JP4224082B2 - Flexible printed circuit board and semiconductor device - Google Patents

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Description

本発明は、高密度化した電子部品の実装密度に対応し、折り曲げて使用するフレキシブルプリント配線基板および半導体装置に関する。さらに詳しくは本発明は、液晶表示装置、プラズマ表示装置などのようなフラットディスプレイパネルを駆動させるための電子部品(ICチップ等)を実装し、折り曲げて使用するのに好適なフレキシブルプリント配線基板および電子部品を実装した半導体装置に関する。   The present invention relates to a flexible printed wiring board and a semiconductor device that are used by being bent in correspondence with the mounting density of electronic components having a higher density. More particularly, the present invention relates to a flexible printed wiring board suitable for mounting and bending an electronic component (such as an IC chip) for driving a flat display panel such as a liquid crystal display device, a plasma display device, and the like. The present invention relates to a semiconductor device mounted with an electronic component.

周知の通り、電子機器を駆動させるための電子部品は、一般に、絶縁フィルムと、この絶縁フィルム表面に形成された配線パターンからなる配線基板に実装された状態で電子機器に組み込まれる。この配線基板は、例えば、絶縁フィルムの表面に銅箔などの導電性金属箔を配置し、フォトリソグラフィー法により導電性金属箔を選択的にエッチングすることにより形成することができる。ここで導電性金属箔として使用される銅箔には圧延銅箔と電解銅箔とがあるが、圧延銅箔は電解銅箔よりも高価であるなどの理由で、導電性金属箔としては通常は電解銅箔が使用されている。   As is well known, an electronic component for driving an electronic device is generally incorporated in the electronic device in a state of being mounted on a wiring board including an insulating film and a wiring pattern formed on the surface of the insulating film. This wiring board can be formed, for example, by disposing a conductive metal foil such as a copper foil on the surface of an insulating film and selectively etching the conductive metal foil by a photolithography method. The copper foil used as the conductive metal foil here includes a rolled copper foil and an electrolytic copper foil. However, the rolled copper foil is usually more expensive than the electrolytic copper foil. Electrolytic copper foil is used.

電解銅箔は、回転ドラム状の陰極と、この陰極に沿って形成された陽極との間に銅を含有する電解液を流して電極間に電圧を印加して、回転ドラム状の陰極表面に銅を析出させることにより製造されている。   Electrolytic copper foil is applied to the surface of the rotating drum-shaped cathode by flowing an electrolyte containing copper between the rotating drum-shaped cathode and the anode formed along the cathode, and applying a voltage between the electrodes. Manufactured by depositing copper.

上記のようにして電解銅箔を製造する際に陰極として使用される回転ドラムの表面は例えばチタンで形成されており、その表面が鏡面になるように研磨されている。従って、この回転ドラム状の陰極表面に析出される銅の析出開始面は、回転ドラム状陰極の表面状態が転写されて鏡面となり非常に表面粗度(Rz)が低く、通常はシャイニー面(S面)と呼
ばれている。一方、銅が析出している面は、電解液から銅が析出して銅結晶が成長するために、一般にはS面よりも表面粗度(Rz)が高く、シャイニー面(S面)に対してマット面(M面)と呼ばれている。
The surface of the rotating drum used as the cathode when manufacturing the electrolytic copper foil as described above is made of titanium, for example, and is polished so that the surface becomes a mirror surface. Therefore, the copper deposition starting surface deposited on the surface of the rotating drum-shaped cathode becomes a mirror surface by transferring the surface state of the rotating drum-shaped cathode, and has a very low surface roughness (Rz), which is usually a shiny surface (S Called the surface). On the other hand, the surface on which the copper is deposited is generally higher in surface roughness (Rz) than the S surface because copper precipitates from the electrolytic solution and grows, resulting in a shiny surface (S surface). This is called the matte surface (M surface).

配線基板を製造する際には、一般に電解銅箔のM面と絶縁フィルムの表面が対面するよ
うに電解銅箔を配置して、電解銅箔と絶縁フィルムとを積層して基材フィルムを製造し、この基材フィルムを形成する電解銅箔のS面の表面に感光性樹脂層を形成し、この感光性
樹脂層を露光・現像して感光性樹脂の硬化体からなるパターンを形成し、このパターンをマスキング材として電解銅箔を選択的にエッチングして配線パターンを形成する。
When manufacturing a wiring board, generally arrange the electrolytic copper foil so that the M surface of the electrolytic copper foil faces the surface of the insulating film, and laminate the electrolytic copper foil and the insulating film to manufacture the base film Then, a photosensitive resin layer is formed on the surface of the S surface of the electrolytic copper foil forming this base film, and this photosensitive resin layer is exposed and developed to form a pattern made of a cured product of the photosensitive resin, Using this pattern as a masking material, the electrolytic copper foil is selectively etched to form a wiring pattern.

上記のようにして形成される配線基板は、絶縁フィルムと、この絶縁フィルム上に形成される配線パターンとの密着性が高いことが望ましく、この絶縁フィルムと配線パターンとの密着性は、配線パターンを形成する電解銅箔のM面の表面粗度に依存することから、
電解銅箔のM面はある程度表面粗度が高いことが望ましいとされていた。このため製造さ
れた電解銅箔のM面の表面粗度を高くするために、こぶ付け処理などの粗化処理を行って
、電解銅箔のM面の表面粗度を上げて絶縁フィルムとの密着性を向上させるといった処理
も行われていた。
The wiring board formed as described above preferably has high adhesion between the insulating film and the wiring pattern formed on the insulating film. The adhesion between the insulating film and the wiring pattern is determined by the wiring pattern. Because it depends on the surface roughness of the M surface of the electrolytic copper foil forming
The M surface of the electrolytic copper foil has been desired to have a certain degree of surface roughness. For this reason, in order to increase the surface roughness of the M surface of the manufactured electrolytic copper foil, the surface roughness of the M surface of the electrolytic copper foil is increased by performing a roughening process such as a bumping process. Treatments such as improving the adhesion have also been performed.

上記のように電解銅箔のM面の表面を粗面化することは、形成された配線パターンと絶
縁フィルムとの密着性を向上させる上では大変好ましいが、電解銅箔を選択的にエッチングして配線パターンを形成する際には、表面粗度の高いM面が必ずしも有利であるとは限
らない。例えば、ピッチ幅の狭い非常にファインな配線パターンを形成しようとする場合、使用する電解銅箔の厚さは、形成しようとする配線の幅よりも厚くすることはできない
ので、配線パターンを形成するためのエッチング時間を短くする必要があるが、M面の表
面粗度が高いと絶縁フィルム内に埋没している銅の量も多くなり、短時間のエッチングでは絶縁フィルム内に埋没している銅を完全に除去することができにくくなり、また埋没している銅を完全に除去しようとすると、形成される配線パターンが過度にエッチングされて細くなってしまうなどの問題が生じやすい。
Although roughening the surface of the M surface of the electrolytic copper foil as described above is very preferable for improving the adhesion between the formed wiring pattern and the insulating film, the electrolytic copper foil is selectively etched. When forming a wiring pattern, the M surface having a high surface roughness is not always advantageous. For example, when a very fine wiring pattern with a narrow pitch width is to be formed, the thickness of the electrolytic copper foil to be used cannot be greater than the width of the wiring to be formed. However, if the surface roughness of the M-plane is high, the amount of copper embedded in the insulating film also increases, and copper that is embedded in the insulating film in a short time of etching. It is difficult to completely remove the copper, and if the buried copper is completely removed, problems such as excessive etching of the formed wiring pattern and thinning are likely to occur.

ところで、上記のような電解銅箔を用いて形成する場合、使用される電解銅箔としては、形成しようとする配線パターンの最細の線幅と同等もしくは線幅よりも薄い電解銅箔を使用する必要があり、例えば一般的にファインピッチのプリント配線基板であるとされているインナーリードの配線ピッチ幅が70μm(インナーリード幅が通常は35μm程度)のプリント配線基板を製造する際には35〜40μmの電解銅箔が使用されている。   By the way, when forming using the electrolytic copper foil as described above, as the electrolytic copper foil to be used, an electrolytic copper foil equivalent to the thinnest line width of the wiring pattern to be formed or thinner than the line width is used. For example, when a printed wiring board having an inner lead wiring pitch width of 70 μm (inner lead width is usually about 35 μm), which is generally regarded as a fine pitch printed wiring board, is used. An electrolytic copper foil of ˜40 μm is used.

しかしながら、最近では電子部品がさらに高密度になってきており、このような電子部品の実装に使用されるプリント配線基板に形成される配線パターンもさらに細線化する必要がある。   However, recently, electronic components have become more dense, and it is necessary to further reduce the wiring pattern formed on a printed wiring board used for mounting such electronic components.

ところが、上述のような電解銅箔を使用した製造方法で製造可能なプリント配線基板の配線ピッチ幅は40μmが限界であり、これよりも配線ピッチ幅が狭いプリント配線基板を製造するには従来のプリント配線基板の製造方法をそのまま採用することはできず、エッチング条件、使用する電解銅箔の特性など配線パターンを形成する全条件を新たに設定することが必要である。   However, the limit of the wiring pitch width of the printed wiring board that can be manufactured by the manufacturing method using the electrolytic copper foil as described above is 40 μm, and a conventional method for manufacturing a printed wiring board having a narrower wiring pitch width than this. The method for manufacturing a printed wiring board cannot be employed as it is, and it is necessary to newly set all conditions for forming a wiring pattern such as etching conditions and characteristics of the electrolytic copper foil to be used.

例えば、絶縁フィルムの表面に配線パターンを形成する場合、配線ピッチ幅が40μm未満で配線パターンを形成しようとする場合には、使用する電解銅箔は形成する配線幅よりも薄いものを使用する必要があり、このときの電解銅箔のM面の表面粗度は、使用する
電解銅箔の厚さと比較して大きな値になる。このため絶縁フィルム表面に埋没している電解銅箔のM面の突起をエッチングにより完全に除去するためにエッチング液との接触時間
を長くすると、形成した配線がエッチング液によって侵食されてやせ細ってしまうなどの問題が生じ、予定しているようなファインピッチの配線パターンを形成できない。このように配線ピッチ幅が40μm未満であるプリント配線基板を製造するには、使用する電解銅箔、エッチング方法などを新たに選定しなおす必要がある。
For example, when forming a wiring pattern on the surface of an insulating film, when it is intended to form a wiring pattern with a wiring pitch width of less than 40 μm, it is necessary to use an electrolytic copper foil that is thinner than the wiring width to be formed The surface roughness of the M surface of the electrolytic copper foil at this time is a large value as compared with the thickness of the electrolytic copper foil to be used. For this reason, if the contact time with the etching solution is increased in order to completely remove the M-side protrusions of the electrolytic copper foil buried in the insulating film surface by etching, the formed wiring is eroded by the etching solution and becomes thin. As a result, a fine-pitch wiring pattern as planned cannot be formed. Thus, in order to manufacture a printed wiring board having a wiring pitch width of less than 40 μm, it is necessary to newly select an electrolytic copper foil to be used, an etching method and the like.

このような状況下に、配線ピッチ幅が40μm未満の配線パターンを形成可能な電解銅箔として、例えば、特開平9-143785号公報(特許文献1)、特開2002-32586号公報(特許文献2)、特開2004-162144号公報(特許文献3)、特開2004-35918号公報(特許文献4
)、WO2003/096776号公報(特許文献5)、特開2004-107786号公報(特許文献6)、特開2004-137588号公報(特許文献7)、特開2004-263289号公報(特許文献8)、特開2004-3396558号公報(特許文献9)、特開2005-150265号公報(特許文献10)などに記載され
ているような低プロファイル電解銅箔が提案されている。この低プロファイル電解銅箔は、銅が溶解されている電解液に種々の添加剤を加えて、形成される電解銅箔のM面の表面
粗度(Rz)を低くしたものであり、添加剤の種類によっては、得られる電解銅箔のM面の
表面粗度(Rz)を、S面の表面粗度(Rz)よりも低くすることも可能になる。このようにして形成された低プロファイル電解銅箔は、銅を析出させる銅電解液中に種々の添加物を配合して、銅が析出する際に錯体を形成させて析出銅の粒子径を小さくして、得られる電解銅箔の表面のプロファイルを低く抑えようとするものである。
Under such circumstances, as an electrolytic copper foil capable of forming a wiring pattern having a wiring pitch width of less than 40 μm, for example, Japanese Patent Laid-Open Nos. 9-143785 and 2002-32586 are disclosed. 2), Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2004-162144 (Patent Document 3), Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2004-35918 (Patent Document 4).
), WO2003 / 096776 (Patent Document 5), JP-A-2004-107786 (Patent Document 6), JP-A-2004-137588 (Patent Document 7), JP-A-2004-263289 (Patent Document 8) ), JP 2004-3396558 (Patent Document 9), JP 2005-150265 (Patent Document 10), and the like have been proposed. This low profile electrolytic copper foil is made by adding various additives to the electrolytic solution in which copper is dissolved to lower the surface roughness (Rz) of the M-side of the formed electrolytic copper foil. Depending on the type, the surface roughness (Rz) of the M surface of the obtained electrolytic copper foil can be made lower than the surface roughness (Rz) of the S surface. The low profile electrolytic copper foil thus formed contains various additives in a copper electrolyte solution for depositing copper, and forms a complex when copper is deposited, thereby reducing the particle size of the deposited copper. Thus, the surface profile of the obtained electrolytic copper foil is to be kept low.

しかしながら、上記の特許文献に記載されているような低プロファイル電解銅箔は、形成されている銅の結晶粒子径が小さいために、電解銅箔自体の引っ張り強度などの機械的特性が低くなりやすい。   However, the low profile electrolytic copper foil described in the above-mentioned patent document has a small crystal particle diameter of the formed copper, so that the mechanical properties such as the tensile strength of the electrolytic copper foil itself tend to be low. .

例えば液晶表示装置、プラズマ表示装置のようなフラットパネルディスプレイを駆動させる電子部品が実装されたフレキシブルプリント配線基板では、フラットパネルの裏面側に硬質の回路基板を配置して、この硬質回路基板と、フラットパネルに形成された透明電極とを、電子部品が実装されたプリント配線基板を折り曲げて使用して接続している。このように折り曲げて使用されるプリント配線基板には、折り曲げ部分に非常に大きな曲げ応力がかかり、機械的特性の低い電解銅箔から形成された配線では、こうした大きな曲げ応力に抗し得ないことがある。   For example, in a flexible printed wiring board on which electronic components for driving a flat panel display such as a liquid crystal display device and a plasma display device are mounted, a hard circuit board is disposed on the back side of the flat panel, and the hard circuit board, A transparent electrode formed on the flat panel is connected by bending a printed wiring board on which electronic components are mounted. The printed wiring board used by bending in this way is subjected to a very large bending stress at the bent part, and wiring formed from electrolytic copper foil with low mechanical properties cannot resist such a large bending stress. There is.

殊に最近では地上デジタル放送へのシフトに伴い、ハイビジョン映像の導入によってフラットディスプレイパネルが大型化している。こうしてフラットディスプレイパネルは次第に大型化しているが、このようなフラットディスプレイパネルを駆動させる電子部品は小型化し、しかも高密度化しており、一つの電子部品で駆動させるチャンネル数は増加している。例えば、1280×1024画素の液晶表示装置を駆動させるために、現在使用されている液晶表示装置では、液晶表示装置のソース側に、1電子部品当たりの有効チャンネル数が480チャンネルの電子部品を8個配置してこの液晶表示装置を駆動させているが、液晶表示装置の普及のためのコスト削減の一環として、1電子部品当たりの有効チャンネル数を多くして配置する電子部品数を減らす試みがなされている。   Recently, with the shift to digital terrestrial broadcasting, flat display panels have become larger due to the introduction of high-definition video. Thus, the flat display panel is gradually increased in size, but the electronic components that drive such a flat display panel are becoming smaller and higher in density, and the number of channels that are driven by one electronic component is increasing. For example, in order to drive a liquid crystal display device of 1280 × 1024 pixels, in a liquid crystal display device currently used, 8 electronic components having 480 effective channels per electronic component are provided on the source side of the liquid crystal display device. Although this liquid crystal display device is driven individually, as part of cost reduction for the spread of the liquid crystal display device, an attempt to reduce the number of electronic components to be arranged by increasing the number of effective channels per electronic component is made. Has been made.

このように小型化されると共に1電子部品当たりの有効チャンネル数が多い電子部品を実装するプリント配線基板では、電子部品を実装するインナーリードの配線ピッチ幅が40μmを下回り、インナーリードのリード幅は20μm程度に細線化することが必要となると考えられている。   In a printed circuit board that mounts electronic components that are downsized and have a large number of effective channels per electronic component, the inner lead wiring pitch width for mounting the electronic components is less than 40 μm, and the inner lead lead width is It is considered that it is necessary to make the wire thin to about 20 μm.

このように細線化された配線パターンを形成するためには、当然に配線ピッチ幅が70μm程度であったときに使用されていた電解銅箔を使用することはできず、上述のような低プロファイル電解銅箔を使用しなければ配線ピッチ幅が40μm未満の配線パターンを形成することはできない。   In order to form such a thinned wiring pattern, the electrolytic copper foil used when the wiring pitch width is about 70 μm cannot be used, and the low profile as described above is used. A wiring pattern having a wiring pitch width of less than 40 μm cannot be formed unless an electrolytic copper foil is used.

ところが、上記のような低プロファイル電解銅箔から形成された配線は、銅結晶粒子が小さいために、プリント配線基板を折り曲げて使用すると、この折り曲げ部分の配線が破断することが多いという問題がある。このような低プロファイル電解銅箔から形成された配線が折り曲げ部分で破断しないように、例えば、低プロファイル電解銅箔のM面を粗化
処理して絶縁フィルムとの密着性を上げて絶縁フィルムと共同して折り曲げ部分による断線を防止するなどの手段で対応することも可能ではあるが、上記の低プロファイル電解銅箔のように非常にファインピッチの配線パターンを形成することができると共に、電解銅箔自体が上記のような曲げ応力に抗し得る機械的強度を有していれば、プリント配線基板を折り曲げて使用するなど過酷な使用環境においても配線自体の強度が高くなることから、さらなる細線化も可能になる。
特開平9-143785号公報 特開2002-32586号公報 特開2004-162144号公報 特開2004-35918号公報 WO2003/096776号公報 特開2004-107786号公報 特開2004-137588号公報 特開2004-263289号公報 特開2004-3396558号公報 特開2005-150265号公報
However, since the wiring formed from the low profile electrolytic copper foil as described above has small copper crystal particles, there is a problem that when the printed wiring board is bent and used, the wiring at the bent portion is often broken. . In order to prevent the wiring formed from such low profile electrolytic copper foil from breaking at the bent portion, for example, the M surface of the low profile electrolytic copper foil is roughened to improve the adhesion with the insulating film and Although it is possible to cope with the problem by jointly preventing disconnection due to the bent portion, it is possible to form a very fine pitch wiring pattern like the above-mentioned low profile electrolytic copper foil and If the foil itself has mechanical strength that can resist bending stress as described above, the strength of the wiring itself will increase even in harsh usage environments such as bending the printed wiring board. It becomes possible.
Japanese Laid-Open Patent Publication No. 9-143785 Japanese Patent Laid-Open No. 2002-32586 JP 2004-162144 JP JP 2004-35918 WO2003 / 096776 JP 2004-107786 A JP 2004-137588 A JP 2004-263289 A JP 2004-3396558 A JP 2005-150265 A

本発明は、非常にファインピッチであるにも拘らず、引張強度および耐折性などの特性に優れたフレキシブルプリント配線基板を提供することを目的としている。
さらに、本発明は、最狭部であるインナーリードの配線ピッチ幅が40μmに満たない非常にファインピッチのフレキシブルプリント配線基板であって、形成された配線自体の機械的強度が高く、例えば折り曲げて使用しても折り曲げ部分や接続端子付近の配線が断線しにくいフレキシブルプリント配線基板を提供することを目的としている。
An object of the present invention is to provide a flexible printed wiring board excellent in characteristics such as tensile strength and folding resistance despite the very fine pitch.
Further, the present invention is a flexible printed wiring board having a very fine pitch in which the wiring pitch width of the inner leads, which is the narrowest portion, is less than 40 μm, and the formed wiring itself has high mechanical strength, for example, bent. An object of the present invention is to provide a flexible printed wiring board in which a bent portion and a wiring near a connection terminal are not easily disconnected even when used.

また、本発明は上記のようなフレキシブルプリント配線基板に電子部品が実装された表示装置を駆動させるための半導体装置を提供することを目的としている。   Another object of the present invention is to provide a semiconductor device for driving a display device in which an electronic component is mounted on the flexible printed wiring board as described above.

本発明のフレキシブルプリント配線基板は、電解銅箔と、この電解銅箔の表面に、該電解銅箔がエッチングされてポリイミド層が露出されるポリイミド層を有する基材フィルムから形成されてなり、該電解銅箔が選択的にエッチングされて露出したポリイミド表面の表面粗度(Rz)が5μm以下であると共に、電解銅箔がエッチングされて露出したポリ
イミド層の光線透過率が67%を超え95%以下の範囲内のポリイミド層が形成されてなり、該配線パターンのインナーリードのピッチ幅が40μm未満であり、該配線パターン
をポリイミド層とともに折り曲げて使用するフレキシブルプリント配線基板であり、
該配線パターンが、3μm以上の長径長さを有する柱状の銅結晶粒子を50%以上含み、かつ長径が3μmに満たない銅結晶粒子を断面比率で50%以下の量で含み、該配線パターンの厚さが15μm以下であって、25℃における伸び率5%以上の電解銅箔から形成されてなり、該配線パターンを形成する柱状の銅結晶粒子の少なくとも50%(面積比率)の柱状の銅結晶が、該配線パターンの厚さと同等あるいは該配線パターンの厚さよりも長い長径を有していることを特徴としている。
The flexible printed wiring board of the present invention is formed of an electrolytic copper foil and a base film having a polyimide layer on the surface of the electrolytic copper foil, the polyimide layer being exposed by etching the electrolytic copper foil, The surface roughness (Rz) of the polyimide surface exposed by selective etching of the electrolytic copper foil is 5 μm or less, and the poly copper exposed by etching the electrolytic copper foil.
A polyimide layer having a light transmittance of more than 67% and not more than 95% is formed, and the pitch width of the inner leads of the wiring pattern is less than 40 μm, and the wiring pattern is folded together with the polyimide layer. Flexible printed wiring board to be used
The wiring pattern includes 50% or more of columnar copper crystal particles having a major axis length of 3 μm or more, and includes copper crystal particles having a major axis of less than 3 μm in a cross-sectional ratio of 50% or less. Columnar copper having a thickness of 15 μm or less and formed of an electrolytic copper foil having an elongation of 5% or more at 25 ° C. , and at least 50% (area ratio) of columnar copper crystal particles forming the wiring pattern The crystal is characterized by having a major axis that is equal to or longer than the thickness of the wiring pattern .

さらに、本発明のプリント配線基板においては、上記電解銅箔を形成する柱状の銅結晶粒子の少なくとも一部が、配線パターンの厚さよりも長い長径を有していることが好ましく、具体的には、上記配線パターンの断面における銅結晶粒子の少なくとも50%(面積比率)が、配線パターンの厚さよりも長い長径を有する銅結晶粒子であることが特に好ましい。   Furthermore, in the printed wiring board of the present invention, it is preferable that at least a part of the columnar copper crystal particles forming the electrolytic copper foil has a longer diameter longer than the thickness of the wiring pattern, specifically, It is particularly preferable that at least 50% (area ratio) of the copper crystal particles in the cross section of the wiring pattern are copper crystal particles having a long diameter longer than the thickness of the wiring pattern.

このような銅結晶粒子を有する電解銅箔から形成された配線パターンを有するフレキシブルプリント配線基板は、非常に高い耐折性を有しており、屈曲半径0.8mm、屈曲角度±135度、屈曲速度175rpm、印加荷重100gf/10mmwの条件で25℃で測定したと
きに、少なくとも一部の配線パターンが断線に至るまでの耐折性が通常は100回以上である。
A flexible printed wiring board having a wiring pattern formed from an electrolytic copper foil having such copper crystal particles has a very high folding resistance, a bending radius of 0.8 mm, a bending angle of ± 135 degrees, and a bending When measured at 25 ° C. under conditions of a speed of 175 rpm and an applied load of 100 gf / 10 mm w , the folding resistance until at least a part of the wiring pattern is broken is usually 100 times or more.

また、本発明のフレキシブルプリント配線基板は、電解銅箔のM面にポリイミド前駆体
を塗布してこの電解銅箔上でポリイミド層を形成することが望ましく、こうして形成されたポリイミド層の光線透過率は、67%を超え95%以下であることが好ましい。
The flexible printed wiring board of the present invention preferably has a polyimide layer formed on the electrolytic copper foil by applying a polyimide precursor to the M surface of the electrolytic copper foil, and the light transmittance of the polyimide layer thus formed. Is preferably more than 67% and 95% or less.

このようなポリイミド層の露出面の表面粗度は、使用する電解銅箔のM面の表面粗度(Rz)に依存し、一般には使用する電解銅箔のM面の表面状態あるいは粗化処理されたM面の
表面状態が転写される。従って、本発明においては、使用される電解銅箔のM面の表面粗
度(Rz)が5μm以下であるので、このような電解銅箔が積層され、その表面状態が転写
されたポリイミド層の表面の表面粗度(Rz)が5μm以下になる。このようにして形成さ
れたポリイミド層は、光線透過率が高くなり、本発明のフレキシブルプリント配線基板に電子部品を実装する際などに、本発明のフレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側から光を照射し、フレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側にCCDカメラなど検知
装置を配置することができ、本発明のフレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側から照射される光線が配線パターンが形成されていないポリイミド層を透過後、半導体チップに反射して戻ってくる光線を検知することにより、フレキシブルプリント配線基板のパターン面側に配置される半導体チップの位置決めを正確に行うことができる。
The surface roughness of the exposed surface of such a polyimide layer depends on the surface roughness (Rz) of the M surface of the electrolytic copper foil used, and generally the surface state of the M copper surface of the electrolytic copper foil used or the roughening treatment The surface state of the M surface is transferred. Accordingly, in the present invention, since the surface roughness (Rz) of the M surface of the electrolytic copper foil used is 5 μm or less, such an electrolytic copper foil is laminated and the surface state of the polyimide layer transferred is transferred. The surface roughness (Rz) of the surface is 5 μm or less. The polyimide layer thus formed has high light transmittance, and light is irradiated from the polyimide surface side of the flexible printed wiring board of the present invention when an electronic component is mounted on the flexible printed wiring board of the present invention. In addition, a detection device such as a CCD camera can be arranged on the polyimide surface side of the flexible printed wiring board, and the polyimide layer on which the wiring pattern is not formed by the light irradiated from the polyimide surface side of the flexible printed wiring board of the present invention. By detecting the light beam reflected and returned to the semiconductor chip after transmission, the semiconductor chip arranged on the pattern surface side of the flexible printed wiring board can be accurately positioned.

また、本発明の半導体装置は、上述のようなフレキシブルプリント配線基板に、640
〜1280ch/ICの電子部品が実装されてなり、LCDなどの表示装置のドライバ半導体装置である。
In addition, the semiconductor device of the present invention is provided on the flexible printed wiring board as described above, 640.
An electronic component of ˜1280 ch / IC is mounted, and is a driver semiconductor device for a display device such as an LCD.

このような半導体装置は、1電子部品当たりの有効チャンネル数が多く、従ってフラットパネルディスプレイパネルのソース側に配置するプリント配線基板の数を減少させることができる。しかもこのフレキシブルプリント配線基板を折り曲げて使用しても、フレキシブルプリント配線基板の折曲げ位置や接続端子付近で配線が破断することがない。   Such a semiconductor device has a large number of effective channels per electronic component, and therefore, the number of printed wiring boards disposed on the source side of the flat panel display panel can be reduced. And even if this flexible printed wiring board is bent and used, the wiring is not broken at the bending position of the flexible printed wiring board or in the vicinity of the connection terminals.

本発明のフレキシブルプリント配線基板に形成された配線パターンは、厚さ15μm以下、25℃における伸び率が5%以上であり、主として3μm以上の長径長さを有する柱
状の銅結晶粒子からなる電解銅箔から形成されている。このように本発明のフレキシブルプリント配線基板は、従来の低プロファイル電解銅箔と異なり、電解銅箔を形成する銅粒子が非常に大きいが、このように銅結晶粒子を大きくすることにより、配線ピッチ幅が40μmを下回る配線パターンを形成することが可能になる。これまでの配線パターンの細線化技術は、電解銅箔を形成する銅の結晶粒子を小さくすることにより低プロファイル電解銅箔を用いることによるものであったが、本願発明のフレキシブルプリント配線基板では、こうした従来技術とは逆に電解銅箔を形成する銅の結晶を従来の電解銅箔を形成していた銅結晶粒子よりもさらに大きくすることにより配線ピッチ幅が40μmを下回る非常にファインピッチの配線パターンを形成することができることを見出したことに基くものである。
The wiring pattern formed on the flexible printed wiring board of the present invention has a thickness of 15 μm or less, an elongation at 25 ° C. of 5% or more, and an electrolytic copper mainly composed of columnar copper crystal particles having a major axis length of 3 μm or more. It is formed from foil. Thus, unlike the conventional low profile electrolytic copper foil, the flexible printed wiring board of the present invention has very large copper particles forming the electrolytic copper foil. By increasing the copper crystal particles in this way, the wiring pitch can be increased. It becomes possible to form a wiring pattern having a width of less than 40 μm. The thinning technology of the wiring pattern so far was based on using a low profile electrolytic copper foil by reducing the copper crystal particles forming the electrolytic copper foil, but in the flexible printed wiring board of the present invention, Contrary to these conventional techniques, by making the copper crystals forming the electrolytic copper foil larger than the copper crystal particles forming the conventional electrolytic copper foil, the wiring pitch width is less than 40 μm and the wiring pitch width is very fine. This is based on the finding that a pattern can be formed.

さらに、このように本発明のフレキシブルプリント配線基板の配線パターンを形成する粒子が大型の柱状の銅の結晶を主成分としていることにより、この配線パターンの引張り強度が高くなり、さらにこの配線パターンの伸び率が高くなる。しかもこのような大型の銅結晶を有する電解銅箔のM面はS面と同等またはS面よりも低い表面粗度(Rz)を有して
いるが、このようなM面を均質に粗化処理することによりポリイミド層との間に非常に高
い密着性が発現する。
Further, since the particles forming the wiring pattern of the flexible printed wiring board of the present invention are mainly composed of large columnar copper crystals, the tensile strength of the wiring pattern is increased. Elongation increases. Moreover, the M-plane of electrolytic copper foil with such large copper crystals has a surface roughness (Rz) equivalent to or lower than that of the S-plane, but the M-plane is uniformly roughened. By processing, very high adhesiveness is expressed between the polyimide layer.

従って、このような銅の粒子径の大きい電解銅箔を用いることにより、配線ピッチ幅が40μmを下回るような非常にファインピッチの配線パターンを形成することができると共に、このようにして形成された配線パターン自体が、非常に高い引張り強度および伸び率を有している。しかもこのような電解銅箔の表面を均質に粗化処理し、この粗化処理した電解銅箔の表面にポリイミド前駆体からなる層を形成し、この電解銅箔の表面でポリイミドの閉環反応を行ってポリイミド層を積層することにより、この電解銅箔とポリイミド層との間に非常に高い密着性が発現する。このような電解銅箔とポリイミド層とからなる基材フィルムを用いて電解銅箔を選択的にエッチングして形成された配線は、その配線自体の機械的強度および伸び率が高く、しかもポリイミド層との密着強度も高い。従って、配線ピッチ幅が40μmを下回るような非常にファインピッチのフレキシブルプリント配線基板を形成しても、このフレキシブルプリント配線基板に形成されている配線自体の機械的強度が高く、このフレキシブルプリント配線基板を折り曲げて使用するなど非常に過酷な条件下で使用したとしても、折り曲げ部などで配線パターンがポリイミド層から剥離することがなく、さらに、配線パターンが破断することがない。具体的には、上記のような電解銅箔で形成された配線パターンを有するフレキシブルプリント配線について屈曲半径0.8mm、屈曲角度±135度、屈曲速度175rpm、印加荷重100gf/10mmwの条件
で25℃で測定した、少なくとも一部の配線パターンが断線に至るまでの耐折性が100回以上であり、非常に高い耐折性を有している。
Therefore, by using such an electrolytic copper foil having a large copper particle diameter, it is possible to form a wiring pattern with a very fine pitch such that the wiring pitch width is less than 40 μm, and thus formed. The wiring pattern itself has very high tensile strength and elongation. In addition, the surface of the electrolytic copper foil is uniformly roughened, a layer made of a polyimide precursor is formed on the surface of the roughened electrolytic copper foil, and a polyimide ring-closing reaction is performed on the surface of the electrolytic copper foil. By carrying out and laminating a polyimide layer, very high adhesiveness appears between this electrolytic copper foil and a polyimide layer. The wiring formed by selectively etching the electrolytic copper foil using the base film composed of the electrolytic copper foil and the polyimide layer has a high mechanical strength and elongation rate, and the polyimide layer. High adhesion strength. Therefore, even if a very fine pitch flexible printed wiring board having a wiring pitch width of less than 40 μm is formed, the mechanical strength of the wiring itself formed on the flexible printed wiring board is high. Even when used under extremely severe conditions such as bending the wiring pattern, the wiring pattern does not peel off from the polyimide layer at the bent portion or the like, and the wiring pattern does not break. Specifically, a flexible printed wiring having a wiring pattern formed of electrolytic copper foil as described above has a bending radius of 0.8 mm, a bending angle of ± 135 degrees, a bending speed of 175 rpm, and an applied load of 100 gf / 10 mm w. The folding resistance measured at 0 ° C. until at least a part of the wiring patterns is broken is 100 times or more, and has very high folding resistance.

さらに、このような銅結晶粒子径の大きい電解銅箔を用いて配線パターンを形成する際に、エッチング液、エッチング条件などを好適な範囲に設定することにより、形成される
配線パターンの断面形状を、理想的な断面形状である矩形に限りなく近くすることができる。
Furthermore, when forming a wiring pattern using such an electrolytic copper foil having a large copper crystal particle diameter, the cross-sectional shape of the wiring pattern to be formed is set by setting the etching solution, etching conditions, etc. in a suitable range. It can be made as close as possible to a rectangle having an ideal cross-sectional shape.

しかも、このフレキシブルプリント配線基板は、絶縁フィルムであるポリイミド層の光透過率を高くすることができる。例えば、このフレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側から光を照射して、このフレキシブルプリント配線基板を透過した後、半導体チップに反射して戻ってくる光をこの配線基板のポリイミド面側に配置した検知装置で検知して、こうして検知された画像をパターン認識することにより、本発明のフレキシブルプリント配線基板の位置決めを高い精度で行うことができる。従って、本発明のフレキシブルプリント配線基板には特別な位置決め手段を形成しなくとも、形成された配線パターン全体を用いて正確にプリント配線基板の位置決めを行うことができ、より高い精度で電子部品を実装することが可能になる。   And this flexible printed wiring board can make the light transmittance of the polyimide layer which is an insulating film high. For example, the light is irradiated from the polyimide surface side of this flexible printed circuit board, transmitted through this flexible printed circuit board, and then reflected back to the semiconductor chip and detected on the polyimide surface side of this circuit board. By detecting with the apparatus and recognizing the pattern of the image thus detected, the flexible printed wiring board of the present invention can be positioned with high accuracy. Therefore, the flexible printed wiring board of the present invention can accurately position the printed wiring board using the entire formed wiring pattern without forming any special positioning means, and the electronic component can be obtained with higher accuracy. It becomes possible to implement.

このように本発明のフレキシブルプリント配線基板は、従来のフォトリソグラフィー法では製造が実質上不可能であるとされていた最狭部の配線ピッチ幅が40μmを下回るような極めてファインピッチのフレキシブルプリント配線基板である。しかもこうして形成された配線パターン自体の引張り強度、伸び率などの機械的特性にも優れており、さらに配線パターンと絶縁フィルムであるポリイミド層との密着性が非常に高いので、折り曲げて使用する用途、外部からの応力がかかる用途に使用される極めてファインピッチのフレキシブルプリント配線基板として極めて有用性が高い。   As described above, the flexible printed wiring board of the present invention has a very fine pitch flexible printed wiring whose wiring pitch width at the narrowest part is less than 40 μm, which is considered to be substantially impossible to manufacture by the conventional photolithography method. It is a substrate. In addition, the wiring pattern itself thus formed is excellent in mechanical properties such as tensile strength and elongation, and the adhesion between the wiring pattern and the polyimide layer, which is an insulating film, is very high. It is extremely useful as a very fine pitch flexible printed circuit board used in applications where external stress is applied.

次に本発明のフレキシブルプリント配線基板について具体的に説明する。
本発明のフレキシブルプリント配線基板は、ピッチ幅が最も狭いインナーリードにおける配線ピッチ幅(P)が40μmを下回る非常にファインピッチ化されたフレキシブルプリント配線基板であり、このようなファインピッチ化を達成するために、本発明では大きい柱状の銅結晶粒子が大部分を占める特定の電解銅箔と積層されたポリイミド層との積層体を用いてフレキシブルプリント配線基板を形成する。
Next, the flexible printed wiring board of the present invention will be specifically described.
The flexible printed wiring board of the present invention is a flexible printed wiring board in which the wiring pitch width (P) in the inner lead having the narrowest pitch width is less than 40 μm, and achieves such a fine pitch. Therefore, in this invention, a flexible printed wiring board is formed using the laminated body of the specific electrolytic copper foil in which a large columnar copper crystal particle occupies most, and the laminated polyimide layer.

本発明のフレキシブルプリント配線基板は最狭部分の配線ピッチ幅が、上述のように40μmを下回る配線パターンを有するものであり、使用する電解銅箔の厚さは15μm以下であり、さらに好ましくは5〜12μmである。即ち、フレキシブルプリント配線基板をフォトリソグラフィー法により製造する場合、使用する電解銅箔の厚さは最狭部分の配線パターンのピッチ幅に基いて選定され、本発明のように最狭部分であるインナーリードのピッチ幅が40μmを下回る場合、最細部の配線の幅は、通常は20μm以下であり、好適な配線パターンを形成するためには、電解銅箔の厚さは最細部の配線の幅と同等もしくはこれ以下にする。   The flexible printed wiring board of the present invention has a wiring pattern in which the wiring pitch width of the narrowest portion is less than 40 μm as described above, and the thickness of the electrolytic copper foil to be used is 15 μm or less, more preferably 5 ~ 12 μm. That is, when a flexible printed wiring board is manufactured by a photolithography method, the thickness of the electrolytic copper foil to be used is selected based on the pitch width of the narrowest portion of the wiring pattern, and the inner portion which is the narrowest portion as in the present invention. When the lead pitch width is less than 40 μm, the width of the finest wiring is usually 20 μm or less, and in order to form a suitable wiring pattern, the thickness of the electrolytic copper foil is the same as the width of the finest wiring. Make it equal or less.

本発明で使用する電解銅箔には、従来の銅結晶粒子が小さい低プロファイル電解銅箔とは異なり、粒子径の大きい柱状の銅結晶粒子が多数形成されており、しかもこの柱状の銅結晶粒子の中には3μm以上、好ましくは6μm以上の長径を有する銅結晶粒子が多数存在している。   Unlike conventional low profile electrolytic copper foils with small copper crystal particles, the electrolytic copper foil used in the present invention is formed with a large number of columnar copper crystal particles having a large particle diameter, and the columnar copper crystal particles There are a large number of copper crystal particles having a long diameter of 3 μm or more, preferably 6 μm or more.

図1は、上記の電解銅箔を使用して形成されたインナーリード(ポリイミド層は溶解除去してある)の断面を銅結晶粒子が結晶ごとに明確になるように区分けして撮影した電子顕微鏡写真およびそのトレース図である。   FIG. 1 shows an electron microscope in which a cross section of an inner lead (polyimide layer is dissolved and removed) formed using the above-described electrolytic copper foil is sectioned so that copper crystal particles become clear for each crystal. It is a photograph and its trace figure.

この図1に示すように、本発明で使用する電解銅箔の厚さはT0であり、この電解銅箔
中には長径がD1,D2 ,D 4,D5,D6,D7,D8で表される柱状の銅結晶粒子が多数存
在している。この柱状の銅結晶粒子の長径D1,D 2 ,D 4,D5,D6,D7,D8は、電解
銅箔の厚さT0と同等かT0よりも明らかに長く、従って本発明のフレキシブルプリント配線基板を形成する配線パターン中には、配線パターンの厚さよりも長い長径を有する柱状の銅結晶粒子が多数含有されている。
As shown in FIG. 1, the thickness of the electrolytic copper foil used in the present invention is T 0 , and the major diameters in this electrolytic copper foil are D 1 , D 2 , D 4 , D 5 , D 6 , D 7, columnar copper crystal grains represented by D 8 are present many. The major axis D 1 of the columnar copper crystal grains, D 2, D 4, D 5, D 6, D 7, D 8 is clearly longer than or equal to T 0 and the thickness T 0 of the electrolytic copper foil, thus The wiring pattern forming the flexible printed wiring board of the present invention contains a large number of columnar copper crystal particles having a long diameter longer than the thickness of the wiring pattern.

本発明のフレキシブルプリント配線基板に形成されている配線パターンには、この電解銅箔の厚さ(=配線パターンの厚さ)T0と同等T0よりも長い長径を有する柱状の結晶粒子が配線パターンの断面中に面積比率で通常は50%以上含有されており、さらに75%以上含有されていることが好ましい。 A wiring pattern formed on the flexible printed wiring board of the present invention, the columnar crystal grains having a (thickness of = wiring pattern) longer diameter than equal to or T 0 and T 0 thickness of the electrolytic copper foil The cross section of the wiring pattern usually contains 50% or more in terms of area ratio, and more preferably contains 75% or more.

従って、本発明で使用する電解銅箔中には長径が3μmに満たない銅結晶粒子が断面比率で50%以下の量、好ましくは25%以下の量で含有されており、これらの長径が3μmに満たない銅結晶粒子は、通常は長径が3μm以上である柱状の銅結晶粒子の間隙を埋めるように存在している。   Therefore, the electrolytic copper foil used in the present invention contains copper crystal particles whose major axis is less than 3 μm in an amount of 50% or less, preferably 25% or less in terms of the cross-sectional ratio, and the major axis is 3 μm. The copper crystal particles less than 2 are present so as to fill the gaps between the columnar copper crystal particles having a major axis of 3 μm or more.

本発明で使用する電解銅箔は、上記のように、長径が3μm以上の柱状の銅結晶粒子を高い比率で含有するものであり、このような大きい柱状の銅結晶粒子を高い比率で含有することにより、この電解銅箔のM面の表面粗さ(Rz)は、非常に低く、通常は0.8μm
以下、好ましくは0.1〜0.6μmの範囲内にある。しかもこの電解銅箔のM面は非常
に平滑であり、この電解銅箔の流れ方向(MD方向)に沿って、この電解銅箔の表面に入射角60°で測定光を照射し、反射角60°で跳ね返った光の強度を測定して光沢度〔Ga(60°)〕を測定すると、この電解銅箔の光沢度は600〜780の値を示す。この電解銅箔のM面(析出面面)の光沢度〔Ga(60°)〕の値は、電解銅箔のS面(電解銅箔を製造する際に用いるドラム型電極の表面に接触している面)よりも高い値を示すことも多く、非常に高い平滑性を示す。
As described above, the electrolytic copper foil used in the present invention contains columnar copper crystal particles having a major axis of 3 μm or more at a high ratio, and contains such large columnar copper crystal particles at a high ratio. Therefore, the surface roughness (Rz) of the M surface of this electrolytic copper foil is very low, usually 0.8 μm
Hereinafter, it is preferably in the range of 0.1 to 0.6 μm. Moreover, the M surface of this electrolytic copper foil is very smooth, and the surface of this electrolytic copper foil is irradiated with measurement light at an incident angle of 60 ° along the flow direction (MD direction) of this electrolytic copper foil, and the reflection angle When the glossiness [Ga (60 °)] is measured by measuring the intensity of light bounced at 60 °, the glossiness of this electrolytic copper foil shows a value of 600 to 780. The value of the gloss [Ga (60 °)] of the M surface (deposition surface) of this electrolytic copper foil is in contact with the S surface of the electrolytic copper foil (the surface of the drum-type electrode used in the production of the electrolytic copper foil). In many cases, it exhibits a higher value than the surface), and exhibits very high smoothness.

本発明で使用する電解銅箔が長径の柱状粒子を高い比率で含有するから、結合力の低い粒子界面が少なくなり、この電解銅箔は、高い引張強度を有している。本発明で使用する電解銅箔について、25℃で測定した引張強度は通常は33kgf/mm2以上、好ましくは3
5〜40kgf/mm2である。さらに180℃で60分間加熱した後に測定した引張強度は通
常は30kgf/mm2以上であり、好ましくは33〜40kgf/mm2である。すなわち、本発明で使用する電解銅箔は、上述のように主として3μm以上の長径を有する柱状の銅結晶粒子からなるので、非常に高い引張強度を有する。
Since the electrolytic copper foil used in the present invention contains long-diameter columnar particles in a high ratio, the particle interface with low bonding force is reduced, and this electrolytic copper foil has high tensile strength. For the electrolytic copper foil used in the present invention, the tensile strength measured at 25 ° C. is usually 33 kgf / mm 2 or more, preferably 3
5-40 kgf / mm 2 . Tensile strength measured after heating an additional 60 minutes at 180 ° C. is usually at 30 kgf / mm 2 or more, preferably 33~40kgf / mm 2. That is, since the electrolytic copper foil used in the present invention is mainly composed of columnar copper crystal particles having a major axis of 3 μm or more as described above, it has a very high tensile strength.

また、この電解銅箔の25℃における伸び率は5%以上、好ましくは10〜15%であり、さらに180℃で60分間加熱した後の伸び率も通常は8%以上、好ましくは10〜15%である。すなわち、上述のように本発明で使用される電解銅箔を構成する銅結晶粒子は、長径が3%以上である柱状の結晶粒径および形態を有しているので、常温において非常に高い伸び率が発現すると共に、高温に加熱した後の伸び率も非常に高い値を示す。   The elongation at 25 ° C. of this electrolytic copper foil is 5% or more, preferably 10 to 15%. Further, the elongation after heating at 180 ° C. for 60 minutes is usually 8% or more, preferably 10 to 15%. %. That is, as described above, the copper crystal particles constituting the electrolytic copper foil used in the present invention have a columnar crystal grain size and form having a major axis of 3% or more, and therefore have a very high elongation at room temperature. Along with the development of the rate, the elongation after heating to a high temperature also shows a very high value.

このように本発明で使用する電解銅箔が、非常に高い伸び率および引張強度を有するのは、この電解銅箔を形成する銅の結晶粒子が柱状結晶であり、しかもその大部分が長径が3μm以上の大型の柱状結晶であるからである。   As described above, the electrolytic copper foil used in the present invention has a very high elongation and tensile strength because the copper crystal particles forming the electrolytic copper foil are columnar crystals, and most of them have a major axis. This is because it is a large columnar crystal of 3 μm or more.

上記のように本発明で使用する電解銅箔を形成する銅の粒子の形状が大型の柱状結晶であることから、引張強度および伸び率が高くなるので、この電解銅箔を用いて形成された配線パターンは、フレキシブルプリント配線基板を折り曲げて使用しても、折り曲げ部分等に形成された配線パターンがポリイミド層から剥離することがなく、また折り曲げ部分等で配線パターンが断線することがない。   As described above, since the shape of the copper particles forming the electrolytic copper foil used in the present invention is a large columnar crystal, the tensile strength and the elongation rate are increased, so the electrolytic copper foil was formed using this electrolytic copper foil. Even when the flexible printed wiring board is bent and used, the wiring pattern is not peeled off from the polyimide layer, and the wiring pattern is not disconnected at the bent portion.

上記のような本発明で使用する電解銅箔は、例えば、ジアリルジメチルアンモニウムク
ロライドのような環状構造を有する4級アンモニウム塩ポリマーと、3-メルカプト-1-プ
ロパンスルホン酸などの有機スルホン酸と、塩素イオンとを有する硫酸系銅電解液から銅を析出させることにより製造することができる。なお、この場合の環状構造を有する4級アンモニウム塩ポリマーの濃度は通常は1〜50ppmの範囲内にあり、有機スルホン酸の
濃度は通常は3〜50ppmの範囲内にあり、塩素濃度は通常は5〜50ppmの範囲内にある。また、この硫酸系銅電解液の銅濃度は通常は50〜120g/リットルの範囲内にあり、フリー硫酸濃度は、通常は60〜250g/リットルの範囲内にある。このような硫酸系銅電解液の液温を20〜60℃の範囲内、電流密度を通常は30〜90A/dm2の範囲内に設
定して、銅を析出させることにより本発明で使用する電解銅箔を製造することができる。上記のような組成を有する硫酸系銅電解液を用いて上記のような条件で銅を析出させると、析出銅の大部分が3μm以上の長径を有する柱状の銅結晶粒子となり、しかも析出終了面(析出面=M面)の表面が非常に平滑になる。
The electrolytic copper foil used in the present invention as described above is, for example, a quaternary ammonium salt polymer having a cyclic structure such as diallyldimethylammonium chloride, an organic sulfonic acid such as 3-mercapto-1-propanesulfonic acid, It can be produced by depositing copper from a sulfuric acid-based copper electrolyte containing chlorine ions. In this case, the concentration of the quaternary ammonium salt polymer having a cyclic structure is usually in the range of 1 to 50 ppm, the concentration of the organic sulfonic acid is usually in the range of 3 to 50 ppm, and the chlorine concentration is usually It exists in the range of 5-50 ppm. In addition, the copper concentration of this sulfuric acid-based copper electrolyte is usually in the range of 50 to 120 g / liter, and the free sulfuric acid concentration is usually in the range of 60 to 250 g / liter. The sulfuric acid-based copper electrolyte is used in the present invention by setting the liquid temperature within a range of 20 to 60 ° C. and the current density within a range of usually 30 to 90 A / dm 2 to precipitate copper. Electrolytic copper foil can be manufactured. When copper is precipitated under the above conditions using a sulfuric acid-based copper electrolyte having the above composition, most of the precipitated copper becomes columnar copper crystal particles having a major axis of 3 μm or more, and the precipitation finish surface. The surface of (deposition surface = M surface) becomes very smooth.

これに対して従来の低プロファイル電解銅箔は、銅を析出させる際に使用する銅電解液中に、銅と錯体を形成する添加剤を加えて、銅の析出粒子をできるだけ小さくして、製造される電解銅箔の表面を平滑にしているのであり、低プロファイル電解銅箔中には粒子径が小さいために銅結晶粒子の界面が多数存在することになるので、得られる銅箔の引張強度、伸び率などが本発明で使用する電解銅箔のように高くはなりにくい。また、銅箔の表面も非常に微細な粒子からなるために、銅箔表面の表面粗さは低くなるけれども光沢度〔Ga(60°)〕は通常は600未満の値を示し、光沢度〔Ga(60°)〕が600を超えることは通常はない。   On the other hand, conventional low profile electrolytic copper foil is manufactured by adding an additive that forms a complex with copper into the copper electrolyte used when copper is deposited to make the copper deposited particles as small as possible. The surface of the resulting electrolytic copper foil is smooth, and since the particle diameter is small in the low profile electrolytic copper foil, there are many interfaces of copper crystal particles, so the tensile strength of the resulting copper foil Further, the elongation rate and the like are unlikely to be as high as those of the electrolytic copper foil used in the present invention. Further, since the surface of the copper foil is also composed of very fine particles, the surface roughness of the copper foil surface is low, but the glossiness [Ga (60 °)] usually shows a value of less than 600, and the glossiness [ Ga (60 °)] usually does not exceed 600.

本発明では、上記のような電解銅箔とポリイミド層との積層体である基材フィルムを用いてフレキシブルプリント配線基板を製造するが、この積層の際には上記電解銅箔の表面にポリイミド層を形成する。本発明で使用する電解銅箔は、上述のようにM面の平滑性を
S面と同等またはそれ以上に高くすることができることから、電解銅箔のM面あるいはS面のいずれの面にポリイミド層を形成しても良いが、通常はM面の表面にポリイミド層を形成する。電解銅箔のM面にポリイミド層を形成する場合、電解銅箔を表面処理した後にポリイミド層を形成することが好ましい。ここで表面処理の例としては、電解銅箔の例えばM面に、銅微細粒子を析出付着させる所謂やけメッキ処理および付着した銅微細粒子を固定するかぶせメッキ処理からなる粗化処理、防錆処理、並びに、カップリング剤処理などを挙げることができる。
In the present invention, a flexible printed wiring board is manufactured using a base film that is a laminate of an electrolytic copper foil and a polyimide layer as described above. In this lamination, a polyimide layer is formed on the surface of the electrolytic copper foil. Form. As described above, the electrolytic copper foil used in the present invention can increase the smoothness of the M surface to the same level as or higher than that of the S surface. A layer may be formed, but usually a polyimide layer is formed on the surface of the M-plane. When a polyimide layer is formed on the M surface of the electrolytic copper foil, it is preferable to form the polyimide layer after surface treatment of the electrolytic copper foil. As an example of the surface treatment, for example, a so-called burn plating process for depositing and adhering copper fine particles on, for example, the M surface of the electrolytic copper foil, and a roughening process and a rust preventive process comprising a cover plating process for fixing the adhering copper fine particles. As well as a coupling agent treatment, and the like.

このうち粗化処理は、やけメッキ処理とかぶせメッキ処理とからなり、やけメッキ処理は、銅濃度が5〜20g/リットル程度、フリー硫酸濃度が50〜200g/リットル程度の銅濃度の低いメッキ液を用い、添加剤として例えばα-ナフトキノン、デキストリン、
膠、チオ尿素などを用いて、通常は、液温15〜40℃、電流密度10〜50A/dm2の条
件で電解銅箔のM面に銅の微細粒子を付着させる処理である。また、かぶせメッキ処理は、上記のようにして付着した銅の微細粒子を電解銅箔のM面に固定する処理であり、通常は銅濃度50〜80g/リットル程度、フリー硫酸濃度50〜150g/リットル程度の銅
メッキ液を用いて、液温40〜50℃、電流密度10〜50A/dm2の条件で銅の微細粒子
が付着した電解銅箔の析出面を銅メッキ層で覆う処理である。
Of these, the roughening treatment comprises a burn plating treatment and a cover plating treatment. The burn plating treatment is a plating solution having a low copper concentration with a copper concentration of about 5 to 20 g / liter and a free sulfuric acid concentration of about 50 to 200 g / liter. For example, α-naphthoquinone, dextrin,
This is a process of attaching fine copper particles to the M surface of the electrolytic copper foil under conditions of a liquid temperature of 15 to 40 ° C. and a current density of 10 to 50 A / dm 2 using glue or thiourea. Further, the covering plating treatment is a treatment for fixing the fine copper particles adhering as described above to the M surface of the electrolytic copper foil. Usually, the copper concentration is about 50 to 80 g / liter, and the free sulfuric acid concentration is 50 to 150 g / liter. using copper plating solution of about l, solution temperature 40 to 50 ° C., is in the process of the deposition surface of the electrolytic copper foil fine particles of copper deposited over a copper plating layer at a current density of 10 to 50 a / dm 2 .

上記のように表面処理を行って上記電解銅箔の析出面の表面粗度(Rz)を5μm以下、
好ましくは0.1〜3μmの範囲内、さらに好ましくは0.1〜2μmの範囲内に調整する。このように表面処理を行うことにより、電解銅箔とポリイミド層との密着性が高くなる。特に本発明のフレキシブルプリント配線基板を、フラットディスプレイパネルを駆動させる電子部品の実装に使用する場合には、本発明のフレキシブルプリント配線基板を折り曲げて使用する必要があり、上記のように粗化処理をすることにより、形成された配線がポリイミド層から剥離することがなくなり、折り曲げ部分や接続端子付近で配線が破断
するのを防止することができる。しかも上記のようにして均質に粗化処理を行うことにより、エッチング処理により露出したポリイミド層の表面に銅が残留することもない。
Surface treatment is performed as described above, and the surface roughness (Rz) of the deposited surface of the electrolytic copper foil is 5 μm or less,
Preferably, it is adjusted within the range of 0.1 to 3 μm, more preferably within the range of 0.1 to 2 μm. By performing the surface treatment in this manner, the adhesion between the electrolytic copper foil and the polyimide layer is increased. In particular, when the flexible printed wiring board of the present invention is used for mounting an electronic component for driving a flat display panel, the flexible printed wiring board of the present invention needs to be bent and used as described above. By doing this, the formed wiring is not peeled off from the polyimide layer, and it is possible to prevent the wiring from being broken near the bent portion or the connection terminal. In addition, by performing the roughening treatment uniformly as described above, copper does not remain on the surface of the polyimide layer exposed by the etching treatment.

本発明では、上記のような電解銅箔とポリイミド層との積層体である基材フィルムを使用してフレキシブルプリント配線基板を製造するが、このときのポリイミド層は予めフィルム状にしたポリイミドフィルムを電解銅箔と積層することもできるし、電解銅箔の析出面の表面に、ポリイミド前駆体を塗布して、このポリイミド前駆体を電解銅箔と共に加熱することにより、ポリイミド前駆体を電解銅箔表面で閉環して形成することもできる。   In this invention, although a flexible printed wiring board is manufactured using the base film which is a laminated body of the above electrolytic copper foil and a polyimide layer, the polyimide layer at this time is a polyimide film previously made into a film shape. It can also be laminated with electrolytic copper foil, or by applying a polyimide precursor to the surface of the electrolytic copper foil deposition surface, and heating the polyimide precursor together with the electrolytic copper foil, the polyimide precursor is electrolytic copper foil. It can also be formed by ring closure on the surface.

このようにして形成されるポリイミド層の厚さは、通常は12.5〜75μm、好ましくは20〜75μm、特に好ましくは20〜50μmの範囲内にある。本来ポリイミド樹脂は光透過性の高い樹脂ではないが、上記のような厚さでポリイミド層を形成することにより、ポリイミド層の光線透過率が67%を超え95%の範囲内になるので、本発明のフレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側から光を照射すると、配線の形成されていない部分を照射光が透過し、配線パターンの形成されている部分は照射光が透過せず、このフレキシブルプリント配線基板を透過する透過光線をCCDカメラ等の検知装置で認識し
、配線パターンの位置と搭載しようとする半導体チップの位置などを認識することができ、位置決め精度が著しく向上する。
The thickness of the polyimide layer thus formed is usually in the range of 12.5 to 75 μm, preferably 20 to 75 μm, particularly preferably 20 to 50 μm. Originally polyimide resin is not a resin with high light transmittance, but by forming the polyimide layer with the above thickness, the light transmittance of the polyimide layer is in the range of more than 67% to 95%. When light is irradiated from the polyimide surface side of the flexible printed wiring board of the invention, the irradiation light is transmitted through the portion where the wiring is not formed, and the irradiation light is not transmitted through the portion where the wiring pattern is formed. The transmitted light that passes through the substrate can be recognized by a detection device such as a CCD camera, and the position of the wiring pattern and the position of the semiconductor chip to be mounted can be recognized, thereby significantly improving the positioning accuracy.

このようにしてフレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側からCCDカメラ等の検
知装置を用いてパターン認識をする場合には、ポリイミド層の光線透過率が、67%を超え95%以下、好ましくは70〜90%の範囲内になるようにポリイミド層の厚さを調整することが望ましい。
Thus, when pattern recognition is performed using a detection device such as a CCD camera from the polyimide surface side of the flexible printed wiring board, the light transmittance of the polyimide layer exceeds 67% and is 95% or less, preferably 70 to It is desirable to adjust the thickness of the polyimide layer so that it is within the range of 90%.

本発明のフレキシブルプリント配線基板の形成において上記のように電解銅箔の表面にポリイミド前駆体を流涎して加熱硬化することによりポリイミド層を形成すると、ポリイミド層にはデバイスホールは形成されず、従って、上記のようにしてポリイミド層を形成したフィルムキャリアはデバイスホールを有しないCOFなどのプリント配線基板になる。   In the formation of the flexible printed wiring board of the present invention, when a polyimide layer is formed by pouring and curing the polyimide precursor on the surface of the electrolytic copper foil as described above, no device hole is formed in the polyimide layer. The film carrier on which the polyimide layer is formed as described above becomes a printed wiring board such as a COF having no device holes.

上記の説明ではポリイミド前駆体を用いてポリイミド層を形成する例を示したが、本発明はこれに限らず、ポリイミドフィルムを予め形成して、このポリイミドフィルムにデバイスホールなどを形成した後、電解銅箔と積層することもでき、このようにして形成されたフィルムキャリアにはデバイスホールを形成することができ、例えばTABテープなどを形成することも可能である。   In the above description, an example in which a polyimide layer is formed using a polyimide precursor is shown. However, the present invention is not limited to this, and after forming a polyimide film in advance and forming a device hole or the like in this polyimide film, electrolysis is performed. It can also be laminated with a copper foil, and a device hole can be formed in the film carrier thus formed, and for example, a TAB tape or the like can be formed.

上記のようにして形成された電解銅箔とポリイミド層との積層体である基材フィルムの電解銅箔の表面に感光性樹脂層を形成し、この感光性樹脂層を露光現像することにより、感光性樹脂硬化体からなるパターンを形成し、このパターンをマスキング材として電解銅箔をエッチングすることにより、配線パターンを形成する。   By forming a photosensitive resin layer on the surface of the electrolytic copper foil of the base film that is a laminate of the electrolytic copper foil and the polyimide layer formed as described above, and exposing and developing this photosensitive resin layer, A pattern made of a cured photosensitive resin is formed, and the wiring pattern is formed by etching the electrolytic copper foil using this pattern as a masking material.

本発明のフレキシブルプリント配線基板は、図3に示すように、最狭部分であるインナーリードの配線ピッチ幅(P)が40μmを下回るものであり、好ましくはこの配線ピッ
チ幅(P)は20μm以上40μm未満の範囲内にある。このような配線ピッチ幅(P)を有するフレキシブルプリント配線基板では、配線パターンのリード幅(W)が通常は8〜22μmの幅にすることができる。
As shown in FIG. 3, the flexible printed wiring board of the present invention has a wiring pitch width (P) of an inner lead that is the narrowest portion of less than 40 μm, and preferably the wiring pitch width (P) is 20 μm or more. Within the range of less than 40 μm. In the flexible printed wiring board having such a wiring pitch width (P), the lead width (W) of the wiring pattern can be usually set to 8 to 22 μm.

従来の方法では配線ピッチ幅(P)が40μmを下回るように配線パターンを形成する
ことはできないとされていたが、上記のような電解銅箔を使用することにより、配線ピッチ幅(P)が40μmを下回るような非常にファインピッチの配線パターンを形成するこ
とができる。
In the conventional method, the wiring pattern cannot be formed so that the wiring pitch width (P) is less than 40 μm. However, by using the electrolytic copper foil as described above, the wiring pitch width (P) is reduced. A very fine pitch wiring pattern of less than 40 μm can be formed.

上記のような配線ピッチ幅(P)を有する配線パターンは、基材フィルムの電解銅箔の
表面(通常はS面)に感光性樹脂層を形成して、この感光性樹脂層を露光・現像すること
により感光性樹脂の硬化体からなるパターンを形成し、こうして形成されたパターンをマスキング材として上記電解銅箔をエッチングすることにより、形成することができる。
The wiring pattern having the wiring pitch width (P) as described above is formed by forming a photosensitive resin layer on the surface (usually S surface) of the electrolytic copper foil of the base film, and exposing and developing the photosensitive resin layer. By doing so, it can form by forming the pattern which consists of a hardening body of photosensitive resin, and etching the said electrolytic copper foil by using the pattern formed in this way as a masking material.

このようにして形成される配線パターンは、配線パターンの上端部の幅と、配線パターンの下端部、即ちポリイミド層に接触する配線パターンの下端部の幅との間に差が小さくなるように形成することが好ましい。即ち、図3で示せば配線パターンのトップ幅(ILP)と配線パターンのボトム幅(ILB)との差が小さいことが好ましい。   The wiring pattern formed in this way is formed so that the difference between the width of the upper end portion of the wiring pattern and the width of the lower end portion of the wiring pattern, that is, the lower end portion of the wiring pattern in contact with the polyimide layer is small. It is preferable to do. That is, as shown in FIG. 3, it is preferable that the difference between the top width (ILP) of the wiring pattern and the bottom width (ILB) of the wiring pattern is small.

このように配線パターンのトップ幅(ILT)と配線パターンのボトム幅(ILB)との差を小さくするためには、上記のような電解銅箔を、エッチング抑制効果の高い化合物を含有するエッチング液を用いることが好ましい。ここでエッチング抑制効果の高い化合物としては、カルボニル基またはカルボキシル基を有する複素環式化合物、三重結合を有するグリコール類または三重結合を有するグリコール類の活性水素にエチレンオキサイドを付加させた化合物、アルキルサルコシンまたはアルキルサルコシンのアルカリ金属塩、および、芳香族カルボン酸の無水物からなる群から選ばれる少なくとも1種類の化合物またはこ
れらの誘導体、アミノトリアゾールのような窒素原子を含有するトリアゾール系化合物およびその誘導体、ベンゾチアゾール系化合物およびその誘導体、メルカプトベンゾチアゾールおよびその誘導体、カルボキシベンゾチアゾールおよびその誘導体などを挙げることができる。これらは単独であるいは組み合わせて使用することができる。エッチング液に上記のようなエッチング抑制効果の高い化合物を配合することにより、エッチングされて新たに露出したエッチング部の銅に上記エッチング抑制効果の高い化合物が優先的に結合して、この新たに露出した銅がエッチング剤によりさらにエッチングされるのが抑制されるので、配線パターンのトップが過度にエッチングされることがなく、形成された配線パターンのトップ幅(ILT)とボトム幅(ILB)との差が小さくなり、全体断面が矩形に近い形状の配線パターンを形成することができる。
Thus, in order to reduce the difference between the top width (ILT) of the wiring pattern and the bottom width (ILB) of the wiring pattern, an electrolytic solution containing the above-described electrolytic copper foil with a compound having a high etching suppression effect is used. Is preferably used. Here, the compound having a high etching suppression effect includes a heterocyclic compound having a carbonyl group or a carboxyl group, a glycol having a triple bond or a compound in which ethylene oxide is added to an active hydrogen of a glycol having a triple bond, alkyl sarcosine Or at least one compound selected from the group consisting of alkali metal salts of alkyl sarcosine and anhydrides of aromatic carboxylic acids or derivatives thereof, triazole compounds containing nitrogen atoms such as aminotriazole and derivatives thereof, Examples thereof include benzothiazole compounds and derivatives thereof, mercaptobenzothiazole and derivatives thereof, and carboxybenzothiazole and derivatives thereof. These can be used alone or in combination. By adding a compound having a high etching suppression effect as described above to the etching solution, the compound having a high etching suppression effect is preferentially bonded to the newly exposed copper in the etched portion, and this newly exposed compound is exposed. Therefore, the top of the wiring pattern is not excessively etched, and the top width (ILT) and bottom width (ILB) of the formed wiring pattern are not etched. The difference is reduced, and a wiring pattern having an overall cross section close to a rectangle can be formed.

なお、ここで使用されるエッチング剤としては、エッチング剤の主成分として、塩化第2鉄、あるいは塩化第2銅などを含むエッチング液を使用することが好ましい。
上記のようにして形成されたフレキシブルプリント配線基板は、配線パターンの上端部の幅(ILT)と下端部の幅(ILB)との差が小さく、形成された配線パターンの断面形状を例えば図5に示すように略矩形にすることができる。
As an etchant used here, an etchant containing ferric chloride or cupric chloride as a main component of the etchant is preferably used.
The flexible printed wiring board formed as described above has a small difference between the width (ILT) of the upper end portion and the width (ILB) of the lower end portion of the wiring pattern, and the cross-sectional shape of the formed wiring pattern is, for example, FIG. As shown in FIG.

このように形成される配線パターンの断面形状を矩形にすると図4に示すように、ICのバンプ電極との接触面積を広く確保することができ、電子部品をより確実に実装することができる。   When the cross-sectional shape of the wiring pattern thus formed is rectangular, as shown in FIG. 4, a wide contact area with the bump electrode of the IC can be ensured, and the electronic component can be more reliably mounted.

上記は、主として電子部品と接続するインナーリードについての記載であるが、上記の方法によれば、アウターリードの断面形状も上記と同様に略矩形に形成することができる。   The above description is mainly about the inner lead connected to the electronic component. However, according to the above method, the cross-sectional shape of the outer lead can be formed in a substantially rectangular shape as described above.

また、上記のようにしてエッチングを行うことにより図5に示すように、形成される配線パターンの断面が略矩形になると共に、形成される配線パターンが直線的に形成される。図5には、配線ピッチ幅が(P)が20μmである配線パターンの顕微鏡写真の例が示
されている。配線パターンと隣接する配線パターンとの間にはポリイミド層の表面が露出している。この露出しているポリイミド層の表面には、このポリインド層の表面に配置されていた電解銅箔のM面の表面状態が転写されるのが一般的であり、従って、ポリイミド
層の表面粗度は、使用する電解銅箔のM面の表面状態が転写されることから、この露出し
ているポリイミド層の表面粗度(Rz)は、通常は5μm以下、好ましくは0.1〜1μmの範囲内にある。
Further, by performing the etching as described above, as shown in FIG. 5, the cross section of the formed wiring pattern becomes substantially rectangular and the formed wiring pattern is formed linearly. FIG. 5 shows an example of a micrograph of a wiring pattern having a wiring pitch width (P) of 20 μm. The surface of the polyimide layer is exposed between the wiring pattern and the adjacent wiring pattern. In general, the surface state of the M surface of the electrolytic copper foil disposed on the surface of the polyind layer is transferred to the surface of the exposed polyimide layer. Since the surface state of the M surface of the electrolytic copper foil used is transferred, the surface roughness (Rz) of the exposed polyimide layer is usually 5 μm or less, preferably in the range of 0.1 to 1 μm. Is in.

そして、上記のようなエッチング法を採用することにより、図5に示すように形成される配線パターンが非常に直線的になる。従来の方法で形成されたフレキシブルプリント配線基板は、例えば図6に示されるように、その断面形状が台形状になり、しかも形成される配線パターンは直線性が低くなる。なお、上述のように従来の方法では配線ピッチ幅(P)が40μmを下回ることはできないので、図6に示す配線パターンの配線ピッチ幅(P)は45μmである。   By adopting the etching method as described above, the wiring pattern formed as shown in FIG. 5 becomes very linear. For example, as shown in FIG. 6, the flexible printed wiring board formed by the conventional method has a trapezoidal cross section, and the formed wiring pattern has low linearity. As described above, since the wiring pitch width (P) cannot be less than 40 μm by the conventional method, the wiring pitch width (P) of the wiring pattern shown in FIG. 6 is 45 μm.

このように適宜エッチング条件を設定することにより、より矩形に近い断面形状を有する配線パターンを形成することができる。このようにしてエッチングした後、使用したマスキング材は、アルカリ洗浄などにより容易に除去することができる。   By appropriately setting the etching conditions in this way, a wiring pattern having a cross-sectional shape closer to a rectangle can be formed. After etching in this manner, the used masking material can be easily removed by alkali cleaning or the like.

こうして形成された配線パターンは、図2に示すように、接続端子部である入力側アウターリード、入力側インナーリード、出力側インナーリード、出力側アウターリードなどのリード部が露出するように保護樹脂層で被覆される。この保護樹脂層は、スクリーン印刷技術を用いて樹脂を塗布し、硬化させたソルダーレジスト層であっても良いし、またフィルムの一方の面に接着性樹脂層を形成した積層体を所望の形状に打ち抜いて、これを配線パターンの所定の場所に貼着されたカバーレイであってもよい。   As shown in FIG. 2, the wiring pattern formed in this way is a protective resin so that lead portions such as input outer leads, input inner leads, output inner leads, and output outer leads that are connection terminal portions are exposed. Covered with layers. This protective resin layer may be a solder resist layer obtained by applying and curing a resin using a screen printing technique, or a laminate in which an adhesive resin layer is formed on one surface of a film in a desired shape. It may be a coverlay that has been punched out and adhered to a predetermined location of the wiring pattern.

上記のようにソルダーレジスト層あるいはカバーレイから露出しているリード部は、メッキ処理される。ここで採用されるメッキ処理には、スズメッキ処理、金メッキ処理、ニッケル-金メッキ処理、ニッケルメッキ処理、半田メッキ処理、鉛フリー半田メッキ処理
、亜鉛メッキ処理、銅メッキ処理、銀メッキ処理などがある。これらのメッキ処理は単独で行うこともできるし、また複数のメッキ処理を組み合わせて行うこともできる。さらに、上記のソルダーレジスト層あるいはカバーレイで配線パターンを被覆する前に上記のメッキ処理を行った後、ソルダーレジスト層を形成しあるいはカバーレイを貼着することもできる。
As described above, the lead portions exposed from the solder resist layer or the coverlay are subjected to plating. The plating process employed here includes a tin plating process, a gold plating process, a nickel-gold plating process, a nickel plating process, a solder plating process, a lead-free solder plating process, a galvanizing process, a copper plating process, and a silver plating process. These plating processes can be performed alone or in combination with a plurality of plating processes. Furthermore, the solder resist layer can be formed or the cover lay can be adhered after the plating treatment is performed before the wiring pattern is covered with the solder resist layer or the cover lay.

このようにして形成されるメッキ層の厚さは、通常は0.1〜10μmの範囲内にある。
上記のようにしてメッキ層およびソルダーレジスト層あるいはカバーレイを形成した後、図2に示すように、電子部品を実装し樹脂封止することにより半導体装置を得ることができる。
The thickness of the plated layer thus formed is usually in the range of 0.1 to 10 μm.
After forming the plating layer and the solder resist layer or the cover lay as described above, as shown in FIG. 2, a semiconductor device can be obtained by mounting an electronic component and sealing with resin.

本発明のフレキシブルプリント配線基板を構成するポリイミド層は非常に薄く形成されているので、光透過率が高く、フレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側から光を照射したときの透過光によりフレキシブルプリント配線基板に形成されている配線パターンの形状を認識することができ、これにより非常に高い精度で位置決めを行って電子部品を実装して本発明の半導体装置を製造することができる。   Since the polyimide layer constituting the flexible printed circuit board of the present invention is formed very thin, the light transmittance is high and the flexible printed circuit board is transmitted by light transmitted from the polyimide surface side of the flexible printed circuit board. The shape of the wiring pattern formed on the semiconductor device can be recognized, whereby the semiconductor device of the present invention can be manufactured by positioning with very high accuracy and mounting the electronic component.

本発明のフレキシブルプリント配線基板に実装される電子部品としては、LCD表示装置
、PDP表示装置のような表示装置に配置されるドライバであることが好ましい。このよう
な表示装置のドライバは1個の電子部品あたりのチャンネル数が128ch/1IC、256ch/1IC
、512ch/1ICと次第にチャンネル数が多くなってきており、本発明のフレキシブルプリント配線基板は640ch/1IC〜1280ch/1ICの有効チャンネル数を有する電子部品を実装
するのに適している。特に本発明のフレキシブルプリント配線基板は、画素数が100万以上である表示装置のドライバICを実装するのに適している。
The electronic component mounted on the flexible printed wiring board of the present invention is preferably a driver arranged in a display device such as an LCD display device or a PDP display device. The driver of such a display device has 128 channels per IC, 256 channels per IC, and 256 channels per IC.
The number of channels gradually increases to 512ch / 1IC, and the flexible printed wiring board of the present invention is suitable for mounting electronic components having an effective channel number of 640ch / 1IC to 1280ch / 1IC. In particular, the flexible printed wiring board of the present invention is suitable for mounting a driver IC for a display device having 1 million or more pixels.

このようにフラットパネルディスプレイを駆動させるドライバは、1つの電子部品で処
理する情報量は次第に多くなっているけれども、電子部品自体は軽量でかつ小型化している。従って、電子部品との間で電気的接続点を形成するインナーリードは、小型で高密度に形成されたバンプ電極に対応して配線ピッチ幅も狭くする必要がある。
As described above, the driver for driving the flat panel display gradually increases the amount of information processed by one electronic component, but the electronic component itself is light and small. Therefore, the inner lead that forms the electrical connection point with the electronic component needs to have a narrow wiring pitch width corresponding to the bump electrode that is small and formed with high density.

本発明のフレキシブルプリント配線基板は、上記のような構成を有しており、このフレキシブルプリント配線基板をフラットパネルディスプレイを駆動させるための電子部品を実装した場合には、例えば図2に示すように、フレキシブルプリント配線基板の電子部品を配線基板が実装されている位置と出力側アウターリードの間で折り曲げて使用する。このようにフレキシブルプリント配線基板を折り曲げて使用する場合、この折り曲げ部の配線パターンには大きな曲げ応力がかかり、また接続端子付近には応力が集中し、この折り曲げ部分等の配線基板の銅の結晶粒子が小さい場合には、クラックが発生しやすくなり、このクラックから折り曲げ部等の配線パターンの断線が始まることが多い。   The flexible printed wiring board of the present invention has the above-described configuration. When the flexible printed wiring board is mounted with an electronic component for driving a flat panel display, for example, as shown in FIG. The electronic component of the flexible printed circuit board is used by being bent between the position where the circuit board is mounted and the output outer lead. When a flexible printed wiring board is bent and used in this way, a large bending stress is applied to the wiring pattern of the bent portion, and stress is concentrated near the connection terminal, and the copper crystal of the wiring board such as the bent portion is used. When the particles are small, cracks are likely to occur, and the breakage of the wiring pattern such as a bent portion often starts from this crack.

ところが、本発明で使用するような大部分が結晶径が3μm以上の柱状結晶である電解銅箔を使用することによると、折り曲げ部分等にクラックが発生しにくく、従って折り曲げ部分等で断線が発生しにくい。さらに、本発明で使用する電解銅箔は、上記のような結晶構造を採ることにより、引張強度および伸び率が高いので、大きな曲げ応力がかかる折り曲げ部分等においても、曲げ応力や繰り返し応力を吸収し破断に至るのを防止することができる。   However, when using electrolytic copper foil that is mostly columnar crystals with a crystal diameter of 3 μm or more as used in the present invention, cracks are unlikely to occur in the bent portions, and thus disconnections occur in the bent portions. Hard to do. Furthermore, the electrolytic copper foil used in the present invention has a high tensile strength and elongation rate by adopting the crystal structure as described above, and therefore absorbs bending stress and repetitive stress even in a bent portion where a large bending stress is applied. It is possible to prevent breakage.

本発明のフレキシブルプリント配線基板について、フレキシブルプリント配線基板の耐折性試験機(MIT試験機)を用いて、屈曲半径0.8mm、屈曲角度±135度、屈曲速
度175rpm、印加荷重100gf/10mmwの条件で25℃で耐折性を測定したときに、折り
曲げ部に形成された配線パターンが破断に至るまでの耐折性は、少なくとも100回であり、このように繰り返し折り曲げても非常に破断が発生しにくく、通常の場合、100回折曲を繰り返しても配線パターンは破断しない。
About the flexible printed wiring board of the present invention, using a flexible printed wiring board folding resistance testing machine (MIT testing machine), a bending radius of 0.8 mm, a bending angle of ± 135 degrees, a bending speed of 175 rpm, and an applied load of 100 gf / 10 mm w When the folding resistance is measured at 25 ° C. under the above conditions, the folding resistance until the wiring pattern formed in the bent portion is ruptured is at least 100 times. In a normal case, the wiring pattern does not break even when 100 diffraction curves are repeated.

このような優れた耐折性は、配線パターンの形成に使用している電解銅箔に、上述のように高い引張強度および伸び率が発現するように3μm以上の長い長径を有する柱状の銅結晶粒子から形成されており、しかもこのような柱状の銅結晶粒子の内の少なくとも一部は、形成された配線パターンの厚さよりも長い長径を有する銅結晶粒子であるので、形成された配線パターンが非常に高い機械的特性を有するようになり、形成された配線パターンと支持体であるポリイミド層とが共同して曲げ応力による配線パターンの破断を防止していると考えられる。   Such excellent folding resistance is due to the columnar copper crystals having a long major axis of 3 μm or more so that the high tensile strength and elongation rate are expressed in the electrolytic copper foil used for forming the wiring pattern as described above. Further, since at least a part of such columnar copper crystal particles are copper crystal particles having a longer diameter than the thickness of the formed wiring pattern, the formed wiring pattern is It is considered that it has very high mechanical characteristics, and the formed wiring pattern and the polyimide layer as a support jointly prevent the wiring pattern from being broken by bending stress.

本発明のフレキシブルプリント配線基板は、電子部品を実装して、さらに折り曲げて使用する用途に好適に使用することができる。従って、特に本発明のフレキシブルプリント配線基板は、特にLCDあるいはPDPのようなフラットパネルディスプレイに配置されて、このフラットパネルディプレイを駆動させるための電子部品を実装するために使用することが好ましい。   The flexible printed wiring board of the present invention can be suitably used for applications in which electronic components are mounted and further bent. Therefore, the flexible printed wiring board of the present invention is particularly preferably used for mounting an electronic component for driving the flat panel display, which is disposed on a flat panel display such as an LCD or a PDP.

〔実施例〕
次に本発明の実施例を示して本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらによって限定されるものではない。
〔Example〕
EXAMPLES Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples of the present invention, but the present invention is not limited thereto.

銅濃度80g/リットル、フリー硫酸濃度140g/リットル、1,3-メルカプト-1-プ
ロパンスルホン酸濃度4ppm、ジアリルジメチルアンモニウムクロライド(センカ(株)
製、商品名:ユニセンスFPA100L)3ppm、塩素濃度10ppmの硫酸系銅電解液を用いて、
液温50℃、電流密度60A/dm2の条件で厚さ12μmの電解銅箔を製造した。この電
解銅箔のS面の表面粗度(Rz)は1.2μm、M面の表面粗度は0.6μm、M面の光沢度
〔Gs(60°)〕は650である。
Copper concentration 80 g / liter, free sulfuric acid concentration 140 g / liter, 1,3-mercapto-1-propanesulfonic acid concentration 4 ppm, diallyldimethylammonium chloride (Senka Co., Ltd.)
(Product name: Unisense FPA100L) 3ppm, Chlorine concentration 10ppm of sulfuric copper electrolyte,
An electrolytic copper foil having a thickness of 12 μm was produced under the conditions of a liquid temperature of 50 ° C. and a current density of 60 A / dm 2 . The surface roughness (Rz) of the S surface of this electrolytic copper foil is 1.2 μm, the surface roughness of the M surface is 0.6 μm, and the glossiness [Gs (60 °)] of the M surface is 650.

この電解銅箔のM面にやけメッキ処理、かぶせメッキ処理からなる粗化処理を行って、M面の表面粗度(Rz)を1.5μmに調節した。こうして粗化処理された電解銅箔のマット面に市販のポリアミック酸を含むポリイミド前駆体ワニスを塗布し、加熱して閉環イミド化反応を行いポリイミド層を形成した。こうして得られた基材フィルム層は、ポリイミド層の厚さが40μmであり、得られた基材フィルムは、電解銅箔の厚さが12μm、ポリイミド層の厚さが40μmの二層積層体である。なお、ここで使用した粗化処理前の電解銅箔について、常法に従って、25℃で測定した伸び率は8%であり、180℃で60分間保持した後測定した伸び率は12%であり、非常に柔軟性に富んだ電解銅箔であった。また、この電解銅箔について、常法に従って25℃で測定した引張強度は39kgf/mm2
あり、180℃で60分間保持した後に測定した引張強度は35kgf/mm2であった
上記のようにして形成された基材フィルムの電解銅箔層の全面の厚さが8μmになるまでエッチングした後、表面に感光性樹脂を塗布し、こうして形成された感光性樹脂層を露光現像した。こうして現像されたパターンのインナーリードの配線ピッチ幅(P)は20μmであり、リード幅(W)は10μmである。またアウターリードの配線ピッチ幅は40μmであり、リード幅は20μmである。
The M surface of this electrolytic copper foil was subjected to a roughening treatment comprising a burn plating treatment and a cover plating treatment, and the surface roughness (Rz) of the M surface was adjusted to 1.5 μm. A polyimide precursor varnish containing a commercially available polyamic acid was applied to the matte surface of the electrolytic copper foil thus roughened, and heated to carry out a ring-closing imidization reaction to form a polyimide layer. The substrate film layer thus obtained has a polyimide layer thickness of 40 μm, and the obtained substrate film is a two-layer laminate having an electrolytic copper foil thickness of 12 μm and a polyimide layer thickness of 40 μm. is there. In addition, about the electrolytic copper foil before roughening process used here, the elongation measured at 25 degreeC is 8% according to a conventional method, and the elongation measured after hold | maintaining for 60 minutes at 180 degreeC is 12%. It was a very flexible electrolytic copper foil. Further, this electrolytic copper foil had a tensile strength of 39 kgf / mm 2 measured at 25 ° C. according to a conventional method, and the tensile strength measured after holding at 180 ° C. for 60 minutes was 35 kgf / mm 2. After etching until the thickness of the entire surface of the electrolytic copper foil layer of the base film formed was 8 μm, a photosensitive resin was applied to the surface, and the photosensitive resin layer thus formed was exposed and developed. The wiring pitch width (P) of the inner leads of the developed pattern is 20 μm, and the lead width (W) is 10 μm. The wiring pitch width of the outer leads is 40 μm, and the lead width is 20 μm.

上記のようにして形成されたパターンをマスキング材として環内にある異原子として窒素原子のみを有するアゾールを添加剤として含有する塩化第2銅系のエッチング液を用いて、銅箔を選択的にエッチング除去した。   Using the pattern formed as described above as a masking material, a copper foil is selectively used by using a cupric chloride-based etching solution containing as an additive an azole having only nitrogen atoms as hetero atoms in the ring. Etching was removed.

エッチングされた基材フィルムをアルカリ洗浄することにより、マスキング材を除去し、次いで、インナーリードおよびアウターリードが露出するようにスクリーン印刷技術を利用してソルダーレジストを塗布し、乾燥させてソルダーレジスト層を形成した。   The masking material is removed by alkali cleaning the etched base film, and then a solder resist is applied using a screen printing technique so that the inner leads and outer leads are exposed, and dried to form a solder resist layer. Formed.

次いで、ソルダーレジスト層から露出しているインナーリード部およびアウターリード部に厚さ0.5μmの無電解スズメッキ層を形成して本発明のフレキシブルプリント配線基板を得た。   Next, an electroless tin plating layer having a thickness of 0.5 μm was formed on the inner lead portion and the outer lead portion exposed from the solder resist layer to obtain the flexible printed wiring board of the present invention.

こうして得られたフレキシブルプリント配線基板のインナーリードに、1280ch/1ICの電子部品を、ボンディングツールをフレキシブルプリント配線基板のポリイミド層側
から押し当てて超音波を与えると共に加熱して電子部品を実装した半導体装置を製造した。
A semiconductor in which an electronic component is mounted by applying an ultrasonic wave to the inner lead of the flexible printed wiring board obtained in this way, applying an ultrasonic wave by pressing a bonding tool from the polyimide layer side of the flexible printed wiring board, and heating. The device was manufactured.

上記のようにして製造する際に、無電解スズメッキをする前のフレキシブルプリント配線基板からインナーリード部分を切り出した。こうして形成したインナーリードの部分の電子顕微鏡写真を図5に示す。個々の配線は、矩形の断面形状に形成されていた。   When manufacturing as mentioned above, the inner lead part was cut out from the flexible printed wiring board before electroless tin plating. An electron micrograph of the inner lead portion thus formed is shown in FIG. Each wiring was formed in the rectangular cross-sectional shape.

こうして形成されたインナーリードのボトム幅(ILB)は、10μmであり、このインナ
ーリードのトップ幅(ILT)は10μmである。
この部分のポリイミドを溶解除去して電解銅箔からなるインナーリードを取り出し、その断面を電子顕微鏡で観察した。この電子顕微鏡写真を図1に示し、この電子顕微鏡写真をトレースした図も図1に示す。
The bottom width (ILB) of the inner lead thus formed is 10 μm, and the top width (ILT) of the inner lead is 10 μm.
The polyimide in this portion was dissolved and removed, the inner lead made of electrolytic copper foil was taken out, and the cross section was observed with an electron microscope. The electron micrograph is shown in FIG. 1, and a trace of the electron micrograph is also shown in FIG.

図1に示すように、このインナーリードの厚さT0は8μmであり、図1のトレースした図面においてD1〜D8は、明らかにこのインナーリードの厚さT0=8μmよりも長い長径
を有する銅の柱状結晶であった。この断面における8μmを超える柱状の銅結晶の占有面積は60%であった。
As shown in FIG. 1, the thickness T 0 of the inner lead is 8 μm, and in the traced drawing of FIG. 1, D1 to D8 clearly have a longer diameter than the thickness T 0 of the inner lead = 8 μm. It was a copper columnar crystal. The area occupied by columnar copper crystals exceeding 8 μm in this cross section was 60%.

また、上記のようにして製造したフレキシブルプリント配線基板において、配線パターン間で配線パターンが形成されていない部分のポリイミド層の表面の表面粗度(Rz)は0.5μmであり、こうした配線パターンが形成されていない部分の光線透過率は80%であった。TABボンダーにおいて、このフレキシブルプリント配線基板のポリイミド面側に
光源を配置し、ポリイミド面側にCCDカメラを配置して、このフレキシブルプリント配線
基板を透過する光を検知して、半導体チップとフレキシブルプリント配線基板との位置決めを行うことができた。ここで、光透過率は、吸光光度計を用いて測定されたものである、すなわち、導体をエッチングした絶縁層(ポリイミド層)を適当な大きさに切り出して光度計に光源に対して垂直になるようにセットして測定する。また、かかる光透過率は、ICチップなどの実装時に画像処理する際に使用する光源の波長の領域で有していればよいが、一般には、可視領域、例えば波長400〜800nm程度の領域が使用される、しかしながら、絶縁層が例えばポリイミドの二重結合を有する材料からなる場合には、500nm以下に大きな吸収を有するので、一般には600〜700nmの波長の光を中心にして光透過率をCCDカメラ等で検知して画像認識処理する。
Further, in the flexible printed wiring board manufactured as described above, the surface roughness (Rz) of the surface of the polyimide layer in the portion where the wiring pattern is not formed between the wiring patterns is 0.5 μm. The light transmittance of the portion not formed was 80%. In the TAB bonder, a light source is arranged on the polyimide surface side of this flexible printed wiring board, a CCD camera is arranged on the polyimide surface side, and the light transmitted through this flexible printed wiring board is detected, and the semiconductor chip and the flexible printed wiring Positioning with the substrate was possible. Here, the light transmittance is measured using an absorptiometer, that is, an insulating layer (polyimide layer) obtained by etching a conductor is cut out to an appropriate size, and the photometer is perpendicular to the light source. Set and measure as follows. Further, the light transmittance may be in the wavelength region of the light source used for image processing when mounting an IC chip or the like, but in general, a visible region, for example, a region having a wavelength of about 400 to 800 nm is used. However, when the insulating layer is made of, for example, a material having a double bond of polyimide, it has a large absorption at 500 nm or less, and therefore generally has a light transmittance centered on light having a wavelength of 600 to 700 nm. Image recognition processing is detected by a CCD camera.

上記のようにして製造されたフレキシブルプリント配線基板を、耐折性試験装置である市販のMIT試験機を用いて、100gf/10mmwの荷重をかけて屈曲角度±135度、屈曲半径0.8mm、屈曲速度175rpmの条件で25℃で配線抵抗変化を測定したところ、13
0回で断線した。
The flexible printed wiring board manufactured as described above was subjected to a load of 100 gf / 10 mm w by using a commercially available MIT test machine, which is a folding resistance test apparatus, with a bending angle of ± 135 degrees and a bending radius of 0.8 mm. When a change in wiring resistance was measured at 25 ° C. under a bending speed of 175 rpm, 13
Disconnected 0 times.

図1に示すように本発明のフレキシブルプリント配線基板に形成されている配線パターンの断面の銅粒子は、従来のプリント配線基板を形成するのに適しているとされて広範囲に使用されている図7に示す電解銅箔を構成する銅粒子と比較すると非常に形状が大きく、しかもこうした粒子径の大きい柱状の銅粒子が配線パターンの中に多数存在してこれらは配線パターンの中で他の柱状銅粒子と共同して略矩形の配線パターンに非常に優れた耐折性、伸び率などの優れた特性を付与しているものと考えられる。   As shown in FIG. 1, the copper particles in the cross section of the wiring pattern formed on the flexible printed wiring board of the present invention are considered to be suitable for forming a conventional printed wiring board and are widely used. Compared with the copper particles constituting the electrolytic copper foil shown in Fig. 7, the shape is very large, and there are many columnar copper particles having a large particle diameter in the wiring pattern, and these are other columnar shapes in the wiring pattern. It is considered that in combination with the copper particles, the substantially rectangular wiring pattern is imparted with excellent characteristics such as excellent folding resistance and elongation.

これに対して、従来のように析出粒子径を小さくして、こうした小さい銅粒子が密に詰まった銅箔を使用したのでは、例えば図7に示すように、リード自体が小さい銅結晶の集合となり、銅粒子の粒界の数が多いだけ、こうした境界からエッチング液が浸入し易くなるので、配線パターンをエッチングにより形成している間にも、既にエッチングされた部分のサイドエッチングが進行して、矩形の配線パターンは形成されにくく、図6に示されるように、その断面形状が台形の配線パターンが形成されやすい。   On the other hand, when the precipitated particle size is reduced as in the prior art and a copper foil in which such small copper particles are densely packed is used, for example, as shown in FIG. As the number of grain boundaries of the copper particles is large, the etchant can easily enter from these boundaries, so the side etching of the already etched part proceeds while the wiring pattern is formed by etching. A rectangular wiring pattern is difficult to form, and as shown in FIG. 6, a trapezoidal wiring pattern is easily formed.

このように本発明の実施例1で形成されたフレキシブルプリント配線基板は、配線パターンを形成する銅の結晶粒子の大部分を柱状結晶とし、しかもこの柱状結晶の長径が3μm以上とすることにより、配線ピッチ幅(P)が40μm未満であっても断面略矩形の配
線パターンを形成することができ、さらに長径の銅の柱状粒子を含有することにより、形成された配線パターン自体が非常に優れた耐折性などの機械的特性を示すようになる。
〔比較例1〕
電解銅箔として、超低粗度電解銅箔(三井金属工業(株)製)を用いて、この電解銅箔のS面にポリイミド前駆体ワニスを塗布して加熱し、二層積層体を製作した。
As described above, the flexible printed wiring board formed in Example 1 of the present invention has most of the crystal grains of copper forming the wiring pattern as columnar crystals, and the major axis of the columnar crystals is 3 μm or more. Even if the wiring pitch width (P) is less than 40 μm, it is possible to form a wiring pattern having a substantially rectangular cross section, and further, the wiring pattern formed itself is very excellent by containing long diameter copper columnar particles. It shows mechanical properties such as folding resistance.
[Comparative Example 1]
Using an ultra-low roughness electrolytic copper foil (manufactured by Mitsui Kinzoku Kogyo Co., Ltd.) as the electrolytic copper foil, a polyimide precursor varnish is applied to the S surface of this electrolytic copper foil and heated to produce a two-layer laminate. did.

この電解銅箔の25℃で測定した伸び率は4%、引張強度は33kgf/mm2、S面の表面粗度(Rz)は1.0μm、光沢度〔Gs(60°)〕は370であった。
この電解銅箔を使用した以外は実施例1と同様にして配線パターンを形成し、得られた帆船パターンのリード部分に0.5μmの無電解スズメッキ層を形成した。
This electrolytic copper foil had an elongation measured at 25 ° C. of 4%, a tensile strength of 33 kgf / mm 2 , a surface roughness (Rz) of the S surface of 1.0 μm, and a glossiness [Gs (60 °)] of 370. there were.
A wiring pattern was formed in the same manner as in Example 1 except that this electrolytic copper foil was used, and an electroless tin plating layer of 0.5 μm was formed on the lead portion of the obtained sailing ship pattern.

このインナーリードの厚さは8μmであり、断面観察すると、このインナーリードは、ほぼ100%の粒径が3μm未満の銅の粒状結晶で形成されていた。
上記のようにして製造したフレキシブルプリント配線基板において、配線パターン間で配線パターンが形成されていない部分のポリイミド層の表面の表面粗度(Rz)は1.0μmであり、こうして配線パターンが形成されていない部分の光線透過率は65%であった。
The thickness of the inner lead was 8 μm. When the cross section was observed, the inner lead was formed of a copper granular crystal having a particle size of almost 100% less than 3 μm.
In the flexible printed circuit board manufactured as described above, the surface roughness (Rz) of the surface of the polyimide layer where the wiring pattern is not formed between the wiring patterns is 1.0 μm, and thus the wiring pattern is formed. The light transmittance of the unexposed portion was 65%.

上記のようにして製造したフレキシブルプリント配線基板について、MIT試験機を用い
て耐折性試験を行ったところ、60回で断線した。
When the flexible printed wiring board manufactured as described above was subjected to a folding resistance test using an MIT testing machine, it was disconnected 60 times.

本発明のフレキシブルプリント配線基板は、最狭部分の配線であるインナーリードのピッチ幅(P)が40μmを下回るようなファインピッチであるにも拘らず耐折性に優れており、このフレキシブルプリント配線基板を折り曲げて使用しても、この折り曲げ部分で形成した配線の破断が生じにくい。しかも、本発明のフレキシブルプリント配線基板は、絶縁層を形成するポリイミド層の光線透過率が高いので、本発明のフレキシブルプリント配線基板を透過する光のパターンを認識することにより、フレキシブルプリント配線基板の位置決めを行うことができる。さらに、本発明のフレキシブルプリント配線基板は、配線パターンの断面形状を略矩形に形成することが可能であり、従って、本発明のフレキシブルプリント配線基板には、非常に高い密度で配線を形成することができる。   The flexible printed wiring board of the present invention is excellent in folding resistance despite the fine pitch where the pitch width (P) of the inner lead which is the narrowest portion of the wiring is less than 40 μm. Even when the substrate is bent, the wiring formed at the bent portion is not easily broken. And since the light transmittance of the polyimide layer which forms an insulating layer is high, the flexible printed wiring board of this invention recognizes the pattern of the light which permeate | transmits the flexible printed wiring board of this invention. Positioning can be performed. Furthermore, the flexible printed wiring board of the present invention can form the cross-sectional shape of the wiring pattern in a substantially rectangular shape. Therefore, the flexible printed wiring board of the present invention can form wiring with a very high density. Can do.

また、本発明の半導体装置は、上記のようなフレキシブルプリント配線基板に電子部品が実装されてなり、フラットパネルディスプレイのソース側ドライバ半導体装置として、折り曲げて使用する用途に特に好適に使用することができる。   In addition, the semiconductor device of the present invention has electronic components mounted on the flexible printed wiring board as described above, and can be particularly suitably used for a use as a source driver semiconductor device for a flat panel display. it can.

図1は、本発明のフレキシブルプリント配線基板から絶縁基板であるポリイミド層を溶解除去した配線パターンの断面の銅結晶粒子の例を示す電子顕微鏡写真およびそれをトレースした図である。FIG. 1 is an electron micrograph showing an example of copper crystal particles in a cross section of a wiring pattern obtained by dissolving and removing a polyimide layer, which is an insulating substrate, from the flexible printed wiring board of the present invention and a diagram obtained by tracing it. 図2は、本発明のフレキシブルプリント配線基板および半導体装置の断面の一例を模式的に示す図であるFIG. 2 is a diagram schematically showing an example of a cross section of the flexible printed wiring board and the semiconductor device of the present invention. 図3は、本発明のフレキシブルプリント配線基板のインナーリードの部分の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the inner lead portion of the flexible printed wiring board of the present invention. 図4は、本発明のフレキシブルプリント配線基板に電子部品を実装した際のインナーリードおよびバンプ電極の部分を拡大して示す図である。FIG. 4 is an enlarged view showing inner lead and bump electrode portions when electronic components are mounted on the flexible printed wiring board of the present invention. 図5の左側の写真は、上記のフレキシブルプリント配線基板のピッチ幅20μmのインナーリードの平面写真である。右側の写真は、上記のフレキシブルプリント配線基板のピッチ幅20μmの矩形にされたインナーリードの部分の断面図である。The photograph on the left side of FIG. 5 is a plan photograph of the inner lead having a pitch width of 20 μm of the flexible printed wiring board. The photograph on the right side is a cross-sectional view of the inner lead portion of the above-mentioned flexible printed wiring board having a rectangular width of 20 μm. 図6は、従来から使用されている電解銅箔を使用して形成した配線パターンの平面写真および断面写真である。FIGS. 6A and 6B are a plane photograph and a cross-sectional photograph of a wiring pattern formed using a conventionally used electrolytic copper foil. 図7は、従来フレキシブルプリント配線基板を製造する際に最も好適であるとして広く使用されていた電解銅箔を用いて形成したインナーリードの従来例であり、ポリイミド層を除去したインナーリードの電子顕微鏡写真の例である。FIG. 7 is a conventional example of an inner lead formed by using an electrolytic copper foil that has been widely used as being most suitable for manufacturing a conventional flexible printed wiring board, and an inner lead electron microscope from which a polyimide layer has been removed. It is an example of a photograph.

Claims (12)

電解銅箔と、この電解銅箔の表面に、該電解銅箔がエッチングされてポリイミド層が露出されるポリイミド層を有する基材フィルムから形成されてなり、該電解銅箔が選択的にエッチングされて露出したポリイミド表面の表面粗度(Rz)が5μm以下であると共に
、電解銅箔がエッチングされて露出したポリイミド層の光線透過率が67%を超え95%以下の範囲内のポリイミド層が形成されてなり、該配線パターンのインナーリードのピッチ幅が40μm未満であり、該配線パターンをポリイミド層とともに折り曲げて使用する
フレキシブルプリント配線基板であり、
該配線パターンが、3μm以上の長径長さを有する柱状の銅結晶粒子を50%以上含み、かつ長径が3μmに満たない銅結晶粒子を断面比率で50%以下の量で含み、該配線パターンの厚さが15μm以下であって、25℃における伸び率5%以上の電解銅箔から形成されてなり、該配線パターンを形成する柱状の銅結晶粒子の少なくとも50%(面積比率)の柱状の銅結晶が、該配線パターンの厚さと同等あるいは該配線パターンの厚さよりも長い長径を有していることを特徴とするフレキシブルプリント配線基板
The electrolytic copper foil is formed on a surface of the electrolytic copper foil from a base film having a polyimide layer that is etched to expose the polyimide layer, and the electrolytic copper foil is selectively etched. The surface roughness (Rz) of the exposed polyimide surface is 5 μm or less.
The polyimide layer exposed by etching the electrolytic copper foil has a light transmittance of more than 67% and less than 95%, and the pitch width of the inner leads of the wiring pattern is less than 40 μm. , A flexible printed wiring board used by bending the wiring pattern together with the polyimide layer,
The wiring pattern includes 50% or more of columnar copper crystal particles having a major axis length of 3 μm or more, and includes copper crystal particles having a major axis of less than 3 μm in a cross-sectional ratio of 50% or less. Columnar copper having a thickness of 15 μm or less and formed of an electrolytic copper foil having an elongation of 5% or more at 25 ° C. , and at least 50% (area ratio) of columnar copper crystal particles forming the wiring pattern A flexible printed wiring board, wherein the crystal has a major axis equal to or longer than the thickness of the wiring pattern .
上記電解銅箔から形成された配線パターンを有するフレキシブルプリント配線基板について屈曲半径0.8mm、屈曲角度±135度、屈曲速度175rpm、印加荷重100gf/10mmwの条件で25℃で測定した、少なくとも一部の配線パターンが断線に至るまでの耐折
性が100回以上であることを特徴とする請求項第1項記載のフレキシブルプリント配線基板。
The flexible printed wiring board having a wiring pattern formed from the above electrolytic copper foil was measured at 25 ° C. under the conditions of a bending radius of 0.8 mm, a bending angle of ± 135 degrees, a bending speed of 175 rpm, and an applied load of 100 gf / 10 mm w. 2. The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the folding resistance until the wiring pattern of the part is broken is 100 times or more.
上記電解銅箔について、25℃における引張強度が33kgf/mm2以上であり、かつ大気
中で180℃に60分間加熱した後の引張強度が30kgf/mm2以上であることを特徴とす
る請求項第1項記載のフレキシブルプリント配線基板。
The electrolytic copper foil has a tensile strength at 25 ° C of 33 kgf / mm 2 or more, and a tensile strength after heating at 180 ° C for 60 minutes in air at 30 kgf / mm 2 or more. A flexible printed wiring board according to item 1.
上記電解銅箔について、大気中で180℃に60分間加熱した後の伸び率が8%以上であることを特徴とする請求項第1項記載のフレキシブルプリント配線基板。   The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the electrolytic copper foil has an elongation of 8% or more after being heated to 180 ° C for 60 minutes in the air. 上記ポリイミド層と積層される電解銅箔の表面の表面粗度(Rz)が5μm以下である
ことを特徴とする請求項第1項記載のフレキシブルプリント配線基板。
2. The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the surface roughness (Rz) of the surface of the electrolytic copper foil laminated with the polyimide layer is 5 [mu] m or less.
上記電解銅箔が、析出面の表面粗度(Rz)が0.8μm以下であり、該析出面の光沢
度〔Gs(60°)〕が600〜780の範囲内にある電解銅箔の析出面を、表面粗度(Rz)
が5μm以下になるように粗化処理したものであることを特徴とする請求項第5項記載のフレキシブルプリント配線基板。
Precipitation of electrolytic copper foil in which the surface roughness (Rz) of the deposited surface is 0.8 μm or less and the glossiness [Gs (60 °)] of the deposited surface is in the range of 600 to 780. Surface roughness (Rz)
6. The flexible printed wiring board according to claim 5, wherein the substrate is roughened so as to be 5 [mu] m or less.
上記フレキシブルプリント配線基板に形成されるインナーリードの配線ピッチ幅(P)が
40μm未満であることを特徴とする請求項第1項記載のフレキシブルプリント配線基板。
2. The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein a wiring pitch width (P) of inner leads formed on the flexible printed wiring board is less than 40 [mu] m.
上記ポリイミド層の厚さが20〜75μmの範囲内にあることを特徴とする請求項第1項項記載のフレキシブルプリント配線基板。   The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the polyimide layer has a thickness in the range of 20 to 75 µm. 上記ポリイミド層が、電解銅箔の表面にポリイミド前駆体を塗布し加熱硬化させることにより形成されてなることを特徴とする請求項第1項または第8項記載のフレキシブルプリント配線基板。   The flexible printed wiring board according to claim 1 or 8, wherein the polyimide layer is formed by applying a polyimide precursor to the surface of the electrolytic copper foil and curing it by heating. 上記フレキシブルプリント配線基板に実装される電子部品の有効チャンネル数が、640〜1280ch/ICの範囲内にあることを特徴とする請求項第1項記載のフレキシブルプ
リント配線基板。
2. The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the number of effective channels of the electronic component mounted on the flexible printed wiring board is in a range of 640 to 1280 ch / IC.
上記フレキシブルプリント配線基板が、画素数が100万以上の表示装置の半導体チップを実装するためのものであることを特徴とする請求項第1項記載のフレキシブルプリント配線基板。   2. The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the flexible printed wiring board is for mounting a semiconductor chip of a display device having 1 million or more pixels. 上記請求項第1項乃至第11項の何れかの項記載のフレキシブルプリント配線基板に有効チャンネル数640〜1280ch/ICの電子部品が実装されてなることを特徴とする表
示装置駆動用の半導体装置。
12. A semiconductor device for driving a display device, wherein an electronic component having an effective channel number of 640 to 1280 ch / IC is mounted on the flexible printed wiring board according to any one of claims 1 to 11. .
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