JP4144797B2 - System for peeling metal thin films from glass substrates - Google Patents

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Description

本発明は、ガラス基板上に密着した金属薄膜を連続的に剥離するシステムに関する。     The present invention relates to a system for continuously peeling a metal thin film adhered on a glass substrate.

液晶表示用ガラス基板、プラズマ表示用ガラス基板等の金属薄膜が密着したガラス基板の製造工程において生じた不良品を再生処理して再びフラットパネルデスプレイ(FPD)用のガラス基板として使用するのに、Si系の絶縁膜上に形成したITO膜、クロム膜等の導電膜を剥離する必要があった。このような導電膜の剥離手段として、従来、酸やアルカリ系の化学薬品を用いていたが、このような化学薬品は、ガラス素材にも反応しガラス表面の表面状態が不良品となってしまい元の状態には戻らず、品質を重視するガラス基板の素材としては再利用が困難であった。   In order to use again as a glass substrate for flat panel display (FPD) by reprocessing the defective product produced in the manufacturing process of the glass substrate in which the metal thin film such as the glass substrate for liquid crystal display and the glass substrate for plasma display is adhered, It was necessary to peel off a conductive film such as an ITO film or a chromium film formed on the Si-based insulating film. Conventionally, acid or alkaline chemicals have been used as a means for peeling such conductive films, but such chemicals also react with glass materials, resulting in defective surface conditions on the glass surface. It did not return to its original state, and it was difficult to reuse it as a glass substrate material that emphasizes quality.

このような状況に鑑みガラス素材には反応しないで導電膜を剥離する手段として電解液による剥離手段が案出されている(特許文献1参照)。この剥離手段は、電解液の存在下で導電膜に接触させた陽極と、パッドを介して導電膜に接触させた陰極との間に所定の電圧を印可することで、導電膜が溶解しガラス基板表面を損傷することなく再生利用することが可能である。   In view of such circumstances, a stripping means using an electrolytic solution has been devised as a means for stripping a conductive film without reacting with a glass material (see Patent Document 1). This peeling means applies a predetermined voltage between the anode that is in contact with the conductive film in the presence of the electrolyte and the cathode that is in contact with the conductive film through the pad, so that the conductive film is dissolved and glass is applied. It can be recycled without damaging the substrate surface.

特開平7−207500号公報(段落0014、0015及び図3)Japanese Patent Laid-Open No. 7-207500 (paragraphs 0014 and 0015 and FIG. 3)

しかしながら、特許文献1に記載の電解液による剥離手段によれば殆ど導電膜は剥離されるが、一品毎に電極と電解液の流し込みをセットしなければならず、大量のガラス基板を連続再生化するには手間が掛かるばかりでなく、EDX(エネルギー分散X線分析法)による分析で残存金属類を検査すると、下地の金属酸化膜が僅かに残っており、完全剥離したものではなかった。   However, according to the peeling means using the electrolytic solution described in Patent Document 1, the conductive film is almost peeled off, but it is necessary to set the flow of the electrode and the electrolytic solution for each product, and a large number of glass substrates are continuously regenerated. In addition to taking time and effort, when the remaining metals were examined by analysis by EDX (energy dispersive X-ray analysis), a slight amount of the underlying metal oxide film remained and was not completely peeled off.

本発明は、このような事情に基づいてなされたもので、大量のガラス基板の金属膜を連続的に、かつフラットデスプレイパネルとして再生可能になるまで剥離することができるガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムを提供することを目的とするものである。   The present invention has been made based on such circumstances, and a metal thin film is peeled from a glass substrate that can be peeled off continuously until it becomes reproducible as a flat display panel. It aims at providing the system which performs.

上記の目的を解決するために、本発明の請求項1に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムは、ガラス基板上に密着した金属薄膜を連続的に剥離するシステムであって、搬送部に投入された金属薄膜が密着したガラス基板上に、傾斜電極板より電解液を層流状態で連続的に流下し、通電によりガラス基板上の金属薄膜を溶出させ、洗浄部にて該溶出金属をシャワーにより取り去り、その後硝酸第2セリウムアンモニウム水溶液に浸して、溶出されなかった未溶出の金属部分のピンホールに詰まった物質を除去した上で、研磨部にて未溶出の金属部分を研磨し、引き続いて中圧シャワー部で研磨粉を除去し、乾燥部においてガラス基板の表面をエアーで乾燥させて、搬送部から搬出されることを特徴としている。
この特徴によれば、ガラス基板を搬送部に投入することで一連の剥離作業が行なわれるので大量のガラス基板の再生化に対応でき、しかもガラス基板に対して電解液を層流状態に流下することができるので、電極部における気泡の発生を防止し、通電により気泡中に放電が発生してガラス基板に傷を付けるのを防止できる。また、硝酸第2セリウムアンモニウム水溶液に浸すことにより、微細なピンホールに詰まったゴミ等を除去でき、その後の研磨効率の向上を図ることができる。
In order to solve the above-mentioned object, a system for peeling a metal thin film from a glass substrate according to claim 1 of the present invention is a system for continuously peeling a metal thin film adhered on a glass substrate, and includes a transport unit. On the glass substrate to which the metal thin film placed in contact is closely adhered, the electrolyte solution is continuously flowed down from the inclined electrode plate in a laminar flow state, and the metal thin film on the glass substrate is eluted by energization, and the eluted metal is washed in the cleaning section. Is removed by showering, and then immersed in an aqueous solution of ceric ammonium nitrate to remove the substances clogged in the pinholes of the uneluting metal part that was not eluted, and then the uneluting metal part is polished in the polishing part. Subsequently, the polishing powder is removed at the intermediate pressure shower unit, and the surface of the glass substrate is dried with air in the drying unit, and is carried out of the transport unit.
According to this feature, since a series of peeling operations are performed by putting the glass substrate into the transport unit, it is possible to cope with the regeneration of a large number of glass substrates, and the electrolyte flows down to the glass substrate in a laminar flow state. Therefore, it is possible to prevent the generation of bubbles in the electrode portion, and it is possible to prevent the glass substrate from being damaged due to the occurrence of discharge in the bubbles due to energization. Further, by immersing in an aqueous solution of ceric ammonium nitrate, dust or the like clogged in fine pinholes can be removed, and the subsequent polishing efficiency can be improved.

本発明の請求項に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムは、請求項に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムであって、前記研磨部において、研磨液としてアルミナ水溶液を用いることを特徴としている。
この特徴によれば、アルミナ水溶液を研磨液とすることで、例えば下地の絶縁性クロム膜も完全剥離できる。
A system for peeling a metal thin film from a glass substrate according to claim 2 of the present invention is a system for peeling a metal thin film from a glass substrate according to claim 1 , wherein an alumina aqueous solution is used as a polishing liquid in the polishing section. It is characterized by use.
According to this feature, for example, the underlying insulating chromium film can be completely peeled off by using an alumina aqueous solution as the polishing liquid.

本発明の請求項に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムは、請求項1または2に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムであって、前記乾燥部において、エアーはエアーナイフノズルを用いてガラス基板表面に噴出させることを特徴としている。
この特徴によれば、シャワーにより濡れたガラス基板を、エアーナイフノズルにより効率よく乾燥できる。
A system for peeling a metal thin film from a glass substrate according to claim 3 of the present invention is a system for peeling a metal thin film from a glass substrate according to claim 1 or 2 , wherein air is an air knife in the drying section. It is characterized by ejecting onto the surface of the glass substrate using a nozzle.
According to this feature, the glass substrate wetted by the shower can be efficiently dried by the air knife nozzle.

本発明の実施例を以下に説明する。   Examples of the present invention will be described below.

図1は本発明の一実施形態に係るガラス基板から金属薄膜を剥離する全工程を備えた金属薄膜剥離装置の全体図、図2は同じくガラス基板から金属薄膜を連続的に剥離する全工程を示すフロー図であり、図3はガラス基板において金属薄膜を電解液により剥離する原理の説明図である。   FIG. 1 is an overall view of a metal thin film peeling apparatus including all the steps for peeling a metal thin film from a glass substrate according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing all steps for continuously peeling a metal thin film from a glass substrate. FIG. 3 is an explanatory diagram of the principle of peeling a metal thin film with an electrolytic solution on a glass substrate.

この金属薄膜を剥離するシステムは、フラットパネルデスプレイの製造工程で生じた不良品ガラス基板を再生処理して再びガラス基板として使用するために、非接触通電による電解によりガラス基板G上に密着した金属薄膜(導電性ないし絶縁性クロム金属膜等)を除去する工程を実施するものである。   This metal thin film peeling system is a metal that adheres onto the glass substrate G by electrolysis by non-contact energization in order to reprocess the defective glass substrate generated in the flat panel display manufacturing process and use it again as a glass substrate. A step of removing a thin film (conductive or insulating chromium metal film or the like) is performed.

図1に示すように、1はガラス基板から金属薄膜を連続的に剥離する金属薄膜の剥離装置であって、この金属薄膜の剥離装置1は、ガラス基板(例えば幅550mm×長さ670mm×厚み0.7mm)の上面に蒸着した金属薄膜として例えば導電性クロム(Cr)系の薄膜を連続的に剥離する装置である。   As shown in FIG. 1, reference numeral 1 denotes a metal thin film peeling apparatus for continuously peeling a metal thin film from a glass substrate. The metal thin film peeling apparatus 1 is a glass substrate (for example, width 550 mm × length 670 mm × thickness). For example, a conductive chromium (Cr) -based thin film is continuously peeled off as a metal thin film deposited on the upper surface of 0.7 mm.

搬送路25上に投入されたガラス基板は、搬送される過程でこのガラス基板上に先ず電解液を連続供給するとともに、通電によりガラス基板上の金属薄膜を溶出させる溶出部2、この溶出金属をシャワー4a、4bにより取り去る洗浄部4、未溶出の金属を研磨する研磨部6,8、研磨粉を除去する中圧シャワー部10,12、ガラス基板の表面をエアーで乾燥させる乾燥部14を経てガラス基板上面における金属薄膜の連続剥離処理が行われるようになっている。   In the process of being transported, the glass substrate placed on the transport path 25 firstly continuously supplies an electrolytic solution onto the glass substrate, and elutes the metal thin film on the glass substrate by energization. Through the cleaning unit 4 removed by the showers 4a and 4b, the polishing units 6 and 8 for polishing undissolved metal, the intermediate pressure shower units 10 and 12 for removing polishing powder, and the drying unit 14 for drying the surface of the glass substrate with air. A continuous peeling process of the metal thin film on the upper surface of the glass substrate is performed.

次に、ガラス基板から金属薄膜を連続的に剥離する剥離工程で使用される装置について詳述する。   Next, an apparatus used in a peeling process for continuously peeling a metal thin film from a glass substrate will be described in detail.

図3に示すように、上記溶出部2は、例えば700mm/min(最大3000mm/min)の速度で搬送されるガラス基板Gの上面に対し下端が近接して配置される傾斜電極板28(−極)と、ガラス基板Gの搬送方向上流側上面に近接配置された第1補助電極30(+極)と、上記両電極に一部重なるように跨ってガラス基板Gの下面に近接配置された第2補助電極32(+極)を備えている。   As shown in FIG. 3, the elution part 2 is, for example, an inclined electrode plate 28 (−) whose lower end is disposed close to the upper surface of the glass substrate G conveyed at a speed of 700 mm / min (maximum 3000 mm / min). Electrode), the first auxiliary electrode 30 (+ electrode) disposed in proximity to the upper surface on the upstream side in the transport direction of the glass substrate G, and the glass substrate G disposed in proximity to the lower surface of the glass substrate G so as to partially overlap the electrodes. A second auxiliary electrode 32 (+ electrode) is provided.

この第2補助電極32は、搬送されているガラス基板Gが第1補助電極30から離れることで生じるガラス基板最終端上の金属膜の残留を防止するための電極で、ガラス基板最終端が第1補助電極30を通過した後でも、この第2補助電極32がガラス基板最終端の金属膜の近傍に存在するため、電流効率の低下を防ぎ金属膜を完全に除去することが可能となる。   The second auxiliary electrode 32 is an electrode for preventing the metal film remaining on the final end of the glass substrate, which is generated when the transported glass substrate G is separated from the first auxiliary electrode 30, and the final end of the glass substrate is the first end. Even after passing through the first auxiliary electrode 30, the second auxiliary electrode 32 is present in the vicinity of the metal film at the end of the glass substrate, so that the current efficiency can be prevented from being lowered and the metal film can be completely removed.

この3つの電極には蓄電池BUから直流電源(200A,60V)が供給され、搬送されるガラス基板Gの上面に電解液となる、例えば硝酸ナトリウム水溶液(NaNO5%水溶液)を供給するために、ポンプP1より電解液貯留槽15に貯留されている電解液を約13リットル/min(最大80リットル/min)の流量で傾斜電極板28に連続的に層流状態で流下させている。第1補助電極30(+極)の搬送方向上流側には電解液が流出しないようにガラス基板Gの上面に全幅にわたって密着状態で転動する約直径20mmの液止めゴムローラ34が配置されている。 A direct current power source (200A, 60V) is supplied to the three electrodes from the storage battery BU to supply, for example, a sodium nitrate aqueous solution (NaNO 3 5% aqueous solution) serving as an electrolytic solution to the upper surface of the conveyed glass substrate G. The electrolytic solution stored in the electrolytic solution storage tank 15 from the pump P1 is continuously flowed down in a laminar flow state to the inclined electrode plate 28 at a flow rate of about 13 liter / min (maximum 80 liter / min). On the upstream side in the transport direction of the first auxiliary electrode 30 (+ electrode), a liquid stop rubber roller 34 having a diameter of about 20 mm is disposed on the upper surface of the glass substrate G so as to roll in close contact with the entire upper surface of the glass substrate G. .

ここで、傾斜電極板28は、材質が黄銅板であって傾斜角度が45度に設置されており、傾斜電極板28の下端とガラス基板G上面間の距離h1は最大10mmの範囲で可変に設定され、第1、第2補助電極30,32はカーボンが使用されており、電極の表面の磨耗を防止するためにTi−Ptメッキが施されている。そして、傾斜電極板28 の下端と第1補助電極30間の前後間距離Bは最大20mmの範囲で可変となっており、第1補助電極30とガラス基板G上面間の距離Hは最大10mmの範囲で可変となっている。   Here, the inclined electrode plate 28 is made of a brass plate and has an inclination angle of 45 degrees, and the distance h1 between the lower end of the inclined electrode plate 28 and the upper surface of the glass substrate G is variable within a maximum range of 10 mm. The first and second auxiliary electrodes 30 and 32 are made of carbon, and Ti—Pt plating is applied to prevent the wear of the electrode surface. The front-rear distance B between the lower end of the inclined electrode plate 28 and the first auxiliary electrode 30 is variable within a maximum range of 20 mm, and the distance H between the first auxiliary electrode 30 and the upper surface of the glass substrate G is maximum 10 mm. The range is variable.

尚、実施すべき好ましい寸法として、クロム膜の残留部を少なくするために約20mmの直径となる液止めゴムローラ34の中心と第1補助電極30との距離Aは15mm以下、傾斜電極板28の下端と第1補助電極30間の前後間距離Bは10mm、傾斜電極板28の下端とガラス基板G上面間の距離h1は2mm以下に設定される。また、第1補助電極30と第2補助電極32が重なる寸法Lとして4mmに設定され、第2補助電極32とガラス基板G下面との距離h2は1mm以下が好ましいが、理論上は0.5mm以下がより好ましい寸法となる。   As a preferable dimension to be implemented, the distance A between the center of the liquid stop rubber roller 34 having a diameter of about 20 mm and the first auxiliary electrode 30 in order to reduce the remaining portion of the chromium film is 15 mm or less, and the inclined electrode plate 28 The front-rear distance B between the lower end and the first auxiliary electrode 30 is set to 10 mm, and the distance h1 between the lower end of the inclined electrode plate 28 and the upper surface of the glass substrate G is set to 2 mm or less. Further, the dimension L where the first auxiliary electrode 30 and the second auxiliary electrode 32 overlap is set to 4 mm, and the distance h2 between the second auxiliary electrode 32 and the lower surface of the glass substrate G is preferably 1 mm or less, but theoretically 0.5 mm. The following are more preferred dimensions.

次に洗浄部4は、溶出部2のガラス基板G搬送方向の下流側に配置され、この洗浄部4は、溶出部2において電解液と共に溶出金属Nを、給水源WAから供給される水道水を利用して洗い流すシャワー4a,4bがガラス基板Gの上下面に配設されており、給水ポンプP2を介して最大60リットル/minの水道水が貯水槽16から上下のシャワー4a,4bに送水され、再び貯水槽16に回収させる循環路が形成されている。   Next, the cleaning unit 4 is disposed on the downstream side of the elution unit 2 in the conveyance direction of the glass substrate G. The cleaning unit 4 supplies the elution metal N together with the electrolyte in the elution unit 2 from the tap water source WA. Showers 4a and 4b that are washed away using water are disposed on the upper and lower surfaces of the glass substrate G, and a maximum of 60 liters / min of tap water is supplied from the water tank 16 to the upper and lower showers 4a and 4b via the water supply pump P2. Thus, a circulation path is formed for the water tank 16 to collect again.

また、洗浄部4の隣には未溶出の絶縁性クロム金属膜を機械的に剥離するための研磨部6,8が配設されており、これら研磨部6,8には、ガラス基板G下面の支持ローラに対応するようにガラス基板Gの幅に相当する長さのロールブラシまたは回転しつつガラス基板G上面を横切る方向に往復移動させてガラス基板G上面の未溶出の金属を研磨するディスクブラシが搬送方向前後に配設されており、5%〜8%セリウム水溶液またはアルミナ水溶液を使用して研磨するようになっている。   Further, next to the cleaning unit 4, polishing units 6 and 8 are provided for mechanically peeling the non-eluting insulating chromium metal film. The polishing units 6 and 8 include a bottom surface of the glass substrate G. A disc that polishes undissolved metal on the upper surface of the glass substrate G by reciprocating in the direction crossing the upper surface of the glass substrate G while rotating with a roll brush having a length corresponding to the width of the glass substrate G so as to correspond to the support roller of Brushes are disposed in the front and rear directions of the conveying direction, and are polished using a 5% to 8% cerium aqueous solution or an alumina aqueous solution.

洗浄後研磨工程に移行してもよいが、研磨工程に入る前に微細なピンホールに詰まったゴミ等を除去するために、洗浄部4から研磨部6,8に移行するときに、ガラス基板Gを硝酸第2セリウムアンモニウム水溶液に浸す工程を付加するとよい。ここで浸すという意味は、浸漬、散布等水溶液がガラス基板と直接接触するあらゆる手段を包含する。   The glass substrate may be moved to the polishing unit 6 or 8 from the cleaning unit 4 in order to remove dust or the like clogged in a fine pinhole before entering the polishing step. A step of immersing G in an aqueous solution of ceric ammonium nitrate may be added. The meaning of immersing here includes all means for bringing the aqueous solution into direct contact with the glass substrate, such as immersing and spraying.

次に、アルミナ水溶液を使用してロールブラシで研磨する本実施形態における研磨手段に付き説明する。各ロールブラシ6,8の直前には、アルミナ(Al)水溶液LAを供給する各ロールブラシ6,8の全長に沿って供給可能な供給ノズルNOがそれぞれ配置されており、アルミナ水溶液槽17からポンプP3を介して最大100リットル/minのアルミナ水溶液LAが供給されるようになっている。 Next, a description will be given of the polishing means in this embodiment in which an aqueous alumina solution is used to polish with a roll brush. Immediately before each roll brush 6, 8, supply nozzles NO that can be supplied along the entire length of each roll brush 6, 8 for supplying an alumina (Al 2 O 3 ) aqueous solution LA are arranged, respectively. A maximum of 100 liter / min alumina aqueous solution LA is supplied from 17 through a pump P3.

なお、ロールブラシ6,8に代えてディスクブラシを使用してアルミナ水溶液による研磨を行うことも可能である。ディスクブラシを使用する場合は、直径80mmのディスク研磨面に研磨パッドとしてポリビニールアルコール樹脂材を使用し、このディスクブラシ1個に対し1.5リットル/minの10%アルミナ水溶液(#3000)を供給し、600rpmで回転しつつ搬送されるガラス基板G上面に接触させて幅方向に対し100mm/minの搬送速度で往復移動させる。   In addition, it can replace with the roll brushes 6 and 8, and it can also polish with an alumina aqueous solution using a disk brush. When a disc brush is used, a polyvinyl alcohol resin material is used as a polishing pad on a disc polishing surface having a diameter of 80 mm, and a 1.5% / min 10% aqueous alumina solution (# 3000) is applied to each disc brush. It is supplied and brought into contact with the upper surface of the glass substrate G which is conveyed while rotating at 600 rpm, and is reciprocated at a conveying speed of 100 mm / min in the width direction.

次に、上記研磨部6,8後方には、中圧シャワー部10,12がガラス基板Gの搬送方向前後にそれぞれ離間して配置されており、これら中圧シャワー部10,12には、最大10kgf/cmのポンプ圧となる給水ポンプP4を使用して最大40リットル/minの水道水が貯水槽18から供給されるようになっている。 Next, intermediate pressure shower units 10 and 12 are arranged behind the polishing units 6 and 8 so as to be separated from each other in the front and rear of the glass substrate G in the conveying direction. A maximum of 40 liters / min of tap water is supplied from the water storage tank 18 using a water supply pump P4 having a pump pressure of 10 kgf / cm 2 .

最終工程を実施する装置となる乾燥部14には微小なスリットから通過するガラス基板Gの上下表面に向けて空圧源ARから供給されるエアーを噴出させるエアーナイフノズル14a,14bが、ガラス基板Gの上下面に向くようにその上下部位に配置され、ガラス基板Gの表面に付着した水を吹き飛ばすようになっている。   Air knife nozzles 14a and 14b for ejecting air supplied from the air pressure source AR toward the upper and lower surfaces of the glass substrate G passing through the minute slits are provided in the drying unit 14 serving as an apparatus for performing the final process. It is arrange | positioned in the up-and-down site | part so that it may face the upper and lower surfaces of G, and the water adhering to the surface of the glass substrate G is blown away.

次は、ガラス基板から金属薄膜を連続的に剥離する剥離工程を表1、表2を参照しガラス基板の流れに沿って詳述する。   Next, a peeling process for continuously peeling the metal thin film from the glass substrate will be described in detail along the flow of the glass substrate with reference to Tables 1 and 2.

金属薄膜が密着したガラス基板Gが、金属薄膜を上向きにした状態で搬送速度700mm/minで走行する搬送路25上に投入されて溶出部2に移動すると、溶出部2では電解剥離工程が実施される。   When the glass substrate G to which the metal thin film is adhered is put on the transport path 25 that travels at a transport speed of 700 mm / min with the metal thin film facing upward and moves to the elution part 2, an electrolytic stripping process is performed in the elution part 2. Is done.

この電解剥離工程では、−極側となる45度傾斜に設定された傾斜電極板28 上面に電解液貯留槽15から約13リットル/minの硝酸ナトリウム5%水溶液26がポンプP1を介して供給される。   In this electrolytic stripping step, an about 13 liter / min sodium nitrate 5% aqueous solution 26 is supplied from the electrolyte storage tank 15 to the upper surface of the inclined electrode plate 28 set at a 45-degree inclination on the negative electrode side via the pump P1. The

尚、この水溶液26を傾斜電極板28 上面から流下させる理由は、水溶液26の流れを層流状態にすることによって電極部における気泡の発生を防止し、通電により気泡中に放電が発生してガラス基板に傷を付けるのを防止するためである。   The reason why the aqueous solution 26 is caused to flow down from the upper surface of the inclined electrode plate 28 is that the flow of the aqueous solution 26 is made into a laminar flow state to prevent generation of bubbles in the electrode portion, and electric discharge generates in the bubbles due to energization. This is to prevent the substrate from being scratched.

また、図3に示すように、傾斜電極板28上面から層流状態で流下してガラス基板Gの金属薄膜M上面に供給された硝酸ナトリウムの水溶液26からなる電解液は、第1補助電極30(+極)の搬送方向上流側に配置された液止めゴムローラ34により止水されてガラス基板G上での漏洩が防止されている。   Further, as shown in FIG. 3, the electrolyte solution composed of an aqueous solution 26 of sodium nitrate that flows down from the upper surface of the inclined electrode plate 28 in a laminar state and is supplied to the upper surface of the metal thin film M of the glass substrate G is Water leakage is stopped on the glass substrate G by being stopped by the liquid stop rubber roller 34 disposed on the upstream side in the transport direction of the (+ pole).

ガラス基板G上の導電性金属薄膜Mは、傾斜電極板28 の下端と液止めゴムローラ34に供給された硝酸ナトリウムの電解液26によって溶解剥離されて、ガラス基板G上面で溶解した溶出金属Nはガラス基板Gとともに下流側へ搬送される。   The conductive metal thin film M on the glass substrate G is dissolved and peeled off by the sodium nitrate electrolyte 26 supplied to the lower end of the inclined electrode plate 28 and the liquid stop rubber roller 34, and the eluted metal N dissolved on the upper surface of the glass substrate G is The glass substrate G is transported downstream.

次に洗浄部4における洗浄工程では、ガラス基板Gの上下面に配設されたシャワー4a,4bから噴出される水道水WAにより、ガラス基板G上面の溶出金属が洗い流される。   Next, in the cleaning process in the cleaning unit 4, the eluted metal on the upper surface of the glass substrate G is washed away by the tap water WA ejected from the showers 4a and 4b disposed on the upper and lower surfaces of the glass substrate G.

ここで、表1における電解研磨前後表面のEDX(エネルギー分散X線分析法)による分析結果に示されるように、電解剥離前のクロム(Cr)元素が重量濃度で17.18%から電解剥離後では1.49%まで減少している。   Here, as shown in the analysis results by EDX (energy dispersive X-ray analysis) of the surface before and after electropolishing in Table 1, the chromium (Cr) element before electrolytic stripping is from 17.18% by weight concentration after electrolytic stripping. Then, it has decreased to 1.49%.

Figure 0004144797
Figure 0004144797

次に、未溶出の金属を研磨する研磨部6,8における機械研磨工程では、洗浄されたガラス基板Gの上面に向けて、供給ノズルNOから10%のアルミナ(Al)水溶液LAが供給され、この直後に通過するロールブラシ6,8により残留する未溶出の絶縁性クロム金属膜が除去される。 Next, in the mechanical polishing process in the polishing units 6 and 8 for polishing undissolved metal, a 10% alumina (Al 2 O 3 ) aqueous solution LA is supplied from the supply nozzle NO toward the upper surface of the cleaned glass substrate G. The remaining uneluting insulating chromium metal film is removed by the roll brushes 6 and 8 that are supplied and passed immediately after this.

この機械的な研磨により除去された状態は、表2により示されるEDX分析結果により明らかである。   The state removed by this mechanical polishing is clear from the EDX analysis results shown in Table 2.

Figure 0004144797
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すなわち、機械的な研磨後の表面に付着した未溶出の絶縁性クロム金属膜は、研磨前の重量濃度で約1.5%から研磨後の0.01%まで減少しており、クロム膜が殆ど完全に剥離除去されたことが判る。   That is, the uneluting insulating chromium metal film adhering to the surface after mechanical polishing is reduced from about 1.5% by weight concentration before polishing to 0.01% after polishing, and the chromium film is reduced. It can be seen that the film was almost completely removed.

次に、中圧シャワー部10,12における中圧洗浄工程では、機械研磨後の研磨面上に中圧シャワー部10,12から最大10kgf/cmのポンプ圧となる給水ポンプP4を使用して最大40リットル/minの水道水WAが噴出され、ガラス基板G上の研磨粉が噴出した水道水と共に洗浄される。 Next, in the intermediate pressure cleaning process in the intermediate pressure shower units 10 and 12, a feed water pump P4 having a maximum pump pressure of 10 kgf / cm 2 from the intermediate pressure shower units 10 and 12 is used on the polished surface after mechanical polishing. A maximum of 40 liters / min of tap water WA is ejected and washed together with the tap water from which the abrasive powder on the glass substrate G has been ejected.

次いで、乾燥部14における乾燥工程では、空気源ARからエアーナイフノズル14a,14bに形成される例えば0.08mm幅の微小なスリットにエアーを送り、搬送されるガラス基板Gの上下表面に向けて全幅方向にエアーが吹き出され、ガラス基板Gの表面に付着した水を吹き飛ばす、いわゆる水切りを行うことでガラス基板Gの表面を乾燥させる。   Next, in the drying process in the drying unit 14, air is sent from the air source AR to small slits having a width of, for example, 0.08 mm formed in the air knife nozzles 14 a and 14 b and directed toward the upper and lower surfaces of the glass substrate G being conveyed. The surface of the glass substrate G is dried by performing so-called draining, in which air is blown out in the entire width direction and water attached to the surface of the glass substrate G is blown off.

従って、前記のように構成されたガラス基板から金属薄膜を剥離するシステムによれば、ガラス基板Gを搬送路25上に投入することで一連の剥離作業が行なわれるので、大量のガラス基板Gの再生化に対応でき、しかも電解液による導電性のクロム金属膜Mの溶融後に、アルミナ水溶液LAを使用したロールブラシ6,8による研磨工程があるので、フラットデスプレイパネル(FPD)として再生可能になるまで金属薄膜(導電性ないし絶縁性クロム金属膜)を剥離することができる。   Therefore, according to the system for peeling the metal thin film from the glass substrate configured as described above, a series of peeling operations are performed by putting the glass substrate G onto the transport path 25. It is possible to cope with regeneration, and after the conductive chromium metal film M is melted by the electrolytic solution, there is a polishing process by the roll brushes 6 and 8 using the alumina aqueous solution LA, so that it can be regenerated as a flat display panel (FPD). The metal thin film (conductive or insulating chromium metal film) can be peeled up to.

また、5%水溶液の硝酸ナトリウムの電解液が、45度傾斜の傾斜電極板28よりガラス基板G上に流下させて供給されるので、傾斜電極板28上の流れが層流化されガラス基板Gの搬送に対して層流状態で電解液26を流すことができるので、気泡の発生が抑えられ剥離面に斑が起きない。   Further, since the 5% aqueous sodium nitrate electrolyte is supplied by flowing down the inclined electrode plate 28 inclined at 45 degrees onto the glass substrate G, the flow on the inclined electrode plate 28 is laminarized and the glass substrate G is flown. Since the electrolyte solution 26 can be flowed in a laminar flow state with respect to the conveyance of bubbles, the generation of bubbles is suppressed, and no spots occur on the peeled surface.

更に、ロールブラシ6,8を使用した研磨部において、研磨液としてアルミナ(Al)水溶液LAが用いられるので、下地となる絶縁性クロム膜でも完全に剥離できる。 Furthermore, since the alumina (Al 2 O 3 ) aqueous solution LA is used as the polishing liquid in the polishing portion using the roll brushes 6 and 8, even the insulating chromium film serving as the base can be completely peeled off.

そして、乾燥部においては、エアーナイフノズル14a,14bを用いてガラス基板Gの表面にエアーを噴出させることにより、中圧シャワー部10,12により濡れたガラス基板Gを、エアーナイフノズル14a,14bにより効率よく乾燥することができる。   In the drying section, air is ejected onto the surface of the glass substrate G using the air knife nozzles 14a and 14b, so that the glass substrate G wetted by the intermediate pressure shower sections 10 and 12 is removed from the air knife nozzles 14a and 14b. Can be dried more efficiently.

本発明の一実施形態に係るガラス基板から金属薄膜を剥離する全工程を備えた金属薄膜剥離装置の全体図である。It is a general view of the metal thin film peeling apparatus provided with all the processes which peel a metal thin film from the glass substrate which concerns on one Embodiment of this invention. 同じくガラス基板から金属薄膜を連続的に剥離する全工程を示すフロー図である。It is a flowchart which shows all the processes which peel a metal thin film continuously from a glass substrate similarly. ガラス基板において金属薄膜を電解液により剥離する原理の説明図である。It is explanatory drawing of the principle which peels a metal thin film with electrolyte solution in a glass substrate.

符号の説明Explanation of symbols

1 金属剥離装置
2 溶出部
4 洗浄部
4a,4b シャワー
6,8 ロールブラシ(研磨部)
10,12 中圧シャワー部
14 乾燥部
14a,14b エアーナイフノズル
15 電解液貯留槽
16 貯水槽
17 アルミナ水溶液槽
18 貯水槽
25 搬送路
26 硝酸ナトリウムの水溶液(電解液)
28 傾斜電極板
30 第1補助電極
32 第2補助電極
34 ゴムローラ
AR 空圧源
BU 蓄電池
G ガラス基板
LA アルミナ水溶液
M クロム金属膜(金属薄膜)
N 溶出金属
NO 供給ノズル
P1,P3 ポンプ
P2,P4 給水ポンプ
WA 水道水
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Metal peeling apparatus 2 Elution part 4 Cleaning part 4a, 4b Shower 6, 8 Roll brush (polishing part)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 12 Medium pressure shower part 14 Drying part 14a, 14b Air knife nozzle 15 Electrolyte storage tank 16 Reservoir 17 Alumina aqueous solution tank 18 Reservoir 25 Transport path 26 Sodium nitrate aqueous solution (electrolyte)
28 inclined electrode plate 30 first auxiliary electrode 32 second auxiliary electrode 34 rubber roller AR air pressure source BU storage battery G glass substrate LA alumina aqueous solution M chromium metal film (metal thin film)
N Elution metal NO supply nozzle P1, P3 Pump P2, P4 Water supply pump WA Tap water

Claims (3)

ガラス基板上に密着した金属薄膜を連続的に剥離するシステムであって、搬送部に投入された金属薄膜が密着したガラス基板上に、傾斜電極板より電解液を層流状態で連続的に流下し、通電によりガラス基板上の金属薄膜を溶出させ、洗浄部にて該溶出金属をシャワーにより取り去り、その後硝酸第2セリウムアンモニウム水溶液に浸して、溶出されなかった未溶出の金属部分のピンホールに詰まった物質を除去した上で、研磨部にて未溶出の金属部分を研磨し、引き続いて中圧シャワー部で研磨粉を除去し、乾燥部においてガラス基板の表面をエアーで乾燥させて、搬送部から搬出されることを特徴とするガラス基板から金属薄膜を剥離するシステム。 A system that continuously peels a metal thin film that adheres onto a glass substrate, and continuously flows down the electrolyte solution in a laminar flow state from the inclined electrode plate onto the glass substrate to which the metal thin film placed in the transport unit adheres. Then, the metal thin film on the glass substrate is eluted by energization, and the eluted metal is removed by a shower in the washing section, and then immersed in an aqueous solution of ceric ammonium nitrate to form a pinhole in an uneluting metal portion that has not been eluted. After removing the clogged material, the undissolved metal part is polished in the polishing part, then the polishing powder is removed in the intermediate pressure shower part, and the glass substrate surface is dried with air in the drying part and transported. A system for peeling a metal thin film from a glass substrate, which is carried out from a part. 前記研磨部において、研磨液としてアルミナ水溶液を用いる請求項1に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステム。 The system for peeling a metal thin film from a glass substrate according to claim 1, wherein an alumina aqueous solution is used as a polishing liquid in the polishing unit. 前記乾燥部において、エアーナイフノズルを用いてガラス基板表面にエアーを噴出させる請求項1または2に記載のガラス基板から金属薄膜を剥離するシステム。 The system which peels a metal thin film from the glass substrate of Claim 1 or 2 which blows off air on the glass substrate surface in the said drying part using an air knife nozzle.
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KR101243545B1 (en) * 2008-08-04 2013-03-20 도판 인사츠 가부시키가이샤 Apparatus for reclaiming glass substrate
KR101769612B1 (en) 2010-12-10 2017-08-21 삼성디스플레이 주식회사 Flattening method of a substrate
JP2015227275A (en) * 2014-06-02 2015-12-17 旭硝子株式会社 Method and apparatus for regeneration of glass plate
CN109513707A (en) * 2018-12-30 2019-03-26 江苏华东耀皮玻璃有限公司 A kind of float glass cold cleaning process
CN112018033B (en) * 2020-08-13 2022-05-31 华南师范大学 Epitaxial thin film wafer-level stripping method and device
CN114472422A (en) * 2020-10-28 2022-05-13 杰宜斯科技有限公司 Dipping device for cleaning display module and display module cleaning device
CN112743436A (en) * 2021-01-06 2021-05-04 深圳市吉祥达机械设备有限公司 Automatic change glass alkaline liquid and throw processing line

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