JP3989131B2 - Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor - Google Patents

Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor Download PDF

Info

Publication number
JP3989131B2
JP3989131B2 JP13569999A JP13569999A JP3989131B2 JP 3989131 B2 JP3989131 B2 JP 3989131B2 JP 13569999 A JP13569999 A JP 13569999A JP 13569999 A JP13569999 A JP 13569999A JP 3989131 B2 JP3989131 B2 JP 3989131B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
physical quantity
drive current
detection element
quantity detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP13569999A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2000329513A (en
Inventor
中村  勉
哲郎 菊地
淳 樽井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Soken Inc
Original Assignee
Denso Corp
Nippon Soken Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp, Nippon Soken Inc filed Critical Denso Corp
Priority to JP13569999A priority Critical patent/JP3989131B2/en
Publication of JP2000329513A publication Critical patent/JP2000329513A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3989131B2 publication Critical patent/JP3989131B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一対の駆動電流端子間に駆動電流が供給された状態で、検出対象の物理量に対応した検出信号を出力するホール素子等の物理量検出素子に対して、温度によらず検出感度が一定となるように駆動電流を供給する駆動回路と、ホール素子を用いて検出対象物の回転角度を検出する回転角度センサとに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、回転角度を検出すべき検出対象物側に永久磁石を取り付けると共に、その永久磁石によって発生される磁界中にホール素子を置き、そのホール素子を交差する磁束密度の変化から、上記検出対象物の回転角度を非接触で検出する回転角度センサが知られている。そして、この種の回転角度センサの代表的なものとして、例えば車載用内燃機関のスロットル開度(スロットルバルブの開度)を検出するためのスロットル開度センサがある。図4に、このようなスロットル開度センサ10の構成を示す。
【0003】
即ち、このようなスロットル開度センサ10においては、スロットルバルブの回転軸に連動して回転するシャフト12の中空部の内壁面に、磁束が当該シャフト12の中心軸を横切るように対向して2つの永久磁石14a,14bが取り付けられており、更に、その永久磁石14a,14bの磁束を検出するようにホール素子16が配置されている。尚、ホール素子16は、当該スロットル開度センサ10内に設けられた回路基板18上に実装されている。
【0004】
そして、スロットルバルブの回動に伴い、永久磁石14a,14bがホール素子16の周りを回ることにより、ホール素子16の感磁面に対する永久磁石14a,14bによる磁界方向が変化し、その変化した角度θに応じた電気信号、即ちホール電圧Vhが、式1の如くホール素子16から出力される。
【0005】
【数1】

Figure 0003989131
【0006】
ここで、Bは、永久磁石14a,14bによる磁束密度(磁界の強さ)であり、Rdは、ホール素子16の内部抵抗値であり、Iは、ホール素子16の駆動電流であり、Khは、ホール素子16の単位電流(単位駆動電流)及び単位磁束密度当たりの感度定数である。そして、VAは、「B・Rd・I・Kh」に対応した定数である。よって、図5に示すように、シャフト12が−90度から+90度まで回転する間に、上記ホール電圧(ホール素子16の出力)Vhは、「−VA」から「+VA」へと正弦波(sin波)上を連続的に変化することとなる。
【0007】
そして更に、スロットル開度センサ10では、ホール素子16から上記の如く出力されるホール電圧Vhを、回路基板18上の回路で処理して、スロットル開度(シャフト12の回転角度)を示す信号として端子20から外部へ出力する。
一方、ホール素子16から磁界の強さ(磁束密度)に対応したホール電圧Vhを出力させるためには、そのホール素子16に駆動電流を供給する必要があるが、この種のセンサ10に用いられてホール素子16に駆動電流を供給する駆動回路としては、従来より、図6に示すような構成の回路が知られている。
【0008】
図6に示すように、従来のホール素子の駆動回路では、まず、演算増幅器22と抵抗R3とによって、ホール素子16の一対の駆動電流端子a,b間に駆動電流Iを流すための定電流制御回路を構成している。
即ち、この定電流制御回路においては、演算増幅器22の反転入力端子(−端子)がホール素子16の一方の駆動電流端子bと抵抗R3の一端とに共通接続されており、同演算増幅器22の出力端子がホール素子16の他方の駆動電流端子aに接続されている。また、抵抗R3の他端は接地電位に接続されている。そして、演算増幅器22は、反転入力端子の電圧が非反転入力端子(+端子)に印加されている電圧V+と等しくなるように、自己の出力端子の出力電圧を変化させるため、ホール素子16の駆動電流端子a,b間には、上記電圧V+と抵抗R3とによって決まる電流(=V+/R3)が駆動電流Iとして流れるように、駆動電圧が印加されることとなる。
【0009】
そして、ホール素子16に駆動電流Iが供給されることにより、ホール素子16の一対の出力端子c,d間には、磁界の強さに対応したホール電圧Vhが現れる。そこで、この駆動回路では、ホール素子16の出力端子c,d間に発生するホール電圧Vhを、差動増幅器24により増幅して、上記端子20から出力電圧VOUTとして外部へ出力するようにしている。
【0010】
ここで特に、従来の駆動回路において、演算増幅器22の非反転入力端子に印加される電圧V+は、所定の電源電圧VCCを2つの抵抗R4,R5で分圧した電圧であり、抵抗R5としては、温度に応じて抵抗値が変化するサーミスタ等の感温抵抗を用いている。よって、演算増幅器22の非反転入力端子に印加される電圧V+は、温度に応じて変化し、その変化に応じて、ホール素子16へ供給される駆動電流Iも変化することとなる。
【0011】
つまり、式1からも分かるように、ホール素子16の磁束密度Bに対する感度(I・Kh)は駆動電流Iに比例して大きくなり、また、図7(a)に示すように、ホール素子16は、単位駆動電流及び単位磁束密度当たりの感度定数Khに関して負の温度特性(温度の上昇に伴ってKhが低下する特性)を有しているため、駆動電流Iが常に一定であれば、温度上昇に伴い感度が低下して、同じ磁束密度下でもホール電圧Vhが小さくなってしまう。
【0012】
そこで、従来の駆動回路では、上記抵抗R5として、抵抗値が正の温度特性を有する感温抵抗を用い、温度が高いときほど、上記電圧V+が高くなり、それに応じて、ホール素子16への駆動電流Iが大きくなるようにして(即ち、駆動電流Iに正の温度特性を持たせて)、ホール素子16の感度の温度特性を補償し、温度によらず一定の感度(I・Kh)が得られるようにしている。また更に、スロットル開度センサ10の場合、永久磁石14a,14bは、磁束密度に関して負の温度特性(温度の上昇に伴って磁束密度が低下する特性)を有しているため、従来の駆動回路では、このような永久磁石14a,14bの温度特性も補償されるように、感温抵抗R5の温度特性や各抵抗R3,R4,R5の抵抗値を決定して、ホール素子16からのホール電圧Vhが温度に影響されないようにして、スロットル開度センサ10の出力信号(出力電圧)VOUTの信頼性を高めている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の駆動回路では、感温抵抗R5といった温度検出用素子を別途追加しなければならない上に、このような温度検出用素子とホール素子とは、物理的に異なる位置に配置されるため、ホール素子の温度を的確に捉えた正確な温度補償を行うことができない。つまり、温度検出用素子の温度とホール素子の温度は、常に同じとは限らないためである。
【0014】
また、本発明者は、図7(b)に示すように、ホール素子の内部抵抗値(駆動電流端子a,b間の内部抵抗値)Rdが温度により変化することを積極的に利用して、図8に例示する如く、図6の駆動回路に対して、演算増幅器22の非反転入力端子に常に一定の電圧V+を印加する代わりに、ホール素子16に一定の駆動電流Iを流している状況下での駆動電流端子a,b間の電圧を、差動増幅器26により抽出し、更に、信号処理回路28によって、ホール素子16からのホール電圧Vhに上記差動増幅器26の出力を所定の割合で乗算すると共に、その乗算後の電圧を増幅することにより、外部への出力信号VOUTを生成する構成を考えた。
【0015】
つまり、ホール素子16に一定の駆動電流Iを流している状況下での駆動電流端子a,b間の電圧は、ホール素子16の内部抵抗値Rdに比例した信号となり、その信号はホール素子16自身の温度に対応したものとなるため、その信号をホール電圧Vhに所定の割合で乗算することにより、出力信号VOUTを温度に影響されないものとするのである。
【0016】
そして、図8のような回路構成を採用すれば、ホール素子16の温度を的確に捉えた温度補償を行うことが可能となる。
しかし、図8の構成では、回路が複雑になってしまうという大きな欠点があり、実用的ではない。尚、図8は、アナログ的な乗算を行う場合の回路構成を表しているが、外部への出力信号VOUTを、マイクロコンピュータ等により、上記差動増幅器26の出力に応じてデジタル的に補正するように構成しても、回路の複雑化という同様の問題が生じる。
【0017】
一方、ホール素子としては、一般に、InSb(インジウム,アンチモン)からなるものと、GaAs(ガリウム,ヒ素)からなるものとがあり、図7(a)に示す如く、両者は共に感度に関しては直線的な負の温度特性を有するが、図7(b)に示す如く、InSbからなるホール素子は、内部抵抗値Rdに関して負の温度特性を有し、GaAsからなるホール素子は、内部抵抗値Rdに関して直線的な正の温度特性を有している。
【0018】
このため、InSbからなるホール素子のように、温度の上昇に伴って内部抵抗値が小さくなる物理量検出素子については、駆動電流端子間に一定電圧を印加する簡単な定電圧駆動を行うことにより、温度によらず検出感度をほぼ一定にすることが可能である。つまり、温度が上昇すると、内部抵抗値が小さくなって、自ずと駆動電流が大きくなるためである。
【0019】
ところが、GaAsからなるホール素子のように、温度の上昇に伴って内部抵抗値が大きくなる物理量検出素子については、上記のような定電圧駆動では温度補償を行うことができない。
本発明は、こうした実情に鑑みてなされたものであり、温度上昇に伴い内部抵抗値が大きくなり且つ検出感度が低下する物理量検出素子の温度による検出感度の変動を、感温抵抗などの温度検出用素子を別途設けることなく簡単な構成で正確に補償することができる物理量検出素子の駆動回路を提供し、更に、その駆動回路を用いることで、温度によらず検出対象物の回転角度を高精度に検出することができる回転角度センサを提供することを目的としている。
【0020】
【課題を解決するための手段、及び発明の効果】
上記目的を達成するためになされた請求項1又は2に記載の物理量検出素子の駆動回路は、一対の駆動電流端子間に駆動電流が供給された状態で、該駆動電流端子とは異なる端子から検出対象の物理量に対応した検出信号を出力する物理量検出素子に対して、所定の駆動電流を供給する電流供給手段を備えているが、その駆動電流の供給対象である物理量検出素子は、温度の上昇に伴って前記駆動電流端子間の内部抵抗値が大きくなり且つ前記物理量の検出感度が低下する特性と、前記駆動電流が増加するほど前記物理量の検出感度が大きくなる特性とを有している。
【0021】
そこで、この駆動回路では、帰還手段を設け、その帰還手段が、物理量検出素子の駆動電流端子間の電圧を、電流供給手段によって物理量検出素子へ供給される駆動電流に正帰還させるようにしている。
つまり、電流供給手段によって物理量検出素子に所定の駆動電流が流されている状況下で、温度が上昇すると、物理量検出素子の内部抵抗値(駆動電流端子間の内部抵抗値)が大きくなり、それに伴い、物理量検出素子の駆動電流端子間の電圧(以下、駆動電圧ともいう)が大きくなるため、その駆動電圧の変化は、物理量検出素子の内部抵抗値の変化、延いては物理量検出素子自身の温度変化に対応したものとなる。
【0022】
このため、請求項1又は2の駆動回路では、物理量検出素子の駆動電流端子間に印加されている駆動電圧を、物理量検出素子への駆動電流に正帰還する(駆動電圧が大きくなるほど駆動電流が大きくなるようにする)ことにより、温度が上昇するほど駆動電流が大きくなるようにして、物理量検出素子の温度上昇に伴う検出感度の低下を補償するようにしている。換言すれば、物理量検出素子の内部抵抗値が温度によって変化することを利用して、その内部抵抗値の変化を駆動電流に正の特性で反映させることにより、駆動電流に正の温度特性を持たせて、物理量検出素子の温度による検出感度の変動を補償するようにしている。
【0023】
よって、この請求項1又は2の駆動回路によれば、感温抵抗などの温度検出用素子や乗算器等の複雑な補正用回路を設けることなく、物理量検出素子自身の温度を的確に捉えた正確な温度補償を行うことができるようになる。
しかも、この駆動回路では、物理量検出素子の温度そのものに応じて温度補償を行うようにしているため、物理量検出素子の自己発熱が問題となるくらいの大きな駆動電流を流しても温度補償ができる。よって、物理量検出素子に大きな駆動電流を供給して、検出感度を向上させることができるという優れた効果が得られる。つまり、図6に示した従来の駆動回路では、物理量検出素子に相当するホール素子16自身の発熱に関しては、温度補償を行うことができないため、ホール素子16(物理量検出素子)自身が発熱しない程度に駆動電流を抑えておく必要があったが、請求項1又は2の駆動回路によれば、こうした制約が無くなるのである。
【0024】
ここで、請求項1の駆動回路は、具体的には以下のように構成されている。
即ち、電流供給手段は、反転入力端子が物理量検出素子の一方の駆動電流端子に接続され、出力端子が物理量検出素子の他方の駆動電流端子に接続され、非反転入力端子が第1の電圧V1に接続された演算増幅器と、一端が前記演算増幅器の反転入力端子に接続され、他端に第1の電圧V1とは異なる所定電圧Viが印加される抵抗Rとから構成されている。
【0025】
そして、帰還手段は、前記演算増幅器の出力電圧Voを、第1の電圧V1を基準として(詳しくは正負の基準として)反転増幅する反転増幅器と、第1の電圧V1とは異なる第2の電圧V2と前記反転増幅器の出力電圧とを加算した電圧を、前記抵抗Rの演算増幅器側とは反対側の端部に、前記所定電圧Viとして印加する加算器とから構成されている。尚、反転増幅器は、その増幅率を−A(但しAは正の数)とすると、「−A・(Vo−V1)+V1」といった電圧を出力するものである。
【0026】
このような請求項の駆動回路において、電流供給手段を構成する演算増幅器は、反転入力端子の電圧(即ち、物理量検出素子の上記一方の駆動電流端子の電圧)が、非反転入力端子に印加されている第1の電圧V1と等しくなるように、自己の出力端子から物理量検出素子の上記他方の駆動電流端子に印加する出力電圧Voを変化させる。このため、物理量検出素子の駆動電流端子間には、抵抗Rに流れる電流であって、上記所定電圧Viと第1の電圧V1との電位差を抵抗Rの抵抗値で割った値の目標電流(=|Vi−V1|/R)が駆動電流Iとして流れるように、「|Vo−V1|」なる駆動電圧が印加されることとなる。
【0027】
そして、この場合、物理量検出素子の両駆動電流端子のうちで、演算増幅器の反転入力端子に接続された方の駆動電流端子の電圧は、第1の電圧V1に保たれ、他方の駆動電流端子の電圧であって演算増幅器の出力電圧Voが、物理量検出素子への駆動電流Iが上記目標電流(=|Vi−V1|/R)となるように制御されるため、演算増幅器の出力電圧Voは、物理量検出素子の内部抵抗値の変化、延いては物理量検出素子自身の温度変化に応じて変化することとなる。
【0028】
そこで、請求項の駆動回路では、演算増幅器の出力電圧Voを、物理量検出素子の駆動電圧として扱い、その演算増幅器の出力電圧Voを反転増幅器により第1の電圧V1を基準として反転増幅すると共に、その反転増幅器の出力電圧と第2の電圧V2とを加算した電圧を、加算器により抵抗Rの演算増幅器側とは反対側の端部に前記所定電圧Viとして印加することにより、物理量検出素子の駆動電流端子間に印加されている駆動電圧を、電流供給手段によって物理量検出素子へ供給される駆動電流に正帰還させるようにしている。
【0029】
この正帰還のメカニズムは、下記の(1−1)〜(1−3)の通りである。
(1−1)まず、温度が上昇すると、物理量検出素子の内部抵抗値が大きくなり、それに伴い、第1の電圧V1と演算増幅器の出力電圧Voとの差(即ち、物理量検出素子の駆動電圧)が大きくなる。
【0030】
(1−2)そして、演算増幅器の出力電圧Voは、第1の電圧V1を基準として反転増幅され、更に第2の電圧V2と加算されて、抵抗Rの演算増幅器側とは反対側の端部に所定電圧Viとして印加されるため、温度上昇に伴い、第1の電圧V1と演算増幅器の出力電圧Voとの差が大きくなると、抵抗Rに印加される上記所定電圧Viは、第1の電圧V1を基準にして見ると、演算増幅器の出力電圧Voとは反対の極性方向へ大きくなる。つまり、温度上昇に伴い、第1の電圧V1と演算増幅器の出力電圧Voとの差が大きくなると、抵抗Rに印加される所定電圧Viと第1の電圧V1との差も大きくなる。
【0031】
(1−3)この結果、演算増幅器及び抵抗Rからなる電流供給手段の上記目標電流(=|Vi−V1|/R)が大きくなって、その電流供給手段により物理量検出素子に供給される駆動電流Iが大きくなるのである。
そして、この請求項の駆動回路によれば、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器の増幅率(−A)とを、物理量検出素子の検出感度の温度係数や内部抵抗値の温度係数に応じて設定することにより、温度による物理量検出素子の内部抵抗値の変化、即ち物理量検出素子自身の温度変化を駆動電流Iに適切に反映させて、物理量検出素子の温度による検出感度の変動を正確に補償することができる。
【0032】
また、請求項の駆動回路は、具体的には以下のように構成されている。
即ち、電流供給手段は、反転入力端子が物理量検出素子の一方の駆動電流端子に接続され、出力端子が物理量検出素子の他方の駆動電流端子に接続され、非反転入力端子が第1の電圧V1に接続された演算増幅器と、一端が前記演算増幅器の反転入力端子に接続され、他端が第1の電圧V1とは異なる第2の電圧V2に接続された抵抗Rとから構成されている。
【0033】
そして、帰還手段は、前記演算増幅器の出力電圧Voを、第1の電圧V1を基準として(詳しくは正負の基準として)反転増幅する反転増幅器と、その反転増幅器の出力端子と前記演算増幅器の反転入力端子との間に接続された帰還用抵抗R2とから構成されている。尚、前述した請求項の駆動回路と同様に、反転増幅器は、その増幅率を−A(但しAは正の数)とすると、「−A・(Vo−V1)+V1」といった電圧を出力するものである。
【0034】
この請求項の駆動回路においても、請求項の駆動回路と同様に、電流供給手段を構成する演算増幅器は、反転入力端子の電圧(即ち、物理量検出素子の上記一方の駆動電流端子の電圧)が、非反転入力端子に印加されている第1の電圧V1と等しくなるように、自己の出力端子から物理量検出素子の上記他方の駆動電流端子に印加する出力電圧Voを変化させる。
【0035】
このため、反転増幅器及び帰還用抵抗R2からなる帰還手段が無いと仮定すると、物理量検出素子の駆動電流端子間には、抵抗Rに流れる電流であって、第1の電圧V1と第2の電圧V2との電位差を抵抗Rの抵抗値で割った値の電流(=|V1−V2|/R)が駆動電流Iとして流れるように、「|Vo−V1|」なる駆動電圧が印加されることとなる。そして、物理量検出素子の両駆動電流端子のうちで、演算増幅器の反転入力端子に接続された方の駆動電流端子の電圧は、第1の電圧V1に保たれ、他方の駆動電流端子の電圧であって演算増幅器の出力電圧Voが、物理量検出素子への駆動電流Iが上記電流(=|V1−V2|/R)となるように制御されるため、演算増幅器の出力電圧Voは、物理量検出素子の内部抵抗値の変化、延いては物理量検出素子自身の温度変化に応じて変化することとなる。
【0036】
そこで、請求項の駆動回路においても、演算増幅器の出力電圧Voを、物理量検出素子の駆動電圧として扱い、その演算増幅器の出力電圧Voを反転増幅器により第1の電圧V1を基準として反転増幅すると共に、その反転増幅器の出力端子と前記演算増幅器の反転入力端子とを、帰還用抵抗R2を介して接続することにより、物理量検出素子の駆動電流端子間に印加されている駆動電圧を、電流供給手段によって物理量検出素子へ供給される駆動電流に正帰還させるようにしている。
【0037】
この正帰還のメカニズムは、下記の(2−1)〜(2−3)の通りである。
(2−1)まず、温度が上昇すると、物理量検出素子の内部抵抗値が大きくなり、それに伴い、演算増幅器の出力電圧Voが変化して、第1の電圧V1と上記出力電圧Voとの差(即ち、物理量検出素子の駆動電圧)が大きくなる。
【0038】
(2−2)そして、反転増幅器は、演算増幅器の出力電圧Voを、第1の電圧V1を基準として反転増幅し出力するため、温度上昇に伴い、第1の電圧V1と演算増幅器の出力電圧Voとの差が大きくなると、反転増幅器の出力電圧は、第1の電圧V1を基準にして見ると、演算増幅器の出力電圧Voとは反対の極性方向へ大きくなる。
【0039】
(2−3)すると、演算増幅器の反転入力端子の電圧が、帰還用抵抗R2によって、第1の電圧V1から演算増幅器の出力電圧Voとは反対の極性方向へ変化しようとするため、それを防ごうと、演算増幅器の出力電圧Voが更に変化し、この結果、演算増幅器からなる電流供給手段によって物理量検出素子に供給される駆動電流Iが大きくなるのである。
【0040】
そして、この請求項の駆動回路によれば、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器の増幅率(−A)とを、物理量検出素子の検出感度の温度係数や内部抵抗値の温度係数に応じて設定することにより、温度による物理量検出素子の内部抵抗値の変化、即ち物理量検出素子自身の温度変化を駆動電流Iに適切に反映させて、物理量検出素子の温度による検出感度の変動を正確に補償することができる。
【0041】
ところで、前述した請求項1又は2の駆動回路において、駆動電流の供給対象である物理量検出素子を、請求項に記載の如く、磁界の強さに対応した電圧(ホール電圧)を検出信号として出力するホール素子とすれば、内部抵抗値に関して直線的な正の温度特性を有するGaAsのホール素子(図7(b)参照)であっても、そのホール素子自体の温度を的確に捉えた正確な温度補償を簡単な構成で行うことができるようになる。
【0042】
次に、請求項に記載の本発明の回転角度センサは、回転角度を検出すべき検出対象物に取り付けられて、その検出対象物と共に回転する磁石と、該磁石により発生される磁界中に配置されて、磁界の強さに対応した電圧を出力するホール素子とを備えており、前記磁石による磁界方向と前記ホール素子の感磁面との角度変化に伴って変化する前記ホール素子の出力電圧(ホール電圧)を、前記検出対象物の回転角度を示す信号として外部へ出力するが、特に、ホール素子に駆動電流を供給するための駆動回路として、請求項に記載の物理量検出素子の駆動回路を備えている。
【0043】
よって、この請求項の回転角度センサによれば、駆動回路にて、ホール素子の駆動電圧を駆動電流に正帰還させるループゲインを決定する回路定数(具体的には、請求項の駆動回路では、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器の増幅率であり、請求項の駆動回路では、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器の増幅率である)を、ホール素子の感度の温度係数及び内部抵抗値の温度係数だけでなく、磁石の磁束密度の温度係数も加味して設定することにより、当該センサから外部への信号を温度に影響されないものとすることができ、温度によらず検出対象物の回転角度を高精度に検出可能なセンサとなる。そして特に、こうした温度補償を、簡単な回路構成で行うことができるため、当該回転角度センサの小型化及び低コスト化を達成することができる。
【0044】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。
まず図1は、第1実施形態のホール素子の駆動回路の構成を示す回路図である。尚、本実施形態の駆動回路は、図4に示したスロットル開度センサ10内の回路基板18に設けられ、同回路基板18上のホール素子16に対して駆動電流を供給すると共に、そのホール素子16から前述した式1の如く出力されるホール電圧Vhを増幅して、スロットル開度(検出対象物に相当するシャフト12の回転角度)を示す出力信号VOUTとして当該センサ10の端子20から外部へ出力するものである。また、ホール素子16は、GaAsからなるものであり、図7に示したように、温度の上昇に伴って内部抵抗値Rdが直線的に大きくなり且つ感度が直線的に小さくなる特性を有しており、更に、式1からも分かるように、駆動電流Iの増加に比例して感度が大きくなる特性を有している。
【0045】
図1に示すように、本第1実施形態の駆動回路は、ホール素子16の駆動電流端子a,b間に駆動電流Iを供給する電流供給手段として、反転入力端子がホール素子16の一方の駆動電流端子aに接続され、出力端子がホール素子16の他方の駆動電流端子bに接続され、非反転入力端子が接地電位(0Vであり、請求項の第1の電圧に相当)に接続された演算増幅器2と、一端が演算増幅器2の反転入力端子に接続された抵抗Rとを備えている。
【0046】
そして更に、この駆動回路は、ホール素子16の駆動電流端子a,b間の電圧(駆動電圧)を駆動電流Iに正帰還させる帰還手段として、演算増幅器2の出力電圧Voを、接地電位を基準として反転増幅する反転増幅器3と、接地電位よりも高い基準電圧Va(請求項の第2の電圧に相当)と反転増幅器3の出力電圧Vbとを加算して、その加算後の電圧Vi(=Va+Vb)を上記抵抗Rの演算増幅器2側とは反対側の端部に印加する加算器4とを備えている。尚、反転増幅器3は、その増幅率を−A(但しAは正の数)とすると、「−A・Vo」といった電圧を出力する。
【0047】
また、本第1実施形態の駆動回路は、ホール素子16の出力端子c,d間に発生するホール電圧Vhを増幅し、その増幅後の電圧信号を、上記端子20から外部へ、スロットル開度センサ10の出力信号VOUTとして出力する差動増幅器5を備えている。
【0048】
このように構成された本第1実施形態の駆動回路において、演算増幅器2は、反転入力端子の電圧(即ち、ホール素子16の駆動電流端子aの電圧)が、非反転入力端子に印加されている接地電位(0V)と等しくなるように、自己の出力端子からホール素子16の駆動電流端子bに印加する出力電圧Voを変化させる。このため、ホール素子16の駆動電流端子a,b間には、抵抗Rに流れる電流であって、加算器4の出力電圧Viを抵抗Rの抵抗値で割った値の目標電流(=Vi/R)が駆動電流Iとして流れるように、「|Vo−0|」なる駆動電圧が印加されることとなる。
【0049】
そして、この場合、ホール素子16の両駆動電流端子a,bのうちで、演算増幅器2の反転入力端子に接続された方の駆動電流端子aの電圧は、接地電位に保たれ、他方の駆動電流端子bの電圧であって演算増幅器2の出力電圧Voが、ホール素子16への駆動電流Iが上記目標電流(=Vi/R)となるように制御されるため、演算増幅器2の出力電圧Voは、ホール素子16の駆動電圧そのものであると共に、ホール素子16の内部抵抗値(駆動電流端子a,b間の内部抵抗値)Rdの変化、延いてはホール素子16自身の温度変化に応じて変化することとなる。
【0050】
そこで、本第1実施形態の駆動回路では、演算増幅器2の出力電圧Voを反転増幅器3により接地電位を基準として反転増幅すると共に、その反転増幅器3の出力電圧Vb(=−A・Vo)と基準電圧Vaとを加算した電圧Viを、加算器4により抵抗Rの演算増幅器2側とは反対側の端部に印加することにより、ホール素子16の駆動電流端子a,b間に印加されている駆動電圧を駆動電流Iに正帰還させるようにしている。
【0051】
つまり、演算増幅器2と抵抗Rは、ホール素子16と共に、そのホール素子16へ「Vi/R」なる駆動電流Iを流す反転増幅器を成しているため、演算増幅器2の出力電圧Voを極性反転させて抵抗Rの入力電圧Viに加えれば、駆動電流Iに着目すると、回路全体のループは正帰還となるのである。
【0052】
より具体的に説明すると、まず、温度が上昇すると、ホール素子16の内部抵抗値Rdが大きくなり、それに伴い、演算増幅器の出力電圧Voが負方向(負電圧の方向)に大きくなる。
そして、演算増幅器2の出力電圧Voは、接地電位を基準にして反転増幅されて基準電圧Vaと加算され、その加算後の電圧Vi(=Va−A・Vo)が、抵抗Rの演算増幅器2側とは反対側の端部に印加されるため、温度上昇に伴い、演算増幅器の出力電圧Voが負方向に大きくなると、抵抗Rに印加される上記電圧(入力電圧)Viは、演算増幅器の出力電圧Voとは反対の正方向(正電圧の方向)へ大きくなる。つまり、温度上昇に伴い、演算増幅器の出力電圧Voが負方向に大きくなると、抵抗Rに印加される電圧Viが正方向に大きくなる。
【0053】
この結果、演算増幅器2及び抵抗Rからなる電流供給手段の上記目標電流(=Vi/R)が大きくなって、ホール素子16に供給される駆動電流Iが大きくなるのである。
そして、この第1実施形態の駆動回路によれば、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aとを、ホール素子16の感度定数Khの温度係数や内部抵抗値Rdの温度係数に応じて設定することにより、温度によるホール素子16の内部抵抗値Rdの変化、即ちホール素子16自身の温度変化を駆動電流Iに適切に反映させて、ホール素子16の温度による感度の変動を正確に補償することができる。そして更に、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを、永久磁石14a,14bの磁束密度の温度係数も加味して設定することにより、スロットル開度センサ10の出力信号VOUTを温度に影響されないものとすることができ、温度によらずスロットル開度を高精度に検出可能なセンサを得ることができる。
【0054】
そこで次に、本第1実施形態の駆動回路において、抵抗Rの抵抗値や反転増幅器3の増幅率等の回路定数を、どの様に設定するかについて具体的に説明する。尚、以下に説明する各式において、「R」は、抵抗Rの抵抗値を示している。
まず、この駆動回路では、式2が成立する。
【0055】
【数2】
Figure 0003989131
【0056】
そして、式2を整理すると、ホール素子16に流れる駆動電流I(=Vi/R)は、式3のようになる。
【0057】
【数3】
Figure 0003989131
【0058】
ここで、式3の分母における「(Rd/R)・A」は、当該駆動回路のループゲインであり、このループゲインが1未満であれば、当該駆動回路は発散せず安定である。
そして、式3からも分かるように、ホール素子16の内部抵抗値Rdが温度の上昇に伴って大きくなると、ホール素子16の駆動電流Iは増加する。また、ホール素子16の感度は駆動電流Iに比例する。よって、上記ループゲイン「(Rd/R)・A」を適切に設定すれば、感度の温度補償ができる。
【0059】
次に、温度補償のためのより詳しい条件について説明する。
まず、GaAsからなるホール素子16の内部抵抗値Rdは、正の温度特性を有しているため、式3における「Rd」は、「Rd(1+Kr・t)」に置き換えることができ、この置換により、式3は、式4のように変形することができる。尚、Krは、ホール素子16の内部抵抗値の温度係数であり、tは、温度である。そして、上記「Rd(1+Kr・t)」及び式4における「Rd」は、ある基準温度でのホール素子16の内部抵抗値である。また、このことは、後述する式6〜式8においても同様である。
【0060】
【数4】
Figure 0003989131
【0061】
また、ある磁束密度下でのホール素子16の出力電圧(ホール電圧)Vh0は、ホール素子16の感度と見なすことができ、その出力電圧Vh0は、式5のように表すことができる。
【0062】
【数5】
Figure 0003989131
【0063】
ここで、Kh0は、ある磁束密度及びある温度でのホール素子16の単位駆動電流当たりの感度であり、Ktは、感度の温度係数である。尚、ホール素子16は、温度によって感度が低下するため、「Kt>0」である。つまり、式5では、Ktを、正の値として扱っている。
【0064】
そして、式5に式4を代入すると、式6のようになる。
【0065】
【数6】
Figure 0003989131
【0066】
この式6における分数の部分が温度tによらず一定となれば、Vh0、即ちホール素子16の感度は、温度によらず一定となる。そして、これを満たすための条件(温度補償の条件)は、「1対Kt=(R−Rd・A)対(Rd・Kr・A)」であり、これを整理すると、式7のようになる。
【0067】
【数7】
Figure 0003989131
【0068】
また、式7を変形すると式8が得られる。
【0069】
【数8】
Figure 0003989131
【0070】
よって、式7及び式8を満足するように、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aとを設定すれば、ホール素子16の感度を温度によらず一定にすることができる。
例えば、ホール素子16の内部抵抗値の温度係数Krが+2300ppm/℃であり、感度の温度係数Ktの絶対値が550ppm/℃であるとすると、式8において、「Kt/(Kt+Kr)」が0.19となるため、「(Rd・A)/R」が0.19となるように、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを設定すれば良い。
【0071】
そして更に、スロットル開度センサ10に使用する永久磁石14a,14bの温度特性をも含めて補償する場合には、永久磁石14a,14bの磁束密度の温度係数の絶対値を、式7,8におけるKtに加算して、回路定数を設定すれば良い。具体的に説明すると、永久磁石14a,14bの材質が、サマリウムコバルト系であれば、その磁束密度の温度係数は、−300ppm/℃程度である。そして、この例の場合、Kt=550+300=850ppm/℃となり、式8における「Kt/(Kt+Kr)」が0.27となるため、「(Rd・A)/R」が0.27となるように、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを設定すれば、スロットル開度センサ10の出力信号VOUTを、温度に影響されないものとすることができる。
【0072】
以上のように本第1実施形態の駆動回路では、ホール素子16の内部抵抗値が温度によって変化することを利用し、その内部抵抗値の変化を駆動電流に正の特性で反映させることにより、駆動電流に正の温度特性を持たせて、ホール素子16の温度による検出感度の変動を補償するようにしている。
【0073】
よって、本第1実施形態の駆動回路によれば、感温抵抗などの温度検出用素子や乗算器等の複雑な補正用回路を設けることなく、ホール素子16自身の温度を的確に捉えた正確な温度補償を行うことができる。
しかも、この駆動回路では、ホール素子16の温度そのものに応じて温度補償を行うようにしているため、ホール素子16の自己発熱が問題となるくらいの大きな駆動電流を流しても温度補償ができ、ホール素子16に大きな駆動電流を供給して、検出感度を向上させることができるという優れた効果が得られる。
【0074】
そして更に、本第1実施形態の駆動回路を備えたスロットル開度センサ10によれば、抵抗Rの抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを、上記具体例の如く永久磁石14a,14bの磁束密度の温度係数も加味して設定することにより、当該センサ10から外部への出力信号VOUTを温度に全く影響されないものとすることができ、温度によらずスロットル開度を高精度に検出可能なセンサとなる。そして、こうした温度補償を、簡単な回路構成で行うことができるため、当該スロットル開度センサ10の小型化及び低コスト化を達成することができる。
【0075】
次に、図2は、第2実施形態のホール素子の駆動回路の構成を示す回路図である。尚、この駆動回路も、図4に示したスロットル開度センサ10内の回路基板18に設けられて、前述した第1実施形態の駆動回路(図1)と同じ機能を果たすものである。そして、ホール素子16も、第1実施形態の場合と同じGaAsからなるものである。また、本第2実施形態の駆動回路において、図1と同じ構成要素については、同一の符号を付している。
図2に示すように、本第2実施形態の駆動回路は、第1実施形態の駆動回路に対して、以下の(1)〜(4)の点が異なっている。
【0076】
(1)演算増幅器2の非反転入力端子が、接地電位(0V)ではなく、それよりも電位が高い基準電圧Va(請求項の第1の電圧に相当)に接続されている。
また、前述した第1実施形態の駆動回路では、ホール素子16の駆動電流Iが抵抗R側から演算増幅器2の出力端子側へ流れたが(図1参照)、本第2実施形態の駆動回路では、演算増幅器2の出力端子側から抵抗R側へ駆動電流Iが流れるため、図2では、演算増幅器2の出力端子がホール素子16の駆動電流端子aに接続され、反転入力端子がホール素子16の駆動電流端子bに接続されている。つまり、駆動電流端子a,bの接続方向が逆になっている。
【0077】
(2)加算器4が設けられておらず、抵抗Rの両端部のうち、演算増幅器2の反転入力端子とは反対側の端部が、接地電位(請求項の第2の電圧に相当)に接続されている。
(3)反転増幅器3は、演算増幅器2の出力電圧Voを、請求項の第1の電圧に相当する基準電圧Vaを基準として(詳しくは正負の基準として)反転増幅し出力する。即ち、反転増幅器3は、その増幅率を−A(但しAは正の数)とすると、「−A・(Vo−Va)+Va」といった電圧を出力する。
【0078】
そして、反転増幅器3は、詳しくは、非反転入力端子が演算増幅器2の非反転入力端子(即ち基準電圧Va)に接続された演算増幅器3aと、その演算増幅器3aの反転入力端子と演算増幅器2の出力端子との間に接続された抵抗Raと、上記演算増幅器3aの反転入力端子と出力端子との間に接続された抵抗Rbとから構成されている。尚、この反転増幅器3の構成は、第1実施形態の駆動回路においても同様である。つまり、第1実施形態の駆動回路では、演算増幅器2及び演算増幅器3aの両非反転入力端子が、接地電位に接続されている。
【0079】
(4)反転増幅器3の出力端子としての上記演算増幅器3aの出力端子と、演算増幅器2の反転入力端子との間に、帰還用抵抗R2が接続されている。
そして、本第2実施形態の駆動回路では、この帰還用抵抗R2と反転増幅器3とが、ホール素子16の駆動電流端子a,b間の電圧(駆動電圧)を駆動電流Iに正帰還させる帰還手段として機能する。
【0080】
また、本第2実施形態の駆動回路も、第1実施形態の駆動回路と同様に、ホール素子16の出力端子c,d間に発生するホール電圧Vhを増幅して、スロットル開度センサ10の出力信号VOUTとして出力する差動増幅器5を備えている。
【0081】
一方、説明の視点を変えると、本第2実施形態の駆動回路は、図1に示した第1実施形態の駆動回路を、図3(a)〜(c)のように変形したものと言える。但し、図3では、外部への出力信号VOUTを出力するための差動増幅器5は、図示を省略している。
【0082】
▲1▼まず、図3(a)に示すように、図1の駆動回路に対して、加算器4を削除し、その代わりに、反転増幅器3の出力端子と演算増幅器2の反転入力端子との間に帰還用抵抗R2を接続する。
▲2▼次に、図3(b)に示すように、接地電位と基準電圧Vaとを入れ替える。尚、これにより、図3(a)に対して、駆動電流Iの向きが反対になるため、ホール素子16の駆動電流端子a,bの接続方向を逆にしている。
【0083】
▲3▼最後に、図3(c)の点線内に示すように、反転増幅器3を、演算増幅器3aと2つの抵抗Ra,Rbとで示せば、図2の駆動回路となる。
尚、本第2実施形態において、第2の電圧を接地電位とし、その接地電位に抵抗Rの演算増幅器2側とは反対側の端部を接続しているのは、演算増幅器2,3aを正の単電源で動作させるためである。
【0084】
以上のように構成された本第2実施形態の駆動回路においても、第1実施形態の駆動回路と同様に、電流供給手段を構成する演算増幅器2は、反転入力端子の電圧(ホール素子16の駆動電流端子bの電圧)が、非反転入力端子に印加されている基準電圧Vaと等しくなるように、自己の出力端子からホール素子16の駆動電流端子aに印加する出力電圧Voを変化させる。
【0085】
このため、反転増幅器3及び帰還用抵抗R2からなる帰還手段が無いと仮定すると、ホール素子16の駆動電流端子a,b間には、抵抗Rに流れる電流であって、基準電圧Vaと接地電位との電位差(即ち基準電圧Va)を抵抗Rの抵抗値で割った値の電流(=Va/R)が駆動電流Iとして流れるように、「|Vo−Va|」なる駆動電圧が印加されることとなる。そして、ホール素子16の両駆動電流端子a,bのうちで、演算増幅器2の反転入力端子に接続された方の駆動電流端子bの電圧は、基準電圧Vaに保たれ、他方の駆動電流端子aの電圧であって演算増幅器2の出力電圧Voが、ホール素子16への駆動電流Iが上記電流(=Va/R)となるように制御されるため、演算増幅器2の出力電圧Voは、ホール素子16の内部抵抗値Rdの変化、延いてはホール素子16自身の温度変化に応じて変化することとなる。
【0086】
そこで、本第2実施形態の駆動回路においても、演算増幅器2の出力電圧Voを、ホール素子16の駆動電圧として扱い、その演算増幅器の出力電圧Voを反転増幅器3により基準電圧Vaを基準として反転増幅すると共に、その反転増幅器3の出力端子と演算増幅器2の反転入力端子とを、帰還用抵抗R2を介して接続することにより、ホール素子16の駆動電流端子a,b間に印加されている駆動電圧を駆動電流Iに正帰還させるようにしている。
【0087】
つまり、前述した第1実施形態の駆動回路では、演算増幅器2の出力電圧Voを、電圧という形で帰還させていたのに対し、本第2実施形態の駆動回路では、演算増幅器2の出力電圧Voを、電流という形で帰還させるようにしている。
より具体的に説明すると、まず、温度が上昇すると、ホール素子16の内部抵抗値Rdが大きくなり、それに伴い、演算増幅器の出力電圧Voが基準電圧Vaに対して正方向に大きくなる。
【0088】
そして、反転増幅器3は、演算増幅器2の出力電圧Voを、基準電圧Vaを基準として反転増幅し出力するため、温度上昇に伴い、演算増幅器の出力電圧Voが大きくなると、反転増幅器3の出力電圧は、基準電圧Vaを基準にして見ると、演算増幅器2の出力電圧Voとは反対の負方向へ大きくなる。
【0089】
すると、演算増幅器2の反転入力端子の電圧が、帰還用抵抗R2によって、基準電圧Vaよりも低くなろうとするため、それを防ごうと、演算増幅器2の出力電圧Voが更に大きくなり、この結果、ホール素子16に供給される駆動電流Iが大きくなるのである。
【0090】
そして、この第2実施形態の駆動回路によっても、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aとを、ホール素子16の感度定数Khの温度係数や内部抵抗値Rdの温度係数に応じて設定することにより、温度によるホール素子16の内部抵抗値Rdの変化、即ちホール素子16自身の温度変化を駆動電流Iに適切に反映させて、ホール素子16の温度による感度の変動を正確に補償することができる。そして更に、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを、永久磁石14a,14bの磁束密度の温度係数も加味して設定することにより、スロットル開度センサ10の出力信号VOUTを温度に影響されないものとすることができ、温度によらずスロットル開度を高精度に検出可能なセンサを得ることができる。
【0091】
そこで次に、本第2実施形態の駆動回路において、帰還用抵抗R2の抵抗値や反転増幅器3の増幅率等の回路定数を、どの様に設定するかについて具体的に説明する。尚、以下に説明する各式においても、「R」は、抵抗Rの抵抗値を示している。また同様に、「R2」は、帰還用抵抗R2の抵抗値を示している。
【0092】
本第2実施形態の駆動回路では、第1実施形態における式4が、下記の式9のように変形される。つまり、ホール素子16に流れる駆動電流Iは、式9のようになる。尚、式9における「Rd」は、式4,式6〜式8の場合と同様に、ある基準温度でのホール素子16の内部抵抗値であり、このことは、後述する式15〜式17においても同様である。また、Krは、ホール素子16の内部抵抗値の温度係数であり、tは、温度である。
【0093】
【数9】
Figure 0003989131
【0094】
ここで、この式9に至る理由について説明する。
まず、簡略化のため、前述した図3(a)のモデル、即ち、図2と同等のモデルであって、演算増幅器2の非反転入力端子を接地電位としたモデルで考えることにする。
【0095】
この図3(a)のモデルにおいて、図3(d)に示すように、駆動電流Iが流れる方向を演算増幅器2の出力端子から抵抗Rへの方向とし、また、基準電圧Va側から抵抗Rに流れる電流を「i1」、反転増幅器3側から帰還用抵抗R2へ流れる電流を「i2」とすると、式10が成立する。尚、−Aは、反転増幅器3の増幅率である。
【0096】
【数10】
Figure 0003989131
【0097】
そして、この場合、i1+i2+I=0であるから、式11が成立する。
【0098】
【数11】
Figure 0003989131
【0099】
この式11を変形すると、式12のようになる。
【0100】
【数12】
Figure 0003989131
【0101】
そして更に、式12を変形すると、式13のようになる。
【0102】
【数13】
Figure 0003989131
【0103】
この式13における「Vo/Rd」は、ホール素子16の駆動電流Iである。そこで、図3(a),(d)のモデルにおいて、演算増幅器2の非反転入力端子の電圧を基準電圧Vaに戻し、図2及び図3(b),(c)のモデルで考えると、式13における「Va」を「−Va」に置き換えれば良く、この置換により、駆動電流Iは、下記の式14で表される。
【0104】
【数14】
Figure 0003989131
【0105】
そして、この式14において、前述した式3から式4への展開と同様に、「Rd」を「Rd(1+Kr・t)」に置き換えれば、上記式9となる。
ここで、式14の分母における「(Rd/R2)・A」であって、式9の分母における「(Rd(1+Kr・t)/R2)・A」は、当該駆動回路のループゲインである。そして、このループゲインが1未満であれば、当該駆動回路は発散せずに安定であり、この値を適切に設定すれば、感度の温度補償ができる。
【0106】
そこで、式5に式9を代入すると、式15のようになる。
【0107】
【数15】
Figure 0003989131
【0108】
そして、この式15における分数の部分が温度tによらず一定となれば、Vh0、即ちホール素子16の感度は、温度によらず一定となり、これを満たすための条件(温度補償の条件)は、式16のようになる。
【0109】
【数16】
Figure 0003989131
【0110】
また、式16を変形すると式17が得られる。
【0111】
【数17】
Figure 0003989131
【0112】
よって、式16及び式17を満足するように、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aとを設定すれば、ホール素子16の感度を温度によらず一定にすることができる。
例えば、第1実施形態の駆動回路について説明した例と同様に、ホール素子16の内部抵抗値の温度係数Krが+2300ppm/℃であり、感度の温度係数Ktの絶対値が550ppm/℃であるとすると、式17において、「Kt/(Kt+Kr)」が0.19となるため、「(Rd・A)/R2」が0.19となるように、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを設定すれば良い。
【0113】
また、スロットル開度センサ10に使用する永久磁石14a,14bの温度特性をも含めて補償する場合には、永久磁石14a,14bの磁束密度の温度係数の絶対値を、式16,17におけるKtに加算して、回路定数を設定すれば良い。具体的に説明すると、永久磁石14a,14bの温度係数が、−300ppm/℃であるとすると、Kt=550+300=850ppm/℃となり、式17における「Kt/(Kt+Kr)」が0.27となるため、「(Rd・A)/R2」が0.27となるように、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを設定すれば、スロットル開度センサ10の出力信号VOUTを、温度に影響されないものとすることができる。
【0114】
以上のように本第2実施形態の駆動回路においても、ホール素子16の内部抵抗値が温度によって変化することを利用し、その内部抵抗値の変化を駆動電流に正の特性で反映させることにより、駆動電流に正の温度特性を持たせて、ホール素子16の温度による検出感度の変動を補償するようにしている。
【0115】
よって、本第2実施形態の駆動回路によっても、第1実施形態の駆動回路と同じ効果が得られる。また、本第2実施形態の駆動回路を備えたスロットル開度センサ10によれば、帰還用抵抗R2の抵抗値と反転増幅器3の増幅率−Aを、上記具体例の如く永久磁石14a,14bの磁束密度の温度係数も加味して設定することにより、当該センサ10から外部への出力信号VOUTを温度に全く影響されないものとすることができる。そして、こうした温度補償を、簡単な回路構成で行うことができるため、当該スロットル開度センサ10の小型化及び低コスト化を達成することができる。
【0116】
また特に、本第2実施形態の駆動回路では、第1実施形態の駆動回路よりも、加算器4を設ける必要が無い分、回路規模をより小さくすることができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の形態を採り得ることは言うまでもない。
【0117】
例えば、図1に示した第1実施形態の駆動回路において、演算増幅器2の非反転入力端子に印加する電圧(請求項の第1の電圧)は、接地電位に限るものではなく、それ以外の電圧でも良い。
また、図2に示した第2実施形態の駆動回路において、抵抗Rの演算増幅器2側とは反対の端部に印加する電圧(請求項の第2の電圧)は、接地電位に限るものではなく、例えば負の電圧でも良い。但し、その電圧を図2の如く接地電位にすれば、駆動回路を単電源で動作させることができ有利である。
【0118】
一方、前述した各実施形態の駆動回路は、ホール素子に対して駆動電流を供給するものであったが、上記各実施形態の駆動回路は、ホール素子以外の物理量検出素子に対しても、全く同様に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1実施形態のホール素子の駆動回路の構成を示す回路図である。
【図2】 第2実施形態のホール素子の駆動回路の構成を示す回路図である。
【図3】 図2の駆動回路の構成に至る過程を説明する説明図である。
【図4】 スロットル開度センサの構成を示す構成図である。
【図5】 図4のスロットル開度センサにおけるホール素子の出力特性を示すグラフである。
【図6】 従来のホール素子の駆動回路の構成を示す回路図である。
【図7】 ホール素子の感度及び内部抵抗値に関する温度特性を示すグラフである。
【図8】 ホール素子駆動回路の図6以外の構成例を示す回路図である。
【符号の説明】
2…演算増幅器 3…反転増幅器 4…加算器 R…抵抗
R2…帰還用抵抗 10…スロットル開度センサ 12…シャフト
14a,14b…永久磁石 16…ホール素子[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention has a detection sensitivity regardless of temperature for a physical quantity detection element such as a Hall element that outputs a detection signal corresponding to a physical quantity to be detected in a state where a drive current is supplied between a pair of drive current terminals. The present invention relates to a drive circuit that supplies a drive current so as to be constant, and a rotation angle sensor that detects a rotation angle of a detection object using a Hall element.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, a permanent magnet is attached to the object to be detected whose rotation angle is to be detected, a Hall element is placed in the magnetic field generated by the permanent magnet, and the above detection object is detected from the change in magnetic flux density intersecting the Hall element. A rotation angle sensor that detects the rotation angle of an object without contact is known. A typical example of this type of rotation angle sensor is a throttle opening sensor for detecting the throttle opening (throttle valve opening) of an in-vehicle internal combustion engine. FIG. 4 shows the configuration of such a throttle opening sensor 10.
[0003]
That is, in such a throttle opening sensor 10, the magnetic flux is opposed to the inner wall surface of the hollow portion of the shaft 12 that rotates in conjunction with the rotation axis of the throttle valve so that the magnetic flux crosses the central axis of the shaft 12. Two permanent magnets 14a and 14b are attached, and a Hall element 16 is arranged so as to detect the magnetic flux of the permanent magnets 14a and 14b. The hall element 16 is mounted on a circuit board 18 provided in the throttle opening sensor 10.
[0004]
As the throttle valve rotates, the permanent magnets 14a and 14b rotate around the Hall element 16 to change the direction of the magnetic field by the permanent magnets 14a and 14b with respect to the magnetic sensing surface of the Hall element 16, and the changed angle. An electrical signal corresponding to θ, that is, the Hall voltage Vh is output from the Hall element 16 as shown in Equation 1.
[0005]
[Expression 1]
Figure 0003989131
[0006]
Here, B is the magnetic flux density (magnetic field strength) by the permanent magnets 14a and 14b, Rd is the internal resistance value of the Hall element 16, I is the drive current of the Hall element 16, and Kh is , A sensitivity constant per unit current (unit drive current) and unit magnetic flux density of the Hall element 16. VA is a constant corresponding to “B · Rd · I · Kh”. Therefore, as shown in FIG. 5, while the shaft 12 rotates from −90 degrees to +90 degrees, the Hall voltage (the output of the Hall element 16) Vh is a sine wave (from “−VA” to “+ VA”). sin wave) continuously changes.
[0007]
Further, in the throttle opening sensor 10, the hall voltage Vh output from the hall element 16 as described above is processed by a circuit on the circuit board 18 as a signal indicating the throttle opening (rotation angle of the shaft 12). Output from the terminal 20 to the outside.
On the other hand, in order to output the Hall voltage Vh corresponding to the magnetic field strength (magnetic flux density) from the Hall element 16, it is necessary to supply a drive current to the Hall element 16, which is used for this type of sensor 10. As a driving circuit for supplying a driving current to the Hall element 16, a circuit having a configuration as shown in FIG. 6 is conventionally known.
[0008]
As shown in FIG. 6, in the conventional Hall element drive circuit, first, a constant current for flowing the drive current I between the pair of drive current terminals a and b of the Hall element 16 by the operational amplifier 22 and the resistor R3. A control circuit is configured.
That is, in this constant current control circuit, the inverting input terminal (− terminal) of the operational amplifier 22 is commonly connected to one drive current terminal b of the Hall element 16 and one end of the resistor R3. The output terminal is connected to the other drive current terminal a of the Hall element 16. The other end of the resistor R3 is connected to the ground potential. The operational amplifier 22 changes the output voltage of its own output terminal so that the voltage of the inverting input terminal becomes equal to the voltage V + applied to the non-inverting input terminal (+ terminal). A drive voltage is applied between the drive current terminals a and b so that a current (= V + / R3) determined by the voltage V + and the resistor R3 flows as the drive current I.
[0009]
When the drive current I is supplied to the Hall element 16, a Hall voltage Vh corresponding to the strength of the magnetic field appears between the pair of output terminals c and d of the Hall element 16. Therefore, in this drive circuit, the Hall voltage Vh generated between the output terminals c and d of the Hall element 16 is amplified by the differential amplifier 24 and output from the terminal 20 to the outside as the output voltage VOUT. .
[0010]
Here, in particular, in the conventional driving circuit, the voltage V + applied to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 22 is a voltage obtained by dividing a predetermined power supply voltage VCC by two resistors R4 and R5. A temperature sensitive resistor such as a thermistor whose resistance value changes according to temperature is used. Therefore, the voltage V + applied to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 22 changes according to the temperature, and the drive current I supplied to the Hall element 16 also changes according to the change.
[0011]
That is, as can be seen from Equation 1, the sensitivity (I · Kh) of the Hall element 16 with respect to the magnetic flux density B increases in proportion to the drive current I. Also, as shown in FIG. Has a negative temperature characteristic (characteristic that Kh decreases with increasing temperature) with respect to the sensitivity constant Kh per unit driving current and unit magnetic flux density, so that if the driving current I is always constant, The sensitivity decreases with the increase, and the Hall voltage Vh decreases even under the same magnetic flux density.
[0012]
Therefore, in the conventional drive circuit, a temperature-sensitive resistor having a positive temperature characteristic is used as the resistor R5. The higher the temperature, the higher the voltage V +, and accordingly, to the Hall element 16 The drive current I is increased (that is, the drive current I has a positive temperature characteristic) to compensate for the temperature characteristic of the sensitivity of the Hall element 16, and a constant sensitivity (I · Kh) regardless of the temperature. Is to be obtained. Furthermore, in the case of the throttle opening sensor 10, the permanent magnets 14a and 14b have negative temperature characteristics with respect to the magnetic flux density (characteristics in which the magnetic flux density decreases as the temperature increases). Then, the temperature characteristics of the temperature-sensitive resistor R5 and the resistance values of the resistors R3, R4, and R5 are determined so that the temperature characteristics of the permanent magnets 14a and 14b are also compensated, and the Hall voltage from the Hall element 16 is determined. The reliability of the output signal (output voltage) VOUT of the throttle opening sensor 10 is enhanced so that Vh is not affected by the temperature.
[0013]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional driving circuit, a temperature detecting element such as a temperature sensitive resistor R5 has to be added separately, and the temperature detecting element and the Hall element are disposed at physically different positions. Therefore, accurate temperature compensation that accurately captures the temperature of the Hall element cannot be performed. That is, the temperature of the temperature detecting element and the temperature of the Hall element are not always the same.
[0014]
Further, as shown in FIG. 7B, the inventor positively utilizes the fact that the internal resistance value (internal resistance value between the drive current terminals a and b) Rd of the Hall element changes depending on the temperature. As illustrated in FIG. 8, instead of always applying a constant voltage V + to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 22 in the drive circuit of FIG. 6, a constant drive current I is passed through the Hall element 16. The voltage between the drive current terminals a and b under the situation is extracted by the differential amplifier 26, and further, the signal processing circuit 28 outputs the output of the differential amplifier 26 to the Hall voltage Vh from the Hall element 16 in a predetermined manner A configuration was considered in which the output signal VOUT to the outside is generated by multiplying by a ratio and amplifying the voltage after the multiplication.
[0015]
That is, the voltage between the drive current terminals a and b under the condition that a constant drive current I is passed through the hall element 16 becomes a signal proportional to the internal resistance value Rd of the hall element 16, and the signal is the hall element 16. Since the signal corresponds to its own temperature, the output signal VOUT is not affected by the temperature by multiplying the signal by the Hall voltage Vh at a predetermined ratio.
[0016]
If the circuit configuration as shown in FIG. 8 is adopted, it is possible to perform temperature compensation that accurately captures the temperature of the Hall element 16.
However, the configuration of FIG. 8 has a major drawback that the circuit becomes complicated, and is not practical. FIG. 8 shows a circuit configuration in the case of performing analog multiplication, but the output signal VOUT to the outside is digitally corrected according to the output of the differential amplifier 26 by a microcomputer or the like. Even with this configuration, the same problem of circuit complexity arises.
[0017]
On the other hand, Hall elements are generally made of InSb (indium, antimony) and GaAs (gallium, arsenic). As shown in FIG. 7A, both are linear in terms of sensitivity. As shown in FIG. 7B, the Hall element made of InSb has a negative temperature characteristic with respect to the internal resistance value Rd, and the Hall element made of GaAs has a negative temperature characteristic with respect to the internal resistance value Rd. It has a linear positive temperature characteristic.
[0018]
For this reason, for a physical quantity detection element whose internal resistance value decreases as the temperature rises, such as a Hall element made of InSb, by performing a simple constant voltage drive in which a constant voltage is applied between the drive current terminals, The detection sensitivity can be made almost constant regardless of the temperature. That is, as the temperature rises, the internal resistance value decreases and the drive current naturally increases.
[0019]
However, for a physical quantity detection element whose internal resistance value increases as the temperature rises, such as a Hall element made of GaAs, temperature compensation cannot be performed by constant voltage driving as described above.
The present invention has been made in view of such circumstances, and the variation in detection sensitivity due to the temperature of the physical quantity detection element, in which the internal resistance value increases and the detection sensitivity decreases as the temperature rises, is detected by temperature detection such as a temperature-sensitive resistor. A drive circuit for a physical quantity detection element that can be compensated accurately with a simple configuration without providing a separate element is provided. Further, by using the drive circuit, the rotation angle of the detection object can be increased regardless of the temperature. An object of the present invention is to provide a rotation angle sensor capable of detecting with high accuracy.
[0020]
[Means for solving the problems and effects of the invention]
  Claim 1 made to achieve the above object.Or 2The drive circuit for the physical quantity detection element described in 1 is configured to output a detection signal corresponding to the physical quantity to be detected from a terminal different from the drive current terminal in a state where the drive current is supplied between the pair of drive current terminals. The device is provided with current supply means for supplying a predetermined drive current to the element, but the physical quantity detection element to which the drive current is supplied has an internal resistance value between the drive current terminals as the temperature rises. It has a characteristic of increasing the physical quantity detection sensitivity and a characteristic of increasing the physical quantity detection sensitivity as the drive current increases.
[0021]
Therefore, in this drive circuit, feedback means is provided, and the feedback means positively feeds back the voltage between the drive current terminals of the physical quantity detection element to the drive current supplied to the physical quantity detection element by the current supply means. .
In other words, when the temperature rises in a state where a predetermined drive current is passed through the physical quantity detection element by the current supply means, the internal resistance value of the physical quantity detection element (internal resistance value between the drive current terminals) increases, Accordingly, since the voltage between the drive current terminals of the physical quantity detection element (hereinafter also referred to as drive voltage) increases, the change in the drive voltage is caused by the change in the internal resistance value of the physical quantity detection element, and further by the physical quantity detection element itself. It corresponds to the temperature change.
[0022]
  For this reason, claim 1Or 2In this drive circuit, the drive voltage applied between the drive current terminals of the physical quantity detection element is positively fed back to the drive current to the physical quantity detection element (the drive current increases as the drive voltage increases). The drive current increases as the temperature rises to compensate for the decrease in detection sensitivity accompanying the temperature rise of the physical quantity detection element. In other words, by utilizing the fact that the internal resistance value of the physical quantity detection element changes with temperature, the change in the internal resistance value is reflected in the drive current with a positive characteristic, so that the drive current has a positive temperature characteristic. Thus, a variation in detection sensitivity due to the temperature of the physical quantity detection element is compensated.
[0023]
  Therefore, this claim 1Or 2According to this drive circuit, it is possible to perform accurate temperature compensation accurately capturing the temperature of the physical quantity detection element itself without providing a temperature detection element such as a temperature sensitive resistor or a complicated correction circuit such as a multiplier. become able to.
  In addition, in this drive circuit, temperature compensation is performed in accordance with the temperature of the physical quantity detection element itself, so that temperature compensation can be performed even when a large drive current that causes self-heating of the physical quantity detection element is a problem. Therefore, it is possible to obtain an excellent effect that detection sensitivity can be improved by supplying a large drive current to the physical quantity detection element. That is, in the conventional drive circuit shown in FIG. 6, since temperature compensation cannot be performed for the heat generation of the Hall element 16 itself corresponding to the physical quantity detection element, the Hall element 16 (physical quantity detection element) itself does not generate heat. However, it is necessary to suppress the drive current.Or 2According to the drive circuit, such a restriction is eliminated.
[0024]
  hereAnd claims1'sSpecifically, the drive circuitAs belowConstitutionHas beenThe
  That is, ElectricThe current supply means has an inverting input terminal connected to one drive current terminal of the physical quantity detection element, an output terminal connected to the other drive current terminal of the physical quantity detection element, and a non-inverting input terminal connected to the first voltage V1. And a resistor R having one end connected to the inverting input terminal of the operational amplifier and the other end to which a predetermined voltage Vi different from the first voltage V1 is applied.
[0025]
The feedback means includes an inverting amplifier for inverting and amplifying the output voltage Vo of the operational amplifier with respect to the first voltage V1 (specifically, with a positive or negative reference), and a second voltage different from the first voltage V1. The adder applies a voltage obtained by adding V2 and the output voltage of the inverting amplifier to the end of the resistor R opposite to the operational amplifier side as the predetermined voltage Vi. The inverting amplifier outputs a voltage such as “−A · (Vo−V1) + V1” when the amplification factor is −A (A is a positive number).
[0026]
  Such claims1In the driving circuit, the operational amplifier that constitutes the current supply means is configured such that the voltage of the inverting input terminal (that is, the voltage of the one driving current terminal of the physical quantity detection element) is applied to the non-inverting input terminal. The output voltage Vo applied to the other drive current terminal of the physical quantity detection element is changed from its own output terminal so as to be equal to the voltage V1. For this reason, between the drive current terminals of the physical quantity detection element, a current that flows in the resistor R, which is a target current (a value obtained by dividing the potential difference between the predetermined voltage Vi and the first voltage V1 by the resistance value of the resistor R). = | Vi−V1 | / R) flows as the drive current I, the drive voltage “| Vo−V1 |” is applied.
[0027]
In this case, of the two drive current terminals of the physical quantity detection element, the voltage of the drive current terminal connected to the inverting input terminal of the operational amplifier is maintained at the first voltage V1, and the other drive current terminal. The output voltage Vo of the operational amplifier is controlled so that the drive current I to the physical quantity detection element becomes the target current (= | Vi−V1 | / R). Changes in accordance with the change in the internal resistance value of the physical quantity detection element, and in turn the temperature change of the physical quantity detection element itself.
[0028]
  Therefore, the claim1In this drive circuit, the output voltage Vo of the operational amplifier is treated as the drive voltage of the physical quantity detection element, and the output voltage Vo of the operational amplifier is inverted and amplified with the first voltage V1 as a reference by the inverting amplifier. A voltage obtained by adding the output voltage and the second voltage V2 is applied to the end portion of the resistor R opposite to the operational amplifier side by an adder as the predetermined voltage Vi, so that the drive current terminal of the physical quantity detection element is connected. Is positively fed back to the drive current supplied to the physical quantity detection element by the current supply means.
[0029]
The mechanism of this positive feedback is as follows (1-1) to (1-3).
(1-1) First, when the temperature rises, the internal resistance value of the physical quantity detection element increases, and accordingly, the difference between the first voltage V1 and the output voltage Vo of the operational amplifier (that is, the drive voltage of the physical quantity detection element). ) Becomes larger.
[0030]
(1-2) The output voltage Vo of the operational amplifier is inverted and amplified with reference to the first voltage V1, and further added to the second voltage V2, so that the end of the resistor R on the opposite side to the operational amplifier side. Is applied to the unit as the predetermined voltage Vi. When the difference between the first voltage V1 and the output voltage Vo of the operational amplifier increases as the temperature rises, the predetermined voltage Vi applied to the resistor R is When viewed on the basis of the voltage V1, it increases in the direction of polarity opposite to the output voltage Vo of the operational amplifier. That is, when the difference between the first voltage V1 and the output voltage Vo of the operational amplifier increases as the temperature rises, the difference between the predetermined voltage Vi applied to the resistor R and the first voltage V1 also increases.
[0031]
  (1-3) As a result, the target current (= | Vi−V1 | / R) of the current supply unit including the operational amplifier and the resistor R becomes large, and the drive supplied to the physical quantity detection element by the current supply unit The current I increases.
  And this claim1According to the driving circuit, the resistance value of the resistor R and the amplification factor (−A) of the inverting amplifier are set according to the temperature coefficient of the detection sensitivity of the physical quantity detection element and the temperature coefficient of the internal resistance value, thereby The change in the internal resistance value of the physical quantity detection element due to the above, that is, the temperature change of the physical quantity detection element itself is appropriately reflected in the driving current I, so that the variation in detection sensitivity due to the temperature of the physical quantity detection element can be compensated accurately.
[0032]
  Also, Claims2The drive circuit ofSpecifically, it is configured as follows.
  That is, ElectricThe current supply means has an inverting input terminal connected to one drive current terminal of the physical quantity detection element, an output terminal connected to the other drive current terminal of the physical quantity detection element, and a non-inverting input terminal connected to the first voltage V1. And a resistor R having one end connected to the inverting input terminal of the operational amplifier and the other end connected to a second voltage V2 different from the first voltage V1.
[0033]
  The feedback means inverts and amplifies the output voltage Vo of the operational amplifier with respect to the first voltage V1 (specifically, with positive and negative standards), the output terminal of the inverting amplifier, and the inversion of the operational amplifier. The feedback resistor R2 is connected between the input terminal and the input terminal. The above-mentioned claims1In the same manner as the driving circuit, the inverting amplifier outputs a voltage such as “−A · (Vo−V1) + V1” where the amplification factor is −A (where A is a positive number).
[0034]
  This claim2In the drive circuit of claim1As in the driving circuit of FIG. 5, the operational amplifier constituting the current supply means has a voltage at the inverting input terminal (that is, the voltage at the one driving current terminal of the physical quantity detection element) applied to the non-inverting input terminal. The output voltage Vo applied to the other drive current terminal of the physical quantity detection element is changed from its own output terminal so as to be equal to the voltage V1 of 1.
[0035]
For this reason, assuming that there is no feedback means comprising the inverting amplifier and the feedback resistor R2, there is a current flowing through the resistor R between the drive current terminals of the physical quantity detection element, and the first voltage V1 and the second voltage. A drive voltage “| Vo−V1 |” is applied so that a current (= | V1−V2 | / R) obtained by dividing the potential difference from V2 by the resistance value of the resistor R flows as the drive current I. It becomes. Of the two drive current terminals of the physical quantity detection element, the voltage of the drive current terminal connected to the inverting input terminal of the operational amplifier is kept at the first voltage V1, and is the voltage of the other drive current terminal. Since the output voltage Vo of the operational amplifier is controlled so that the drive current I to the physical quantity detection element becomes the current (= | V1-V2 | / R), the output voltage Vo of the operational amplifier is detected by the physical quantity. It changes in accordance with a change in the internal resistance value of the element and, in turn, a temperature change in the physical quantity detection element itself.
[0036]
  Therefore, the claim2In this driving circuit, the output voltage Vo of the operational amplifier is treated as the drive voltage of the physical quantity detection element, and the output voltage Vo of the operational amplifier is inverted and amplified with the first voltage V1 as a reference by the inverting amplifier. Is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier via a feedback resistor R2, so that the drive voltage applied between the drive current terminals of the physical quantity detection element is converted by the current supply means into the physical quantity detection element. Is positively fed back to the drive current supplied to.
[0037]
The mechanism of this positive feedback is as follows (2-1) to (2-3).
(2-1) First, when the temperature rises, the internal resistance value of the physical quantity detection element increases, and accordingly, the output voltage Vo of the operational amplifier changes, and the difference between the first voltage V1 and the output voltage Vo. (That is, the drive voltage of the physical quantity detection element) increases.
[0038]
(2-2) Since the inverting amplifier inverts and amplifies the output voltage Vo of the operational amplifier with reference to the first voltage V1, the first voltage V1 and the output voltage of the operational amplifier are increased as the temperature rises. When the difference from Vo increases, the output voltage of the inverting amplifier increases in the direction of polarity opposite to that of the output voltage Vo of the operational amplifier when viewed with reference to the first voltage V1.
[0039]
(2-3) Then, the voltage at the inverting input terminal of the operational amplifier tries to change from the first voltage V1 in the opposite polarity direction to the output voltage Vo of the operational amplifier by the feedback resistor R2. In order to prevent this, the output voltage Vo of the operational amplifier further changes, and as a result, the drive current I supplied to the physical quantity detection element by the current supply means comprising the operational amplifier increases.
[0040]
  And this claim2With this drive circuit, the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor (−A) of the inverting amplifier are set according to the temperature coefficient of the detection sensitivity of the physical quantity detection element and the temperature coefficient of the internal resistance value. The change of the internal resistance value of the physical quantity detection element due to the temperature, that is, the temperature change of the physical quantity detection element itself is appropriately reflected in the driving current I, and the fluctuation of the detection sensitivity due to the temperature of the physical quantity detection element can be accurately compensated. .
[0041]
  By the way, the above-mentioned claim 1.Or 2In the drive circuit of claim 1, the physical quantity detection element to which a drive current is supplied is3If a Hall element that outputs a voltage corresponding to the strength of the magnetic field (Hall voltage) as a detection signal is used, a GaAs Hall element having a linear positive temperature characteristic with respect to the internal resistance (see FIG. Even in the case of b), accurate temperature compensation that accurately captures the temperature of the Hall element itself can be performed with a simple configuration.
[0042]
  Next, the claim4The rotation angle sensor according to the present invention described in (1) is attached to a detection object whose rotation angle is to be detected, and is arranged in a magnetic field generated by the magnet that rotates together with the detection object. A Hall element that outputs a voltage corresponding to the strength, and an output voltage (Hall voltage) of the Hall element that changes with an angle change between a magnetic field direction by the magnet and a magnetic sensitive surface of the Hall element. , Output to the outside as a signal indicating the rotation angle of the detection object, particularly as a drive circuit for supplying a drive current to the Hall element3The drive circuit of the physical quantity detection element described in 1. is provided.
[0043]
  Therefore, this claim4According to the rotation angle sensor, the circuit constant for determining the loop gain that positively feeds back the drive voltage of the Hall element to the drive current in the drive circuit (specifically, claims)1In the driving circuit, the resistance value of the resistor R and the amplification factor of the inverting amplifier,2In this drive circuit, the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor of the inverting amplifier) are taken into account not only of the temperature coefficient of the Hall element sensitivity and the temperature coefficient of the internal resistance value but also the temperature coefficient of the magnetic flux density of the magnet. Thus, the signal from the sensor to the outside can be made unaffected by the temperature, and the rotation angle of the detection target can be detected with high accuracy regardless of the temperature. In particular, since such temperature compensation can be performed with a simple circuit configuration, the rotation angle sensor can be reduced in size and cost.
[0044]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
First, FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the Hall element drive circuit of the first embodiment. The drive circuit of the present embodiment is provided on the circuit board 18 in the throttle opening sensor 10 shown in FIG. 4 and supplies drive current to the Hall element 16 on the circuit board 18 and the hall. The Hall voltage Vh output from the element 16 as expressed by the above-described equation 1 is amplified and output from the terminal 20 of the sensor 10 as an output signal VOUT indicating the throttle opening (the rotation angle of the shaft 12 corresponding to the detection target). To output. The Hall element 16 is made of GaAs and has a characteristic that, as shown in FIG. 7, the internal resistance value Rd increases linearly and the sensitivity decreases linearly as the temperature rises. Further, as can be seen from Equation 1, the sensitivity increases in proportion to the increase in drive current I.
[0045]
  As shown in FIG. 1, the drive circuit of the first embodiment is configured such that the inverting input terminal is one of the Hall elements 16 as current supply means for supplying a drive current I between the drive current terminals a and b of the Hall element 16. The drive current terminal a is connected, the output terminal is connected to the other drive current terminal b of the Hall element 16, and the non-inverting input terminal is ground potential (0 V).1The operational amplifier 2 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 2. The operational amplifier 2 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 2.
[0046]
  Further, this drive circuit uses the output voltage Vo of the operational amplifier 2 as a reference with respect to the ground potential as feedback means for positively feeding back the voltage (drive voltage) between the drive current terminals a and b of the Hall element 16 to the drive current I. And a reference voltage Va higher than the ground potential12) and the output voltage Vb of the inverting amplifier 3 are added, and the voltage Vi (= Va + Vb) after the addition is applied to the end of the resistor R opposite to the operational amplifier 2 side. The adder 4 is provided. The inverting amplifier 3 outputs a voltage such as “−A · Vo” when the amplification factor is −A (where A is a positive number).
[0047]
Further, the drive circuit of the first embodiment amplifies the Hall voltage Vh generated between the output terminals c and d of the Hall element 16, and sends the amplified voltage signal from the terminal 20 to the outside. A differential amplifier 5 that outputs the output signal VOUT of the sensor 10 is provided.
[0048]
In the drive circuit of the first embodiment configured as described above, the operational amplifier 2 is configured such that the voltage at the inverting input terminal (that is, the voltage at the drive current terminal a of the Hall element 16) is applied to the non-inverting input terminal. The output voltage Vo applied from the self output terminal to the drive current terminal b of the Hall element 16 is changed so as to be equal to the ground potential (0V). For this reason, between the drive current terminals a and b of the Hall element 16, a current that flows through the resistor R, which is a target current (= Vi / V) obtained by dividing the output voltage Vi of the adder 4 by the resistance value of the resistor R. The drive voltage “| Vo-0 |” is applied so that R) flows as the drive current I.
[0049]
In this case, of the two drive current terminals a and b of the Hall element 16, the voltage of the drive current terminal a connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 2 is maintained at the ground potential, and the other drive is performed. Since the output voltage Vo of the operational amplifier 2 that is the voltage at the current terminal b is controlled so that the drive current I to the Hall element 16 becomes the target current (= Vi / R), the output voltage of the operational amplifier 2 Vo is the drive voltage itself of the Hall element 16, and also depends on the change in the internal resistance value (internal resistance value between the drive current terminals a and b) Rd of the Hall element 16, and further on the temperature change of the Hall element 16 itself. Will change.
[0050]
Therefore, in the drive circuit of the first embodiment, the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is inverted and amplified by the inverting amplifier 3 with reference to the ground potential, and the output voltage Vb (= −A · Vo) of the inverting amplifier 3 is A voltage Vi obtained by adding the reference voltage Va is applied between the drive current terminals a and b of the Hall element 16 by applying the voltage Vi to the end of the resistor R opposite to the operational amplifier 2 side. The drive voltage is positively fed back to the drive current I.
[0051]
That is, since the operational amplifier 2 and the resistor R form an inverting amplifier that causes the drive current I of “Vi / R” to flow to the Hall element 16 together with the Hall element 16, the polarity of the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is inverted. If the drive voltage I is focused on by adding to the input voltage Vi of the resistor R, the loop of the entire circuit is positive feedback.
[0052]
More specifically, first, when the temperature rises, the internal resistance value Rd of the Hall element 16 increases, and accordingly, the output voltage Vo of the operational amplifier increases in the negative direction (negative voltage direction).
Then, the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is inverted and amplified with respect to the ground potential and added to the reference voltage Va. The voltage Vi (= Va−A · Vo) after the addition is the operational amplifier 2 of the resistor R. When the output voltage Vo of the operational amplifier increases in the negative direction as the temperature rises, the voltage (input voltage) Vi applied to the resistor R is applied to the end of the operational amplifier. The voltage increases in the positive direction (positive voltage direction) opposite to the output voltage Vo. That is, as the output voltage Vo of the operational amplifier increases in the negative direction as the temperature rises, the voltage Vi applied to the resistor R increases in the positive direction.
[0053]
As a result, the target current (= Vi / R) of the current supply means including the operational amplifier 2 and the resistor R is increased, and the drive current I supplied to the Hall element 16 is increased.
According to the drive circuit of the first embodiment, the resistance value of the resistor R and the amplification factor −A of the inverting amplifier 3 are converted into the temperature coefficient of the sensitivity constant Kh of the Hall element 16 and the temperature coefficient of the internal resistance value Rd. By setting accordingly, the change of the internal resistance value Rd of the Hall element 16 due to the temperature, that is, the temperature change of the Hall element 16 itself is appropriately reflected in the driving current I, and the fluctuation of the sensitivity due to the temperature of the Hall element 16 is accurately reflected. Can be compensated for. Further, by setting the resistance value of the resistor R and the gain -A of the inverting amplifier 3 in consideration of the temperature coefficient of the magnetic flux density of the permanent magnets 14a and 14b, the output signal VOUT of the throttle opening sensor 10 is set to the temperature. It is possible to obtain a sensor that can detect the throttle opening with high accuracy regardless of the temperature.
[0054]
Next, how the circuit constants such as the resistance value of the resistor R and the amplification factor of the inverting amplifier 3 are set in the driving circuit of the first embodiment will be specifically described. In each equation described below, “R” indicates the resistance value of the resistor R.
First, Equation 2 is established in this drive circuit.
[0055]
[Expression 2]
Figure 0003989131
[0056]
Then, when formula 2 is rearranged, the drive current I (= Vi / R) flowing through the hall element 16 is represented by formula 3.
[0057]
[Equation 3]
Figure 0003989131
[0058]
Here, “(Rd / R) · A” in the denominator of Equation 3 is a loop gain of the drive circuit. If the loop gain is less than 1, the drive circuit is stable without divergence.
As can be seen from Equation 3, when the internal resistance value Rd of the Hall element 16 increases as the temperature rises, the drive current I of the Hall element 16 increases. The sensitivity of the Hall element 16 is proportional to the drive current I. Therefore, if the loop gain “(Rd / R) · A” is appropriately set, temperature compensation of sensitivity can be performed.
[0059]
Next, more detailed conditions for temperature compensation will be described.
First, since the internal resistance value Rd of the Hall element 16 made of GaAs has a positive temperature characteristic, “Rd” in Equation 3 can be replaced with “Rd (1 + Kr · t)”. Thus, Equation 3 can be transformed into Equation 4. Kr is a temperature coefficient of the internal resistance value of the Hall element 16, and t is a temperature. “Rd (1 + Kr · t)” and “Rd” in Expression 4 are internal resistance values of the Hall element 16 at a certain reference temperature. This also applies to formulas 6 to 8 described later.
[0060]
[Expression 4]
Figure 0003989131
[0061]
In addition, the output voltage (Hall voltage) Vh0 of the Hall element 16 under a certain magnetic flux density can be regarded as the sensitivity of the Hall element 16, and the output voltage Vh0 can be expressed as Equation 5.
[0062]
[Equation 5]
Figure 0003989131
[0063]
Here, Kh0 is a sensitivity per unit drive current of the Hall element 16 at a certain magnetic flux density and a certain temperature, and Kt is a temperature coefficient of sensitivity. The sensitivity of the Hall element 16 is “Kt> 0” because the sensitivity decreases with temperature. That is, in Equation 5, Kt is treated as a positive value.
[0064]
Then, when Expression 4 is substituted into Expression 5, Expression 6 is obtained.
[0065]
[Formula 6]
Figure 0003989131
[0066]
If the fractional part in Equation 6 is constant regardless of the temperature t, Vh0, that is, the sensitivity of the Hall element 16 is constant regardless of the temperature. The condition for satisfying this (temperature compensation condition) is “1 pair Kt = (R−Rd · A) vs. (Rd · Kr · A)”. Become.
[0067]
[Expression 7]
Figure 0003989131
[0068]
Further, when Formula 7 is modified, Formula 8 is obtained.
[0069]
[Equation 8]
Figure 0003989131
[0070]
Therefore, if the resistance value of the resistor R and the amplification factor −A of the inverting amplifier 3 are set so as to satisfy the equations 7 and 8, the sensitivity of the Hall element 16 can be made constant regardless of the temperature.
For example, if the temperature coefficient Kr of the internal resistance value of the Hall element 16 is +2300 ppm / ° C. and the absolute value of the sensitivity temperature coefficient Kt is 550 ppm / ° C., “Kt / (Kt + Kr)” is 0 in Equation 8. Therefore, the resistance value of the resistor R and the amplification factor −A of the inverting amplifier 3 may be set so that “(Rd · A) / R” is 0.19.
[0071]
Further, in the case where compensation is made including the temperature characteristics of the permanent magnets 14a and 14b used in the throttle opening sensor 10, the absolute value of the temperature coefficient of the magnetic flux density of the permanent magnets 14a and 14b is expressed by Equations 7 and 8. A circuit constant may be set by adding to Kt. Specifically, if the material of the permanent magnets 14a and 14b is samarium cobalt, the temperature coefficient of the magnetic flux density is about -300 ppm / ° C. In this example, Kt = 550 + 300 = 850 ppm / ° C., and “Kt / (Kt + Kr)” in Equation 8 is 0.27, so that “(Rd · A) / R” is 0.27. If the resistance value of the resistor R and the amplification factor −A of the inverting amplifier 3 are set, the output signal VOUT of the throttle opening sensor 10 can be made unaffected by temperature.
[0072]
As described above, in the drive circuit of the first embodiment, by utilizing the fact that the internal resistance value of the Hall element 16 changes with temperature, by reflecting the change in the internal resistance value to the drive current with positive characteristics, The drive current is given a positive temperature characteristic to compensate for variations in detection sensitivity due to the temperature of the Hall element 16.
[0073]
Therefore, according to the drive circuit of the first embodiment, the temperature of the Hall element 16 itself can be accurately captured without providing a temperature correction element such as a temperature detection resistor or a complicated correction circuit such as a multiplier. Temperature compensation can be performed.
In addition, in this drive circuit, temperature compensation is performed according to the temperature of the Hall element 16 itself, so that temperature compensation can be performed even when a drive current large enough to cause the self-heating of the Hall element 16 is caused. An excellent effect is obtained that a large driving current is supplied to the Hall element 16 to improve the detection sensitivity.
[0074]
Further, according to the throttle opening sensor 10 having the drive circuit of the first embodiment, the resistance value of the resistor R and the amplification factor -A of the inverting amplifier 3 are determined by the permanent magnets 14a and 14b as in the above specific example. By setting the temperature coefficient of the magnetic flux density, the output signal VOUT from the sensor 10 to the outside can be made completely unaffected by the temperature, and the throttle opening can be detected with high accuracy regardless of the temperature. Sensor. Since such temperature compensation can be performed with a simple circuit configuration, the throttle opening sensor 10 can be reduced in size and cost.
[0075]
Next, FIG. 2 is a circuit diagram showing the configuration of the Hall element drive circuit of the second embodiment. This drive circuit is also provided on the circuit board 18 in the throttle opening sensor 10 shown in FIG. 4, and performs the same function as the drive circuit (FIG. 1) of the first embodiment described above. The Hall element 16 is also made of the same GaAs as in the first embodiment. In the drive circuit of the second embodiment, the same components as those in FIG.
As shown in FIG. 2, the drive circuit of the second embodiment is different from the drive circuit of the first embodiment in the following points (1) to (4).
[0076]
  (1) The non-inverting input terminal of the operational amplifier 2 is not a ground potential (0V), but a reference voltage Va having a higher potential (claim)2Corresponding to the first voltage).
  In the drive circuit of the first embodiment described above, the drive current I of the Hall element 16 flows from the resistor R side to the output terminal side of the operational amplifier 2 (see FIG. 1), but the drive circuit of the second embodiment. In FIG. 2, since the drive current I flows from the output terminal side of the operational amplifier 2 to the resistor R side, the output terminal of the operational amplifier 2 is connected to the drive current terminal a of the Hall element 16 and the inverting input terminal is the Hall element in FIG. It is connected to 16 drive current terminals b. That is, the connection directions of the drive current terminals a and b are reversed.
[0077]
  (2) The adder 4 is not provided, and the end of the resistor R opposite to the inverting input terminal of the operational amplifier 2 is connected to the ground potential (claim).2(Corresponding to the second voltage).
  (3) The inverting amplifier 3 uses the output voltage Vo of the operational amplifier 2 as a claim.2The reference voltage Va corresponding to the first voltage is inverted and amplified with respect to the reference voltage (specifically, as a positive or negative reference), and is output. That is, the inverting amplifier 3 outputs a voltage such as “−A · (Vo−Va) + Va” when the amplification factor is −A (where A is a positive number).
[0078]
In detail, the inverting amplifier 3 includes an operational amplifier 3 a having a non-inverting input terminal connected to the non-inverting input terminal (that is, the reference voltage Va) of the operational amplifier 2, an inverting input terminal of the operational amplifier 3 a, and the operational amplifier 2. And a resistor Rb connected between the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier 3a. The configuration of the inverting amplifier 3 is the same in the drive circuit of the first embodiment. That is, in the drive circuit of the first embodiment, both non-inverting input terminals of the operational amplifier 2 and the operational amplifier 3a are connected to the ground potential.
[0079]
(4) A feedback resistor R2 is connected between the output terminal of the operational amplifier 3a as the output terminal of the inverting amplifier 3 and the inverting input terminal of the operational amplifier 2.
In the drive circuit of the second embodiment, the feedback resistor R2 and the inverting amplifier 3 provide feedback that positively feeds back the voltage (drive voltage) between the drive current terminals a and b of the Hall element 16 to the drive current I. Functions as a means.
[0080]
The drive circuit of the second embodiment also amplifies the Hall voltage Vh generated between the output terminals c and d of the Hall element 16 in the same manner as the drive circuit of the first embodiment, and A differential amplifier 5 that outputs the output signal VOUT is provided.
[0081]
On the other hand, from a viewpoint of explanation, it can be said that the drive circuit of the second embodiment is a modification of the drive circuit of the first embodiment shown in FIG. 1 as shown in FIGS. . However, in FIG. 3, the differential amplifier 5 for outputting the output signal VOUT to the outside is not shown.
[0082]
(1) First, as shown in FIG. 3A, the adder 4 is deleted from the drive circuit of FIG. 1, and instead, the output terminal of the inverting amplifier 3 and the inverting input terminal of the operational amplifier 2 Is connected to the feedback resistor R2.
(2) Next, as shown in FIG. 3B, the ground potential and the reference voltage Va are switched. As a result, the direction of the drive current I is opposite to that in FIG. 3A, and therefore the connection direction of the drive current terminals a and b of the Hall element 16 is reversed.
[0083]
{Circle around (3)} Finally, if the inverting amplifier 3 is represented by an operational amplifier 3a and two resistors Ra and Rb as shown in the dotted line in FIG. 3C, the drive circuit shown in FIG. 2 is obtained.
In the second embodiment, the second voltage is set to the ground potential, and the end of the resistor R opposite to the side of the operational amplifier 2 is connected to the ground potential. This is to operate with a single positive power supply.
[0084]
Also in the drive circuit according to the second embodiment configured as described above, the operational amplifier 2 that constitutes the current supply means has the voltage of the inverting input terminal (the Hall element 16 of the Hall element 16) as in the drive circuit according to the first embodiment. The output voltage Vo applied from the own output terminal to the drive current terminal a of the Hall element 16 is changed so that the voltage of the drive current terminal b) becomes equal to the reference voltage Va applied to the non-inverting input terminal.
[0085]
Therefore, assuming that there is no feedback means comprising the inverting amplifier 3 and the feedback resistor R2, there is a current flowing through the resistor R between the drive current terminals a and b of the Hall element 16, and the reference voltage Va and the ground potential. A drive voltage of “| Vo−Va |” is applied so that a current (= Va / R) obtained by dividing the potential difference (that is, the reference voltage Va) by the resistance value of the resistor R flows as the drive current I. It will be. Of the two drive current terminals a and b of the Hall element 16, the voltage of the drive current terminal b connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 2 is maintained at the reference voltage Va, and the other drive current terminal is connected. Since the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is controlled such that the drive current I to the Hall element 16 becomes the current (= Va / R), the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is It changes in accordance with the change in the internal resistance value Rd of the Hall element 16 and thus the temperature change of the Hall element 16 itself.
[0086]
Therefore, also in the drive circuit of the second embodiment, the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is handled as the drive voltage of the Hall element 16, and the output voltage Vo of the operational amplifier is inverted by the inverting amplifier 3 with the reference voltage Va as a reference. In addition to being amplified, the output terminal of the inverting amplifier 3 and the inverting input terminal of the operational amplifier 2 are connected via a feedback resistor R2, and are applied between the drive current terminals a and b of the Hall element 16. The drive voltage is positively fed back to the drive current I.
[0087]
That is, in the drive circuit of the first embodiment described above, the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is fed back in the form of a voltage, whereas in the drive circuit of the second embodiment, the output voltage of the operational amplifier 2 is returned. Vo is fed back in the form of current.
More specifically, first, when the temperature rises, the internal resistance value Rd of the Hall element 16 increases, and accordingly, the output voltage Vo of the operational amplifier increases in the positive direction with respect to the reference voltage Va.
[0088]
Since the inverting amplifier 3 inverts and amplifies the output voltage Vo of the operational amplifier 2 with reference to the reference voltage Va, when the output voltage Vo of the operational amplifier increases with temperature rise, the output voltage of the inverting amplifier 3 is increased. When viewed with reference to the reference voltage Va, the voltage increases in the negative direction opposite to the output voltage Vo of the operational amplifier 2.
[0089]
Then, since the voltage at the inverting input terminal of the operational amplifier 2 tends to be lower than the reference voltage Va by the feedback resistor R2, the output voltage Vo of the operational amplifier 2 is further increased to prevent this. Thus, the drive current I supplied to the Hall element 16 increases.
[0090]
Also by the drive circuit of the second embodiment, the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor -A of the inverting amplifier 3 are converted into the temperature coefficient of the sensitivity constant Kh of the Hall element 16 and the temperature coefficient of the internal resistance value Rd. Therefore, the change in the internal resistance value Rd of the Hall element 16 due to the temperature, that is, the temperature change of the Hall element 16 itself is appropriately reflected in the driving current I, and the fluctuation of the sensitivity due to the temperature of the Hall element 16 is changed. It can be compensated accurately. Further, by setting the resistance value of the feedback resistor R2 and the gain -A of the inverting amplifier 3 in consideration of the temperature coefficient of the magnetic flux density of the permanent magnets 14a and 14b, the output signal VOUT of the throttle opening sensor 10 is set. Thus, a sensor capable of detecting the throttle opening with high accuracy regardless of the temperature can be obtained.
[0091]
Next, how to set circuit constants such as the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor of the inverting amplifier 3 in the drive circuit of the second embodiment will be described in detail. In each equation described below, “R” indicates the resistance value of the resistor R. Similarly, “R2” indicates the resistance value of the feedback resistor R2.
[0092]
In the drive circuit of the second embodiment, Expression 4 in the first embodiment is modified as Expression 9 below. That is, the drive current I flowing through the Hall element 16 is expressed by Equation 9. Note that “Rd” in Equation 9 is the internal resistance value of the Hall element 16 at a certain reference temperature as in Equations 4 and 6 to 8, and this is represented by Equations 15 to 17 described later. The same applies to. Kr is the temperature coefficient of the internal resistance value of the Hall element 16, and t is the temperature.
[0093]
[Equation 9]
Figure 0003989131
[0094]
Here, the reason for reaching Equation 9 will be described.
First, for simplification, the model of FIG. 3A described above, that is, the model equivalent to that of FIG. 2, in which the non-inverting input terminal of the operational amplifier 2 is the ground potential will be considered.
[0095]
In the model of FIG. 3A, as shown in FIG. 3D, the direction in which the drive current I flows is the direction from the output terminal of the operational amplifier 2 to the resistor R, and the resistor R from the reference voltage Va side. Is represented by “i1”, and the current flowing from the inverting amplifier 3 to the feedback resistor R2 is represented by “i2”. Note that −A is the amplification factor of the inverting amplifier 3.
[0096]
[Expression 10]
Figure 0003989131
[0097]
In this case, since i1 + i2 + I = 0, Expression 11 is established.
[0098]
## EQU11 ##
Figure 0003989131
[0099]
When this equation 11 is transformed, the following equation 12 is obtained.
[0100]
[Expression 12]
Figure 0003989131
[0101]
Further, when Expression 12 is transformed, Expression 13 is obtained.
[0102]
[Formula 13]
Figure 0003989131
[0103]
“Vo / Rd” in Expression 13 is the drive current I of the Hall element 16. Therefore, in the models of FIGS. 3A and 3D, when the voltage at the non-inverting input terminal of the operational amplifier 2 is returned to the reference voltage Va, and the models of FIGS. 2, 3B, and 3C are considered, It is only necessary to replace “Va” in Equation 13 with “−Va”. With this substitution, the drive current I is expressed by Equation 14 below.
[0104]
[Expression 14]
Figure 0003989131
[0105]
Then, in Expression 14, similarly to the above-described expansion from Expression 3 to Expression 4, if “Rd” is replaced with “Rd (1 + Kr · t)”, Expression 9 is obtained.
Here, “(Rd / R2) · A” in the denominator of Equation 14 and “(Rd (1 + Kr · t) / R2) · A” in the denominator of Equation 9 is the loop gain of the drive circuit. . If the loop gain is less than 1, the drive circuit is stable without divergence. If this value is set appropriately, temperature compensation of sensitivity can be performed.
[0106]
Therefore, when Expression 9 is substituted into Expression 5, Expression 15 is obtained.
[0107]
[Expression 15]
Figure 0003989131
[0108]
If the fractional part in Equation 15 becomes constant regardless of the temperature t, the sensitivity of Vh0, that is, the Hall element 16, becomes constant regardless of the temperature, and the condition for satisfying this (condition for temperature compensation) is Equation 16 is obtained.
[0109]
[Expression 16]
Figure 0003989131
[0110]
Further, when Expression 16 is modified, Expression 17 is obtained.
[0111]
[Expression 17]
Figure 0003989131
[0112]
Therefore, if the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor -A of the inverting amplifier 3 are set so as to satisfy Expressions 16 and 17, the sensitivity of the Hall element 16 can be made constant regardless of the temperature. it can.
For example, as in the example described for the drive circuit of the first embodiment, the temperature coefficient Kr of the internal resistance value of the Hall element 16 is +2300 ppm / ° C., and the absolute value of the temperature coefficient Kt of sensitivity is 550 ppm / ° C. Then, in Expression 17, “Kt / (Kt + Kr)” is 0.19, so that the resistance value of the feedback resistor R2 and the inverting amplifier 3 are set so that “(Rd · A) / R2” is 0.19. The amplification factor -A may be set.
[0113]
When compensation is made including the temperature characteristics of the permanent magnets 14a and 14b used in the throttle opening sensor 10, the absolute value of the temperature coefficient of the magnetic flux density of the permanent magnets 14a and 14b is expressed as Kt in the equations 16 and 17. The circuit constant may be set by adding to More specifically, assuming that the temperature coefficient of the permanent magnets 14a and 14b is −300 ppm / ° C., Kt = 550 + 300 = 850 ppm / ° C., and “Kt / (Kt + Kr)” in Equation 17 is 0.27. Therefore, if the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor -A of the inverting amplifier 3 are set so that “(Rd · A) / R2” becomes 0.27, the output signal VOUT of the throttle opening sensor 10 Can be independent of temperature.
[0114]
As described above, also in the drive circuit of the second embodiment, by utilizing the fact that the internal resistance value of the Hall element 16 changes with temperature, the change in the internal resistance value is reflected in the drive current with positive characteristics. The drive current is given a positive temperature characteristic to compensate for variations in detection sensitivity due to the temperature of the Hall element 16.
[0115]
Therefore, the same effect as the drive circuit of the first embodiment can be obtained by the drive circuit of the second embodiment. Further, according to the throttle opening sensor 10 provided with the drive circuit of the second embodiment, the resistance value of the feedback resistor R2 and the amplification factor -A of the inverting amplifier 3 are obtained from the permanent magnets 14a and 14b as in the above specific example. By taking into account the temperature coefficient of the magnetic flux density, the output signal VOUT from the sensor 10 to the outside can be completely unaffected by the temperature. Since such temperature compensation can be performed with a simple circuit configuration, the throttle opening sensor 10 can be reduced in size and cost.
[0116]
In particular, in the drive circuit according to the second embodiment, the circuit scale can be further reduced as compared with the drive circuit according to the first embodiment because the adder 4 is not required.
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, it cannot be overemphasized that this invention can take a various form, without being limited to the said embodiment.
[0117]
  For example, in the drive circuit of the first embodiment shown in FIG.1The first voltage) is not limited to the ground potential, but may be any other voltage.
  In the drive circuit of the second embodiment shown in FIG. 2, a voltage applied to the end of the resistor R opposite to the operational amplifier 2 side (claims2The second voltage is not limited to the ground potential, and may be a negative voltage, for example. However, if the voltage is set to the ground potential as shown in FIG. 2, the drive circuit can be operated with a single power source, which is advantageous.
[0118]
On the other hand, the drive circuit of each of the embodiments described above supplies a drive current to the Hall element. However, the drive circuit of each of the above-described embodiments is completely compatible with a physical quantity detection element other than the Hall element. The same can be applied.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram illustrating a configuration of a hall element drive circuit according to a first embodiment;
FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a configuration of a hall element drive circuit according to a second embodiment;
FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating a process leading to the configuration of the drive circuit of FIG. 2;
FIG. 4 is a configuration diagram showing a configuration of a throttle opening sensor.
5 is a graph showing output characteristics of a hall element in the throttle opening sensor of FIG.
FIG. 6 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional Hall element drive circuit;
FIG. 7 is a graph showing temperature characteristics related to the sensitivity and internal resistance value of the Hall element.
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration example of the Hall element drive circuit other than FIG.
[Explanation of symbols]
2 ... Operational amplifier 3 ... Inverting amplifier 4 ... Adder R ... Resistance
R2 ... Return resistance 10 ... Throttle opening sensor 12 ... Shaft
14a, 14b ... Permanent magnet 16 ... Hall element

Claims (4)

一対の駆動電流端子間に駆動電流が供給された状態で、該駆動電流端子とは異なる端子から検出対象の物理量に対応した検出信号を出力すると共に、温度の上昇に伴って前記駆動電流端子間の内部抵抗値が大きくなり且つ前記物理量の検出感度が低下する特性と、前記駆動電流が増加するほど前記物理量の検出感度が大きくなる特性とを有した物理量検出素子に、所定の駆動電流を供給する電流供給手段を備えた物理量検出素子の駆動回路において、
前記物理量検出素子の前記駆動電流端子間の電圧を、前記電流供給手段によって前記物理量検出素子へ供給される駆動電流に正帰還させる帰還手段を備え、
更に、前記電流供給手段は、
反転入力端子が前記物理量検出素子の一方の駆動電流端子に接続され、出力端子が前記物理量検出素子の他方の駆動電流端子に接続され、非反転入力端子が第1の電圧に接続された演算増幅器と、
一端が前記演算増幅器の反転入力端子に接続され、他端に前記第1の電圧とは異なる所定電圧が印加される抵抗とからなり、
前記帰還手段は、
前記演算増幅器の出力電圧を、前記第1の電圧を基準として反転増幅する反転増幅器と、
前記第1の電圧とは異なる第2の電圧と前記反転増幅器の出力電圧とを加算した電圧を、前記抵抗の前記演算増幅器側とは反対側の端部に、前記所定電圧として印加する加算器とからなること、
を特徴とする物理量検出素子の駆動回路。
In a state where a drive current is supplied between a pair of drive current terminals, a detection signal corresponding to the physical quantity to be detected is output from a terminal different from the drive current terminal, and between the drive current terminals as the temperature rises A predetermined drive current is supplied to a physical quantity detection element having a characteristic that the internal resistance value of the physical quantity increases and the detection sensitivity of the physical quantity decreases and a characteristic that the detection sensitivity of the physical quantity increases as the drive current increases. In the drive circuit of the physical quantity detection element provided with the current supply means for
Feedback means for positively feeding back the voltage between the drive current terminals of the physical quantity detection element to the drive current supplied to the physical quantity detection element by the current supply means ;
Further, the current supply means includes
An operational amplifier having an inverting input terminal connected to one drive current terminal of the physical quantity detection element, an output terminal connected to the other drive current terminal of the physical quantity detection element, and a non-inverting input terminal connected to the first voltage When,
One end is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier, and the other end includes a resistor to which a predetermined voltage different from the first voltage is applied,
The return means is
An inverting amplifier for inverting and amplifying the output voltage of the operational amplifier with reference to the first voltage;
An adder for applying a voltage obtained by adding a second voltage different from the first voltage and an output voltage of the inverting amplifier as the predetermined voltage to an end of the resistor opposite to the operational amplifier side Consisting of
A drive circuit for a physical quantity detection element characterized by the above.
一対の駆動電流端子間に駆動電流が供給された状態で、該駆動電流端子とは異なる端子から検出対象の物理量に対応した検出信号を出力すると共に、温度の上昇に伴って前記駆動電流端子間の内部抵抗値が大きくなり且つ前記物理量の検出感度が低下する特性と、前記駆動電流が増加するほど前記物理量の検出感度が大きくなる特性とを有した物理量検出素子に、所定の駆動電流を供給する電流供給手段を備えた物理量検出素子の駆動回路において、
前記物理量検出素子の前記駆動電流端子間の電圧を、前記電流供給手段によって前記物理量検出素子へ供給される駆動電流に正帰還させる帰還手段を備え、
更に、前記電流供給手段は、
反転入力端子が前記物理量検出素子の一方の駆動電流端子に接続され、出力端子が前記物理量検出素子の他方の駆動電流端子に接続され、非反転入力端子が第1の電圧に接続された演算増幅器と、
一端が前記演算増幅器の反転入力端子に接続され、他端前記第1の電圧とは異なる第2の電圧に接続された抵抗とからなり、
前記帰還手段は、
前記演算増幅器の出力電圧を、前記第1の電圧を基準として反転増幅する反転増幅器と、
該反転増幅器の出力端子と前記演算増幅器の反転入力端子との間に接続された帰還用抵抗とからなること、
を特徴とする物理量検出素子の駆動回路。
In a state where a drive current is supplied between a pair of drive current terminals, a detection signal corresponding to the physical quantity to be detected is output from a terminal different from the drive current terminal, and between the drive current terminals as the temperature rises A predetermined drive current is supplied to a physical quantity detection element having a characteristic that the internal resistance value of the physical quantity increases and the detection sensitivity of the physical quantity decreases and a characteristic that the detection sensitivity of the physical quantity increases as the drive current increases. In the drive circuit of the physical quantity detection element provided with the current supply means for
Feedback means for positively feeding back the voltage between the drive current terminals of the physical quantity detection element to the drive current supplied to the physical quantity detection element by the current supply means;
Further, the current supply means includes
An operational amplifier having an inverting input terminal connected to one drive current terminal of the physical quantity detection element, an output terminal connected to the other drive current terminal of the physical quantity detection element, and a non-inverting input terminal connected to the first voltage When,
One end connected to the inverting input terminal of the operational amplifier consists of a resistor connected to a second voltage different from the other end of said first voltage,
The return means is
An inverting amplifier for inverting and amplifying the output voltage of the operational amplifier with reference to the first voltage;
A feedback resistor connected between the output terminal of the inverting amplifier and the inverting input terminal of the operational amplifier ;
A drive circuit for a physical quantity detection element characterized by the above.
請求項1又は請求項2に記載の物理量検出素子の駆動回路において、
前記物理量検出素子は、前記検出信号として、磁界の強さに対応した電圧を出力するホール素子であること、
を特徴とする物理量検出素子の駆動回路。
In the drive circuit of the physical quantity detection element according to claim 1 or 2 ,
The physical quantity detection element is a Hall element that outputs a voltage corresponding to the strength of a magnetic field as the detection signal;
A drive circuit for a physical quantity detection element characterized by the above.
回転角度を検出すべき検出対象物に取り付けられて、該検出対象物と共に回転する磁石と、A magnet attached to a detection object whose rotation angle is to be detected and rotated together with the detection object;
該磁石により発生される磁界中に配置されて、磁界の強さに対応した電圧を出力するホール素子とを備え、  A Hall element arranged in a magnetic field generated by the magnet and outputting a voltage corresponding to the strength of the magnetic field,
前記磁石による磁界方向と前記ホール素子の感磁面との角度変化に伴って変化する前記ホール素子の出力電圧を、前記検出対象物の回転角度を示す信号として外部へ出力する回転角度センサにおいて、  In a rotation angle sensor that outputs the output voltage of the Hall element, which changes with an angle change between the magnetic field direction by the magnet and the magnetic sensitive surface of the Hall element, to the outside as a signal indicating the rotation angle of the detection object,
前記ホール素子に駆動電流を供給するための駆動回路として、請求項3に記載の物理量検出素子の駆動回路を備えていること、  A drive circuit for supplying a drive current to the hall element, comprising the drive circuit for the physical quantity detection element according to claim 3,
を特徴とする回転角度センサ。  A rotation angle sensor.
JP13569999A 1999-05-17 1999-05-17 Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor Expired - Fee Related JP3989131B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13569999A JP3989131B2 (en) 1999-05-17 1999-05-17 Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13569999A JP3989131B2 (en) 1999-05-17 1999-05-17 Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000329513A JP2000329513A (en) 2000-11-30
JP3989131B2 true JP3989131B2 (en) 2007-10-10

Family

ID=15157839

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13569999A Expired - Fee Related JP3989131B2 (en) 1999-05-17 1999-05-17 Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3989131B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE03712808T1 (en) * 2002-03-22 2005-08-18 Sentron Ag ANGLE DETERMINATION DEVICE AND ANGLE DETERMINATION SYSTEM
JP4706413B2 (en) * 2005-09-22 2011-06-22 株式会社安川電機 Magnetic encoder device, rotation angle calculation method and position detection method thereof
JP2015038527A (en) * 2011-10-28 2015-02-26 ピーエス特機株式会社 Position detector
JP6917799B2 (en) * 2017-05-29 2021-08-11 ローム株式会社 Imaging device
CN113607969B (en) * 2021-06-16 2024-05-31 金华卓远实业有限公司 Temperature and speed measuring circuit, device with circuit and method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000329513A (en) 2000-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2574659B2 (en) Temperature compensated magnetoresistive sensor circuit with high output voltage swing
GB2208549A (en) Angle sensor for throttle valve of internal combustion engine
JP2008534926A (en) Angular position detection using multiple rotary magnetic sensors
JP2013533480A5 (en)
JPH11506836A (en) Smart linear angle position sensor
WO2013057863A1 (en) Magnetic sensor
JP2000055999A (en) Magnetic sensor device and current sensor device
GB2557272A (en) Sensing motor current
JP3989131B2 (en) Drive circuit for physical quantity detection element and rotation angle sensor
JPH03233317A (en) Rotation angle sensor
US9778067B2 (en) Sensing a physical quantity in relation to a sensor
JP5126536B2 (en) Magnetic proportional current sensor gain adjustment method
KR20170026209A (en) Encoder
US7249516B2 (en) Method of operating a resistive heat-loss pressure sensor
US20060006864A1 (en) Integrated magnetoresitive speed and direction sensor
JP2005337861A (en) Magnetism detection apparatus
JPS5856408B2 (en) magnetic sensor
JPS6361961A (en) Current detector
JPS5826215A (en) Rotating angle detector
US20060021444A1 (en) Method of operating a resistive heat-loss pressure sensor
JPS608729B2 (en) Rotation angle detection device
JP2009115688A (en) Amplifying circuit
JP3028750B2 (en) Cross coil meter
JP2009121858A (en) Amplification circuit
JPH03165281A (en) Sensor circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070320

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070516

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070703

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070717

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100727

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees