JP4295607B2 - Ceramic heater - Google Patents
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Description
本発明は、自動車用の空燃比検知センサ加熱用ヒータや気化器用ヒータ、半田ごて用ヒータなどに使用するセラミックヒータに関するものである。 The present invention relates to a ceramic heater used for an air-fuel ratio sensor heating heater, a vaporizer heater, a soldering iron heater, etc. for an automobile.
従来より、アルミナを主成分とするセラミックス中に、W、Re、Mo等の高融点金属からなる発熱抵抗体を埋設してなるアルミナセラミックヒータが、一般的に用いられている。 Conventionally, an alumina ceramic heater in which a heating resistor made of a refractory metal such as W, Re, or Mo is embedded in ceramics mainly composed of alumina has been generally used.
例えば、円柱状のセラミックヒータを製造する場合は、図1に示すようにセラミックロッド2とセラミックシート3を用意し、セラミックシート3の一方面にW、Re、Mo等の高融点金属のペーストを印刷して発熱抵抗体4とリード引出部5を形成した後、これらを形成した面が内側となるようにセラミックシート3を上記セラミックロッド2の周囲に巻付け、全体を焼成一体化することによりセラミックヒータ1を得ることができる。 For example, when manufacturing a cylindrical ceramic heater, a ceramic rod 2 and a ceramic sheet 3 are prepared as shown in FIG. 1, and a paste of a refractory metal such as W, Re, or Mo is provided on one surface of the ceramic sheet 3. After printing and forming the heating resistor 4 and the lead extraction part 5, the ceramic sheet 3 is wound around the ceramic rod 2 so that the surface on which the heating resistor 4 and the lead extraction part 5 are formed is inside, and the whole is fired and integrated. A ceramic heater 1 can be obtained.
この時、セラミックシート3上には、発熱抵抗体4に直接リード引出部5が接続され、該リード引出部5の末端にスルーホール6が形成され裏面の電極パッド7と該リード引出部5がスルーホール6で接続されている。スルーホール6には、必要に応じて導体ペーストが注入される。
At this time, the lead lead portion 5 is directly connected to the heating resistor 4 on the ceramic sheet 3, a through hole 6 is formed at the end of the lead lead portion 5, and the
そして、最終的なセラミックヒータ1では、図2に示すように側面に露出した電極パッド7にリード部材9をロウ材8によりロウ付けして接合し、このリード部材9から通電することにより発熱抵抗体4が発熱するようになっていた。
In the final ceramic heater 1, as shown in FIG. 2, the lead member 9 is brazed to the
セラミックヒータ1として、上記のようにリード部材9をロウ付けせず、前記電極パッド7に外部端子を押圧するタイプのものもあるが、現在の市場動向からすると、上記のようにリード部材9をロウ付けするタイプが主流となりつつある。
There is a type of ceramic heater 1 that does not braze the lead member 9 as described above, but presses an external terminal against the
ロウ付けに際し、図2に示すように高融点金属からなる電極パッド7上には、Ni、Cr等の耐熱金属材料からなる1次メッキ層10を形成し、その上にFe−Ni合金やNi、Cr等を含有する耐熱金属材料からなるリード部材9をロウ付けし、さらにロウ材8の保護のために2次メッキ層11を施すようにしていた。
しかしながら、高融点金属からなる電極パッド7上に1次メッキ層10を形成し、耐熱金属材料からなるリード部材9をロウ付けした後高温雰囲気中に放置すると、ロウ付け強度が著しく低下するものが発生するという問題があった。
However, when the
このロウ付け強度が著しく低下するものを観察すると、ロウ付け部を保護するために形成した2次メッキ層にクラックが確認されることが判った。更にこの2次メッキ層を分析するとロウ材8の成分が表面層まで拡散していることを確認できた。 Observing that the brazing strength is significantly reduced, it was found that cracks were confirmed in the secondary plating layer formed to protect the brazed portion. Furthermore, when this secondary plating layer was analyzed, it was confirmed that the components of the brazing material 8 were diffused to the surface layer.
本発明のセラミックヒータは、セラミック体中にW、Mo、Re等の高融点金属を主成分とする発熱抵抗体を埋設し、該発熱抵抗体の端部に接続する電極パッド上に1次メッキ層を介してリード部材をロウ材により固定し、ロウ材保護の為に2次メッキ層を施したセラミックヒータにおいて、上記2次メッキ層中へのロウ材成分の拡散層が1μm以上でかつ前記2次メッキにおけるロウ材成分の拡散していない層の厚みが表面から1μm以上であることを特徴とする。 In the ceramic heater of the present invention, a heating resistor mainly composed of a refractory metal such as W, Mo, Re or the like is embedded in a ceramic body, and primary plating is performed on an electrode pad connected to the end of the heating resistor. In a ceramic heater in which a lead member is fixed with a brazing material through a layer and a secondary plating layer is applied to protect the brazing material, the diffusion layer of the brazing material component in the secondary plating layer is 1 μm or more and The thickness of the layer in which the brazing material component is not diffused in the secondary plating is 1 μm or more from the surface.
また、本発明のセラミックヒータは、前記2次メッキ層の粒子径が5μm以下であることを特徴とする。これにより、使用中の熱サイクルに対する耐久性をさらに向上させることができる。 In the ceramic heater of the present invention, the particle size of the secondary plating layer is 5 μm or less. Thereby, durability with respect to the heat cycle in use can further be improved.
本発明によれば、セラミック体中にW、Mo、Re等の高融点金属を主成分とする発熱抵抗体を埋設し、該発熱抵抗体の端部に接続する電極パッド上に1次メッキ層を介してリード部材をロウ材により固定し、ロウ材保護の為に2次メッキを施したセラミックヒータにおいて、上記2次メッキ層中へのロウ材の拡散層が1μm以上でかつ前記2次メッキ層におけるロウ材成分の拡散していない層の厚みが表面から1μm以上とすることで、高温サイクル後の2次メッキ層表面のクラックの発生を防止するとともに、ロウ付け部の強度低下を抑制する事が可能となった。 According to the present invention, a heating resistor mainly composed of a refractory metal such as W, Mo, Re or the like is embedded in a ceramic body, and the primary plating layer is formed on the electrode pad connected to the end of the heating resistor. In a ceramic heater in which a lead member is fixed with a brazing material via a lead and subjected to secondary plating to protect the brazing material, the diffusion layer of the brazing material in the secondary plating layer is 1 μm or more and the secondary plating By making the thickness of the layer in which the brazing material component is not diffused in the layer 1 μm or more from the surface, the occurrence of cracks on the surface of the secondary plating layer after the high-temperature cycle is prevented, and the strength reduction of the brazing portion is suppressed. Things became possible.
以下本発明のセラミックヒータの実施の形態を、図1を用いて説明する。これは、セラミックヒータ1の展開図を示した図である。 Hereinafter, an embodiment of the ceramic heater of the present invention will be described with reference to FIG. This is a diagram showing a development view of the ceramic heater 1.
セラミックシート3の表面には、発熱抵抗体4とリード引出部5が形成され、さらに、その裏面側に形成される電極パッド7との間をスルーホール6で接合した構造となっている。こうして準備されたセラミックシート3をセラミックロッド2の表面に、前記発熱抵抗体4が内側になるように密着焼成することによりセラミックヒータ1とする。
On the surface of the ceramic sheet 3, the heating resistor 4 and the lead extraction portion 5 are formed, and the
この焼結したセラミックヒータ1の電極パッド7には、図2に示すように焼成後1次メッキ層10を形成する。この1次メッキ層10は、リード部材9を電極パッド7の表面にロウ付けする際に、ロウ材の流れを良くし、ロウ付け強度を増すためである。通常1〜5μm厚みの1次メッキ層10を形成する。1次メッキ層10の材質としては、Ni、Cr、もしくはこれらを主成分とする複合材料を使用することができる。
A
この1次メッキ層10を形成する場合、メッキ厚みを管理するために、通常無電解メッキを使用する。無電解メッキを使用する場合、メッキの前処理としてPdを含有する活性液に浸漬する。このPdを核にして置換するように1次メッキ層10が電極パッド7の上に形成される。
When the
リード部材9を固定するロウ材8のロウ付け温度を1000℃程度に設定すれば、ロウ付け後の残留応力を低減できるので良い。また、湿度が高い雰囲気中で使用する場合、Au系、Cu系のロウ材を用いた方がマイグレーションが発生しにくくなるので好ましい。ロウ材8としては、Au、Cu、Au−Cu、Au−Ni、Ag、Ag−Cu系の物が使用される。Au−Cuロウとしては、Au含有量が25〜95重量%としAu−Niロウとしては、Au含有量が50〜95重量%の成分量の物が使われる。Ag−Cuロウとしては、Ag含有量を71〜73重量%とすると、共晶点の組成となりロウ付け時の昇温、降温時の異種組成の合金の生成を防止出来るために、ロウ付け後の残留応力を低減できるので良い。また、湿度が高い雰囲気中で使用する場合、Au系、Cu系のロウ材8を用いた方がマイグレーションが発生しにくくなるので好ましい。 If the brazing temperature of the brazing material 8 for fixing the lead member 9 is set to about 1000 ° C., the residual stress after brazing can be reduced. Further, when used in an atmosphere with high humidity, it is preferable to use an Au-based or Cu-based brazing material because migration is less likely to occur. As the brazing material 8, Au, Cu, Au—Cu, Au—Ni, Ag, or Ag—Cu-based materials are used. As the Au—Cu solder, an Au content of 25 to 95% by weight is used, and as the Au—Ni solder, an Au content of 50 to 95% by weight is used. As for Ag-Cu brazing, if the Ag content is 71 to 73% by weight, the composition of the eutectic point is obtained, and it is possible to prevent the formation of alloys with different compositions at the time of brazing and at the time of brazing. This is good because the residual stress can be reduced. Further, when used in an atmosphere with high humidity, it is preferable to use an Au-based or Cu-based brazing material 8 because migration is less likely to occur.
また、ロウ材8の表面には、高温耐久性向上及び腐食からロウ材8を保護するために通常Niからなる2次メッキ層11を形成する。 Further, on the surface of the brazing material 8, a secondary plating layer 11 usually made of Ni is formed in order to improve the high temperature durability and protect the brazing material 8 from corrosion.
図2(b)に示すように、2次メッキ層11はロウ材8成分の拡散していない層11aと拡散した11bが存在し、拡散していない層11aの厚みt1を表面から1μm以上とすることが良い。拡散していない層の厚みt1が1μm未満であるとNiメッキの特性が十分に示されない。例えば、ロウ材8としてAg−Cuロウを用いた場合、ロウ材8中に含まれるCu成分が2次メッキ層11のニッケルと固溶して融点が下がる。2次メッキ層11のニッケルとロウ材8に含有されるCuは、熱処理する事で全率固溶の固溶体成分を生成する。この固溶体の物理的性質は、純ニッケルと比較して融点が低くなる性質がある。Niメッキの融点が低下する事で、セラミックヒータ1を高温雰囲気中に放置したときに2次メッキ層11の被膜中にクラックが生じ、そのクラック間を酸素が侵入し、ロウ材8が酸化されロウ付け部強度が劣化する。2次メッキ層11中に拡散するロウ材8に含有されるCuは、ロウ材8としてAg−Cuロウ材を用いたときにはCuが2次メッキ層11中に拡散している。これに対しAgは、元来Niとの反応性が無いために、2次メッキ層11中への拡散しない。2次Niメッキ層11中へロウ材8に含有される成分であるCuを拡散させないためには、2次メッキ層11を施した後の熱処理温度を変量させることで、コントロールできる。2次メッキ層11後の熱処理の目的は、ロウ材8と2次メッキ層11との密着性を向上させるために施される。拡散量を抑えるためには、シンター温度を下げる。 As shown in FIG. 2 (b), the secondary plating layer 11 includes a non-diffused layer 11a of the brazing material 8 component and a diffused 11b, and the thickness t1 of the non-diffused layer 11a is set to 1 μm or more from the surface. Good to do. When the thickness t1 of the non-diffused layer is less than 1 μm, the characteristics of Ni plating are not sufficiently exhibited. For example, when Ag—Cu solder is used as the brazing material 8, the Cu component contained in the brazing material 8 is dissolved in the nickel of the secondary plating layer 11 and the melting point is lowered. The nickel contained in the secondary plating layer 11 and the Cu contained in the brazing material 8 generate a solid solution component that is a solid solution of the entire ratio by heat treatment. The physical property of this solid solution is that the melting point is lower than that of pure nickel. When the melting point of the Ni plating is lowered, when the ceramic heater 1 is left in a high temperature atmosphere, cracks are generated in the coating of the secondary plating layer 11, oxygen enters between the cracks, and the brazing material 8 is oxidized. Brazing part strength deteriorates. The Cu contained in the brazing material 8 diffusing into the secondary plating layer 11 is diffused into the secondary plating layer 11 when an Ag—Cu brazing material is used as the brazing material 8. On the other hand, Ag does not diffuse into the secondary plating layer 11 because it originally has no reactivity with Ni. In order not to diffuse Cu, which is a component contained in the brazing material 8, into the secondary Ni plating layer 11, it can be controlled by changing the heat treatment temperature after the secondary plating layer 11 is applied. The purpose of the heat treatment after the secondary plating layer 11 is performed in order to improve the adhesion between the brazing material 8 and the secondary plating layer 11. In order to suppress the diffusion amount, the sintering temperature is lowered.
また、上記ロウ材成分の拡散した層11bの厚みt2は1μm以上とする。これはロウ材8と2次メッキ層との密着性を向上させ、メッキ剥がれを防止するためである。
The thickness t2 of the
なお、2次メッキ層11の厚みは2μm〜10μmの範囲が望ましい。これは、厚みが2μm未満であると耐酸化性が不十分であり、一方10μmを越えるとメタライズ層とセラミックとの熱膨張差により耐久性が劣化するためである。 The thickness of the secondary plating layer 11 is desirably in the range of 2 μm to 10 μm. This is because if the thickness is less than 2 μm, the oxidation resistance is insufficient, while if it exceeds 10 μm, the durability deteriorates due to the difference in thermal expansion between the metallized layer and the ceramic.
2次メッキ層11と2次メッキ層11にロウ材8成分の拡散していない層11a、拡散した層11bの層の測定は、オージェ電子分光分析法、測定装置 走査型FE-オージェ電子分光分析装置PHI製Model680 測定条件 加速電圧5Kv 試料電流 10nA での線分析方法で行った。また、測定する部位は図2a部のロウ材メニスカス中央部で行った。
Measurement of the secondary plating layer 11 and the non-diffused layer 11a of the brazing material 11a and the diffused
また、耐久性向上のためには、2次メッキ層11を構成する結晶の粒径を5μm以下にすることが効果的である。この粒径が5μmより大きいと、2次メッキ層11の強度が弱く脆いために高温放置環境下ではクラックの発生が確認される。また、理由は定かでないが2次メッキ層11をなす結晶の粒径が小さい方がメッキの詰まりも良いためにミクロ的な欠陥を防止出来る物と考えられる。また、2次メッキ層11をなす結晶の粒径はSEMにて単位面積当たりに含まれる粒径を測定しその平均値を平均粒径とした。算術平均に用いた粒子は20個での個数で平均粒径を求めた。この2次メッキ層11は、硼素系の無電解Niメッキを用いた。また、無電解メッキの種類は硼素系の無電解メッキの他にリン系の無電解メッキ層被覆する事も可能であるが、高温環境下で使用される可能性があるときは、通常硼素系無電解Niメッキを施すのが一般的である。2次メッキ後の熱処理温度を変量させる事で、2次メッキ層11の粒径をコントロールする事が出来る。 In order to improve the durability, it is effective to make the grain size of the crystals constituting the secondary plating layer 11 5 μm or less. If the particle size is larger than 5 μm, the secondary plating layer 11 is weak and brittle, and thus cracks are confirmed in a high temperature standing environment. Although the reason is not clear, it is considered that a smaller crystal grain size forming the secondary plating layer 11 can prevent microscopic defects because the clogging of the plating is better. Moreover, the particle diameter of the crystal | crystallization which comprises the secondary plating layer 11 measured the particle size contained per unit area in SEM, and made the average value the average particle diameter. The average particle size was determined by the number of 20 particles used for the arithmetic average. As the secondary plating layer 11, boron-based electroless Ni plating was used. In addition to boron-based electroless plating, phosphorous-based electroless plating layers can be coated as well as boron-based electroless plating. It is common to apply electroless Ni plating. By changing the heat treatment temperature after the secondary plating, the particle size of the secondary plating layer 11 can be controlled.
次にリード部材9の材質としては、耐熱性良好なNi系やFe−Ni系合金等を使用することが好ましい。発熱抵抗体4からの熱伝達により、使用中にリード部材9の温度が上昇し、劣化する可能性があるからである。 Next, as the material of the lead member 9, it is preferable to use a Ni-based or Fe-Ni-based alloy having good heat resistance. This is because the heat transfer from the heating resistor 4 may cause the temperature of the lead member 9 to rise during use and deteriorate.
中でも、リード部材9の材質としてNiやFe−Ni合金を使用する場合、その平均結晶粒径を400μm以下とすることが好ましい。前記平均粒径が400μmを越えると、使用時の振動および熱サイクルにより、ロウ付け部近傍のリード部材9が疲労し、クラックが発生するので好ましくない。他の材質についても、例えばリード部材9の粒径がリード部材9の厚みより大きくなると、ロウ材8とリード部材9の境界付近の粒界に応力が集中して、クラックが発生するので好ましくない。 In particular, when Ni or Fe—Ni alloy is used as the material of the lead member 9, the average crystal grain size is preferably set to 400 μm or less. If the average particle diameter exceeds 400 μm, the lead member 9 in the vicinity of the brazed portion is fatigued and cracks are generated due to vibration and thermal cycle during use, which is not preferable. For other materials, for example, if the particle diameter of the lead member 9 is larger than the thickness of the lead member 9, stress is concentrated at the grain boundary near the boundary between the brazing material 8 and the lead member 9, and cracks are generated. .
なお、ロウ付けの際の熱処理は、試料間のバラツキを小さくするためには、ロウ材8の融点より十分余裕をとった高めの温度で熱処理する必要があるが、リード部材9の平均結晶粒径を400μm以下と小さくするためには、ロウ付けの際の温度をできるだけ下げ、処理時間を短くすればよい。 The heat treatment at the time of brazing requires heat treatment at a temperature sufficiently higher than the melting point of the brazing material 8 in order to reduce the variation between the samples. In order to reduce the diameter to 400 μm or less, the temperature during brazing should be lowered as much as possible to shorten the processing time.
また、セラミックヒータ1の材質としては、Al2O388〜95重量%、SiO22〜7重量%、CaO0.5〜3重量%、MgO0.5〜3重量%、ZrO21〜3重量%からなるアルミナを使用することが好ましい。Al2O3含有量をこれより少なくすると、ガラス質が多くなるため通電時のマイグレーションが大きくなるので好ましくない。また、逆にAl2O3含有量をこれより増やすと、内蔵する発熱抵抗体4の金属層内に拡散するガラス量が減少し、セラミックヒータ1の耐久性が劣化するので好ましくない。ここで、セラミックスとしてアルミナの例を示したが、本発明で示したことは、アルミナ質セラミックスに限定されることではなく、窒化珪素質セラミックス、窒化アルミニウム質セラミックス、炭化珪素質セラミックス等、また、セラミックヒータ1のみならず、Au系のロウ付けを実施する全てのものに当てはまる現象である。 The material of the ceramic heater 1, Al 2 O 3 88~95 wt%, SiO 2 2 to 7 wt%, CaO0.5~3 wt%, MgO0.5~3 wt%, ZrO 2 1 to 3 wt % Alumina is preferably used. If the Al 2 O 3 content is less than this, the vitreous quality increases, and migration during energization increases, which is not preferable. Conversely, if the content of Al 2 O 3 is increased, the amount of glass diffusing into the metal layer of the built-in heating resistor 4 is decreased, and the durability of the ceramic heater 1 is deteriorated. Here, although the example of alumina was shown as ceramics, what was shown in the present invention is not limited to alumina ceramics, silicon nitride ceramics, aluminum nitride ceramics, silicon carbide ceramics, etc. This is a phenomenon that applies not only to the ceramic heater 1 but also to all that perform Au-based brazing.
セラミックヒータ1の形状としては、円筒および円柱状に加え、板状のものであっても構わない。 The ceramic heater 1 may have a plate shape in addition to a cylindrical shape and a column shape.
板状のセラミックヒータ1の製法について説明すると、セラミックシート3の表面にW、Mo、Re等の高融点金属を主成分とするペーストを用いて発熱抵抗体4、リード引出部5、およびスルーホール6を形成し、その裏面には電極パッド7を形成する。そして、発熱抵抗体4を形成した面にさらに別のセラミックシート3を重ねて密着し、1500〜1600℃の還元雰囲気中で焼成することにより、板状のセラミックヒータ1とする。また、焼成後、電極パッド7の上には1次メッキ層を形成し、リード部材9をロウ材8で固定した後、さらにロウ材8の上に2次メッキ層11を形成する。
The manufacturing method of the plate-shaped ceramic heater 1 will be described. The heating resistor 4, the lead extraction part 5, and the through hole are formed on the surface of the ceramic sheet 3 using a paste mainly composed of a refractory metal such as W, Mo, Re or the like. 6 is formed, and an
また、セラミックヒータ1の寸法については、例えば外径ないしは幅が2〜20mm、長さが40〜200mm程度にすることが可能である。自動車の空燃比センサ加熱用のセラミックヒータ1としては、外径ないしは幅が2〜4mm、長さが50〜65mmとすることが好ましい。 Moreover, about the dimension of the ceramic heater 1, it is possible to make an outer diameter thru | or a width | variety 2-20 mm and length about 40-200 mm, for example. The ceramic heater 1 for heating an air-fuel ratio sensor of an automobile preferably has an outer diameter or width of 2 to 4 mm and a length of 50 to 65 mm.
さらに、自動車用の用途では、発熱抵抗体4の発熱長さが3〜15mmとなるようにすることが好ましい。発熱長さが3mmより短くなると、通電時の昇温を早くすることができるが、セラミックヒータ1の耐久性を低下させる。また、発熱長さを15mmより長くすると昇温速度が遅くなり、昇温速度を早くしようとするとセラミックヒータ1の消費電力が大きくなるので好ましくない。ここで、発熱長さというのは、図1で示す発熱抵抗体4の往復パターンの部分である。この発熱長さは、その目的とする用途により、選択されるものである。 Furthermore, it is preferable that the heating length of the heating resistor 4 be 3 to 15 mm for automotive applications. When the heat generation length is shorter than 3 mm, the temperature rise during energization can be accelerated, but the durability of the ceramic heater 1 is reduced. In addition, if the heat generation length is longer than 15 mm, the rate of temperature rise is slow, and if the rate of temperature rise is to be increased, the power consumption of the ceramic heater 1 increases, which is not preferable. Here, the heat generation length is a part of the reciprocating pattern of the heat generating resistor 4 shown in FIG. This heat generation length is selected according to the intended use.
Al2O3を主成分とし、SiO2、CaO、MgO、ZrO2を合計10重量%以内になるように調整したセラミックシート3を準備し、この表面に、W−Reからなる発熱抵抗体4とWからなるリード引出部5をプリントした。また、裏面には電極パッド7をプリントした。発熱抵抗体4は、発熱長さ5mmで4往復のパターンとなるように作製した。
A ceramic sheet 3 having Al 2 O 3 as a main component and SiO 2 , CaO, MgO, and ZrO 2 adjusted so as to be within 10 wt% in total is prepared, and a heating resistor 4 made of W-Re is formed on this surface. A lead lead-out portion 5 made of W and W was printed. An
そして、Wからなるリード引出部5の末端には、スルーホール6を形成し、
ここにペーストを注入する事により電極パッド7とリード引出部5間の導通をと
った。スルーホール6の位置は、ロウ付けを実施した場合にロウ付け部8の内側に入るように形成した。こうして準備したセラミックシート3をセラミックロッド2の周囲に密着し、1500〜1600℃で焼成することにより、セラミックヒータ1とした。
A through hole 6 is formed at the end of the lead extraction portion 5 made of W,
By injecting paste here, conduction between the
その後、電極パッド7の表面にPdを含む活性液を用いた活性化処理を実施し、厚み3μmの無電解Niメッキからなる1次メッキ層10を形成し、Au−Cuロウを用いて1020℃でFe−Ni−Co合金からなるリード部材9をロウ付けした。その後2次メッキ層11を厚み6μmの無電電解Niメッキを施した。そしてH2−N2気流中での熱処理温度を600℃、700℃、800℃、900℃と変量し、各々50本のサンプルを作製し、熱処理後の製品を輪切り方向でクロス研磨にて分析用サンプルを作製した。
Thereafter, an activation process using an active liquid containing Pd is performed on the surface of the
なお、オージェ電子分光分析法、測定装置 走査型FE-オージェ電子分光分析装置PHI製Model680 測定条件 加速電圧5Kv 試料電流 10nA で2次メッキ層11の厚み、及び2次メッキ層11にロウ材8成分の拡散した11bを線分析結果より測定した。
Auger Electron Spectroscopy, Measuring Device Scanning FE-Auger Electron Spectrometer PHI Model 680 Measurement Conditions Accelerating Voltage 5Kv Sample Current 10nA Thickness of Secondary Plating Layer 11 and Secondary Plating Layer 11 Brazing Material 8
これらの結果を、表1に示した。
表1から判るように、熱処理温度の低い域では、2次メッキ層11中のロウ材8に含有される成分の拡散は確認できない。但し、熱処理温度が高くなると2次メッキ層11中に、ロウ材8中に含まれる元素であるCuが拡散していることを確認できる。 As can be seen from Table 1, in the region where the heat treatment temperature is low, the diffusion of the components contained in the brazing material 8 in the secondary plating layer 11 cannot be confirmed. However, it can be confirmed that Cu, which is an element contained in the brazing material 8, is diffused in the secondary plating layer 11 when the heat treatment temperature is increased.
また、2次メッキ後の熱処理は、2次メッキ層11とロウ材8の密着性向上の為に施される。その効果を確認するために、各サンプル、リード部材9の屈曲試験を行い2次メッキ層11の剥がれが発生するか否かの確認を行った。この試験の評価方法は、リード部材9を90°方向に3往復の屈曲を行い、双眼の10倍に拡大し、2次メッキ層11の剥がれが発生しているか否かの判断を行った。 Further, the heat treatment after the secondary plating is performed to improve the adhesion between the secondary plating layer 11 and the brazing material 8. In order to confirm the effect, each sample and the lead member 9 were subjected to a bending test to confirm whether or not the secondary plating layer 11 was peeled off. In the evaluation method of this test, the lead member 9 was bent three times in the 90 ° direction, enlarged 10 times as much as binocular, and it was determined whether or not the secondary plating layer 11 was peeled off.
これらの結果を、表2に示した。
表2から判るように、熱処理の低い温度では、リード部材9を屈曲後にリード部材9に施されている2次メッキ層11の剥がれが生じていることを確認できた。500℃以下の低い温度で熱処理したNo.1,2は、2次メッキ層11中へのロウ材8の拡散層が形成されなかった為に熱処理効果が十分に現れず、2次メッキ層11とロウ材8との密着性の向上に影響していないことを確認できた。これに対し、熱処理温度を600℃以上としたNo.3〜10にはNiメッキの剥がれは発生しないことが判った。これは、密着性を向上させるための拡散層が形成されている為と考える。 As can be seen from Table 2, it was confirmed that peeling of the secondary plating layer 11 applied to the lead member 9 occurred after the lead member 9 was bent at a low heat treatment temperature. No. 5 heat-treated at a low temperature of 500 ° C. or lower. 1 and 2, since the diffusion layer of the brazing material 8 into the secondary plating layer 11 is not formed, the heat treatment effect does not sufficiently appear, and the adhesion between the secondary plating layer 11 and the brazing material 8 is improved. It was confirmed that there was no effect. On the other hand, the heat treatment temperature was 600 ° C. or higher. It was found that no peeling of the Ni plating occurred in 3-10. This is considered because the diffusion layer for improving adhesiveness is formed.
Niメッキ中へのロウ材8に含有される成分の拡散量の品質への影響を確認するために、各サンプルを、400℃−R.T 雰囲気中のサイクル試験を実施し その後の表面のクラックの有無、及びリード部材9の引っ張り強度を確認した。 In order to confirm the influence on the quality of the diffusion amount of the component contained in the brazing material 8 during the Ni plating, each sample was subjected to 400 ° C.-R. The cycle test in T atmosphere was implemented, and the presence or absence of the crack of the subsequent surface and the tensile strength of the lead member 9 were confirmed.
これら結果を、表3に示した。
表3から判るように、2次メッキ層11におけるロウ材8に含有される成分の拡散していない層の厚みが表面から1μm以下であるNo.8,9,10では、メッキ被膜中にロウ材8に含有される成分が十分に拡散しているために高温耐久後リード部材9の引っ張り強度が低下している事を確認できた。この試料を観察すると2次メッキ層11の表面にクラックが発生していることを確認できた。 As can be seen from Table 3, the thickness of the non-diffused layer of the component contained in the brazing material 8 in the secondary plating layer 11 is 1 μm or less from the surface. In 8, 9, and 10, it was confirmed that the tensile strength of the lead member 9 after high temperature durability was lowered because the components contained in the brazing material 8 were sufficiently diffused in the plating film. When this sample was observed, it was confirmed that cracks were generated on the surface of the secondary plating layer 11.
1:セラミックヒータ
2:セラミックロッド
3:セラミックシート
4:発熱抵抗体
5:リード引き出し部
6:スルーホール
7:電極パッド
8:ロウ材
9:リード部材
10:1次メッキ
11:2次メッキ
11a:ロウ材未拡散層
11b :ロウ材拡散層
1: Ceramic heater 2: Ceramic rod 3: Ceramic sheet 4: Heat generating resistor 5: Lead drawing part 6: Through hole 7: Electrode pad 8: Brazing material 9: Lead member 10: Primary plating 11: Secondary plating 11a: Brazing
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