JP4332689B2 - Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus for powder - Google Patents
Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus for powder Download PDFInfo
- Publication number
- JP4332689B2 JP4332689B2 JP24737599A JP24737599A JP4332689B2 JP 4332689 B2 JP4332689 B2 JP 4332689B2 JP 24737599 A JP24737599 A JP 24737599A JP 24737599 A JP24737599 A JP 24737599A JP 4332689 B2 JP4332689 B2 JP 4332689B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- granular material
- turntable
- foreign matter
- foreign
- outer peripheral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、医薬品、食品、化成品等の原料、半製品、製品など、各種の粉粒体中に混入した異物を検出して除去する粉粒体の異物検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、医薬品、食品等の分野では、製造原料や製品又は半製品の粉粒体中に混入した、金属片、毛髪、汚れた粒子、その他の異物(本明細書では、汚れた粒子なども含めてこれらを「異物」と総称する)を取り除くための異物検査が行われている。このような、粉粒体の異物検査は、従来、作業員による目視検査により行われてきたが、近年、目視検査に代わって粉粒体の異物検査を自動的に行う検査装置が用いられるようになってきている。
【0003】
このような粉粒体の自動検査を行う従来の装置としては、特公平3−60381号公報に記載された装置を例示することができる。この検査装置を図11に示す。
【0004】
この図11に示した従来の検査装置は、ホッパーf1に収容した粉粒体pを振動フィーダf2の発生する振動により連続的に落下させて、所定厚さの粉粒体層p1を形成し、この自然落下する粉粒体pからなる粉粒体層p1を回収容器gに回収すると共に、この粉粒体層p1に光源j1,j2からそれぞれ光を照射して、光源j1から照射された光の反射光をハーフミラーhを介してラインセンサカメラkに入射させ、粉粒体層p1の画像を連続的に取り込み、得られた画像を画像処理装置r1と選別装置制御手段r2,r3とで構成された判定処理部rにより画像処理して異物の検出を行い、異物が検出された場合に吸引選別装置dにより粉粒体層p1から異物を含む所定量の粉粒体を吸引除去するものである。
【0005】
この場合、上記光源j2は光源j1の光が粉粒体層p1に当たって反射した反射光と等しい光量の光を照射するようになっており、粉粒体層p1に欠け等が生じて粉粒体pの粒子が全く存在しない部分が発生し、異物が存在しないにもかかわらず反射光が得られない場合に、この光源j2からの透過光をハーフミラーhを介してラインセンサカメラkに入射させ、粉粒体層p1の欠けを異物と誤認することがないようになっている。なお、図中a1,a2はそれぞれ矢印方向に回転する透明円筒体、s,sはこれら透明円筒体a1,a2の外周面を清掃するクリーナー、t,tは透明円筒体a1,a2に帯電した静電気を除去する静電除去装置である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の検査装置は、検査対象の粉粒体pが流動性に劣るものである場合には、必ずしも十分な検査を行うことができないという問題点がある。
即ち、検査対象の粉粒体pが吸湿性の高い粉体や保湿性のものである場合、更にはもともと流動性の乏しいものである場合には、粒子同士が凝集したり、流動性に乏しいために一定速度で一定量の粉粒体を連続的に落下させることが困難であり、薄くかつ一定の粉粒体層p1を安定的に形成することができず、信頼性の高い検査を行うことが困難になってしまう。
【0007】
本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、流動性に劣る粉粒体であっても信頼性の高い異物検査を確実かつ安定的に行うことができる粉粒体の異物検査方法、及び該検査方法により異物検査を行う異物検査装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、検査対象の粉粒体からなる粉粒体層を撮影して該粉粒体層の画像を得、得られた画像から粉粒体中に混入した異物を検出して検出された異物を上記粉粒体層から除去する粉粒体の異物検査方法において、検査対象の粉粒体を一旦所定形状の成形体に成形した後、この成形体から粉粒体を削り取って上記粉粒体層を形成することを特徴とする粉粒体層の異物検査方法を提供する。
【0009】
即ち、本発明の異物検査方法は、検査対象の粉粒体を一旦成形体とした後、この成形体から粉粒体を削り取って粉粒体層を形成し、この粉粒体層を撮影して異物検出のための画像を得るようにしているため、検査対象の粉粒体が流動性に乏しいものであっても、成形体から粉粒体を削り取る条件等を調整することにより、一定量の粉粒体を一定速度で供給して粉粒体層を形成することができ、一定厚さの粉粒体層を確実かつ安定的に形成して、この安定的に形成される粉粒体層を撮影して異物の検出を行うことができるため、信頼性の高い異物検査を確実かつ安定的に行うことができるものである。
【0010】
また、本発明は、上記本発明の方法により粉粒体の異物検査を行う装置として、粉粒体中に混入した異物を検出除去するための検査装置であって、所定速度で回転するターンテーブルと、検査対象の粉粒体を上記ターンテーブルの外周部に連続的に供給する供給手段と、該供給手段より連続的に供給される粉粒体を所定の圧力で圧縮して、上記ターンテーブルの外周面に沿って帯状成形体を成形する圧縮成形手段と、上記ターンテーブルの外周面に沿って配設され、該ターンテーブルの外周面に沿って成形保持された上記帯状成形体を切削して、該帯状成形体から所定量の粉粒体を連続的に削り取る複数の切削刃と、該切削刃で削り取った粉粒体からなる粉粒体層を搬送面に載置して所定の速度で搬送する搬送手段と、上記搬送手段の搬送面上に載置されて搬送される粉粒体層を連続的に撮影し、該粉粒体層の画像を取り込む撮像装置と、該撮像装置により取り込まれた画像を画像処理して異物を検出する検出手段と、該検出手段からの検出信号に応じて、上記粉粒体層から異物を含む所定量の粉粒体を分離除去する異物回収手段とを具備してなることを特徴とする粉粒体の異物検査装置を提供する。
【0011】
本発明の異物検査装置は、上記供給手段より検査対象の粉粒体を回転する上記ターンテーブルの外周部に連続的に供給すると共に、この粉粒体を上記圧縮成形手段で圧縮成形して、上記ターンテーブルの外周面に沿って帯状成形体を成形し、この帯状成形体を回転するターンテーブル外周部に保持させて連続的に搬送し、この回転するターンテーブルの外周部に保持した帯状成形体を上記複数の切削刃で切削することにより該帯状成形体から粉粒体を連続的に削り取り、これを上記搬送手段の搬送面に連続的に供給することにより該搬送面に一定厚さの粉粒体層を形成し、この搬送手段の搬送面に載置されて搬送される粉粒体層を上記撮像装置で連続的に撮影して該粉粒体層の画像を取り込み、得られた画像を上記検出手段により画像処理して異物を検出し、その検出信号に応じて、上記異物回収手段により上記粉粒体層から異物を含む所定量の粉粒体を分離除去するものである。
【0012】
従って、本発明の異物検査装置によれば、検査対象の粉粒体を一旦帯状成形体に成形し、この帯状成形体から粉粒体を削り取って上記搬送手段の搬送面に粉粒体層を形成するようになっているので、粉粒体が流動性に乏しいものであっても、一定量の粉粒体を一定速度で安定的に供給手段の搬送面に供給して、一定厚さの粉粒体層を確実かつ安定的に形成することができ、この安定的に形成される粉粒体層を撮影して異物の検出が行われるため、信頼性の高い異物検査を確実かつ安定的に行うことができるものである。
【0013】
また、搬送手段の搬送面に載置され、厚さ、速度、軌道等に変化が生じることなく安定的に搬送される粉粒体層に対して画像の取り込みが行われ、従来の検査装置のように自然落下する粉粒体層を撮影する場合に比べて、遥かに安定した状態の粉粒体層に対して画像の取り込みを行うことができるので、常に最良かつ一定の条件下で検査を行うことができ、自然落下する不安定な粉粒体層を撮影して異物の検出を行う従来の検出装置よりも高い検査精度を達成することができる。
【0014】
【発明の実施の形態及び実施例】
以下、実施例を示し、本発明をより具体的に説明する。
[第1実施例]
図1,2は、本発明の一実施例にかかる粉粒体の異物検査装置を示すもので、本発明の異物検査方法により粉粒体の異物検査を行うものである。この異物検査装置は、所定の速度で定速回転するターンテーブル1と、粉粒体pを所定の圧力で押し出して上記ターンテーブル1の外周面に供給すると共に、該ターンテーブル1の外周面に沿って、粉粒体pからなる帯状成形体p1を成形する押出機2と、上記ターンテーブル1の外周面に保持された上記帯状成形体p1から粉粒体p2を削り取る複数の切削刃4と、削り取った粉粒体p2からなる粉粒体層p3を搬送するベルトコンベア(搬送装置)5と、ベルトコンベア5により搬送される粉粒体層p3を撮影する一次元カメラ(撮像装置)6と、この一次元カメラ6により取り込まれた画像を画像処理して異物の検出を行う検出手段(図示せず)と、該検出手段から発信される検出信号に応じて異物を吸引除去する吸引装置(異物回収手段)7とを具備している。
【0015】
上記ターンテーブル1は、図示しない駆動源に駆動されて図中矢印方向に所定の速度で定速回転するものであり、図3(A),(B)に示したように、その外周面に周方向に沿って成形溝11が形成されていると共に、該成形溝11の下壁13がターンテーブル1の全周に亘って上壁12よりも外方へ一体に延出し、フランジ14が形成されている。そして、図4に示したように、上記成形溝11内に粉粒体pからなる帯状成形体p1が保持されるようになっている。
【0016】
上記押出機2は、検査対象の粉粒体pを上記ターンテーブル1の外周部に連続的に供給する供給手段と、該粉粒体pを所定の圧力で圧縮して、ターンテーブル1の外周面に沿って帯状成形体を成形する圧縮成形手段とを兼務するものであり、図1,2に示されているように、一端が閉塞し、かつ他端が開放した四角管状の本体21内にモータMと連結されたスクリュー22が配設され、モータMの駆動によるスクリュー22の回転によってホッパーhから供給される粉粒体pを本体21の開放端側へと強制的に送り、上記ターンテーブル1の成形溝11内に圧送するようになっている。
【0017】
この押出機2を構成する上記本体21の上壁211は、図2に示されているように、その中間部から開放端にかけて下降傾斜し、その先端の内面が上記ターンテーブル1に形成された成形溝11の上壁12内面と同一の高さになっていると共に、特に図示していないが、その先端縁がターンテーブル1の上壁12外周面に沿って円弧状に形成され、該ターンテーブル1の上壁12外周面が摺動可能な状態に接触しており、また本体21の下壁212の内面は上記ターンテーブル1の上記フランジ14の上面と同一の高さになっていると共に、特に図示していないが、その先端縁がターンテーブル1のフランジ14外周面に沿って円弧状に形成され、該フランジ14の外周面が摺動可能な状態に接触している。
【0018】
更に、この押出機2を構成する上記本体21の一方の側壁213は、図示されていないが、中間部から開放端に向けて、上記上壁211の下降傾斜に従って漸次高さが低くなっていると共に、図3(A)に示されているように、その先端部がターンテーブル1の上記成形溝11内に挿入されており、また他方の側壁214も中間部から開放端に向けて、上記上壁211の下降傾斜に従って漸次高さが低くなっているが、この他側壁214の先端は、図3(A),(B)に示されているように、上記成形溝11内には挿入されず、この成形溝11の上壁12と同一の高さを保ったまま、該上壁12に沿って円弧状に延出し、この延出部が圧縮ガイド壁215を形成している。そして、図3(B)に示されているように、この圧縮ガイド壁215により上記成形溝11の外周面が閉塞されるようになっている。
【0019】
上記切削刃4は、図1〜4に示されているように、上記圧縮ガイド壁215の配設箇所よりもターンテーブル1の回転方向前方において、該ターンテーブル1の外周面に沿って配置固定されたもので、本例では10枚の切削刃4が用いられている。この切削刃4は、いずれもその刃先がターンテーブル1の上記成形溝11内に挿入されており、ターンテーブル1の回転方向に沿って下流側に配設された切削刃ほどその刃先が成形溝11の奥まで挿入されている。また、各切削刃4は、いずれもターンテーブル1外周面に対して同一の角度となるように配設されている。
【0020】
この切削刃4は、図4に示されているように、ターンテーブル1の上記成形溝11内に保持された粉粒体pからなる帯状成形体p1を切削して粉粒体p2(図2参照)を削り取るものであり、帯状成形体p1を各切削刃4で所定厚さずつ削り取り、最終的にすべての粉粒体を成形溝11内から削り取るものである。この場合、一枚の切削刃4による切削厚さと切削刃4の枚数は、切削刃4の刃先形状や成形溝11内に保持された帯状成形体p1の厚さ及び高さ、更には粉粒体pの種類等に応じて適宜設定され、特に制限されるものではないが、通常は一枚の切削刃で、0.1〜1mm程度、特に0.5〜0.7mm程度、帯状成形体p1を切削し、帯状成形体p1の厚さに応じて、最後の切削刃で成形溝11からこの帯状成形体p1をすべて切削除去し得る枚数とすることが好ましく、例えば、図3(B)に示した成形溝11の奥行きdを7mm、高さhを8mmとし、厚さ7mm,高さ8mmの帯状成形体p1を成形し、この帯状成形体p1を一枚の切削刃4で0.7mmずつ切削し、10枚の切削刃4ですべての粉粒体を成形溝11から削り取るようにすることができる。各切削刃4と成形溝11及び該成形溝11内に保持された帯状成形体p1との関係を、図5を参照して更に詳しく説明する。
【0021】
図5は、本例装置におけるターンテーブル1の外周を直線状に展開した展開図であり、ターンテーブル1の外周部と各切削刃4との関係を示したものである。
本例装置においては、図5に示されているように、a〜jの10枚の切削刃4をそれぞれ刃先を成形溝11内に挿入した状態でターンテーブル1の外周に沿って等間隔ごとに配設固定したものであり、この場合各切削刃a〜jの刃先は、ターンテーブル1の回転方向に向かって順次0.7mmずつ、より成形溝11の奥まで挿入された状態となっており、例えばaよりbが、bよりcが0.7mmだけ成形溝11のより奥まで挿入され、最後の切削刃jの刃先は、成形溝11の内周面にほとんど接した状態となっている。そして、成形溝11内に保持された厚さ7mmの帯状成形体p1を各切削刃a〜jで0.7mmずつ切削し、最後の切削刃jで帯状成形体p1をほぼ完全に成形溝11から削り取るようになっている。なお、各切削刃a〜jとターンテーブル1の外周面との角度θはいずれも同一の角度とされており、その角度θは刃先の形状等に応じて適宜設定され、特に制限されるものではないが、通常は30〜45°程度とすればよい。
【0022】
次に、上記ベルトコンベア5は、図1,2に示されているように、上記ターンテーブル1の下方に設置され、所定速度で定速回転するようになっており、上記切削刃4により帯状成形体p1から削り取られターンテーブル1から落下する粉粒体p2(図2参照)を一端部で受け止め、コンベアベルト51上にこの粉粒体p2からなる粉粒体層p3を載置して、他端へと搬送し、他端でこの粉粒体層p3を落下させるようになっている。この場合、上記コンベアベルト51は、例えば検査対象の粉粒体pが白色である場合には、乳白色のポリエステル、ポリエチレン等からなるフィルムなどで形成された光透過性を有するものを用いて、コンベアベルト51の裏側からも粉粒体層p3を照明することができるようにすることが好ましく、本実施例でも半透明のコンベアベルト51を用いて裏側からも照明を行うように構成されている。
【0023】
上記一次元カメラ6は、上記コンベアベルト51の搬送方向中間部において、該コンベアベルト51の上方に設置され、コンベアベルト51上の粉粒体層p3を連続的に撮影するものである。この場合、この一次元カメラ6による撮影箇所は、表面側光源61,61及び裏面側光源62によりコンベアベルト51の上下両側から照明されるようになっており、上記一次元カメラ6及び照明用の光源61,61,62により撮像装置が構成されている。
【0024】
本例の異物検査装置は、特に図示していないが、上記一次元カメラ6により取り込まれた粉粒体層p3の画像を画像処理して粉粒体層p3に混入した異物を検出し、異物が検出された場合に吸引装置(異物回収手段)7を起動させるための検出信号を発信する検出手段を具備している。この検出手段は、コンピュータを用いた公知の画像処理装置などを用いて構成することができ、公知の方法により画像処理して異物の検出を行うようにすることができる。
【0025】
次に、上記吸引装置(異物回収手段)7は、上記一次元カメラ6による撮影箇所よりも搬送方向下流側において、上記コンベアベルト51の上方に該コンベアベルト51の搬送面と所定間隔離間した状態に配設されたもので、上記検出手段から発信される検出信号に応じてコンベアベルト51の搬送面を吸引するものである。この吸引装置(異物回収手段)7は、上記検出信号に応じてコンベアベルト51の搬送面上に載置された粉粒体層p3から粉粒体を吸引除去するものであるが、この場合、図示しない制御手段によって吸引を行うタイミング及び吸引時間が制御され、粉粒体層p3の異物が検出された部分がこの吸引装置(異物回収手段)7の下に搬送されて来た時に異物を含む所定量の粉粒体を粉粒体層p3から確実に吸引除去するようになっている。なお、この吸引装置(異物回収手段)7の動作を制御する上記制御手段は、上記検出手段を構成するコンピュータに兼務させることができる。
【0026】
なお、図1,2中参照符号8は、粉粒体層p3に帯電した静電気を除去する除電装置であり、また特に図示していないが、ベルトコンベア5の搬送方向下流側の下には、通常回収容器が配置され、異物が除去された粉粒体をこの回収容器に回収するようになっている。
【0027】
この異物検査装置は、粉粒体p中に混入した金属片、毛髪、汚れた粒子、その他の異物(これらを、総称して異物という)を自動的に検出して分離除去するものであり、以下のようにして検査を行うものである。
【0028】
ホッパーhに貯留された検査対象の粉粒体pは、上記押出機2を構成する管状の本体21内に連続して投入され、モータMに駆動されて所定の速度で回転するスクリュー22により本体21の開放端へと圧送される。この粉粒体pは、押出機2の本体21開放端から、上記ターンテーブル1の成形溝11内へと押し出され、このとき押出機本体21の側壁214から延出した圧縮ガイド壁215(図3参照)により粉粒体pが成形溝11内に圧縮されて、該粉粒体pからなる帯状成形体p1が成形され(図3(B)参照)、該帯状成形体p1がターンテーブル1外周面の成形溝11内に保持されて、該ターンテーブル1の回転により搬送される。
【0029】
この帯状成形体p1は、ターンテーブル1の回転により上記切削刃4の配設箇所まで搬送されると、図4に示されているように、その表面から各切削刃4により所定厚さ分ずつ切削され、10枚の各切削刃4によりターンテーブル1の成形溝11内に保持された帯状成形体p1のすべてが切削除去されて、図2に示されているように、この帯状成形体p1から削り取られた粉粒体p2がターンテーブル1の外周縁から上記ベルトコンベア5の回転するコンベアベルト51上に連続的に落下する。この場合、先に図5を参照して説明したように、等間隔ずつ離間して配設された10枚の各切削刃4で等量ずつ帯状成形体p1を切削してこの帯状成形体p1から粉粒体p2を削り取るようになっているので、ターンテーブル1から落下する粉粒体p2は、上記切削刃4の配設範囲全体から均一にコンベアベルト51上に落下し、定速で回転するコンベアベルト51に落下した粉粒体p2は、図1に示されているように、コンベアベルト51上に均一な粉粒体層p3を形成する。
【0030】
この場合、コンベアベルト51上に形成される粉粒体層p3の厚さは、ある程度薄くすることが異物の検出精度を高くする点で好ましく、通常0.1〜0.7mm、特に0.1〜0.3mm程度の厚さとすることが好ましい。この場合、粉粒体層p3の厚さは、ターンテーブル1の回転速度、1枚の切削刃4により削り取る粉粒体p2の量、コンベアベルト51の回転速度などを調整することにより、容易に調節することができる。
【0031】
この粉粒体層p3は、コンベアベルト51の回転によりベルトコンベア5の一端部から他端へと一定速度で連続的に搬送され、上記一次元カメラ6、吸引装置(異物回収手段)7の下を通過し、次いで上記除電装置8の下を通過する際に粉粒体に帯電した静電気が除去され、ベルトコンベア5から落下して回収容器等に回収される。
【0032】
この場合、上記一次元カメラ6の下を通過する際に、上方から光源61,61で照明されると共に、コンベアベルト51の裏側から光源62より照明され、該一次元カメラ6によって該粉粒体層p3の画像が連続的に取り込まれる。そして、取り込まれた画像は、上記検出手段(図示せず)により画像処理され、異物の検出が行われる。そして、異物が検出された場合には、吸引装置(異物回収手段)7の動作を制御する制御手段(図示せず)に検出信号を発信する。
【0033】
ここで、上記画像の取り込みは、上記光源61,61,62によりコンベアベルト51上の粉粒体層p3を照明しながら、該粉粒体層p3の表面を上記一次元カメラ6で撮影することにより行われるが、このとき粉粒体層p3中に粉粒体と色調の異なる異物が存在すると、この異物は取り込んだ画像中に明度又は輝度の変化として現れ、これを上記検出手段(図示せず)で画像処理することによって検出するものである。この場合、本実施例では、光源61,61から直接粉粒体層p3の表面に照射された光の反射光が一次元カメラ6に入射すると共に、光源62によりコンベアベルト51の裏側から粉粒体層p3に照射された光の透過光も一次元カメラ6に入射するようになっているので、異物の色調が粉粒体の色調に比較的近いものであっても得られる画像には大きな明度又は輝度の違いになって現れ、高い検出精度が達成される。
【0034】
検出手段により異物が検出され検出信号が発せられると、この検出信号に応じて、粉粒体層p3の異物を含む部分が吸引装置(異物回収手段)7の下を通過するタイミングに合わせて該吸引装置(異物回収手段)7が所定時間吸引状態となり、異物を含む所定量の粉粒体が粉粒体層p3から吸引除去される。
【0035】
このように、本実施例の異物検査装置は、上記ホッパーhから連続的に供給される粉粒体pを上記押出機(供給手段及び圧縮成形手段)2によりターンテーブル1の外周面に形成された成形溝11内に押し出して帯状成形体p1を成形すると共に、これを回転するターンテーブル1の外周面に保持させ、この回転するターンテーブル1の外周面に保持した帯状成形体p1を上記複数の切削刃4で切削することにより該帯状成形体p1から粉粒体p2を連続的に削り取り、これを循環回転するコンベアベルト51上に連続的に供給することにより該コンベアベルト51上に一定厚さの粉粒体層p3を形成し、このコンベアベルト51上に載置されて搬送される粉粒体層p3を上記一次元カメラ(撮像装置)6で連続的に撮影して該粉粒体層p3の画像を取り込み、得られた画像を上記検出手段(図示せず)により画像処理して異物を検出し、その検出信号に応じて、吸引装置(異物回収手段)7により上記粉粒体層p3から異物を含む所定量の粉粒体を分離除去するものである。
【0036】
従って、本実施例の異物検査装置によれば、検査対象の粉粒体pを一旦帯状成形体p1に成形し、この帯状成形体p1から粉粒体p2を削り取って上記コンベアベルト51上に粉粒体層p3を形成するようになっているので、粉粒体pが流動性に乏しいものであっても、一定量の粉粒体p2を一定速度で安定的にコンベアベルト51上に供給して、一定厚さの粉粒体層p3を確実かつ安定的に形成することができ、この安定的に形成される粉粒体層p3を撮影して異物の検出が行われるため、流動性に乏しい粉粒体pに対しても信頼性の高い異物検査を確実かつ安定的に行うことができるものである。
【0037】
また、コンベアベルト51上に載置され、厚さ、速度、軌道等に変化が生じることなく安定的に搬送される粉粒体層p3に対して画像の取り込みが行われ、従来の検査装置のように自然落下する粉粒体層を撮影する場合に比べて、遥かに安定した状態の粉粒体層p3に対して画像の取り込みを行うことができるので、常に最良かつ一定の条件下で検査を行うことができ、自然落下する不安定な粉粒体層を撮影して異物の検出を行う従来の検出装置よりも高い検査精度を達成することができる。
【0038】
[第2実施例]
図6〜8は、本発明の第2の実施例にかかる粉粒体の異物検査装置を示すもので、この異物検査装置は、上記第1実施例の装置における押出機2に代えて、供給器(供給手段)3と圧縮機(圧縮成形手段)9とを用いたものであり、その他は上記第1実施例の検査装置と同様のものである。
【0039】
上記供給器3は、図7(A),(B)に示されているように、上端面が開放した四角箱型の本体31内に振動板32を配設したものである。この供給器3を構成する上記本体31の底壁311内面は、図7(B)に示されているように、ターンテーブル1の成形溝11に向けて下降傾斜しており、その先端は、特に図示していないが、ターンテーブル1のフランジ14外周面に沿って円弧状に湾曲し該フランジ14の外周縁に接触している。また、該本体31の前壁312は、図7(A)に示されているように、ターンテーブル1に成形溝11を形成している上壁12の外周面に沿って円弧状に湾曲しており、図7(B)に示されているように、その下端縁部外面が成形溝11の上壁12の外周面に接触している。そして、図7(B)に示されているように、該底壁311と前壁312との間に間隙が設けられ、本体31の前面下端部がターンテーブル1の成形溝11へと開口している。更に、図7(A)に示されているように、本体31を構成する一方の側壁313の前端部下端からは、上記前壁312をこえて突出壁314が延出形成されており、この突出壁314がターンテーブル1の成形溝11内に挿入されている。更にまた、他方の側壁315の前端からはターンテーブル1の成形溝11を成形している上壁12の外周面に沿ってガイド壁316が延出形成されており、このガイド壁316により成形溝11の外周面が閉塞されて成形溝11内に供給された粉粒体pが成形溝11からこぼれ落ちるのを防止するようになっている。
【0040】
この供給器3を構成する本体31内には、図示しない振動発生装置に連結された振動板32が配設されており、この振動板32が振動して本体31内に収容された粉粒体pをスムーズにターンテーブル1の成形溝11へと供給するようになっている。また、この本体31には、内部に収容された粉粒体pの上面を検知するセンサsが取り付けられており、本体31内に収容された粉粒体pが所定量以下になるとホッパーh(図7(B)参照)から自動的に粉粒体pが本体31内に補給され、本体31内には常に所定量の粉粒体pが貯留されるようになっている。
【0041】
次に、上記圧縮機9は、図6(A),(B)に示されているように、ターンテーブル1の外周面に沿って配設された圧縮体91と、この圧縮体91をターンテーブル1の径方向に沿って進退させるエアーシリンダー92とを具備している。
【0042】
ターンテーブル1の外周面と対向した上記圧縮体91の押圧面はターンテーブル1の外周面にあわせて円弧状に湾曲しており、図6(B)に示されているように、この押圧面の下端縁部に沿って圧縮凸部911が突設されている。この圧縮体91は上記エアーシリンダー92に駆動されて進退し、図6(B)に破線で示したように、その押圧面がターンテーブル1に形成された成形溝11の上壁12外周面に当接して進出限となり、このとき上記圧縮凸部911が成形溝11内に挿入されるようになっている。
【0043】
上記圧縮体91を進退させる上記エアーシリンダー92は、図6(B)に示されているように、ガイドレール94にスライド可能に取り付けられたスライダー93に固定されており、上記圧縮体91は、このスライダー93及びエアーシリンダー92と共に、ガイドレール94に沿ってスライドするようになっている。また、このガイドレール94は、図6(A)に示されているように、ターンテーブル1の外周面に合わせて円弧状に湾曲しており、スライダー93及びエアーシリンダー92と共にこのガイドレール94に沿ってスライドする上記圧縮体91は、ターンテーブル1の外周面に沿って円弧軌道上をスライドするようになっている。更に、上記スライダー93は、別に設けられたエアーシリンダー95により駆動されてターンテーブル1の回転方向とは逆方向にスライドするようになっており、一方ターンテーブル1の回転方向に対して順方向には自由にスライドし得るようになっている。
【0044】
この第2実施例にかかる異物検査装置は、上記供給器3によりターンテーブル1の外周面に検査対象の粉粒体pを連続的に供給すると共に、上記圧縮機9によりターンテーブル1の外周面に供給された粉粒体pを圧縮してターンテーブル1の外周面に形成された成形溝11内に粉粒体pからなる帯状成形体p1を成形するものである。
【0045】
即ち、図7(B)に示されているように、ホッパーhから供給器3の本体31内に供給され貯留された粉粒体pが振動板32の振動により、ターンテーブル1の成形溝11内に供給され、ターンテーブル1の回転により上記圧縮機9の配設位置まで搬送されると、図6(B)に破線で示されているように、圧縮機9の圧縮体91がエアーシリンダー92に駆動されてターンテーブル1側へと進出して、圧縮体91の圧縮凸部911がターンテーブル1の成形溝11内に進入し、この成形溝11内の粉粒体pが圧縮され、成形溝11内に粉粒体pからなる帯状成形体p1(図示せず)が成形されるものである。
【0046】
この場合、図8に一点鎖線で示したように、帯状成形体p1を圧縮成形するためにターンテーブル1の外周面に所定の圧力で接触した状態の圧縮体91は、連続回転するターンテーブル1の回転により、該ターンテーブル1の外周面に圧接した状態のまま、エアーシリンダー92と共にガイドレール94に沿って移動する。そして、圧縮体91は、所定範囲ターンテーブル1と共に移動した後、エアーシリンダー92に駆動されて後退し、図6(B)に実線で示された状態となり、更に、エアーシリンダー95に駆動されて、エアーシリンダー92及びスライダー93と共にターンテーブル1の回転方向とは逆方向に移動し、再びターンテーブル1の外周面へと進出して粉粒体pを圧縮し、以降同様の動作を繰り返すようになっている。このように、粉粒体pを圧縮成形する圧縮体91がターンテーブル1の回転と共に移動するようにしたことによって、成形される帯状成形体p1(図示せず)の表面が圧縮体91に擦れて粗れてしまうようなことがなく、平滑な表面を有する帯状成形体p1を成形することができる。
【0047】
このように、第2実施例にかかる異物検査装置は、上記供給器3によりターンテーブル1の外周部に粉粒体pを供給すると共に、上記圧縮機9の圧縮体91により粉粒体pを圧縮成形して、ターンテーブル1外周面の成形溝11内に帯状成形体p1を成形するものであり、その他は上記第1実施例の異物検査装置と同様のものである。従って、その他の構成、動作及び作用効果については、その説明を省略する。
【0048】
[第3実施例]
図9,10は、本発明の第3の実施例にかかる粉粒体の異物検査装置を示すものである。この異物検査装置は、上記第2実施例の装置に用いた供給器(供給手段)3を改良した供給器3aを用いると共に、搬送手段としてベルトコンベア5に代えて回転円盤10を用い、上記供給器3aでターンテーブル1に粉粒体pを供給して上記第2実施例の装置と同様の圧縮機9によりターンテーブル1の外周に帯状成形体p1を成形すると共に、この帯状成形体p1から切削刃4で削り取った粉粒体p2を、篩過器20を介して回転円盤10の搬送面に供給して回転円盤10の搬送面に粉粒体層p3を形成するようにしたものであり、その他の構成は上記第1及び第2実施例の装置と同様である。
【0049】
上記供給器3aは、検査対象の粉粒体pを貯留したホッパーhの下端部に供給スクリュー33を配設し、このスクリュー33の回転によりホッパーhから粉粒体pを本体31内に供給するようになっている。この場合、上記スクリュー33の回転は、本体31に取り付けられたセンサsが検知する本体31内の粉粒体量に応じて制御され、本体31内に常に一定量の粉粒体pが収容された状態となるように、ホッパーhからの粉粒体供給量が調整されるようになっている。従って、この供給器3aによれば、所定量の粉粒体pを一定速度で確実かつ安定的にターンテーブル1の外周部に供給することができるものである。なお、供給器3aのその他の構成は、上記第2実施例で用いられている供給器3と同様である。
【0050】
次に、上記回転円盤10は、ガラスやアクリル樹脂などの合成樹脂で形成された透明又は半透明の円盤であり、ターンテーブル1の下方に存して垂直軸を中心に所定速度で定速回転するようになっている。そして、定速回転するこの回転円盤10の上面(搬送面)に、ターンテーブル1の外周部に成形保持された帯状成形体p1から切削刃4によって削り取られた粉粒体p2が篩過器20を介して落下し、該回転円盤10上に粉粒体層p3が連続的に形成され、これが回転円盤10の回転により搬送されて、その搬送中に、上記第1及び第2実施例の装置と同様にして、画像の取り込み、異物の検出、異物除去が行われた後、所定搬送位置で、スクレーパ101により粉粒体層p3が回転円盤10上から掻き取られ、粉粒体が回収シュート102を介して回収容器103に回収されるようになっている。
【0051】
従って、本例の異物検査装置では、粉粒体層p3が円軌道に沿って搬送され、その間に異物の検出除去が行われるので、ベルトコンベア51を用いて粉粒体層p3を直線的に搬送し、その搬送軌道上に撮像装置や吸引装置などを一列に並べて異物の検出除去を行う場合に比べて、装置の設置面積を小さくすることができる。また、剛体である回転円盤10上に載置された粉粒体層p3を撮影して異物の検出を行うため、撓みや波うち等が生じやすいコンベアベルト上の粉粒体層p3を撮影する場合よりも、より安定的に画像の取り込みを行うことができ、より信頼性の高い検査を行うことができる。
【0052】
ここで、本実施例の装置では、上述のように、ターンテーブル1と回転円盤10との間に篩過器20を配設して、粉粒体pの帯状成形体p1から削り取った粉粒体p2をこの篩過器20を通してターンテーブル1上に供給するようになっている。
【0053】
この篩過器20は、図10に示されているように、2つの篩21,22を直列に連結した筒状のものであり、振動発生装置23により与えられる振動によって、ターンテーブル1の外周部に保持された帯状成形体p1から削り取られた粉粒体p2を篩い落として上記回転円盤10上に供給するものである。従って、この検査装置によれば、ほぼ均一な細かい粉粒体が均一に回転円盤10上に供給されて、非常に薄い均一な粉粒体層p3が回転円盤10上に確実に形成され、より信頼性の高い異物検査を確実に行うことができる。
【0054】
なお、上記以外の構成及び作用効果は、上述した第1実施例及び第2実施例の検査装置と同様であるから、同一の構成部分に第1及び第2実施例の検査装置と同一の参照符号を付して、その説明を省略する。
【0055】
本発明の粉粒体の異物検査方法及び異物検査装置は、上記各実施例に制限されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない限り種々変更することができる。例えば、上記の第1〜3実施例では、いずれも検査対象の粉粒体pを帯状の成形体としたが、他の形状の成形体としてもよく、検査対象の粉粒体pを一旦所定形状の成形体とし、この成形体から粉粒体p2を削り取って粉粒体層p3を形成するようにすればよい。また、上記各実施例では、表面側の光源61,61と裏面側の光源62とを用いてコンベアベルト51又は回転円盤10の表裏両側から粉粒体層p3を照明するようにしたが、コンベアベルト51や回転円盤10の表面側からのみ照明するようにしてもよく、更に上記各実施例では異物回収手段として吸引装置を用い、異物を含む所定量の粉粒体をコンベアベルト51上や回転円盤10上の粉粒体層p3から吸引除去するようにしたが、コンベアベルト51の端部や回転円盤10の所定位置から落下する粉粒体流から異物を含む所定量の粉粒体を除去するようにしてもよく、この場合吸引装置に代えて、落下する粉粒体流から異物を含む所定量の粉粒体を他の回収容器に導く機構を設け、これを異物回収手段としてもよい。更に、上記実施例では一次元カメラ6を用いて画像の取り込みを行うようにしたが、二次元カメラを用いて画像の取り込みを行ってもよい。更にまた、その他、押出機2、供給器3,3a、圧縮機9、ターンテーブル1、ベルトコンベア5、回転円盤10、篩過器20などの構成や機構、切削刃4の枚数などは適宜変更して差し支えなく、またこれらの組み合わせも上記第1〜3実施例の装置に限定されるものではなく、例えば搬送手段としてベルトコンベア5を用いた第1,2実施例の装置に第3実施例の装置と同様に篩過器20を取り付けてもよい。
【0056】
また更に、本発明の粉粒体の異物検査方法及び異物検査装置は、医薬品の原料、半製品、製品などの粉粒体中、特に流動性に乏しい粉粒体中に混入した異物を検出して除去するために好適に用いられるものであるが、医薬以外にも、食品、化成品等の原料、半製品、製品など、その他の粉粒体の検査にも好適に採用し得るものである。
【0057】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の粉粒体の異物検査方法及び異物検査装置によれば、粉粒体を一旦所定形状の成形体に成形し、この成形体から粉粒体を削り取って粉粒体層を形成し、画像の取り込みを行うように構成されているので、粉粒体が流動性に乏しいものであっても、一定厚さの粉粒体層を確実かつ安定的に形成することができ、この安定的に形成される粉粒体層を撮影して異物の検出が行われるため、流動性に劣る粉粒体であっても信頼性の高い異物検査を確実かつ安定的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例にかかる粉粒体の異物検査装置を示す一部を断面とした概略平面図である。
【図2】同異物検査装置を示す一部を断面とした概略側面図である。
【図3】同異物検査装置のターンテーブルを示すもので、(A)は一部を断面とした部分拡大平面図、(B)は(A)のB−B線に沿った断面図である。
【図4】同異物検査装置において、ターンテーブルの外周面に保持された帯状成形体を切削刃で切削する部分を示す、一部を切り欠いて断面とした部分拡大斜視図である。
【図5】同異物検査装置におけるターンテーブルの外周部と帯状成形体と切削刃との関係を示す、ターンテーブルの外周を直線状に展開した拡大展開図である。
【図6】本発明の第2の実施例にかかる粉粒体の異物検査装置を示すもので、(A)は部分平面図、(B)は(A)のB−B線に沿った断面図である。
【図7】同異物検査装置の供給器部分を示すもので、(A)は部分拡大平面図、(B)は(A)のB−B線に沿った断面図である。
【図8】同異物検査装置における圧縮機の動作を説明する説明図である。
【図9】本発明の第3の実施例にかかる異物検査装置を示す一部を断面とした概略平面図である。
【図10】同異物検査装置を示す一部を断面とした概略側面図である。
【図11】従来の粉粒体の異物検査装置を示す概略図である。
【符号の説明】
1 ターンテーブル
11 成形溝
2 押出機(供給手段及び圧縮成形手段)
3,3a 供給器(供給手段)
4 切削刃
5 ベルトコンベア(搬送手段)
51 コンベアベルト
6 一次元カメラ(撮像装置)
61,62 照明用の光源
7 吸引装置(異物回収手段)
8 除電装置
9 圧縮機(圧縮成形手段)
91 圧縮体
10 回転円盤(搬送手段)
101 スクレーパ
102 回収シュート
103 回収容器
20 篩過器
23 振動発生装置
h ホッパー
p 粉粒体
p1 粉粒体の帯状成形体
p2 削り取られた粉粒体
p3 粉粒体層[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a foreign substance inspection apparatus for a granular material that detects and removes foreign substances mixed in various granular materials such as raw materials such as pharmaceuticals, foods, and chemical products, semi-finished products, and products.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in the fields of pharmaceuticals, foods, etc., metal fragments, hair, dirty particles, and other foreign matters (in this specification, dirty particles, etc.) mixed in the raw materials of production, products or semi-finished products Foreign matter inspection is performed to remove all of them including “foreign matter”. Such foreign matter inspection of granular materials has been conventionally performed by visual inspection by an operator, but in recent years, an inspection apparatus that automatically performs foreign matter inspection of granular materials is used instead of visual inspection. It is becoming.
[0003]
As a conventional apparatus for automatically inspecting such a granular material, an apparatus described in Japanese Patent Publication No. 3-60381 can be exemplified. This inspection apparatus is shown in FIG.
[0004]
In the conventional inspection apparatus shown in FIG. 11, the granular material p accommodated in the hopper f1 is continuously dropped by the vibration generated by the vibration feeder f2, and a granular material layer p1 having a predetermined thickness is formed. The particulate layer p1 composed of the naturally falling particulate matter p is collected in the collection container g, and the particulate layer p1 is irradiated with light from the light sources j1 and j2, respectively. The light emitted from the light source j1 Is incident on the line sensor camera k via the half mirror h, and the image of the powder layer p1 is continuously captured, and the obtained image is captured by the image processing device r1 and the sorting device control means r2 and r3. A foreign matter is detected by image processing by the configured determination processing unit r, and when a foreign matter is detected, a predetermined amount of the particulate matter including the foreign matter is sucked and removed from the particulate layer p1 by the suction sorting device d. It is.
[0005]
In this case, the light source j2 irradiates light having the same amount of light as the reflected light reflected by the light source j1 when it hits the particle layer p1, and the particle layer p1 is chipped, etc. When a portion where no p particles are present is generated and no reflected light is obtained even though no foreign matter is present, the transmitted light from the light source j2 is incident on the line sensor camera k via the half mirror h. The chipping of the granular material layer p1 is not mistaken as a foreign object. In the figure, a1 and a2 are transparent cylinders rotating in the direction of the arrow, s and s are cleaners for cleaning the outer peripheral surfaces of these transparent cylinders a1 and a2, and t and t are charged to the transparent cylinders a1 and a2. It is an electrostatic removal device that removes static electricity.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional inspection apparatus has a problem that sufficient inspection cannot be performed when the granular material p to be inspected is inferior in fluidity.
That is, when the granular material p to be inspected is a highly hygroscopic powder or a moisturizing one, and if it is originally poor in fluidity, the particles aggregate or poor in fluidity. Therefore, it is difficult to continuously drop a certain amount of granular material at a constant speed, and a thin and constant granular material layer p1 cannot be stably formed, and a highly reliable inspection is performed. It becomes difficult.
[0007]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to reliably and stably perform a foreign substance inspection method for a granular material that is reliable and stable even if the granular material has poor fluidity, and It is an object of the present invention to provide a foreign substance inspection apparatus that performs foreign substance inspection using an inspection method.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention obtains an image of the granular material layer by photographing the granular material layer composed of the granular material to be inspected, and foreign matter mixed in the granular material from the obtained image In the foreign matter inspection method for a granular material, in which the detected foreign matter is removed from the granular material layer, the granular material to be inspected is once formed into a molded body having a predetermined shape, and then the granular material is removed from the molded body. A foreign matter inspection method for a granular material layer is provided, wherein the powder material layer is formed by scraping the body.
[0009]
That is, in the foreign matter inspection method of the present invention, once the granular material to be inspected is formed into a molded body, the granular body is scraped off from the molded body to form a granular body layer, and this granular body layer is photographed. Therefore, even if the granular material to be inspected has poor fluidity, a certain amount can be obtained by adjusting the conditions for scraping the granular material from the molded body. Can be formed at a constant speed to form a granular layer, and a granular layer with a constant thickness can be reliably and stably formed. Since the layer can be photographed to detect foreign matter, highly reliable foreign matter inspection can be performed reliably and stably.
[0010]
Further, the present invention is an inspection device for detecting and removing foreign matter mixed in a granular material as a device for inspecting the foreign material of the granular material by the method of the present invention, and is a turntable that rotates at a predetermined speed. And supply means for continuously supplying the granular material to be inspected to the outer periphery of the turntable, and compressing the granular material continuously supplied from the supply means with a predetermined pressure, A compression molding means for forming a strip-shaped molded body along the outer peripheral surface of the turntable, and the strip-shaped molded body disposed along the outer peripheral surface of the turntable and molded and held along the outer peripheral surface of the turntable. A plurality of cutting blades for continuously scraping a predetermined amount of powder from the band-shaped molded body, and a powder layer composed of the powders scraped by the cutting blade is placed on a conveying surface and a predetermined speed is set. And a conveying surface of the conveying means An image capturing device that continuously captures and transports an image of the granular material layer that is placed on and transported, and a detection that detects a foreign object by performing image processing on the image captured by the image capturing device And a foreign substance collecting means for separating and removing a predetermined amount of the granular material containing foreign substances from the granular material layer according to a detection signal from the detecting means. A foreign matter inspection apparatus is provided.
[0011]
The foreign matter inspection apparatus of the present invention continuously supplies the granular material to be inspected from the supply means to the outer peripheral portion of the turntable, and compresses the granular material by the compression molding means. A belt-shaped molded body is formed along the outer peripheral surface of the turntable, the belt-shaped molded body is continuously transported by being held on the rotating turntable outer peripheral portion, and held on the outer peripheral portion of the rotating turntable. By cutting the body with the plurality of cutting blades, the granular material is continuously scraped off from the strip-shaped formed body, and this is continuously supplied to the transport surface of the transport means so that the transport surface has a constant thickness. Obtained by forming a granular material layer, capturing the image of the granular material layer by continuously photographing the granular material layer placed and conveyed on the conveying surface of the conveying means with the imaging device The image is processed by the above detection means. Detecting a foreign object, in accordance with the detection signal, and separating and removing a predetermined amount of granular material containing foreign substances from the powder and granular material layer by the foreign matter collecting unit.
[0012]
Therefore, according to the foreign matter inspection apparatus of the present invention, the granular material to be inspected is once formed into a band-shaped molded body, and the granular body is scraped off from the band-shaped molded body to form the granular layer on the conveying surface of the conveying means. Even if the granular material is poor in fluidity, a certain amount of granular material is stably supplied to the conveying surface of the supply means at a constant speed, The powder layer can be reliably and stably formed, and foreign particles are detected by photographing the stably formed powder layer, so reliable and stable foreign object inspection is ensured and stable. Is something that can be done.
[0013]
In addition, an image is captured on the granular layer that is placed on the transport surface of the transport means and stably transported without any change in thickness, speed, orbit, etc. Compared to shooting a naturally falling powder layer, the image can be captured to a much more stable state of the powder layer, so inspection is always performed under the best and constant conditions. It is possible to perform inspection, and it is possible to achieve higher inspection accuracy than a conventional detection apparatus that detects an unstable particle body layer that naturally falls and detects foreign matter.
[0014]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
EXAMPLES Hereinafter, an Example is shown and this invention is demonstrated more concretely.
[First embodiment]
1 and 2 show a foreign object inspection apparatus for granular material according to an embodiment of the present invention, which performs foreign object inspection of granular material by the foreign object inspection method of the present invention. The foreign object inspection apparatus includes a
[0015]
The
[0016]
The
[0017]
As shown in FIG. 2, the
[0018]
Further, one
[0019]
As shown in FIGS. 1 to 4, the
[0020]
As shown in FIG. 4, the
[0021]
FIG. 5 is a developed view in which the outer periphery of the
In this example apparatus, as shown in FIG. 5, ten cutting blades a to j are inserted at equal intervals along the outer periphery of the
[0022]
Next, as shown in FIGS. 1 and 2, the
[0023]
The one-
[0024]
Although not shown in the drawings, the foreign matter inspection apparatus of the present example detects foreign matters mixed in the granular layer p3 by performing image processing on the image of the granular layer p3 captured by the one-
[0025]
Next, the suction device (foreign matter collecting means) 7 is in a state spaced apart from the conveying surface of the
[0026]
1 and 2,
[0027]
This foreign matter inspection device automatically detects and separates and removes metal pieces, hair, dirty particles, and other foreign matters (these are collectively referred to as foreign matters) mixed in the granular material p, The inspection is performed as follows.
[0028]
The granular material p to be inspected stored in the hopper h is continuously charged into the tubular
[0029]
When the belt-shaped formed body p1 is conveyed to the location where the
[0030]
In this case, it is preferable that the thickness of the granular material layer p3 formed on the
[0031]
This granular material layer p3 is continuously conveyed at a constant speed from one end of the
[0032]
In this case, when passing under the one-
[0033]
Here, the capturing of the image is performed by photographing the surface of the granular material layer p3 with the one-
[0034]
When a foreign substance is detected by the detection means and a detection signal is issued, according to this detection signal, the portion containing the foreign substance of the granular material layer p3 passes through the suction device (foreign substance collection means) 7 according to the timing. The suction device (foreign material collecting means) 7 is in a suction state for a predetermined time, and a predetermined amount of powder including foreign particles is sucked and removed from the powder layer p3.
[0035]
As described above, in the foreign matter inspection apparatus of the present embodiment, the granular material p continuously supplied from the hopper h is formed on the outer peripheral surface of the
[0036]
Therefore, according to the foreign matter inspection apparatus of the present embodiment, the granular material p to be inspected is once formed into a strip-shaped molded body p1, and the granular material p2 is scraped off from the strip-shaped molded body p1 to form powder on the
[0037]
Further, an image is taken in the powder layer p3 that is placed on the
[0038]
[Second Embodiment]
FIGS. 6-8 shows the foreign material inspection apparatus of the granular material concerning the 2nd Example of this invention, and this foreign material inspection apparatus is replaced with the
[0039]
As shown in FIGS. 7A and 7B, the
[0040]
A
[0041]
Next, as shown in FIGS. 6A and 6B, the
[0042]
The pressing surface of the
[0043]
The
[0044]
The foreign matter inspection apparatus according to the second embodiment continuously supplies the granular material p to be inspected to the outer peripheral surface of the
[0045]
That is, as shown in FIG. 7B, the granular material p supplied and stored in the
[0046]
In this case, as indicated by a one-dot chain line in FIG. 8, the
[0047]
As described above, the foreign matter inspection apparatus according to the second embodiment supplies the powder particles p to the outer peripheral portion of the
[0048]
[Third embodiment]
9 and 10 show a foreign substance inspection apparatus for granular material according to a third embodiment of the present invention. This foreign matter inspection apparatus uses a
[0049]
The
[0050]
Next, the
[0051]
Therefore, in the foreign matter inspection apparatus of the present example, the granular material layer p3 is conveyed along the circular orbit, and during that time foreign matter is detected and removed, so that the granular material layer p3 is linearly separated using the
[0052]
Here, in the apparatus of the present embodiment, as described above, the
[0053]
As shown in FIG. 10, the sieving
[0054]
In addition, since the structure and the effect other than the above are the same as those of the inspection apparatus of the first embodiment and the second embodiment described above, the same reference is made to the same component as the inspection apparatus of the first and second embodiments. Reference numerals are assigned and explanations thereof are omitted.
[0055]
The foreign substance inspection method and foreign substance inspection apparatus of the granular material of the present invention are not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, in the first to third embodiments described above, the granular material p to be inspected is a band-shaped molded body, but may be a molded body having another shape, and the granular material p to be inspected is once predetermined. What is necessary is just to make it the shape molded object and to scrape off the granular material p2 from this molded object, and to form the granular material layer p3. In each of the above embodiments, the particle layer p3 is illuminated from both the front and back sides of the
[0056]
Furthermore, the foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus of the present invention detect foreign matter mixed in a granular material such as a pharmaceutical raw material, semi-finished product, product, etc., particularly in a granular material having poor fluidity. However, in addition to medicines, it can also be suitably used for inspection of other granular materials such as raw materials such as foods and chemical products, semi-finished products, products, etc. .
[0057]
【The invention's effect】
As described above, according to the foreign matter inspection method and foreign matter inspection device of the present invention, the granular material is once formed into a molded body having a predetermined shape, and the granular material is scraped off from the molded body. Since it is configured to form a body layer and capture an image, it is possible to reliably and stably form a granular layer of a certain thickness even if the granular material has poor fluidity. Since the foreign material is detected by photographing the stably formed granular material layer, even if the granular material is inferior in fluidity, reliable and stable foreign matter inspection is performed reliably and stably. be able to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic plan view, partly in section, showing a particle foreign material inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic side view with a part in cross section showing the foreign matter inspection apparatus.
FIGS. 3A and 3B show a turntable of the foreign matter inspection apparatus, wherein FIG. 3A is a partially enlarged plan view with a part in cross section, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. .
FIG. 4 is a partially enlarged perspective view in which a part of the belt-shaped molded body held on the outer peripheral surface of the turntable is cut by a cutting blade in the same foreign matter inspection apparatus, with a part cut away.
FIG. 5 is an enlarged development view in which the outer periphery of the turntable is developed linearly, showing the relationship between the outer periphery of the turntable, the strip-shaped molded body, and the cutting blade in the foreign matter inspection apparatus.
6A and 6B show a particle foreign material inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention, in which FIG. 6A is a partial plan view, and FIG. 6B is a cross section taken along line BB in FIG. FIG.
7A and 7B show a supply portion of the foreign matter inspection apparatus, in which FIG. 7A is a partially enlarged plan view, and FIG. 7B is a cross-sectional view taken along line BB of FIG.
FIG. 8 is an explanatory diagram for explaining the operation of the compressor in the foreign matter inspection apparatus.
FIG. 9 is a schematic plan view, partly in section, showing a foreign substance inspection apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a schematic side view with a part in cross section showing the foreign matter inspection apparatus.
FIG. 11 is a schematic view showing a conventional foreign matter inspection apparatus for granular materials.
[Explanation of symbols]
1 Turntable
11 Forming groove
2 Extruder (feeding means and compression molding means)
3,3a Supply device (supply means)
4 Cutting blade
5 Belt conveyor (conveying means)
51 Conveyor belt
6 One-dimensional camera (imaging device)
61, 62 Light source for illumination
7 Suction device (foreign matter collection means)
8 Static eliminator
9 Compressor (compression molding means)
91 Compact
10 rotating disk (conveying means)
101 scraper
102 Recovery chute
103 Recovery container
20 Sieving machine
23 Vibration generator
h Hopper
p powder
p1 Band-shaped compact of powder
p2 Powdered particles
p3 granular material layer
Claims (12)
所定速度で回転するターンテーブルと、
検査対象の粉粒体を上記ターンテーブルの外周部に連続的に供給する供給手段と、
該供給手段より連続的に供給される粉粒体を所定の圧力で圧縮して、上記ターンテーブルの外周面に沿って帯状成形体を成形する圧縮成形手段と、
上記ターンテーブルの外周面に沿って配設され、該ターンテーブルの外周面に沿って成形保持された上記帯状成形体を切削して、該帯状成形体から所定量の粉粒体を連続的に削り取る複数の切削刃と、
該切削刃で削り取った粉粒体からなる粉粒体層を搬送面に載置して所定の速度で搬送する搬送手段と、
上記搬送手段の搬送面上に載置されて搬送される粉粒体層を連続的に撮影し、該粉粒体層の画像を取り込む撮像装置と、
該撮像装置により取り込まれた画像を画像処理して異物を検出する検出手段と、
該検出手段からの検出信号に応じて、上記粉粒体層から異物を含む所定量の粉粒体を分離除去する異物回収手段とを具備してなることを特徴とする粉粒体の異物検査装置。An inspection device for detecting and removing foreign matters mixed in a powder,
A turntable that rotates at a predetermined speed;
Supply means for continuously supplying the granular material to be inspected to the outer periphery of the turntable;
Compression molding means for compressing the granular material continuously supplied from the supply means at a predetermined pressure, and molding a strip-shaped molded body along the outer peripheral surface of the turntable;
The strip-shaped molded body, which is disposed along the outer peripheral surface of the turntable and formed and held along the outer peripheral surface of the turntable, is cut, and a predetermined amount of powder particles are continuously removed from the strip-shaped molded body. A plurality of cutting blades to be scraped;
A conveying means for placing the granular material layer made of the granular material scraped off by the cutting blade on the conveying surface and conveying it at a predetermined speed;
An imaging device that continuously photographs the granular material layer that is placed and conveyed on the conveying surface of the conveying means, and captures an image of the granular material layer;
Detecting means for detecting foreign matter by performing image processing on an image captured by the imaging device;
Foreign matter inspection for a granular material, comprising: a foreign matter collecting means for separating and removing a predetermined amount of the granular material containing foreign matter from the granular material layer according to a detection signal from the detection means apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24737599A JP4332689B2 (en) | 1998-09-09 | 1999-09-01 | Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus for powder |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10-255729 | 1998-09-09 | ||
JP25572998 | 1998-09-09 | ||
JP24737599A JP4332689B2 (en) | 1998-09-09 | 1999-09-01 | Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus for powder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000146848A JP2000146848A (en) | 2000-05-26 |
JP4332689B2 true JP4332689B2 (en) | 2009-09-16 |
Family
ID=26538238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24737599A Expired - Lifetime JP4332689B2 (en) | 1998-09-09 | 1999-09-01 | Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus for powder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4332689B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103364315A (en) * | 2012-03-30 | 2013-10-23 | 鞍钢股份有限公司 | On-line detection method and device for granularity of sintered solid fuels |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3750017B2 (en) | 2002-07-22 | 2006-03-01 | 明台化工股▲分▼有限公司 | Foreign matter inspection device |
JP4638187B2 (en) * | 2004-08-11 | 2011-02-23 | 第一実業ビスウィル株式会社 | Powder inspection method and powder inspection apparatus |
JP2007033273A (en) * | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Mayekawa Mfg Co Ltd | Apparatus for detecting foreign substance of white food |
JP5277414B2 (en) * | 2008-12-26 | 2013-08-28 | 株式会社Sumco | Detection device and detection method for colored foreign substances contained in quartz powder raw material |
JP2012007999A (en) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Fuji Electric Co Ltd | Particulate foreign material inspecting device using particulate sieving device |
JP7262766B2 (en) * | 2019-07-17 | 2023-04-24 | 株式会社大道産業 | foreign object detector |
-
1999
- 1999-09-01 JP JP24737599A patent/JP4332689B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103364315A (en) * | 2012-03-30 | 2013-10-23 | 鞍钢股份有限公司 | On-line detection method and device for granularity of sintered solid fuels |
CN103364315B (en) * | 2012-03-30 | 2016-04-06 | 鞍钢股份有限公司 | A kind of sintering solid fuel granularity online test method and pick-up unit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000146848A (en) | 2000-05-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6503346B2 (en) | Bulk material sorting apparatus and bulk material sorting method | |
US5239358A (en) | Powder material inspection apparatus | |
JP4332689B2 (en) | Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus for powder | |
US20180071788A1 (en) | A novel color based optical grading system with multi reflectance and multi-angle views | |
JP7300696B2 (en) | Part transfer module | |
JP7224612B2 (en) | Molded product handling system | |
JP2002066464A (en) | Seal material supply device | |
JP5740852B2 (en) | Powder cutting device and powder foreign matter inspection device using the same | |
JPS61210929A (en) | Inspecting instrument for granule | |
JP2005172608A (en) | Appearance inspecting apparatus | |
JPH0360380B2 (en) | ||
JP3976916B2 (en) | Granule inspection processing equipment | |
JP4355167B2 (en) | Foreign matter inspection method in powder, foreign matter inspection device in powder, foreign matter removal method in powder and foreign matter removal device in powder | |
JP2012007999A (en) | Particulate foreign material inspecting device using particulate sieving device | |
JPH10170446A (en) | Mechanism for changing attitude of tablet and visual inspection apparatus for tablet | |
JP7213735B2 (en) | Granule inspection processing equipment | |
JP3358560B2 (en) | Method and apparatus for inspecting foreign matter in powder | |
US6556295B2 (en) | Device and method for optical measurement | |
KR101147628B1 (en) | Straw inferior goods detection and honest goods throwing apparatus | |
CN112427337A (en) | Fruit surface defect detection system based on optical reflection | |
JP7407465B2 (en) | Molded product processing system | |
JP2815633B2 (en) | Rice Grain Classifier | |
JPH0720586Y2 (en) | Powder inspection equipment | |
JP2023002287A (en) | Inspection/discharge device and inspection/discharge method for foreign matter among granules | |
JP2502329Y2 (en) | Powder inspection equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060124 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080625 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090121 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090319 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090527 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090609 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4332689 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140703 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |