JP4394254B2

JP4394254B2 - Defective pixel correction device for solid-state imaging device in video camera

Info

Publication number: JP4394254B2
Application number: JP2000159567A
Authority: JP
Inventors: 博一河野
Original assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Current assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date: 2000-05-25
Filing date: 2000-05-25
Publication date: 2010-01-06
Anticipated expiration: 2020-05-25
Also published as: JP2001339642A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素からの撮像信号を補正する固体撮像素子の欠陥画素補正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の固体撮像素子の欠陥画素からの撮像信号に対する欠陥画素補正装置は、固体撮像素子の欠陥画素からの撮像信号と、撮像信号に同期しその極性が逆で実質同レベルの補正信号とを加算して、欠陥画素からの撮像信号レベルがなくなるよう補正された撮像信号を得ることで、欠陥画素を補正している。
【０００３】
このような補正については、例えば、特開２０００−２３０５０号公報に記載されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
この加算による欠陥画素の補正は、通常の撮像モードにおいて、有効である。即ち、通常の撮像モードでは、ＣＣＤ固体撮像素子における電荷の蓄積時間が一定の期間であるため、欠陥画素から得られる信号レベルは所定のレベル範囲となる。そのため、加算による補正信号のレベルもその所定のレベル範囲とすればよく、その所定レベルに応じたダイナミックレンジを有する補正信号発生回路によって、所定の精度となるような信号を、その所定レベル範囲に応じて発生することができる。そのため、通常の撮像モードにおいては、高精度な加算による補正信号によって、精度良く欠陥画素を補正することができる。
【０００５】
しかしながら、長時間蓄積する高感度撮像モードにおいては、蓄積時間が可変され、欠陥画素から得られる信号レベルが、通常の撮像モードの上述の所定の動作レベル範囲に比べて極めて広範囲のレベル範囲の信号が出力される可能性があり、その高感度撮像モード時の広レベル範囲に合わせたダイナミックレンジを有する補正信号発生回路として上述の通常感度動作と同じ精度を有するものとするためには、分解能を高くするために、通常の撮像モードの場合に比べて極めて大規模な回路構成のものとしなければならない。
【０００６】
また、回路規模を上述の通常の撮像モードの加算による補正信号発生回路と同程度のものとした場合には、分解能が極めて低くなってしまい、精度の悪い加算信号でしか発生することができず、その精度の悪い補正信号と欠陥画素からの映像信号とを加算したことでは、その精度の悪い分だけ欠陥画素からの映像信号をキャンセルしきれずに、そのキャンセル仕切れなかったレベルが、画像品質を悪化される場合がある。
【０００７】
本発明の目的は、通常の撮像モードでの補正精度を確保しつつ、高感度モードでも良好な補正ができるビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素補正装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、固体撮像素子の欠陥画素からの撮像信号と前記撮像信号に同期しその極性が逆で実質同レベルの補正信号とを加算して前記欠陥画素を補正する加算による補正手段と、前記固体撮像素子の欠陥画素からの撮像信号を前記欠陥画素の周辺画素からの撮像信号で置換して前記欠陥画素を補正する置換による補正手段とを備えてなることを特徴とするビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素補正装置である。
【０００９】
また、本発明は、前記加算による補正手段と前記置換による補正手段はビデオカメラの撮影モードに応じて切り替えられることを特徴とするビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素補正装置である。
【００１０】
また、本発明は、前記加算による補正手段と前記置換による補正手段はビデオカメラの撮影モードに応じて切り替えられ、前記撮影モードが通常の撮影モード時には前記加算による補正手段に、高感度撮影モード時には前記置換による補正手段に切り替えられることを特徴とするビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素補正装置である。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明のビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素補正装置の実施の形態の構成を示す図である。
【００１２】
ＣＣＤ(Charge Coupled Device)固体撮像素子１１は、入射された撮像光を光電変換してＣＣＤ出力信号１１ａとして出力する。ＣＣＤ出力信号１１ａはＣＤＳ(相関二重サンプル)回路１２に入力される。ＣＤＳ回路１２はドライブ回路１３からの制御信号で動作が制御され、ノイズ成分が除去され、ＣＤＳ出力信号１２ａとして出力される。その後加算回路１４を通り、プリアンプ１５でアナログ処理された後、Ａ／Ｄ変換器１６でデジタル信号に変換され、一方は次段の映像信号処理回路へ入力され、もう一方は欠陥画素検出回路１７に入力される。
【００１３】
欠陥画素検出回路１７で欠陥画素が検出され、検出された欠陥画素の情報はＣＰＵ１８に入力され、メモリ１９に格納されると共に補正信号発生回路２０に入力される。補正信号発生回路２０では検出された欠陥画素の情報から欠陥画素補正信号を発生する。
【００１４】
ここで、ＣＰＵ１８は図示してない表示装置の表示画面と電気的に接続され、表示画面に表示するメニュー情報がメモリ１９に予め格納されており、それによって、表示画面に、撮影モードを通常の撮像モードにするか高感度撮像モードにするかの選択メニューを表示し、どちらかの撮影モードにするのかを撮影者に選択させるようにし、さらに、その選択された撮影モードの情報がＣＰＵ１８に入力され、メモリ１９に格納されると共に補正信号発生回路２０に入力される。
【００１５】
補正信号発生回路２０では、選択された撮影モードに応じて、加算用補正信号２０ａかまたは置換用補正信号２０ｂを発生して出力する。ここで、加算用補正信号２０ａは、通常の撮像モード時に発生し、欠陥画素からの撮像信号とその極性が逆で実質同レベルの加算用補正信号であり、一方、置換用補正信号２０ｂは、高感度撮像モード時に発生し、その極性が同じとされた置換用補正信号である。
【００１６】
したがって、通常の撮像モード時には、加算用補正信号２０ａが出力されて、サンプルホールド回路２１に入力され、サンプルホールド回路２１で、欠陥画素の撮像信号期間に相当する期間の欠陥画素補正信号２１ａにして出力され、加算回路１４で、ＣＤＳ回路１２からのＣＤＳ出力信号１２ａと加算されて、欠陥画素が補正される。
【００１７】
高感度撮像モード時には、置換用補正信号２０ｂがＡＮＤ回路２２に入力され、ドライブ回路１３からの制御信号１３ｂとのＡＮＤ信号が、ＣＤＳ回路１２に入力され、ＣＤＳ回路１２で、欠陥画素からの撮像信号の出力を止めてその欠陥画素の１画素前の撮像信号を出力することで、欠陥画素が補正される。
【００１８】
図２は、図１の一部についての詳細な構成を示す図である。図１と同一個所には同一符号が付けられている。図３は、加算による補正の動作を示す波形図である。また図４は、置換による補正の動作を示す波形図である。
【００１９】
まず、撮影モードが通常の撮影モードである場合につき、図２の構成を、図３の加算による補正の動作を示す波形図を用いて説明する。
【００２０】
ＣＣＤ固体撮像素子１１から出力されるＣＣＤ出力信号１１ａは、図３に図示のように、リセット期間、フィードスルー期間、信号出力期間を有する繰り返しの信号である。ここで、ＣＣＤ固体撮像素子１１の各画素に入射される撮影光が全て同一光量であると仮定した場合、その場合の信号期間における各画素の信号レベルは、欠陥画素を除いて同じレベルである。ここで、ＣＣＤ固体撮像素子１１に欠陥画素があると、例えば、格子歪みが多いために暗電流が増大するため、ＣＣＤ固体撮像素子１１から出力されるＣＣＤ出力信号１１ａのうち、その欠陥画素からの信号出力期間の撮像信号部分のレベルは、撮像光によらないで、その暗電流によって恒久的に大きく、他の期間の信号レベルよりも大きい。図１，図２において、ドライブ回路１３は、ＣＣＤ出力信号１１ａに同期して、制御信号であるクランプパルス信号１３ａ，サンプルホールドパルス信号１３ｂ，リセットパルス信号１３ｃを生成して出力する。
【００２１】
また、図１，図２のＡＮＤ回路２２は、ドライブ回路１３からのサンプルホールドパルス信号１３ｂと補正信号発生回路２０からの置換用補正信号２０ｂとを入力としてＡＮＤ出力信号２２ａを出力するが、この置換用補正信号２０ｂは、撮影モードが通常の撮影モード時の場合には、Ｈ（ハイ）レベルに固定され、したがってサンプルホールドパルス信号１３ｂがそのままスルーして出力信号２２ａとされる。ＣＤＳ回路１２において、ＣＣＤ固体撮像素子１１からのＣＣＤ出力信号１１ａは、そのフィードスルー期間に、クランプパルス信号１３ａにより、ＣＤＳ回路１２のスイッチ１２１がＯＮされることで、そのフィードスルー期間のレベルがクランプされる。
【００２２】
ＣＣＤ出力信号１１ａはアンプ１２２を介してスイッチ１２３に入力される。そして、ＣＣＤ出力信号１１ａの信号出力期間に、スイッチ１２３がサンプルホールドパルス信号１３ｂによりＯＮされ、その信号出力期間のＣＣＤ出力信号１１ａのレベルがサンプリングされ、コンデンサ１２４にそのサンプリングレベルの信号がホールドされる。そのホールドされたサンプリングレベルの信号が、アンプ１２５に入力され、アンプ１２５の出力に接続のスイッチ１２６が、リセットパルス信号１３ｃによりＯＮされて信号ラインが接地される前まで、アンプ１２７で増幅され、増幅された出力信号１２７ａがＣＤＳ回路１２の出力信号として出力され、この出力信号１２７ａが加算回路１４の抵抗１４１に入力される。
【００２３】
一方、前述のように、補正信号発生回路２０では、通常の撮像モード時に、欠陥画素からの撮像信号とその極性が逆で実質同レベルの加算用補正信号２０ａ（図３に図示）を発生して出力し、その出力された加算用補正信号２０は、サンプルホールド回路２１に入力され、サンプルホールド回路２１のアンプ２１１で増幅され、スイッチ２１２が信号出力期間にサンプルホールドパルス信号１３ｂによりＯＮされると、そのＯＮ期間の加算用補正信号２０ｂのレベルがサンプリングされ、コンデンサ２１３にそのサンプリングレベルの信号がホールドされる。そのホールドされたサンプリングレベルの信号がアンプ２１４に入力され、アンプ２１４の出力に接続のスイッチ２１５が、リセットパルス信号１３ｃによりＯＮされて信号ラインが接地される前まで、アンプ２１６で増幅され、アンプ２１６から増幅された加算用補正制御信号２１６ａがサンプルホールド回路２１の出力信号として出力される。この加算用補正制御信号２１６ａが加算回路１４の抵抗１４２に入力される。
【００２４】
そして、加算回路１４で、抵抗１４１に入力されたＣＤＳ回路１２の出力信号１２７ａと、抵抗１４２に入力されたサンプルホールド回路２１の出力信号２１６ａとが加算され、補正後の出力信号１４ａとして、欠陥画素が実質補正された撮像信号を得ることができる。
【００２５】
次に、撮影モードが高感度撮影モード時である場合につき、図２の構成を、図４の置換による補正の動作を示す図を用いて説明する。
【００２６】
高感度撮影モード時である場合には、前述のように、補正信号発生回路２０は、欠陥画素補正信号として、欠陥画素からの撮像信号が出力されるタイミングで、図４に図示のように、欠陥画素からの撮像信号の極性と同じ極性でＬ（ロウ）レベルの置換用補正信号２０ｂを発生し出力する。この置換用補正信号２０ｂがサンプルホールドパルス信号１３ｂとともにＡＮＤ回路２２に入力されるので、置換用補正信号２０ｂのＬ（ロウ）レベル中に、サンプルホールドパルス信号１３ｂが入力されても、その出力信号２２ａは、欠陥画素の撮像信号部分だけサンプルホールドパルス信号１３ｂが除去された形となる。
【００２７】
このＡＮＤ回路２２の出力信号２２ａにより、ＣＤＳ回路１２のスイッチ１２３がＯＮになると、ＣＣＤ固体撮像素子１１からの信号の信号出力期間のレベルがサンプリングされて、コンデンサ１２４にホールドされるが、サンプルホールドパルス１３ｂが除去された部分ではサンプリングが行われず、１画素前のレベルがコンデンサ１２４に保持される。そして、スイッチ１２６がリセットパルスでＯＮされて信号ラインが接地される前まで、増幅器１２７から出力信号１２７ａが得られる。
【００２８】
このようにして欠陥画素の出力信号はサンプリングされず欠陥画素の１画素前の出力信号が保持され、欠陥画素が１個前の画素で置換される形で欠陥画素が補正される。
【００２９】
【発明の効果】
本発明によれば、通常の撮像時は加算方式で欠陥画素補正を行い、蓄積方式による高感度撮像時には置換方式で欠陥画素補正を行うことにより、通常の撮像モードでの補正精度を確保しつつ、高感度モードでも良好な補正ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のビデオカメラにおける固体撮像素子の欠陥画素補正装置の実施の形態の構成を示す図である。
【図２】図１の一部についての詳細な構成を示す図である。
【図３】加算による補正の動作を示す波形図である。
【図４】置換による補正の動作を示す波形図である。
【符号の説明】
１１…ＣＣＤ固体撮像素子、１２…ＣＤＳ回路、１３…ドライブ回路、１４…加算回路、１５…プリアンプ、１６…Ａ／Ｄ変換器、１７…欠陥画素検出回路、１８…ＣＰＵ、１９…メモリ、２０…補正信号発生回路、２０ａ…加算用補正信号、２０ｂ…置換用補正信号、２１…サンプルホールド回路、２２…ＡＮＤ回路、１２２，１２５，１２７，２１１，２１４，２１６…アンプ、１２１，１２３，１２６，２１２，２１５…スイッチ、１２４，２１３…コンデンサ、１４１，１４２…抵抗。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a defective pixel correction device for a solid-state imaging device that corrects an imaging signal from a defective pixel of the solid-state imaging device in a video camera.
[0002]
[Prior art]
The conventional defective pixel correction device for the imaging signal from the defective pixel of the solid-state imaging device adds the imaging signal from the defective pixel of the solid-state imaging device and a correction signal that is synchronized with the imaging signal and has the opposite polarity and substantially the same level. Then, the defective pixel is corrected by obtaining an imaging signal corrected so that the imaging signal level from the defective pixel disappears.
[0003]
Such correction is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-23250.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
The correction of defective pixels by this addition is effective in the normal imaging mode. That is, in the normal imaging mode, since the charge accumulation time in the CCD solid-state imaging device is a fixed period, the signal level obtained from the defective pixel is in a predetermined level range. For this reason, the level of the correction signal by addition may be set within the predetermined level range, and a signal having a predetermined accuracy is set within the predetermined level range by the correction signal generation circuit having a dynamic range corresponding to the predetermined level. Can be generated accordingly. Therefore, in the normal imaging mode, a defective pixel can be corrected with high accuracy by a correction signal obtained by high-precision addition.
[0005]
However, in the high-sensitivity imaging mode that accumulates for a long time, the accumulation time is variable, and the signal level obtained from the defective pixel is a signal in a very wide level range compared to the above-described predetermined operation level range in the normal imaging mode. In order to have the same accuracy as the normal sensitivity operation described above as a correction signal generation circuit having a dynamic range that matches the wide level range in the high-sensitivity imaging mode, the resolution must be reduced. In order to make it high, the circuit configuration must be extremely large compared to the normal imaging mode.
[0006]
In addition, when the circuit scale is the same as that of the correction signal generation circuit by the addition of the normal imaging mode described above, the resolution becomes extremely low, and it can be generated only with an addition signal with low accuracy. By adding the correction signal with poor accuracy and the video signal from the defective pixel, the video signal from the defective pixel cannot be canceled by the amount of the poor accuracy, and the level of the cancellation partition is not improved. May be exacerbated.
[0007]
An object of the present invention is to provide a defective pixel correction device for a solid-state image sensor in a video camera that can perform good correction even in a high sensitivity mode while ensuring correction accuracy in a normal imaging mode.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The present invention provides a correction means by addition for correcting the defective pixel by adding an imaging signal from a defective pixel of a solid-state imaging device and a correction signal which is synchronized with the imaging signal and whose polarity is reversed and substantially the same level; Solid-state imaging in a video camera, comprising: replacement means for replacing an imaging signal from a defective pixel of a solid-state imaging device with an imaging signal from a peripheral pixel of the defective pixel to correct the defective pixel It is a defective pixel correction device for an element.
[0009]
According to another aspect of the present invention, there is provided a defective pixel correction apparatus for a solid-state imaging device in a video camera, wherein the correction means by addition and the correction means by replacement are switched according to a shooting mode of the video camera.
[0010]
Further, according to the present invention, the correction means by addition and the correction means by replacement are switched according to the shooting mode of the video camera, and when the shooting mode is a normal shooting mode, the correction means by addition is changed to a correction mode by the addition. A defective pixel correction apparatus for a solid-state imaging device in a video camera, wherein the correction means is switched to the correction means by the replacement.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of a defective pixel correction device for a solid-state imaging device in a video camera of the present invention.
[0012]
A CCD (Charge Coupled Device) solid-state imaging device 11 photoelectrically converts incident imaging light and outputs it as a CCD output signal 11a. The CCD output signal 11 a is input to a CDS (correlated double sample) circuit 12. The operation of the CDS circuit 12 is controlled by a control signal from the drive circuit 13, noise components are removed, and the CDS circuit 12 is output as a CDS output signal 12a. Thereafter, the signal passes through the adder circuit 14, is subjected to analog processing by the preamplifier 15, is converted to a digital signal by the A / D converter 16, one is input to the video signal processing circuit in the next stage, and the other is the defective pixel detection circuit 17. Is input.
[0013]
A defective pixel is detected by the defective pixel detection circuit 17, and information on the detected defective pixel is input to the CPU 18, stored in the memory 19, and input to the correction signal generation circuit 20. The correction signal generation circuit 20 generates a defective pixel correction signal from the detected defective pixel information.
[0014]
Here, the CPU 18 is electrically connected to a display screen of a display device (not shown), and menu information to be displayed on the display screen is stored in advance in the memory 19. A selection menu for selecting an imaging mode or a high-sensitivity imaging mode is displayed, and the photographer is allowed to select one of the imaging modes, and information on the selected imaging mode is input to the CPU 18. And stored in the memory 19 and input to the correction signal generation circuit 20.
[0015]
The correction signal generation circuit 20 generates and outputs an addition correction signal 20a or a replacement correction signal 20b according to the selected photographing mode. Here, the addition correction signal 20a is generated in the normal imaging mode, and is an addition correction signal having substantially the same level as that of the imaging signal from the defective pixel, while the replacement correction signal 20b is This is a replacement correction signal generated in the high sensitivity imaging mode and having the same polarity.
[0016]
Therefore, in the normal imaging mode, the addition correction signal 20a is output and input to the sample and hold circuit 21. The sample and hold circuit 21 converts the correction signal 20a into a defective pixel correction signal 21a in a period corresponding to the imaging signal period of the defective pixel. The signal is output and added by the adding circuit 14 with the CDS output signal 12a from the CDS circuit 12 to correct the defective pixel.
[0017]
In the high-sensitivity imaging mode, the replacement correction signal 20b is input to the AND circuit 22, and the AND signal with the control signal 13b from the drive circuit 13 is input to the CDS circuit 12, and the CDS circuit 12 captures an image from the defective pixel. The defective pixel is corrected by stopping the output of the signal and outputting the imaging signal one pixel before the defective pixel.
[0018]
FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of a part of FIG. The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. FIG. 3 is a waveform diagram showing a correction operation by addition. FIG. 4 is a waveform diagram showing a correction operation by replacement.
[0019]
First, when the shooting mode is the normal shooting mode, the configuration in FIG. 2 will be described with reference to the waveform diagram showing the correction operation by addition in FIG.
[0020]
The CCD output signal 11a output from the CCD solid-state imaging device 11 is a repetitive signal having a reset period, a feedthrough period , and a signal output period as shown in FIG. Here, when it is assumed that the photographing light incident on each pixel of the CCD solid-state imaging device 11 has the same light amount, the signal level of each pixel in the signal period in that case is the same level except for defective pixels. . Here, if there is a defective pixel in the CCD solid-state imaging device 11, for example, dark current increases due to a large amount of lattice distortion. Therefore, from the defective pixel in the CCD output signal 11 a output from the CCD solid-state imaging device 11. The level of the imaging signal portion in the signal output period is permanently increased by the dark current without depending on the imaging light, and is higher than the signal level in other periods. 1 and 2, the drive circuit 13 generates and outputs a clamp pulse signal 13a, a sample hold pulse signal 13b, and a reset pulse signal 13c as control signals in synchronization with the CCD output signal 11a.
[0021]
The AND circuit 22 shown in FIGS. 1 and 2 receives the sample hold pulse signal 13b from the drive circuit 13 and the replacement correction signal 20b from the correction signal generation circuit 20 as inputs, and outputs an AND output signal 22a. When the shooting mode is the normal shooting mode, the replacement correction signal 20b is fixed at the H (high) level, so that the sample hold pulse signal 13b is directly passed through to be the output signal 22a. In the CDS circuit 12, the CCD output signal 11 a from the CCD solid-state imaging device 11 has a level of the feedthrough period when the switch 121 of the CDS circuit 12 is turned on by the clamp pulse signal 13 a during the feedthrough period . Clamped.
[0022]
The CCD output signal 11a is input to the switch 123 via the amplifier 122. Then, during the signal output period of the CCD output signal 11a, the switch 123 is turned on by the sample hold pulse signal 13b, the level of the CCD output signal 11a in the signal output period is sampled, and the signal of the sampling level is held in the capacitor 124. The The held sampling level signal is input to the amplifier 125, and the switch 126 connected to the output of the amplifier 125 is amplified by the amplifier 127 until the signal line is grounded by being turned on by the reset pulse signal 13c. The amplified output signal 127 a is output as the output signal of the CDS circuit 12, and this output signal 127 a is input to the resistor 141 of the adder circuit 14.
[0023]
On the other hand, as described above, the correction signal generation circuit 20 generates an addition correction signal 20a (shown in FIG. 3) having substantially the same level as that of the imaging signal from the defective pixel in the reverse polarity in the normal imaging mode. The output correction signal 20 is input to the sample hold circuit 21, amplified by the amplifier 211 of the sample hold circuit 21, and the switch 212 is turned on by the sample hold pulse signal 13b during the signal output period. Then, the level of the addition correction signal 20b during the ON period is sampled, and the signal of the sampling level is held in the capacitor 213. The held sampling level signal is input to the amplifier 214, and is amplified by the amplifier 216 until the switch 215 connected to the output of the amplifier 214 is turned on by the reset pulse signal 13c and the signal line is grounded. An addition correction control signal 216 a amplified from 216 is output as an output signal of the sample hold circuit 21. This addition correction control signal 216 a is input to the resistor 142 of the addition circuit 14.
[0024]
Then, the output signal 127a of the CDS circuit 12 input to the resistor 141 and the output signal 216a of the sample hold circuit 21 input to the resistor 142 are added by the adder circuit 14, and a defect is obtained as the corrected output signal 14a. An imaging signal in which the pixels are substantially corrected can be obtained.
[0025]
Next, when the shooting mode is the high-sensitivity shooting mode, the configuration in FIG. 2 will be described with reference to the correction operation by replacement in FIG.
[0026]
In the case of the high-sensitivity shooting mode, as described above, the correction signal generation circuit 20 is the timing at which the imaging signal from the defective pixel is output as the defective pixel correction signal, as illustrated in FIG. An L (low) level replacement correction signal 20b having the same polarity as that of the imaging signal from the defective pixel is generated and output. Since this replacement correction signal 20b is input to the AND circuit 22 together with the sample hold pulse signal 13b, even if the sample hold pulse signal 13b is input during the L (low) level of the replacement correction signal 20b, its output signal 22a has a form in which the sample hold pulse signal 13b is removed only in the image signal portion of the defective pixel.
[0027]
When the switch 123 of the CDS circuit 12 is turned on by the output signal 22a of the AND circuit 22, the level of the signal output period of the signal from the CCD solid-state imaging device 11 is sampled and held in the capacitor 124. Sampling is not performed in the portion where the pulse 13b is removed, and the level one pixel before is held in the capacitor 124. The output signal 127a is obtained from the amplifier 127 until the switch 126 is turned on by the reset pulse and before the signal line is grounded.
[0028]
In this way, the output signal of the defective pixel is not sampled, the output signal of the previous pixel of the defective pixel is retained, and the defective pixel is corrected in such a manner that the defective pixel is replaced with the previous pixel.
[0029]
【The invention's effect】
According to the present invention, defect pixel correction is performed by the addition method during normal imaging, and defective pixel correction is performed by the replacement method during high-sensitivity imaging by the accumulation method, while ensuring correction accuracy in the normal imaging mode. Good correction is possible even in the high sensitivity mode.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of a defective pixel correction device for a solid-state imaging device in a video camera of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of a part of FIG. 1;
FIG. 3 is a waveform diagram showing an operation of correction by addition.
FIG. 4 is a waveform diagram showing a correction operation by replacement.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... CCD solid-state image sensor, 12 ... CDS circuit, 13 ... Drive circuit, 14 ... Adder circuit, 15 ... Preamplifier, 16 ... A / D converter, 17 ... Defect pixel detection circuit, 18 ... CPU, 19 ... Memory, 20 ... Correction signal generation circuit, 20a ... Correction signal for addition, 20b ... Correction signal for replacement, 21 ... Sample and hold circuit, 22 ... AND circuit, 122, 125, 127, 211, 214, 216 ... Amplifier, 121, 123, 126 , 212, 215 ... switch, 124, 213 ... capacitor, 141, 142 ... resistance.

Claims

Correction means by addition for correcting the defective pixel by adding an imaging signal from the defective pixel of the solid-state imaging device and a correction signal that is synchronized with the imaging signal and having a polarity opposite to that of the imaging signal, and the solid-state imaging device by the addition to be replaced with the image signal and a correction unit by substitution for correcting the defective pixels, photographing video camera mode is the normal shooting mode of the imaging signals from the peripheral pixels of the defective pixel from the defective pixel An apparatus for correcting a defective pixel of a solid-state imaging device in a video camera, wherein the correction means is switched to the correction means by the replacement when the shooting mode of the video camera is a high sensitivity shooting mode.