JP4027470B2 - Mass flow controller - Google Patents
Mass flow controller Download PDFInfo
- Publication number
- JP4027470B2 JP4027470B2 JP22744297A JP22744297A JP4027470B2 JP 4027470 B2 JP4027470 B2 JP 4027470B2 JP 22744297 A JP22744297 A JP 22744297A JP 22744297 A JP22744297 A JP 22744297A JP 4027470 B2 JP4027470 B2 JP 4027470B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- flow path
- mass flow
- flow
- block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、流体流量を制御するマスフローコントローラや流体の流量を測定するマスフローメータなどの質量流量制御装置に関し、特に、自己発熱抵抗体などのセンサ素子を用いてサーマル方式によって質量流量を計測する質量流量制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
上記マスフローコントローラなどの質量流量制御装置は、半導体製造装置などに各種の分野で広く用いられている。図6は、従来のマスフローコントローラを概略的に示すもので、この図において、1は本体ブロック、2,3は本体ブロック1の両端に連設される流体導入用継手、流体導出用継手である。4は流体入口2aと流体出口3aとの間に形成される流体流路で、流体流量を測定するためのセンサ部5と流量を制御するための制御弁部6とが設けられている。
【0003】
前記センサ部5は、流体流路4に臨むように開設された測定流路入口7と測定流路出口8との間を、本体ブロック1の上面にシール機構9を介して設けられるセンサブロック10を挿通するように逆U字状に形成された例えば薄肉毛細管(キャピラリ)よりなるセンサ管11の上部の平坦なセンサ流路部分11aに2つの熱式質量流量センサ素子としての自己発熱抵抗体(以下、単にセンサ素子という)12,13を巻回してなるもので、センサ素子12,13はブリッジ回路(図示してない)に接続されている。なお、14はセンサ管11およびセンサ素子12,13を覆う断熱性のカバーである。
【0004】
そして、15はセンサ部5に対して並列的に流体流路4に形成されるバイパス部で、定分流比特性を有する層流素子16が設けられている。
【0005】
前記制御弁部6は、次のように構成されている。すなわち、バイパス部15よりも下流側の流体流路4に、弁口17とこの弁口17を開閉する弁体18とこれの下端部周囲に設けられるダイヤフラム19を備えた弁ブロック20が設けられている。この弁ブロック20の上方には、弁体18を下方に押圧駆動する弁アクチュエータとしてのピエゾスタック21が、弁ブロック20上に立設された筒状のバルブケース22内に収容された状態で設けられている。23はピエゾスタック21の出力を弁体18に伝えるための金属製の真球である。
【0006】
上記構成のマスフローコントローラにおいては、例えば流体入口2aから流入したガスGは、センサ部5とバイパス部15に分流される。センサ部5においてガスGの質量流量に比例した温度変化を捉えてブリッジ回路で電気信号に変換され、この信号は増幅回路(図示してない)や補正回路(図示してない)を経て流量出力信号として比例制御回路(図示してない)に入力される。この比例制御回路には外部から流量設定信号が入力されており、流量出力信号と流量設定信号とを比較してその差信号をバルブ駆動回路(図示してない)に送り、このバルブ駆動回路からの制御信号によって制御弁部6が前記差信号がゼロになるように動作し、常に設定された流量に制御するのである。
【0007】
ところで、上記構成のマスフローコントローラは、半導体製造装置の小型化や、配管系統の構成上または設置スペースなどの関係で、図7に示すように、2つのセンサ素子12,13が巻設されたセンサ流路部分11a(バイパス部15と平行な部分)が垂直となるように、センサ部5を垂直姿勢の状態となるようにして設置しなければならないことがある。マスフローコントローラをこのように設置することをZ方向設置という。
【0008】
そして、
(1)マスフローコントローラを上記Z方向に設置する。
(2)分子量の大きいガスを流す。
(3)ガスの一次側圧力が高い。
というような条件が重なると、マスフローコントローラのゼロ点が変動する。この現象は一般にサーマルサイフォン現象と呼ばれている。
【0009】
上記サーマルサイフォン現象が発生する原因について、図7を参照しながら説明すると、センサ素子12,13で温められたガスGがセンサ管11のセンサ流路部分11aを矢印A方向に上昇し、次いで、バイパス部15で冷却されて矢印B方向に降下し、再びセンサ素子12,13方向に戻るといったガスの循環流が生じる。したがって、マスフローコントローラのガス導入口2aが下方になるようにマスフローコントローラが取り付けられている場合は、センサ管11内をガスGが順方向に流れてプラスの出力が発生し、逆に、ガス導入口2aが上方になっている場合は、マイナスの出力が発生する。
【0010】
なお、上記サーマルサイフォン現象は、マスフローコントローラをZ方向設置したときにおいてのみ生じ、マスフローコントローラをこれ以外の状態(姿勢)で設置した場合には生じないものである。
【0011】
上述のようなサーマルサイフォン現象を回避する手法として、
a.センサ管11の内径を小さくする。
b.センサ部5における流路を変える。
などが試みられている。
【0012】
しかしながら、上記手法aによっても、サーマルサイフォン現象を完全に防止することはできず、センサ管11を細くすることにより詰まりが生じやすくなるといった問題がある。また、上記手法bによるときは、センサ素子12,13そのもののを改造する必要があるとともに、コンバージョンファクタ(C.F.)などの流量特性に変化が生じ、そのため、多大の費用が嵩むとともに、時間が必要になる。
【0013】
なお、上述の課題は、マスフローコントローラの構成から制御弁部6を除去して構成したマスフローメータにおいても同様に生じているところである。
【0014】
この発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、取付け姿勢に起因して生ずるサーマルサイフォン現象を生じないようにし、取付け姿勢の如何に拘りなく流体の質量流量を精度よく検出できる質量流量制御装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明では、本体ブロックに形成された流体入口と流体出口との間に、流体をバイパスさせるバイパス部と、流体の流量測定を行うためのセンサ部とを並列的に設けた質量流量制御装置において、前記センサ部と本体ブロックとの間に、上端が前記センサ部に保持されたセンサ管の上流側の開口と連なり、下端が本体ブロック側の上流側開口と連なる鉛直方向の直線的流路と、センサ部におけるセンサ素子が設けられた流路と平行となる流路を含み、上端がセンサ部の下流側と連なり下端が本体ブロック側の下流側と連なる屈曲流路を設けるとともに、前記平行流路を前記センサ部における発熱量と同程度に加熱するためのヒータを設け、さらに、前記センサ素子が設けられた流路と前記平行流路は、センサ部で温められることにより発生したガス流をヒータ加熱によって発生したガス流により打ち消すように配置され、かつ、直線的流路と平行流路とヒータとを一つのブロック体に形成し、このブロック体を本体ブロックとセンサ部との間に着脱自在に介装してなる。
【0016】
上記構成の質量流量制御装置においては、取付け姿勢の如何に拘りなくサーマルサイフォン現象の発生を防止することができ、したがって、サーマルサイフォン現象によるゼロ点の変動を生じることがないので、その取付け姿勢の如何に拘わりなく、質量流量を精度よく検出することができる。
【0017】
そして、上記質量流量制御装置においては、センサ部自体の構成を何ら変更したり改造する必要がなく、従来からのセンサ部をそのまま使用できるといった利点がある。
【0018】
また、サーマルサイフォン現象を打ち消すための機構を、質量流量制御装置に対して着脱自在とできるので、質量流量制御装置が前記Z方向姿勢で取り付けられる場合のみ、前記機構を取り付けるだけでよい。
【0019】
【発明の実施の形態】
発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。以下の図において、図6および図7に示した符号と同一のものは同一物である。
【0020】
図1〜図3は、この発明の一つの実施の形態を示すものである。図1および図2において、24は本体ブロック1とセンサブロック10との間にサンドイッチ状態に着脱自在に介装されるブロック体(以下、流路ブロックという)で、この流路ブロック24は、例えば本体ブロック1と同様にステンレス鋼よりなる。
【0021】
前記流路ブロック24は、図2に示すように、その内部に、上端がセンサブロック10に保持されたセンサ管11の上流側の開口11bと連なり、下端が本体ブロック1側の上流側開口7と連なる鉛直方向の直線的流路25と、上端がセンサ管11の下流側の開口11cと連なり、下端が本体ブロック1側の下流側開口8と連なる屈曲流路26とが形成されるとともに、ヒータ27が設けられている。
【0022】
前記屈曲流路26は、図3にも示すように、前記開口11cと連なり、直線的流路25と平行な流路26aと、この流路26aの下流側を直線的流路25側に90°屈曲し、センサ管11のセンサ素子12,13を設けたセンサ流路部分11aと平行になるように形成された流路26bと、この流路26bの下流側を下方に90°屈曲して直線的流路25と平行になるように形成された流路26cと、この流路26cの下流側を直線的流路25から遠ざかる方向に90°屈曲し、流路26bと平行になるように形成された流路26dと、この流路26dの下流側を下方に90°屈曲して直線的流路25と平行、かつ前記開口8に連なる流路26eとからなる。
【0023】
前記ヒータ27は、屈曲流路26のセンサ流路部分11aに近い平行流路26bに沿うようにして設けられた穴28内に例えばねじ込まれるようにして設けられている。このヒータ27は、センサ素子12,13によって生ずる熱量と同程度に平行流路26bを加熱するように、図示してない制御装置によりオンオフされ、発熱量を調整できるように構成されている。
【0024】
そして、上記流路ブロック24は、本体ブロック1およびセンサブロック10とにサンドインチされた状態で設けられ、それら1,10と間にはシール部材29,30が介装されている。
【0025】
上記構成のマスフローコントローラを、Z方向姿勢で設置する場合、すなわち、センサ管11のセンサ流路部分11aが垂直となるように、センサ部5を垂直姿勢の状態となるように設置する場合、前記ヒータ27を発熱させる。このヒータ27の発熱により、図3において仮想線Cで示すような上昇ガス流Cが発生する。このため、センサ素子12,13で温められることにより発生した上昇ガス流Aは、前記ヒータ加熱によって発生した上昇ガス流Cによって打ち消され、バイパス部15まで至らず、ガスの循環が生じることがない。つまり、ヒータ27としては、上昇ガス流Aをキャンセルさせるに必要な上昇ガス流Cを発生させる程度に発熱させればよい。
【0026】
したがって、前記条件(1)〜(3)が重なっても、サーマルサイフォン現象が生ずるといったことがなくなり、マスフローコントローラのゼロ点が変動するといったことがなくなり、ガスの質量流量を精度よく検出することができる。
【0027】
そして、この実施の形態においては、前記サーマルサイフォン現象を打ち消すための機構を、本体ブロック1やセンサブロック10に対して着脱自在な流路ブロック24内に設けているので、マスフローコントローラを前記Z方向姿勢で設置する場合のみ、流路ブロック24を本体ブロック1とセンサブロック10との間に取り付けるだけでよい。
【0028】
そして、前記流路ブロック24の取付けに際しては、センサ部5の構成、特に、センサ素子12,13としては従来のこの種のマスフローコントローラに設けられていたセンサ素子をそのまま使用することができ、コンバージョンファクタなどの流量特性に変化が生ずることがないとともに、改造のために余分なコストが生じるといったことがなく、ユーザにとってもきわめて望ましい。
【0029】
この発明は、上述の実施の形態に限られるものではなく、種々に変形して実施することができ、例えば、平行流路26bを加熱するヒータとしては、図4に示すように、プレート状のヒータ31を流路ブロック24の所定の箇所に設けるようにしてもよい。
【0030】
また、上記の各実施の形態においては、直線的流路25および屈曲流路26を流路ブロック24内に形成していたが、これに代えて、図5に示すように、本体ブロック1およびセンサブロック10にそれぞれ対応する当接面32a,32bを有するコ字状のステンレス鋼製のブロック体32に、流路25,26をステンレス鋼製の管によって形成し、管26’の平行流路26’bの外周にヒータ30を巻設してもよい。なお、この図5において、’を付した番号は、付してない番号25,26に対応する部材を示している。
【0031】
前記図4および図5にそれぞれ示される実施の形態における作用効果は、図1〜図3に示した実施の形態のそれと同じであるので、その詳細な説明は省略する。
【0032】
この発明は、上記マスフローコントローラにのみに限られるものではなく、マスフローコントローラの構成から制御弁部6を除去して構成したマスフローメータにおいても同様に適用できることはいうまでもない。
【0033】
【発明の効果】
この発明の質量流量制御装置によれば、その取付け姿勢などに起因するサーマルサイフォン現象を確実に防止することができ、サーマルサイフォン現象に起因して生ずるゼロ点シフトがなくすることができる。したがって、質量流量制御装置の姿勢の如何に拘りなく流体、特にガス質量流量を精度よく検出できる。
【0034】
そして、この発明によれば、センサ素子などセンサ部の構成をなんら変更する必要がなく、従来の質量流量制御装置に若干の改良を加えるだけでよいので、ユーザサイドに余分な負担を与えたりすることがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一つの実施の形態における質量流量制御装置を示す縦断面図である。
【図2】 前記質量流量制御装置に組み込まれる流路ブロック近傍の構成を示す分解斜視図である。
【図3】 前記流路ブロック近傍を拡大して示す図である。
【図4】 他の実施の形態における流路ブロック近傍の構成を示す分解斜視図である。
【図5】 さらに、他の実施の形態における流路ブロックの構成を示す斜視図である。
【図6】 従来の質量流量制御装置を示す縦断面図である。
【図7】 発明の解決すべき課題を説明するための図である。
【符号の説明】
1…本体ブロック、2a…流体入口、3a…流体出口、5…センサ部、11a…センサ流路部分、12,13…センサ素子、15…バイパス部、24,32…ブロック体、26b…平行流路、26’…管、27,31,33…ヒータ。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a mass flow controller such as a mass flow controller for controlling a fluid flow rate and a mass flow meter for measuring a fluid flow rate, and more particularly, a mass for measuring a mass flow rate by a thermal method using a sensor element such as a self-heating resistor. The present invention relates to a flow control device.
[0002]
[Prior art]
A mass flow controller such as the mass flow controller is widely used in various fields for semiconductor manufacturing apparatuses and the like. FIG. 6 schematically shows a conventional mass flow controller. In this figure, 1 is a main body block, 2 and 3 are fluid introduction joints and fluid lead-out joints connected to both ends of the main body block 1. . 4 is a fluid flow path formed between the
[0003]
The
[0004]
[0005]
The
[0006]
In the mass flow controller configured as described above, for example, the gas G flowing from the
[0007]
By the way, the mass flow controller having the above configuration is a sensor in which two
[0008]
And
(1) A mass flow controller is installed in the Z direction.
(2) A gas having a large molecular weight is flowed.
(3) The primary pressure of the gas is high.
When these conditions overlap, the zero point of the mass flow controller changes. This phenomenon is generally called a thermal siphon phenomenon.
[0009]
The cause of the occurrence of the thermal siphon phenomenon will be described with reference to FIG. 7. The gas G heated by the
[0010]
The thermal siphon phenomenon occurs only when the mass flow controller is installed in the Z direction, and does not occur when the mass flow controller is installed in any other state (posture).
[0011]
As a technique to avoid the thermal siphon phenomenon as described above,
a. The inner diameter of the
b. The flow path in the
Etc. have been tried.
[0012]
However, even with the above method a, the thermal siphon phenomenon cannot be completely prevented, and there is a problem that clogging is likely to occur when the
[0013]
In addition, the above-mentioned subject has arisen similarly also in the mass flow meter comprised by removing the
[0014]
The present invention has been made in consideration of the above-mentioned matters, and its purpose is to prevent the occurrence of a thermal siphon phenomenon caused by the mounting posture, and to accurately control the mass flow rate of the fluid regardless of the mounting posture. The object is to provide a mass flow controller capable of detection.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, according to the present invention, a bypass unit for bypassing a fluid and a sensor unit for measuring a fluid flow rate are provided in parallel between a fluid inlet and a fluid outlet formed in the main body block. In the mass flow control device provided, the upper end is connected to the upstream opening of the sensor tube held by the sensor unit and the lower end is connected to the upstream opening on the main body block side between the sensor unit and the main body block. Direction flow path and a flow path that is parallel to the flow path provided with the sensor element in the sensor unit , the upper end is connected to the downstream side of the sensor unit, and the lower end is connected to the downstream side of the main body block side provided with a heater for heating the parallel flow path to the same extent as the amount of heat generated in the sensor unit is provided, further, the parallel flow path and a flow path which the sensor element is provided in the sensor unit The gas flow generated by be fit is arranged so as to cancel the gas flow generated by the heater, and forms a straight channel parallel flow path and the heater in one of the block body, the body of the block body It is detachably interposed between the block and the sensor unit.
[0016]
In the mass flow control device having the above configuration, it is possible to prevent the occurrence of the thermal siphon phenomenon regardless of the mounting posture, and therefore, the zero point fluctuation due to the thermal siphon phenomenon does not occur. Regardless of the method, the mass flow rate can be accurately detected.
[0017]
And in the said mass flow control apparatus, it is not necessary to change or modify the structure of sensor part itself, and there exists an advantage that the conventional sensor part can be used as it is.
[0018]
Further, since the mechanism for canceling the thermal siphon phenomenon can be detachably attached to the mass flow control device, the mechanism need only be attached only when the mass flow control device is attached in the Z-direction posture.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the invention will be described with reference to the drawings. In the following drawings, the same reference numerals as those shown in FIGS. 6 and 7 are the same.
[0020]
1 to 3 show one embodiment of the present invention. 1 and 2, in 24 block body is freely interposed removably sandwiched state between the body block 1 and the sensor block 10 (hereinafter, referred to as flow Michibu lock), the
[0021]
Said
[0022]
As shown in FIG. 3, the
[0023]
The
[0024]
Then, the
[0025]
When the mass flow controller having the above configuration is installed in the Z-direction posture, that is, when the
[0026]
Therefore, even if the conditions (1) to (3) overlap, the thermal siphon phenomenon does not occur, the zero point of the mass flow controller does not fluctuate, and the gas mass flow rate can be detected accurately. it can.
[0027]
Then, in this embodiment, the mechanism for canceling the thermal siphon effect, since the provided freely flow
[0028]
Then, when the mounting of the
[0029]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented with various modifications. For example, as a heater for heating the
[0030]
Further, in the above embodiments, but to form a
[0031]
The operational effects of the embodiment shown in FIGS. 4 and 5 are the same as those of the embodiment shown in FIGS.
[0032]
Needless to say, the present invention is not limited to the mass flow controller described above, and can be similarly applied to a mass flow meter configured by removing the
[0033]
【The invention's effect】
According to the mass flow control device of the present invention, it is possible to reliably prevent the thermal siphon phenomenon due to the mounting posture and the like, and it is possible to eliminate the zero point shift caused by the thermal siphon phenomenon. Therefore, it is possible to accurately detect the fluid, particularly the gas mass flow rate, regardless of the attitude of the mass flow control device.
[0034]
According to the present invention, it is not necessary to change the configuration of the sensor unit such as the sensor element, and it is only necessary to make a slight improvement to the conventional mass flow rate control device, which gives an extra burden on the user side. There is nothing.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a mass flow control device according to one embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view showing the mass flow controller to incorporated flow Michibu locking configuration near.
Figure 3 is an enlarged view showing the flow Michibu locking vicinity.
4 is an exploded perspective view showing the configuration of a flow Michibu lock the vicinity of the other embodiments.
[5] In addition, a perspective view showing a configuration of a flow Michibu lock according to another embodiment.
FIG. 6 is a longitudinal sectional view showing a conventional mass flow control device.
FIG. 7 is a diagram for explaining a problem to be solved by the invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Main body block, 2a ... Fluid inlet, 3a ... Fluid outlet, 5 ... Sensor part, 11a ... Sensor flow path part, 12, 13 ... Sensor element, 15 ... Bypass part, 24, 32 ... Block body, 26b ... Parallel flow Road, 26 '... pipe, 27, 31, 33 ... heater.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22744297A JP4027470B2 (en) | 1997-08-09 | 1997-08-09 | Mass flow controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22744297A JP4027470B2 (en) | 1997-08-09 | 1997-08-09 | Mass flow controller |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1164060A JPH1164060A (en) | 1999-03-05 |
JP4027470B2 true JP4027470B2 (en) | 2007-12-26 |
Family
ID=16860941
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22744297A Expired - Fee Related JP4027470B2 (en) | 1997-08-09 | 1997-08-09 | Mass flow controller |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4027470B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002174539A (en) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Nippon M K S Kk | Mass flow controller |
US11543275B2 (en) | 2017-03-30 | 2023-01-03 | Fujikin Incorporated | Mass flow sensor, mass flow meter including the mass flow sensor, and mass flow controller including the mass flow sensor |
-
1997
- 1997-08-09 JP JP22744297A patent/JP4027470B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1164060A (en) | 1999-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9003877B2 (en) | Flow sensor assembly | |
US6681625B1 (en) | Constant-temperature-difference bidirectional flow sensor | |
US6474155B1 (en) | Constant-temperature-difference flow sensor | |
US7624632B1 (en) | Constant-temperature-difference flow sensor, and integrated flow, temperature, and pressure sensor | |
JPH0863235A (en) | Differential pressure type mass flow rate control unit | |
JP4537067B2 (en) | Apparatus and method for thermal management of mass flow controller | |
JP4752472B2 (en) | Air flow measurement device | |
JP4027470B2 (en) | Mass flow controller | |
US20030115951A1 (en) | Apparatus and method for thermal isolation of thermal mass flow sensor | |
JP2002054964A (en) | Method for measuring flow rate and flow meter | |
US7469583B2 (en) | Flow sensor | |
US6668641B2 (en) | Apparatus and method for thermal dissipation in a thermal mass flow sensor | |
JP2006010322A (en) | Thermal flowmeter | |
JP3818547B2 (en) | Mass flow controller | |
JP2589318Y2 (en) | Mass flow meter and mass flow controller | |
JP4368432B2 (en) | Mass flow sensor and mass flow meter and mass flow controller using the same | |
TWI664399B (en) | Mass flow sensor, mass flow meter including the mass flow sensor, and mass flow controller including the mass flow sensor | |
JPH04339218A (en) | Thermal flowmeter | |
JP2020140292A (en) | Mass flow controller | |
JP2002202166A (en) | Flowmeter | |
JPH1114421A (en) | Heating resistor-type air-flow-rate measuring instrument | |
JP2022011292A (en) | Thermal flow sensor, manufacturing method thereof, and mass flow controller | |
JP2001317977A (en) | Flow rate measuring apparatus | |
JP2003254807A (en) | Thermal sensor, installing method thereof, and mass flowmeter | |
JPH0668452B2 (en) | Mass flow meter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040723 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061023 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061031 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070522 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070711 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071009 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071010 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |