JP4500146B2 - Image correction apparatus and image correction method - Google Patents
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Description
本発明は、デジタルカメラ等により撮影された画像の欠陥画素の補正処理に関する。 The present invention relates to correction processing for defective pixels in an image photographed by a digital camera or the like.
図3は従来のデジタルカメラの構成を示す図である。図3に示すように、デジタルカメラは、撮像素子101と、CDS部102と、AGC部103と、AD変換部104と、キズ補正処理部105と、映像信号処理部107と、これらの各処理部を制御するマイコン108とを備えている。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a conventional digital camera. As shown in FIG. 3, the digital camera includes an
撮像素子101によって光電変換された信号は、CDS部102、AGC部103、AD変換部104、キズ補正処理部105を介して、映像信号処理部107に入力される。撮像素子101のカラーフィルタ配列は、図4(a)〜図4(c)に示す原色ベイヤー配列である。
The signal photoelectrically converted by the
ここで、デジタルカメラが備えるキズ補正処理部105の動作を、図4〜図6を用いて説明する。キズ補正処理部105は、出力信号の全画素に対して補正処理の要否を判断し、必要に応じて補正処理を行なう。補正処理の要否は、補正対象の画素の値と周辺画素から計算される値との差分に基づいて判断する。すなわち、図4(a)〜図4(c)に示すように、補正対象の画素200に対して、周辺の8個の画素202の値から計算した計算値を用いて補正の要否を判断する。なお、図4(a)は補正対象画素がR信号の例、図4(b)は補正対象画素がG信号の例、図4(c)は補正対象画素がB信号の例を示している。
Here, the operation of the scratch
図5(a)は着目画素200と周辺画素202における信号の様子を表す図である。補正対象の画素200と周辺画素202から計算した計算値との差分が補正判定閾値より大きい場合には、補正対象の画素の値を計算値に置き換える。計算値としては、例えば、周辺の8画素の最大値、最小値、平均値、または、重み付けを行なった平均値を用いることができる。
FIG. 5A is a diagram illustrating a state of signals in the
図6は、従来のデジタルカメラにおけるキズ補正処理を示すフローチャートである。キズ補正処理の流れとして、はじめに補正判定閾値を読み込み(S201)、次に全画素に対して補正判定閾値を元に補正処理を行なう補正データの演算を行う(S202)。 FIG. 6 is a flowchart showing a defect correction process in a conventional digital camera. As a flow of defect correction processing, first, a correction determination threshold value is read (S201), and then correction data for performing correction processing based on the correction determination threshold value for all pixels is calculated (S202).
ところで、撮像素子を用いたデジタルカメラでは、高感度の信号を得るために、露光時間を長くしたり、AGC部のゲインを上げたりすることがある。露光時間またはAGC部のゲインが通常の露光状態と異なると、以下に示す理由により、キズ補正処理の性能が十分に満たされず、画面上のキズが目立つことになる。 By the way, in a digital camera using an image sensor, in order to obtain a highly sensitive signal, the exposure time may be lengthened or the gain of the AGC unit may be increased. If the exposure time or the gain of the AGC portion is different from the normal exposure state, the scratch correction performance is not sufficiently satisfied for the following reason, and scratches on the screen become conspicuous.
すなわち、露光時間を長くしたり、AGC部のゲインを上げたりすると、蓄積される電荷量が大きくなり、出力レベルは画素が取り得る上限値(例えば255LSB)に近づくことになる。これにより、図5(b)に示すように、補正対象の画素にキズがある場合にも周辺画素の値との差分が少なくなり、差分が補正判定閾値を下回るとキズ補正処理が行われずに、画素欠陥が画面上に残ることになる。逆に、補正判定閾値を小さく設定すると、不必要な補正が行なわれ、画質が劣化することとなる。 That is, if the exposure time is lengthened or the gain of the AGC unit is increased, the amount of accumulated charge increases, and the output level approaches the upper limit value (for example, 255LSB) that the pixel can take. As a result, as shown in FIG. 5B, even when the pixel to be corrected has a scratch, the difference from the values of the surrounding pixels decreases, and if the difference falls below the correction determination threshold, the scratch correction processing is not performed. Pixel defects will remain on the screen. On the other hand, if the correction determination threshold is set small, unnecessary correction is performed and the image quality deteriorates.
この不具合を解消するため、露光時間毎、またはAGC部のゲイン毎に適正な補正判定閾値を設ける方法が特許文献1または特許文献2等に開示されている。図7は、露光時間毎に補正判定閾値を変えた一例を示す図である。露光時間1Tの場合、補正判定閾値を100LSBとし、着目画素と周辺画素により算出した値の差分が100LSBよりも大きい場合に補正処理を行なう。露光時間2Tの場合には、補正判定閾値を50LSB、露光時間4Tの場合には、補正判定閾値を25LSBというように、露光時間を長くするにしたがって補正処理の補正判定閾値を下げ、出力レベルの増大に伴う周辺画素との差分の減少を考慮して補正の要否を判定している。このように、通常露光と長時間露光によってそれぞれキズ補正処理の補正判定閾値を有することにより、露光時間に応じて適切な補正を行える構成となっている。
しかしながら、上記した従来のキズ補正処理の方法では、良質な信号を得るために露光時間毎またはAGC部のゲイン毎にきめこまやかに補正判定閾値を設ける必要がある。従って、これらの値を記憶するための記憶容量の増大と、補正判定閾値決定のための調整作業が煩雑であるといった問題があった。 However, in the conventional defect correction processing method described above, it is necessary to provide a correction determination threshold finely for each exposure time or for each gain of the AGC unit in order to obtain a high-quality signal. Therefore, there is a problem in that the storage capacity for storing these values is increased and the adjustment work for determining the correction determination threshold is complicated.
本発明は、上記背景に鑑み、記憶容量を削減すると共に煩雑な調整作業を回避し、AGCのゲイン設定や露光時間等にかかわらず適切な補正を行うことができる画像補正装置を提供することを目的とする。 In view of the above background, the present invention provides an image correction apparatus that can reduce the storage capacity, avoid complicated adjustment work, and perform appropriate correction regardless of the AGC gain setting, exposure time, and the like. Objective.
本発明の画像補正装置は、補正判定閾値を用いて検出した画素を補正することによって画像の補正処理を行う補正処理手段と、前記補正処理手段にて補正された画像の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段にて検出された欠陥画素の総数があらかじめ設定された基準値を超えるか否かを判定する判定手段とを備え、前記欠陥画素の総数が前記基準値を超えるとの前記判定手段による判定に応じて、前記補正処理手段が前記補正判定閾値を変えて画像の補正を行う構成を有する。 An image correction apparatus according to the present invention includes a correction processing unit that performs image correction processing by correcting pixels detected using a correction determination threshold, and a defect that detects a defective pixel of an image corrected by the correction processing unit. Pixel detection means, and determination means for determining whether or not the total number of defective pixels detected by the defective pixel detection means exceeds a preset reference value, the total number of defective pixels being the reference value The correction processing unit changes the correction determination threshold value and corrects the image in response to the determination by the determination unit that the value exceeds.
この構成により、補正処理手段にて補正を行った画像の欠陥画素数が基準値を超えるか否かを判定し、基準値を超える場合には再度補正を行うので、補正された画像中の欠陥画素の数が基準値より少なくなるまで補正が行われる。これにより、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができる。 With this configuration, it is determined whether or not the number of defective pixels in the image corrected by the correction processing unit exceeds the reference value, and if it exceeds the reference value, correction is performed again, so that the defect in the corrected image Correction is performed until the number of pixels becomes less than the reference value. Thus, appropriate correction can be performed regardless of the exposure amount, the gain of the AGC unit, and the like.
上記画像補正装置において、前記補正処理手段は、補正対象の画素の値と周辺画素から計算した計算値との差分が前記補正判定閾値より大きい場合に、前記補正対象の画素の値を前記計算値に置き換えてもよい。 In the image correction apparatus, the correction processing unit may calculate the value of the pixel to be corrected as the calculated value when a difference between the value of the pixel to be corrected and a calculated value calculated from surrounding pixels is larger than the correction determination threshold. May be replaced.
この構成により、周辺画素の値に基づいて、適切な補正を行うことができる。 With this configuration, appropriate correction can be performed based on the values of the surrounding pixels.
上記画像補正装置において、前記補正処理手段は、前記計算値として前記周辺画素の平均値を求めてもよい。 In the image correction apparatus, the correction processing unit may obtain an average value of the peripheral pixels as the calculated value.
この構成により、画像の連続性を利用して画素の補正値を適切に決定できる。 With this configuration, the correction value of the pixel can be appropriately determined using the continuity of the image.
上記画像補正装置において、前記欠陥画素検出手段は、検査対象の画素の値と周辺画素から計算した計算値との差分があらかじめ設定された欠陥画素判定閾値を超える場合に、前記検査対象の画素を欠陥画素として検出してもよい。 In the image correction apparatus, the defective pixel detection unit may detect the pixel to be inspected when a difference between a value of the pixel to be inspected and a calculated value calculated from surrounding pixels exceeds a preset defective pixel determination threshold value. You may detect as a defective pixel.
この構成により、周辺画素から計算される計算値と値が大きく異なる画素を欠陥画素として検出することができる。 With this configuration, it is possible to detect a pixel having a greatly different value from the calculated value calculated from the surrounding pixels as a defective pixel.
本発明のデジタルカメラは、上記の画像補正装置を備えた構成を有する。 The digital camera of the present invention has a configuration including the above-described image correction apparatus.
この構成により、デジタルカメラで撮像した画像に対して、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができる。 With this configuration, appropriate correction can be performed on an image captured by a digital camera regardless of the exposure amount, the gain of the AGC unit, or the like.
本発明の携帯電話は、上記の画像補正装置を備えた構成を有する。 The mobile phone of the present invention has a configuration including the above-described image correction device.
この構成により、携帯電話に入力された画像に対して、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができる。携帯電話への画像の入力は、携帯電話が備えるカメラによって画像を撮像してもよいし、他の携帯電話やその他の通信端末等から、画像データを受信してもよい。 With this configuration, appropriate correction can be performed on an image input to the mobile phone regardless of the exposure amount, the gain of the AGC unit, or the like. For inputting an image to the mobile phone, the image may be taken by a camera included in the mobile phone, or image data may be received from another mobile phone or other communication terminal.
本発明の画像補正方法は、補正判定閾値を用いて検出した画素を補正することによって画像の補正処理を行う補正処理ステップと、前記補正処理ステップにおいて補正された画像の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、前記欠陥画素検出ステップにおいて検出された欠陥画素の総数があらかじめ設定された基準値を超えるか否かを判定する判定ステップとを備え、前記欠陥画素の総数が前記基準値を超えるとの前記判定ステップにおける判定に応じて、前記補正判定閾値を変えて再度前記補正処理ステップを行う。 An image correction method according to the present invention includes a correction processing step for correcting an image by correcting a pixel detected using a correction determination threshold, and a defective pixel for detecting a defective pixel of the image corrected in the correction processing step. A detection step and a determination step of determining whether or not the total number of defective pixels detected in the defective pixel detection step exceeds a preset reference value, and the total number of defective pixels exceeds the reference value In accordance with the determination in the determination step, the correction processing threshold is changed and the correction processing step is performed again.
この構成により、補正処理ステップにおいて補正を行った画像の欠陥画素数が基準値を超えるか否かを判定し、基準値を超える場合には再度補正を行うので、補正された画像中の欠陥画素の数が基準値より少なくなるまで補正が行われる。これにより、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができる。また、本発明の画像補正装置の各種の構成を本発明の画像補正方法に適用することも可能である。 With this configuration, it is determined whether or not the number of defective pixels in the image corrected in the correction processing step exceeds the reference value, and if it exceeds the reference value, correction is performed again, so that the defective pixel in the corrected image The correction is performed until the number of is less than the reference value. Thus, appropriate correction can be performed regardless of the exposure amount, the gain of the AGC unit, and the like. Various configurations of the image correction apparatus of the present invention can be applied to the image correction method of the present invention.
本発明によれば、補正処理手段にて補正を行った画像の欠陥画素数が基準値を超えるか否かを判定し、補正された画像中の欠陥画素の数が基準値より少なくなるまで補正を行うので、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができるというすぐれた効果を有する。 According to the present invention, it is determined whether or not the number of defective pixels in the image corrected by the correction processing means exceeds a reference value, and correction is performed until the number of defective pixels in the corrected image is less than the reference value. Therefore, it is possible to perform an appropriate correction regardless of the exposure amount, the gain of the AGC unit, and the like.
以下、本発明の実施の形態の画像補正装置を備えたデジタルカメラについて、図面を参照しながら説明する。図1は本発明の実施の形態におけるデジタルカメラの構成を示している。図1に示すように、実施の形態のデジタルカメラは、撮像素子101と、CDS部102と、AGC部103と、AD変換部104と、キズ補正処理部105と、キズ検出部106と、映像信号処理部107と、これらの各処理部を制御するマイコン108とを備えている。キズ検出部106以外の構成は、図3にて説明したデジタルカメラと同じ機能を有する。
Hereinafter, a digital camera provided with an image correction apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows the configuration of a digital camera according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the digital camera according to the embodiment includes an
キズ検出部106は、あらかじめ設定された欠陥画素判定閾値を用いて、画像中の欠陥画素(キズ)を検出する機能を有する。具体的には、検査対象の画素とその周辺画素から計算された計算値との差分が欠陥画素判定閾値を超える場合に、検査対象の画素を欠陥画素として検出する。キズ検出部106は、このキズ検出処理を画像の全画素に対して行う。
The
図2は、実施の形態のデジタルカメラのキズ補正処理を示すフローチャートである。キズ補正処理の流れとしては、あらかじめ欠陥画素判定閾値、欠陥画素総数基準値、補正判定閾値の初期値、補正判定閾値の下限値を読み込んでおく(S101)。 FIG. 2 is a flowchart illustrating a flaw correction process of the digital camera according to the embodiment. As a flow of defect correction processing, a defective pixel determination threshold value, a defective pixel total number reference value, an initial value of a correction determination threshold value, and a lower limit value of a correction determination threshold value are read in advance (S101).
次に、デジタルカメラのキズ補正処理部105は、撮像した画像に対して補正処理(S102)を実行する。補正処理(S102)の実行後、デジタルカメラのキズ検出部106は、補正された画像における欠陥画素を検出する欠陥画素検出(S103)を実行する。
Next, the scratch
続いて、マイコン108が、欠陥画素検出ステップにて検出された欠陥画素の総数が欠陥画素総数基準値を超えるか否かの判定を行う。欠陥画素の総数が欠陥画素総数基準値を超える場合には(S104でyes)、補正判定閾値の判定(S105)に移行し、欠陥画素の総数が欠陥画素総数基準値を超えない場合には(S104でno)、キズ補正処理を終了する。
Subsequently, the
欠陥画素の総数が欠陥画素総数基準値を超える場合には(S104でyes)、補正判定閾値とあらかじめ定めておいた補正判定閾値の下限値との比較を行なう(S105)。補正判定閾値が補正判定閾値の下限値よりも大きい場合には(S105でyes)、補正判定閾値を更新し(S106)、補正判定閾値が下限値よりも大きくない場合には(S105でno)、キズ補正処理を終了する。ここで、補正判定閾値と下限値との比較を行なうのは、本発明の実施の形態におけるデジタルカメラのキズ補正処理が無限ループに陥ることを防止し、補正処理を適切に終了させるためである。 When the total number of defective pixels exceeds the defective pixel total reference value (Yes in S104), the correction determination threshold value is compared with a predetermined lower limit value of the correction determination threshold value (S105). When the correction determination threshold value is larger than the lower limit value of the correction determination threshold value (yes in S105), the correction determination threshold value is updated (S106), and when the correction determination threshold value is not larger than the lower limit value (no in S105). The scratch correction process ends. Here, the reason why the correction determination threshold value is compared with the lower limit value is to prevent the digital camera flaw correction process in the embodiment of the present invention from entering an infinite loop and to appropriately end the correction process. .
補正判定閾値が補正判定閾値の下限値よりも大きい場合には(S105でyes)、補正判定閾値を小さい値に書き換え(S106)、再び補正処理(S102)を実行する。以上、実施の形態のデジタルカメラにおける画像補正処理について説明した。 When the correction determination threshold value is larger than the lower limit value of the correction determination threshold value (yes in S105), the correction determination threshold value is rewritten to a smaller value (S106), and the correction process (S102) is executed again. The image correction process in the digital camera of the embodiment has been described above.
本実施の形態の画像補正装置では、キズ検出部106が、キズ補正処理部105にて補正した補正後の画像から欠陥画素(キズ)を検出し、検出されたキズの総数が欠陥画素総数基準値を超えるか否かを判定する。そして、キズが欠陥画素総数基準値を超える場合には、キズ補正処理部105が再度補正を行うので、補正された画像中の欠陥画素の数が基準値より少なくなるまで補正が行われることになる。これにより、あらかじめ露光量やAGC部のゲインに応じて補正判定閾値を設定しておかなくても、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができる。
In the image correction apparatus of the present embodiment, the
なお、本発明は上記した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
上記した実施の形態では、画像補正装置をデジタルカメラに適用する例について説明したが、画像補正装置を携帯電話に適用することも可能である。 In the above-described embodiment, an example in which the image correction apparatus is applied to a digital camera has been described. However, the image correction apparatus can also be applied to a mobile phone.
以上説明したように、露光量やAGC部のゲイン等にかかわらず、適正な補正を行うことができるというすぐれた効果を有し、デジタルカメラ等で撮影した画像の補正を行う画像補正装置等として有用である。 As described above, as an image correction apparatus or the like that has an excellent effect that appropriate correction can be performed regardless of the exposure amount, the gain of the AGC unit, and the like, and that corrects an image captured by a digital camera or the like. Useful.
101 撮像素子
102 CDS部
103 AGC部
104 AD変換部
105 キズ補正処理部
106 キズ検出部
107 映像信号処理部
108 マイコン
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記補正処理手段にて補正された画像の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段にて検出された欠陥画素の総数があらかじめ設定された基準値を超えるか否かを判定する判定手段と、
を備え、
前記欠陥画素の総数が前記基準値を超えるとの前記判定手段による判定に応じて、前記補正処理手段が前記補正判定閾値を変えて画像の補正を行うことを特徴とする画像補正装置。 Correction processing means for performing image correction processing by correcting pixels detected using a correction determination threshold;
Defective pixel detection means for detecting defective pixels in the image corrected by the correction processing means;
Determination means for determining whether the total number of defective pixels detected by the defective pixel detection means exceeds a preset reference value;
With
The image correction apparatus, wherein the correction processing unit changes the correction determination threshold and corrects an image in response to determination by the determination unit that the total number of defective pixels exceeds the reference value.
前記補正処理ステップにおいて補正された画像の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、
前記欠陥画素検出ステップにおいて検出された欠陥画素の総数があらかじめ設定された基準値を超えるか否かを判定する判定ステップと、
を備え、
前記欠陥画素の総数が前記基準値を超えるとの前記判定ステップにおける判定に応じて、前記補正判定閾値を変えて再度前記補正処理ステップを行うことを特徴とする画像補正方法。
A correction processing step for correcting the image by correcting the detected pixel using the correction determination threshold;
A defective pixel detection step of detecting defective pixels of the image corrected in the correction processing step;
A determination step for determining whether or not the total number of defective pixels detected in the defective pixel detection step exceeds a preset reference value;
With
In accordance with the determination in the determination step that the total number of defective pixels exceeds the reference value, the correction processing step is performed again while changing the correction determination threshold.
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Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP5561112B2 (en) * | 2010-11-10 | 2014-07-30 | 株式会社ニコン | Image processing apparatus, imaging apparatus, and program |
JP5544285B2 (en) * | 2010-12-21 | 2014-07-09 | 株式会社日立製作所 | Image signal processing apparatus and image signal processing method |
JP6324130B2 (en) * | 2014-03-17 | 2018-05-16 | キヤノン株式会社 | Imaging device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001268447A (en) * | 2000-03-17 | 2001-09-28 | Olympus Optical Co Ltd | Image pickup device |
JP2002051266A (en) * | 2000-08-02 | 2002-02-15 | Sony Corp | Automatic pixel defect detecting and correcting device for image pickup element and image pickup device using the same |
JP2002281392A (en) * | 2001-03-16 | 2002-09-27 | Olympus Optical Co Ltd | Imaging system |
JP2003198946A (en) * | 2001-12-21 | 2003-07-11 | Sony Corp | Image pickup device and defective pixel processing method therefor |
JP2004064512A (en) * | 2002-07-30 | 2004-02-26 | Sony Corp | Method and device for detecting defective pixel, and image pickup device |
-
2004
- 2004-10-14 JP JP2004300405A patent/JP4500146B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001268447A (en) * | 2000-03-17 | 2001-09-28 | Olympus Optical Co Ltd | Image pickup device |
JP2002051266A (en) * | 2000-08-02 | 2002-02-15 | Sony Corp | Automatic pixel defect detecting and correcting device for image pickup element and image pickup device using the same |
JP2002281392A (en) * | 2001-03-16 | 2002-09-27 | Olympus Optical Co Ltd | Imaging system |
JP2003198946A (en) * | 2001-12-21 | 2003-07-11 | Sony Corp | Image pickup device and defective pixel processing method therefor |
JP2004064512A (en) * | 2002-07-30 | 2004-02-26 | Sony Corp | Method and device for detecting defective pixel, and image pickup device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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