
  Next, the controller 9 operates the lifting / lowering device 83 at that position to lower the pyramid collet 81, and when the electronic component 20 and the inclined surface 812 come into contact with each other, the vacuum communicated with the suction hole 813 of the pyramid collet 81. The generator 85 is operated to hold the electronic component 20 by suction.
[0062]
  Next, in the electronic component positioning device 1, the mounted object imaging device 6 moved to the lower position by the vertical movement device 5 images the mounted object 30, and the image data of the mounted object 30 is transferred to the image processing device 7. Output.
  Although not shown, the controller 9 uses the position data of the mounted object 30 from the image processing device 7 in the same manner as that performed on the electronic component 20, and the area gravity center position of the observed mounted object 30 image. And the difference dcx, dcy from the area of the reference image stored in the image processing apparatus 7 and the angle dcθ of the observed mounted object 30 image with respect to the reference image are obtained by calculation.
  When the angle dcθ can be ignored, the controller 9 calculates only dcx and dcy by calculation.
[0063]
  Further, in the electronic component positioning device 1, the horizontal movement device 82 moves the position recognition pin 84 of the pyramid collet 81 picked up the electronic component 20 directly below the imaging device 6 for the mounted object, and the vertical movement device 5 moves the upper position. The mounted object imaging device 6 that has moved to (3) images the position recognition pin 84 and outputs the image data of the position recognition pin 84 to the image processing device 7.
[0064]
  Although not shown, the controller 9 uses the position recognition pin 84 position data from the image processing device 7 in the same manner as that performed for the electronic component 20, and the area centroid position of the observed position recognition pin 84 image. And the difference from the area centroid position of the reference image stored in the image processing device 7, dpx, dpy, and the angle dpθ of the observed position recognition pin 84 image with respect to the reference image are obtained by calculation.
  If the angle dpθ can be ignored, the controller 9 calculates only dpx and dpy by calculation.
[0065]
  Next, the electronic component positioning device 1 adds dcx, dcy, dcθ, dpx, dpy, and dpθ as correction values to the position where the horizontal moving device 82 mounts the electronic component 20, thereby mounting the mounting stage of the mounted object 30. 3, the mounting position error of the electronic component 20 caused by a slight change in the position of the position recognition pin 84 due to the positioning error of the horizontal movement device 82, the positioning error of the horizontal movement device 82, and the thermal expansion of the lifting device 83 is absorbed. It is possible to position and mount with high accuracy on the mounted object 30.
  When the angles dcθ and dpθ can be ignored, the electronic component positioning apparatus 1 adds dcx, dcy, dpx, and dpy as correction values.
  Further, for example, when the position of the outer shape of the electronic component 20 and the observation pattern 92 are shifted by a distance of δy as described above, δy is also added as a correction value. Further, when the outer shape of the mounted object 30 and the observation pattern of the surface pattern of the mounted object 30 are displaced, this amount of displacement is also added as a correction value.
[0066]
  As described above, the electronic component positioning apparatus 1 includes the position data of the position recognition pin 84 and the position data of the mounted object 30., CornerPosition relationship data between electronic component 20 picked up by cone collet 81 and position recognition pin 84, And data of the pattern misalignmentSince the pyramid collet 81 whose position has been corrected based on the electronic component 20 is mounted on the mounted object 30, the positioning accuracy of the electronic component 20 and the reliability of the positioning accuracy can be improved.
[0067]
<Example>
  Next, an embodiment of the electronic component positioning device will be described.
  The electronic component 20 is mainly composed of a gallium arsenide compound and has dimensions of about 0.3 mm in length, about 0.3 mm in width, about 0.15 mm in thickness, about 0.4 mm in length, about 0.4 mm in width, and about 0.4 mm in thickness. Two types of chip parts of 0.15 mm were used.
  In addition, as the mounted object 30, a substrate having ceramic as a main material and having dimensions of about 1.0 mm in length, about 2.0 mm in width, and about 0.5 mm in thickness was used.
[0068]
  Since the pyramid collet 81 attracts and holds the two types of chip parts having different vertical and horizontal dimensions with the same pyramid collet, the opening dimensions of the inclined surfaces 812 and 814 of the recess 811 are about 550 μm in the X direction and about 500 μm in the Y direction. The angle was about 90 ° in both the X and Y directions, and the depth dimension was about 150 μm.
  Further, the pyramid collet 81 was made of a stainless steel material and subjected to a quenching process after processing for ease of processing of the inclined surface 812 and suppression of wear due to contact with the chip component.
  Further, the pyramid collet 81 protrudes the position recognition pin 84 outward in the direction perpendicular to the central axis of the pyramid collet 81.
[0069]
  Here, the required mounting accuracy of the chip parts is high accuracy within ± 10 μm in the Y direction compared to within ± 30 μm in the X direction. On the other hand, the opening dimension in the X direction of the pyramid collet 81 is made approximately 50 μm larger than the opening dimension in the Y direction, and the outer periphery of the upper surface of the chip component on the side related to the positioning of the chip component in the Y direction is surely inclined 812. By being brought into contact with and held by suction, positioning accuracy in the Y direction can be performed with very high accuracy, and the above-described high-accuracy positioning can be realized with high reliability.
[0070]
  Further, since the mounting stage 30 can be set on the electronic component 20 picked up by the pyramid collet 81 at a level at which the positional deviation in the θ direction can be ignored, the angle control is performed on the mounting stage 3. The motor is not provided.
  Other structures and operations are the same as those of the electronic component positioning apparatus 1 in the above embodiment.
[0071]
  The electronic component positioning apparatus in this example was able to satisfy the required mounting accuracy of chip components (within ± 30 μm in the X direction and within ± 10 μm in the Y direction).
  The positioning in the X direction may be shifted within a range of ± about 25 μm, but it is within the required mounting accuracy, and there was no particular problem.
[0072]
"Electronic component positioning method"
  The present invention also provides a preliminary recognition stage.InPlacedSurface pattern is formed on the upper surfaceIt is also effective as an electronic component positioning method in which an electronic component is positioned and mounted on a mounted object placed on a mounting stage.
  Next, this electronic component positioning method will be described with reference to FIG.
  FIG. 5 is a schematic flowchart for explaining the electronic component positioning method according to the present invention.
[0073]
  In the figure, first, an electronic component imaging device provided above the preliminary recognition stage on which the electronic component is placed picks up the electronic component and outputs image data.The pictureThe image is output to the image processing apparatus (step S1).
  continue, PaintingThe image processing device inputs the image data of the electronic component, and the position of the electronic component, Electronic component surface pattern, and pattern position deviation between electronic component position and electronic component surface patternIs measured (step S2).
[0074]
  Next, control the installed head unit.RucoThe controller, PaintingThe position data of the electronic component placed on the preliminary recognition stage measured by the image processing apparatus is input, and the electronic component is picked up based on the position data of the electronic component.pyramidThe collet position is obtained (step S3).
  Next, the installed head unitpyramidCollet picks up electronic componentspyramidAfter the position is corrected to the collet position, pick up the electronic components., CoveredIt moves to the mounting stage on which the load is placed (step S4).
[0075]
  Here, according to the electronic component positioning apparatus method of the present invention, the position of the electronic component placed on the preliminary recognition stage is corrected based on the position data of the electronic component.pyramidSince the collet picks up the electronic componentspyramidThe pickup is picked up in a state where it is accurately positioned at the pickup position of the collet, so that the positioning accuracy of the electronic component is improved and the reliability of the positioning accuracy is also improved.
  In addition, the imaging device for electronic parts ispyramidIn order to directly observe electronic parts not held in the collet, for example,pyramidEven when an adhering substance adheres to the collet, it is possible to eliminate an adverse effect when the image is recognized by the adhering substance.
[0076]
  Next, an imaging device for a mounted object provided above the mounting stage,pyramidThe position recognition unit and the mounted object provided on the collet are imaged, and the image data of the position recognition unit and the mounted objectThe pictureThe image is output to the image processing apparatus (step S5).
  Next, thisPaintingThe image processing apparatus inputs image data of the position recognition unit and the mounted object, and measures the positions of the position recognition unit and the mounted object (step S6).
[0077]
  Next, control the installed head unit.RucoThe controller, PaintingPosition recognition unit measured by image processing deviceas well asPosition data of the loadAs well as pattern position deviation data, Position data of position recognition unit, position data of mounted object,pyramidPosition relation data between electronic parts picked up by collet and position recognition unit, And pattern misalignment dataInstall electronic components based onpyramidThe collet position is obtained (step S7).
  Next, the installed head unitpyramidCollet mounts electronic componentspyramidAfter the position is corrected at the collet position, the electronic component is mounted on the mounted object (step S8).
[0078]
  As described above, according to the electronic component positioning method, the position is corrected based on the position data of the position recognition unit, the position data of the mounted object, and the positional relationship data between the electronic component picked up by the collet and the position recognition unit. Since the collet mounts the electronic component on the mounted object, the positioning accuracy of the electronic component and the reliability of the positioning accuracy can be improved.
[0079]
  In the electronic component positioning device according to the present invention, an electronic component positioning device using a pyramid collet, an electronic component positioning device provided with a position recognition unit on the collet, an electronic component positioning device using the position recognition unit as a position recognition pin, and Of course, the electronic component positioning device having the heating means can be implemented independently, and can also be implemented as a combination thereof, and can exhibit the respective effects.
  Moreover, although demonstrated as an electronic component positioning apparatus, the same effect can be exhibited also as an electronic component positioning method.
[0080]
【The invention's effect】
  As described above, according to the electronic component positioning apparatus and the electronic component positioning method of the present invention, the collet whose position is corrected based on the position data of the electronic component placed on the preliminary recognition stage can accurately A collet that is picked up in a positionable state and further corrected based on the position recognition unit position data, the position data of the mounted object, and the positional relationship data between the electronic components picked up by the collet and the position recognition unit. However, since the electronic component is mounted on the mounted object, the positioning accuracy of the electronic component and the reliability of the positioning accuracy can be improved.
[0081]
  In addition, the electronic device imaging device directly observes the electronic components that are not attracted and held by the collet. For example, even if an adhering material adheres to the collet, the adverse effect of image recognition due to the adhering material is eliminated. can do.
  In addition, the use of the pyramid collet can effectively prevent the displacement (movement) of the electronic component, and there is no contact between the surface pattern of the electronic component and the pyramid collet, thereby damaging the surface pattern of the electronic component. It is possible to reliably prevent problems such as giving.
[0082]
  Also, by providing a position recognition unit near the electronic component to be picked up, the accuracy of the positional relationship data between the electronic component and the position recognition unit can be improved, and the position recognition unit should be a position recognition pin. Thus, the manufacturing cost can be reduced.
  Furthermore, even if the surface pattern of the electronic component is displaced with respect to the outer shape of the electronic component by correcting the position of the collet with respect to the mounted object based on the pattern positional deviation data, With the surface pattern as a reference, the electronic component can be accurately positioned on the mounted object.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram for explaining an electronic component positioning apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a schematic diagram for explaining a pyramid collet of the electronic component positioning device according to the present invention, and FIG. 2 (a) is a diagram for explaining a state in which the electronic component is mounted on a mounted object. The top view, (b) shows an AA cross-sectional view in (a), and (c) shows a BB cross-sectional view in (a).
FIG. 3 is a schematic view for explaining correction of the position of a pyramid collet based on a surface pattern of an electronic component.
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining correction of the position of a pyramid collet with respect to an electronic component having a pattern misalignment. FIG. 4 (a) is a schematic diagram of the external shape and observation pattern of the electronic component. ) Is a cross-section for explaining the state of picking up electronic componentsFigureShow.
FIG. 5 is a schematic flowchart for explaining an electronic component positioning method according to the present invention.
[Explanation of symbols]
  1 Electronic component positioning device
  2 Preliminary recognition stage
  3 On-board stage
  4 Imaging device for electronic parts
  5 Vertical movement device
  6 Imaging device for mounted objects
  7 Image processing device
  8 On-board head unit
  9 Controller
  20 Electronic components
  30 Load
  40 Solder pieces
  81 pyramid collet
  82 Horizontal movement device
  83 Lifting device
  84 Position recognition pin
  85 Vacuum generator
  91 Reference pattern
  92 Observation pattern
  93 Observation pattern after rotation
  811 recess
  812,814 Inclined surface
  813 Adsorption hole

Claims (2)

上面に表面パターンの形成された電子部品が載置される予備認識ステージと、
この予備認識ステージの上方に設けられ、前記電子部品を撮像し、画像データを出力する電子部品用撮像装置と
四角錐台状の凹部が形成してあり、前記電子部品を、前記四角錐台の対向する傾斜面に接触させた状態でピックアップする角錐コレット,この角錐コレットの位置修正を行う位置修正装置,及び,前記角錐コレットに設けられ、ピックアップされた前記電子部品の位置を認識するための位置認識部を備えた、前記電子部品を被搭載物に搭載する搭載ヘッドユニットと
記被搭載物の載置された搭載ステージと、
この搭載ステージの上方に設けられ、当該搭載ステージ上に移動してきた前記位置認識部及び前記被搭載物を撮像し、画像データを出力する被搭載物用撮像装置と、
前記電子部品用撮像装置及び前記被搭載物用撮像装置と接続され、前記電子部品の画像データを入力し、前記電子部品の位置、前記電子部品の表面パターン、及び、前記電子部品の位置と前記該電子部品の表面パターンとのパターン位置ずれを計測し、また、前記位置認識部及び前記被搭載物の画像データを入力し、前記位置認識部及び前記被搭載物の位置を計測する画像処理装置と、
前記画像処理装置及び前記搭載ヘッドユニットと接続され、前記画像処理装置が計測した前記電子部品の位置データを入力し、この電子部品の位置データにもとづいて、前記搭載ヘッドユニットの前記角錐コレットが、前記電子部品に対する相対的な位置修正を行ってから、前記電子部品をピックアップするように制御し、また、前記画像処理装置が計測した前記位置認識部及び前記被搭載物の位置データ、並びに、前記パターン位置ずれのデータを入力し、前記位置認識部の位置データ,前記被搭載物の位置データ,前記角錐コレットにピックアップされた前記電子部品と前記位置認識部との位置関係データ,及び,前記パターン位置ずれのデータにもとづいて、前記搭載ヘッドユニットの前記角錐コレットが、前記被搭載物に対する相対的な位置修正を行ってから、前記電子部品を前記被搭載物に搭載するように制御するコントローラと、
を具備した電子部品位置決め装置。
A preliminary recognition stage on which an electronic component having a surface pattern formed thereon is placed;
Provided above the preliminary recognition stage, imaging the electronic component, the electronic component image pickup device that outputs the image data,
A pyramid-shaped concave part is formed, and a pyramid collet that picks up the electronic component in a state of being in contact with an opposing inclined surface of the square pyramid , a position correcting device that corrects the position of the pyramid collet, and A mounting head unit that is provided on the pyramid collet and includes a position recognition unit for recognizing the position of the picked-up electronic component ;
And placed on the mounting stage of pre-Symbol to be mounted object,
An imaging device for a mounted object that is provided above the mounting stage, images the position recognition unit and the mounted object that have moved on the mounting stage, and outputs the image data;
The electronic component imaging device and the mounted object imaging device are connected, and image data of the electronic component is input, the position of the electronic component, the surface pattern of the electronic component, and the position of the electronic component and the An image processing apparatus that measures a pattern positional deviation with respect to a surface pattern of the electronic component, inputs image data of the position recognition unit and the mounted object, and measures positions of the position recognition unit and the mounted object When,
Connected to the image processing device and the mounting head unit, the position data of the electronic component measured by the image processing device is input, and based on the position data of the electronic component, the pyramid collet of the mounting head unit is After performing relative position correction with respect to the electronic component, the electronic component is controlled to be picked up, and the position recognition unit and the position data of the mounted object measured by the image processing apparatus, and the Inputs position displacement data, position data of the position recognition unit, position data of the mounted object, position relation data between the electronic component picked up by the pyramid collet and the position recognition unit, and the pattern Based on the displacement data, the pyramid collet of the mounting head unit is relative to the mounted object. After performing Do positional correction, and a controller for controlling so as to mount the electronic component on the object to be mounted object,
An electronic component positioning device comprising:
予備認識ステージ載置され上面に表面パターンの形成された電子部品を、搭載ステージに載置された被搭載物に位置決めして搭載する、電子部品位置決め方法であって、
電子部品用撮像装置が、前記電子部品を撮像して、画像データを画像処理装置に出力し、
記画像処理装置が、前記画像データを入力して、前記電子部品の位置、前記電子部品の表面パターン、及び、前記電子部品の位置と前記電子部品の表面パターンとのパターン位置ずれを計測し、
搭載ヘッドユニットをコントロールするコントローラが、前記画像処理装置が計測した前記予備認識ステージに載置された前記電子部品の位置データを入力し、前記電子部品の位置データにもとづいて、前記電子部品をピックアップする角錐コレットの位置を求め、
前記搭載ヘッドユニットの角錐コレットが、前記電子部品をピックアップする角錐コレットの位置に、位置修正されてから、前記電子部品をピックアップし、前記被搭載物の載置された前記搭載ステージに移動し、
被搭載物用撮像装置が、前記角錐コレットに設けられた位置認識部及び前記被搭載物を撮像して、前記位置認識部及び前記被搭載物の画像データを前記画像処理装置に出力し、
前記画像処理装置が、前記位置認識部及び前記被搭載部の画像データを入力して、前記位置認識部と前記被搭載物の位置を計測し、
前記搭載ヘッドユニットをコントロールする前記コントローラが、前記画像処理装置が計測した前記位置認識部及び前記被搭載物の位置データ、並びに、前記パターン位置ずれのデータを入力し、前記位置認識部の位置データ,前記被搭載物の位置データ,前角錐コレットにピックアップされた前記電子部品と前記位置認識部との位置関係データ,及び,前記パターン位置ずれのデータにもとづいて、前記電子部品を搭載する角錐コレットの位置を求め、
前記搭載ヘッドユニットの角錐コレットが、前記電子部品を搭載する角錐コレットの位置に、位置修正されてから、前記電子部品を前記被搭載物に搭載する
ことを特徴とする電子部品位置決め方法。
An electronic component positioning method for positioning and mounting an electronic component placed on a preliminary recognition stage and having a surface pattern formed on an upper surface thereof on a mounted object placed on the mounting stage,
Electronic component imaging device, by imaging the electronic component, and outputs the image data to the image picture processor,
Pre outs image processing apparatus, said image data is input, the position of the electronic component, the surface pattern of the electronic component, and, measuring the pattern position shift of the position of the electronic component and the electronic component of the surface pattern And
Mounting head unit controls to Turkey controller is pre-outs image processing apparatus inputs the position data of the electronic component placed on the preliminary recognition stage measured, on the basis of the position data of the electronic component, wherein Find the position of the pyramid collet to pick up the electronic parts,
Pyramid collet of the mounting head unit, the position of the pyramid collet for picking up the electronic component, since the position correction, and pick up the electronic component, moves to the placed the mounting stage of the object to be mounted object,
The payload imaging device, wherein the position recognition unit provided in the pyramidal collet and imaging the object payload, and outputs the image data of the position recognition unit and the object to be mounted object in the image processing apparatus,
The picture image processing apparatus inputs the image data of the position recognition section and the mountable portion, measuring the position of the object to be mounted object and the position recognizing unit,
Said controller for controlling the mounting head unit, front position data of the position recognition section and the mountable product Kiga image processing apparatus is measured, and inputs the data of the pattern position shift of the position recognition unit position data, the position data of the payload, the positional relationship data with the previous SL the electronic component picked up in the pyramid collet and the position identification unit, and, based on the data of the pattern position shift, mounting the electronic component Find the position of the pyramid collet
The pyramidal collet mounting head unit, the position of the pyramid collet for mounting the electronic component, since the position correction, electronic component positioning method characterized by mounting the electronic component on the object payload.
JP2001168106A 2001-06-04 2001-06-04 Electronic component positioning apparatus and method Expired - Fee Related JP4617607B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001168106A JP4617607B2 (en) 2001-06-04 2001-06-04 Electronic component positioning apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001168106A JP4617607B2 (en) 2001-06-04 2001-06-04 Electronic component positioning apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002368493A JP2002368493A (en) 2002-12-20
JP4617607B2 true JP4617607B2 (en) 2011-01-26

Family

ID=19010384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001168106A Expired - Fee Related JP4617607B2 (en) 2001-06-04 2001-06-04 Electronic component positioning apparatus and method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4617607B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4759480B2 (en) * 2006-09-19 2011-08-31 芝浦メカトロニクス株式会社 Electronic component mounting apparatus and mounting method
JP5175610B2 (en) * 2008-05-15 2013-04-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Manufacturing method of semiconductor device

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01183890A (en) * 1988-01-19 1989-07-21 Toshiba Corp Electronic-part mounting apparatus
JPH0222899A (en) * 1988-07-12 1990-01-25 Tdk Corp Device for recognizing position of component
JPH05343502A (en) * 1992-06-09 1993-12-24 Fuji Electric Co Ltd Die bonding apparatus
JPH0845970A (en) * 1994-07-29 1996-02-16 Nec Corp Die bonding device
JPH09186491A (en) * 1995-12-28 1997-07-15 Sony Corp Parts vacuum-suction state confirming method in parts mounting apparatus and its apparatus
JP2000049499A (en) * 1998-07-31 2000-02-18 Nec Corp Head and method for mounting component
JP2000059098A (en) * 1998-08-03 2000-02-25 Nec Corp Component mounting equipment
JP2000332033A (en) * 1999-03-15 2000-11-30 Toray Eng Co Ltd Chip-mounting device and method for calibrating the same
JP2001060800A (en) * 1999-08-24 2001-03-06 Juki Corp Electronic parts-mounting method and device

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01183890A (en) * 1988-01-19 1989-07-21 Toshiba Corp Electronic-part mounting apparatus
JPH0222899A (en) * 1988-07-12 1990-01-25 Tdk Corp Device for recognizing position of component
JPH05343502A (en) * 1992-06-09 1993-12-24 Fuji Electric Co Ltd Die bonding apparatus
JPH0845970A (en) * 1994-07-29 1996-02-16 Nec Corp Die bonding device
JPH09186491A (en) * 1995-12-28 1997-07-15 Sony Corp Parts vacuum-suction state confirming method in parts mounting apparatus and its apparatus
JP2000049499A (en) * 1998-07-31 2000-02-18 Nec Corp Head and method for mounting component
JP2000059098A (en) * 1998-08-03 2000-02-25 Nec Corp Component mounting equipment
JP2000332033A (en) * 1999-03-15 2000-11-30 Toray Eng Co Ltd Chip-mounting device and method for calibrating the same
JP2001060800A (en) * 1999-08-24 2001-03-06 Juki Corp Electronic parts-mounting method and device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002368493A (en) 2002-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4692268B2 (en) Electronic component mounting system and electronic component mounting method
JP6246280B2 (en) Placement machine and method for mounting unstored chips on a substrate
US6931717B2 (en) Apparatus for mounting an electronic part onto a circuit substrate
TW200935551A (en) A method and device for aligning components
EP1126507B1 (en) Apparatus for positioning a thin plate
JP4482598B2 (en) BONDING DEVICE, BONDING DEVICE CORRECTION AMOUNT CALCULATION METHOD, AND BONDING METHOD
JP2002118153A (en) Method of manufacturing and apparatus for mounting electronic component
JP4617607B2 (en) Electronic component positioning apparatus and method
JP4343989B1 (en) BONDING APPARATUS AND BONDING AREA POSITION RECOGNITION METHOD AND PROGRAM USED FOR BONDING APPARATUS
JPH05208390A (en) Suction nozzle
JP7181838B2 (en) Measuring jig, component mounting device, and measuring method using measuring jig
JP4761672B2 (en) Bonding method and bonding apparatus
JP6115617B2 (en) Mounting device
JP3617483B2 (en) Electronic component mounting method
JP3835332B2 (en) Die bonding collet and mounting apparatus using the die bonding collet
JPH0837209A (en) Method of mounting electronic part with bump
JPH07245500A (en) Device and method for mounting electronic component
JP2000183592A (en) Handling unit for carrying large board device
JPS60132399A (en) Method of correcting position of electronic part
TWI755129B (en) A chip pick-and-place transfer device and method for chip positioning thereof
JP6201373B2 (en) Adsorption collet, pickup device, and pickup method
WO2023188500A1 (en) Position alignment device, position alignment method, bonding device, bonding method, and method for manufacturing semiconductor device
JP2011171330A (en) Component mounting apparatus and method
KR100552884B1 (en) Apparatus and method for mounting electronic part
JP3180432B2 (en) Adjustment method of CCD camera reference position in IC tester equipped with CCD camera

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080514

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100527

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100601

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100729

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100928

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101011

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131105

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees