JP3988234B2

JP3988234B2 - Angle inspection instrument and angle inspection method

Info

Publication number: JP3988234B2
Application number: JP04328898A
Authority: JP
Inventors: 信次小林; 俊幸本田
Original assignee: Sumitomo Chemical Co Ltd
Current assignee: Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date: 1998-02-25
Filing date: 1998-02-25
Publication date: 2007-10-10
Anticipated expiration: 2018-02-25
Also published as: JPH11241902A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、角度検査器具に関する。
【０００２】
【従来の技術】
液晶表示装置に用いられる偏光フィルム、位相差フィルムおよびこれらを貼合した貼合フィルムを始めとする光学フィルムや、液晶セルは、一般に板状の長方形状をしており、いずれも液晶表示装置を構成する重要な部材である。これら板状の部材は、予め目的とする液晶表示装置に対応した形状に切断されてのち、液晶表示装置に組込まれて使用され、多くは長方形状に切断されている。
一方、光学フィルムの光学軸や、液晶セルの光学軸は液晶表示装置の表示性能を確保するための重要な要素であり、僅かでもずれていては目的とする表示性能を発揮しないことがしばしば生ずる。そのため、切断された光学フィルムの形状や液晶セルの形状が少しでも液晶表示装置と異なると、それに起因して光学軸のずれが生じて、目的とする表示性能を発揮できない。そのため、これらの板状物における隣接する２辺のなす角度の検査には十分な精度が要求される。
精度よく該２辺の角度を検査する方法としては、例えば２次元形状測定装置を用いる方法などが挙げられる。
【０００３】
しかしながら、２次元形状測定装置は高価であり、またその取扱いには検査作業者の熟練と注意力が必要であった。そのため、大量の製品を効率よく検査し得る方法が求められていたが、これまで比較的簡便で、制度のよい検査器具は、これまでなかった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、本発明者らは、板状物の隣接する２辺がなす角度を精度よく検査し得、しかも簡便なる検査器具を開発するべく、鋭意検討した結果、二の直線定規を備え、それぞれに特定の格子パターンが固定された角度検査器具は、それぞれの格子パターンを重ね合せることにより発生するモアレ模様を利用する検査器具は、精度よく板の角度を検査し得ることを見出し、本発明に至った。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明は、
第一直線定規（１）と、該第一直線定規に対して固定された第一格子パターン（２）と、第二直線定規（３）と、該第二直線定規に対し得て固定された第二格子パターン（４）とを備えてなる角度検査器であって、
第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とは、互いにモアレ模様を発生可能であり、
第一直線定規（１）と第二直線定規（３）とをそれぞれの直線部分（５、６）が所定の角度（θ₀）をなすように、かつ第一格子パターンと第二格子パターンとが重なり合うように配置した場合に、
その重なり合った部分（７）において所定のモアレ模様を発生するか、モアレ模様を発生しない
ことを特徴とする角度検査器具を提供するものである。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて説明する。
図１に本発明の角度検査器具の一例を示す。
本発明の角度検査器具における第一直線定規（１）とは、少なくとも一の直線部分（５）を有する定規である。図１において第一直線定規（１）は台板（８）上に固定されている。この台板（８）は、裏面から照明されていてもよい。
【０００７】
第一直線定規（１）に対して、第一格子パターン（２）が固定されている。第一格子パターンは、第一直線定規を透明としてそれに設けられることにより第一直線定規に対して固定されていてもよい。また、台板（８）に第一直線定規（１）を固定した場合には、該台板（８）に第一格子パターン（２）を固定することにより、第一格子パターンが第一直線定規に対して固定されていてもよく（図１）、この場合、第一格子パターン（２）は台板（８）を介して第一直線定規（１）に対して固定されることとなる。
【０００８】
第二直線定規（３）とは、少なくとも一の直線部分（６）を有する定規である。第二直線定規（３）は、その一部分において第一直線定規（１）と係合されていてもよく、図１においてはその一端（９）においてピンなどによって該一端を中心として回転可能に第一直線定規（１）と連結されている。
【０００９】
かかる第二直線定規（３）に対しては第二格子パターン（４）が固定されている。第二格子パターンは、第二直線定規を透明としてそれに格子パターンが設けられることにより第二直線定規に対して固定されていてもよいし、透明性のある他の板に第二格子パターンを設けてこの板を第二直線定規に固定してもよい。
【００１０】
これらの第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とは、互いにモアレ模様を発生可能である。すなわち、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とは、重ね合せることによってモアレ模様が発生し得るように、それぞれの格子パターンが決められている。
かかる格子パターンは、互いに周期的な濃淡の模様であって、例えば等間隔で並べられた直線模様などが挙げられる（図２）。第一格子パターン（２）の格子間隔（ｄ₁)および第二格子パターン（４）の格子間隔（ｄ₂）はそれぞれ通常５０〜５００μｍ、好ましくは５０〜３００μｍ程度である。このような格子パターンとしては、例えば液晶表示装置に組込まれて用いられるカラーフィルターなどを用いることもできる。
【００１１】
モアレ模様が発生するには、例えば互いの格子パターンが交叉すればよい（図２(b)）。
両格子パターン（２、４）が平行である場合にも、重なり合った部分においてモアレ模様を発生し得る（図２(a)）。このようにして発生するモアレ模様は通常、僅かの格子パターンの角度の変化により、大きく変化する。平行である場合にもモアレ模様を発生させるためには、例えば第一格子パターンの格子間隔（ｄ₁)と第二格子パターンの格子間隔（ｄ₂）とを僅かに異ならせておき、これを重ね合せればよい。
【００１２】
また、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とが一定の間隔（ΔＬ）を空けて重なり合う場合には、第一格子パターンの格子間隔（ｄ₁)と第二格子パターンの格子間隔（ｄ₂）とが実質的に同じであってもよく、この場合にもモアレ模様が発生する。これは、観察位置〔例えば目視で検査をする場合には検査作業員の目の位置〕（１５）から第一格子パターンまでの距離（Ｌ₁）と第二格子パターンまでの距離（Ｌ₂）とがΔＬだけ異なるため、観察位置から見た両格子パターンの見掛の格子間隔（ｄ₁’、ｄ₂’）は僅かに異なることとなり（図３）、モアレ模様を発生するためである（図２(b)）。従って、この場合には、両格子パターン（２、４）として同じ格子間隔（ｄ₁、ｄ₂）の格子パターンを用いることができるので、格子パターンの入手、および直線定規（１、３）への取り付けが容易となる点で、好ましい。
【００１３】
なお、この場合、両格子パターンまでの距離（Ｌ₁、Ｌ₂）、両格子パターンの格子間隔（ｄ₁、ｄ₂）および見掛の格子間隔（ｄ₁’、ｄ₂’）の関係は、通常はＬ₁とＬ₂との差（ΔＬ）がＬ₁またはＬ₂よりも十分に小さいので、概ね計算式（１）
ｄ₂’／ｄ₁’≒（Ｌ₁／Ｌ₂）×（ｄ₂／ｄ₁）（１）
により計算することができる。
具体的には、目視による検査の場合、Ｌ₁、Ｌ₂は概ね１５０ｍｍ〜３００ｍｍ程度であり、ΔＬは条件式（２）および条件式（３）
０．００５ ≦ ΔＬ／Ｌ₁ ≦ ０．０１５（２）
０．００５ ≦ ΔＬ／Ｌ₂ ≦ ０．０１５（３）
を満足して、０．７５ｍｍ〜４．５ｍｍ程度であることが好ましい。
なお、図３には、Ｌ₁がＬ₂よりも大きい場合、すなわち第一格子パターン（２）が第二格子パターン（４）の下側となって重なり合う場合を図示しているが、第一格子パターン（２）が第二格子パターン（４）の上側となって重なり合い、Ｌ₁がＬ₂よりも小さくなっていてもよい。
【００１４】
このように両格子間隔（ｄ₁、ｄ₂）を実質的に同じである場合にも平行となった場合にモアレ模様が発生するようにしておいた場合には、観察位置（１５）が異なると、両格子パターンまでの距離（Ｌ₁、Ｌ₂）が変化して、観察位置からの両格子パターンの見掛の格子間隔（ｄ₁’、ｄ₂’）も変って、発生するモアレ模様も変るため、一定の観察位置から観察することが好ましい。そのためには、例えば検査作業者の目の位置を固定するための覗き穴を平板に穿っておき、この平板を支持枠などによって、重なり合う部分（７）の直上に設けておいてもよいし、場合によっては、観察位置にカメラを固定しておきこのカメラを通じてモニター画面でモアレ模様の発生を観察してもよい。
【００１５】
本発明の角度検査器具においては、第一直線定規（１）と第二直線定規（３）とを、それぞれの直線部分（５、６）が所定の角度（θ₀）をなすように、かつ第一格子パターンと第二格子パターンとが重なり合うように配置した場合に、その重なり合った部分（７）において所定のモアレ模様を発生するか、モアレ模様を発生しないことが必要である（図４）。
【００１６】
所定の角度（θ₀）は、板の隣接する２辺の目的とする角度として適宜設定される。例えば板状で長方形状の光学フィルムを検査する場合であれば、θ₀は９０°である。
用いる第一直線定規（１）、第二直線定規（３）やそれらへの第一格子パターン（２）や第二格子パターン（４）の固定方法によっては、第一直線定規の直線部分（５）と第二直線定規の直線部分（６）とが直接交わらない場合もあるが、この場合には、それぞれの直線部分（５、６）の延長線の交わる角度がθ₀であればよい。
【００１７】
本発明の角度検査器具においては、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とは、重ね合せることによってモアレ模様が発生するようにそれぞれの格子パターンが決められているため、第一直線定規（１）と第二直線定規（３）とを、それぞれの直線部分（５、６）が所定の角度（θ₀）となるように配置すると、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）との重なり合う部分（７）において所定のモアレ模様が発生するか、モアレ模様が発生しない。
【００１８】
第一直線定規と第二直線定規とをそれぞれの直線部分が所定の角度（θ₀）となるように配置した際に重なり合う部分（７）に所定のモアレ模様が発生する場合の所定のモアレ模様は、上記所定の角度（θ₀）、第一格子パターン（２）のパターンおよび第二格子パターン（４）のパターンによって決められる（図２(a)、(b)）。
両直線部分（５、６）がなす角度（θ）が僅かでも所定の角度（θ₀）と異なれば、重なり合う部分（７）には所定のモアレ模様とは大きく異なるモアレ模様が発生するか若しくはモアレ模様が発生しない。そのため、かかる部分（７）のモアレ模様が所定の模様となっているか否かによって、両直線部分（５、６）がなす角度（θ）が所定の角度（θ₀）であるか異なっているかを判定することができる。モアレ模様の相違は、モアレ模様による格子の間隔（Ｄ）の相違や格子の方向（１７）の相違として容易に認識できる。
【００１９】
所定のモアレ模様は、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とが交叉して発生するものであってもよいが（図２(b)）、互いに平行となって重なり合うことによって発生するものであることが（図２(a)）、両格子パターンの交叉角度（ω）の僅かな変化により、大きく変化するため、角度θの僅かな変化を容易に検出し得、検査の作業性の点で好ましい。
【００２０】
互いに平行となって重なり合うことによりモアレ模様が発生するためには、例えば両格子パターンの格子間隔（ｄ₁、ｄ₂）が僅かに異なっていればよい（図２(a)）。
また、第一格子パターンの格子間隔（ｄ₁）と、第二格子パターンの格子間隔（ｄ₂）とは実質的に同じであっても、両格子パターン（２、４）が所定の間隔（ΔＬ）を開けて重なり合い可能であれば、前述したようにモアレ模様を発生可能であり、両格子パターンとして同じ格子パターンを用いることができる。この場合、観察位置（１５）から第一格子パターンまでの距離（Ｌ₁）や第二格子パターンまでの距離（Ｌ₂）は前記したと同様に概ね１５〜３０ｃｍ程度であり、ΔＬは上記条件式（２）および条件式（３）を満足して、０．７５ｍｍ〜４．５ｍｍ程度であることが好ましい。
【００２１】
なお、両格子パターンの格子間隔（ｄ₁、ｄ₂）、両格子パターン（２、４）が交叉することによって所定のモアレ模様を発生する場合（図２(a)）における両格子パターンのなす角度（ω）、両格子パターン（２、４）が平行となって重なり合うことによりモアレ模様を発生する場合（図２(b)）における観察位置から第一格子パターンまでの距離（Ｌ₁）、第二格子パターンまでの距離（Ｌ₂）および両格子パターンの間隔（ΔＬ）は特に限定されるものではないが、通常は、両直線定規（１、３）の直線部分がなす角度（θ）が所定の角度（θ₀）となった場合に発生する所定のモアレ模様における格子の間隔（Ｄ）が１０ｍｍ〜１００ｍｍ程度となるようにそれぞれ設定されることが、検査をより容易に行える点で好ましい。
【００２２】
また、重なり合う部分（７）の面積は、発生するモアレ模様を所定のモアレ模様と比較し易い大きさとなるように適宜設定されることが好ましい。そのためには、両格子パターン（２、４）の大きさや、両直線定規（１、３）への取り付け位置を適宜設定すればよい。
【００２３】
第一直線定規と第二直線定規とをそれぞれの直線部分が所定の角度となるように配置した際に重なり合う部分（７）にモアレ模様が発生しない場合、第一直線定規の直線部分（５）と第二直線定規の直線部分（６）とのなす角度（θ）が僅かでも所定の角度（θ₀）と異なればモアレ模様が発生する。そのため、該部分（７）にモアレ模様が発生しないか若しくは発生するかによって、角度（θ）が所定の角度（θ₀）であるか、異なっているかを判定することができる。
【００２４】
かかる本発明の角度検査器具を用いることにより、隣接する直線状の２辺（１１、１２）を有する板（１０）の該２辺のなす角度（φ）が所定の角度(θ₀）であるか否かを比較的簡単にしかも精度よく検査することができる。
【００２５】
板としては、偏光フィルム、位相差フィルムおよびこれらを貼合した貼合フィルムなどの光学フィルムや液晶セルなどを検査し得るが、これらに限定されるものではない。また、板の該２辺（１１，１２）は、角度（φ）を検査し得る範囲で、その交叉する先端（角度φの部分）が面取加工されて丸められていてもよい。
【００２６】
かかる板の角度（φ）を本発明の角度検査器具を用いて検査するには、例えば該角度検査器具の第一直線定規の直線部分（５）には板（１０）の隣接する２辺のうちの１辺（１１）を沿わせ、第二直線定規の直線部分（６）には他の１辺（１２）を沿わせるとともに、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とを重ね合せればよい（図４）。
【００２７】
板の一辺（１１または１２）を直線部分（５または６）に沿わせるには、例えば板を直線部分に押し当ててもよいし、第一直線定規（１）や第二直線定規（３）を板に押し当ててもよい。
第一直線定規（１）を台板（８）上に固定した場合には、板（１０）をこの台板上に置いて押し当てることができるので、検査作業が容易に行える。また、第二直線定規（３）に、ばね、輪ゴムなどを用いて板（１０）の一辺に向けた張力（１６）を付与しておけば、第二直線定規の直線部分（６）に板の他の１辺（１２）を容易に沿わせることができる。
【００２８】
第二直線定規（３）をその一端（９）でピンなどを用いて第一直線定規（１）と系合した場合には、検査しようとする板の端部を両直線定規（２、１）の直線部分（５、６）で挟み込んでしまうこともあるため、それを避けるために該一端（９）の付近においては第二直線定規（３）と第一直線定規（１）の双方または一方の一部を切り欠いておいて（１３、１４）、挟み込みを防止することもできる。
【００２９】
このように、板のそれぞれの辺（１１、１２）をそれぞれの直線部分（５、６）に沿わせることによって、これらの直線部分（５、６）のなす角度（θ）は、該２辺（１１、１２）のなす角度（φ）と等しくなるが、この角度（φ）が所定の角度（θ₀）であれば、第一格子パターンと第二格子パターンとの重なり合う部分（７）に所定のモアレ模様が発生するか、モアレ模様が発生しない。また、この角度(φ）が所定の角度（θ₀）から僅かでもずれていれば、所定のモアレ模様とは異なるモアレ模様が発生するか若しくはモアレ模様が発生せず、またはモアレ模様が発生する。従って、該部分（７）に発生するモアレ模様が所定のモアレ模様であるか否か、またはモアレ模様が発生しないか発生するかによって、板の該角度(φ）が所定の角度であるか否かを判定することができ、これらは目視であっても容易に判定することができる。
【００３０】
なお、両格子パターン（２、４）を、第一直線定規と第二直線定規とをそれぞれの直線部分が所定の角度（θ₀）となるように配置した場合に所定のモアレ模様が発生するようにしておくのが、より精度よく検査をすることができる点で好ましい。
【００３１】
なお、この検査方法において、重なり合う部分（７）に発生するモアレ模様が所定のモアレ模様であるか否かは、例えば予め、所定の角度（θ₀）を有する基準となる板を用いて上記と同様に操作して両直線部分（５、６）のなす角度（θ）をθ₀としておき、このときに重なり合う部分（７）に発生するモアレ模様を記録しておくことによって、容易に比較して、判定することができる。所定のモアレ模様を記録するには、例えば該所定のモアレ模様の格子の間隔（Ｄ）や格子の方向（１７）を記録しておいてもよいし、写真などにモアレ模様を記録しておいてもよい。基準となる板としては、例えば平形スコヤなどが挙げられる。
【００３２】
【実施例】
以下、実施例により本発明をより詳細に説明するが、本発明はかかる実施例により限定されるものではない。
【００３３】
実施例
図１に示す角度検査器具において、第一格子パターン（２）および第一直線定規〔３０ｃｍ×３ｃｍ、厚み５ｍｍ、ステンレス製〕（１）は台板〔２５ｃｍ×３０ｃｍ、白色アクリル板製〕（８）上に固定した。第一格子パターン（２）および第二格子パターン（４）としてはそれぞれ等間隔の直線模様〔ｄ₁＝ｄ₂＝１２５μｍ、液晶表示装置用カラーフィルター、３ｃｍ×７ｃｍ〕を用い、第一直線定規の直線部分（５）と第二直線定規の直線部分（６）とのなす角度（θ）が９０．００°（θ₀）のときに平行（ω＝０．０°）、かつ間隔（ΔＬ）２ｍｍで重なり合うように、それぞれ両直線定規（１、３）に固定した。
台板（８）に基準となる板〔平形スコヤ、ＪＩＳ一級、焼入品、３００ｍｍ×１１５ｍｍ、φは９０．０°〕（１０）を載せ、その一辺（１１）を第一直線定規の直線部分（５）に押し当てて沿わせ、他の一辺（１２）に第二直線定規の直線部分（６）を押し当てた（図４、図５）。
このとき、第一格子パターン（２）と第二格子パターン（４）とが重なり合う部分（７）を距離（Ｌ₁）２０１ｍｍ（Ｌ₂＝１９９ｍｍ）から観察した際のモアレ模様〔格子の間隔Ｄ＝１ｃｍ、格子の方向は両格子パターン（２、４）の直線模様と平行〕を所定のモアレ模様とした。
【００３４】
上記と同様の板をほぼ長方形状になるようにそれぞれ切断して１５枚の板〔９８ｍｍ×１３５ｍｍ〕（１０）を得た。これらの板について、それぞれ台板（８）上に載せ、その一辺（１１）を第一直線定規の直線部分（５）に押し当てて沿わせ、他の一辺（１２）に第二直線定規の直線部分（６）を押し当て（図４、図５）、両格子パターンが重なり合う部分（７）に発生するモアレ模様を先に記録した所定のモアレ模様と目視で比較し、一致するものを○、不一致のものを×として評価した。また、これらの板の角度（φ）を２次元角度測定装置〔ニコン（株）製、２．５次元ＣＮＣ座標測定機、「μ−ＳＴＡＦＦ」〕で測定した。
これら１５枚の板の評価結果を表１に示す。
【００３５】
【表１】

【００３６】
【発明の効果】
本発明の角度検査器具を用いることにより、板状の光学フィルムや液晶セルなどを始めとする長方形状の板の、隣接する２辺のなす角度を簡便かつ精度よく検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の角度検査器具の一例を示す模式図である。
【図２】格子パターンおよび格子パターンを重ね合せることにより発生するモアレ模様の一例を示す模式図である。
【図３】観察位置と、第一格子パターンおよび第二格子パターンとの位置関係を示す断面模式図である。
【図４】本発明の角度検査器具を用いた角度検査方法を示す模式図である。
【図５】本発明の角度検査器具を用いた角度検査方法を示す模式図である。
【符号の説明】
１：第一直線定規
２：第一格子パターン
３：第二直線定規
４：第二格子パターン
５：第一直線定規の直線部分
６：第二直線定規の直線部分
７：第一格子パターンと第二格子パターンとが重なり合った部分
８：台板
９：第二直線定規の一端
１０：板
１１：板の一辺
１２：板の他の一辺
１３：第一直線定規の切り欠き部分
１４：第二直線定規の切り欠き部分
１５：観察位置
１６：板の一辺に向けた張力
１７：モアレ模様による格子の方向
θ ：第一直線定規の直線部分と第二直線定規の直線部分とがなす角度
θ₀ ：所定の角度
φ ：板において隣接する２辺のなす角度
ω ：第一格子パターンと第二格子パターンとがなす角度
ｄ₁ ：第一格子パターンの格子間隔
ｄ₂ ：第二格子パターンの格子間隔
Ｄ：モアレ模様による格子の間隔
Ｌ₁ ：観察位置から第一格子パターンまでの距離
Ｌ₂ ：観察位置から第二格子パターンまでの距離
ΔＬ：第一格子パターンと第二格子パターンとが重なり合う間隔[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an angle inspection instrument.
[0002]
[Prior art]
Optical films such as polarizing films, retardation films used in liquid crystal display devices, and laminating films, and liquid crystal cells generally have a plate-like rectangular shape. It is an important member to constitute. These plate-shaped members are cut into a shape corresponding to a target liquid crystal display device in advance, and then incorporated into the liquid crystal display device for use, and many are cut into a rectangular shape.
On the other hand, the optical axis of the optical film and the optical axis of the liquid crystal cell are important elements for ensuring the display performance of the liquid crystal display device. . For this reason, if the shape of the cut optical film or the shape of the liquid crystal cell is slightly different from that of the liquid crystal display device, the optical axis shifts due to this and the intended display performance cannot be exhibited. Therefore, sufficient accuracy is required for the inspection of the angle formed by two adjacent sides in these plate-like objects.
As a method for inspecting the angle of the two sides with high accuracy, for example, a method using a two-dimensional shape measuring apparatus can be cited.
[0003]
However, the two-dimensional shape measuring apparatus is expensive, and handling thereof requires skill and attention of the inspection operator. For this reason, there has been a demand for a method capable of efficiently inspecting a large number of products, but until now there has not been a relatively simple and well-inspected inspection instrument.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Therefore, the present inventors have been able to accurately inspect the angle formed by two adjacent sides of the plate-like object, and, as a result of intensive studies to develop a simple inspection instrument, have two linear rulers, respectively. It has been found that an angle inspection instrument in which a specific lattice pattern is fixed can accurately inspect the angle of a plate by using an inspection instrument that uses a moire pattern generated by superimposing the respective lattice patterns. It was.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
That is, the present invention
A first straight ruler (1), a first grid pattern (2) fixed to the first straight ruler, a second straight ruler (3), and a second fixed and obtained to the second straight ruler. An angle inspector comprising a lattice pattern (4),
The first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) can generate moire patterns with each other,
The first straight line ruler (1) and the second straight line ruler (3) are arranged such that each straight line portion (5, 6) forms a predetermined angle (θ ₀ ), and the first lattice pattern and the second lattice pattern are When arranged so as to overlap,
The present invention provides an angle inspection instrument characterized in that a predetermined moire pattern is generated in the overlapping portion (7) or no moire pattern is generated.
[0006]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, it demonstrates using drawing.
FIG. 1 shows an example of the angle inspection instrument of the present invention.
The first straight ruler (1) in the angle inspection instrument of the present invention is a ruler having at least one straight line portion (5). In FIG. 1, the first straight ruler (1) is fixed on the base plate (8). This base plate (8) may be illuminated from the back surface.
[0007]
The first lattice pattern (2) is fixed to the first straight ruler (1). The first grating pattern may be fixed relative to the first straight edge by being provided in it a straight ruler as a clear. Further, when the first straight ruler (1) is fixed to the base plate (8), the first lattice pattern (2) is fixed to the base plate (8), so that the first lattice pattern becomes the first straight ruler. In this case, the first grid pattern (2) is fixed to the first straight ruler (1) via the base plate (8).
[0008]
The second straight ruler (3) is a ruler having at least one straight line portion (6). The second straight ruler (3) may be partially engaged with the first straight ruler (1), and in FIG. 1, the first straight line is rotatable about the one end by a pin or the like at one end (9). Linked with ruler (1).
[0009]
The second grid pattern (4) is fixed to the second straight ruler (3). The second grid pattern may be fixed with respect to the second linear ruler by making the second linear ruler transparent and providing the grid pattern thereto, or providing the second grid pattern on another transparent plate The lever plate may be fixed to the second straight ruler.
[0010]
The first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) can generate moire patterns. That is, the lattice patterns of the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) are determined so that a moiré pattern can be generated by overlapping the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4).
Such a lattice pattern is a pattern with periodic shading, and includes, for example, linear patterns arranged at equal intervals (FIG. 2). The first grating lattice spacing of the pattern (2) (d ₁₎ and the second grating lattice spacing of the pattern (4) (d _2), respectively is generally 50 to 500 [mu] m, preferably about 50 to 300 [mu] m. As such a lattice pattern, for example, a color filter incorporated in a liquid crystal display device can be used.
[0011]
In order to generate a moire pattern, for example, the lattice patterns may cross each other (FIG. 2B).
Even when both lattice patterns (2, 4) are parallel, a moire pattern can be generated in the overlapping portion (FIG. 2 (a)). The moire pattern generated in this way usually changes greatly due to a slight change in the angle of the lattice pattern. In order to generate a moire pattern even if it is parallel, for example, previously made different lattice spacing of the first grating pattern (d ₁₎ lattice spacing of the second grating pattern and (d ₂₎ slightly, this Just superimpose.
[0012]
In addition, when the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) overlap with each other with a certain interval (ΔL), the lattice interval (d ₁ ) of the first lattice pattern and the second lattice pattern The lattice spacing (d ₂ ) may be substantially the same. In this case, a moire pattern is generated. This distance of the distance from the observation position [for example, the position of the eye examination workers when inspected visually] (15) to the first grating pattern (L ₁₎ to the second grating pattern (L ₂₎ Is different by ΔL, the apparent lattice spacing (d ₁ ′, d ₂ ′) of both lattice patterns seen from the observation position is slightly different (FIG. 3), and a moire pattern is generated ( FIG. 2 (b)). Therefore, in this case, since the lattice pattern having the same lattice interval (d ₁ , d ₂ ) can be used as both lattice patterns (2, 4), the acquisition of the lattice pattern and the straight ruler (1, 3) can be used. Is preferable in that it can be easily attached.
[0013]
In this case, the relationship between the distances to both lattice patterns (L ₁ , L ₂ ), the lattice intervals (d ₁ , d ₂ ) of both lattice patterns, and the apparent lattice intervals (d ₁ ′, d ₂ ′) are Usually, since the difference (ΔL) between L ₁ and L ₂ is sufficiently smaller than L ₁ or L ₂ , the calculation formula (1)
d ₂ '/ d ₁ ' ≈ (L ₁ / L ₂ ) × (d ₂ / d ₁ ) (1)
Can be calculated.
Specifically, in the case of visual inspection, L ₁ and L ₂ are approximately 150 mm to 300 mm, and ΔL is conditional expression (2) and conditional expression (3).
0.005 ≦ ΔL / L ₁ ≦ 0.015 (2)
0.005 ≦ ΔL / L ₂ ≦ 0.015 (3)
And is preferably about 0.75 mm to 4.5 mm.
FIG. 3 shows a case where L ₁ is larger than L ₂ , that is, a case where the first lattice pattern (2) overlaps below the second lattice pattern (4). The lattice pattern (2) may overlap with the upper side of the second lattice pattern (4), and L ₁ may be smaller than L ₂ .
[0014]
In this way, when the moire pattern is generated when both the lattice intervals (d ₁ , d ₂ ) are substantially the same, the observation position (15) is different. And the distance (L ₁ , L ₂ ) to both lattice patterns changes, and the apparent lattice spacing (d ₁ ′, d ₂ ′) of both lattice patterns from the observation position also changes, resulting in a moire pattern that occurs. Therefore, it is preferable to observe from a certain observation position. For that purpose, for example, a peep hole for fixing the position of the eye of the inspection worker may be drilled in a flat plate, and this flat plate may be provided directly above the overlapping portion (7) by a support frame or the like. In some cases, a camera may be fixed at the observation position, and the occurrence of moire patterns may be observed on the monitor screen through this camera.
[0015]
In the angle inspection instrument of the present invention, the first straight ruler (1) and the second straight ruler (3) are arranged so that each straight line portion (5, 6) forms a predetermined angle (θ ₀ ). When the one lattice pattern and the second lattice pattern are arranged so as to overlap each other, it is necessary that a predetermined moire pattern is generated in the overlapping portion (7) or no moire pattern is generated (FIG. 4).
[0016]
The predetermined angle (θ ₀ ) is appropriately set as a target angle between two adjacent sides of the plate. For example, when inspecting a plate-like and rectangular optical film, θ ₀ is 90 °.
Depending on the first straight line ruler (1), the second straight line ruler (3) and the fixing method of the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) to the first straight line ruler (1), In some cases, the straight line portion (6) of the second straight line ruler may not directly intersect. In this case, the angle at which the extension lines of the respective straight line portions (5, 6) intersect may be θ ₀ .
[0017]
In the angle inspection instrument according to the present invention, the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) are determined so that a moire pattern is generated by superimposing the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4). When the straight line ruler (1) and the second straight line ruler (3) are arranged so that the straight line portions (5, 6) are at a predetermined angle (θ ₀ ), the first grid pattern (2) and the second straight line ruler (3) are arranged. A predetermined moire pattern is generated in a portion (7) overlapping with the lattice pattern (4) or no moire pattern is generated.
[0018]
The predetermined moire pattern when a predetermined moire pattern occurs in the overlapping portion (7) when the first straight line ruler and the second straight line ruler are arranged so that the respective straight line portions have a predetermined angle (θ ₀ ) is The predetermined angle (θ ₀ ), the pattern of the first lattice pattern (2), and the pattern of the second lattice pattern (4) are determined (FIGS. 2A and 2B).
If the angle (θ) formed by the two straight line portions (5, 6) is slightly different from the predetermined angle (θ ₀ ), a moire pattern greatly different from the predetermined moire pattern is generated in the overlapping portion (7), or Moire pattern does not occur. Therefore, whether or not the angle (θ) formed by both straight line portions (5, 6) is a predetermined angle (θ ₀ ) or different depending on whether or not the moire pattern of the portion (7) is a predetermined pattern. Can be determined. The difference in the moire pattern can be easily recognized as a difference in the lattice spacing (D) or a difference in the lattice direction (17) due to the moire pattern.
[0019]
The predetermined moire pattern may be generated by crossing the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) (FIG. 2 (b)), but they overlap each other in parallel. (Fig. 2 (a)), because it changes greatly due to a slight change in the crossing angle (ω) of both lattice patterns, it is possible to easily detect a slight change in the angle θ, It is preferable in terms of workability.
[0020]
In order to generate a moire pattern by overlapping in parallel with each other, for example, the lattice spacings (d ₁ , d ₂ ) of both lattice patterns need only be slightly different (FIG. 2A).
Further, even if the lattice interval (d ₁ ) of the first lattice pattern and the lattice interval (d ₂ ) of the second lattice pattern are substantially the same, both lattice patterns (2, 4) are set to a predetermined interval ( If it is possible to overlap by opening (ΔL), a moire pattern can be generated as described above, and the same lattice pattern can be used as both lattice patterns. In this case, the distance from the observation position (15) to a distance (L ₁₎ and a second grating pattern to the first grating pattern (L ₂₎ is generally about 15~30cm in the same manner as above, [Delta] L is the condition It is preferable that the thickness is about 0.75 mm to 4.5 mm while satisfying the expression (2) and the conditional expression (3).
[0021]
It should be noted that the lattice spacing (d ₁ , d ₂ ) of both lattice patterns and the two lattice patterns (2, 4) intersect to form a predetermined moire pattern (FIG. 2 (a)). The angle (ω) and the distance (L ₁ ) from the observation position to the first lattice pattern in the case where a moire pattern is generated by overlapping the lattice patterns (2, 4) in parallel (FIG. 2 (b)), The distance (L ₂ ) to the second lattice pattern and the interval (ΔL) between both lattice patterns are not particularly limited, but normally the angle (θ) formed by the straight line portions of both straight line rulers (1, 3). Is set such that the lattice spacing (D) in the predetermined moire pattern that occurs when the angle becomes a predetermined angle (θ ₀ ) is about 10 mm to 100 mm. preferable.
[0022]
Further, the area of the overlapping portion (7) is preferably set as appropriate so that the generated moire pattern can be easily compared with a predetermined moire pattern. For this purpose, the size of both grid patterns (2, 4) and the attachment position to both straight rulers (1, 3) may be set as appropriate.
[0023]
When the moire pattern does not occur in the overlapping portion (7) when the first straight ruler and the second straight ruler are arranged so that the straight portions are at a predetermined angle, the first straight ruler and the second straight ruler If the angle (θ) formed with the straight line portion (6) of the two-line ruler is slightly different from the predetermined angle (θ ₀ ), a moire pattern is generated. Therefore, it can be determined whether the angle (θ) is a predetermined angle (θ ₀ ) or different depending on whether or not a moire pattern is generated in the portion (7).
[0024]
By using such an angle inspection instrument of the present invention, the angle (φ) formed by the two sides of the plate (10) having two adjacent straight sides (11, 12) is a predetermined angle (θ ₀ ). Whether or not can be inspected relatively easily and with high accuracy.
[0025]
As a board, although optical films, such as a polarizing film, retardation film, and the bonding film which bonded these, liquid crystal cells, etc. can be test | inspected, it is not limited to these. Further, the two sides (11, 12) of the plate may be rounded by chamfering the intersecting tip (portion of the angle φ) within a range where the angle (φ) can be inspected.
[0026]
In order to inspect the angle (φ) of the plate using the angle inspection instrument of the present invention, for example, the straight portion (5) of the first straight ruler of the angle inspection instrument is included in two adjacent sides of the plate (10). Along the other side (12) and the first grid pattern (2) and the second grid pattern (4). May be superimposed (FIG. 4).
[0027]
In order to place one side (11 or 12) of the plate along the straight portion (5 or 6), for example, the plate may be pressed against the straight portion, or the first straight ruler (1) or the second straight ruler (3) may be used. You may press against a board.
When the first straight ruler (1) is fixed on the base plate (8), the plate (10) can be placed on and pressed against the base plate, so that the inspection work can be easily performed. Moreover, if tension | tensile_strength (16) toward one side of the board (10) was provided to the 2nd linear ruler (3) using a spring, a rubber band, etc., a board will be attached to the linear part (6) of a 2nd linear ruler. Other one side (12) can be easily along.
[0028]
When the second straight ruler (3) is joined to the first straight ruler (1) using a pin or the like at one end (9), the end of the plate to be inspected is fixed to the two straight rulers (2, 1). In order to avoid this, the second straight ruler (3) and / or the first straight ruler (1) may be inserted in the vicinity of the one end (9). It is also possible to prevent pinching by cutting out a part (13, 14).
[0029]
In this way, by causing the respective sides (11, 12) of the plate to be along the respective straight portions (5, 6), the angle (θ) formed by these straight portions (5, 6) can be changed to the two sides. Is equal to the angle (φ) formed by (11, 12). If this angle (φ) is a predetermined angle (θ ₀ ), the overlapping portion (7) of the first lattice pattern and the second lattice pattern is formed. A predetermined moire pattern is generated or no moire pattern is generated. If the angle (φ) is slightly deviated from the predetermined angle (θ ₀ ), a moire pattern different from the predetermined moire pattern is generated, or no moire pattern is generated, or a moire pattern is generated. . Therefore, whether or not the angle (φ) of the plate is a predetermined angle depending on whether the moire pattern generated in the portion (7) is a predetermined moire pattern or not. These can be easily determined even by visual observation.
[0030]
It should be noted that when both the lattice patterns (2, 4) are arranged such that the first straight line ruler and the second straight line ruler have their respective straight line portions at a predetermined angle (θ ₀ ), a predetermined moire pattern is generated. It is preferable that it is possible to perform inspection with higher accuracy.
[0031]
In this inspection method, whether or not the moire pattern generated in the overlapping portion (7) is a predetermined moire pattern is determined using, for example, a reference plate having a predetermined angle (θ ₀ ) in advance. By operating in the same way, the angle (θ) formed by both linear portions (5, 6) is set as θ _0, and the moire pattern generated in the overlapping portion (7) at this time is recorded, so that the comparison can be made easily. Can be determined. In order to record the predetermined moire pattern, for example, the grid interval (D) and the grid direction (17) of the predetermined moire pattern may be recorded, or the moire pattern may be recorded on a photograph or the like. May be. An example of the reference plate is a flat scorer.
[0032]
【Example】
EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention in detail, this invention is not limited by this Example.
[0033]
EXAMPLE In the angle inspection instrument shown in FIG. 1, the first grid pattern (2) and the first straight ruler [30 cm × 3 cm, thickness 5 mm, made of stainless steel] (1) are the base plate [25 cm × 30 cm, made of white acrylic plate] ( 8) Fixed on top. As the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4), linear patterns with equal intervals [d ₁ = d ₂ = 125 μm, color filter for liquid crystal display device, 3 cm × 7 cm] are used. Parallel (ω = 0.0 °) and interval (ΔL) when the angle (θ) between the straight line portion (5) and the straight line portion (6) of the second straight ruler is 90.00 ° (θ ₀ ) It fixed to both linear rulers (1, 3) so that it might overlap at 2 mm.
The base plate (8) is placed on the base plate (flat square, JIS first grade, hardened, 300 mm x 115 mm, φ is 90.0 °) (10), and one side (11) is the straight part of the first straight ruler The straight line portion (6) of the second straight ruler was pressed against the other side (12) (FIGS. 4 and 5).
At this time, a moiré pattern when the portion (7) where the first lattice pattern (2) and the second lattice pattern (4) overlap is observed from a distance (L ₁ ) of 201 mm (L ₂ = 199 mm) [lattice spacing D = 1 cm, the direction of the lattice is parallel to the linear pattern of both lattice patterns (2, 4)] was a predetermined moire pattern.
[0034]
15 plates [98 mm × 135 mm] (10) were obtained by cutting the same plate as above into a substantially rectangular shape. Each of these plates is placed on the base plate (8), and its one side (11) is pressed against the straight portion (5) of the first straight ruler, and the straight line of the second straight ruler is placed on the other side (12). The part (6) is pressed (FIGS. 4 and 5), and the moire pattern generated in the part (7) where both lattice patterns overlap is visually compared with the predetermined moire pattern recorded in advance. Those that did not match were evaluated as x. In addition, the angle (φ) of these plates was measured with a two-dimensional angle measuring device [manufactured by Nikon Corporation, 2.5-dimensional CNC coordinate measuring machine, “μ-STAFF”].
The evaluation results of these 15 plates are shown in Table 1.
[0035]
[Table 1]

[0036]
【The invention's effect】
By using the angle inspection instrument of the present invention, the angle formed by two adjacent sides of a rectangular plate such as a plate-shaped optical film or a liquid crystal cell can be inspected easily and accurately.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic view showing an example of an angle inspection instrument of the present invention.
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of a moire pattern generated by superimposing a lattice pattern and the lattice pattern.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a positional relationship between an observation position and a first lattice pattern and a second lattice pattern.
FIG. 4 is a schematic view showing an angle inspection method using the angle inspection instrument of the present invention.
FIG. 5 is a schematic view showing an angle inspection method using the angle inspection instrument of the present invention.
[Explanation of symbols]
1: First straight ruler 2: First lattice pattern 3: Second straight ruler 4: Second lattice pattern 5: Straight portion of first straight ruler 6: Straight portion of second straight ruler 7: First lattice pattern and second lattice Part 8 where the pattern overlaps: Base plate 9: One end of the second straight ruler 10: Plate 11: One side of the plate 12: Another side of the plate 13: Notch portion of the first straight ruler 14: Cut of the second straight ruler Notched portion 15: Observation position 16: Tension toward one side of plate 17: Direction of lattice by moire pattern θ: Angle formed by straight portion of first straight ruler and straight portion of second straight ruler θ ₀ : predetermined angle φ : Angle ω formed by two adjacent sides in the plate: angle d ₁ formed by the first lattice pattern and the second lattice pattern d ₁ : lattice interval d ₂ of the first lattice pattern: lattice interval D of the second lattice pattern D: moiré pattern lattice spacing L _1: first from the viewing position The distance to the grid pattern L _2: distance from the observation position to the second grating pattern [Delta] L: distance in which the first grating pattern and the second grating patterns overlap

Claims

An angle inspection instrument comprising a first straight ruler, a first lattice pattern fixed to the first straight ruler, a second straight ruler, and a second lattice pattern fixed to the second straight ruler The first lattice pattern and the second lattice pattern can generate a moire pattern, and the first straight line ruler and the second straight line ruler are arranged so that each straight line portion forms a predetermined angle and An angle inspection instrument characterized in that when the one grid pattern and the second grid pattern are arranged so as to overlap each other, a predetermined moire pattern is generated or no moire pattern is generated in the overlapping portion.

The angle inspection instrument according to claim 1, wherein the lattice interval of the first lattice pattern and the lattice interval of the second lattice pattern are each 5 to 500 µm.

The angle inspection instrument according to claim 1, wherein the first lattice pattern and the second lattice pattern can overlap each other in parallel to generate a predetermined moire pattern.

The angle inspection instrument according to claim 3, wherein the lattice interval of the first lattice pattern and the lattice interval of the second lattice pattern are substantially the same and can overlap each other with a predetermined interval.

The observation position of the overlapping portion of the first lattice pattern and the second lattice pattern is 15 to 30 cm, and the first lattice pattern and the second lattice pattern can overlap with an interval of 0.75 mm to 4.5 mm. The angle inspection instrument according to claim 3.

The angle inspection instrument according to claim 1, wherein the interval of the lattice in the predetermined moire pattern is 10 mm to 100 mm.

The first straight ruler of the angle inspection instrument according to claim 1 is pressed against one of the two sides of a plate having two adjacent straight sides, and the second straight ruler is characterized by comparing with pressing the other one side, and a moire pattern that is recorded in the moire pattern and previously more generated by superimposing the first grating pattern and the second grating patterns visually the 2 Inspection method for the angle formed by the sides.