JP4550537B2 - System and method for estimating residual insulation life of high-pressure rotating machine - Google Patents

System and method for estimating residual insulation life of high-pressure rotating machine Download PDF

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Description

この発明は、大規模ビルの中枢機能を担う高圧回転機たとえば、空調用のターボ冷凍機や大容量の給排気ファンなどに使用される高圧電動機、あるいは、常用または非常用の電源設備としての高圧発電機などについて、任意の運転経過年数時点における残存絶縁寿命を推定するシステムおよび推定方法に関するものである。   The present invention relates to a high-pressure rotating machine that plays a central role in a large-scale building, for example, a high-pressure motor used for a turbo chiller for air conditioning, a large-capacity supply / exhaust fan, etc., or a high-pressure as a power supply facility for regular or emergency use. The present invention relates to a system and an estimation method for estimating a remaining insulation life at an arbitrary number of years of operation of a generator or the like.

一般に、大規模のビルや工場においては、ビル機能の維持に重要な高圧回転機として、たとえば、空調設備や換気設備などの動力負荷設備として高圧電動機が設置されており、また、商用の電源設備に系統連系された常用の高圧発電機が設置され、あるいは、商用電源のバックアップとして非常用の高圧発電機が設置されている。   In general, large-scale buildings and factories are equipped with high-voltage motors that are important for maintaining building functions, such as high-voltage motors as power load equipment such as air conditioning equipment and ventilation equipment, and commercial power supply equipment. A normal high voltage generator connected to the grid is installed, or an emergency high voltage generator is installed as a backup for commercial power.

これらの高圧回転機において、回転機のコイルなどに施された絶縁物には、回転機の運転および休止の都度、電界ストレスが繰り返し加えられるとともに、運転損失による熱的ストレスや電磁機械的な応力ストレスが複合されて加えられる。
さらに、これらストレスに、吸湿および塵埃などの環境的な劣化要素が作用することにより、高圧回転機の絶縁物においては、いわゆる複合的な絶縁劣化が進んで行くものと考えられている。
In these high-pressure rotating machines, the electric field stress is repeatedly applied to the insulators applied to the coils of the rotating machine every time the rotating machine is operated and stopped, and thermal stress and electromagnetic mechanical stress due to operating loss are also applied. Stress is added in combination.
Furthermore, it is considered that so-called complex insulation deterioration proceeds in the insulator of the high-pressure rotating machine by the environmental degradation factors such as moisture absorption and dust acting on these stresses.

高圧回転機において絶縁事故が発生すると、その場合の影響範囲は、小容量の低圧回転機よりも非常に大きく、ビルや工場の生産性そのものを著しく低下させることになり得る。
また、あってはならないことではあるが、高圧回転機の絶縁事故が引き金となって、ビルや工場の主電気室の遮断機をトリップさせてしまい、この結果、全館停電を引き起こすという事例も散見されている。
When an insulation accident occurs in a high-pressure rotating machine, the range of influence in that case is much larger than that of a low-capacity low-speed rotating machine, and the productivity of the building or factory itself can be significantly reduced.
In addition, there is a case where the high-voltage rotating machine insulation accident triggered a trip of the main electrical room circuit breaker in a building or factory, resulting in a power failure throughout the building. Has been.

このような観点から、重要な負荷設備である高圧回転機設備の保全において、高圧回転機(高圧電動機や高圧発電機)が絶縁事故を起こす以前に、最適な時期にオーバホールを行うか、もしくは高圧回転機そのものを更新するなどの管理を行うことが重要な保全技術につながる。   From this point of view, in the maintenance of high-pressure rotating machine equipment, which is an important load facility, before the high-pressure rotating machine (high-voltage motor or high-voltage generator) causes an insulation accident, Management such as renewing the high-pressure rotating machine itself will lead to important maintenance technology.

高圧回転機の絶縁劣化の進行を判断して、その継続使用の可否判定を行うために、従来から最も多用されている方法としては、定期点検時に測定される絶縁抵抗値(通常、10MΩ〜10000MΩ程度)が基準値(約10MΩ)まで低下した時点で不良と判定する方法があげられる。   In order to determine the progress of insulation deterioration of a high-pressure rotating machine and determine whether or not to continue its use, the most commonly used method has been an insulation resistance value measured during regular inspection (usually 10 MΩ to 10,000 MΩ). The degree is determined to be defective when the level is reduced to a reference value (about 10 MΩ).

この場合、高圧回転機の運転経過年数がたとえば10年〜15年程度であれば、オーバホールによる絶縁物の洗浄および乾燥を行い、場合によっては絶縁含浸材の再含浸を行うようになっている。   In this case, if the operating age of the high-pressure rotating machine is, for example, about 10 to 15 years, the insulator is washed and dried by overhaul, and in some cases, the impregnation material is re-impregnated. .

さらに、運転経過年数が約20年を経過しているような場合には、絶縁回復の度合い、および機器のライフサイクルコストを総合的に判断して、高圧回転機そのものを更新する方法が提案されている。
この場合、判断基準となっている絶縁抵抗値の下限閾値は、高圧回転機の絶縁抵抗値の運転経過年数に対するトレンド、および高圧回転機の絶縁破壊相対値[%]と、乾燥時および吸湿時の絶縁抵抗比の特性にその根拠を置いている。
Furthermore, in the case where about 20 years have elapsed since the operation, a method for renewing the high-pressure rotating machine itself has been proposed by comprehensively judging the degree of insulation recovery and the life cycle cost of the equipment. ing.
In this case, the lower limit threshold value of the insulation resistance value, which is the criterion for judgment, is the trend of the insulation resistance value of the high-pressure rotating machine with respect to the number of years of operation, the relative dielectric breakdown value [%] of the high-pressure rotating machine, and the time of drying and moisture absorption. This is based on the characteristics of the insulation resistance ratio.

具体的には、調査対象とした複数台の高圧回転機の絶縁抵抗データを、現地から工場に持ち帰って受入時の絶縁抵抗値の特性分布データと、工場で洗浄乾燥した後に測定した絶縁抵抗値の特性分布データとにプロットすると、運転経過年数が15年前後のものは、洗浄乾燥による絶縁抵抗値の回復が顕著であるものの、経過年数が20年を過ぎて絶縁抵抗値が10MΩ程度まで低下したものは、洗浄乾燥しても絶縁抵抗値の回復程度は少ないことが解かる。   Specifically, the insulation resistance data of multiple high-voltage rotating machines under investigation were brought back from the site to the factory, the distribution characteristics data of the insulation resistance value at the time of acceptance, and the insulation resistance value measured after washing and drying at the factory Plotting with the characteristic distribution data of Fig. 2 shows that the insulation resistance value by cleaning and drying is remarkable for those with an operation age of around 15 years, but the insulation resistance value decreases to about 10 MΩ after 20 years have passed. It can be seen that there is little recovery of the insulation resistance value after washing and drying.

たとえば、特性図として、乾燥時の絶縁抵抗値RDと吸湿時の絶縁抵抗値RWとの比(=RD/RW)の対数を横軸にとり、調査した絶縁破壊相対値を縦軸にとってプロットすると、吸湿時の絶縁抵抗値RWが低くなってlog(RD/RW)が増大するほど絶縁破壊値が目減りし、log(RD/RW)≒3になると、絶縁破壊のレベルが新品時の50%程度に至ることが解かる。   For example, as a characteristic diagram, plotting the logarithm of the ratio (= RD / RW) of the insulation resistance value RD at the time of drying and the insulation resistance value RW at the time of moisture absorption (= RD / RW) on the horizontal axis, and plotting the measured dielectric breakdown relative value on the vertical axis, As the insulation resistance value RW at the time of moisture absorption decreases and the log (RD / RW) increases, the dielectric breakdown value decreases. When log (RD / RW) ≈3, the dielectric breakdown level is about 50% of the new product. It is understood that it leads to.

また、一般的な絶縁寿命の観点から、絶縁破壊値が新品レベルの半分(50%)まで低下する時点を寿命と見なすことが通常受け入れられている。
したがって、乾燥時の絶縁抵抗値RDを10000MΩとすると、絶縁破壊値が半減するような吸湿時の絶縁抵抗値RWは、10MΩとなる。
このような技術的背景のもとに、従来から採用されている良否判定の目安として、絶縁抵抗値の下限閾値を「10MΩ」に設定してきた経緯がある。
Further, from the viewpoint of a general insulation life, it is generally accepted that the time when the dielectric breakdown value falls to half the new product level (50%) is regarded as the life.
Therefore, when the insulation resistance value RD at the time of drying is 10000 MΩ, the insulation resistance value RW at the time of moisture absorption that reduces the dielectric breakdown value by half is 10 MΩ.
Based on such a technical background, there is a history of setting the lower limit threshold value of the insulation resistance value to “10 MΩ” as a standard for determining pass / fail that has been conventionally employed.

一方、上記下限閾値(10MΩ)を用いた高圧回転機の絶縁良否判定方法に対して、局所的な絶縁劣化の検出確度が高いと考えられる誘電体損失率tanδを用いた第2の良否判定方法も提案されている(たとえば、非特許文献1参照)。
この場合、判断基準となっている誘電体損失率tanδの上限閾値は、高圧回転機のベース誘電体損失率tanδ0の運転経過年数に対するトレンド、および高圧回転機の絶縁破壊相対値[%]とベース誘電体損失率tanδ0との特性にその根拠を置いている。
On the other hand, the second pass / fail judgment method using the dielectric loss rate tan δ, which is considered to have high detection accuracy of local insulation deterioration, compared to the insulation pass / fail judgment method of the high-pressure rotating machine using the lower threshold (10 MΩ). Has also been proposed (see Non-Patent Document 1, for example).
In this case, the upper limit threshold value of the dielectric loss rate tan δ, which is a criterion for judgment, is the trend of the base dielectric loss rate tan δ0 of the high-voltage rotating machine with respect to the number of years of operation, and the relative breakdown value [%] of the high-voltage rotating machine and the base This is based on the characteristic of the dielectric loss rate tan δ0.

この場合の特性分布は、調査対象とした複数台の高圧回転機のベース誘電体損失率tanδ0データを、現地から工場に持ち帰って受入時のベース誘電体損失率tanδ0と、工場で洗浄乾燥した後に測定したベース誘電体損失率tanδ0とに分けてプロットすることにより得られる。   The characteristic distribution in this case is that after the base dielectric loss rate tan δ0 data of a plurality of high-voltage rotating machines that were investigated are brought back to the factory from the site, the base dielectric loss rate tan δ0 at the time of acceptance, and after washing and drying in the factory This is obtained by plotting the measured base dielectric loss rate tan δ0 separately.

この特性図から、運転経過年数が15年前後のものは、洗浄乾燥によるベース誘電体損失率tanδ0の回復が顕著であるが、経過年数が20年を過ぎてtanδ0が10%を超える程度までに悪化したものは、洗浄乾燥してもベース誘電体損失率tanδ0の回復の程度は少ないことが解かる。   From this characteristic diagram, the recovery of the base dielectric loss rate tan δ0 due to cleaning and drying is remarkable for those with an operation age of around 15 years, but the tan δ 0 exceeds 10% after the lapse of 20 years. It can be seen that the deterioration of the base dielectric loss rate tan δ0 is small even after cleaning and drying.

たとえば、特性図として、ベース誘電体損失率tanδ0の値を横軸にとり、調査した絶縁破壊相対値を縦軸にとってプロットすると、特性カーブのバラツキはあるものの、ベース誘電体損失率tanδ0の大きさが増えるほど絶縁破壊値が目減りし、ベース誘電体損失率tanδ0が10%〜20%程度になると、絶縁破壊のレベルが新品時の50%を下回るケースが見られる傾向にあることが解かる。   For example, when the value of the base dielectric loss rate tan δ0 is plotted on the horizontal axis and the measured dielectric breakdown relative value is plotted on the vertical axis, the characteristic curve varies, but the magnitude of the base dielectric loss rate tan δ0 is It can be seen that when the base dielectric loss rate tan δ0 is about 10% to 20%, the breakdown level tends to be less than 50% of the new product as the dielectric breakdown value decreases as the value increases.

また、前述のように、絶縁寿命の観点からすると、絶縁破壊値が新品レベルの半分まで低下する時点を寿命と見なすことが通常受け入れられているので、絶縁破壊値が半減するようなベース誘電体損失率tanδ0は、平均的に見て15%となる。
このような技術的背景のもとに、従来から採用されている良否判定の目安として、ベース誘電体損失率tanδ0の上限閾値を「15%」に設定してきた経緯がある。
In addition, as described above, from the viewpoint of the insulation life, it is generally accepted that the time when the dielectric breakdown value is reduced to half of the new product level is regarded as the life, so that the base dielectric whose dielectric breakdown value is halved The loss rate tan δ0 is 15% on average.
Based on such a technical background, there is a history of setting the upper limit threshold value of the base dielectric loss rate tan δ0 to “15%” as a standard of quality determination that has been conventionally adopted.

このように、従来の高圧回転機のオーバホール(または、更新)の要否判定においては、定期点検時に測定可能な絶縁抵抗値あるいはベース誘電体損失率tanδのレベルに一定の閾値を設け、測定値がこの閾値を超えたか否かの情報と、運転経過年数とを勘案して判定している。   Thus, in determining whether or not overhaul (or renewal) of a conventional high-pressure rotating machine is necessary, a certain threshold value is set for the level of the insulation resistance value or base dielectric loss rate tan δ that can be measured during periodic inspection. Judgment is made in consideration of information whether the value exceeds this threshold and the number of years of operation.

しかし、予防保全の見地から設備管理者が最も要求している残存絶縁寿命については、不明であるので、オーバホールや更新の時期を何年後に設定すべきかについて、定量的な解答を与えることはできなかった。
したがって、高圧回転機の残存絶縁寿命に対する定量的な判断は、調査者または設備管理者の主観に委ねざるを得ず、ときには、タイミングを失した更新計画を立ててしまう結果、更新を目前に控えての絶縁事故を起こしてしまい、大きな経済的損失を与えたり、場合によっては社会的問題を生起する可能性があった。
However, since the remaining insulation life that is most requested by facility managers from the standpoint of preventive maintenance is unknown, it is not possible to give a quantitative answer as to how many years should be set for overhaul and renewal. could not.
Therefore, quantitative judgment on the remaining insulation life of the high-pressure rotating machine must be left to the subjectivity of the investigator or equipment manager. Insulation accidents could occur, resulting in significant economic losses and, in some cases, social problems.

電気学会技術報告II部 第267号IEEJ Technical Report II, Part 267

従来の高圧回転機の管理方法では、運転経過年数に加えて、年次点検時などに測定される絶縁抵抗値の試験データが、たとえば管理レベル(10MΩ)以上を示しているか否かを目安として、高圧回転機の良否判定および更新判定を行い、設備管理者などの主観的な判断で更新時期が決定されていた。
しかしながら、「定期的な点検もしくは検査の本来の目的は点検および検査時における余寿命を知り、今後の修繕(オーバホール)、あるいは更新計画に反映したい」という設備管理者の要求に応えるような、残存絶縁寿命の定量的評価を実現する方法および寿命を推定するシステム(ソフトウエア)が存在しないので、残存絶縁寿命を推定することができないという課題があった。
したがって、管理が行き届かず、高圧回転機の修繕または更新のタイミングを失したことによる絶縁破壊事故のリスクが大きいという課題があった。
In the conventional high-pressure rotating machine management method, in addition to the number of years of operation, whether or not the test data of the insulation resistance value measured at the time of annual inspection, for example, indicates a management level (10 MΩ) or higher Then, the quality determination and renewal determination of the high-pressure rotating machine were performed, and the renewal time was determined by subjective judgment of the equipment manager or the like.
However, the original purpose of periodic inspection or inspection is to know the remaining life at the time of inspection and inspection and reflect it in future repairs (overhaul) or renewal plans. Since there is no method for realizing a quantitative evaluation of the remaining insulation life and a system (software) for estimating the life, there is a problem that the remaining insulation life cannot be estimated.
Therefore, there is a problem that the risk of dielectric breakdown accident due to the lack of management and loss of the timing of repair or renewal of the high-pressure rotating machine is high.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、ビルなどで稼動している高圧回転機(高圧電動機や高圧発電機)に関して、定期点検時あるいは不定期の点検時における非破壊絶縁データに基づいて、絶縁破壊に至るまでの統計的な残存年数を推定し、絶縁破壊のリスクを最小限に抑制して、予防保全ならびに計画的な修繕計画に反映することのできる高圧回転機の残存絶縁寿命推定システムおよび推定方法を得ることを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems. Regarding high-voltage rotating machines (high-voltage motors and high-voltage generators) operating in buildings, the present invention is used at the time of periodic inspection or irregular inspection. Based on non-destructive insulation data, high voltage that can estimate the statistical remaining years until dielectric breakdown, minimize the risk of dielectric breakdown, and reflect it in preventive maintenance and planned repair plans It is an object of the present invention to obtain a remaining insulation life estimation system and estimation method for a rotating machine.

この発明による高圧回転機の残存絶縁寿命推定システムは、任意の運転経過年数時点における高圧回転機の残存絶縁寿命を推定するシステムであって、高圧回転機に関してあらかじめ知られている複数の非破壊絶縁データおよび破壊電圧データを含むデータベースと、高圧回転機に関する現在の絶縁抵抗値または誘電体損失率を絶縁データとして取得する絶縁データ測定手段と、データベースを絶縁指標別に統計的重回帰解析して時間経過に対するデータ値の傾斜パラメータを推定する統計的重回帰解析手段と、絶縁データおよび傾斜パラメータに基づいて、複数段階の各信頼度に対する絶縁データの現在レベルを決定する現在レベル決定手段と、傾斜パラメータおよび現在レベルに基づいて高圧回転機の残存絶縁寿命を推定する残存絶縁寿命推定手段とを備え、残存絶縁寿命推定手段は、今後の運転経過年数に対する各信頼度における絶縁データが、傾斜パラメータに沿って悪化して破壊に至ると予想される非破壊絶縁データ閾値に到達するまでの期間を残存絶縁寿命として推定するものである。 The system for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine according to the present invention is a system for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine at an arbitrary number of years of operation. Data including data and breakdown voltage data, insulation data measurement means to obtain the current insulation resistance value or dielectric loss rate for high-voltage rotating machines as insulation data, and statistical multiple regression analysis of the database for each insulation index and time passage Statistical multiple regression analysis means for estimating the slope parameter of the data value with respect to the current level determination means for determining the current level of the insulation data for each of the reliability of the plurality of stages based on the insulation data and the slope parameter, the slope parameter and Remaining insulation life that estimates the remaining insulation life of high-pressure rotating machines based on the current level And the remaining insulation life estimation means reaches a non-destructive insulation data threshold at which the reliability data for each reliability with respect to the future operating years in the future is expected to deteriorate along the slope parameter and lead to destruction. The period until is estimated as the remaining insulation life.

また、この発明による高圧回転機の残存絶縁寿命推定方法は、任意の運転経過年数時点における高圧回転機の残存絶縁寿命を推定する方法であって、高圧回転機に関してあらかじめ知られている複数の非破壊絶縁データおよび破壊電圧データを含むデータベースを取得するステップと、高圧回転機に関する現在の絶縁抵抗値または誘電体損失率を絶縁データとして測定するステップと、データベースを絶縁指標別に統計的重回帰解析して時間経過に対するデータ値の傾斜パラメータを推定するステップと、絶縁データおよび傾斜パラメータに基づいて、複数段階の各信頼度に対する絶縁データの現在レベルを決定するステップと、傾斜パラメータおよび現在レベルに基づいて、今後の運転経過年数に対する各信頼度における絶縁データが、傾斜パラメータに沿って悪化して破壊に至ると予想される非破壊絶縁データ閾値に到達するまでの期間を残存絶縁寿命として推定するステップとを備えたものである。 The method for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine according to the present invention is a method for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine at an arbitrary number of years of operation. Obtaining a database containing breakdown insulation data and breakdown voltage data, measuring the current insulation resistance value or dielectric loss rate for high-voltage rotating machines as insulation data, and performing a statistical multiple regression analysis on the database for each insulation index Estimating the slope parameter of the data value over time, determining the current level of insulation data for each of the multiple levels of reliability based on the insulation data and the slope parameter, and based on the slope parameter and the current level Insulation data at each reliability level for future operating years It is obtained by a step of estimating the time to reach the non-destructive insulation data threshold is expected to lead to destruction worse along the parameter as residual insulation life.

この発明によれば、任意時点で測定された非破壊絶縁データに基づいて、絶縁破壊に至るまでの残存絶縁寿命を定量的に評価することができるので、タイムリなオーバホール、または機器の更新計画を策定することができ、したがって、従来のように修繕または更新のタイミングを失したことによる高圧回転機の突発的な絶縁事故の発生を防止することができる。   According to the present invention, the remaining insulation life until dielectric breakdown can be quantitatively evaluated based on the non-destructive insulation data measured at an arbitrary time point, so that a timely overhaul or equipment update plan can be obtained. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of a sudden insulation accident of the high-pressure rotating machine due to the loss of repair or renewal timing as in the past.

実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1に係る高圧回転機の残存絶縁寿命推定システムを概略的に示すブロック図である。
図1において、高圧回転機100に関連した残存絶縁寿命推定システムは、データベース1と、絶縁データ測定手段2と、統計的重回帰解析手段3と、現在レベル決定手段4と、残存絶縁寿命推定手段5と、表示手段6とを備えている。
Embodiment 1 FIG.
1 is a block diagram schematically showing a residual insulation life estimation system for a high-pressure rotating machine according to Embodiment 1 of the present invention.
In FIG. 1, the remaining insulation life estimation system related to the high-pressure rotating machine 100 includes a database 1, insulation data measurement means 2, statistical multiple regression analysis means 3, current level determination means 4, and remaining insulation life estimation means. 5 and display means 6.

データベース1は、高圧回転機100に関して、あらかじめ知られている(たとえば、前述の非特許文献1に公表された)複数の非破壊絶縁データおよび破壊電圧データなどを含む。   The database 1 includes a plurality of non-destructive insulation data and breakdown voltage data that are known in advance with respect to the high-pressure rotating machine 100 (for example, published in the aforementioned Non-Patent Document 1).

絶縁データ測定手段2は、定期点検時または非定期の任意点検時に、オペレータにより使用されて、高圧回転機100に関する現在の絶縁抵抗値Riまたは誘電体損失率tanδiを絶縁データとして取得する。
なお、表示手段6は、キーボードなどの入力手段を有しており、取得された絶縁データRi、tanδiは、入力手段の操作により、後述するように、表示手段6の画面を介して入力される。
The insulation data measuring means 2 is used by an operator at the time of periodic inspection or non-periodic arbitrary inspection, and acquires the current insulation resistance value Ri or dielectric loss rate tan δi related to the high-pressure rotating machine 100 as insulation data .
The display means 6 has input means such as a keyboard, and the obtained insulation data Ri and tan δi are input via the screen of the display means 6 as will be described later by operation of the input means. .

統計的重回帰解析手段3は、データベース1内のデータ値を絶縁指標別に統計的重回帰解析して、時間経過に対するデータ値の傾斜パラメータPを推定する。
現在レベル決定手段4は、絶縁データRi、tanδiおよび傾斜パラメータPに基づいて、複数段階(50%、90%、95%、99%)の各信頼度に対する絶縁データRi、tanδiの現在レベルを決定する。
The statistical multiple regression analysis means 3 performs a statistical multiple regression analysis of the data values in the database 1 for each insulation index, and estimates the slope parameter P of the data values with respect to time.
Based on the insulation data Ri, tan δi and the inclination parameter P, the current level determination means 4 determines the current level of the insulation data Ri, tan δi for each reliability in a plurality of stages (50%, 90%, 95%, 99%). To do.

残存絶縁寿命推定手段5は、絶縁データRi、tanδiの現在レベルおよび傾斜パラメータPに基づいて高圧回転機100の残存絶縁寿命を推定する。
具体的には、残存絶縁寿命推定手段5は、今後の運転経過年数に対する各信頼度における絶縁データRi、tanδiが、傾斜パラメータPに沿って悪化して破壊に至ると予想される非破壊絶縁データ閾値に到達するまでの期間を残存絶縁寿命として推定する。
The remaining insulation life estimation means 5 estimates the remaining insulation life of the high-pressure rotating machine 100 based on the current level of the insulation data Ri and tan δi and the inclination parameter P.
Specifically, the remaining insulation life estimation means 5 is the non-destructive insulation data in which the insulation data Ri and tan δi at each reliability with respect to the years of operation in the future are expected to deteriorate along the slope parameter P and lead to destruction. The period until the threshold is reached is estimated as the remaining insulation life.

表示手段6は、後述するように、操作パネル機能を有する各種メニュー画面を切換表示するとともに、オペレータ操作に応じて残存絶縁寿命推定手段5の推定結果を表示するようになっている。
また、表示手段6には、必要に応じてプリンタが接続されている。
As will be described later, the display unit 6 switches and displays various menu screens having an operation panel function, and displays the estimation result of the remaining insulation life estimation unit 5 in accordance with an operator operation.
Further, a printer is connected to the display means 6 as necessary.

図2は図1内の表示手段6に出力される残存絶縁寿命の診断結果の表示例を帳票20として示す説明図である。
また、図3、図4は図1の残存絶縁寿命推定システムの処理動作を画面フローで示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing a display example of a diagnosis result of the remaining insulation life output to the display means 6 in FIG.
3 and 4 are explanatory diagrams showing the processing operation of the remaining insulation life estimation system of FIG. 1 in a screen flow.

図2において、表示される帳票20は、帳票のタイトルおよびメニュー部分21と、被診断対象となる高圧回転機100の絶縁データのデータ記載部分22と、アルゴリズム部分(残存絶縁寿命を推定するシミュレーション図)23と、各信頼度に対する残存絶縁寿命(追加所見リスト)の記載部分24と、自動選択された診断所見の記載部分25とを有する。   In FIG. 2, the displayed form 20 includes a form title and menu part 21, a data description part 22 of insulation data of the high-pressure rotating machine 100 to be diagnosed, and an algorithm part (a simulation diagram for estimating the remaining insulation life). ) 23, a description portion 24 of the remaining insulation life (additional finding list) for each reliability, and a description portion 25 of the automatically selected diagnostic findings.

メニュー部分21には、調査対象の高圧回転機の仕様および製造年月のほか、建物名称、調査年月、調査に用いた機材名などが記載される。
データ記載部分22には、たとえば調査対象の高圧回転機の絶縁点検をtanδで実行した場合、そのデータが記載される。
アルゴリズム部分23は、調査時のtanδiの値から、各信頼度別の残存絶縁寿命をシミュレーション的に演算推定するアルゴリズムを示している。
In the menu portion 21, the name of the building, the date of survey, the name of the equipment used for the survey, and the like are described in addition to the specifications and date of manufacture of the high-pressure rotating machine to be surveyed.
In the data description part 22, for example, when the insulation inspection of the high-pressure rotating machine to be investigated is executed with tan δ, the data is described.
The algorithm part 23 shows an algorithm for calculating and estimating the remaining insulation life for each reliability from the value of tan δi at the time of investigation.

残存絶縁寿命の記載部分24には、アルゴリズム部分23のシミュレーションから得られる信頼度別の残存絶縁寿命が記載される。
追加所見の記載部分25には、残存絶縁寿命の記載部分24の推定結果をパターン化し、あらかじめ登録された診断所見が自動出力されるとともに、調査者により任意に追加所見が記載される。
In the description 24 of the remaining insulation life, the remaining insulation life for each reliability obtained from the simulation of the algorithm portion 23 is described.
In the additional finding description portion 25, the estimation result of the description portion 24 of the remaining insulation life is patterned, and the diagnostic findings registered in advance are automatically output, and the additional finding is arbitrarily described by the investigator.

図3、図4において、各画面31〜35、41〜44、51〜54は、オペレータとの間の対話操作に応じて、表示手段6に表示される。
メインメニュー画面31は、診断データ入力画面32、診断データ読み出し画面33、35を選択可能になっている。
3 and 4, the screens 31 to 35, 41 to 44, and 51 to 54 are displayed on the display unit 6 in accordance with an interactive operation with the operator.
On the main menu screen 31, a diagnostic data input screen 32 and diagnostic data read screens 33 and 35 can be selected.

一方の診断データ読み出し画面33は、単独処理により選択され、単独処理メニュー画面34との間で双方向に関連しており、他方の診断データ読み出し画面35は、報告書出力処理により選択される。   One diagnostic data read screen 33 is selected by a single process and is interactively related to the single process menu screen 34, and the other diagnostic data read screen 35 is selected by a report output process.

単独処理メニュー画面34は、残存寿命シミュレーショングラフ画面41、51、残存寿命推定表出力画面42、52、所見文章確認画面43、53、および、ファイル(報告書データ)保存画面44、54との間で双方向に関連しており、各画面41〜44、51〜54を選択可能になっている。   The single processing menu screen 34 is between the remaining life simulation graph screens 41 and 51, the remaining life estimation table output screens 42 and 52, the observation sentence confirmation screens 43 and 53, and the file (report data) storage screens 44 and 54. The screens 41 to 44 and 51 to 54 can be selected.

各画面41〜44は、データベースから誘電体損失率tanδが選択された場合の画面であり、各画面51〜54は、データベースから絶縁抵抗値Rが選択された場合の画面である。
残存寿命シミュレーショングラフ画面41、51においては、傾斜パラメータPに基づく特性直線が表示され、残存寿命推定表出力画面42、52においては、推定された寿命が各信頼度(50%、90%、95%、99%)ごとに表示される。
The screens 41 to 44 are screens when the dielectric loss rate tan δ is selected from the database, and the screens 51 to 54 are screens when the insulation resistance value R is selected from the database.
In the remaining life simulation graph screens 41 and 51, a characteristic line based on the slope parameter P is displayed, and in the remaining life estimation table output screens 42 and 52, the estimated life is represented by each reliability (50%, 90%, 95). %, 99%).

次に、図3、図4の説明図を参照しながら、図1の残存絶縁寿命推定システムを用いて図2に示す帳票20が得られる動作について説明する。
寿命推定フローを示す図3、図4において、まず、メインメニュー画面31上で、たとえば診断データ入力メニューを選択すると、診断データ入力画面32が表示される。
続いて、診断データ入力画面32上で、調査対象の建物名称、調査対象の高圧回転機の仕様や製造年月などを対話形式で入力する。
Next, an operation for obtaining the form 20 shown in FIG. 2 using the remaining insulation life estimation system of FIG. 1 will be described with reference to the explanatory diagrams of FIGS.
3 and 4 showing the life estimation flow, first, for example, when a diagnostic data input menu is selected on the main menu screen 31, a diagnostic data input screen 32 is displayed.
Subsequently, on the diagnostic data input screen 32, the name of the building to be surveyed, the specifications and the date of manufacture of the high-pressure rotating machine to be surveyed, and the like are input in an interactive format.

最後に、診断データ入力画面32上で、診断データとして、絶縁指標となる誘電体損失率tanδ(測定値tanδi)および絶縁抵抗値R(測定値Ri)のいずれかを選択する。
その後、図示されていないが、診断データのファイル登録のプロセスを経て、再びメインメニュー画面31に戻る。
Finally, on the diagnostic data input screen 32, either a dielectric loss rate tan δ (measured value tan δi) or an insulation resistance value R (measured value Ri) serving as an insulation index is selected as diagnostic data.
Thereafter, although not shown in the drawing, the process returns to the main menu screen 31 again through the process of registering the diagnostic data file.

ここでは、絶縁指標として誘電体損失率tanδを選択し、そのデータ値を入力した場合における画面41〜44に関する手順について説明する。
なお、絶縁指標として絶縁抵抗値Rを選択した場合の画面51〜54に関する処理手順(後述する)は、この場合とほぼ同様である。
Here, a procedure related to the screens 41 to 44 when the dielectric loss rate tan δ is selected as the insulation index and the data value is input will be described.
Note that the processing procedure (described later) regarding the screens 51 to 54 when the insulation resistance value R is selected as the insulation index is substantially the same as this case.

次に、メインメニュー画面31上で単独処理メニューを選択すると、診断データ読み出し画面33が表示される。
続いて、診断データ読み出し画面33の中から、登録した物件ファイルを選択すると、単独処理メニュー画面34に進む。以下、単独処理メニュー画面34上の処理メニューについて、図中の上段から番号1〜6の順番に処理が遂行される。
Next, when the single processing menu is selected on the main menu screen 31, a diagnostic data read screen 33 is displayed.
Subsequently, when the registered property file is selected from the diagnostic data readout screen 33, the process proceeds to the single processing menu screen 34. Hereinafter, the processing menus on the single processing menu screen 34 are processed in the order of numbers 1 to 6 from the top in the figure.

単独処理メニュー画面34において、まず、1番目の残存絶縁寿命シミュレーショングラフを選択すると、残存寿命シミュレーショングラフ画面41が表示される。
続いて、残存寿命シミュレーショングラフ画面41を確認した後、単独処理メニュー画面34に戻ると、単独処理メニュー画面34上の処理メニューのチェックボックスが塗りつぶされているので、次に、2番目の残存寿命推定出力メニューを選択することになる。
When the first remaining insulation life simulation graph is selected on the single processing menu screen 34, a remaining life simulation graph screen 41 is displayed.
Subsequently, after checking the remaining life simulation graph screen 41 and returning to the single processing menu screen 34, the check box of the processing menu on the single processing menu screen 34 is filled. The estimated output menu will be selected.

これにより、残存寿命推定表出力画面42が表示され、入力した誘電体損失率tanδのデータ値と各信頼度別の残存絶縁寿命が表示されるので、オペレータはこれらの出力値を確認する。
その後、再び単独処理メニュー画面34に戻ると、これまでの2つの処理メニューのチェックボックスが塗りつぶされているので、3番目の所見文章確認メニューに進む。
As a result, the remaining life estimation table output screen 42 is displayed, and the data value of the input dielectric loss rate tan δ and the remaining insulation life for each reliability are displayed. The operator confirms these output values.
Thereafter, when returning to the single processing menu screen 34 again, since the check boxes of the two processing menus so far are filled, the process proceeds to the third finding sentence confirmation menu.

このとき、残存絶縁寿命推定手段5(図1参照)は、推定された残存絶縁寿命の長短および運転経過年数などを考慮して、あらかじめ登録された所見文章(たとえば、6パターン)の中から、最適な所見文章確認画面43を自動的に選択表示する。
以下、オペレータは、所見文章確認画面43を確認し、場合によっては、必要に応じた加筆修正を行う。
At this time, the remaining insulation life estimation means 5 (see FIG. 1) considers the estimated remaining insulation life and the number of years of operation, etc., from among the previously registered finding sentences (for example, 6 patterns), The optimum finding sentence confirmation screen 43 is automatically selected and displayed.
Hereinafter, the operator confirms the finding sentence confirmation screen 43 and, depending on the case, makes corrections as necessary.

その後、単独処理メニュー画面34に戻って、4番目の報告書プリンタ出力を選択すると、帳票20(図2参照)の印刷プレビューが表示されるので、これを確認した後に印刷処理を実行する。   Thereafter, returning to the single processing menu screen 34 and selecting the fourth report printer output, a print preview of the form 20 (see FIG. 2) is displayed. After confirming this, the print processing is executed.

最終的には、単独処理メニュー画面34に戻って、5番目の報告書ファイル保存メニューを選択し、ファイル保存画面44上で報告書の登録保存を実行した後に、単独処理メニュー画面34上の処理メニューの最後(6番目)の終了メニューを選択することにより、一連の単独処理操作(図3、図4参照)を終了する。   Finally, the process returns to the single processing menu screen 34, selects the fifth report file storage menu, executes registration and storage of the report on the file storage screen 44, and then performs processing on the single processing menu screen 34. By selecting the last (sixth) end menu of the menu, a series of single processing operations (see FIGS. 3 and 4) is ended.

次に、図5〜図7の説明図を参照しながら、残存絶縁寿命の絶縁指標として誘電体損失率tanδを選択した場合におけるこの発明の実施の形態1による寿命推定アルゴリズムについて説明する。
図5および図6は統計的重回帰解析手段3の処理に対応し、図7は現在レベル決定手段4および残存絶縁寿命推定手段5の処理に対応している。
Next, the life estimation algorithm according to the first embodiment of the present invention when the dielectric loss rate tan δ is selected as the insulation index of the remaining insulation life will be described with reference to the explanatory diagrams of FIGS.
5 and 6 correspond to the processing of the statistical multiple regression analysis means 3, and FIG. 7 corresponds to the processing of the current level determination means 4 and the remaining insulation life estimation means 5.

図5は既知の(たとえば、非特許文献1で公表された)高圧回転機100に関する誘電体損失率tanδのデータベース値を示す説明図である。
図6は図5のデータベース値を重回帰解析した誘電体損失率tanδに関する回帰直線および近似式を示す説明図である。
図7は高圧回転機100の誘電体損失率の調査値tanδiから統計的な残存絶縁寿命をシミュレーション推定するための説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a database value of the dielectric loss rate tan δ relating to a known high-pressure rotating machine 100 (for example, published in Non-Patent Document 1).
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a regression line and an approximate expression regarding the dielectric loss rate tan δ obtained by performing multiple regression analysis on the database value of FIG.
FIG. 7 is an explanatory diagram for simulating the statistical remaining insulation life from the investigation value tan δi of the dielectric loss rate of the high-pressure rotating machine 100.

図5においては、横軸に運転経過年数をとり、縦軸に誘電体損失率tanδの値をとり、従来技術のベースとなっていた誘電体損失率tanδのデータ値のうち、工場受け入れ時の誘電体損失率tanδの各データ値をプロット(◆印を参照)で示している。   In FIG. 5, the horizontal axis represents the number of years of operation, the vertical axis represents the value of the dielectric loss rate tan δ, and among the data values of the dielectric loss rate tan δ that was the basis of the prior art, Each data value of the dielectric loss rate tan δ is shown by a plot (see the mark ◆).

図5のように、誘電体損失率tanδの値は、同じ運転経過年数であっても広範囲にばらついているので、統計的重回帰解析手段3は、これらのデータ値を統計的に扱い重回帰解析を行うことにより、図6のような解析結果を取得する。   As shown in FIG. 5, since the value of the dielectric loss rate tan δ varies over a wide range even in the same operation years, the statistical multiple regression analysis means 3 treats these data values statistically and performs multiple regression. By performing the analysis, an analysis result as shown in FIG. 6 is acquired.

ここでは、図5に示した誘電体損失率tanδのデータ値(◆印)を運転経過年数の長短に依存した5つのゾーンに分け、各ゾーン別に、正規分布の高域側の誘電体損失率tanδの発生確率に対応するデータ値を求めるものとする。
たとえば、10年〜12.5年、12.5年〜15年、15年〜17.5年、17.5年〜20年、20年〜22.5年、の5つのゾーンに分けることにより、すべてのデータを効率的に処理することができる。
Here, the data value (marked by ◆) of the dielectric loss rate tan δ shown in FIG. 5 is divided into five zones depending on the length of operating years, and the dielectric loss rate on the high frequency side of the normal distribution for each zone. Assume that a data value corresponding to the occurrence probability of tan δ is obtained.
For example, by dividing into 5 zones of 10 years to 12.5 years, 12.5 years to 15 years, 15 years to 17.5 years, 17.5 years to 20 years, 20 years to 22.5 years All data can be processed efficiently.

図6において、50%の発生確率を示すデータ値(tanδ)は、「□内の■印」でプロットされ、10%、5%、1%の各発生確率でのデータ値(tanδ)は、それぞれ、「△内の黒三角印」、「○内の×印」、「□内の*印」でプロットされている。
これら4通りの発生確率(50%、10%、5%、1%)別に、各5ゾーンのプロットに対して重回帰解析を遂行することにより、以下のように、重回帰直線L1〜L4の1次近似式(1)〜(4)が得られる。
In FIG. 6, the data value (tan δ) indicating the occurrence probability of 50% is plotted with “■ mark in □”, and the data value (tan δ) at each occurrence probability of 10%, 5%, and 1% is Plotted with “black triangle mark in Δ”, “x mark in ○”, and “* mark in □”, respectively.
By performing multiple regression analysis on the plots of each of the five zones for each of these four occurrence probabilities (50%, 10%, 5%, 1%), the multiple regression lines L1 to L4 are expressed as follows: Primary approximation formulas (1) to (4) are obtained.

y=0.8063x+ 0.7747 ・・・(1)
y=0.8634x+ 6.5500 ・・・(2)
y=0.8796x+ 8.1872 ・・・(3)
y=0.9100x+11.2580 ・・・(4)
y = 0.0.806x + 0.7747 (1)
y = 0.8634x + 6.5500 (2)
y = 0.8796x + 8.18772 (3)
y = 0.9100x + 11.2580 (4)

上記近似式(1)〜(4)において、xは横軸の運転経過年数を示し、yは縦軸のデータ値(tanδ[%])を示す。
また、各重回帰直線L1〜L4を示す1次近似式(1)〜(4)のうち、直線L1の近似式(1)は50%の発生確率に対応し、また、直線L2〜L4の近似式(2)〜(4)は、それぞれ、10%、5%、1%の各発生確率に対応している。
なお、図6のように重回帰解析によって得られた各回帰直線L1〜L4の相関係数は、十分に良好な値(たとえば、0.7〜0.9)を示すことが実験的に分かっている。
In the above approximate expressions (1) to (4), x indicates the elapsed operation years on the horizontal axis, and y indicates the data value (tan δ [%]) on the vertical axis.
Of the first-order approximation formulas (1) to (4) representing the multiple regression lines L1 to L4, the approximation formula (1) of the straight line L1 corresponds to an occurrence probability of 50%, and the straight lines L2 to L4 The approximate expressions (2) to (4) correspond to the occurrence probabilities of 10%, 5%, and 1%, respectively.
It is experimentally found that the correlation coefficients of the regression lines L1 to L4 obtained by the multiple regression analysis as shown in FIG. 6 show sufficiently good values (for example, 0.7 to 0.9). ing.

ところで、任意の現場において調査対象となる高圧回転機100の定期点検時に測定される誘電体損失率tanδiは、高圧回転機100の調査時点に取得される唯一の絶縁データであるので、統計的には、高圧回転機100の運転経過年数での50%の発生確率のデータ値(tanδ)として扱われる。   By the way, since the dielectric loss rate tan δi measured at the regular inspection of the high-pressure rotating machine 100 to be investigated at an arbitrary site is the only insulation data acquired at the time of investigation of the high-pressure rotating machine 100, it is statistically Is treated as a data value (tan δ) with an occurrence probability of 50% over the years of operation of the high-pressure rotating machine 100.

したがって、図7の残存シミュレーション説明図に示すように、現在時点で測定された絶縁データ値(tanδ)を通る50%の信頼度曲線L50と、その上位に90%、95%、および99%の各信頼度曲線L90、L95およびL99を位置付けることができる。   Therefore, as shown in the remaining simulation explanatory diagram of FIG. 7, the reliability curve L50 of 50% passing through the insulation data value (tan δ) measured at the current time point, and 90%, 95%, and 99% of the upper level are shown. Each confidence curve L90, L95 and L99 can be located.

これらの信頼度曲線L50、L90、L95、L99は、現在時点と同じ運転経過年数(この場合、17年)に対応させて、図6におけるたとえば10%の発生確率の回帰直線L3と、50%の発生確率の回帰直線L1との位置関係を配慮することによって、図7内の90%の信頼度曲線L90が位置付けされる。
現在時点における95%および99%の信頼度曲線L95、L99についても、図6をベースとして同様に位置付けされる。
また、これら4本の信頼度曲線L50、L90、L95、L99の運転経過年数に対する依存性は、前述の近似式(1)〜(4)の各傾斜パラメータを採用して描かれている。
These reliability curves L50, L90, L95, and L99 correspond to the same number of years of operation as the current time point (in this case, 17 years), for example, a regression line L3 with an occurrence probability of 10% in FIG. The 90% reliability curve L90 in FIG. 7 is positioned by considering the positional relationship between the occurrence probability and the regression line L1.
The 95% and 99% reliability curves L95 and L99 at the current time are similarly positioned based on FIG.
In addition, the dependency of these four reliability curves L50, L90, L95, and L99 on the number of years of operation is drawn by employing the slope parameters of the above-described approximate equations (1) to (4).

図7においては、高圧回転機100の絶縁破壊レベルが新品時のレベルよりも半減するようなデータ値(tanδ)として、従来から採用されてきた上限閾値TH(tanδ=15%に対応)で示されている。   In FIG. 7, the data value (tan δ) that causes the dielectric breakdown level of the high-pressure rotating machine 100 to be halved from the level at the time of a new product is indicated by an upper limit threshold TH (corresponding to tan δ = 15%) that has been conventionally employed. Has been.

残存絶縁寿命推定手段5は、上記の各信頼度(50%、90%、95%、99%)のシミュレーション曲線L50〜L99が上限閾値THと交叉する点に対応させて、たとえば、運転経過年数T50と現在の運転経過年数(17年)との差から、50%の信頼度の残存絶縁寿命を演算する。
同様に、運転経過年数T90、T95およびT99と現在の運転経過年数との差から、それぞれ、90%、95%および99%の残存絶縁寿命を定量的に演算する。
The remaining insulation life estimation means 5 corresponds to the point where the simulation curves L50 to L99 of the respective reliability (50%, 90%, 95%, 99%) intersect with the upper limit threshold value TH, for example, the elapsed years of operation. From the difference between T50 and the current operation age (17 years), the remaining insulation life of 50% reliability is calculated.
Similarly, the remaining insulation lifetimes of 90%, 95% and 99% are calculated quantitatively from the difference between the operating years T90, T95 and T99 and the current operating years.

以上のように、この発明の実施の形態1によれば、前述の非特許文献1で公表されたデータベース1に含まれる多くの高圧回転機100の絶縁データ値(tanδ)を、重回帰解析した統計的分析結果と、従来の高圧回転機100の絶縁データ値(tanδ)に対する良否判定用の上限閾値THとを組合せることにより、従来技術では実現し得なかった定量的な残存絶縁寿命推定を実現することができる。したがって、重要設備である高圧回転機100の合理的な予防保全に貢献できるという効果が得られる。   As described above, according to Embodiment 1 of the present invention, the multiple regression analysis was performed on the insulation data values (tan δ) of many high-pressure rotating machines 100 included in the database 1 published in Non-Patent Document 1 described above. By combining the statistical analysis result and the upper / lower threshold TH for quality determination with respect to the insulation data value (tan δ) of the conventional high-pressure rotating machine 100, quantitative residual insulation life estimation that cannot be realized by the conventional technology can be performed. Can be realized. Therefore, the effect that it can contribute to the rational preventive maintenance of the high-pressure rotating machine 100 which is an important facility is obtained.

つまり、定期点検時または非定期の点検時に取得された非破壊絶縁抵抗値Riまたは誘電体損失率tanδの値から、非特許文献1から知られている下限閾値(絶縁抵抗値Rの下限管理レベル、誘電体損失率tanδの上限管理レベル)に到達すると予想される年数を統計的に推定することができる。   That is, the lower limit threshold (the lower limit management level of the insulation resistance value R) known from Non-Patent Document 1 is determined from the non-destructive insulation resistance value Ri or the dielectric loss rate tan δ acquired at the time of periodic inspection or non-periodic inspection. The number of years expected to reach the upper limit management level of the dielectric loss rate tan δ can be statistically estimated.

すなわち、統計的重回帰解析手段3は、非特許文献1などで公表されている多くの高圧回転機100に関する非破壊絶縁データおよび貴重な破壊電圧などを含むデータベース1を踏まえて、これらを統計的に重回帰解析する。
また、現在レベル決定手段4は、任意の時点で測定された絶縁データ(絶縁抵抗値Riまたは誘電体損失率tanδi)から、50%の信頼度の現在レベル、および90%、95%、99%などの信頼度に対するそれぞれ現在レベルを決定する。
That is, the statistical multiple regression analysis means 3 statistically analyzes these data based on the database 1 including non-destructive insulation data and valuable breakdown voltages regarding many high-voltage rotating machines 100 published in Non-Patent Document 1 and the like. Multiple regression analysis.
Further, the current level determining means 4 calculates the current level of 50% reliability and 90%, 95%, 99% from the insulation data (insulation resistance value Ri or dielectric loss rate tan δi) measured at an arbitrary time point. The current level for each reliability level is determined.

これにより、残存絶縁寿命推定手段5は、現在レベルに基づいて、今後の運転経過年数に対する各信頼度における絶縁指標別の重回帰解析で推定された傾斜パラメータP(特性曲線の傾き)に沿って、絶縁データが悪化して破壊に至ると予想される非破壊絶縁データの閾値(誘電体損失率tanδに対する上限閾値TH、または、絶縁抵抗値Rに対する下限閾値)に到達するまでの残存絶縁寿命を得ることができる。   As a result, the remaining insulation life estimation means 5 follows the slope parameter P (the slope of the characteristic curve) estimated in the multiple regression analysis for each insulation index at each reliability with respect to the future operation years based on the current level. The remaining insulation life until the threshold value of the non-destructive insulation data (the upper limit threshold value TH for the dielectric loss rate tan δ or the lower limit threshold value for the insulation resistance value R), which is expected to cause breakdown due to deterioration of the insulation data, Obtainable.

この発明の実施の形態1による残存絶縁寿命の推定方法および寿命推定のシステムにより、任意の時点での非破壊の絶縁データから破壊に至るまでの残存絶縁寿命を定量的に評価できるので、タイムリなオーバホール、または、高圧回転機100の内部機器の更新計画を策定することができる。
したがって、従来システムのように修繕または更新のタイミングを失して、高圧回転機100の突発的な絶縁事故を発生する、などというリスク管理のまずさを防止することができる。
Since the remaining insulation life estimation method and life estimation system according to Embodiment 1 of the present invention can quantitatively evaluate the remaining insulation life from non-destructive insulation data at any time point to failure, it is timely. An overhaul or an update plan for the internal equipment of the high-pressure rotating machine 100 can be formulated.
Therefore, it is possible to prevent the risk management from being unsatisfactory, such as when the repair or renewal timing is lost as in the conventional system and a sudden insulation accident of the high-pressure rotating machine 100 occurs.

なお、以上の説明においては、絶縁指標として誘電体損失率tanδを選択した場合を例にとったが、絶縁指標として非破壊絶縁抵抗値Rを選択した場合も、データベース1と前述の下限閾値(10MΩ)とを組み合わせることにより、前述と同様に残存絶縁寿命を推定することができる。
ただし、この場合、残存シミュレーションで使用される信頼度曲線の傾きは、図4内のグラフ画面51のように、誘電体損失率tanδの場合とは逆に負となる。
In the above description, the case where the dielectric loss rate tan δ is selected as the insulation index is taken as an example. However, even when the non-destructive insulation resistance value R is selected as the insulation index, the database 1 and the above-described lower threshold ( 10 MΩ), the remaining insulation life can be estimated as described above.
However, in this case, the slope of the reliability curve used in the residual simulation is negative as in the case of the dielectric loss rate tan δ, as in the graph screen 51 in FIG.

以下、図1、図3および図4を参照しながら、絶縁抵抗値Rを選択した場合の処理動作について説明する。
前述では、図3、図4(寿命推定システムの画面フロー)において、高圧回転機100の絶縁データとして誘電体損失率tanδ(測定値tanδi)を入力した場合について説明したが、絶縁データとして高圧回転機100について調査した絶縁抵抗値R(測定値Ri)を入力することによって、同様に残存絶縁寿命を定量的に推定することができる。
Hereinafter, the processing operation when the insulation resistance value R is selected will be described with reference to FIGS. 1, 3, and 4.
In the above description, the case where the dielectric loss rate tan δ (measured value tan δi) is input as the insulation data of the high-pressure rotating machine 100 in FIGS. 3 and 4 (screen flow of the life estimation system) has been described. By inputting the insulation resistance value R (measured value Ri) investigated for the machine 100, the remaining insulation life can be similarly estimated quantitatively.

すなわち、図3内のメインメニュー画面31において、前述と同様に診断データ入力メニューを選択後、診断データ入力画面32上で、調査対象の建物名称、調査対象の高圧回転機100の仕様や製造年月などを対話形式で入力し、最後に、診断データの絶縁指標として絶縁抵抗値Rを選択してそのデータ値(Ri)を入力する。
その後、診断データのファイル登録のプロセスを経て、再びメインメニュー画面31に戻る。
That is, after selecting the diagnostic data input menu on the main menu screen 31 in FIG. 3 as described above, on the diagnostic data input screen 32, the name of the building to be surveyed, the specification and year of manufacture of the high-pressure rotating machine 100 to be surveyed. The month or the like is input in an interactive format, and finally, the insulation resistance value R is selected as the insulation index of the diagnostic data and the data value (Ri) is input.
Thereafter, the process returns to the main menu screen 31 again through the process of registering the diagnostic data file.

次に、前述と同様に、メインメニュー画面31上で、単独処理メニューを選択すると、診断データ読み出し画面33が表示されるので、この中から登録した物件ファイルを選択すると、単独処理メニュー画面34に進み、以下、単独処理メニュー画面34上の処理メニューについて順番に処理が行われる。   Next, as described above, when a single processing menu is selected on the main menu screen 31, a diagnostic data readout screen 33 is displayed. When a registered property file is selected from these, the single processing menu screen 34 is displayed. In the following, the processing menus on the single processing menu screen 34 are processed in order.

まず、1番目の残存絶縁寿命シミュレーショングラフを選択すると、絶縁抵抗値Rを選択した場合の残存寿命シミュレーショングラフ画面51(図4参照)が表示されるので、このグラフ画面を確認した後に単独処理メニュー画面34に戻る。
このとき、単独処理メニュー画面34上の処理メニューのチェックボックスが塗りつぶされているので、次に、2番目の残存寿命推定出力メニューを選択することになる。
First, when the first remaining insulation life simulation graph is selected, a remaining life simulation graph screen 51 (see FIG. 4) when the insulation resistance value R is selected is displayed. After confirming this graph screen, the single processing menu is displayed. Return to screen 34.
At this time, since the check box of the processing menu on the single processing menu screen 34 is filled, the second remaining life estimation output menu is selected next.

これにより、残存寿命推定出力画面52が表示され、入力した絶縁抵抗データ値(Ri)と、各信頼度(50%、90%、95%、99%)別の残存絶縁寿命が表示されるので、これらを確認する。
その後、再び単独処理メニュー画面34の画面に戻ると、これまでの2つの処理メニューのチェックボックスが塗りつぶされているので、次に、3番目の所見文章確認メニューに進む。
As a result, the remaining life estimation output screen 52 is displayed, and the input insulation resistance data value (Ri) and the remaining insulation life for each reliability (50%, 90%, 95%, 99%) are displayed. Check these out.
Thereafter, when returning to the screen of the single processing menu screen 34 again, since the check boxes of the two processing menus so far are filled, the process proceeds to the third finding sentence confirmation menu.

これにより、推定された残存絶縁寿命の長短と運転経過年数とを考慮して、あらかじめ登録された所見文章(6パターン)の中から最適な所見文章が確認画面53に自動的に選択表示されるので、これを確認し、場合によっては加筆修正などを行う。
以下、前述と同様に、報告書プリンタ出力、報告書ファイル保存などを遂行し、絶縁抵抗値Rを選択した場合の処理動作を終了する。
Thus, the optimum finding sentence is automatically selected and displayed on the confirmation screen 53 from the finding sentences (6 patterns) registered in advance in consideration of the estimated remaining insulation life and the elapsed years of operation. So, check this and make corrections if necessary.
Thereafter, as described above, report printer output, report file storage, and the like are performed, and the processing operation when the insulation resistance value R is selected is terminated.

次に、図8および図9の説明図を参照しながら、絶縁指標が絶縁抵抗値Rの場合の絶縁寿命推定アルゴリズムについて説明する。
図8は非特許文献1で公表された高圧回転機100の絶縁抵抗値R(データベース1)を示しており、図9は図8に示すデータ値を重回帰解析した絶縁抵抗値Rに関する回帰直線および近似式を示している。
Next, an insulation lifetime estimation algorithm when the insulation index is the insulation resistance value R will be described with reference to the explanatory diagrams of FIGS. 8 and 9.
FIG. 8 shows the insulation resistance value R (database 1) of the high-pressure rotating machine 100 published in Non-Patent Document 1, and FIG. 9 is a regression line related to the insulation resistance value R obtained by multiple regression analysis of the data values shown in FIG. And an approximate expression.

図8においては、誘電体損失率tanδの場合(図5)と同様に、データベース1内の絶縁抵抗値Rのうち、工場受け入れ時の各絶縁抵抗データ値をプロット(◆印)で示しており、同じ運転経過年数であっても広範囲にばらついている。
したがって、この場合も、各絶縁抵抗データ値は、統計的重回帰解析手段3により重回帰解析される。
In FIG. 8, as in the case of the dielectric loss rate tan δ (FIG. 5), among the insulation resistance values R in the database 1, each insulation resistance data value at the time of factory acceptance is shown by a plot (♦ mark). Even with the same number of years of operation, it varies widely.
Therefore, also in this case, each insulation resistance data value is subjected to multiple regression analysis by the statistical multiple regression analysis means 3.

図9に示す重回帰解析結果においては、図8に示された絶縁抵抗のデータを、運転経過年数の長短に依存した11個のゾーンに分け、各ゾーン別に正規分布の低域側絶縁抵抗の発生確率(50%、10%、5%、1%)に対応する絶縁抵抗値が求められている。
たとえば、12年〜13年、13年〜14年、・・・、22年〜23年、の11つのゾーンに分けることにより、すべてのデータを効率的に処理することができる。
In the result of the multiple regression analysis shown in FIG. 9, the insulation resistance data shown in FIG. 8 is divided into 11 zones depending on the length of operation years, and the low-frequency side insulation resistance of the normal distribution is divided for each zone. The insulation resistance value corresponding to the occurrence probability (50%, 10%, 5%, 1%) is required.
For example, all data can be efficiently processed by dividing into 11 zones of 12 to 13 years, 13 to 14 years,..., 22 to 23 years.

図9において、50%の発生確率を示す絶縁抵抗値は、「□内の■印」でプロットされ、10%、5%、1%の各発生確率での絶縁抵抗値は、それぞれ、「△内の黒三角印」、「○内の×印」、「□内の*印」でプロットされている。
これら4通りの発生確率(50%、10%、5%、1%)別に、各11ゾーンのプロットに対して重回帰解析を遂行することにより、重回帰直線L11〜L14の指数関数として、以下の近似式(11)〜(14)が得られる。
In FIG. 9, the insulation resistance value indicating the probability of occurrence of 50% is plotted by “■ in □”, and the insulation resistance value at each probability of occurrence of 10%, 5%, and 1% is “Δ”, respectively. It is plotted with “black triangle mark”, “× mark in ○”, and “* mark in □”.
By performing multiple regression analysis for each of the 11 zone plots for each of these four occurrence probabilities (50%, 10%, 5%, 1%), the following is an exponential function of multiple regression lines L11 to L14: Approximation formulas (11) to (14) are obtained.

y=2104.2148×exp(−0.2231x) ・・・(11)
y= 355.4772×exp(−0.1695x) ・・・(12)
y= 214.7243×exp(−0.1543x) ・・・(13)
y= 83.4080×exp(−0.1258x) ・・・(14)
y = 21044.2148 × exp (−0.2231x) (11)
y = 355.4772 × exp (−0.1695x) (12)
y = 214.7243 × exp (−0.1543x) (13)
y = 83.4080 × exp (−0.1258x) (14)

上記近似式(11)〜(14)において、xは横軸の運転経過年数を示し、yは縦軸のデータ値(絶縁抵抗値R[MΩ])を示す。
また、各重回帰直線L11〜L14の近似式(11)〜(14)のうち、直線L11の近似式(11)は50%の発生確率に対応し、また、直線L12〜L14の近似式(12)〜(14)は、それぞれ、10%、5%、1%の各発生確率に対応している。
なお、図9のように重回帰解析によって得られた各回帰直線L11〜L14の相関係数は、十分に良好な値(たとえば、0.7〜0.8)を示すことが実験的に分かっている。
In the above approximate expressions (11) to (14), x indicates the elapsed operation time on the horizontal axis, and y indicates the data value (insulation resistance value R [MΩ]) on the vertical axis.
Further, among the approximate expressions (11) to (14) of the multiple regression lines L11 to L14, the approximate expression (11) of the straight line L11 corresponds to an occurrence probability of 50%, and the approximate expression of the straight lines L12 to L14 ( 12) to (14) correspond to the occurrence probabilities of 10%, 5%, and 1%, respectively.
It is experimentally found that the correlation coefficients of the regression lines L11 to L14 obtained by the multiple regression analysis as shown in FIG. 9 show sufficiently good values (for example, 0.7 to 0.8). ing.

ところで、任意の現場において、調査対象となった高圧回転機100の定期点検時の絶縁抵抗値Riは、調査対象の高圧回転機100の調査時点における唯一の絶縁データなので、統計的には、調査対象の高圧回転機100の運転経過年数での50%の発生確率の絶縁抵抗値として扱われる。   By the way, since the insulation resistance value Ri at the time of the periodic inspection of the high-pressure rotating machine 100 that is the subject of investigation at any site is the only insulation data at the time of investigation of the high-pressure rotating machine 100 that is the subject of investigation, It is treated as an insulation resistance value with a probability of occurrence of 50% over the years of operation of the target high-pressure rotating machine 100.

したがって、ここでは図示を省略するが、図9の重回帰解析結果を踏まえて、前述(図7参照)の誘電体損失率tanδに対する残存シミュレーション図と類似した絶縁抵抗値Rに対するシミュレーション図を同様に構築することができる。
また、高圧回転機100の絶縁破壊レベルが新品時のレベルよりも半減するような絶縁抵抗値の下限閾値として、従来から採用されてきた「10MΩ」を適用することにより、50%の信頼度の残存絶縁寿命のみならず、90%、95%および99%の各残存絶縁寿命を定量的に演算するができる。
Accordingly, although not shown here, based on the results of the multiple regression analysis of FIG. 9, a simulation diagram for the insulation resistance value R similar to the residual simulation diagram for the dielectric loss rate tan δ described above (see FIG. 7) is similarly applied. Can be built.
Further, by applying “10 MΩ”, which has been conventionally adopted, as the lower limit threshold value of the insulation resistance value at which the dielectric breakdown level of the high-pressure rotating machine 100 is halved from the new level, the reliability of 50% is achieved. Not only the remaining insulation life but also each remaining insulation life of 90%, 95% and 99% can be calculated quantitatively.

以上のように、この発明によれば、非特許文献1で公表された多くの高圧回転機の絶縁抵抗の絶縁データを重回帰解析した統計的分析結果と、高圧回転機100の絶縁抵抗値Rに対する良否判定の下限閾値(10MΩ)とを組合せることによって、従来技術ではなし得なかった定量的な残存絶縁寿命の推定が可能となり、重要設備である高圧回転機100の合理的な予防保全に貢献することができる。   As described above, according to the present invention, the statistical analysis result obtained by performing multiple regression analysis on the insulation data of the insulation resistance of many high-voltage rotating machines published in Non-Patent Document 1, and the insulation resistance value R of the high-pressure rotating machine 100 In combination with the lower limit threshold (10MΩ) for determining the quality of the product, it is possible to estimate the remaining insulation life quantitatively, which could not be achieved by the prior art, and for the rational preventive maintenance of the high-pressure rotating machine 100, which is an important facility. Can contribute.

この発明の実施の形態1に係る高圧回転機の残存絶縁寿命推定システムを示すブロック図である。It is a block diagram which shows the residual insulation life estimation system of the high voltage | pressure rotary machine which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係る残存絶縁寿命推定方法によって得られる残存絶縁寿命診断の帳票例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the form example of the remaining insulation life diagnosis obtained by the remaining insulation life estimation method which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係る高圧回転機の残存絶縁寿命推定システムによる画面フローを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the screen flow by the residual insulation life estimation system of the high voltage | pressure rotary machine which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係る高圧回転機の残存絶縁寿命推定システムによる画面フローを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the screen flow by the residual insulation life estimation system of the high voltage | pressure rotary machine which concerns on Embodiment 1 of this invention. この発明の実施の形態1に係るデータベースに含まれる高圧回転機の誘電体損失率(tanδ値)の運転経過年数に対する分布例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of distribution with respect to the operation elapsed years of the dielectric material loss rate (tan-delta value) of the high voltage | pressure rotary machine contained in the database which concerns on Embodiment 1 of this invention. 図5のデータ値を統計的に重回帰解析した誘電体損失率(tanδ)に関する回帰直線および近似式を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a regression line and an approximate expression regarding a dielectric loss rate (tan δ) obtained by statistically performing multiple regression analysis on the data values of FIG. 5. 調査した高圧回転機の誘電体損失率(tanδ値)から統計的な残存絶縁寿命を推定するためのシミュレーション処理を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the simulation process for estimating a statistical residual insulation lifetime from the dielectric material loss rate (tan-delta value) of the investigated high voltage | pressure rotating machine. この発明の実施の形態1に係るデータベースに含まれる高圧回転機の絶縁抵抗値の運転経過年数に対する分布例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of distribution with respect to the elapsed operation years of the insulation resistance value of the high voltage | pressure rotary machine contained in the database which concerns on Embodiment 1 of this invention. 図8のデータ値を統計的に重回帰解析した絶縁抵抗値に関する回帰直線および近似式を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the regression line and approximate expression regarding the insulation resistance value which statistically analyzed the data value of FIG. 8 statistically.

符号の説明Explanation of symbols

1 データベース、2 絶縁データ測定手段、3 統計的重回帰解析手段、4 現在レベル決定手段、5 残存絶縁寿命推定手段、6 表示手段、20 帳票、21 帳票のタイトルおよびメニュー部分、22 データ記載部分、23 アルゴリズム部分、24 残存絶縁寿命の記載部分、25 追加所見の記載部分、31 メインメニュー画面、32 診断データ入力画面、33、35 診断データ読み出し画面、34 単独処理メニュー画面、41、51 残存寿命シミュレーショングラフ画面、42、52 残存寿命推定表出力画面、43、53 所見文章確認画面、44、54 ファイル(報告書データ)保存画面、L1〜L4、L11〜L14 重回帰直線、P 傾斜パラメータ、Ri 絶縁抵抗値の測定値、tanδi 誘電体損失率の測定値、TH tanδの上限閾値。   1 database, 2 insulation data measurement means, 3 statistical multiple regression analysis means, 4 current level determination means, 5 remaining insulation life estimation means, 6 display means, 20 forms, 21 form title and menu part, 22 data description part, 23 Algorithm part, 24 Residual insulation life description part, 25 Additional observation description part, 31 Main menu screen, 32 Diagnostic data input screen, 33, 35 Diagnostic data readout screen, 34 Single processing menu screen, 41, 51 Residual life simulation Graph screen, 42, 52 Remaining life estimation table output screen, 43, 53 Observation text confirmation screen, 44, 54 File (report data) storage screen, L1-L4, L11-L14 Multiple regression line, P slope parameter, Ri insulation Measured resistance value, measured tan δi dielectric loss factor, Upper threshold of H tanδ.

Claims (8)

任意の運転経過年数時点における高圧回転機の残存絶縁寿命を推定するシステムであって、
前記高圧回転機に関してあらかじめ知られている複数の非破壊絶縁データおよび破壊電圧データを含むデータベースと、
前記高圧回転機に関する現在の絶縁抵抗値または誘電体損失率を絶縁データとして取得する絶縁データ測定手段と、
前記データベースを絶縁指標別に統計的重回帰解析して時間経過に対するデータ値の傾斜パラメータを推定する統計的重回帰解析手段と、
前記絶縁データおよび前記傾斜パラメータに基づいて、複数段階の各信頼度に対する前記絶縁データの現在レベルを決定する現在レベル決定手段と、
前記傾斜パラメータおよび前記現在レベルに基づいて前記高圧回転機の残存絶縁寿命を推定する残存絶縁寿命推定手段とを備え、
前記残存絶縁寿命推定手段は、今後の運転経過年数に対する前記各信頼度における前記絶縁データが、前記傾斜パラメータに沿って悪化して破壊に至ると予想される非破壊絶縁データ閾値に到達するまでの期間を前記残存絶縁寿命として推定することを特徴とする高圧回転機の残存絶縁寿命推定システム。
A system for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine at an arbitrary age of operation,
A database containing a plurality of non-destructive insulation data and breakdown voltage data known in advance for the high-pressure rotating machine;
Insulation data measuring means for obtaining the current insulation resistance value or dielectric loss rate for the high-pressure rotating machine as insulation data;
Statistical multiple regression analysis means for estimating the slope parameter of the data value with respect to the time course by statistical multiple regression analysis of the database for each insulation index,
A current level determining means for determining a current level of the insulation data for each of a plurality of reliability levels based on the insulation data and the slope parameter;
A remaining insulation life estimation means for estimating a remaining insulation life of the high-pressure rotating machine based on the inclination parameter and the current level;
The remaining insulation lifetime estimation means until the insulation data at the respective reliability with respect to the future operating years in the future reaches a non-destructive insulation data threshold that is expected to deteriorate along the slope parameter and lead to destruction. A system for estimating a remaining insulation life of a high-pressure rotating machine, wherein a period is estimated as the remaining insulation life.
前記現在レベル決定手段は、50%、90%、95%および99%の各信頼度に対して、前記絶縁データの現在レベルを決定することを特徴とする請求項1に記載の高圧回転機の残存絶縁寿命推定システム。   2. The high-pressure rotating machine according to claim 1, wherein the current level determination unit determines a current level of the insulation data for each reliability of 50%, 90%, 95%, and 99%. Residual insulation life estimation system. 前記残存絶縁寿命推定手段の推定結果を表示するための表示手段を備えたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の高圧回転機の残存絶縁寿命推定システム。   3. The residual insulation life estimation system for a high-pressure rotating machine according to claim 1, further comprising display means for displaying an estimation result of the remaining insulation life estimation means. 前記表示手段は、表示モードを選択するための第1のメニュー画面を表示するとともに、前記第1のメニュー画面上で選択された複数の選択画面を表示し、
前記複数の選択画面は、
前記データベースの絶縁指標を選択するためのメニュー画面と、
現在時点の前記絶縁データを前記現在レベル決定手段に入力するための入力画面と
を含むことを特徴とする請求項3に記載の高圧回転機の残存絶縁寿命推定システム。
The display means displays a first menu screen for selecting a display mode, and displays a plurality of selection screens selected on the first menu screen,
The plurality of selection screens are:
A menu screen for selecting an insulation index of the database;
The system for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine according to claim 3, further comprising: an input screen for inputting the insulation data at a current time point to the current level determining means.
任意の運転経過年数時点における高圧回転機の残存絶縁寿命を推定する方法であって、
前記高圧回転機に関してあらかじめ知られている複数の非破壊絶縁データおよび破壊電圧データを含むデータベースを取得する第1のステップと、
前記高圧回転機に関する現在の絶縁抵抗値または誘電体損失率を絶縁データとして測定する第2のステップと、
前記データベースを絶縁指標別に統計的重回帰解析して時間経過に対するデータ値の傾斜パラメータを推定する第3のステップと、
前記絶縁データおよび前記傾斜パラメータに基づいて、複数段階の各信頼度に対する前記絶縁データの現在レベルを決定する第4のステップと、
前記傾斜パラメータおよび前記現在レベルに基づいて、今後の運転経過年数に対する前記各信頼度における前記絶縁データが、前記傾斜パラメータに沿って悪化して破壊に至ると予想される非破壊絶縁データ閾値に到達するまでの期間を前記残存絶縁寿命として推定する第5のステップと
を備えたことを特徴とする高圧回転機の残存絶縁寿命推定方法。
A method for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine at an arbitrary age of operation,
Obtaining a database including a plurality of non-destructive insulation data and breakdown voltage data known in advance for the high-pressure rotating machine;
A second step of measuring the current insulation resistance value or dielectric loss rate for the high-pressure rotating machine as insulation data ;
A third step of estimating a slope parameter of a data value with respect to time by performing a statistical multiple regression analysis on the database for each insulation index;
A fourth step of determining a current level of the insulation data for each of a plurality of levels of reliability based on the insulation data and the slope parameter;
Based on the slope parameter and the current level, the insulation data at each reliability for future years of operation reaches a non-destructive insulation data threshold that is expected to degrade along with the slope parameter and lead to failure. And a fifth step of estimating the remaining insulation life as the remaining insulation life. A method for estimating the remaining insulation life of a high-pressure rotating machine.
前記現在レベルは、50%、90%、95%および99%の各信頼度に対して決定されることを特徴とする請求項5に記載の高圧回転機の残存絶縁寿命推定方法。 6. The method according to claim 5 , wherein the current level is determined for each reliability of 50%, 90%, 95%, and 99%. 前記第5のステップに続いて、前記残存絶縁寿命の推定結果を表示する第6のステップを備えたことを特徴とする請求項5または請求項6に記載の高圧回転機の残存絶縁寿命推定方法。 The method for estimating a remaining insulation life of a high-pressure rotating machine according to claim 5 or 6 , further comprising a sixth step of displaying an estimation result of the remaining insulation life following the fifth step. . 前記第6のステップの前に、
表示モードを選択するための第1のメニュー画面を表示する第7のステップと、
前記第1のメニュー画面上で選択された複数の選択画面を表示する第8のステップとを備え、
前記第8のステップは、
前記データベースの絶縁指標を選択するためのメニュー画面を表示する第9のステップと、
現在時点の前記絶縁データを前記現在レベル決定手段に入力するための入力画面を表示する第10のステップと
を含むことを特徴とする請求項7に記載の高圧回転機の残存絶縁寿命推定方法。
Before the sixth step,
A seventh step of displaying a first menu screen for selecting a display mode;
An eighth step of displaying a plurality of selection screens selected on the first menu screen,
The eighth step includes
A ninth step of displaying a menu screen for selecting an insulation index of the database;
The tenth step of displaying an input screen for inputting the insulation data at the current time point to the current level determination means, and a method for estimating a remaining insulation life of a high-pressure rotating machine according to claim 7.
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