JP3971604B2 - Surface acoustic wave filter - Google Patents

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は弾性表面波フィルタに関し、特にGHz帯域を含む高周波帯域において優れた通過帯域特性を有する弾性表面波フィルタに関する。
【0002】
【発明の背景】
近年、各種通信機器に弾性表面波フィルタが使用されるようになり、機器の小型化や通過帯周波数の無調整化の役割を果たしている。そして、通信機器の高周波数化・高機能化の進展にともない、帯域幅や減衰量のバリエーションを備えたフィルタの要求が益々増大してきている。
【0003】
例えば、900MHz帯の携帯電話用フィルタには通過帯域幅25MHz(比帯域幅2.8%)のフィルタが、1.9GHz帯の携帯電話用フィルタでは通過帯域幅60MHz(比帯域幅2.8%)の高性能なフィルタがそれぞれ要求されている。さらに、日本における携帯電話のPDC(Personal Digital Celler phone system)用フィルタでは800MHz帯で通過帯域幅16MHz(比帯域幅1.9%)という帯域幅のフィルタも要求されている。なお、比帯域幅をBRとすれば、BR=BW/fc(BWは帯域内挿入損失が3dBにおける通過帯域幅、fcは帯域内挿入損失が3dBにおける通過帯域の中心周波数)で定義される。
【0004】
このように、各種電話仕様では1.9〜2.8%程度の比帯域幅が要求されているが、フィルタとしては高周波数帯の製造偏差や温度変動による周波数変動量を考慮し、2〜4.5%の比帯域幅が必要になる。
【0005】
かかる弾性表面波フィルタは、一般に圧電性の単結晶あるいは多結晶の基板上に励振電極を配設して成るが、電気機械結合係数k2が大きく(=表面波の励振効率が高く)、また高周波帯域において、弾性表面波の伝搬損失が小さい基板材料として、タンタル酸リチウム(LiTaO3)単結晶から成る圧電結晶基板がよく知られており、特に、LiTaO3単結晶の36°回転Y−X基板(Yカット面を、X軸を中心として36°回転させたカット面を有し、弾性表面波をX軸方向へ伝搬させる結晶方位:右手系オイラー角表示(以下、単にオイラー角表示ともいう)では(0,126,0))が伝搬損失の小さい材料として使用されてきた。
【0006】
また最近では、前記36°回転Y−X基板は、圧電結晶基板上に形成された電極の付加質量効果が無視できる場合に最適な結晶方位であり、数百MHz以下の周波帯域において励起される弾性表面波の波長が長い場合に有効ではあっても、現在の携帯電話等で必要とされているGHz帯域近傍での動作においては、電極の厚さが励起される弾性波波長に対して無視できなくなり、必ずしも最適にはならないことが報告されており、LiTaO3単結晶の42°回転Y−X基板(オイラー角表示:(0,132,0))が新たな最適結晶方位として提案されている(特開平9−167936号公報を参照)。
【0007】
しかしながら、単にYカット面をX軸回りに所定角度回転させてX軸方向に伝搬させる基板(回転Y−X基板)を用いる以上、適当な電極膜厚においてバルク放射や伝搬損失が小さくなる回転角度が存在したとしても、主に、使用した基板材料によりフィルタ電気特性の帯域幅に寄与する実効的な電気機械結合係数が決定され比帯域幅が決定されるので、ごく狭い範囲でしか所望の比帯域幅をもつフィルタを設計できない。
【0008】
さらに、現在のデジタル回路に適した電気特性を得るためには、これまで以上に平坦性のあるフィルタが要求されるが、本発明者らは、前記したLiTaO 単結晶の42°回転Y−X基板が、通過帯域特性の挿入損失や帯域内偏差において必ずしも最適ではないことを見出した。
【0009】
なお、表面すべり波が基板の両端面を反射して所望の共振周波数を与える、いわゆる端面反射型の圧電すべり波共振子において、回転Y−X基板とその基板に対し結晶方位を若干ずらした基板を最適とする弾性波素子が知られている(特公平6−14608号公報を参照)。しかし、この弾性表面波素子は、IDT電極で励起させた表面すべり波を用いるものであり、しかもこの表面すべり波は圧電結晶基板の端面などの結晶面で反射させるので、一つのIDT電極で励起させた表面すべり波の伝搬路上に結晶面を形成しなければならない。よって、一つのIDT電極から成る共振子の複数を、例えばラダー型回路に配設・接続させてフィルタとして機能させるには、圧電結晶基板の結晶端面を好適に利用できない。このため、IDT電極の両側に特殊な溝構造などを形成させるのに、フィルタの作製工程がきわめて煩雑になるので問題である。
【0010】
そこで本発明では、新規で有用な結晶方位を有するタンタル酸リチウム単結晶基板を用いて、通過帯域特性の挿入損失や帯域内偏差が最適な弾性表面波フィルタを提供すること、及び、所望の比帯域幅を有するとともに圧電結晶基板が最適に方位決定された弾性表面波フィルタを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために、タンタル酸リチウム単結晶から成る圧電結晶基板の主面上に、通過帯域が1850MHz〜1910MHzの高周波信号によって弾性表面波を励振する励振電極と、前記弾性表面波の伝搬方向に少なくとも1つの反射器電極とを配設した弾性表面波フィルタにおいて、前記圧電結晶基板の結晶方位を示す右手系のオイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が、0.5≦φ≦10、θ=132、−(tan-1(tanφ/cosθ))−6≦ψ≦−(tan-1(tanφ/cosθ))+6を満足することを特徴とする。
【0012】
また特に、オイラー角表示(φ,θ,ψ)のφ,θが、0.5≦φ≦10,θ=132を満足すること、または、オイラー角表示(φ,θ,ψ)のφ,θが、0.5≦φ≦4,θ=132を満足することを特徴とする。
【0013】
また、タンタル酸リチウム単結晶から成る圧電結晶基板の主面上に、通過帯域が1850MHz〜1910MHzの高周波信号によって弾性表面波を励振する励振電極と、弾性表面波を前記励振電極へ反射する少なくとも1つの反射器電極とを配設した弾性表面波フィルタにおいて、前記圧電結晶基板の結晶方位を示す右手系のオイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が、2≦φ≦4,θ=132,3.5≦ψ≦6を満足することを特徴とする。また、好ましくは、φ=3,θ=132を満足することを特徴とする。また、好ましくは、励振電極がAl−Cu合金から成ることを特徴とする。
【0014】
(削除)
【0015】
(削除)
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【0017】
図1(a)に、圧電結晶基板の結晶方位(カット角及び弾性表面波の伝搬方向)をあらわす右手系のオイラー角表示(φ,θ,ψ)による座標変換を説明するための座標軸を示し、図1(b)に、この座標変換で得られた直交座標系(x1−x2−x3)と圧電結晶基板1との関係を説明する斜視図を示す。
【0018】
圧電結晶基板のデバイス領域となる主面の結晶方位(カット角及び弾性表面波の伝搬方向)をあらわすオイラー角表示は、次のように定義される。まず、図1(a)に示すように、結晶軸X,Y,Zを有する圧電単結晶において、Z軸を回転軸としてX軸とY軸を反時計方向にφ度(゜)回転し、次に、回転させたX軸をθ回転軸として、Z軸を反時計方向にθ度(゜)回転し、さらに、前記回転させたX軸(θ回転軸)と前記回転させたY軸を反時計方向にψ度(°)回転させ、この回転により得られた最終の直交座標軸をx1,x2,x3とする。
【0019】
そして、図1(b)に示すように、x3軸を法線とする圧電基板1の主面1aにおいて、x1軸方向に弾性表面波を伝搬させる圧電結晶基板1の結晶方位を、オイラー角表示で(φ,θ,ψ)とあらわす。
【0020】
所定結晶方位を有する圧電結晶基板を切り出すための単結晶ウエハは、以下のようにして作製する。まず、オイラー角表示(0.5〜20,115〜147,ψ=任意)に対し略垂直な方位に切り出した種結晶の面を、イリジウムなどの高融点金属製のルツボ内で、融点以上で融解したタンタル酸リチウムの原料融液に接触させ、しかる後に、温度を下げながら種結晶の回転と同時に引上げ(回転引上げ法(=チョクラルスキー法))を行ない、例えば外径約110mmの単結晶の育成を行う。
【0021】
次に、このようにして育成した単結晶を、例えば内周刃ダイヤモンド切断機とX線回折装置等を用いてカット角を測定しながら切断し、オイラー角表示で(0.5〜20,115〜147,ψ=任意)面が主面となるウエハを得る。
【0022】
さらに、ウエハのデバイス作製面となる主面をポリッシュ研磨により鏡面加工した後に、この主面上にAlやAl−Cu合金等のAlを主成分とする金属の微細電極パターン等を形成し、多数の励振電極となるIDT電極及び反射器電極を、例えばラダー型回路に配設したフィルタ素子領域を複数形成する。なお、これら電極パターンの作製には、縮小投影露光機(ステッパー)及びRIE(Reactive Ion Etching)装置等によりフォトリソグラフィにより行なう。
【0023】
そして、励振電極などの微細電極を保護するために、例えば薄膜のSiO2膜を前記ウエハの主面上に積層した後に、カッティング装置によりウエハのダイシングを行ない、個々のフィルタ素子を作製する。この後、個々のフィルタ素子を筐体中に載置し、筐体の電極と前記フィルタ素子の電極との電気的接続を行ない、弾性表面波フィルタを完成する。
【0024】
図2に、このようにして作製した弾性表面波フィルタS1において、圧電結晶基板1上に形成された電極構造の一例を模式的に示す。図中、2は弾性表面波を励振するIDT(インターディジタル・トランスデューサ)電極、3はその両側(弾性表面波の伝搬方向)に配設され、IDT電極2と同様に形成されたグレーティング状の反射器電極である。また、4はラダー型回路を構成する直列共振子、5は並列共振子である。
【0025】
弾性表面波フィルタS1によれば、櫛歯状を成し所定の電極指間隔を有する微細構造のIDT電極2により弾性表面波が励振され、IDT電極2を両側から挟むように配設された反射器電極3により弾性表面波がIDT電極2側に反射され、有効に閉じ込められて電気的共振を生ぜしめる。そして、図示のように、IDT電極2及び反射器電極3から成る共振子を直列または並列接続させてラダー型回路を構成することにより、所望のフィルタ電気特性を得る。
【0026】
なおここで、圧電結晶基板の厚みは0.1mm〜0.5mm程度がよく、0.1mm未満では圧電結晶基板がもろくなり、0.5mm超では材料コストと部品寸法が大きくなり使用できない。
【0027】
また、IDT電極は、例えばAlもしくはAl合金(Al−Cu系、Al−Ti系、Al−Mg系)からなり、蒸着法、スパッタ法、またはCVD法などの薄膜形成法により形成する。また、耐電力性能向上のために数多くの前述した金属材料が積層構造と成していてもよく、弾性表面波フィルタとしての特性を得る上で好適である。
【0028】
さらに、本発明に係る電極及び圧電結晶基板上の弾性表面波の伝搬部にSi、SiO2、SiNx、Al23等の誘電体膜を保護膜として形成して、導電性異物による通電の防止や耐電力の向上を図るようにしてもよい。
【0029】
このように構成されたラダー型の弾性表面波フィルタS1において、圧電結晶基板1の主面1aは、通過帯域特性の挿入損失や帯域内偏差が良好な弾性表面波フィルタを得るのに、最適な圧電結晶基板の結晶方位として、オイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が、
0.5≦φ≦10、
θ=132
−(tan-1(tanφ/cosθ))−6≦ψ≦−(tan-1(tanφ/cosθ))+6、
を満足するものである。前記結晶方位とする理由について、以下に詳細に説明する。なお、LiTaO3単結晶のオイラー角表示については、結晶の対称性により、等価な結晶方位が有り得るため、等価な結晶方位の基板は前記範囲に含まれるものとする。
【0030】
図3〜11は、種々の結晶方位を有する圧電結晶基板を用いた弾性表面波フィルタの電気特性を、次に示す構成及び測定条件にて得た平均値で示した結果である。図中の記号(△,◆)は代表的な角度についてプロットしたものである。
【0031】
電極パターン構造により共振状態が変化するため、最適なフィルタ特性を得るには最適な膜厚比を変えなければならないが、本発明で使用したIDT電極及び反射器電極の最適な膜厚比(規格化膜厚)H/λ(H:膜厚、λ:IDT電極の周期長、または弾性表面波の波長)は0.03〜0.2にすることが最適な共振状態を得る上で好適である。
【0032】
また、IDT電極の総対数は良好な共振状態が得られる3〜150対とし、反射器電極の本数は1〜200本とする。これにより、IDT電極にて励振させた弾性表面波を良好に反射させることができる。また、IDT電極の規格化交差幅は3〜200λ(λ:IDT電極の周期長、または弾性表面波の波長)とし、これにより良好な共振状態が得られる。なお、各プロットは測定個数30の平均を示している。
【0033】
また、前記弾性表面波フィルタの通過特性は、終端抵抗値が50Ωとなる条件で、ベクトルネットワークアナライザ(アジレント・テクノロジー社製:型番HP8753ES)を用いて測定した。なお、弾性表面波フィルタは1.9GHz帯に使用可能な図2に示すラダー型フィルタを作製したものである。
【0034】
ここで、本発明の弾性表面波フィルタでは、対称構造を持つ結晶材料を用いて圧電基板としている。この圧電結晶基板の結晶X軸からの対称性により、伝搬方向と結晶X軸との差異によるフィルタ特性の有意差を明らかにするため、オイラー回転させる前の結晶X軸を、オイラー回転させた後の圧電結晶基板上(x1−x2平面)に結晶Z軸側へ投影させた軸(投影X軸:結晶X−Z面とx3軸を法線とする平面との交線)に、オイラー回転させた後のx1軸を一致させて、そのx1軸を中心に広がった角度(ただし、ψの回転方向を+とする)を投影軸角度ψ’とし、このψ’=0が特性上最も良好な角度となりうる。
【0035】
前記投影X軸がx1軸と一致する(ψ’=0の)とき、オイラー角表示の第1角φ°と第2角θ°を用いて、幾何学的関係により下記式Iのように表すことができる。
ψ=−(tan-1(tanφ/cosθ)) (式I)
図3に、LiTaO3単結晶から成る圧電結晶基板のオイラー角表示(φ,θ,ψ)の変数、第1角φが0及び3で、かつ、投影軸角度ψ’が0(例えば、θ=132でφ=0のときψ=0、また、θ=132でφ=3のときψ=4.5)の弾性表面波フィルタを用いて、第2角θと、通過帯域内(1850MHz〜1910MHz)における最大挿入損失との関係について、終端抵抗50Ωとなる条件にて通過伝送特性を前記ベクトルネットワークアナライザで測定した結果を示す。ここで、実線L1はφ=3、ψ’=0の場合の結果を、破線L2はφ=0、ψ’=0の場合の結果をそれぞれ示す。
【0036】
また図4に、図3と同様に形成した弾性表面波フィルタを用い、第2角θと、前記通過帯域内における最大挿入損失が3dB以内での比帯域幅(前記BRと同一)との関係について、前記と同様に測定した結果を示す。
【0037】
また図5に、図3と同様に形成した弾性表面波フィルタを用い、前記の第2角θと、第1角φで定義される結晶材料と、通過帯域内偏差との関係について、前記と同様に測定した結果を示す。ここで、実線L1はφ=3、ψ’=0の場合の結果を、破線L2はφ=0、ψ’=0の場合の結果をそれぞれ示す。
【0038】
図3〜5の結果より以下のことが判明した。
【0039】
オイラー角表示の第2角θが132付近で各図の特性において極大または極小が存在するが、第1角φ=0の圧電結晶基板と、φ=3の圧電結晶基板とを比較すると、φ=3の圧電結晶基板を用いたフィルタの方が第2角θの広い角度範囲において挿入損失や比帯域幅は変化が少なく、しかも挿入損失が小さく帯域内偏差も良好であることが判明した。
【0040】
また特に図5に示すように、θが115〜147の範囲である場合には、帯域内偏差が3dB以内であり良好である。さらに、θが123〜138の範囲内の場合は、図3に示すように、挿入損失が3dB以内となり最適となることが判明した。
【0041】
図6に、オイラー角表示の第2角θが特に132及び129の場合で、かつ、投影軸角度ψ’が0の場合で、第1角φと前記通過帯域内の最大挿入損失との関係について測定した結果を示す。なお、測定条件等は図1と同様である。なお、θ=129を選択した理由は、従来、最適とされる36°回転Y−X基板(θ=126)と42°回転Y−X基板(θ=132)のオイラー角表示における第2角θの平均値だからである。
【0042】
また図7に、図4及び図6と同様の条件で、第1角φと、前記通過帯域内における最大挿入損失が3dB以内での比帯域幅との関係を測定した結果を示す。なお、実線L1はθ=129、ψ’=0の場合の結果を、破線L2はθ=132、ψ’=0の場合の結果をそれぞれ示す。破線L3はθ=132、ψ’=0の場合で第1角φが小さい場合のプロットに合わせて近似させて描いた直線を示す。
【0043】
また図8に、図5及び図6と同様の条件で、第1角φと通過帯域内偏差との関係を測定した結果を示す。なお、実線L1はθ=129、ψ’=0の場合の結果を、破線L2はθ=132、ψ’=0の場合の結果をそれぞれ示す。
【0044】
図6〜8の結果より以下のことが判明した。
【0045】
図6から明らかなように、第1角φを変化させても著しい変化が見られず、良好な特性が得られる。
【0046】
また、特に図7に示した直線L3からわかるように、比帯域幅は第1角φが小さい範囲(0.5〜10)で1次関数的に減少傾向がみられ、図8より第1角φが大きくなると帯域内偏差は小さくなる傾向にあり、特に、φが0.5〜20では、結晶方位が変化することにより、伝搬損失が小さい上に、実効電気機械結合係数k2所望の比帯域幅BRに最適な領域に近づくこととなるため、良好な帯域内偏差を得ることができる。
【0047】
図7に示した破線L3は、第1角φが小さい範囲0.5〜10において、第2角θが132の場合に直線近似した結果であり、この直線は下記式IIとなる。
【0048】
したがって、所望の比帯域幅BRを有するフィルタを得ようとするときに、それに使用する圧電結晶基板の結晶方位は、実験式である下記式IIにしたがって第1角φを導出することができる。
【0049】
φ=−2480.0×BR+97.0 (式II)
同様に、図4のθが132以下の実験データ(図中◆,△)から、上記式IIの実験式が得られ、所望の比帯域幅BRを有するフィルタを得ようとするときに、それに使用する圧電結晶基板の結晶方位は、下記式IIIにより、第2角θを導出することができる。
【0050】
θ=1140×BR+87.0 (式III)
また、図7における第2角θが132の場合の実験データ(図中△)から、前記実験式IIの標準偏差σは約0.5と求められ、本実験式のトレーランスは4σ分(ここで、σは標準偏差)を見込み±2とする。
【0051】
さらに、上記式により求めた第1角φと第2角θを前記式Iから第3角ψを算出することができる。
【0052】
よって、比帯域幅BRを所望の値としたときに、圧電結晶基板の結晶方位を示すオイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が下記式を満足するように、前記圧電結晶基板の結晶方位を決定できる。
【0053】
F1(BR)≦φ≦F2(BR)、
G1(BR)≦θ≦G2(BR)、
−(tan-1(tanφ/cosθ))−6≦ψ≦−(tan-1(tanφ/cosθ))+6
(ただし、F1(BR)=−2480×BR+95、F2(BR)=−2480×BR+99、G1(BR)=1140×BR+85、G2(BR)=1140×BR+89、BR=BW/fc(BWは帯域内挿入損失が3dBにおける通過帯域幅、fcは帯域内挿入損失が3dBにおける通過帯域の中心周波数)である。)。
【0054】
次に、本発明による圧電結晶基板のさらに好適な結晶方位について説明する。
【0055】
図9に、オイラー角表示の第2角θが132で、かつ、第2角φが0,1,3,5,7の各々の場合における通過帯域内(1850MHz〜1910MHz)の最大挿入損失について測定した結果を示す。
【0056】
また図10に、投影軸角度ψ’と前記通過帯域内における最大挿入損失が3dB以内での比帯域幅との関係について、図9と同様にして測定した結果を示す。また図11に、投影軸角度ψ’と通過帯域内偏差との関係について、図9と同様にして測定した結果を示す。
【0057】
LiTaO 単結晶の結晶構造は、結晶X−Z面に対して結晶が強い対称性をもつことにより、図9〜11の結果から、投影軸角度ψ’が0付近でそれぞれピークをもち、得られるフィルタ特性も投影軸角度ψ’について対称的であることは、結晶材料が結晶X軸について対称であることから明白である。
【0058】
したがって、特に、帯域内偏差が3dB以内であるところの投影軸角度ψ’が±6トレーランスの範囲内で良好であり、また、挿入損失3dB以内では、投影軸角度ψ’が±4のトレーランスの範囲内で最適であることが判明した。この理由は、結晶方位が変化することにより、実効電気機械結合係数k2が所望の比帯域幅BRに最適な領域に近づくことで、帯域内偏差が良好になりかつ挿入損失も良好になるからと考えられる。
【0059】
特に比通過帯域幅を4%超に大きくした場合、良好な電気特性が得られる圧電結晶基板は、オイラー角表示(φ,θ,ψ)で(2〜4,132,3.5〜6)であることが判明した。
【0060】
かくして、オイラー角表示において、(0.5〜20、115〜147、ψ’=−6〜6(ψ=−6〜47))の圧電結晶基板を用いた弾性表面波フィルタによれば、帯域内偏差を3dB以内にすることができる。
【0061】
また、オイラー角表示において、(0.5〜20、123〜138、ψ’=−4〜4(ψ=−4〜38))の圧電結晶基板を用いた弾性表面波フィルタによれば、挿入損失が3dB以内の良好なフィルタ特性を備えることになる。
【0062】
また、オイラー角表示において、(0.5〜10、132、ψ’=−6〜6(ψ=−6〜22))の圧電結晶基板を用いた弾性表面波フィルタによれば、所望の比帯域幅BRで確実に帯域内偏差が3dB以内とすることができ、挿入損失も3dB以内の最適なフィルタ特性となる。
【0063】
さらに、オイラー角表示において、(0.5〜4、132、ψ’=−4〜4(ψ=−4〜10))の圧電結晶基板を用いた弾性表面波フィルタによれば、最大の帯域幅と最小の挿入損失及び、良好な帯域内偏差が得られ、さらに良好な通過帯域近傍の減衰特性を有する、きわめて良好なフィルタ特性とすることができる。
【0064】
また、本発明による圧電結晶基板の結晶方位を決定する方法によれば、圧電結晶基板のオイラー角表示の各変数は所望の比帯域幅BRの関数であらわすことができ、これにより、温度特性の良好なLiTaO3単結晶の圧電結晶基板材料を選択することができるとともに、良好な挿入損失や帯域内偏差、及び良好な通過帯域近傍の減衰特性を有する、優れた弾性表面波フィルタの設計・作製を容易かつ簡便に行うことができる。
【0065】
本実施形態ではラダー型回路を例にとり弾性表面波フィルタを説明したが、ラダー型回路に限定されるものではなく、弾性表面波を効率良く励振するために、少なくとも励振電極と反射器電極とを備えたものであれば適用可能であり、例えば、図12に示すようなIDT電極2の複数を伝搬方向x1に配設させた、いわゆる共振器型構造の電極構成を備えた弾性表面波フィルタS2においても適用可能である。なお、図12において図2と同様な構成については同一符号を付し説明を省略する。また、本発明は、格子型回路やラダー型回路と格子型回路の組合せ等、各種のフィルタ回路を備えた弾性表面波フィルタに対しても適用でき、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更を行うことが可能である。
【0066】
【実施例】
本発明に係る弾性表面波フィルタを具体的に作製した一例について説明する。
【0067】
オイラー角表示の各変数について、φ=3、θ=132、ψ=4.5のLiTaO3単結晶から成る圧電結晶基板上に、Al(98wt%)−Cu(2wt%)による微細電極パターンを形成した。このパターン作製には、縮小投影露光機(ステッパー、ニコン社製、型番:NSR2205i12D)、及びRIE(Reactive Ion Etching)装置(松下電器産業社製、型番:E646S−ICP)により行なった。
【0068】
まず、基板材料をアセトン・IPA等によって超音波洗浄し、有機成分を落とした。次に、クリーンオーブンによって充分に基板乾燥を行なった後、電極の成膜を行なった。電極成膜には、スパッタリング装置を使用し、Al−Cuの材料を成膜した。電極膜厚は約0.2μmとした。
【0069】
次に、フォトレジストを約0.5μm厚みにスピンコートし、前記ステッパーにより所望のパターニングを行なった。
【0070】
次に、現像装置にて不要部分のフォトレジストをアルカリ現像液で溶解させ、所望パターンを表出した後、RIE装置により、Al−Cu電極のエッチングを行ない、パターンニングを終了した。
【0071】
この後、上記電極の所定領域上に保護膜を作製した。すなわち、SiO2をスパッタリング装置にて成膜し、その後、フォトリソグラフィによってフォトレジストのパターニングを行ない、RIE装置等でワイヤボンディング用窓開け部のエッチングを行ない、保護膜パターンを完成した。
【0072】
次に、基板をダイシング線に沿ってダイシング加工を施し、チップごとに分割した。そして、各チップをダイボンド装置にてピックアップし、シリコーン樹脂を主成分とする樹脂を用いパッケージ内に接着した。この後、約160℃の温度において乾燥・硬化させた。パッケージは3mm角の積層構造のセラミックパッケージを用いた。
【0073】
次に、30μm径のAuワイヤをパッケージの電極部とチップ上のAl電極パッド上にボールボンディングした後、リッドをパッケージにかぶせ、封止機にて溶接封止して完成した。なお、チップ上のグランド電極は各々分離して配線し、Auボールボンディングにてパッケージ上のグランド電極にボンディングした。
【0074】
また、比較例として、オイラー角表示の各変数について、φ=0、θ=132、ψ=0のLiTaO3単結晶から成る圧電結晶基板上に、本発明の実施例と同様にして電極等を作製した弾性表面波フィルタを得た。
【0075】
このようにして完成した弾性表面波フィルタの電気特性は、ネットワークアナライザ(アジレント・テクノロジー社製:型番HP8753ES)により測定を行った。
【0076】
図13及び図14に、本発明の実施例と前記比較例の各弾性表面波フィルタに入力信号を入れたときの出力信号の伝送量を縦軸に、周波数を横軸にとった場合の特性図を示す。ここで、図13は帯域内偏差をあらわすために伝送量が0〜−5dBの範囲での特性を、図14は急峻度をあらわすために、伝送量が0〜−70dBの範囲での特性を示す。また、各図中の(A)は本発明の弾性表面波フィルタの特性であり、各図中の(B)は前記比較例の弾性表面波フィルタの特性である。
【0077】
図13及び図14から明らかなように、本実施例によれば通過特性が良好であり、特に、帯域内偏差が比較例の1.5dBに対して1.2dBとなり、0.3dBも良好な結果が得られた。また、本実施例では通過帯域の低周波側における減衰特性も良好であり、例えば比較例では周波数1815MHzで25.5dBの減衰量に対して32.5dBであり、7dBも減衰量が大きくより優れた急峻性を示した。
【0078】
【発明の効果】
本発明の弾性表面波フィルタによれば、タンタル酸リチウム単結晶から成る圧電結晶基板の主面上に、通過帯域が1850MHz〜1910MHzの高周波信号によって弾性表面波を励振する励振電極と反射器電極とを配設して成り、圧電結晶基板の結晶方位を示す右手系のオイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が、0.5≦φ≦10,θ=132,−(tan-1(tanφ/cosθ))−6≦ψ≦−(tan-1(tanφ/cosθ))+6を満足するので、帯域内偏差が3dB以内の良好で、さらに、挿入損失を劣化させずに比帯域幅を大きく変更することが可能な、優れた弾性表面波フィルタを提供できる。
【0079】
(削除)
【0080】
(削除)
【0081】
さらに、オイラー角表示(φ,θ,ψ)のφ,θが、0.5≦φ≦4,θ=132を満足することにより、最大の帯域幅と最小の挿入損失、及び良好な帯域内偏差が得られ、このような良好なフィルタ特性となり、さらに、特性改善は帯域内のみならず、帯域外の減衰についても行なえる、最適な弾性表面波フィルタを提供できる。
【0082】
特に、比帯域幅を4%超に大きくした場合、オイラー角表示(φ,θ,ψ)で(2〜4,132,3.5〜6)である圧電結晶基板を用いた弾性表面波フィルタによって、きわめて良好な電気特性が得られる。
【0083】
(削除)
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)は、圧電結晶基板の結晶方位(カット角及び弾性表面波の伝搬方向)を示す右手系のオイラー角(φ,θ,ψ)による座標変換を説明するための座標軸であり、(b)はオイラー角による座標変換で得られた直交座標系と圧電結晶基板との関係を説明する斜視図である。
【図2】 本発明に係る弾性表面波フィルタの電極構成の一例を模式的に説明する平面図である。
【図3】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板のオイラー角表示の第2角θと通過帯域内の最大挿入損失との関係を示すグラフである。
【図4】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板のオイラー角表示の第2角θと3dB比帯域幅との関係を示すグラフである。
【図5】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板のオイラー角表示の第2角θと通過帯域内偏差との関係を示すグラフである。
【図6】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板のオイラー角表示の第1角φと通過帯域内の最大挿入損失との関係を示すグラフである。
【図7】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板のオイラー角表示の第1角φの関係を示すグラフである。
【図8】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板のオイラー角表示の第1角φと通過帯域内偏差との関係を示すグラフである。
【図9】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板の投影X軸との角度ψ’と通過帯域内の最大挿入損失との関係を示すグラフである。
【図10】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板の投影X軸との角度ψ’と3dB比帯域幅との関係を示すグラフである。
【図11】 各種結晶方位を有する圧電結晶基板の投影X軸との角度ψ’と通過帯域内偏差との関係を示すグラフである。
【図12】 本発明に係る弾性表面波フィルタの他の電極構造を模式的に説明する平面図である。
【図13】 弾性表面波フィルタの周波数と伝送量(0〜−5dB)との関係を示し、通過帯域部分を拡大した特性図であり、(A)は本発明の実施例による弾性表面波フィルタの電気特性図、(B)は従来(比較例)の弾性表面波フィルタの電気特性図である。
【図14】 弾性表面波フィルタの周波数と伝送量(0〜−70dB)との関係を示す特性図であり、(A)は本発明の実施例による弾性表面波フィルタの電気特性図、(B)は従来(比較例)の弾性表面波フィルタの電気特性図である。
【符号の説明】
S1,S2:弾性表面波フィルタ
1:圧電結晶基板
2:IDT電極(励振電極)
3:反射器電極
4:直列共振子
5:並列共振子
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  The present invention relates to a surface acoustic wave filter, and more particularly to a surface acoustic wave filter having excellent passband characteristics in a high frequency band including a GHz band.
[0002]
BACKGROUND OF THE INVENTION
  In recent years, surface acoustic wave filters have been used in various communication devices, and have played a role in reducing the size of devices and adjusting the passband frequency. With the progress of higher frequency and higher functionality of communication devices, there is an increasing demand for filters having variations in bandwidth and attenuation.
[0003]
  For example, a filter for a cellular phone of 900 MHz band has a pass bandwidth of 25 MHz (specific bandwidth 2.8%), and a filter for a cellular phone of 1.9 GHz band has a bandwidth of 60 MHz (specific bandwidth 2.8%). ) High performance filters are required. Furthermore, a PDC (Personal Digital Cellular Phone System) filter for mobile phones in Japan is also required to have a passband bandwidth of 16 MHz (specific bandwidth 1.9%) in the 800 MHz band. If the specific bandwidth is BR, it is defined by BR = BW / fc (BW is a pass band width when the in-band insertion loss is 3 dB, and fc is a center frequency of the pass band when the in-band insertion loss is 3 dB).
[0004]
  As described above, various telephone specifications require a specific bandwidth of about 1.9 to 2.8%. However, as a filter, a frequency deviation due to a manufacturing deviation in a high frequency band and a temperature fluctuation is taken into consideration. A 4.5% specific bandwidth is required.
[0005]
  Such a surface acoustic wave filter is generally formed by arranging excitation electrodes on a piezoelectric single crystal or polycrystal substrate, but has a large electromechanical coupling coefficient k2 (= high excitation efficiency of surface waves) and high frequency. Lithium tantalate (LiTaO) as a substrate material having a small surface acoustic wave propagation loss in the bandThree) Piezoelectric crystal substrates made of single crystals are well known, especially LiTaO.ThreeSingle crystal 36 ° rotation YX substrate (Y cut surface has a cut surface rotated 36 ° around the X axis, and crystal orientation for propagating surface acoustic waves in the X axis direction: right-handed Euler angle display (0, 126, 0)) has been used as a material having a small propagation loss (hereinafter also simply referred to as Euler angle display).
[0006]
  Recently, the 36 ° rotated YX substrate has an optimum crystal orientation when the additional mass effect of the electrode formed on the piezoelectric crystal substrate can be ignored, and is excited in a frequency band of several hundred MHz or less. Even if it is effective when the wavelength of the surface acoustic wave is long, in the operation near the GHz band required for the current mobile phone, etc., the electrode thickness is ignored with respect to the excited elastic wave wavelength. It has been reported that it cannot be done and is not necessarily optimal.ThreeA single crystal 42 ° rotated YX substrate (Euler angle display: (0, 132, 0)) has been proposed as a new optimum crystal orientation (see Japanese Patent Laid-Open No. 9-167936).
[0007]
  However, as long as a substrate (rotated Y-X substrate) that simply rotates the Y-cut surface around the X axis by a predetermined angle and propagates in the X-axis direction is used, the rotation angle reduces the bulk radiation and propagation loss at an appropriate electrode film thickness. Even if there is, the effective electromechanical coupling coefficient that contributes to the bandwidth of the filter electrical characteristics is determined by the substrate material used and the specific bandwidth is determined, so the desired ratio is limited to a very narrow range. Cannot design a filter with bandwidth.
[0008]
  Furthermore, in order to obtain electrical characteristics suitable for current digital circuits, a filter having flatness more than ever is required. The present inventors have described the above-described LiTaO. 3 It has been found that a single crystal 42 ° rotated YX substrate is not necessarily optimal in terms of insertion loss and in-band deviation of passband characteristics.
[0009]
  Note that in a so-called end-surface reflection type piezoelectric shear wave resonator in which a surface shear wave reflects both end surfaces of a substrate to give a desired resonance frequency, the rotating Y-X substrate and a substrate whose crystal orientation is slightly shifted from the substrate An acoustic wave element that optimizes the above is known (see Japanese Patent Publication No. 6-14608). However, this surface acoustic wave device uses a surface slip wave excited by an IDT electrode, and this surface slip wave is reflected by a crystal surface such as an end face of a piezoelectric crystal substrate, so that it is excited by one IDT electrode. A crystal plane must be formed on the propagation path of the generated surface slip wave. Therefore, the crystal end face of the piezoelectric crystal substrate cannot be suitably used in order to allow a plurality of resonators composed of one IDT electrode to be arranged and connected to, for example, a ladder circuit to function as a filter. For this reason, it is a problem because a filter manufacturing process becomes extremely complicated to form a special groove structure or the like on both sides of the IDT electrode.
[0010]
  Accordingly, the present invention provides a surface acoustic wave filter having an optimum insertion loss and in-band deviation of passband characteristics using a lithium tantalate single crystal substrate having a new and useful crystal orientation, and a desired ratio. An object of the present invention is to provide a surface acoustic wave filter having a bandwidth and an optimally oriented piezoelectric crystal substrate.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
  In order to achieve the above-described object, on the main surface of the piezoelectric crystal substrate made of a lithium tantalate single crystal,By a high frequency signal with a passband of 1850 MHz to 1910 MHzIn a surface acoustic wave filter in which an excitation electrode for exciting a surface acoustic wave and at least one reflector electrode in the propagation direction of the surface acoustic wave are arranged, a right-handed Euler angle display indicating a crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate The variables (φ, θ, ψ) are 0.5 ≦ φ ≦ 10, θ =132,-(Tan-1(Tan φ / cos θ)) − 6 ≦ ψ ≦ − (tan-1(Tan φ / cos θ)) + 6 is satisfied.
[0012]
  In particular, φ and θ in the Euler angle display (φ, θ, ψ) are 0.5 ≦ φ ≦ 10, θ =132Or φ and θ of the Euler angle display (φ, θ, ψ) satisfy 0.5 ≦ φ ≦ 4, θ = 132.
[0013]
  Moreover, on the main surface of the piezoelectric crystal substrate made of lithium tantalate single crystal,By a high frequency signal with a passband of 1850 MHz to 1910 MHzIn a surface acoustic wave filter provided with an excitation electrode for exciting a surface acoustic wave and at least one reflector electrode for reflecting the surface acoustic wave to the excitation electrode, a right-handed Euler indicating a crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate Each variable of the angle display (φ, θ, ψ) satisfies 2 ≦ φ ≦ 4, θ = 132, 3.5 ≦ ψ ≦ 6. Preferably, φ = 3 and θ = 132 are satisfied. Preferably, the excitation electrode is made of an Al—Cu alloy.
[0014]
  (Delete)
[0015]
  (Delete)
[0016]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
  Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0017]
  FIG. 1 (a) shows coordinate axes for explaining coordinate conversion by a right-handed Euler angle display (φ, θ, ψ) representing the crystal orientation (cut angle and surface acoustic wave propagation direction) of the piezoelectric crystal substrate. FIG. 1B is a perspective view for explaining the relationship between the orthogonal coordinate system (x1-x2-x3) obtained by this coordinate transformation and the piezoelectric crystal substrate 1.
[0018]
  The Euler angle display that represents the crystal orientation (cut angle and surface acoustic wave propagation direction) of the principal surface that is the device region of the piezoelectric crystal substrate is defined as follows. First, as shown in FIG. 1A, in a piezoelectric single crystal having crystal axes X, Y, and Z, the X and Y axes are rotated counterclockwise by φ degrees (°) with the Z axis as a rotation axis, Next, the rotated X-axis is used as a θ-rotating axis, the Z-axis is rotated counterclockwise by θ degrees (°), and the rotated X-axis (θ-rotating axis) and the rotated Y-axis are Rotate counterclockwise by ψ degrees (°), and let the final orthogonal coordinate axes obtained by this rotation be x1, x2, and x3.
[0019]
  Then, as shown in FIG. 1B, the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate 1 that propagates the surface acoustic wave in the x1 axis direction on the principal surface 1a of the piezoelectric substrate 1 with the x3 axis as a normal line is displayed as an Euler angle display. (Φ, θ, ψ).
[0020]
  A single crystal wafer for cutting out a piezoelectric crystal substrate having a predetermined crystal orientation is manufactured as follows. First, the surface of the seed crystal cut out in a direction substantially perpendicular to the Euler angle display (0.5 to 20, 115 to 147, ψ = arbitrary) is above the melting point in a crucible made of refractory metal such as iridium. The molten lithium tantalate is brought into contact with the raw material melt, and then the seed crystal is rotated simultaneously with the rotation of the seed crystal while being lowered (rotary pulling method (= Czochralski method)). For example, a single crystal having an outer diameter of about 110 mm To train.
[0021]
  Next, the single crystal grown in this way is cut while measuring the cut angle by using, for example, an inner peripheral diamond cutting machine and an X-ray diffractometer, and displayed as Euler angles (0.5 to 20, 115). ˜147, ψ = arbitrary) A wafer whose surface is the main surface is obtained.
[0022]
  Furthermore, after the main surface, which is the device fabrication surface of the wafer, is mirror-finished by polishing, a fine electrode pattern of a metal mainly composed of Al, such as Al or Al-Cu alloy, is formed on the main surface. A plurality of filter element regions are formed in which IDT electrodes and reflector electrodes serving as excitation electrodes are arranged in, for example, a ladder circuit. These electrode patterns are produced by photolithography using a reduction projection exposure machine (stepper), an RIE (Reactive Ion Etching) apparatus, or the like.
[0023]
  And in order to protect fine electrodes such as excitation electrodes, for example, thin film SiO2After laminating the film on the main surface of the wafer, the wafer is diced by a cutting device to produce individual filter elements. Thereafter, the individual filter elements are placed in the casing, and the electrodes of the casing and the electrodes of the filter elements are electrically connected to complete the surface acoustic wave filter.
[0024]
  FIG. 2 schematically shows an example of an electrode structure formed on the piezoelectric crystal substrate 1 in the surface acoustic wave filter S1 thus manufactured. In the figure, 2 is an IDT (interdigital transducer) electrode for exciting a surface acoustic wave, 3 is a grating-like reflection formed on both sides (surface acoustic wave propagation direction) and formed in the same manner as the IDT electrode 2. Electrode. Further, 4 is a series resonator constituting a ladder circuit, and 5 is a parallel resonator.
[0025]
  According to the surface acoustic wave filter S1, a surface acoustic wave is excited by the fine IDT electrode 2 having a comb-like shape and having a predetermined electrode finger interval, and the reflection is arranged so as to sandwich the IDT electrode 2 from both sides. The surface acoustic wave is reflected to the IDT electrode 2 side by the electrode 3 and is effectively confined to cause electrical resonance. Then, as shown in the figure, a desired circuit electrical characteristic is obtained by configuring a ladder circuit by connecting resonators composed of the IDT electrode 2 and the reflector electrode 3 in series or in parallel.
[0026]
  Here, the thickness of the piezoelectric crystal substrate is preferably about 0.1 mm to 0.5 mm. If the thickness is less than 0.1 mm, the piezoelectric crystal substrate becomes brittle, and if it exceeds 0.5 mm, the material cost and component dimensions become large and cannot be used.
[0027]
  The IDT electrode is made of, for example, Al or an Al alloy (Al—Cu type, Al—Ti type, Al—Mg type), and is formed by a thin film forming method such as a vapor deposition method, a sputtering method, or a CVD method. In addition, many of the above-described metal materials may have a laminated structure in order to improve power handling performance, which is suitable for obtaining characteristics as a surface acoustic wave filter.
[0028]
  Furthermore, the electrode according to the present invention and the surface acoustic wave propagation part on the piezoelectric crystal substrate have Si, SiO2, SiNx, Al2OThreeAlternatively, a dielectric film such as a protective film may be formed to prevent energization due to conductive foreign substances and to improve power durability.
[0029]
  In the ladder-type surface acoustic wave filter S1 configured as described above, the main surface 1a of the piezoelectric crystal substrate 1 is optimal for obtaining a surface acoustic wave filter having a good insertion loss and in-band deviation of the passband characteristics. As the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate, each variable of Euler angle display (φ, θ, ψ)
0.5 ≦ φ ≦ 10,
θ =132,
-(Tan-1(Tan φ / cos θ)) − 6 ≦ ψ ≦ − (tan-1(Tanφ / cosθ)) + 6,
Is satisfied. The reason for the crystal orientation will be described in detail below. LiTaOThreeWith regard to the Euler angle display of a single crystal, an equivalent crystal orientation can exist due to the symmetry of the crystal. Therefore, a substrate having an equivalent crystal orientation is included in the above range.
[0030]
  3 to 11 are results showing the electrical characteristics of the surface acoustic wave filter using piezoelectric crystal substrates having various crystal orientations as average values obtained under the following configuration and measurement conditions. Symbols (Δ, ♦) in the figure are plotted for typical angles.
[0031]
  Since the resonance state changes depending on the electrode pattern structure, the optimum film thickness ratio must be changed in order to obtain the optimum filter characteristics. However, the optimum film thickness ratio of the IDT electrode and the reflector electrode used in the present invention (standard) In order to obtain an optimum resonance state, it is preferable to set 0.0 / 0.2 to H / λ (H: film thickness, λ: period length of IDT electrode, or surface acoustic wave wavelength). is there.
[0032]
  Further, the total number of IDT electrodes is 3 to 150 pairs in which a good resonance state is obtained, and the number of reflector electrodes is 1 to 200. Thereby, the surface acoustic wave excited by the IDT electrode can be favorably reflected. In addition, the normalized cross width of the IDT electrode is 3 to 200λ (λ: the period length of the IDT electrode or the wavelength of the surface acoustic wave), whereby a good resonance state is obtained. Each plot shows an average of 30 measured items.
[0033]
  The pass characteristics of the surface acoustic wave filter were measured using a vector network analyzer (manufactured by Agilent Technologies: model number HP8753ES) under the condition that the termination resistance value was 50Ω. Note that the surface acoustic wave filter is a ladder type filter shown in FIG. 2 that can be used in the 1.9 GHz band.
[0034]
  Here, in the surface acoustic wave filter of the present invention, a piezoelectric substrate is formed using a crystal material having a symmetrical structure. In order to clarify the significant difference in the filter characteristics due to the difference between the propagation direction and the crystal X axis by the symmetry of the piezoelectric crystal substrate from the crystal X axis, the crystal X axis before Euler rotation is rotated after Euler rotation. The Euler rotation is performed on an axis projected onto the crystal Z axis side on the piezoelectric crystal substrate (x1-x2 plane) (projection X axis: intersection line of crystal XZ plane and plane having x3 axis as normal). After that, the angle that extends around the x1 axis (where the rotation direction of ψ is +) is the projection axis angle ψ ′, and ψ ′ = 0 is the best in terms of characteristics. It can be an angle.
[0035]
  When the projected X-axis coincides with the x1-axis (ψ ′ = 0), the first angle φ ° and the second angle θ ° of the Euler angle display are used and expressed by the following geometric formula I by the geometrical relationship. be able to.
ψ =-(tan-1(Tanφ / cosθ)) (Formula I)
FIG. 3 shows LiTaO.ThreeA variable of Euler angle display (φ, θ, ψ) of a piezoelectric crystal substrate made of a single crystal, the first angle φ is 0 and 3, and the projection axis angle ψ ′ is 0 (for example, φ = 0 when θ = 132) Using a surface acoustic wave filter with ψ = 0 and θ = 132 and φ = 3 when ψ = 3), and the maximum insertion loss within the passband (1850 MHz to 1910 MHz). As for the relationship, the passing transmission characteristic is measured with the vector network analyzer under the condition that the termination resistance is 50Ω. Here, the solid line L1 indicates the result when φ = 3 and ψ ′ = 0, and the broken line L2 indicates the result when φ = 0 and ψ ′ = 0.
[0036]
  FIG. 4 uses a surface acoustic wave filter formed in the same manner as in FIG. 3, and the relationship between the second angle θ and the relative bandwidth (same as BR) within 3 dB of the maximum insertion loss within the passband. Shows the results of measurement as described above.
[0037]
  FIG. 5 shows the relationship between the second angle θ, the crystal material defined by the first angle φ, and the in-passband deviation using the surface acoustic wave filter formed in the same manner as in FIG. The result measured similarly is shown. Here, the solid line L1 indicates the result when φ = 3 and ψ ′ = 0, and the broken line L2 indicates the result when φ = 0 and ψ ′ = 0.
[0038]
  The following was found from the results of FIGS.
[0039]
  When the second angle θ in the Euler angle display is around 132, there is a maximum or minimum in the characteristics of each figure. When comparing the piezoelectric crystal substrate with the first angle φ = 0 and the piezoelectric crystal substrate with φ = 3, φ It was found that the filter using the piezoelectric crystal substrate of = 3 has less change in the insertion loss and the relative bandwidth in the wide angle range of the second angle θ, and the insertion loss is small and the in-band deviation is good.
[0040]
  In particular, as shown in FIG. 5, when θ is in the range of 115 to 147, the in-band deviation is within 3 dB, which is favorable. Further, when θ is in the range of 123 to 138, as shown in FIG. 3, it has been found that the insertion loss is within 3 dB and is optimal.
[0041]
  FIG. 6 shows the relationship between the first angle φ and the maximum insertion loss in the passband when the second angle θ of the Euler angle display is 132 and 129 and the projection axis angle ψ ′ is 0. The result measured about is shown. Measurement conditions and the like are the same as in FIG. The reason for selecting θ = 129 is that the second angle in the Euler angle display of the 36 ° rotated YX substrate (θ = 126) and the 42 ° rotated YX substrate (θ = 132), which are conventionally optimal, is selected. This is because the average value of θ.
[0042]
  FIG. 7 shows the results of measuring the relationship between the first angle φ and the specific bandwidth within 3 dB of the maximum insertion loss in the pass band under the same conditions as in FIGS. 4 and 6. The solid line L1 indicates the result when θ = 129 and ψ ′ = 0, and the broken line L2 indicates the result when θ = 132 and ψ ′ = 0. A broken line L3 indicates a straight line drawn by approximation according to a plot in the case where θ = 132 and ψ ′ = 0 and the first angle φ is small.
[0043]
  FIG. 8 shows the result of measuring the relationship between the first angle φ and the deviation in the passband under the same conditions as in FIGS. 5 and 6. The solid line L1 indicates the result when θ = 129 and ψ ′ = 0, and the broken line L2 indicates the result when θ = 132 and ψ ′ = 0.
[0044]
  The following was found from the results of FIGS.
[0045]
  As is clear from FIG. 6, no significant change is observed even when the first angle φ is changed, and good characteristics can be obtained.
[0046]
  In particular, as can be seen from the straight line L3 shown in FIG. 7, the specific bandwidth tends to decrease linearly in the range where the first angle φ is small (0.5 to 10). As the angle φ increases, the in-band deviation tends to decrease. In particular, when φ is 0.5 to 20, the crystal orientation changes, so that the propagation loss is small and the effective electromechanical coupling coefficient k2 is a desired ratio. Since the region approaches the optimum region for the bandwidth BR, a good in-band deviation can be obtained.
[0047]
  The broken line L3 shown in FIG. 7 is a result of linear approximation when the second angle θ is 132 in the range of 0.5 to 10 where the first angle φ is small, and this straight line is expressed by the following formula II.
[0048]
  Therefore, when trying to obtain a filter having a desired specific bandwidth BR, the crystal angle of the piezoelectric crystal substrate used for the filter can be derived from the first angle φ according to the following formula II, which is an empirical formula.
[0049]
  φ = −2480.0 × BR + 97.0 (formula II)
Similarly, from the experimental data (♦, Δ in the figure) where θ is 132 or less in FIG. 4, the above experimental formula II is obtained, and when trying to obtain a filter having a desired specific bandwidth BR, As for the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate to be used, the second angle θ can be derived from the following formula III.
[0050]
  θ = 1140 × BR + 87.0 (formula III)
Further, from the experimental data (Δ in the figure) when the second angle θ in FIG. 7 is 132, the standard deviation σ of the experimental formula II is determined to be about 0.5, and the tolerance of the experimental formula is 4σ ( Here, σ is a standard deviation) and is assumed to be ± 2.
[0051]
  Further, the first angle φ and the second angle θ obtained by the above formula can be used to calculate the third angle ψ from the formula I.
[0052]
  Therefore, when the specific bandwidth BR is set to a desired value, each variable of the Euler angle display (φ, θ, ψ) indicating the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate satisfies the following formula. Crystal orientation can be determined.
[0053]
  F1 (BR) ≦ φ ≦ F2 (BR),
G1 (BR) ≦ θ ≦ G2 (BR),
-(Tan-1(Tan φ / cos θ)) − 6 ≦ ψ ≦ − (tan-1(Tanφ / cosθ)) + 6
(However, F1 (BR) = − 2480 × BR + 95, F2 (BR) = − 2480 × BR + 99, G1 (BR) = 1140 × BR + 85, G2 (BR) = 1140 × BR + 89, BR = BW / fc (BW is a band The internal insertion loss is the passband width at 3 dB, and fc is the center frequency of the passband at the inband insertion loss of 3 dB).
[0054]
  Next, a more preferable crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate according to the present invention will be described.
[0055]
  FIG. 9 shows the maximum insertion loss in the passband (1850 MHz to 1910 MHz) when the second angle θ of the Euler angle display is 132 and the second angle φ is 0, 1, 3, 5, or 7. The measurement results are shown.
[0056]
  FIG. 10 shows the result of measurement in the same manner as in FIG. 9 with respect to the relationship between the projection axis angle ψ ′ and the specific bandwidth when the maximum insertion loss in the passband is within 3 dB. FIG. 11 shows the results of measurement of the relationship between the projection axis angle ψ ′ and the in-passband deviation in the same manner as in FIG.
[0057]
  LiTaO 3 Since the crystal structure of the single crystal has a strong symmetry with respect to the crystal XZ plane, the obtained filter has a peak when the projection axis angle ψ ′ is near 0 from the results of FIGS. It is clear that the characteristics are also symmetric about the projection axis angle ψ ′ because the crystal material is symmetric about the crystal X axis.
[0058]
  Therefore, in particular, the projection axis angle ψ ′ where the in-band deviation is within 3 dB is good within the range of ± 6 tolerance, and within the insertion loss of 3 dB, the projection axis angle ψ ′ is within the range of ± 4. It turned out to be optimal within the scope of the lance. The reason for this is that when the crystal orientation changes, the effective electromechanical coupling coefficient k2 approaches the optimum region for the desired specific bandwidth BR, so that the in-band deviation is improved and the insertion loss is also improved. Conceivable.
[0059]
  In particular, when the specific passband width is increased to more than 4%, the piezoelectric crystal substrate capable of obtaining good electrical characteristics is expressed by Euler angles (φ, θ, ψ) (2-4, 132, 3.5-6). It turned out to be.
[0060]
  Thus, according to the surface acoustic wave filter using the piezoelectric crystal substrate of (0.5 to 20, 115 to 147, ψ ′ = − 6 to 6 (ψ = −6 to 47)) in the Euler angle display, the band The internal deviation can be within 3 dB.
[0061]
  Further, in the Euler angle display, according to the surface acoustic wave filter using the piezoelectric crystal substrate of (0.5 to 20, 123 to 138, ψ ′ = − 4 to 4 (ψ = −4 to 38)), it is inserted. A good filter characteristic with a loss within 3 dB is provided.
[0062]
  In the Euler angle display, (0.5 to 10,132According to the surface acoustic wave filter using the piezoelectric crystal substrate of ψ ′ = − 6 to 6 (ψ = −6 to 22)), the in-band deviation is surely within 3 dB with the desired specific bandwidth BR. And the insertion loss is optimum filter characteristics within 3 dB.
[0063]
  Furthermore, according to the surface acoustic wave filter using the piezoelectric crystal substrate of (0.5 to 4, 132, ψ ′ = − 4 to 4 (ψ = −4 to 10)) in the Euler angle display, the maximum band A very good filter characteristic having a width, a minimum insertion loss, a good in-band deviation, and a good attenuation characteristic in the vicinity of the pass band can be obtained.
[0064]
  In addition, according to the method for determining the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate according to the present invention, each variable of the Euler angle display of the piezoelectric crystal substrate can be expressed as a function of a desired specific bandwidth BR. Good LiTaOThreeA single-crystal piezoelectric crystal substrate material can be selected, and it is easy and simple to design and manufacture an excellent surface acoustic wave filter with good insertion loss, in-band deviation, and good attenuation characteristics near the passband Can be done.
[0065]
  In the present embodiment, the surface acoustic wave filter has been described by taking a ladder type circuit as an example. However, the surface acoustic wave filter is not limited to the ladder type circuit, and at least an excitation electrode and a reflector electrode are provided in order to efficiently excite the surface acoustic wave. For example, a surface acoustic wave filter S2 having a so-called resonator structure electrode configuration in which a plurality of IDT electrodes 2 as shown in FIG. 12 are arranged in the propagation direction x1 is applicable. It is also applicable to. In FIG. 12, the same components as those in FIG. The present invention can also be applied to a surface acoustic wave filter having various filter circuits such as a lattice-type circuit or a combination of a ladder-type circuit and a lattice-type circuit. It is possible to make changes.
[0066]
【Example】
  An example in which the surface acoustic wave filter according to the present invention is specifically manufactured will be described.
[0067]
  For each variable of Euler angle display, LiTaO with φ = 3, θ = 132, and ψ = 4.5ThreeA fine electrode pattern of Al (98 wt%)-Cu (2 wt%) was formed on a piezoelectric crystal substrate made of a single crystal. This pattern was produced by a reduction projection exposure machine (Stepper, Nikon Corporation, model number: NSR2205i12D) and RIE (Reactive Ion Etching) apparatus (Matsushita Electric Industrial Co., model number: E646S-ICP).
[0068]
  First, the substrate material was subjected to ultrasonic cleaning with acetone / IPA or the like to remove organic components. Next, the substrate was sufficiently dried by a clean oven, and then an electrode was formed. For electrode deposition, an Al—Cu material was deposited using a sputtering apparatus. The electrode film thickness was about 0.2 μm.
[0069]
  Next, a photoresist was spin-coated to a thickness of about 0.5 μm, and desired patterning was performed by the stepper.
[0070]
  Next, an unnecessary portion of the photoresist was dissolved with an alkaline developer by a developing device to reveal a desired pattern, and then the Al—Cu electrode was etched by the RIE device to complete the patterning.
[0071]
  Thereafter, a protective film was formed on a predetermined region of the electrode. That is, SiO2Then, a photoresist was patterned by photolithography, and a wire bonding window opening portion was etched by an RIE apparatus or the like to complete a protective film pattern.
[0072]
  Next, the substrate was diced along dicing lines and divided into chips. Then, each chip was picked up by a die bonding apparatus and adhered to the package using a resin mainly composed of a silicone resin. Then, it was dried and cured at a temperature of about 160 ° C. As the package, a ceramic package having a laminated structure of 3 mm square was used.
[0073]
  Next, an Au wire having a diameter of 30 μm was ball-bonded on the electrode part of the package and the Al electrode pad on the chip, and then the lid was placed on the package and completed by welding and sealing with a sealing machine. The ground electrodes on the chip were wired separately and bonded to the ground electrode on the package by Au ball bonding.
[0074]
  As a comparative example, for each variable of Euler angle display, LiTaO with φ = 0, θ = 132, and ψ = 0.ThreeA surface acoustic wave filter in which electrodes and the like were produced on a piezoelectric crystal substrate made of a single crystal in the same manner as in the example of the present invention was obtained.
[0075]
  The electrical characteristics of the surface acoustic wave filter thus completed were measured with a network analyzer (manufactured by Agilent Technologies: model number HP8753ES).
[0076]
  13 and 14 show characteristics when the input signal is input to each of the surface acoustic wave filters of the embodiment of the present invention and the comparative example, and the transmission amount of the output signal is plotted on the vertical axis and the frequency is plotted on the horizontal axis. The figure is shown. Here, FIG. 13 shows the characteristics in the range of 0 to −5 dB for the transmission amount to show the in-band deviation, and FIG. 14 shows the characteristics in the range of 0 to −70 dB for the transmission quantity to show the steepness. Show. Moreover, (A) in each figure is a characteristic of the surface acoustic wave filter of the present invention, and (B) in each figure is a characteristic of the surface acoustic wave filter of the comparative example.
[0077]
  As is apparent from FIGS. 13 and 14, according to this embodiment, the pass characteristic is good, and in particular, the in-band deviation is 1.2 dB with respect to 1.5 dB of the comparative example, and 0.3 dB is also good. Results were obtained. In this embodiment, the attenuation characteristic on the low frequency side of the pass band is also good. For example, in the comparative example, the attenuation is 32.5 dB with respect to the attenuation of 25.5 dB at a frequency of 1815 MHz, and the attenuation is large and excellent at 7 dB. Showed steepness.
[0078]
【The invention's effect】
  According to the surface acoustic wave filter of the present invention, on the main surface of the piezoelectric crystal substrate made of a lithium tantalate single crystal,By a high frequency signal with a passband of 1850 MHz to 1910 MHzEach variable of the right-handed Euler angle display (φ, θ, ψ) indicating the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate is formed by arranging an excitation electrode for exciting a surface acoustic wave and a reflector electrode. φ ≦ 10, θ =132,-(Tan-1(Tan φ / cos θ)) − 6 ≦ ψ ≦ − (tan-1(Tanφ / cos θ)) + 6 is satisfied, and an excellent surface acoustic wave filter having an excellent in-band deviation of 3 dB or less and capable of greatly changing the specific bandwidth without deteriorating insertion loss. Can be provided.
[0079]
  (Delete)
[0080]
  (Delete)
[0081]
  Further, when φ and θ of the Euler angle display (φ, θ, ψ) satisfy 0.5 ≦ φ ≦ 4 and θ = 132, the maximum bandwidth, the minimum insertion loss, and the good in-band It is possible to provide an optimum surface acoustic wave filter in which a deviation is obtained and such a good filter characteristic is obtained, and further, the characteristic improvement can be performed not only in the band but also in the attenuation outside the band.
[0082]
  In particular, when the specific bandwidth is increased to more than 4%, a surface acoustic wave filter using a piezoelectric crystal substrate having Euler angle display (φ, θ, ψ) of (2-4, 132, 3.5-6) Can provide very good electrical properties.
[0083]
  (Delete)
[Brief description of the drawings]
FIG. 1A is a coordinate axis for explaining coordinate conversion by a right-handed Euler angle (φ, θ, ψ) indicating a crystal orientation (cut angle and surface acoustic wave propagation direction) of a piezoelectric crystal substrate. FIG. 6B is a perspective view for explaining the relationship between the orthogonal coordinate system obtained by the coordinate conversion by the Euler angle and the piezoelectric crystal substrate.
FIG. 2 is a plan view schematically illustrating an example of an electrode configuration of a surface acoustic wave filter according to the present invention.
FIG. 3 is a graph showing a relationship between a second angle θ in Euler angle display of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a maximum insertion loss in a pass band.
FIG. 4 is a graph showing a relationship between a second angle θ in Euler angle display and a 3 dB ratio bandwidth of piezoelectric crystal substrates having various crystal orientations.
FIG. 5 is a graph showing a relationship between a second angle θ of Euler angle display of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a deviation in a passband.
FIG. 6 is a graph showing a relationship between a first angle φ of Euler angle display of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a maximum insertion loss in a pass band.
FIG. 7 is a first angle φ of Euler angle display of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations.WhenIt is a graph which shows the relationship.
FIG. 8 is a graph showing a relationship between a first angle φ of Euler angle display of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a deviation in a passband.
FIG. 9 is a graph showing a relationship between an angle ψ ′ with respect to a projected X axis of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a maximum insertion loss in the passband.
FIG. 10 is a graph showing a relationship between an angle ψ ′ with a projected X axis of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a 3 dB ratio bandwidth.
FIG. 11 is a graph showing a relationship between an angle ψ ′ with respect to a projected X axis of a piezoelectric crystal substrate having various crystal orientations and a deviation in a passband.
FIG. 12 is a plan view schematically illustrating another electrode structure of the surface acoustic wave filter according to the present invention.
FIG. 13 is a characteristic diagram showing the relationship between the frequency of the surface acoustic wave filter and the transmission amount (0 to −5 dB), in which the passband portion is enlarged, and (A) is a surface acoustic wave filter according to an embodiment of the present invention. (B) is an electrical characteristic diagram of a conventional surface acoustic wave filter (comparative example).
FIG. 14 is a characteristic diagram showing the relationship between the frequency of the surface acoustic wave filter and the transmission amount (0 to −70 dB), (A) is an electrical characteristic diagram of the surface acoustic wave filter according to the embodiment of the present invention, ) Is an electrical characteristic diagram of a conventional surface acoustic wave filter (comparative example).
[Explanation of symbols]
S1, S2: surface acoustic wave filters
1: Piezoelectric crystal substrate
2: IDT electrode (excitation electrode)
3: Reflector electrode
4: Series resonator
5: Parallel resonator

Claims (5)

タンタル酸リチウム単結晶から成る圧電結晶基板の主面上に、通過帯域が1850MHz〜1910MHzの高周波信号によって弾性表面波を励振する励振電極と、弾性表面波を前記励振電極へ反射する少なくとも1つの反射器電極とを配設した弾性表面波フィルタにおいて、前記圧電結晶基板の結晶方位を示す右手系のオイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が、下記式を満足することを特徴とする弾性表面波フィルタ。
0.5≦φ≦10
θ=132
−(tan-1(tanφ/cosθ))−6≦ψ≦−(tan-1(tanφ/cosθ))+6
An excitation electrode that excites a surface acoustic wave by a high-frequency signal having a passband of 1850 MHz to 1910 MHz, and at least one reflection that reflects the surface acoustic wave to the excitation electrode on a main surface of a piezoelectric crystal substrate made of a lithium tantalate single crystal. In the surface acoustic wave filter provided with the ceramic electrode, each variable of the right-handed Euler angle display (φ, θ, ψ) indicating the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate satisfies the following formula: Surface acoustic wave filter.
0.5 ≦ φ ≦ 10
θ = 132
− (Tan −1 (tan φ / cos θ)) − 6 ≦ ψ ≦ − (tan −1 (tan φ / cos θ)) + 6
前記オイラー角表示(φ,θ,ψ)のφ,θが、下記式を満足することを特徴とする請求項1に記載の弾性表面波フィルタ。
0.5≦φ≦4
θ=132
The surface acoustic wave filter according to claim 1, wherein φ and θ of the Euler angle display (φ, θ, ψ) satisfy the following expression.
0.5 ≦ φ ≦ 4
θ = 132
タンタル酸リチウム単結晶から成る圧電結晶基板の主面上に、通過帯域が1850MHz〜1910MHzの高周波信号によって弾性表面波を励振する励振電極と、弾性表面波を前記励振電極へ反射する少なくとも1つの反射器電極とを配設した弾性表面波フィルタにおいて、前記圧電結晶基板の結晶方位を示す右手系のオイラー角表示(φ,θ,ψ)の各変数が、下記式を満足することを特徴とする弾性表面波フィルタ。
2≦φ≦4
θ=132
3.5≦ψ≦6
An excitation electrode that excites a surface acoustic wave by a high-frequency signal having a passband of 1850 MHz to 1910 MHz, and at least one reflection that reflects the surface acoustic wave to the excitation electrode on a main surface of a piezoelectric crystal substrate made of a lithium tantalate single crystal. In the surface acoustic wave filter provided with the ceramic electrode, each variable of the right-handed Euler angle display (φ, θ, ψ) indicating the crystal orientation of the piezoelectric crystal substrate satisfies the following formula: Surface acoustic wave filter.
2 ≦ φ ≦ 4
θ = 132
3.5 ≦ ψ ≦ 6
前記オイラー角表示(φ,θ,ψ)のφ,θが、下記式を満足することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の弾性表面波フィルタ。
φ=3
θ=132
4. The surface acoustic wave filter according to claim 1, wherein φ and θ of the Euler angle display (φ, θ, ψ) satisfy the following expression. 5.
φ = 3
θ = 132
前記励振電極がAl−Cu合金から成ることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の弾性表面波フィルタ。  The surface acoustic wave filter according to claim 1, wherein the excitation electrode is made of an Al—Cu alloy.
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