JP4041878B2 - Microplasma CVD equipment - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ガラス、金属、セラミックス、ポリマー等の各種基板材料の表面にグラファイト及びグラッシーカーボン等のカーボン系物質に代表される無機系物質を大気圧下において、非加熱基板上にマイクロメートルオーダーの領域にマスク等を用いずに直接に堆積させることを可能とする高密度マイクロプラズマCVD装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
グラファイト及びグラッシーカーボン等のカーボン系物質に代表される各種の無機系材料を基板上に堆積させるためには、これらの材料の融点が非常に高くまた、その結晶構造の誘起のために、高温に加熱した基板や、高温場を利用した調製が用いられている。例えば、近年盛んに研究されているカーボンナノチューブ等は、CVD法では500℃以上に加熱した基板上に、またレーザーアブレーション法では1000℃程度の高温場で調製されている。ガラス、セラミック及び金属等の耐熱性を有する基板上のみならず、ポリマー及び有機分子膜等の非常に熱に弱い材料からなる基板上に、又は、これらの材料を前もって集積させた基板上に、このような無機系材料を堆積させて、これらの有機系材料を破壊することなく無機系材料との複合化を図るためには、高温に加熱した基板又は高温場を必要としない無機系材料析出技術が要求される。
【0003】
半導体等のプロセッシングにおいて、しばしば用いられている、スパッタリング等に代表されるプラズマプロセスにおいては、安定にプラズマを発生するために、通常、数mTorrから数十mTorr程度の真空中において無機系材料の堆積がなされている。しかしながら、ポリマー及び有機分子膜等の基板上に、又は、これらの材料を前もって集積させた基板上に、プラズマプロセスを用いて無機系材料を基板上に堆積させる場合、これらの基板材料からのガス発生又は基板自身に含まれている揮発性成分の蒸発のために、堆積物中への不純物の混入や欠陥の発生がおこるため、プラズマプロセスを用いるのは必ずしも好ましいことではなかった。
【0004】
一方、半導体等の電子デバイスにおいては、その微細化が進んでおり、リソグラフィーを用いた微細化が図られている。マイクロメートルスケールの空間に直接に材料を堆積できれば、半導体等の電子デバイス作製においてリソグラフィーの工程を省くことができることから、マイクロメートルスケールの空間に無機系材料を直接堆積できる技術も要求されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、簡単な工程で各種基板材料の表面にグラファイト及びグラッシーカーボン等のカーボン系物質に代表される無機系物質を、減圧下乃至加圧下において、基板を格別に熱することなく、マイクロメートルオーダーの領域にマスク等を用いずに、直接に堆積させることである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、円筒状の絶縁材料プラズマトーチ、プラズマガス供給系、プラズマ発生用高周波電源、マッチングボックス、プラズマ点灯用イグナイター、雰囲気ガス吹き付けノズル及び堆積基板の位置を制御する3軸マニピュレーター等から構成される高密度マイクロプラズマCVD装置により、上記課題を解決するものである。
【0007】
例えば、カーボンナノチューブ系の材料を基板上に堆積させるためには、アルゴン等の不活性ガスに代表されるプラズマガス中にメタン等の炭化水素ガスを混合しプラズマノズルに供給すればよい。あるいは、炭化水素ガスを含むガスを高密度プラズマと同時に非加熱基板上へ吹き付けることによっても可能である。このような無機系材料の調製は大気圧ばかりでなく減圧条件下乃至高圧条件下においても可能である。
【0008】
【実施の態様】
図1及び2に、二つの異なるマイクロプラズマCVD装置の概要を示し、図3に、二つの異なる形状のプラズマトーチを示す。図1と図2の装置の違いは、プラズマ点灯方式の違いによる。これらは、プラズマ点火用のコイルおよび接地点(グランド)の違いから生じる。図1の場合、イグナイターから15kVの高電圧を、図3示したように、プラズマ点灯用コイルへ数秒間印加してプラズマ点灯用コイルとプラズマトーチ内のワイヤー間での放電を誘起させ、これを利用してプラズマを点灯させる形式のものである(プラズマ点灯方式1)。
【0009】
これに対し、図2の場合、イグナイターの高電圧は、プラズマトーチ接続口に印加され、キャピラリー支持パイプを介してワイヤーへも高電圧が印加される。その結果ワイヤーと高周波コイル間で放電が誘起され、これによりプラズマが点灯する(プラズマ点灯方式2)。この場合、図3に記載のプラズマ点灯用コイルは、不要である。このようなプラズマ点灯の方式の違いは、使用するプラズマガス、雰囲気ガス種、圧力等によって最適のものを選択することができる。さらに、高周波の出力によっては、ワイヤー及びプラズマ点灯用コイル、イグナイターを省くことも可能である。
【0010】
また、本プラズマ装置で使用可能な高周波周波数は10kHzから1GHzで、その電力は0.1Wから100W程度の高周波を利用することができる。また、効率よく高周波の電力をプラズマトーチに供給するためには高周波のマッチングが非常に重要であり、プラズマ点灯後には直ちにマッチングボックスによりコイルから高周波電源へ戻ってくる反射波が望ましくは全く無くなるように、あるいは最低となるように調製する必要がある。
【0011】
図3には使用可能なプラズマトーチの形状を示した。プラズマトーチはCVD装置のプラズマトーチ接続口に挿入して使用される。プラズマトーチは、キャピラリー支持パイプならびにキャピラリー、ワイヤーから構成される。前述したようにワイヤー及びプラズマ点灯用コイルは、キャピラリーの内径が500μm以上においては、省くことも可能であるが、高い高周波電力を必要とする。ワイヤーにはタングステン、タンタルなど高融点の金属を用いるのが望ましい。キャピラリー支持パイプの材質はステンレス等導電性のものが望ましいが、イグナイターによるプラズマ点灯を必要としない場合は、導電性がなくてもよくポリマーやセラミック等の材質でも良い。キャピラリーの材質については絶縁材料である必要があり、石英ガラスやセラミックスやポリマーなどを用いることができる。
【0012】
形状については図3にあるように円筒状の形状ならびに先端部分が細くなった形状のもの等を使用することができ、キャピラリーの高周波コイル部分の内径は500nmから2000μmが望ましい。
【0013】
基板支持部は、3軸マニピュレーターに接続されており、プラズマトーチ先端部との距離を変化させることが可能となっており、基板とプラズマトーチ先端部との距離は0mm以上100mm以下に調整が可能である。基板上のマイクロメートル以下の領域に材料を堆積させる場合には基板とプラズマトーチ先端部との距離が5mm以下であることが望ましく、この距離を変化させることによって堆積材料のサイズを制御することができる。また、基板を左右に動かすことによって線状に材料を堆積することも可能である。したがって基板を前後左右に移動させることによってマスク等を用いずにマイクロメートルの領域にパターンを描くことができる。
【0014】
【実施例】
次に、具体的にカーボン系材料を堆積させる工程を以下に説明する。反応容器をまず真空ポンプで50mTorr以下の圧力に一度減圧し、そこへ雰囲気ガス、たとえば空気、アルゴン、メタン等の炭化水素とアルゴンの混合ガス等を所定の圧力になるようにガス導入パイプより満たす。プラズマガス導入パイプを通してアルゴンあるいはアルゴンと炭化水素の混合ガスを供給する。このとき総ガス供給量は、0.5ccmから200ccmに変化させることができる、また、炭化水素ガスの濃度を1%から5%に変化させることもできる。通常炭化水素ガスの濃度を5%以上に高くするとプラズマの安定性が低下し、プラズマが点灯しないこともある。
【0015】
プラズマガスの流量が安定したところで、450MHz程度の高周波を35Wの出力で高周波コイルに印加する。これにより、キャピラリー内のコイル捲き回し部分に高周波電磁界が発生し、それと共にコイル内に届いているワイヤー22の先端部が高周波誘導加熱を受け、加熱状態となる。この状態において、イグナイター8を作動させ、点火用コイル6に、例えば、15kV程度の高電圧を印加すると、キャピラリー内の先端部分に放電が発生し、この放電により発生したプラズマを種火として、高周波コイル7を介して供給された高周波電力による誘導プラズマが発生する。発生した誘導プラズマは、高温状態のワイヤ22から発生される熱電子の供給を受け、安定に維持される。その結果、キャピラリーチューブの先端からは、微少径を持つプラズマフレームが噴出する。その後高周波のマッチングをとった後に、基板上にカーボン系材料を堆積させる。場合によっては、アルゴンガスだけによってプラズマを点灯させ、メタンガスをパイプより基板に吹き付けて堆積を行うことも可能である。
【0016】
前記の装置を使い、プラズマトーチとして先端の直径がおよそ100μmの石英ガラスキャピラリーを用いて空気中760mTorrの圧力、プラズマガスとして1%メタン−アルゴン混合ガス、基板にハステロイおよびシリコンウェハーを用い、基板とプラズマトーチ先端部との距離を2mmにして行った。プラズマガスの供給量を50、100、200ccmの異なる3つの流量でそれぞれ2分間基板上にカーボン系材料を堆積させた。図4にプラズマガス供給量が50ccmおよび100ccmで作製した堆積物の走査電子顕微鏡写真を示した。供給量が50ccmで調製した場合、基板上に球状の物質が堆積していた(図4−1)。一方、100ccmで作製した場合は、球状の物質は観察できなかった(図4−2)。200ccmで調製した場合にも球状の物質が堆積していた。また、どの場合にも堆積物は直径200μmの円状に堆積しており、そのサイズは、プラズマガスの供給量にはそれほど依存しない。
【0017】
得られた3種類のカーボン系物質堆積物の微細構造を透過電子顕微鏡によって調べた。図5、6および7、にプラズマガス供給量がそれぞれ50ccm、100ccmおよび200ccmで作製した堆積物の透過電子顕微鏡写真ならびに電子線回折パターンを示した(ただし図6については透過電子顕微鏡写真のみ)。プラズマガス供給量が50ccmで作製した堆積物は球状でかつ電子回折パターンがグラファイトに一致することからカーボンポリへドロンである。
【0018】
一方、プラズマガス供給量が100ccmで作製した堆積物においてはグラファイトの層状構造が観察され、堆積物はクラファイトであった。またプラズマガス供給量が200ccmで作製した堆積物においては、球状ではあるものの、その電子線回折パターンは、ハーローパターンであることから、堆積物は、アモルファス状カーボンであった。
【0019】
【発明の効果】
以上のように、高密度マイクロプラズマCVD装置によってカーボン系の材料が200μm程度の領域に格別の基板加熱をすることがなく大気圧下において調製できる。ここでは、炭化水素ガスを含むプラズマガスの流量を制御することによってカーボン系物質の構造を制御できることも明らかとなった。
【図面の簡単な説明】
【図1】プラズマ点灯方式1を用いた高密度マイクロプラズマCVD装置図
【図2】プラズマ点灯方式2を用いた高密度マイクロプラズマCVD装置図
【図3】高密度マイクロプラズマCVD装置に用いるプラズマトーチの形状図
【図4】高密度マイクロプラズマCVD装置により作製したカーボン系物質堆積物の走査電子顕微鏡写真
【図5】高密度マイクロプラズマCVD装置によりプラズマガス供給量50ccmで作製したカーボン系物質堆積物の透過電子顕微鏡写真および電子線回折パターン
【図6】高密度マイクロプラズマCVD装置によりプラズマガス供給量100ccmで作製したカーボン系物質堆積物の透過電子顕微鏡写真
【図7】高密度マイクロプラズマCVD装置によりプラズマガス供給量200ccmで作製したカーボン系物質堆積物の透過電子顕微鏡写真および電子線回折パターン
【符号の説明】
1 プラズマガス導入パイプ
2 パイプ
3 絶縁フランジ
4 プラズマトーチ接続口
5 プラズトーチ
6 プラズマ点火用コイル
7 高周波コイル
8 イグナイター
9 高周波電源
10 高周波マッチングボックス
11 基板
12 基板用支持台
13 軸
14 3軸マニピュレーター
15 反応容器
16 プラズマガス導入バルブ
17 ガス導入バルブ
18 ガス導入パイプ
19 圧力調製バルブ
20 真空ポンプ
21 キャピラリー支持パイプ
22 ワイヤー
23 キャピラリー
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
In the present invention, an inorganic material typified by a carbon-based material such as graphite and glassy carbon is applied to the surface of various substrate materials such as glass, metal, ceramics, and polymer at a micrometer order on an unheated substrate under atmospheric pressure. The present invention relates to a high-density microplasma CVD apparatus that can be directly deposited in a region without using a mask or the like.
[0002]
[Prior art]
In order to deposit various inorganic materials typified by carbon materials such as graphite and glassy carbon on the substrate, these materials have extremely high melting points, and because of the induction of their crystal structures, Preparation using a heated substrate or a high temperature field is used. For example, carbon nanotubes and the like that have been actively studied in recent years are prepared on a substrate heated to 500 ° C. or higher by the CVD method and at a high temperature field of about 1000 ° C. by the laser ablation method. Not only on a substrate having heat resistance such as glass, ceramic and metal, but also on a substrate made of a very heat-sensitive material such as a polymer and an organic molecular film, or on a substrate on which these materials are integrated in advance. In order to deposit such inorganic materials and to combine them with inorganic materials without destroying these organic materials, the deposition of inorganic materials does not require a substrate heated to a high temperature or a high temperature field. Technology is required.
[0003]
In a plasma process typified by sputtering, which is often used in processing of semiconductors and the like, deposition of inorganic materials is usually performed in a vacuum of about several mTorr to several tens of mTorr in order to generate a stable plasma. Has been made. However, when depositing an inorganic material on a substrate using a plasma process on a substrate such as a polymer and an organic molecular film or on a substrate on which these materials have been previously integrated, the gas from these substrate materials It is not always preferable to use the plasma process because impurities are mixed into the deposit or defects are generated due to generation or evaporation of volatile components contained in the substrate itself.
[0004]
On the other hand, in electronic devices such as semiconductors, miniaturization is progressing, and miniaturization using lithography has been achieved. If a material can be directly deposited in a micrometer-scale space, a lithography process can be omitted in manufacturing an electronic device such as a semiconductor. Therefore, a technique capable of directly depositing an inorganic material in a micrometer-scale space is also required.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
An object of the present invention, the inorganic material typified by a surface of various substrate materials in the carbon-based material such as graphite and glassy carbon by a simple process, under reduced pressure or under pressure, without particularly pressurized heat substrate It is to directly deposit without using a mask or the like in a micrometer order region.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention is configured cylindrical insulating material made plasma torch, a plasma gas supply system, the plasma generating high frequency power source, a matching box, a plasma lighting igniter, from the three-axis manipulator for controlling the position of the atmospheric gas spraying nozzles and the deposition substrate The above-described problems are solved by a high-density microplasma CVD apparatus.
[0007]
For example, in order to deposit a carbon nanotube-based material on a substrate, a hydrocarbon gas such as methane may be mixed with a plasma gas typified by an inert gas such as argon and supplied to the plasma nozzle. Alternatively, it is possible to spray a gas containing hydrocarbon gas onto the non-heated substrate simultaneously with the high-density plasma. Such inorganic materials can be prepared not only under atmospheric pressure but also under reduced pressure to high pressure.
[0008]
Embodiment
FIGS. 1 and 2 show an outline of two different microplasma CVD apparatuses, and FIG. 3 shows two different shapes of plasma torches. The difference between the apparatus in FIG. 1 and FIG. 2 is due to the difference in the plasma lighting system. These arise from differences in the plasma ignition coil and the grounding point (ground). In the case of FIG. 1, a high voltage of 15 kV is applied from the igniter to the plasma lighting coil for several seconds as shown in FIG. 3 to induce a discharge between the plasma lighting coil and the wire in the plasma torch. This is a type in which plasma is lit using (plasma lighting method 1).
[0009]
In contrast, in the case of FIG. 2, the high voltage of the igniter is applied to the plasma torch connection port, and the high voltage is also applied to the wire via the capillary support pipe. As a result, a discharge is induced between the wire and the high frequency coil, and thereby plasma is lit (plasma lighting method 2). In this case, the plasma lighting coil shown in FIG. 3 is unnecessary. The difference in the plasma lighting method can be selected according to the plasma gas used, the type of atmospheric gas, the pressure, and the like. Furthermore, depending on the high-frequency output, the wire, the plasma lighting coil, and the igniter can be omitted.
[0010]
In addition, the high frequency that can be used in this plasma apparatus is 10 kHz to 1 GHz, and the power can be a high frequency of about 0.1 W to 100 W. In addition, high-frequency matching is very important in order to efficiently supply high-frequency power to the plasma torch, so that the reflected wave that returns from the coil to the high-frequency power source immediately after the plasma is turned on is preferably completely eliminated by the matching box. Or it is necessary to prepare it to be the minimum.
[0011]
FIG. 3 shows a usable plasma torch shape. The plasma torch is used by being inserted into the plasma torch connection port of the CVD apparatus. The plasma torch includes a capillary support pipe, a capillary, and a wire. As described above, the wire and the plasma lighting coil can be omitted when the inner diameter of the capillary is 500 μm or more, but requires high high-frequency power. It is desirable to use a high melting point metal such as tungsten or tantalum for the wire. The material of the capillary support pipe is preferably a conductive material such as stainless steel. However, when plasma lighting by an igniter is not required, the material may not be conductive and may be a material such as polymer or ceramic. The capillary material needs to be an insulating material, and quartz glass, ceramics, polymer, or the like can be used.
[0012]
As shown in FIG. 3, it is possible to use a cylindrical shape or a shape in which the tip portion is narrowed as shown in FIG. 3, and the inner diameter of the high frequency coil portion of the capillary is preferably 500 nm to 2000 μm.
[0013]
The substrate support is connected to a triaxial manipulator, and the distance between the plasma torch tip can be changed, and the distance between the substrate and the plasma torch tip can be adjusted between 0 mm and 100 mm. It is. When depositing material in a submicrometer area on the substrate, it is desirable that the distance between the substrate and the tip of the plasma torch is 5 mm or less, and the size of the deposited material can be controlled by changing this distance. it can. It is also possible to deposit the material linearly by moving the substrate left and right. Therefore, by moving the substrate back and forth, right and left, a pattern can be drawn in a micrometer region without using a mask or the like.
[0014]
【Example】
Next, the process of depositing a carbon-based material will be specifically described below. First, the reaction vessel is first depressurized to a pressure of 50 mTorr or less with a vacuum pump, and atmosphere gas, for example, a mixed gas of hydrocarbons such as air, argon, and methane, and argon and the like is filled from the gas introduction pipe so as to have a predetermined pressure. . Argon or a mixed gas of argon and hydrocarbon is supplied through the plasma gas introduction pipe. At this time, the total gas supply amount can be changed from 0.5 ccm to 200 ccm, and the concentration of the hydrocarbon gas can be changed from 1% to 5%. Usually, if the concentration of hydrocarbon gas is increased to 5% or more, the stability of the plasma is lowered, and the plasma may not light.
[0015]
When the plasma gas flow rate is stabilized, a high frequency of about 450 MHz is applied to the high frequency coil with an output of 35 W. Thus, high-frequency electromagnetic field is generated in the coil Maki turning portion of the capillary, the distal end portion of the wire over 22 reachable in the coil therewith is subjected to high frequency induction heating, the heating condition. In this state, when the igniter 8 is operated and a high voltage of, for example, about 15 kV is applied to the ignition coil 6, a discharge is generated at the tip of the capillary, and the plasma generated by this discharge is used as a seed flame to generate a high frequency. Inductive plasma is generated by the high frequency power supplied through the coil 7. Induction plasma generated is supplied with thermal electrons generated from the wire over 22 high temperature state is maintained stably. As a result, a plasma flame having a very small diameter is ejected from the tip of the capillary tube. Thereafter, after matching the high frequency, a carbon-based material is deposited on the substrate. In some cases, it is also possible to perform deposition by turning on plasma only with argon gas and blowing methane gas onto the substrate through a pipe.
[0016]
Using the above apparatus, a quartz glass capillary having a tip diameter of about 100 μm as a plasma torch, a pressure of 760 mTorr in air, a 1% methane-argon mixed gas as a plasma gas, Hastelloy and a silicon wafer as a substrate, The distance from the tip of the plasma torch was 2 mm. Carbon-based materials were deposited on the substrate for 2 minutes each at three different flow rates of plasma gas supply of 50, 100, and 200 ccm. FIG. 4 shows scanning electron micrographs of the deposits produced at plasma gas supply rates of 50 ccm and 100 ccm. When the supply amount was 50 ccm, spherical substances were deposited on the substrate (FIG. 4A). On the other hand, when produced at 100 ccm, a spherical substance could not be observed (FIG. 4-2). Even when prepared at 200 ccm, spherical substances were deposited. In any case, the deposit is deposited in a circular shape having a diameter of 200 μm, and its size does not depend so much on the supply amount of the plasma gas.
[0017]
The microstructure of the three kinds of carbonaceous material deposits obtained was examined by transmission electron microscope. FIGS. 5, 6 and 7 show transmission electron micrographs and electron diffraction patterns of the deposits produced at plasma gas supply rates of 50 ccm, 100 ccm and 200 ccm, respectively (however, only transmission electron micrographs are shown in FIG. 6). The deposit produced with a plasma gas supply rate of 50 ccm is spherical and has a carbon polyhedron because the electron diffraction pattern matches that of graphite.
[0018]
On the other hand, a layered structure of graphite was observed in the deposit produced with a plasma gas supply rate of 100 ccm, and the deposit was kraft. Moreover, although the deposit produced with the plasma gas supply amount of 200 ccm was spherical, the electron diffraction pattern was a hello pattern, so the deposit was amorphous carbon.
[0019]
【The invention's effect】
As described above, the carbon-based material can be prepared under atmospheric pressure without any special substrate heating in a region of about 200 μm by the high-density microplasma CVD apparatus. Here, it has also been clarified that the structure of the carbon-based material can be controlled by controlling the flow rate of the plasma gas containing the hydrocarbon gas.
[Brief description of the drawings]
1 is a diagram of a high-density micro-plasma CVD apparatus using plasma lighting method 1. FIG. 2 is a diagram of a high-density micro-plasma CVD apparatus using plasma lighting method 2. FIG. 3 is a plasma torch used in a high-density micro-plasma CVD apparatus. Fig. 4 Scanning electron micrograph of carbon-based material deposit prepared by high-density micro-plasma CVD apparatus. Fig. 5 Carbon-based material deposit prepared by high-density micro-plasma CVD apparatus with a plasma gas supply rate of 50 ccm. Transmission electron micrograph and electron diffraction pattern [Fig. 6] Transmission electron micrograph of a carbon-based material deposit produced with a high-density micro-plasma CVD apparatus at a plasma gas supply rate of 100 ccm [Fig. 7] With a high-density micro-plasma CVD apparatus Transmission electron micrographs and electron diffraction of carbon-based material deposits prepared with a plasma gas supply rate of 200ccm Turn [Description of the code]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Plasma gas introduction pipe 2 Pipe 3 Insulation flange 4 Plasma torch connection port 5 Plasma torch 6 Plasma ignition coil 7 High frequency coil 8 Igniter 9 High frequency power supply 10 High frequency matching box 11 Substrate 12 Substrate support base 13 Axis 14 Triaxial manipulator 15 Reaction vessel 16 Plasma gas introduction valve 17 Gas introduction valve 18 Gas introduction pipe 19 Pressure adjustment valve 20 Vacuum pump 21 Capillary support pipe 22 Wire 23 Capillary

Claims (7)

マイクロプラズマCVD装置であって、該装置は、反応容器内に、先端に基板が取り付けられた基板支持台、円筒状の絶縁材料プラズマトーチ、プラズマガス供給系、該プラズマガスを励起する高周波コイル、該コイルに高周波電力を供給するプラズマ発生用高周波電源、該基板の位置を制御する制御装置から成り、前記プラズマトーチは、該トーチ内のプラズマ発生領域近傍にワイヤーを備えるとともに、該プラズマトーチを構成するキャピラリーの高周波コイル部分の内径が500nm以上 500 μ m 未満であることを特徴とするマイクロプラズマCVD装置。A microplasma CVD apparatus comprising: a substrate support with a substrate attached at the tip; a plasma insulating torch made of a cylindrical insulating material; a plasma gas supply system; and a high frequency coil for exciting the plasma gas A plasma generating high frequency power source for supplying high frequency power to the coil, and a control device for controlling the position of the substrate. The plasma torch includes a wire in the vicinity of the plasma generating region in the torch, and the plasma torch micro plasma CVD apparatus, wherein the inner diameter of the high-frequency coil portion of the capillary constituting is less than 500nm or 500 mu m. 上記ワイヤーは、高融点金属であることを特徴とする請求項1記載のマイクロプラズマCVD装置。  The microplasma CVD apparatus according to claim 1, wherein the wire is a refractory metal. 上記プラズマガス供給系は、該プラズマガス及び基板に堆積させるための堆積用ガスが供給されるように構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のマイクロプラズマCVD装置。  The microplasma CVD apparatus according to claim 1 or 2, wherein the plasma gas supply system is configured to supply the plasma gas and a deposition gas for depositing on the substrate. 上記マイクロプラズマCVD装置には、上記プラズマガス供給系の他に基板に堆積させるための堆積用ガスを供給する堆積用ガス供給系を有することを特徴とする請求項1又は2に記載のマイクロプラズマCVD装置。  3. The microplasma CVD apparatus according to claim 1, wherein the microplasma CVD apparatus includes a deposition gas supply system for supplying a deposition gas for deposition on a substrate in addition to the plasma gas supply system. CVD equipment. 上記プラズマトーチの外周に設けられた点火コイルと該トーチ内に設けられている上記ワイヤーとの間に高電圧が印加され、上記プラズマガスが放電するように構成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかの請求項に記載のマイクロプラズマCVD装置。  A high voltage is applied between an ignition coil provided on the outer periphery of the plasma torch and the wire provided in the torch, and the plasma gas is discharged. Item 5. The microplasma CVD apparatus according to any one of items 1 to 4. プラズマトーチ接続口、キャピラリー支持パイプ及び上記ワイヤーを電気的に導通し、該ワイヤーと上記高周波コイルの間に高電圧を印加することにより、上記プラズマガスの電離を行うことを特徴とする請求項1乃至のいずれかの請求項に記載のマイクロプラズマCVD装置。Plasma torch connection port, the capillary support pipe and the wire electrically connected, by applying a high voltage between the wire and the high frequency coil, billed you and performs ionization of the plasma gas Item 5. The microplasma CVD apparatus according to any one of items 1 to 4 . 上記プラズマガスは、アルゴンであり、上記堆積用ガスは、炭化水素であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかの請求項に記載のマイクロプラズマCVD装置。  The microplasma CVD apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the plasma gas is argon, and the deposition gas is hydrocarbon.
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