JP4393939B2 - フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - Google Patents
フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 Download PDFInfo
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Description
法元盛久 精密工学会誌 67, 1403-1406(2001) S. T. Chen, T. Y. Lin, and C. S. Yoo, Proc. of SPIE 5130 391-399(2003) 濱田充弘、寺地徳之、伊藤利通 J. Vac. Soc. Jpn. 46, 225-228(2003)
2 正常パターン
3 FIB欠陥修正個所(ガリウム注入部分)
4 ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した溶液
5 導電性探針
6 直流電源
7 ファイバー型近接場光学顕微鏡探針
8 光源
9 加熱用の光
10 加熱プローブ
11 レーザー光
Claims (4)
- 集束イオンビーム欠陥修正装置で欠陥を修正したフォトマスクを、ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡装置に導入し、前記液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧を印加しながら前記欠陥修正部分上を走査し、前記導電性探針と前記欠陥修正部分間の高電界により、前記集束イオンビームによるフォトマスク欠陥修正でガラス基板に注入されたガリウムを表面に析出させて前記キレート剤と結合させることにより除去することを特徴とするフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法。
- 集束イオンビーム欠陥修正装置で欠陥を修正したフォトマスクを、ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡に導入し、前記液中近接場光学顕微鏡の探針から前記欠陥修正個所に近接場光を照射しながら前記欠陥修正部分を走査し、局所的な高温化により、前記集束イオンビームによるフォトマスク欠陥修正でガラス基板に注入されたガリウムを表面に析出させて前記キレート剤と結合させることにより除去することを特徴とするフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法。
- 集束イオンビーム欠陥修正装置で欠陥を修正したフォトマスクを、ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡装置に導入し、前記液中走査プローブ顕微鏡の探針を加熱しながら前記欠陥修正個所を走査し、前記集束イオンビームによるフォトマスク欠陥修正でガラス基板に注入されたガリウムを表面に析出させて前記キレート剤と結合させることにより除去することを特徴とするフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法。
- 集束イオンビーム欠陥修正装置で欠陥を修正したフォトマスクを、ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡装置に導入し、前記液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針を該探針にレーザを照射しながら前記欠陥箇所上を走査し、針先で増強された高電界により、前記集束イオンビームによるフォトマスク欠陥修正でガラス基板に注入されたガリウムを表面に析出させて前記キレート剤と結合させることにより除去することを特徴とするフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法。
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