JP4533788B2 - Timing generator - Google Patents
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Description
本発明は、撮像素子等を駆動する駆動パルスを生成するためのタイミングクロックを発生するタイミング発生回路に関する。 The present invention relates to a timing generation circuit that generates a timing clock for generating a driving pulse for driving an image sensor or the like.
一般に、固体撮像素子を含む撮像装置では、タイミング発生回路によって発生されたタイミングクロックに基づいて、固体撮像素子の駆動パルスや固体撮像素子から出力される信号のサンプリングパルス等を生成し、これらを用いて画像データを生成することが行われている。従来、高画質撮影や低消費電力を実現するために、上記タイミング発生回路で使用する基準クロックを、撮像装置の動作モードに応じて切り替える方法が提案されており、例えば特許文献1には、撮像装置の動作モードに合わせてPLL回路を制御して基準クロックを変更する装置が開示されている。 In general, in an imaging apparatus including a solid-state imaging device, a driving pulse of the solid-state imaging device, a sampling pulse of a signal output from the solid-state imaging device, or the like is generated based on a timing clock generated by a timing generation circuit, and these are used. Then, image data is generated. Conventionally, in order to realize high-quality imaging and low power consumption, a method of switching the reference clock used in the timing generation circuit in accordance with the operation mode of the imaging apparatus has been proposed. An apparatus for changing a reference clock by controlling a PLL circuit in accordance with an operation mode of the apparatus is disclosed.
一方、近年の固体撮像素子は、画素数の増大に伴い、固体撮像素子から出力される信号の読み出しレートやサンプリングレート等が高くなってきている。そこで、固体撮像素子から出力される信号を正確にサンプリングするために、タイミング発生回路にDLL回路を利用して高精度のタイミングクロックを生成することが行われている(特許文献2参照)。 On the other hand, in recent solid-state image sensors, the reading rate, sampling rate, and the like of signals output from the solid-state image sensor have increased with the increase in the number of pixels. Therefore, in order to accurately sample a signal output from the solid-state imaging device, a highly accurate timing clock is generated using a DLL circuit as a timing generation circuit (see Patent Document 2).
タイミング発生回路にDLL回路を利用して高精度のタイミングクロックを生成し、且つ、動作モードに合わせてDLL回路に入力する基準クロックを変更可能にすることを考える。この場合、DLL回路動作中に基準クロックを変更すると、DLL回路のロックが外れ、再ロックするまでに時間がかかってしまう又は異なる位相で誤ロックしてしまうといった問題が発生する。 Consider a case in which a DLL circuit is used as a timing generation circuit to generate a highly accurate timing clock, and a reference clock input to the DLL circuit can be changed in accordance with an operation mode. In this case, if the reference clock is changed during the operation of the DLL circuit, the DLL circuit is unlocked, and it takes a long time to re-lock, or erroneously locks at a different phase.
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、基準クロックを変更しても、高精度のタイミングクロックを即座に生成可能なタイミング発生回路を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a timing generation circuit that can instantly generate a highly accurate timing clock even if the reference clock is changed.
本発明のタイミング発生回路は、基準クロックを出力する基準クロック出力手段と、前記基準クロックを遅延した遅延クロックをそれぞれ出力するカスケード接続された複数段の遅延回路と、最終段の前記遅延回路から出力された遅延クロックと前記基準クロックとを比較する比較手段とを含むタイミング発生回路であって、前記基準クロック出力手段は、前記基準クロックの切り替えを指示する切り替え信号に応じて、前記基準クロックの周期を切り替え可能であり、前記複数段の遅延回路の各々は、複数の遅延素子と、入出力間に接続される前記遅延素子の数を前記切り替え信号に応じて変更する遅延素子数変更手段とを含み、前記比較手段の比較結果に基づいて前記複数段の遅延回路に含まれる全ての前記遅延素子の遅延時間を制御する遅延制御手段を備え、前記複数段の遅延回路の各々から出力される信号を外部に出力するものである。 The timing generation circuit according to the present invention includes a reference clock output means for outputting a reference clock, a plurality of cascaded delay circuits for outputting a delayed clock obtained by delaying the reference clock, and an output from the delay circuit at the final stage. a timing generating circuit including a comparing means for comparing the reference clock and the delayed clock that is, the reference clock output unit, in response to the switching signal for instructing switching of the reference clock, the cycle of the reference clock Each of the plurality of delay circuits includes a plurality of delay elements and delay element number changing means for changing the number of delay elements connected between input and output in accordance with the switching signal. wherein, to control the delay time of all of the delay elements included in delay circuit of said plurality of stages based on the comparison result of the comparing means A delay control unit, and outputs a signal outputted from each of the delay circuits of the plurality of stages to the outside.
この構成により、基準クロックを変更しても、高精度のタイミングクロックを即座に生成することが可能となる。 With this configuration, it is possible to immediately generate a highly accurate timing clock even if the reference clock is changed.
本発明のタイミング発生回路は、前記切り替え信号の入力に応じて、前記遅延素子の数が変更されるまでの間に前記比較手段を停止させる制御を行う比較停止制御手段を備える。 The timing generation circuit according to the present invention includes comparison stop control means for performing control to stop the comparison means until the number of the delay elements is changed according to the input of the switching signal.
この構成により、基準クロックを切り替えたときの誤動作を防ぐことができる。 With this configuration, it is possible to prevent malfunction when the reference clock is switched.
本発明のタイミング発生回路は、前記遅延制御手段が、前記比較手段停止後も、前記比較手段が停止する直前に行っていた制御を継続して行う。 In the timing generation circuit of the present invention, the delay control means continues to perform the control performed immediately before the comparison means stops even after the comparison means stops.
本発明のタイミング発生回路は、前記基準クロック出力手段が、前記切り替え信号の入力に応じて前記基準クロックの出力を停止し、前記遅延素子の数の変更と同時に前記基準クロックの出力を開始する。 In the timing generation circuit of the present invention, the reference clock output means stops outputting the reference clock in response to the input of the switching signal, and starts outputting the reference clock simultaneously with the change in the number of delay elements.
この構成により、切り替え信号が入力されてから遅延素子の数が変更されるまでの間に、各遅延回路から意図しないクロックが出力されるのを防ぐことができる。 With this configuration, it is possible to prevent an unintended clock from being output from each delay circuit after the switching signal is input and before the number of delay elements is changed.
本発明によれば、基準クロックを変更しても、高精度のタイミングクロックを即座に生成可能なタイミング発生回路を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a timing generation circuit capable of immediately generating a highly accurate timing clock even if the reference clock is changed.
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
(第一実施形態)
図1は、本発明の第一実施形態を説明するためのタイミング発生回路の概略構成を示すブロック図である。
図1に示すタイミング発生回路100は、DLL回路1と、DLL回路1を制御するDLL制御部2とを含む。DLL制御部2は、特許請求の範囲の基準クロック出力手段及び比較停止制御手段に該当する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a timing generation circuit for explaining a first embodiment of the present invention.
A
DLL制御部2は、入力クロックckから基準クロックck2を生成し、これを出力する。DLL制御部2は、基準クロックck2として、例えば、入力クロックckそのものと、入力クロックckの周波数を1/2倍したクロックck_2とを生成可能であり、基準クロックck2の切り替えを指示する切り替え信号freqに応じて、出力する基準クロックck2を切り替える。本実施形態では、切り替え信号freqがハイレベル(H)のとき、基準クロックck2としてクロックck_2を出力し、切り替え信号freqがローレベル(L)のとき、基準クロックck2としてクロックckを出力するものとする。又、DLL制御部2は、切り替え信号freqを所定時間遅延した信号freq2を出力する。又、DLL制御部2は、後述する位相比較部30の動作を停止させるための信号stopを出力する。
The
DLL回路1は、DLL制御部2から出力される基準クロックck2を遅延した遅延クロックck_delを出力する遅延装置20と、遅延クロックck_delと基準クロックck2との位相を比較し、その比較結果に応じた信号up,dnを出力する位相比較部30と、位相比較部30から出力された信号up,dnに基づいて遅延装置20の遅延時間を制御するための信号vcntを出力する遅延制御部40とを含む。位相比較部30は、特許請求の範囲の比較手段に該当する。
The
位相比較部30は、基準クロックck2の立ち上がりエッジの位相と、遅延クロックck_delの立ち上がりエッジの位相とを比較し、基準クロックck2の立ち上がりエッジの位相よりも遅延クロックck_delの立ち上がりエッジの位相の方が早い場合、その位相差に比例した時間だけ信号dnをHにし、基準クロックck2の立ち上がりエッジの位相よりも遅延クロックck_delの立ち上がりエッジの位相の方が遅い場合、その位相差に比例した時間だけ信号upをHにする。位相比較部30は、基準クロックck2の立ち上がりエッジの位相と、遅延クロックck_delの立ち上がりエッジの位相とが一致している場合、信号up及び信号dnをそれぞれLにする。
The
遅延制御部40は、信号upがHになった場合には、そのHの時間に応じて信号vcntの電圧を上げ、信号dnがHになった場合には、そのHの時間に応じて信号vcntの電圧を下げる。信号up,dnがLのとき、DLL回路1はロックされる。
When the signal up becomes H, the
図2は、図1に示す遅延装置内部の概略構成を示すブロック図である。
図2に示すように、遅延装置20は、カスケード接続された複数段の遅延回路21を含み、初段の遅延回路21に基準クロックck2が入力され、これが順次遅延されて最終段の遅延回路21から遅延クロックck_delとして出力される。又、各遅延回路21は、入力されたクロックを自回路に設定された遅延時間で遅延したクロックpulseをDLL回路1外部に出力する。又、各遅延回路21には、遅延制御部40からの信号vcntと、DLL制御部2からの信号freq2が入力される。
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration inside the delay device shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the
図3は、図2に示す各遅延回路内部の概略構成を示すブロック図である。
図3に示すように、遅延回路21は、基準クロックck2又は前段の遅延回路21から出力された基準クロックck2が入力される遅延素子210と、これに直列に接続された遅延素子211と、遅延回路21の入出力間に接続する遅延素子の数を信号freq2に応じて変更する変更部212とを含む。変更部212は、例えばスイッチ回路で構成される。変更部212は、特許請求の範囲の遅延素子数変更手段に該当する。
FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration inside each delay circuit shown in FIG.
As shown in FIG. 3, the
遅延素子210,遅延素子211には、それぞれ、遅延制御部40からの信号vcntが入力され、この信号vcntによって遅延時間が制御される。
Each of the
本実施形態では、切り替え信号freq2がHのとき、変更部212が遅延素子210と遅延素子211を入出力間に接続した状態にし、切り替え信号freq2がLのとき、変更部212が遅延素子210のみを入出力間に接続した状態にする。このような変更部212の動作により、遅延回路21の遅延時間を瞬時に変更することが可能となっている。
In the present embodiment, when the switching signal freq2 is H, the changing
このような構成により、DLL回路1は、遅延装置20の遅延時間が基準クロックck2の周期と一致するように制御する。例えば遅延回路21の数が10個あった場合、各遅延回路21の遅延時間が、基準クロックck2の周期の1/10となるように制御する。これにより、基準クロックck2の周期の1/10ずつ位相をずらした10個のクロックpulseをタイミングクロックとして出力することができる。
With such a configuration, the
次に、信号freqをLにした状態で、遅延装置20の遅延時間が基準クロックck2の周期と一致するように制御した(DLL回路1をロックした)後、信号freqをHにして基準クロックck2の周波数(周期)を切り替えて、出力させるタイミングパルスを切り替える場合の動作について説明する。尚、以下の説明では、全ての遅延回路21の特性が等しく、信号vcntの電圧が一定であれば、全ての遅延素子の遅延時間は等しいものとする。又、以下では、クロックckの周期をtとし、クロックck_2の周期を2tとし、遅延回路21の数を10個として説明する。
Next, in a state where the signal freq is set to L, the delay time of the
図4は、タイミング発生回路100の動作を説明するためのタイミングチャートである。
基準クロックck2の周期がtで、DLL回路1がロックした状態では、信号up,dnはLとなっており、遅延素子210及び遅延素子211には、それぞれの遅延時間がt/10となるような信号vcntが入力されている。又、この状態では、遅延時間がt/10ずつずれた、周期tの10個のクロックpulseが遅延装置20から出力されている。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the
When the period of the reference clock ck2 is t and the
この状態で、図4に示すように、信号freqがHになると、DLL制御部2は、信号freqを遅延させた信号freq2を出力する。又、DLL制御部2は、信号freqがHになってから所定時間後、信号stopをLにすると共に(信号stopはローアクティブ)、信号freq2がHになるまで基準クロックck2の出力を停止する。位相比較部30が停止している間、遅延制御部40は、DLL回路1がロックした状態の信号vcntの遅延素子210及び211への入力を継続する。
In this state, as shown in FIG. 4, when the signal freq becomes H, the
そして、信号freq2がHになると、DLL制御部2は周期2tの基準クロックck2を出力する。信号freq2がHになると、遅延回路21の入出力間に接続される遅延素子は遅延素子210と遅延素子211との2つに変更される。このため、遅延回路21の遅延時間は2t/10となり、遅延装置20全体の遅延時間は2tとなる。したがって、この状態では、遅延時間が2t/10ずつずれた、周期2tの10個のクロックpulseが遅延装置20から出力される。DLL制御部2は、基準クロックck2を出力した後、信号stopをHにするが、基準クロックck2の位相と遅延クロックck_delの位相は一致しているため、信号up,dnはLとなったままであり、DLL回路1はロック状態を維持する。
When the signal freq2 becomes H, the
DLL制御部2は、信号freqがLになってから所定時間後に信号stopをLにすると共に、信号freq2がLになるまで基準クロックck2の出力を停止する。位相比較部30が停止している間、遅延制御部40は、DLL回路1がロックした状態の信号vcntの遅延素子210及び211への入力を継続する。
The
そして、信号freq2がLになると、DLL制御部2は周期tの基準クロックck2を出力する。信号freq2がLになると、遅延回路21の入出力間に接続される遅延素子は遅延素子210の1つに変更される。このため、遅延回路21の遅延時間はt/10となり、遅延装置20全体の遅延時間はtとなる。したがって、この状態では、遅延時間がt/10ずつずれた、周期tの10個のクロックpulseが遅延装置20から出力される。DLL制御部2は、基準クロックck2を出力した後、信号stopをHにするが、基準クロックck2の位相と遅延クロックck_delの位相は一致しているため、信号up,dnはLとなったままであり、DLL回路1はロック状態を維持する。
When the signal freq2 becomes L, the
尚、図4に示した基準クロックck2は例えば次のようにして生成される。
図5は、図4に示した基準クロックck2の生成過程を説明するためのタイミングチャートである。
DLL制御部2はクロックck_2を常に生成しており、信号freqがクロックckとクロックck_2の立下りエッジでラッチされて、クロックfreq_d1〜freq_d6が生成される。そして、クロックfreq_d1〜freq_d6から、基準クロックck2がクロックck_2に切り替えられている期間クロックckをマスクするためのクロックck_maskと、基準クロックck2がクロックckに切り替えられている期間クロックck_2をマスクするためのクロックck_2maskが生成される。クロックckmは、クロックckをクロックck_maskでマスクしたクロックである。クロックck_2mは、クロックck_2をクロックck_2maskでマスクしたクロックである。
そしてDLL制御部2は、信号freqがHになるとクロックck_2mを出力し、信号freqがLになるとクロックckmを出力することで、基準クロックck2の切り替えや出力停止を行う。
The reference clock ck2 shown in FIG. 4 is generated as follows, for example.
FIG. 5 is a timing chart for explaining the generation process of the reference clock ck2 shown in FIG.
The
The
以上のように、タイミング発生回路100は、遅延装置20に含まれる遅延回路21の入出力間に接続される遅延素子の数を変更可能にしておき、基準クロックck2の切り替えを指示する信号freqに応じてこの数を変更することで、遅延装置20全体の遅延時間を瞬時に変更することを可能にしている。このため、基準クロックck2の周期が切り替わっても、それに合わせて位相比較部30による比較動作や遅延制御部40による制御動作を改めて行う必要がなく、タイミング発生回路100から出力させるタイミングクロックの切り替えを瞬時に行うことができる。
As described above, the
又、タイミング発生回路100によれば、信号freqの入力に応じて位相比較部30の動作を停止させてから、遅延素子数の変更及び基準クロックck2の切り替えを行うため、誤動作を確実に防ぐことができる。位相比較部30の動作を停止させないで遅延素子数の変更及び基準クロックck2の切り替えを行うと、遅延素子数が変更された直後は、遅延時間が遅延素子数変更前のままのクロックck_delがまだ位相比較部30に入力されていることになり、これによって遅延装置20の遅延時間が誤制御される恐れがあるが、本実施形態によればこのような恐れはない。
In addition, according to the
又、タイミング発生回路100によれば、信号freqに応じて基準クロックck2の出力を一旦停止し、遅延素子数の変更と同時に周期を変えた基準クロックck2の出力を開始するようにしているため、信号freqがHになってから遅延素子数が変更されるまでの間、遅延装置20から不要なクロックpulseを極力出力させないようにすることができる。尚、基準クロックck2の出力を一旦停止させなくても、タイミングクロックの瞬時切り替えという効果を得ることは可能である。
Further, according to the
尚、本実施形態では、信号stopを信号freq2がHの期間中にHに戻しているが、信号stopがLの状態では、遅延制御部40が信号vcntを継続して出力するようにしているため、DLL回路1がロックしてからは、信号stopを常にLにしておいても構わない。
In the present embodiment, the signal stop is returned to H while the signal freq2 is H. However, when the signal stop is L, the
又、本実施形態では、遅延回路21に含まれる遅延素子の数を2つとしたが、この数は2つ以上であっても良い。
In the present embodiment, the number of delay elements included in the
(第二実施形態)
本実施形態では、固体撮像素子や固体撮像素子から得られる信号に信号処理を施す信号処理部等を駆動する駆動装置(例えばデジタルカメラのタイミングジェネレータ)に、第一実施形態で説明したタイミング発生回路100を用いた例を説明する。
(Second embodiment)
In the present embodiment, the timing generation circuit described in the first embodiment is applied to a driving device (for example, a timing generator of a digital camera) that drives a solid-state imaging device or a signal processing unit that performs signal processing on a signal obtained from the solid-state imaging device. An example using 100 will be described.
図6は、本発明の第二実施形態を説明するための駆動装置内部の概略構成を示すブロック図である。
図6に示すように、駆動装置400は、タイミング発生回路100と、エッジ検出回路200と、複数のパルス発生回路300とを含む。
FIG. 6 is a block diagram showing a schematic configuration inside the driving apparatus for explaining the second embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 6, the driving
エッジ検出回路200は、タイミング発生回路100から出力される各クロックpulseの立ち上がりエッジを抽出する回路であり、例えば図7(a)に示すように、位相差の隣り合うpulse[i]とpulse[i+1]との差分からエッジパルスedge[i]を抽出する。図7(b)は、エッジ検出回路200の回路構成の具体例を示す図である。図7(b)に示すように、エッジ検出回路200は、NOT回路201とNOR回路202とを含み、NOT回路201にはpulse[i]が入力され、NOR回路202にはpulse[i+1]と、NOT回路201の出力とが入力されて、NOR回路202からエッジパルスedge[i]が出力される。
The
パルス発生回路300は、例えば固体撮像素子から得られる信号を相関2重サンプリングするためのサンプリングパルスshp,shdを出力するものであり、エッジ検出回路200から入力されたエッジパルスから信号shpposlocやshdposlocで設定された所定の位相のエッジパルスを選択して出力するエッジパルス選択回路301と、エッジ検出回路200から入力されたエッジパルスから信号shpneglocやshdposlocで設定された所定の位相のエッジパルスを選択して出力するエッジパルス選択回路302と、エッジパルス選択回路301で選択されたエッジパルスの立ち上がりエッジpedge及びエッジパルス選択回路302で選択されたエッジパルスの立ち上がりエッジnedgeをラッチしてサンプリングパルスshp,shdを出力するRSラッチ回路303とを含む。
The
図8は、図6に示す駆動装置400の動作を説明するためのタイミングチャートである。
図8の中段に示すように、エッジ検出回路200においてタイミング発生回路100から出力される各クロックpulseの立ち上がりエッジedge[1,2,3,4,・・・]が抽出される。そして、図8の下段に示すように、パルス発生回路300において、信号shpposlocで設定された所定の位相のエッジパルスpedgeと信号shpneglocで設定された所定の位相のエッジパルスnedgeが選択して出力され、エッジパルスpedgeの立ち上がりエッジとエッジパルスnedgeの立ち上がりエッジがRSラッチ回路303でラッチされて、サンプリングパルスshpが出力される。
FIG. 8 is a timing chart for explaining the operation of
As shown in the middle part of FIG. 8, the
尚、駆動装置400によって生成するパルスは上記サンプリングパルスshp, shdに限らず、固体撮像素子を駆動するための駆動パルスや、信号処理回路を駆動するための駆動パルス等を生成することも可能である。又、タイミング発生回路100は、図6に示す構成の駆動装置に限らず、公知の駆動装置に用いることが可能である。
The pulses generated by the driving
100 タイミング発生回路
1 DLL回路
2 DLL制御部
20 遅延装置
21 遅延回路
210,211 遅延素子
212 変更部
30 位相比較部
40 遅延制御部
ck 入力クロック
freq 基準クロック切り替え信号
ck2 基準クロック
ck_del 遅延クロック
pulse タイミングクロック
stop 位相比較部停止信号
vcnt 遅延時間制御信号
100
Claims (4)
前記基準クロック出力手段は、前記基準クロックの切り替えを指示する切り替え信号に応じて、前記基準クロックの周期を切り替え可能であり、
前記複数段の遅延回路の各々は、複数の遅延素子と、入出力間に接続される前記遅延素子の数を前記切り替え信号に応じて変更する遅延素子数変更手段とを含み、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記複数段の遅延回路に含まれる全ての前記遅延素子の遅延時間を制御する遅延制御手段を備え、
前記複数段の遅延回路の各々から出力される信号を外部に出力するタイミング発生回路。 Reference clock output means for outputting a reference clock, a plurality of cascaded delay circuits each outputting a delayed clock obtained by delaying the reference clock, a delay clock output from the delay circuit at the final stage, and the reference clock a timing generating circuit including a comparator means for comparing the bets,
The reference clock output means can switch a cycle of the reference clock according to a switching signal instructing switching of the reference clock.
Each of the plurality of stages of delay circuits includes a plurality of delay elements and delay element number changing means for changing the number of delay elements connected between input and output in accordance with the switching signal,
Delay control means for controlling the delay times of all the delay elements included in the plurality of delay circuits based on the comparison result of the comparison means;
A timing generation circuit for outputting a signal output from each of the plurality of stages of delay circuits to the outside ;
前記切り替え信号の入力に応じて、前記遅延素子の数が変更されるまでの間に前記比較手段を停止させる制御を行う比較停止制御手段を備えるタイミング発生回路。 The timing generation circuit according to claim 1,
A timing generation circuit comprising comparison stop control means for performing control to stop the comparison means until the number of delay elements is changed in response to an input of the switching signal.
前記遅延制御手段は、前記比較手段停止後も、前記比較手段が停止する直前に行っていた制御を継続して行うタイミング発生回路。 The timing generation circuit according to claim 2,
The delay control means is a timing generation circuit for continuously performing the control performed immediately before the comparison means stops even after the comparison means is stopped.
前記基準クロック出力手段は、前記切り替え信号の入力に応じて前記基準クロックの出力を停止し、前記遅延素子の数の変更と同時に前記基準クロックの出力を開始するタイミング発生回路。 A timing generation circuit according to claim 2 or 3,
The timing generation circuit, wherein the reference clock output means stops outputting the reference clock according to the input of the switching signal and starts outputting the reference clock simultaneously with the change of the number of the delay elements.
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