JP4033749B2

JP4033749B2 - Abnormality judgment method and electronic device

Info

Publication number: JP4033749B2
Application number: JP2002291631A
Authority: JP
Inventors: 久男大西; 猛橋本; 康晴談議
Original assignee: Osaka Gas Co Ltd
Current assignee: Osaka Gas Co Ltd
Priority date: 2002-10-03
Filing date: 2002-10-03
Publication date: 2008-01-16
Anticipated expiration: 2022-10-03
Also published as: JP2004127037A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は，たとえば警報器，警報装置，または計量器に異常が発生しているか否かの判断を行うための異常判定方法，および電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】
テレビ，ラジオ，洗濯機，掃除機，冷蔵庫，時計などの電子機器は，故障などの異常発生を判定した場合，安全のため，その機能（具体的には，テレビであれば画像を映し出す機能，ラジオであれば音を出す機能，冷蔵庫であれば冷蔵庫内部を低温に保つ機能）を停止することが多い。異常発生を判定する方法としては，電子機器の配線および部品等電圧を利用する方法，温度センサーや圧カセンサスピーカなどの何らかの出力を行う回路からの電圧，電流，抵抗値などの出力を利用する方法，モータの回転数や温度を利用する方法，電子回路上の電位や温度を利用する方法などがある（たとえば，特許文献１参照）。
【０００３】
ところで，このように異常発生を判定することによって，異常が発生していないにもかかわらず誤って安易に機能を停止してしまうと，使用者に不当な迷惑をかける場合がある。
【０００４】
一方，異常発生を長時間かけて判定すると，異常が発生していないにもかかわらず誤って機能を停止してしまうことは少なくなるが，より早く使用者に知らせなければならない出火や漏電を伴う重大な異常の発生のときに，異常発生を判定することが遅くなり，使用者の生命や財産に甚大な影響を及ぼすことになってしまう場合がある。
【０００５】
したがって，機器の異常発生を判定する方法としては，より的確な処理によるものが求められている。
【０００６】
特に，機器の中でも保安機器や商取引に用いられる計量器は，異常発生が使用者の生命財産に直接の影響を及ぼす恐れが大きい（保安機器は，使用者の生命，財産を守るあるいは維持する機器として定義され，火災警報器，ガス漏れ警報器，不完全燃焼警報器，防犯機器といった建物に設置される機器や，生命維持装置，ペースメーカーといった人体に取り付けてあるいは埋め込んで使用する機器が含まれる）。また商取引に用いられる計量器の信頼性は，使用者の経済的損失に直接影響を与え得る。そのため，保安機器や計量器には，特に精度の高い機器異常発生判断が必要となる。
【０００７】
たとえば，機器に内蔵されるガスセンサなどの電気回路電圧値を読取信号として１回／１分のタイミングで入力し，入力された電気回路電圧値の瞬時値Ｖが基準値Ｖ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常発生指標値
【０００８】
【数１】
α＝１００×｜Ｖ−Ｖ₀｜／Ｖ₀（％）
があらかじめ定められた一つの異常判定閾値α₁を越えた状態では機器異常が発生していると判断する機器異常判断装置がある（本明細書においては，数式中の上付文字および下付文字は添字として使用される）。
【０００９】
もちろん，このような機器異常判断装置は，機器異常発生指標値が異常判定閾値を越えていない状態では異常が発生していないと判断するため，機器異常閾値を越えていた機器異常発生指標値がその異常判定閾値を割り込んだときには異常解消を判断するものである。
【００１０】
【特許文献１】
特開平９−１１４７０４号公報
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら，このような機器異常判断装置においては，入力された電気回路電圧値の瞬時値を利用して異常が発生しているか否かを判断するため，突発的なノイズやリップルなどの影響を受けて，異常が実際には発生していない場合にも異常が発生していると誤って判断してしまうことがあった。
【００１２】
また，従来の機器異常判断装置においては，前述の機器異常指標値が異常判定閾値付近で上下変動するように電気回路電圧値が挙動した場合には，異常の発生／解消の判断が短周期で交互に繰り返され，異常の発生を外部に通知するための警報音が頻繁に出力／停止されたりして使い勝手が悪いことがあった。
【００１３】
このように，従来の機器異常判断装置においては，機器における異常が発生しているか否かの判定を適切に行うことができない場合があるという課題があった。
【００１４】
本発明は，上記従来のこのような課題を考慮し，たとえばガス警報器における異常の判定をより適切に行うことができる異常判定方法，および電子機器を提供することを目的とするものである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
第１の本発明は，監視値が２つ以上の異なる演算値である異常判定方法であって，
前記監視値が異常判定閾値を上回るまたは下回る回数が異常判定回数を超えた場合に異常発生を判定するための，前記監視値ごとに決められた２つ以上の異常判定条件を利用して異常判定を行う異常判定ステップを備え，
前記２つ以上の異なる演算値のうちの少なくとも１つの演算値は，瞬時値であり，
前記２つ以上の異なる演算値のうちの少なくとも１つの演算値は，実効値である，異常判定方法である。
第２の本発明は，前記瞬時値は，前記読取値そのものである第１の本発明の，異常判定方法である。
第３の本発明は，前記実効値は，前記読取値に対してノイズを除去するための演算を行うことによって得られた前記演算値である，第１の本発明の，異常判定方法である。
第４の本発明は，前記異常判定閾値の監視値正常基準値からの逸脱量と，前記異常判定回数と，の関係が，反限時特性を有する，第１の本発明の異常判定方法である。
第５の本発明は，前記異常判定条件ごとに前記異常判定を行った後の動作が異なる第１の本発明の，異常判定方法である。
第６の本発明は，前記異常判定条件は，所定の復帰禁止条件が成立した場合には以後の復帰判定を凍結する異常判定条件である第１の本発明の，異常判定方法である。
第７の本発明は，２つ以上の出力手段のうちの少なくとも１つの前記出力手段に対応する前記異常判定条件は，他の前記出力手段に対応する前記異常判定条件と異なる第１の本発明の，異常判定方法である。
第８の本発明は，前記２つ以上の異なる演算値は，同一の読取値に基づいている第１の本発明の，異常判定方法である。
第９の本発明は，第１から第８の何れかの本発明の異常判定方法を利用して前記異常判定を行う，電子機器である。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下に，本発明にかかる実施の形態について，図面を参照しつつ説明を行う。
【００２８】
（実施の形態１）
はじめに，本発明にかかる実施の形態１の異常判定方法を具備する機器異常判断装置の構成図である図１を参照しながら，本実施の形態の異常判定方法の構成について説明する。
【００２９】
本実施の形態の異常判定方法は，回路中の特定部分の電圧値の異常発生を２つ以上の異常判定閾値と各々の異常判定閾値に対応した異常判定回数により判定する異常判定方法である。
【００３０】
機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック１１１は，本発明にかかる実施の形態１の機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック１１１の説明図である図２（Ａ）に示されているように，前述の異常が発生しているか否かを判断するための電気回路電圧値の瞬時値Ｖ¹の機器異常発生電圧値ステージＳ¹を算出するための処理ブロックである。
【００３１】
ここに，機器異常発生電圧値ステージＳ¹は，瞬時値Ｖ¹が基準値Ｖ¹ ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常発生指標値
【００３２】
【数２】
α¹＝１００×｜Ｖ¹−Ｖ¹ ₀｜／Ｖ¹ ₀（％）
と異常判定閾値α¹ _k（ｋ＝１，…，４）との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｓ¹＝０であるとはα¹≦α¹ ₁であることであり，（１）Ｓ¹＝１であるとはα¹ ₁＜α¹≦α¹ ₂であることであり，（２）Ｓ¹＝２であるとはα¹ ₂＜α¹≦α¹ ₃であることであり，（３）Ｓ¹＝３であるとはα¹ ₃＜α¹≦α¹ ₄であることであり，（４）Ｓ¹＝４であるとはα¹ ₄＜α¹であることである。本実施の形態においては，
【００３３】
【数３】
Ｖ¹ ₀＝５（Ｖ）
【００３４】
【数４】
α¹ ₁＝５（％），α¹ ₂＝１０（％），α¹ ₃＝２５（％），α¹ ₄＝５０（％）と設定されている（図２（Ａ）においては（数２）中の絶対値記号を外した符号付きの機器異常発生指標値に関して図示を行っているが，以下同様である）。
【００３５】
機器異常発生電圧値ステージ算出回路１１０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／１分のタイミングで入力し，機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック１１１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ¹の機器異常発生電圧値ステージＳ¹を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０に出力する回路である。
【００３６】
機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル１２１は，本発明にかかる実施の形態１の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル１２１の説明図である図３に示されているように，前述の異常が発生しているか否かを算出するための機器異常発生条件Ｃ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【００３７】
ここに，機器異常発生条件Ｃ¹ _kは，機器異常発生電圧値ステージＳ¹があらかじめ定められた機器異常発生電圧値レベルＬ¹ _kをその機器異常発生電圧値レベルＬ¹ _kごとに決められている所定の回数Ｉ¹ _k以上連続して越えたこととして定義されている。本実施の形態においては，
【００３８】
【数５】
Ｌ¹ ₁＝１，Ｌ¹ ₂＝２，Ｌ¹ ₃＝３，Ｌ¹ ₄＝４
Ｉ¹ ₁＝２５（回），Ｉ¹ ₂＝１０（回），Ｉ¹ ₃＝２（回），Ｉ¹ ₄＝１（回）
と設定されている。
【００３９】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路１１０によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル１２１を見て機器異常発生条件Ｃ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路１５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０に出力する回路である（もちろん，機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路１１０によって出力された信号を入力し，その入力の結果を機器異常発生条件Ｃ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出するのに必要なだけ入力履歴として記録している）。
【００４０】
機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック１３１は，本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック１３１の説明図である図２（Ｂ）に示されているように，前述の電気回路電圧値の瞬時値Ｖ¹の機器異常解消電圧値ステージＴ¹を算出するための処理ブロックである。
【００４１】
ここに，機器異常解消電圧値ステージＴ¹は，瞬時値Ｖ¹が基準値Ｖ¹ ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常解消指標値
【００４２】
【数６】
β¹＝α¹＝１００×｜Ｖ¹−Ｖ¹ ₀｜／Ｖ¹ ₀（％）
と復帰判定閾値β¹ ₁との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｔ¹＝０であるとはβ¹≦β¹ ₁であることであり，（１）Ｔ¹＝１であるとはβ¹ ₁＜β¹であることである。本実施の形態においては，
【００４３】
【数７】
β¹ ₁＝α¹ ₁＝５（％）
と設定されている。
【００４４】
機器異常解消電圧値ステージ算出回路１３０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／１分のタイミングで入力し，機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック１３１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ¹の機器異常解消電圧値ステージＴ¹を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０に出力する回路である。
【００４５】
機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル１４１は，本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル１４１の説明図である図４に示されているように，前述の機器異常が解消したか否かを算出するための機器異常解消条件Ｄ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【００４６】
ここに，機器異常解消条件Ｄ¹ _kは，機器異常発生電圧値ステージＳ¹が機器異常発生電圧値レベルＬ¹ _kを回数Ｉ¹ _k以上連続して越えた後に，機器異常解消電圧値ステージＴ¹が機器異常解消電圧値レベル０を機器異常電圧値レベルＬ¹ _kごとに決められている所定の回数Ｊ¹ _k以上連続して保ったこととして定義されている。本実施の形態においては，
【００４７】
【数８】
Ｊ¹ ₁＝２（回），Ｊ¹ ₂＝１０（回），Ｊ¹ ₃＝２５（回），Ｊ¹ ₄＝∞（回）
と設定されている。なお，Ｊ¹ ₄＝∞（回）であるとは，要するに，機器異常発生電圧値ステージＳ¹が機器異常発生電圧値レベルＬ¹ ₄＝４を回数Ｉ¹ ₄＝１（回）以上連続して越えてしまうと，機器異常が解消したと算出されることはないことを意味し（以下同様），本発明または本発明に関連する発明の復帰禁止条件の実施の形態の一つである。
【００４８】
機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０は，機器異常解消電圧値ステージ算出回路１３０および機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０によって出力された信号を入力し，機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル１４１を見て機器異常解消条件Ｄ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路１５０に出力する回路である（もちろん，機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０は，機器異常解消電圧値ステージ算出回路１３０および機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０によって出力された信号を入力し，その入力の結果を機器異常解消条件Ｄ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出するのに必要なだけ入力履歴として記録している）。
【００４９】
外部出力回路１５０は，機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０によって出力された信号および機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０によって出力された信号を入力し，（１）機器異常発生条件Ｃ¹ _k（ｋ＝１，…，４）の内の何れかが成立する，または（２）機器異常解消条件Ｄ¹ _k（ｋ＝１，…，４）の内の何れかが成立しないと判断した場合には，機器異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力する回路である。
【００５０】
ただし，機器異常発生電圧値ステージＳ¹が機器異常発生電圧値レベルＬ¹ _kを回数Ｉ¹ _k以上連続して越えたことがなかったときには，機器異常解消条件Ｄ¹ _kは成立すると解釈される。
【００５１】
なお，機器異常発生指標値および機器異常解消指標値は，本発明または本発明に関連する発明の「異常値正常基準値からの逸脱量」に対応する。Ｉ¹ _kは本発明または本発明に関連する発明の異常判定回数に対応する。Ｊ¹ _kは本発明に関連する発明の復帰判定回数に対応する。基準値Ｖ¹ ₀は本発明または本発明に関連する発明の監視値正常基準値に対応する。機器異常発生条件は，本発明または本発明に関連する発明の異常判定条件に対応する。機器異常解消条件は，本発明に関連する発明の復帰判定条件に対応する。
【００５２】
つぎに，本発明にかかる実施の形態１の異常判定方法を具備する機器異常判断装置のフローチャートである図５を参照しながら，本実施の形態の異常判定方法について説明する。
【００５３】
ステップ１；機器異常発生電圧値ステージ算出回路１１０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／１分のタイミングで入力し，機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック１１１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ¹の機器異常発生電圧値ステージＳ¹を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０に出力する。
【００５４】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路１１０によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル１２１を見て機器異常発生条件Ｃ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路１５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０に出力する。
【００５５】
ステップ２；機器異常解消電圧値ステージ算出回路１３０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／１分のタイミングで入力し，機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック１３１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ¹の機器異常解消電圧値ステージＴ¹を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０に出力する。
【００５６】
機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０は，機器異常解消電圧値ステージ算出回路１３０および機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０によって出力された信号を入力し，機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル１４１を見て機器異常解消条件Ｄ¹ _k（ｋ＝１，…，４）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路１５０に出力する。
【００５７】
ステップ３；外部出力回路１５０は，機器異常発生条件成立／不成立算出回路１２０によって出力された信号および機器異常解消条件成立／不成立算出回路１４０によって出力された信号を入力し，（１）機器異常発生条件Ｃ¹ _k（ｋ＝１，…，４）の内の何れかが成立する，または（２）機器異常解消条件Ｄ¹ _k（ｋ＝１，…，４）の内の何れかが成立しないと判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力する（もちろん，外部出力回路１５０は，それ以外の場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力することはない）。
【００５８】
本実施の形態によれば，異常判定閾値の監視値正常基準値からの逸脱量と異常判定回数（Ｉ¹ _k）の関係を反限時特性とすることで，機器異常の影響度に応じた異常発生の判断を確実に行うことが可能となり，誤判断による利便性の低下を防止しつつ，影響度のより甚大な異常についてはより迅速に異常発生を判定することが可能となる。また，異常の影響度に応じた復帰判定条件を利用することで，（１）影響度の小さい異常については速やかに復帰するようにして利便性を確保するとともに，（２）影響度の大きい異常については十分な確認を行ってから復帰するようにして安全性を十分に確保することができる。
【００５９】
（実施の形態２）
はじめに，本発明にかかる実施の形態２の異常判定方法を具備する機器異常判断装置の構成図である図６を参照しながら，本実施の形態の異常判定方法の構成について説明する。
【００６０】
本実施の形態の異常判定方法は，前述した本実施の形態１の機器異常判断装置（図１参照）と類似した構成を有しており，回路中の特定部分の電圧値の異常を２つ以上の異常判定閾値と各々の異常判定閾値に対応した異常判定回数により異常を判定する異常判定方法である。本実施の形態の機器異常判断装置の特徴は，（１）リップルやノイズによっては発生し得ず，明らかに異常の発生に起因すると考えられる瞬時（測定）値（読取信号そのもの）を利用して検出するとともに，（２）リップルやノイズの影響を除去した信頼性の高い実効値（たとえば，読取信号を平均化したもの）を利用して検出することで，影響度に応じた異常発生をより確実に判定する点にある。
【００６１】
機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１は，本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１の説明図である図７（Ａ）に示されているように，前述の異常発生を判定するための電気回路電圧値の瞬時値Ｖ²の機器異常発生電圧値ステージＳ²を算出するための処理ブロックである。
【００６２】
ここに，機器異常発生電圧値ステージＳ²は，瞬時値Ｖ²が基準値Ｖ² ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常発生指標値
【００６３】
【数９】
α²＝１００×｜Ｖ²−Ｖ² ₀｜／Ｖ² ₀（％）
と異常判定閾値α² _k（ｋ＝１，…，３）との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｓ²＝０であるとはα²≦α² ₁であることであり，（１）Ｓ²＝１であるとはα² ₁＜α²≦α² ₂であることであり，（２）Ｓ²＝２であるとはα² ₂＜α²≦α² ₃であることであり，（３）Ｓ²＝３であるとはα² ₃＜α²であることである。本実施の形態においては，
【００６４】
【数１０】
Ｖ² ₀＝５（Ｖ）
【００６５】
【数１１】
α² ₁＝１０（％），α² ₂＝２５（％），α² ₃＝５０（％）
と設定されている。
【００６６】
機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力し，機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ²の機器異常発生電圧値ステージＳ²を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０に出力する回路である。
【００６７】
機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１は，本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１の説明図である図８に示されているように，前述の異常が発生しているか否かを算出するための機器異常発生条件Ｃ² _k（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【００６８】
ここに，機器異常発生条件Ｃ² _kは，機器異常発生電圧値ステージＳ²があらかじめ定められた機器異常発生電圧値レベルＬ² _kをその機器異常発生電圧値レベルＬ² _kごとに決められている所定の回数Ｉ² _k以上連続して越えたこととして定義されている。本実施の形態においては，
【００６９】
【数１２】
Ｌ² ₁＝１，Ｌ² ₂＝２，Ｌ² ₃＝３
Ｉ² ₁＝２５（回），Ｉ² ₂＝１０（回），Ｉ² ₃＝１（回）
と設定されている。
【００７０】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１を見て機器異常発生条件Ｃ² _k（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路２５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する回路である。
【００７１】
機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１′は，本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１′の説明図である図７（Ｂ）に示されているように，前述の機器異常が発生しているか否かを判断するための電気回路電圧値の実効値Ｖ²′の機器異常発生電圧値ステージＳ²′を算出するための処理ブロックである。
【００７２】
ここに，機器異常発生電圧値ステージＳ²′は，実効値Ｖ²′が基準値Ｖ² ₀′からどの程度隔たっているかを表す機器異常発生指標値
【００７３】
【数１３】
α²′＝１００×｜Ｖ²′−Ｖ² ₀′｜／Ｖ² ₀′（％）
と異常判定閾値α² _k′（ｋ＝１，…，３）との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｓ²′＝０であるとはα²′≦α² ₁′であることであり，（１）Ｓ²′＝１であるとはα² ₁′＜α²′≦α² ₂′であることであり，（２）Ｓ²′＝２であるとはα² ₂′＜α²′≦α² ₃′であることであり，（３）Ｓ²′＝３であるとはα² ₃′＜α²′であることである。本実施の形態においては，
【００７４】
【数１４】
Ｖ² ₀′＝Ｖ² ₀＝５（Ｖ）
【００７５】
【数１５】
α² ₁′＝５（％），α² ₂′＝１０（％），α² ₃′＝２５（％）
と設定されている。
【００７６】
電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力して蓄積・平均化し，前述の電気回路電圧値の実効値Ｖ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０′および機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０に出力する回路である。
【００７７】
機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０′は，電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０によって出力された信号を入力し，機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１′を見てその入力した電気回路電圧値の実効値Ｖ²′の機器異常発生電圧値ステージＳ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０′に出力する回路である。
【００７８】
機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１′は，本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１′の説明図である図９に示されているように，前述の機器異常が発生しているか否かを算出するための機器異常発生条件Ｃ² _k′（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【００７９】
ここに，機器異常発生条件Ｃ² _k′は，機器異常発生電圧値ステージＳ²′があらかじめ定められた機器異常発生電圧値レベルＬ² _k′をその機器異常発生電圧値レベルＬ² _k′ごとに決められている所定の回数Ｉ² _k′以上連続して越えたこととして定義されている。本実施の形態においては，
【００８０】
【数１６】
Ｌ² ₁′＝１，Ｌ² ₂′＝２，Ｌ² ₃′＝３
Ｉ² ₁′＝１０（回），Ｉ² ₂′＝２（回），Ｉ² ₃′＝１（回）
と設定されている。
【００８１】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０′は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０′によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１′を見て機器異常発生条件Ｃ² _k′（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路２５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する回路である。
【００８２】
機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック２３１は，本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック２３１の説明図である図７（Ｃ）に示されているように，前述の電気回路電圧値の瞬時値Ｖ²の機器異常解消電圧値ステージＴ²および前述の電気回路電圧値の実効値Ｖ²′の機器異常解消電圧値ステージＴ²′を算出するための処理ブロックである。
【００８３】
ここに，機器異常解消電圧値ステージＴ²は，瞬時値Ｖ²が基準値Ｖ² ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常解消指標値
【００８４】
【数１７】
β²＝α²＝１００×｜Ｖ²−Ｖ² ₀｜／Ｖ² ₀（％）
と復帰判定閾値β² ₁との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｔ²＝０であるとはβ²≦β² ₁であることであり，（１）Ｔ²＝１であるとはβ² ₁＜β²であることである。本実施の形態においては，
【００８５】
【数１８】
β² ₁＝α² ₁′＝５（％）
と設定されている。
【００８６】
また，機器異常解消電圧値ステージＴ²′は，実効値Ｖ²′が基準値Ｖ² ₀′からどの程度隔たっているかを表す機器異常解消指標値
【００８７】
【数１９】
β²′＝α²′＝１００×｜Ｖ²′−Ｖ² ₀′｜／Ｖ² ₀′（％）
と復帰判定閾値β² ₁′との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｔ²′＝０であるとはβ²′≦β² ₁′であることであり，（１）Ｔ²′＝１であるとはβ² ₁′＜β²′であることである。本実施の形態においては，
【００８８】
【数２０】
β² ₁′＝α² ₁′＝５（％）
と設定されている。
【００８９】
機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力し，機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック２３１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ²の機器異常解消電圧値ステージＴ²を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する回路である。また，機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０は，電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０によって出力された信号を入力し，機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック２３１を見てその入力した電気回路電圧値の実効値Ｖ²′の機器異常解消電圧値ステージＴ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する回路である。
【００９０】
機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル２４１は，本発明にかかる実施の形態２の機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル２４１の説明図である図１０に示されているように，前述の機器異常が解消したか否かを算出するための機器異常解消条件Ｄ² _k，Ｄ² _k′（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【００９１】
ここに，機器異常解消条件Ｄ² _kは，機器異常発生電圧値ステージＳ²が機器異常発生電圧値レベルＬ² _kを回数Ｉ² _k以上連続して越えた後に，機器異常解消電圧値ステージＴ²およびＴ²′がともに機器異常解消電圧値レベル０を機器異常電圧値レベルＬ² _kごとに決められている所定の回数Ｊ² _k以上連続して保ったこととして定義されている。本実施の形態においては，
【００９２】
【数２１】
Ｊ² ₁＝２（回），Ｊ² ₂＝１０（回），Ｊ² ₃＝∞（回）
と設定されている。
【００９３】
また，機器異常解消条件Ｄ² _k′は，機器異常発生電圧値ステージＳ²′が機器異常発生電圧値レベルＬ² _k′を回数Ｉ² _k′以上連続して越えた後に，機器異常解消電圧値ステージＴ²およびＴ²′がともに機器異常解消電圧値レベル０を機器異常電圧値レベルＬ² _k′ごとに決められている所定の回数Ｊ² _k′以上連続して保ったこととして定義されている。本実施の形態においては，
【００９４】
【数２２】
Ｊ² ₁′＝１０（回），Ｊ² ₂′＝２５（回），Ｊ² ₃′＝∞（回）
と設定されている。
【００９５】
機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０は，機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０および機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０，２２０′によって出力された信号を入力し，機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル２４１を見て機器異常解消条件Ｄ² _k，Ｄ² _k′（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路２５０に出力する回路である。
【００９６】
外部出力回路２５０は，機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０，２２０′によって出力された信号および機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０によって出力された信号を入力し（１）機器異常発生条件Ｃ² _k，Ｃ² _k′（ｋ＝１，…，３）の内の何れかが成立する，または（２）機器異常解消条件Ｄ² _k，Ｄ² _k′（ｋ＝１，…，３）の内の何れかが成立しないと判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力する回路である。
【００９７】
ただし，機器異常発生電圧値ステージＳ¹が機器異常発生電圧値レベルＬ¹ _kを回数Ｉ¹ _k以上連続して越えたことがなかったときには，機器異常解消条件Ｄ¹ _kは成立すると解釈される。また，機器異常発生電圧値ステージＳ¹′が機器異常発生電圧値レベルＬ¹ _k′を回数Ｉ¹ _k′以上連続して越えたことがなかったときには，機器異常解消条件Ｄ¹ _k′は成立すると解釈される。
【００９８】
なお，機器異常発生指標値および機器異常解消指標値は，本発明または本発明に関連する発明の「監視値正常基準値からの逸脱量」に対応する。Ｉ² _k，Ｉ² _k′は本発明または本発明に関連する発明の異常判定回数に対応する。Ｊ² _k，Ｊ² _k′は本発明に関連する発明の復帰判定回数に対応する。基準値Ｖ² ₀は本発明または本発明に関連する発明の監視値正常基準値に対応する。瞬時値は，本発明または本発明に関連する発明の監視値に対応する。機器異常発生条件は，本発明または本発明に関連する発明の異常判定条件に対応する。機器異常解消条件は，本発明に関連する発明の復帰判定条件に対応する。
【００９９】
つぎに，本発明にかかる実施の形態２の異常判定方法を具備するガス警報器機器異常判断装置のフローチャートである図１１を参照しながら，本実施の形態の異常判定方法について説明する。
【０１００】
ステップ１；機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力し，機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ²の機器異常発生電圧値ステージＳ²を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０に出力する。
【０１０１】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１を見て機器異常発生条件Ｃ² _k（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路２５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する。
【０１０２】
ステップ２；電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力して蓄積・平均化し，前述の電気回路電圧値の実効値Ｖ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０′に出力する。
【０１０３】
機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０′は，電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０によって出力された信号を入力し，機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１′を見てその入力した電気回路電圧値の実効値Ｖ²′の機器異常発生電圧値ステージＳ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０′に出力する。
【０１０４】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０′は，機器異常発生電圧値ステージ算出回路２１０′によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１′を見て機器異常発生条件Ｃ² _k′（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路２５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する。
【０１０５】
ステップ３；機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力し，機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック２３１を見てその入力した電気回路電圧値の瞬時値Ｖ²の機器異常解消電圧値ステージＴ²を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する。
【０１０６】
電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０は，前述の電気回路電圧値を読取信号として１回／０．１秒のタイミングで入力して蓄積・平均化し，前述の電気回路電圧値の実効値Ｖ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０に出力する。機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０は，電気回路電圧値蓄積・平均化回路２６０によって出力された信号を入力し，機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック２３１を見てその入力した電気回路電圧値の実効値Ｖ²′の機器異常解消電圧値ステージＴ²′を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０に出力する。
【０１０７】
機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０は，機器異常解消電圧値ステージ算出回路２３０および機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０，２２０′によって出力された信号を入力し，機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル２４１を見て機器異常解消条件Ｄ¹ _k，Ｄ² _k′（ｋ＝１，…，３）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路２５０に出力する。
【０１０８】
ステップ４；外部出力回路２５０は，機器異常発生条件成立／不成立算出回路２２０，２２０′によって出力された信号および機器異常解消条件成立／不成立算出回路２４０によって出力された信号を入力し（１）機器異常発生条件Ｃ² _k，Ｃ² _k′（ｋ＝１，…，３）の内の何れかが成立する，または（２）機器異常解消条件Ｄ² _k，Ｄ² _k′（ｋ＝１，…，３）の内の何れかが成立しないと判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力する。
【０１０９】
本実施の形態によれば，前述した本実施の形態１の効果に加えて，（１）リップルやノイズによっては発生し得ず，明らかに機器異常の発生に起因すると考えられる測定データを瞬時（測定）値を利用して検出するとともに，（２）リップルやノイズの影響を除去した信頼性の高い測定データを実効値を利用して検出することで，影響度に応じた機器異常の発生の判断をより確実に行うことが可能となる。また，機器異常解消条件をより厳しくする（機器異常解消条件の定義に利用された集合｛β²＜５｝は機器異常発生条件の定義に利用された集合｛α²＝β²≧１０｝の間に不感帯をもつ）ことで，機器異常の発生／解消の判断が測定データの僅かな値変動のために頻繁に繰り返されることによる利便性の低下を防止しつつ，安全性を十分に確保することができる。
【０１１０】
なお，本実施例では，本発明または本発明に関連する発明の「同一の読取値を元に算出した２つ以上の異なる演算値」として，読取値そのものの瞬時値と，読取値を平均化した実効値を用いたが，「同一の読取値を元に算出した２つ以上の異なる演算値」は演算に用いる読取値の数が異なる演算値（例えば，８個の読取値の平均値と，１００個の読取値の平均値）でもよく，演算方法が異なる平均値，積分値，対数平均値，加重平均値等でも良い。
【０１１１】
もちろん，演算に用いる読取値の数と演算方法が異なる組み合わせ（例えば読取値８個の平均値と読取値１００個の加重平均値といった組み合わせ）も含まれる。
【０１１２】
（実施の形態３）
はじめに，本発明にかかる実施の形態３の異常判定方法を具備した機器異常判断装置の構成図である図１２を参照しながら，本実施の形態の異常判定方法の構成について説明する。
【０１１３】
本実施の形態の異常判定方法は，前述した本実施の形態１の機器異常判断装置（図１参照）と類似した構成を有しており，温度測定器に内蔵される温度サーミスタ（図示省略）の異常を２つ以上の異常判定閾値と各々の異常判定閾値に対応した異常判定回数により異常を判定する異常判定方法である。本実施の形態の異常判定方法の特徴は，異常の発生に起因すると考えられる測定データが永続的に入力された場合には異常解消の判定が以後行われない点にある。
【０１１４】
機器異常発生温度値ステージ算出処理ブロック３１１は，本発明にかかる実施の形態３の機器異常発生温度値ステージ算出処理ブロック３１１の説明図である図１３（Ａ）に示されているように，前述の異常が発生しているか否かを判断するための温度値ｔ³の機器異常発生温度値ステージＳ³を算出するための処理ブロックである。
【０１１５】
ここに，機器異常発生温度値ステージＳ³は，温度値ｔ³が基準値ｔ³ ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常発生指標値
【０１１６】
【数２３】
α³＝１００×｜ｔ³−ｔ³ ₀｜／ｔ³ ₀（％）
と異常判定閾値α³ _k（ｋ＝１，２）との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｓ³＝０であるとはα³≦α³ ₁であることであり，（１）Ｓ³＝１であるとはα³ ₁＜α³≦α³ ₂であることであり，（２）Ｓ³＝２であるとはα³ ₂＜α³であることである。本実施の形態においては，
【０１１７】
【数２４】
ｔ³ ₀＝３０（℃）
【０１１８】
【数２５】
α³ ₁＝１００（％），α³ ₂＝１３０（％）
と設定されている。
【０１１９】
機器異常発生温度値ステージ算出回路３１０は，前述の温度値を読取信号として１回／１５秒のタイミングで入力し，機器異常発生温度値ステージ算出処理ブロック３１１を見てその入力した温度値ｔ³の機器異常発生温度値ステージＳ³を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０に出力する回路である。
【０１２０】
機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル３２１は，本発明にかかる実施の形態３の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル３２１の説明図である図１４に示されているように，前述の機器異常が発生しているか否かを算出するための機器異常発生条件Ｃ³ _k，Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【０１２１】
ここに，機器異常発生条件Ｃ³ _kは，機器異常発生温度値ステージＳ³があらかじめ定められた機器異常発生温度値レベルＬ³ _kをその機器異常発生温度値レベルＬ³ _kごとに決められている所定の回数Ｉ³ _k以上連続して越えたこととして定義されている。本実施の形態においては，
【０１２２】
【数２６】
Ｌ³ ₁＝１，Ｌ³ ₂＝２
Ｉ³ ₁＝１２０（回），Ｉ³ ₂＝２（回）
と設定されている。
【０１２３】
また，機器異常発生条件Ｅ³ _kは，機器異常発生温度値ステージＳ³が機器異常発生温度値レベルＬ³ _kをその機器異常発生温度値レベルＬ³ _kごとに決められている所定の回数Ｋ³ _k以上連続して越えたこととして定義されている。本実施の形態においては，
【０１２４】
【数２７】
Ｌ³ ₁＝１，Ｌ³ ₂＝２
Ｋ³ ₁＝５７６０（回），Ｋ³ ₂＝２４０（回）
と設定されている。
【０１２５】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０は，機器異常発生温度値ステージ算出回路３１０によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル３２１を見て機器異常発生条件Ｃ³ _k，Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路３５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０に出力する回路である。
【０１２６】
機器異常解消温度値ステージ算出処理ブロック３３１は，本発明にかかる実施の形態３の機器異常解消温度値ステージ算出処理ブロック３３１の説明図である図１３（Ｂ）に示されているように，前述の温度値ｔ³の機器異常解消温度値ステージＴ³を算出するための処理ブロックである。
【０１２７】
ここに，機器異常解消温度値ステージＴ³は，温度値ｔ³が基準値ｔ³ ₀からどの程度隔たっているかを表す機器異常解消指標値
【０１２８】
【数２８】
β³＝α³＝１００×｜ｔ³−ｔ³ ₀｜／ｔ³ ₀（％）
と復帰判定閾値β³ ₁との大小関係を利用して定義されている。より具体的には，（０）Ｔ³＝０であるとはβ³≦β³ ₁であることであり，（１）Ｔ³＝１であるとはβ³ ₁＜β³であることである。本実施の形態においては，
【０１２９】
【数２９】
β³ ₁＝８０（％）
と設定されている。
【０１３０】
機器異常解消温度値ステージ算出回路３３０は，前述の温度値を読取信号として１回／１５秒のタイミングで入力し，機器異常解消温度値ステージ算出処理ブロック３３１を見てその入力した温度値ｔ³の機器異常解消温度値ステージＴ³を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０に出力する回路である。
【０１３１】
機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル３４１は，本発明にかかる実施の形態３の機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル３４１の説明図である図１５に示されているように，前述の異常が解消したか否かを算出するための機器異常解消条件Ｄ³ _k（ｋ＝１，２）が成立しているか否かを算出するためのテーブルである。
【０１３２】
ここに，機器異常解消条件Ｄ³ _kは，機器異常発生温度値ステージＳ³が機器異常発生温度値レベルＬ³ _kを回数Ｉ³ _k以上連続して越えた後に，機器異常解消温度値ステージＴ³が機器異常解消温度値レベル０を機器異常温度値レベルＬ³ _kごとに決められている所定の回数Ｊ³ _k以上連続して保ったこととして定義されている。本実施の形態においては，
【０１３３】
【数３０】
Ｊ³ ₁＝４（回），Ｊ³ ₂＝１０（回）
と設定されている。
【０１３４】
機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０は，機器異常解消温度値ステージ算出回路３３０によって出力された信号を入力し，機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル３４１および機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０を見て機器異常解消条件Ｄ³ _k（ｋ＝１，２）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路３５０に出力する回路である。
【０１３５】
外部出力回路３５０は，機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０によって出力された信号および機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０によって出力された信号を入力し，（１）機器異常発生条件Ｃ³ _k，Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）の内の何れかが成立する，または（２）機器異常解消条件Ｄ³ _k（ｋ＝１，２）の内の何れかが成立しないと判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力する回路である。また，外部出力回路３５０は，機器異常発生条件Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）の内の何れかが成立すると一旦判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を継続的に外部出力信号として外部に出力する回路である。
【０１３６】
ただし，機器異常発生温度値ステージＳ³が機器異常発生温度値レベルＬ³ _kを回数Ｉ³ _k以上連続して越えたことがなかったときには，機器異常解消条件Ｄ³ _kは成立すると解釈される。
【０１３７】
なお，異常指標値および異常解指標値は，本発明または本発明に関連する発明の「監視値正常基準値からの逸脱量」に対応する。Ｉ³ _kは本発明または本発明に関連する発明の異常判定回数に対応する。Ｊ³ _kは本発明に関連する発明の復帰判定回数に対応する。Ｋ³ _kは本発明または本発明に関連する発明の復帰禁止条件の「復帰機器異常判定回数」に対応する。基準値ｔ³ ₀は本発明または本発明に関連する発明の監視値正常基準値に対応する。機器異常発生条件は，本発明または本発明に関連する発明の異常判定条件に対応する。機器異常解消条件は，本発明に関連する発明の復帰判定条件に対応する。
【０１３８】
つぎに，本発明にかかる実施の形態３の異常判定方法を具備する機器異常判断装置のフローチャートである図１６を参照しながら，本実施の形態の異常判定方法について説明する。
【０１３９】
ステップ１；機器異常発生温度値ステージ算出回路３１０は，前述の温度値を読取信号として１回／１５秒のタイミングで入力し，機器異常発生温度値ステージ算出処理ブロック３１１を見てその入力した温度値ｔ³の機器異常発生温度値ステージＳ³を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０に出力する。
【０１４０】
機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０は，機器異常発生温度値ステージ算出回路３１０によって出力された信号を入力し，機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル３２１を見て機器異常発生条件Ｃ³ _k，Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路３５０および機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０に出力する。
【０１４１】
ステップ２；機器異常解消温度値ステージ算出回路３３０は，前述の温度値を読取信号として１回／１５秒のタイミングで入力し，機器異常解消温度値ステージ算出処理ブロック３３１を見てその入力した温度値ｔ³の機器異常解消温度値ステージＴ³を算出し，その算出結果を通知するための信号を機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０に出力する。
【０１４２】
機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０は，機器異常解消温度値ステージ算出回路３３０および機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０によって出力された信号を入力し，機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル３４１を見て機器異常解消条件Ｄ³ _k（ｋ＝１，２）が成立しているか否かを算出し，その算出結果を通知するための信号を外部出力回路３５０に出力する。
【０１４３】
ステップ３；外部出力回路３５０は，機器異常発生条件成立／不成立算出回路３２０によって出力された信号および機器異常解消条件成立／不成立算出回路３４０によって出力された信号を入力し，（１）機器異常発生条件Ｃ³ _k，Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）の内の何れかが成立する，または（２）機器異常解消条件Ｄ³ _k（ｋ＝１，２）の内の何れかが成立しないと判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を外部出力信号として外部に出力する。
【０１４４】
ステップ４；外部出力回路３５０は，機器異常発生条件Ｅ³ _k（ｋ＝１，２）の内の何れかが成立すると一旦判断した場合には，異常の発生を外部に通知するための信号を継続的に外部出力信号として外部に出力する。
【０１４５】
本実施の形態によれば，前述した本実施の形態１の効果に加えて，異常の発生に起因すると考えられる読取信号が永続的に入力された場合には異常解消の判定が以降行われないことで，安全性をより十分に確保することができる。
【０１４６】
以上においては，本実施の形態１〜３について詳細に説明した。
【０１４７】
なお，本発明または本発明に関連する発明にかかる構成要素については実施例にとらわれない。本発明または本発明に関連する発明は，（ａ）読取値，（ｂ）異常判定閾値または復帰判定閾値を記憶する手段，（ｃ）読取値から導かれた監視値と異常判定閾値，復帰判定閾値を比較する手段，を具備することにより構成可能であり，実施例にあげた具体的構成にとらわれない。
【０１４８】
また，上述の説明における機器は，上述した本実施の形態においては，温度測定器などであった。しかし，これに限らず，上述の機器は，たとえば，火災警報器，不完全燃焼警報器，防犯機器といった建物に設置される機器や，生命維持装置，ペースメーカーといった人体に取り付けてあるいは埋め込んで使用する機器などの保安機器であってもよいし，このような保安機器以外のテレビ，ラジオ，洗濯機，掃除機，冷蔵庫，時計などの電子機器であってもよい。
【０１４９】
もちろん，本発明または本発明に関連する発明の監視値は，（ａ）圧力，温度，湿度，ガス濃度，磁力，電磁波，光などの物理量を測定するためのセンサなどから出力される測定データ，（ｂ）抵抗，コンデンサ，コイル，トランジスタ，ＬＥＤ，スピーカ，ＩＣ，ＬＳＩ，トランス，ダイオードなどの電気回路や部品などに対する電圧，電流，抵抗，（ｃ）駆動部分の駆動回転数，駆動作動数，発生音圧レベルなどの物理量に関する監視値であってもよい。
【０１５０】
また，本発明または本発明に関連する発明の監視値が，異常判定閾値を上回るまたは下回る回数が，異常判定回数超えた場合に異常発生を判定するとは，上述した本実施の形態においては，監視値が，２つ以上の異常判定閾値の内の少なくとも１つの異常判定閾値をその異常判定閾値毎に定められている異常判定回数以上，連続して上回ったまたは下回った場合に異常と判定することであった。
【０１５１】
しかし，これに限らず，本発明または本発明に関連する発明の監視値が，異常判定閾値を上回るまたは下回る回数が，異常判定回数超えた場合に異常発生を判定するとは，例えば，監視値が，２つ以上の異常判定閾値の内の少なくとも１つの異常判定閾値を，予め定められた所定の監視値の入力数において，その異常判定閾値毎に定められている異常判定回数以上，上回ったまたは下回った場合に異常と判定することであってもよい。
【０１５２】
また，本発明または本発明に関連する発明の監視値が，復帰判定閾値を上回るまたは下回る回数が，復帰判定回数を超えた場合に，異常解消を判定するとは，上述した本実施形態では，監視値が，復帰判定閾値をその異常判定閾値毎に定められている復帰判定回数以上，連続して上回るまたは下回る場合に異常解消と判定することであった。
【０１５３】
しかし，これに限らず，本発明または本発明に関連する発明の監視値が，復帰判定閾値を上回るまたは下回る回数が，復帰判定回数を超えた場合に，異常解消を判定するとは，例えば，監視値が，復帰判定閾値を，予め定められた所定の監視値の入力数において，その異常判定閾値毎に定められている復帰判定回数以上，上回るまたは下回る場合に異常解消と判定することであってもよい。
【０１５４】
また，本発明にかかる異常判定方法または復帰判定方法を具備した機器異常判断装置の全部または一部の手段（または，装置，素子，回路，部など）の機能をプログラムを用いたコンピュータ，または，電子部品で構成した各種アナログ演算回路によって実行できる。
【０１５５】
また，本発明にかかる異常判定方法および復帰判定方法の全部または一部のステップ（または，工程，動作，作用など）の動作をプログラムを用いたコンピュータ，または，電子部品で構成した各種アナログ演算回路によって実行できる。
【０１５６】
また，本発明にかかる異常判定条件（異常判定閾値および異常判定回数），復帰判定条件（復帰判定閾値および復帰判定回数）のデータ構造は，上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法または復帰判定方法を具備した機器異常判断装置あるいは異常判定方法または復帰判定方法の全部または一部の手段やステップで，コンピュータまたは，各種アナログ演算回路と協働して利用されるデータ構造である。
【０１５７】
また，本発明にかかる媒体は，上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法または復帰判定方法を具備した機器異常判断装置の全部または一部の手段の全部または一部の機能をコンピュータにより実行させるためのプログラムを担持した媒体，または，同機能をアナログ演算により実行する各種アナログ演算回路により構成された媒体であり，コンピュータにより読み取り可能，かつ読み取られた前記プログラムが前記コンピュータと協働して前記機能を実行する媒体または，前記各種アナログ演算回路にて前記機能を実行する媒体である。また，本発明にかかる媒体は，上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法の全部または一部のステップの全部または一部の動作をコンピュータにより実行させるためのプログラムを担持した媒体，または，同動作をアナログ演算により実行する各種アナログ演算回路により構成された媒体であり，コンピュータにより読み取り可能，かつ読み取られた前記プログラムが前記プログラムと協働して前記動作を実行する媒体または，各種アナログ演算回路にて前記動作を実行する媒体である。また，本発明にかかる媒体は，上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法および復帰判定方法を具備した機器異常判断装置または異常判定方法の全部または一部の手段やステップで，コンピュータまたは，各種アナログ演算回路と協働して利用されるデータ構造を担持した媒体であり，コンピュータにより読み取り可能，かつ読み取られた前記データ構造が前記コンピュータと協働して利用される媒体，または，電子回路で構成され，各種アナログ演算回路と協働して利用される媒体である。
【０１５８】
なお，上記「一部の手段（または，装置，素子，回路，部など）」，上記「一部のステップ（または，工程，動作，作用など）」とは，それらの複数の手段またはステップの内の，幾つかの手段またはステップを意味し，あるいは，一つの手段またはステップの内の，一部の機能または一部の動作を意味するものである。
【０１５９】
また，上述のプログラムの利用形態は，コンピュータにより読み取り可能な記録媒体に記録され，コンピュータと協働して動作する態様であってもよい。
【０１６０】
また，上述のデータ構造としては，データベース，データフォーマット，データテーブル，データリスト，データの種類などを含む。なお，電子回路を構成する電子部品の定数や帯電電荷量，符号，帯磁状態により表現される情報なども含まれ，各種アナログ演算回路がデータ構造となる場合もある。
【０１６１】
また，記録媒体としては，ＲＯＭや，電子回路を構成する電子部品の定数や帯電電荷量，符号，帯磁状態により表現される情報記憶媒体などが含まれ，伝送媒体としては，インターネットなどの伝送媒体，光・電波・音波などが含まれる。
【０１６２】
また，上述したコンピュータは，ＣＰＵなどの純然たるハードウェアに限らず，ファームウェアや，ＯＳ，更に周辺機器を含むものであってもよい。
【０１６３】
以上説明したように，本発明または本発明に関連する発明の構成は，ソフトウェア的に実現してもよいし，ハードウェア的に実現してもよい。
【０１６４】
なお，本発明にかかる読取値を，前述の実施の形態においては，１つとしたが，もちろん，読取値は複数でもよく，例えば，電圧，センサー出力，温度サーミスタ等の読取値の監視値について，異常判定条件，復帰判定条件をもってよい。
【０１６５】
また，２つ以上の異なる読取値から各々演算した演算値（監視値）により異常判定を行う場合は，一般的に，複数の読取値の監視値に対する各々の異常判定条件のいずれかが成立（異常判定条件の論理和）した場合に異常と判定するが，機器の使用目的，構成，特性により複数の読取値のうち少なくとも２つ以上の読取値の監視値の各々の異常判定条件が成立（異常判定条件の論理積）した場合に異常と判定してもよい。
【０１６６】
また，２つ以上の異なる読取値から各々演算した演算値（監視値）により復帰判定を行う場合は，一般的に，複数の読取値のうち少なくとも２つ以上の読取値の監視値の各々の復帰判定条件が成立（復帰判定条件の論理積）した場合に復帰と判定するが，機器の使用目的，構成，特性により複数の読取値の監視値に対する各々の復帰判定条件のいずれかが成立（復帰判定条件の論理和）した場合に復帰と判定してもよい。
【０１６７】
監視値が，異常判定閾値を上回るまたは下回る回数が，異常判定回数を超えたことを判断し，異常を判定する異常判定方法において，２つ以上の異常判定閾値を持ち，前記各々の異常判定閾値に対応して，異常と判定する異常判定回数を持つことを特徴とする異常判定方法は，本発明または本発明に関連する発明である（図１７参照）。「監視値が異常判定閾値を上回る」とは，監視値が，監視値正常基準値（後述）からみて正の方向の異常判定閾値と同値または超える場合を意味し，「監視値が異常判定閾値を下回る」とは，監視値が，監視値正常基準値からみて負の方向の異常判定閾値と同値または閾値未満となることを意味する（以下同様）。また，異常，故障または正常を判定するために，測定または計測する値（物理量を測定するためのセンサなどから出力される測定データや，電気回路や部品などに対する電圧，電流，抵抗や，駆動部分の駆動回転数等）そのものを読取値と呼ぶ。監視値とは，読取値を元にした演算値などで，この演算値には読取値そのものも含まれ，監視対象となる数値のことである。異常判定閾値とは，ある種類あるレベルの異常（または故障）が疑われる監視値の範囲の監視値正常基準値寄りの境界値で，予め定められた値である。異常判定回数とは，監視値が，異常判定閾値を上回る値（ただし，監視値正常基準値からみて正の方向にある異常判定閾値の場合。監視値正常基準値からみて負の方向にある異常判定閾値の場合は，「異常判定閾値を下回る値」と読み替える。）を示す回数のうち，異常と判定する回数のことであり，予め定められた回数である。
【０１６８】
このような本発明または本発明に関連する発明によれば，異常判定閾値毎に，異常発生を判定する回数（異常判定回数）を変えることにより，その発生した異常を的確に見つけることができる。例えば，図１７で，監視値αの値がＢ≦α＜Ｃの範囲になる異常が，最も使用者にとって影響度が大きい異常の場合，この範囲の異常判定回数を他の異常判定閾値の異常判定回数よりも少なくすることにより，早く異常を知らせることができる。
【０１６９】
また，図１７で，監視値αの値がＡ≦α＜Ｂの範囲になる異常が，特に影響度が少ない場合は，この範囲の異常判定回数を他の異常判定閾値の異常判定回数よりも多くすることにより，簡単に異常発生を判定することを防止し，使用者に不便をかけなくて済む。このように異常判定閾値毎に異常判定回数を変えることにより，異常の影響度に対する即応性と使用者の利便性を両立することができる。なお，２つ以上の異常判定閾値，および，各々の異常判定閾値に対応する異常判定回数で構成される各々の異常判定条件で異常判定を行う場合は，一般的に，各々の異常判定条件のいずれかが成立（異常判定条件の論理和）した場合に異常と判定するが，機器の使用目的，構成，特性により複数の異常判定条件のうち少なくとも２つ以上の条件が同時に成立（異常判定条件の論理積）した場合に異常と判定してもよい。
【０１７０】
前記複数の異常判定閾値の，監視値正常基準値からの逸脱量（σ_k）と，異常判定回数（ｎ_k）の関係が，反限時特性（σ₁＜σ₂の時，ｎ₁＞ｎ₂）となる，上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法は，本発明または本発明に関連する発明である（図１８参照）。
【０１７１】
「監視値正常基準値」は，正常状態を表す監視値の範囲の代表値で，正常状態を表す監視値の範囲の中心値や，正常状態における監視値がとり得る分布の中央値や，正常状態を表す監視値の範囲の境界値などを用いる。なお，反限時特性とは，たとえば，影響度が高い異常発生時に出現しうる監視値が測定された場合は即時警報に移り，影響度が小さい異常発生時に出現しうる監視値が測定された場合はその監視値がある時間継続した場合にのみ警報するといった，影響度が高いと予測される場合は判定時間（回数）を短く（少なく），影響度が小さいと予測される場合は判定時間（回数）を長く（多く）とるための条件であり，σはｎの単調減少関数となる（図１９参照）。
【０１７２】
このような本発明または本発明に関連する発明によれば，反限時特性を利用して定めた異常判定閾値と異常判定回数の関係を利用して異常発生を判定することで，より影響度に見合った時間で異常発生を判定することができる。
【０１７３】
監視値が，同一の読取値を元に算出した２つ以上の異なる演算値である異常判定方法は，本発明または本発明に関連する発明である。
【０１７４】
演算とは，読取値を算術的に加工処理あるいはアナログ信号処理等をすることである。演算値とは演算の結果得られた値である。また，演算に使われた，算術的な加工処理方法や，アナログ処理の方法を「演算方法」と呼ぶ。「同一の読取値を元に演算した２つ以上の異なる演算値」とは，演算に用いる読取値の数が異なる，または演算方法の異なる演算値またはこれらの組み合わせにより演算された演算値である。なお，読取値は演算値に含まれ，この場合の読取値は瞬時値と呼ぶ。つまり，瞬時値は読取値Ａ_kそのものの値である。実効値とは，読取値をノイズ等を除去するための平準化処理等の演算を行った演算値であり，例えば，上記の読取値Ａ_kの平均値Σ_k=1 ⁿＡ_k／ｎ，積分値，対数平均値などである。読み取りの間隔（言い換えると瞬時値の間隔）は，０．１秒，１秒，１０秒，１分，１０分，１時間，２４時間等，その異常を見るために適切なものであればそれでも良い（図２３（Ａ）参照）。実効値のとり方は，読み取り値１０個毎に平均してもよいし（図２３（Ｂ）参照），過去１０回の読み取り値を平均してもよい（図２３（Ｃ）参照）。なお，（１）瞬時値については，正常値に近い異常判定閾値Ａはノイズや一過性のもので誤判定するデメリットがあるが，一過性の大きな異常値を判定することができるメリットがあり，（２）実効値には，瞬時の大きな異常値は平均化され判定できないデメリットがあるが，ノイズの影響は平均化で除去されるため異常判定閾値Ａにより異常を判定できるメリットがある（図２０参照）。また，読取値を信号として，信号処理におけるスムージング（不規則な短時間の変動はノイズと見なし平均によりそれを除く処理）およびフィルタリング（必要な信号の周波数を通過し，ノイズの周波数を阻止する），および増幅といった処理も上述の実効値の演算方法として含まれる。他の実効値の例として，加重平均値がある。加重平均値とは，読取値を演算に取り込む際に読取値に「重み」となる係数を乗じる方法があり，例えば加重平均値を演算する場合は，
【０１７５】
【数３１】

の式を用いる。（ｆ（ｋ）は重み係数と呼ぶ。）通常の平均値を求める場合は，ｆ（ｋ）＝１であり，重み係数は例えばｆ（ｋ）＝ｅ^-ak等，任意で与えられる。加重平均値は，読取値の重みつけにより，例えば，直近の読込値は重みつけを大きく，遥か前の読取値は重みつけを小さくといった演算が可能であり，異常の判定に直近の読取値により重みをおいて判定したいといった場合に効果がある。瞬時値や実効値とも異なるが，読取変化量，等を演算値として用いてもよい。読取値変化量とは，読取値の個々の絶対値ではなく，読取値の変化量を用いる方法であり，例えば以下の式で与えられる。
【０１７６】
【数３２】
読取値変化量＝Ａ_k−Ａ_k-1
読取値変化量であれば，前述の瞬時値と同様に急激な変化がある場合を異常として判定が可能となる。また，同様の演算値として，微分値がある。また，上記演算値は，デジタルによる数値計算によっての演算値でもよいし，各種演算回路を用いた信号処理手法によってもよい。なお，２つ以上の異なる監視値により異常判定を行う場合は，一般的に，複数の監視値に対する各々の異常判定条件のいずれかが成立（異常判定条件の論理和）した場合に異常と判定するが，機器の使用目的，構成，特性により複数の監視値のうち少なくとも２つ以上の監視値の各々の異常判定条件が成立（異常判定条件の論理積）した場合に異常と判定してもよい。
【０１７７】
異常発生を判定した際に用いた異常判定条件によって，異常発生を判定以後の動作を区別する，上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法である。異常判定条件とは，異常と判定した際に用いた監視値と異常判定閾値と，異常判定回数のことであって，これらにより異常判定以後の動作を区別する。動作を区別する例としては，（ａ）異なる出力手段で出力すること，（ｂ）出力手段の１つである，ＬＥＤについて，点滅のランプが異なる出力をすること，点灯時間，点灯間隔が異なる出力をすること，（ｃ）出力手段の１つである，ブザーやスピーカーからの音量が異なる出力をすること，音色や音声が異なる出力をすること，（ｄ）機器が使用する電子的な値（例えばセンサーからの入力や，記録部に記録されたデータ）を，通常使用する値ではなく，異常発生判定時専用の値を使用すること，（ｅ）異常解消の判定後に，異常履歴有りを示す表示をする場合と非表示とする場合のいずれかの出力をすることなどがある。出力手段とは，音響手段，光学手段，信号手段，通信手段等のことである。音響手段とは，ブザーによるブザー音，スピーカーによる音声や音，振動素子による振動音等の音を用いた人の聴覚に訴える手段であり，異なる音色，音声の種類，音量による手段を含む。光学手段とは，ランプ，ＬＥＤ，液晶等の人の視覚に訴える手段であり，異なる色，点灯間隔，消灯間隔，表示の手段を含む。信号手段とは，信号線および無線による有電圧信号，接点信号，デジタル信号等を送信する手段であり，電気，電磁波，磁気，光による手段を含む。通信手段とは，電話回線，インターネット回線，専用通信線，無線等により信号を送受信する手段であり，電気，電磁波，磁気，光による手段を含む。異常履歴有りを示す表示方法としては，使用者には目立たない方法が望ましく，通常点灯しているＬＥＤの瞬時消灯や，液晶の表示などが望ましい。また，通信等により，使用者には全く知らせず，出力する等の方法もある。
【０１７８】
このような本発明または本発明に関連する発明によれば，予測される異常を区別したり，予測される異常の影響度にあわせて使用者に対し緊迫度を表現したり，また，予測される異常の種類で履歴を持たせて点検の際に確認させたりといったことができる。
【０１７９】
監視値が，復帰判定閾値を上回るまたは下回る値が，復帰判定回数を越えた場合に，異常解消を判定する復帰判定方法において，２つ以上の復帰判定閾値を持ち，前記各々の復帰判定閾値に対応して，機器の異常解消を判定する復帰判定回数を持つ復帰判定方法は，本発明に関連する発明である（図２１参照）。復帰とは，異常発生を判定する前の状態の出力に戻ること言う。ただし，異常履歴有りの表示状態は復帰に含まれるものとしている。復帰判定閾値とは，正常と推測される監視値の範囲の境界値で，予め定められた値である。「監視値が復帰判定閾値を上回る」とは，監視値が，監視値正常基準値からみて負の方向の値であり，かつ，監視値正常基準値からみて負の方向の復帰判定閾値と同値または超える場合を意味し，「監視値が復帰判定閾値を下回る」とは，監視値が，監視値正常基準値と同値または監視値正常基準値からみて正の方向の値であり，かつ，監視値正常基準値からみて正の方向の復帰判定閾値と同値または閾値未満となることを意味する。（以下同様）復帰判定回数とは，監視値が，復帰判定閾値を下回る値（ただし，監視値正常基準値からみて正の方向にある復帰判定閾値の場合である。監視値正常基準値からみて負の方向にある復帰判定閾値の場合は「復帰判定閾値を上回る値」と読み替える。）を示す回数のうち，異常解消を判定する回数のことであり，予め定められた回数である。なお，２つ以上の復帰判定閾値，および，各々の復帰判定閾値に対応する復帰判定回数で構成される各々の復帰判定条件で異常判定を行う場合は，一般的に，複数の復帰判定条件のうち少なくとも２つ以上の条件が同時に成立（異常判定条件の論理積）した場合に復帰と判定するが，機器の使用目的，構成，特性により各々の復帰判定条件のいずれかが成立（復帰判定条件の論理和）した場合に復帰と判定してもよい。
【０１８０】
このような本発明に関連する発明によれば，明らかに異常解消が判断できるα＜ａの場合は速やかに異常解消を判定し，正常な状態であることが不明確なａ≦α＜ｂの場合は，十分な判定回数をもって異常解消を判定することにより，確実に正常な状態になった場合に異常解消を判定することができ，かつ，より速やかに異常解消を判定することができる。
【０１８１】
監視値が，同一の読取値を元に算出した，２つ以上の異なる演算値である復帰判定方法は，本発明に関連する発明である。異常判定が，どの演算値によりなされたものかに関わらず，２つ以上の異なる演算値の全てあるいは複数について，各々の復帰判定条件が成立した場合に復帰することが望ましい。なお，２つ以上の異なる監視値により復帰判定を行う場合は，一般的に，複数の監視値のうち少なくとも２つ以上の監視値の各々の復帰判定条件が成立（復帰判定条件の論理積）した場合に復帰と判定するが，機器の使用目的，構成，特性により複数の監視値に対する各々の復帰判定条件のいずれかが成立（復帰判定条件の論理和）した場合に復帰と判定してもよい。
【０１８２】
復帰判定閾値と，異常判定閾値との間に不感帯がある上述した本発明に関連する発明の復帰判定方法は，本発明に関連する発明である（図２２参照）。不感帯とは，異常判定閾値と復帰判定閾値の間に設ける，異常判定も復帰判定もしない監視値の範囲のことであり，この範囲に監視値が入っても，直前の判定を維持する。例えば，異常発生を判定した後，監視値がこの不感帯の領域に入っても，異常発生と判定されたままである。また，正常な状態または異常解消を判定した後に，監視値がこの不感帯の領域に入っても，正常な状態または異常解消を判定したままである。
【０１８３】
このような本発明に関連する発明によれば，不感帯が無いときのように，異常判定閾値と復帰判定閾値の近辺で変動するような場合，異常発生と異常解消の判定を繰り返し判定することがなくなる。
【０１８４】
特定の条件が成立した場合，以後の復帰判定を凍結する異常判定条件（復帰禁止条件）を有することを特徴とする異常判定方法は，本発明または本発明に関連する発明である。
【０１８５】
復帰禁止条件とは，条件として成立した場合，以降の復帰判定を凍結する条件のことである。復帰禁止条件の例としては，（ａ）ある異常判定閾値を「復帰禁止異常判定閾値」と定めて，監視値が「復帰禁止異常判定閾値」を上回るまたは下回る回数が，当該「復帰禁止異常判定閾値」に対応する異常判定回数を超えることを判定した場合に異常解消の判定が以後行われない，（ｂ）ある異常判定閾値について，その異常判定閾値に対応して定められた「復帰禁止異常判定回数」（その異常判定閾値に対応する異常判定回数を超える回数で定める）を持ち，監視値が異常判定閾値を上回るまたは下回る回数が，復帰禁止異常判定回数を超えたことを判定した場合に異常解消の判定が以後行われないなどがある。
【０１８６】
複数の出力手段を有し，そのうち少なくとも１つの出力手段にかかる異常判定条件または復帰判定条件が，他の出力手段にかかる異常判定条件または復帰判定条件と異なる上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法または復帰判定方法は，本発明または本発明に関連する発明である。
【０１８７】
出力手段は，前述のように，音響手段，光学手段，信号手段，通信手段等がある。複数の出力手段を有し，そのうち少なくとも１つの出力手段（以後，指定出力手段と呼ぶ）にかかる異常判定条件を他の出力手段にかかる異常判定条件と異ならせることにより，使用者は，指定出力手段を認知することによってどのような異常判定条件が成立したかが明確にわかる。例えば，指定出力手段として，（ａ）音響手段の出力に，人に危険を及ぼし得ることが予想される異常の異常判定条件を割り当て，（ｂ）光学手段の出力に，他のシステムへの影響度が高い異常の異常判定条件を割り当て，（ｃ）信号手段の出力に，ただちに危険を及ぼさない異常の異常判定条件を割り当てる。使用者は，予め，音響手段は，人に危険を及ぼし得ることが予想される異常が発生した時に出力すること，光学手段は，他のシステムへの影響度が高い異常が発生した時に出力すること，信号手段は，ただちに危険を及ぼさない異常が発生した時に出力することを知っていれば，音響手段の出力により，人に危険を及ぼし得ることが予想される異常が発生したことを認知することができ，光学手段の出力により，他のシステムへの影響度が高い異常が発生したことを認知することができ，信号手段の出力により，ただちに危険を及ぼさない異常が発生したことを認知することができる。なお，信号手段は，遠隔で別の場所に出力することができるため，その場にいる使用者に異常を知らせず，予防的に異常の予兆を，例えば別の場所にいる使用者（メンテナンス会社等）に知らせることができ，別の場所にいる使用者は，信号手段の出力により，ただちに危険を及ぼさない異常が発生したことを認知することができる。同様に，複数の出力手段を有し，そのうち指定出力手段にかかる復帰判定条件を他の出力手段にかかる復帰判定条件と異ならせることにより，使用者は，出力手段を認知することによってどのような復帰判定条件が成立したかが明確にわかる。例えば，指定出力手段として，（ａ）音響手段の停止は，人に危険を及ぼし得ることが予想される異常からの復帰判定条件を割り当て，（ｂ）光学手段の停止は，他のシステムへの影響度が高い異常からの復帰判定条件を割り当て，（ｃ）信号手段の停止は，ただちに危険を及ぼさない異常からの復帰判定条件に割り当てると使用者は，予め，音響手段は，人に危険を及ぼし得ることが予想される異常から復帰した時に停止すること，光学手段は，他のシステムへの影響度が高い異常から復帰したときに停止すること，信号手段は，ただちに危険を及ぼさない異常から復帰した時に停止することを知っていれば，音響手段の停止により，人に危険を及ぼし得ることが予想される異常から復帰したことを認知することができ，光学手段の停止により，他のシステムへの影響度が高い異常から復帰したことを認知することができ，信号手段の停止により，ただちに危険を及ぼさない異常から復帰したことを認知することができる。以上のように，使用者は出力手段により，発生した異常や復帰した異常を明確に判断することができる。なお，前述の複数の出力手段は，異なる音響手段（例えば，連続の出力と断続の出力，音色，音量），異なる光学手段（例えば，点滅間隔，点灯時間，色）異なる信号手段，異なる通信手段も含まれる。
【０１８８】
上述した本発明または本発明に関連する発明の異常判定方法または復帰判定方法をもつ電子機器は，本発明または本発明に関連する発明である。
【０１８９】
異常判定後，出力手段により異常状態を出力する上述した本発明または本発明に関連する発明の電子機器は，本発明または本発明に関連する発明である。
【０１９０】
前記電子機器は警報器，警報装置，または計量器である上述した本発明または本発明に関連する発明の電子機器は，本発明または本発明に関連する発明である。
【０１９１】
【発明の効果】
以上述べたところから明らかなように，本発明は，たとえばガス警報器における機器異常が発生しているか否かの判定をより適切に行うことができるという長所を有する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる実施の形態１の異常判定方法を具備する機器異常判断装置の構成図である。
【図２】（Ａ）本発明にかかる実施の形態１の機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック１１１の説明図である。
（Ｂ）本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック１３１の説明図である。
【図３】本発明にかかる実施の形態１の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル１２１の説明図である。
【図４】本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル１４１の説明図である。
【図５】本発明にかかる実施の形態１の異常判定方法を具備する機器異常判断装置のフローチャートである。
【図６】本発明にかかる実施の形態２の異常判定方法を具備する機器異常判断装置の構成図である。
【図７】（Ａ）本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１の説明図である。
（Ｂ）本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック２１１′の説明図である。
（Ｃ）本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック１３１の説明図である。
【図８】本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１の説明図である。
【図９】本発明にかかる実施の形態２の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル２２１′の説明図である。
【図１０】本発明にかかる実施の形態１の機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル１４１の説明図である。
【図１１】本発明にかかる実施の形態２の異常判定方法を具備する機器異常判断装置のフローチャートである。
【図１２】本発明にかかる実施の形態３の異常判定方法を具備する機器異常判断装置の構成図である。
【図１３】（Ａ）本発明にかかる実施の形態３の機器異常発生温度値ステージ算出処理ブロック３１１の説明図である。
（Ｂ）本発明にかかる実施の形態３の機器異常解消温度値ステージ算出処理ブロック３３１の説明図である。
【図１４】本発明にかかる実施の形態３の機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル３２１の説明図である。
【図１５】本発明にかかる実施の形態３の機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル３４１の説明図である。
【図１６】本発明にかかる実施の形態３の異常判定方法を具備する機器異常判断装置のフローチャートである。
【図１７】本発明にかかる異常判定方法に関する説明図（その１）である。
【図１８】本発明にかかる異常判定方法に関する説明図（その２）である。
【図１９】本発明にかかる反限時特性に関する説明図である。
【図２０】本発明にかかる瞬時値および実効値に関する説明図である。
【図２１】本発明にかかる異常判定方法に関する説明図（その３）である。
【図２２】本発明にかかる異常判定方法に関する説明図（その４）である。
【図２３】（Ａ）本発明にかかる実効値に関する説明図（その１）である。
（Ｂ）本発明にかかる実効値に関する説明図（その２）である。
（Ｃ）本発明にかかる実効値に関する説明図（その３）である。
【符号の説明】
１１０機器異常発生電圧値ステージ算出回路
１１１機器異常発生電圧値ステージ算出処理ブロック
１２０機器異常発生条件成立／不成立算出回路
１２１機器異常発生条件成立／不成立算出テーブル
１３０機器異常解消電圧値ステージ算出回路
１３１機器異常解消電圧値ステージ算出処理ブロック
１４０機器異常解消条件成立／不成立算出回路
１４１機器異常解消条件成立／不成立算出テーブル
１５０外部出力回路[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  The present invention relates to an abnormality determination method for determining, for example, whether an abnormality has occurred in an alarm device, an alarm device, or a measuring instrument,OhAnd electronic devices.
[0002]
[Prior art]
Electronic devices such as televisions, radios, washing machines, vacuum cleaners, refrigerators, watches, etc., function for safety when judging the occurrence of malfunctions such as breakdowns (specifically, the function of projecting images on televisions, In many cases, the function of producing a sound for a radio and the function of keeping the inside of a refrigerator at a low temperature for a refrigerator are stopped. As a method for determining the occurrence of an abnormality, a method of using voltage such as wiring of electronic equipment and parts, a method of using output of voltage, current, resistance value, etc. from a circuit that performs some output such as a temperature sensor or a pressure sensor speaker There are a method of using the rotation speed and temperature of a motor, a method of using a potential and temperature on an electronic circuit, and the like (for example, see Patent Document 1).
[0003]
By the way, if the occurrence of an abnormality is determined in this way and the function is erroneously stopped easily even though no abnormality has occurred, there is a case in which the user is unduly inconvenienced.
[0004]
On the other hand, when the occurrence of an abnormality is determined over a long period of time, it is less likely that the function will be stopped accidentally even though no abnormality has occurred, but it involves a fire or electric leakage that must be notified to the user sooner. When a serious abnormality occurs, the determination of the abnormality may be delayed, and the life and property of the user may be greatly affected.
[0005]
Therefore, a more accurate process is required as a method for determining the occurrence of an abnormality in a device.
[0006]
In particular, safety equipment and measuring instruments used for commercial transactions are likely to have a direct impact on the user's life assets (security equipment protects or maintains the life and assets of the user). (This includes equipment installed in buildings such as fire alarms, gas leak alarms, incomplete combustion alarms, crime prevention equipment, and equipment that is attached to or embedded in human bodies such as life support devices and pacemakers) . In addition, the reliability of measuring instruments used in commercial transactions can directly affect the economic loss of users. For this reason, it is necessary for safety devices and measuring instruments to determine the occurrence of device abnormalities with high accuracy.
[0007]
For example, an electric circuit voltage value of a gas sensor or the like incorporated in the device is input as a read signal at a timing of once / minute, and the instantaneous value V of the input electric circuit voltage value is a reference value V₀The index of equipment failure occurrence indicating how far it is from
[0008]
[Expression 1]
α = 100 × | V−V₀| / V₀(%)
Is a predetermined abnormality determination threshold value α₁There is an apparatus abnormality determination device that determines that an apparatus abnormality has occurred in a state exceeding the above (in this specification, superscripts and subscripts in mathematical expressions are used as subscripts).
[0009]
Of course, such a device abnormality determination device determines that no abnormality has occurred when the device abnormality occurrence index value does not exceed the abnormality determination threshold value. Therefore, the device abnormality occurrence index value that has exceeded the device abnormality threshold value is determined. When the abnormality determination threshold is interrupted, it is determined whether or not the abnormality is resolved.
[0010]
[Patent Document 1]
JP-A-9-114704
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, in such an apparatus abnormality determination device, it is affected by sudden noise, ripple, or the like because it uses the instantaneous value of the input electric circuit voltage value to determine whether an abnormality has occurred. In some cases, when an abnormality does not actually occur, it is erroneously determined that an abnormality has occurred.
[0012]
Further, in the conventional device abnormality judgment device, when the electric circuit voltage value behaves so that the above-mentioned device abnormality index value fluctuates up and down near the abnormality judgment threshold, the judgment of occurrence / resolution of the abnormality is made in a short cycle. Repeatedly, the alarm sound for notifying the outside of the occurrence of an abnormality was frequently output / stopped, which sometimes resulted in poor usability.
[0013]
As described above, the conventional apparatus abnormality determination device has a problem that it may not be possible to appropriately determine whether or not an abnormality has occurred in the apparatus.
[0014]
  The present invention takes into account the above-described conventional problems, for example, an abnormality determination method capable of more appropriately determining an abnormality in a gas alarm device,OhAnd an electronic device.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
  The first aspect of the present invention is,Monitoring value is2Abnormality judgment method with two or more different calculation valuesBecause
Abnormality determination using two or more abnormality determination conditions determined for each monitoring value for determining occurrence of abnormality when the number of times the monitored value exceeds or falls below the abnormality determination threshold exceeds the number of abnormality determination An abnormality determination step for performing
At least one of the two or more different calculated values is an instantaneous value;
An abnormality determination method in which at least one of the two or more different calculated values is an effective value.It is.
The second aspect of the present invention is the abnormality determination method according to the first aspect of the present invention, wherein the instantaneous value is the read value itself.
The third aspect of the present invention is the abnormality determination method according to the first aspect of the present invention, wherein the effective value is the calculated value obtained by performing a calculation for removing noise on the read value. .
The fourth aspect of the present invention is the abnormality determination method according to the first aspect of the present invention, wherein the relationship between the deviation amount of the abnormality determination threshold value from the monitoring value normal reference value and the number of abnormality determinations has an inverse time characteristic. .
The fifth aspect of the present invention is the abnormality determination method according to the first aspect of the present invention, in which the operation after the abnormality determination is performed for each abnormality determination condition is different.
The sixth aspect of the present invention is the abnormality determination method according to the first aspect of the present invention, wherein the abnormality determination condition is an abnormality determination condition that freezes the subsequent return determination when a predetermined return prohibition condition is satisfied.
In a seventh aspect of the present invention, the abnormality determination condition corresponding to at least one of the two or more output means is different from the abnormality determination condition corresponding to the other output means. This is an abnormality determination method.
The eighth aspect of the present invention is the abnormality determination method according to the first aspect of the present invention, wherein the two or more different calculation values are based on the same reading value.
A ninth aspect of the present invention is an electronic device that performs the abnormality determination using any one of the first to eighth abnormality determination methods of the present invention.
[0027]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0028]
(Embodiment 1)
First, the configuration of the abnormality determination method according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 1 which is a configuration diagram of a device abnormality determination apparatus including the abnormality determination method according to the first embodiment of the present invention.
[0029]
The abnormality determination method according to the present embodiment is an abnormality determination method for determining occurrence of abnormality in a voltage value of a specific part in a circuit based on two or more abnormality determination thresholds and the number of abnormality determinations corresponding to each abnormality determination threshold.
[0030]
The device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 111 is as described above with reference to FIG. 2A which is an explanatory diagram of the device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 111 according to the first embodiment of the present invention. The instantaneous value V of the electric circuit voltage value for judging whether or not an abnormality has occurred¹Equipment abnormality occurrence voltage value stage S¹Is a processing block for calculating.
[0031]
Here, the device abnormality occurrence voltage value stage S¹Is the instantaneous value V¹Is the reference value V¹ ₀The index of equipment failure occurrence indicating how far it is from
[0032]
[Expression 2]
α¹= 100 × | V¹-V¹ ₀| / V¹ ₀(%)
And abnormality determination threshold α¹ _kIt is defined using the magnitude relationship with (k = 1,..., 4). More specifically, (0) S¹= 0 means α¹≦ α¹ ₁(1) S¹= 1 means α¹ ₁<Α¹≦ α¹ ₂(2) S¹= 2 is α¹ ₂<Α¹≦ α¹ _Three(3) S¹= 3 means α¹ _Three<Α¹≦ α¹ _Four(4) S¹= 4 is α¹ _Four<Α¹It is to be. In this embodiment,
[0033]
[Equation 3]
V¹ ₀= 5 (V)
[0034]
[Expression 4]
α¹ ₁= 5 (%), α¹ ₂= 10 (%), α¹ _Three= 25 (%), α¹ _Four= 50 (%) is set (in FIG. 2A, the device abnormality occurrence index value with a sign obtained by removing the absolute value symbol in (Equation 2) is shown, but the same applies hereinafter. ).
[0035]
The device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 110 inputs the above-described electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / minute, and looks at the device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 111 to input the electric circuit. Instantaneous voltage value V¹Equipment abnormality occurrence voltage value stage S¹And outputs a signal for notifying the calculation result to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120.
[0036]
As shown in FIG. 3 which is an explanatory diagram of the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 121 according to the first embodiment of the present invention, the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 121 has the above-described abnormality. Device abnormality occurrence condition C for calculating whether or not it has occurred¹ _kIt is a table for calculating whether (k = 1, ..., 4) is materialized.
[0037]
Here, equipment abnormality occurrence condition C¹ _kIs the device abnormality occurrence voltage value stage S¹Is a predetermined device abnormality occurrence voltage value level L¹ _kThe device abnormality occurrence voltage value level L¹ _kA predetermined number of times I determined for each¹ _kIt is defined as having been continuously exceeded. In this embodiment,
[0038]
[Equation 5]
L¹ ₁= 1, L¹ ₂= 2, L¹ _Three= 3, L¹ _Four= 4
I¹ ₁= 25 (times), I¹ ₂= 10 (times), I¹ _Three= 2 (times), I¹ _Four= 1 (times)
Is set.
[0039]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120 receives the signal output from the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 110 and looks at the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 121 to detect the device abnormality occurrence condition C.¹ _kA circuit that calculates whether or not (k = 1,..., 4) is satisfied and outputs a signal for notifying the calculation result to the external output circuit 150 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140. (Of course, the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120 receives the signal output by the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 110 and uses the input result as the device abnormality occurrence condition C).¹ _k(Recording is made as an input history as much as necessary to calculate whether or not k = 1,..., 4).
[0040]
The device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 131 is as described above with reference to FIG. 2B, which is an explanatory diagram of the device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 131 according to the first embodiment of the present invention. Instantaneous value V of electrical circuit voltage value¹Equipment abnormality elimination voltage value stage T¹Is a processing block for calculating.
[0041]
Here, the device abnormality elimination voltage value stage T¹Is the instantaneous value V¹Is the reference value V¹ ₀Equipment abnormality elimination index value indicating how far away from the device
[0042]
[Formula 6]
β¹= Α¹= 100 × | V¹-V¹ ₀| / V¹ ₀(%)
And return determination threshold β¹ ₁It is defined using the magnitude relationship with. More specifically, (0) T¹= 0 means β¹≦ β¹ ₁(1) T¹= 1 means β¹ ₁<Β¹It is to be. In this embodiment,
[0043]
[Expression 7]
β¹ ₁= Α¹ ₁= 5 (%)
Is set.
[0044]
The equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 130 inputs the above-described electrical circuit voltage value as a read signal at a timing of 1 time / minute, and looks at the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 131 to input the electrical circuit. Instantaneous voltage value V¹Equipment abnormality elimination voltage value stage T¹And outputs a signal for notifying the calculation result to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140.
[0045]
As shown in FIG. 4, which is an explanatory diagram of the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 141 according to the first embodiment of the present invention, the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 141 is described above. Device abnormality elimination condition D for calculating whether or not¹ _kIt is a table for calculating whether (k = 1, ..., 4) is materialized.
[0046]
Here, equipment abnormality elimination condition D¹ _kIs the device abnormality occurrence voltage value stage S¹Is the device abnormality occurrence voltage value level L¹ _kTimes I¹ _kAfter continuously exceeding the above, the device abnormality elimination voltage value stage T¹Is the device abnormal voltage level 0 and the device abnormal voltage level L¹ _kPredetermined number of times J determined for each¹ _kIt is defined as having been kept continuously. In this embodiment,
[0047]
[Equation 8]
  J¹ ₁= 2 (times), J¹ ₂= 10 (times), J¹ _Three= 25 (times), J¹ _Four= ∞ (times)
Is set. J¹ _Four= ∞ (times) In short, the device abnormality occurrence voltage value stage S¹Is the device abnormality occurrence voltage value level L¹ _Four= 4 times I¹ _Four= 1 (times) or more continuously means that it is not calculated that the device abnormality has been resolved (the same applies hereinafter).Or an invention related to the present inventionThis is one of the embodiments of the return prohibition condition.
[0048]
The device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140 inputs the signals output by the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 130 and the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120, and an equipment abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table. 141, equipment abnormality elimination condition D¹ _kIt is a circuit that calculates whether (k = 1,..., 4) is satisfied and outputs a signal for notifying the calculation result to the external output circuit 150 (of course, the device abnormality elimination condition is satisfied / not satisfied) The calculation circuit 140 receives signals output by the device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 130 and the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120, and the result of the input is the device abnormality elimination condition D.¹ _k(Recording is made as an input history as much as necessary to calculate whether or not k = 1,..., 4).
[0049]
The external output circuit 150 inputs the signal output by the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120 and the signal output by the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140, and (1) device abnormality occurrence condition C¹ _kAny one of (k = 1,..., 4) is established, or (2) Device abnormality elimination condition D¹ _kWhen it is determined that any one of (k = 1,..., 4) is not established, this is a circuit that outputs a signal for notifying the occurrence of device abnormality to the outside as an external output signal.
[0050]
However, device abnormality occurrence voltage value stage S¹Is the device abnormality occurrence voltage value level L¹ _kTimes I¹ _kIf it has never been exceeded, the device abnormality elimination condition D¹ _kIs interpreted to hold.
[0051]
  Note that the device abnormality occurrence index value and the device abnormality elimination index value areOr an invention related to the present inventionCorresponds to the “deviation amount from the normal value for abnormal value”. I¹ _kIs the present inventionOr an invention related to the present inventionThis corresponds to the number of abnormal judgments. J¹ _kIs the present inventionInventions related toThis corresponds to the number of return judgments. Reference value V¹ ₀Is the present inventionOr an invention related to the present inventionCorresponds to the normal reference value. The device abnormality occurrence condition is the present invention.Or an invention related to the present inventionThis corresponds to the abnormal determination condition. The condition for eliminating device abnormality is the same as that of the present invention.Inventions related toThis corresponds to the return judgment condition.
[0052]
Next, the abnormality determination method according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 5 which is a flowchart of the device abnormality determination apparatus including the abnormality determination method according to the first embodiment of the present invention.
[0053]
Step 1: The device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 110 inputs the electric circuit voltage value described above as a read signal at a timing of once / minute. The instantaneous value V of the measured electric circuit voltage value¹Equipment abnormality occurrence voltage value stage S¹And a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120.
[0054]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120 receives the signal output from the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 110 and looks at the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 121 to detect the device abnormality occurrence condition C.¹ _kIt is calculated whether or not (k = 1,..., 4) is established, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 150 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140.
[0055]
Step 2: The equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 130 inputs the above-described electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / minute, and sees the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 131 to input it. The instantaneous value V of the measured electric circuit voltage value¹Equipment abnormality elimination voltage value stage T¹And a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140.
[0056]
The device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140 inputs the signals output by the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 130 and the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120, and an equipment abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table. 141, equipment abnormality elimination condition D¹ _kIt is calculated whether or not (k = 1,..., 4) is established, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 150.
[0057]
Step 3: The external output circuit 150 inputs the signal output by the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 120 and the signal output by the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 140, and (1) device abnormality occurrence Condition C¹ _kAny of (k = 1,..., 4) is satisfied, or (2) Device abnormality elimination condition D¹ _kWhen it is determined that any one of (k = 1,..., 4) is not established, a signal for notifying the occurrence of abnormality to the outside is output to the outside as a matter of course (external output circuit 150, otherwise, the signal for notifying the outside of the occurrence of abnormality is not output to the outside as an external output signal).
[0058]
According to the present embodiment, the deviation amount of the abnormality determination threshold from the monitoring value normal reference value and the number of abnormality determinations (I¹ _k) Is an inverse time characteristic, making it possible to reliably determine the occurrence of an abnormality according to the degree of influence of an equipment abnormality, while preventing a decrease in convenience due to a misjudgment and increasing the degree of influence. It is possible to determine the occurrence of an abnormality more quickly. In addition, by using the return judgment condition according to the degree of influence of the abnormality, (1) it is possible to quickly return an abnormality with a small degree of influence to ensure convenience, and (2) an abnormality with a large degree of influence. With regard to, it is possible to ensure sufficient safety by returning after performing sufficient confirmation.
[0059]
(Embodiment 2)
First, the configuration of the abnormality determination method according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 6 which is a configuration diagram of a device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the second embodiment of the present invention.
[0060]
The abnormality determination method of the present embodiment has a configuration similar to that of the device abnormality determination device (see FIG. 1) of the first embodiment described above, and two abnormal voltage values in a specific part in the circuit are detected. This is an abnormality determination method for determining an abnormality based on the above abnormality determination thresholds and the number of abnormality determinations corresponding to each abnormality determination threshold. The feature of the device abnormality judgment device of this embodiment is (1) using instantaneous (measured) values (read signal itself) that cannot be generated by ripples and noises, but are apparently caused by the occurrence of abnormality. (2) By using a highly reliable effective value (for example, an averaged read signal) that eliminates the effects of ripples and noise, it is possible to detect anomalies according to the degree of influence. It is in the point to judge reliably.
[0061]
The device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211 is described above with reference to FIG. 7A, which is an explanatory diagram of the device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211 according to the second embodiment of the present invention. Instantaneous value V of electric circuit voltage value for determining occurrence of abnormality²Equipment abnormality occurrence voltage value stage S²Is a processing block for calculating.
[0062]
Here, the device abnormality occurrence voltage value stage S²Is the instantaneous value V²Is the reference value V² ₀The index of equipment failure occurrence indicating how far it is from
[0063]
[Equation 9]
α²= 100 × | V²-V² ₀| / V² ₀(%)
And abnormality determination threshold α² _kIt is defined using the magnitude relationship with (k = 1,..., 3). More specifically, (0) S²= 0 means α²≦ α² ₁(1) S²= 1 means α² ₁<Α²≦ α² ₂(2) S²= 2 is α² ₂<Α²≦ α² _Three(3) S²= 3 means α² _Three<Α²It is to be. In this embodiment,
[0064]
[Expression 10]
V² ₀= 5 (V)
[0065]
## EQU11 ##
α² ₁= 10 (%), α² ₂= 25 (%), α² _Three= 50 (%)
Is set.
[0066]
The device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 inputs the above-described electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / 0.1 second, and sees and inputs the device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211. Instantaneous value V of electric circuit voltage value²Equipment abnormality occurrence voltage value stage S²And a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220.
[0067]
As shown in FIG. 8 which is an explanatory diagram of the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 according to the second embodiment of the present invention, the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 has the above-described abnormality. Device abnormality occurrence condition C for calculating whether or not it has occurred² _kIt is a table for calculating whether (k = 1, ..., 3) is materialized.
[0068]
Here, equipment abnormality occurrence condition C² _kIs the device abnormality occurrence voltage value stage S²Is a predetermined device abnormality occurrence voltage value level L² _kThe device abnormality occurrence voltage value level L² _kA predetermined number of times I determined for each² _kIt is defined as having been continuously exceeded. In this embodiment,
[0069]
[Expression 12]
L² ₁= 1, L² ₂= 2, L² _Three= 3
I² ₁= 25 (times), I² ₂= 10 (times), I² _Three= 1 (times)
Is set.
[0070]
The equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220 receives the signal output from the equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 and looks at the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 to obtain the equipment abnormality occurrence condition C.² _kA circuit that calculates whether (k = 1,..., 3) is satisfied and outputs a signal for notifying the calculation result to the external output circuit 250 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240. is there.
[0071]
The equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211 'is shown in FIG. 7B, which is an explanatory diagram of the equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211' according to the second embodiment of the present invention. , The effective value V of the electric circuit voltage value for determining whether or not the aforementioned device abnormality has occurred²′ Equipment abnormality occurrence voltage value stage S²This is a processing block for calculating ′.
[0072]
Here, the device abnormality occurrence voltage value stage S²Is the effective value V²'Is the reference value V² ₀Equipment abnormality occurrence index value indicating how far away from ′
[0073]
[Formula 13]
α²′ = 100 × | V²'-V² ₀′ | / V² ₀′ (%)
And abnormality determination threshold α² _k′ (K = 1,..., 3). More specifically, (0) S²'= 0 means α²′ ≦ α² ₁(1) S²'= 1 means α² ₁′ <Α²′ ≦ α² ₂(2) S²'= 2 means α² ₂′ <Α²′ ≦ α² _Three(3) S²'= 3 means α² _Three′ <Α²It is ′. In this embodiment,
[0074]
[Expression 14]
V² ₀'= V² ₀= 5 (V)
[0075]
[Expression 15]
α² ₁′ = 5 (%), α² ₂′ = 10 (%), α² _Three'= 25 (%)
Is set.
[0076]
The electric circuit voltage value accumulating / averaging circuit 260 inputs the electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / 0.1 second, accumulates and averages the electric circuit voltage value, and calculates the effective value V of the electric circuit voltage value.²′ And outputs a signal for notifying the calculation result to the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 ′ and the device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230.
[0077]
The equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 'receives the signal output by the electrical circuit voltage value accumulation / averaging circuit 260, and looks at the equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211' to input the input electric circuit. Effective value V of voltage value²′ Equipment abnormality occurrence voltage value stage S²′ And outputs a signal for notifying the calculation result to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220 ′.
[0078]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 ′ is the above-mentioned description of the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 ′ according to the second embodiment, as shown in FIG. Device abnormality occurrence condition C for calculating whether or not device abnormality has occurred² _kThis is a table for calculating whether or not ′ (k = 1,..., 3) is established.
[0079]
Here, equipment abnormality occurrence condition C² _k'Is the device abnormality occurrence voltage value stage S²′ Is a predetermined device abnormality occurrence voltage value level L² _k′ Is the device abnormality occurrence voltage level L² _kA predetermined number of times I determined for each ′² _kIt is defined as having exceeded more than '. In this embodiment,
[0080]
[Expression 16]
L² ₁'= 1, L² ₂'= 2, L² _Three′ = 3
I² ₁′ = 10 (times), I² ₂′ = 2 (times), I² _Three′ = 1 (times)
Is set.
[0081]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220 ′ receives the signal output from the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 ′, and looks at the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 ′ to check the device abnormality occurrence condition. C² _k′ (K = 1,..., 3) is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 250 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240. It is.
[0082]
The device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 231 is described above with reference to FIG. 7C, which is an explanatory diagram of the device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 231 according to the first embodiment of the present invention. Instantaneous value V of electrical circuit voltage value²Equipment abnormality elimination voltage value stage T²And the effective value V of the electric circuit voltage value described above.²′ Equipment abnormality elimination voltage value stage T²This is a processing block for calculating ′.
[0083]
Here, the device abnormality elimination voltage value stage T²Is the instantaneous value V²Is the reference value V² ₀Equipment abnormality elimination index value indicating how far away from the device
[0084]
[Expression 17]
β²= Α²= 100 × | V²-V² ₀| / V² ₀(%)
And return determination threshold β² ₁It is defined using the magnitude relationship with. More specifically, (0) T²= 0 means β²≦ β² ₁(1) T²= 1 means β² ₁<Β²It is to be. In this embodiment,
[0085]
[Formula 18]
β² ₁= Α² ₁'= 5 (%)
Is set.
[0086]
In addition, the device abnormality elimination voltage value stage T²Is the effective value V²'Is the reference value V² ₀Equipment abnormality elimination index value indicating how far away from ′
[0087]
[Equation 19]
β²′ = Α²′ = 100 × | V²'-V² ₀′ | / V² ₀′ (%)
And return determination threshold β² ₁It is defined using the magnitude relationship with ′. More specifically, (0) T²'= 0 means β²′ ≦ β² ₁(1) T²′ = 1 means β² ₁′ <Β²It is ′. In this embodiment,
[0088]
[Expression 20]
β² ₁′ = Α² ₁'= 5 (%)
Is set.
[0089]
The device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230 inputs the above-described electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / 0.1 second, and sees and inputs the device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 231. Instantaneous value V of electric circuit voltage value²Equipment abnormality elimination voltage value stage T²And outputs a signal for notifying the calculation result to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240. The device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230 receives the signal output by the electric circuit voltage value accumulation / averaging circuit 260, and looks at the device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 231 to input the input electric circuit. Effective value V of voltage value²′ Equipment abnormality elimination voltage value stage T²′ And outputs a signal for notifying the calculation result to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240.
[0090]
As shown in FIG. 10 which is an explanatory diagram of the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 241 according to the second embodiment of the present invention, the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 241 is described above. Device abnormality elimination condition D for calculating whether or not² _k, D² _kThis is a table for calculating whether or not ′ (k = 1,..., 3) is established.
[0091]
Here, equipment abnormality elimination condition D² _kIs the device abnormality occurrence voltage value stage S²Is the device abnormality occurrence voltage value level L² _kTimes I² _kAfter continuously exceeding the above, the device abnormality elimination voltage value stage T²And T²'Is the device abnormal voltage level 0 and the device abnormal voltage level 0² _kPredetermined number of times J determined for each² _kIt is defined as having been kept continuously. In this embodiment,
[0092]
[Expression 21]
J² ₁= 2 (times), J² ₂= 10 (times), J² _Three= ∞ (times)
Is set.
[0093]
In addition, device abnormality elimination condition D² _k'Is the device abnormality occurrence voltage value stage S²'Is the device abnormality occurrence voltage level L² _k′ Times I² _k'After continuously exceeding more than, the device abnormality elimination voltage value stage T²And T²'Is the device abnormality voltage level 0 and the device abnormality voltage level L² _kA predetermined number of times J² _kIt is defined as having kept more than '. In this embodiment,
[0094]
[Expression 22]
J² ₁′ = 10 (times), J² ₂′ = 25 (times), J² _Three′ = ∞ (times)
Is set.
[0095]
The device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240 inputs the signals output by the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230 and the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuits 220 and 220 ', Device failure elimination condition D by looking at failure calculation table 241² _k, D² _k′ (K = 1,..., 3) is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 250.
[0096]
The external output circuit 250 inputs the signal output by the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220, 220 'and the signal output by the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240. (1) Device abnormality occurrence condition C² _k, C² _k′ (K = 1,..., 3) is satisfied, or (2) Device abnormality elimination condition D² _k, D² _kWhen it is determined that any one of ′ (k = 1,..., 3) is not established, the circuit outputs a signal for notifying the occurrence of abnormality to the outside as an external output signal.
[0097]
However, device abnormality occurrence voltage value stage S¹Is the device abnormality occurrence voltage value level L¹ _kTimes I¹ _kIf it has never been exceeded, the device abnormality elimination condition D¹ _kIs interpreted to hold. In addition, device abnormality occurrence voltage value stage S¹'Is the device abnormality occurrence voltage level L¹ _k′ Times I¹ _kIf there is no more than '¹ _k′ Is interpreted to hold.
[0098]
  Note that the device abnormality occurrence index value and the device abnormality elimination index value areOr an invention related to the present inventionThis corresponds to the “deviation amount from the normal value of the monitoring value”. I² _k, I² _k'Is the present inventionOr an invention related to the present inventionThis corresponds to the number of abnormal judgments. J² _k, J² _k'Is the present inventionInventions related toThis corresponds to the number of return judgments. Reference value V² ₀Is the present inventionOr an invention related to the present inventionCorresponds to the normal reference value. The instantaneous value isOr an invention related to the present inventionCorresponds to the monitored value. The device abnormality occurrence condition is the present invention.Or an invention related to the present inventionThis corresponds to the abnormal determination condition. The condition for eliminating device abnormality is the same as that of the present invention.Inventions related toThis corresponds to the return judgment condition.
[0099]
Next, the abnormality determination method according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 11 which is a flowchart of the gas alarm device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the second embodiment of the present invention.
[0100]
Step 1: The device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 inputs the electric circuit voltage value described above as a read signal at a timing of once / 0.1 second, and looks at the device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211. The instantaneous value V of the input electric circuit voltage value²Equipment abnormality occurrence voltage value stage S²And a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220.
[0101]
The equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220 receives the signal output from the equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 and looks at the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 to obtain the equipment abnormality occurrence condition C.² _kIt is calculated whether or not (k = 1,..., 3) is established, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 250 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240.
[0102]
Step 2: The electric circuit voltage value accumulation / averaging circuit 260 inputs the electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / 0.1 second, accumulates and averages the electric circuit voltage value, and calculates the electric circuit voltage value. RMS value V²′ Is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 ′.
[0103]
The equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 'receives the signal output by the electrical circuit voltage value accumulation / averaging circuit 260, and looks at the equipment abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211' to input the input electric circuit. Effective value V of voltage value²′ Equipment abnormality occurrence voltage value stage S²′ Is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220 ′.
[0104]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 220 ′ receives the signal output from the device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit 210 ′, and looks at the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 ′ to check the device abnormality occurrence condition. C² _k′ (K = 1,..., 3) is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 250 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240.
[0105]
Step 3: The device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230 inputs the electric circuit voltage value described above as a read signal at a timing of once / 0.1 second, and looks at the device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 231. The instantaneous value V of the input electric circuit voltage value²Equipment abnormality elimination voltage value stage T²And a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240.
[0106]
The electric circuit voltage value accumulating / averaging circuit 260 inputs the electric circuit voltage value as a read signal at a timing of once / 0.1 second, accumulates and averages the electric circuit voltage value, and calculates the effective value V of the electric circuit voltage value.²′ Is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230. The equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230 receives the signal output from the electrical circuit voltage value accumulation / averaging circuit 260, and looks at the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation processing block 231 to input the inputted electrical circuit voltage value. RMS value V²′ Equipment abnormality elimination voltage value stage T²′ Is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240.
[0107]
The device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240 inputs the signals output by the equipment abnormality elimination voltage value stage calculation circuit 230 and the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuits 220 and 220 ', Device failure elimination condition D by looking at failure calculation table 241¹ _k, D² _k′ (K = 1,..., 3) is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 250.
[0108]
Step 4: The external output circuit 250 inputs the signal output by the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuits 220 and 220 'and the signal output by the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 240 (1) Abnormal condition C² _k, C² _k′ (K = 1,..., 3) is satisfied, or (2) Device abnormality elimination condition D² _k, D² _kWhen it is determined that any one of ′ (k = 1,..., 3) is not satisfied, a signal for notifying the occurrence of abnormality to the outside is output to the outside as an external output signal.
[0109]
According to the present embodiment, in addition to the effects of the first embodiment described above, (1) measurement data that cannot be generated due to ripples or noise and that is apparently caused by the occurrence of equipment abnormality is instantaneously ( (Measurement) values are used for detection, and (2) highly reliable measurement data that eliminates the effects of ripples and noise is detected using effective values, so that device abnormalities can be generated according to the degree of influence. Judgment can be made more reliably. In addition, the device abnormality elimination conditions are made stricter (the set {β used to define the equipment abnormality elimination conditions {β²<5} is a set {α used to define the device abnormality occurrence condition²= Β²With a dead zone between ≧ 10}, the safety / deterioration is prevented while preventing the occurrence of device abnormality / resolving from being repeated frequently due to slight fluctuations in measured data. It can be secured sufficiently.
[0110]
  In this embodiment, the present inventionOr an invention related to the present inventionAs the “two or more different calculated values calculated based on the same reading value”, the instantaneous value of the reading value itself and the effective value obtained by averaging the reading values were used. The “calculated two or more different calculation values” may be calculation values (for example, an average value of eight reading values and an average value of 100 reading values) in which the number of reading values used in the calculation is different. Different average values, integral values, logarithmic average values, weighted average values, and the like may be used.
[0111]
Of course, combinations (for example, a combination of an average value of 8 reading values and a weighted average value of 100 reading values) in which the number of reading values used in the calculation and the calculation method are different are also included.
[0112]
(Embodiment 3)
First, the configuration of the abnormality determination method of the present embodiment will be described with reference to FIG. 12, which is a configuration diagram of a device abnormality determination device provided with the abnormality determination method of Embodiment 3 according to the present invention.
[0113]
The abnormality determination method of the present embodiment has a configuration similar to that of the device abnormality determination device (see FIG. 1) of the first embodiment described above, and a temperature thermistor (not shown) built in the temperature measuring device. This abnormality determination method determines an abnormality based on two or more abnormality determination thresholds and the number of abnormality determinations corresponding to each abnormality determination threshold. The feature of the abnormality determination method of this embodiment is that abnormality determination is not performed thereafter when measurement data that is considered to be caused by the occurrence of abnormality is permanently input.
[0114]
The equipment abnormality occurrence temperature value stage calculation processing block 311 is described above with reference to FIG. 13A which is an explanatory diagram of the equipment abnormality occurrence temperature value stage calculation processing block 311 according to the third embodiment of the present invention. Temperature value t for determining whether or not an abnormality has occurred^ThreeEquipment abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeIs a processing block for calculating.
[0115]
Here, the device abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeIs the temperature value t^ThreeIs the reference value t^Three ₀The index of equipment failure occurrence indicating how far it is from
[0116]
[Expression 23]
α^Three= 100 × | t^Three-T^Three ₀| / T^Three ₀(%)
And abnormality determination threshold α^Three _kIt is defined using the magnitude relationship with (k = 1, 2). More specifically, (0) S^Three= 0 means α^Three≦ α^Three ₁(1) S^Three= 1 means α^Three ₁<Α^Three≦ α^Three ₂(2) S^Three= 2 is α^Three ₂<Α^ThreeIt is to be. In this embodiment,
[0117]
[Expression 24]
t^Three ₀= 30 (° C)
[0118]
[Expression 25]
α^Three ₁= 100 (%), α^Three ₂= 130 (%)
Is set.
[0119]
The equipment abnormality occurrence temperature value stage calculation circuit 310 inputs the above-described temperature value as a read signal at a timing of once / 15 seconds, sees the equipment abnormality occurrence temperature value stage calculation processing block 311, and inputs the input temperature value t.^ThreeEquipment abnormality occurrence temperature value stage S^Three, And a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320.
[0120]
As shown in FIG. 14 which is an explanatory diagram of the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 321 of the third embodiment according to the present invention, the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 321 Device abnormality occurrence condition C for calculating whether or not^Three _k, E^Three _kIt is a table for calculating whether (k = 1, 2) is materialized.
[0121]
Here, equipment abnormality occurrence condition C^Three _kIs the device abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeIs a predetermined device abnormality occurrence temperature value level L^Three _kThe equipment abnormality occurrence temperature value level L^Three _kA predetermined number of times I determined for each^Three _kIt is defined as having been continuously exceeded. In this embodiment,
[0122]
[Equation 26]
L^Three ₁= 1, L^Three ₂= 2
I^Three ₁= 120 (times), I^Three ₂= 2 (times)
Is set.
[0123]
In addition, equipment abnormality occurrence condition E^Three _kIs the device abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeIs the device abnormality occurrence temperature value level L^Three _kThe equipment abnormality occurrence temperature value level L^Three _kA predetermined number of times K determined for each^Three _kIt is defined as having been continuously exceeded. In this embodiment,
[0124]
[Expression 27]
L^Three ₁= 1, L^Three ₂= 2
K^Three ₁= 5760 (times), K^Three ₂= 240 (times)
Is set.
[0125]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320 receives the signal output from the device abnormality occurrence temperature value stage calculation circuit 310 and looks at the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 321 to detect the device abnormality occurrence condition C.^Three _k, E^Three _kThis circuit calculates whether or not (k = 1, 2) is established and outputs a signal for notifying the calculation result to the external output circuit 350 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340.
[0126]
As shown in FIG. 13B, which is an explanatory diagram of the equipment abnormality elimination temperature value stage calculation processing block 331 according to the third embodiment of the present invention, the equipment abnormality elimination temperature value stage calculation processing block 331 is described above. Temperature value t^ThreeEquipment abnormality elimination temperature value stage T^ThreeIs a processing block for calculating.
[0127]
Here, the device abnormality elimination temperature value stage T^ThreeIs the temperature value t^ThreeIs the reference value t^Three ₀Equipment abnormality elimination index value indicating how far away from the device
[0128]
[Expression 28]
β^Three= Α^Three= 100 × | t^Three-T^Three ₀| / T^Three ₀(%)
And return determination threshold β^Three ₁It is defined using the magnitude relationship with. More specifically, (0) T^Three= 0 means β^Three≦ β^Three ₁(1) T^Three= 1 means β^Three ₁<Β^ThreeIt is to be. In this embodiment,
[0129]
[Expression 29]
β^Three ₁= 80 (%)
Is set.
[0130]
The equipment abnormality elimination temperature value stage calculation circuit 330 inputs the above-described temperature value as a read signal at a timing of once / 15 seconds, sees the equipment abnormality elimination temperature value stage calculation processing block 331, and inputs the input temperature value t.^ThreeEquipment abnormality elimination temperature value stage T^ThreeAnd a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340.
[0131]
As shown in FIG. 15, which is an explanatory diagram of the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 341 according to the third embodiment of the present invention, the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 341 Device abnormality elimination condition D for calculating whether or not it has been eliminated^Three _kIt is a table for calculating whether (k = 1, 2) is materialized.
[0132]
Here, equipment abnormality elimination condition D^Three _kIs the device abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeIs the device abnormality occurrence temperature value level L^Three _kTimes I^Three _kAfter continuously exceeding the above, the device abnormality elimination temperature value stage T^ThreeThe device abnormality temperature level 0 is changed to the device abnormality temperature level L^Three _kPredetermined number of times J determined for each^Three _kIt is defined as having been kept continuously. In this embodiment,
[0133]
[30]
J^Three ₁= 4 (times), J^Three ₂= 10 (times)
Is set.
[0134]
The device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340 receives the signal output by the equipment abnormality elimination temperature value stage calculation circuit 330, and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 341 and the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit. Device abnormality elimination condition D^Three _kThis circuit calculates whether or not (k = 1, 2) is established and outputs a signal for notifying the calculation result to the external output circuit 350.
[0135]
The external output circuit 350 receives the signal output by the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320 and the signal output by the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340, and (1) the device abnormality occurrence condition C^Three _k, E^Three _kEither (k = 1, 2) is satisfied, or (2) Device abnormality elimination condition D^Three _kWhen it is determined that any one of (k = 1, 2) is not established, this circuit outputs a signal for notifying the occurrence of abnormality to the outside as an external output signal. The external output circuit 350 is connected to the device abnormality occurrence condition E.^Three _kWhen it is once determined that any one of (k = 1, 2) is established, the circuit continuously outputs a signal for notifying the occurrence of abnormality to the outside as an external output signal.
[0136]
However, equipment abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeIs the device abnormality occurrence temperature value level L^Three _kTimes I^Three _kIf it has never been exceeded, the device abnormality elimination condition D^Three _kIs interpreted to hold.
[0137]
  The abnormal index value and the abnormal solution index value are the same as those in the present invention.Or an invention related to the present inventionThis corresponds to the “deviation amount from the normal value of the monitoring value”. I^Three _kIs the present inventionOr an invention related to the present inventionThis corresponds to the number of abnormal judgments. J^Three _kIs the present inventionInventions related toThis corresponds to the number of return judgments. K^Three _kIs the present inventionOr an invention related to the present inventionThis corresponds to the “recovery device abnormality determination count” in the return prohibition condition. Reference value t^Three ₀Is the present inventionOr an invention related to the present inventionCorresponds to the normal reference value. The device abnormality occurrence condition is the present invention.Or an invention related to the present inventionThis corresponds to the abnormal determination condition. The condition for eliminating device abnormality is the same as that of the present invention.Inventions related toThis corresponds to the return judgment condition.
[0138]
Next, the abnormality determination method according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 16 which is a flowchart of a device abnormality determination apparatus including the abnormality determination method according to the third embodiment of the present invention.
[0139]
Step 1: The device abnormality occurrence temperature value stage calculation circuit 310 inputs the above-described temperature value as a read signal at a timing of once / 15 seconds, and looks at the device abnormality occurrence temperature value stage calculation processing block 311 to input the temperature. Value t^ThreeEquipment abnormality occurrence temperature value stage S^ThreeAnd a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320.
[0140]
The device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320 receives the signal output from the device abnormality occurrence temperature value stage calculation circuit 310 and looks at the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 321 to detect the device abnormality occurrence condition C.^Three _k, E^Three _kWhether or not (k = 1, 2) is satisfied is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 350 and the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340.
[0141]
Step 2: The equipment abnormality elimination temperature value stage calculation circuit 330 inputs the above-described temperature value as a read signal at a timing of once / 15 seconds, sees the equipment abnormality elimination temperature value stage calculation processing block 331, and inputs the input temperature. Value t^ThreeEquipment abnormality elimination temperature value stage T^ThreeAnd a signal for notifying the calculation result is output to the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340.
[0142]
The device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340 inputs signals output by the equipment abnormality elimination temperature value stage calculation circuit 330 and the equipment abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320, and an equipment abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table. Equipment abnormality elimination condition D^Three _kWhether or not (k = 1, 2) is satisfied is calculated, and a signal for notifying the calculation result is output to the external output circuit 350.
[0143]
Step 3: The external output circuit 350 inputs the signal output by the device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit 320 and the signal output by the device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation circuit 340, and (1) device abnormality occurrence Condition C^Three _k, E^Three _kEither (k = 1, 2) is satisfied, or (2) Device abnormality elimination condition D^Three _kWhen it is determined that any one of (k = 1, 2) is not established, a signal for notifying the outside of the occurrence of abnormality is output to the outside as an external output signal.
[0144]
Step 4: The external output circuit 350 determines that the device abnormality occurrence condition E^Three _kIf it is once determined that any one of (k = 1, 2) is established, a signal for notifying the outside of the occurrence of abnormality is continuously output as an external output signal.
[0145]
According to the present embodiment, in addition to the effects of the first embodiment described above, when a read signal that is considered to be caused by the occurrence of an abnormality is permanently input, the determination of abnormality elimination is not performed thereafter. Therefore, safety can be secured more sufficiently.
[0146]
The first to third embodiments have been described in detail above.
[0147]
  The present inventionOr an invention related to the present inventionThe components according to the above are not limited to the embodiment. The present inventionOr an invention related to the present inventionIncludes (a) a reading value, (b) a means for storing an abnormality determination threshold value or a return determination threshold value, and (c) a means for comparing the monitoring value derived from the reading value with the abnormality determination threshold value and the return determination threshold value. Therefore, the present invention is not limited to the specific configuration described in the embodiment.
[0148]
  Also,In the above descriptionThe device is a temperature measuring device or the like in the above-described embodiment. However, not limited to this,AboveThese devices are, for example, equipment installed in buildings such as fire alarms, incomplete combustion alarms, and security equipment, and security equipment such as life support devices and pacemakers that are attached to or embedded in the human body. Alternatively, electronic devices such as a television, a radio, a washing machine, a vacuum cleaner, a refrigerator, and a clock other than the security device may be used.
[0149]
  Of course, the present inventionOr an invention related to the present invention(A) Measurement data output from sensors for measuring physical quantities such as pressure, temperature, humidity, gas concentration, magnetic force, electromagnetic waves, light, etc., (b) resistance, capacitor, coil, transistor, Monitoring values related to physical quantities such as voltage, current, resistance, (c) driving speed, driving operation, and generated sound pressure level for electrical circuits and parts such as LEDs, speakers, ICs, LSIs, transformers, and diodes. There may be.
[0150]
  The present inventionOr an invention related to the present inventionIn the present embodiment described above, when the number of times the monitoring value exceeds or falls below the abnormality determination threshold exceeds the number of abnormality determinations, the monitoring value is equal to two or more abnormality determination thresholds. It is determined that an abnormality is detected when at least one abnormality determination threshold is continuously exceeded or exceeded by at least the number of abnormality determinations defined for each abnormality determination threshold.
[0151]
  However, the present invention is not limited to this.Or an invention related to the present inventionWhen the number of times the monitored value exceeds or falls below the abnormality determination threshold exceeds the number of abnormality determinations, the occurrence of abnormality is, for example, at least one abnormality determination of two or more abnormality determination thresholds. The threshold may be determined as abnormal when the number of predetermined monitoring values input exceeds or falls below the number of times of abnormality determination determined for each abnormality determination threshold.
[0152]
  The present inventionOr an invention related to the present inventionWhen the number of times the monitored value exceeds or falls below the return determination threshold exceeds the number of return determinations, it is determined that the abnormality is resolved. It was determined that the abnormality was resolved when the number of return judgments determined for each time was continuously over or under.
[0153]
  However, the present invention is not limited to this.Or an invention related to the present inventionWhen the number of times the monitor value exceeds or falls below the return determination threshold exceeds the return determination number, for example, to determine whether the abnormality has been resolved is, for example, that the monitor value is set to the predetermined threshold When the number of inputs exceeds or falls below the number of return determinations determined for each abnormality determination threshold, it may be determined that the abnormality is resolved.
[0154]
In addition, the function of all or a part of the device abnormality determination device (or the device, element, circuit, unit, etc.) provided with the abnormality determination method or the return determination method according to the present invention, or a computer using a program, It can be executed by various analog arithmetic circuits composed of electronic components.
[0155]
In addition, various analog arithmetic circuits composed of a computer or electronic component using a program for the operation of all or some steps (or processes, operations, actions, etc.) of the abnormality determination method and the return determination method according to the present invention. Can be executed by.
[0156]
  Further, the data structure of the abnormality determination condition (abnormality determination threshold and abnormality determination number) and the return determination condition (recovery determination threshold value and the number of recovery determinations) according to the present invention is described above.Or an invention related to the present inventionData used in cooperation with a computer or various analog arithmetic circuits in all or a part or step of the apparatus abnormality determination device or abnormality determination method or recovery determination method provided with the above abnormality determination method or recovery determination method It is a structure.
[0157]
  The medium according to the present invention is the above-described present invention.Or an invention related to the present inventionA medium carrying a program for causing a computer to execute all or some of the functions of all or part of the apparatus abnormality determination apparatus having the abnormality determination method or the return determination method of A medium configured by various analog arithmetic circuits to be executed, which can be read by a computer, and the function in which the read program cooperates with the computer to execute the function or the various analog arithmetic circuits Is a medium for executing The medium according to the present invention is the above-described present invention.Or an invention related to the present inventionA medium carrying a program for causing a computer to execute all or part of the operation of all or part of the abnormality determination method, or a medium constituted by various analog operation circuits that execute the operation by analog operation The medium is readable by a computer and the read program cooperates with the program to execute the operation, or the analog operation circuit executes the operation. The medium according to the present invention is the above-described present invention.Or an invention related to the present inventionAll or some means or steps of the equipment abnormality judgment device or abnormality judgment method equipped with the abnormality judgment method and return judgment method of the above, carrying a data structure used in cooperation with a computer or various analog arithmetic circuits A medium that is readable by a computer and in which the read data structure is used in cooperation with the computer, or a medium that is configured by an electronic circuit and is used in cooperation with various analog arithmetic circuits It is.
[0158]
The above “part of means (or apparatus, element, circuit, part, etc.)” and “part of step (or process, operation, action, etc.)” refer to a plurality of means or steps. Means a number of means or steps, or means some function or part of an action within a means or step.
[0159]
Moreover, the usage form of the above-described program may be an aspect in which the program is recorded on a computer-readable recording medium and operates in cooperation with the computer.
[0160]
The data structure includes a database, a data format, a data table, a data list, a data type, and the like. In addition, information expressed by constants, charge amounts, signs, and magnetized states of electronic components constituting the electronic circuit is included, and various analog arithmetic circuits may have a data structure.
[0161]
In addition, the recording medium includes a ROM, an information storage medium expressed by constants, charge amounts, codes, and magnetic states of electronic components constituting an electronic circuit, and a transmission medium such as the Internet. , Including light, radio waves and sound waves.
[0162]
The computer described above is not limited to pure hardware such as a CPU, and may include firmware, an OS, and peripheral devices.
[0163]
  As explained above, the present inventionOr an invention related to the present inventionThis configuration may be realized by software or hardware.
[0164]
In the above-described embodiment, the number of readings according to the present invention is one. Of course, there may be a plurality of readings. For example, the monitoring values of readings such as voltage, sensor output, temperature thermistor, etc. It may have an abnormality determination condition and a return determination condition.
[0165]
In addition, when abnormality determination is performed based on an operation value (monitoring value) calculated from two or more different reading values, generally, any of the abnormality determination conditions for the monitoring values of a plurality of reading values is satisfied ( An abnormality determination condition is established for each of the monitored values of at least two reading values out of a plurality of reading values depending on the purpose, configuration, and characteristics of the device. It may be determined that there is an abnormality when a logical product of the abnormality determination conditions).
[0166]
In addition, when the return determination is performed based on the calculated values (monitor values) respectively calculated from two or more different reading values, generally, each of the monitoring values of at least two reading values among a plurality of reading values. When the return judgment condition is satisfied (logical product of the return judgment conditions), it is determined that the return has occurred. However, depending on the purpose, configuration, and characteristics of the device, any of the return judgment conditions for the monitored values of multiple reading values is satisfied ( It may be determined that a return has occurred when the return determination condition is logically ORed.
[0167]
  SupervisorIn the abnormality determination method for determining that the number of times the visual value exceeds or falls below the abnormality determination threshold exceeds the number of abnormality determinations, the abnormality determination method has two or more abnormality determination thresholds. An abnormality determination method characterized by having an abnormality determination count for determining an abnormality in response toIs the invention or invention related to the invention(See FIG. 17). “The monitoring value exceeds the abnormality determination threshold value” means that the monitoring value is equal to or exceeds the abnormality determination threshold value in the positive direction as viewed from the normal monitoring value reference value (described later). “Below” means that the monitored value is equal to or less than the abnormality determination threshold value in the negative direction as viewed from the normal value of the monitored value (the same applies hereinafter). In addition, in order to determine abnormality, failure, or normality, values to be measured or measured (measurement data output from sensors for measuring physical quantities, voltages, currents, resistances, etc. for electric circuits and parts, and drive parts) ) Itself is called a read value. The monitored value is a calculated value based on the read value, and the calculated value includes a read value itself and is a numerical value to be monitored. The abnormality determination threshold is a predetermined value that is a boundary value close to a monitoring value normal reference value in a monitoring value range in which a certain type of abnormality (or failure) is suspected. The number of abnormality judgments is the value where the monitored value exceeds the abnormality judgment threshold value (however, in the case of the abnormality judgment threshold value in the positive direction from the monitoring value normal reference value. The abnormality in the negative direction from the monitoring value normal reference value) In the case of the determination threshold value, it is read as “value below the abnormality determination threshold value”.), And is a predetermined number of times.
[0168]
  like thisThe present inventionOr an invention related to the present inventionAccording to the above, by changing the number of times of determining the occurrence of abnormality (number of times of abnormality determination) for each abnormality determination threshold value, the generated abnormality can be accurately found. For example, in FIG. 17, when an abnormality in which the monitored value α is in the range of B ≦ α <C is an abnormality having the greatest influence on the user, the number of abnormality determinations in this range is set to the abnormality of another abnormality determination threshold value. By making it less than the number of judgments, an abnormality can be notified early.
[0169]
In addition, in FIG. 17, when an abnormality in which the value of the monitoring value α is in the range of A ≦ α <B has a particularly low influence, the number of abnormality determinations in this range is set to be greater than the number of abnormality determinations of other abnormality determination thresholds. By increasing the number, it is possible to prevent the occurrence of an abnormality from being easily determined and to avoid inconvenience to the user. In this way, by changing the number of times of abnormality determination for each abnormality determination threshold, it is possible to achieve both responsiveness to the degree of abnormality influence and user convenience. In addition, when performing an abnormality determination with each abnormality determination condition composed of two or more abnormality determination thresholds and the number of abnormality determinations corresponding to each abnormality determination threshold, in general, An error is determined when either is satisfied (logical sum of abnormality determination conditions), but at least two of the abnormality determination conditions are simultaneously satisfied depending on the purpose of use, configuration, and characteristics of the device (abnormality determination conditions) May be determined as abnormal.
[0170]
  in frontDeviations from the normal value of the monitoring value (σ_k) And the number of abnormal determinations (n_k) Is the inverse time characteristic (σ₁<Σ₂N₁> N₂), Mentioned aboveThe present inventionOr an invention related to the present inventionAbnormality judgment methodIs the invention or invention related to the invention(See FIG. 18).
[0171]
The “monitoring value normal reference value” is a representative value of the monitoring value range that represents the normal state, the central value of the monitoring value range that represents the normal state, the median value of the distribution that can be taken by the monitoring value in the normal state, The boundary value of the monitoring value range indicating the state is used. Note that the inverse time characteristic is, for example, when a monitoring value that can appear when an abnormality with a high impact level is measured moves to an immediate alarm, and when a monitoring value that appears when an abnormality with a low impact level is measured. If the impact is predicted to be high, such as an alarm only if the monitored value continues for a certain period of time, the judgment time (number of times) is shortened (less), and if the impact is predicted to be small, the judgment time ( This is a condition for making the number of times longer (more), and σ is a monotonically decreasing function of n (see FIG. 19).
[0172]
  like thisThe present inventionOr an invention related to the present inventionAccording to the above, it is possible to determine the occurrence of abnormality in a time that is more commensurate with the degree of influence by determining the occurrence of abnormality using the relationship between the abnormality determination threshold value determined using the inverse time characteristic and the number of times of abnormality determination .
[0173]
  SupervisorAbnormality determination method in which visual values are two or more different calculated values calculated based on the same reading valueIs the invention or invention related to the inventionIt is.
[0174]
Arithmetic means that the reading value is arithmetically processed or analog signal processed. The calculated value is a value obtained as a result of the calculation. The arithmetic processing method and analog processing method used for the calculation are called “calculation methods”. “Two or more different calculated values calculated based on the same reading value” means a calculated value obtained by calculating the number of reading values used in the calculation, or by using different calculation methods or combinations thereof. . The read value is included in the calculated value, and the read value in this case is called an instantaneous value. That is, the instantaneous value is the read value A._kIt is the value of itself. The effective value is an operation value obtained by performing an operation such as a leveling process for removing noise from the read value._kMean of Σ_{k = 1} ⁿA_k/ N, integral value, logarithmic average value, and the like. The reading interval (in other words, the instantaneous value interval) is 0.1 second, 1 second, 10 seconds, 1 minute, 10 minutes, 1 hour, 24 hours, etc., as long as it is appropriate to see the abnormality. Good (see FIG. 23A). The effective value may be averaged every 10 readings (see FIG. 23B), or the past 10 readings may be averaged (see FIG. 23C). Note that (1) For the instantaneous value, the abnormality determination threshold A close to the normal value has a demerit that is erroneously determined due to noise or a transient one. However, there is a merit that a temporary abnormal value can be determined. Yes, (2) The effective value has the disadvantage that an instantaneous large abnormal value is averaged and cannot be determined, but the influence of noise is eliminated by averaging, so there is an advantage that an abnormality can be determined by the abnormality determination threshold A ( (See FIG. 20). Also, using the reading as a signal, smoothing in signal processing (processing that considers irregular short-term fluctuations as noise and eliminates it by averaging) and filtering (passes the required signal frequency and blocks the noise frequency) , And amplification are also included as the above-described effective value calculation method. Another effective value is a weighted average value. The weighted average value is a method of multiplying the reading value by a coefficient that becomes “weight” when taking the reading value into the calculation. For example, when calculating the weighted average value,
[0175]
[31]

Is used. (F (k) is called a weighting factor.) When obtaining a normal average value, f (k) = 1, and the weighting factor is, for example, f (k) = e^-akEtc., given arbitrarily. The weighted average value can be calculated by weighting the reading values, for example, the most recent reading value can be weighted higher, and the farther previous reading value can be reduced by weighting. This is effective when you want to make a decision with a weight. Although different from the instantaneous value and the effective value, the reading change amount, etc. may be used as the calculated value. The reading value change amount is a method of using the reading value change amount, not the individual absolute value of the reading value, and is given by the following equation, for example.
[0176]
[Expression 32]
Reading change amount = A_k-A_k-1
If it is the reading value change amount, it can be determined that there is an abrupt change as in the case of the instantaneous value described above as an abnormality. Similar calculation values include differential values. The calculated value may be a calculated value by digital numerical calculation or a signal processing method using various arithmetic circuits. When an abnormality is determined based on two or more different monitoring values, it is generally determined that an abnormality is detected when any of the abnormality determination conditions for multiple monitoring values is satisfied (logical sum of the abnormality determination conditions). However, even if it is determined that there is an abnormality when an abnormality determination condition for each of at least two monitoring values among multiple monitoring values is satisfied (logical product of the abnormality determination conditions) depending on the purpose, configuration, and characteristics of the device Good.
[0177]
  DifferentDistinguishes the operation after determining the occurrence of abnormality according to the abnormality determination condition used when determining the occurrence of normal occurrence, Mentioned aboveThe present inventionOr an invention related to the present inventionThis is an abnormality determination method. The abnormality determination condition is a monitoring value, an abnormality determination threshold value, and an abnormality determination count used when determining an abnormality, and the operation after the abnormality determination is distinguished by these. As an example of distinguishing the operations, (a) output by different output means, (b) one of the output means, that the LED blinks differently, the lighting time and the lighting interval are different. (C) One of the output means, output with different volume from buzzer or speaker, output with different tone and sound, (d) Electronic value used by equipment (For example, input from a sensor or data recorded in the recording unit) Use a value that is dedicated to the occurrence of an abnormality instead of a value that is normally used. There are cases where the output is either in the case of displaying or not displaying. The output means are acoustic means, optical means, signal means, communication means, and the like. The acoustic means is means for appealing to human hearing using sounds such as a buzzer sound by a buzzer, sound or sound by a speaker, vibration sound by a vibration element, and includes means by different timbres, types of sound, and volume. The optical means is means for appealing to human vision, such as a lamp, LED, liquid crystal, and includes means for different colors, lighting intervals, extinguishing intervals, and display. The signal means is means for transmitting a voltage signal, a contact signal, a digital signal, etc. by a signal line and wireless, and includes means by electricity, electromagnetic waves, magnetism, and light. The communication means is means for transmitting and receiving signals by telephone line, Internet line, dedicated communication line, wireless, etc., and includes means by electricity, electromagnetic waves, magnetism, and light. As a display method indicating that there is an abnormality history, a method that is inconspicuous to the user is desirable, and it is desirable to instantaneously turn off a normally lit LED or display a liquid crystal. Also, there is a method of outputting without informing the user at all by communication or the like.
[0178]
  like thisThe present inventionOr an invention related to the present inventionAccording to the above, it is possible to distinguish the predicted abnormality, express the degree of urgency to the user according to the degree of influence of the predicted abnormality, and provide a history with the type of predicted abnormality. It can be confirmed at the time.
[0179]
  SupervisorIn a return determination method for determining abnormality resolution when a value whose visual value exceeds or falls below the return determination threshold exceeds the number of return determinations, the return determination method has two or more return determination thresholds. Correspondingly, a return judgment method with the number of return judgments for judging device error resolutionIs an invention related to the present invention.(See FIG. 21). Returning means returning to the output in the state before the occurrence of abnormality is determined. However, the display state with abnormality history is included in the return. The return determination threshold value is a boundary value of a range of monitoring values estimated to be normal, and is a predetermined value. “The monitoring value exceeds the return judgment threshold value” means that the monitoring value is a negative value with respect to the monitoring value normal reference value, and the same value as the return judgment threshold value in the negative direction with respect to the monitoring value normal reference value. This means that the monitoring value is less than the return judgment threshold, and the monitoring value is the same value as the monitoring value normal reference value or a value in the positive direction from the monitoring value normal reference value. It means that the value is equal to or less than the return determination threshold value in the positive direction when viewed from the normal value reference value. (The same applies hereinafter.) The number of return judgments refers to the value where the monitoring value falls below the return judgment threshold value (however, the return judgment threshold value is in the positive direction when viewed from the normal monitoring value reference value. In the case of the return determination threshold value in the negative direction, it is read as “value exceeding the return determination threshold value”.), And is a predetermined number. In addition, when performing an abnormality determination with each return determination condition composed of two or more return determination thresholds and the number of return determinations corresponding to each return determination threshold, If at least two of the conditions are satisfied at the same time (logical product of abnormality determination conditions), it is determined to return, but one of the return determination conditions is satisfied depending on the purpose of use, configuration, and characteristics of the device (reset determination condition May be determined to return.
[0180]
  like thisThe present inventionInventions related toAccording to the above, when α <a that can clearly determine whether the abnormality is resolved, the abnormality is quickly determined, and when it is unclear that the normal state is a ≦ α <b, the abnormality is determined with a sufficient number of determinations. By determining the resolution, it is possible to determine whether the abnormality has been resolved when the normal state is reliably achieved, and it is possible to determine the resolution of the abnormality more quickly.
[0181]
  SupervisorReturn determination method in which the visual value is two or more different calculated values calculated based on the same reading valueIs an invention related to the present invention.It is. Regardless of which calculation value is used for the abnormality determination, it is desirable to return when all return determination conditions are satisfied for all or a plurality of two or more different calculation values. When a return determination is performed using two or more different monitoring values, generally, a return determination condition for each of at least two or more monitoring values among a plurality of monitoring values is satisfied (logical product of the return determination conditions). However, even if it is determined that any of the return judgment conditions for multiple monitoring values is satisfied (logical sum of the return judgment conditions) depending on the purpose, configuration, and characteristics of the device. Good.
[0182]
  RecoveryThere is a dead zone between the return threshold and the abnormal thresholdMentioned aboveThe present inventionInventions related toReturn judgment methodIs an invention related to the present invention.(See FIG. 22). The dead zone is a range of monitoring values that are provided between the abnormality determination threshold value and the return determination threshold value, and neither abnormality determination nor recovery determination is performed. Even if a monitoring value falls within this range, the previous determination is maintained. For example, even after the occurrence of an abnormality is determined, even if the monitoring value enters the dead zone region, it is still determined that an abnormality has occurred. Further, even if the monitoring value enters the dead zone after determining the normal state or abnormality elimination, the normal state or abnormality elimination is still determined.
[0183]
  like thisThe present inventionInventions related toAccordingly, when there is a fluctuation in the vicinity of the abnormality determination threshold value and the return determination threshold value, such as when there is no dead zone, the determination of abnormality occurrence and abnormality elimination is not repeated.
[0184]
  SpecialAn abnormality determination method characterized by having an abnormality determination condition (recovery prohibition condition) that freezes subsequent recovery determinations when certain conditions are metIs the invention or invention related to the inventionIt is.
[0185]
The return prohibition condition is a condition that freezes the subsequent return determination when the condition is satisfied. Examples of return prohibition conditions include: (a) A certain abnormality determination threshold is defined as “return prohibition abnormality determination threshold”, and the number of times the monitored value exceeds or falls below the “return prohibition abnormality determination threshold” When it is determined that the number of abnormality determinations corresponding to the “threshold” has been exceeded, the determination of abnormality cancellation will not be performed thereafter. (B) For a certain abnormality determination threshold, the “recovery prohibition abnormality” determined in accordance with the abnormality determination threshold Judgment count ”(determined by the number of times that exceeds the number of abnormality judgments corresponding to the abnormality judgment threshold), and it is judged that the number of times the monitored value exceeds or falls below the abnormality judgment threshold exceeds the number of return prohibition abnormality judgments There is a case where the determination of abnormality elimination is not performed thereafter.
[0186]
  DuplicateThere are a number of output means, and the abnormality determination condition or the return determination condition applied to at least one of the output means is different from the abnormality determination condition or the return determination condition applied to other output means.The invention described above or related to the inventionAbnormality judgment method or return judgment methodIs the invention or invention related to the inventionIt is.
[0187]
As described above, the output means includes acoustic means, optical means, signal means, communication means, and the like. By having a plurality of output means and making an abnormality determination condition for at least one of the output means (hereinafter referred to as a designated output means) different from an abnormality determination condition for other output means, the user can By recognizing the means, it can be clearly understood what abnormality determination condition is satisfied. For example, as the designated output means, (a) an abnormality determination condition of an abnormality that is expected to cause danger to humans is assigned to the output of the acoustic means, and (b) the influence of the optical means on other systems is assigned. (C) Assign an abnormality determination condition for an abnormality that does not pose a danger immediately to the output of the signal means. The user outputs in advance when an abnormality that is expected to cause danger to humans occurs, and the optical means outputs when an abnormality that has a high impact on other systems occurs. That is, if the signal means knows that it will output immediately when an abnormality that does not pose a danger occurs, it recognizes that the abnormality that is expected to cause danger to the person has occurred by the output of the acoustic means. The output of the optical means can recognize that an abnormality that has a high impact on other systems has occurred, and the output of the signal means can immediately recognize that an abnormality that does not pose a danger has occurred. be able to. In addition, since the signal means can be remotely output to another place, the user at the place is not notified of the abnormality, and a proactive sign of the abnormality is, for example, a user (maintenance company) at another place. Etc.), and a user in another location can immediately recognize that an abnormality that does not pose a danger has occurred by the output of the signal means. Similarly, by having a plurality of output means, and by making the return determination conditions for the specified output means different from the return determination conditions for other output means, the user can recognize what kind of output means by recognizing the output means. It is clear whether the return judgment condition is satisfied. For example, as the designated output means, (a) the stop of the acoustic means is assigned with a condition for judging the return from the abnormality that is expected to cause danger to the person, and (b) the stop of the optical means is sent to another system. Assign a condition for judging the return from an abnormality with a high degree of influence. (C) If the stop of the signal means is assigned to the condition for judging a return from an abnormality that does not immediately pose a danger, the user must Stop when returning from an abnormality that can be expected to occur, stop optical means when returning from an abnormality that has a high impact on other systems, and stop signal means from an abnormality that does not immediately pose a danger. If you know that you will stop when you return, you can recognize that you have recovered from an anomaly that could be dangerous to people by stopping the acoustic means. Accordingly, it is possible to recognize that the return from the degree of influence on other systems is high abnormal, by the stop signal means, it is possible to recognize that the return from an error that would not immediately cause a peril. As described above, the user can clearly determine the abnormality that has occurred or the abnormality that has been recovered by the output means. The plurality of output means described above are different acoustic means (for example, continuous output and intermittent output, tone color, volume), different optical means (for example, blinking interval, lighting time, color), different signal means, and different communication means. Is also included.
[0188]
  Mentioned aboveThe present inventionOr an invention related to the present inventionEquipment with a method of judging abnormality or return ofIs the invention or invention related to the inventionIt is.
[0189]
  DifferentAfter normal judgment, output the abnormal condition by output meansMentioned aboveThe present inventionOr an invention related to the present inventionElectronic equipmentIs the invention or invention related to the inventionIt is.
[0190]
  in frontThe electronic device is an alarm device, alarm device, or measuring instrumentMentioned aboveThe present inventionOr an invention related to the present inventionElectronic equipmentIs the invention or invention related to the inventionIt is.
[0191]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, the present invention has an advantage that it is possible to more appropriately determine, for example, whether a device abnormality has occurred in a gas alarm.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of a device abnormality determination device including an abnormality determination method according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2A is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 111 according to the first embodiment of the present invention;
(B) It is explanatory drawing of the apparatus abnormality elimination voltage value stage calculation process block 131 of Embodiment 1 concerning this invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 121 according to the first embodiment of the present invention;
FIG. 4 is an explanatory diagram of a device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 141 according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a flowchart of a device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a configuration diagram of a device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the second embodiment of the present invention.
FIG. 7A is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block 211 according to the second embodiment of the present invention;
(B) It is explanatory drawing of the apparatus abnormality generation voltage value stage calculation process block 211 'of Embodiment 2 concerning this invention.
(C) It is explanatory drawing of the apparatus abnormality elimination voltage value stage calculation process block 131 of Embodiment 1 concerning this invention.
FIG. 8 is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 according to the second embodiment of the present invention;
FIG. 9 is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 221 ′ according to the second embodiment of the present invention;
FIG. 10 is an explanatory diagram of a device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 141 according to the first embodiment of the present invention;
FIG. 11 is a flowchart of a device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the second embodiment of the present invention.
FIG. 12 is a configuration diagram of a device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 13A is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence temperature value stage calculation processing block 311 according to the third embodiment of the present invention.
(B) It is explanatory drawing of the apparatus abnormality elimination temperature value stage calculation process block 331 of Embodiment 3 concerning this invention.
FIG. 14 is an explanatory diagram of a device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table 321 according to the third embodiment of the present invention;
FIG. 15 is an explanatory diagram of a device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table 341 according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 16 is a flowchart of a device abnormality determination device including the abnormality determination method according to the third embodiment of the present invention.
FIG. 17 is an explanatory diagram (part 1) of the abnormality determination method according to the present invention.
FIG. 18 is an explanatory diagram (part 2) relating to the abnormality determination method according to the present invention.
FIG. 19 is an explanatory diagram relating to the anti-time characteristic according to the present invention.
FIG. 20 is an explanatory diagram regarding instantaneous values and effective values according to the present invention.
FIG. 21 is an explanatory diagram (part 3) relating to the abnormality determination method according to the present invention;
FIG. 22 is an explanatory diagram (part 4) relating to the abnormality determination method according to the present invention;
FIG. 23A is an explanatory diagram (No. 1) regarding an effective value according to the present invention.
(B) It is explanatory drawing (the 2) regarding the effective value concerning this invention.
(C) It is explanatory drawing (the 3) regarding the effective value concerning this invention.
[Explanation of symbols]
110 Device abnormality occurrence voltage value stage calculation circuit
111 Device abnormality occurrence voltage value stage calculation processing block
120 Device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation circuit
121 Device abnormality occurrence condition establishment / non-establishment calculation table
130 Device abnormality elimination voltage value stage calculation circuit
131 Device abnormality elimination voltage value stage calculation processing block
140 Device Abnormality Elimination Condition Satisfaction / Failure Calculation Circuit
141 Device abnormality elimination condition establishment / non-establishment calculation table
150 External output circuit

Claims

An abnormality determination method in which a monitoring value is two or more different calculation values ,
Abnormality determination using two or more abnormality determination conditions determined for each monitoring value for determining occurrence of abnormality when the number of times the monitored value exceeds or falls below the abnormality determination threshold exceeds the number of abnormality determination An abnormality determination step for performing
At least one of the two or more different calculated values is an instantaneous value;
The abnormality determination method, wherein at least one of the two or more different calculated values is an effective value .

The abnormality determination method according to claim 1, wherein the instantaneous value is the read value itself.

The abnormality determination method according to claim 1, wherein the effective value is the calculated value obtained by performing a calculation for removing noise on the read value.

Wherein the amount of deviation from the superintendent road normal reference value of the abnormal determination threshold value, and the abnormality determination count, the relationship with the inverse time characteristic, the abnormality determination method of claim 1, wherein.

The abnormality determination operation is different claims 1 Symbol placement after performing the abnormality determination method for each of said abnormality judgment conditions.

The abnormality determination condition, according to claim 1, wherein when the Tokoro constant of return inhibition condition is satisfied is abnormal determination condition for freezing the determination subsequent restoration, the abnormality determination method.

The abnormality determination condition that corresponds to at least one of said output means of the two or more output means, said abnormality determining condition different from claim 1 that corresponds to the other of said output means, the abnormality determination method.

The abnormality determination method according to claim 1, wherein the two or more different calculation values are based on the same reading value.

The electronic device which performs the said abnormality determination using the abnormality determination method in any one of Claim 1 to 8 .