JP4080861B2

JP4080861B2 - Waveform determination method and waveform determination apparatus

Info

Publication number: JP4080861B2
Application number: JP2002371502A
Authority: JP
Inventors: 洋志久保田
Original assignee: Hioki EE Corp
Current assignee: Hioki EE Corp
Priority date: 2002-12-24
Filing date: 2002-12-24
Publication date: 2008-04-23
Anticipated expiration: 2022-12-24
Also published as: JP2004205239A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、入力信号についての測定値に対して合否判定を行う波形判定方法および波形判定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、製品の出荷検査時には、例えば、オーディオ機器における規定電圧入力時における出力信号の電圧値等を測定器で測定して評価することで、その製品を検査している。具体的には、例えば、測定器としての波形判定装置（一例として、特開平１１−１１８５３２号公報に開示されている記録計）を用いて、入力信号（製品の出力信号）を所定周期で測定した各測定値と各測定値に対して予め設定された例えば上限値から下限値までの合格範囲とを比較する波形判定を実施して製品の合否を判定している。この波形判定装置では、各測定値がいずれも合格範囲内のときにのみ、その製品を合格と判定する。一方、いずれかの測定値が合格範囲から外れているときには、その製品を不合格と判定する。
【０００３】
【特許文献１】
特開平１１−１１８５３２号公報（第１頁）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、従来の波形判定装置には、以下の問題点がある。すなわち、この波形判定装置では、入力信号の測定値に対して合格範囲内か否かのみを判定するに止まっている。このため、測定者は、合格と判定されたときであっても、上限値（または下限値）に対してどのような余裕度で合格したのかまでを認識することはできない。つまり、入力信号の測定値が合格範囲に対してぎりぎりの状態で合格したのか、または十分な余裕を持って合格したのか（合格のレベル）を認識することができない。同様にして、不合格と判定されたときにも、上限値（または下限値）に対してどのような不足度で不合格になったのかまでを認識することはできない。つまり、もう少しで合格に達する状態なのか、合格にはほど遠い状態なのか（不合格のレベル）を認識することができない。したがって、合格と判定された製品であっても、入力信号の測定値が上限値（または下限値）ぎりぎりであって、その上限値（または下限値）に対する余裕が殆どないこともある。このような場合、販売後における市場での不具合の発生を確実に回避するためには、再調整を行ってこの測定値の上限値（または下限値）に対して十分な余裕度を確保した後に出荷するのが好ましい。しかしながら、測定時における余裕度を認識できない以上、このような再調整を行うこと自体が困難であるという問題点が存在する。また、不合格と判定されたとしても、測定値が合格範囲を僅かに外れているだけのこともある。このような製品の場合、簡単な再調整を行うだけで測定値を合格範囲内に収めて合格品として扱える可能性が高いものの、上限値（または下限値）に対する不足度を認識できない状況下では再調整を行うことができない結果、このような製品が廃棄処分されているという問題がある。
【０００５】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、入力信号についての測定値に対する合否判定と併せて測定値の余裕度および不足度を具体的に認識させ得る波形判定方法および波形判定装置を提供することを主目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく請求項１記載の波形判定方法は、入力信号の電気的パラメーターを所定タイミングで測定した測定値と当該測定値に対応する上限値および下限値によって特定される合格範囲とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に、前記合格の判定時における前記上限値または前記下限値に対する前記測定値の余裕度および前記不合格の判定時における前記上限値または前記下限値に対する前記測定値の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、前記合格範囲内に設定された中間値を前記測定値が超えたときの前記上限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該上限値と当該中間値との差に対する当該上限値と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間値以下のときの前記下限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間値と当該下限値との差に対する当該測定値と当該下限値との差の割合を算出する。
【０００７】
請求項２記載の波形判定方法は、所定の時点から入力信号の電気的パラメーターが所定条件を満たすまでの所要時間を測定してその測定値と当該測定値に対応する許容最長時間および許容最短時間によって特定される合格時間範囲とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に、前記合格の判定時における前記許容最長時間または前記許容最短時間に対する前記測定値の余裕度および前記不合格の判定時における前記許容最長時間または前記許容最短時間に対する前記測定値の不足度の少なくとも一方を算出して報知する波形判定方法であって、前記合格時間範囲内に設定された中間時間を前記測定値が超えたときの前記許容最長時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該許容最長時間と当該中間時間との差に対する当該許容最長時間と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間時間以下のときの前記許容最短時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間時間と当該許容最短時間との差に対する当該測定値と当該許容最短時間との差の割合を算出する。
【０００８】
請求項３記載の波形判定方法は、請求項１または２記載の波形判定方法において、前記余裕度を正の百分率で表示部に表示させ、前記不足度を負の百分率で表示部に表示させる。
【０００９】
請求項４記載の波形判定装置は、入力信号の電気的パラメーターを所定タイミングで測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値を記憶する第１の記憶部と、前記測定値に対応する上限値および下限値を記憶する第２の記憶部と、前記上下限値によって特定される合格範囲と前記測定値とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に当該合格の判定時における当該上限値または当該下限値に対する当該測定値の余裕度および当該不合格の判定時における当該上限値または当該下限値に対する当該測定値の不足度の少なくとも一方を算出する判定部と、前記算出した余裕度および不足度の少なくとも一方を報知する報知部とを備えた波形判定装置であって、前記判定部は、前記合格範囲内に設定された中間値を前記測定値が超えたときの前記上限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該上限値と当該中間値との差に対する当該上限値と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間値以下のときの前記下限値に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間値と当該下限値との差に対する当該測定値と当該下限値との差の割合を算出する。
【００１０】
請求項５記載の波形判定装置は、所定の時点から入力信号の電気的パラメーターが所定条件を満たすまでの所要時間を測定して測定値として出力する測定部と、前記測定値を記憶する第１の記憶部と、前記測定値に対応する許容最短時間および許容最長時間を記憶する第２の記憶部と、前記許容最短時間および前記許容最長時間によって特定される合格時間範囲と前記測定値とを比較することによって当該測定値の合格または不合格を判定すると共に当該合格の判定時における当該許容最長時間または当該許容最短時間に対する当該測定値の余裕度および当該不合格の判定時における当該許容最長時間または当該許容最短時間に対する当該測定値の不足度の少なくとも一方を算出する判定部と、前記算出した余裕度および不足度の少なくとも一方を報知する報知部とを備えた波形判定装置であって、前記判定部は、前記合格時間範囲内に設定された中間時間を前記測定値が超えたときの前記許容最長時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該許容最長時間と当該中間時間との差に対する当該許容最長時間と当該測定値との差の割合を算出し、前記測定値が前記中間時間以下のときの前記許容最短時間に対する当該測定値の前記余裕度または前記不足度として、当該中間時間と当該許容最短時間との差に対する当該測定値と当該許容最短時間との差の割合を算出する。
【００１１】
請求項６記載の波形判定装置は、請求項４または５記載の波形判定装置において、前記判定部は、表示部に対して、前記余裕度を正の百分率で表示させると共に前記不足度を負の百分率で表示させる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る波形判定方法および波形判定装置の好適な発明の実施の形態について説明する。
【００１３】
最初に、波形判定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１４】
波形判定装置１は、図１に示すように、測定部２、ＲＡＭ３、ＲＯＭ４、制御部５および表示部６を備えている。測定部２は、一例として図３に示すように電圧が時間的に変化する入力信号Ｓ１の電圧（電気的パラメーター）を所定周期（所定タイミング）で例えば同図に示す測定ポイントＰ１，Ｐ２・・の時点において測定して、図４に示す各測定値Ｖ１，Ｖ２・・（以下、区別しないときは単に「測定値Ｖ」ともいう）の各測定値データＤ１，Ｄ２・・（以下、区別しないときは単に「測定値データＤ」ともいう）を出力する。ＲＡＭ３は、本発明における第１の記憶部に相当し、測定部２によって出力されて制御部５によって転送された測定値データＤを記憶する。また、ＲＡＭ３は、制御部５によって出力された余裕度Ｒ１，Ｒ２・・（以下、区別しないときは単に「余裕度Ｒ」ともいう）および不足度Ｅ１，Ｅ２・・（以下、区別しないときは単に「不足度Ｅ」ともいう）を記憶する。
【００１５】
ＲＯＭ４は、本発明における第２の記憶部に相当し、図４に示すように、測定ポイントＰ１，Ｐ２・・における各測定値Ｖにそれぞれ対応させて予め設定された上限値Ｕ１，Ｕ２・・（以下、区別しないときは単に「上限値Ｕ」ともいう）および下限値Ｌ１，Ｌ２・・（以下、区別しないときは単に「下限値Ｌ」ともいう）を記憶する。この場合、下限値Ｌ１，Ｌ２・・および上限値Ｕ１，Ｕ２・・によって各測定値Ｖ１，Ｖ２・・の合否（合格または不合格）を判定するための合格範囲Ａ１，Ａ２・・（以下、区別しないときは単に「合格範囲Ａ」ともいう）が特定される。
【００１６】
制御部５は、ＲＯＭ４に記憶されている動作プログラムに従って作動し、測定部２によって出力された測定値データＤをＲＡＭ３に記憶させる。また、制御部５は、後述する合否判定処理４０を実行することにより、測定値Ｖ１，Ｖ２・・の合否を判定すると共に下限値Ｌ１，Ｌ２・・または上限値Ｕ１，Ｕ２・・に対する測定値Ｖ１，Ｖ２・・の余裕度Ｒ１，Ｒ２・・または不足度Ｅ１，Ｅ２・・を算出する。この場合、この余裕度Ｒ１，Ｒ２・・は、測定値Ｖ１，Ｖ２・・が下限値Ｌ１，Ｌ２・・または上限値Ｕ１，Ｕ２・・に対してどの位の余裕で合格したかを示す値であって、本実施例では、下限値Ｌまたは上限値Ｕと測定値Ｖとが等しいときに余裕度Ｒを０％と規定し、測定値Ｖ１，Ｖ２・・と中間値Ｍ１，Ｍ２・・（上限値Ｕ１，Ｕ２・・と、対応する下限値Ｌ１，Ｌ２・・との各平均値。以下、区別しないときは単に「中間値Ｍ」ともいう）とが等しいときには余裕度Ｒを１００％と規定している。一方、本発明における不足度Ｅは、測定値Ｖが下限値Ｌまたは上限値Ｕに対してどの位不足（超過）して不合格となったかを示す値であって、本実施例では、中間値Ｍと下限値Ｌとの差分だけ下限値Ｌよりも測定値Ｖが小さいとき、および中間値Ｍと上限値Ｕとの差分だけ上限値Ｕよりも測定値Ｖが大きいときに不足度Ｅを−１００％と規定し、下限値Ｌまたは上限値Ｕに測定値Ｖが接近するに従って不足度Ｅが−０％に近づくように規定している。したがって、余裕度Ｒが正の百分率で表示され、不足度Ｅが負の百分率で表示されるため、表示された数値が余裕度Ｒを示すものか不足度Ｅを示すものかを明確に区別させることが可能となる。
【００１７】
また、制御部５は、入力信号Ｓ１における各測定値Ｖの各余裕度Ｒを平均して平均余裕度ＲＭを算出すると共に、各余裕度Ｒのうちの最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬなどを特定する。さらに、制御部５は、図２に示すように、測定値データＤに基づく入力信号Ｓ１の波形画像ＧＷおよび合格範囲Ａを表す合格範囲画像ＧＡを表示部６に表示させる。また、制御部５は、同図に示すように、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを表す画像ＧＲを表示部６に表示させる。さらに、制御部５は、各測定値Ｖについての合否判定結果に基づいて入力信号Ｓ１全体としての合否を判定してその判定結果を表す画像ＧＪを表示部６に表示させる。表示部６は、本発明における報知部に相当し、制御部５の制御下で各種画像を表示する。
【００１８】
次に、波形判定装置１の全体的な動作について、図面を参照して説明する。
【００１９】
最初に、図３に示す入力信号Ｓ１について合否判定を行う例について図面を参照して説明する。
【００２０】
まず、測定部２が、入力信号Ｓ１の電圧値を所定周期で図３に示す測定ポイントＰ１，Ｐ２・・の時点において測定し、測定した各測定値Ｖ１，Ｖ２・・の各測定値データＤ１，Ｄ２・・を順次出力する。次に、制御部５が測定部２によって出力された各測定値データＤ１，Ｄ２・・をＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、図２に示すように、測定値データＤ１，Ｄ２・・に基づく入力信号Ｓ１の波形画像ＧＷと、ＲＯＭ４に記憶されている下限値Ｌ１，Ｌ２・・および上限値Ｕ１，Ｕ２・・に基づく合格範囲Ａを表す合格範囲画像ＧＡとを表示部６に表示させる。続いて、制御部５は、図５に示す合否判定処理４０を実行する。この合否判定処理４０では、制御部５は、まず、ＲＡＭ３に記憶されている測定値データＤ１を読み出して（ステップ４１）、測定値Ｖ１を特定する。次に、制御部５は、図４に示す測定値Ｖ１（測定ポイントＰ１）に対応する下限値Ｌ１（この場合、−０．８５Ｖ）および上限値Ｕ１（この場合、１．７５Ｖ）をＲＯＭ４から読み出して、両者によって特定される合格範囲Ａ１と測定値Ｖ１（この場合、１．１５Ｖ）とを比較することによって合否を判定すると共に（ステップ４２）、その判定結果をＲＡＭ３に記憶させる。この場合、図４に示すように、測定値Ｖ１が合格範囲Ａ１内のため、制御部５は、測定値Ｖ１を合格と判定する。
【００２１】
次いで、制御部５は、測定値Ｖ１の余裕度を算出する。この余裕度の算出処理では、まず、図４に示す下限値Ｌ１および上限値Ｕ１の中間の値である中間値Ｍ１（＝（上限値Ｕ１＋下限値Ｌ１）／２）を算出する（ステップ４３）。なお、中間値ＭをＲＯＭ４に予め記憶させておく構成を採用することもでき、この構成では、中間値Ｍの算出処理に代えて、ＲＯＭ４から中間値Ｍを読み出す。次に、制御部５は、測定値Ｖ１が中間値Ｍ１を超えているか否かを判別する（ステップ４４）。この場合、同図に示すように、測定値Ｖ１が中間値Ｍ１を超えているため、制御部５は、ステップ４５を実行する。このステップ４５では、制御部５は、上限値Ｕ１から中間値Ｍ１（この場合、０．４５Ｖ）を減算して、同図に示す差ＩＡ１（以下、上限値Ｕ１，Ｕ２・・から中間値Ｍ１，Ｍ２・・をそれぞれ減算した差ＩＡ１，ＩＡ２・・を区別しないときは単に「差ＩＡ」ともいう）を算出する。次いで、制御部５は、上限値Ｕ１から測定値Ｖ１を減算して差ＩＢ１（以下、上限値Ｕ１，Ｕ２・・から測定値Ｖ１，Ｖ２・・をそれぞれ減算した差ＩＢ１，ＩＢ２・・を区別しないときは単に「差ＩＢ」ともいう）を算出する（ステップ４６）。続いて、制御部５は、差ＩＢ１（この場合、０．６Ｖ）を差ＩＡ１（この場合、１．３Ｖ）で除算して余裕度Ｒ１（＝（差ＩＢ１／差ＩＡ１×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度Ｒ１（この場合、４６．２％）をＲＡＭ３に記憶させる（ステップ４７）。
【００２２】
次いで、制御部５は、次の測定値データＤ（測定値データＤ２）が存在するか否かを判別する（ステップ４８）。この例では、次の測定値データＤ２が存在するため、制御部５は、ステップ４１〜４７を実行して、測定値Ｖ２に対する余裕度Ｒ２をＲＡＭ３に記憶させた後にステップ４８を実行する。次に、制御部５は、ステップ４１〜４８を３回繰り返して実行することにより、測定値Ｖ３〜Ｖ５の合否を判定すると共に余裕度Ｒ３〜Ｒ５を算出してＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、ステップ４１〜４２を実行して測定値Ｖ６の合否判定を行った後に、ステップ４３，４４を実行する。この場合、図４に示すように、測定値Ｖ６が中間値Ｍ６よりも小さいため、制御部５は、ステップ４４において、測定値Ｖ６が中間値Ｍ６以下であると判別して、ステップ４９を実行する。このステップ４９では、制御部５は、図４に示す中間値Ｍ６から下限値Ｌ６を減算して差ＩＣ６を算出する。次に、制御部５は、測定値Ｖ６から下限値Ｌ６を減算して差ＩＤ６を算出する（ステップ５０）。次いで、制御部５は、差ＩＤ６を差ＩＣ６で除算して余裕度Ｒ６（＝（差ＩＤ６／差ＩＣ６×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度Ｒ６をＲＡＭ３に記憶させる（ステップ５１）。以下、同様にして、制御部５はステップ４１〜４８またはステップ４１〜４４，４９〜５１，４８を繰り替えして実行する。
【００２３】
続いて、制御部５は、ステップ４８において、次の測定値データＤがＲＡＭ３に存在しないとき（入力信号Ｓ１についての全ての測定値Ｖに対する合否判定および余裕度Ｒの算出を終了したとき）には、入力信号Ｓ１全体としての合否を判定する（ステップ５２）。本実施例に係る波形判定装置１では、制御部５は、全ての測定値Ｖが合格範囲Ａ内のときにのみ合格と判定する。したがって、図４に示すように、入力信号Ｓ１についての全ての測定値Ｖ１，Ｖ２・・が各合格範囲Ａ１，Ａ２・・内のため、制御部５は、入力信号Ｓ１について合格と判定する。続いて、制御部５は、ＲＡＭ３に記憶されている各余裕度Ｒ１，Ｒ２・・の平均余裕度ＲＭを算出すると共に、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを特定する（ステップ５３）。次に、制御部５は、図２に示すように、入力信号Ｓ１が全体として合格である旨を表す画像ＧＪ（例えば同図に示す「ＯＫ」の文字）と、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを表す画像ＧＲとを表示部６に表示（報知）させて（ステップ５４）、この合否判定処理４０を終了する。これにより、図２に示すように、入力信号Ｓ１の判定結果、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬを示す画像が表示部６に表示される。この場合、合格の判定結果と共に、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最小余裕度ＲＬが表示されるため、入力信号Ｓ１が合格範囲Ａに対して十分な余裕度で合格したのか、ぎりぎりの余裕度で合格したのかを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００２４】
次に、図６に示す入力信号Ｓ２について合否判定を行う例について図面を参照して説明する。
【００２５】
まず、測定部２が、入力信号Ｓ２を所定周期で図６に示す測定ポイントＰ２１，Ｐ２２・・の時点において測定し、測定した図７に示す各測定値Ｖ２１，Ｖ２２・・の各測定値データＤ２１，Ｄ２２・・を順次出力する。次に、制御部５が、各測定値データＤ２１，Ｄ２２・・をＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、上記した合否判定処理４０を実行する。この際に、制御部５は、ステップ４１〜４８を例えば２回実行することにより、測定値Ｖ２１，Ｖ２２の合否判定および余裕度Ｒ２１，Ｒ２２の算出を行う。次いで、制御部５は、ステップ４１，４２を実行して同図に示す測定値Ｖ２３についての合否判定を行う。この際に、同図に示すように、測定値Ｖ２３が合格範囲Ａ２３から外れている（上限値Ｕ２３を超えている）ため、制御部５は、ステップ４２において測定値Ｖ２３を不合格と判定する。次いで、制御部５は、ステップ４３〜４８を実行する。この際に、ステップ４６において算出された差ＩＢ２３（＝上限値Ｕ２３−測定値Ｖ２３）は、測定値Ｖ２３が上限値Ｕ２３を超えているために負の値となる。このため、ステップ４７における余裕度Ｒ２３（＝（差ＩＢ２３／差ＩＡ２３×１００）％）も負の値となる。この場合、制御部５は、この負の余裕度Ｒ２３を不足度Ｅ２３（以下、ステップ４７において算出した負の余裕度Ｒを区別しないときには単に「不足度Ｅ」ともいう）としてＲＡＭ３に記憶させる。以下、制御部５は、ステップ４１〜４８またはステップ４１〜４４，４９〜５１，４８を繰り返し実行する。
【００２６】
次に、ステップ４８において、入力信号Ｓ２についての次の測定値データＤがＲＡＭ３に存在しないときには、制御部５は、入力信号Ｓ２全体としての合否を判定する（ステップ５２）。この場合、測定値Ｖ２３に対して不合格と判定しているため、制御部５は、入力信号Ｓ２を不合格と判定する。続いて、制御部５は、ステップ５３を実行する。この場合、制御部５は、ＲＡＭ３に記憶されている各余裕度Ｒおよび各不足度Ｅを平均して平均余裕度ＲＭを算出する。また、制御部５は、最小余裕度ＲＬに代えて、絶対値が最大の最大不足度ＥＵを特定する。次に、制御部５は、入力信号Ｓ２が全体として不合格である旨を表す画像ＧＪと、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最大不足度ＥＵ（この場合、最大不足度ＥＵは負の数値となる）を表す画像ＧＲとを表示部６に表示させて（ステップ５４）、この合否判定処理４０を終了する。この場合、不合格の判定と共に、平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵおよび最大不足度ＥＵが表示されるため、入力信号Ｓ２が合格範囲Ａに対して僅かに外れたのか、大きく外れたのかを客観的に認識させることができる。具体的には、例えば、平均余裕度ＲＭおよび最大余裕度ＲＵが共に５０％以上で最大不足度ＥＵの絶対値が１０％以下のときには、入力信号Ｓ２が合格範囲Ａに対して僅かに外れたと認識させることができる。また、例えば、平均余裕度ＲＭが負の数値でかつ最大不足度ＥＵの絶対値が１００％を超えるようなときには、最大余裕度ＲＵの大小に拘わらず入力信号Ｓ２が合格範囲Ａに対して大きく外れたと認識させることができる。
【００２７】
このように、この波形判定装置１によれば、測定値Ｖが合格範囲Ａ内の中間値Ｍを超えたときの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、上限値Ｕと中間値Ｍとの差ＩＡに対する上限値Ｕと測定値Ｖとの差ＩＢの割合を算出し、測定値Ｖが中間値Ｍ以下のときの測定値Ｖの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、中間値Ｍと下限値Ｌとの差ＩＣに対する測定値Ｖと下限値Ｌとの差ＩＤの割合を算出することにより、入力信号Ｓ１，Ｓ２の測定値Ｖに対する合否の判定と共に、合格のときに余裕度Ｒを表示させて不合格のときには不足度Ｅを表示させることができる。このため、合否結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。したがって、例えば、入力信号Ｓ１，Ｓ２の測定値Ｖが上限値（または下限値）ぎりぎりの状態で合格となって販売後に故障する確率の高い製品が市場に出回る事態を確実に回避することができる。また、例えば各測定値Ｖのうちの一部だけが合格範囲を僅かに外れて不合格となった製品を選別することができるため、再調整を行うだけで測定値Ｖを合格範囲内に収めて合格品として扱える可能性が高いこれらの製品が廃棄処分される事態を確実に防止することができる。
【００２８】
なお、本発明は、上記した本発明の実施の形態に限定されない。例えば、本発明の実施の形態では、電気的パラメータとして入力信号Ｓ１，Ｓ２における各測定値Ｖ（電圧軸方向に対する特性値）に対する合否判定および余裕度Ｒ（または不足度Ｅ）の算出を行う例について説明したが、電気的パラメータとして入力信号の立ち上がり時間や立ち下がり時間（時間軸方向に対する特性値）に対する合否判定および余裕度（または不足度）の算出を行うこともできる。具体的には、例えば、図８に示すステップ応答を示す入力信号Ｓ３を入力して、立ち上がり開始時点（立ち上がりエッジ、本発明における所定の時点）ＴＰから各電圧ＶＡ１，ＶＡ２・・に到達した時点（所定条件を満たした時点）までの立ち上がり時間（所要時間、測定値）Ｔ１，Ｔ２・・（以下、区別しないときは単に「立ち上がり時間Ｔ」ともいう）のそれぞれの合否判定および余裕度Ｒ（または不足度Ｅ）の算出を行う例について説明する。この場合、図８に示すように、各電圧ＶＡ１，ＶＡ２・・（以下、区別しないときは単に「電圧ＶＡ」ともいう）にそれぞれ対応して規定された許容最長時間ＵＴ１，ＵＴ２・・（以下、区別しないときは単に「許容最長時間ＵＴ」ともいう）および許容最短時間ＬＴ１，ＬＴ２・・（以下、区別しないときは単に「許容最短時間ＬＴ」ともいう）により、各立ち上がり時間Ｔ１，Ｔ２・・の合否を判定するための合格時間範囲ＡＴ１，ＡＴ２・・（ＡＴ１のみを図示し、以下、区別しないときは単に「合格時間範囲ＡＴ」ともいう）が規定される。
【００２９】
この入力信号Ｓ３の立ち上がり時間Ｔの合否を判定する際には、まず、測定部２が、入力信号Ｓ３の電圧が電圧ＶＡ１，ＶＡ２・・に到達した時間をそれぞれ測定し、図８に示す立ち上がり開始時点ＴＰからの経過時間を立ち上がり時間Ｔ１，Ｔ２・・として特定すると共に、各立ち上がり時間Ｔについての時間データＤＴ１，ＤＴ２・・（以下、区別しないときは単に「時間データＤＴ」ともいう）を出力する。次に、制御部５が、各時間データＤＴをＲＡＭ３に記憶させる。次いで、制御部５は、上記した合否判定処理４０を実行する。この場合、制御部５は、ステップ４１において、測定値データＤに代えて時間データＤＴを読み出して、立ち上がり時間Ｔを特定する。次に、制御部５は、ステップ４２において、立ち上がり時間Ｔに対応する許容最短時間ＬＴおよび許容最長時間ＵＴをＲＯＭ４から読み出して、両時間ＬＴ，ＵＴによって特定される合格時間範囲ＡＴと立ち上がり時間Ｔとを比較することによって合否を判定する。
【００３０】
次いで、制御部５は、ステップ４３において、許容最短時間ＬＴおよび許容最長時間ＵＴの中間時間ＭＴ（＝（許容最短時間ＬＴ＋許容最長時間ＵＴ）／２を算出する。続いて、制御部５は、ステップ４４において、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴを超えているか否かを判別する。この際に、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴを超えていると判別したときには、制御部５は、ステップ４５を実行する。このステップ４５では、制御部５は、差ＩＡに代えて、許容最長時間ＵＴから中間時間ＭＴを減算して時間差ＴＡを算出する。次いで、制御部５は、ステップ４６において、差ＩＢに代えて、許容最長時間ＵＴから立ち上がり時間Ｔを減算して時間差ＴＢを算出する。続いて、制御部５は、ステップ４７において、時間差ＴＢを時間差ＴＡで除算して余裕度Ｒ１（＝（時間差ＴＢ／時間差ＴＡ×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度Ｒ１をＲＡＭ３に記憶させる。
【００３１】
一方、ステップ４４において、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴ以下であると判別したときには、制御部５は、ステップ４９を実行する。この場合、制御部５は、差ＩＣに代えて、中間時間ＭＴから許容最短時間ＬＴを減算して時間差ＴＣを算出する。次に、制御部５は、ステップ５０において、差ＩＤに代えて、立ち上がり時間Ｔから許容最短時間ＬＴを減算して時間差ＴＤを算出する。次いで、制御部５は、ステップ５１において、時間差ＴＤを時間差ＴＣで除算して余裕度Ｒ（＝（時間差ＴＤ／時間差ＴＣ×１００）％）を算出すると共に、算出した余裕度ＲをＲＡＭ３に記憶させる。以下、同様にして、制御部５はステップ４１〜４８またはステップ４１〜４４，４９〜５１，４８を繰り替えして実行する。ここで、上記した、入力信号Ｓ１，Ｓ２の合否判定と同様にして、立ち上がり時間Ｔが許容最長時間ＵＴを超えるとき、または立ち上がり時間Ｔが許容最短時間ＬＴ未満のときには、制御部５は、ステップ４２において不合格と判定すると共に、ステップ４７およびステップ５１において余裕度Ｒに代えて不足度Ｅを算出する。次に、ステップ４８において入力信号Ｓ３についての次の時間データＤＴがＲＡＭ３に存在しないときには、制御部５は、ステップ５２〜５４を実行して画像ＧＪおよび画像ＧＲを表示部６に表示（報知）させて合否判定処理４０を終了する。この場合、入力信号Ｓ３の立ち下がり波形についても上記の処理を実行することにより、立ち下がり時間についての合否判定および余裕度Ｒ（不足度Ｅ）を算出することができる。
【００３２】
このように、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴを超えたときの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、時間差ＴＡに対する時間差ＴＢの割合を算出し、立ち上がり時間Ｔが中間時間ＭＴ以下のときの余裕度Ｒまたは不足度Ｅとして、時間差ＴＣに対する時間差ＴＤの割合を算出することにより、例えばステップ応答を示す入力信号Ｓ３の立ち上がり時間Ｔの合否を判定すると共に、合格のときに余裕度Ｒを算出し不合格のときには不足度Ｅを算出して表示することができる。このため、時間軸方向に対する特性値に対しても合否の結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００３３】
なお、上記した本発明の各実施の形態では、上限値Ｕ、下限値Ｌ、許容最長時間ＵＴおよび許容最短時間ＬＴを予めＲＯＭ４に記憶させている例について説明したが、これらの値を入力部から入力する構成を採用することもできる。また、本発明の各実施の形態では平均余裕度ＲＭ、最大余裕度ＲＵ、最小余裕度ＲＬおよび最大不足度ＥＵを表示する例について説明したが、例えば表示部６の画面上で任意の測定値Ｖを選択して、その測定値Ｖに対する余裕度Ｒまた不足度Ｅを個別的に表示させる構成を採用することもできる。また、本発明の各実施の形態では上限値Ｕおよび下限値Ｌの平均値を中間値Ｍとして設定（算出）した例について説明したが、中間値Ｍの設定方法はこれに限定されず、合格範囲Ａ内の任意の値に設定することができる。また、上限値Ｕおよび下限値Ｌと共に中間値Ｍを予め設定してＲＯＭ４等に記憶させることもできる。さらに、余裕度Ｒまたは不足度Ｅのいずれか一方のみを報知することもできる。また、本発明における「報知は」文字や記号等の表示だけでなく、音声による報知も含まれる。また、上記の実施の形態では、余裕度Ｒの正負を＋および−で表示（報知）する例について説明したが、色、大きさ、形、または他の記号等で表示することもできる。また、測定値Ｖの余裕度Ｒ（または不足度Ｅ）を算出した後にその測定値Ｖについての合否判定を行うこともできる。
【００３４】
【発明の効果】
以上のように、請求項１，４記載の波形判定方法および波形判定装置によれば、合格範囲内の中間値を測定値が超えたときの余裕度または不足度として、上限値と中間値との差に対する上限値と測定値との差の割合を算出し、測定値が中間値以下のときの余裕度または不足度として、中間値と下限値との差に対する測定値と下限値との差の割合を算出することにより、入力信号の測定値に対する合否の結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００３５】
また、請求項２，５記載の波形判定方法および波形判定装置によれば、合格時間範囲内の中間時間を測定値が超えたときの余裕度または不足度として、許容最長時間と中間時間との差に対する許容最長時間と測定値との差の割合を算出し、測定値が中間時間以下のときの余裕度または不足度として、中間時間と許容最短時間との差に対する測定値と許容最短時間との差の割合を算出することにより、入力信号の時間軸方向に対する測定値に対しても、合否の結果だけではなく、合格となった余裕度つまり合格のレベルや、不合格となった不足度つまり不合格のレベルを数値によって具体的かつ客観的に認識させることができる。
【００３６】
また、請求項３，６記載の波形判定方法および波形判定装置によれば、余裕度を正の百分率で表示部に表示させ、不足度を負の百分率で表示部に表示させることにより、表示された数値が余裕度を示すものか不足度を示すものかを明確に区別させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る波形判定装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】波形判定装置１の表示部６に入力信号Ｓ１についての波形画像ＧＷ、合格範囲画像ＧＡ、画像ＧＪおよび画像ＧＲを表示させた表示画面図である。
【図３】入力信号Ｓ１の信号波形を示す信号波形図である。
【図４】上限値Ｕ１〜Ｕ６および下限値Ｌ１〜Ｌ６を用いた入力信号Ｓ１の測定値Ｖ１〜Ｖ６に対する波形判定処理４０を説明するための説明図である。
【図５】波形判定装置１による波形判定処理４０のフローチャートである。
【図６】入力信号Ｓ２の信号波形を示す信号波形図である。
【図７】上限値Ｕ２１〜Ｕ２５および下限値Ｌ２１〜Ｌ２５を用いた入力信号Ｓ２の測定値Ｖ２１〜Ｖ２５に対する波形判定処理４０を説明するための説明図である。
【図８】入力信号Ｓ３の信号波形を示す信号波形図である。
【符号の説明】
１波形判定装置
２測定部
３ＲＡＭ
４ＲＯＭ
５制御部
６表示部
４０合否判定処理
Ａ合格範囲
ＡＴ１合格時間範囲
ＤＴ時間データ
Ｅ不足度
ＩＡ〜ＩＤ差
Ｌ下限値
ＬＴ１〜ＬＴ７許容最短時間
Ｍ１〜Ｍ６中間値
ＭＴ１〜ＭＴ７中間時間
Ｒ余裕度
Ｓ１〜Ｓ３入力信号
Ｔ１〜Ｔ７立ち上がり時間
ＴＡ〜ＴＤ時間差
ＴＰ開始時点
Ｕ１〜Ｕ６上限値
ＵＴ１〜ＵＴ７許容最長時間
Ｖ測定値[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a waveform determination method and a waveform determination apparatus that perform pass / fail determination on a measured value of an input signal.
[0002]
[Prior art]
In general, at the time of shipping inspection of a product, for example, the product is inspected by measuring and evaluating a voltage value of an output signal when a specified voltage is input in an audio device with a measuring instrument. Specifically, for example, an input signal (product output signal) is measured at a predetermined cycle by using a waveform determination device as a measuring instrument (for example, a recorder disclosed in JP-A-11-118532). For example, waveform determination is performed by comparing each measured value with a passing range from, for example, an upper limit value to a lower limit value set in advance for each measured value to determine whether the product is acceptable or not. In this waveform determination apparatus, the product is determined to be acceptable only when each measured value is within the acceptable range. On the other hand, when any measured value is out of the acceptable range, the product is determined to be unacceptable.
[0003]
[Patent Document 1]
JP 11-118532 A (first page)
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional waveform determination apparatus has the following problems. That is, in this waveform determination apparatus, it is only possible to determine whether or not the measured value of the input signal is within the acceptable range. For this reason, even when the measurer is determined to pass, the measurer cannot recognize how much he / she has passed with respect to the upper limit (or lower limit). In other words, it is impossible to recognize whether the measured value of the input signal has passed with a marginal state with respect to the pass range or whether it has passed with a sufficient margin (pass level). Similarly, even when it is determined to be unacceptable, it is not possible to recognize the degree of failure with respect to the upper limit value (or lower limit value). In other words, it is not possible to recognize whether it is a state where the pass is reached or a state far from the pass (failed level). Therefore, even if the product is determined to be acceptable, the measured value of the input signal is just below the upper limit (or lower limit), and there may be little margin for the upper limit (or lower limit). In such a case, in order to surely avoid the occurrence of problems in the market after sales, after re-adjusting and securing a sufficient margin for the upper limit (or lower limit) of this measured value It is preferable to ship. However, as long as the margin at the time of measurement cannot be recognized, there is a problem that such readjustment itself is difficult. Moreover, even if it is determined to be unacceptable, the measured value may be slightly out of the acceptable range. In the case of such products, there is a high possibility that the measured value will fall within the acceptable range and can be handled as a acceptable product by performing simple readjustment, but under circumstances where the deficiency relative to the upper limit (or lower limit) cannot be recognized. As a result of the inability to perform readjustment, there is the problem that such products are being disposed of.
[0005]
The present invention has been made in view of such a problem, and a waveform determination method and a waveform determination apparatus capable of specifically recognizing a margin and a deficiency of a measurement value together with a pass / fail determination for a measurement value of an input signal. The main purpose is to provide
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the waveform determination method according to claim 1 includes: a measured value obtained by measuring an electrical parameter of an input signal at a predetermined timing; and an acceptable range specified by an upper limit value and a lower limit value corresponding to the measured value. The pass or fail of the measurement value is determined by comparing, the margin of the measurement value with respect to the upper limit value or the lower limit value at the time of the pass determination, and the upper limit value or at the time of the failure determination. A waveform determination method for calculating and informing at least one of the deficiencies of the measured value with respect to a lower limit value, wherein the measurement with respect to the upper limit value when the measured value exceeds an intermediate value set within the acceptable range The ratio of the difference between the upper limit value and the measured value relative to the difference between the upper limit value and the intermediate value is calculated as the margin or deficiency of the value, The ratio of the difference between the measured value and the lower limit value relative to the difference between the intermediate value and the lower limit value as the margin or the deficiency of the measured value with respect to the lower limit value when the measured value is less than or equal to the intermediate value Is calculated.
[0007]
According to a second aspect of the present invention, there is provided a waveform determination method, comprising: measuring a required time from a predetermined time point until an electrical parameter of an input signal satisfies a predetermined condition, and measuring the measured value and an allowable longest time and an allowable shortest time corresponding to the measured value. A pass or fail of the measurement value is determined by comparing with a pass time range specified by: and the margin of the measurement value with respect to the longest allowable time or the shortest allowable time at the time of determining the pass and the A waveform determination method for calculating and informing at least one of the allowable maximum time or the deficiency of the measured value with respect to the allowable shortest time at the time of determination of failure, wherein an intermediate time set within the pass time range is The allowable maximum time as the margin or deficiency of the measured value relative to the maximum allowable time when the measured value exceeds The ratio of the difference between the maximum allowable time and the measurement value relative to the difference from the intermediate time is calculated, and the margin or shortage of the measurement value relative to the minimum allowable time when the measurement value is equal to or less than the intermediate time As a degree, a ratio of a difference between the measured value and the allowable shortest time with respect to a difference between the intermediate time and the allowable shortest time is calculated.
[0008]
A waveform determination method according to a third aspect is the waveform determination method according to the first or second aspect, wherein the margin is displayed on the display unit as a positive percentage and the deficiency is displayed on the display unit as a negative percentage.
[0009]
The waveform determination apparatus according to claim 4, corresponding to the measurement value, a measurement unit that measures an electrical parameter of the input signal at a predetermined timing and outputs a measurement value, a first storage unit that stores the measurement value, and A second storage unit that stores an upper limit value and a lower limit value to be measured, and a pass range specified by the upper and lower limit values and the measured value are compared to determine whether or not the measured value is acceptable or not. A determination unit that calculates at least one of a margin of the measured value with respect to the upper limit value or the lower limit value at the time of determination and a deficiency of the measured value with respect to the upper limit value or the lower limit value at the time of determination of the rejection; A waveform determination device including a notification unit that notifies at least one of the calculated margin and deficiency, wherein the determination unit calculates an intermediate value set within the pass range. As the margin or deficiency of the measured value relative to the upper limit when the measured value exceeds, the ratio of the difference between the upper limit and the measured value relative to the difference between the upper limit and the intermediate value is calculated. As the margin or deficiency of the measured value relative to the lower limit value when the measured value is less than or equal to the intermediate value, the measured value and the lower limit value for the difference between the intermediate value and the lower limit value Calculate percentage difference.
[0010]
The waveform determination apparatus according to claim 5, wherein a measurement unit that measures a time required until an electrical parameter of an input signal satisfies a predetermined condition from a predetermined time point and outputs the measurement value, and a first unit that stores the measurement value A storage unit, a second storage unit that stores an allowable minimum time and an allowable maximum time corresponding to the measurement value, an acceptable time range specified by the allowable minimum time and the allowable maximum time, and the measurement value The pass or fail of the measured value is determined by comparison and the allowable maximum time at the time of determining the pass or the margin of the measured value with respect to the minimum allowable time and the allowable maximum time at the time of determining the fail Or a determination unit that calculates at least one of the deficiencies of the measured value with respect to the allowable shortest time, and at least the calculated margin and deficiency A waveform determination apparatus including a notification unit that notifies the measurement value, wherein the determination unit is the measurement value for the allowable longest time when the measurement value exceeds an intermediate time set in the pass time range. As the margin or deficiency, the ratio of the difference between the maximum allowable time and the measured value to the difference between the maximum allowable time and the intermediate time is calculated, and the measured value is equal to or less than the intermediate time. As the margin or deficiency of the measured value with respect to the allowable shortest time, a ratio of the difference between the measured value and the allowable shortest time with respect to the difference between the intermediate time and the allowable shortest time is calculated.
[0011]
The waveform determination device according to claim 6 is the waveform determination device according to claim 4 or 5, wherein the determination unit causes the display unit to display the margin in a positive percentage and the deficiency is negative. Display as a percentage.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of a waveform determination method and a waveform determination apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
[0013]
Initially, the structure of the waveform determination apparatus 1 is demonstrated with reference to drawings.
[0014]
As shown in FIG. 1, the waveform determination apparatus 1 includes a measurement unit 2, a RAM 3, a ROM 4, a control unit 5, and a display unit 6. For example, as shown in FIG. 3, the measuring unit 2 sets the voltage (electrical parameter) of the input signal S1 whose voltage changes with time at a predetermined cycle (predetermined timing), for example, measurement points P1, P2,. 4, measured value data D1, D2,... (Hereinafter referred to simply as “measured value V” when not distinguished from each other) shown in FIG. (It is also simply called “measured value data D”). The RAM 3 corresponds to the first storage unit in the present invention, and stores the measurement value data D output by the measurement unit 2 and transferred by the control unit 5. The RAM 3 outputs margins R1, R2... (Hereinafter, simply referred to as “margin R” when not distinguished) and deficiencies E1, E2. Simply referred to as “deficiency E”).
[0015]
The ROM 4 corresponds to a second storage unit in the present invention, and as shown in FIG. 4, upper limit values U1, U2,... Preset in correspondence with the measured values V at the measurement points P1, P2,. (Hereinafter, also simply referred to as “upper limit value U” when not distinguished) and lower limit values L1, L2,... (Hereinafter, also simply referred to as “lower limit value L” when not distinguished) are stored. In this case, pass ranges A1, A2,... (Hereinafter, referred to as pass or fail) for determining the pass / fail (pass or fail) of each measured value V1, V2... By the lower limit values L1, L2. When not distinguished, it is simply referred to as “acceptable range A”).
[0016]
The control unit 5 operates according to the operation program stored in the ROM 4 and stores the measurement value data D output by the measurement unit 2 in the RAM 3. Moreover, the control part 5 performs the pass / fail determination process 40 mentioned later, determines pass / fail of measured value V1, V2, ..., and is measured value with respect to lower limit L1, L2, ... or upper limit U1, U2, ... The margins R1, R2,... Or the deficiencies E1, E2,. In this case, the margins R1, R2,... Are values indicating how much margin the measured values V1, V2,... Pass with respect to the lower limits L1, L2,. In this embodiment, when the lower limit value L or the upper limit value U is equal to the measured value V, the margin R is defined as 0%, and the measured values V1, V2,... And the intermediate values M1, M2,. (Each average value of the upper limit values U1, U2,... And the corresponding lower limit values L1, L2,..., Hereinafter referred to as “intermediate value M” when not distinguished), the margin R is 100%. It stipulates. On the other hand, the deficiency E in the present invention is a value indicating how much the measured value V is insufficient (excess) with respect to the lower limit value L or the upper limit value U and is rejected. When the measured value V is smaller than the lower limit L by the difference between the value M and the lower limit L, and when the measured value V is larger than the upper limit U by the difference between the intermediate value M and the upper limit U, the deficiency E is set. It is defined as −100%, and the degree of deficiency E is defined as approaching −0% as the measured value V approaches the lower limit L or the upper limit U. Accordingly, since the margin R is displayed as a positive percentage and the deficiency E is displayed as a negative percentage, it is possible to clearly distinguish whether the displayed numerical value indicates the margin R or the deficiency E. It becomes possible.
[0017]
In addition, the control unit 5 calculates the average margin RM by averaging the margins R of the measured values V in the input signal S1, and also includes the maximum margin RU and the minimum margin RL of the margins R. Is identified. Further, the control unit 5 causes the display unit 6 to display a waveform image GW of the input signal S1 based on the measurement value data D and a pass range image GA representing the pass range A as shown in FIG. Further, as shown in the figure, the control unit 5 causes the display unit 6 to display an image GR representing the average margin RM, the maximum margin RU, and the minimum margin RL. Further, the control unit 5 determines the pass / fail of the input signal S1 as a whole based on the pass / fail determination result for each measurement value V, and causes the display unit 6 to display an image GJ representing the determination result. The display unit 6 corresponds to a notification unit in the present invention, and displays various images under the control of the control unit 5.
[0018]
Next, the overall operation of the waveform determination apparatus 1 will be described with reference to the drawings.
[0019]
First, an example in which pass / fail judgment is performed on the input signal S1 shown in FIG. 3 will be described with reference to the drawings.
[0020]
First, the measurement unit 2 measures the voltage value of the input signal S1 at a measurement point P1, P2,... Shown in FIG. 3 at a predetermined period, and each measured value data D1 of each measured value V1, V2,. , D2... Are sequentially output. Next, the control unit 5 stores each measurement value data D1, D2,... Output by the measurement unit 2 in the RAM 3. Next, as shown in FIG. 2, the control unit 5 displays the waveform image GW of the input signal S1 based on the measured value data D1, D2,..., The lower limit values L1, L2,. , U2..., A pass range image GA representing the pass range A is displayed on the display unit 6. Then, the control part 5 performs the pass / fail determination process 40 shown in FIG. In the acceptance / rejection determination process 40, the control unit 5 first reads the measurement value data D1 stored in the RAM 3 (step 41), and specifies the measurement value V1. Next, the control unit 5 obtains the lower limit value L1 (in this case, −0.85 V) and the upper limit value U1 (in this case, 1.75 V) corresponding to the measurement value V1 (measurement point P1) shown in FIG. Read and pass are determined by comparing the pass range A1 specified by both and the measured value V1 (in this case, 1.15V) (step 42), and the determination result is stored in the RAM 3. In this case, as shown in FIG. 4, since the measured value V1 is within the acceptable range A1, the control unit 5 determines that the measured value V1 is acceptable.
[0021]
Next, the control unit 5 calculates a margin of the measured value V1. In this margin calculation process, first, an intermediate value M1 (= (upper limit value U1 + lower limit value L1) / 2) that is an intermediate value between the lower limit value L1 and the upper limit value U1 shown in FIG. 4 is calculated (step 43). . A configuration in which the intermediate value M is stored in the ROM 4 in advance can also be adopted. In this configuration, the intermediate value M is read from the ROM 4 instead of the calculation process of the intermediate value M. Next, the control unit 5 determines whether or not the measured value V1 exceeds the intermediate value M1 (step 44). In this case, as shown in the figure, since the measured value V1 exceeds the intermediate value M1, the control unit 5 executes Step 45. In this step 45, the control unit 5 subtracts the intermediate value M1 (in this case, 0.45V) from the upper limit value U1 to obtain the intermediate value M1 from the difference IA1 (hereinafter referred to as the upper limit values U1, U2,...) Shown in FIG. , M2... Are subtracted from the differences IA1, IA2,. Next, the control unit 5 subtracts the measured value V1 from the upper limit value U1 to distinguish the difference IB1 (hereinafter, differences IB1, IB2,... Obtained by subtracting the measured values V1, V2. If not, simply “difference IB”) is calculated (step 46). Subsequently, the control unit 5 divides the difference IB1 (in this case, 0.6V) by the difference IA1 (in this case, 1.3V) to obtain a margin R1 (= (difference IB1 / difference IA1 × 100)%). The calculated margin R1 (in this case, 46.2%) is stored in the RAM 3 (step 47).
[0022]
Next, the control unit 5 determines whether or not the next measurement value data D (measurement value data D2) exists (step 48). In this example, since the next measured value data D2 exists, the control unit 5 executes steps 41 to 47, stores the margin R2 for the measured value V2 in the RAM 3, and then executes step 48. Next, the control unit 5 repeats steps 41 to 48 three times to determine whether the measured values V3 to V5 are acceptable, and calculates margins R3 to R5 and stores them in the RAM 3. Subsequently, the control part 5 performs step 43,44, after performing step 41-42 and performing the pass / fail determination of measured value V6. In this case, as shown in FIG. 4, since the measured value V6 is smaller than the intermediate value M6, the control unit 5 determines in step 44 that the measured value V6 is less than or equal to the intermediate value M6, and executes step 49. To do. In step 49, the control unit 5 calculates the difference IC6 by subtracting the lower limit value L6 from the intermediate value M6 shown in FIG. Next, the control unit 5 subtracts the lower limit value L6 from the measured value V6 to calculate the difference ID6 (step 50). Next, the control unit 5 calculates the margin R6 (= (difference ID6 / difference IC6 × 100)%) by dividing the difference ID6 by the difference IC6, and stores the calculated margin R6 in the RAM 3 (step 51). ). Hereinafter, similarly, the control unit 5 repeats and executes Steps 41 to 48 or Steps 41 to 44, 49 to 51, and 48.
[0023]
Subsequently, in step 48, the control unit 5 determines that the next measurement value data D does not exist in the RAM 3 (when the pass / fail determination for all the measurement values V for the input signal S1 and the calculation of the margin R are finished). Determines whether the input signal S1 as a whole is acceptable or not (step 52). In the waveform determination apparatus 1 according to the present embodiment, the control unit 5 determines that the measurement is acceptable only when all the measured values V are within the acceptable range A. Therefore, as shown in FIG. 4, since all the measured values V1, V2,... For the input signal S1 are within the respective acceptable ranges A1, A2,..., The control unit 5 determines that the input signal S1 is acceptable. Subsequently, the control unit 5 calculates an average margin RM of each margin R1, R2,... Stored in the RAM 3, and specifies the maximum margin RU and the minimum margin RL (step 53). Next, as shown in FIG. 2, the control unit 5 displays an image GJ (for example, “OK” shown in the figure) indicating that the input signal S1 is accepted as a whole, an average margin RM, and a maximum margin. The image GR representing the degree RU and the minimum margin RL is displayed (notified) on the display unit 6 (step 54), and the pass / fail determination process 40 is terminated. Thereby, as shown in FIG. 2, an image showing the determination result of the input signal S <b> 1, the average margin RM, the maximum margin RU, and the minimum margin RL is displayed on the display unit 6. In this case, since the average margin RM, the maximum margin RU, and the minimum margin RL are displayed together with the determination result of acceptance, whether the input signal S1 has passed with a sufficient margin with respect to the acceptance range A is just marginal. It can be made to recognize concretely and objectively by the numerical value whether it passed with the margin.
[0024]
Next, an example of performing the pass / fail determination for the input signal S2 shown in FIG. 6 will be described with reference to the drawings.
[0025]
First, the measurement unit 2 measures the input signal S2 at a measurement point P21, P22,... Shown in FIG. 6 at a predetermined period, and measures each measured value data of the measured values V21, V22,. D21, D22,... Are sequentially output. Next, the control unit 5 stores each measurement value data D21, D22,. Next, the control unit 5 executes the above-described pass / fail determination process 40. At this time, the control part 5 performs the pass / fail determination of the measured values V21 and V22 and the calculation of the margins R21 and R22 by executing steps 41 to 48 twice, for example. Subsequently, the control part 5 performs step 41 and 42 and performs the pass / fail determination about the measured value V23 shown in the figure. At this time, as shown in the figure, since the measured value V23 is out of the acceptable range A23 (exceeds the upper limit value U23), the control unit 5 determines that the measured value V23 is unacceptable in step 42. . Subsequently, the control part 5 performs step 43-48. At this time, the difference IB23 (= upper limit value U23−measured value V23) calculated in step 46 is a negative value because the measured value V23 exceeds the upper limit value U23. For this reason, the margin R23 (= (difference IB23 / difference IA23 × 100)%) in step 47 is also a negative value. In this case, the control unit 5 stores the negative margin R23 in the RAM 3 as the deficiency E23 (hereinafter, also simply referred to as “deficiency E” when the negative margin R calculated in step 47 is not distinguished). Hereinafter, the control unit 5 repeatedly executes Steps 41 to 48 or Steps 41 to 44, 49 to 51, and 48.
[0026]
Next, when the next measurement value data D for the input signal S2 does not exist in the RAM 3 in step 48, the control unit 5 determines whether the input signal S2 as a whole is acceptable (step 52). In this case, since it is determined that the measured value V23 is rejected, the control unit 5 determines that the input signal S2 is rejected. Subsequently, the control unit 5 executes Step 53. In this case, the control unit 5 calculates the average margin RM by averaging the margins R and the deficiencies E stored in the RAM 3. Further, the control unit 5 specifies the maximum deficiency EU having the maximum absolute value instead of the minimum margin RL. Next, the control unit 5 displays an image GJ indicating that the input signal S2 is rejected as a whole, an average margin RM, a maximum margin RU, and a maximum deficiency EU (in this case, the maximum deficiency EU is negative). An image GR representing a numerical value is displayed on the display unit 6 (step 54), and the pass / fail determination process 40 is terminated. In this case, since the average margin RM, the maximum margin RU, and the maximum deficiency EU are displayed together with the determination of failure, it is determined whether the input signal S2 has slightly deviated from the acceptance range A or greatly deviated. It can be recognized objectively. Specifically, for example, when the average margin RM and the maximum margin RU are both 50% or more and the absolute value of the maximum deficiency EU is 10% or less, the input signal S2 slightly deviates from the pass range A. Can be recognized. For example, when the average margin RM is a negative value and the absolute value of the maximum deficiency EU exceeds 100%, the input signal S2 is larger than the pass range A regardless of the maximum margin RU. It can be recognized that it has come off.
[0027]
As described above, according to the waveform determination device 1, the difference IA between the upper limit value U and the intermediate value M as the margin R or the deficiency E when the measured value V exceeds the intermediate value M within the acceptable range A. The ratio of the difference IB between the upper limit value U and the measured value V is calculated, and the intermediate value M and the lower limit value L are calculated as the margin R or deficiency E of the measured value V when the measured value V is less than or equal to the intermediate value M. By calculating the ratio of the difference ID between the measured value V and the lower limit value L with respect to the difference IC, the pass / fail judgment with respect to the measured value V of the input signals S1 and S2 is made, and the margin R is displayed when passing. When it passes, the deficiency E can be displayed. For this reason, it is possible to specifically and objectively recognize not only the pass / fail result but also the degree of allowance that has passed, that is, the level of acceptance, and the degree of deficiency that has failed, that is, the level of failure. Therefore, for example, it is possible to reliably avoid a situation in which a product with a high probability of failure after sale is sold when the measured value V of the input signals S1 and S2 is just above the upper limit (or lower limit). . In addition, for example, since only a part of each measured value V is slightly out of the acceptable range and the rejected product can be selected, the measured value V is kept within the acceptable range simply by performing readjustment. Therefore, it is possible to reliably prevent such products that are likely to be treated as acceptable products from being disposed of.
[0028]
The present invention is not limited to the embodiment of the present invention described above. For example, in the embodiment of the present invention, an example of performing pass / fail determination for each measured value V (characteristic value with respect to the voltage axis direction) in the input signals S1 and S2 and calculating a margin R (or deficiency E) as electrical parameters. However, it is also possible to perform pass / fail judgment and calculation of margin (or deficiency) for the rise time and fall time (characteristic value with respect to the time axis direction) of the input signal as electrical parameters. Specifically, for example, when the input signal S3 indicating the step response shown in FIG. 8 is input, the voltage VA1, VA2,... Reaches from the rising start time (rising edge, predetermined time in the present invention) TP. Pass / fail judgments and margins R (until the rise time (required time, measured value) T1, T2,... (Hereinafter referred to simply as “rise time T” when not distinguished) until a predetermined condition is satisfied) An example of calculating the deficiency E) will be described. In this case, as shown in FIG. 8, the maximum allowable times UT1, UT2,... (Hereinafter referred to as the voltage VA1, VA2,. When not distinguished from each other, the rise times T1, T2,. · Passing time ranges AT1, AT2 for judging pass / failure (only AT1 is shown in the figure, and hereinafter simply referred to as "passing time range AT" when not distinguished).
[0029]
When determining whether the rising time T of the input signal S3 is acceptable or not, first, the measuring unit 2 measures the time when the voltage of the input signal S3 reaches the voltages VA1, VA2,. The elapsed time from the start time point TP is specified as the rising time T1, T2,... And the time data DT1, DT2,... (Hereinafter also simply referred to as “time data DT” when not distinguished). Output. Next, the control unit 5 stores each time data DT in the RAM 3. Next, the control unit 5 executes the above-described pass / fail determination process 40. In this case, the control unit 5 reads the time data DT instead of the measurement value data D in step 41 and specifies the rise time T. Next, in Step 42, the control unit 5 reads the allowable shortest time LT and the allowable longest time UT corresponding to the rising time T from the ROM 4, and passes the pass time range AT and the rising time T specified by both the times LT and UT. The pass / fail is determined by comparing.
[0030]
Next, in Step 43, the control unit 5 calculates an intermediate time MT (= (allowable shortest time LT + allowable longest time UT) / 2) between the allowable shortest time LT and the allowable longest time UT. In step 44, it is determined whether or not the rising time T exceeds the intermediate time MT, and when it is determined that the rising time T exceeds the intermediate time MT, the control unit 5 executes step 45. In this step 45, the control unit 5 calculates the time difference TA by subtracting the intermediate time MT from the allowable maximum time UT instead of the difference IA, and then the control unit 5 calculates the difference IB in step 46. Instead, the controller 5 calculates the time difference TB by subtracting the rising time T from the allowable maximum time UT, and then, in step 47, the control unit 5 converts the time difference TB to the time difference TA. Dividing to margin R1 (= (time difference TB / time difference TA × 100)%) to calculate the, and stores the calculated margin R1 to RAM 3.
[0031]
On the other hand, when it is determined in step 44 that the rising time T is equal to or shorter than the intermediate time MT, the control unit 5 executes step 49. In this case, the control unit 5 calculates the time difference TC by subtracting the allowable shortest time LT from the intermediate time MT instead of the difference IC. Next, in step 50, the control unit 5 calculates a time difference TD by subtracting the allowable shortest time LT from the rise time T instead of the difference ID. Next, in step 51, the control unit 5 calculates the margin R (= (time difference TD / time difference TC × 100)%) by dividing the time difference TD by the time difference TC and stores the calculated margin R in the RAM 3. Let Hereinafter, similarly, the control unit 5 repeats and executes Steps 41 to 48 or Steps 41 to 44, 49 to 51, and 48. Here, similarly to the above-described pass / fail determination of the input signals S1 and S2, when the rising time T exceeds the allowable longest time UT, or when the rising time T is less than the allowable shortest time LT, the control unit 5 performs the step In step 42 and step 51, a deficiency E is calculated in place of the margin R. Next, when the next time data DT for the input signal S3 does not exist in the RAM 3 in step 48, the control unit 5 executes steps 52 to 54 to display (notify) the image GJ and the image GR on the display unit 6. Then, the pass / fail determination process 40 is terminated. In this case, it is possible to calculate pass / fail judgment and margin R (insufficiency E) for the falling time by executing the above-described processing also for the falling waveform of the input signal S3.
[0032]
Thus, the ratio R of the time difference TB to the time difference TA is calculated as the margin R or deficiency E when the rising time T exceeds the intermediate time MT, and the margin R when the rising time T is equal to or less than the intermediate time MT. Alternatively, by calculating the ratio of the time difference TD with respect to the time difference TC as the deficiency E, for example, the pass / fail of the rising time T of the input signal S3 indicating the step response is determined, and the allowance R is calculated and passed when the input is acceptable. In this case, the deficiency E can be calculated and displayed. For this reason, not only the result of pass / fail for the characteristic value in the time axis direction, but also the degree of allowance, that is, the level of acceptance, and the degree of failure, that is, the level of failure, that is specifically determined by numerical values. It can be recognized objectively.
[0033]
In each of the above-described embodiments of the present invention, the example in which the upper limit value U, the lower limit value L, the allowable longest time UT and the allowable shortest time LT are stored in the ROM 4 in advance has been described. It is also possible to adopt a configuration that inputs from the above. Moreover, although each embodiment of the present invention has described an example in which the average margin RM, the maximum margin RU, the minimum margin RL, and the maximum deficiency EU are displayed, for example, arbitrary measured values on the screen of the display unit 6 It is also possible to adopt a configuration in which V is selected and the margin R or deficiency E for the measured value V is individually displayed. In each embodiment of the present invention, an example in which the average value of the upper limit value U and the lower limit value L is set (calculated) as the intermediate value M has been described. However, the setting method of the intermediate value M is not limited to this, and passes. An arbitrary value within the range A can be set. Further, the intermediate value M can be set in advance together with the upper limit value U and the lower limit value L and stored in the ROM 4 or the like. Furthermore, only one of the margin R or the deficiency E can be notified. In addition, “notification” in the present invention includes not only display of characters and symbols but also notification by voice. Further, in the above-described embodiment, the example in which the sign of the margin R is displayed (notified) with + and − has been described. However, it is also possible to display with a color, size, shape, or other symbols. In addition, after calculating the margin R (or deficiency E) of the measurement value V, it is possible to make a pass / fail determination for the measurement value V.
[0034]
【The invention's effect】
As described above, according to the waveform determination method and the waveform determination device according to claims 1 and 4, as the margin or deficiency when the measured value exceeds the intermediate value within the acceptable range, the upper limit value and the intermediate value Calculate the ratio of the difference between the upper limit value and the measured value with respect to the difference between the measured value and the difference between the measured value and the lower limit value for the difference between the intermediate value and the lower limit value as the margin or deficiency when the measured value is less than or equal to the intermediate value. By calculating the ratio, the specific value of not only the pass / fail result for the measured value of the input signal, but also the degree of acceptance, that is, the level of acceptance, and the degree of failure, ie, the level of failure, that has failed. And it can be recognized objectively.
[0035]
In addition, according to the waveform determination method and the waveform determination apparatus according to claims 2 and 5, as the margin or deficiency when the measured value exceeds the intermediate time within the pass time range, the allowable maximum time and the intermediate time The ratio of the difference between the maximum allowable time and the measured value for the difference is calculated, and the measured value and the allowable minimum time for the difference between the intermediate time and the allowable shortest time are calculated as the margin or deficiency when the measured value is less than the intermediate time. By calculating the ratio of the difference, the measured value in the time axis direction of the input signal is not only the pass / fail result, but also the margin that passed, that is, the pass level, and the deficiency that failed. In other words, the level of rejection can be specifically and objectively recognized by numerical values.
[0036]
Further, according to the waveform determination method and the waveform determination apparatus according to claims 3 and 6, the margin is displayed on the display unit as a positive percentage and the deficiency is displayed on the display unit as a negative percentage. It is possible to clearly distinguish whether the numerical value indicates a margin or a deficiency.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a waveform determination apparatus 1 according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a display screen diagram in which a waveform image GW, a pass range image GA, an image GJ, and an image GR for the input signal S1 are displayed on the display unit 6 of the waveform determination apparatus 1;
FIG. 3 is a signal waveform diagram showing a signal waveform of an input signal S1.
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining a waveform determination process 40 for measured values V1 to V6 of an input signal S1 using upper limit values U1 to U6 and lower limit values L1 to L6.
FIG. 5 is a flowchart of a waveform determination process 40 performed by the waveform determination apparatus 1;
FIG. 6 is a signal waveform diagram showing a signal waveform of an input signal S2.
FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining a waveform determination process 40 for measured values V21 to V25 of an input signal S2 using upper limit values U21 to U25 and lower limit values L21 to L25.
FIG. 8 is a signal waveform diagram showing a signal waveform of an input signal S3.
[Explanation of symbols]
1 Waveform judgment device
2 Measurement unit
3 RAM
4 ROM
5 Control unit
6 Display section
40 Pass / fail judgment processing
A Passing range
AT1 passing time range
DT time data
E deficiency
IA to ID difference
L Lower limit
LT1 to LT7 Minimum allowable time
M1 to M6 intermediate value
MT1 to MT7 intermediate time
R margin
S1-S3 input signal
T1-T7 rise time
TA to TD time difference
TP start time
U1-U6 upper limit
UT1-UT7 maximum allowable time
V measured value

Claims

While comparing the measured value of the electrical parameter of the input signal at a predetermined timing with the pass range specified by the upper and lower limits corresponding to the measured value, the pass / fail of the measured value is determined. Calculating at least one of a margin of the measured value with respect to the upper limit value or the lower limit value at the time of determination of the pass and a deficiency of the measured value with respect to the upper limit value or the lower limit value at the time of the determination of the failure. A waveform determination method for notification,
The upper limit value for the difference between the upper limit value and the intermediate value as the margin or deficiency of the measured value with respect to the upper limit value when the measured value exceeds the intermediate value set within the pass range And calculate the ratio of the difference between
As the margin or deficiency of the measured value relative to the lower limit value when the measured value is less than or equal to the intermediate value, the difference between the measured value and the lower limit value relative to the difference between the intermediate value and the lower limit value Waveform judgment method to calculate the ratio.

Measure the time required for the electrical parameters of the input signal to satisfy the specified condition from a given point in time, and compare the measured value to the acceptable time range specified by the longest allowable time and the shortest allowable time corresponding to the measured value And determining the pass or fail of the measurement value, and the allowable maximum time at the time of the pass determination or the tolerance of the measurement value with respect to the minimum allowable time and the maximum allowable time at the time of determination of the failure Or a waveform determination method for calculating and informing at least one of the deficiencies of the measured value with respect to the allowable shortest time,
As the margin or deficiency of the measured value with respect to the maximum allowable time when the measured value exceeds the intermediate time set within the pass time range, the difference between the allowable maximum time and the intermediate time Calculate the percentage difference between the maximum allowed time and the measurement value,
As the margin or deficiency of the measured value with respect to the allowable shortest time when the measured value is equal to or less than the intermediate time, the measured value and the allowable shortest time with respect to the difference between the intermediate time and the allowable shortest time Waveform determination method for calculating the difference ratio.

The waveform determination method according to claim 1, wherein the margin is displayed on the display unit as a positive percentage, and the deficiency is displayed on the display unit as a negative percentage.

A measurement unit that measures an electrical parameter of an input signal at a predetermined timing and outputs a measurement value; a first storage unit that stores the measurement value; and a first storage unit that stores an upper limit value and a lower limit value corresponding to the measurement value 2 and the pass range specified by the upper and lower limit values and the measured value are compared to determine the pass or fail of the measured value and the upper limit value or the lower limit at the time of determining the pass A determination unit that calculates at least one of a degree of margin of the measured value with respect to a value and a degree of deficiency of the measured value with respect to the upper limit value or the lower limit value at the time of determination of the rejection, and at least one of the calculated margin and deficiency A waveform determination apparatus including an informing unit for informing one side,
The determination unit, as the margin or deficiency of the measurement value relative to the upper limit value when the measurement value exceeds the intermediate value set within the pass range, the upper limit value and the intermediate value The ratio of the difference between the upper limit value and the measurement value relative to the difference is calculated, and the intermediate value and the margin of the measurement value relative to the lower limit value when the measurement value is equal to or less than the intermediate value A waveform determination device that calculates a ratio of a difference between the measured value and the lower limit value with respect to a difference from the lower limit value.

Corresponding to the measurement value, a measurement unit that measures a time required until the electrical parameters of the input signal satisfy a predetermined condition from a predetermined time point, and outputs the measurement value, a first storage unit that stores the measurement value, and the measurement value A second storage unit that stores an allowable shortest time and an allowable longest time, and a pass time range specified by the allowable shortest time and the allowable longest time by comparing the measured value with the measured value. The degree of margin of the measured value with respect to the allowable maximum time or the allowable shortest time at the time of determining the rejection and the measured value with respect to the allowable maximum time or the allowable minimum time at the time of determining the failure A determination unit that calculates at least one of the deficiencies, and a notification unit that notifies at least one of the calculated margin and deficiency. In the form determining unit,
The determination unit, as the margin or deficiency of the measurement value relative to the allowable longest time when the measurement value exceeds the intermediate time set in the pass time range, the allowable longest time and the intermediate The ratio of the difference between the maximum allowable time and the measurement value relative to the difference with time is calculated, and the margin or deficiency of the measurement value with respect to the minimum allowable time when the measurement value is equal to or less than the intermediate time A waveform determination device that calculates a ratio of a difference between the measured value and the allowable shortest time with respect to a difference between the intermediate time and the allowable shortest time.

The waveform determination apparatus according to claim 4 or 5, wherein the determination unit displays the margin as a positive percentage and displays the deficiency as a negative percentage on the display unit.