JP4030634B2 - Exposure equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【技術分野】
本発明は、リソグラフィ技術に適用できる露光装置に関する。
【0002】
【従来技術及びその問題点】
リソグラフィ技術は、例えば、被加工物の表面にマスク材によりマスキングを施した後、フォトレジストをコーティングし、このフォトレジスト上に、所要のパターンで露光する。次にこのフォトレジストを現像(レジスト現像)して、露光領域のフォトレジストを除去してから、マスク材に対するエッチングを施し、、フォトレジストが除去された部分のマスク材を除去する加工法として知られている。
【0003】
このリソグラフィ技術は、例えば、回折格子のような微細パターンを有する素子の製造に利用されているが、パターンの微細化、微細パターンを形成する基礎曲面の多様化(非球面化、複雑化)に伴い、露光ビームを如何に正確に露光領域に与えるかが問題となっている。例えば、深い溝の中の特定の領域にさらに別の溝を加工しようとする場合、露光ビームが溝の両端の壁面(エッジ)でけられてしまい、目的とする領域に正確な露光ができないという状態が生じ得る。基礎曲面が複雑になる程、この傾向は顕著となり、結局、目的とする微細パターンが加工できないという問題点に繋がる。
【0004】
【発明の目的】
本発明は、被露光ワークの基礎曲面形状や描画パターンの形状に拘らず、所定領域に対して正確な露光を行なうことができる露光装置を得ることを目的とする。より具体的には、例えば、基礎曲面形状を問わず、その法線方向から必ず露光ビームを与えることができる露光装置を得ることを目的とする。
【0005】
【発明の概要】
本発明の露光装置は、その一態様によると、直交2軸方向に位置調整可能なXYテーブル;このXYテーブル上にあって、該XYテーブルの移動平面と直交する第1軸を中心に回転位置調整可能な回転テーブル;この回転テーブル上において、上記第1軸と直交する第2軸を中心とする円筒面に沿って移動可能な光学系支持ステージ;この光学系支持ステージに支持され、第1軸と第2軸の交点を焦点位置として露光ビームを集光する露光ビーム発生器;及び第1軸と直交する第3軸を中心に、被露光ワークを回転自在に支持するワークホルダ;を備え、上記第1軸と上記第3軸は同一鉛直面内に位置し、上記第2軸は水平面内に位置することを特徴としている。
【0006】
また本発明の露光装置は、上記ワークホルダは、被露光ワークを回転自在に保持するワークスピンドルと、このワークスピンドルの回転角を検出するロータリーエンコーダを備え、上記XYテーブルは、水平面内でX方向に移動自在なXテーブルと、このXテーブル上でX方向と直交するY方向に移動自在なYテーブルとを有し、上記XテーブルはX方向サーボモータにより、上記Yテーブル32はY方向サーボモータによりそれぞれ駆動されることが実際的である。
【0007】
この露光装置は、上記露光ビーム発生器は、レーザ光源装置及び可視光を照射する光源装置と、上記レーザ光源装置から与えられたレーザビームまたは上記可視光の光源装置から照射された可視光の一方が上記焦点位置に至るように切り替えるビームスプリッタと、上記可視光の光源装置から照射され、上記焦点位置に支持された被露光ワークで反射した光線が導かれる接眼レンズとを備えることが好ましい。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1ないし図7は、本発明による露光装置の第一の実施態様を示す。ベッド11上には、被露光ワークWのホルダ20、XYテーブル30、及びレーザ光源装置40が並べて設けられている。ワークホルダ20は、水平方向の回転軸(第3軸)21を中心に回転自在なワークスピンドル22と、このワークスピンドル22の先端に被露光ワークWを支持するチャック23と、ワークスピンドルモータ24と、このモータ24の回転をワークスピンドル22に伝達する回転伝達部25と、ワークスピンドル22の回転角(位置)を検出するロータリエンコーダ26とを備えている。
【0009】
XYテーブル30は、水平面内でX方向(図1の左右方向)に移動自在なXテーブル31と、このXテーブル31上でX方向と直交するY方向(図1の紙面と直交する方向)に移動自在なYテーブル32とを有し、Xテーブル31は、X方向サーボモータ31aにより、Yテーブル32はY方向サーボモータ32aにより、それぞれ駆動されるとともに、正確な位置制御がされる。
【0010】
Yテーブル32上には、ワークホルダ20(チャック23)の回転軸(第3軸)21と直交する鉛直軸(第1軸)を中心に回転自在に、水平回転テーブル34が備えられ、この水平回転テーブル34上にはさらに、鉛直軸(第1軸)33及び回転軸(第3軸)21に直交する水平軸(第2軸、図1の紙面に垂直な軸)35を中心とする円筒面35cに沿って回転移動可能な光学系支持テーブル36が備えられている。
【0011】
光学系支持テーブル36上には、鉛直軸(第1軸)33からの偏心位置に、台座37が立設され、この台座37上に、露光ビームを発する露光ビーム発生器41が支持されている。この露光ビーム発生器41からの露光ビームは、鉛直軸(第1軸)33と水平軸(第2軸)35の交点を焦点位置Fとする(交点に集光される)ものである。露光ビーム発生器41は、図7に示すように、ケーシング42の両端部に集光レンズ43とコネクタ44とを有し、コネクタ44には光ファイバを介してレーザ光源装置40からのレーザビームが与えられる。コネクタ44を出たレーザビームは、ビームスプリッタ46を透過して集光レンズ43に入射し、焦点位置Fに集光する。ビームスプリッタ46は、一旦、レーザ光源装置40を人間の眼で視認可能な光を照射する光源装置に切り替え、コネクタ44を介して、集光レンズ43から出射して被露光ワークWまたは調整器で反射した光線を接眼レンズ47に導き、この接眼レンズ47によって、集光状態の確認ができる。
【0012】
台座37の上端部には、露光ビーム発生器41の位置(露光ビームの集光位置)を調整する調整手段として、露光ビーム発生器41の光軸方向位置の調節ねじ41a、上下方向(鉛直軸(第1軸)33方向)位置の調節ねじ41b、及び左右方向(図1の紙面と垂直な方向、水平軸(第2軸)35方向)位置の調節ねじ41cが備えられており、これらの調節ねじにより、露光ビーム発生器41の焦点Fが正しく鉛直軸(第1軸)33と水平軸(第2軸)35の交点に一致するように調節される。
【0013】
水平回転テーブル34の鉛直軸(第1軸)33を中心とする回転位置は、鉛直軸(第1軸)用サーボモータ34aにより検出制御され、光学系支持テーブル36の水平軸(第2軸)35を中心とする回転位置は、水平軸(第2軸)用サーボモータ36aによって検出制御される。これらモータによる水平回転テーブル34と光学系支持テーブル36の回転位置の調整により、露光ビーム発生器41からワークWに照射される露光ビームの方向を、任意に調節することができる。特に重要な点は、ワークWのいかなる傾斜面に対しても、その法線方向から露光ビームを照射する状態が作れることである。
【0014】
これらの鉛直軸(第1軸)用サーボモータ34a、水平軸(第2軸)用サーボモータ36a及び上述のワークスピンドルモータ24、X方向サーボモータ31a、Y方向サーボモータ32aは、制御器50に備えられた各軸のモータドライバ51及びNCコントローラ52を介して制御される。NCコントローラ52には、ロータリエンコーダ26の出力が入力され、また各軸の座標値を表示する座標値表示器52a等が備えられている。
【0015】
上記構成の本露光装置は、ワークホルダ20のチャック23に被露光ワークWを支持し、鉛直軸(第1軸)用サーボモータ34a、水平軸(第2軸)用サーボモータ36a、ワークスピンドルモータ24、X方向サーボモータ31a、Y方向サーボモータ32aを制御することにより、露光ビーム発生器41からの露光ビームを、その焦点Fを被露光ワークWの表面に一致させながら、任意の方向から任意の時間だけ任意の形状に、照射することができる。つまり、被露光ワークWの面形状が、平面、球面、回転対称非球面、非回転対称非球面であるかを問わず、例えば、常にその法線方向から露光ビームを照射することができる。勿論、露光ビームが描く平面形状が回転対称か非対称か等も問わない。よって、深い溝中にさらにリソグラフィ技術によりマスクを施し、その特定部分に複雑な形状に露光するような用途に対して全く問題なく対処することができる。図6は、被露光ワークWと露光ビーム発生器41の相対位置の変化を、露光ビーム発生器41を移動させて描いたものである。
【0016】
図8ないし図11は、本発明による露光装置の第二の実施態様を示している。この実施態様は、ベッド11のXYテーブル30上に被露光ワークWを支持し、ベッド11上に、光軸位置を固定して露光ビーム発生器15を設けた点で、第一の実施態様と異なる。すなわち、ベッド11上には、第一の実施態様と同様に、Xテーブル31とYテーブル32を有するXYテーブル30が備えられている。Yテーブル32上には、XYテーブル30の移動平面(水平面)と平行な第1軸を中心とする円筒面61cに沿って移動調整可能に円弧移動台62が支持されており、この円弧移動台62上にさらに、第1軸と直交しXYテーブル30の移動平面と平行な第2軸を中心とする円筒面63cに沿って移動調整可能にワーク支持台64が支持されている。62a、64aはそれぞれ、円弧移動台62、ワーク支持台64の駆動用サーボモータである。
【0017】
このワーク支持台64上には、XYテーブル30、円弧移動台62およびワーク支持台64が基準位置にあるとき、被露光ワークWをXYテーブル30の移動平面と直交する第3軸(ワーク回転軸)65を中心に回動調整するワーク回転支持機構66が備えられている。
【0018】
ベッド11上には、XYテーブル30の上方に、鉛直方向に移動可能に露光光学系ブロック15が支持されており、この露光光学系ブロック15に、光軸を鉛直方向に向けた露光ビーム発生器70が支持されている。露光光学系ブロック15は、露光ブロック用サーボモータ15aによって駆動されるもので、このサーボモータ15aがフォーカス調整手段を構成している。図11は、露光ビーム発生器70の構成例を示すもので、レーザ光源71からの光束は、集光レンズ72、コリメータレンズ73を介して平行光束とされ、反射ミラー74を介して鉛直光束とされた後、集光レンズ75で焦点位置Fに集光される。被露光ワークWまたは調整器で反射したレーザビームは、集光レンズ75、反射ミラー74を逆行し、ビームスプリッタ76で反射された後、コリメータレンズ77で集光され、ピンホール78を介して受光素子79に入射する。ピンホール78と受光素子79は焦点検出器を構成し、受光素子79への入射光量に応じて制御手段80がサーボモータ15aを駆動して、常に被露光ワークWの表面に露光ビームを集光させる。
【0019】
この第1軸と第2軸はともに、XYテーブル30の基準位置において、集光レンズ75の焦点位置(集光位置)Fに一致することが好ましい。
【0020】
この第二の実施形態においても、第一の実施形態と同様に、露光ビーム発生器70からの露光ビームを、その焦点Fを被露光ワークWの表面に一致させながら、任意の方向から任意の時間だけ任意の形状に、特に被露光ワークWの表面形状に関わらず常時その法線方向から照射することができる。
【0021】
【発明の効果】
本発明によれば、被露光ワークの基礎曲面形状や描画パターンの形状に拘らず、所定領域に対して正確な露光を行なうことができる露光装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による露光装置の第一の実施形態を示す全体の正面図である。
【図2】図1の露光装置の光学系支持ステージ回りの構成を示す部分正面図である。
【図3】図2の光学系支持ステージが第1軸を中心に回動した状態を示す部分正面図である。
【図4】同第2軸を中心に回動した状態を示す部分正面図である。
【図5】同第1軸と第2軸を中心に回動した状態を示す部分正面図である。
【図6】露光光学系による被露光ワークへの露光状態例を示す部分正面図である。
【図7】図1の露光装置の露光光学系の構成例を示す図である。
【図8】本発明による露光装置の第二の実施形態を示す全体の正面図である。
【図9】図8の露光装置の要部の正面図である。
【図10】図8のX矢視図である。
【図11】図8の露光装置の露光光学系の構成例を示す図である。
【符号の説明】
W 被露光ワーク
11 ベッド
15 露光光学系ブロック
20 ワークホルダ
21 回転軸(第3軸)
22 ワークスピンドル
30 XYテーブル
31 Xテーブル
32 Yテーブル
33 鉛直軸(第1軸)
34 水平回転テーブル
35 水平軸(第2軸)
36 光学系支持テーブル
37 台座
40 レーザ光源装置
41 露光ビーム発生器
61c 円筒面
62 円弧移動台
63c 円筒面
64 ワーク支持台
65 第3軸(ワーク回転軸)
66 ワーク回転支持機構
70 露光ビーム発生器[0001]
【Technical field】
The present invention relates to an exposure apparatus applicable to lithography technology.
[0002]
[Prior art and its problems]
In the lithography technique, for example, the surface of a workpiece is masked with a mask material, and then a photoresist is coated, and the photoresist is exposed in a required pattern. Next, this photoresist is developed (resist development) to remove the photoresist in the exposed area, and then etching the mask material to remove the portion of the mask material from which the photoresist has been removed. It has been.
[0003]
This lithography technology is used for manufacturing elements having a fine pattern such as a diffraction grating, for example, but for miniaturization of patterns and diversification of basic curved surfaces (aspherical and complicated) for forming fine patterns. Accordingly, there is a problem of how accurately the exposure beam is given to the exposure region. For example, when another groove is to be processed in a specific region in a deep groove, the exposure beam is scattered on the wall surfaces (edges) at both ends of the groove, and the target region cannot be accurately exposed. A condition can arise. This tendency becomes more prominent as the basic curved surface becomes more complicated, which eventually leads to the problem that the desired fine pattern cannot be processed.
[0004]
OBJECT OF THE INVENTION
An object of the present invention is to provide an exposure apparatus capable of performing accurate exposure on a predetermined area regardless of the basic curved surface shape of a workpiece to be exposed and the shape of a drawing pattern. More specifically, for example, an object of the present invention is to obtain an exposure apparatus that can always provide an exposure beam from the normal direction regardless of the basic curved surface shape.
[0005]
SUMMARY OF THE INVENTION
According to one aspect of the exposure apparatus of the present invention, an XY table whose position can be adjusted in two orthogonal axes; a rotational position on the first axis that is on the XY table and is orthogonal to the moving plane of the XY table An adjustable rotary table; an optical system support stage movable on a cylindrical surface around a second axis orthogonal to the first axis on the rotary table; supported by the optical system support stage; An exposure beam generator for condensing the exposure beam with the intersection of the axis and the second axis as a focal position; and a work holder for rotatably supporting the workpiece to be exposed around a third axis orthogonal to the first axis. The first axis and the third axis are located in the same vertical plane, and the second axis is located in a horizontal plane.
[0006]
In the exposure apparatus of the present invention, the work holder includes a work spindle that rotatably holds the work to be exposed, and a rotary encoder that detects a rotation angle of the work spindle, and the XY table has an X direction in a horizontal plane. And a Y table movable in the Y direction orthogonal to the X direction on the X table. The X table is an X direction servo motor, and the Y table 32 is a Y direction servo motor. It is practical that each is driven by.
[0007]
In the exposure apparatus, the exposure beam generator includes a laser light source device and a light source device that emits visible light, and a laser beam provided from the laser light source device or visible light emitted from the visible light source device. It is preferable to include a beam splitter that switches to reach the focal position, and an eyepiece that guides a light beam that is irradiated from the visible light source device and reflected by the workpiece to be exposed supported at the focal position.
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
1 to 7 show a first embodiment of an exposure apparatus according to the present invention. On the
[0009]
The XY table 30 is movable in the X direction (left and right direction in FIG. 1) within a horizontal plane, and on the X table 31 in the Y direction (direction perpendicular to the paper surface in FIG. 1) perpendicular to the X direction. The X table 31 is driven by an
[0010]
A horizontal rotary table 34 is provided on the Y table 32 so as to be rotatable about a vertical axis (first axis) orthogonal to the rotation axis (third axis) 21 of the work holder 20 (chuck 23). On the
[0011]
A
[0012]
At the upper end of the
[0013]
The rotation position of the horizontal rotary table 34 around the vertical axis (first axis) 33 is detected and controlled by a vertical axis (first axis)
[0014]
The vertical axis (first axis)
[0015]
In the exposure apparatus having the above-described configuration, the workpiece W is supported on the
[0016]
8 to 11 show a second embodiment of the exposure apparatus according to the present invention. This embodiment is different from the first embodiment in that the exposure work W is supported on the XY table 30 of the
[0017]
On this
[0018]
On the
[0019]
Both the first axis and the second axis preferably coincide with the focal position (condensing position) F of the
[0020]
Also in the second embodiment, as in the first embodiment, the exposure beam from the
[0021]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to obtain an exposure apparatus capable of performing accurate exposure on a predetermined region regardless of the basic curved surface shape of the workpiece to be exposed and the shape of the drawing pattern.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is an overall front view showing a first embodiment of an exposure apparatus according to the present invention.
2 is a partial front view showing a configuration around an optical system support stage of the exposure apparatus of FIG. 1. FIG.
3 is a partial front view showing a state in which the optical system support stage of FIG. 2 is rotated about a first axis. FIG.
FIG. 4 is a partial front view showing a state of turning about the second axis.
FIG. 5 is a partial front view showing a state in which the first shaft and the second shaft are rotated.
FIG. 6 is a partial front view showing an example of an exposure state of a workpiece to be exposed by the exposure optical system.
7 is a view showing a configuration example of an exposure optical system of the exposure apparatus in FIG. 1. FIG.
FIG. 8 is an overall front view showing a second embodiment of the exposure apparatus according to the present invention.
9 is a front view of the main part of the exposure apparatus of FIG.
10 is a view taken in the direction of the arrow X in FIG. 8;
11 is a view showing a configuration example of an exposure optical system of the exposure apparatus in FIG.
[Explanation of symbols]
W Workpiece to be exposed 11
22
34 Horizontal rotary table 35 Horizontal axis (second axis)
36 Optical system support table 37
66 Work
Claims (3)
このXYテーブル上にあって、該XYテーブルの移動平面と直交する第1軸を中心に回転位置調整可能な回転テーブル;
この回転テーブル上において、上記第1軸と直交する第2軸を中心とする円筒面に沿って移動可能な光学系支持ステージ;
この光学系支持ステージに支持され、上記第1軸と第2軸の交点を焦点位置として露光ビームを集光する露光ビーム発生器;及び
上記第1軸と直交する第3軸を中心に、被露光ワークを回転自在に支持するワークホルダ;を備え、
上記第1軸と上記第3軸は同一鉛直面内に位置し、上記第2軸は水平面内に位置することを特徴とする露光装置。XY table whose position can be adjusted in two orthogonal axes;
A rotary table on the XY table, the rotary position of which can be adjusted around a first axis orthogonal to the moving plane of the XY table;
An optical system support stage movable along a cylindrical surface about a second axis orthogonal to the first axis on the rotary table;
An exposure beam generator which is supported by the optical system support stage and focuses the exposure beam with the intersection of the first axis and the second axis as a focal position; and a third axis which is orthogonal to the first axis. A work holder that rotatably supports the exposure work ,
An exposure apparatus, wherein the first axis and the third axis are located in the same vertical plane, and the second axis is located in a horizontal plane .
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- 1997-12-04 JP JP33442097A patent/JP4030634B2/en not_active Expired - Fee Related
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