JP4247823B2 - High purity Al film forming material manufacturing method, high purity Al film forming material manufacturing apparatus, high purity Al film forming material, and Al film - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高純度Al系膜形成材料の製造方法や製造装置、そしてこれらの方法や装置を用いて得られた高純度Al系膜形成材料、更にはこの高純度Al系膜形成材料を用いて形成された高純度なAl系膜に関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】
トリアルキルアミンアラン[HAl:L](Lはアルキルアミン)は気相中で100〜200℃と言った低温で分解する為、化学気相成長法(CVD)に用いることによって高性能なアルミニウム系膜が得られる。すなわち、低温で分解するので、炭素混入が少ないアルミニウム系膜の気相作成に向いている。
【0003】
ところで、上記トリアルキルアミンアランを用いて作成されたAl系膜、例えばIII−V族系の化合物半導体(AlGaN)にも問題点の残されていることが判って来た。
【0004】
すなわち、上記のような化合物半導体にあってはO(酸素)が性能低下を来たす原因であることが判り、AlGaNを構成する原料であるトリアルキルアミンアランも、酸素(O)量を出来る限り少なくすることが求められるに至った。
【0005】
従って、本発明が解決しようとする課題は、酸素(O)量の少ないHAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物には、基本的には、構成元素Oが無い。従って、一般式 HAl:Lを分解させてAl系膜を作成した場合、HAl:Lに基づいたOが膜中には存在し無い筈である。
しかしながら、微量ではあるが、Al系膜中にOが存在していると言うことは紛れも無い事実であった。
従って、このOは、成膜作業中に作業環境に起因してOが紛れ込んで来たのか、或いは原料(HAl:L)中に酸素が含まれていたかのどちらかであろうと推察するに至った。
【0007】
そこで、先ず、注意深く成膜作業環境を整えて行った。しかしながら、このように行っても、Al系膜中にはOが認められた。
従って、残る原因は、原料(HAl:L)中に酸素が含まれているのであろうと考えざるを得なくなった。
【0008】
そして、HAl:Lの製造工程を仔細に検討して行く中に、HAl:LはMAlH(MはLi等のアルカリ金属)、例えばLiAlHとL(有機アミン)とを反応させて合成されているのであるが、この合成反応容器はガラス製のものであることから、気密性がもう一つであって、これが為に、僅かではあるものの、空気中の酸素が紛れ込むようになるのでは無いかと考えるに至った。
【0009】
そこで、ガラス製の装置に代えて金属製の装置を用いてHAl:Lを製造した処、これは、予想以上の成果を得るに至った。すなわち、金属製の装置を用いてLiAlHとLとを反応させて得られたHAl:Lを分解させて得たAl系膜中のO量を調べた処、従来のガラス製装置を用いてLiAlHとLとを反応させて得られたHAl:Lを分解させて得たAl系膜中のO量に比べて、O量は一桁以上も少ないものであった。つまり、HAl:L中の酸素溶存量は極めて少なく、高純度なものであった。
【0010】
上記知見を基にして本発明が達成されたものである。
すなわち、前記の課題は、一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造装置であって、
前記製造装置は、合成反応工程における反応装置と、合成反応工程後の蒸留工程における蒸留装置とを具備してなり、
前記反応装置、及び/又は蒸留装置における一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触する部分は金属製のものである
ことを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造装置によって解決される。
【0011】
又、一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造装置であって、
前記製造装置は、合成反応工程における反応装置と、合成反応工程後の固形物除去工程における固形物除去装置と、合成反応工程後の蒸留工程における蒸留装置とを具備してなり、
前記反応装置、固形物除去装置、及び/又は蒸留装置における一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触する部分は金属製のものである
ことを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造装置によって解決される。
【0012】
特に、上記装置における装置間の継ぎ手部には金属製パッキンが設けられてなることを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造装置によって解決される。
【0013】
又、一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造方法であって、
前記一般式HAl:Lの接触する部分が金属製のものからなる装置を用いて行われる
ことを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造方法によって解決される。
例えば、一般式 HAl:LのAl化合物の合成反応工程の反応装置、或いは合成反応工程後の固形物除去工程における装置、又は合成反応工程後の蒸留工程における装置が金属製のものからなる。更には、これらの装置の継ぎ手部分に金属製パッキンが用いられている。
【0014】
そして、上記のような技術が採用された場合、ガラス製の装置が用いられて製造された場合に比べて遥かに酸素含有量が少ないHAl:Lが得られていたのである。つまり、このようなHAl:Lを用いて作成したAl系膜中にはO量が極めて少ないものとなっており、そして得られたIII−V族系の化合物半導体などは高性能なものであった。
【0015】
尚、本発明においては、一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の合成に際して用いられるL(有機アミン)や溶媒は脱水および脱酸素処理がなされたものであることが好ましい。
【0016】
又、一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の製造工程におけるHAl:L合成工程は、合成反応工程の反応装置内に該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の原料であるMAlH(MはLi等のアルカリ金属)を不活性雰囲気下で供給するMAlH供給工程と、合成反応工程の反応装置内を真空にする排気工程と、合成反応工程の反応装置内に溶媒を供給する溶媒供給工程と、合成反応工程の反応装置内に該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の原料であるL(有機アミン)を供給するL供給工程とを持っていることが好ましい。尚、これらの工程の順序は特には限定されることが無いものである。
【0017】
本発明において、有機アミン(L)は、特に限定されるものでは無いが、 トリアルキルアミン、飽和環状アミン、不飽和環状アミンが好ましいものであり、特にトリメチルアミン、ジメチルエチルアミン、N−メチルピロリジン、或いはN−メチル−3−ピロリンである場合が最も好ましい。
【0018】
又、本発明は、上記高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなる高純度Al系膜形成材料に関するものである。特に、CVD法(化学気相成長方法)に用いられるものであって、上記高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなる高純度Al系膜形成材料に関するものである。又は、ALE法(原子層成長方法)に用いられるものであって、上記高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなる高純度Al系膜形成材料に関するものである。
【0019】
又、本発明は、上記高純度Al系膜形成材料を分解させ、基体上にAl系膜が設けられてなることを特徴とするAl系膜に関するものである。
【0020】
【発明の実施の形態】
本発明になる高純度Al系膜形成材料の製造装置は、MAlH(MはLi等のアルカリ金属)とL(有機アミン)とを反応させて一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物を製造する製造装置であって、前記製造装置は、合成反応工程における反応装置と、合成反応工程後の蒸留工程における蒸留装置とを具備してなり、前記反応装置や蒸留装置における一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触する部分は金属製のものである。そして、反応に際して、固形物が出来、これを除去しなければならない場合がある。このような場合には、合成反応工程後において固形物除去工程を要する。この固形物除去に必要な固形物除去装置も金属製のものである。尚、一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触する部分、つまり内面側のみならず、全体が金属製のものであっても良いことは勿論である。現実的には、内面側のみならず、装置を構成する部材が金属製のもので構成される。但し、一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触しない部分、例えば付属的な部分が金属以外のもので出来ていても、本発明の特徴を阻害するものでは無いから、差し支えない。更に、装置間の継ぎ手部に設けられたパッキンは金属製のパッキンである。
【0021】
本発明になる高純度Al系膜形成材料の製造方法は、MAlH(MはLi等のアルカリ金属)とL(有機アミン)とを反応させて一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物を製造する製造方法であって、前記一般式HAl:Lの接触する部分が金属製のものからなる装置を用いて行われる。例えば、一般式 HAl:LのAl化合物の合成反応工程の反応装置、或いは合成反応工程後の固形物除去工程における装置、又は合成反応工程後の蒸留工程における装置が金属製のものからなる。特に、装置全てが金属製のものからなる。尚、一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触しない部分、例えば付属的な部分が金属以外のもので出来ていても、本発明の特徴を阻害するものでは無いから、差し支えない。更には、これらの装置の継ぎ手部分に金属製パッキンが用いられている。そして、一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の製造工程におけるHAl:L合成工程は、合成反応工程の反応装置内に該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の原料であるMAlH(MはLi等のアルカリ金属)を不活性雰囲気下で供給するMAlH供給工程と、合成反応工程の反応装置内を真空にする排気工程と、合成反応工程の反応装置内に溶媒を供給する溶媒供給工程と、合成反応工程の反応装置内に該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の原料であるL(有機アミン)を供給するL供給工程とを持っている。
【0022】
本発明においては、一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の合成に際して用いられるLや溶媒は脱水および脱酸素処理がなされたものである。
【0023】
本発明において、有機アミン(L)は、特に限定されるものでは無いが、 トリアルキルアミン、飽和環状アミン、不飽和環状アミンである。特に、トリメチルアミン、ジメチルエチルアミン、N−メチルピロリジン、或いはN−メチル−3−ピロリンである。
【0024】
本発明になる高純度Al系膜形成材料は、上記高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなるものである。特に、CVD法(化学気相成長方法)に用いられるものであって、上記高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなるものである。又、ALE法(原子層成長方法)に用いられるものであって、上記高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなるものである。
【0025】
本発明になるAl系膜は、上記高純度Al系膜形成材料を分解させ、基体上に設けられてなるAl系膜である。
【0026】
以下、更に詳しく説明する。
図1は、本発明になる高純度Al系膜形成材料の製造装置の概略図である。
本製造装置は、大別すると、一般式 HAl:L[kは1又は2。Lは有機アミン。]のAl化合物の合成反応が行われる反応装置1、合成反応工程後の固形物除去が行われる濾過装置2、濾過工程後の蒸留が行われる溶媒濃縮・蒸留装置(精製装置)3からなる。尚、4は初留廃棄管、5は蒸留精製されたHAl:Lが充填される保存・運搬用の容器(本留回収容器)、6は真空ポンプへの連結部、7はストップバルブである。
【0027】
そして、基本的には、反応装置1、濾過装置2、溶媒濃縮・蒸留装置(精製装置)3、及び保存・運搬用の容器(本留回収容器)5は、いずれもステンレス等の金属で構成されている。又、図示していないが、反応装置1と濾過装置2との間の接続部分、濾過装置2と溶媒濃縮・蒸留装置(精製装置)3との間の接続部分、溶媒濃縮・蒸留装置(精製装置)3と容器(本留回収容器)5との間の接続部分には銅製のパッキンが設けられている。
【0028】
すなわち、合成反応工程で合成されたHAl:Lが反応装置1から容器5に至るまでの過程において、HAl:Lが接する部分は全て金属で出来ている製造装置を用いたことが大きな特徴である。
【0029】
次に、上記装置を用いてHAl:Lを製造する方法を詳しく説明する。
[N−メチルピロリジンアランの製造]
先ず、反応装置(反応容器)1に、市販のリチウムアルミニウムハイドライド(LiAlH)をアルゴン雰囲気下で入れた。そして、反応容器1の蓋を閉めて、反応容器1内を真空ポンプで真空に排気した。
この後、脱水および脱酸素したトルエン(溶媒)をバルブを開いて反応容器1内に注入した(注入時は外気遮断状態である)。次に、脱水および脱酸素したN−メチルピロリジンもバルブを開いて反応容器1内に注入した(注入時は外気遮断状態である)。
そして、1日以上に亘って撹拌し、反応させた。
【0030】
この後、濾過装置2により、出来た反応生成物から固形物を除去した。
次に、濾過装置2で固形物が除去されたものを、溶媒濃縮・蒸留装置(精製装置)3にて濃縮蒸留し、目的物(N−メチルピロリジンアラン)を得た。
【0031】
上記製造が数回試みられた。尚、その際の収率は50〜75%であった。
そして、上記のようにして得られたN−メチルピロリジンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
一方、比較の為、反応装置、濾過装置および蒸留装置がガラス製の製造装置を用いた従来の手法でN−メチルピロリジンアランを得、このN−メチルピロリジンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
【0032】
そして、これらの膜中のO数を調べた処、(本発明によって得られたAl系膜中の酸素原子数)/(従来の合成方法によって得られたAl系膜中の酸素原子数)<0.1であった。
すなわち、本発明によれば、酸素混入の少ない膜を形成できる高純度Al系膜形成材料が得られたのである。
【0033】
[トリメチルアミンアランの製造]
N−メチルピロリジンアランの製造において、N−メチルピロリジンの代わりにトリメチルアミンを用いて同様に行った。
そして、上記のようにして得られたトリメチルアミンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
一方、比較の為、反応装置、濾過装置および蒸留装置がガラス製の製造装置を用いた従来の手法でトリメチルアミンアランを得、このトリメチルアミンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
そして、これらの膜中のO数を調べた処、(本発明によって得られたAl系膜中の酸素原子数)/(従来の合成方法によって得られたAl系膜中の酸素原子数)<0.1であった。
すなわち、本発明によれば、酸素混入の少ない膜を形成できる高純度Al系膜形成材料が得られたのである。
【0034】
[ジメチルエチルアミンアランの製造]
N−メチルピロリジンアランの製造において、N−メチルピロリジンの代わりにジメチルエチルアミンを用いて同様に行った。
そして、上記のようにして得られたジメチルエチルアミンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
一方、比較の為、反応装置、濾過装置および蒸留装置がガラス製の製造装置を用いた従来の手法でジメチルエチルアミンアランを得、このジメチルエチルアミンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
そして、これらの膜中のO数を調べた処、(本発明によって得られたAl系膜中の酸素原子数)/(従来の合成方法によって得られたAl系膜中の酸素原子数)<0.1であった。
すなわち、本発明によれば、酸素混入の少ない膜を形成できる高純度Al系膜形成材料が得られたのである。
【0035】
[N−メチル−3−ピロリンアランの製造]
N−メチルピロリジンアランの製造において、N−メチルピロリジンの代わりにN−メチル−3−ピロリンを用いて同様に行った。
そして、上記のようにして得られたN−メチル−3−ピロリンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
一方、比較の為、反応装置、濾過装置および蒸留装置がガラス製の製造装置を用いた従来の手法でN−メチル−3−ピロリンアランを得、このN−メチル−3−ピロリンアランを用いてAl膜をCVD法により成膜した。
そして、これらの膜中のO数を調べた処、(本発明によって得られたAl系膜中の酸素原子数)/(従来の合成方法によって得られたAl系膜中の酸素原子数)<0.1であった。
すなわち、本発明によれば、酸素混入の少ない膜を形成できる高純度Al系膜形成材料が得られたのである。
【0036】
尚、上記にあっては、溶媒としてトルエンを用いた例で述べたが、トルエン、ヘプタン等の如く、有機金属に不活性なものなら如何なるものでも用いられる。
【0037】
【発明の効果】
高純度、特に酸素が少ないAl系膜を形成できる。そして、高性能な半導体素子などが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明になる製造装置の概略図
【符号の説明】
1 反応装置
2 濾過装置
3 溶媒濃縮・蒸留容器
4 初留廃棄管
5 本留回収容器
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention provides a method and apparatus for producing a high-purity Al-based film forming material, a high-purity Al-based film forming material obtained using these methods and apparatuses, and further using this high-purity Al-based film forming material. The high-purity Al-based film formed in this way.
[0002]
[Problems to be solved by the invention]
Since trialkylamine alane [H 3 Al: L k ] (L is alkylamine) decomposes at a low temperature of 100 to 200 ° C. in the gas phase, it can be used for chemical vapor deposition (CVD). An aluminum film can be obtained. That is, since it decomposes at a low temperature, it is suitable for producing a vapor phase of an aluminum-based film with little carbon contamination.
[0003]
By the way, it has been found that problems still remain in Al-based films prepared using the above trialkylamine allane, such as III-V group compound semiconductors (AlGaN).
[0004]
That is, it can be seen that O (oxygen) causes the performance degradation in the compound semiconductors as described above, and the trialkylamine alane, which is a raw material constituting AlGaN, also has the least amount of oxygen (O). It has been requested to do.
[0005]
Therefore, the problem to be solved by the present invention is H 3 Al: L k with a small amount of oxygen (O), wherein k is 1 or 2, and L is an organic amine. An Al compound represented by the formula:
[0006]
[Means for Solving the Problems]
Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. Basically, there is no constituent element O in the Al compound represented by Therefore, when an Al-based film is prepared by decomposing the general formula H 3 Al: L k , O based on H 3 Al: L k should not be present in the film.
However, although it is a very small amount, it is a fact that O is present in the Al-based film.
Therefore, it is presumed that this O is either that O has been introduced due to the working environment during the film forming operation or that oxygen is contained in the raw material (H 3 Al: L k ). It came to.
[0007]
Therefore, first, a film forming work environment was carefully prepared. However, even in this way, O was observed in the Al-based film.
Therefore, the remaining cause has to be considered that oxygen is contained in the raw material (H 3 Al: L k ).
[0008]
And while examining the manufacturing process of H 3 Al: L k in detail, H 3 Al: L k is MAlH 4 (M is an alkali metal such as Li), for example, LiAlH 4 and L (organic amine) However, since this synthesis reaction vessel is made of glass, it has another hermeticity, and because of this, although there is little oxygen in the air, I came to think that it might be confused.
[0009]
Therefore, instead of the glass device H 3 Al with a metal device: processing of producing a L k, which is led to obtain than expected results. That is, when the amount of O in an Al-based film obtained by decomposing H 3 Al: L k obtained by reacting LiAlH 4 with L using a metal device was examined, a conventional glass device Compared to the amount of O in the Al-based film obtained by decomposing H 3 Al: L k obtained by reacting LiAlH 4 with L using LiO, the amount of O was one or more orders of magnitude less. . That is, the amount of dissolved oxygen in H 3 Al: L k was extremely small and highly pure.
[0010]
The present invention has been achieved based on the above findings.
That is, the problem is the general formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production apparatus for producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of the Al compound represented by
The production apparatus comprises a reaction device in a synthesis reaction step and a distillation device in a distillation step after the synthesis reaction step,
The apparatus for producing a high-purity Al-based film forming material, characterized in that the portion in contact with the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k in the reaction apparatus and / or distillation apparatus is made of metal. Solved by.
[0011]
Moreover, the general formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production apparatus for producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of the Al compound represented by
The production apparatus comprises a reaction device in a synthesis reaction step, a solid material removal device in a solid material removal step after the synthesis reaction step, and a distillation device in a distillation step after the synthesis reaction step,
A high-purity Al-based film characterized in that a portion in contact with the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k in the reaction apparatus, solid substance removal apparatus, and / or distillation apparatus is made of metal. Solved by the forming material manufacturing equipment.
[0012]
In particular, this is solved by a high purity Al-based film forming material manufacturing apparatus characterized in that a metal packing is provided at a joint portion between the apparatuses in the above apparatus.
[0013]
Moreover, the general formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production method of producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of the Al compound represented by
This is solved by a method for producing a high-purity Al-based film forming material, characterized in that the contact portion of the general formula H 3 Al: L k is performed using an apparatus made of a metal.
For example, the reaction apparatus in the synthesis reaction step of the Al compound of the general formula H 3 Al: Lk , the apparatus in the solid removal process after the synthesis reaction process, or the apparatus in the distillation process after the synthesis reaction process is made of metal. Become. Furthermore, metal packing is used for the joint portion of these devices.
[0014]
And when the above technologies were adopted, H 3 Al: L k having a much lower oxygen content was obtained than when manufactured using a glass device. In other words, such H 3 Al: L is the Al-based film prepared by using the k serves as O amount is extremely small, and the resulting like compound semiconductor Group III-V systems, high-performance It was a thing.
[0015]
In the present invention, the general formula H 3 Al: L k [wherein k is 1 or 2 and L is an organic amine. It is preferable that L (organic amine) and the solvent used in the synthesis of the Al compound represented by the above formula are those subjected to dehydration and deoxygenation treatment.
[0016]
Moreover, the general formula H 3 Al: H 3 in the process of manufacturing the Al compound represented by L k Al: L k synthetic steps, the general formula H 3 Al to the reactor of the synthesis reaction step: represented by L k an exhaust step of the vacuum MAlH 4 which is a raw material of Al compound (M is an alkali metal such Li) and MAlH 4 supplying step of supplying an inert atmosphere, the inside of the reaction system of the synthesis reaction step that synthesis reaction step A solvent supplying step for supplying a solvent into the reaction device of L, and L for supplying an L (organic amine) that is a raw material of the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k into the reaction device in the synthesis reaction step It is preferable to have a supply process. The order of these steps is not particularly limited.
[0017]
In the present invention, the organic amine (L) is not particularly limited, but is preferably a trialkylamine, a saturated cyclic amine, or an unsaturated cyclic amine, particularly trimethylamine, dimethylethylamine, N-methylpyrrolidine, or Most preferred is N-methyl-3-pyrroline.
[0018]
The present invention also relates to a high-purity Al film forming material produced by the above-described method for producing a high-purity Al film forming material. In particular, the present invention relates to a high-purity Al-based film forming material that is used in a CVD method (chemical vapor deposition method) and is manufactured by the above-described method for manufacturing a high-purity Al-based film forming material. Or it is used for ALE method (atomic layer growth method), Comprising: It is related with the high purity Al type film forming material manufactured by the manufacturing method of the said high purity Al type film forming material.
[0019]
The present invention also relates to an Al-based film characterized in that the high-purity Al-based film forming material is decomposed and an Al-based film is provided on a substrate.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The apparatus for producing a high-purity Al-based film forming material according to the present invention reacts with MAlH 4 (M is an alkali metal such as Li) and L (organic amine) to produce a general formula H 3 Al: L k [in the general formula , K is 1 or 2, and L is an organic amine. The production apparatus comprises a reaction apparatus in a synthesis reaction step and a distillation apparatus in a distillation step after the synthesis reaction step, and the reaction apparatus or The portion of the distillation apparatus that comes into contact with the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k is made of metal. In the reaction, a solid material may be formed, which may need to be removed. In such a case, a solid removal step is required after the synthesis reaction step. The solid matter removing device necessary for this solid matter removal is also made of metal. In general formula H 3 Al: parts Al compound represented by L k is in contact, i.e. not the inner surface side only, it is of course entirely may be made of metal. Actually, not only the inner surface side but also the members constituting the apparatus are made of metal. However, even if the portion where the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k does not contact, for example, the attached portion is made of a material other than metal, it does not hinder the features of the present invention. Absent. Furthermore, the packing provided in the joint part between apparatuses is a metal packing.
[0021]
The method for producing a high-purity Al-based film forming material according to the present invention comprises reacting MAlH 4 (M is an alkali metal such as Li) and L (organic amine) to form a general formula H 3 Al: L k [in the general formula , K is 1 or 2, and L is an organic amine. Wherein the contact portion of the general formula H 3 Al: L k is made of a metal. For example, the reaction apparatus in the synthesis reaction step of the Al compound of the general formula H 3 Al: Lk , the apparatus in the solid removal process after the synthesis reaction process, or the apparatus in the distillation process after the synthesis reaction process is made of metal. Become. In particular, all the devices are made of metal. It should be noted that even if the portion where the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k does not come into contact, for example, an additional portion is made of a material other than metal, it does not hinder the features of the present invention. Absent. Furthermore, metal packing is used for the joint portion of these devices. Then, the general formula H 3 Al: H 3 in the process of manufacturing the Al compound represented by L k Al: L k synthetic steps, the general formula H 3 Al to the reactor of the synthesis reaction step: represented by L k an exhaust step of the vacuum MAlH 4 which is a raw material of Al compound (M is an alkali metal such Li) and MAlH 4 supplying step of supplying an inert atmosphere, the inside of the reaction system of the synthesis reaction step that synthesis reaction step A solvent supplying step for supplying a solvent into the reaction device of L, and L for supplying an L (organic amine) that is a raw material of the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k into the reaction device in the synthesis reaction step And have a supply process.
[0022]
In the present invention, the general formula H 3 Al: L k [wherein k is 1 or 2 and L is an organic amine. The L and the solvent used in the synthesis of the Al compound represented by the above are dehydrated and deoxygenated.
[0023]
In the present invention, the organic amine (L) is not particularly limited, but is a trialkylamine, a saturated cyclic amine, or an unsaturated cyclic amine. In particular, trimethylamine, dimethylethylamine, N-methylpyrrolidine, or N-methyl-3-pyrroline.
[0024]
The high-purity Al-based film forming material according to the present invention is manufactured by the above-described method for manufacturing a high-purity Al-based film forming material. In particular, it is used in a CVD method (chemical vapor deposition method) and is manufactured by the above-described method for manufacturing a high-purity Al-based film forming material. Further, it is used in the ALE method (atomic layer growth method) and is manufactured by the above-described method for manufacturing a high-purity Al-based film forming material.
[0025]
An Al-based film according to the present invention is an Al-based film provided on a substrate by decomposing the high-purity Al-based film forming material.
[0026]
This will be described in more detail below.
FIG. 1 is a schematic view of an apparatus for producing a high purity Al-based film forming material according to the present invention.
This manufacturing apparatus is roughly divided into general formulas H 3 Al: L k [k is 1 or 2. L is an organic amine. The reaction apparatus 1 in which the synthesis reaction of the Al compound is performed, the filtration apparatus 2 in which solids are removed after the synthesis reaction process, and the solvent concentration / distillation apparatus (purification apparatus) 3 in which distillation is performed after the filtration process are performed. In addition, 4 is an initial distillation waste pipe, 5 is a container for storage and transportation (main distillation collection container) filled with distilled and purified H 3 Al: L k , 6 is a connection to a vacuum pump, and 7 is a stop. It is a valve.
[0027]
Basically, the reaction apparatus 1, the filtration apparatus 2, the solvent concentration / distillation apparatus (purification apparatus) 3, and the storage / transport container (main distillation collection container) 5 are all made of metal such as stainless steel. Has been. Although not shown, a connecting portion between the reaction device 1 and the filtering device 2, a connecting portion between the filtering device 2 and the solvent concentration / distillation device (purification device) 3, and a solvent concentration / distillation device (purification). A copper packing is provided at a connecting portion between the (device) 3 and the container (main distillation collecting container) 5.
[0028]
That is, in the process from H 3 Al: L k synthesized in the synthesis reaction step from the reactor 1 to the container 5, a manufacturing apparatus in which all the portions in contact with H 3 Al: L k are made of metal was used. This is a major feature.
[0029]
Then, H 3 Al with the device: in detail describing a method for producing a L k.
[Production of N-methylpyrrolidine alane]
First, a commercially available lithium aluminum hydride (LiAlH 4 ) was placed in the reactor (reaction vessel) 1 under an argon atmosphere. Then, the lid of the reaction vessel 1 was closed, and the inside of the reaction vessel 1 was evacuated to a vacuum with a vacuum pump.
Thereafter, dehydrated and deoxygenated toluene (solvent) was injected into the reaction vessel 1 with the valve open (the outside air was shut off at the time of injection). Next, the dehydrated and deoxygenated N-methylpyrrolidine was also injected into the reaction vessel 1 with the valve open (the outside air was shut off at the time of injection).
And it stirred for 1 day or more and made it react.
[0030]
Then, the solid substance was removed from the produced reaction product with the filtration apparatus 2.
Next, the solid substance removed from the filtration device 2 was concentrated and distilled with a solvent concentration / distillation device (purification device) 3 to obtain the target product (N-methylpyrrolidine alane).
[0031]
The above production was attempted several times. The yield at that time was 50 to 75%.
Then, an Al film was formed by the CVD method using N-methylpyrrolidine alane obtained as described above.
On the other hand, for comparison, N-methylpyrrolidine alane was obtained by a conventional method using a glass manufacturing apparatus as a reaction apparatus, a filtration apparatus, and a distillation apparatus, and an Al film was formed by CVD using this N-methylpyrrolidine alane. A film was formed.
[0032]
Then, after examining the number of O in these films, (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the present invention) / (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the conventional synthesis method) < 0.1.
That is, according to the present invention, a high-purity Al-based film forming material capable of forming a film with little oxygen mixing was obtained.
[0033]
[Production of trimethylamine alane]
The production of N-methylpyrrolidine alane was carried out in the same manner using trimethylamine instead of N-methylpyrrolidine.
Then, an Al film was formed by the CVD method using the trimethylamine allane obtained as described above.
On the other hand, for comparison, trimethylamine alane was obtained by a conventional method using a glass manufacturing apparatus as a reaction apparatus, a filtration apparatus, and a distillation apparatus, and an Al film was formed by CVD using this trimethylamine allan.
Then, after examining the number of O in these films, (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the present invention) / (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the conventional synthesis method) < 0.1.
That is, according to the present invention, a high-purity Al-based film forming material capable of forming a film with little oxygen mixing was obtained.
[0034]
[Production of dimethylethylamine alane]
In the production of N-methylpyrrolidine alane, dimethylethylamine was used instead of N-methylpyrrolidine.
And Al film | membrane was formed into a film by CVD method using the dimethylethylamine alane obtained as mentioned above.
On the other hand, for comparison, dimethylethylamine allan was obtained by a conventional method using a glass manufacturing apparatus as a reaction apparatus, a filtration apparatus, and a distillation apparatus, and an Al film was formed by CVD using this dimethylethylamine allane.
Then, after examining the number of O in these films, (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the present invention) / (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the conventional synthesis method) < 0.1.
That is, according to the present invention, a high-purity Al-based film forming material capable of forming a film with little oxygen mixing was obtained.
[0035]
[Production of N-methyl-3-pyrroline alane]
The production of N-methylpyrrolidine alane was carried out in the same manner using N-methyl-3-pyrroline instead of N-methylpyrrolidine.
Then, an Al film was formed by a CVD method using N-methyl-3-pyrrolinealane obtained as described above.
On the other hand, for comparison, N-methyl-3-pyrroline alane was obtained by a conventional method using a glass manufacturing apparatus as a reaction apparatus, a filtration apparatus, and a distillation apparatus, and this N-methyl-3-pyrroline alane was used. An Al film was formed by a CVD method.
Then, after examining the number of O in these films, (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the present invention) / (number of oxygen atoms in the Al-based film obtained by the conventional synthesis method) < 0.1.
That is, according to the present invention, a high-purity Al-based film forming material capable of forming a film with little oxygen mixing was obtained.
[0036]
In the above, the example using toluene as the solvent has been described. However, any substance such as toluene, heptane and the like which are inert to the organic metal can be used.
[0037]
【The invention's effect】
It is possible to form an Al-based film with high purity, particularly low oxygen. And a high performance semiconductor element etc. are obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram of a manufacturing apparatus according to the present invention.
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Reaction apparatus 2 Filtration apparatus 3 Solvent concentration / distillation container 4 First distillate pipe 5 Main distillate collection container

Claims (15)

一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造方法であって、
前記一般式HAl:Lの接触する部分が金属製のものからなる装置を用いて行われる
ことを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造方法。
Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production method of producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of an Al compound represented by
A method for producing a high-purity Al-based film forming material, which is performed using an apparatus in which the portion of the general formula H 3 Al: Lk that contacts is made of metal.
一般式 HAl:LのAl化合物の合成反応工程における反応装置が金属製のものからなることを特徴とする請求項1の高純度Al系膜形成材料の製造方法。Formula H 3 Al: process for producing a high-purity Al-based film-forming material of claim 1, the reaction apparatus is characterized in that it consists of any metallic in the synthesis reaction step Al compound of L k. 一般式 HAl:LのAl化合物の合成反応工程後の固形物除去工程における装置が金属製のものからなることを特徴とする請求項1の高純度Al系膜形成材料の製造方法。Formula H 3 Al: process for producing a high-purity Al-based film-forming material according to claim 1, L k apparatus in solids removal step after the synthesis reaction step of Al compound of is characterized in that it consists of any metallic. 一般式 HAl:LのAl化合物の合成反応工程後の蒸留工程における装置が金属製のものからなることを特徴とする請求項1の高純度Al系膜形成材料の製造方法。Formula H 3 Al: process for producing a high-purity Al-based film-forming material according to claim 1, apparatus in the distillation step after the synthesis reaction step of Al compound of L k is equal to or consisting of those of the metal. 装置間の継ぎ手部には金属製パッキンが用いられていることを特徴とする請求項1〜請求項4いずれかの高純度Al系膜形成材料の製造方法。The method for producing a high-purity Al-based film forming material according to any one of claims 1 to 4, wherein a metal packing is used for a joint portion between the apparatuses. 一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の合成に際して用いられるLは脱水および脱酸素処理がなされたものであることを特徴とする請求項1〜請求項5いずれかの高純度Al系膜形成材料の製造方法。Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. The method for producing a high-purity Al-based film forming material according to any one of claims 1 to 5, wherein L used in the synthesis of the Al compound represented by formula (1) is dehydrated and deoxygenated. . 一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の合成に際して用いられる溶媒は脱水および脱酸素処理がなされたものであることを特徴とする請求項1〜請求項5いずれかの高純度Al系膜形成材料の製造方法。Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. The method for producing a high-purity Al-based film forming material according to any one of claims 1 to 5, wherein the solvent used in the synthesis of the Al compound represented by formula (1) is one that has been dehydrated and deoxygenated. . 一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造方法であって、
合成反応工程の反応装置内に該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の原料であるMAlH(Mはアルカリ金属)を不活性雰囲気下で供給するMAlH供給工程と、
反応装置内を真空にする排気工程と、
反応装置内に溶媒を供給する溶媒供給工程と、
反応装置内に該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物の原料であるL(有機アミン)を供給するL供給工程
とを具備することを特徴とする請求項1〜請求項7いずれかの高純度Al系膜形成材料の製造方法。
Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production method of producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of an Al compound represented by
Synthesis the general formula H 3 into the reactor of Step Al: MAlH 4 (M is an alkali metal) and MAlH 4 supplying step of supplying an inert atmosphere which is a raw material of Al compound represented by L k,
An exhaust process for evacuating the reactor,
A solvent supply step of supplying a solvent into the reaction apparatus;
An L supply step for supplying L (organic amine) which is a raw material of the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k into the reactor. A method for producing any high-purity Al-based film forming material.
一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式 HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造装置であって、
前記製造装置は、合成反応工程における反応装置と、合成反応工程後の蒸留工程における蒸留装置とを具備してなり、
前記反応装置、及び/又は蒸留装置における一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触する部分は金属製のものである
ことを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造装置。
Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production apparatus for producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of an Al compound represented by
The production apparatus comprises a reaction device in a synthesis reaction step and a distillation device in a distillation step after the synthesis reaction step,
The apparatus for producing a high-purity Al-based film forming material, characterized in that the portion in contact with the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k in the reaction apparatus and / or distillation apparatus is made of metal. .
一般式 HAl:L[一般式中、kは1又は2であり、Lは有機アミンである。]で表されるAl化合物の原料を反応させて該一般式HAl:Lで表されるAl化合物を製造する製造装置であって、
前記製造装置は、合成反応工程における反応装置と、合成反応工程後の固形物除去工程における固形物除去装置と、合成反応工程後の蒸留工程における蒸留装置とを具備してなり、
前記反応装置、固形物除去装置、及び/又は蒸留装置における一般式 HAl:Lで表されるAl化合物が接触する部分は金属製のものである
ことを特徴とする高純度Al系膜形成材料の製造装置。
Formula H 3 Al: in L k [Formula, k is 1 or 2, L is an organic amine. A production apparatus for producing an Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k by reacting a raw material of the Al compound represented by
The production apparatus comprises a reaction device in a synthesis reaction step, a solid material removal device in a solid material removal step after the synthesis reaction step, and a distillation device in a distillation step after the synthesis reaction step,
A high-purity Al-based film characterized in that a portion in contact with the Al compound represented by the general formula H 3 Al: L k in the reaction apparatus, solid substance removal apparatus, and / or distillation apparatus is made of metal. Manufacturing equipment for forming materials.
装置間の継ぎ手部には金属製パッキンが設けられてなることを特徴とする請求項9又は請求項10の高純度Al系膜形成材料の製造装置。11. The apparatus for producing a high-purity Al-based film forming material according to claim 9 or 10, wherein a metal packing is provided at a joint portion between the apparatuses. 請求項1〜請求項8いずれかの高純度Al系膜形成材料の製造方法によって製造されてなる高純度Al系膜形成材料。A high-purity Al film forming material produced by the method for producing a high-purity Al film forming material according to claim 1. CVD法に用いられるものであることを特徴とする請求項12の高純度Al系膜形成材料。The high-purity Al-based film forming material according to claim 12, which is used in a CVD method. ALE法に用いられるものであることを特徴とする請求項12の高純度Al系膜形成材料。The high-purity Al-based film forming material according to claim 12, which is used in an ALE method. 請求項12〜請求項14いずれかの高純度Al系膜形成材料を分解させ、基体上にAl系膜が設けられてなることを特徴とするAl系膜。15. An Al-based film, wherein the high-purity Al-based film forming material according to claim 12 is decomposed and an Al-based film is provided on a substrate.
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