JP4489083B2 - 無線機 - Google Patents

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Description

本発明は、無線機に関するものである。
従来、半導体集積回路に内蔵されたDA変換回路やAD変換回路などのアナログ回路の試験を行う場合、外部のテスト装置からDA変換回路、AD変換回路にテストパターンを入力し、それぞれから出力される信号と期待値データとを比較して機能の良否判定が行われていた。しかし、テストパターンを発生し、良否判定を行うには高価なテスト装置が必要であり、製造コストが増大するという問題があった。
このような問題を解決するために、DA変換回路、AD変換回路及びFFT回路を内蔵し、DA変換回路にアナログテスト信号を入力してDA変換させ、その変換出力をAD変換回路へ入力してAD変換させた出力をFFT回路で解析してDA変換回路やAD変換回路の特性評価を行うことができる半導体集積回路が提案されている(例えば特許文献1参照)。これは高価なテスト装置を外部に容易する必要がないため、製造コストの低減を図ることができる。
しかし、このような半導体集積回路はアナログテスト信号をAD変換した信号をDA変換して解析を行うため、AD変換、DA変換についての評価はできるが、FDD(周波数分割複信)などの方式で同時送受信(デュプレックス通信)を行う無線通信用LSIにおける送信部内の変調回路、受信部内の復調回路の特性を評価することができないという問題がある。
特開2004−48383号公報
本発明は外部テスト装置を用いずに変調回路、復調回路の特性を評価でき、製造コストを低減することができる無線機を提供することを目的とする。
本発明の一態様による無線機は、第1の周波数の第1電気信号を生成し出力する第1の発振器と、第2の周波数の第2電気信号を生成し出力する第2の発振器と、前記第1電気信号及び前記第2電気信号が与えられ、いずれか一方を出力するスイッチと、テスト信号を出力するテスト信号発生部と、前記テスト信号及び前記スイッチを介して前記第2電気信号が与えられ、前記テスト信号を前記第2の周波数で直交変換し、前記第2の周波数の変調信号として出力する直交変調器と、前記変調信号を増幅して出力する第1の増幅器と、前記第1の増幅器から出力される前記変調信号が与えられ、増幅して出力する第2の増幅器と、前記第2の増幅器から出力される変調信号及び前記第2電気信号が与えられ、前記第2の周波数で前記変調信号を直交変換し、復調信号として出力する直交復調器と、前記復調信号と前記テスト信号とが与えられ、前記直交変調器又は前記直交復調器の少なくともいずれか一方の特性を解析する解析部と、を備えるものである。
本発明によれば、外部テスト装置を用いずに変調、復調の特性を評価でき、製造コストを低減することができる。
以下、本発明の実施の形態による無線機を図面に基づいて説明する。
(第1の実施形態)図1に本発明の第1の実施形態に係る無線機の概略構成を示す。この無線機は、特に制限されないが、マルチメディア情報を伝送可能にする移動通信端末、例えばW−CDMA(Wideband-Code Division Multiple Access)端末、などに設けられる。W−CDMA端末のDS−CDMA/FDD(Direct-Sequence-CDMA/Frequency-Division Duplex)方式は、通信中は送受信同時に動作し、送受信周波数は異なるものである。
無線機は受信回路1、送信回路2、ミキサ3、4、テスト部5及びスイッチ6を備える。受信回路1は入力端子10、増幅器11、12、直交復調器13、電圧制御発振器14、ローパスフィルタ15を有する。送信回路2は出力端子20、ローパスフィルタ21、増幅器22、直交変調器23、電圧制御発振器24を有する。テスト部5はテスト信号発生部51及び解析部52を有し、スイッチ6のオンオフ制御を行う。スイッチ6は受信回路1、送信回路2の試験を行うときのみオンされる。
送信回路2に与えられた信号は、ローパスフィルタ21にて高帯域ノイズが低減される。ここでは1つの信号線の経路のみ示しているが、直交するI−chとQ−chの信号線を有していてもよい。直交変調器23はローパスフィルタ21から出力される信号を電圧制御発振器24から出力される信号の周波数で直交変換を行い、変調信号を出力する。この変調信号は増幅器22で増幅され、出力端子20を介して出力される。
無線機が受信した信号は受信回路1に入力される。受信信号は入力端子10を介して低雑音増幅器11に入力される。直交復調器13は低雑音増幅器11にて増幅された信号を電圧制御発振器14から出力される信号の周波数で直交変換を行い、復調信号を出力する。この復調信号はローパスフィルタ15で高周波帯ノイズが低減され、増幅器12で増幅され、受信回路1から出力される。
ミキサ3には電圧制御発振器14、24から出力される信号が与えられ、両者の周波数差を示す差周波信号を生成し、出力する。電圧制御発振器14から出力される信号の周波数がf1、電圧制御発振器24から出力される信号の周波数がf2(<f1)の場合、差周波信号の周波数はf1−f2である。例えば、無線機が受信する信号の周波数が2140MHz、送信する信号の周波数が1950MHzの場合、電圧制御発振器14からは2140MHz(=f1)が発振され、電圧制御発振器24からは1950MHz(=f2)が発振される。両者の差周波(ミキサ3から出力される信号の周波数)は190MHzとなる。
この無線機の受信回路1、送信回路2の動作特性を評価する場合、テスト信号発生部51からテスト信号が出力され、送信回路2に入力される。送信回路2において周波数f2で直交変換され、増幅されたテスト信号はミキサ4に与えられる。
ミキサ4は送信回路2から出力されるテスト信号(周波数f2)とミキサ3から出力される差周波信号(周波数f1−f2)が与えられ、テスト信号を周波数変換(アップコンバート)して出力する。これによりミキサ4から出力されるテスト信号の周波数はf1(=f1−f2+f2)となる。このミキサ4から出力される信号が受信回路1にテスト信号としてスイッチ6を介して与えられる。受信回路1にて増幅、復調されたテスト信号が解析部52に与えられる。
解析部52は受信回路1から出力された信号と、テスト信号発生部51から出力されたテスト信号が送信回路2及び受信回路1を伝播することによる期待値データとを比較し、受信回路1及び送信回路2の動作特性を評価する。解析部52は例えば、EVM(Error Vector Magnitude:エラーベクトル振幅)やBER(Bit Error Rate:ビット誤り率)の測定を行い、特性を評価する。
このような構成にすることで、送信回路2で直交変調された信号を受信回路1のテスト信号とすることができる。また、受信回路1内の電圧制御発振器14の発振周波数と送信回路2内の電圧制御発振器24の発振周波数との差分周波数を生成し、送信回路2を伝播したテスト信号を差分周波数を用いて周波数変換することで、実際に無線機が受信する信号と同じ周波数の変調テスト信号を受信回路1に与えることができる。
外部のテスト装置を用いないため、テスト時間及びテストコストの低減を図ることができる。また、直交変調した信号を受信回路のテスト信号としているため、送信回路2内での変調、受信回路1内での復調の動作特性を評価することができる。
このように、本実施形態の無線機により、外部テスト装置を用いずに変調回路、復調回路の特性を評価でき、製造コストを低減することができる。
(第2の実施形態)図2に本発明の第2の実施形態に係る無線機の概略構成を示す。図1と同一部分には同一符号を付す。受信回路1、送信回路2及び解析部52の動作は上記第1の実施形態と同様のため説明を省略する。
上記第1の実施形態では、電圧制御発振器14、24から出力される信号の差周波信号を生成していたが、本実施形態ではこの差周波信号に相当する信号をテスト部5から出力するような構成になっている。この信号はテスト部5に与えられるクロック信号から生成する。
このような構成にすることで、差周波信号生成のためのミキサを設けなくて良いため、回路面積を低減することができる。但し、無線機が送受信する信号の周波数差が大きい(電圧制御発振器14、24の発振周波数の差が大きい)場合は、テスト部5にて差周波信号を生成することが難しくなることに留意すべきである。
本実施形態の無線機により外部テスト装置を用いずに変調回路、復調回路の特性を評価でき、製造コストを低減することができる。また、回路面積を低減することができる。
(第3の実施形態)図3に本発明の第3の実施形態に係る無線機の概略構成を示す。図1と同一部分には同一符号を付す。受信回路1、送信回路2及び解析部52の動作は上記第1の実施形態と同様のため説明を省略する。
上記第1の実施形態では電圧制御発振器14、24から出力される信号の差周波信号を生成し、それを用いて送信回路2を伝播したテスト信号を周波数変換することで受信回路1に入力されるテスト信号の周波数を無線機が受信する信号の周波数(電圧制御発振器14の発振周波数)にしていたが、本実施形態では、スイッチ7を設け、直交変調器23にてテスト信号を直交変調する際はスイッチ7を切り替え、電圧制御発振器14の発振周波数で直交変換して変調信号を生成するようにしたものである。
スイッチ7の切り替え制御はテスト部5により行われる。スイッチ7は、無線機の動作時は直交変調器23に電圧制御発振器24の発振周波数を与え、受信回路1、送信回路2の試験を行う際は電圧制御発振器14の発振周波数を与えるように切り替え制御される。
このような構成にすることで、差周波信号生成のためのミキサ(図1におけるミキサ3)や周波数変換を行うためのミキサ(図1におけるミキサ4)を備える必要がなく、回路面積を低減することが出来る。
本実施形態の無線機により外部テスト装置を用いずに変調回路、復調回路の特性を評価でき、製造コストを低減することができる。また、回路面積を低減することができる。
上述した実施の形態はいずれも一例であって制限的なものではないと考えられるべきである。
例えば、図4に示すように、ミキサ4を外付けにし、受信回路1、送信回路2の試験を行うときに接続するような構成にすることができる。同様に図5に示すように、ミキサ3及び4を外付けにし、受信回路1、送信回路2の試験を行うときに接続するような構成にすることができる。
また、図6に示すように、受信回路1、送信回路2の試験を行った後、アイソレーションをとるために、電圧制御発振器14、24とミキサ3を接続する配線をレーザーカットするようにしてもよい。
ミキサ4、ミキサ3を外付けにする場合や試験後に配線をレーザーカットする場合はスイッチ6を設ける必要はない。
また、上記第3の実施形態ではテスト信号を電圧制御発振器14の発振周波数で直交変調するようにしていたが、図7に示すように、電圧制御発振器24の発振周波数で直交復調するようにスイッチ7を設けるようにしてもよい。このような構成でも、受信回路1での復調特性を評価することができる。
また、上記のような送信回路2で変調したテスト信号を受信回路1に入力しての試験を行う前に、一旦、送信回路2の出力を外部テスト装置で解析してから、変調したテスト信号を受信回路1に入力して解析部52にて解析を行うようにしてもよい。外部テスト装置では受信した送信回路2の出力信号の周波数分布に基づいて直交変調器24にて変調が正常に行われているかどうかを判定し、ピークパワーに基づいて増幅器22が正常に動作しているかを簡易的に判定する。これにより、送信回路2が正常に動作しているという条件下で無線機の試験を行うことができるため、送信回路2、受信回路1のどちらに不具合が生じているかを判断することができる。また、外部テスト装置からテスト信号(正弦波信号)を受信回路1に出力し、受信回路1の出力を解析部52で解析して、受信回路1が正常に動作しているかの確認を簡易的に行ってから、送信回路2で変調したテスト信号を受信回路1に入力しての試験を行うようにしてもよい。また、受信回路1、送信回路2をそれぞれ外部テスト装置を用いて動作確認を簡易的に行ってから、送信回路2で変調したテスト信号を受信回路1に入力しての試験を行うようにしてもよい。ここで外部テスト装置は送信回路2の出力の周波数分布及びピークパワーの検出又はテスト信号(正弦波信号)の出力を行うだけなので、高性能なテスト装置は必要とされない。
また、テスト信号(例えば単一周波数の正弦波信号)を出力するテスト部5が有するテスト信号発生部51を外付け回路にして、無線機に内蔵しなくてもよい。テスト信号発生部を外付けにする場合は、テスト信号情報を解析部52に与えるようにする。
本発明の技術的範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
本発明の第1の実施形態による無線機の概略構成図である。 本発明の第2の実施形態による無線機の概略構成図である。 本発明の第3の実施形態による無線機の概略構成図である。 変形例による無線機の概略構成図である。 変形例による無線機の概略構成図である。 変形例による無線機の概略構成図である。 変形例による無線機の概略構成図である。
符号の説明
1 受信回路
2 送信回路
3、4 ミキサ
5 テスト部
6 スイッチ

Claims (2)

  1. 第1の周波数の第1電気信号を生成し出力する第1の発振器と、
    第2の周波数の第2電気信号を生成し出力する第2の発振器と、
    前記第1電気信号及び前記第2電気信号が与えられ、いずれか一方を出力するスイッチと、
    テスト信号を出力するテスト信号発生部と、
    前記テスト信号及び前記スイッチを介して前記第2電気信号が与えられ、前記テスト信号を前記第2の周波数で直交変換し、前記第2の周波数の変調信号として出力する直交変調器と、
    前記変調信号を増幅して出力する第1の増幅器と、
    前記第1の増幅器から出力される前記変調信号が与えられ、増幅して出力する第2の増幅器と、
    前記第2の増幅器から出力される変調信号及び前記第2電気信号が与えられ、前記第2の周波数で前記変調信号を直交変換し、復調信号として出力する直交復調器と、
    前記復調信号と前記テスト信号とが与えられ、前記直交変調器又は前記直交復調器の少なくともいずれか一方の特性を解析する解析部と、
    を備えることを特徴とする無線機。
  2. 第1の周波数の第1電気信号を生成し出力する第1の発振器と、
    第2の周波数の第2電気信号を生成し出力する第2の発振器と、
    前記第1電気信号及び前記第2電気信号が与えられ、いずれか一方を出力するスイッチと、
    テスト信号を出力するテスト信号発生部と、
    前記テスト信号及び前記第1電気信号が与えられ、前記テスト信号を前記第1の周波数で直交変換し、前記第1の周波数の変調信号として出力する直交変調器と、
    前記変調信号を増幅して出力する第1の増幅器と、
    前記第1の増幅器から出力される前記変調信号が与えられ、増幅して出力する第2の増幅器と、
    前記第2の増幅器から出力される変調信号及び前記スイッチを介して前記第1電気信号が与えられ、前記第1の周波数で前記変調信号を直交変換し、復調信号として出力する直交復調器と、
    前記復調信号と前記テスト信号とが与えられ、前記直交変調器又は前記直交復調器の少なくともいずれか一方の特性を解析する解析部と、
    を備えることを特徴とする無線機。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2273705A1 (fr) * 2009-07-06 2011-01-12 EM Microelectronic-Marin SA Procédé de test de fonctionnement d'un circuit émetteur-récepteur de signaux
JP5589696B2 (ja) * 2010-09-09 2014-09-17 富士通株式会社 変換回路、調整方法、調整システムおよび製造方法
JP6334451B2 (ja) * 2015-03-31 2018-05-30 株式会社東芝 無線装置、折り返し試験装置、折り返し試験方法
JP6563716B2 (ja) * 2015-07-01 2019-08-21 株式会社東芝 電気車制御装置
US10505645B2 (en) 2017-05-23 2019-12-10 Renesas Electronics Corporation Wireless communication device and determination method

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3248785B2 (ja) * 1992-12-14 2002-01-21 富士通株式会社 折り返し試験可能な無線式送受信装置
FI109740B (fi) * 1993-06-11 2002-09-30 Nokia Corp Menetelmä lähetinvastaanotinyksikön testaamiseksi sekä aikajakoisen radiojärjestelmän tukiasema
FI98259C (fi) * 1995-06-16 1997-05-12 Nokia Telecommunications Oy Menetelmä ja laitteisto testisilmukan muodostamiseksi radioaseman toiminnan valvontaan
US6006112A (en) * 1997-11-26 1999-12-21 Lucent Technologies, Inc. Transceiver with RF loopback and downlink frequency scanning
JP2926574B1 (ja) * 1998-03-18 1999-07-28 福島日本電気株式会社 高周波折り返し送受信回路と該回路を含む送受信無線装置
FI107096B (fi) * 1999-06-03 2001-05-31 Nokia Networks Oy Lähetin-vastaanottimen testaus
GB9916904D0 (en) * 1999-07-19 1999-09-22 Cambridge Silicon Radio Ltd Testing response of a radio transceiver
FI20001774A (fi) * 2000-08-10 2002-02-11 Nokia Networks Oy Lähetinvastaanottimen testaaminen
GB2390495A (en) * 2002-07-05 2004-01-07 Motorola Inc Calibration of a transmitter or receiver in a transceiver wherein transmitter signals may be detected via the receiver or a separate detection arrangement
US7340280B2 (en) * 2004-02-26 2008-03-04 Nokia Corporation Method of configuring base station, and base station
EP1598140A1 (de) * 2004-05-19 2005-11-23 Synova S.A. Laserbearbeitung eines Werkstücks
US7379716B2 (en) * 2005-03-24 2008-05-27 University Of Florida Research Foundation, Inc. Embedded IC test circuits and methods
US7477875B2 (en) * 2005-07-26 2009-01-13 Texas Instruments Incorporated Built in loop back self test in design or on test board for transceivers
US20080051038A1 (en) * 2006-06-15 2008-02-28 Dan Hindson Radio loop-back

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