JP4024914B2 - Ultrasonic diagnostic equipment - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、振動子で発生した受信信号をケーブル等による損失を低減させる目的で使用される、プローブに振動子と共に内蔵されているインピーダンス整合回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
超音波診断装置は、大きく、装置本体と、この装置本体にケーブルで接続されている超音波プローブとからなる。超音波プローブには、装置本体からの送信信号(駆動パルスあるいは励振パルスとも称される)により機械的振動を起こし、超音波を発生すると共に、体内からの反射波を受波して電気信号に変換するための複数チャネル分の振動子が内蔵されている。
【0003】
ところで、受信状態時においては、振動子は、超音波の反射波を受波して電気信号に変換する働きをするため、装置本体側からすれば、一種の信号発生源と見ることができる。電圧伝達経路における一般的原則からすれば、信号損失の見地より信号源側の出力インピーダンスは低い程よいが、振動子の出力インピーダンスは割合に高く、このため、ケーブルを含む電圧伝達経路上の容量成分の悪影響を受け、受信信号の損失が大きくなって、S/N比(信号対雑音比)が低下し、超音波像の画質を低下させるという問題がある。
【0004】
この問題を解決するために、従来では、特願昭60−252437、特開昭62−112537号公報、特公平6−96005号公報にも開示されているように、超音波振動子からの受信信号を信号伝達路での損失を低減させるために、プローブにインピーダンス変換用回路を内蔵することが行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
従来では、このインピーダンス変換用回路はプローブに内蔵させるために集積回路(IC)化されているが、目的に合った高耐圧IC化技術には現状限界があり、この限界により、感度向上させるために超音波の送信信号の振幅を十分高めることができなかった。また、IC化特有の寄生トランジスタに流れ込む寄生電流があり、これが発熱の大きな要因となっていた。さらに、インピーダンス変換用回路を高耐圧素子で回路構成することは、高耐圧素子は一般的にサイズが大きいので、小型化の障害となっていた。
本発明の目的は、低コストで且つ小型に構築できる高耐圧のインピーダンス変換回路を有する超音波診断装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、振動子とインピーダンス変換回路とを内蔵する超音波プローブと、装置本体と、前記超音波プローブと前記装置本体とを電気的に接続するケーブルとを具備する超音波診断装置において、前記インピーダンス変換回路は、ベース側が前記振動子に接続され、エミッタ側が前記ケーブルに接続されたトランジスタ素子と、前記トランジスタ素子に並列に、且つ前記装置本体からの高電圧の送信信号を前記振動子に送信するように設けられた第1のダイオード素子と、前記送信信号により前記振動子に蓄積された電荷を放電するための第2のダイオード素子と、前記トランジスタ素子への過大電流を抑制するための抵抗素子と、前記トランジスタ素子のコレクタ側に前記送信信号が加わっているときには高インピーダンスを示し、前記トランジスタ素子側のコレクタ側に前記送信信号が加わっていないときには低インピーダンスを示す高耐圧素子とを有し、前記トランジスタ素子と前記第1のダイオードと前記第2のダイオードと前記抵抗とは集積回路に構成され、前記高耐圧素子は前記集積回路に外付けされ、前記集積回路の基板は出力側に接続され、前記集積回路は低電圧プロセスで形成されることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を実施形態により具体的に説明する。図1は本実施形態である超音波診断装置の主要部の1チャネル分の構成を示している。この超音波診断装置は、超音波プローブ1と、装置本体3と、超音波プローブ1と装置本体3とを電気的に接続するためのケーブル2とから構成される。超音波プローブ1には、振動子4と、インピーダンス変換回路5とが内蔵されている。多チャネル型のプローブであれば、インピーダンス変換回路5は、チャネル数分だけ設けられる。
【0009】
インピーダンス変換回路5は、振動子4を励振するために装置本体3からケーブル2を介して供給される高電圧高周波の送信信号(駆動パルス)を低損失で振動子4に伝えると共に、振動子4からの受信信号を高インピーダンスで取り込み、取り込んだ受信信号を低インピーダンスでケーブル2側に出力するインピーダンス変換機能を有している。
【0010】
このような機能を現実させるためには種々の回路構成が考えられるが、本実施形態においては、コレクタ接地されたトランジスタ(バイポーラトランジスタ)Trを中心に構成した回路を採用している。すなわち振動子4からの受信信号(受信エコー)は、トランジスタTrのベース“B”に伝達されるようになっており、トランジスタTrのエミッタ“E”の出力は抵抗R3を経て、ケーブル3を介して装置本体3に伝達されるようになっている。抵抗R1,R2は点(B)における電位を決定するために調整され設けられている。点(A)と点(B)との間にはダイオードD1,D2,D3が設けられており、送信信号はダイオードD1,D2,D3を介して振動子4に印加される。ツェナーダイオードD4は、ツェナー電圧をトランジスタTrの耐電圧以下にすることでトランジスタTrが破壊することを防ぐ役割を担うために設けられている。
【0011】
ダイオードD5は、送信パルスの波高値以上の耐電圧を有する高電圧素子(高耐圧性素子)であり、送信パルスが電源電圧V1に流れ込むのを防ぐ役割を担っている。このダイオードD5により、外部の電源V1と電気的に分離されるので、他の素子(Tr,R1,R2,R3,D1,D2,D3,D4)は、低圧プロセスで集積回路6に構築することができる。これとは独立してダイオードD5は集積回路6に外付けされる。
【0012】
また、装置本体3はトランジスタTrのエミッタ電流を流すための電流回路、送信信号を発生する送信回路、受信信号を取り込むための受信回路、取り込んだ受信信号の処理を行う信号処理回路、その処理信号を表示する表示装置等を有して構成されているが、この装置本体3の構成については従来と同様であるため、その詳細な説明を省略する。
【0013】
次に、以上のような構成による作用について説明する。
(送信)
図2には、送信時の信号経路を太線で示している。装置本体3における送信回路、具体的にはパルサより出力された駆動パルスが、ケーブル3を介してインピーダンス変換回路5に伝達される。伝達された駆動パルスは送信信号通過用のダイオードD3を通過し、振動子4に印加される。振動子4に蓄えられた電荷はダイオードD1,D2を介して放電される。これにより振動子4から超音波が送波される。
【0014】
駆動パルスの電位は通常数+〜百数+ボルト程度であり、電源電圧V1は数ボルト程度である。このため、送信時に駆動パルスによってトランジスタTrのエミッタとコレクタとの間が逆バイアスされ、トランジスタTrはオフ状態となり、駆動パルスの立ち下がり時はダイオードD1,D2を通過する。そのため、トランジスタTrのベースとエミッタとの間にはダイオードD1,D2の順方向電圧(約1.4V)以上印加されることはなく、トランジスタTrの破損防止が図られる。
【0015】
またトランジスタTrのコレクタ“C”の端子側に存在する寄生容量C1に電荷が蓄積されるため駆動パルスの立ち下がり時にトランジスタTrのコレクタ/エミッタ間に逆電圧がかかるが、ツエナーダイオードD4のツエナー電圧をトランジスタTrの耐電圧以下にすることでトランジスタTrの破損防止が図られる。
【0016】
以上の送信動作において駆動パルスはダイオードD1,D2,D3を通過して振動子4に印加されるため、駆動パルス(送信信号)の損失は極めて少ない。また外付けに高耐圧のダイオードD5を用いることで、素子(Tr,R1,R2,R3,D1,D2,D3,D4)を低圧プロセスで集積化すること、高電圧の駆動パルスを印加して感度の向上を図ることができる。
(受信)
図3には、受信時の信号経路を太線で示している。振動子4より送信された超音波の反射は再び振動子4により受信され、この超音波の受信による受信信号(受信エコー)がインピーダンス変換回路5に取り込まれる。駆動パルスが振動子4に印加されない期間においては、電源電圧V1及び抵抗R1,R2によりバイアス電位が決まり、トランジスタTrはA級動作状態となる。つまりトランジスタTrはエミッタフォロワとして動作するので、取り込まれた受信信号に応じてエミッタ電流が変化する。
【0017】
エミッタフォロワの特徴は入力インピーダンスが高く(数十KΩ以上)、出力インピーダンスが低い(数〜数十Ω)ことである。また電圧利得は、ほぼ1であるが電流利得が大きく、ベース・エッミタ間は同相である。エミッタ電流の変化は抵抗R4によって電圧の変化に変換され、ケーブル3を介して装置本体3に伝達される。低インピーダンスで伝達された受信信号は装置本体3における受信回路に取り込まれ、信号処理回路における信号処理に供されることになる。信号処理は被検体の超音波像を形成する場合もあるが、被検体の組織識別のための演算処理を行う場合もある。
【0018】
以上の受信動作において、受信信号を低インピーダンスで伝達するため、ケーブル3等の容量成分による影響を受け難く、信号損失が極めて少ない。このため、高インピーダンスで受信信号を伝達する従来装置に比べS/N比が向上する。
【0019】
振動子4とインピーダンス変換回路5の入力端とを結ぶ導電路は、振動子4の出力インピーダンスが高い関係上できる限り短い方がよい。例えばインピーダンス変換回路5を超音波プローブ内に設けるのが好ましい。この場合、超音波プローブは医師または技師が常に被検体上で走査することから小型化する必要があり、インピーダンス変換回路5をIC(集積回路)化するとよい。IC化の際には送信電圧を上げるために高耐圧のプロセスを必要とするが本実施形態では外付けとして高耐圧のダイオードを用いることで送受信信号伝達手段部は低耐圧のプロセスでのIC化が可能となり、更なる小型化が可能となる。
【0020】
また、抵抗R4などは装置本体2側に設けるなどしてインピーダンス変換回路5の小型化及び超音波プローブ1内の発熱量の減少を図るのが好ましい
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能であるのはいうまでもない。
【0021】
【発明の効果】
本発明によれば、トランジスタ素子のコレクタ側に高電圧の送信信号が加わっているときには、トランジスタ素子と第1のダイオード素子と第2のダイオード素子と抵抗が高耐圧デバイスにより外部と電気的に遮断され、高耐圧デバイスを除くトランジスタ素子らには高電圧が加わらないので、これらトランジスタ素子らを低圧プロセスでIC化して、高耐圧のインピーダンス変換回路を低コストで且つ小型に構築できる。また、耐圧性能が高耐圧デバイスのみで決まるため、送信信号の振幅を容易に上げることができる。
さらに、集積回路の基板は出力側に接続されているので、基板電圧が出力電圧と同じになって、寄生トランジスタの寄生電流による発熱を低減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る超音波診断装置の主要部の構成を示す図。
【図2】送信時の信号経路を示す図。
【図3】受信時の信号経路を示す図。
【符号の説明】
1…超音波プローブ、
2…装置本体、
3…ケーブル、
4…振動子、
5…インピーダンス変換回路、
6…集積回路(IC)。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an impedance matching circuit incorporated in a probe together with a vibrator, which is used for the purpose of reducing a loss caused by a cable or the like in a reception signal generated by the vibrator.
[0002]
[Prior art]
The ultrasonic diagnostic apparatus is roughly composed of an apparatus main body and an ultrasonic probe connected to the apparatus main body with a cable. The ultrasonic probe generates mechanical vibrations by a transmission signal (also called a drive pulse or an excitation pulse) from the device body, generates ultrasonic waves, receives reflected waves from the body, and converts them into electrical signals. Built-in transducers for multiple channels for conversion.
[0003]
By the way, in the reception state, the vibrator functions to receive an ultrasonic reflected wave and convert it into an electric signal, so that it can be regarded as a kind of signal generation source from the apparatus main body side. From the general principle of the voltage transmission path, the lower the output impedance on the signal source side, the better the signal loss, but the higher the output impedance of the vibrator, the higher the capacitive component on the voltage transmission path including the cable. As a result, there is a problem that the loss of the received signal is increased, the S / N ratio (signal to noise ratio) is lowered, and the image quality of the ultrasonic image is lowered.
[0004]
In order to solve this problem, conventionally, as disclosed in Japanese Patent Application No. 60-252437, Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-112537, and Japanese Patent Publication No. 6-96005, reception from an ultrasonic transducer is performed. In order to reduce the loss of the signal in the signal transmission path, an impedance conversion circuit is built in the probe.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
Conventionally, this impedance conversion circuit has been integrated into an integrated circuit (IC) so as to be built in the probe. However, there is a current limit to the high voltage IC technology suitable for the purpose. In addition, the amplitude of the ultrasonic transmission signal could not be sufficiently increased. In addition, there is a parasitic current flowing into a parasitic transistor peculiar to IC, and this is a major factor of heat generation. Furthermore, the circuit configuration of the impedance conversion circuit with a high breakdown voltage element is an obstacle to miniaturization because the high breakdown voltage element is generally large in size.
An object of the present invention is to provide an ultrasonic diagnostic apparatus having a high-voltage impedance conversion circuit that can be constructed at low cost and in a small size.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus comprising: an ultrasonic probe including a vibrator and an impedance conversion circuit; an apparatus main body; and a cable that electrically connects the ultrasonic probe and the apparatus main body. The impedance conversion circuit transmits a high-voltage transmission signal from the device main body to the transducer in parallel with the transistor element having a base side connected to the vibrator and an emitter side connected to the cable, and the transistor element. A first diode element provided so as to perform, a second diode element for discharging the charge accumulated in the vibrator by the transmission signal, and a resistor for suppressing an excessive current to the transistor element High impedance when the transmission signal is applied to the element and the collector side of the transistor element, A high breakdown voltage element having a low impedance when the transmission signal is not applied to the collector side of the transistor element side, and the transistor element, the first diode, the second diode, and the resistor are integrated in an integrated circuit. The high-voltage element is externally attached to the integrated circuit, the substrate of the integrated circuit is connected to the output side, and the integrated circuit is formed by a low-voltage process .
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to embodiments. FIG. 1 shows the configuration of one channel of the main part of the ultrasonic diagnostic apparatus according to this embodiment. This ultrasonic diagnostic apparatus includes an ultrasonic probe 1, an apparatus main body 3, and a cable 2 for electrically connecting the ultrasonic probe 1 and the apparatus main body 3. The ultrasonic probe 1 incorporates a vibrator 4 and an impedance conversion circuit 5. In the case of a multi-channel type probe, impedance conversion circuits 5 are provided for the number of channels.
[0009]
The impedance conversion circuit 5 transmits a high-voltage, high-frequency transmission signal (drive pulse) supplied from the apparatus main body 3 via the cable 2 to excite the vibrator 4 to the vibrator 4 with low loss. Is received with a high impedance, and the received reception signal is output to the cable 2 side with a low impedance.
[0010]
In order to realize such a function, various circuit configurations are conceivable. In the present embodiment, a circuit composed mainly of a collector-grounded transistor (bipolar transistor) Tr is employed. In other words, the reception signal (reception echo) from the transducer 4 is transmitted to the base “B” of the transistor Tr, and the output of the emitter “E” of the transistor Tr passes through the resistor 3 and the cable 3. Is transmitted to the apparatus body 3. Resistors R1 and R2 are adjusted and provided to determine the potential at point (B). Diodes D1, D2, and D3 are provided between the point (A) and the point (B), and the transmission signal is applied to the vibrator 4 via the diodes D1, D2, and D3. The Zener diode D4 is provided to play a role of preventing the transistor Tr from being destroyed by making the Zener voltage equal to or lower than the withstand voltage of the transistor Tr.
[0011]
The diode D5 is a high voltage element (high withstand voltage element) having a withstand voltage equal to or higher than the peak value of the transmission pulse, and plays a role of preventing the transmission pulse from flowing into the power supply voltage V1. Since this diode D5 is electrically separated from the external power source V1, other elements (Tr, R1, R2, R3, D1, D2, D3, D4) are constructed in the integrated circuit 6 by a low-voltage process. Can do. Independently of this, the diode D5 is externally attached to the integrated circuit 6.
[0012]
The apparatus body 3 includes a current circuit for causing the emitter current of the transistor Tr to flow, a transmission circuit for generating a transmission signal, a reception circuit for capturing a reception signal, a signal processing circuit for processing the received reception signal, and a processing signal thereof However, since the configuration of the apparatus main body 3 is the same as that of the prior art, detailed description thereof is omitted.
[0013]
Next, the effect | action by the above structures is demonstrated.
(Send)
In FIG. 2, a signal path at the time of transmission is indicated by a thick line. A drive pulse output from the transmission circuit in the apparatus main body 3, specifically, a pulser, is transmitted to the impedance conversion circuit 5 through the cable 3. The transmitted drive pulse passes through the transmission signal passing diode D 3 and is applied to the vibrator 4. The electric charge stored in the vibrator 4 is discharged through the diodes D1 and D2. Thereby, an ultrasonic wave is transmitted from the vibrator 4.
[0014]
The potential of the drive pulse is usually about several + to several hundred + volts, and the power supply voltage V1 is about several volts. For this reason, during transmission, the drive pulse reversely biases the emitter and collector of the transistor Tr, the transistor Tr is turned off, and passes through the diodes D1 and D2 when the drive pulse falls. Therefore, the forward voltage (about 1.4 V) of the diodes D1 and D2 is not applied between the base and the emitter of the transistor Tr, and the transistor Tr can be prevented from being damaged.
[0015]
Further, since charges are accumulated in the parasitic capacitance C1 existing on the terminal side of the collector “C” of the transistor Tr, a reverse voltage is applied between the collector and the emitter of the transistor Tr when the drive pulse falls, but the Zener voltage of the Zener diode D4 Is set to be equal to or lower than the withstand voltage of the transistor Tr to prevent the transistor Tr from being damaged.
[0016]
In the above transmission operation, the drive pulse passes through the diodes D1, D2, D3 and is applied to the vibrator 4, so that the loss of the drive pulse (transmission signal) is extremely small. Also, by using a high-voltage diode D5 externally attached, the elements (Tr, R1, R2, R3, D1, D2, D3, D4) can be integrated by a low-voltage process, and a high-voltage drive pulse can be applied. The sensitivity can be improved.
(Receive)
In FIG. 3, a signal path at the time of reception is indicated by a thick line. Reflection of the ultrasonic wave transmitted from the transducer 4 is received again by the transducer 4, and a reception signal (reception echo) due to reception of this ultrasonic wave is taken into the impedance conversion circuit 5. In a period in which the drive pulse is not applied to the vibrator 4, the bias potential is determined by the power supply voltage V1 and the resistors R1 and R2, and the transistor Tr is in a class A operation state. That is, since the transistor Tr operates as an emitter follower, the emitter current changes according to the received reception signal.
[0017]
The emitter follower is characterized by high input impedance (several tens of KΩ or more) and low output impedance (several to several tens of Ω). The voltage gain is approximately 1, but the current gain is large, and the base and the emitter are in phase. The change in the emitter current is converted into a change in voltage by the resistor R4 and transmitted to the apparatus main body 3 through the cable 3. The received signal transmitted with low impedance is taken into the receiving circuit in the apparatus main body 3 and used for signal processing in the signal processing circuit. The signal processing may form an ultrasonic image of the subject, or may perform arithmetic processing for tissue identification of the subject.
[0018]
In the above receiving operation, since the received signal is transmitted with low impedance, it is hardly affected by the capacitive component of the cable 3 or the like, and the signal loss is extremely small. For this reason, the S / N ratio is improved as compared with the conventional device that transmits the received signal with high impedance.
[0019]
The conductive path connecting the vibrator 4 and the input end of the impedance conversion circuit 5 is preferably as short as possible because of the high output impedance of the vibrator 4. For example, it is preferable to provide the impedance conversion circuit 5 in the ultrasonic probe. In this case, the ultrasonic probe needs to be miniaturized because the doctor or engineer always scans the subject, and the impedance conversion circuit 5 may be integrated into an IC (integrated circuit). In the case of IC, a high breakdown voltage process is required to increase the transmission voltage, but in this embodiment, a high breakdown voltage diode is used as an external component, so that the transmission / reception signal transmission means is integrated in a low breakdown voltage process. And further miniaturization becomes possible.
[0020]
In addition, it is preferable to reduce the impedance conversion circuit 5 and reduce the amount of heat generated in the ultrasonic probe 1 by providing the resistor R4 and the like on the apparatus body 2 side .
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to the said embodiment, A various deformation | transformation implementation is possible.
[0021]
【The invention's effect】
According to the present invention, when a high-voltage transmission signal is applied to the collector side of the transistor element, the transistor element, the first diode element, the second diode element, and the resistor are electrically disconnected from the outside by the high-voltage device. In addition, since a high voltage is not applied to the transistor elements other than the high withstand voltage device, these transistor elements can be made into an IC by a low pressure process, and a high withstand voltage impedance conversion circuit can be constructed at low cost and in a small size. Further, since the withstand voltage performance is determined only by the high withstand voltage device, the amplitude of the transmission signal can be easily increased.
Further, since the substrate of the integrated circuit is connected to the output side, the substrate voltage becomes the same as the output voltage, and heat generation due to the parasitic current of the parasitic transistor can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a main part of an ultrasonic diagnostic apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a signal path during transmission.
FIG. 3 is a diagram showing a signal path during reception.
[Explanation of symbols]
1 ... ultrasonic probe,
2 ... The device body,
3 ... Cable
4 ... vibrator,
5 ... impedance conversion circuit,
6: Integrated circuit (IC).

Claims (3)

振動子とインピーダンス変換回路とを内蔵する超音波プローブと、装置本体と、前記超音波プローブと前記装置本体とを電気的に接続するケーブルとを具備する超音波診断装置において、
前記インピーダンス変換回路は、
ベース側が前記振動子に接続され、エミッタ側が前記ケーブルに接続されたトランジスタ素子と、
前記トランジスタ素子に並列に、且つ前記装置本体からの高電圧の送信信号を前記振動子に送信するように設けられた第1のダイオード素子と、
前記送信信号により前記振動子に蓄積された電荷を放電するための第2のダイオード素子と、
前記トランジスタ素子への過大電流を抑制するための抵抗素子と、
前記トランジスタ素子のコレクタ側に前記送信信号が加わっているときには高インピーダンスを示し、前記トランジスタ素子側のコレクタ側に前記送信信号が加わっていないときには低インピーダンスを示す高耐圧素子とを有し、
前記トランジスタ素子と前記第1のダイオードと前記第2のダイオードと前記抵抗とは集積回路に構成され、前記高耐圧素子は前記集積回路に外付けされ、前記集積回路の基板は出力側に接続され、
前記集積回路は低電圧プロセスで形成されることを特徴とする超音波診断装置。
In an ultrasonic diagnostic apparatus comprising an ultrasonic probe including a vibrator and an impedance conversion circuit, an apparatus main body, and a cable for electrically connecting the ultrasonic probe and the apparatus main body,
The impedance conversion circuit is
A transistor element having a base side connected to the vibrator and an emitter side connected to the cable;
A first diode element provided in parallel with the transistor element and for transmitting a high-voltage transmission signal from the apparatus main body to the vibrator;
A second diode element for discharging the charge accumulated in the vibrator by the transmission signal;
A resistance element for suppressing an excessive current to the transistor element;
A high withstand voltage element showing a high impedance when the transmission signal is applied to the collector side of the transistor element, and a high withstand voltage element showing a low impedance when the transmission signal is not applied to the collector side of the transistor element;
The transistor element, the first diode, the second diode, and the resistor are configured in an integrated circuit, the high-breakdown-voltage element is externally attached to the integrated circuit, and the substrate of the integrated circuit is connected to the output side. ,
The ultrasonic diagnostic apparatus, wherein the integrated circuit is formed by a low voltage process .
前記高耐圧素子はダイオード素子であることを特徴とする請求項1記載の超音波診断装置。  The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 1, wherein the high breakdown voltage element is a diode element. 第1の電気回路と第2の電気回路との間に挿入されるインピーダンス変換回路において、
ベース側が前記第1の電気回路に接続され、エミッタ側が前記第2の電気回路に接続されたトランジスタ素子と、
前記トランジスタ素子に並列に、且つ前記第2の電気回路からの高電圧信号を前記第1の電気回路に送るように設けられた第1のダイオード素子と、
前記高電圧信号により前記第1の電気回路に蓄積された電荷を放電するための第2のダイオード素子と、
前記トランジスタ素子への過大電流を抑制するための抵抗素子と、
前記トランジスタ素子のコレクタ側に前記高電圧信号が加わっているときには高インピーダンスを示し、前記トランジスタ素子側のコレクタ側に前記高電圧信号が加わっていないときには低インピーダンスを示す高耐圧素子とを有し、
前記トランジスタ素子と前記第1のダイオードと前記第2のダイオードと前記抵抗とは集積回路に構成され、前記高耐圧素子は前記集積回路に外付けされ、前記集積回路の基板は出力側に接続され、
前記集積回路は低電圧プロセスで形成されることを特徴とするインピーダンス変換回路。
In the impedance conversion circuit inserted between the first electric circuit and the second electric circuit,
A transistor element having a base side connected to the first electric circuit and an emitter side connected to the second electric circuit;
A first diode element provided in parallel with the transistor element and for sending a high voltage signal from the second electric circuit to the first electric circuit;
A second diode element for discharging the charge accumulated in the first electric circuit by the high voltage signal;
A resistance element for suppressing an excessive current to the transistor element;
A high-voltage element that exhibits a high impedance when the high-voltage signal is applied to the collector side of the transistor element, and a high-voltage element that exhibits a low impedance when the high-voltage signal is not applied to the collector side of the transistor element;
The transistor element, the first diode, the second diode, and the resistor are configured in an integrated circuit, the high-breakdown-voltage element is externally attached to the integrated circuit, and the substrate of the integrated circuit is connected to the output side. ,
The integrated circuit is formed by a low voltage process .
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