JP4209275B2 - Polishing fabric and glass disk polishing method using polishing fabric - Google Patents

Polishing fabric and glass disk polishing method using polishing fabric Download PDF

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コンピューター等のメモリーハードディスクに利用されるガラス磁気ディスク用基板の仕上げ研磨とテクスチャー加工に好適な研磨用織物に関する。
【0002】
【従来の技術】
コンピューター等の記憶媒体の一つであるメモリーハードディスクは、小型化すると同時に記憶容量を大きくするように開発が進められている。磁気ディスク用基板は、平行度や平坦度を持たせたガラスやアルミニウム等の基板であり比較的大きいうねりを完全に除去することは出来ず、無電解Ni−Pメッキにて成膜してもうねりは残ってしまう。又、基板に付着している不純物が無電解Ni−Pメッキに取り込まれるとその部分のメッキ表面が盛り上がって成膜されてしまうこともある。
【0003】
記憶容量を増量する手段としては、磁化の高密度化が必要である。高密度化するには、ガラス基板の表面に微細な溝を同心円板状に設ける事(テクスチャー加工)により、磁化方向を記録方向である円周方向に配向させて異方性媒体とすることが可能となる。特許文献1には高記録密度化に対応できるガラス磁気ディスク(磁気記憶媒体)及びその製造方法が提案されている。製造に使用されるテクスチャーテープとしては、ウレタン、ポリエステル及びナイロンからなる群から選択される材料で構成される加工布が提案されているが詳細には繊維直径が10μm以下の極細繊維からなり起毛布でも良い事が記載されているだけである。極めて微細な均一な溝をガラス基板に付与するには開示されている内容だけでは不十分である。
【0004】
記憶容量の増加とは反対に、基板の面積は小さくなり記憶密度は増加しており、磁力は弱くなってきている。その為に磁気ヘッドと磁気ディスク基板との隙間を最小限にすることが要求されている。現在では、0.025μm以下が要求されている。又、磁気ディスク基板は10,000rpm以上の高回転数で回転しており、基板の平面度と表面粗度を微小化することが必要である。特許文献2には、清掃時の不純物の発生を抑える清掃用布帛が提案されている。しかしながら、使用される繊維の繊度が2デニール以下としか記載されておらずハードディスクのテクスチャー加工について開示は何らされていない。
【0005】
テクスチャー加工は、研磨材としては酸化セリウム、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム、ダイアモンド等の砥粒微粒子の水溶液(スラリー)をテクスチャーテープと共に使用して実施されている。
【0006】
【特許文献1】
特開2003−30825号公報
【特許文献2】
特開2001−25453号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
従来のテクスチャー加工では微細な溝を形成しようとすると加工速度を極めて遅くする必要があり、速くすると大きな傷(スクラッチ)と共に端面のダレが発生する。テクスチャー加工時に摩擦によりテクスチャーテープ繊維表面から添加剤の脱落や不純物が発生したり、基板の汚染の原因となる。又有機溶剤を併用した清掃工程の際にも繊維成分中に含まれる不純物が遊離し汚染の原因となる。
【0008】
ガラス基板は極性が高く特にチタン、珪素を吸着しやすい性質がある。これらの不純物がガラス基板に吸着すると次工程の磁性膜形成時に、磁性膜と基板の接着性が低下する。この状態でガラス磁気ディスクを使用し続けた場合、磁性膜が剥離し読み出し困難となり、最悪の場合にはヘッドとディスクの間に磁性膜が挟まりクラッシュ事故を発生させる。ガラス磁気ディスク基板は、磁気容量を増大する為には、均一な微細な溝を可能な限り多数同心円状に形成することが必要である。これらの問題を解決するのに研磨材の保持性の向上と研磨屑を内部捕捉でき、不純物の発生、脱落を抑えた高機能テクスチャーテープを提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明のテクスチャーテープは、3箇所以上の頂角を有する横断面形状のポリエステルとポリアミドから形成される割繊性複合繊維が少なくとも緯糸を構成し、割繊後の緯糸のカバーファクター値が18000以上であり、且つ180℃、30分の乾熱処理後の低分子量不純物の発生量が0.1重量%以下であり艶消し剤を全く含まないことを特徴とするガラス基板研磨用織物である。
【0010】
上記発明の好ましい態様として、研磨用織物を構成するポリエステルがポリエチレンテレフタレート、ポリアミドが6ナイロンであることが挙げられる。
【0011】
更に本願発明は、ポリエステルとポリアミドから形成される割繊性複合繊維からなる織物をポリマー溶解性溶液を用いて減量割繊したり、溶剤による膨潤収縮により割繊した磁気ディスク用基板のテクスチャー加工に用いる研磨用織物である。
【0012】
上記研磨用織物が特にガラス磁気ディスク用基板のテクスチャー加工用研磨布に適したものである。
【0013】
上記研磨用織物と研磨材を用いることが、ガラス磁気ディスク用基板のテクスチャー加工研磨方法に好適である。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下本発明について詳細に説明する。本発明の主要な構成要件の一つは、テクスチャーテープの研磨用織物を構成する緯糸の極細繊維の断面形状である。3個所以上の頂角を有することが必要である。頂角を有する極細繊維によって基板の表面粗度を最小にでき微細な表面欠陥を解消することができると同時に、研磨速度が大きく、生産性が高いことも重要な項目である。扁平及び多角形の研磨効率が良いのは、円形やそれに近い断面形状の繊維に比べ繊維の表面積が大きくなり、研磨される面に対して接触面積が大きくなり、密着性が良い為と考えられる。
【0015】
研磨用織物の緯糸を構成するポリマーは、艶消し剤を全く含まない繊維形成性ポリアミドとポリエステルからなり特に親水性、親油性ポリマーの組み合わせが良好である。ポリアミドとしては、4ナイロン、6ナイロン、66ナイロン、12ナイロン、610ナイロン、612ナイロン及びそれらを成分とする共重合ナイロンが含まれるが、6ナイロン、66ナイロンが特に好ましい。
【0016】
ポリエステルとしては、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンフタレートあるいはこれらにイソフタル酸、スルホイソフタル酸、アジピン酸等の2塩基酸、トリメチレングリコール、ポリエチレングリコール等のジオール類を少量共重合したものが使用できるが、ポリエチレンテレフタレートにスルホイソフタル酸を酸成分に共重合したポリエチレンテレフタレートが好ましく、特に紡糸、延伸操業性に対しても効果的である。スルホイソフタル酸の共重合比率は、酸成分に対して1.5モル%以下であることが好ましい。
【0017】
研磨用織物を構成するポリマーには、艶消し剤を全く含まないことが必要である。ポリマーの艶消し剤としては、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化亜鉛、炭酸カルシュウム等が挙げられる。ガラス基板のテクスチャー加工時にテクスチャーテープ表面に艶消し剤が存在すると、ガラス基板への艶消し剤の吸着が生ずる。艶消し剤の吸着が生じた部分は、次工程の磁性膜形成時に磁性膜とガラス基板との接着性が低下する。このようなガラスハードディスクを使用していると磁性膜の剥離が発生し読み出しエラーが発生したり、最悪の場合には、剥離した磁性膜がヘッドとディスクの間に挟まりクラッシュ事故となりうる。
【0018】
緯糸を構成する極細繊維の単繊維繊度は、ポリエステルが0.05〜0.1dtex、ポリアミドが0.02〜0.05dtexであることが好ましい。繊度が細いほど糸の表面積が増大し研磨粒子の保持力が大きくなると同時に布帛の空隙も増加し研磨屑の捕捉力も向上する。しかしながら繊度が小さすぎると、強力が低くなり使用時に繊維が切断され屑の発生になり、基板の大きな傷(スクラッチ)の原因にもなる。又、繊度が大きすぎると研磨屑の捕捉力が低下し基板に研磨屑が残置されスクラッチの原因となると同時に磁性特性の低下にもなる。
【0019】
テクスチャーテープの緯糸は、異繊度の組み合わせが好ましい。異繊度にすれば布帛の空隙が増大することにより研磨屑の捕捉力が増加すると同時に、クッション性が増加し基板を正確に捉えることができ、うねりの発生を抑えたり水平度の保持も維持し易くなる。
【0020】
織物の研磨効果を向上させるためには織物は一定の緻密性を有するほうが好ましく、緯糸打ち込み本数や割繊糸の割繊後のセグメント本数を多くするほうが好ましいものとなり、カバーファクター値(CF)が18000以上であることが必要である。カバーファクター値(CF)は、CF=(セグメント繊度dtex)1/2 ×(セグメント本数/2.5cm)で表される。CFが18000未満であると織物の緻密性が劣り、基板に微細な溝を均一に施すことができず磁化の高密度化は認められない。
【0021】
艶消し剤の脱落の有無は、布帛の一定量を蒸留水に浸し超音波を5分間照射した後に布帛を取り出し、メンブレンフィルターにて布帛を浸漬していた蒸留水を濾過し残渣分を蛍光X線分析方法を用いて艶消し剤の有無を確認できる。
【0022】
本発明の研磨用布帛は、180℃、30分の乾熱処理後に発生するオリゴマーの量が0.1重量%以下であることが必要である。上記条件で乾熱処理した際にオリゴマーが0.1重量%を超えて発生する布帛は、研磨時の摩擦熱や溶媒を用いた清掃により、不純物が発生し十分な洗浄能力を発揮できない。
【0023】
乾熱処理後の不純物の発生量(重量%)は以下のようにして測定する。乾熱180℃、30分熱処理した布帛の一定量を蒸留水に浸漬し、30分間煮沸した後、抽出液を蒸発乾固させ残渣を秤量して不純分の発生量(重量%)を確認できる。
【0024】
乾熱処理後の不純物の発生量が少ない繊維を得る方法としては、特別に調製された原料ポリマーを用いる。例えば、ポリエステルの場合は、窒素雰囲気下での乾熱処理により固相重合を行ったものを用いたり、熱水処理を行ったポリマーを用いればよい。ポリアミドの場合は、重合不純物としてポリマー内部にモノマーが残存しているので、適当な液体で洗浄し、不純物を抽出除去したものを用いればよい。
【0025】
複合糸の割繊方法は、構成される一方のポリマーを完全に溶解・分解させて他方のポリマーの極細セグメントを得られるものよりも、両方のポリマーが残っているものの方が、各セグメント間に大きな空隙がなく微細な空隙が多い緻密な織物を得やすい傾向がある。一方のポリマーの溶剤や分解剤による一部溶解除去、膨潤剤による膨潤収縮、加熱による変形や収縮、外力による摩擦や打撃などの方法を用いることができる。好ましくは、溶剤(膨潤剤)による膨潤収縮を利用する方法、アルカリ性水溶液によるポリエステル減量、酸によるポリアミドの減量割繊方法が処理剤の残留も少なく好ましく、洗浄工程を十分に経ることが重要である。
【0026】
研磨用織物の表面は、ポリアミドとポリエステルの割繊された単繊維の並びが乱れることがなく交互に並ぶ。割繊する事により各単繊維の間に微小な隙間が出来ると同時に、ポリアミドとポリエステルの収縮差により織物の表面に単繊維間の凹凸が発生する。発生した凹部に研磨微粒子がはまり込む事によって研磨粒子の捕捉力が向上する。織物の表面は、直線的で角はシャープエッジを有するほうが研磨速度も大きく研磨粒子の捕捉力が向上にも好都合であり、研磨によってディスク基板に形成された磁気ハードディスク基板の回転方向とは異なる一定方向の筋目がつくことにより、磁気ハードディスク基板上の磁界が不均一になることを防止する目的で、研磨後のハードディスク基板に均一な同心円状の筋目を付けるテクスチャー加工を可能とした。
【0027】
それらの筋目は、本発明の研磨織物からなるテクスチャーテープと研磨粒子を用いることにより、均一な表面粗さが50nm以下である磁気ディスク用基板のテクスチャー加工を可能とした。均一で微細な筋目を付けることにより磁気密度が飛躍的に向上し、記憶容量が従来の織物を用いたテクスチャーテープよりも増加した。研磨加工時間は、従来の織物によるテクスチャーテープと同様である。
【0028】
使用される研磨粒子はダイアモンド、アルミナ、炭化珪素、ジルコニア等が用いられる。これらの粒径は、0.05〜0.3μmのものが好ましい。この範囲を超えると、基板の表面粗さが悪くなりスクラッチが発生するようになる。粒径がこの範囲より小さくなると研磨速度が非常に遅くなり作業効率が悪くなる。研磨粒子は、水溶液か、溶液の中に均一に分散されスラリー化されて使用される。スラリーには、分散剤、研磨促進剤を含んでいても良い。使用された研磨粒子は、十分に基板から除去される必要がある。
【0029】
研磨用織物を構成する極細繊維からなる緯糸は、2種類の繊維形成性ポリアミドとポリエステルから構成される複合割繊糸を割繊することにより形成される。第1図に複合割繊糸の形態を示す。aは、一種のポリマーが他のポリマーを分割する繊維横断面形態を示したものである。bは、2種類のポリマーが交互に積層し中央部に中空部を有する繊維の横断面形態を示したものである。cは、2種類のポリマーが交互に積層した繊維横断面形態を示したものである。本発明に用いられる複合繊維には、bの2種類のポリマーが交互に積層し中央部に中空部を有する繊維の横断面形態の多分割中空環状複合割繊糸が好ましい。多分割中空環状複合割繊糸は、割繊が容易であり、0.1dtex以下の超極細セグメントも可能になる。これらの複合割繊糸を得る紡糸方法については、通常紡糸延伸方法、紡糸直延伸(SPD)、高速紡糸(POY)延伸、いずれかの方法に限定されるものでない。
【0030】
研磨用織物を構成する緯糸は艶消し剤を全く含まない極細繊維であることが必要である。経糸は特に限定するものではないが、艶消し剤を全く含まない経糸の繊度は緯糸よりも細く、緯糸の表面露出を妨げるものであってはならない。緯糸は織物の80%以上の表面を覆っているのが好ましい。
【0031】
織り組織は、4枚以上の朱子織りが好ましい。緯糸と経糸のくぼんだ交点(組織点)を隠し織物の表面全体を緯糸で覆い、くぼみ部を極力小さく且つ少なく織物表面を平坦にすることにより砥粒を織物全面に均一に保持することが可能となると同時に、研磨屑の表面残留を極力無くし、極細糸束の内部に隠蔽することができ、スクラッチの発生を低減できる。同時に研磨用織物からの艶消し剤の脱落を無くすことも必要である。
【0032】
【実施例】
以下実施例を挙げて、本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例になんら限定されるものでない。
【0033】
研磨評価方法
第2図に示したテクスチャー加工研磨装置を用いて評価を実施した。矢印A方向に向かって積極回転する基板1の表裏面2、3の夫々には、各1本ずつ計2本のテクスチャーテープ4、5が各押圧ロール6、7ロール加圧用シリンダーにより駆動して押し付けられつつ矢印B方向に向かって走行すると共に、テクスチャーテープ4,5の各テクスチャー加工研磨面にノズル8、9から0.08μmの人工ダイアモンド砥粒を含有する研磨液が供給され、スラリー研磨が実施される。又テクスチャーテープ4、5は夫々押圧ロール6、7の往復動により矢印C方向へ往復動(振動)し、この移動と基板1自体の回転により基板1両面に条こんが作成され、研磨と同時にテクスチャー加工済みの基板1が形成される。加工済みの基板の表面粗さRa(平均)とスクラッチの有無と加工量SRを比較した。
【0034】
実施例1
30℃オルソクロロフェノール溶液の固有粘度が0.72の艶消し剤を全く含まず固相重合を実施後、熱水処理を実施した不純物の少ないポリエチレンテレフタレート(PET)と25℃濃硫酸での1g/100ml溶液の相対粘度が2.5の艶消し剤を全く含まない熱水処理を実施した不純物の少ない6ナイロン(6N)とを個別に溶融押出し、PET:6Nの比率2:1を図1aの如く放射状の6NがPETを8分割にしている、複合割繊糸を通常に紡糸延伸して110dtex/50fの延伸糸を得た。
【0035】
該複合割繊糸に100T/mのS撚りを掛けた糸を緯糸に、通常の艶消し剤を全く含まないPET糸84dtex/36F(200T/mS撚り追撚)を経糸に、5枚朱子織物を製織した。この生機にノニオン系界面活性剤を用いて乳化させたベンジルアルコール20%水溶液を付与させ15分間静置して緯糸を割繊させ70℃の湯にて洗浄を行い乾燥させた。得られた布帛は、3箇所の頂角を有する0.2dtexのPETと0.6dtexの6Nから構成された緯糸とからなる経糸密度192本/2.5cm、緯糸密度92本/2.5cmの織物であった。割繊後の緯糸のCF値は、19700であった。該織物を経糸方向にテープ状に溶断裁断し、洗浄工程を通過させてテクスチャーテープとした。得られたテクスチャーテープの不純物の分析結果は、表1の通りである。
【0036】
実施例2
実施例1に使用した艶消し剤を全く含まないポリマーを用いて実施例1と同様の横断面形態を有する56dtex/25f(200T/mのZ撚り追撚)の複合割繊糸を緯糸に、艶消し剤を全く含まないPET糸33dtex/12F(600T/mZ撚り追撚)を経糸に、4枚二重朱子織物を製織した。得られた生機を、80℃の13g/lの水酸化ナトリウム水溶液中で減量割繊させた後、70℃の湯にて洗浄を行い乾燥させた。得られた布帛は、3箇所の頂角を有する0.2dtexのPETと0.6dtexの6Nから構成された緯糸とからなる経糸密度180本/2.5cm、緯糸密度265本/2.5cmの織物であった。割繊後の緯糸のCF値は28800であった。
【0037】
該織物を経糸方向にテープ状に溶断裁断し、クリーンルーム内で比抵抗値が17MΩ・cm以上の超純水で洗浄工程を通過させ乾燥させてテープとした。得られたテープの不純物の分析結果は、表1の通りである。ガラスハードディスク基板の乾拭き用テープとして要求される性能を全て有しており、加工時にガラス基板を汚染することもなかった。
【0038】
実施例3
ポリエチレンテレフタレートの酸成分に対して1.5モル%のスルホイソフタル酸を共重合した30℃オルソクロロフェノール溶液の固有粘度が0.70の艶消し剤を全く含まず固相重合を実施後、熱水処理を実施した不純物の少ない共重合ポリエチレンテレフタレート(COPET)と25℃濃硫酸での1g/100ml溶液の相対粘度が2.5の艶消し剤を全く含まない熱水処理を実施した不純物の少ない6ナイロン(6N)とを個別に溶融押出し、COPET:6Nの比率3:1を図1bの如く各ポリマーを夫々16分割にしている、32分割中空環状複合割繊糸を通常に紡糸延伸して56dtex/25fの延伸糸を得た。
【0039】
該32分割中空環状複合割繊糸に150T/mのZ撚りを掛けた糸を緯糸に、通常の艶消し剤を全く含まないPET糸33dtex/12F(600T/mZ追撚)を経糸に、4枚二重朱子織物を製織し、実施例2と同様の加工工程を経て、割繊加工を実施し、3〜4箇所の頂角を有する0.09dtexのCOPETと0.03dtexの6Nから構成された緯糸とからなる経糸密度180本/2.5cm、緯糸密度265本/2.5cmの織物を製作した。割繊後の緯糸のCF値は、50100であった。該織物を経糸方向にテープ状に裁断し、実施例2と同様の洗浄工程を通過させてテクスチャーテープとした。得られたテクスチャーテープの不純物の分析結果は、表1の通りである。ガラスハードディスク基板のテクスチャーテープとして要求される性能を全て有しており、加工時にガラス基板を汚染することもなかった。
【0040】
上記記載のテクスチャー研磨加工機を使用しガラス基板を該テクスチャーテープで研磨テクスチャー加工を実施した。加工量SRは従来のテクスチャーテープと同等であり、得られた基板の平均表面粗さRaは27nmと極めて小さくスクラッチは認められず、研磨屑もなかった。又、従来なしえられなかった磁気高密度化が可能となった。
【0041】
比較例1
艶消し剤として酸化チタンを0.3重量%混練した実施例1で使用したPETと6Nを用いて実施例1と同様の織物を作製した。該織物より実施例1と同様にテクスチャーテープを作製した。得られたテクスチャーテープの不純物の分析結果は、表1の通りである。ガラスハードディスク基板のテクスチャーテープとして要求される性能満足されたが、酸化チタンの脱落が認められ且つ熱処理後の不純物も0.3重量%と多量であった。実際にガラス基板を加工した際にも酸化チタンの吸着が観察できた。
【0042】
比較例2
艶消し剤として酸化チタンを0.3重量%混練した実施例2で使用したPETと6Nを用いて実施例2と同様の織物を作製した。該織物より実施例2と同様にテクスチャーテープを作製した。得られたテクスチャーテープの不純物の分析結果は、表1の通りである。ガラスハードディスク基板のテクスチャーテープとして要求される性能満足され、熱処理後の不純物も0.1重量%と良好であったが、酸化チタンの脱落が認められた。実際にガラス基板を加工した際にも酸化チタンの吸着が観察できた。
【0043】
比較例3
実施例1、2で使用したPETを用いて通常の紡糸、延伸工程にて得られた横断面が丸形状の110dtex/96fを緯糸に使用した、実施例1と同様の織物を作製した。該織物にて実施例1で実施した割繊処理は実施しないが同様のテクスチャーテープを作製した。緯糸のカバーファクターは、9450である。得られたテクスチャーテープの不純物の分析結果は、表1の通りである。ガラスハードディスク基板を該テクスチャーテープでテクスチャー加工を実施した。加工量SRは従来のテクスチャーテープと略同等であったが、得られた基板の平均表面粗さRaは極めて大きく又大きなスクラッチも多数認められた。ガラス基板上にも多くの研磨屑も確認できた。
【0044】
【表1】

Figure 0004209275
【0045】
【発明の効果】
本発明の艶消し剤を含まず、不純物の発生の少ない研磨用織物よりなるテクスチャーテープを使用してガラス基板を研磨テクスチャー加工すれば、ガラス基板の汚染が少なく、ガラス基板の加工量は従来通りで基板の表面粗さは均一で極めて微細であり、磁気高密度化も可能とするものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 代表的複合割繊糸の横断面形態を示す。
【図2】 本発明研磨布よりなるテクスチャーテープの使用状況を示す。
【符号の説明】
1 基板
2 基板表面
3 基板裏面
4,5 テクスチャーテープ
6,7 押圧ロール
8,9 ノズル[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a polishing fabric suitable for finish polishing and texturing of a glass magnetic disk substrate used for a memory hard disk such as a computer.
[0002]
[Prior art]
Memory hard disks, which are one of storage media such as computers, are being developed to increase the storage capacity at the same time as miniaturization. The magnetic disk substrate is a glass or aluminum substrate with parallelism and flatness, and relatively large undulations cannot be completely removed. Even if the film is formed by electroless Ni-P plating The swell remains. In addition, when impurities adhering to the substrate are taken into the electroless Ni—P plating, the plating surface of that portion may rise to form a film.
[0003]
As means for increasing the storage capacity, it is necessary to increase the density of magnetization. In order to increase the density, an anisotropic medium can be formed by orienting the magnetization direction in the circumferential direction, which is the recording direction, by providing concentric disks on the surface of the glass substrate (texture processing). It becomes possible. Patent Document 1 proposes a glass magnetic disk (magnetic storage medium) that can cope with higher recording density and a method for manufacturing the same. As a texture tape used for manufacturing, a processed cloth made of a material selected from the group consisting of urethane, polyester and nylon has been proposed, but in detail, a raised cloth made of ultrafine fibers having a fiber diameter of 10 μm or less. But it only describes what is good. The disclosed content alone is not sufficient to provide a very fine uniform groove on a glass substrate.
[0004]
Contrary to the increase in storage capacity, the area of the substrate is decreasing, the storage density is increasing, and the magnetic force is becoming weaker. Therefore, it is required to minimize the gap between the magnetic head and the magnetic disk substrate. Currently, 0.025 μm or less is required. In addition, the magnetic disk substrate rotates at a high rotational speed of 10,000 rpm or more, and it is necessary to reduce the flatness and surface roughness of the substrate. Patent Document 2 proposes a cleaning fabric that suppresses the generation of impurities during cleaning. However, the fineness of the fibers used is only described as 2 denier or less, and no disclosure is made on the texture processing of the hard disk.
[0005]
The texture processing is performed using an aqueous solution (slurry) of abrasive fine particles such as cerium oxide, silicon dioxide, aluminum oxide, diamond and the like as an abrasive together with a texture tape.
[0006]
[Patent Document 1]
JP 2003-30825 A [Patent Document 2]
Japanese Patent Laid-Open No. 2001-25453
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional texture processing, if a fine groove is to be formed, the processing speed needs to be extremely slow, and if it is fast, end face sagging occurs along with large scratches. During texture processing, friction may cause the dropping of additives and impurities from the surface of the texture tape fiber, and may cause contamination of the substrate. In addition, impurities contained in the fiber component are liberated during the cleaning process using an organic solvent together, causing contamination.
[0008]
The glass substrate has a high polarity and is particularly likely to adsorb titanium and silicon. When these impurities are adsorbed on the glass substrate, the adhesion between the magnetic film and the substrate is lowered when the magnetic film is formed in the next step. If the glass magnetic disk continues to be used in this state, the magnetic film peels off, making it difficult to read. In the worst case, the magnetic film is sandwiched between the head and the disk, causing a crash. In order to increase the magnetic capacity of a glass magnetic disk substrate, it is necessary to form as many uniform fine grooves as possible in a concentric manner. In order to solve these problems, it is an object of the present invention to provide a high-performance texture tape that can improve the retention of abrasives and trap abrasive particles and suppress the generation and removal of impurities.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
In the texture tape of the present invention, the splitting composite fiber formed of polyester and polyamide having a cross-sectional shape having apex angles of three or more places constitutes at least a weft, and the cover factor value of the weft after splitting is 18000 or more And a glass substrate polishing fabric characterized in that the amount of low-molecular-weight impurities generated after a dry heat treatment at 180 ° C. for 30 minutes is 0.1% by weight or less and does not contain any matting agent.
[0010]
In a preferred embodiment of the invention, the polyester constituting the polishing fabric is polyethylene terephthalate and the polyamide is 6 nylon.
[0011]
Furthermore, the present invention is used for texture processing of a magnetic disk substrate in which a woven fabric composed of split fiber composite fibers formed from polyester and polyamide is subjected to weight reduction split using a polymer-soluble solution or split by swelling shrinkage with a solvent. A polishing fabric used.
[0012]
The polishing fabric is particularly suitable for a polishing cloth for texture processing of a glass magnetic disk substrate.
[0013]
The use of the polishing fabric and the abrasive is suitable for the texture processing polishing method for the glass magnetic disk substrate.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The present invention will be described in detail below. One of the main constituent elements of the present invention is the cross-sectional shape of the ultrafine fibers of the weft constituting the textured fabric for polishing. It is necessary to have three or more apex angles. It is an important item that the surface roughness of the substrate can be minimized and fine surface defects can be eliminated by the ultrafine fibers having the apex angle, and at the same time, the polishing rate is high and the productivity is high. The flat and polygonal polishing efficiency is good because the surface area of the fiber is larger than that of a fiber having a circular shape or a cross-sectional shape close to it, and the contact area is increased with respect to the surface to be polished. .
[0015]
The polymer constituting the weft of the abrasive fabric is composed of a fiber-forming polyamide and polyester that do not contain any matting agent, and a particularly good combination of hydrophilic and lipophilic polymers. Examples of the polyamide include 4 nylon, 6 nylon, 66 nylon, 12 nylon, 610 nylon, 612 nylon, and copolymer nylon containing them, and 6 nylon and 66 nylon are particularly preferable.
[0016]
As the polyester, polyethylene terephthalate, polybutylene phthalate or those obtained by copolymerizing a small amount of a dibasic acid such as isophthalic acid, sulfoisophthalic acid or adipic acid, or a diol such as trimethylene glycol or polyethylene glycol can be used. Polyethylene terephthalate obtained by copolymerizing terephthalate with sulfoisophthalic acid as an acid component is preferable, and is particularly effective for spinning and drawing operability. The copolymerization ratio of sulfoisophthalic acid is preferably 1.5 mol% or less with respect to the acid component.
[0017]
It is necessary that the polymer constituting the abrasive fabric does not contain any matting agent. Examples of the polymer matting agent include titanium oxide, silicon oxide, zinc oxide, and calcium carbonate. If a matting agent is present on the texture tape surface during the texture processing of the glass substrate, the matting agent is adsorbed on the glass substrate. In the portion where the matting agent is adsorbed, the adhesion between the magnetic film and the glass substrate is lowered during the magnetic film formation in the next step. When such a glass hard disk is used, peeling of the magnetic film occurs and a read error occurs. In the worst case, the peeled magnetic film may be caught between the head and the disk, resulting in a crash.
[0018]
The single fiber fineness of the ultrafine fibers constituting the weft is preferably 0.05 to 0.1 dtex for polyester and 0.02 to 0.05 dtex for polyamide. The finer the fineness, the greater the surface area of the yarn and the greater the retention force of the abrasive particles. However, if the fineness is too small, the strength becomes low, the fiber is cut during use, and waste is generated, which may cause a large scratch (scratch) on the substrate. On the other hand, if the fineness is too large, the scavenging force for polishing dust is reduced, and the polishing dust is left on the substrate, causing scratches and at the same time reducing the magnetic properties.
[0019]
The weft of the texture tape is preferably a combination of different fineness. With a different fineness, the gap of the fabric increases, so that the scavenging power of the polishing debris increases. At the same time, the cushioning property increases and the substrate can be captured accurately, suppressing the occurrence of swell and maintaining the levelness. It becomes easy.
[0020]
In order to improve the polishing effect of the woven fabric, it is preferable that the woven fabric has a certain density, and it is preferable to increase the number of wefts driven and the number of segments after splitting of the split yarn, and the cover factor value (CF) is It is necessary to be 18000 or more. The cover factor value (CF) is represented by CF = (segment fineness dtex) 1/2 × (number of segments / 2.5 cm). If the CF is less than 18000, the denseness of the fabric is inferior, fine grooves cannot be uniformly formed on the substrate, and no increase in magnetization density is observed.
[0021]
Whether or not the matting agent has fallen off is determined by immersing a certain amount of the fabric in distilled water and irradiating with ultrasonic waves for 5 minutes. The presence or absence of a matting agent can be confirmed using a line analysis method.
[0022]
In the polishing fabric of the present invention, the amount of oligomer generated after dry heat treatment at 180 ° C. for 30 minutes is required to be 0.1% by weight or less. A fabric in which oligomers exceed 0.1% by weight when dry heat-treated under the above conditions generates impurities due to frictional heat at the time of polishing or cleaning using a solvent, and cannot exhibit sufficient cleaning ability.
[0023]
The amount (% by weight) of impurities generated after the dry heat treatment is measured as follows. After immersing a certain amount of fabric heat-treated at 180 ° C. for 30 minutes in distilled water and boiling for 30 minutes, the extract is evaporated to dryness, and the residue is weighed to confirm the amount of impurities (% by weight). .
[0024]
A specially prepared raw material polymer is used as a method for obtaining a fiber with a small amount of impurities generated after dry heat treatment. For example, in the case of polyester, a polymer obtained by solid phase polymerization by dry heat treatment in a nitrogen atmosphere or a polymer subjected to hydrothermal treatment may be used. In the case of polyamide, monomers remain inside the polymer as polymerization impurities, and therefore, it may be used after washing with an appropriate liquid and extracting and removing the impurities.
[0025]
The splitting method of the composite yarn is more effective when each polymer is left between each segment than when one polymer is completely dissolved and decomposed to obtain the ultrafine segment of the other polymer. There is a tendency to obtain a dense fabric without large voids and many fine voids. Methods such as partial dissolution / removal of one polymer with a solvent or a decomposing agent, swelling / shrinkage with a swelling agent, deformation / shrinkage by heating, friction or striking with an external force can be used. Preferably, a method using swelling / shrinkage with a solvent (swelling agent), a polyester weight loss with an alkaline aqueous solution, and a weight loss splitting method of a polyamide with an acid are preferable with less residual treatment agent, and it is important that the washing process is sufficiently performed. .
[0026]
The surface of the polishing fabric is alternately arranged without disturbing the arrangement of the single fibers separated from the polyamide and the polyester. By splitting, a minute gap is formed between each single fiber, and at the same time, unevenness between the single fibers is generated on the surface of the fabric due to the difference in shrinkage between polyamide and polyester. The abrasive particles are trapped in the generated recesses, so that the capturing power of the abrasive particles is improved. The surface of the woven fabric is straight and the corners have sharp edges, which increases the polishing speed and improves the trapping power of the abrasive particles, and is different from the rotation direction of the magnetic hard disk substrate formed on the disk substrate by polishing. In order to prevent the magnetic field on the magnetic hard disk substrate from becoming non-uniform due to the direction streaking, it is possible to texture the hard disk substrate after polishing with uniform concentric lines.
[0027]
These lines made it possible to texture a magnetic disk substrate having a uniform surface roughness of 50 nm or less by using a texture tape made of the abrasive fabric of the present invention and abrasive particles. By applying uniform and fine streaks, the magnetic density has been dramatically improved, and the storage capacity has been increased compared to the texture tape using the conventional fabric. The polishing time is the same as that of a texture tape made of a conventional fabric.
[0028]
As the abrasive particles used, diamond, alumina, silicon carbide, zirconia, or the like is used. These particle diameters are preferably 0.05 to 0.3 μm. If this range is exceeded, the surface roughness of the substrate becomes poor and scratches are generated. When the particle size is smaller than this range, the polishing rate becomes very slow and the working efficiency is deteriorated. The abrasive particles are used in the form of an aqueous solution or dispersed and slurried uniformly in the solution. The slurry may contain a dispersant and a polishing accelerator. The used abrasive particles need to be sufficiently removed from the substrate.
[0029]
A weft made of ultrafine fibers constituting an abrasive fabric is formed by splitting a composite split yarn composed of two types of fiber-forming polyamide and polyester. FIG. 1 shows the form of the composite split yarn. a shows a fiber cross-sectional form in which one kind of polymer divides another polymer. “b” shows a cross-sectional form of a fiber in which two kinds of polymers are alternately laminated and have a hollow portion at the center. c shows a fiber cross-sectional form in which two types of polymers are alternately laminated. The composite fiber used in the present invention is preferably a multi-segment hollow annular composite split yarn having a cross-sectional shape of a fiber in which two types of polymers b are alternately laminated and a hollow portion is provided at the center. Multi-divided hollow annular composite split yarn is easy to split, and an ultrafine segment of 0.1 dtex or less is also possible. The spinning method for obtaining these composite split yarns is not limited to any one of the usual spinning drawing method, direct spinning method (SPD), and high-speed spinning (POY) drawing method.
[0030]
The wefts constituting the polishing fabric must be ultrafine fibers containing no matting agent. The warp is not particularly limited, but the fineness of the warp without any matting agent should be thinner than the weft and should not interfere with the surface exposure of the weft. The weft preferably covers 80% or more of the fabric.
[0031]
The weave structure is preferably four or more satin weaves. Covering the entire intersection of the weft and warp (texture point) and covering the entire surface of the fabric with weft, making the surface of the fabric flat by making the surface of the fabric as small and small as possible. At the same time, the surface residue of the polishing dust can be minimized and concealed inside the ultrafine yarn bundle, and the generation of scratches can be reduced. At the same time, it is necessary to eliminate the loss of the matting agent from the abrasive fabric.
[0032]
【Example】
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
[0033]
Polishing Evaluation Method Evaluation was carried out using the texture processing polishing apparatus shown in FIG. On each of the front and back surfaces 2 and 3 of the substrate 1 that positively rotates in the direction of arrow A, a total of two texture tapes 4 and 5 are driven by each pressing roll 6 and 7 roll pressurizing cylinders. While being pushed, it runs in the direction of the arrow B, and a polishing liquid containing 0.08 μm artificial diamond abrasive grains is supplied from the nozzles 8 and 9 to the textured polished surfaces of the texture tapes 4 and 5 to perform slurry polishing. To be implemented. The texture tapes 4 and 5 are reciprocated (vibrated) in the direction of the arrow C by the reciprocating motion of the pressing rolls 6 and 7, respectively. A textured substrate 1 is formed. The surface roughness Ra (average) of the processed substrate, the presence or absence of scratches, and the processing amount SR were compared.
[0034]
Example 1
1g of low-impurity polyethylene terephthalate (PET) that has been subjected to hydrothermal treatment after solid-state polymerization without any matting agent having an intrinsic viscosity of 0.72 in a 30 ° C orthochlorophenol solution and 25 ° C concentrated sulfuric acid 1/100 ml solution is melt extruded with low impurity 6 nylon (6N) that has been hydrothermally treated without any matting agent and has a PET: 6N ratio of 2: 1 as shown in FIG. As shown in the drawing, a composite split filament yarn in which 6N radial 6N is divided into eight parts is usually spun and drawn to obtain a drawn yarn of 110 dtex / 50f.
[0035]
Five yarn satin fabrics with a weft of 100 T / m S twisted on the composite split yarn and a warp of PET yarn 84 dtex / 36F (200 T / mS twisted additional twist) containing no normal matting agent Was woven. A 20% aqueous solution of benzyl alcohol emulsified with a nonionic surfactant was applied to this raw machine, and the mixture was allowed to stand for 15 minutes to split the weft, washed with 70 ° C. hot water, and dried. The obtained fabric had a warp density of 192 yarns / 2.5 cm and a weft density of 92 yarns / 2.5 cm, consisting of 0.2 dtex PET having three apex angles and 0.6 dtex 6N. It was a woven fabric. The CF value of the weft after splitting was 19700. The fabric was cut into a tape shape in the warp direction and passed through a washing step to obtain a texture tape. Table 1 shows the analysis results of impurities in the obtained texture tape.
[0036]
Example 2
Using a polymer containing no matting agent used in Example 1 as a weft, a composite split yarn of 56 dtex / 25f (Z-twisted twist of 200 T / m) having the same cross-sectional form as in Example 1, Four double satin fabrics were woven using PET yarn 33 dtex / 12F (600 T / mZ twisted additional twist) containing no matting agent. The obtained raw machine was subjected to fiber splitting in a 13 g / l sodium hydroxide aqueous solution at 80 ° C., then washed with hot water at 70 ° C. and dried. The obtained fabric has a warp density of 180 / 2.5 cm and a weft density of 265 / 2.5 cm composed of 0.2 dtex PET having three apex angles and 0.6 dtex of 6N. It was a woven fabric. The CF value of the weft after splitting was 28800.
[0037]
The woven fabric was cut into a tape shape in the warp direction, passed through a washing step with ultrapure water having a specific resistance of 17 MΩ · cm or more in a clean room, and dried to obtain a tape. Table 1 shows the analysis results of impurities in the obtained tape. It had all the performance required as a dry wiping tape for glass hard disk substrates, and it did not contaminate the glass substrates during processing.
[0038]
Example 3
After 30% orthochlorophenol solution copolymerized with 1.5 mol% of sulfoisophthalic acid with respect to the acid component of polyethylene terephthalate does not contain any matting agent having an intrinsic viscosity of 0.70, solid phase polymerization is performed. Water-treated low-impurity copolymerized polyethylene terephthalate (COPET) and 1 g / 100 ml solution in concentrated sulfuric acid at 25 ° C. with a relative viscosity of 2.5. 6 Nylon (6N) was melt-extruded separately, and the ratio of COPET: 6N of 3: 1 was divided into 16 polymers as shown in FIG. A drawn yarn of 56 dtex / 25f was obtained.
[0039]
A yarn obtained by applying a Z twist of 150 T / m to the 32 split hollow annular composite split yarn is used as a weft, and a PET yarn 33 dtex / 12 F (600 T / mZ additional twist) containing no ordinary matting agent is used as a warp. A sheet double satin fabric is woven, processed through the same processing steps as in Example 2, and then split, and is composed of 0.09 dtex COPET having 3-4 apex angles and 0.03 dtex 6N. Fabrics having warp density of 180 yarns / 2.5 cm and weft density of 265 yarns / 2.5 cm were prepared. The CF value of the weft after splitting was 50100. The woven fabric was cut into a tape shape in the warp direction and passed through the same washing process as in Example 2 to obtain a texture tape. Table 1 shows the analysis results of impurities in the obtained texture tape. It had all the performance required as a texture tape for a glass hard disk substrate and did not contaminate the glass substrate during processing.
[0040]
Using the texture polishing machine described above, the glass substrate was polished and textured with the texture tape. The processing amount SR was the same as that of the conventional texture tape, and the average surface roughness Ra of the obtained substrate was very small at 27 nm, and no scratches were observed and there was no polishing dust. Further, it has become possible to increase the magnetic density, which could not be achieved conventionally.
[0041]
Comparative Example 1
A woven fabric similar to that of Example 1 was prepared using PET and 6N used in Example 1 in which 0.3% by weight of titanium oxide was kneaded as a matting agent. A texture tape was produced from the fabric in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the analysis results of impurities in the obtained texture tape. Although the performance required as a texture tape for a glass hard disk substrate was satisfied, titanium oxide was observed to fall off and the amount of impurities after heat treatment was as large as 0.3% by weight. Adsorption of titanium oxide was observed even when the glass substrate was actually processed.
[0042]
Comparative Example 2
A woven fabric similar to Example 2 was prepared using PET and 6N used in Example 2 in which 0.3% by weight of titanium oxide was kneaded as a matting agent. A texture tape was produced from the fabric in the same manner as in Example 2. Table 1 shows the analysis results of impurities in the obtained texture tape. The performance required for the texture tape of the glass hard disk substrate was satisfied, and the impurities after heat treatment were as good as 0.1% by weight, but the titanium oxide was removed. Adsorption of titanium oxide was observed even when the glass substrate was actually processed.
[0043]
Comparative Example 3
A woven fabric similar to that in Example 1 was produced using 110 dtex / 96f having a round cross section obtained by normal spinning and drawing processes using PET used in Examples 1 and 2 as the weft. A similar texture tape was produced with the woven fabric without performing the splitting treatment performed in Example 1. The cover factor of the weft is 9450. Table 1 shows the analysis results of impurities in the obtained texture tape. The glass hard disk substrate was textured with the texture tape. Although the processing amount SR was substantially the same as that of the conventional texture tape, the average surface roughness Ra of the obtained substrate was extremely large, and many large scratches were recognized. A lot of polishing debris was also confirmed on the glass substrate.
[0044]
[Table 1]
Figure 0004209275
[0045]
【The invention's effect】
If the glass substrate is polished and textured using a texture tape made of a polishing fabric that does not contain the matting agent of the present invention and generates less impurities, the glass substrate is less contaminated and the processing amount of the glass substrate is the same as before. Thus, the surface roughness of the substrate is uniform and extremely fine, and the magnetic density can be increased.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 shows a cross-sectional form of a representative composite split yarn.
FIG. 2 shows a use situation of a texture tape made of the abrasive cloth of the present invention.
[Explanation of symbols]
1 Substrate 2 Substrate surface 3 Substrate back surface 4, 5 Texture tape 6, 7 Press roll 8, 9 Nozzle

Claims (5)

3箇所以上の頂角を有する横断面形状のポリエステルとポリアミドから形成される割繊性複合繊維が少なくとも緯糸を構成し、割繊後の緯糸のカバーファクター値が18000以上であり、且つ180℃、30分の乾熱処理後の不純物の発生量が0.1重量%以下であり艶消し剤を全く含まないことを特徴とするガラス基板研磨用織物。A splitting composite fiber formed from polyester and polyamide having a cross-sectional shape having apex angles of three or more places constitutes at least a weft, the cover factor value of the weft after splitting is 18000 or more, and 180 ° C., A glass substrate polishing fabric characterized in that the amount of impurities generated after 30 minutes of dry heat treatment is 0.1% by weight or less and contains no matting agent. ポリエステルがポリエチレンテレフタレート、ポリアミドが6ナイロンである請求項1記載の研磨用織物。The polishing fabric according to claim 1, wherein the polyester is polyethylene terephthalate and the polyamide is 6 nylon. 割繊方法が溶剤によって割繊することを特徴とする請求項1、2いずれかに記載の研磨用織物。The polishing fabric according to any one of claims 1 and 2, wherein the splitting method splits with a solvent. 請求項1〜3いずれかに記載の織物を用いたガラス磁気ディスク用基板のテクスチャー加工用研磨布。A polishing cloth for texture processing of a glass magnetic disk substrate using the fabric according to any one of claims 1 to 3. 請求項1〜4いずれかに記載の研磨布を用いることを特徴とするガラス磁気ディスク用基板のテクスチャー加工研磨方法。A method for polishing a texture of a glass magnetic disk substrate, wherein the polishing cloth according to claim 1 is used.
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