JP4082328B2 - Method for manufacturing electron-emitting device and method for manufacturing display device - Google Patents

Method for manufacturing electron-emitting device and method for manufacturing display device Download PDF

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Description

本発明は、電子放出素子の製造方法に関し、特に、電子放出素子を備える表示装置の製造方法に適用して好適なものである。   The present invention relates to a method for manufacturing an electron-emitting device, and is particularly suitable for application to a method for manufacturing a display device including an electron-emitting device.

真空中におかれた金属等の導体あるいは半導体の表面に、ある閾値以上の電界を与えると、トンネル効果によって電子が障壁を通過し、常温時においても真空中に電子が放出される。この現象は電界放出(Field Emission)と呼ばれ、これによって電子を放出する素子は電界放出型素子(Field Emission Device)と呼ばれている。近年では、電界放出型の電子放出部をエミッタとして用いたFED(Field Emission Display)が注目されている。FEDは、多数の電子放出部がカソード基板上に半導体加工技術等を駆使して形成された表示パネルを備えるフラットディスプレイ装置(平面型の表示装置)である。このFEDでは、電気的に選択(アドレッシング)された電子放出部から電界の集中によって電子を放出させるとともに、この電子をアノード基板側の蛍光体に衝突させて、蛍光体の励起・発光により画像を表示している。   When an electric field exceeding a certain threshold is applied to the surface of a conductor such as metal or semiconductor placed in a vacuum, electrons pass through the barrier due to the tunnel effect, and electrons are emitted into the vacuum even at room temperature. This phenomenon is called field emission, and an element that emits electrons by this phenomenon is called a field emission device. In recent years, FED (Field Emission Display) using a field emission type electron emission portion as an emitter has attracted attention. The FED is a flat display device (planar display device) including a display panel in which a large number of electron emission portions are formed on a cathode substrate by using a semiconductor processing technique or the like. In this FED, electrons are emitted by the concentration of an electric field from an electron emission portion that is electrically selected (addressed), and the electrons are collided with a phosphor on the anode substrate side, and an image is obtained by excitation and emission of the phosphor. it's shown.

FEDの中には、電子放出部の形状をコーン形状(円錐形)としたものがある。このような電子放出部はスピント型エミッタとも呼ばれている。スピント型エミッタを採用したFEDの製造プロセスでは、先ず、カソード基板のベースとなる基板上にカソード電極、絶縁層及びゲート電極を形成した後、ゲート電極及び絶縁層に開口部を形成し、この開口部内にコーン形状の電子放出部を形成する。   Some FEDs have a cone shape (conical shape) as an electron emission portion. Such an electron emitting portion is also called a Spindt-type emitter. In the manufacturing process of an FED employing a Spindt-type emitter, first, a cathode electrode, an insulating layer, and a gate electrode are formed on a substrate serving as a base of the cathode substrate, and then an opening is formed in the gate electrode and the insulating layer. A cone-shaped electron emission part is formed in the part.

コーン形状の電子放出部を形成するにあたっては、ゲート電極の上から金属材料を垂直に蒸着させる手法が採られている。その際、絶縁層の開口部内には蒸着金属の堆積によってコーン形状の電子放出部が形成されるが、これと同時にゲート電極上にも蒸着による金属材料が堆積することになる。そのため、電子放出部を形成した後に、ゲート電極上の不要な金属層を除去する必要がある。そこで従来においては、ゲート電極上に予め剥離層を形成しておき、その上から金属材料を蒸着することによりコーン形状の電子放出部を形成した後、剥離層と一緒に不要な金属層を取り除くようにしている(例えば、特許文献1、2を参照)。   In forming the cone-shaped electron emission portion, a technique of vertically depositing a metal material from above the gate electrode is employed. At this time, a cone-shaped electron emission portion is formed in the opening portion of the insulating layer by deposition of vapor deposition metal, and at the same time, a metal material by vapor deposition is deposited on the gate electrode. Therefore, it is necessary to remove an unnecessary metal layer on the gate electrode after forming the electron emission portion. Therefore, in the prior art, a peeling layer is formed on the gate electrode in advance, and a metal material is deposited on the gate electrode to form a cone-shaped electron emission portion, and then an unnecessary metal layer is removed together with the peeling layer. (For example, refer to Patent Documents 1 and 2).

特許第3094464号公報Japanese Patent No. 3094464 特許第3116398号公報Japanese Patent No. 3116398

しかしながら上記従来の方法では、金属材料の蒸着によって電子放出部を形成する前に、アルミニウム等の斜め蒸着によってゲート電極上に剥離層を形成する必要があるうえ、この剥離層をウェットエッチング等で取り除くときに、その上に積層した金属層がエッチング液中に溶けずに浮遊し、基板上に再付着する恐れがある。そこで他の方法として、ゲート電極上に剥離層を形成せずに直接金属材料を蒸着し、その後、エッチングによってゲート電極上の不要な金属層を除去するといった方法も考えられるが、この方法ではエッチングによって不要な金属層と一緒に電子放出部がエッチングされないように、エッチング条件(エッチング液やエッチング温度など)を適宜選択してエッチングレートを低く抑える必要がある。そのため、ゲート電極上の不要な金属層を完全に除去するのに時間がかかってしまう。   However, in the above conventional method, it is necessary to form a peeling layer on the gate electrode by oblique vapor deposition of aluminum or the like before forming the electron emission portion by vapor deposition of a metal material, and this peeling layer is removed by wet etching or the like. In some cases, the metal layer stacked thereon floats without being dissolved in the etching solution, and may reattach to the substrate. Therefore, as another method, a method of directly depositing a metal material without forming a release layer on the gate electrode and then removing an unnecessary metal layer on the gate electrode by etching can be considered. Therefore, it is necessary to appropriately select etching conditions (such as an etchant and an etching temperature) so as to keep the etching rate low so that the electron emission portion is not etched together with the unnecessary metal layer. Therefore, it takes time to completely remove the unnecessary metal layer on the gate electrode.

本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、スピント型のエミッタ構造を有する電子放出素子を製造するにあたって、ゲート電極上に剥離層を形成することなく、金属材料の蒸着によりコーン形状の電子放出部を形成した後、ゲート電極上の不要な金属層を素早く除去することができる方法を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and the object of the present invention is to produce an electron-emitting device having a Spindt-type emitter structure without forming a release layer on the gate electrode. An object of the present invention is to provide a method capable of quickly removing an unnecessary metal layer on a gate electrode after forming a cone-shaped electron emission portion by vapor deposition of a metal material.

本発明に係る電子放出素子の製造方法は、基板上にカソード電極、絶縁層及びゲート電極を形成した後、ゲート電極及び絶縁層に開口部を形成することにより、前記開口部の底部に前記カソード電極を露出させる第1の工程と、ゲート電極の上から金属材料を垂直に蒸着することにより、開口部内にコーン形状の電子放出部を形成する第2の工程と、金属材料の蒸着によってゲート電極上に積層した柱状結晶構造の金属層に保護材を染み込ませ、この染み込みによって開口部内に垂れ落ちた保護材により電子放出部を被覆する第3の工程と、電子放出部を保護材で保護しつつゲート電極上の不要な金属層をエッチングによって除去する第4の工程とを含むものである。また、本発明に係る表示装置の製造方法は、上記第1〜第4の工程を含む電子放出素子の製造工程を有するものである。 The method for manufacturing an electron-emitting device according to the present invention includes forming a cathode electrode, an insulating layer, and a gate electrode on a substrate, and then forming an opening in the gate electrode and the insulating layer, thereby forming the cathode at the bottom of the opening. A first step of exposing the electrode ; a second step of forming a cone-shaped electron emission portion in the opening by vertically depositing a metal material from above the gate electrode ; and a gate electrode by depositing the metal material A third step of covering the electron emission portion with a protective material that has been impregnated into the metal layer having a columnar crystal structure laminated thereon and then dripped into the opening due to the penetration, and protecting the electron emission portion with the protective material And a fourth step of removing an unnecessary metal layer on the gate electrode by etching. Moreover, the manufacturing method of the display apparatus which concerns on this invention has a manufacturing process of the electron-emitting element containing the said 1st-4th process.

本発明の電子放出素子の製造方法及び表示装置の製造方法においては、ゲート電極上への金属材料の蒸着により、開口部内にコーン形状の電子放出部を形成した後、電子放出部を保護材で被覆し、その後、電子放出部を保護材で保護しつつゲート電極上の不要な金属層をエッチングによって除去するため、エッチング作用の強いエッチング溶液をエッチングに用いるなどしてエッチングレートを高めても、電子放出部のエッチングを防止することが可能となる。   In the method for manufacturing an electron-emitting device and the method for manufacturing a display device according to the present invention, after forming a cone-shaped electron-emitting portion in the opening by vapor deposition of a metal material on the gate electrode, the electron-emitting portion is covered with a protective material. Covering, and then removing the unnecessary metal layer on the gate electrode by etching while protecting the electron emitting portion with a protective material, even if the etching rate is increased by using an etching solution having a strong etching action, etc. It becomes possible to prevent etching of the electron emission portion.

本発明によれば、ゲート電極上の不要な金属層をエッチングで除去する際に、電子放出部のエッチングが保護材によって防止されるため、エッチング作用の強いエッチング溶液をエッチングに用いるなどしてエッチングレートを高めることができる。これにより、ゲート電極上に剥離層を形成しなくても、金属材料の蒸着によりコーン形状の電子放出部を形成した後に、ゲート電極上の不要な金属層をエッチングによって素早く除去することができる。   According to the present invention, when the unnecessary metal layer on the gate electrode is removed by etching, the etching of the electron emission portion is prevented by the protective material, so that the etching is performed by using an etching solution having a strong etching action. The rate can be increased. Thereby, even if a peeling layer is not formed on the gate electrode, an unnecessary metal layer on the gate electrode can be quickly removed by etching after forming a cone-shaped electron emission portion by vapor deposition of a metal material.

以下、本発明の具体的な実施の形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。   Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1は本発明が適用される表示装置の一例としてFEDの表示パネルの構成を示す断面図であり、図2はその表示パネルの構成を示す斜視図である。図1及び図2においては、平板状のカソード基板1と、同じく平板状のアノード基板2とを、所定の間隙を介して互いに平行かつ対向する状態に配置するとともに、それら2つの基板1,2の間に長方形の枠体3を介装して一体的に組み付けることにより、画像表示のための一つのパネル構体(表示パネル)が構成されている。   FIG. 1 is a cross-sectional view showing the configuration of a display panel of an FED as an example of a display device to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the display panel. In FIG. 1 and FIG. 2, a flat cathode substrate 1 and a flat anode substrate 2 are arranged in parallel and facing each other with a predetermined gap, and the two substrates 1, 2 are arranged. A panel structure (display panel) for displaying an image is formed by assembling them integrally with a rectangular frame 3 therebetween.

カソード基板1上には複数の電子放出素子が形成されている。これら複数の電子放出素子は、カソード基板1の有効領域(実際に表示部分として機能する領域)に2次元マトリックス状に多数形成されている。各々の電子放出素子は、カソード基板1のベースとなる絶縁性の支持基板(例えば、ガラス基板)4と、この支持基板4上に積層状態で順に形成されたカソード電極5、絶縁層6及びゲート電極7と、ゲート電極7及び絶縁層6に同軸状に形成された開口部8(8A,8B)と、この開口部8内に形成された電子放出部9とによって構成されている。   A plurality of electron-emitting devices are formed on the cathode substrate 1. A large number of these electron-emitting devices are formed in a two-dimensional matrix in the effective area of the cathode substrate 1 (area that actually functions as a display portion). Each electron-emitting device includes an insulating support substrate (for example, a glass substrate) 4 serving as a base of the cathode substrate 1, a cathode electrode 5, an insulating layer 6, and a gate sequentially formed in a stacked state on the support substrate 4. The electrode 7 includes an opening 8 (8A, 8B) formed coaxially in the gate electrode 7 and the insulating layer 6, and an electron emission portion 9 formed in the opening 8.

カソード電極5は、複数のカソードラインを形成するようにストライプ状に形成されている。ゲート電極7は、各々のカソードラインと交差(直交)する複数のゲートラインを形成するようにストライプ状に形成されている。開口部8は、ゲート電極7に形成された第1の開口部8Aと、この第1の開口部8Aに連通する状態で絶縁層6に形成された第2の開口部8Bとから構成されている。電子放出部9は、電子の放出源(エミッタ)となるもので、モリブデン(Mo)等の高融点金属をコーン形状(円錐形)に形成した、いわゆるスピント型のエミッタ構造を有している。   The cathode electrode 5 is formed in a stripe shape so as to form a plurality of cathode lines. The gate electrode 7 is formed in a stripe shape so as to form a plurality of gate lines intersecting (orthogonal) with each cathode line. The opening 8 is composed of a first opening 8A formed in the gate electrode 7 and a second opening 8B formed in the insulating layer 6 in communication with the first opening 8A. Yes. The electron emission portion 9 serves as an electron emission source (emitter), and has a so-called Spindt-type emitter structure in which a refractory metal such as molybdenum (Mo) is formed in a cone shape (conical shape).

一方、アノード基板2は、ベースとなる透明基板(例えば、ガラス基板)12と、この透明基板12上に形成された蛍光体層13及びブラックマトリックス14と、これら蛍光体層13及びブラックマトリックス14を覆う状態で透明基板12上に形成されたアノード電極15とを備えて構成されている。蛍光体層13は、赤色発光用の蛍光体層13Rと、緑色発光用の蛍光体層13Gと、青色発光用の蛍光体層13Bとから構成されている。ブラックマトリックス14は、各色発光用の蛍光体層13R,13G,13Bの間に形成されている。アノード電極15は、例えばアルミニウムによって構成されるもので、これは、カソード基板1の電子放出部と対向するように、アノード基板2の有効領域の全域に積層状態で形成されている。   On the other hand, the anode substrate 2 includes a base transparent substrate (for example, a glass substrate) 12, a phosphor layer 13 and a black matrix 14 formed on the transparent substrate 12, and the phosphor layer 13 and the black matrix 14. An anode electrode 15 formed on the transparent substrate 12 in a covered state is provided. The phosphor layer 13 includes a phosphor layer 13R for red light emission, a phosphor layer 13G for green light emission, and a phosphor layer 13B for blue light emission. The black matrix 14 is formed between the phosphor layers 13R, 13G, and 13B for emitting each color. The anode electrode 15 is made of, for example, aluminum, and is formed in a laminated state over the entire effective region of the anode substrate 2 so as to face the electron emission portion of the cathode substrate 1.

これらのカソード基板1とアノード基板2とは、それぞれの外周部(周縁部)で枠体3を介して接合されている。また、カソード基板1の無効領域(有効領域の外側の領域で、実際に表示部分として機能しない領域)には真空排気用の貫通孔16が設けられている。貫通孔16には、真空排気後に封じ切られるチップ管17が接続されている。ただし、図1は表示装置の組み立て完了状態を示しているため、チップ管17は既に封じ切られた状態となっている。また、図1及び図2においては、各々の基板1,2間のギャップ部分に介装される真空耐圧用のスペーサの表示を省略している。   The cathode substrate 1 and the anode substrate 2 are bonded to each other at the outer peripheral portion (peripheral portion) via the frame 3. Further, a through-hole 16 for evacuation is provided in the ineffective area (area outside the effective area and not actually functioning as a display portion) of the cathode substrate 1. A tip tube 17 that is sealed after evacuation is connected to the through hole 16. However, since FIG. 1 shows the assembled state of the display device, the tip tube 17 is already sealed. Further, in FIGS. 1 and 2, the display of the vacuum pressure resistant spacers interposed in the gap portions between the substrates 1 and 2 is omitted.

上記構成のパネル構造を有する表示装置においては、カソード電極5に相対的な負電圧が走査回路18から印加され、ゲート電極7には相対的な正電圧が制御回路19から印加され、アノード電極15にはゲート電極7よりも更に高い正電圧が加速電源20から印加される。かかる表示装置において、実際に画像の表示を行う場合は、カソード電極5に走査回路18から走査信号を入力し、ゲート電極7に制御回路19からビデオ信号を入力する。   In the display device having the panel structure configured as described above, a relative negative voltage is applied to the cathode electrode 5 from the scanning circuit 18, a relative positive voltage is applied to the gate electrode 7 from the control circuit 19, and the anode electrode 15 A positive voltage higher than that of the gate electrode 7 is applied from the acceleration power supply 20. In such a display device, when an image is actually displayed, a scanning signal is input from the scanning circuit 18 to the cathode electrode 5, and a video signal is input from the control circuit 19 to the gate electrode 7.

これにより、カソード電極5とゲート電極7との間に電圧が印加され、これによって電子放出部9の先鋭部に電界が集中することにより、量子トンネル効果によって電子がエネルギー障壁を突き抜けて電子放出部9から真空中へと放出される。こうして放出された電子はアノード電極15に引き付けられてアノード基板2側に移動し、透明基板12上の蛍光体層13(13R,13G,13B)に衝突する。その結果、蛍光体層13が電子の衝突により励起されて発光するため、この発光位置を画素単位で制御することにより、表示パネル上に所望の画像を表示することができる。   As a result, a voltage is applied between the cathode electrode 5 and the gate electrode 7, thereby concentrating the electric field on the sharpened portion of the electron emission portion 9, so that electrons penetrate the energy barrier by the quantum tunnel effect and the electron emission portion. 9 is released into the vacuum. The emitted electrons are attracted to the anode electrode 15 and move to the anode substrate 2 side, and collide with the phosphor layer 13 (13R, 13G, 13B) on the transparent substrate 12. As a result, since the phosphor layer 13 is excited by the collision of electrons and emits light, a desired image can be displayed on the display panel by controlling the light emission position in units of pixels.

続いて、本発明に係る表示装置(FED)の製造方法、特に、電子放出素子の製造方法について図3及び図4を用いて説明する。   Next, a method for manufacturing a display device (FED) according to the present invention, in particular, a method for manufacturing an electron-emitting device will be described with reference to FIGS.

先ず、図3(A)に示すように、カソード基板1のベースとなる支持基板4上にカソード電極5、絶縁層6及びゲート電極7を順に積層して形成する。カソード電極5は、例えばクロム(Cr)等の低抵抗金属材料をスパッタリング法により成膜することにより形成される。絶縁層6は、例えば酸化シリコン(SiO2)等の絶縁材料をCVD法により成膜することにより形成される。ゲート電極7は、例えば上記カソード電極5と同様にクロム(Cr)等の低抵抗金属材料をスパッタリング法で成膜することにより形成される。 First, as shown in FIG. 3A, a cathode electrode 5, an insulating layer 6, and a gate electrode 7 are sequentially stacked on a support substrate 4 that serves as a base of the cathode substrate 1. The cathode electrode 5 is formed by depositing a low resistance metal material such as chromium (Cr) by sputtering. The insulating layer 6 is formed by depositing an insulating material such as silicon oxide (SiO 2 ) by a CVD method. The gate electrode 7 is formed, for example, by depositing a low-resistance metal material such as chromium (Cr) by a sputtering method in the same manner as the cathode electrode 5.

次に、ゲート電極7上にフォトリソグラフィーによってエッチングマスクを形成し、このマスクマスクを通してゲート電極7をエッチングすることにより、図3(B)に示すように第1の開口部8Aをゲート電極7に形成する。次いで、このゲート電極7をエッチングマスクとして絶縁層6を等方性エッチングすることにより、図3(C)に示すように第1の開口部8Aよりも径が大きい第2の開口部8Bを絶縁層6に形成する。これにより、第1の開口部8A及び第2の開口部8Bからなる開口部8がゲート電極7及び絶縁層6に形成されるとともに、開口部8の底部にカソード電極5が露出した状態となる。   Next, an etching mask is formed on the gate electrode 7 by photolithography, and the gate electrode 7 is etched through the mask mask, whereby the first opening 8A is formed in the gate electrode 7 as shown in FIG. Form. Next, the insulating layer 6 is isotropically etched using the gate electrode 7 as an etching mask to insulate the second opening 8B having a diameter larger than that of the first opening 8A as shown in FIG. Layer 6 is formed. As a result, the opening 8 including the first opening 8A and the second opening 8B is formed in the gate electrode 7 and the insulating layer 6, and the cathode electrode 5 is exposed at the bottom of the opening 8. .

続いて、ゲート電極7の上から高融点金属材料(例えば、モリブデン)を垂直に蒸着することにより、図3(D)に示すように開口部8内にコーン形状の電子放出部9を形成する。電子放出部9の形成に際しては、ゲート電極7の上に高融点金属材料が徐々に積層する。そのため、コーン形状の電子放出部9が得られた段階では、ゲート電極7上に高融点金属材料からなる金属層10が形成される。また、金属層10が形成される過程では、開口部8の上方空間が高融点金属材料により次第に狭められ、最終的には開口部8の上方空間がほぼ閉じた状態となる。したがって、開口部8の上方空間を通してカソード電極5上に積層される高融点金属材料は、先端部が尖ったコーン形状の電子放出部9となる。   Subsequently, a refractory metal material (for example, molybdenum) is vertically deposited on the gate electrode 7 to form a cone-shaped electron emission portion 9 in the opening 8 as shown in FIG. . In forming the electron emission portion 9, a refractory metal material is gradually laminated on the gate electrode 7. Therefore, at the stage where the cone-shaped electron emission portion 9 is obtained, the metal layer 10 made of a refractory metal material is formed on the gate electrode 7. Further, in the process of forming the metal layer 10, the space above the opening 8 is gradually narrowed by the refractory metal material, and finally the space above the opening 8 is almost closed. Therefore, the refractory metal material laminated on the cathode electrode 5 through the space above the opening 8 becomes a cone-shaped electron emission portion 9 with a sharp tip.

その後、図4(A)に示すように、金属層10の上に保護材11を供給することにより、開口部8内の電子放出部9全体を保護材11によって被覆する。保護材11には、後述するエッチングに対してエッチングされない材料(耐エッチング性を有する材料)を用いる。例えば、ノボラック系樹脂をベースにした樹脂材(レジスト等)をプロピレングリコールメチルエーテル(PGME)で希釈したものを保護材11として用いる。   Thereafter, as shown in FIG. 4A, the protective material 11 is supplied onto the metal layer 10 to cover the entire electron emission portion 9 in the opening 8 with the protective material 11. For the protective material 11, a material that is not etched with respect to etching described later (a material having etching resistance) is used. For example, a material obtained by diluting a resin material (resist or the like) based on a novolac resin with propylene glycol methyl ether (PGME) is used as the protective material 11.

この場合、高融点金属材料の蒸着によって形成された金属層10は、柱状結晶の多孔質構造となっているため、この上に、ほぼ液状とされた低粘度(例えば、1〜5cP程度)の保護材11をスピンコート法又はスプレー法により供給(塗布)すると、金属層10に保護材11が染み込むとともに、この染み込みにより開口部8の上方空間から電子放出部9へと保護材11が垂れ落ちる。そのため、開口部8の上方空間が金属層10で閉じられていても、電子放出部9を保護材11で被覆することができる。   In this case, since the metal layer 10 formed by vapor deposition of the refractory metal material has a porous structure of columnar crystals, a low viscosity (for example, about 1 to 5 cP) made almost liquid is formed thereon. When the protective material 11 is supplied (applied) by a spin coat method or a spray method, the protective material 11 penetrates into the metal layer 10, and the protective material 11 hangs down from the space above the opening 8 to the electron emission portion 9 due to this penetration. . Therefore, even if the space above the opening 8 is closed by the metal layer 10, the electron emission portion 9 can be covered with the protective material 11.

その際、金属層10上に保護材11を塗布した状態で、例えば、支持基板4全体を加圧容器に入れて大気圧よりも高圧の雰囲気に晒したり、金属層10側から支持基板4側に遠心力が加わるように支持基板4全体を回転させたりして保護材11を支持基板4の外側から加圧することにより、金属層10に対する保護材11の染み込みを促進させることができる。そのため、電子放出部9を保護材11で素早く被覆することができる。   At that time, with the protective material 11 applied on the metal layer 10, for example, the entire support substrate 4 is placed in a pressure vessel and exposed to an atmosphere higher than atmospheric pressure, or from the metal layer 10 side to the support substrate 4 side. When the protective material 11 is pressed from the outside of the support substrate 4 by rotating the entire support substrate 4 so that centrifugal force is applied to the metal layer 10, the penetration of the protective material 11 into the metal layer 10 can be promoted. Therefore, the electron emission part 9 can be quickly covered with the protective material 11.

続いて、図4(B)に示すように、電子放出部9を被覆している保護材11を除く、他の不要な保護材11(金属層10の上やその内部に残留している、電子放出部9の被覆に寄与しない保護材11)を、例えば酸素プラズマを用いたドライ方式のアッシングによって除去する。このとき、開口部8の上方空間は金属層10で閉じられているため、電子放出部9を被覆している保護材11はアッシングによって除去されることがない。したがって、不要な保護材11だけを選択的に除去することができる。   Subsequently, as shown in FIG. 4 (B), other unnecessary protective material 11 (which remains on or inside the metal layer 10) except for the protective material 11 covering the electron emission portion 9, The protective material 11) that does not contribute to the coating of the electron emission portion 9 is removed by, for example, dry ashing using oxygen plasma. At this time, since the space above the opening 8 is closed by the metal layer 10, the protective material 11 covering the electron emission portion 9 is not removed by ashing. Therefore, only the unnecessary protective material 11 can be selectively removed.

次いで、図4(C)に示すように、電子放出部9を保護材11で保護しつつゲート電極7上の不要な金属層10をエッチングによって除去する。このエッチングでは、試料となる支持基板4全体をエッチング溶液に浸漬させることにより、高融点金属材料からなる金属層11を除去して開口部8の上方空間を開放させる。エッチング溶液としては、被エッチング材料となるモリブデン等の高融点金属材料に強いエッチング作用を示す溶液、例えば硝酸液、酢酸液、リン酸液、過酸化水素水などを用いることができる。   Next, as shown in FIG. 4C, the unnecessary metal layer 10 on the gate electrode 7 is removed by etching while protecting the electron emission portion 9 with a protective material 11. In this etching, the entire support substrate 4 as a sample is immersed in an etching solution, thereby removing the metal layer 11 made of a refractory metal material and opening the space above the opening 8. As the etching solution, a solution having a strong etching action on a high-melting point metal material such as molybdenum to be etched, for example, a nitric acid solution, an acetic acid solution, a phosphoric acid solution, a hydrogen peroxide solution, or the like can be used.

この場合、電子放出部9は、エッチングに対して耐エッチング性を有する保護材11で被覆保護されるため、ゲート電極7上の不要な金属層11だけをエッチングによって選択的に除去することができる。また、電子放出部9を保護材11で保護することにより、強いエッチング作用を示すエッチング溶液を使用したり、エッチング温度を高く設定するなどして、高いエッチングレートを適用することができる。したがって、ゲート電極7上の不要な金属層11をエッチングによって素早く除去することができる。   In this case, since the electron emission portion 9 is covered and protected by the protective material 11 having resistance to etching, only the unnecessary metal layer 11 on the gate electrode 7 can be selectively removed by etching. . Further, by protecting the electron emission portion 9 with the protective material 11, a high etching rate can be applied by using an etching solution that exhibits a strong etching action or by setting the etching temperature high. Therefore, the unnecessary metal layer 11 on the gate electrode 7 can be quickly removed by etching.

続いて、保護材11を溶解し得る有機溶剤中に支持基板4全体を浸漬させることにより、図4(D)に示すように、それまで電子放出部9を被覆していた保護材11を有機溶剤により溶解して除去する。有機溶剤としては、例えば、CH3COCH3(製品名;アセトン)溶液を用いることができる。この有機溶剤によって保護材11を溶解,除去することにより、高融点金属からなるコーン形状の電子放出部9が開口部8内に露出した状態となる。 Subsequently, by immersing the entire support substrate 4 in an organic solvent capable of dissolving the protective material 11, the protective material 11 that had previously covered the electron emission portion 9 is made organic as shown in FIG. Dissolve and remove with solvent. As the organic solvent, for example, a CH 3 COCH 3 (product name: acetone) solution can be used. By dissolving and removing the protective material 11 with this organic solvent, the cone-shaped electron emission portion 9 made of a refractory metal is exposed in the opening 8.

以上のような製造工程にしたがってカソード基板1上に複数の電子放出素子が形成される。また、このようにして得られたカソード基板1は、別途製造されたアノード基板2に対し、枠体3及びスペーサ(不図示)を介して対向状態に貼り合わせられる。これにより、平面型表示装置であるFEDの表示パネルが得られることになる。   A plurality of electron-emitting devices are formed on the cathode substrate 1 in accordance with the manufacturing process as described above. Further, the cathode substrate 1 obtained in this way is bonded to an separately manufactured anode substrate 2 through a frame 3 and a spacer (not shown). As a result, an FED display panel which is a flat display device is obtained.

本発明が適用される表示装置の一例としてFEDの表示パネルの構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the display panel of FED as an example of the display apparatus with which this invention is applied. 本発明が適用される表示装置の一例としてFEDの表示パネルの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the display panel of FED as an example of the display apparatus with which this invention is applied. 本発明の実施形態に係る電子放出素子の製造方法を示す工程図(その1)である。It is process drawing (the 1) which shows the manufacturing method of the electron emission element which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る電子放出素子の製造方法を示す工程図(その2)である。It is process drawing (the 2) which shows the manufacturing method of the electron emission element which concerns on embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…カソード基板、2…アノード基板、5…カソード電極、6…絶縁層、7…ゲート電極、8…開口部、9…電子放出部、10…金属層、11…保護材   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cathode substrate, 2 ... Anode substrate, 5 ... Cathode electrode, 6 ... Insulating layer, 7 ... Gate electrode, 8 ... Opening part, 9 ... Electron emission part, 10 ... Metal layer, 11 ... Protective material

Claims (8)

基板上にカソード電極、絶縁層及びゲート電極を形成した後、前記ゲート電極及び前記絶縁層に開口部を形成することにより、前記開口部の底部に前記カソード電極を露出させる第1の工程と、
前記ゲート電極の上から金属材料を垂直に蒸着することにより、前記開口部内にコーン形状の電子放出部を形成する第2の工程と、
前記金属材料の蒸着によって前記ゲート電極上に積層した柱状結晶構造の金属層に保護材を染み込ませ、この染み込みによって前記開口部内に垂れ落ちた前記保護材により前記電子放出部を被覆する第3の工程と、
前記電子放出部を前記保護材で保護しつつ前記ゲート電極上の不要な金属層をエッチングによって除去する第4の工程と
を含むことを特徴とする電子放出素子の製造方法。
Forming a cathode electrode, an insulating layer and a gate electrode on a substrate, and then forming an opening in the gate electrode and the insulating layer, thereby exposing the cathode electrode to the bottom of the opening ;
A second step of forming a cone-shaped electron emission portion in the opening by vertically depositing a metal material on the gate electrode;
A metal material having a columnar crystal structure laminated on the gate electrode by vapor deposition of the metal material is infiltrated with a protective material, and the electron emitting portion is covered with the protective material dripping into the opening due to the infiltration. Process,
And a fourth step of removing an unnecessary metal layer on the gate electrode by etching while protecting the electron-emitting portion with the protective material.
前記第3の工程の後に、前記電子放出部の被覆に寄与しない不要な保護材を除去する工程を有する
ことを特徴とする請求項1記載の電子放出素子の製造方法。
The method for manufacturing an electron-emitting device according to claim 1, further comprising a step of removing an unnecessary protective material that does not contribute to the coating of the electron-emitting portion after the third step.
前記第4の工程において、エッチング用のエッチング溶液として、硝酸液、酢酸液、リン酸液又は過酸化水素水を用いる
ことを特徴とする請求項1記載の電子放出素子の製造方法。
The method of manufacturing an electron-emitting device according to claim 1, wherein, in the fourth step, a nitric acid solution, an acetic acid solution, a phosphoric acid solution, or a hydrogen peroxide solution is used as an etching solution for etching.
前記第4の工程の後に、前記電子放出部を保護している前記保護材を除去する工程を有する
ことを特徴とする請求項1記載の電子放出素子の製造方法。
The method of manufacturing an electron-emitting device according to claim 1, further comprising a step of removing the protective material protecting the electron-emitting portion after the fourth step.
前記第3の工程において、前記ゲート電極上に積層した前記金属層上に前記保護材を供給するとともに、この保護材を加圧によって前記金属層に染み込ませる
ことを特徴とする請求項記載の電子放出素子の製造方法。
In the third step, it supplies the protective material on the metal layer which is laminated on the gate electrode, the protective material by pressurization of claim 1, wherein the impregnated the metal layer A method for manufacturing an electron-emitting device.
前記第3の工程の後で、前記不要な保護材をアッシングによって除去する
ことを特徴とする請求項記載の電子放出素子の製造方法。
The method for manufacturing an electron-emitting device according to claim 2 , wherein the unnecessary protective material is removed by ashing after the third step.
前記第4の工程の後で、前記保護材を有機溶剤により溶解して除去する
ことを特徴とする請求項記載の電子放出素子の製造方法。
The method for manufacturing an electron-emitting device according to claim 4 , wherein the protective material is dissolved and removed with an organic solvent after the fourth step.
基板上にカソード電極、絶縁層及びゲート電極を形成した後、前記ゲート電極及び前記絶縁層に開口部を形成することにより、前記開口部の底部に前記カソード電極を露出させる第1の工程と、
前記ゲート電極の上から金属材料を垂直に蒸着することにより、前記開口部内にコーン形状の電子放出部を形成する第2の工程と、
前記金属材料の蒸着によって前記ゲート電極上に積層した柱状結晶構造の金属層に保護材を染み込ませ、この染み込みによって前記開口部内に垂れ落ちた前記保護材により前記電子放出部を被覆する第3の工程と、
前記電子放出部を前記保護材で保護しつつ前記ゲート電極上の不要な金属層をエッチングによって除去する第4の工程と
を含む電子放出素子の製造工程を有する
ことを特徴とする表示装置の製造方法。
Forming a cathode electrode, an insulating layer and a gate electrode on a substrate, and then forming an opening in the gate electrode and the insulating layer, thereby exposing the cathode electrode to the bottom of the opening ;
A second step of forming a cone-shaped electron emission portion in the opening by vertically depositing a metal material on the gate electrode;
A metal material having a columnar crystal structure laminated on the gate electrode by vapor deposition of the metal material is infiltrated with a protective material, and the electron emitting portion is covered with the protective material dripping into the opening due to the infiltration. Process,
And a fourth step of removing an unnecessary metal layer on the gate electrode by etching while protecting the electron-emitting portion with the protective material. Manufacturing of a display device, comprising: Method.
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