JP4100283B2 - MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector - Google Patents

MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector

Info

Publication number
JP4100283B2
JP4100283B2 JP2003208420A JP2003208420A JP4100283B2 JP 4100283 B2 JP4100283 B2 JP 4100283B2 JP 2003208420 A JP2003208420 A JP 2003208420A JP 2003208420 A JP2003208420 A JP 2003208420A JP 4100283 B2 JP4100283 B2 JP 4100283B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
mems
spatial light
light
working surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003208420A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005070091A (en
Inventor
哲朗 山▲崎▼
高司 武田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003208420A priority Critical patent/JP4100283B2/en
Publication of JP2005070091A publication Critical patent/JP2005070091A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4100283B2 publication Critical patent/JP4100283B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、MEMS、ティルトミラーMEMS、空間光変調装置、及びプロジェクタに関する。
【0002】
【従来の技術】
マイクロマシン技術とマイクロエレクトロニクス技術とを融合したMEMS(Michro Electrical Mechanical System)技術を用いるデバイスが開発されてきている。例えば、MEMS技術により製造されたティルトミラーデバイスが提案されている(特許文献1参照)。ティルトミラーデバイスは、光スイッチ、光スキャナ、空間光変調装置等の多くのデバイスに適用されている。例えば、光スイッチでは、光電変換が不要なため、装置を小型化、低価格化できる。また、光スキャナでは、一般的な光ポリゴンミラーに比較して大幅に小型化できる。さらに、空間光変調装置としてのDMD(Digital Micromirror Device)は、長寿命、高速な応答速度で高コントラストな投写像を得られるという利点を有している。
【0003】
【特許文献1】
米国特許第58672020号明細書
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
図6(a)〜(d)に従来技術のティルトミラーMEMSの構成を示す。図6(a)は、従来技術のティルトミラーMEMS1000の斜視図である。基板1001上の対角線方向に、第1の下電極1002aと、第2の下電極1002bとが形成されている。また、2箇所の支持部1003に回転自在なヒンジ1004(トーションバー)が固着されている。ヒンジ1004上に上電極1005が設けられている。上電極1005には反射膜が形成された状態、又は金属部材のままの状態で、可動ミラーとして作用する。図6(b)は、断面構成を示す。例えば、第2の下電極1002bに電圧を印加すると、上電極1005と第2の下電極1002bとの間に静電力(引力)が発生する。これにより、図6(b)に示すように、上電極1005は、第2の下電極1002bと当接した位置で傾斜して停止する。この状態における上電極1005の傾斜角度θは、次式(1)により算出される。
θ=tan-1(D/L) ・・・(1)
【0005】
ここで、Dは基板1001に平行な状態の上電極1005と下電極1002a、1002bとの距離、Lは支持部1003から上電極1005の端部までの距離である。
【0006】
また、静電力Fは、次式(2)で算出される。
F=(1/2)×ε0×S×V2/(D2)・・・(2)
ここで、ε0は真空の誘電率、Sは下電極1002a、1002bの面積、Dは基板に平行な状態の上電極1005と下電極1002a、1002bとの距離、Vは印加電圧である。
【0007】
ティルトミラーMEMSの場合、式(1)からも明らかなように、傾斜角度θは、距離Lで制限される。従って、傾斜角度θを大きくしたい場合、距離Dを大きくする必要がある。また、式(2)から明らかなように、静電力Fは距離Dの二乗に反比例する。このため、傾斜角度θを大きくするために距離Dを大きくすると、必要な静電力Fを得るために印加電圧Vを大きくしなければならない。しかしながら、駆動にICを用いると、印加電圧Vにも上限がある。この結果、図6(a)、(b)で示す構成では、傾斜角度θを大きくすることが困難であり問題である。例えば、従来技術のティルトミラーMEMSでは、上電極1005である可動ミラーは、10°前後しか傾斜させることはできない。MEMS、特にティルトミラーMEMSでは、可動ミラーの傾斜角度を大きくすることが望まれている。傾斜角度が大きくとれると、ティルトミラーMEMSを用いるプロジェクタ等の装置の設計の自由度を格段に大きくできる。
【0008】
また、傾斜角度θを大きくするためには、図6(c)に示すように、ヒンジ1054を上電極1055の中央部から端部の方向へシフトさせる構成も考えられる。そして、上電極1055の短い側を下電極1052で引くことで、てこの原理で上電極1055の長い側を大きく傾斜させることができる。この場合、下電極1052の面積Sが小さくなってしまう。このため、式(2)からも明らかなように、面積Sが小さい場合に所望の静電力Fを得るためには、印加電圧Vを大きくしなければならない。しかしながら、上述したように電極の駆動にICを用いると、印加電圧Vにも上限がある。この結果、図6(c)、(d)で示す構成の場合も、図6(a)、(b)の構成の場合と同様に、傾斜角度θを大きくすることが困難であり問題である。
【0009】
本発明は、上述の問題点を解決するためになされたものであり、簡便な構成で可動部の傾斜角度が大きなMEMS、ティルトミラーMEMS、空間光変調装置、プロジェクタを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決し、目的を達成するために、第1の発明によれば、平面形状の第1の電極と、第1の電極に対して所定間隔の位置に設けられている平面形状の第2の電極と、第2の電極の端部に固着されている平面形状の作用面と、第1の電極と第2の電極とを介して作用面に当接する支柱部と、第1の電極と第2の電極とに電圧を印加する電源と、を有し、印加された電圧に応じて第1の電極と第2の電極とは相対的に引き合う方向へ移動し、作用面は、支柱部の一方の端部と当接している位置を力点として第2の電極から離れる方向へ移動することを特徴とするMEMSを提供できる。
【0011】
てこの原理では、力点に力を作用させることで、支点を中心として作用点が移動する。ここで、力点と支点との距離を短くすると、力点から遠い作用点を大きく移動させることができる。第1の発明では、平面形状の第1の電極と、平面形状の第2の電極とに電圧を印加することで両電極は静電力により相対的に引き合う方向へ移動する。すると、第2の電極と作用面とが固着されている端部は力点として作用する。そして、力点に力が作用すると、第2の電極と支柱部とが当接している位置は支点になる。支点と力点との距離が近いため、力点とは反対側の位置に相当する作用面、特に作用面の端部は大きく移動する。これにより、簡便な構成で、作用面を大きく傾斜させることができる。また、第1の電極と第2の電極との距離を小さくしておけば、容易に大きな静電力を得て高速な駆動を行うことができる。
【0012】
また、第1の発明の好ましい態様によれば、支柱部の他方の端部が固着されている基板をさらに有し、第1の電極は前記基板上に形成され、印加されている電圧に応じて第2の電極が第1の電極の方向へ平行移動することが望ましい。これにより、第1の電極が静電力により平行移動する動きを、支柱部と作用面との当接部(支点に相当)において、支柱部が作用面を押し上げる動きへ変換することができる。この結果、容易に作用面を大きく傾斜させることができる。
【0013】
また、第1の発明の好ましい態様によれば、第1の電極と前記第2の電極とは,前記作用面と略同じ形状で、略同じ面積であることが望ましい。式(2)を用いて上述したように電極間に発生する静電力は電極の面積に比例する。本態様によれば、電極の大面積化が容易なため、大きな静電力を得ることができる。
【0014】
また、第2の発明によれば、上述のMEMSを備え、作用面は、反射ミラーであることを特徴とするティルトミラーMEMSを提供できる。これにより、反射ミラーを大きな傾斜角度で移動させることができる。この結果、ティルトミラーMEMSへの入射光の偏向角を大きくして射出できる。
【0015】
また、第3の発明によれば、上述のティルトミラーMEMSが複数配列されていることを特徴とする空間光変調装置を提供できる。上述のティルトミラーMEMSを備えているため、画像信号に応じて変調されて可動ミラーで反射する画像を形成する光の方向を容易に制御できる。
【0016】
また、第4の発明によれば、照明光を供給する照明光用光源部と、上述の空間光変調装置と、空間光変調装置で変調された照明光を投写する投写レンズと、を有することを特徴とするプロジェクタを提供できる。これにより、空間光変調装置からの変調光が大きく偏向されているため、投写レンズへ入射させる光量を連続的に調整してアナログ的な制御が可能となる。また、空間光変調装置と投写レンズとの距離を小さくできる。この結果、小型で高画質なプロジェクタを提供できる。さらに、デジタル的な駆動をする際も、偏向角を大きく取れるため、ON光とOFF光との分離がしやすい。その結果、小型でコントラストの高いプロジェクタを提供できる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下に添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態を詳細に説明する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係るティルトミラーMEMSの斜視構成を示す。矩形状の平行平板である基板101上に、平面形状の第1の電極である下電極102が形成されている。また、基板101の対角方向の2箇所に支持部103が形成され、中央部に支柱部106が形成されている。支持部103の端部には、平面形状の第2の電極である上電極105が固着されている。上電極105と下電極102とは、後述する電圧が印加されていない状態で所定の間隔D(図2(a))となるように構成されている。矩形状の上電極105の対向する辺105a、105bに略平行に2箇所の切欠き部109が形成されている。上電極105と下電極102との間には、電源110により所定の電圧が印加される。印加する電圧は、制御部111により画像信号に応じて制御される。
【0018】
また、上電極105の端部104に平面状の作用面である反射ミラー108が固着されている。反射ミラー108は、端部104においてのみ上電極105に固着されている。ここで、支柱部106の端部は反射ミラー108に当接している。
【0019】
次に、図2(a)、(b)を用いて、上述のティルトミラーMEMS100の動作を説明する。なお、図2(a)、(b)において、電源110と制御部111との記載は省略する。図2(a)は、電圧を印加していない状態、つまり静電力が発生していない状態のティルトミラーMEMS100の断面構成を示す。静電力が発生していない状態では、上電極105と下電極102とは略平行となっている。これに対して、図2(b)に示すように、画像信号に応じた電圧を印加すると、上電極105と下電極102との間に相対的に引き合うような静電力が生ずる。下電極102は基板101に固着されているため、図中矢印Aで示すように上電極105が下電極102の方向へ平行移動する。このように、上電極105と下電極102とでピストンアクションタイプの静電アクチュエータを構成する。平行平板型の静電アクチュエータでは、1つのティルトミラーMEMS100の全体の面積を電極として使用することができる。このため、大きな静電力を容易に得ることができる。
【0020】
上電極105が下電極102の方向へ平行移動すると、反射ミラー108と上電極105とが固着されている端部104も矢印A方向へ下がるように移動する。ここで、支柱部106と反射ミラー108との当接部107を支点、端部104を力点として、てこの原理で反射ミラー108は矢印Bの方向へ上電極105から離れる方向へ移動する。反射ミラー108の端部108aは、てこの原理における作用点に相当する。
【0021】
本実施形態では、支点である当接部107と力点である端部104との距離L1が近いため、端部104とは反対側の位置に相当する作用面である反射ミラー108、特にその端部108aは大きく矢印Bの方向へ移動する。これにより、簡便な構成で、反射ミラー108を大きく傾斜させることができる。また、下電極102と上電極105との距離Dを小さくしておけば、容易に大きな静電力を得て高速な駆動を行うことができる。また、本実施形態では、上電極105が静電力により平行移動する動きを、支柱部106と反射ミラー108との当接部107(支点に相当)において、支柱部106が反射ミラー108を押し上げる動きへ変換することができる。この結果、容易に反射ミラー108を大きく傾斜させることができる。さらに、上電極105と下電極102との距離Dに関わらず、反射ミラー108の傾斜角度θを大きくすることができる。
【0022】
また、好ましくは、上電極105と下電極102とは、反射ミラー108と略同じ形状で、略同じ面積であることが望ましい。上記式(2)を用いて上述したように両電極間に発生する静電力は上電極105と下電極102との面積に比例する。これによれば、容易に大きな静電力を得ることができる。このように、本実施形態では、反射ミラー108を大きな傾斜角度で移動させることができる。この結果、ティルトミラーMEMS100への入射光の偏向角を大きくして射出できる。
【0023】
次に、図3(a)〜(g)に基づいてティルトミラーMEMS100の製造方法を説明する。図3(a)において、シリコン(Si)からなる基板101上にアルミニウム(Al)層を成膜し、下電極102、支柱部106の基礎となる領域、配線などをパターンニングする。Al層の厚さは0.2μm程度が望ましい。図3(b)において、第1の犠牲層としてレジスト層301をスピンコート法により成膜する。レジスト層301の厚さは1.5μmが望ましい。レジスト層301には、支柱部106のための孔を形成する。図3(c)において、レジスト層301上に上電極105、当接部107を構成するAl層を厚さ0.2μm成膜する。成膜したAl層に上電極105、当接部107、配線等をパターニングする。図3(d)において、第2の犠牲層としてレジスト層302を1.5μm成膜する。そして、上電極105と反射ミラー108とを固着するための孔と、当接部107のための孔とをパターニングする。図3(e)において、レジスト層302の上に反射ミラー108、当接部107となるAl層を0.2μ成膜して、パターニングする。図3(f)において、プラズマエッチングにより第1の犠牲層であるレジスト層301と、第2の犠牲層であるレジスト層302とを除去する。
【0024】
図3(g)は、上電極105と下電極102との間に電圧を印加して、上電極105が最も下がった状態を示す。この状態において、当接部107(支点)と上電極105の左端である端部104(力点)との距離L1=2μm、当接部107と右端部との距離L2=18μm、上電極105の左端部が水平状態Hから下がった距離D1=1.0μmとすると、上電極105の右端部が水平状態Hから上がった距離D2=13.5μmとなる。このため、傾斜角度θは、

Figure 0004100283
となる。このように、従来技術の製造方法をそのまま用いて、傾斜角度θの大きなティルトミラーMEMSを得ることができる。
【0025】
(第2実施形態)
図4は、本発明の第2実施形態に係るプロジェクタ400の概略構成を示す図である。光源部401は、赤色光(以下、「R光」という。)、緑色光(以下、「G光」という。)、及び青色光(以下、「B光」という。)を供給する。また、光源部401は、複数の、R光用固体発光素子402RとG光用固体発光素子402GとB光用固体発光素子402Bとから構成される。固体発光素子としては、LDやLED等を用いることができる。なお、光源部401として有機EL素子等を用いても良い。
【0026】
光源部401からの光は、照明レンズ403を介して空間光変調装置404に入射する。空間光変調装置404は、上記第1実施形態で述べた複数のティルトミラーMEMS100を格子状に配列して構成されている。照明レンズ403は両凸形状の正単レンズで構成されている。照明レンズ403は、光源部401の像を、投写レンズ405の入射瞳ENPの位置に形成させる。これにより、空間光変調装置404をケーラー照明することができる。空間光変調装置404は、光源部401からの光を映像信号に応じて変調して射出する。変調された光は投写レンズ405を介してスクリーン406に投写される。ここで、駆動制御部407は、光源部401、空間光変調装置404の駆動制御を行う。駆動制御部407は、画像信号に応じた電圧を上述のティルトミラーMEMSへ印加する。反射ミラー108(図1)は、画像信号に応じて傾斜する角度が変化する。これにより、光源部401からの照明光は、反射ミラー108で反射され、傾斜角度に応じた光量が投写レンズ405の入射瞳ENPへ入射する。これにより、画像の階調表現をアナログ的に行うことができる。
【0027】
次に、図4に示す第2実施形態に係るプロジェクタ400においてフルカラー映像を得るためのR光用発光素子402RとG光用発光素子402GとB光用発光素子402Bとを点灯させる時間とタイミングについて説明する。図5は、点灯時間とそのタイミングを示す図である。光源駆動部の機能も兼用する駆動制御部407は、R光用発光素子402RとG光用発光素子402GとB光用発光素子402Bとを順次切り換えて点灯させる。表示される映像の1フレーム内において各色発光素子の点灯時間を異ならせる。これにより、各色光の光束量を任意に設定できる。白色を得るためには、G光の光束量を全体の60%から80%程度にする必要がある。このため、図5に示すように、G光用発光素子402Gの点灯時間GTを、R光用発光素子402Rの点灯時間RTとB光用発光素子402Bの点灯時間BTよりも長くする。
【0028】
このように、空間光変調装置404は、画像信号に応じて変調されて可動ミラー108で反射する画像を形成する光の方向を容易に制御できる。また、空間光変調装置404からの反射光と、入射光とのなす角度(偏向角)を大きくとれるため、空間光変調装置404と投写レンズ405との距離を小さくできる。この結果、小型で高画質なプロジェクタ400を提供できる。
【0029】
また、本発明のMEMSを光スイッチに応用すると、作用面の可動範囲が大きいため、1つの光スイッチで分岐できる光信号の数を多くすることができる。さらに、本発明のMEMSを光スキャナに応用すると、作用面の可動範囲が大きいため、照射エリアと光スキャナとの距離を短くしても、大きな照射エリアをスキャンできる。このため、小型な光スキャナを得ることができる。また、バイモルフアクチュエータ等を用いて構成されているマイクロ繊毛移動デバイスが知られている。マイクロ繊毛移動デバイスは、物体を押し上げて移動させるデバイスである。そして、バイモルフアクチュエータの代わりに本発明のMEMSを用いると静電引力を用いて、複数の作用面の上下運動により物体を押し上げて移動させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施形態のティルトミラーMEMSの概略構成図。
【図2】 (a)、(b)は第1実施形態のティルトミラーMEMSの断面構成図。
【図3】 第1実施形態のティルトミラーMEMSの製造手順の説明図。
【図4】 第2実施形態のプロジェクタの概略構成図。
【図5】 第2実施形態のプロジェクタの点灯タイミングチャート。
【図6】 (a)〜(d)は従来技術のティルトミラーMEMSの概略構成図。
【符号の説明】
101 基板、102 下電極、103 支持部、104 端部、105 上電極、105a 辺、106 支柱部、107 当接部、108 可動ミラー、108a 端部、108 反射ミラー、109 切欠き部、110 電源、111制御部、301 レジスト層、302 レジスト層、400 プロジェクタ、401 光源部、402R、402G、402B各色光用固体発光素子、403照明レンズ、404 空間光変調装置、405 投写レンズ、406 スクリーン、407 駆動制御部、1001 基板、1002a 下電極、1002b下電極、1003 支持部、1004 ヒンジ、1005 上電極、1052下電極、1054 ヒンジ、1055 上電極、ENP 入射瞳[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a MEMS, a tilt mirror MEMS, a spatial light modulator, and a projector.
[0002]
[Prior art]
Devices using MEMS (Micro Electrical Mechanical System) technology, which is a fusion of micromachine technology and microelectronic technology, have been developed. For example, a tilt mirror device manufactured by MEMS technology has been proposed (see Patent Document 1). The tilt mirror device is applied to many devices such as an optical switch, an optical scanner, and a spatial light modulator. For example, since an optical switch does not require photoelectric conversion, the device can be reduced in size and price. Further, the optical scanner can be significantly reduced in size as compared with a general optical polygon mirror. Further, a DMD (Digital Micromirror Device) as a spatial light modulator has an advantage that a high-contrast projection image can be obtained with a long lifetime and a high response speed.
[0003]
[Patent Document 1]
US Pat. No. 5,867,2020
[Problems to be solved by the invention]
FIGS. 6A to 6D show the configuration of a tilt mirror MEMS according to the prior art. FIG. 6A is a perspective view of a conventional tilt mirror MEMS 1000. A first lower electrode 1002a and a second lower electrode 1002b are formed in a diagonal direction on the substrate 1001. In addition, rotatable hinges 1004 (torsion bars) are fixed to the two support portions 1003. An upper electrode 1005 is provided on the hinge 1004. The upper electrode 1005 acts as a movable mirror in a state where a reflective film is formed or in a state where it remains a metal member. FIG. 6B shows a cross-sectional configuration. For example, when a voltage is applied to the second lower electrode 1002b, an electrostatic force (attraction) is generated between the upper electrode 1005 and the second lower electrode 1002b. Accordingly, as shown in FIG. 6B, the upper electrode 1005 is inclined and stopped at a position in contact with the second lower electrode 1002b. The inclination angle θ of the upper electrode 1005 in this state is calculated by the following equation (1).
θ = tan −1 (D / L) (1)
[0005]
Here, D is the distance between the upper electrode 1005 and the lower electrodes 1002a and 1002b in a state parallel to the substrate 1001, and L is the distance from the support portion 1003 to the end of the upper electrode 1005.
[0006]
The electrostatic force F is calculated by the following equation (2).
F = (1/2) × ε 0 × S × V 2 / (D 2 ) (2)
Here, ε 0 is the dielectric constant of vacuum, S is the area of the lower electrodes 1002a and 1002b, D is the distance between the upper electrode 1005 and the lower electrodes 1002a and 1002b in a state parallel to the substrate, and V is the applied voltage.
[0007]
In the case of the tilt mirror MEMS, the tilt angle θ is limited by the distance L, as is apparent from the equation (1). Therefore, when it is desired to increase the inclination angle θ, it is necessary to increase the distance D. Further, as apparent from the equation (2), the electrostatic force F is inversely proportional to the square of the distance D. For this reason, if the distance D is increased in order to increase the inclination angle θ, the applied voltage V must be increased in order to obtain the necessary electrostatic force F. However, when an IC is used for driving, the applied voltage V also has an upper limit. As a result, in the configuration shown in FIGS. 6A and 6B, it is difficult to increase the inclination angle θ, which is a problem. For example, in the tilt mirror MEMS of the prior art, the movable mirror that is the upper electrode 1005 can be tilted only around 10 °. In MEMS, particularly tilt mirror MEMS, it is desired to increase the tilt angle of the movable mirror. When the inclination angle is large, the degree of freedom in designing a device such as a projector using the tilt mirror MEMS can be greatly increased.
[0008]
In order to increase the inclination angle θ, as shown in FIG. 6C, a configuration in which the hinge 1054 is shifted from the center portion of the upper electrode 1055 to the end portion is also conceivable. Then, by pulling the short side of the upper electrode 1055 with the lower electrode 1052, the long side of the upper electrode 1055 can be largely inclined by the lever principle. In this case, the area S of the lower electrode 1052 becomes small. For this reason, as is clear from equation (2), in order to obtain a desired electrostatic force F when the area S is small, the applied voltage V must be increased. However, as described above, when an IC is used for driving the electrodes, the applied voltage V also has an upper limit. As a result, in the case of the configuration shown in FIGS. 6C and 6D, it is difficult to increase the inclination angle θ, as in the case of the configuration of FIGS. .
[0009]
The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a MEMS, a tilt mirror MEMS, a spatial light modulation device, and a projector that have a simple configuration and a large inclination angle of a movable part. .
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-described problems and achieve the object, according to the first invention, a planar first electrode and a planar first electrode provided at a predetermined interval with respect to the first electrode. Two electrodes, a plane-shaped working surface fixed to the end of the second electrode, a support portion that contacts the working surface via the first electrode and the second electrode, and the first electrode And a power source for applying a voltage to the second electrode, and the first electrode and the second electrode move in a relatively attractive direction according to the applied voltage. It is possible to provide a MEMS that moves in a direction away from the second electrode using a position in contact with one end of the portion as a force point.
[0011]
In this principle, by applying force to the force point, the action point moves around the fulcrum. Here, when the distance between the force point and the fulcrum is shortened, the action point far from the force point can be moved greatly. In the first aspect of the invention, by applying a voltage to the planar first electrode and the planar second electrode, the two electrodes move relative to each other by electrostatic force. Then, the end portion where the second electrode and the working surface are fixed acts as a power point. When a force is applied to the force point, the position where the second electrode and the column portion are in contact becomes a fulcrum. Since the distance between the fulcrum and the force point is short, the action surface corresponding to the position opposite to the force point, in particular, the end of the action surface moves greatly. Thereby, an action surface can be greatly inclined with a simple configuration. In addition, if the distance between the first electrode and the second electrode is reduced, a large electrostatic force can be easily obtained and high-speed driving can be performed.
[0012]
Further, according to a preferred aspect of the first invention, the substrate further includes a substrate to which the other end of the support column is fixed, and the first electrode is formed on the substrate and corresponds to the applied voltage. Thus, it is desirable that the second electrode translates in the direction of the first electrode. Thereby, the movement in which the first electrode is translated by the electrostatic force can be converted into a movement in which the support column pushes up the action surface at the contact portion (corresponding to a fulcrum) between the support column and the action surface. As a result, the working surface can be easily inclined greatly.
[0013]
According to a preferred aspect of the first invention, it is desirable that the first electrode and the second electrode have substantially the same shape and the same area as the working surface. As described above using Equation (2), the electrostatic force generated between the electrodes is proportional to the area of the electrodes. According to this aspect, since it is easy to increase the area of the electrode, a large electrostatic force can be obtained.
[0014]
In addition, according to the second invention, it is possible to provide a tilt mirror MEMS that includes the above-described MEMS and whose working surface is a reflection mirror. Thereby, the reflection mirror can be moved at a large inclination angle. As a result, the deflection angle of incident light to the tilt mirror MEMS can be increased and emitted.
[0015]
In addition, according to the third aspect of the present invention, it is possible to provide a spatial light modulation device in which a plurality of the tilt mirror MEMS described above are arranged. Since the tilt mirror MEMS described above is provided, the direction of light that forms an image that is modulated according to the image signal and reflected by the movable mirror can be easily controlled.
[0016]
According to the fourth aspect of the invention, the illumination light source unit that supplies illumination light, the spatial light modulator described above, and a projection lens that projects illumination light modulated by the spatial light modulator are provided. Can be provided. As a result, the modulated light from the spatial light modulator is largely deflected, so that the amount of light incident on the projection lens is continuously adjusted to enable analog control. In addition, the distance between the spatial light modulator and the projection lens can be reduced. As a result, a small and high-quality projector can be provided. Furthermore, when the digital drive is performed, the deflection angle can be increased, so that it is easy to separate the ON light and the OFF light. As a result, a small projector with high contrast can be provided.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
(First embodiment)
FIG. 1 shows a perspective configuration of a tilt mirror MEMS according to a first embodiment of the present invention. A lower electrode 102 which is a planar first electrode is formed on a substrate 101 which is a rectangular parallel plate. Further, support portions 103 are formed at two positions in the diagonal direction of the substrate 101, and support columns 106 are formed at the center portion. An upper electrode 105, which is a planar second electrode, is fixed to the end of the support portion 103. The upper electrode 105 and the lower electrode 102 are configured to have a predetermined distance D (FIG. 2A) in a state where a voltage described later is not applied. Two notches 109 are formed substantially parallel to the opposing sides 105 a and 105 b of the rectangular upper electrode 105. A predetermined voltage is applied between the upper electrode 105 and the lower electrode 102 by the power source 110. The applied voltage is controlled by the control unit 111 according to the image signal.
[0018]
A reflection mirror 108 that is a planar working surface is fixed to the end 104 of the upper electrode 105. The reflection mirror 108 is fixed to the upper electrode 105 only at the end 104. Here, the end of the column 106 is in contact with the reflection mirror 108.
[0019]
Next, the operation of the tilt mirror MEMS 100 will be described with reference to FIGS. In FIGS. 2A and 2B, descriptions of the power source 110 and the control unit 111 are omitted. FIG. 2A shows a cross-sectional configuration of the tilt mirror MEMS 100 in a state where no voltage is applied, that is, in a state where no electrostatic force is generated. In a state where no electrostatic force is generated, the upper electrode 105 and the lower electrode 102 are substantially parallel. On the other hand, as shown in FIG. 2B, when a voltage corresponding to the image signal is applied, an electrostatic force that attracts relatively between the upper electrode 105 and the lower electrode 102 is generated. Since the lower electrode 102 is fixed to the substrate 101, the upper electrode 105 moves in the direction of the lower electrode 102 as indicated by an arrow A in the drawing. Thus, the upper electrode 105 and the lower electrode 102 constitute a piston action type electrostatic actuator. In the parallel plate type electrostatic actuator, the entire area of one tilt mirror MEMS 100 can be used as an electrode. For this reason, a large electrostatic force can be easily obtained.
[0020]
When the upper electrode 105 is translated in the direction of the lower electrode 102, the end portion 104 to which the reflection mirror 108 and the upper electrode 105 are fixed is also moved so as to be lowered in the arrow A direction. Here, with the contact portion 107 between the support column portion 106 and the reflection mirror 108 as a fulcrum and the end portion 104 as a force point, the reflection mirror 108 moves in the direction of arrow B in the direction away from the upper electrode 105 by the lever principle. The end portion 108a of the reflection mirror 108 corresponds to an action point in the lever principle.
[0021]
In the present embodiment, since the distance L1 between the abutment portion 107 that is a fulcrum and the end portion 104 that is a force point is short, the reflection mirror 108 that is the working surface corresponding to the position opposite to the end portion 104, particularly the end thereof. The part 108a largely moves in the direction of arrow B. Thereby, the reflective mirror 108 can be largely inclined with a simple configuration. If the distance D between the lower electrode 102 and the upper electrode 105 is reduced, a large electrostatic force can be easily obtained and high-speed driving can be performed. In the present embodiment, the movement of the upper electrode 105 moving in parallel by the electrostatic force is the movement of the column 106 pushing up the reflection mirror 108 at the contact portion 107 (corresponding to a fulcrum) between the column 106 and the reflection mirror 108. Can be converted to As a result, the reflecting mirror 108 can be easily inclined greatly. Furthermore, regardless of the distance D between the upper electrode 105 and the lower electrode 102, the inclination angle θ of the reflection mirror 108 can be increased.
[0022]
Preferably, the upper electrode 105 and the lower electrode 102 have substantially the same shape and the same area as the reflecting mirror 108. As described above using the above formula (2), the electrostatic force generated between both electrodes is proportional to the area of the upper electrode 105 and the lower electrode 102. According to this, a large electrostatic force can be easily obtained. Thus, in the present embodiment, the reflection mirror 108 can be moved with a large tilt angle. As a result, the deflection angle of the incident light to the tilt mirror MEMS 100 can be increased and emitted.
[0023]
Next, a method for manufacturing the tilt mirror MEMS 100 will be described with reference to FIGS. In FIG. 3A, an aluminum (Al) layer is formed on a substrate 101 made of silicon (Si), and a region serving as a base of the lower electrode 102 and the column portion 106, wiring, and the like are patterned. The thickness of the Al layer is preferably about 0.2 μm. In FIG. 3B, a resist layer 301 is formed as a first sacrificial layer by spin coating. The thickness of the resist layer 301 is desirably 1.5 μm. In the resist layer 301, a hole for the support 106 is formed. In FIG. 3C, an Al layer constituting the upper electrode 105 and the contact portion 107 is formed on the resist layer 301 to a thickness of 0.2 μm. The upper electrode 105, the contact portion 107, the wiring, and the like are patterned on the formed Al layer. In FIG. 3D, a resist layer 302 is formed to a thickness of 1.5 μm as the second sacrificial layer. Then, a hole for fixing the upper electrode 105 and the reflection mirror 108 and a hole for the contact portion 107 are patterned. In FIG. 3E, an Al layer serving as the reflection mirror 108 and the contact portion 107 is formed on the resist layer 302 by 0.2 μm and patterned. In FIG. 3F, the resist layer 301 as the first sacrificial layer and the resist layer 302 as the second sacrificial layer are removed by plasma etching.
[0024]
FIG. 3G shows a state where the voltage is applied between the upper electrode 105 and the lower electrode 102 and the upper electrode 105 is lowered most. In this state, the distance L1 = 2 μm between the contact portion 107 (fulcrum) and the end portion 104 (force point) which is the left end of the upper electrode 105, the distance L2 = 18 μm between the contact portion 107 and the right end portion, If the distance D1 at which the left end portion is lowered from the horizontal state H is 1.0 μm, the distance D2 at which the right end portion of the upper electrode 105 is raised from the horizontal state H is 13.5 μm. Therefore, the inclination angle θ is
Figure 0004100283
It becomes. In this way, the tilt mirror MEMS having a large tilt angle θ can be obtained by using the conventional manufacturing method as it is.
[0025]
(Second Embodiment)
FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a projector 400 according to the second embodiment of the present invention. The light source unit 401 supplies red light (hereinafter referred to as “R light”), green light (hereinafter referred to as “G light”), and blue light (hereinafter referred to as “B light”). The light source unit 401 includes a plurality of R light solid state light emitting elements 402R, G light solid state light emitting elements 402G, and B light solid state light emitting elements 402B. As the solid light emitting element, an LD, an LED, or the like can be used. Note that an organic EL element or the like may be used as the light source unit 401.
[0026]
Light from the light source unit 401 is incident on the spatial light modulator 404 via the illumination lens 403. The spatial light modulator 404 is configured by arranging a plurality of tilt mirrors MEMS 100 described in the first embodiment in a lattice shape. The illumination lens 403 is a biconvex positive single lens. The illumination lens 403 forms an image of the light source unit 401 at the position of the entrance pupil ENP of the projection lens 405. Thereby, the spatial light modulator 404 can be Koehler illuminated. The spatial light modulator 404 modulates the light from the light source unit 401 in accordance with the video signal and emits it. The modulated light is projected onto the screen 406 via the projection lens 405. Here, the drive control unit 407 performs drive control of the light source unit 401 and the spatial light modulation device 404. The drive control unit 407 applies a voltage corresponding to the image signal to the tilt mirror MEMS described above. The angle at which the reflection mirror 108 (FIG. 1) is inclined changes according to the image signal. As a result, the illumination light from the light source unit 401 is reflected by the reflection mirror 108, and the amount of light according to the tilt angle enters the entrance pupil ENP of the projection lens 405. Thereby, the gradation expression of the image can be performed in an analog manner.
[0027]
Next, the time and timing for turning on the R light emitting element 402R, the G light emitting element 402G, and the B light emitting element 402B for obtaining a full color image in the projector 400 according to the second embodiment shown in FIG. explain. FIG. 5 is a diagram showing the lighting time and its timing. The drive control unit 407, which also functions as a light source driving unit, sequentially switches on and turns on the light emitting element for R light 402R, the light emitting element for G light 402G, and the light emitting element for B light 402B. The lighting time of each color light emitting element is varied within one frame of the displayed image. Thereby, the light flux amount of each color light can be arbitrarily set. In order to obtain a white color, it is necessary to reduce the luminous flux of G light to about 60% to 80% of the whole. For this reason, as shown in FIG. 5, the lighting time GT of the G light emitting element 402G is made longer than the lighting time RT of the R light emitting element 402R and the lighting time BT of the B light emitting element 402B.
[0028]
In this way, the spatial light modulator 404 can easily control the direction of light that forms an image that is modulated in accordance with an image signal and reflected by the movable mirror 108. In addition, since the angle (deflection angle) between the reflected light from the spatial light modulator 404 and the incident light can be increased, the distance between the spatial light modulator 404 and the projection lens 405 can be reduced. As a result, a small and high-quality projector 400 can be provided.
[0029]
In addition, when the MEMS of the present invention is applied to an optical switch, since the movable range of the working surface is large, the number of optical signals that can be branched by one optical switch can be increased. Furthermore, when the MEMS of the present invention is applied to an optical scanner, the movable range of the working surface is large, so that a large irradiation area can be scanned even if the distance between the irradiation area and the optical scanner is shortened. For this reason, a small optical scanner can be obtained. In addition, a micro cilia moving device configured using a bimorph actuator or the like is known. The micro cilia moving device is a device that pushes up and moves an object. If the MEMS of the present invention is used instead of the bimorph actuator, the object can be pushed up and moved by the vertical movement of the plurality of working surfaces using electrostatic attraction.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a tilt mirror MEMS according to a first embodiment.
FIGS. 2A and 2B are cross-sectional configuration diagrams of the tilt mirror MEMS according to the first embodiment. FIGS.
FIG. 3 is an explanatory diagram of a manufacturing procedure of the tilt mirror MEMS according to the first embodiment.
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a projector according to a second embodiment.
FIG. 5 is a lighting timing chart of the projector according to the second embodiment.
6A to 6D are schematic configuration diagrams of a conventional tilt mirror MEMS.
[Explanation of symbols]
101 Substrate, 102 Lower electrode, 103 Supporting part, 104 End part, 105 Upper electrode, 105a side, 106 Post part, 107 Abutting part, 108 Movable mirror, 108a End part, 108 Reflecting mirror, 109 Notch part, 110 Power supply , 111 control unit, 301 resist layer, 302 resist layer, 400 projector, 401 light source unit, 402R, 402G, 402B solid light emitting element for each color light, 403 illumination lens, 404 spatial light modulator, 405 projection lens, 406 screen, 407 Drive control unit, 1001 substrate, 1002a lower electrode, 1002b lower electrode, 1003 support unit, 1004 hinge, 1005 upper electrode, 1052 lower electrode, 1054 hinge, 1055 upper electrode, ENP entrance pupil

Claims (5)

平板状の基板と、
前記基板上に形成され、内部に第1の穴が開けられた平面形状の第1の電極と、
前記第1の電極に対して所定間隔の位置に、支持部によって、略平行に支持されて、内部に第2の穴が開けられた平面形状の第2の電極と、
前記所定間隔が可変になるように、前記第2電極に設けられる切り欠き部と、
前記第2の電極の端部に固着されている平面形状の作用面と、
前記基板に略垂直に立てられ、前記第1の穴と前記第2の穴と貫通し、前記作用面に、一端で当接する支柱部と、
前記第1の電極と前記第2の電極とに電圧を印加する電源と、を有し、
前記印加された電圧に応じて、前記第2の電極が、前記第1の電極の方向平行移動することで、前記支柱部が前記作用面を傾かせることを特徴とするMEMS。
A flat substrate;
A planar first electrode formed on the substrate and having a first hole formed therein;
A second electrode having a planar shape with a second hole formed therein and supported substantially in parallel by the support portion at a position spaced apart from the first electrode;
A notch provided in the second electrode such that the predetermined interval is variable;
A planar working surface secured to the end of the second electrode;
A strut that is erected substantially perpendicular to the substrate, passes through the first hole and the second hole, and contacts the working surface at one end;
A power source for applying a voltage to the first electrode and the second electrode,
2. The MEMS according to claim 1, wherein the support portion tilts the working surface by the second electrode moving in parallel with the first electrode in accordance with the applied voltage .
前記第1の電極と前記第2の電極とは、前記作用面と略同じ形状で、略同じ面積であることを特徴とする請求項に記載のMEMS。2. The MEMS according to claim 1 , wherein the first electrode and the second electrode have substantially the same shape and the same area as the working surface. 請求項1又は2のいずれか一項に記載のMEMSを備え、
前記作用面は、反射ミラーであることを特徴とするティルトミラーMEMS。
The MEMS according to claim 1 or 2 is provided,
The tilt mirror MEMS, wherein the working surface is a reflection mirror.
請求項に記載のティルトミラーMEMSが複数配列されていることを特徴とする空間光変調装置。A spatial light modulator comprising a plurality of tilt mirror MEMS according to claim 3 arranged therein. 照明光を供給する照明光用光源部と、
請求項に記載の空間光変調装置と、
前記空間光変調装置で変調された前記照明光を投写する投写レンズと、を有することを特徴とするプロジェクタ。
An illumination light source for supplying illumination light;
A spatial light modulator according to claim 4 ;
And a projection lens that projects the illumination light modulated by the spatial light modulator.
JP2003208420A 2003-08-22 2003-08-22 MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector Expired - Fee Related JP4100283B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003208420A JP4100283B2 (en) 2003-08-22 2003-08-22 MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003208420A JP4100283B2 (en) 2003-08-22 2003-08-22 MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005070091A JP2005070091A (en) 2005-03-17
JP4100283B2 true JP4100283B2 (en) 2008-06-11

Family

ID=34401709

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003208420A Expired - Fee Related JP4100283B2 (en) 2003-08-22 2003-08-22 MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4100283B2 (en)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100815337B1 (en) 2004-10-08 2008-03-19 삼성전기주식회사 Digital micro blaze grating optical modulator
JP2008015256A (en) * 2006-07-06 2008-01-24 Toyota Central Res & Dev Lab Inc Optical deflector
JP5339746B2 (en) * 2008-03-06 2013-11-13 キヤノン株式会社 Image projection apparatus and image display system
JP5024235B2 (en) * 2008-08-25 2012-09-12 株式会社豊田中央研究所 Optical device
KR101566433B1 (en) 2008-09-03 2015-11-06 삼성디스플레이 주식회사 Display device
JP2011128194A (en) 2009-12-15 2011-06-30 Seiko Epson Corp Light modulation device and projector
JPWO2013108705A1 (en) * 2012-01-16 2015-05-11 アルプス電気株式会社 Micro movable mechanism and variable capacitor
JPWO2014054751A1 (en) * 2012-10-04 2016-08-25 アルプス電気株式会社 Variable capacitor
JP5922249B2 (en) * 2012-10-11 2016-05-24 アルプス電気株式会社 Variable capacitor

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0784196A (en) * 1993-09-13 1995-03-31 Canon Inc Optical deflector and display device using the same
JP2002189176A (en) * 2000-12-20 2002-07-05 Mitsubishi Electric Corp Mirror driving device
KR100398310B1 (en) * 2001-09-13 2003-09-19 한국과학기술원 Micromirror device using interdigitated cantilevers and its applications

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005070091A (en) 2005-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100815752B1 (en) Microelectrical mechanical structure optical modulator and optical display system
KR100815440B1 (en) Mems-based light projection engine and associated method of manufacture
CN100535706C (en) Micromirrors with off-angle electrodes and stops
JP2002287047A (en) Optical switching element, optical switching device, methods for manufacturing them and picture display device
JP2006235582A (en) Tilting member and actuator having the same
JP4100283B2 (en) MEMS, tilt mirror MEMS, spatial light modulator, and projector
US20070236773A1 (en) High-resolution scanning display system
TWI698696B (en) Light path adjustment mechanism and fabrication method thereof
JP2012511163A (en) Digital micromirror device
JP4669769B2 (en) Projection display system
Hofmann et al. MEMS scanning laser projection based on high-Q vacuum packaged 2D-resonators
US7116380B2 (en) Video projector and optical light valve therefor
Hoskinson et al. Arrays of large-area, tip/tilt micromirrors for use in a high-contrast projector
US20080049288A1 (en) Prism scanner and display device using diffractive optical modulator and prism scanner
US20230055809A1 (en) Digital micromirror device with reduced stiction
JP4404787B2 (en) Light modulation element and image forming apparatus
TWI738482B (en) Projection system
US20060250691A1 (en) Tilting member and tilting actuator having the same
KR100878960B1 (en) Display apparatus which scans both forward path and backward path
KR100861343B1 (en) Spatial Optic Modulator and method thereof using Piezoelectric Material
JP2007298979A (en) High resolution color scanning display system
KR100577169B1 (en) laser display
KR100935246B1 (en) Projection type display device and method for fabricating scanning mirror of the same
KR100223191B1 (en) Micromirror device and its fabrication method
Kim et al. Thin‐Film Micromirror Array (TMA) for Cost‐Competitive Information Display Systems

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051104

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080108

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080131

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080226

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080310

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110328

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4100283

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120328

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120328

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130328

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140328

Year of fee payment: 6

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees