JP4582779B2 - レーザ加熱装置 - Google Patents

レーザ加熱装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4582779B2
JP4582779B2 JP2005067408A JP2005067408A JP4582779B2 JP 4582779 B2 JP4582779 B2 JP 4582779B2 JP 2005067408 A JP2005067408 A JP 2005067408A JP 2005067408 A JP2005067408 A JP 2005067408A JP 4582779 B2 JP4582779 B2 JP 4582779B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
heated
lens
axis direction
laser oscillator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005067408A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006247696A (ja
Inventor
忠之 植松
貴史 千葉
昌男 寺田
功 坂口
Original Assignee
株式会社アルファ・オイコス
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社アルファ・オイコス filed Critical 株式会社アルファ・オイコス
Priority to JP2005067408A priority Critical patent/JP4582779B2/ja
Publication of JP2006247696A publication Critical patent/JP2006247696A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4582779B2 publication Critical patent/JP4582779B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

本発明はレーザ加熱装置、特に半導体基板等を高温で均一に加熱することができるレーザ加熱装置に関するものである。
従来、半導体基板等を加熱するためにYAGレーザや炭酸ガスレーザ加熱装置を用いてスポット移動方式、線状ビーム照射方式、スキャニング方式で加熱したり、ストライプ幅の広い高出力半導体レーザ加熱装置を用いて加熱していた(特許文献1)。
特開平10−94892号
然しながら、上記スポット移動方式及びスキャニング方式はいずれも加熱すべき部分をレーザ光で走査する方式であるから加熱すべき部分の全体にレーザ光を一度に照射することができず、処理効率が落ちる。また、線状ビーム照射方式やストライプ幅の広い高出力半導体レーザ加熱装置においては、線状でしか加熱することができず一度に大きな面積を所望の温度分布で加熱することができないという欠点があった。
また、半導体基板等の被加熱物にレーザ光を垂直に照射した場合に、被加熱物からの反射光で半導体レーザ素子が破損するおそれがあった。
また、レーザ光で発熱した被加熱物が発する輻射熱がレーザ発振器側に戻り、半導体レーザ素子の寿命を縮め、長期安定性能が劣っていた。
また、従来のレーザ加熱装置では速軸方向での被加熱物の照射領域と、遅軸方向での被加熱物の照射領域とが大きく異なる不都合があった。
本発明は上記の欠点を除くようにしたものである。
本発明の加熱装置は、レーザダイオードバーを複数積層せしめて形成したレーザ発振器と、上記レーザ発振器と被加熱物との間に介挿した光学レンズ系とより成り、この光学レンズ系は、上記レーザ発振器の速軸方向では上記各レーザダイオードバーのレーザ出口に設けたコリメートレンズと、このコリメートレンズと上記被加熱物間に、上記被加熱物に向かう方向に順次に配置せしめた凸レンズと、フライアイレンズと、第2の絞りより成り、上記コリメートレンズより出た平行光を集光せしめてから焦点(集光)位置よりも遠くに位置する被加熱物に照射せしめ、上記光学レンズ系は、上記レーザ発振器の遅軸方向では上記レーザ発振器と上記被加熱物間に、上記被加熱物に向かう方向に順次に配置せしめた第1及び第2の絞りより成り、上記レーザダイオードバーから出たレーザ光を出射角度のまま上記第1及び第2の絞りにより整形し被加熱物に照射せしめ、上記第1絞りでは、上記半導体レーザ発振器側の開口面積を大きくし、上記第2絞りでは、上記被加熱物側の開口面積を大きくしたことを特徴とする。
本発明のレーザ加熱装置においては、上記レーザ発振器の速軸方向では、上記集光されたレーザ光を、そのデフォーカス量を減少するための、または平行光にするための1または複数個の凸レンズを介して被加熱物に照射せしめることを特徴とする。
また、本発明のレーザ加熱装置においては、上記レーザ発振器の遅軸方向では、上記レーザ出口から出たレーザ光を凹レンズにより更に広げることを特徴とする。
また、上記レーザ発振器の遅軸方向では、上記第の絞りにより整形したあと、平行光にするための凸レンズを介して被加熱物に照射せしめることを特徴とする。
また、上記第2の絞りが、熱伝導性の良い材料で形成されていることを特徴とする。
また、上記第2の絞りの被加熱物側の面がセラミックでコートされていることを特徴とする。
また、上記光学レンズ系及びその集光点近傍の第2の絞りまでを同一レンズホルダ内に設け、上記レンズホルダ部から出たレーザ光をデフォーカス光としたことを特徴とする。
本発明のレーザ加熱装置においては、速軸方向のレーザ光を凸レンズを通過させたあとフライアイレンズに通したのでレーザ光を均質化できる。
本発明のレーザ加熱装置においては、デフォーカス光を被加熱物に照射せしめたので、一度の照射で被加熱物を短時間に均一に加熱することができる。
また、上記第2の絞りにより遅軸方向のレーザ光を整形すると共に、上記被加熱物からの反射光がレーザ発振器側に戻るのを軽減せしめ、被加熱物自身の加熱により発する輻射光がレーザ発振器側に入射するのを軽減せしめることができ、レーザ素子の破損を防止することができ、半導体レーザの寿命・性能を著しく向上せしめることができる。
また、本発明のレーザ加熱装置においては、速軸方向、遅軸方向とも必要な照射面積が得られた位置に凸レンズを設け、平行光とすることで、レーザ光が無駄なく、被加熱物に照射できるため、装置の余計な箇所を加熱することが少なく、熱ロスがなくなる。
また、通常は、集光点の光は、絞られずに通過するが、速軸方向での上記光学レンズ系の集光点近傍に第2の絞りを設けたので必要に応じて、レーザ光を必要な形状に整形することも可能である。
また、レンズおよび絞りを同一レンズホルダ内に設けたので、コンパクト化を図ることができる。
また、レーザダイオードバーの数を増やすことにより、レーザ出力を増やすことができ被加熱物を広範囲に加熱せしめることができ、また、各レーザダイオードの出力を異ならしめたり、ヒータシンク板の厚さを適宜変えて重ねるレーザダイオードバーの間隔を異ならしめたり、レーザダイオードバーを一列でなく、複数列にすることにより、被加熱物を所望の温度分布で加熱することができる。
また、デフォーカス光から必要な面積の箇所で速軸方向、遅軸方向ともに凸レンズを設置し平行光としたので、被加熱物4以外の照射面積を減らしたので、熱ロスを減少できる。
以下図面によって本発明の実施例を説明する。
本発明のレーザ加熱装置は、例えば、図1に示すように厚さ0.1mm〜3mmの出力40W〜100Wの連続発振(CW)のレーザダイオードバー1を厚さ1mm〜3mmの銅板からなるヒートシンク板2により挟み込んだものを20枚重ねて構成せしめた出力0.8kW〜2kWのレーザスタックからなるレーザ発振器3と、このレーザ発振器3と被加熱物4間に介挿した光学レンズ系5とにより構成する。
また、図2に示すようにレーザ発振器の速軸方向では上記光学レンズ系5を上記各レーザダイオードバー1のレーザ出口に夫々設けたコリメートレンズ6と、上記レーザ発振器3からのレーザが照射される直径2インチのシリコン基板などの被加熱物4と上記コリメートレンズ6との間に、上記被加熱物4側に向って順次に配置せしめた凸レンズ7、フライアイレンズ8、第2の絞り9とにより構成し、上記コリメートレンズ6により平行にされたレーザ光が、上記凸レンズ7を通過し、フライアイレンズ8により、各隣り合うレーザダイオードバー1のピッチ間のレーザ分布が均一とされたあと、レーザ光が集光され、デフォーカスされ、上記被加熱物4に照射されこれを加熱せしめるようにする。
また、図3に示すようにレーザ発振器の遅軸方向では上記レーザダイオードバー1から出たレーザ光を、出射角(約10度)のまま上記第2の絞り9より上記レーザ発振器側に配置した第1の絞り10と第2の絞り9で形を整え上記被加熱物4に照射せしめ加熱せしめるようにする。
なお、上記第1の絞り10の開口11は、レーザ光の遅軸方向の整形を良くするため、図4に示すように被加熱物側から発振器側に向うに従って徐々に開口面積が大きくなるように構成せしめる。
また、上記第2の絞り9の開口12は図5に示すように、上記レーザ発振器側から上記被加熱物側に向うに従って徐々に開口面積が大きくなるように構成せしめる。上記第2の絞り9は遅軸方向のレーザ光を整形すると共に被加熱物4からの反射光や輻射光を広く拡散せしめるために、アルミ板などの熱伝導性の良い材料で構成し、被加熱物側表面をセラミックコートし、微小な凹凸を形成せしめるのが好ましい。
なお、上記第2の絞り9の開口12は出来るだけ小さくし速軸側集光点位置に設けることが好ましい。
本発明のレーザ加熱装置においては、上記第2の絞り9により、遅軸側レーザ光を整形すると共に上記被加熱物4からの反射光がレーザ発振器3側に戻るのが軽減され、また、被加熱物4自身の加熱により発する輻射光がレーザ発振器3側に入射するのを軽減せしめることができ、レーザ素子の破損を防止することができ、半導体レーザの寿命・性能を著しく向上せしめることができる。
なお、上記コリメートレンズ6、凸レンズ7、フライアイレンズ8、第1の絞り10、集光点近傍の第2の絞り9までを筒状のレンズホルダ(図示せず)内に設け、レーザ発振器の速軸の集光点を上記レンズホルダ内とし、このレンズホルダを上記レーザ発振器3と一体化することで、レンズホルダから出た光の速軸と遅軸が夫々デフォーカス光となり、このデフォーカス光を被加熱物4に照射せしめた結果、一度の照射で被加熱物を短時間に、例えば1000度まで均一に加熱することができ、被加熱物に均一で良好な酸化膜を形成せしめることができる。
また、レーザ発振器の速軸において凸レンズの後にフライアイレンズを設けたので、レーザ光を均一化できる。
また、集光点近傍に第2の絞り9を設けたので、レーザ光を必要な形状に整形できる。
なお、速軸方向での被加熱物4の照射領域を遅軸方向でのそれと略一致せしめるため、本発明の第2実施例においては、図6に示すように、上記レーザ発振器3の速軸方向で、上記第2の絞り9と上記被加熱物4との間に1または複数個の凸レンズ13を設け、集光されたレーザ光を上記凸レンズ13を通過させてより小さくデフォーカスさせ被加熱物4に照射せしめるようにする。
また、図7に示すように、上記レーザ発振器3の遅軸方向で、上記レーザ発振器3と上記第1の絞り10との間に凹レンズ14を設け、レーザ発振器3から出たレーザ光を、上記凹レンズ14を通して広げたあと、上記第1の絞り10と第2の絞り9とでレーザ光の形を整え上記被加熱物4に照射せしめ加熱せしめるようにする。
このようにすれば被加熱物4の照射領域を略正方形となし得る。
なお、更に上記凸レンズ13、凹レンズ14を上記レンズホルダ内に設けてもよい。
なお、速軸方向での被加熱物4の照射領域以外の部分にレーザ光が漏れないように、本発明の第3の実施例においては、図8に示すように、レーザ発振器3の速軸方向では、上記凸レンズ13により範囲を狭めてデフォーカスされたレーザ光から必要な領域範囲の箇所に1または複数個の凸レンズ15を設けて平行光とし、上記被加熱物4に照射せしめるようにする。
また、図9に示すように、上記レーザ発振器3の遅軸方向では、第2の絞り9でレーザ光の形を整えたあと、レーザ光の必要な領域範囲の箇所に凸レンズ16を設けて平行光とし、上記被加熱物4に照射せしめるようにする。このようにすれば、被加熱物4の照射光をレーザの平行光とすることができ、レーザ光の広がりによって被加熱物以外の箇所が加熱されることがなく、熱ロスを少なくするこができる。
なお、速軸の凸レンズ15、遅軸の凸レンズ16は上記レンズホルダとは別のレンズホルダで位置決めする。
本発明のレーザ加熱装置のレーザ発振器の斜視図である。 本発明のレーザ加熱装置の速軸方向説明図である。 本発明のレーザ加熱装置の遅軸方向説明図である。 図2に示す第1の絞りの縦断側面図である。 図2に示す第2の絞りの縦断側面図である。 本発明のレーザ加熱装置の第2実施例の速軸方向説明図である。 本発明のレーザ加熱装置の第2実施例の遅軸方向説明図である。 本発明のレーザ加熱装置の第3実施例の速軸方向説明図である。 本発明のレーザ加熱装置の第3実施例の遅軸方向説明図である。
符号の説明
1 レーザダイオードバー
2 ヒートシンク板
3 レーザ発振器
4 被加熱物
5 光学レンズ系
6 コリメートレンズ
7 凸レンズ
8 フライアイレンズ
9 第2の絞り
10 第1の絞り
11 開口
12 開口
13 凸レンズ
14 凹レンズ
15 凸レンズ
16 凸レンズ

Claims (7)

  1. レーザダイオードバーを複数積層せしめて形成したレーザ発振器と、上記レーザ発振器と被加熱物との間に介挿した光学レンズ系とより成り、この光学レンズ系は、上記レーザ発振器の速軸方向では上記各レーザダイオードバーのレーザ出口に設けたコリメートレンズと、このコリメートレンズと上記被加熱物間に、上記被加熱物に向かう方向に順次に配置せしめた凸レンズと、フライアイレンズと、第2の絞りより成り、上記コリメートレンズより出た平行光を集光せしめてから焦点(集光)位置よりも遠くに位置する被加熱物に照射せしめ、上記光学レンズ系は、上記レーザ発振器の遅軸方向では上記レーザ発振器と上記被加熱物間に、上記被加熱物に向かう方向に順次に配置せしめた第1及び第2の絞りより成り、上記レーザダイオードバーから出たレーザ光を出射角度のまま上記第1及び第2の絞りにより整形し被加熱物に照射せしめ、上記第1絞りでは、上記半導体レーザ発振器側の開口面積を大きくし、上記第2絞りでは、上記被加熱物側の開口面積を大きくしたことを特徴とするレーザ加熱装置。
  2. 上記レーザ発振器の速軸方向では、上記集光されたレーザ光のデフォーカス量を減少するための1または複数個の凸レンズを介して被加熱物に照射せしめることを特徴とする請求項1記載のレーザ加熱装置。
  3. 上記レーザ発振器の遅軸方向では、上記レーザ出口から出たレーザ光を凹レンズにより更に広げることを特徴とする請求項1または2記載レーザ加熱装置。
  4. 上記レーザ発振器の遅軸方向では、上記第2の絞りにより整形したあと、平行光にするための凸レンズを介して被加熱物に照射せしめることを特徴とする請求項1、2または3記載のレーザ加熱装置。
  5. 上記第2の絞りが熱伝導性の良い材料で形成されていることを特徴とする請求項1、2、3または4記載のレーザ加熱装置。
  6. 上記第2の絞りの被加熱物側の面がセラミックでコートされていることを特徴とする請求項1、2、3、4または5記載のレーザ加熱装置。
  7. 上記光学レンズ系及びその集光点近傍の第2の絞りまでを同一レンズホルダ内に設け、上記レンズホルダ部から出たレーザ光をデフォーカス光としたことを特徴とする請求項1、2、3、4、5または6記載のレーザ加熱装置。
JP2005067408A 2005-02-10 2005-03-10 レーザ加熱装置 Expired - Fee Related JP4582779B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005067408A JP4582779B2 (ja) 2005-02-10 2005-03-10 レーザ加熱装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005034842 2005-02-10
JP2005067408A JP4582779B2 (ja) 2005-02-10 2005-03-10 レーザ加熱装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006247696A JP2006247696A (ja) 2006-09-21
JP4582779B2 true JP4582779B2 (ja) 2010-11-17

Family

ID=37088708

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005067408A Expired - Fee Related JP4582779B2 (ja) 2005-02-10 2005-03-10 レーザ加熱装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4582779B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106941240B (zh) * 2017-05-18 2023-07-21 温州泛波激光有限公司 半导体激光器
KR102015521B1 (ko) * 2017-09-29 2019-08-28 주식회사 루트로닉 레이저 다이오드 모듈

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006247696A (ja) 2006-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006330071A (ja) 線状ビーム生成光学装置
JP5963219B2 (ja) 微小レンズアレイを使用してラインを生成する光学設計
US7129440B2 (en) Single axis light pipe for homogenizing slow axis of illumination systems based on laser diodes
KR101322346B1 (ko) 파이버 전송 레이저 광학계
US9006608B2 (en) Process for the adjustment of a laser light spot for the laser processing of work pieces and a laser device for the performance of the process
CN107073655A (zh) 基于激光加工平面晶体衬底、特别是半导体衬底的方法和设备
JP4247495B2 (ja) レーザ加熱装置
JP5885253B2 (ja) レーザービームを用いて溶接するレーザー溶接システムおよびレーザー溶接方法
KR101738155B1 (ko) 라인 빔 형성 장치
TWI653690B (zh) 光纖陣列線路產生器
JP4582779B2 (ja) レーザ加熱装置
JP2007063606A (ja) 半導体レーザを用いた焼入れ方法および焼入れ装置
CN113924522A (zh) 用于形成具有较亮边缘或较暗边缘的均匀强度分布的设备
JP6243143B2 (ja) 画像読取装置用線状光源装置および画像読取装置
JP2007000897A (ja) レーザ装置
JP4630827B2 (ja) レーザ加熱装置
JP5463594B2 (ja) レーザーを用いた太陽電池の選択的エミッタ製造装置
CN108303840A (zh) 激光投影装置
KR101728532B1 (ko) Led 광원을 이용한 스캔 방식의 노광장치
US7810938B2 (en) Laser configuration
JP2019152820A (ja) レーザユニットおよびレーザマーカおよびレーザ印字システム
KR101457516B1 (ko) 광 분할 장치
WO2008024211A2 (en) Fast axis beam profile shaping
JP3950129B2 (ja) レーザ加熱装置
JP2008053626A (ja) レーザ加熱装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080624

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080804

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081104

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081217

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090218

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20090619

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100713

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100830

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees