JP4422066B2 - 膜スチフネス測定装置および膜スチフネス測定方法 - Google Patents
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Description
f0=(s0/m0)1/2/(2π) だだし、各パラメータの内容は、以下のとおりである。
fo:受音体の膜の共振周波数 [Hz]
s0:膜強さ(スチフネス) [N/m]
m0:膜の質量 [kg]
安野 功修ほか「エレクトレットコンデンサマイクロホンの温度特性-評価方法及び設計法」 電子情報通信学会 信学技報、2005年1月、EA2004−134 P57−62 OPTONAR社カタログ micromap5000 振動・変位測定及び表面形状測定装置
また、発音部15は、反射音や残響音の少ない開放空間30に置かれており、この発音部15から発せられる音波は、開放空間30またはカップラ40(導波管など)を介して筐体13に到達し、さらに、音孔21を介して空気コンデンサ10に導かれる。また、発音部15から発せられる音波の音圧をPとする。この音圧Pは、空気コンデンサ10との近傍に設けられた音圧測定部50により、常時、測定される。
以下、膜スチフネスの測定動作について、より具体的に説明する。
図1の膜スチフネス測定装置において、増幅器12から出力される信号電圧は、以下の(数1)のように表される。
空気コンデンサ部10の面積SDIAと電極間距離d0と空気コンデンサ部の有効容量Cm及びストレー容量Cpは機械構造寸法で決定されるコンデンサであることからその値は一意的に求めことができる。
ちなみに平板コンデンサの容量は(数2)で与えられる。
上記の空気コンデンサ10は小さな容量であるから、その周りの外乱を受けやすい。また、増幅器12も小さな信号を扱うことから同様に外部の影響を受けやすい。このために、雑音シールド機能を有し、音を空気コンデンサ10に導くための音孔を有する筐体部13に、空気コンデンサ10および増幅器12に収納することにより、外乱の影響を受けにくくすることができる。
また、容量性の信号源(つまり、空気コンデンサ10)にインターフェースする増幅器12としては、例えば、接合形電界効果トランジスタ(JFET)を用いられる場合が多く、入力容量は最大10[pF]、入力抵抗は最大8[Gohm]程度のものを用いことが多い。
バイアス部11の抵抗60の抵抗値は、増幅部12の入力抵抗(不図示)より大きいか、あるいは、ほぼ同じ大きさとする。この抵抗60を用いて直流バイアス電圧を空気コンデンサ10に供給する。このようにすることで、空気コンデンサ10の容量とバイアス部11の抵抗60で構成される電気時定数によるコーナー周波数を容易に数10Hz以下にすることができ、その周波数特性は無視できるようになる。これにより、測定周波数をオーディオ帯域に選定することができるようになる。
発音部15は、オーディオ帯域をカバーできるコーン型のスピーカまたは音圧基準発生器としてよく知られているピストンホン(20)を備えており、これにより、オーディオ帯域の音圧を精度良く発生させることができる。
音圧測定部50は、一般的な普通騒音計を用いる。音圧Pは、音圧測定部50で測定されることからその値は既知である。また、可変直流バイアス源VSから供給されるバイアス電圧EBも、既知である。
背気室のスチフネス(弾性)は、以下の(数3)で示される。
従って、空気コンデンサ部からの信号(数1参照)は、既知の定数と測定時の残留値と一つの未知定数膜スチフネスS0の一次式(数5)で表すことができるようになる。
特性線S1として示されるように、出力電圧(V1あるいはV2)は、広範囲に渡って、バイアス電圧(EB)に比例して直線状に変化する。したがって、(数6)のいずれか一方の式を、S0について解くことによって、膜スチフネスを求めることもできないわけではないが、この場合、雑音に起因する平均残留成分Dをどのように扱うかが問題となる。
11 バイアス部
12 増幅器
13 筐体部
14 電圧測定部
15 発音部
16 音圧測定部
20 スピーカまたはピストンホン
21 音孔
30 開放空間
40 カップラ
50 音圧測定部
60 抵抗(バイアス用抵抗)
70 ケース
72 膜スチフネス測定対象の膜からなるコンデンサの電極
74 ギャップ材
75 空気コンデンサの電極に挟まれた空間
76 対向電極
77 貫通孔
78 背気室
VS 可変直流電圧源
EB 直流バイアス電圧
P 音圧
S1〜S4 特性線
Claims (14)
- 機械構造空気コンデンサの一方の電極が、膜スチフネスの測定対象の膜で構成されるコンデンサ部と、
前記コンデンサ部からの信号を増幅する増幅器と、
前記コンデンサ部と前記増幅器との共通接続点に直流バイアス電圧を印加するための直流電圧源を有するバイアス部と、
前記増幅器の出力電圧を測定する電圧測定部と、
前記コンデンサ部に音圧を加える発音部と、
前記コンデンサ部に加わる音圧を測定する音圧測定部と、を備え、
前記コンデンサ部に加える音圧を一定とし、一方、前記コンデンサ部に加える前記直流バイアス電圧を変化させることで、それぞれの前記直流バイアス電圧に対応する前記出力電圧を求め、
前記出力電圧の変化量に対する前記直流バイアス電圧の変化量の割合から膜スチフネスを求める膜スチフネス測定装置。 - 請求項1記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記コンデンサ部における前記膜スチフネスの測定対象の膜で構成される前記電極と、この電極に対向する対向電極との間の空間は、前記対向電極に設けられた貫通孔を介して所定容積の空間をもつ背気室に繋がっており、かつ、前記背気室の容積は、その背気室のスチフネスが前記膜スチフネスよりも十分に小さなスチフネスとなるように調整されている膜スチフネス測定装置。 - 請求項1記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記コンデンサ部および前記増幅器を収納する筐体部を有し、前記筐体部は、電気的な雑音をシールドするシールド機能と、前記発音部が発する音を前記コンデンサ部に導くための音孔と、を有する膜スチフネス測定装置。 - 請求項1記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記バイアス部は、その一端が前記コンデンサ部と前記増幅器との共通接続点に接続される抵抗と、前記直流電圧源と、を含んで構成され、前記抵抗と前記コンデンサ部によって定まる時定数に対応する周波数が、前記膜スチフネスを測定する周波数よりも十分に小さい膜スチフネス測定装置。 - 請求項1記載の膜スチフネス装置であって、
前記電圧測定部の内部に、フィルタによる測定周波数の帯域制限機能および数学的変換式を利用した周波数選択機能の少なくとも一つを備えた膜スチフネス測定装置。 - 請求項1記載の膜スチフネス装置であって、
前記発音部がスピーカまたはピストンホンで構成される膜スチフネス測定装置。 - 請求項3記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記発音部と前記筐体部は、密閉されたカップラーで結合されている膜スチフネス測定装置。 - 機械構造空気コンデンサの一方の電極が、膜スチフネスの測定対象の膜で構成されるコンデンサ部と、
前記コンデンサ部からの信号を増幅する増幅器と、
前記コンデンサ部と前記増幅器との共通接続点に直流バイアス電圧を印加するための直流電圧源を有するバイアス部と、
前記増幅器の出力電圧を測定する電圧測定部と、
前記コンデンサ部に音圧を加える発音部と、
前記コンデンサ部に加わる音圧を測定する音圧測定部と、を備え、
前記コンデンサ部に印加する直流バイアス電圧を一定とし、一方、前記コンデンサ部に加える音圧を変化させることで、それぞれの前記音圧に対応する前記出力電圧を求め、
前記出力電圧の変化量に対する前記音圧の変化量の割合から膜スチフネスを求める膜スチフネス測定装置。 - 請求項8記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記コンデンサ部における前記膜スチフネスの測定対象の膜で構成される前記電極と、この電極に対向する対向電極との間の空間は、前記対向電極に設けられた貫通孔を介して所定容積の空間をもつ背気室に繋がっており、かつ、前記背気室の容積は、その背気室のスチフネスが前記膜スチフネスよりも十分に小さなスチフネスとなるように調整されている膜スチフネス測定装置。 - 請求項8記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記コンデンサ部および前記増幅器を収納する筐体部を有し、前記筐体部は、電気的な雑音をシールドするシールド機能と、前記発音部が発する音を前記コンデンサ部に導くための音孔と、を有する膜スチフネス測定装置。 - 請求項8記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記バイアス部は、その一端が前記コンデンサ部と前記増幅器との共通接続点に接続される抵抗と、前記直流電圧源と、を含んで構成され、前記抵抗と前記コンデンサ部によって定まる時定数に対応する周波数が、前記膜スチフネスを測定する周波数よりも十分に小さい膜スチフネス測定装置。 - 請求項8記載の膜スチフネス装置であって、
前記電圧測定部の内部に、フィルタによる測定周波数の帯域制限機能および数学的変換式を利用した周波数選択機能の少なくとも一つを備えた膜スチフネス測定装置。 - 請求項8記載の膜スチフネス装置であって、
前記発音部がスピーカまたはピストンホンで構成される膜スチフネス測定装置。 - 請求項10記載の膜スチフネス測定装置であって、
前記発音部と前記筐体部は、密閉されたカップラーで結合されている膜スチフネス測定装置。
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