JP4525427B2 - Analysis disk, and method for inspecting analysis disk and analyzer - Google Patents

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Description

本発明は、医療分野や環境分野において、検体試料の分析を行うための分析ディスク、並びに分析ディスクおよびそれを使用する分析装置の検査方法に関するものである。   The present invention relates to an analysis disk for analyzing a sample sample in the medical field and the environment field, and an analysis method for an analysis disk and an analysis apparatus using the analysis disk.

従来、血液、血漿、尿などの体液、あるいは汚水などの検体試料中の成分を光学的に分析するために、光ディスクドライブの技術を応用した分析ディスクおよび分析装置がある。   2. Description of the Related Art Conventionally, in order to optically analyze components in a specimen sample such as blood, plasma, urine, or other body fluids, or sewage, there are analysis disks and analyzers that apply optical disk drive technology.

分析ディスクとしては、検体が流れる流路を内部に持ち、その上面には分析光を検出するために光を透過する透過面を持ち、前記流路の下面には、その一部の光を反射する反射面を有するものがある。   The analysis disk has a flow path through which the sample flows, and has an upper surface having a transmission surface that transmits light to detect analysis light, and a part of the light is reflected on the lower surface of the flow path. Some have a reflective surface.

またこの分析ディスクが装着される分析装置としては、分析ディスクにレーザを照射するためのレーザと分析ディスクの反射面からの反射光を受光する受光素子を合わせて持つ光ピックアップと、分析ディスクの透過面からの透過光を受光する受光素子とを備え、分析ディスクを回転させて透過面をレーザで走査し、検体試料の状態を光学的に読み取るものがある（例えば、特許文献１参照）。   In addition, the analysis device to which the analysis disk is mounted includes an optical pickup having a laser for irradiating the analysis disk with a laser and a light receiving element for receiving reflected light from the reflection surface of the analysis disk, and transmission through the analysis disk. There is a light receiving element that receives transmitted light from the surface, and rotates the analysis disk, scans the transmitted surface with a laser, and optically reads the state of the specimen sample (see, for example, Patent Document 1).

このような分析装置においては、高精度な測定や高い信頼性が求められるため、分析ディスクや分析装置の光ピックアップ、受光素子に傷やごみが付着するなどの欠陥は、分析結果を大きく左右する。このため分析ディスクや分析装置に欠陥がないかどうかの検査をユーザが実際に使用する段階において、分析動作の前に都度実施することは非常に重要となる。   In such an analyzer, high accuracy measurement and high reliability are required. Therefore, defects such as flaws and dust attached to the analysis disk, the optical pickup of the analyzer, and the light receiving element greatly affect the analysis result. . For this reason, it is very important to perform an inspection before the analysis operation at a stage where the user actually uses the analysis disk and the analysis device for defects.

従来、光ディスク装置の分野において、ディスクの製造時おける欠陥の検査方法として、反射光と透過光を利用し、ディスクの反射面だけでなく、ディスクの透過面の検査もできるようにしたものがある。（例えば、特許文献２参照）。   2. Description of the Related Art Conventionally, in the field of optical disc devices, there is a method for inspecting not only a reflecting surface of a disc but also a transmitting surface of a disc by using reflected light and transmitted light as a method for inspecting a defect in manufacturing the disc. . (For example, refer to Patent Document 2).

また、製造時ではなくユーザが実際に使用する段階において、光ディスク装置の光ピックアップにごみなどの付着がないかどうかを調べる技術として、光ピックアップにカバーを取り付ける技術がある（例えば、特許文献３参照）。
特開２００３−２４８００７号公報 特開昭６１−２３６０５０号公報 特開昭６０−７４１３０号公報 Further, as a technique for examining whether or not dust or the like is attached to the optical pickup of the optical disc apparatus at the stage of actual use by the user, not at the time of manufacture, there is a technique of attaching a cover to the optical pickup (see, for example, Patent Document 3). ).
JP 2003-248007 A JP 61-236050 A JP-A-60-74130

一般的に上述のような分析装置は、液体の検体を使用するため汚れやすく、汚れたままま分析を行っていたのでは、精度の高い分析を行うことができない。また、欠陥のある分析ディスクを使用し続けた場合には、検体が飛散したり漏洩したりし、人体に影響を及ぼす可能性もある。   In general, the analysis apparatus as described above is easily contaminated because a liquid specimen is used, and if the analysis is performed while it is dirty, a highly accurate analysis cannot be performed. Further, if the analysis disk having a defect is continuously used, the specimen may be scattered or leaked, which may affect the human body.

しかしながら、従来の分析装置において、分析動作の都度、分析動作に先立って欠陥の検査を行うような装置はなかった。また特に、ディスクの反射面や透過面、あるいは光ピックアップや受光素子の欠陥を検査し、そのいずれの箇所に欠陥があるのかを特定するようなものはこれまで提案されていなかった。従来、光ディスク装置の分野で提案されていたものは、ディスクのみの欠陥の有無、あるいは、光ピックアップのみの欠陥の有無を検査するものであった。   However, in the conventional analysis apparatus, there is no apparatus that inspects the defect before the analysis operation every time the analysis operation is performed. In particular, there have been no proposals for inspecting a reflection surface or a transmission surface of a disk, or a defect of an optical pickup or a light receiving element, and specifying which portion has the defect. Conventionally, what has been proposed in the field of optical disk devices is to inspect whether there is a defect only in the disk or only in the optical pickup.

本発明は、各分析動作に先立って、各部の検査を実施し、傷やごみや漏れ検体の付着などの欠陥が分析ディスクにあるのか、それとも分析装置にあるのか、さらにはまた欠陥などのある部位を特定できるようにし、分析精度や信頼性を向上させることを目的とする。これとともに、欠陥の箇所を特定することで、ユーザの操作性をより向上させることを目的とするものである。   In the present invention, each part is inspected prior to each analysis operation, and whether there is a defect such as a flaw, a dust or a leaked specimen on the analysis disk, an analysis apparatus, or a defect. The purpose is to be able to identify the site and improve the analysis accuracy and reliability. At the same time, it is intended to further improve the user's operability by specifying the location of the defect.

上記従来の課題を解決するために、本発明の分析ディスクおよび分析装置の検査方法は、検体が流れる流路を内部に有する分析ディスクが装着され、
前記分析ディスクを回転させると共に、光ピックアップにより前記分析ディスクに光を照射し、その反射光を第１の受光素子にて受光して前記光ピックアップの照射位置の制御を行い、さらに前記分析ディスクからの透過光を、前記光ピックアップと対向して配置された第２の受光素子にて受光し検体の分析を行うようにした分析装置において、
前記分析動作に先立って、分析装置に分析ディスクが装着される前に、光ピックアップから光を照射し、前記第２の受光素子にて予め定められた光量が得られるかどうかをチェックする第１の工程と、
分析ディスクを分析装置に装着した後に、分析ディスクに光を照射し、予め定められた反射光量が前記第１の受光素子で得られるかどうかをチェックする第２の工程と、
前記検体が分析部に展開されていない分析ディスクに光を照射して、その透過光量が予め定められた量だけ前記第２の受光素子で得られるかどうかをチェックする第３の工程を備え、
前記第１、第２、第３のチェック結果に基づき、分析ディスクおよび分析装置の欠陥を調べるようにしたことを特徴とするものである。 In order to solve the above-described conventional problems, an analysis disk and an inspection method for an analysis apparatus according to the present invention are equipped with an analysis disk having a flow path through which a sample flows,
The analysis disk is rotated, the analysis disk is irradiated with light, the reflected light is received by a first light receiving element, and the irradiation position of the optical pickup is controlled, and further from the analysis disk In the analyzer which analyzes the specimen by receiving the transmitted light of the light by the second light receiving element arranged opposite to the optical pickup,
Prior to the analysis operation, before the analysis disk is mounted on the analyzer, the first light is irradiated from the optical pickup to check whether a predetermined light quantity can be obtained by the second light receiving element. And the process of
A second step of irradiating the analysis disk with light after mounting the analysis disk on the analyzer and checking whether a predetermined amount of reflected light is obtained by the first light receiving element;
A third step of irradiating light to an analysis disk on which the sample is not developed in the analysis unit, and checking whether the transmitted light quantity is obtained by the second light receiving element by a predetermined amount;
The analysis disk and the analysis apparatus are examined for defects based on the first, second, and third check results.

本発明の検査方法によれば、分析ミスの原因の一つである、ごみなどの付着物や傷を各分析動作の前に検出することができ、このように欠陥が見つかった場合には、分析動作を中止することで、不正確な分析結果を得ることを防止することができる。   According to the inspection method of the present invention, it is possible to detect deposits and scratches such as dust, which is one of the causes of analysis mistakes, before each analysis operation. By stopping the analysis operation, it is possible to prevent obtaining an inaccurate analysis result.

また、欠陥が分析ディスクのどの部分にあるのか、分析装置にあるのかを判明するので、ユーザも欠陥の原因を把握でき、操作性が向上することとなる。   In addition, since it becomes clear which part of the analysis disk the defect is in and the analysis apparatus, the user can grasp the cause of the defect and the operability is improved.

さらに、分析中にも検査することによって分析中に生じた欠陥を検出することができ、不正確な分析結果を得ることを防止することができる。   Further, by inspecting during the analysis, it is possible to detect the defect generated during the analysis, and it is possible to prevent obtaining an inaccurate analysis result.

以下に、本発明の分析ディスク、並びに分析ディスクおよび分析装置の検査方法について、その実施の形態を図面とともに詳細に説明する。   Embodiments of an analysis disk and an analysis method for an analysis disk and an analysis apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

（実施の形態１）
図１は、本発明の一実施の形態における分析装置の構成図を示すものである。図１において、フォトディテクタ１は、光ピックアップ２から照射されたレーザのうち、分析ディスク８を透過した光を受光し、受光したレーザを電気信号に置き換え、アナログ信号処理部３に出力する。アナログ信号処理部３は、入力された電気信号を波形整形して、Ａ／Ｄコンバータ４に出力する。Ａ／Ｄコンバータ４によりディジタル化された信号は、ディジタル信号処理部５に出力される。 (Embodiment 1)
FIG. 1 shows a configuration diagram of an analyzer according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the photodetector 1 receives light transmitted through the analysis disk 8 from the laser irradiated from the optical pickup 2, replaces the received laser with an electric signal, and outputs the signal to the analog signal processing unit 3. The analog signal processing unit 3 shapes the waveform of the input electrical signal and outputs it to the A / D converter 4. The signal digitized by the A / D converter 4 is output to the digital signal processing unit 5.

光ピックアップ２は、トラバースモータ６により駆動されて分析ディスク８の半径方向を自由に移動できる。スピンドルモータ７は分析ディスク８を回転させるためのモータであり、トラバースモータ６と合わせて、サーボ処理部９にて制御されている。光ピックアップ２は、レーザを分析ディスク８に照射するとともに、反射してきたレーザを受光する機能を有しており、受光した反射光を電気信号に置き換え、その信号を波形整形して出力する。アナログ信号処理部１０にてディジタル化された信号は、ディジタル信号処理部５に渡される。このように、フォトディテクタ１からの信号と、光ピックアップ２からの信号は、ともにディジタル信号処理部５に入力されて、信号比較することができる構成になっている。   The optical pickup 2 is driven by a traverse motor 6 and can freely move in the radial direction of the analysis disk 8. The spindle motor 7 is a motor for rotating the analysis disk 8 and is controlled by the servo processing unit 9 together with the traverse motor 6. The optical pickup 2 has a function of irradiating the analysis disk 8 with a laser and receiving the reflected laser, and replaces the received reflected light with an electric signal, shapes the signal and outputs it. The signal digitized by the analog signal processing unit 10 is passed to the digital signal processing unit 5. Thus, the signal from the photodetector 1 and the signal from the optical pickup 2 are both input to the digital signal processing unit 5 so that the signals can be compared.

さて、図２の（ａ）、（ｂ）は、それぞれ分析ディスク８の分解斜視図および断面図を示している。図において、分析ディスク８は、その上部の構造は、ポリカーボネートなどの光を透過する材料からなる上カバー１３と、ディスク貼り合わせのための接着剤などの材料からなり、検体試料を展開し保持するキャビティＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ（流路の詳細は図示せず）を形成するよう開孔する流路パターン層１４と、反射膜１５を蒸着させた、ＡＴＩＰなどの時間情報を記録したデータピット層１６からなる。上カバー１３は、光ピックアップ２から照射されたレーザ１７を透過する透過面１１となる。   2A and 2B show an exploded perspective view and a cross-sectional view of the analysis disk 8, respectively. In the figure, the analysis disk 8 is composed of an upper cover 13 made of a material that transmits light, such as polycarbonate, and a material such as an adhesive for bonding the disks, and develops and holds the specimen sample. Data pits on which time information such as ATIP is recorded, in which a flow path pattern layer 14 is formed so as to form cavities A, B, C, and D (details of flow paths are not shown) and a reflective film 15 is deposited. It consists of layer 16. The upper cover 13 serves as a transmission surface 11 that transmits the laser 17 emitted from the optical pickup 2.

またデータピット層１６と反射膜１５のある分析ディスク８の下面は反射面１２となるが、反射膜の反射率を数十％（程度に金属を蒸着させているので）にすることにより光ピックアップ２から照射したレーザ１７を分析ディスク８に当てたときに、そのレーザ１７が分析ディスク８の反射面１２により反射すると同時に、透過面１１からレーザ１７が透過する半透過性となっている。   Further, the lower surface of the analysis disk 8 having the data pit layer 16 and the reflective film 15 becomes the reflective surface 12, but the optical pickup is obtained by setting the reflectance of the reflective film to several tens% (because metal is evaporated to a degree). When the laser 17 irradiated from 2 is applied to the analysis disk 8, the laser 17 is reflected by the reflection surface 12 of the analysis disk 8, and at the same time, the laser 17 is transmitted through the transmission surface 11.

情報領域１９には、分析ディスク８上の位置情報として、付着物、もしくは傷の検出を行うエリアの情報を記憶でき、また、検査回数とそれぞれの検査のタイミングの情報を記憶でき、また、欠陥かどうかを判断するための情報として、付着物、もしくは傷と判定するための閾値を入れておくことができる。これらの情報は、検査条件とし、分析ディスク８での分析を行う領域より内周にあることにより検体の漏れにより分析装置が読み取れなくなるのを防止できる。   The information area 19 can store information on the area where the deposit or scratch is detected as position information on the analysis disk 8, and can store information on the number of inspections and the timing of each inspection. As information for determining whether or not there is a threshold value for determining whether the substance is a deposit or a flaw. These pieces of information are used as examination conditions and can be prevented from being unable to be read by the analyzer due to the leakage of the sample by being in the inner circumference from the region where analysis is performed on the analysis disk 8.

ここで、分析動作について、説明する。まず採取した検体を分析ディスク８に注入する。次に予め分析ディスク８の入っていない分析装置の電源を入れる。この時に、分析装置に分析ディスク８が装着される前に光ピックアップ２から光を照射し、光ピックアップ２にて予め定められた光量が得られるかどうかをチェックする第１の工程を行い、チェックにエラーがある場合には、機器の異常を表示する。   Here, the analysis operation will be described. First, the collected sample is injected into the analysis disk 8. Next, the power supply of the analyzer which does not contain the analysis disk 8 in advance is turned on. At this time, before the analysis disk 8 is mounted on the analyzer, light is irradiated from the optical pickup 2 and a first process is performed to check whether or not a predetermined amount of light can be obtained by the optical pickup 2. If there is an error, display the device error.

工程１が正常である場合には、分析装置に分析ディスク８をセットする。そのとき、分析ディスク８はスピンドルモータ７に固定され、回転を開始する。光ピックアップ２は情報領域１９に情報があるかどうかを読みに行き、ある場合は必要な情報を読み取り、ない場合は、装置に記憶してある情報を基に、次の動作に移る。   If step 1 is normal, the analysis disk 8 is set in the analyzer. At that time, the analysis disk 8 is fixed to the spindle motor 7 and starts rotating. The optical pickup 2 reads whether or not there is information in the information area 19, and if necessary, reads the necessary information. If not, the optical pickup 2 proceeds to the next operation based on the information stored in the apparatus.

情報領域１９があるにもかかわらず、情報が何らかの影響で読み取れない、もしくは途中で読めなくなる場合は、情報領域１９がある反射面１２にエラーがあると判断する。   If the information cannot be read due to some influence or cannot be read in the middle even though the information area 19 exists, it is determined that there is an error in the reflecting surface 12 where the information area 19 exists.

次に工程２、工程３を行い、正常と判断された場合、検体の分析を開始する。また、試料の分析を行う分析時にも、工程２、工程３を定期的に複数回行い、検体の漏れによる分析ディスク８や光ピックアップ２の汚染の有無を監視する。測定完了まで、工程２と工程３のチェックにエラーが出なかったら、分析結果を表示もしくは出力し、終了となる。   Next, step 2 and step 3 are performed, and when it is determined to be normal, analysis of the sample is started. Also, during the analysis for analyzing the sample, the steps 2 and 3 are periodically performed a plurality of times to monitor whether the analysis disk 8 or the optical pickup 2 is contaminated due to the leakage of the specimen. If there is no error in the check of step 2 and step 3 until the measurement is completed, the analysis result is displayed or output, and the process ends.

なお、分析ディスク８の構造としては、図示した構造以外に、光の透過や反射を利用して分析するような構造のものを用いても本発明の検査方法を適用することができる。具体例として、前記分析ディスクが厚みをもった円筒状であったり、光の透過や反射を利用して分析を行うが、回転をせずに分析を行う分析装置であったりするような場合があげられる。   Note that the analysis method of the present invention can be applied to a structure of the analysis disk 8 other than the structure shown in the figure, even if a structure that analyzes using transmission or reflection of light is used. As a specific example, the analysis disk may have a cylindrical shape with a thickness, or may be an analysis device that performs analysis using light transmission or reflection, but does not rotate. can give.

さて、ここで分析ディスク８および分析装置の検査方法について詳しく説明する。図３は、本発明の検査方法のうち、第１の工程を説明するため、要部を拡大して示す側面図である。第１の工程では、分析装置に分析ディスク８を装着しない状態で検査を行う。すなわち、分析ディスク８がない状態において、光ピックアップ２からレーザ１７を照射し、そのレーザ１７をフォトディテクタ１にて受光する。その受光した光量が、製品出荷時に予め測定されて分析装置に記憶された光量と差があるときは、分析装置に、欠陥があると判定するのが第１の工程である。   Now, the inspection method of the analysis disk 8 and the analyzer will be described in detail. FIG. 3 is a side view showing an enlarged main part for explaining the first step in the inspection method of the present invention. In the first step, the inspection is performed without mounting the analysis disk 8 on the analyzer. That is, in the state where there is no analysis disk 8, the laser 17 is irradiated from the optical pickup 2, and the laser 17 is received by the photodetector 1. When the received light amount is different from the light amount measured in advance at the time of product shipment and stored in the analyzer, the first step is to determine that the analyzer has a defect.

次に図４を用いて工程２を説明する。図中の分析装置を用いて、分析ディスク８を装着した状態において、第１の工程でのチェックでエラーと判定されないとき、光ピックアップ２からレーザ１７を照射し、反射面１２にて反射したレーザ２０を光ピックアップ２にて受光することで、分析ディスク８の反射面１２のいずれかに欠陥があるかどうかを検査する、これが本発明の第２の工程である。   Next, step 2 will be described with reference to FIG. When the analysis disk 8 is mounted using the analyzer shown in the figure, the laser reflected from the reflecting surface 12 is irradiated with the laser 17 from the optical pickup 2 when the error is not determined by the check in the first step. The second step of the present invention is to inspect whether any of the reflection surfaces 12 of the analysis disk 8 is defective by receiving 20 by the optical pickup 2.

この時、光ピックアップ２で受光した光量が、分析装置もしくは分析ディスク８に記憶しておいた予め定めた光量と差があるときは、分析ディスク８の反射面１２に欠陥があると判定することができる。   At this time, if the amount of light received by the optical pickup 2 is different from a predetermined amount of light stored in the analyzer or analysis disk 8, it is determined that the reflecting surface 12 of the analysis disk 8 is defective. Can do.

また次に図５を用いて工程３を説明する。検体を展開していない分析ディスク８を装着した状態において、第１と第２の工程でのチェックでエラーと判定されないとき、光ピックアップ２からレーザ１７を照射し、分析ディスク８を透過したレーザ２１をフォトディテクタ１にて受光することで、分析ディスク８の透過面１１に欠陥があるかどうかを検査することが工程３になるものである。   Next, step 3 will be described with reference to FIG. In a state where the analysis disk 8 on which the sample is not developed is mounted, when the error is not determined by the check in the first and second steps, the laser 21 is irradiated with the laser 17 from the optical pickup 2 and transmitted through the analysis disk 8. Is detected by the photodetector 1 to inspect whether or not the transmission surface 11 of the analysis disk 8 has a defect is step 3.

この時フォトディテクタ１で受光した光量が、分析装置もしくは分析ディスク８に記憶させておいた基準となる光量と差があるときは、分析ディスク８の透過面１１に欠陥があると判定することができる。   At this time, when the amount of light received by the photodetector 1 is different from the reference amount of light stored in the analyzer or analysis disk 8, it can be determined that the transmission surface 11 of the analysis disk 8 is defective. .

また、工程２と工程３を行う順番は変える事ができ、同時もしくは工程３を行ってから工程２を行うことができる。工程３を先に行った場合、工程３にてエラーが検出された場合、分析ディスク８の透過面１１もしくは反射面１２に欠陥があると判定する。   In addition, the order of performing Step 2 and Step 3 can be changed, and Step 2 can be performed simultaneously or after performing Step 3. When the process 3 is performed first and an error is detected in the process 3, it is determined that the transmission surface 11 or the reflection surface 12 of the analysis disk 8 is defective.

上記の工程１，２，３の組み合わせでそれぞれ判定結果が異なる。それを示したのが図７である。Ｎｏ．１は第１の工程のチェックがＮＧとなっている。この場合は、分析装置に欠陥があるということになる。   The determination results differ depending on the combination of the above steps 1, 2, and 3. This is shown in FIG. No. 1 is NG in the first step. In this case, the analyzer is defective.

Ｎｏ．２と３は工程１がＯＫで、次に行う工程がそれぞれ違っている。Ｎｏ．２は工程２を先に行ったとき、Ｎｏ．３は工程３を先に行ったときにそれぞれＮＧが出たときのチェック結果を示している。   No. In steps 2 and 3, step 1 is OK, and the next step is different. No. 2 is No. 2 when Step 2 is performed first. 3 shows the check results when NG is issued when Step 3 is performed first.

Ｎｏ．４は第１、第２の工程がＯＫであり、引き続き第３の工程を行ったときにＮＧが出たときのチェック結果である。Ｎｏ．５は工程１，２，３すべてＯＫであったときのチェック結果である。   No. 4 is a check result when the first and second steps are OK and NG is issued when the third step is continuously performed. No. 5 is a check result when all the steps 1, 2, and 3 are OK.

ここで分析装置の検査方法について、その一連の動作を図６に示したフローチャートに従って説明する。まず図６（ａ）において、分析装置の電源をオンにする。次に、分析ディスク８の有無を光ピックアップ２から照射したレーザ１７をフォトディテクタ１による検出、もしくは、スピンドルモータ７による負荷の検出により行う。   Here, a series of operations of the analysis apparatus inspection method will be described with reference to the flowchart shown in FIG. First, in FIG. 6A, the power supply of the analyzer is turned on. Next, the presence or absence of the analysis disk 8 is performed by detecting the laser 17 irradiated from the optical pickup 2 by the photodetector 1 or detecting the load by the spindle motor 7.

分析ディスク８が既に分析装置に装着されている場合には、分析ディスク８をイジェクトし、分析ディスク８が装着されていない場合には、上記の第１の工程の検査を行う。第１の工程での判定により欠陥がないと判定された場合には、分析装置の表示もしくは音にてディスク挿入を促し、ユーザは分析装置に分析ディスク８を挿入する。   When the analysis disk 8 is already mounted on the analyzer, the analysis disk 8 is ejected, and when the analysis disk 8 is not mounted, the inspection in the first step is performed. If it is determined by the determination in the first step that there is no defect, the user is prompted to insert the disk by display or sound of the analyzer, and the user inserts the analysis disk 8 into the analyzer.

分析ディスク８挿入後、分析ディスク８を回転させ、情報領域１９を読みに行く。情報領域１９に情報があるにもかかわらず、読み取れない、もしくは途中で読めなくなる時は、情報領域１９のある反射面１２にエラーがあると判定する。   After the analysis disk 8 is inserted, the analysis disk 8 is rotated and the information area 19 is read. If the information area 19 contains information but cannot be read or cannot be read halfway, it is determined that there is an error in the reflecting surface 12 with the information area 19.

情報領域があり、情報がすべて読み込めたときは、その情報に従い、工程２や工程３を適時行う。情報領域がない場合は、分析装置に記憶されている情報により工程２や工程３を適時行う。   When there is an information area and all the information has been read, Step 2 and Step 3 are performed in a timely manner according to the information. If there is no information area, Step 2 and Step 3 are performed in a timely manner according to information stored in the analyzer.

工程２を先に行う場合は、検査条件にあるタイミングで行い、工程２のチェックにてエラー判定がなければ引き続き工程３を行う。もし、工程２でエラー判定があれば、分析ディスク反射面にエラーがあると判定される。   When the process 2 is performed first, it is performed at a timing that is in the inspection condition, and if there is no error determination in the check of the process 2, the process 3 is continued. If there is an error determination in step 2, it is determined that there is an error on the analysis disk reflecting surface.

引き続き工程３を行い、チェックにてエラー判定がなければ、図６（ｂ）へ進む。もし、工程３でエラー判定があれば、分析ディスク透過面にエラーがあると判定される。   Next, the process 3 is performed, and if there is no error determination in the check, the process proceeds to FIG. If there is an error determination in step 3, it is determined that there is an error on the analysis disk transmission surface.

工程３を先に行う場合は、検査条件にあるタイミングで行い、工程３のチェックにてエラー判定がなければ引き続き工程２を行う。もし、工程３でエラー判定があれば、分析ディスク透過面もしくは反射面にエラーがあると判定される。   When the process 3 is performed first, it is performed at a timing in the inspection condition, and if there is no error determination in the check of the process 3, the process 2 is continued. If there is an error determination in step 3, it is determined that there is an error in the analysis disk transmission surface or reflection surface.

引き続き工程２を行い、チェックにてエラー判定がなければ、図６（ｂ）へ進む。もし、工程２でエラー判定があれば、分析ディスク反射面にエラーがあると判定される。   Next, the process 2 is performed, and if there is no error determination in the check, the process proceeds to FIG. If there is an error determination in step 2, it is determined that there is an error on the analysis disk reflecting surface.

上記の工程１から工程３での検査において、すべて欠陥がないと判定された場合、光ピックアップ２、フォトディテクタ１、分析ディスク８のいずれにも欠陥がないので、分析を問題なく行えるので、分析装置は分析動作の開始を許可する。
図６（ｂ）において、分析中での検査を行う場合には、検査条件の情報を基に、検査を行うが、この場合においても、工程２を先に行うときは、検査条件にあるタイミングで行い、工程２のチェックにてエラー判定がなければ引き続き工程３を行う。もし、工程２でエラー判定があれば、分析ディスク反射面にエラーがあると判定される。 If it is determined in the inspections from Step 1 to Step 3 that there are no defects, the optical pickup 2, the photodetector 1, and the analysis disk 8 are free of defects, so that the analysis can be performed without any problem. Allows the start of the analysis operation.
In FIG. 6B, when performing an inspection during analysis, the inspection is performed based on the information on the inspection condition. Even in this case, when performing step 2 first, the timing in the inspection condition If there is no error determination in the check in step 2, step 3 is continued. If there is an error determination in step 2, it is determined that there is an error in the analysis disk reflecting surface.

引き続き工程３を行い、チェックにてエラー判定がなければ、もう一回検査するかどうかの判定へ進む。もし、工程３でエラー判定があれば、分析ディスク透過面にエラーがあると判定される。   Subsequently, the process 3 is performed, and if there is no error determination in the check, the process proceeds to the determination of whether to inspect again. If there is an error determination in step 3, it is determined that there is an error on the analysis disk transmission surface.

工程３を先に行うときは、検査条件にあるタイミングで行い、工程３のチェックにてエラー判定がなければ引き続き工程２を行う。もし、工程３でエラー判定があれば、分析ディスク透過面もしくは反射面にエラーがあると判定される。   When the process 3 is performed first, it is performed at a timing in the inspection condition, and if there is no error determination in the check of the process 3, the process 2 is continued. If there is an error determination in step 3, it is determined that there is an error in the analysis disk transmission surface or reflection surface.

引き続き工程２を行い、チェックにてエラー判定がなければ、もう一回検査するかどうかの判定へ進む。もし、工程２でエラー判定があれば、分析ディスク反射面にエラーがあると判定される。   Next, the process 2 is performed, and if there is no error determination in the check, the process proceeds to the determination of whether to inspect again. If there is an error determination in step 2, it is determined that there is an error on the analysis disk reflecting surface.

検査条件の情報に基づき、分析中必要な回数検査が行える。分析終了時に工程１，工程２，工程３にてチェックにエラーが一度も入っていなければ正常に分析が行えたものとする。   Based on the inspection condition information, inspections can be performed as many times as necessary during analysis. If there is no error in the check in step 1, step 2 and step 3 at the end of the analysis, it is assumed that the analysis has been performed normally.

また、上記の実施の形態において、一度、分析装置や分析ディスク８に欠陥の検出が合った場合は、分析装置内の不揮発性メモリ１８に格納しておくことで、クリーニングもしくはメーカ修理が完了するまで、電源ＯＮ時にエラーとして表示できるため、誤分析を防ぐことができる。   Further, in the above embodiment, once a defect is detected in the analysis device or the analysis disk 8, it is stored in the nonvolatile memory 18 in the analysis device, thereby completing the cleaning or the manufacturer repair. Until the power is turned on, it can be displayed as an error, so that it is possible to prevent erroneous analysis.

検査条件内容として、検査位置、タイミング、判定基準が入っているが、上記の工程１、工程２、工程３において、検査のタイミングを分析物により変えるとことにより、分析装置やディスクに付いた付着物もしくは傷を検出する時間と、分析に要する時間のトータル時間を短縮することができる。   The inspection conditions include the inspection position, timing, and judgment criteria. In the above-mentioned Step 1, Step 2, and Step 3, by changing the inspection timing according to the analyte, it is attached to the analyzer or disk. It is possible to reduce the total time required for detecting the kimono or scratch and the time required for analysis.

具体的には、血液の測定時、検体の前処理のために遠心分離や試薬との反応により、実際に分析データを取得するまでに時間を要するときに、前工程２，３を行ってから前処理の遠心分離を行うのではなく、前処理の遠心分離と同時に工程２，３を行うことによって工程２，３を行う時間を別に設けなくてよくなる。さらには、工程２と３を同時に行ったり、工程３を行ってから工程２を行ったりすることも可能である。もし、そこでエラーが発見された場合においても、分析不可とする。   Specifically, at the time of blood measurement, when it takes time to actually acquire analysis data due to centrifugation or reaction with a reagent for sample pretreatment, the pre-steps 2 and 3 are performed. By performing steps 2 and 3 simultaneously with the pretreatment centrifugation, it is not necessary to provide time for performing steps 2 and 3 separately. Further, the steps 2 and 3 can be performed simultaneously, or the step 2 can be performed after the step 3 is performed. Even if an error is found there, analysis is impossible.

本発明にかかる分析ディスクおよび分析装置の検査方法は、分析動作の都度、分析を行うに先立って欠陥の有無を検査するものであり、分析機器のなかでも、光ディスクの技術を応用し、反射光と透過光とを利用して分析する装置に有用である。   The analysis disk and the analysis apparatus inspection method according to the present invention inspects the presence or absence of defects prior to performing analysis every time an analysis operation is performed. It is useful for an apparatus that analyzes using light and transmitted light.

本発明の一実施の形態における分析装置の構成図The block diagram of the analyzer in one embodiment of this invention 同分析装置に装着される分析ディスクの分解斜視図および断面図An exploded perspective view and a cross-sectional view of an analysis disk mounted on the analyzer 同分析装置を用いた検査方法のうち、工程１を説明する側面図Side view explaining step 1 in the inspection method using the analyzer 同分析装置を用いた検査方法のうち、工程２を説明する側面図Side view explaining step 2 in the inspection method using the analyzer 同分析装置を用いた検査方法のうち、工程３を説明する側面図Side view explaining step 3 in the inspection method using the analyzer 本発明の一実施の形態におけるフローチャートThe flowchart in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態におけるフローチャートThe flowchart in one embodiment of this invention 本発明の欠陥判定の仕方を説明する図The figure explaining how to judge the defect of the present invention

符号の説明Explanation of symbols

１ フォトディテクタ
２ 光ピックアップ
３ アナログ信号処理部
４ Ａ／Ｄコンバータ
５ ディジタル信号処理部
６ トラバースモータ
７ スピンドルモータ
８ 分析ディスク
９ サーボ処理部
１０ アナログ信号処理部
１１ 透過面
１２ 反射面
１３ 上カバー
１４ 流路パターン層
１５ 反射膜
１６ データピット層
１７ レーザ
１８ 不揮発メモリ
１９ 情報領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Photo detector 2 Optical pick-up 3 Analog signal processing part 4 A / D converter 5 Digital signal processing part 6 Traverse motor 7 Spindle motor 8 Analysis disk 9 Servo processing part 10 Analog signal processing part 11 Transmission surface 12 Reflecting surface 13 Upper cover 14 Flow path Pattern layer 15 Reflective film 16 Data pit layer 17 Laser 18 Non-volatile memory 19 Information area

Claims (13)

検体が流れる流路を内部に有する分析ディスクが装着され、
前記分析ディスクを回転させると共に、光ピックアップにより前記分析ディスクに光を照射し、その反射光を第１の受光素子にて受光して前記光ピックアップの照射位置の制御を行い、さらに前記分析ディスクからの透過光を、前記光ピックアップと対向して配置された第２の受光素子にて受光し検体の分析を行うようにした分析装置において、
前記分析動作に先立って、分析装置に分析ディスクが装着される前に、光ピックアップから光を照射し、前記第２の受光素子にて予め定められた光量が得られるかどうかをチェックする第１の工程と、
分析ディスクを分析装置に装着した後に、分析ディスクに光を照射し、予め定められた反射光量が前記第１の受光素子で得られるかどうかをチェックする第２の工程と、
前記検体が分析部に展開されていない分析ディスクに光を照射して、その透過光量が予め定められた量だけ前記第２の受光素子で得られるかどうかをチェックする第３の工程を備え、
前記第１、第２、第３のチェック結果に基づき、分析ディスクおよび分析装置の欠陥を調べるようにしたことを特徴とする分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 An analysis disk having a flow path through which a sample flows is attached,
The analysis disk is rotated, the analysis disk is irradiated with light, the reflected light is received by a first light receiving element, and the irradiation position of the optical pickup is controlled, and further from the analysis disk In the analyzer which analyzes the specimen by receiving the transmitted light of the light by the second light receiving element arranged opposite to the optical pickup,
Prior to the analysis operation, before the analysis disk is mounted on the analyzer, the first light is irradiated from the optical pickup to check whether a predetermined light quantity can be obtained by the second light receiving element. And the process of
A second step of irradiating the analysis disk with light after mounting the analysis disk on the analyzer and checking whether a predetermined amount of reflected light is obtained by the first light receiving element;
A third step of irradiating light to an analysis disk on which the sample is not developed in the analysis unit, and checking whether the transmitted light quantity is obtained by the second light receiving element by a predetermined amount;
An analysis disk and an analysis apparatus inspection method, wherein defects of the analysis disk and the analysis apparatus are examined based on the first, second, and third check results. 第１の工程にてチェックにエラーが生じた場合には、前記分析装置に欠陥があると判定するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 2. The analysis disk and analysis device inspection method according to claim 1, wherein if an error occurs in the check in the first step, the analysis device is determined to be defective. 第１の工程において、チェックにエラーが生じず、第２の工程において、チェックにエラーが生じた場合には、前記分析ディスクの第１の受光素子に面する反射面に欠陥があると判定するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 If no error occurs in the check in the first step and an error occurs in the check in the second step, it is determined that the reflecting surface of the analysis disk facing the first light receiving element is defective. The analysis disk and the analysis apparatus inspection method according to claim 1, wherein the analysis disk and the analysis apparatus are inspected. 第１の工程および第２の工程において、チェックにエラーが生じず、第３の工程において、チェックにエラーが生じた場合には、前記分析ディスクの前記第２の受光素子への透過面に欠陥があると判定するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 If no error occurs in the check in the first step and the second step, and an error occurs in the check in the third step, the transmission surface of the analysis disk to the second light receiving element is defective. 2. The analysis disk and analysis device inspection method according to claim 1, wherein it is determined that the analysis disk is present. 第１の工程、第２の工程程、第３の工程でのチェックのいずれにもエラーがない場合に、分析動作を許可するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 The analysis disk according to claim 1, wherein the analysis operation is permitted when there is no error in any of the checks in the first step, the second step, and the third step. Inspection method for analyzers. 前記第２の工程と、第３の工程とを、ディスク挿入時から分析が終わるまでの間で複数回行うようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 2. The analysis disk and analysis device inspection method according to claim 1, wherein the second step and the third step are performed a plurality of times from the time of insertion of the disc to the end of analysis. . 請求項６において、チェックにエラーが生じたときに分析装置もしくは分析ディスクに欠陥が生じたと判定することを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 7. The analysis disk and analysis device inspection method according to claim 1, wherein when an error occurs in the check, it is determined that a defect has occurred in the analysis device or the analysis disk. 前記第１の工程を行う前に、分析ディスクが既に分析装置内に装着されていることを検知したときは、分析ディスクを排出するようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 2. The analysis disk according to claim 1, wherein when it is detected that the analysis disk is already mounted in the analyzer before performing the first step, the analysis disk is ejected. And analysis device inspection method. 第２の工程と第３の工程とを実施すべき、分析ディスク上の位置情報または正常か異常かを判定するための判定基準、または検査を行うタイミングを検査条件として予め分析ディスクに記録しておき、前記第２、第３の工程に先立って前記検査条件を読み取ってチェックを行うようにしたことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 The second step and the third step are to be recorded in advance on the analysis disc as positional information on the analysis disc or determination criteria for judging whether it is normal or abnormal, or the timing of performing the inspection. 2. The analysis disk and analysis device inspection method according to claim 1, wherein the inspection conditions are read and checked prior to the second and third steps. 第１の工程におけるチェックの基準となる予め定められた光量を、分析装置に記憶させておくことを特徴とする請求項１に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。 2. The analysis disk and the analysis apparatus inspection method according to claim 1, wherein a predetermined light quantity that serves as a reference for the check in the first step is stored in the analysis apparatus. 請求項１から１０のいずれかの検査方法に使用される分析ディスクであって、検体が流れる流路をその内部に有するとともに前記第２の工程および第３の工程におけるチェックを行うべき分析ディスク上の検査条件を記録してあることを特徴とする分析ディスク。 An analysis disk used in the inspection method according to any one of claims 1 to 10, wherein the analysis disk has a flow path through which a sample flows therein and is to be checked in the second step and the third step. An analysis disk in which the inspection conditions are recorded. 前記分析装置および分析ディスクの欠陥を検出するための検査条件を示す情報を、前記流路よりも内周側の反射面に記録してあることを特徴とする請求項１１に記載の分析ディスク。 The analysis disk according to claim 11, wherein information indicating an inspection condition for detecting a defect in the analysis device and the analysis disk is recorded on a reflection surface on an inner peripheral side of the flow path. 前記請求項９において検査条件が読み取れなかった場合、前記分析ディスクに欠陥があると判定することを特徴とする請求項９に記載の分析ディスクおよび分析装置の検査方法。
10. The analysis disk and analysis device inspection method according to claim 9, wherein if the inspection condition cannot be read in claim 9, it is determined that the analysis disk is defective.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9857219B2 (en) 2013-08-27 2018-01-02 Hitachi High-Technologies Corporation Nucleic acid analysis device and diagnosis method

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7829025B2 (en) 2001-03-28 2010-11-09 Venture Lending & Leasing Iv, Inc. Systems and methods for thermal actuation of microfluidic devices
US8895311B1 (en) 2001-03-28 2014-11-25 Handylab, Inc. Methods and systems for control of general purpose microfluidic devices
EP2402089A1 (en) 2003-07-31 2012-01-04 Handylab, Inc. Processing particle-containing samples
US8852862B2 (en) 2004-05-03 2014-10-07 Handylab, Inc. Method for processing polynucleotide-containing samples
JP5415253B2 (en) 2006-03-24 2014-02-12 ハンディラブ・インコーポレーテッド Integrated system for processing microfluidic samples and methods of use thereof
US11806718B2 (en) 2006-03-24 2023-11-07 Handylab, Inc. Fluorescence detector for microfluidic diagnostic system
US7998708B2 (en) 2006-03-24 2011-08-16 Handylab, Inc. Microfluidic system for amplifying and detecting polynucleotides in parallel
US10900066B2 (en) 2006-03-24 2021-01-26 Handylab, Inc. Microfluidic system for amplifying and detecting polynucleotides in parallel
WO2008061165A2 (en) * 2006-11-14 2008-05-22 Handylab, Inc. Microfluidic cartridge and method of making same
WO2008060604A2 (en) 2006-11-14 2008-05-22 Handylab, Inc. Microfluidic system for amplifying and detecting polynucleotides in parallel
US8182763B2 (en) 2007-07-13 2012-05-22 Handylab, Inc. Rack for sample tubes and reagent holders
CA2693654C (en) 2007-07-13 2018-02-13 Handylab, Inc. Polynucleotide capture materials, and methods of using same
US8287820B2 (en) 2007-07-13 2012-10-16 Handylab, Inc. Automated pipetting apparatus having a combined liquid pump and pipette head system
US9186677B2 (en) 2007-07-13 2015-11-17 Handylab, Inc. Integrated apparatus for performing nucleic acid extraction and diagnostic testing on multiple biological samples
US9618139B2 (en) 2007-07-13 2017-04-11 Handylab, Inc. Integrated heater and magnetic separator
US8105783B2 (en) 2007-07-13 2012-01-31 Handylab, Inc. Microfluidic cartridge
JP5174627B2 (en) 2008-01-21 2013-04-03 パナソニック株式会社 Analysis equipment
CA3082652A1 (en) 2011-04-15 2012-10-18 Becton, Dickinson And Company Scanning real-time microfluidic thermocycler and methods for synchronized thermocycling and scanning optical detection
JP5776433B2 (en) * 2011-08-11 2015-09-09 株式会社Ｊｖｃケンウッド Optical analysis apparatus and optical analysis method
DK2761305T3 (en) 2011-09-30 2017-11-20 Becton Dickinson Co United Reagent Strip
EP2773892B1 (en) 2011-11-04 2020-10-07 Handylab, Inc. Polynucleotide sample preparation device
RU2658773C2 (en) * 2012-02-03 2018-06-22 Бектон, Дикинсон Энд Компани System and method of implementation of automated assays on plurality of biological samples
JP7029988B2 (en) * 2018-03-15 2022-03-04 日本電子株式会社 Automatic analyzer

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6074130A (en) * 1983-09-28 1985-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical disk recording and reproducing device
JPS61236050A (en) * 1985-04-11 1986-10-21 Nec Corp Defect inspecting device for optical disk substrate
JP2003248007A (en) * 2002-02-25 2003-09-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Analytical equipment
JP2004333333A (en) * 2003-05-08 2004-11-25 Ryoichi Imanaka Dna microarray substrate and reading device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6074130A (en) * 1983-09-28 1985-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical disk recording and reproducing device
JPS61236050A (en) * 1985-04-11 1986-10-21 Nec Corp Defect inspecting device for optical disk substrate
JP2003248007A (en) * 2002-02-25 2003-09-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Analytical equipment
JP2004333333A (en) * 2003-05-08 2004-11-25 Ryoichi Imanaka Dna microarray substrate and reading device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9857219B2 (en) 2013-08-27 2018-01-02 Hitachi High-Technologies Corporation Nucleic acid analysis device and diagnosis method
DE112014003484B4 (en) 2013-08-27 2023-03-02 Hitachi High-Tech Corporation Nucleic acid analyzer and nucleic acid diagnostic method

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