JP4293018B2 - 多数決回路 - Google Patents
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Description
但し、次データ保持回路1、反転/非反転転送回路2、現在データ保持回路3、出力バッファ回路4、反転/非反転(1ビット)判定回路5、及び錘付加回路6を有する回路部Aは、1ビット毎に必要な回路部であり、例えば8ビットなら8個の回路部Aが設けられる。天秤回路7、及び反転/非反転制御回路8を有する回路部Bは、データのビット数によらず1個あればよく、例えば8ビットであっても1個の回路部Bのみが設けられる。
また、その左側に載せられる錘の数は、次出力データと現在出力データの論理が異なるビットの数である。
この天秤回路7では、左側の錘の重さが右側の錘の重さより重いかを判断する。つまり、次出力データと現在出力データとの論理の異なるビットの数が全ビット数の半分を超えているかを判断している。
一方、左側の錘が重くない(論理の異なるビットの数が半数を超えない)場合には、
次出力データを反転させないので非反転転送信号を反転/非反転転送回路2へ出力する。この非反転転送信号を受けた反転/非反転転送回路3では、次データ保持回路1の出力を反転させることなく現在データ保持回路3へ出力する。また、データインバージョン端子DATAINVへ、“Lo”レベルの信号が出力される。
また、天秤回路7の右側に基準の数の錘を載せる(動作102)。
なお、論理比較と、論理が異なる場合に錘を載せる動作は、全てのビットで行われる。
まず、多数決回路の具体的な回路構成を図2及び図3を参照しつつ説明する。図2は図1の多数決回路の具体的な回路構成を示す回路図である。図3は図2の回路の一部の等価回路を示す図である。但し、回路部10,20,30,40,50,60を含む回路部aは、データのビット毎に設けられており、例えば、16ビットのデータの場合には16個設けられる。また、回路部70,80,90、及びデータインバージョン端子DATAINVは、データのビット数に限らず1つ設けられている。なお、図中のノードN2は、各回路部aの回路部60の後述するコンデンサ62に接続されている。
プリチャージ時には、ビットの数の回路部60と、トランスファー回路91、及び容量Ca(Caの値は、Cの値より小さく、本実施例では、C/2である。)のコンデンサ92により構成されている回路部90とによって、ノードN2の電位Vc2を基準電位Vref(1/2×VDDより、コンデンサ92に相当する電位分高くなっている。)にする。これを等価回路で表わすと、図3(a)に示す等価回路になる。なお、これは、上記の天秤の右側に基準の錘を載せる動作である。
判定時には、ノードN1が回路部50の出力(GND、或いは、VDD)に接続される。そして、GNDに接続された個数(次出力データと現在出力データとの論理が同じビットの数)と、VDDに接続された個数(次出力データと現在出力データとの論理が異なるビットの数)により、ノードN2の電位Vc2が変動する。これを等価回路で表わすと、図3(b)のようになり、図中のnは、次出力データと現在出力データとの論理が異なるビットの数である。これから分かるように、次出力データと現在出力データの論理の異なるビットの数が半数を超える場合にはノードN2の電位Vc2は基準電位Vrefより大きくなり、論理の異なるビットの数が半数以下の場合にはノードN2の電位Vc2は基準電位Vrefより小さくなる。なお、この判定時の動作でVDDに接続されることが、天秤回路7の左側に一つ錘を載せる動作である。
ここで、コンデンサ92を加えているため、例えば、16ビットのデータの場合に論理の異なるビットの数が8ビットであっても判定時のノードN2の電位Vc2は基準電位Vrefより低くなるので、非反転の状態となる。これによって、反転、非反転の判定のあいまいさを防ぐことができる。
判定時、次出力データと現在出力データの論理の異なるビットの数が半数を超える場合には、ノードN2の電位Vc2が基準電位Vrefより大きくなることから、回路部70は、インバータ回路72による反転増幅により、“Lo”レベルの信号INVoutを出力する(反転)。これが、インバータ回路INVで反転されて、データインバージョン端子DATAINVへは、“Hi”レベルの信号が出力されることになる。
一方、次出力データと現在出力データの論理の異なるビットの数が半数以下である場合には、ノードN2の電位Vc2が基準電位Vrefより小さくなることから、回路部70は、インバータ回路72による反転増幅により、“Hi”レベルの信号INVoutを出力する(非反転)。これが、インバータ回路INVで反転されて、データインバージョン端子DATAINVへは、“Lo”レベルの信号が出力されることになる。
なお、インバータ回路INVを設けずに、反転の場合に“Lo”レベルを、非反転の場合に“Hi”レベルの信号を、データインバージョン端子DATAINVへ出力するようにしてもよい。この場合、インバージョン線の信号レベルを逆に使うことになる。
2つの入力の論理が同じ場合には、EX−NOR回路51の出力は“Hi”レベルになり、この出力がインバータ回路52、及びトランスファー回路53を通って、“Lo”レベル(“GND”レベル)となって、回路部50から出力される(動作204)。
一方、2つの入力の論理が異なる場合には、EX−NOR回路51の出力は“Lo”レベルになり、この出力がインバータ回路52、及びトランスファー回路53を通って、“Hi”レベル(“VDD”レベル)となって、回路部50から出力される(動作205)。
電位Vc2が基準電位Vrefより小さい場合には、インバージョン信号INVoutは“Hi”レベルになり、反転させられた“Lo”レベルの信号がデータインバージョン端子DATAINVへ出力される(動作207)。
一方、電位Vc2が基準電位Vrefより大きい場合には、インバージョン信号INVoutは“Lo”レベルになり、反転させられた“Hi”レベルの信号がデータインバージョン端子DATAINVへ出力される(動作208)。
このクロックNEXTが“Hi”レベルの期間(反転/非反転制御期間)では、クロックNEXTがインバータ回路84で反転させられたクロックNEXTBは、“Lo”レベルであるので、クロックドインバータ32は閉じる。
そして、インバージョン信号INVoutが“Lo”レベルの場合(次出力データと現在出力データの論理が異なるビットの数が半数を超える場合)には、インバージョン信号INVoutをインバータ回路81で反転させた反転信号は“Hi”レベルとなり、NAND回路82の2つの入力がともに“Hi”レベルになって、NAND回路82の出力(反転転送信号)は“Lo”レベルとなり、各回路部aのトランスファー回路22が開く。
また、NAND回路83には、“Lo”レベルのインバージョン信号INVoutがそのまま入力されるので、NAND回路83の出力(非反転転送信号)は“Hi”レベルのままで、各回路部aのトランスファー回路23は閉じたままである。
このとき、回路部10で保持されていた次出力データが、回路部20内のインバータ回路21およびトランスファー回路22を通り、回路部30に到達する。
その後、クロックNEXTの立ち下がりエッジで、NAND回路82の出力(反転転送信号)が“Hi”レベルになって、トランスファー回路22が閉じ、クロックドインバータ回路32が開いて、回路部30は到達していたデータをラッチする(動作209)。
また、NAND回路82には、インバージョン信号INVoutをインバータ回路81で反転させた“Lo”レベルの信号が入力されるので、NAND回路82の出力(反転信号)は“Hi”レベルのままで、各回路部aのトランスファー回路22は閉じたままである。
このとき、回路部10で保持されていた次出力データが、回路部20内のトランスファー回路23を通り、反転させられることなく、回路部30に到達する。
その後、クロックNEXTの立ち下がりエッジで、NAND回路83の出力(非反転信号)が“Hi”レベルになって、トランスファー回路22が閉じ、クロックドインバータ回路が開いて、回路部30は到達していたデータをラッチする(動作210)。
また、コンデンサ62を基準電位の発生用と比較電位の発生用に共用しているため、素子数を減らすことができ、この結果、回路全体のレイアウトサイズを小さくすることができる。
2 反転/非反転転送回路
3 現在データ保持回路
4 出力バッファ回路
5 反転/非反転(1ビット)判定回路
6 錘付加回路
7 天秤回路
8 反転/非反転制御回路
DATAINV データインバージョン端子
10、20、30、40、50、60、70、80 回路部
62 コンデンサ
N1、N2 ノード
Claims (5)
- データバスへ次に出力するデータである次出力データを保持するビット毎に設けられた次データ保持回路と、
データバスへ現在出力しているデータである現在出力データを保持するビット毎に設けられた現在データ保持回路と、
反転信号により前記次出力データの論理を反転させて前記現在データ保持回路へ転送し、非反転信号により前記次出力データの論理を反転させることなく前記現在データ保持回路へ転送するビット毎に設けられた反転/非反転転送回路と、
前記次出力データと前記現在出力データとの論理をビット単位で比較するビット毎に設けられた比較回路と、
基準電位を発生させると共に、各前記比較回路による比較結果に基づいて論理の異なるビットの数に応じた比較電位を発生させる電位発生回路と、
前記電位発生回路により発生させられた前記基準電位と前記比較電位とを比較し、各前記反転/非反転転送回路における次出力データの反転か非反転かを決定する反転/非反転決定回路と、
前記反転/非反転決定回路による決定結果に基づいて各前記反転/非反転転送回路へ前記反転信号又は非反転信号を出力する反転/非反転制御回路と、
を備えたことを特徴とする多数決回路。 - 前記電位発生回路は、各前記比較回路に対して容量Cのコンデンサを有しており、基準電位及び比較電位の発生箇所であるノードを、基準電位発生時には、予め定められた個数分の前記コンデンサを介してVDDレベルの電位に接続し、データのビット数から前記予め定められた個数を引いた分の前記コンデンサを介してGNDレベルに接続することによって前記基準電位を発生させ、比較電位発生時には、各前記比較回路の出力に各前記比較回路に対応するコンデンサを介して接続することによって前記比較電位を発生させることを特徴とする請求項1に記載の多数決回路。
- 基準電位発生時に、前記ノードを容量Cより小さい容量のコンデンサを介してVDDレベルの電位に接続することを特徴とする請求項2に記載の多数決回路。
- 前記反転/非反転決定回路による決定結果を保持する保持回路をさらに備えたことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の多数決回路。
- 前記反転/非反転決定回路は、チョッパコンパレータとしての第1インバータ回路を備えており、
前記反転/非反転決定回路による出力が入力される、前記第1インバータ回路の第1閾値より値の大きい第2閾値を持つ第2インバータ回路と前記第1インバータ回路の第2閾値より値の小さい第3閾値を持つ第3インバータ回路とを有し、前記比較電位が前記第3閾値より大きく前記第2閾値より小さい場合には非反転と決定する非反転強制回路を有することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の多数決回路。
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