JP4530658B2 - Method and apparatus for focus detection and tilt adjustment using the same - Google Patents

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Description

本発明は、光学系におけるフォーカス検出およびこれを用いた傾き調整の方法および装置に関し、特に、CDやDVD等の光ディスクのドライブ等において用いられる光ピックアップの対物レンズのフォーカス検出およびその傾き調整に使用するのに適した方法および装置に関するものである。   BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a focus detection method and apparatus using focus detection in an optical system, and more particularly to focus detection and tilt adjustment of an objective lens of an optical pickup used in an optical disk drive such as a CD or DVD. The present invention relates to a method and apparatus suitable for performing the above.

従来、光学系のフォーカス検出または光学系内の光学要素の傾き調整の方法として、各種のものが知られている。例えば、半導体露光装置の合焦状態検出と角度検出を、非点収差法と2次元CCDとを組み合わせて使用する方法が知られている(特許文献1参照)。この方法では、非点収差法により生ずるスポット径の長径と短径を比較することにより、フォーカス状態を判定する。この方法では、傾き検出のため、スポットの中心とCCD中心とを一致させる必要がある。また、CCDからの画像を高速で処理することについては、何ら開示していない。   Conventionally, various methods are known as methods for focus detection of an optical system or tilt adjustment of an optical element in the optical system. For example, a method is known in which the in-focus state detection and the angle detection of a semiconductor exposure apparatus are used in combination with an astigmatism method and a two-dimensional CCD (see Patent Document 1). In this method, the focus state is determined by comparing the major axis and minor axis of the spot diameter produced by the astigmatism method. In this method, it is necessary to make the center of the spot coincide with the center of the CCD in order to detect the inclination. In addition, nothing is disclosed about processing an image from a CCD at high speed.

また、顕微鏡における焦点検出装置においては、各々2領域に分割された2つの光検出器を使用することにより、フォーカス状態の検出を行うものが知られている(特許文献2参照)。   In addition, a focus detection apparatus in a microscope is known that detects a focus state by using two photodetectors each divided into two regions (see Patent Document 2).

光ピックアップ装置においては、光ピックアップの傾き調整をする方法が知られている(特許文献3参照)。この方法では、光学系内のコリメータレンズ上に設けた指標部の原点と、撮像カメラで撮像した光ビームの光軸とを一致させ、そしてビームスポットの円形性の有無により、光ピックアップの傾き判定するようになっている。   In the optical pickup device, a method of adjusting the inclination of the optical pickup is known (see Patent Document 3). In this method, the origin of the index unit provided on the collimator lens in the optical system is matched with the optical axis of the light beam imaged by the imaging camera, and the inclination of the optical pickup is determined by the presence or absence of the circularity of the beam spot. It is supposed to be.

また、顕微鏡の焦点検出装置におけるさらに別の合焦状態検出法が開示されている(特許文献4参照)。この方法では、CCD等の撮像素子と非点収差法とを組み合わせて使用し、そしてスポットの楕円率である非円形性を利用することにより、光軸中心と受光中心の調整を不要にしている。しかし、この方法では、CCD等の撮像素子からの画像の高速処理については開示されていない。   Further, another in-focus state detection method in a microscope focus detection apparatus is disclosed (see Patent Document 4). In this method, an image sensor such as a CCD and an astigmatism method are used in combination, and the non-circularity that is the ellipticity of the spot is used, thereby eliminating the need to adjust the optical axis center and the light receiving center. . However, this method does not disclose high-speed processing of an image from an image sensor such as a CCD.

さらにまた別の焦点検出法が知られている(特許文献5参照)。この検出法では、合焦状態は、CCD等の撮像素子で焦点の前と後の光強度分布を検知することにより行う。特に、撮像素子の画素列または画素行の光強度の積算を行い、焦点の前と後の光強度分布から光束径を求め、そしてそれら2つの光束径に基づいて焦点位置を特定する。しかし、この方法では、CCD等の撮像素子からの画像を高速で処理することについては開示されていない。   Still another focus detection method is known (see Patent Document 5). In this detection method, the in-focus state is achieved by detecting the light intensity distribution before and after the focus with an image sensor such as a CCD. In particular, the light intensity of the pixel column or pixel row of the image sensor is integrated, the light beam diameter is obtained from the light intensity distribution before and after the focus, and the focal position is specified based on these two light beam diameters. However, this method does not disclose that an image from an image sensor such as a CCD is processed at high speed.

さらに、顕微鏡における対物レンズの傾角調整法が知られている(特許文献6参照)。この方法では、合焦状態検出は、4分割センサあるいはCCDを使用し、しかも合焦状態検出は非点収差法を用いるが、この方法では、4分割センサ等の中心にスポット中心を一致させることが要求される。また、傾き検出は、CCDからの画像をモニタに表示させて、スポットの0次画像の真円度、一次回折光によるリング状画像の強度均一性を目視判断するようになっている。
特開平9-283423号公報 特開平11-142716号公報 特開2000-293860号公報 特開2001-74446号公報 特開2001-166202号公報 特開2001-273643号公報
Furthermore, a method for adjusting the tilt angle of an objective lens in a microscope is known (see Patent Document 6). In this method, a quadrant sensor or a CCD is used for focus state detection, and an astigmatism method is used for focus state detection. In this method, the center of the spot is made to coincide with the center of the quadrant sensor or the like. Is required. In the tilt detection, an image from the CCD is displayed on a monitor, and the roundness of the zeroth-order image of the spot and the intensity uniformity of the ring-shaped image by the first-order diffracted light are visually judged.
JP-A-9-283423 Japanese Patent Laid-Open No. 11-142716 JP 2000-293860 Japanese Patent Laid-Open No. 2001-74446 Japanese Patent Laid-Open No. 2001-166202 JP 2001-273643 A

したがって、本発明の目的は、より高速にフォーカス状態を判定できるフォーカス検出の方法および装置を提供することである。
また、本発明のさらに別の目的は、フォーカス状態を判定できるフォーカス検出の方法および装置を提供することである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a focus detection method and apparatus capable of determining a focus state at a higher speed.
Still another object of the present invention is to provide a focus detection method and apparatus capable of determining a focus state.

本発明のさらに別の目的は、より低コストで、フォーカス状態を判定できるフォーカス検出の方法および装置を提供することである。
さらに、本発明の別の目的は、より高速に光学系の傾きを調整できる傾き調整の方法および装置を提供することである。
Still another object of the present invention is to provide a focus detection method and apparatus that can determine a focus state at a lower cost.
Furthermore, another object of the present invention is to provide a tilt adjustment method and apparatus capable of adjusting the tilt of an optical system at a higher speed.

本発明のさらに別の目的は、振動等の外乱に強い、フォーカス状態を判定できるフォーカス検出の方法および装置を提供することである。
本発明のさらに別の目的は、より低コストで、光学系の傾きを調整できる傾き調整の方法および装置を提供することである。
Still another object of the present invention is to provide a focus detection method and apparatus that can determine a focus state that is resistant to disturbances such as vibration.
Still another object of the present invention is to provide a tilt adjustment method and apparatus capable of adjusting the tilt of an optical system at a lower cost.

上記の目的を達成するため、本発明によるフォーカス検出方法は、基準面上の所定の領域内の任意の位置における像について、該像による前記基準面上の二次元の光エネルギ分布から、前記像の全体についての少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出するステップと、前記少なくとも1つの一次元光エネルギ分布に基づき、前記基準面における前記像のフォーカス状態を判定するステップと、から成る。   In order to achieve the above object, a focus detection method according to the present invention provides an image at an arbitrary position within a predetermined region on a reference plane from the two-dimensional light energy distribution on the reference plane by the image. Detecting at least one one-dimensional light energy distribution with respect to the entire image, and determining a focus state of the image on the reference plane based on the at least one one-dimensional light energy distribution.

本発明によれば、前記分布検出ステップは、前記基準面における前記像の投影像を、検出面に受けるステップを含み、前記検出面は、前記基準面上の前記所定の領域に対応する所定の検出領域を有し、該検出領域が、互いに交差する第1軸と第2軸を有するようにできる。   According to the present invention, the distribution detecting step includes a step of receiving a projection image of the image on the reference surface on a detection surface, and the detection surface is a predetermined region corresponding to the predetermined region on the reference surface. A detection region may be included, and the detection region may have a first axis and a second axis that intersect each other.

さらに、本発明によれば、前記分布検出ステップは、前記基準面における前記像の前記投影像を、非点収差光学系を通して受けるステップを含み、前記像の非点収差が、前記検出領域の前記第1軸および第2軸の方向に生ずるようにできる。   Furthermore, according to the present invention, the distribution detecting step includes a step of receiving the projection image of the image on the reference plane through an astigmatism optical system, wherein the astigmatism of the image is detected in the detection region. It can occur in the direction of the first axis and the second axis.

さらに、本発明によれば、前記フォーカス状態判定ステップは、前記第1軸光エネルギ分布における最大値と、前記第2軸光エネルギ分布における最大値を判定するステップと、前記第1軸の最大値と前記第2軸の最大値を比較するステップと、前記比較の結果に基づき、前記フォーカス状態を判定するステップと、を含むようにできる。あるいは、前記フォーカス状態判定ステップは、前記第1軸光エネルギ分布の分布範囲の幅と、前記第2軸光エネルギ分布の分布範囲の幅とを判定するステップと、前記第1軸の幅と前記第2軸の幅を比較するステップと、前記比較の結果に基づき、前記フォーカス状態を判定するステップと、を含むようにできる。   Further, according to the present invention, the focus state determination step includes a step of determining a maximum value in the first-axis light energy distribution, a maximum value in the second-axis light energy distribution, and a maximum value of the first axis. And comparing the maximum value of the second axis and determining the focus state based on the result of the comparison. Alternatively, the focus state determination step includes a step of determining a width of the distribution range of the first axis optical energy distribution and a width of the distribution range of the second axis optical energy distribution, and the width of the first axis and the The step of comparing the width of the second axis and the step of determining the focus state based on the result of the comparison can be included.

また、本発明によれば、前記分布検出ステップは、前記像からの1つの投影像の径を基準値と比較すること、を含むようにできる。この場合、前記基準値は、前記像の合焦状態における前記1つの投影像の径の値とすることもできる。あるいは、前記基準値は、前記像からの別の投影像の径とすることもできる。   Further, according to the present invention, the distribution detecting step can include comparing a diameter of one projection image from the image with a reference value. In this case, the reference value may be a value of the diameter of the one projected image in the focused state of the image. Alternatively, the reference value may be a diameter of another projected image from the image.

また、上記目的を達成するため、本発明による、像を基準面に結像するように構成された光学系のための傾き調整方法は、前記基準面上の所定の領域内の任意の位置における前記像のフォーカス検出を、上述のフォーカス検出方法で実行するステップと、前記像が合焦状態となるように前記光学系を調整するステップと、前記基準面に対する前記光学系の傾きを調整するステップと、から成る。   In order to achieve the above object, an inclination adjustment method for an optical system configured to form an image on a reference plane according to the present invention is provided at an arbitrary position in a predetermined region on the reference plane. Executing focus detection of the image by the focus detection method described above; adjusting the optical system so that the image is in focus; and adjusting an inclination of the optical system with respect to the reference plane And consist of

また、上記目的を達成するため、本発明による、フォーカス検出装置は、基準面上の所定の領域内の任意の位置における像について、前記基準面上における前記像による二次元の光エネルギ分布から、前記像全体についての少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出する分布検出手段と、前記少なくとも1つの一次元光エネルギ分布に基づき、前記基準面における前記像のフォーカス状態を判定するフォーカス状態判定手段と、から成る。   In order to achieve the above object, the focus detection apparatus according to the present invention, for an image at an arbitrary position in a predetermined region on the reference plane, from a two-dimensional light energy distribution by the image on the reference plane, Distribution detection means for detecting at least one one-dimensional light energy distribution for the entire image; and focus state determination means for determining the focus state of the image on the reference plane based on the at least one one-dimensional light energy distribution. , Consisting of.

さらに、本発明によれば、前記分布検出手段は、前記基準面上の前記所定の領域に対応する所定の検出領域を有する検出面手段であって、前記検出領域が、互いに交差する第1軸と第2軸を有している、前記の検出面手段を含み、前記基準面における前記像の投影像を、前記検出面手段で受けるようにすることができる。前記検出面手段は、前記第1軸および第2軸に対応して配置した複数の行と複数の列を有する受光素子群であって、各受光素子が、行出力用の素子と列出力用の素子から成る、前記の受光素子群と、複数の行出力端子であって、各々が、当該行の受光素子群の前記行出力用素子が受けた光エネルギの和を出力する、前記の複数の行出力端子と、複数の列出力端子であって、各々が、当該列の受光素子群の前記列出力用素子が受けた光エネルギの和を出力する、前記の複数の列出力端子と、を備えるようにできる。   Further, according to the present invention, the distribution detection means is detection surface means having a predetermined detection area corresponding to the predetermined area on the reference plane, wherein the detection areas intersect each other. And the second axis, and the projection surface of the image on the reference plane can be received by the detection surface means. The detection surface means is a light receiving element group having a plurality of rows and a plurality of columns arranged corresponding to the first axis and the second axis, and each light receiving element includes a row output element and a column output element. A plurality of row output terminals, each of which outputs a sum of light energy received by the row output elements of the light receiving element group of the row. A plurality of column output terminals, each of which outputs a sum of light energy received by the column output element of the light receiving element group of the column, and the plurality of column output terminals, Can be provided.

また、本発明によれば、前記検出面手段は、1つの二次元センサから成るようにしたり、あるいは2つの一次元ラインセンサから成るようにすることができる。
また、上記の目的を達成するため、本発明による、像を基準面に結像するように構成された光学系のための傾き調整装置は、前記基準面上の所定の領域内の任意の位置における前記像のフォーカス検出を行う、上述のフォーカス検出装置と、前記像が合焦状態となるように前記光学系を調整する手段と、前記基準面に対する前記光学系の傾きを調整する傾き調整手段と、から成る。
Further, according to the present invention, the detection surface means can be composed of one two-dimensional sensor or can be composed of two one-dimensional line sensors.
In order to achieve the above object, an inclination adjusting apparatus for an optical system configured to form an image on a reference plane according to the present invention is an arbitrary position in a predetermined region on the reference plane. The focus detection device described above for performing focus detection of the image, means for adjusting the optical system so that the image is in focus, and tilt adjustment means for adjusting the tilt of the optical system with respect to the reference plane And consist of

以上の本発明によれば、フォーカス検出を高速で行うことができる。所定の領域内の任意の位置における像のフォーカス検出を、少なくとも1つの一次元光エネルギ分布の判定により行うことができる。また、一次元光エネルギ分布は、CCD等の撮像素子を使用した場合と比べ、処理すべきデータ量が少なく、これにより高速で処理することが可能となる。また、外乱や位置ずれでビームスポット位置が移動しても、像検出面とビーム中心との位置合わせが不要であるため、フォーカス検出、さらにはこれを用いた傾き調整を高速で行うことができる。   According to the present invention described above, focus detection can be performed at high speed. Focus detection of an image at an arbitrary position in a predetermined region can be performed by determining at least one one-dimensional light energy distribution. In addition, the one-dimensional light energy distribution requires a smaller amount of data to be processed than when an image pickup device such as a CCD is used, and can be processed at high speed. In addition, even if the beam spot position moves due to disturbance or misalignment, it is not necessary to align the image detection surface with the beam center, so focus detection and tilt adjustment using this can be performed at high speed. .

さらに、本発明によれば、フォーカス検出を高速で実行できるために、外乱の周波数よりも高い周波数での検出動作が可能となり、これによりフォーカス検出動作が、外乱による影響をかなり低減することができる。   Furthermore, according to the present invention, since the focus detection can be performed at a high speed, a detection operation at a frequency higher than the frequency of the disturbance can be performed, whereby the focus detection operation can significantly reduce the influence of the disturbance. .

さらにまた、本発明によれば、一次元光エネルギ分布判定により、像検出面−ビーム光軸間の中心位置合わせのための機構が不要となる。さらに、フォーカス検出装置または傾き調整装置の全体の強度、耐震性対策を軽減することができるため、装置全体のコストをかなり低減することができる。   Furthermore, according to the present invention, a mechanism for aligning the center between the image detection surface and the beam optical axis becomes unnecessary by determining the one-dimensional light energy distribution. Furthermore, since the overall strength and earthquake resistance measures of the focus detection device or the tilt adjustment device can be reduced, the cost of the entire device can be considerably reduced.

以下、図面を参照して、本発明の種々の実施形態について詳細に説明する。
図1は、本発明によるフォーカス検出装置の基本的構成を示す図である。図示のように、このフォーカス検出装置Aで検出しようとするものは、基準面上における像(図では、例えばビームスポットを表す丸で示す)である。この像は、ある一定の例えば矩形の領域内で移動し得るものである。この移動し得る像のフォーカス検出を行うため、本発明のフォーカス検出装置Aは、基準面1上の像を投影光学系2を通して受ける検出面3と、一次元光エネルギ分布検出部4と、フォーカス状態判定部5とを備えている。詳しくは、検出面3は、基準面1の一定の領域に対応する例えば矩形の領域を有していて、基準面上の一定の領域内で移動し得る像を受けることができる。尚、本発明では、検出面3は、像の中心を検出面の中心に常に一致させるという位置合わせは不要である。分布検出部4は、この検出面3で受けた像による光エネルギの二次元の分布から、少なくとも1つの一次元の光エネルギ分布を検出する。一次元光エネルギ分布とは、検出面のある軸(例えばX軸)方向において存在する光エネルギの、その軸とは交差する軸(例えばY軸)に沿った分布である。この光エネルギ分布を受ける次のフォーカス状態判定部5は、その分布から、基準面1上の像のフォーカス状態の判定を行う。この判定部5は、例えば、非点収差法あるいはビーム径を比較する方法等の種々の方法に対応する判定方法を使用することにより、検出面3上の像の光エネルギ分布から、フォーカス状態判定を行う。
Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing a basic configuration of a focus detection apparatus according to the present invention. As shown in the drawing, what is to be detected by the focus detection apparatus A is an image on the reference plane (in the figure, for example, indicated by a circle representing a beam spot). This image can move within a certain rectangular area. In order to detect the focus of the movable image, the focus detection apparatus A of the present invention includes a detection surface 3 that receives an image on the reference surface 1 through the projection optical system 2, a one-dimensional light energy distribution detection unit 4, a focus A state determination unit 5. Specifically, the detection surface 3 has, for example, a rectangular region corresponding to a certain region of the reference surface 1, and can receive an image that can move within the certain region on the reference surface. In the present invention, the detection surface 3 does not need to be aligned so that the center of the image always coincides with the center of the detection surface. The distribution detector 4 detects at least one one-dimensional light energy distribution from the two-dimensional light energy distribution by the image received on the detection surface 3. The one-dimensional light energy distribution is a distribution along the axis (for example, Y axis) of light energy existing in a certain axis (for example, X axis) direction of the detection surface. The next focus state determination unit 5 that receives this light energy distribution determines the focus state of the image on the reference plane 1 from the distribution. This determination unit 5 uses, for example, determination methods corresponding to various methods such as an astigmatism method or a beam diameter comparison method to determine the focus state from the light energy distribution of the image on the detection surface 3. I do.

次に、図2を参照して、本発明によるフォーカス検出法を組み込んだ光ピックアップの傾き調整システムXについて説明する。尚、図2では、図1と対応する要素には、参照番号の後に記号“B”を付している。図2の示すように、傾き調整システムXは、CD等の光ピックアップ装置6の光学系の傾きを調整するためのシステムである。この調整対象の光ピックアップ装置6は、図示のように、ピックアップ本体60と、対物レンズ62と、この対物レンズを本体に対し装着するフォーカスアクチュエータ64とを備えている。フォーカスアクチュエータ64は、光ピックアップからのレーザ光が光ディスクに垂直に入射するようにするため、対物レンズのレンズ軸方向における位置(すなわち、焦点位置)の微調整をすることができる公知の構成のものである。このような光ピックアップ装置6の傾き調整をするため、傾き調整システムXは、光ディスクの代わりとして使用する擬似ディスク7と、投影光学系2Bと、図1のフォーカス検出装置Aに対応するフォーカス検出装置Bと、CCDカメラ9とを備えている。光ピックアップ装置6の対物レンズ62は、レーザビームを擬似ディスク7の底面に合焦させるように調整される。したがって、この場合の基準面1Bは、擬似ディスク7の底面である。ここで、光ピックアップ装置の場合、通常、対物レンズ62と光ディスク(調整装置では擬似ディスク)との間の距離は、1ミクロン以内の精度で一定に保持しなければならない。この底面のレーザビームのビームスポットである像は、投影光学系2Bの顕微鏡対物レンズ20Bと、ビームスプリッタのような光分岐部材22Bと、結像レンズ26Bを通して、基準面1Bにおける像のフォーカス状態を判定するフォーカス検出装置Bと、基準面1Bにおける像から対物レンズ62の傾きを検出するためのCCDカメラ9との双方に投影する。ここで、顕微鏡対物レンズ20Bの物体側焦点は、擬似ディスク7の基準面1Bに合わせ、そして結像レンズ26Bの像側焦点は、CCDカメラ9の受光面に合わせる。   Next, an optical pickup tilt adjustment system X incorporating the focus detection method according to the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 2, a symbol “B” is attached to the element corresponding to FIG. 1 after the reference number. As shown in FIG. 2, the tilt adjustment system X is a system for adjusting the tilt of the optical system of the optical pickup device 6 such as a CD. As illustrated, the optical pickup device 6 to be adjusted includes a pickup body 60, an objective lens 62, and a focus actuator 64 for mounting the objective lens on the body. The focus actuator 64 has a known configuration that can finely adjust the position of the objective lens in the lens axis direction (that is, the focal position) so that the laser beam from the optical pickup is perpendicularly incident on the optical disk. It is. In order to adjust the tilt of the optical pickup device 6 as described above, the tilt adjustment system X includes a pseudo disk 7 used as a substitute for the optical disk, the projection optical system 2B, and a focus detection apparatus corresponding to the focus detection apparatus A in FIG. B and a CCD camera 9 are provided. The objective lens 62 of the optical pickup device 6 is adjusted so as to focus the laser beam on the bottom surface of the pseudo disk 7. Accordingly, the reference surface 1B in this case is the bottom surface of the pseudo disk 7. Here, in the case of an optical pickup device, the distance between the objective lens 62 and the optical disc (pseudo disc in the adjusting device) must normally be kept constant with an accuracy within 1 micron. The image, which is the beam spot of the laser beam on the bottom surface, shows the focus state of the image on the reference plane 1B through the microscope objective lens 20B of the projection optical system 2B, the light branching member 22B such as a beam splitter, and the imaging lens 26B. Projection is performed on both the focus detection device B for determination and the CCD camera 9 for detecting the tilt of the objective lens 62 from the image on the reference plane 1B. Here, the object-side focal point of the microscope objective lens 20B is aligned with the reference surface 1B of the pseudo disk 7, and the image-side focal point of the imaging lens 26B is aligned with the light receiving surface of the CCD camera 9.

図2の傾き調整システムXにおいては、先ず、フォーカス検出装置Bで、擬似ディスク7の底面(X−Y平面とする)である基準面1Bにおける像の光エネルギ分布から、その像のフォーカス状態の判定を行い、そして、合焦状態からずれている場合には、フォーカスアクチュエータ64を制御することによって対物レンズ62の焦点位置(すなわち、X−Y平面と直交するZ方向の位置)を微調整することにより、合焦状態を実現する。次に、この合焦状態における基準面1B上の像をCCDカメラ9で撮像した画像(例えば、モニタに表示した画像)から、対物レンズ62の傾きを判断する。傾きの判断は、公知の方法、例えば、CCD画像における0次光画像の真円度、一次回折光によるリング状画像の強度均一性等から判断する。この判断結果に基づき、図示しない光ピックアップ装置6に備えられたネジ等公知の構成により、対物レンズ62の傾きを調整する。この傾き調整の間は、擬似ディスク7の基準面1B上における像の位置がX−Y平面内で動くことになる。しかし、本発明によれば、基準面1B上の一定の領域内においては、像が移動しても像のフォーカス状態を判定することができる。最終的には、対物レンズ62は、擬似ディスク7の底面において、像を合焦状態でしかも底面に対し垂直に合焦させることになる。   In the tilt adjustment system X of FIG. 2, first, the focus detection device B determines the focus state of the image from the light energy distribution of the image on the reference surface 1B that is the bottom surface (X-Y plane) of the pseudo disk 7. When the determination is made and the focus lens is not in focus, the focus actuator 64 is controlled to finely adjust the focal position of the objective lens 62 (that is, the position in the Z direction orthogonal to the XY plane). Thus, the in-focus state is realized. Next, the inclination of the objective lens 62 is determined from an image (for example, an image displayed on a monitor) obtained by capturing the image on the reference surface 1B in the focused state with the CCD camera 9. The determination of the inclination is made by a known method, for example, the roundness of the zero-order light image in the CCD image, the intensity uniformity of the ring-shaped image by the first-order diffracted light, or the like. Based on this determination result, the tilt of the objective lens 62 is adjusted by a known configuration such as a screw provided in the optical pickup device 6 (not shown). During this tilt adjustment, the position of the image on the reference surface 1B of the pseudo disk 7 moves in the XY plane. However, according to the present invention, the focus state of the image can be determined even if the image moves within a certain region on the reference surface 1B. Eventually, the objective lens 62 focuses the image on the bottom surface of the pseudo disk 7 in a focused state and perpendicularly to the bottom surface.

次に、図3を参照して、より具体化した1実施形態のフォーカス検出装置Cを説明する。尚、図3では、図1または図2の要素と同じあるいは対応する要素には、同じ参照番号かあるいは同じ参照番号の後に記号“C”を付してある。図3に示したフォーカス検出装置Cは、フォーカス状態の判定方法として非点収差法を使用した実施形態のものである。図示のように、フォーカス検出装置Cは、検出面3Cと、一次元光エネルギ分布検出部4Cと、フォーカス状態判定部5Cとを備えている。検出面3Cは、擬似ディスク7の基準面1Cにおける像を、顕微鏡対物レンズ20Cおよび光分岐部材22Cを含む投影光学系2C、そしてさらに非点収差光学系24Cを介して受ける。非点収差光学系24Cは、光分岐部材22Cからの投影像を受ける結像レンズ240Cとそしてシリンドリカルレンズ242Cとで構成されており、これにより、基準面1C上の像の投影像を検出面3C上に生じさせる。この非点収差光学系24C並びに投影光学系2cの構成および配置により、基準面1Cにおける像例えばビームスポットが合焦状態のときには、検出面3Cにおける投影像は円となり、そして基準面において焦点位置よりも近いときには、検出面においてはX−Y平面のY軸方向に長い楕円となり、そして基準面において焦点位置よりも遠いときには、検出面においてX軸方向に長い楕円となるようになっている。この検出面3Cにおける像の二次元光エネルギ分布から、分布検出部4Cは、2つの一次元光エネルギ分布を検出し、そして判定部5Cは、この2つの一次元光エネルギ分布から、基準面1Cにおける像のフォーカス状態の判定を行う。   Next, a more specific focus detection apparatus C according to an embodiment will be described with reference to FIG. In FIG. 3, the same or corresponding elements as those in FIG. 1 or 2 are denoted by the same reference number or the same reference number followed by the symbol “C”. The focus detection apparatus C shown in FIG. 3 is an embodiment using an astigmatism method as a method for determining a focus state. As illustrated, the focus detection device C includes a detection surface 3C, a one-dimensional light energy distribution detection unit 4C, and a focus state determination unit 5C. The detection surface 3C receives the image on the reference surface 1C of the pseudo disk 7 through the projection optical system 2C including the microscope objective lens 20C and the light branching member 22C, and further through the astigmatism optical system 24C. The astigmatism optical system 24C is composed of an imaging lens 240C that receives a projection image from the light branching member 22C and a cylindrical lens 242C, whereby the projection image of the image on the reference surface 1C is detected on the detection surface 3C. Give rise to the top. Due to the configuration and arrangement of the astigmatism optical system 24C and the projection optical system 2c, when the image on the reference surface 1C, for example, the beam spot is in focus, the projection image on the detection surface 3C becomes a circle, and the focal position on the reference surface is larger than the focal position. When the distance is close, an ellipse that is long in the Y-axis direction of the XY plane is formed on the detection surface, and when it is far from the focal position on the reference surface, an ellipse that is long in the X-axis direction is formed on the detection surface. From the two-dimensional light energy distribution of the image on the detection surface 3C, the distribution detection unit 4C detects two one-dimensional light energy distributions, and the determination unit 5C determines the reference surface 1C from the two one-dimensional light energy distributions. The focus state of the image at is determined.

図4は、図3の検出面3Cおよび一次元光エネルギ分布検出部4Cのより詳細な回路構成を示すものである。図示のように、検出面3Cは、X軸(図では水平の軸)とY軸(図では垂直の軸)を有する二次元の受光素子アレイ30Cで構成されている。また、分布検出部4Cは、X軸光エネルギ分布検出器40Cと、Y軸光エネルギ分布検出器42Cと、タイミング発生回路44Cとを備えている。   FIG. 4 shows a more detailed circuit configuration of the detection surface 3C and the one-dimensional light energy distribution detection unit 4C in FIG. As shown in the figure, the detection surface 3C is constituted by a two-dimensional light receiving element array 30C having an X axis (horizontal axis in the figure) and a Y axis (vertical axis in the figure). The distribution detector 4C includes an X-axis light energy distribution detector 40C, a Y-axis light energy distribution detector 42C, and a timing generation circuit 44C.

ここで、先ず図4Aを参照して、受光素子アレイ30Cを詳細に説明する。図示のように、このアレイ30Cは、行列に配置された多数の受光素子(すなわち画素)、例えば256×256の画素をもつCMOSエリアセンサである。各画素Pmnは、図示のように、1対の素子、すなわち行出力用素子rmnと列出力用素子cmnを含んでいる。例えば、画素P11は、行出力用素子r11と、列出力用素子c11を有している。各行に含まれる画素内の行出力用素子rは全て、対応する行出力端子ROに接続されるとともに、各列に含まれる画素内の列出力用素子も全て、対応する列出力端子COに接続される。例えば、行出力用素子r11,r12,r13等は、行出力端子RO1に接続され、そして列出力用素子c11,c21,c31等は、列出力用素子CO1に接続される。これら行出力用素子および列出力用素子の各々は、受けた光エネルギに対応する電荷を発生するため、行出力端子は、その行に含まれる多数の行出力用素子が受光した光エネルギ総和に対応する電荷を供給する。同様に、列出力端子も、その列に含まれる多数の列出力用素子が受光した光エネルギの総和に対応する電荷を供給する。このような受光素子アレイ30Cは、例えば、浜松ホトニクス株式会社製造のプロファイルセンサS9132で実現可能であり、その詳細は、2003年1月付けカタログに記載されている。尚、本実施形態では、受光素子アレイ30Cとして、CMOSエリアセンサを使用したが、上記と同様の動作を実行できる任意の他のデバイスを使用することもできる。例えば、各受光素子にスイッチを備え、行または列の受光素子の電荷あるいは電流を同時に読み出すことのできるものを使用することもできる。   First, the light receiving element array 30C will be described in detail with reference to FIG. 4A. As illustrated, the array 30C is a CMOS area sensor having a large number of light receiving elements (ie, pixels) arranged in a matrix, for example, 256 × 256 pixels. As illustrated, each pixel Pmn includes a pair of elements, that is, a row output element rmn and a column output element cmn. For example, the pixel P11 includes a row output element r11 and a column output element c11. All the row output elements r in the pixels included in each row are connected to the corresponding row output terminal RO, and all the column output elements in the pixels included in each column are also connected to the corresponding column output terminal CO. Is done. For example, the row output elements r11, r12, r13, etc. are connected to the row output terminal RO1, and the column output elements c11, c21, c31, etc. are connected to the column output element CO1. Each of the row output element and the column output element generates a charge corresponding to the received light energy, so that the row output terminal is set to the total light energy received by a number of row output elements included in the row. Supply the corresponding charge. Similarly, the column output terminal supplies a charge corresponding to the total light energy received by a number of column output elements included in the column. Such a light receiving element array 30C can be realized by, for example, a profile sensor S9132 manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd., and details thereof are described in a catalog dated January 2003. In the present embodiment, a CMOS area sensor is used as the light receiving element array 30C. However, any other device capable of performing the same operation as described above can be used. For example, it is possible to use a device that includes a switch for each light receiving element and can simultaneously read out the electric charges or currents of the light receiving elements in the row or column.

次に、図4に戻って、一次元光エネルギ分布検出部4Cの説明を続けると、X軸光エネルギ分布検出器40Cは、X軸方向の沿った一次元の光エネルギ分布を検出するものであり、アナログスイッチ回路400と、電荷蓄積器402と、電荷−電圧変換器404と、A/D変換器406とを備えている。アナログスイッチ回路400は、多数、例えば256個の並列に配置したアナログスイッチを備えており、各アナログスイッチは、受光素子アレイ30Cの図4Aに示した例えば256本の列出力端子CO1〜CO256の対応する1つに接続しており、そして出力は、電荷蓄積器402の入力が接続する共通の一本の出力端子に接続している。また、各アナログスイッチは、このスイッチのオン/オフ制御のためのタイミング発生回路44Cからの信号を受ける制御入力も有している。これにより、各アナログスイッチは、オンにされたときには、対応する列出力端子を電荷蓄積器402の入力に接続することにより、その列に含まれる列出力用素子全体の電荷を読み出して電荷蓄積器402に供給する。次に、電荷蓄積器402は、例えばチャージアンプ中のコンデンサで構成することができ、そして各列からの読出し期間中は、入力に受けた電荷を蓄積する。次に、この出力電荷を受ける入力を有する電荷−電圧変換器404は、例えばチャージアンプで構成することができ、そして電荷蓄積器402で蓄積された電荷を対応する電圧に変換して出力に供給する。この電圧は、次のA/D変換器406の入力に供給され、そしてこの変換器でアナログ形態からデジタル信号形態に変換され、そしてこれがX軸データとなる。したがって、X軸データは、各列が受けた光エネルギの全体を表すデータを、列1、列2、列3 - - - 列256の順番で出力する。   Next, returning to FIG. 4, the description of the one-dimensional light energy distribution detector 4C will be continued. The X-axis light energy distribution detector 40C detects a one-dimensional light energy distribution along the X-axis direction. And an analog switch circuit 400, a charge storage 402, a charge-voltage converter 404, and an A / D converter 406. The analog switch circuit 400 includes a large number, for example, 256 analog switches arranged in parallel. Each analog switch corresponds to, for example, 256 column output terminals CO1 to CO256 shown in FIG. 4A of the light receiving element array 30C. And the output is connected to a common output terminal to which the input of the charge accumulator 402 is connected. Each analog switch also has a control input for receiving a signal from a timing generation circuit 44C for on / off control of the switch. Thus, when each analog switch is turned on, the corresponding column output terminal is connected to the input of the charge accumulator 402, thereby reading out the charges of the entire column output elements included in the column and the charge accumulator. 402. Next, the charge accumulator 402 can be composed of, for example, a capacitor in a charge amplifier, and accumulates the charge received at the input during the readout period from each column. Next, the charge-voltage converter 404 having an input for receiving the output charge can be constituted by a charge amplifier, for example, and converts the charge accumulated in the charge accumulator 402 into a corresponding voltage and supplies it to the output. To do. This voltage is supplied to the input of the next A / D converter 406, where it is converted from analog form to digital signal form, which becomes X-axis data. Therefore, as the X-axis data, data representing the entire light energy received by each column is output in the order of column 1, column 2, column 3---column 256.

ここで、図5を参照して、受光素子アレイ30C上のビームスポットとその光エネルギ分布との関係について説明する。尚、図5においては、各画素は、1つの丸で示しているが、実際には、図4Aに示すように、1対の受光素子から構成されていることに注意されたい。図示のように、列1〜列256の各列の光エネルギは、以下の式で表される。   Here, the relationship between the beam spot on the light receiving element array 30C and its light energy distribution will be described with reference to FIG. In FIG. 5, each pixel is indicated by a single circle, but it should be noted that actually, each pixel is composed of a pair of light receiving elements as shown in FIG. 4A. As shown in the figure, the optical energy of each of the columns 1 to 256 is expressed by the following equation.

Figure 0004530658
したがって、ビームスポットBS1が、図示のようなX軸方向が長軸でY軸方向が短軸の横長の楕円の場合、j列付近にピークがある分布となるが、比較的なだらかで分布幅が広いがピークは低い。一方、ビームスポットが点線で示す位置に移動した場合、すなわちビームスポットBS2の場合、ピークはl列付近に移動するが、ビームスポットBS1と同様の分布が検出できる。
Figure 0004530658
Therefore, when the beam spot BS1 is a horizontally long ellipse having a long axis in the X-axis direction and a short axis in the Y-axis direction as shown in the figure, the distribution has a peak near the j-th row, but the distribution width is relatively gentle. Wide but low peak. On the other hand, when the beam spot moves to the position indicated by the dotted line, that is, in the case of the beam spot BS2, the peak moves to the vicinity of the l column, but the same distribution as the beam spot BS1 can be detected.

Y軸光エネルギ分布検出器42Cも、X軸光エネルギ分布検出器40Cと同様の構成を備えており、すなわちアナログスイッチ回路420と、電荷蓄積器422と、電荷−電圧変換器424と、A/D変換器426を備えている。但し、アナログスイッチ回路420の多数のアナログスイッチの各々は、受光素子アレイ30Cの行出力端子RO1〜RO256の対応する1つに接続している。これにより、A/D変換器426が出力に発生するY軸データは、各行が受けた光エネルギの全体を表すデータを、行1、行2、行3 - - - 行256の順番で出力する。   The Y-axis light energy distribution detector 42C has the same configuration as that of the X-axis light energy distribution detector 40C, that is, the analog switch circuit 420, the charge storage 422, the charge-voltage converter 424, the A / A A D converter 426 is provided. However, each of a large number of analog switches of the analog switch circuit 420 is connected to a corresponding one of the row output terminals RO1 to RO256 of the light receiving element array 30C. As a result, the Y-axis data generated at the output of the A / D converter 426 outputs data representing the entire light energy received by each row in the order of row 1, row 2, row 3---row 256. .

再び、図5においては、行1〜行256の各行の光エネルギは、以下の式で表される。   Again, in FIG. 5, the light energy of each row 1 to 256 is expressed by the following equation.

Figure 0004530658
したがって、ビームスポットBS1のとき、i行付近にピークがある分布となるが、X軸分布と比べ分布幅は狭くてピークは高い。一方、ビームスポットBS2の場合、ピークはk行付近に移動するが、ビームスポットBS1と同様の分布が検出できる。
Figure 0004530658
Therefore, in the case of the beam spot BS1, the distribution has a peak near the i-th row, but the distribution width is narrower and the peak is higher than the X-axis distribution. On the other hand, in the case of the beam spot BS2, the peak moves to the vicinity of k rows, but the same distribution as the beam spot BS1 can be detected.

以上のように、一次元光エネルギ分布を用いることにより、ビームスポットの形状、すなわち、円形状、横長の楕円、縦長の楕円等を、X軸およびY軸の一次元光エネルギ分布の比較により検出することができる。   As described above, by using the one-dimensional light energy distribution, the shape of the beam spot, that is, a circular shape, a horizontally long ellipse, a vertically long ellipse, etc. is detected by comparing the one-dimensional light energy distribution of the X axis and the Y axis. can do.

次に、タイミング発生回路44Cについて説明すると、この回路は、図示のように、クロックと測定開始信号とをそれぞれ受ける入力を有している。また、回路44Cは、これら入力に基づき、アナログスイッチ回路400とアナログスイッチ回路420内の各アナログスイッチをオン/オフする信号を出力に発生する。一例として、行1のアナログスイッチと列1のアナログスイッチの双方をオンにする読出し信号、次に、行2のアナログスイッチおよび列2のアナログスイッチの双方をオンにする読出し信号、等のように、行番号および列番号の順番に読出し信号を発生する。このようにして、上述のように、各行および各列の光エネルギを表すX軸データおよびY軸データを発生させる。また、回路44Cは、この読出し信号の発生と同期してアドレス同期信号を発生する。読み出し中のデータがどの行/列のデータであるかは、アドレス同期信号の立ち上がり、あるいは立下り回数を数えることで判別することができる。尚、受光素子アレイ30Cだけでなく一次元光エネルギ分布検出部4Cも、上記の浜松ホトニクス株式会社製造のプロファイルセンサS9132で実現することができる。   Next, the timing generation circuit 44C will be described. This circuit has inputs for receiving a clock and a measurement start signal, as shown in the figure. Based on these inputs, the circuit 44C generates a signal for turning on / off the analog switches in the analog switch circuit 400 and the analog switch circuit 420 at the output. As an example, a read signal that turns on both the analog switch in row 1 and the analog switch in column 1, then a read signal that turns on both the analog switch in row 2 and the analog switch in column 2, etc. Read signals are generated in the order of row number and column number. In this way, as described above, X-axis data and Y-axis data representing the light energy of each row and each column are generated. The circuit 44C generates an address synchronization signal in synchronization with the generation of the read signal. Which row / column data the data being read out can be determined by counting the rising or falling times of the address synchronization signal. Not only the light receiving element array 30C but also the one-dimensional light energy distribution detector 4C can be realized by the profile sensor S9132 manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd.

以上のような構成の受光素子アレイ30Cを採用することにより、画素毎のデータではなく、列毎あるいは行毎のデータのみとなり、したがって、処理すべきデータ量が減少し、これにともなって、画像更新レートを例えば3kHzもの高さにすることができる。これに対し、一般的なCCD撮像素子の場合、画素毎のデータを処理するため、画像更新レートは、60Hzにすぎない。このことから、本発明によれば、光エネルギ分布の検出を従来と比べ高速で実行することができる。また、一次元光エネルギ分布を用いることにより、外乱や位置ずれでビームスポット位置が移動しても、ビームスポットにより生ずる光エネルギ分布を同様に検出することができる。このため、検出面の中心とビームスポットの中心とを一致させる必要がない。これらの特徴から、その高い画像更新レートより低い振動あるいは調整時の外乱による影響を、実質上排除することができる。   By adopting the light receiving element array 30C having the above-described configuration, only the data for each column or row, not the data for each pixel, and therefore the amount of data to be processed is reduced. The update rate can be as high as 3 kHz, for example. On the other hand, in the case of a general CCD image pickup device, since the data for each pixel is processed, the image update rate is only 60 Hz. Thus, according to the present invention, the detection of the light energy distribution can be performed at a higher speed than in the prior art. Further, by using the one-dimensional light energy distribution, the light energy distribution generated by the beam spot can be detected in the same manner even if the beam spot position moves due to disturbance or position shift. For this reason, it is not necessary to make the center of the detection surface coincide with the center of the beam spot. From these characteristics, it is possible to substantially eliminate the influence of vibration lower than the high image update rate or disturbance during adjustment.

次に、図6を参照して、フォーカス状態判定部5Cを説明する。図示のように、フォーカス状態判定部5Cは、X軸データ処理部50Cと、Y軸データ処理部52Cと、円形性判定器54Cとを備えている。詳しくは、X軸データ処理部50Cは、演算器500と、D/A変換器502とを備えている。演算器500は、例えば、プロセッサとメモリ(不図示)で構成することができ、そして図4の一次元光エネルギ分布検出部4CからのX軸データを受ける入力と、X軸データとして受けているデータがどの列の光エネルギ分布かを示すアドレス同期信号を受ける入力とを有している。この演算器は、各列の光エネルギ・データのX軸に方向に沿った分布、すなわちX軸方向の一次元の光エネルギ分布から、このエネルギ分布を表す特徴であるX軸最大値を算出する。尚、演算器500での処理は、以下で更に詳細に説明する。このX軸方向分布の最大値は、次にD/A変換器502によりアナログ・データに変換し、そして次の円形性判定器54Cに供給する。同様に、Y軸データ処理部52Cも、X軸データ処理部50Cと同じ回路構成を有していて、演算器520とD/A変換器522とを備え、これにより、Y軸方向の一次元光エネルギ分布から、このエネルギ分布の特徴であるY軸最大値を算出し、そしてこのデジタル・データを円形性判定器54Cに供給する。円形性判定器54Cは、例えば差動増幅器540で構成でき、そしてこれは、Y軸最大値からX軸最大値の差を算出してフォーカスエラー信号として出力する。このフォーカスエラー信号は、例えば図3のフォーカス検出装置Cのフォーカスアクチュエータ64を制御するのに使用する。本実施の形態ではD/A変換器502でアナログ・データに変換した後円形性の判定をしているが、デジタル・データのまま判定をしても良い。   Next, the focus state determination unit 5C will be described with reference to FIG. As illustrated, the focus state determination unit 5C includes an X-axis data processing unit 50C, a Y-axis data processing unit 52C, and a circularity determination unit 54C. Specifically, the X-axis data processing unit 50C includes an arithmetic unit 500 and a D / A converter 502. The computing unit 500 can be configured by, for example, a processor and a memory (not shown), and receives X-axis data from the one-dimensional light energy distribution detection unit 4C in FIG. 4 and X-axis data. And an input for receiving an address synchronization signal indicating which column of light energy distribution the data has. This computing unit calculates the X-axis maximum value, which is a feature representing the energy distribution, from the distribution along the X-axis direction of the optical energy data of each column, that is, the one-dimensional optical energy distribution in the X-axis direction. . The processing in the computing unit 500 will be described in further detail below. The maximum value of the X-axis direction distribution is then converted to analog data by the D / A converter 502 and supplied to the next circularity determination unit 54C. Similarly, the Y-axis data processing unit 52C has the same circuit configuration as that of the X-axis data processing unit 50C, and includes an arithmetic unit 520 and a D / A converter 522. From the light energy distribution, the maximum Y-axis value that is characteristic of this energy distribution is calculated, and this digital data is supplied to the circularity determination unit 54C. The circularity determination unit 54C can be constituted by a differential amplifier 540, for example, which calculates the difference between the maximum value on the Y axis and the maximum value on the X axis and outputs it as a focus error signal. This focus error signal is used, for example, to control the focus actuator 64 of the focus detection apparatus C in FIG. In this embodiment, the circularity is determined after being converted to analog data by the D / A converter 502. However, the determination may be made with digital data as it is.

次に、図7のフローチャートおよび図8の図を参照して、図6の演算器500および520における動作について説明する。尚、演算器500と演算器520の動作は同じであるため、演算器500を主として説明する。先ず、図7のステップS2で、演算器500内のメモリ内の記憶値を初期化する。次に、ステップS4で、nを列1を表す1にセットし、そしてステップS6で、列1の光エネルギ値の入力を受ける。ステップS8で、この光エネルギ入力値が記憶値(最初は0)より大きいか否か判定し、そして大きい場合には、入力値を記憶値に上書きするステップS10を経由し、そしてそうでない場合は、ステップS12に直接進んで、nを1増分することにより、列2を表す2にセットする。次の判断ステップS14では、nが最大値(本実施形態では256)に達したか否か判定し、そして達していないので、ステップS4の後にループして、ステップS6〜S12を繰り返す。これにより、列1〜列256の光エネルギ入力値に関する処理を行う。ステップS14で、n=256に達したときには、一次元光エネルギ分布内の全ての光エネルギ値の処理が完了したことになるので、ステップS16に進んで、記憶値を次のD/A変換器502に出力し、これにより処理が終了する。ここで、この記憶値は、一次元光エネルギ分布内の光エネルギ値のピーク値に等しくなっている。このようにして、最後の光エネルギ入力値の処理が完了した時点でピーク値が得られるため、データ処理の高速性がさらに高まる。上記の処理は、Y軸用の演算器520においても同様に実行され、これによって、X軸のピーク値とY軸のピーク値とが検出され、円形性判定器54Cに供給される。尚、このプロセスでは、エネルギ分布の最大値が、分布の幅に反比例していることを利用して、ビームスポットの円形性の有無を判断する。   Next, with reference to the flowchart of FIG. 7 and the diagram of FIG. 8, the operation of the computing units 500 and 520 of FIG. The operation of the computing unit 500 and the computing unit 520 is the same, and therefore the computing unit 500 will be mainly described. First, in step S2 of FIG. 7, the stored value in the memory in the arithmetic unit 500 is initialized. Next, in step S4, n is set to 1 representing column 1, and the light energy value of column 1 is received in step S6. In step S8, it is determined whether this light energy input value is larger than the stored value (initially 0), and if so, the process proceeds to step S10 where the input value is overwritten to the stored value, and otherwise. , Go directly to step S12 and increment n by 1 to set it to 2 representing column 2. In the next determination step S14, it is determined whether or not n has reached the maximum value (256 in the present embodiment), and since it has not reached, it loops after step S4 and repeats steps S6 to S12. Thereby, the process regarding the light energy input value of the columns 1 to 256 is performed. When n = 256 is reached in step S14, the processing of all the light energy values in the one-dimensional light energy distribution has been completed. Therefore, the process proceeds to step S16, and the stored value is transferred to the next D / A converter. The data is output to 502, and the processing is thereby terminated. Here, this stored value is equal to the peak value of the light energy value in the one-dimensional light energy distribution. In this way, since the peak value is obtained when the processing of the last light energy input value is completed, the speed of data processing is further increased. The above processing is similarly executed in the Y-axis computing unit 520, whereby the X-axis peak value and the Y-axis peak value are detected and supplied to the circularity determination unit 54C. In this process, the presence / absence of circularity of the beam spot is determined using the fact that the maximum value of the energy distribution is inversely proportional to the width of the distribution.

ここで、図8も参照して、円形性判定器54Cにおけるフォーカス状態判定法について説明する。尚、図8は、図5に示した光エネルギ分布図と同じものを、ベストフォーカスすなわち合焦状態の場合(図8(a))、焦点が基準面よりも近い場合(図8(b))、そして焦点が基準面よりも遠い場合(図8(c))の3つの場合について示している。図8(a)から分かるように、合焦状態のときは、非点収差光学系を通して生じる検出面3C上のビームスポットは、円形となる。この場合、一次元光エネルギのX軸ピーク値X(0)は、Y軸ピーク値Y(0)と等しい。したがって、それらピーク値が等しい、すなわちピーク値間の差が0の場合、合焦状態を示し、したがって、フォーカスエラー信号も0を表すことになる。比較のため、点線で示しているのは、ビームスポットの中心を通るX軸およびY軸での光強度の分布を示すものである。この場合も、X軸ピーク値x(0)は、Y軸ピーク値y(0)と等しいため、一次元光エネルギ分布を使用する場合と同じ判定結果が得られる。   Here, the focus state determination method in the circularity determination unit 54C will be described with reference to FIG. 8 is the same as the light energy distribution diagram shown in FIG. 5 in the best focus, that is, in the focused state (FIG. 8A), and in the case where the focal point is closer to the reference plane (FIG. 8B). ) And three cases in which the focal point is farther than the reference plane (FIG. 8C). As can be seen from FIG. 8A, in the in-focus state, the beam spot on the detection surface 3C generated through the astigmatism optical system is circular. In this case, the X-axis peak value X (0) of the one-dimensional light energy is equal to the Y-axis peak value Y (0). Therefore, when the peak values are equal, that is, when the difference between the peak values is 0, the in-focus state is indicated, and thus the focus error signal also indicates 0. For comparison, the dotted line indicates the light intensity distribution on the X-axis and Y-axis passing through the center of the beam spot. Also in this case, since the X-axis peak value x (0) is equal to the Y-axis peak value y (0), the same determination result as that obtained when the one-dimensional light energy distribution is used can be obtained.

次に、図8(b)の場合、非点収差光学系を通して生じる検出面3C上のビームスポットは、長軸がX軸方向で短軸がY軸方向の楕円となる。この場合、一次元光エネルギのX軸ピーク値X(−)は、Y軸ピーク値Y(−)よりも小さい。したがって、Y軸ピーク値からX軸ピーク値を減算した結果が正のときは、焦点位置が近いことを示しており、したがって正のフォーカスエラー信号によって焦点位置を遠くへと移動させる制御をすることになる。ここで、点線で示した楕円の中心を通る光強度分布を見ると、中心の光強度は同じであるため、X軸ピーク値x(−)は、Y軸ピーク値y(−)と相変わらず等しいままであり、このことは、中心を通る光強度分布のピーク値の比較ではフォーカス状態の判定ができないことを示している。   Next, in the case of FIG. 8B, the beam spot on the detection surface 3 </ b> C generated through the astigmatism optical system becomes an ellipse whose major axis is the X-axis direction and whose minor axis is the Y-axis direction. In this case, the X-axis peak value X (−) of the one-dimensional light energy is smaller than the Y-axis peak value Y (−). Therefore, when the result obtained by subtracting the X-axis peak value from the Y-axis peak value is positive, it indicates that the focal position is close, and therefore, the focal position is controlled to be moved away by a positive focus error signal. become. Here, when the light intensity distribution passing through the center of the ellipse indicated by the dotted line is seen, the light intensity at the center is the same, so the X-axis peak value x (−) is still equal to the Y-axis peak value y (−). This indicates that the focus state cannot be determined by comparing the peak values of the light intensity distribution passing through the center.

次に、図8(c)の場合、非点収差光学系を通して生じる検出面3C上のビームスポットは、長軸がY軸方向で短軸がX軸方向の楕円となる。この場合、図8(b)のときと逆になって、一次元光エネルギのX軸ピーク値X(+)は、Y軸ピーク値Y(+)よりも大きくなり、したがって、Y軸ピーク値からX軸ピーク値を減算した結果が負のときは、焦点位置が遠いことを示している。このため、負のフォーカスエラー信号によって焦点位置を近くへと移動させる制御をすることになる。同様に、点線で示した楕円の中心を通る光強度分布を見ると、中心の光強度はやはり同じであるため、X軸ピーク値x(+)は、Y軸ピーク値y(+)と相変わらず等しいままであり、中心を通る光強度分布のピーク値の比較ではフォーカス状態の判定ができないことを示している。   Next, in the case of FIG. 8C, the beam spot on the detection surface 3C generated through the astigmatism optical system is an ellipse whose major axis is the Y-axis direction and whose minor axis is the X-axis direction. In this case, contrary to the case of FIG. 8B, the X-axis peak value X (+) of the one-dimensional light energy is larger than the Y-axis peak value Y (+). When the result of subtracting the X-axis peak value from the negative value indicates that the focal position is far. For this reason, the focus position is controlled to move closer by a negative focus error signal. Similarly, when the light intensity distribution passing through the center of the ellipse indicated by the dotted line is seen, the light intensity at the center is still the same, so the X-axis peak value x (+) is the same as the Y-axis peak value y (+). It remains the same, indicating that the focus state cannot be determined by comparing the peak values of the light intensity distribution passing through the center.

尚、図8では、ビームスポットの中心が検出面3Cの中心に一致している状態で示したが、図5に関連して説明した通り、本発明では、一次元光エネルギ分布における最大値を使用するため、それら中心を一致させる必要はない。   In FIG. 8, the center of the beam spot is shown in the state of being coincident with the center of the detection surface 3C. However, as described in connection with FIG. 5, in the present invention, the maximum value in the one-dimensional light energy distribution is set. There is no need to match their centers for use.

以上に説明した本発明のフォーカス検出装置Cによれば、基準面1Cにおける像のフォーカス検出を、高速でしかも振動等の外乱による影響をほとんど受けることなく行うことができる。さらにまた、外乱による影響を低減できるため、フォーカス検出装置C自体あるいはこれを用いた傾き調整システムX全体のコストをかなり低減することもできる。   According to the focus detection apparatus C of the present invention described above, the focus detection of the image on the reference surface 1C can be performed at high speed and hardly affected by disturbance such as vibration. Furthermore, since the influence of disturbance can be reduced, the cost of the focus detection device C itself or the entire tilt adjustment system X using the same can be considerably reduced.

次に、図9のフローチャートを参照して、図6の演算器500および520における演算処理(図7に示す)の他の実施形態について説明する。図9に示す方法は、光エネルギ分布の最大値を別の方法で求めるプロセス、すなわち、しきい値の中間における値を最大値として求める方法を示している。詳細には、ステップS20,S22,S24は、図7のステップS2,S4,S6と同じである。しかし、ステップS26では、入力値がしきい値よりも大きいか否か判定し、そして大きくない場合は、ステップS28で、nを1増分した後ステップS24に戻る。ここで、しきい値とは、一次元光エネルギ分布の分布幅を求めるために使用するある一定の予想される最大値より小さな値である。ステップS26で、YESとなった場合、すなわち入力値がしきい値より大きくなったとき、ステップS30で、nの値、すなわち列の番号を記憶値1として記憶する。この記憶値1は、エネルギ分布の幅の一端を定める。次に、ステップS32で、nを更に1増分し、そしてステップS34で、n番目の入力値を受け、ステップS36で、そのnの値およびそのn番目(すなわち列n)の入力値を記憶する。次に、判断ステップS38で、その入力値が上記と同じしきい値よりも小さいかどうか判定し、そしてNOの場合、ステップS32に戻って、ステップS32〜S38を繰り返す。一方、ステップS38で、YESとなった場合、すなわち、光エネルギ値がしきい値より下なったとき、次のステップS40で、そのnの値を記憶値2として記憶する。最後のステップS42では、記憶値1と記憶値2の中間の値を求め、nがこの値のときの入力値(光エネルギ値)を出力する。すなわち、分布幅の中間のエネルギ値を最大値として使用することができる。この手法は、エネルギ分布が複数のピーク部分を有するか、あるいは正規分布のような滑らかな分布でない場合に有効である。また、図9の処理においても、図7と同様に、最後の光エネルギ値の処理の完了とほぼ同時に、ピーク値が得られる。 さらに、図10を参照して、図6の演算器500および520における演算処理(図7に示す)のさらに他の実施形態について説明する。図10に示すプロセスは、一次元光エネルギ分布の分布幅をそのまま楕円の長軸および短軸として求める方法である。このプロセスは、図9のプロセスとほぼ同じであるため、異なっている点についてのみ説明する。すなわち、ステップS50〜S64は、図9のステップS20〜S34と同じである。但し、図10では、図9のステップ36に相当するステップはないが、それは、分布幅のみを求めるからである。さらに、ステップS68〜S70も、図9のステップS38〜S40と同じであるが、次のステップS72は、図9のステップS42とは異なり、記憶値2から記憶値1を減算した値を、分布幅として出力する。この図10の方法によっても、楕円の長軸および短軸等を簡単に求めることができる。   Next, another embodiment of the arithmetic processing (shown in FIG. 7) in the arithmetic units 500 and 520 of FIG. 6 will be described with reference to the flowchart of FIG. The method shown in FIG. 9 shows a process for obtaining the maximum value of the light energy distribution by another method, that is, a method for obtaining a value in the middle of the threshold value as the maximum value. Specifically, steps S20, S22, and S24 are the same as steps S2, S4, and S6 of FIG. However, in step S26, it is determined whether or not the input value is larger than the threshold value. If it is not larger, n is incremented by 1 in step S28, and the process returns to step S24. Here, the threshold value is a value smaller than a certain expected maximum value used for obtaining the distribution width of the one-dimensional light energy distribution. When YES is determined in step S26, that is, when the input value is larger than the threshold value, the value of n, that is, the column number is stored as the stored value 1 in step S30. This stored value 1 defines one end of the width of the energy distribution. Next, in step S32, n is further incremented by 1, and in step S34, the nth input value is received, and in step S36, the value of n and the input value of the nth (ie, column n) are stored. . Next, in decision step S38, it is determined whether or not the input value is smaller than the same threshold value as described above. If NO, the process returns to step S32 and steps S32 to S38 are repeated. On the other hand, if “YES” is determined in the step S38, that is, if the light energy value is lower than the threshold value, the value of n is stored as the stored value 2 in the next step S40. In the last step S42, an intermediate value between the stored value 1 and the stored value 2 is obtained, and an input value (light energy value) when n is this value is output. That is, an energy value in the middle of the distribution width can be used as the maximum value. This method is effective when the energy distribution has a plurality of peak portions or is not a smooth distribution such as a normal distribution. Also in the process of FIG. 9, similarly to FIG. 7, the peak value is obtained almost simultaneously with the completion of the process of the last light energy value. Furthermore, still another embodiment of the arithmetic processing (shown in FIG. 7) in the arithmetic units 500 and 520 in FIG. 6 will be described with reference to FIG. The process shown in FIG. 10 is a method for obtaining the distribution width of the one-dimensional light energy distribution as it is as the major axis and the minor axis of the ellipse. Since this process is substantially the same as the process of FIG. 9, only the differences will be described. That is, steps S50 to S64 are the same as steps S20 to S34 in FIG. However, in FIG. 10, there is no step corresponding to step 36 of FIG. 9 because only the distribution width is obtained. Further, Steps S68 to S70 are the same as Steps S38 to S40 in FIG. 9, but the next Step S72 is different from Step S42 in FIG. 9 in that the value obtained by subtracting the stored value 1 from the stored value 2 is distributed. Output as width. Also by the method of FIG. 10, the major axis and minor axis of the ellipse can be easily obtained.

次に、以下では、図11〜図13を参照して、図3〜図6の実施形態における投影光学系2C、非点収差光学系24Cあるいは検出面3Cの他の実施形態について説明する。
先ず、図11は、図5の二次元受光素子アレイ30Cの代わりに、一次元ラインセンサを2つ使用する実施形態であるフォーカス検出装置Dを示している。尚、図11では、図2または図3と対応する要素には、参照番号の後に記号“D”を付している。このフォーカス検出装置Dでは、図3の光学系24Cと同様の非点収差光学系24Dを使用するが、その後にビームスプリッタ等の光分岐部材28Dを備えることによって、図示のように、2つの別個に設けた一次元ラインセンサ3D−1、D3−2上に投影像を投射する。詳しくは、一次元ラインセンサ3D−1は、X軸一次元光エネルギ分布検出用のセンサであり、そして一次元ラインセンサ3D―2は、Y軸一次元光エネルギ分布検出用のセンサである。これらラインセンサは、例えば、図4Aに示した構造の二次元の受光素子アレイ30Cを利用して実現することができる。すなわち、X軸用の一次元ラインセンサ3D−1は、受光素子アレイ30Cの列出力端子のみを使用することで実現し、そしてY軸用の一次元ラインセンサ3D−2は、受光素子アレイ30Cの行出力端子のみを使用することで実現することができる。あるいはまた、X軸用一次元ラインセンサ3D−1は、受光素子アレイ30Cのうち行出力用素子を除去した構造のものとし、そしてY軸用一次元ラインセンサ3D−2は、受光素子アレイ30Cのうち列出力用素子を除去した構造のものを使用することができる。この場合、これらラインセンサを制御するタイミング信号は、図4の回路44Cが発生する信号をそのまま使用することができる。
Next, another embodiment of the projection optical system 2C, the astigmatism optical system 24C, or the detection surface 3C in the embodiment of FIGS. 3 to 6 will be described with reference to FIGS.
First, FIG. 11 shows a focus detection device D which is an embodiment using two one-dimensional line sensors instead of the two-dimensional light receiving element array 30C of FIG. In FIG. 11, elements corresponding to those in FIG. 2 or FIG. In this focus detection device D, an astigmatism optical system 24D similar to the optical system 24C in FIG. 3 is used. However, by providing an optical branching member 28D such as a beam splitter after that, as shown in the drawing, two separate astigmatism optical systems 24D are used. Projection images are projected onto the one-dimensional line sensors 3D-1 and D3-2 provided in the above. Specifically, the one-dimensional line sensor 3D-1 is a sensor for detecting an X-axis one-dimensional light energy distribution, and the one-dimensional line sensor 3D-2 is a sensor for detecting a Y-axis one-dimensional light energy distribution. These line sensors can be realized by using, for example, the two-dimensional light receiving element array 30C having the structure shown in FIG. 4A. That is, the X-axis one-dimensional line sensor 3D-1 is realized by using only the column output terminal of the light-receiving element array 30C, and the Y-axis one-dimensional line sensor 3D-2 is realized by using the light-receiving element array 30C. This can be realized by using only the row output terminals. Alternatively, the X-axis one-dimensional line sensor 3D-1 has a structure in which the row output elements are removed from the light-receiving element array 30C, and the Y-axis one-dimensional line sensor 3D-2 is the light-receiving element array 30C. Among them, a structure in which the column output element is removed can be used. In this case, as the timing signal for controlling these line sensors, the signal generated by the circuit 44C of FIG. 4 can be used as it is.

次に、図12は、フォーカス検出を、非点収差法ではなく、ビーム径を比較する方法 を使用して行う実施形態のフォーカス検出装置Eを示している。尚、図12では、図2または図3と対応する要素には、参照番号の後に記号“E”を付している。フォーカス検出装置Eでは、図3の非点収差光学系24Cの代わりに結像レンズ240Eのみを使用し、そして、図11の実施形態と同様に、光分岐部材28Eと2つの一次元ラインセンサ3E−1および3E−2を使用する。但し、図12のこの装置Eでは、基準面における像の投影像の焦点の前と後におけるビームスポット径を互いに比較することにより、フォーカス状態を判定する。詳しくは、一次元ラインセンサ3E−1は、投影像の焦点位置よりも前に配置する一方、一次元ラインセンサ3E−2は、その焦点位置よりも後ろに配置し、そしてこれらセンサで検出したビームスポットのビーム径を互いに比較することにより、焦点位置を計算により求め、そして焦点位置が来るべき所定の位置とはずれた位置に焦点があると判定した場合には、ずれの方向と大きさに対応するフォーカスエラー信号を発生する。尚、図12に実施形態で使用するラインセンサは、図11で示した実施形態とは異なり、単にビームスポットの径の比較であるため、必ずしもX軸とY軸の検出をするような配置とする必要はなく、同じ軸方向での径を求めたり、あるいは異なった軸方向での径を求めるようにすることもできる。尚、一次元ラインセンサ3E−1,3E−2は、図11のものと同様の構成とすることができる。この図12の実施形態の場合も、図4および図6に示した回路構成と同様の回路を用いて、一次元光エネルギ分布検出とフォーカス状態判定を行うことができる。但し、図6の回路においては、円形性判定器54Cは、径比較器として機能させる。尚、本実施形態の場合、径の算出は、図10に示した分布幅から求める方法、あるいは図7および図9に示した最大値からその径を導出することもできる。   Next, FIG. 12 shows a focus detection apparatus E according to an embodiment in which focus detection is performed using a method of comparing beam diameters instead of the astigmatism method. In FIG. 12, the elements corresponding to those in FIG. 2 or FIG. In the focus detection device E, only the imaging lens 240E is used in place of the astigmatism optical system 24C in FIG. 3, and, similarly to the embodiment in FIG. 11, the light branching member 28E and the two one-dimensional line sensors 3E. -1 and 3E-2 are used. However, in this apparatus E in FIG. 12, the focus state is determined by comparing the beam spot diameters before and after the focal point of the projected image of the image on the reference plane. Specifically, the one-dimensional line sensor 3E-1 is arranged before the focal position of the projection image, while the one-dimensional line sensor 3E-2 is arranged behind the focal position and detected by these sensors. By comparing the beam diameters of the beam spots with each other, the focal position is obtained by calculation. A corresponding focus error signal is generated. The line sensor used in the embodiment in FIG. 12 is simply a comparison of the diameters of the beam spots, unlike the embodiment shown in FIG. 11, and is therefore not necessarily arranged to detect the X axis and the Y axis. It is not necessary to do this, and the diameter in the same axial direction can be obtained, or the diameters in different axial directions can be obtained. The one-dimensional line sensors 3E-1 and 3E-2 can have the same configuration as that shown in FIG. Also in the embodiment of FIG. 12, one-dimensional light energy distribution detection and focus state determination can be performed using a circuit similar to the circuit configuration shown in FIGS. However, in the circuit of FIG. 6, the circularity determination unit 54C functions as a diameter comparator. In the case of this embodiment, the diameter can be calculated from the distribution width shown in FIG. 10 or the diameter can be derived from the maximum values shown in FIGS.

最後に、図13には、ビーム径を比較する別の方法を使用した実施形態のフォーカス検出装置Fを示している。尚、図13では、図2または図3と対応する要素には、参照番号の後に記号“F”を付している。このフォーカス検出装置Fは、図12の実施形態と異なっているのは、投影像の焦点位置の前あるいは後ろのいずれか一方に配置した一次元ラインセンサ3Fを1つだけ使用する点である。尚、光分岐部材22Fと結像レンズ240Fと結像レンズ26Fは、図3の光分岐部材22C、結像レンズ240C、結像レンズ26Cに対応したものである。図12にある他方の一次元ラインセンサから求める径は、図13の実施形態では、予め算出した基準値を使用する。この基準値を求めるため、フォーカス検出装置Fでは、図2に示したCCDカメラ9に対応するCCDカメラ9Fを使用する。すなわち、基準面上における像が合焦状態にあるときを、CCDカメラ9Fで目視で確認し、そしてこのときに一次元ラインセンサ3Fで検出されるビームスポット径を算出し、基準値として格納しておく。次に、光学系の傾き調整の期間中、この基準値を、一次元ラインセンサ3Fで検出する径と比較することにより、基準面上の像のフォーカス状態を判定する。   Finally, FIG. 13 shows a focus detection device F of an embodiment using another method for comparing beam diameters. In FIG. 13, the elements corresponding to those in FIG. 2 or FIG. This focus detection device F differs from the embodiment of FIG. 12 in that only one one-dimensional line sensor 3F arranged in front of or behind the focal position of the projection image is used. The light branching member 22F, the imaging lens 240F, and the imaging lens 26F correspond to the light branching member 22C, the imaging lens 240C, and the imaging lens 26C in FIG. The diameter calculated from the other one-dimensional line sensor in FIG. 12 uses a reference value calculated in advance in the embodiment of FIG. In order to obtain this reference value, the focus detection device F uses a CCD camera 9F corresponding to the CCD camera 9 shown in FIG. That is, when the image on the reference plane is in focus, the CCD camera 9F visually confirms, and the beam spot diameter detected by the one-dimensional line sensor 3F at this time is calculated and stored as a reference value. Keep it. Next, during the period of adjusting the tilt of the optical system, the reference value is compared with the diameter detected by the one-dimensional line sensor 3F to determine the focus state of the image on the reference plane.

図14には、図13のフォーカス検出装置Fで使用する一次元光エネルギ分布検出部4Fおよびフォーカス状態判定部5Fの回路構成を示している。図6に示したのと異なっているのは、一次元光エネルギ分布検出部4Fが、一次元ラインセンサ3FからのY軸データのみを出力し、そして図6のX軸データ処理部50Cを、メモリ504とD/A変換器502で構成される基準値設定部50Fに置き換えたことである。また、図6の円形性判定器54Cを、図12の実施形態におけるのと同様に径比較器54Fとしている点である。基準値を求める際には、前述の基準面上における像が合焦状態にあるとき、演算器520で基準値を算出しメモリ504に格納する。同時にD/A変換器502では、格納された基準値をアナログ・データに変換し、そして径比較器54Fに供給する。このような構成によっても、フォーカス状態の判定を行うことができる。また、径の算出は、図12の実施形態と同様に、図7、図9および図10の種々の方法を用いることができる。   FIG. 14 shows a circuit configuration of the one-dimensional light energy distribution detection unit 4F and the focus state determination unit 5F used in the focus detection device F of FIG. 6 is different from that shown in FIG. 6 in that the one-dimensional light energy distribution detector 4F outputs only the Y-axis data from the one-dimensional line sensor 3F, and the X-axis data processor 50C in FIG. This is replaced with a reference value setting unit 50F composed of a memory 504 and a D / A converter 502. Further, the circularity determiner 54C in FIG. 6 is a diameter comparator 54F as in the embodiment in FIG. When obtaining the reference value, when the image on the reference plane is in focus, the calculator 520 calculates the reference value and stores it in the memory 504. At the same time, the D / A converter 502 converts the stored reference value into analog data and supplies it to the diameter comparator 54F. Even with such a configuration, the focus state can be determined. The diameter can be calculated using various methods shown in FIGS. 7, 9 and 10 as in the embodiment of FIG.

以上に詳細に説明した本発明のフォーカス検出法並びに傾き調整システムにおいては、光ピックアップとしてCDおよびDVDの場合で説明したが、本発明は、任意のその他の光ディスクにも同様に適用することができる。さらにまた、本発明は、当業者には明らかなように、光ピックアップ以外の光学系にも同様に適用することができる。   In the focus detection method and the tilt adjustment system of the present invention described in detail above, explanations have been given in the case of CD and DVD as optical pickups, but the present invention can be similarly applied to any other optical disc. . Furthermore, as will be apparent to those skilled in the art, the present invention can be similarly applied to optical systems other than the optical pickup.

図1は、本発明によるフォーカス検出装置の基本的構成を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a basic configuration of a focus detection apparatus according to the present invention. 図2は、本発明によるフォーカス検出法を組み込んだ光ピックアップの傾き調整システムXを示す図。FIG. 2 is a diagram showing an inclination adjustment system X of an optical pickup incorporating the focus detection method according to the present invention. 図3は、図2のフォーカス検出装置をより具体化した1実施形態のフォーカス検出装置Cを示す図。FIG. 3 is a diagram illustrating a focus detection device C according to an embodiment that is a more specific example of the focus detection device of FIG. 2. 図4は、図3の検出面および一次元光エネルギ分布検出部のより詳細な回路構成を示すブロック図。FIG. 4 is a block diagram showing a more detailed circuit configuration of the detection surface and the one-dimensional light energy distribution detection unit of FIG. 3. 図4Aは、図4の受光素子アレイの詳細な構造を示す図。4A is a diagram showing a detailed structure of the light receiving element array of FIG. 図5は、図4の受光素子アレイ上のビームスポットとその光エネルギ分布との関係を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a beam spot on the light receiving element array of FIG. 4 and its light energy distribution. 図6は、図3のフォーカス状態判定部の詳細を示すブロック図。FIG. 6 is a block diagram illustrating details of the focus state determination unit in FIG. 3. 図7は、図6の演算器おいて実行される、一次元光エネルギ分布における最大値を求めるためのプロセスを示すフローチャート。FIG. 7 is a flowchart showing a process for obtaining a maximum value in the one-dimensional light energy distribution, which is executed in the arithmetic unit of FIG. 図8は、図5に示した光エネルギ分布図と同じものを示す図であって、(a)は、ベストフォーカスすなわち合焦状態の場合、(b)は焦点が基準面よりも近い場合、そして(c)は焦点が基準面よりも遠い場合について示す図。FIG. 8 is a diagram showing the same light energy distribution diagram as shown in FIG. 5, where (a) is the best focus, that is, the in-focus state, and (b) is the focal point closer to the reference plane, And (c) is a figure shown about the case where a focus is far from a reference plane. 図9は、図6の演算器において実行される、一次元光エネルギ分布における最大値を求めるための別のプロセスを示すフローチャート。FIG. 9 is a flowchart showing another process for obtaining the maximum value in the one-dimensional light energy distribution, which is executed in the arithmetic unit of FIG. 6. 図10は、図6の演算器において実行される、一次元光エネルギ分布の分布幅をそのまま楕円の長軸および短軸として求めるプロセスを示すフローチャート。FIG. 10 is a flowchart showing a process of obtaining the distribution width of the one-dimensional light energy distribution as it is as the major axis and the minor axis of the ellipse, which is executed in the computing unit of FIG. 図11は、非点収差法を用いる別の実施形態のフォーカス検出装置を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating another embodiment of the focus detection apparatus using the astigmatism method. 図12は、ビーム径を比較する方法を使用する別の実施形態のフォーカス検出装置を示す図。FIG. 12 is a diagram showing another embodiment of the focus detection apparatus using a method for comparing beam diameters. 図13は、ビーム径を比較する別の方法を使用する別の実施形態のフォーカス検出装置を示す図。FIG. 13 is a diagram showing another embodiment of the focus detection apparatus using another method for comparing beam diameters. 図14は、図13の実施形態のフォーカス検出装置で使用する、一次元光エネルギ分布検出部およびフォーカス状態判定部の回路構成を示す図。14 is a diagram showing a circuit configuration of a one-dimensional light energy distribution detection unit and a focus state determination unit used in the focus detection apparatus of the embodiment of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 基準面
2 投影光学系
3 検出面
4 分布検出部
5 判定部
24C 非点収差光学系
A,B,C,D,E,F フォーカス検出装置
X 傾き調整システム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Reference surface 2 Projection optical system 3 Detection surface 4 Distribution detection part 5 Determination part 24C Astigmatism optical system A, B, C, D, E, F Focus detection apparatus X Inclination adjustment system

Claims (9)

フォーカス検出方法であって、
基準面上の所定の領域内の任意の位置における像について、該像による前記基準面上の二次元の光エネルギ分布から、前記像の全体についての少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出するステップであって、該ステップが、
前記基準面における前記像の投影像を非点収差光学系を通して検出面に受けるステップであって、前記検出面が、前記基準面上の前記所定の領域に対応する所定の検出領域を有し、該検出領域が、互いに交差する第1軸と第2軸を有し、前記像の非点収差が、前記検出領域の前記第1軸および第2軸の方向に生じ、前記検出領域は、前記検出領域内に行列に配置された受光領域を含み、各前記行は、前記第1軸の方向に配置され、各前記列は、前記第2軸の方向に配置された、ステップと、
前記検出領域から複数の行出力及び複数の列出力を生成するステップであって、各前記行出力は、当該行に含まれる複数の受光領域の各々で受ける光エネルギの和を表し、各前記列出力は、当該列に含まれる複数の受光領域の各々で受ける光エネルギの和を表し、前記複数の行出力及び前記複数の列出力の各々が前記一次元光エネルギ分布を表し、前記第1軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の列出力により表わされ、前記第2軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の行出力により表される、ステップと、
を含む、少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出するステップと、
前記少なくとも1つの一次元光エネルギ分布に基づき、前記基準面における前記像のフォーカス状態を判定するステップと、
を含み、
前記フォーカス状態を判定するステップは、
前記第1軸における一次元光エネルギ分布における最大値と、前記第2軸における一次元光エネルギ分布における最大値を判定するステップと、
前記第1軸の最大値と前記第2軸の最大値を比較するステップと、
前記比較の結果に基づき、前記フォーカス状態を判定するステップと、
を含むフォーカス検出方法。
A focus detection method,
Detecting at least one one-dimensional light energy distribution for the entire image from an image at an arbitrary position within a predetermined region on the reference surface from a two-dimensional light energy distribution on the reference surface by the image; And the step is
Receiving a projection image of the image on the reference surface on a detection surface through an astigmatism optical system, the detection surface having a predetermined detection region corresponding to the predetermined region on the reference surface; The detection area has a first axis and a second axis intersecting each other, and astigmatism of the image occurs in the direction of the first axis and the second axis of the detection area, Including a light receiving area arranged in a matrix within a detection area, wherein each row is arranged in the direction of the first axis and each column is arranged in the direction of the second axis;
A step of generating a plurality of row outputs and a plurality of column outputs from the detection region, wherein each of the row outputs represents a sum of light energy received in each of the plurality of light receiving regions included in the row; The output represents the sum of light energy received by each of the plurality of light receiving regions included in the column, each of the plurality of row outputs and the plurality of column outputs represents the one-dimensional light energy distribution, and the first axis A one-dimensional light energy distribution at is represented by the plurality of column outputs, and a one-dimensional light energy distribution at the second axis is represented by the plurality of row outputs;
Detecting at least one one-dimensional light energy distribution comprising:
Determining a focus state of the image on the reference plane based on the at least one one-dimensional light energy distribution;
Including
The step of determining the focus state includes:
Determining a maximum value in the one-dimensional light energy distribution on the first axis and a maximum value in the one-dimensional light energy distribution on the second axis;
Comparing the maximum value of the first axis with the maximum value of the second axis;
Determining the focus state based on the result of the comparison;
Including a focus detection method.
請求項記載の方法において、前記最大値を判定するステップは、前記第1軸および前記第2軸の各軸に関して、
前記各軸の一端から他端に向かって、より大きい光エネルギ値を記憶するステップと、
前記各軸の他端に至ったときの前記記憶した光エネルギ値を、前記最大値として出力するステップと、
を含むこと、を特徴とするフォーカス検出方法。
The method according to claim 1 , wherein the step of determining the maximum value is performed for each of the first axis and the second axis.
Storing a larger light energy value from one end of each axis toward the other end;
Outputting the stored light energy value when reaching the other end of each axis as the maximum value;
A focus detection method characterized by comprising:
請求項記載の方法において、前記最大値を判定するステップは、前記第1軸および前記第2軸の各軸に関して、
前記各軸の光エネルギ分布の分布範囲の中間の位置を求めるステップと、
前記中間位置における前記光エネルギ値を、前記最大値として出力するステップと、
を含むこと、を特徴とするフォーカス検出方法。
The method according to claim 1 , wherein the step of determining the maximum value is performed for each of the first axis and the second axis.
Obtaining an intermediate position of the distribution range of the light energy distribution of each axis;
Outputting the light energy value at the intermediate position as the maximum value;
A focus detection method characterized by comprising:
請求項記載の方法において、前記中間の位置を求めるステップは、前記第1軸および前記第2軸の各軸に関して、
前記各軸の一端から他端に向かって、前記光エネルギ値を記憶し、またその間、前記光エネルギ値が、所定のしきい値に達したときの前記各軸上の第1位置と、前記所定のしきい値に戻ったときの前記各軸上の第2位置とを記憶するステップと、
前記各軸の他端に至ったときに、前記記憶した第1位置および第2位置から、前記第1位置および前記第2位置の中間の位置を求めるステップと、
を含むこと、を特徴とするフォーカス検出方法。
4. The method of claim 3 , wherein the step of determining the intermediate position is performed with respect to each of the first axis and the second axis.
The light energy value is stored from one end to the other end of each axis, and during that time, the first position on each axis when the light energy value reaches a predetermined threshold value, Storing a second position on each of the axes when returning to a predetermined threshold;
Obtaining an intermediate position between the first position and the second position from the stored first position and second position when the other end of each axis is reached;
A focus detection method characterized by comprising:
フォーカス検出方法であって、
基準面上の所定の領域内の任意の位置における像について、該像による前記基準面上の二次元の光エネルギ分布から、前記像の全体についての少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出するステップであって、該ステップが、
前記基準面における前記像の投影像を非点収差光学系を通して検出面に受けるステップであって、前記検出面が、前記基準面上の前記所定の領域に対応する所定の検出領域を有し、該検出領域が、互いに交差する第1軸と第2軸を有し、前記像の非点収差が、前記検出領域の前記第1軸および第2軸の方向に生じ、前記検出領域は、前記検出領域内に行列に配置された受光領域を含み、各前記行は、前記第1軸の方向に配置され、各前記列は、前記第2軸の方向に配置された、ステップと、
前記検出領域から複数の行出力及び複数の列出力を生成するステップであって、各前記行出力は、当該行に含まれる複数の受光領域の各々で受ける光エネルギの和を表し、各前記列出力は、当該列に含まれる複数の受光領域の各々で受ける光エネルギの和を表し、前記複数の行出力及び前記複数の列出力の各々が前記一次元光エネルギ分布を表し、前記第1軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の列出力により表わされ、前記第2軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の行出力により表される、ステップと、
を含む、少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出するステップと、
前記少なくとも1つの一次元光エネルギ分布に基づき、前記基準面における前記像のフォーカス状態を判定するステップと、
を含み、
前記フォーカス状態を判定するステップは、
前記第1軸における一次元光エネルギ分布の分布範囲の幅と、前記第2軸における一次元光エネルギ分布の分布範囲の幅とを判定するステップと、
前記第1軸の幅と前記第2軸の幅を比較するステップと、
前記比較の結果に基づき、前記フォーカス状態を判定するステップと、
を含むフォーカス検出方法。
A focus detection method,
Detecting at least one one-dimensional light energy distribution for the entire image from an image at an arbitrary position within a predetermined region on the reference surface from a two-dimensional light energy distribution on the reference surface by the image; And the step is
Receiving a projection image of the image on the reference surface on a detection surface through an astigmatism optical system, the detection surface having a predetermined detection region corresponding to the predetermined region on the reference surface; The detection area has a first axis and a second axis intersecting each other, and astigmatism of the image occurs in the direction of the first axis and the second axis of the detection area, Including a light receiving area arranged in a matrix within a detection area, wherein each row is arranged in the direction of the first axis and each column is arranged in the direction of the second axis;
A step of generating a plurality of row outputs and a plurality of column outputs from the detection region, wherein each of the row outputs represents a sum of light energy received in each of the plurality of light receiving regions included in the row; The output represents the sum of light energy received by each of the plurality of light receiving regions included in the column, each of the plurality of row outputs and the plurality of column outputs represents the one-dimensional light energy distribution, and the first axis A one-dimensional light energy distribution at is represented by the plurality of column outputs, and a one-dimensional light energy distribution at the second axis is represented by the plurality of row outputs;
Detecting at least one one-dimensional light energy distribution comprising:
Determining a focus state of the image on the reference plane based on the at least one one-dimensional light energy distribution;
Including
The step of determining the focus state includes:
Determining the width of the distribution range of the one-dimensional light energy distribution on the first axis and the width of the distribution range of the one-dimensional light energy distribution on the second axis;
Comparing the width of the first axis with the width of the second axis;
Determining the focus state based on the result of the comparison;
Including a focus detection method.
請求項記載の方法において、前記幅は、前記光エネルギの所定のしきい値以上の範囲の幅であること、を特徴とするフォーカス検出方法。 6. The focus detection method according to claim 5 , wherein the width is a width in a range equal to or greater than a predetermined threshold value of the light energy. 請求項記載の方法において、前記の分布範囲の幅を判定するステップは、前記第1軸および前記第2軸の各軸に関して、
前記各軸の一端から他端に向かって、前記光エネルギ値が、前記所定のしきい値に達したときの前記各軸上の第1位置と、前記所定のしきい値に戻ったときの前記各軸上の第2位置とを記憶するステップと、
前記各軸の他端に至ったときに、前記記憶した第1位置および第2位置から、前記第1位置および前記第2位置の間の距離を求めて前記分布範囲の幅を得るステップと、
を含むこと、を特徴とするフォーカス検出方法。
The method according to claim 6 , wherein the step of determining the width of the distribution range is performed with respect to each of the first axis and the second axis.
When the light energy value reaches the predetermined threshold value from one end to the other end of each axis, the first position on each axis when the axis reaches the predetermined threshold value, and when returning to the predetermined threshold value Storing a second position on each axis;
Obtaining the width of the distribution range by obtaining a distance between the first position and the second position from the stored first position and second position when the other end of each axis is reached;
A focus detection method characterized by comprising:
フォーカス検出装置であって、
基準面上の所定の領域内の任意の位置における像について、前記基準面上における前記像による二次元の光エネルギ分布から、前記像全体についての少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出する分布検出手段であって、
非点収差光学系と、
前記基準面における前記像の投影像を前記非点収差光学系を通して受ける検出面手段であって、前記基準面上の前記所定の領域に対応する所定の検出領域を有し、該検出領域が、互いに交差する第1軸と第2軸を有し、前記像の非点収差が、前記検出領域の前記第1軸および第2軸の方向に生じ、前記検出領域が、該検出領域内に行列に配置された受光素子を含み、各前記行は、前記第1軸の方向に配置され、各前記列は、前記第2軸の方向に配置され、さらに前記検出面手段が、複数の行出力端子及び複数の列出力端子を含み、各前記行出力端子が、当該行に含まれる複数の受光素子が受ける光エネルギの和を表す行出力を出力し、各前記列出力端子が、当該列に含まれる複数の受光素子が受ける光エネルギの和を表す列出力を発生し、前記複数の行出力端子から発生される複数の前記行出力及び前記複数の列出力端子から発生される複数の前記列出力の各々が前記一次元光エネルギ分布を表し、前記検出領域の前記第1軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の列出力により表され、前記検出領域の前記第2軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の行出力により表される、検出面手段、
を含む分布検出手段と、
前記少なくとも1つの一次元光エネルギ分布に基づき、前記基準面における前記像のフォーカス状態を判定するフォーカス状態判定手段と、
を備え、
前記フォーカス状態判定手段は、
前記第1軸における一次元光エネルギ分布における最大値を判定する手段と、
前記第2軸における一次元光エネルギ分布における最大値を判定する手段と、
前記第1軸の最大値と前記第2軸の最大値を比較する手段と、
前記比較の結果に基づき、前記フォーカス状態を判定する手段と、
を含むフォーカス検出装置。
A focus detection device,
Distribution detection for detecting at least one one-dimensional light energy distribution for the entire image from a two-dimensional light energy distribution by the image on the reference surface for an image at an arbitrary position within a predetermined region on the reference surface Means,
An astigmatism optical system;
Detection surface means for receiving a projection image of the image on the reference surface through the astigmatism optical system, and having a predetermined detection region corresponding to the predetermined region on the reference surface, the detection region, The image has astigmatism in the direction of the first axis and the second axis of the detection area, and the detection area is matrixed in the detection area. Each row is arranged in the direction of the first axis, each column is arranged in the direction of the second axis, and the detection surface means outputs a plurality of row outputs. Each of the row output terminals outputs a row output representing the sum of light energy received by the plurality of light receiving elements included in the row, and each of the column output terminals is connected to the column. Generate a column output that represents the sum of the light energy received by the multiple light-receiving elements included, and Each of the plurality of row outputs generated from a plurality of row output terminals and the plurality of column outputs generated from the plurality of column output terminals represents the one-dimensional light energy distribution, and the first axis of the detection region Detection surface means, wherein the one-dimensional light energy distribution at is represented by the plurality of column outputs, and the one-dimensional light energy distribution at the second axis of the detection region is represented by the plurality of row outputs;
A distribution detecting means including:
Focus state determination means for determining a focus state of the image on the reference plane based on the at least one one-dimensional light energy distribution;
With
The focus state determination means includes
Means for determining a maximum value in the one-dimensional light energy distribution in the first axis;
Means for determining a maximum value in the one-dimensional light energy distribution in the second axis;
Means for comparing the maximum value of the first axis with the maximum value of the second axis;
Means for determining the focus state based on the result of the comparison;
Including a focus detection device.
フォーカス検出装置であって、
基準面上の所定の領域内の任意の位置における像について、前記基準面上における前記像による二次元の光エネルギ分布から、前記像全体についての少なくとも1つの一次元光エネルギ分布を検出する分布検出手段であって、
非点収差光学系と、
前記基準面における前記像の投影像を前記非点収差光学系を通して受ける検出面手段であって、前記基準面上の前記所定の領域に対応する所定の検出領域を有し、該検出領域が、互いに交差する第1軸と第2軸を有し、前記像の非点収差が、前記検出領域の前記第1軸および第2軸の方向に生じ、前記検出領域が、該検出領域内に行列に配置された受光素子を含み、各前記行は、前記第1軸の方向に配置され、各前記列は、前記第2軸の方向に配置され、さらに前記検出面手段が、複数の行出力端子及び複数の列出力端子を含み、各前記行出力端子が、当該行に含まれる複数の受光素子が受ける光エネルギの和を表す行出力を出力し、各前記列出力端子が、当該列に含まれる複数の受光素子が受ける光エネルギの和を表す列出力を発生し、前記複数の行出力端子から発生される複数の前記行出力及び前記複数の列出力端子から発生される複数の前記列出力の各々が前記一次元光エネルギ分布を表し、前記検出領域の前記第1軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の列出力により表され、前記検出領域の前記第2軸における一次元光エネルギ分布は、前記複数の行出力により表される、検出面手段、
を含む分布検出手段と、
前記少なくとも1つの一次元光エネルギ分布に基づき、前記基準面における前記像のフォーカス状態を判定するフォーカス状態判定手段と、
を備え、
前記フォーカス状態判定手段は、
前記第1軸における一次元光エネルギ分布の分布範囲の幅を判定する手段と、
前記第2軸における一次元光エネルギ分布の分布範囲の幅を判定する手段と、
前記第1軸の幅と前記第2軸の幅を比較する手段と、
前記比較の結果に基づき、前記フォーカス状態を判定する手段と、
を含むフォーカス検出装置。
A focus detection device,
Distribution detection for detecting at least one one-dimensional light energy distribution for the entire image from a two-dimensional light energy distribution by the image on the reference surface for an image at an arbitrary position within a predetermined region on the reference surface Means,
An astigmatism optical system;
Detection surface means for receiving a projection image of the image on the reference surface through the astigmatism optical system, and having a predetermined detection region corresponding to the predetermined region on the reference surface, the detection region, The image has astigmatism in the direction of the first axis and the second axis of the detection area, and the detection area is matrixed in the detection area. Each row is arranged in the direction of the first axis, each column is arranged in the direction of the second axis, and the detection surface means outputs a plurality of row outputs. Each of the row output terminals outputs a row output representing the sum of light energy received by the plurality of light receiving elements included in the row, and each of the column output terminals is connected to the column. Generate a column output that represents the sum of the light energy received by the multiple light-receiving elements included, and Each of the plurality of row outputs generated from a plurality of row output terminals and the plurality of column outputs generated from the plurality of column output terminals represents the one-dimensional light energy distribution, and the first axis of the detection region Detection surface means, wherein the one-dimensional light energy distribution at is represented by the plurality of column outputs, and the one-dimensional light energy distribution at the second axis of the detection region is represented by the plurality of row outputs;
A distribution detecting means including:
Focus state determination means for determining a focus state of the image on the reference plane based on the at least one one-dimensional light energy distribution;
With
The focus state determination means includes
Means for determining a width of a distribution range of the one-dimensional light energy distribution on the first axis;
Means for determining the width of the distribution range of the one-dimensional light energy distribution in the second axis;
Means for comparing the width of the first axis with the width of the second axis;
Means for determining the focus state based on the result of the comparison;
Including a focus detection device.
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