JP4566860B2 - Semiconductor integrated circuit device design apparatus, wiring method, and program - Google Patents

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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

本発明は、半導体集積回路装置の設計装置および配線方法ならびにプログラムに係り、特に、チップ周辺に配設された電極パッド同士の設計装置および配線方法ならびにプログラムに係る。   The present invention relates to a design apparatus, a wiring method, and a program for a semiconductor integrated circuit device, and more particularly, to a design apparatus, a wiring method, and a program for electrode pads arranged around a chip.

半導体集積回路装置では、一般にチップ周辺に電極パッド(以下、単にパッドあるいはPADともいう)を配し、外部接続を可能としている。このようなパッドを配設する際には、パッド形成領域の面積をできる限り狭くしてサイズの小さな半導体素子を実現することが望ましい。このため、入出力バッファ上に一部のパッドと残りのパッドとを一つずつ交互に千鳥足状に配設する半導体集積回路装置が知られている。このようなパッドに接続される入出力バッファが例えば電源用あるいは接地用のI/Oブロックであるような場合には、より配線インピーダンスを下げてパッドにおける電圧の変動を抑える必要がある。そこで、パッド同士をパッドブリッジと呼ばれる配線で配線することが行われている。   In a semiconductor integrated circuit device, generally, an electrode pad (hereinafter also simply referred to as a pad or a PAD) is arranged around a chip to enable external connection. When such a pad is provided, it is desirable to realize a semiconductor device having a small size by reducing the area of the pad formation region as much as possible. For this reason, a semiconductor integrated circuit device is known in which some pads and the remaining pads are alternately arranged in a staggered pattern on the input / output buffer one by one. When the input / output buffer connected to such a pad is, for example, a power supply or ground I / O block, it is necessary to lower the wiring impedance to suppress the voltage fluctuation at the pad. Therefore, the pads are wired with wiring called a pad bridge.

なお、パッド同士を配線する技術としては、多層配線構造を有する半導体集積回路装置の単層もしくは複数層の金属層にて形成されるボンディングパッド構造が特許文献1に開示されている。この半導体集積回路装置は、隣り合うボンディングパッド間に双方のボンディングパッドを接続する配線を有し、配線が多層配線の最上層以外の配線層で形成されている。空きパッド部に多層配線の最上層と接続を行うためのビアホールを設けないことで、空きパッド部にアルミニウム腐食を生じても配線として用いられる箇所は腐食を受けず、断線等の問題を生じない効果を有している。   As a technique for wiring pads, Patent Document 1 discloses a bonding pad structure formed of a single layer or a plurality of metal layers of a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure. This semiconductor integrated circuit device has wiring that connects both bonding pads between adjacent bonding pads, and the wiring is formed of a wiring layer other than the uppermost layer of the multilayer wiring. By not providing a via hole for connecting to the uppermost layer of the multilayer wiring in the empty pad part, even if aluminum corrosion occurs in the empty pad part, the part used as wiring is not corroded and does not cause problems such as disconnection Has an effect.

特開平3−278551号公報(図1、3)JP-A-3-278551 (FIGS. 1 and 3)

近年、半導体集積回路装置の規模の増大は目覚しい。これに伴い電極パッドの数も増加し、配置配線の設計工数も増加している。従来、パッドブリッジの配線ではI/Oブロックの配線の後、人手によって配線がなされていた。電極パッドの数が少ない場合には、あまり問題とはならなかったが、電極パッドの数の増加に伴い、人手による配線では配線にミス等が生じる可能性が高まり設計工数が増加してしまう虞があった。   In recent years, the increase in the scale of semiconductor integrated circuit devices has been remarkable. Along with this, the number of electrode pads has increased, and the number of man-hours for placement and routing has also increased. Conventionally, in the wiring of the pad bridge, the wiring is manually performed after the wiring of the I / O block. When the number of electrode pads is small, it was not a problem, but with the increase in the number of electrode pads, there is a possibility that mistakes will occur in the wiring by manual wiring and the design man-hour may increase. was there.

本発明の1つのアスペクトに係る半導体集積回路装置の配線方法は、チップ周辺部に配設される入出力回路領域上に電極パッド配置領域が形成され、電極パッド配置領域において、電極パッドへの配線接続領域を挟んでチップ端側と内部回路領域側とに電極パッドが千鳥足状に配設されている半導体集積回路装置の配線を設計装置がコンピュータ・ソフトウェアによって配線する方法である。設計装置が、入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線されるチップ端側の第1の電極パッドと第1の電極パッドに対向する内部回路領域側のいずれかの第2の電極パッドとを配線するための配線データと、入出力回路の配置配線データとを合成したデータを元に配置配線を行うに際し、設計装置は、配置情報記憶部とライブラリ記憶部と配置タイプ判定部とデータ合成部とを備え、配置タイプ判定部が、入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線されるチップ端側の第1の電極パッドと第1の電極パッドに対向する内部回路領域側の第2の電極パッドとの間を接続するパッドブリッジの配置情報と、入出力回路の配置情報とを配置情報記憶部から読み込むステップと、配置タイプ判定部が、パッドブリッジの配置情報と入出力回路の配置情報とから、入出力回路の配置領域の長手方向の中心軸に対し第2の電極パッドが左右いずれの側に存在するかを示すパッドブリッジの配置タイプを判定するステップと、データ合成部が、判定された配置タイプに対応するパッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データをライブラリ記憶部から読み込むステップと、データ合成部が、パッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを元に入出力回路領域中の配置配線データを合成するステップと、を含む。 According to one aspect of the present invention, there is provided a wiring method for a semiconductor integrated circuit device, wherein an electrode pad arrangement region is formed on an input / output circuit region arranged in a peripheral portion of a chip, and wiring to the electrode pad is performed in the electrode pad arrangement region. This is a method in which wiring of a semiconductor integrated circuit device in which electrode pads are arranged in a staggered pattern on a chip end side and an internal circuit region side across a connection region is wired by a design device using computer software . The design apparatus has a first electrode pad on the chip end side wired via a contact from the input / output circuit in the input / output circuit region, and any second on the internal circuit region side facing the first electrode pad. When performing placement and routing based on data obtained by combining the wiring data for wiring the electrode pads and the placement and routing data of the input / output circuit , the design apparatus includes a placement information storage unit, a library storage unit, and a placement type determination unit. And a data synthesizing unit, and the arrangement type determining unit is arranged to face the first electrode pad on the chip end side and the first electrode pad wired from the input / output circuit in the input / output circuit region via the contact. The step of reading the arrangement information of the pad bridge connecting the second electrode pads on the circuit area side and the arrangement information of the input / output circuit from the arrangement information storage unit, and the arrangement type determination unit The arrangement type of the pad bridge indicating whether the second electrode pad exists on the left or right side with respect to the central axis in the longitudinal direction of the input / output circuit arrangement area is determined from the arrangement information of the input / output circuit and the arrangement information of the input / output circuit A step of reading from the library storage unit the layout wiring data of the input / output circuit to which the pad bridge corresponding to the determined layout type is added, and the data synthesis unit having the pad bridge added Synthesizing the placement and routing data in the input / output circuit area based on the placement and routing data of the input / output circuit.

本発明の1つのアスペクトに係る半導体集積回路装置の設計装置は、チップ周辺部に配設される入出力回路領域上に電極パッド配置領域が形成され、電極パッド配置領域において、電極パッドへの配線接続領域を挟んでチップ端側と内部回路領域側とに電極パッドが千鳥足状に配設されている半導体集積回路装置の設計装置である。この装置は、入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線されるチップ端側の第1の電極パッドと第1の電極パッドに対向する内部回路領域側のいずれかの第2の電極パッドとの間を接続するパッドブリッジの配置情報と、入出力回路の配置情報とを記憶する配置情報記憶部と、パッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを記憶するライブラリ記憶部と、配置情報記憶部からパッドブリッジの配置情報と入出力回路の配置情報とを読み込んで、入出力回路の配置領域の長手方向の中心軸に対し第2の電極パッドが左右いずれの側に存在するかを示すパッドブリッジの配置タイプを判定する配置タイプ判定部と、判定された配置タイプに対応するパッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データをライブラリ記憶部から読み込んで、入出力回路領域中の配置配線データを合成するデータ合成部と、を備える。 According to one aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit device design apparatus in which an electrode pad arrangement region is formed on an input / output circuit region provided in a peripheral portion of a chip, and wiring to the electrode pad is performed in the electrode pad arrangement region. This is a design apparatus for a semiconductor integrated circuit device in which electrode pads are arranged in a staggered pattern on the chip end side and the internal circuit region side with the connection region interposed therebetween. This device includes a first electrode pad on the chip end side wired via a contact from an input / output circuit in the input / output circuit region, and a second one on the internal circuit region side facing the first electrode pad. Arrangement information storage unit for storing arrangement information of pad bridges connected to electrode pads and arrangement information of input / output circuits, and library storage unit for storing arrangement / wiring data of input / output circuits to which pad bridges are added And the pad bridge arrangement information and the input / output circuit arrangement information are read from the arrangement information storage unit, and the second electrode pad exists on either side of the central axis in the longitudinal direction of the arrangement area of the input / output circuit. Live or a determining arrangement type determining unit placement type pad bridge showing the to the placement and routing data input and output circuit pad bridge is added corresponding to the determined layout type Read from Li storage unit includes a data synthesizer for synthesizing the placement and routing data in the input-output circuit region.

本発明の1つのアスペクトに係るプログラムは、チップ周辺部に配設される入出力回路領域上に電極パッド配置領域が形成され、電極パッド配置領域において、電極パッドへの配線接続領域を挟んでチップ端側と内部回路領域側とに電極パッドが千鳥足状に配設されている半導体集積回路装置の配線を設計する設計装置は、配置情報記憶部とライブラリ記憶部と備え、設計装置を構成するコンピュータに、入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線されるチップ端側の第1の電極パッドと第1の電極パッドに対向する内部回路領域側のいずれかの第2の電極パッドとの間を接続するパッドブリッジの配置情報と、入出力回路の配置情報とを配置情報記憶部から読み込んで、入出力回路の配置領域の長手方向の中心軸に対し第2の電極パッドが左右いずれの側に存在するかを示すパッドブリッジの配置タイプを判定する配置タイプ判定処理と、判定された配置タイプに対応するパッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データをライブラリ記憶部から読み込んで、入出力回路領域中の配置配線データを合成するデータ合成処理と、を実行させる。 In a program according to one aspect of the present invention, an electrode pad arrangement region is formed on an input / output circuit region arranged in a peripheral portion of a chip, and the chip is sandwiched between the electrode pad arrangement region and a wiring connection region to the electrode pad. A design device for designing wiring of a semiconductor integrated circuit device in which electrode pads are arranged in a staggered pattern on the end side and the internal circuit region side includes a placement information storage unit and a library storage unit, and a computer constituting the design device In addition, the first electrode pad on the chip end side wired via the contact from the input / output circuit in the input / output circuit region and any second electrode pad on the internal circuit region side facing the first electrode pad and arrangement information of the pad bridge which connects the, reads the arrangement information of the input and output circuit from the layout data storage unit, first to the longitudinal center axis of the arrangement region of the input-output circuit If the determining arrangement type determination processing arrangement type of pad bridges of an electrode pad is present in the left or right side, the placement and routing data input and output circuit pad bridge is added corresponding to the determined layout type Data synthesizing processing that reads from the library storage unit and synthesizes the placement and routing data in the input / output circuit area is executed.

本発明によれば、I/Oブロック配設とパッドブリッジ配線を自動的に行うことができ、設計工数が低減される。   According to the present invention, the I / O block arrangement and the pad bridge wiring can be automatically performed, and the design man-hour is reduced.

図1は、本発明の実施形態に係る半導体集積回路装置の設計装置の構成を示すブロック図である。図1において、設計装置は、処理装置10、入力装置11、出力装置12、記憶装置13を備え、エンジニアリングワークステーションやパーソナルコンピュータ等によって構成される。処理装置10は、CPU等で構成され、記憶装置13に内蔵される配置配線プログラム20を実行して設計装置として機能する。入力装置11は、処理装置10に指示等を与えるマンマシンインタフェースとして機能し、キーボード、マウス等で構成される。出力装置12は、ディスプレイ、プリンタ等で構成され、処理装置10の出力結果等を表示する。記憶装置13は、半導体メモリ、ハードディスク等で構成され、半導体集積回路装置の配置配線情報14、配置配線に必要となる各種のライブラリ15、配置配線結果データ18、配置配線プログラム20等を記憶する。また、ライブラリ15には、入出力回路情報17等が含まれる。   FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a semiconductor integrated circuit device design apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the design device includes a processing device 10, an input device 11, an output device 12, and a storage device 13, and is configured by an engineering workstation, a personal computer, or the like. The processing device 10 includes a CPU and the like, and functions as a design device by executing a placement and routing program 20 built in the storage device 13. The input device 11 functions as a man-machine interface that gives an instruction or the like to the processing device 10 and includes a keyboard, a mouse, and the like. The output device 12 includes a display, a printer, and the like, and displays the output result of the processing device 10 and the like. The storage device 13 is composed of a semiconductor memory, a hard disk, and the like, and stores placement and routing information 14 of the semiconductor integrated circuit device, various libraries 15 necessary for placement and routing, placement and routing result data 18, a placement and routing program 20, and the like. The library 15 includes input / output circuit information 17 and the like.

次に、配置配線プログラム20によって実行される設計方法について説明する。ここでは、I/Oブロック(入出力回路)とそれに接続されるパッドとの配置配線に限定して説明する。図2は、配置配線プログラム20の構成を示すブロック図である。配置配線プログラム20は、主として配置タイプ判定部21と、データ合成部22として機能する。また、図3は、半導体集積回路装置の設計方法の手順を示すフローチャートである。   Next, a design method executed by the placement and routing program 20 will be described. Here, the description is limited to the arrangement and wiring of the I / O block (input / output circuit) and the pad connected thereto. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the placement and routing program 20. The placement and routing program 20 mainly functions as a placement type determination unit 21 and a data synthesis unit 22. FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of a method for designing a semiconductor integrated circuit device.

ステップS11において、配置タイプ判定部21は、半導体集積回路装置に関する配置配線情報14から設計対象となるI/Oブロックとパッドの配置配線データを入力する。   In step S <b> 11, the placement type determination unit 21 inputs I / O block and pad placement and routing data to be designed from the placement and routing information 14 related to the semiconductor integrated circuit device.

ステップS12において、配置タイプ判定部21は、I/Oブロックとパッドの配置配線データからパッド間を接続するパッドブリッジの配置タイプを判別する。より具体的には、パッドブリッジの配置タイプは、I/Oブロックの配置領域の長手方向の中心軸に対し、このI/Oブロックに接続される電極パッドが左右いずれの側に存在するかによって定められる。   In step S12, the arrangement type determination unit 21 determines the arrangement type of the pad bridge that connects the pads from the I / O block and pad arrangement wiring data. More specifically, the pad bridge arrangement type depends on whether the electrode pad connected to the I / O block is on the left or right side with respect to the central axis in the longitudinal direction of the I / O block arrangement area. Determined.

ステップS13において、データ合成部22は、配置タイプ判定部21で判別された配置タイプ結果に応じてライブラリ15から対応するパッドブリッジ情報が付加されたI/Oブロックに関する入出力回路情報17を読み込む。   In step S <b> 13, the data composition unit 22 reads the input / output circuit information 17 related to the I / O block to which the corresponding pad bridge information is added from the library 15 according to the arrangement type result determined by the arrangement type determination unit 21.

ステップS14において、データ合成部22は、対象となる全てのパッドの情報を読み出したか否かを判断し、残りがあるならばステップS11に戻り、全て読み出したならばステップS15に進む。   In step S14, the data synthesizer 22 determines whether or not the information of all the target pads has been read out. If there is any remaining information, the process returns to step S11, and if all are read, the process proceeds to step S15.

ステップS15において、データ合成部22は、読み出した入出力回路情報17を合成してI/Oブロック領域における配置配線結果データ18を得る。   In step S15, the data synthesis unit 22 synthesizes the read input / output circuit information 17 to obtain the placement and routing result data 18 in the I / O block area.

以上のように半導体集積回路装置の設計装置が動作し、配置配線結果データ18を元に配置配線を行うことで、I/Oブロック配設とパッドブリッジ配線を自動的に行うことができる。以下、実施例に即し、具体的な半導体集積回路装置の設計例について説明する。   As described above, the semiconductor integrated circuit device design apparatus operates, and by performing placement and routing based on the placement and routing result data 18, I / O block placement and pad bridge wiring can be performed automatically. A specific design example of the semiconductor integrated circuit device will be described below in accordance with the embodiment.

図4は、本発明の設計方法によって作成される半導体集積回路装置の構成を模式的に示す図である。図4(a)に示すように、チップの周辺部にはI/O領域50が存在し、I/O領域50に隣接してチップの中心側には内部ロジック領域51が存在する。I/O領域50には、パッド40a(PAD1)、40b(PAD2)、40c(PAD3)、40d(PAD4)が配設される。また、I/O領域50の半導体基板53上には、I/Oブロック41a、41bが存在し、それぞれパッド取出し口である配線部42a、42bを介して、パッド40b、40cにそれぞれ接続されている。さらに、パッド40bとパッド40cとは、パッドブリッジ44で接続され、パッド40cは、配線43によって内部ロジック領域51へ配線されている。配線部42a、42b、パッドブリッジ44は、パッド40a、40cとパッド40b、40dに挟まれる配線接続領域52に配設される。なお、ここでは配設されるパッドの数を4として図示しているが、パッドの数はこれに限定されるものではない。また、配線43は、パッドブリッジ44が接続されているパッド40cに配線される場合を例示しているが、これに限らずパッドブリッジが接続されていないパッドに配線されてもよい。   FIG. 4 is a diagram schematically showing a configuration of a semiconductor integrated circuit device created by the design method of the present invention. As shown in FIG. 4A, an I / O area 50 exists in the peripheral portion of the chip, and an internal logic area 51 exists on the center side of the chip adjacent to the I / O area 50. In the I / O region 50, pads 40a (PAD1), 40b (PAD2), 40c (PAD3), and 40d (PAD4) are disposed. In addition, I / O blocks 41a and 41b exist on the semiconductor substrate 53 in the I / O region 50, and are connected to the pads 40b and 40c via the wiring portions 42a and 42b, which are pad outlets, respectively. Yes. Further, the pad 40 b and the pad 40 c are connected by a pad bridge 44, and the pad 40 c is wired to the internal logic region 51 by a wiring 43. The wiring portions 42a and 42b and the pad bridge 44 are disposed in a wiring connection region 52 sandwiched between the pads 40a and 40c and the pads 40b and 40d. Here, the number of pads disposed is shown as four, but the number of pads is not limited to this. Moreover, although the case where the wiring 43 is wired to the pad 40c to which the pad bridge 44 is connected is illustrated, the wiring 43 may be wired to a pad to which the pad bridge is not connected.

図4(b)は、図4(a)におけるX1−Y1断面を表わす断面図である。パッドブリッジ44、配線43は、パッド40b、40cと同じ金属配線層において配線される。パッド40bの下(半導体基板側)にはビア61aを介して配線62aが存在し、配線62aは、配線部42aに接続される。また、配線62aの下にはビア63aを介して配線64aが接続され、配線64aはビア65aを介して半導体基板53上のI/Oブロック41aに接続される。また、パッド40cの下にはビア61bを介して配線62bが存在し、配線62bの下にはビア63bを介して配線64bが接続され、配線64bはビア65bを介して半導体基板53上のI/Oブロック41aに接続されている。   FIG. 4B is a cross-sectional view illustrating the X1-Y1 cross section in FIG. The pad bridge 44 and the wiring 43 are wired in the same metal wiring layer as the pads 40b and 40c. A wiring 62a exists under the pad 40b (on the semiconductor substrate side) through a via 61a, and the wiring 62a is connected to the wiring part 42a. A wiring 64a is connected under the wiring 62a through a via 63a, and the wiring 64a is connected to the I / O block 41a on the semiconductor substrate 53 through a via 65a. Further, a wiring 62b is present under the pad 40c through a via 61b, a wiring 64b is connected to the wiring 62b through a via 63b, and the wiring 64b is connected to the I on the semiconductor substrate 53 through the via 65b. / O block 41a is connected.

図4(c)は、図4(a)におけるX2−Y2断面を表わす断面図である。パッド40cの下(半導体基板側)に存在する配線62bは、配線部42bに接続されている。   FIG. 4C is a cross-sectional view illustrating the X2-Y2 cross section in FIG. The wiring 62b existing under the pad 40c (on the semiconductor substrate side) is connected to the wiring part 42b.

なお、ここでは、パッドブリッジ44は、パッド40b、40cと同じ金属配線層であるとして図示したが、必要に応じてパッドブリッジ44を任意のメタル層に配設してパッド同士を接続するように構成してもよい。また、I/Oブロック41a、41bは、半導体基板53内に在るように図示されているが、実際には半導体基板53上の半導体素子とその上に絶縁膜を介して形成される不図示の任意のメタル層を使用した配線およびコンタクトなどによって構成される。   Here, the pad bridge 44 is illustrated as being the same metal wiring layer as the pads 40b and 40c. However, the pad bridge 44 may be disposed in an arbitrary metal layer to connect the pads as necessary. It may be configured. Further, although the I / O blocks 41a and 41b are illustrated so as to exist in the semiconductor substrate 53, actually, the semiconductor elements on the semiconductor substrate 53 and an insulating film formed thereon are not illustrated. It is comprised by the wiring and contact which used arbitrary metal layers.

以上のような構成の半導体集積回路装置のI/O領域50において、配線部42a、42b、パッドブリッジ44が配設される配線接続領域52を挟んでチップ端側にパッド40b、40dが配設され、内部ロジック領域51側にパッド40a、40cが配設され、それぞれのパッドが千鳥足状に配設されている。このようにパッドを配設することで配線接続領域からのパッドへの距離が短くなって配線インピーダンスを下げることができる。   In the I / O region 50 of the semiconductor integrated circuit device configured as described above, pads 40b and 40d are disposed on the chip end side with the wiring connection region 52 in which the wiring portions 42a and 42b and the pad bridge 44 are disposed. Then, pads 40a and 40c are disposed on the internal logic region 51 side, and the respective pads are disposed in a staggered pattern. By disposing the pads in this way, the distance from the wiring connection region to the pads can be shortened, and the wiring impedance can be lowered.

また、パッド40aのような内部ロジック領域51側に配設されるパッドについては、内部ロジック領域51から直接、配線43を配線することで、パッド40aの配線インピーダンスをさらに下げることができる。さらに、チップ端側のパッド40bと内部ロジック領域51側のパッド40cとをパッドブリッジ44で接続することで、パッド40bへの配線インピーダンスをさらに下げることができる。パッドに接続されるI/Oブロックが特に電源用あるいは接地用のI/Oブロックである場合には、配線43あるいはパッドブリッジ44を用いることで配線インピーダンスを下げてパッドにおける電圧の変動を抑えることができる。   In addition, with respect to a pad arranged on the side of the internal logic area 51 such as the pad 40a, the wiring impedance of the pad 40a can be further reduced by wiring the wiring 43 directly from the internal logic area 51. Further, by connecting the pad 40b on the chip end side and the pad 40c on the internal logic region 51 side by the pad bridge 44, the wiring impedance to the pad 40b can be further reduced. When the I / O block connected to the pad is an I / O block for power supply or grounding in particular, the wiring impedance is lowered by using the wiring 43 or the pad bridge 44 to suppress fluctuations in the voltage at the pad. Can do.

またさらに、LSIのウェハテストにおいて、パッドへの針当て回数に制限があって、テスティングのネックとなっている場合、パッドブリッジによって2つ以上のパッドを共通化し、それぞれのパッドへの針当てを行うことで針当て回数を増やすことができる。   Furthermore, in the LSI wafer test, when there is a limit to the number of times of needle contact to the pad and this is the neck of testing, two or more pads are shared by the pad bridge, and the needle contact to each pad The number of needle hits can be increased by performing.

次に、パッドブリッジの配置方法について説明する。図5(a)は、矩形のI/Oブロック41の長手方向の対称軸に対して配線部42を介して右側にパッドブリッジ44rを配したI/Oブロック41を示している。また、図5(b)は、矩形のI/Oブロック41の長手方向の対称軸に対して配線部42を介して左側にパッドブリッジ44lを配したI/Oブロック41を示している。パッドブリッジの配置配線においては、このような2つのタイプのI/Oブロックの設計データをライブラリ15に予め用意しておく。すなわち、パッドブリッジの配線データとI/Oブロックの配置配線データとを合成した2つのタイプのデータを入出力回路情報17として用意しておく。そして、どのチップ端側のパッドとどの内部ロジック領域51側のパッドとをパッドブリッジで配線するかによって、図5(a)、図5(b)のいずれかのタイプのI/Oブロックのデータを選択するようにする。   Next, a method for arranging the pad bridge will be described. FIG. 5A shows the I / O block 41 in which a pad bridge 44r is arranged on the right side via the wiring part 42 with respect to the longitudinal symmetry axis of the rectangular I / O block 41. FIG. 5B shows the I / O block 41 in which a pad bridge 44l is arranged on the left side with respect to the longitudinal axis of symmetry of the rectangular I / O block 41 via the wiring portion. In the layout and wiring of the pad bridge, design data of these two types of I / O blocks is prepared in the library 15 in advance. That is, two types of data obtained by combining pad bridge wiring data and I / O block layout wiring data are prepared as input / output circuit information 17. Then, depending on which chip end side pad and which internal logic region 51 side pad are wired by a pad bridge, data of the I / O block of either type of FIG. 5A or FIG. 5B is used. To select.

例えば、図5(c)のパッド40bに接続されるI/Oブロック41aでは、パッド40bとバッド40cとをパッドブリッジ44aで配線する場合、図5(a)のタイプのI/Oブロックのデータを選択するようにする。また、図5(c)のパッド40nに接続されるI/Oブロック41nでは、パッド40mとバッド40nとをパッドブリッジ44nで配線する場合、図5(b)のタイプのI/Oブロックのデータを選択するようにする。このようにして選択されたI/OブロックのデータをLSIのチップレイアウト上のI/O領域50に配置配線することで、パッド40b(PAD2)とパッド40c(PAD3)とがパッドブリッジ44aによって自動的に配置配線される。また、パッド40m(PAD9)とパッド40n(PAD10)とがパッドブリッジ44nによって自動的に配置配線される。   For example, in the I / O block 41a connected to the pad 40b of FIG. 5C, when the pad 40b and the pad 40c are wired by the pad bridge 44a, the data of the I / O block of the type of FIG. To select. Further, in the I / O block 41n connected to the pad 40n in FIG. 5C, when the pad 40m and the pad 40n are wired by the pad bridge 44n, the data of the I / O block of the type in FIG. 5B is used. To select. The pad 40b (PAD2) and the pad 40c (PAD3) are automatically set by the pad bridge 44a by arranging and wiring the data of the selected I / O block in the I / O area 50 on the LSI chip layout. Placed and routed. Further, the pad 40m (PAD9) and the pad 40n (PAD10) are automatically arranged and wired by the pad bridge 44n.

このようにI/Oブロックに2つのタイプのパッドブリッジ用レイアウトデータを持たせたデータとすることで、I/Oブロック配設とパッドブリッジ配線を自動的に行うことができ、マニュアル作業によるパッドブリッジ配線を必要としないので設計工数が低減される。   In this way, I / O block layout data and pad bridge wiring can be automatically performed by using two types of pad bridge layout data in the I / O block. Since no bridge wiring is required, the design man-hour is reduced.

本発明の実施形態に係る半導体集積回路装置の設計装置の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a configuration of a design apparatus for a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る配置配線プログラムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the place-and-route program which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る配置配線方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the place-and-route method which concerns on embodiment of this invention. 本発明の設計方法によって作成される半導体集積回路装置の構成を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the structure of the semiconductor integrated circuit device produced by the design method of this invention. 本発明の設計方法によって作成される半導体集積回路装置の配置配線を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the arrangement | positioning wiring of the semiconductor integrated circuit device produced by the design method of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 処理装置
11 入力装置
12 出力装置
13 記憶装置
14 配置配線情報
15 ライブラリ
17 入出力回路情報
18 配置配線結果データ
20 配置配線プログラム
21 配置タイプ判定部
22 データ合成部
40a、40b、40c、40d、40m、40n パッド
41、41a、41b、41n I/Oブロック
42、42a、42b、42n 配線部
43、62a、62b、64a、64b 配線
44、44a、44n、44r、44l パッドブリッジ
50 I/O領域
51 内部ロジック領域
52 配線接続領域
53 半導体基板
61a、61b、63a、63b、65a、65b ビア
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Processing apparatus 11 Input apparatus 12 Output apparatus 13 Storage apparatus 14 Arrangement / wiring information 15 Library 17 Input / output circuit information 18 Arrangement / wiring result data 20 Arrangement / wiring program 21 Arrangement type determination section 22 Data composition section 40a, 40b, 40c, 40d, 40m 40n Pad 41, 41a, 41b, 41n I / O block 42, 42a, 42b, 42n Wiring part 43, 62a, 62b, 64a, 64b Wiring 44, 44a, 44n, 44r, 44l Pad bridge 50 I / O area 51 Internal logic area 52 Wiring connection area 53 Semiconductor substrates 61a, 61b, 63a, 63b, 65a, 65b Vias

Claims (5)

チップ周辺部に配設される入出力回路領域上に電極パッド配置領域が形成され、前記電極パッド配置領域において、電極パッドへの配線接続領域を挟んでチップ端側と内部回路領域側とに前記電極パッドが千鳥足状に配設されている半導体集積回路装置の配線を設計装置がコンピュータ・ソフトウェアによって配線する方法であって、
前記設計装置が、前記入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線される前記チップ端側の第1の電極パッドと前記第1の電極パッドに対向する前記内部回路領域側のいずれかの第2の電極パッドとを配線するための配線データと、前記入出力回路の配置配線データとを合成したデータを元に配置配線を行うに際し、
前記設計装置は、配置情報記憶部とライブラリ記憶部と配置タイプ判定部とデータ合成部とを備え、
前記配置タイプ判定部が、前記入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線される前記チップ端側の第1の電極パッドと前記第1の電極パッドに対向する前記内部回路領域側の第2の電極パッドとの間を接続するパッドブリッジの配置情報と、前記入出力回路の配置情報とを前記配置情報記憶部から読み込むステップと、
前記配置タイプ判定部が、前記パッドブリッジの配置情報と前記入出力回路の配置情報とから、前記入出力回路の配置領域の長手方向の中心軸に対し前記第2の電極パッドが左右いずれの側に存在するかを示す前記パッドブリッジの配置タイプを判定するステップと、
前記データ合成部が、前記判定された配置タイプに対応するパッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを前記ライブラリ記憶部から読み込むステップと、
前記データ合成部が、前記パッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを元に前記入出力回路領域中の配置配線データを合成するステップと、
を含むことを特徴とする半導体集積回路装置の配線方法。
An electrode pad arrangement region is formed on the input / output circuit region disposed in the peripheral portion of the chip, and the electrode pad arrangement region includes the wiring connection region to the electrode pad and the chip end side and the internal circuit region side. A method in which wiring of a semiconductor integrated circuit device having electrode pads arranged in a staggered pattern is wired by computer software using computer software ,
The design apparatus includes a first electrode pad on the chip end side wired via a contact from an input / output circuit in the input / output circuit region, and any of the internal circuit region side facing the first electrode pad. When performing placement and routing based on data obtained by combining the wiring data for wiring the second electrode pad and the placement and routing data of the input / output circuit ,
The design apparatus includes an arrangement information storage unit, a library storage unit, an arrangement type determination unit, and a data synthesis unit,
The arrangement type determination unit is configured such that a first electrode pad on the chip end side wired via a contact from an input / output circuit in the input / output circuit region and the internal circuit region side facing the first electrode pad Reading from the arrangement information storage unit the arrangement information of the pad bridge that connects between the second electrode pads and the arrangement information of the input / output circuit;
The placement type determining unit determines whether the second electrode pad is on the left or right side with respect to the central axis in the longitudinal direction of the placement region of the input / output circuit based on the placement information of the pad bridge and the placement information of the input / output circuit. Determining the placement type of the pad bridge to indicate whether
The data synthesizing unit reads from the library storage unit layout wiring data of an input / output circuit to which a pad bridge corresponding to the determined layout type is added;
The step of synthesizing the placement and routing data in the input / output circuit region based on the placement and routing data of the input / output circuit to which the pad bridge is added;
A method of wiring a semiconductor integrated circuit device, comprising:
前記パッドブリッジは、前記第1および第2の電極パッドと同層のメタル層に配設されることを特徴とする請求項記載の半導体集積回路装置の配線方法。 The pad bridge is the first and the wiring process of a semiconductor integrated circuit device according to claim 1 wherein the second electrode pad and characterized in that it is arranged on the metal layer of the same layer. チップ周辺部に配設される入出力回路領域上に電極パッド配置領域が形成され、前記電極パッド配置領域において、電極パッドへの配線接続領域を挟んでチップ端側と内部回路領域側とに前記電極パッドが千鳥足状に配設されている半導体集積回路装置の設計装置であって、
前記入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線される前記チップ端側の第1の電極パッドと前記第1の電極パッドに対向する前記内部回路領域側のいずれかの第2の電極パッドとの間を接続するパッドブリッジの配置情報と、前記入出力回路の配置情報とを記憶する配置情報記憶部と、
パッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを記憶するライブラリ記憶部と、
前記配置情報記憶部から前記パッドブリッジの配置情報と前記入出力回路の配置情報とを読み込んで、前記入出力回路の配置領域の長手方向の中心軸に対し前記第2の電極パッドが左右いずれの側に存在するかを示す前記パッドブリッジの配置タイプを判定する配置タイプ判定部と、
前記判定された配置タイプに対応するパッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを前記ライブラリ記憶部から読み込んで、前記入出力回路領域中の配置配線データを合成するデータ合成部と、
を備えることを特徴とする半導体集積回路装置の設計装置。
An electrode pad arrangement region is formed on the input / output circuit region disposed in the peripheral portion of the chip, and the electrode pad arrangement region includes the wiring connection region to the electrode pad and the chip end side and the internal circuit region side. A device for designing a semiconductor integrated circuit device in which electrode pads are arranged in a staggered pattern,
The first electrode pad on the chip end side wired via the contact from the input / output circuit in the input / output circuit region and the second one on the internal circuit region side facing the first electrode pad An arrangement information storage unit for storing arrangement information of a pad bridge connecting between electrode pads and arrangement information of the input / output circuit;
A library storage unit for storing the placement and routing data of the input / output circuit to which the pad bridge is added;
The arrangement information storage unit reads the arrangement information of the pad bridge and the arrangement information of the input / output circuit, and the second electrode pad is positioned on either side of the central axis in the longitudinal direction of the arrangement area of the input / output circuit. An arrangement type determination unit that determines an arrangement type of the pad bridge indicating whether the pad bridge exists on the side ;
A data synthesis unit that reads the layout wiring data of the input / output circuit to which the pad bridge corresponding to the determined layout type is added from the library storage unit, and synthesizes the layout wiring data in the input / output circuit area;
An apparatus for designing a semiconductor integrated circuit device, comprising:
前記パッドブリッジは、前記第1および第2の電極パッドと同層のメタル層に配設されることを特徴とする請求項記載の半導体集積回路装置の設計装置。 4. The design apparatus of a semiconductor integrated circuit device according to claim 3 , wherein the pad bridge is disposed in the same metal layer as the first and second electrode pads. チップ周辺部に配設される入出力回路領域上に電極パッド配置領域が形成され、前記電極パッド配置領域において、電極パッドへの配線接続領域を挟んでチップ端側と内部回路領域側とに前記電極パッドが千鳥足状に配設されている半導体集積回路装置の配線を設計する設計装置は、配置情報記憶部とライブラリ記憶部と備え、前記設計装置を構成するコンピュータに、
前記入出力回路領域中の入出力回路からコンタクトを介して配線される前記チップ端側の第1の電極パッドと前記第1の電極パッドに対向する前記内部回路領域側のいずれかの第2の電極パッドとの間を接続するパッドブリッジの配置情報と、前記入出力回路の配置情報とを前記配置情報記憶部から読み込んで、前記入出力回路の配置領域の長手方向の中心軸に対し前記第2の電極パッドが左右いずれの側に存在するかを示す前記パッドブリッジの配置タイプを判定する配置タイプ判定処理と、
前記判定された配置タイプに対応するパッドブリッジが付加された入出力回路の配置配線データを前記ライブラリ記憶部から読み込んで、前記入出力回路領域中の配置配線データを合成するデータ合成処理と、
を実行させるプログラム。
An electrode pad arrangement region is formed on the input / output circuit region disposed in the peripheral portion of the chip, and the electrode pad arrangement region includes the wiring connection region to the electrode pad and the chip end side and the internal circuit region side. A design device for designing wiring of a semiconductor integrated circuit device in which electrode pads are arranged in a staggered pattern includes an arrangement information storage unit and a library storage unit, and a computer constituting the design device includes:
The output circuit from the output circuit in the region of the internal circuit region side where the first electrode pads of the chip end side which is routed through the contact opposite to the first electrode pad or a second and arrangement information of the pad bridges for connecting the electrode pad, and the arrangement information of the input-output circuit reads from the placement information storage unit, the relative longitudinal center axis of the arrangement region of the input-output circuit first An arrangement type determination process for determining an arrangement type of the pad bridge indicating whether the two electrode pads are on the left or right side ;
Loading arrangement wiring data input and output circuit pad bridge is added corresponding to the determined layout type from the library storage unit, and a data synthesizing process for synthesizing the placement and routing data in said output circuit area,
A program that executes
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002270779A (en) * 2001-03-14 2002-09-20 Kawasaki Microelectronics Kk Semiconductor device
JP2002299452A (en) * 2001-03-30 2002-10-11 Fujitsu Ltd Semiconductor integrated circuit and method for designing layout of power source
JP2002303653A (en) * 2001-01-30 2002-10-18 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60113636U (en) * 1984-01-06 1985-08-01 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 Semiconductor integrated circuit device
JPH05121501A (en) * 1991-10-24 1993-05-18 Nec Corp Semiconductor integrated circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002303653A (en) * 2001-01-30 2002-10-18 Hitachi Ltd Semiconductor integrated circuit apparatus
JP2002270779A (en) * 2001-03-14 2002-09-20 Kawasaki Microelectronics Kk Semiconductor device
JP2002299452A (en) * 2001-03-30 2002-10-11 Fujitsu Ltd Semiconductor integrated circuit and method for designing layout of power source

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