JP4269531B2

JP4269531B2 - Information processing device with logout function

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Publication number: JP4269531B2
Application number: JP2001064334A
Authority: JP
Inventors: 憲男古石; 利晋宮越
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 2001-03-08
Filing date: 2001-03-08
Publication date: 2009-05-27
Anticipated expiration: 2021-03-08
Also published as: JP2002267720A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はスキャン機能によりメモリに格納されている装置ログ情報を間接的にログアウトする診断装置を備える情報処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、情報処理装置の高性能化・高集積化が進展し、またメモリ素子の大容量化、低価格化により情報処理装置内に大容量のメモリを装備することが可能になり、情報処理装置の動作状況の調査、および障害解析に多くの装置ログ情報の採取が必要となってきている。このため装置ログ情報のログアウトに要する時間も増加する傾向にあり、特にスキャン機能を使用してログアウトを実施する情報処理装置においては、間接的なスキャンアクセスされるメモリに格納されている装置ログ情報を採取する場合には、いくつかの手順を実行する必要があり、その手順を実行する過程でログアウトに要する時間がさらに増大するという問題がある。
【０００３】
このような問題を解消する第一の方法として、メモリから読み出したデータを格納するフリップフロップをスキャンアウトする毎にメモリに入力されるアドレスの値を自動的に＋１することで間接的なスキャンアクセスされるメモリに格納されている装置ログ情報の採取時に必要な手順を削減することにより、ログアウトに要する時間を短縮させる特開平５−１６５６７０号公報に記載の方法等が知られている。
【０００４】
第二の方法としては、ログアウトモードに応じて異なる装置ログ情報をログアウトし、装置ログ情報の量を削減しログアウトに要する時間を短縮させる特開平５−２５０１９４号公報に記載の方法等が知られている。
【０００５】
図３はフリップフロップに対するスキャン動作を説明する図である。
以下に、図３を用いて、フリップフロップへのスキャンイン動作とスキャンアウト動作について説明する。ここで、全てのスキャン動作対象フリップフロップは、ユニークなスキャンアドレスが割り当てられているものとする。図３において、300、320はスキャンインおよびスキャンアウトの対象となるフリップフロップ、310は通常論理からフリップフロップ300に入力される入力信号、330は通常論理からフリップフロップ320に入力される入力信号、312はフリップフロップ300に入力されるクロック信号、332はフリップフロップ320に入力されるクロック信号、311はフリップフロップ300からの出力信号、331はフリップフロップ320からの出力信号、152はスキャン制御部121で生成されたスキャンコマンド信号、153はスキャン制御部121で生成されたスキャンアドレス信号、154はスキャン制御部121で生成されたスキャンインデータ信号、301、302はデコーダ、303、304、305、323、324、325はAND素子、313はスキャンコマンド信号152をデコーダ301でデコードして生成されるスキャンアウト動作を示す制御信号、314はスキャンコマンド信号152をデコーダ301でデコードして生成されるスキャンイン動作を示す制御信号、318はスキャンアドレス信号153をデコーダ302でデコードして生成されるフリップフロップ300を選択する制御信号、338はスキャンアドレス信号153をデコーダ302でデコードして生成されるフリップフロップ320を選択する制御信号、316はクロック信号312と入力信号310とは無関係にフリップフロップ300の出力信号311の値を‘1’にセットするセット信号、336はクロック信号332と入力信号330とは無関係にフリップフロップ320の出力信号331の値を‘1’にセットするセット信号、317はクロック信号312と入力信号310とは無関係にフリップフロップ300の出力信号311の値を‘0’にリセットするリセット信号、337はクロック信号332と入力信号330とは無関係にフリップフロップ320の出力信号331の値を‘0’にリセットするリセット信号、319はフリップフロップ300のスキャンアウトデータ信号、339はフリップフロップ320のスキャンアウトデータ信号、359はフリップフロップ300およびフリップフロップ320以外のスキャンアウトデータ信号、360はOR素子、361は複数のフリップフロップから選択されたスキャンアウト信号である。
【０００６】
フリップフロップ300に対してスキャンインを行う場合、スキャンアドレス信号153はフリップフロップ300に割り当てられたスキャンアドレスを示し、スキャンコマンド信号152はスキャンイン動作を示している。このため、フリップフロップ300を選択する制御信号318が‘１’に、スキャンイン動作を示す制御信号314が‘１’になる。ここでスキャンデータ信号154が‘１’の場合、AND素子303を介してフリップフロップ300のセット信号316が‘１’になり、フリップフロップ300の出力信号311を‘１’にセットする。また、スキャンインデータ154が‘0’の場合、AND素子304を介してフリップフロップ300のリセット信号317が‘１’になり、フリップフリップ300の出力信号311を‘0’にリセットする。このとき、フリップフロップ320を選択する制御信号338は‘0’であるため、フリップフロップ320のセット信号33６およびフリップフロップ320のリセット信号33７は共に‘0’であるため、フリップフロップ320の出力信号331は変化しない。同様に他のフリップフロップを選択する信号も‘0’であるため他のフリップフロップの出力信号も変化しない。
【０００７】
またフリップフロップ300に対してスキャンアウトを行う場合、スキャンアドレス信号153はフリップフロップ300に割り当てられたスキャンアドレスを示し、スキャンコマンド信号152はスキャンアウト動作を示している。このため、フリップフロップ300を選択する制御信号318が‘１’に、スキャンアウト動作を示す制御信号313が‘１’になる。そしてフリップフロップ300の出力信号311は、AND素子305を介してスキャンフリップフロップ300のスキャンアウトデータ信号319に出力される。このとき、フリップフロップ320を選択する制御信号338は‘0’であるため、フリップフロップ320のスキャンアウトデータ信号339は‘0’である。同様に他のフリップフロップを選択する信号も‘0’であるため、他のフリップフロップのスキャンアウト信号359も‘0’である。このため、OR素子360を介して選択されたスキャンアウト信号361には、フリップフロップ300のスキャンアウト信号319の値が出力される。
【０００８】
このように、各フリップフロップに対しては、直接データをスキャンイン、スキャンアウトすることができる。しかし、メモリに対しては、フリップフロップに対するスキャンと同様の方法により直接データをスキャンイン、スキャンアウトすることができないため、特開平５−１６５６７０号公報に記載のような間接的なスキャンアクセスによりメモリ内に格納されているデータを読み出す方法が一般的である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
複数のログアウト対象メモリを含む装置の装置ログ情報のログアウトにおいて、同じメモリの不連続な領域に格納されている装置ログ情報や異なったメモリに格納されている装置ログ情報のログアウトを、オペレータ操作によるログアウト実行や障害発生によるログアウト実行といったログアウトを実行するモードに応じて異なる装置ログ情報を、共通的に且つ高速に記憶装置にログアウトするログアウト機能つき情報処理装置を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明は、間接接的にスキャンアクセスされる複数のメモリに対して、複数のログアウト対象メモリに対するメモリアドレスを共通に保持する第一保持手段と前記複数のログアウト対象メモリから読み出した出力データを共通に保持する第二保持手段と複数のログアウト対象メモリを識別する識別フラグを保持する第一識別手段と前記第一識別手段に保持された識別フラグに応じて前記複数のログアウト対象メモリからの出力データのうち１つを選択して前記第二保持手段に転送するログデータ選択手段とを設ける。これらの手段を用いて間接的なスキャンアクセスにてメモリデータをログアウトすることにより、診断装置における複数メモリのログアウト処理を共通化することが可能となり、各メモリの物理構成に対応したプログラムを作成する必要がなくなる。
【００１１】
又、ログアウト対象メモリ識別フラグに応じて選択されたログアウト対象メモリからのメモリデータを一エントリ分前記第二保持手段に読み出す毎にアドレスを更新するメモリアドレス更新回路を設ける。このメモリアドレス更新回路により、ログアウト対象メモリや不連続なメモリ内領域のログアウト手順を簡素化することが可能になり、診断装置から処理装置へのデータ転送要求増加にともなうログアウト時間の増加を抑える。
【００１２】
さらに、アドレス更新モードを識別するアドレス更新モード識別フラグを保持する第二識別手段と、前記第二識別手段に指定され識別フラグに応じて、ログアウト対象メモリ識別フラグ、ログアウト対象メモリアドレスの生成およびメモリアドレスを更新するメモリアドレス更新回路を設ける。この第二識別手段によりログアウトモードにより異なるログアウト対象メモリやメモリ内領域を認識し、前記メモリアドレス更新回路の更新方法を変更することにより、オペレータ操作によるログアウト実行や障害発生によるログアウト実行といったログアウトを実行するモードに関わらず共通的に、ログアウト対象メモリや不連続なメモリ内領域のログアウト手順を簡素化することが可能になり、同じメモリの不連続な領域に格納されている装置ログ情報や異なったメモリに格納されている装置ログ情報をログアウトする毎に、装置ログ情報のアドレスのスキャンインを実行する必要がなくなる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下本発明によるログアウト方式の実施例を示す。
まず診断装置からのスキャン機能によりログアウトするメモリの識別、メモリアドレスの更新を制御する一実施例を図２と図４と図６を用いて説明する。図２において、100は診断装置、110は処理装置120からログアウトしたデータを格納する記憶装置、120は処理装置、121は診断装置100からスキャン伝送路150を介して受信したデータを解析し、また212、213等のスキャンアウトデータ信号を選択しスキャン伝送路150を介して診断装置100に送信するスキャン制御部、122は障害検出部、150は診断装置100とスキャン制御部121を接続するスキャン伝送路、151は障害検出部122から診断装置100に接続される障害検出信号、152は診断装置100からスキャン伝送路150を介して受信したデータをスキャン制御部121で解析して生成されたスキャンコマンド信号、153は診断装置100からスキャン伝送路150を介して受信したデータをスキャン制御部121で解析して生成されたスキャンアドレス信号、154は診断装置100からスキャン伝送路150を介して受信したデータをスキャン制御部121で解析して生成されたスキャンインデータ信号、143、144はメモリ、220はメモリ143の制御を行うメモリ周辺論理、221はメモリ144の制御を行うメモリ周辺論理、135は通常動作時のメモリ143のアドレス信号、136は通常動作時のメモリ144のアドレス信号、200、206はセレクタ素子、204、210は＋１インクリメンタ、203はメモリ143の動作モードを格納するフリップフロップ、201はメモリ143のアドレスを格納するフリップフロップ群、205はメモリ143のデータを格納するフリップフロップ群、202はセレクタ200の切り替え信号、139はメモリ143のアドレス信号、141はメモリ143のリードデータ信号、212はデータを格納するフリップフロップ群205のスキャンアウトデータ信号、209はメモリ144の動作モードを格納するフリップフロップ、207はメモリ144のアドレスを格納するフリップフロップ群、211はメモリ144のデータを格納するフリップフロップ群、208はセレクタ206の切り替え信号、140はメモリ144のアドレス信号、142はメモリ14４のリードデータ信号、213はデータを格納するフリップフロップ群211のスキャンアウトデータ信号である。
【００１４】
またメモリ143、メモリ144の全領域をログアウトするとログアウトに要する時間が大きくなるため、ログアウト実行するモードに応じてログアウトすべき装置ログ情報を選択し、ログアウト実行するモードに応じた許容時間内で採取できるように、装置ログ情報の量を抑える必要がある。ここではログアウトすべき装置ログ情報は、図４に示すように、メモリ143の物理アドレスx1000’からx2FFF’の領域、メモリ144の物理アドレスx0000’からx1FFF’の領域と物理アドレスx4000’からx6FFF’の領域に格納されているものとし、それぞれの領域に格納されているデータを説明の便宜上、ログデータ0、ログデータ１、ログデータ2と称する。さらに、診断装置100が装置ログ情報を採取するモードとしては、オペレータ操作時と障害発生時の２種類を例とする。オペレータ操作時には、詳細な装置ログ情報を採取する必要があるが、先にも述べたようにメモリ143、メモリ144の全領域をログアウトするとログアウトに要する時間が大きくなるため、オペレータ操作時のログアウトの許容時間内で採取でき、動作解析に必要と思われる必要最小限の装置ログ情報を採取する。ここでは、オペレータ操作時には、ログデータ0とログデータ１とログデータ２を採取するものとする。同様に障害発生時のログアウト実行においても、障害発生時のログアウトの許容時間内で採取でき、障害解析に必要最小限の装置ログ情報のみを採取する。障害発生時には、ログアウト処理を早急に終え障害回復処理に移行する必要があるため、オペレータ操作時に比べて障害発生時のログアウトの許容時間の方が短く、採取できる装置ログ情報の量も少ない。ここでは、障害発生時には、ログデータ0とログデータ２を採取するものとする。
【００１５】
図２に示す様な情報処理装置において、図４に示す様にメモリに格納されているデータをオペレータ操作によりログアウトする場合の前記情報処理装置の動作について図６のフローチャートにより説明する。
処理装置120が動作中に、診断装置100がメモリ143に格納されている装置ログ情報を読み出すことができないため、診断装置100は、メモリ143の動作モードを格納するフリップフロップ203にスキャンインでスキャンモードを設定することにより、処理装置120の動作を中断させ、スキャン機能を用いて間接的にメモリ143を読み出すために必要な機能を有効にする。処理装置120では、動作モードを格納するフリップフロップ203にスキャンモードがセットされたため切り替え信号202が有効になり、セレクタ素子200はアドレスを格納するフリップフロップ群201の入力信号を＋１インクリメンタ204の出力信号に切り替える（ステップ６０１）。
【００１６】
診断装置100は、メモリ143のアドレスを格納するフリップフロップ群201にログデータ0の先頭の物理アドレスであるx1000'をスキャンインにて設定する。メモリ周辺論理220はスキャンモード時にアドレスを格納するフリップフロップ群201へのスキャンインが終了したことを検出すると、メモリ143のデータ読み出しを実行し、読み出したデータを格納するフリップフロップ群205に格納する（ステップ６０２）。
【００１７】
診断装置100は、データを格納するフリップフロップ群205をログデータ0のデータ量分スキャンアウトし、スキャンアウトデータを記憶装置110に格納する。メモリ周辺論理220はスキャンモード時にデータを格納するフリップフロップ群205のスキャンアウトが終了する毎に、アドレスを格納するフリップフロップ群201の内容を更新する。このときアドレスを格納するフリップフロップ群201の入力信号は、＋１インクリメンタ204の出力信号であるため＋１されたアドレスがアドレスを格納するフリップフロップ群201に格納される。またメモリ周辺論理220は、スキャンモード時にアドレスを格納するフリップフロップ群201が更新される毎に、メモリ143のデータ読み出しを実行し、読み出したデータを格納するフリップフロップ群205に格納する（ステップ６０３）。
【００１８】
診断装置100は、メモリ143の動作モードを格納するフリップフロップ203にスキャンインしスキャンモードを解除する。動作モードを格納するフリップフロップ203のスキャンモードが解除されたため切り替え信号202が無効になり、セレクタ素子200はアドレスを格納するフリップフロップ群201の入力信号を通常動作時のメモリ143のアドレス信号135に切り替える（ステップ６０４）。
【００１９】
診断装置100は、メモリ144の動作モードを格納するフリップフロップ209にスキャンインしスキャンモードを設定することにより、処理装置120の動作を中断させ、スキャン機能を用いて間接的にメモリ144を読み出すために必要な機能を有効にする。処理装置120では、動作モードを格納するフリップフロップ209にスキャンモードがセットされたため切り替え信号208が有効になり、セレクタ素子206はアドレスを格納するフリップフロップ群207の入力信号を＋１インクリメンタ210の出力信号に切り替える（ステップ６０５）。
【００２０】
診断装置100は、メモリ144のアドレスを格納するフリップフロップ群207にログデータ1の先頭の物理アドレスであるx0000'をスキャンインにて設定する。メモリ周辺論理221はスキャンモード時にアドレスを格納するフリップフロップ群207へのスキャンインが終了したことを検出すると、メモリ144のデータ読み出しを実行し、読み出したデータを格納するフリップフロップ群211に格納する（ステップ６０６）。
【００２１】
診断装置100は、データを格納するフリップフロップ群211をログデータ1のデータ量分スキャンアウトし、記憶装置110に格納する。メモリ周辺論理221はスキャンモード時にデータを格納するフリップフロップ群211のスキャンアウトが終了する毎に、アドレスを格納するフリップフロップ群207の内容を更新する。このときアドレスを格納するフリップフロップ群207の入力信号は、＋１インクリメンタ210の出力信号であるため＋１されたアドレスがアドレスを格納するフリップフロップ群207に格納される。またメモリ周辺論理221は、スキャンモード時にアドレスを格納するフリップフロップ群207が更新される毎に、メモリ144のデータ読み出しを実行し、読み出したデータを格納するフリップフロップ群211に格納する（ステップ６０７）。
【００２２】
診断装置100は、メモリ144のアドレスを格納するフリップフロップ群207にログデータ2の先頭の物理アドレスであるx4000'をスキャンインにて設定する。メモリ周辺論理221の動作はステップ606と同じである（ステップ６０８）。
【００２３】
診断装置100は、データを格納するフリップフロップ群211のログデータ2のデータ量分スキャンアウトし、記憶装置110に格納する。メモリ周辺論理221の動作はステップ607と同じである（ステップ６０９）。
【００２４】
診断装置100は、メモリ144の動作モードを格納するフリップフロップ209にスキャンインでスキャンモードを解除する。動作モードを格納するフリップフロップ209のスキャンモードが解除されたため切り替え信号208が無効になり、セレクタ素子206はアドレスを格納するフリップフロップ群207の入力信号を通常動作時のメモリ144のアドレス信号136に切り替える（ステップ６１０）。
【００２５】
また、障害発生時のログアウト実行時の動作については、上記のログアウト動作からステップ606とステップ607の処理ステップを削除したものとなる。
【００２６】
次に診断装置からのスキャン機能による指示をきっかけにして、以後ログアウトするメモリの識別、メモリアドレスの更新をアドレス更新回路により制御する本発明の他の実施例を図1，図５，図７を用いて詳細に説明する。図１は本発明の他の実施形態によるメモリに格納されている装置ログ情報のログアウトを行う情報処理装置のブロック図であり、図５は本発明の他の実施形態によるメモリアドレス更新回路関連情報を格納するフリップフロップ群の詳細を示す図であり、図７は本発明の他の実施形態によるメモリに格納されている装置ログ情報のログアウトを行う場合の診断装置の処理を示すフローチャート図である。
【００２７】
図１において、123はログアウト制御部、124はメモリアドレス更新回路、160は第二識別手段を具現化した更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ、161は第一識別手段を具現化したメモリ識別フラグを格納するフリップフロップ、162は第一保持手段を具現化し、アドレスを格納するフリップフロップ群、170はメモリアドレス更新回路124と更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ160とメモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161とアドレスを格納するフリップフロップ群162を含むメモリアドレス生成部、127は更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ160の出力信号である更新モード識別フラグ信号、128はメモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161の出力信号であるメモリ識別フラグ信号、129はアドレスを格納するフリップフロップ群162の出力信号であるアドレス信号、126は動作モードを格納するフリップフロップ、125は動作モードを格納するフリップフロップ126の出力信号である動作モード切り替え信号、137は動作モード切り替え信号125に従ってメモリ143のアドレス信号139をメモリアドレス信号129と通常動作時のメモリ143のアドレス信号135のどちらかに切り替えるセレクタ素子、138は動作モード切り替え信号125に従ってメモリ144のアドレス信号140をメモリアドレス信号129と通常動作時のメモリ144のアドレス信号136のどちらかに切り替えるセレクタ素子、132はメモリ識別フラグ信号128に従ってメモリ143のリードデータ信号141とメモリ144のリードデータ信号142を選択するログデータ選択回路、131はログデータ選択回路132に選択されたログデータ信号、130は第二保持手段を具現化したログデータ131を格納するフリップフロップ群であり、155はログデータ131を格納するフリップフロップ群130のスキャンアウトデータ信号、その他は図２と同じである。
また、ログアウトすべき装置ログ情報は、図４に示される領域に格納されているものとする。
【００２８】
更に、メモリアドレス更新回路関連情報は、図５に示すように第一識別手段であるメモリ識別フラグと第二識別手段である更新モード識別フラグと第一保持手段であるアドレスを含む。ここで、メモリ識別フラグが‘０’時はアドレスはメモリ143内の領域を示し、メモリ識別フラグが‘１’時はアドレスはメモリ144内の領域を示し、更新モード識別フラグが‘０’時はオペレータ操作によるログアウトに対応したメモリ識別フラグとアドレスの更新を更新モード識別フラグ信号127を介してメモリアドレス更新回路124に指示し、更新モード識別フラグが‘１’時は障害発生によるログアウトに対応したメモリ識別フラグとアドレスの更新を更新モード識別フラグ信号127を介してメモリアドレス更新回路124に指示するものとする。
【００２９】
図１に示す情報処理装置において、図４に示す様にメモリに格納されているデータをログアウトする場合の前記情報処理装置の動作について図７のフローチャートにより説明する。ログアウトは、オペレータ操作により診断装置100にログデータの採取指示が与えられるか、障害検出部122が処理装置120内の障害を検出し、障害検出信号151を介して診断装置100に障害の発生が通知されることにより開始される。
【００３０】
診断装置100は、動作モードを格納するフリップフロップ126にスキャンインしスキャンモードを設定することにより、処理装置120の動作を中断させ、ログアウト制御部123の機能を有効にする（ステップ７０１）。
【００３１】
診断装置100は、ログアウトが開始されたモードに即して、更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ160、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161、アドレスを格納するフリップフロップ群162に値を設定する。オペレータ操作によってログアウトが開始された場合、更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ160に‘０’、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161に‘０’、アドレスを格納するフリップフロップ群162にログデータ0の先頭のアドレスであるx'1000’をスキャンインで設定する。また、障害検出によってログアウトが開始された場合、更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ160に‘１’、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161に‘０’、アドレスを格納するフリップフロップ群162にログデータ0の先頭のアドレスであるx'1000’をスキャンインで設定する。ログアウト制御部123は、更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ160、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161、アドレスを格納するフリップフロップ群162への全てのスキャンインが終了したことを検出すると、メモリからデータ読み出しを実行し、読み出されたデータはメモリ識別フラグ信号128に従ってログデータ選択回路132で選択され、データを格納するフリップフロップ群130に格納される（ステップ７０２）。
【００３２】
診断装置100は、ログアウトが開始されたモードに即して、ログデータを格納するフリップフロップ群130を必要なデータ量分スキャンアウトし、記憶装置1１0に格納する。オペレータ操作によってログアウトが開始された場合はログデータ0とログデータ1とログデータ2の合計のデータ量分スキャンアウトを実行し、障害検出によってログアウトが開始された場合はログデータ0とログデータ2の合計のデータ量分スキャンアウトを実行する。ログアウト制御部123は、ログデータを格納するフリップフロップ群130のスキャンアウトが終了する毎に、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161とアドレスを格納するフリップフロップ群162の内容を更新する。このとき、オペレータ操作によってログアウトが開始された場合は更新モード識別フラグが‘０’であるため、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161とアドレスを格納するフリップフロップ162にはメモリアドレス更新回路124がオペレータ操作時のログアウトに即して更新した値が格納される。具体的には、メモリアドレス更新回路124に値が‘０’であるメモリ識別フラグ信号128と値がx2FFF’であるアドレス信号129が入力されると、メモリ識別フラグが‘１’で且つアドレスがx0000’である出力信号を生成し、値が‘１’であるメモリ識別フラグ信号128と値がx1FFF’であるアドレス信号129が入力されると、メモリ識別フラグが‘１’で且つアドレスがx4000’である出力信号を生成し、その他のメモリ識別フラグ信号128とアドレス信号129の組み合わせが入力されると、メモリ識別フラグは変更されず入力されたアドレスに＋１された出力信号を生成さる。また、障害検出によってログアウトが開始された場合は更新モード識別フラグが‘１’であるため、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161とアドレスを格納するフリップフロップ162にはメモリアドレス更新回路124が障害発生時のログアウトに即して更新した値が格納される。具体的には、メモリアドレス更新回路124に値が‘０’であるメモリ識別フラグ信号128と値がx2FFF’であるアドレス信号129が入力されると、メモリ識別フラグが‘１’で且つアドレスがx4000’である出力信号を生成し、その他のメモリ識別フラグ信号128とアドレス信号129の組み合わせが入力されると、メモリ識別フラグは変更されず入力されたアドレスに＋１された出力信号を生成される。ログアウト制御部123は、アドレスを格納するフリップフロップ群162が更新される毎に、メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ161で示されるメモリから、アドレスを格納するフリップフロップ群162で示されるデータの読み出しを実行し、読み出されたデータはログデータ選択回路132を介してログデータを格納するフリップフロップ群130に格納する（ステップ７０３）。
【００３３】
診断装置100は、動作モードを格納するフリップフロップ126にスキャンインしスキャンモードを解除することにより、ログアウト制御部123の機能を無効にする（ステップ７０４）。
【００３４】
以上のことから、オペレータ操作によるログアウトと障害発生といったログアウト実行時のモードの区別なくログアウト手順が共通化され、アドレスを格納するフリップフロップ群162にログデータの先頭アドレスを設定する回数を削減し、不連続なログアウト領域に対して連続的なログアウトが実行可能となる。また、動作モードを格納するフリップフロップ126とメモリアドレスを格納するフリップフロップ群１６２へのスキャンイン、ログデータを格納するフリップフロップ群130からのスキャンアウトのみで各メモリの読み出しが可能であることから、診断装置100のログアウト処理に関するプログラムの設計時には、設計者は各メモリの物理構成や各メモリに対応するを格納するフリップフロップ群といったハードウェア構成を意識する必要がなくなり、又ログアウト処理手順が簡素化される。
【００３５】
【発明の効果】
以上説明したように本発明には、診断装置のログアウト処理に関するプログラム設計時に設計者が、各メモリ等の物理構成や各メモリに対応するアドレスやデータを格納するフリップフロップ群といったハードウェア構成を意識してプログラムを作成する必要がなくなり、またメモリに格納されているデータのログアウト手順を共通化することにより、プログラムの設計が容易になるとういう効果がある。
また本発明には、ログアウト対象メモリや不連続なメモリ内領域に格納されている装置ログ情報のログアウト手順を簡素化し、連続的に且つ高速なログアウトを可能とすることにより、メモリからのログアウトに要する時間を短縮できるという効果がある。
【００３６】
さらに本発明には、オペレータ操作によるログアウト実行や障害発生によるログアウト実行といったログアウトモードにより異なるログアウト対象メモリや不連続なメモリ内領域に格納されている装置ログ情報のログアウト手順を簡素化、および共通化し、さらに連続的に且つ高速なログアウトを可能とすることにより、ログアウトを実行するモードに関わらずメモリからのログアウトに要する時間を短縮できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の他の実施形態によるメモリに格納されれている装置ログ情報のログアウトを行う情報処理装置のブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態によるメモリに格納されている装置ログ情報のログアウトを行う情報処理装置のブロック図である。
【図３】フリップフロップに対するスキャン動作を説明する図である。
【図４】モードに即してログアウトする複数の装置ログ情報の物理アドレスを示す図である。
【図５】本発明の他の実施形態によるメモリアドレス更新回路関連情報を格納するフリップフロップ群の詳細を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態によるメモリに格納されている装置ログ情報のログアウトを行う場合の診断装置の処理を示すフローチャート図である。
【図７】本発明の他の実施形態によるメモリに格納されている装置ログ情報のログアウトを行う場合の診断装置の処理を示すフローチャート図である。
【符号の説明】
100 診断装置
110 記憶装置
120 処理装置
121 スキャン制御部
122 障害検出部
123 ログアウト制御部
124 メモリメモリアドレス更新回路
126 動作モードを格納するフリップフロップ
130 ログデータを格納するフリップフロップ群（第二保持手段）
132 ログデータ選択回路
133、134 メモリ周辺論理
137、138 セレクタ素子
143、144 メモリ
160 更新モード識別フラグを格納するフリップフロップ（第二識別手段）
161 メモリ識別フラグを格納するフリップフロップ（第一識別手段）
162 アドレスを格納するフリップフロップ（第一保持手段）
170 メモリアドレス生成部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an information processing apparatus including a diagnostic apparatus that indirectly logs out apparatus log information stored in a memory by a scan function.
[0002]
[Prior art]
In recent years, high performance and high integration of information processing devices have progressed, and it has become possible to equip information processing devices with large capacity memories due to the increased capacity and lower cost of memory elements. It is necessary to collect a lot of device log information for the investigation of the operation status and the failure analysis. For this reason, the time required for logout of device log information also tends to increase. Especially in an information processing device that performs logout using a scan function, device log information stored in a memory that is indirectly scanned and accessed There is a problem in that it is necessary to execute several procedures, and the time required for logout further increases in the process of executing the procedures.
[0003]
As a first method to solve this problem, an indirect scan access is performed by automatically incrementing the address value input to the memory every time the flip-flop storing the data read from the memory is scanned out. A method described in Japanese Patent Laid-Open No. Hei 5-165670 is known in which the time required for logout is shortened by reducing the procedure required when collecting device log information stored in the memory.
[0004]
As a second method, there is known a method described in Japanese Patent Laid-Open No. 5-250194 that logs out different device log information depending on the logout mode, reduces the amount of device log information, and shortens the time required for logout. ing.
[0005]
FIG. 3 is a diagram for explaining the scan operation for the flip-flop.
Hereinafter, a scan-in operation and a scan-out operation to the flip-flop will be described with reference to FIG. Here, it is assumed that a unique scan address is assigned to all scan operation target flip-flops. In FIG. 3, 300 and 320 are flip-flops to be scanned in and out, 310 is an input signal input from the normal logic to the flip-flop 300, 330 is an input signal input from the normal logic to the flip-flop 320, 312 is a clock signal input to the flip-flop 300, 332 is a clock signal input to the flip-flop 320, 311 is an output signal from the flip-flop 300, 331 is an output signal from the flip-flop 320, and 152 is a scan control unit 121. 153 is a scan address signal generated by the scan control unit 121, 154 is a scan-in data signal generated by the scan control unit 121, 301 and 302 are decoders, 303, 304, 305, and 323 324 and 325 are AND elements, and 313 is a scan-out operation generated by decoding the scan command signal 152 by the decoder 301. 314 is a control signal indicating a scan-in operation generated by decoding the scan command signal 152 by the decoder 301, and 318 is a control for selecting the flip-flop 300 generated by decoding the scan address signal 153 by the decoder 302. 338 is a control signal for selecting the flip-flop 320 generated by decoding the scan address signal 153 by the decoder 302. 316 is the value of the output signal 311 of the flip-flop 300 regardless of the clock signal 312 and the input signal 310. Set signal to be set to '1', 336 is a set signal to set the value of the output signal 331 of the flip-flop 320 to '1' regardless of the clock signal 332 and the input signal 330, 317 is the clock signal 312 and the input signal 310 Regardless of the reset signal, the value of the output signal 311 of the flip-flop 300 is reset to “0”, and 337 is a reset signal regardless of the clock signal 332 and the input signal 330. Reset signal that resets the value of the output signal 331 of the flip-flop 320 to '0', 319 is the scan-out data signal of the flip-flop 300, 339 is the scan-out data signal of the flip-flop 320, 359 is other than the flip-flop 300 and the flip-flop 320 , 360 is an OR element, and 361 is a scan-out signal selected from a plurality of flip-flops.
[0006]
When scan-in is performed on the flip-flop 300, the scan address signal 153 indicates the scan address assigned to the flip-flop 300, and the scan command signal 152 indicates the scan-in operation. For this reason, the control signal 318 for selecting the flip-flop 300 becomes “1”, and the control signal 314 indicating the scan-in operation becomes “1”. Here, when the scan data signal 154 is “1”, the set signal 316 of the flip-flop 300 becomes “1” via the AND element 303, and the output signal 311 of the flip-flop 300 is set to “1”. When the scan-in data 154 is “0”, the reset signal 317 of the flip-flop 300 becomes “1” via the AND element 304 and the output signal 311 of the flip-flop 300 is reset to “0”. At this time, since the control signal 338 for selecting the flip-flop 320 is “0”, the set signal 336 of the flip-flop 320 and the reset signal 337 of the flip-flop 320 are both “0”. 331 does not change. Similarly, since the signal for selecting another flip-flop is also “0”, the output signal of the other flip-flop does not change.
[0007]
When scan-out is performed on the flip-flop 300, the scan address signal 153 indicates a scan address assigned to the flip-flop 300, and the scan command signal 152 indicates a scan-out operation. For this reason, the control signal 318 for selecting the flip-flop 300 becomes “1”, and the control signal 313 indicating the scan-out operation becomes “1”. The output signal 311 of the flip-flop 300 is output to the scan-out data signal 319 of the scan flip-flop 300 via the AND element 305. At this time, since the control signal 338 for selecting the flip-flop 320 is “0”, the scan-out data signal 339 of the flip-flop 320 is “0”. Similarly, since the signal for selecting another flip-flop is also “0”, the scan-out signal 359 of the other flip-flop is also “0”. Therefore, the value of the scan-out signal 319 of the flip-flop 300 is output as the scan-out signal 361 selected via the OR element 360.
[0008]
In this way, data can be directly scanned in and out for each flip-flop. However, since it is not possible to directly scan in and scan out data by a method similar to the scan for flip-flops, the memory can be accessed by indirect scan access as described in JP-A-5-165670. A method of reading out data stored in is generally used.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
In logout of device log information of a device including multiple logout target memories, logout of device log information stored in discontinuous areas of the same memory or device log information stored in different memories can be performed by an operator operation. An object of the present invention is to provide an information processing apparatus with a logout function that logs out different apparatus log information to a storage apparatus in common and at a high speed according to a logout execution mode such as logout execution or logout execution due to occurrence of a failure.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
The present invention provides a first holding means for commonly holding memory addresses for a plurality of logout target memories and a plurality of output data read from the plurality of logout target memories for a plurality of indirectly accessed scan accesses. Output data from the plurality of logout target memories according to the identification flag held in the first identification means and the first identification means held in the first identification means Log data selection means for selecting one of them and transferring it to the second holding means. By logging out memory data by indirect scan access using these means, it becomes possible to share the logout process of multiple memories in the diagnostic device, and create a program corresponding to the physical configuration of each memory There is no need.
[0011]
In addition, a memory address update circuit is provided for updating the address each time the memory data from the logout target memory selected according to the logout target memory identification flag is read to the second holding means. This memory address update circuit makes it possible to simplify the logout procedure for the logout target memory and the discontinuous in-memory area, and suppresses an increase in logout time due to an increase in data transfer requests from the diagnostic apparatus to the processing apparatus.
[0012]
Further, a second identification unit for holding an address update mode identification flag for identifying an address update mode, and a logout target memory identification flag, a logout target memory address generation and a memory according to the identification flag designated by the second identification unit A memory address update circuit for updating the address is provided. This second identification means recognizes different logout target memory and memory area depending on the logout mode, and changes the update method of the memory address update circuit to execute logout such as logout execution by operator operation or logout execution due to failure Regardless of the mode to be used, it is possible to simplify logout procedures for logout target memory and discontinuous in-memory areas, and device log information stored in discontinuous areas of the same memory or different Each time the device log information stored in the memory is logged out, it becomes unnecessary to scan in the address of the device log information.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
An embodiment of the logout method according to the present invention will be described below.
First, an embodiment for controlling the identification of the memory to be logged out and the update of the memory address by the scan function from the diagnostic apparatus will be described with reference to FIG. 2, FIG. 4 and FIG. In FIG. 2, 100 is a diagnostic device, 110 is a storage device that stores data logged out from the processing device 120, 120 is a processing device, 121 analyzes data received from the diagnostic device 100 via the scan transmission path 150, and A scan control unit that selects scan-out data signals such as 212 and 213 and transmits them to the diagnostic apparatus 100 via the scan transmission path 150, 122 is a fault detection unit, and 150 is a scan transmission that connects the diagnostic apparatus 100 and the scan control unit 121. , 151 is a fault detection signal connected from the fault detection unit 122 to the diagnostic device 100, 152 is a scan command generated by analyzing data received from the diagnostic device 100 via the scan transmission path 150 by the scan control unit 121 153 is a scan address signal generated by analyzing the data received from the diagnostic apparatus 100 via the scan transmission path 150 by the scan control unit 121, and 154 is the scan transmission path 1 from the diagnostic apparatus 100 50, a scan-in data signal generated by analyzing the data received via the scan controller 121, 143 and 144 are memories, 220 is a memory peripheral logic for controlling the memory 143, and 221 is a memory 144 control Memory peripheral logic, 135 is the address signal of the memory 143 during normal operation, 136 is the address signal of the memory 144 during normal operation, 200 and 206 are selector elements, 204 and 210 are +1 incrementers, 203 is the operation mode of the memory 143 , 201 is a flip-flop group that stores the address of the memory 143, 205 is a flip-flop group that stores the data of the memory 143, 202 is a switching signal of the selector 200, 139 is an address signal of the memory 143, and 141 is Read data signal of the memory 143, 212 is a scan-out data signal of the flip-flop group 205 for storing data, and 209 is a flip for storing the operation mode of the memory 144 207 is a flip-flop group storing the address of the memory 144, 211 is a flip-flop group storing the data of the memory 144, 208 is a switching signal of the selector 206, 140 is an address signal of the memory 144, 142 is a read of the memory 144 A data signal 213 is a scan-out data signal of the flip-flop group 211 for storing data.
[0014]
Also, logout of all areas of memory 143 and memory 144 increases the time required for logout, so select the device log information that should be logged out according to the logout execution mode, and collect within the allowable time according to the logout execution mode It is necessary to reduce the amount of device log information so that it can be done. Here, as shown in FIG. 4, the device log information to be logged out includes the physical addresses x1000 ′ to x2FFF ′ in the memory 143, the physical addresses x0000 ′ to x1FFF ′ in the memory 144, and the physical addresses x4000 ′ to x6FFF ′. For convenience of explanation, the data stored in the respective areas are referred to as log data 0, log data 1, and log data 2. Furthermore, as modes in which the diagnostic apparatus 100 collects apparatus log information, two types are taken as an example when an operator operates and when a failure occurs. It is necessary to collect detailed device log information at the time of operator operation, but as mentioned above, logout of all areas of the memory 143 and memory 144 increases the time required for logout. Collect the minimum necessary device log information that can be collected within the allowable time and is considered necessary for operation analysis. Here, it is assumed that log data 0, log data 1, and log data 2 are collected during operator operation. Similarly, when logout is executed when a failure occurs, only the minimum device log information necessary for failure analysis can be collected within the allowable logout time when a failure occurs. When a failure occurs, it is necessary to finish logout processing immediately and shift to failure recovery processing. Therefore, the logout allowable time when a failure occurs is shorter and the amount of device log information that can be collected is smaller than when an operator operates. Here, it is assumed that log data 0 and log data 2 are collected when a failure occurs.
[0015]
In the information processing apparatus as shown in FIG. 2, the operation of the information processing apparatus when the data stored in the memory is logged out by an operator operation as shown in FIG. 4 will be described with reference to the flowchart of FIG.
Since the diagnostic device 100 cannot read the device log information stored in the memory 143 while the processing device 120 is operating, the diagnostic device 100 scans into the flip-flop 203 that stores the operation mode of the memory 143. By setting the mode, the operation of the processing device 120 is interrupted, and the function necessary for reading the memory 143 indirectly using the scan function is enabled. In the processing device 120, since the scan mode is set in the flip-flop 203 that stores the operation mode, the switching signal 202 becomes effective, and the selector element 200 outputs the input signal of the flip-flop group 201 that stores the address to the output of the +1 incrementer 204. Switching to a signal (step 601).
[0016]
The diagnostic device 100 sets x1000 ′, which is the first physical address of the log data 0, to the flip-flop group 201 that stores the address of the memory 143 by scan-in. When the memory peripheral logic 220 detects that the scan-in to the flip-flop group 201 storing the address is completed in the scan mode, the memory peripheral logic 220 executes data reading from the memory 143 and stores the read data in the flip-flop group 205 storing the read data. (Step 602).
[0017]
The diagnostic device 100 scans out the flip-flop group 205 storing data by the amount of log data 0, and stores the scan-out data in the storage device 110. The memory peripheral logic 220 updates the contents of the flip-flop group 201 for storing addresses each time the scan-out of the flip-flop group 205 for storing data is completed in the scan mode. At this time, since the input signal of the flip-flop group 201 storing the address is the output signal of the +1 incrementer 204, the address added by +1 is stored in the flip-flop group 201 storing the address. The memory peripheral logic 220 executes data reading from the memory 143 each time the flip-flop group 201 storing addresses is updated in the scan mode, and stores the read data in the flip-flop group 205 storing the read data (step 603). ).
[0018]
The diagnostic apparatus 100 scans into the flip-flop 203 that stores the operation mode of the memory 143 and releases the scan mode. Since the scan mode of the flip-flop 203 storing the operation mode is released, the switching signal 202 becomes invalid, and the selector element 200 converts the input signal of the flip-flop group 201 storing the address to the address signal 135 of the memory 143 during normal operation. Switching (step 604).
[0019]
The diagnostic device 100 scans into the flip-flop 209 that stores the operation mode of the memory 144 and sets the scan mode, thereby interrupting the operation of the processing device 120 and indirectly reading the memory 144 using the scan function. Enable the necessary functions. In the processing device 120, since the scan mode is set in the flip-flop 209 that stores the operation mode, the switching signal 208 becomes valid, and the selector element 206 outputs the input signal of the flip-flop group 207 that stores the address to the output of the +1 incrementer 210 Switching to a signal (step 605).
[0020]
The diagnostic device 100 sets x0000 ′, which is the first physical address of the log data 1, to the flip-flop group 207 that stores the address of the memory 144 by scan-in. When the memory peripheral logic 221 detects that the scan-in to the flip-flop group 207 storing the address is completed in the scan mode, the memory peripheral logic 221 executes data reading from the memory 144 and stores it in the flip-flop group 211 storing the read data. (Step 606).
[0021]
The diagnostic device 100 scans out the flip-flop group 211 storing data for the data amount of the log data 1 and stores it in the storage device 110. The memory peripheral logic 221 updates the contents of the flip-flop group 207 for storing addresses each time the scan-out of the flip-flop group 211 for storing data is completed in the scan mode. At this time, since the input signal of the flip-flop group 207 storing the address is the output signal of the +1 incrementer 210, the address added by +1 is stored in the flip-flop group 207 storing the address. The memory peripheral logic 221 executes data reading from the memory 144 each time the flip-flop group 207 storing the address is updated in the scan mode, and stores it in the flip-flop group 211 storing the read data (step 607). ).
[0022]
The diagnostic device 100 sets x4000 ′, which is the first physical address of the log data 2, to the flip-flop group 207 that stores the address of the memory 144 by scan-in. The operation of the memory peripheral logic 221 is the same as that in step 606 (step 608).
[0023]
The diagnostic device 100 scans out the log data 2 of the flip-flop group 211 that stores the data, and stores it in the storage device 110. The operation of the memory peripheral logic 221 is the same as that in step 607 (step 609).
[0024]
The diagnostic device 100 cancels the scan mode by scan-in to the flip-flop 209 that stores the operation mode of the memory 144. Since the scan mode of the flip-flop 209 storing the operation mode is released, the switching signal 208 becomes invalid, and the selector element 206 converts the input signal of the flip-flop group 207 storing the address into the address signal 136 of the memory 144 during normal operation. Switching (step 610).
[0025]
Further, regarding the operation at the time of logout execution when a failure occurs, the processing steps of Step 606 and Step 607 are deleted from the logout operation described above.
[0026]
Next, referring to FIG. 1, FIG. 5, FIG. 7, another embodiment of the present invention in which the identification of the memory to be logged out and the update of the memory address are controlled by the address update circuit in response to an instruction from the diagnostic device by the scan function. The details will be described. FIG. 1 is a block diagram of an information processing apparatus for logging out apparatus log information stored in a memory according to another embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a memory address update circuit related information according to another embodiment of the present invention. FIG. 7 is a flowchart showing the processing of the diagnostic device when logging out the device log information stored in the memory according to another embodiment of the present invention. .
[0027]
In FIG. 1, 123 is a logout control unit, 124 is a memory address update circuit, 160 is a flip-flop storing an update mode identification flag that embodies second identification means, and 161 is a memory identification flag that embodies first identification means. , A flip-flop group 162 that embodies first holding means and stores an address, 170 a flip-flop 160 that stores a memory address update circuit 124, an update mode identification flag, and a flip-flop that stores a memory identification flag 161 and a memory address generation unit including a flip-flop group 162 for storing an address, 127 is an update mode identification flag signal which is an output signal of the flip-flop 160 for storing an update mode identification flag, and 128 is a flip-flop for storing a memory identification flag The memory identification flag signal 129, which is the output signal of An address signal that is an output signal of the flip-flop group 162, 126 is a flip-flop that stores the operation mode, 125 is an operation mode switching signal that is an output signal of the flip-flop 126 that stores the operation mode, and 137 is an operation mode switching signal 125. A selector element that switches the address signal 139 of the memory 143 to either the memory address signal 129 or the address signal 135 of the memory 143 during normal operation in accordance with the operation mode switching signal 125. And a selector element that switches between the address signal 136 of the memory 144 during normal operation and a log data selection circuit 132 that selects the read data signal 141 of the memory 143 and the read data signal 142 of the memory 144 according to the memory identification flag signal 128, 131 is a log data signal selected by the log data selection circuit 132, 13 Reference numeral 0 denotes a flip-flop group that stores the log data 131 that embodies the second holding means, reference numeral 155 denotes a scan-out data signal of the flip-flop group 130 that stores the log data 131, and others are the same as in FIG.
Further, it is assumed that the apparatus log information to be logged out is stored in the area shown in FIG.
[0028]
Further, as shown in FIG. 5, the memory address update circuit related information includes a memory identification flag as a first identification means, an update mode identification flag as a second identification means, and an address as a first holding means. Here, when the memory identification flag is “0”, the address indicates an area in the memory 143. When the memory identification flag is “1”, the address indicates an area in the memory 144. When the update mode identification flag is “0”. Instructs the memory address update circuit 124 via the update mode identification flag signal 127 to update the memory identification flag and address corresponding to logout by an operator operation. When the update mode identification flag is '1', it corresponds to logout due to the occurrence of a failure. It is assumed that the memory address update circuit 124 is instructed to update the memory identification flag and address via the update mode identification flag signal 127.
[0029]
The operation of the information processing apparatus when the data stored in the memory is logged out as shown in FIG. 4 in the information processing apparatus shown in FIG. 1 will be described with reference to the flowchart of FIG. In logout, the operator is given a log data collection instruction to the diagnostic device 100, or the failure detection unit 122 detects a failure in the processing device 120, and a failure occurs in the diagnostic device 100 via the failure detection signal 151. It starts when notified.
[0030]
The diagnostic device 100 scans into the flip-flop 126 that stores the operation mode and sets the scan mode, thereby interrupting the operation of the processing device 120 and enabling the function of the logout control unit 123 (step 701).
[0031]
The diagnosis apparatus 100 sets values in the flip-flop 160 that stores the update mode identification flag, the flip-flop 161 that stores the memory identification flag, and the flip-flop group 162 that stores the address in accordance with the mode in which logout is started. . When logout is started by an operator operation, '0' is stored in the flip-flop 160 that stores the update mode identification flag, '0' is stored in the flip-flop 161 that stores the memory identification flag, and log data is stored in the flip-flop group 162 that stores the address. Set x'1000 ', which is the first address of 0, to scan-in. Further, when logout is started due to failure detection, '1' is stored in the flip-flop 160 storing the update mode identification flag, '0' is stored in the flip-flop 161 storing the memory identification flag, and the flip-flop group 162 storing the address is stored. Set x'1000 ', which is the first address of log data 0, by scan-in. When the logout control unit 123 detects that all the scan-ins to the flip-flop 160 that stores the update mode identification flag, the flip-flop 161 that stores the memory identification flag, and the flip-flop group 162 that stores the address are completed, the memory The read data is selected by the log data selection circuit 132 according to the memory identification flag signal 128 and stored in the flip-flop group 130 for storing the data (step 702).
[0032]
The diagnostic device 100 scans out the flip-flop group 130 storing log data by a necessary amount in accordance with the mode in which logout is started, and stores it in the storage device 10. When logout is started by operator operation, scan out is executed for the total amount of log data 0, log data 1 and log data 2, and when logout is started due to failure detection, log data 0 and log data 2 Perform a scan-out for the total amount of data. The logout control unit 123 updates the contents of the flip-flop group 161 that stores the memory identification flag and the flip-flop group 162 that stores the address each time the scan-out of the flip-flop group 130 that stores the log data is completed. At this time, when logout is started by an operator operation, the update mode identification flag is “0”. Therefore, the memory address update circuit 124 is included in the flip-flop 161 storing the memory identification flag and the flip-flop 162 storing the address. Stores the value updated according to the logout at the time of operator operation. Specifically, when the memory identification flag signal 128 having a value of “0” and the address signal 129 having a value of x2FFF are input to the memory address update circuit 124, the memory identification flag is “1” and the address is When an output signal of “x0000” is generated and a memory identification flag signal 128 having a value “1” and an address signal 129 having a value “x1FFF” are input, the memory identification flag is “1” and the address is x4000. When an output signal of 'is generated and another combination of the memory identification flag signal 128 and the address signal 129 is input, the memory identification flag is not changed and an output signal that is incremented to the input address is generated. Further, when logout is started due to failure detection, the update mode identification flag is “1”. Therefore, the memory address update circuit 124 has a failure in the flip-flop 161 storing the memory identification flag and the flip-flop 162 storing the address. Stores the value updated according to the logout at the time of occurrence. Specifically, when the memory identification flag signal 128 having a value of “0” and the address signal 129 having a value of x2FFF are input to the memory address update circuit 124, the memory identification flag is “1” and the address is When an output signal of x4000 ′ is generated and another combination of the memory identification flag signal 128 and the address signal 129 is input, the memory identification flag is not changed and an output signal that is incremented to the input address is generated. . Each time the flip-flop group 162 storing the address is updated, the logout control unit 123 reads the data indicated by the flip-flop group 162 storing the address from the memory indicated by the flip-flop 161 storing the memory identification flag. The read data is stored in the flip-flop group 130 that stores the log data via the log data selection circuit 132 (step 703).
[0033]
The diagnostic apparatus 100 disables the function of the logout control unit 123 by scanning into the flip-flop 126 storing the operation mode and releasing the scan mode (step 704).
[0034]
From the above, the logout procedure is standardized regardless of the mode at the time of logout execution such as logout by operator operation and occurrence of failure, reducing the number of times to set the start address of log data in the flip-flop group 162 that stores the address, Continuous logout can be executed for a discontinuous logout area. Further, each memory can be read out only by scanning into the flip-flop 126 storing the operation mode and the flip-flop group 162 storing the memory address and scanning out from the flip-flop group 130 storing the log data. When designing a program related to logout processing of the diagnostic device 100, the designer does not need to be aware of the physical configuration of each memory and the hardware configuration such as a flip-flop group storing corresponding to each memory, and the logout processing procedure is simplified. It becomes.
[0035]
【The invention's effect】
As described above, in the present invention, when designing a program related to logout processing of a diagnostic device, a designer is aware of the physical configuration of each memory and the hardware configuration such as a flip-flop group storing addresses and data corresponding to each memory. Thus, there is no need to create a program, and a common logout procedure for data stored in the memory is advantageous in that the design of the program becomes easy.
In addition, the present invention simplifies the logout procedure for device log information stored in a logout target memory or a discontinuous memory area, and enables logout from the memory by enabling continuous and high-speed logout. There is an effect that the time required can be shortened.
[0036]
Furthermore, the present invention simplifies and standardizes the logout procedure for the device log information stored in different logout target memory or discontinuous memory areas depending on the logout mode, such as logout execution by an operator operation or logout execution due to failure occurrence. Further, by enabling continuous and high-speed logout, it is possible to reduce the time required for logout from the memory regardless of the mode in which logout is executed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram of an information processing apparatus that logs out apparatus log information stored in a memory according to another embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram of an information processing apparatus that logs out apparatus log information stored in a memory according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating a scan operation for a flip-flop.
FIG. 4 is a diagram illustrating physical addresses of a plurality of device log information for logging out in accordance with a mode.
FIG. 5 is a diagram illustrating details of a flip-flop group storing memory address update circuit related information according to another embodiment of the present invention;
FIG. 6 is a flowchart showing processing of the diagnostic device when logging out the device log information stored in the memory according to the embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a flowchart showing processing of a diagnostic device when logging out device log information stored in a memory according to another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
100 diagnostic equipment
110 Storage device
120 processor
121 Scan control unit
122 Fault detection unit
123 Logout control section
124 Memory Memory address update circuit
126 Flip-flop to store the operation mode
130 Flip-flop group for storing log data (second holding means)
132 Log data selection circuit
133, 134 Memory peripheral logic
137, 138 Selector element
143, 144 memory
160 Flip-flop for storing update mode identification flag (second identification means)
161 Flip-flop for storing memory identification flag (first identification means)
162 Flip-flop for storing addresses (first holding means)
170 Memory address generator

Claims

In an information processing apparatus including a diagnostic device that stores log information read from a processing device by a scan function in a storage device
Identifying the plurality of logout target memories, first holding means for commonly holding memory addresses for a plurality of logout target memories, second holding means for commonly holding output data read from the plurality of logout target memories A first identification unit for holding an identification flag, and selecting one of output data from the plurality of logout target memories according to the identification flag held in the first identification unit and transferring the selected data to the second holding unit Each time the output data from the logout target memory selected according to the logout target memory identification flag held in the first identification unit is read into the second holding unit for one entry. Memory address update circuit for updating the address and address update mode for identifying the address update mode And a second identification means for holding the identification flag,
The memory address update circuit includes an address update mode identification flag held in the second identification unit, a logout target memory identification flag held in the first identification unit, and a logout target memory address held in the first holding unit. In response, an information processing apparatus that generates the logout target memory identification flag and updates the logout target memory address.