JP3845610B2 - Handover test method and test apparatus - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、移動端末に対してハンドオーバー試験を実施するハンドオーバー試験方法及びハンドオーバー試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
携帯電話等の移動端末の移動無線通信システムにおいては、図7(a)に示すように、移動端末1は自己が位置するゾーン(領域)2を管轄する基地局3と該当基地局3に割付けられた周波数F1で通信を行っている。そして、移動端末1の利用者が通話中に他のゾーン2aに移動すると、このゾーン2aを管轄する基地局3aと周波数F2で通信を実施する。この場合、移動端末1の利用者が通話中に他のゾーン2aに移動しても通話を維持する機能を基地局間ハンドオーバー(hand over)と称する。
【0003】
上述した基地局間ハンドオーバー機能を含む移動端末1が有する各種の機能を試験する移動端末試験装置は図8に示すように構成されている。
この移動端末試験装置4内には、同一構成の2台の試験信号発生部5、6、送信系評価部7、試験制御部8が組込まれている。各試験信号発生部5、6は互いに隣接する各基地局3、3aに代わって試験対象の移動端末1に対して各試験信号s1、s2を送出する。送信系評価部7は移動端末1からの応答信号bを受信して、この応答信号bに基づいて移動端末1の送信機能を評価する。試験制御部8は、各部5〜7の動作を制御する。
【0004】
なお、移動端末試験装置4内に同一構成の2台の試験信号発生部5、6を組込んだ理由は、図7(a)に示すように、移動端末1が両方の電波を同時に受信可能なゾーン2とゾーン2aの重複する部分等の領域に位置する状態を想定できるからである。
【0005】
このような移動端末試験装置4を用いて基地局間ハンドオーバーの試験を実施する最も簡単な手法(ハードハンドオーバ試験)として、一方の試験信号発生部5から試験対象の移動端末1に対して試験信号s1の周波数Fを変更した場合に、移動端末1が正確に周波数変更後の試験信号s1を受信できるか、さらに周波数変更後の試験信号s1に対する応答信号bを正確に送信できるかを送信系評価部7を用いて評価する。
【0006】
また、図11に示すように、一方の試験信号発生部5から試験対象の移動端末1に対して周波数F1の試験信号s1を送出している期間の一部に、他方の試験信号発生部6から試験対象の移動端末1に対して周波数F2の試験信号s2を送出して、重複期間における移動端末1の動作状態を試験する手法(ソフトハンドオーバ試験)も実施することも可能である。
【0007】
基地局3、3aと移動端末1との間で送受信される信号の形態は採用されている通信方式によって異なるので、試験信号発生部5、6から試験対象の移動端末1に対して送信される試験信号s1、s2の信号構成(フォーマット)も異なる場合がある。
【0008】
図9に代表的な通信方式であるW―CDMA(Wideband Code Division Multiple Access 広帯域符号分割多重接続)通信方式を採用したW―CDMA試験信号a1の信号構成(フォーマット)と、GSM(Global System for Mobile 欧州移動通信システム)通信方式を採用したGSM試験信号a2の信号構成(フォーマット)とを示す。
【0009】
W―CDMA試験信号a1においては、1フレームの周期は10msであり、各フレームに各基地局に対応した周波数F1、F2、F3、…が設定される。もちろん、連続した複数のフレームに同一周波数が設定される場合もある。
【0010】
一方、GSM試験信号a2においては、1フレームの周期は4.62msであり、さらに各フレーム内には、それぞれ期間0.577msを有する8個のスロットが設定されており、必要に応じて、各スロットにチャネルに対応した周波数が設定される。なお、このGSM試験信号a2における各スロットにおける周波数の変更は、1フレーム毎にまとめて変更される。
【0011】
一方、図7(b)に示すように、W―CDMA基地局9とW―CDMA通信方式で通信を実施する機能とGSM基地局9aとGSM通信方式で通信を実施する機能とを有した移動端末1aの開発が進められている。このような機能を有した移動端末1aにおいては、W―CDMA基地局9のゾーン11からGSM基地局9aのゾーン11aへ移動した場合に通話が正常に継続するシステム間ハンドオーバーの試験を実施する必要がある。
【0012】
図8に示す移動端末試験装置4で、システム間ハンドオーバーの試験を実施する場合、図10に示すように、例えば、一方の試験信号発生部5からW―CDMA試験信号a1を移動端末1aに送信している途中で、GSM変更割込みが入力されると、この時点から試験信号発生部5から移動端末1aに送信しているW―CDMA試験信号a1をGSM試験信号a2に変更する(ハードハンドオーバー試験)。
【0013】
なお、図11に示すように、一方の試験信号発生部5からW―CDMA試験信号a1を移動端末1aに送信している途中で、他方の試験信号発生部6からGSM試験信号a2を移動端末1aに送信開始するソフトハンドオーバ試験も実施可能である。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら図8に示すハンドバーの試験を実施する移動端末試験装置4においても、まだ解決すべき次のような課題があった。
【0015】
前述したように、図9に示すW―CDMA試験信号a1及びGSM試験信号a2を作成する図8に示す各試験信号発生部5、6内には、試験信号a1、a2の搬送波を発生する搬送波発生回路、及び出力される試験信号a1、a2の信号レベルを所定レベルに設定する減衰器が組込まれている。例えば、搬送波発生回路は基準信号の周波数から指定された周波数を得るための複数の分周器で構成されている。そして、試験制御部8は、試験信号a1、a2に組込む周波数Fが定まると、試験信号a 1 、a 2 の搬送波が周波数Fになるように、各分周器に設定する設定周波数データDFを算出して、搬送波発生回路の各分周器に設定する。
【0016】
同様に、試験制御部8は、試験信号a1、a2に組込む周波数Fが定まると、この周波数Fの搬送波の試験信号a1、a2の出力信号レベルが所定の信号レベルになるように、減衰器に設定する設定減衰量データDAを算出して、減衰器に設定する。
【0017】
このように、試験信号a1、a2に組込む周波数Fが定まると、試験信号a 1 、a 2 設定周波数データDF及び設定減衰量データDAを算出し、その後、この算出した設定周波数データDF及び設定減衰量データDAを一方又は両方の試験信号発生部5、6へ設定していた。
【0018】
コンピュータで構成された試験制御部8においては、例えば、
設定周波数データDFを算出する時間 0.663ms
設定周波数データDFを設定する時間 0.252ms
設定減衰量データDAを算出する時間 0.046ms
設定減衰量データDAを設定する時間 0.176ms
の合計1.137msの時間が必要である。
【0019】
この一つの周波数Fを試験信号a1、a2に設定するために必要な最低時間(1.137ms)と図9のW―CDMA試験信号a1及びGSM試験信号a2と比較する。W―CDMA試験信号a1においては、上述した最低時間(1.137ms)は周波数設定の最低時間単位である1フレームの周期10msよりも短いので、1フレーム内で入力された周波数FをW―CDMA試験信号a1に組込むことが可能である。
【0020】
しかし、GSM試験信号a2においては、上述した最低時間(1.137ms)は周波数設定の最低時間単位である1スロットの期間0.577msよりも長いので、1スロットで入力された周波数FをGSM試験信号a2に組込むことができない問題がある。
【0021】
なお、高速の試験制御部8を採用して、計算処理速度を上昇させればよいが、高速の試験制御部8を採用すると試験装置全体の製造費が大幅に上昇する。
【0022】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、設定周波数データ及び設定減衰量データの算出タイミングと、設定周波数データ及び設定減衰量データの設定タイミングとをずらすことにより、演算処理速度を増加することなく、GSM通信方式を採用した移動端末に対してのハンドオーバー試験を正確に実施できるハンドオーバー試験方法及びハンドオーバー試験装置を提供することを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】
本発明は、GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによってGSM基地局間ハンドオーバー試験を実施するハンドオーバー試験方法に適用される。
【0024】
そして、上記課題を解消するために、本発明のハンドオーバー試験方法においては、GSM試験信号における各フレーム毎に入力されるGSMフレーム割込信号に同期して入力された各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求に応じて、このGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出する。その後、GSM周波数変更要求が入力されたフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する。
【0025】
このように構成されたハンドオーバー試験方法においては、GSM周波数変更要求が入力されると、このフレーム内において、各スロットに設定する各周波数に対する設定周波数データ及び設定減衰量データが算出される。
【0026】
そして、このフレームの次のフレームの各スロットに同期して、先のフレームで計算済みの設定周波数データ及び設定減衰量データの試験信号発生部に対する設定処理が実施される。計算済みの設定周波数データ及び設定減衰量データの設定処理に要する時間は、スロットの期間より十分短いので、GSM試験信号の各スロットに各周波数を十分設定することが可能となる。なお、各スロットに設定する各周波数に対する設定周波数データ及び設定減衰量データの算出時間は1フレームの周期に比較して十分短いので、1フレーム内で十分処理できる。
【0027】
さらに別の発明は、GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う手段とW―CDMA基地局との間でW−CDMA通信方式を用いて通信を行う手段とを有する移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによるGSM基地局間ハンドオーバー試験と、移動端末に対して送出しているGSM試験信号をW−CDMA試験信号に変更することによるGSM通信方式からW−CDMA通信方式へのシステム間ハンドオーバー試験とを選択的に実施するハンドオーバー試験方法に適用される。
【0028】
そして、上記課題を解消するために、GSM基地局間ハンドオーバー試験を実施する場合には、GSM試験信号における各フレーム毎に入力されるGSMフレーム割込信号に同期して入力された各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求に応じて、このGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出して、GSM周波数変更要求が入力されたフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する。
【0030】
このような構成のハンドオーバー試験方法においては、GSM通信方式における上述した発明における良好なGSM基地局間ハンドオーバー試験が実施できる。
【0032】
また別の発明においては、GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う手段とW―CDMA基地局との間でW−CDMA通信方式を用いて通信を行う手段を有する移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによるGSM基地局間ハンドオーバー試験と、移動端末に対して送出しているW−CDMA試験信号をGSM試験信号に変更することによるW−CDMA通信方式からGSM通信方式へのシステム間ハンドオーバー試験とを選択的に実施するハンドオーバー試験方法に適用される。
【0033】
そして、GSM基地局間ハンドオーバー試験を実施する場合には、GSM試験信号における各フレーム毎に入力されるGSMフレーム割込信号に同期して入力された各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求に応じて、このGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出する。そして、GSM周波数変更要求が入力されたフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する。
【0034】
このように構成されたハンドオーバー試験方法においては、GSM通信方式における上述した発明における良好なGSM基地局間ハンドオーバー試験が実施できる。
【0035】
さらに別の発明は、GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによってGSM基地局間ハンドオーバー試験を実施するハンドオーバー試験装置である。
【0036】
そして、GSM試験信号における各フレーム毎にGSMフレーム割込信号を入力するフレーム発生回路と、GSMフレーム割込信号に同期して各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求を送出する試験条件入力部と、試験条件入力部からのGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出する演算制御部と、GSM周波数変更要求が入力したフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを搬送波発生回路及び減衰器に設定して、指定された周波数及び所定の信号レベルを有したGSM試験信号を移動端末へ送出する試験信号送出部とを備えている。
【0037】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。
【0038】
図1は本発明の実施形態に係るハンドオーバー試験方法及びハンドオーバー試験装置が組込まれた移動端末試験装置の概略構成を示すブロック図である。図7、図8、図9と同一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明は省略する。
【0039】
この移動端末試験装置12内には、同一構成の2つの試験信号発生部13、14、送信系評価部15、演算制御部17、試験結果評価部18、試験条件入力部19、表示器20が組込まれている。
【0040】
一方の試験信号発生部13は、図9に示すW―CDMA試験信号a1又はGSM試験信号a2を、試験対象のGSM通信方式及びW−CDMA通信方式を用いて通信可能な移動端末1aに対して試験信号s1として送出する。他方の試験信号発生部14は、図9に示すW―CDMA試験信号a1又はGSM試験信号a2を、試験対象の移動端末1aに対して試験信号s2として送出する。
【0041】
送信系評価部15は移動端末1aからの応答信号bを受信して、この応答信号bに基づいて移動端末1aの送信機能を評価する。試験結果評価部18は、送信系評価部15から受領した送信機能評価を用いて移動端末1aの基地局間ハンドオーバー機能及びシステム間ハンドオーバー機能を評価し、評価結果を表示器20に表示する。
【0042】
例えば、パーソナルコンピュータ(PC)からなる試験条件入力部19は、操作者が操作入力した、周波数を指定したGSM周波数変更要求、周波数を指定したW−CDMA試験信号への変更要求、及び周波数を指定したGSM試験信号への変更要求を演算処理部17へ割込信号に同期して送出する。
【0043】
コンピュータからなる演算処理部17は、GSM周波数変更要求、W−CDMA試験信号への変更要求、及び周波数を指定したGSM試験信号への変更要求に基づいて、各試験信号発生部13、14に設定する設定周波数データDFW、DFG、設定減衰量データDAW AGを算出して、各試験信号発生部13、14に設定する。
【0044】
図2は、図1の移動端末試験装置12の要部を取出して示す詳細ブロック図である。
各試験信号発生部13、14は、試験信号送出部21とRF制御部22とで構成されている。RF制御部22内には、フレーム発生回路23、試験データメモリ24、設定周波数データメモリ25、設定減衰量データメモリ26が形成されている。
【0045】
そして、フレーム発生回路23は、図9に示すW―CDMA試験信号a1の10ms周期のフレーム、又はGMS試験信号a2の0.577msのスロットが8個組込まれて4.62ms周期のフレームを発生する。いずれの信号a1、a2のフレームを発生するかは、試験条件入力部19からのに指示に基づく。
【0046】
試験データメモリ24内には、W―CDMA試験信号a1の各フレームに組込む例えばPN符号列からなる試験データ、及びGMS試験信号a2の各スロットに組込む例えばPN符号列からなる試験データが記憶されている。
【0047】
設定周波数データメモリ25内には、演算制御部17で算出されたW―CDMA試験信号a1の設定周波数データDFW、又は演算制御部17で算出されたGMS試験信号a2のスロット毎の設定周波数データDFGが一時記憶される。
【0048】
設定減衰量データメモリ26内には、演算制御部17で算出されたW―CDMA試験信号a1の設定減衰量データDAW、又は演算制御部17で算出されたGMS試験信号a2のスロット毎の設定減衰量データDAGが一時記憶される。
【0049】
試験信号発生部13、14が試験条件入力部19(演算制御部17)でW―CDMA試験信号a1の送出を指定された場合、試験信号送出部21内において、試験データメモリ24から読出された試験データをフレーム組込回路27においてフレーム発生回路23から出力された10ms周期のフレームに組込んでミキサ28へ送出する。
【0050】
ミキサ28は、搬送波発生回路29から出力された周波数Fの搬送波信号をフレーム組込回路27から入力された信号で変調して減衰器(ATT)30へ送出する。減衰器(ATT)30は、入力された変調信号の信号レベルを所定レベルに調整して、W―CDMA試験信号a1として出力端子31から試験対象の移動端末1aへ送出する。
【0051】
搬送波発生回路29から出力される搬送波信号の周波数Fは設定周波数データメモリ25から読出されて設定された設定周波数データDFWにて定まる。また、減衰器(ATT)の減衰量30は設定減衰量データメモリ26から読出されて設定された設定減衰量データDAWにて定まる。
【0052】
一方、試験信号発生部13、14が試験条件入力部19(演算制御部17)でGSM試験信号a2の送出を指定された場合、試験信号送出部21内において、試験データメモリ24から読出された試験データをフレーム組込回路27においてフレーム発生回路23から出力された4.62ms周期のフレームにおける0.577msの各スロットに組込んでミキサ28へ送出する。
【0053】
ミキサ28は、搬送波発生回路29から出力されたスロット毎の周波数Fの搬送波信号をフレーム組込回路27から入力された信号で変調して減衰器(ATT)30へ送出する。減衰器(ATT)30は、入力された変調信号の信号レベルを所定レベルに調整して、GSM試験信号a2として出力端子31から試験対象の移動端末1aへ送出する。
【0054】
搬送波発生回路29から出力される搬送波信号のスロット毎の周波数Fは設定周波数データメモリ25から読出されてスロット毎に設定される各スロットの設定周波数データDFGにて定まる。また、減衰器(ATT)30のスロット毎の減衰量は設定減衰量データメモリ26から読出されてスロット毎に設定される各スロットの設定減衰量データDAGにて定まる。
【0055】
前記演算制御部17には、各試験信号発生部13、14がW―CDMA試験信号a1を出力期間中においても、フレーム発生回路23から10ms毎のW―CDMAフレーム割込信号が入力される。さらに、この演算制御部17には、各試験信号発生部13、14がGSM試験信号a2を出力期間中においても、フレーム発生回路23から4.62ms毎のGSMフレーム割込信号及び0.577ms毎のGSMスロット割込信号が入力される。
【0056】
また、この演算制御部17には、試験条件入力部19から、必要に応じて、GSMフレーム割込信号に同期して、各スロット及び各周波数Fを指定したGSM周波数変更要求が入力される。
さらに、この演算制御部17には、試験条件入力部19から、必要に応じて、GSM通信方式からW−CDMA通信方式へのシステム間ハンドオーバーにおいては周波数Fを指定したW―CDMA試験信号a1への変更要求、及び、W−CDMA通信方式からGSM通信方式へのシステム間ハンドオーバーにおいては周波数Fを指定したGSM試験信号a2への変更要求が入力される。
【0057】
この移動端末試験装置12は、図3に示すように、
(1) 一方の試験信号発生部13のみを用いたGSM基地局間、W―CDMA/GSMシステム間、及びGSM/W―CDMAシステム間の各ハンドオーバー試験(ハードハンドオーバー試験)
(2) 両方の試験信号発生部13、14を用いたGSM基地局間ハンドオーバー試験(ソフトハンドオーバー試験)
(3) 両方の試験信号発生部13、14を用いGSM/W―CDMAシステム間、及びW―CDMA/GSMシステム間の各システム間ハンドオーバー試験(ソフトハンドオーバー試験)
を実施することが可能である。
【0058】
ここでは、説明を簡単にするために、(1)の一方の試験信号発生部13のみを用いたGSM基地局間及びシステム間ハンドオーバー試験(ハードハンドオーバー試験)の処理手順を説明する。
【0059】
この場合、演算制御部17は、図4の流れ図に従って割込処理を実施する。
【0060】
S1にて、フレーム発生回路23からGSMフレーム割込信号が入力されると、試験条件入力部19からこのGSMフレーム割込信号に同期した各スロット及び各周波数Fを指定したGSM周波数変更要求が入力されている場合は(S2)、このスロット及び周波数Fを自己の指定メモリへ一時記憶し(S3)、変更指示フラグを1に設定する(S4)。なお、S2にて、GSM周波数変更要求が入力されていない場合は何もしない。
【0061】
図4におけるGSMスロット割込信号が入力されたときの演算制御部17が実施する割込処理を説明するまえに、演算制御部17が実施するメイン計算処理を図5を用いて説明する。
【0062】
Q1において、割込処理のS4にて設定した変更指示フラグ=1を検出するとと、自己の指定メモリに書込んだ各スロット及び各周波数Fを読出して、各スロットの設定周波数データDFGを算出して(Q2)、この算出した各スロットの設定周波数データDFGを試験信号発生部13のRF制御部22の設定周波数データメモリ25へ書込む(Q3)。さらに、自己の指定メモリに書込んだ各スロット及び各周波数Fを読出して、各スロットの設定減衰量データDAGを算出して(Q4)、この算出した各スロットの設定減衰量データDAGを試験信号発生部13のRF制御部22の設定減衰量データメモリ26へ書込む(Q5)。
【0063】
その後、周波数Fを設定したスロットの設定フラグを1に設定する(Q6)。さらに、周波数Fが設定していないスロットの設定フラグを0に解除する(Q7)。そして、最後に、変更指示フラグを0に解除する(Q8)。
【0064】
このように、演算制御部17は、割込処理ではなくてメイン計算処理において、GSM試験信号a2の各スロットに設定する周波数Fの設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGを算出する。
【0065】
そして、図4の流れ図におけるS5において、GSMスロット割込信号が入力されると、S6にて、該当スロットの設定フラグが1に設定されていた場合、試験信号発生部13のRF制御部22の設定周波数データメモリ25の該当スロットの設定周波数データDFGを読出して、試験信号送出部21の搬送波発生回路29へ設定する(S7)。さらに、試験信号発生部13のRF制御部22の設定減衰量データメモリ26の該当スロットの設定周波数データDFGを読出して、試験信号送出部21の減衰器(ATT)30へ設定する(S8)。
【0066】
なお、S6にて、該当スロットの設定フラグが1に設定されていない場合は、該当スロットに試験データが設定されていないので、周波数Fを設定する必要がないと判断して、なにもしない。
【0067】
図4の割込処理に関する流れ図におけるS9において、W−CDMAフレーム割込に同期して、W−CDMA試験信号a1への周波数Fを指定した変更割込信号が入力されると、この周波数Fから前述した設定周波数データDFWを算出して、試験信号発生部13のRF制御部22の設定周波数データメモリ25へ書込む(S10)。さらに、この前述した設定減衰量データDAWを算出して、RF制御部22の設定減衰量データメモリ26へ書込む(S11)。
【0068】
なお、この実施形態装置においては、W−CDMA基地局間のハンドオーバー試験は実施しないので、この図4の流れ図において、W−CDMAフレーム割込信号が入力された場合は(S13)、周波数を変更する必要はなく、周波数Fの設定周波数データD FW 及び設定減衰量データD AW は計算せず、設定周波数データメモリ25に記憶された設定周波数データDFWを試験信号送出部21の搬送波発生回路29へ設定するとともに、設定減衰量データメモリ26に記憶された設定減衰量データDAWを試験信号送出部21の減衰器(ATT)30へ設定する(S12)。
【0069】
このように構成された移動端末試験装置12における前述した(1)の一方の試験信号発生部13のみを用いたGSM基地局間及びシステム間ハンドオーバー試験(ハードハンドオーバー試験)を実施する場合におけるGSM試験信号a2、W―CDMA試験信号a1を作成する際の各割込信号、各割込処理、メイン処理のタイミングを図6のタイムチャートに示す。
【0070】
例えば、試験信号発生部13がGSM試験信号a2を出力期間中に、時刻t1、t2、t3、t4、…において、GSMフレーム割込信号(GSMF)が入力し、一つのGSMフレーム割込信号と次のGSMフレーム割込信号との間に8個のGSMスロット割込信号が入力する。そして、時刻t2のGSMフレーム割込信号に同期して、周波数変更要求が入力されたとする。
【0071】
各GSMスロット割込信号が入力する毎に、設定周波数データメモリ25及び設定減衰量データメモリ26の該当スロットの設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGが、搬送波発生回路29及び減衰器(ATT)30へ設定される。そして、時刻t2のGSMフレーム割込信号に同期して、周波数変更要求が入力されると、スロット及び周波数Fが指定メモリへ一時記憶される。
【0072】
すると、時刻t2にて、メイン計算処理が起動して、周波数変更指定された各スロットの設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGが算出されて、設定周波数データメモリ25及び設定減衰量データメモリ26に書込まれる。なお、この設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGの算出、書込処理は、時刻t2から時刻t3までの1GSMフレーム期間内で完了する。
【0073】
したがって、時刻t3のGSMフレーム割込信号以降、各GSMスロット割込信号に同期して変更後の周波数Fが指定スロットに設定されたGSM試験信号a2が試験信号発生部13から試験対象の移動端末1aへ送出開始される。よって、移動端末試験装置12においてはGSM基地局間ハンドオーバー試験が実施できる。
【0074】
時刻t5にて、W−CDMA試験信号a1への周波数Fを指定した変更割込信号(W−CDMA変更)が入力すると、試験信号発生部13からW−CDMA試験信号a1が出力されるので、この移動端末試験装置12から試験対象の移動端末1aへ送出されている試験信号が、GSM試験信号a2からW−CDMA試験信号a1へ変更される。よって、移動端末試験装置12においてはシステム間ハンドオーバー試験が実施できる。
【0075】
すなわち、W−CDMA試験信号a1への周波数Fを指定した変更割込信号が入力すると、指定された周波数Fを用いて設定周波数データDFW及び設定減衰量データDAWが算出されて、設定周波数データメモリ25及び設定減衰量データメモリ26に書込まれる。さらに、設定周波数データメモリ25及び設定減衰量データメモリ26の設定周波数データDFW及び設定減衰量データDAWが、搬送波発生回路29及び減衰器(ATT)30へ設定される。
【0076】
そして、このW−CDMA試験信号a1の出力期間中においては、W−CDMAフレーム割込信号に同期して、設定周波数データメモリ25及び設定減衰量データメモリ26の設定周波数データDFW及び設定減衰量データDAWが、搬送波発生回路29及び減衰器(ATT)30へ設定される。
【0077】
なお、この設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGの算出、書込、及び設定処理は、時刻t5から時刻t6までの1W−CDMAフレーム期間内で完了する。
【0078】
以上説明したように、W―CDMA通信方式で通信を実施する機能とGSM通信方式で通信を実施する機能とを有した移動端末1aにおいて、GSM通信方式のハンドオーバー試験を実施する場合は、設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGが算出されるフレームと、算出後の設定周波数データDFG及び設定減衰量データDAGが設定されるフレームとを異ならせている。
【0079】
一方、GSM基地局からW―CDMA基地局へのシステム間ハンドオーバー試験を実施する場合は、W―CDMA試験信号a1に必要な設定周波数データDFW及び設定減衰量データDAWの算出と、設定周波数データDFW及び設定減衰量データDAWの設定とを同一のフレームで実行させている。
【0080】
なお、図6のタイムチャートにおけるW―CDMA試験信号a1を出力期間中の時刻t6以降において、周波数Fを指定したGSMフレーム割込信号が入力されると、GSM試験信号a2への変更指示が入力されたと同じであり、試験信号発生部13は、W―CDMA試験信号a1に代えてGSM試験信号a2を出力開始するので、W―CDMA基地局からGSM基地局へのシステム間ハンドオーバー試験が実施される。
【0081】
よって、GSM基地局間ハンドオーバー試験及びシステム間ハンドオーバー試験を良好に実施できる。
【0082】
なお、両方の試験信号発生部13、14を使用した前述した(2)(3)で示す、両方の試験信号s1、sが同時に出力されている重複期間を含むソフトハンドオーバー試験も上述した試験手順で実施できる。
【0083】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のハンドオーバー試験方法及びハンドオーバー試験装置においては、GSM通信方式による設定周波数データ及び設定減衰量データの算出タイミングと、設定周波数データ及び設定減衰量データの設定タイミングとをずらしている。したがって、演算処理速度を増加することなく、GSM通信方式を採用した移動端末に対してのハンドオーバー試験を正確に実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態のハンドオーバー試験方法及びハンドオーバー試験装置が組込まれた移動端末試験装置の概略構成を示すブロック図
【図2】同実施形態の移動端末試験装置の要部を取出して示す詳細ブロック図
【図3】同実施形態の移動端末試験装置が実施可能なハンドオーバー試験の種類を示す図
【図4】同実施形態の移動端末試験装置における演算制御部の割込処理動作を示す流れ図
【図5】同実施形態の移動端末試験装置における演算制御部のメイン処理動作を示す流れ図
【図6】同実施形態の移動端末試験装置の動作を示すタイムチャート
【図7】ハンドオーバーを説明するための図
【図8】従来の移動端末試験装置の概略構成を示すブロック図
【図9】ハンドオーバー試験を実施するための各試験信号のフォーマットを示す図
【図10】システム間ハンドオーバー試験を実施するための試験信号のフォーマットを示す図
【図11】両方の試験信号発生部を用いたハンドオーバー試験手法を示す図
【符号の説明】
1a…移動端末
12…移動端末試験装置
13、14…試験信号発生部
15…送信系評価部
17…演算制御部
19…試験条件入力部
21…試験信号送出部
22…RF制御部
23…フレーム発生回路
24…試験データメモリ
25…設定周波数データメモリ
26…設定減衰量データメモリ
29…搬送波発生回路
30…減衰器(ATT)
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a handover test method and a handover test apparatus that perform a handover test on a mobile terminal.
[0002]
[Prior art]
  For mobile radio communication systems of mobile terminals such as mobile phonesInAs shown in FIG. 7 (a), the mobile terminal 1 has a base station 3 having jurisdiction over a zone (area) 2 in which the mobile terminal 1 is located and the frequency F assigned to the base station 3.1We are communicating with. When the user of the mobile terminal 1 moves to another zone 2a during a call, the base station 3a having jurisdiction over the zone 2a and the frequency F2Communicate with. In this case, the function of maintaining the call even if the user of the mobile terminal 1 moves to another zone 2a during the call is referred to as an inter-base station handover (hand over).
[0003]
A mobile terminal test apparatus for testing various functions of the mobile terminal 1 including the inter-base station handover function described above is configured as shown in FIG.
In this mobile terminal test apparatus 4, two test signal generators 5 and 6, a transmission system evaluation unit 7, and a test control unit 8 having the same configuration are incorporated. The test signal generators 5 and 6 send test signals s to the mobile terminal 1 to be tested on behalf of the base stations 3 and 3a adjacent to each other.1, S2Is sent out. The transmission system evaluation unit 7 receives the response signal b from the mobile terminal 1 and evaluates the transmission function of the mobile terminal 1 based on the response signal b. The test control unit 8 controls the operation of each unit 5-7.
[0004]
  The reason why the two test signal generators 5 and 6 having the same configuration are incorporated in the mobile terminal test apparatus 4 is that the mobile terminal 1 can receive both radio waves simultaneously as shown in FIG. NaSuch as overlapping parts of zone 2 and zone 2aThis is because a state located in the region can be assumed.
[0005]
As the simplest method (hard handover test) for performing a handover test between base stations using such a mobile terminal test apparatus 4, a test is performed from one test signal generator 5 to the mobile terminal 1 to be tested. Signal s1When the frequency F of the mobile station 1 is changed, the mobile terminal 1 accurately changes the test signal s1Test signal s after frequency change1The transmission system evaluation unit 7 evaluates whether or not the response signal b can be transmitted accurately.
[0006]
Further, as shown in FIG. 11, the frequency F is transmitted from one test signal generator 5 to the mobile terminal 1 to be tested.1Test signal1During a period during which the other test signal generator 6 transmits a frequency F to the mobile terminal 1 to be tested.2Test signal2To test the operation state of the mobile terminal 1 in the overlap period (soft handover test) can also be performed.
[0007]
Since the form of signals transmitted and received between the base stations 3 and 3a and the mobile terminal 1 varies depending on the communication method employed, the signal is transmitted from the test signal generators 5 and 6 to the mobile terminal 1 to be tested. Test signal s1, S2The signal configuration (format) may differ.
[0008]
FIG. 9 shows a W-CDMA test signal a employing a W-CDMA (Wideband Code Division Multiple Access) communication system, which is a typical communication system.1Signal configuration (format) and GSM test signal a adopting the GSM (Global System for Mobile European mobile communication system) communication system2The signal configuration (format) is shown.
[0009]
W-CDMA test signal a1, The period of one frame is 10 ms, and each frame has a frequency F corresponding to each base station.1, F2, FThree, ... are set. Of course, the same frequency may be set for a plurality of consecutive frames.
[0010]
Meanwhile, the GSM test signal a2In each frame, the period of one frame is 4.62 ms, and in each frame, eight slots each having a period of 0.577 ms are set. If necessary, each slot corresponds to a channel. The frequency is set. The GSM test signal a2Changes in the frequency in each slot are collectively changed for each frame.
[0011]
  On the other hand, as shown in FIG. 7B, a mobile having a function of performing communication with the W-CDMA base station 9 using the W-CDMA communication method and a function of performing communication with the GSM base station 9a using the GSM communication method. The terminal 1a is being developed. In the mobile terminal 1a having such a function, when the mobile terminal 1a moves from the zone 11 of the W-CDMA base station 9 to the zone 11a of the GSM base station 9a, the communication continues normally between the systems.HandoverIt is necessary to carry out this test.
[0012]
  In the mobile terminal test apparatus 4 shown in FIG.Handover10, for example, as shown in FIG. 10, the W-CDMA test signal a is sent from one test signal generator 5, for example.1When a GSM change interrupt is input during transmission to the mobile terminal 1a, the W-CDMA test signal a transmitted from the test signal generator 5 to the mobile terminal 1a from this time point is received.1GSM test signal a2Change to (hardHandovertest).
[0013]
As shown in FIG. 11, the W-CDMA test signal a is sent from one test signal generator 5.1Is transmitted from the other test signal generator 6 to the GSM test signal a.2Can also be implemented as a soft handover test for starting transmission of the message to the mobile terminal 1a.
[0014]
[Problems to be solved by the invention]
However, the mobile terminal test apparatus 4 that performs the handbar test shown in FIG. 8 still has the following problems to be solved.
[0015]
  As described above, the W-CDMA test signal a shown in FIG.1And GSM test signal a2The test signal generators 5 and 6 shown in FIG.1, A2Carrier wave generating circuit for generating a carrier wave and a test signal a to be output1, A2An attenuator for setting the signal level to a predetermined level is incorporated. For example, the carrier wave generation circuit is composed of a plurality of frequency dividers for obtaining a specified frequency from the frequency of the reference signal. The test control unit 8 then sends a test signal a1, A2When the frequency F to be incorporated into is determined,Test signal a 1 , A 2 So that the carrier wave has a frequency FSet frequency data D set for each frequency dividerFIs calculated and set in each frequency divider of the carrier wave generation circuit.
[0016]
Similarly, the test control unit 8 sends the test signal a1, A2When the frequency F to be incorporated into the signal is determined, the test signal a of the carrier wave of this frequency F1, A2Set attenuation amount data D set in the attenuator so that the output signal level of the signal becomes a predetermined signal level.AIs calculated and set to the attenuator.
[0017]
  Thus, the test signal a1, A2When the frequency F to be incorporated into is determined,Test signal a 1 , A 2 ofSet frequency data DFAnd set attenuation data DAAnd then, this calculated set frequency data DFAnd set attenuation data DAIs set to one or both of the test signal generators 5 and 6.
[0018]
In the test control unit 8 constituted by a computer, for example,
Set frequency data DFTime to calculate 0.663ms
Set frequency data DFSetting time 0.252ms
Set attenuation data DATime to calculate 0.046ms
Set attenuation data DATime to set 0.176ms
A total of 1.137 ms is required.
[0019]
This one frequency F is used as the test signal a.1, A2And the minimum time (1.137 ms) required to set the W-CDMA test signal a in FIG.1And GSM test signal a2Compare with W-CDMA test signal a1In this case, since the minimum time (1.137 ms) described above is shorter than the 10 ms period of one frame, which is the minimum time unit for frequency setting, the frequency F input in one frame is changed to the W-CDMA test signal a.1Can be incorporated into
[0020]
However, the GSM test signal a2, The minimum time (1.137 ms) described above is longer than 0.577 ms for one slot, which is the minimum time unit for frequency setting, so the frequency F input in one slot is used as the GSM test signal a.2There is a problem that can not be incorporated into.
[0021]
Note that the high-speed test control unit 8 may be employed to increase the calculation processing speed. However, if the high-speed test control unit 8 is employed, the manufacturing cost of the entire test apparatus is significantly increased.
[0022]
The present invention has been made in view of such circumstances, and by shifting the calculation timing of the set frequency data and the set attenuation amount data and the set timing of the set frequency data and the set attenuation amount data, the calculation processing speed is reduced. An object of the present invention is to provide a handover test method and a handover test apparatus capable of accurately performing a handover test for a mobile terminal adopting the GSM communication system without increasing.
[0023]
[Means for Solving the Problems]
The present invention implements a handover test between GSM base stations by sending a GSM test signal in which the frequency of each slot changes to a mobile terminal communicating with the GSM base station using the GSM communication system. Applied to the handover test method.
[0024]
  In order to solve the above problem, in the handover test method of the present invention, the GSM test signalInput in synchronization with the GSM frame interrupt signal input for each frame inThis GSM frequency change request is input in response to a GSM frequency change request specifying the frequency of each slot.WasWithin the frame, set frequency data for obtaining a specified frequency and set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level are calculated. After that, GSM frequency change request is inputWasIn synchronization with each slot in the next frame of the frame, the set frequency data and set attenuation amount data of the calculated slot are set in the carrier wave generation circuit and the attenuator of the test signal generator.
[0025]
In the handover test method configured as described above, when a GSM frequency change request is input, set frequency data and set attenuation data for each frequency set in each slot are calculated in this frame.
[0026]
Then, in synchronization with each slot of the next frame of this frame, setting processing for the test signal generation unit of the set frequency data and the set attenuation data calculated in the previous frame is performed. Since the time required for setting the calculated set frequency data and set attenuation amount data is sufficiently shorter than the slot period, it is possible to sufficiently set each frequency in each slot of the GSM test signal. Note that the calculation time of the set frequency data and the set attenuation amount data for each frequency set in each slot is sufficiently shorter than the cycle of one frame, so that sufficient processing can be performed within one frame.
[0027]
  Yet another invention communicates with a GSM base station using the GSM communication method.Means andCommunicates with W-CDMA base station using W-CDMA communication methodWith meansSending a GSM test signal whose frequency of each slot changes to the mobile terminalbyHandover between GSM base stationsTest,Changing the GSM test signal sent to the mobile terminal to a W-CDMA test signalFrom GSM communication system to W-CDMA communication systemInter-system handover testAnd selectivelyApplies to the implemented handover test method.
[0028]
  In order to solve the above problem, when performing a handover test between GSM base stations,Input in synchronization with the GSM frame interrupt signal input for each frame inThis GSM frequency change request is input in response to a GSM frequency change request specifying the frequency of each slot.WasWithin the frame, set frequency data for obtaining a specified frequency and set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level are calculated, and a GSM frequency change request is input.WasSynchronously with each slot in the next frame of the frame, set the set frequency data and set attenuation data of the corresponding slot to the carrier wave generation circuit and attenuator of the test signal generatorTo do.
[0030]
In the handover test method having such a configuration, a good GSM inter-base station handover test in the above-described invention in the GSM communication system can be performed.
[0032]
  In another invention, communication is performed with a GSM base station using the GSM communication method.Means andCommunicates with W-CDMA base station using W-CDMA communication methodHave meansTo send a GSM test signal whose frequency of each slot changes to the mobile terminalAccordingGSM inter-base station handover testWhen,Changing the W-CDMA test signal transmitted to the mobile terminal to a GSM test signalFrom W-CDMA communication system to GSM communication systemInter-system handover testAnd selectivelyApplies to the implemented handover test method.
[0033]
  AndWhen performing a GSM inter-base station handover test,GSM test signalInput in synchronization with the GSM frame interrupt signal input for each frame inThis GSM frequency change request is input in response to a GSM frequency change request specifying the frequency of each slot.WasWithin the frame, set frequency data for obtaining a specified frequency and set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level are calculated. And a GSM frequency change request is inputWasIn synchronization with each slot in the next frame of the frame, the set frequency data and set attenuation amount data of the calculated slot are set in the carrier wave generation circuit and the attenuator of the test signal generator.
[0034]
  In the handover test method configured as described above, a good GSM inter-station handover test in the above-described invention in the GSM communication system is performed.Can be implemented.
[0035]
Yet another invention provides a GSM base station handover test by sending a GSM test signal in which the frequency of each slot changes to a mobile terminal that communicates with a GSM base station using the GSM communication system. Is a handover test apparatus that implements
[0036]
  And GSM test signalA frame generation circuit for inputting a GSM frame interrupt signal for each frame, and in synchronization with the GSM frame interrupt signalGSM frequency change request specifying the frequency of each slotSendDoTest condition input sectionWhen,From the test condition input sectionGSM frequency change request is inputWasWithin a frame, set frequency data for obtaining a specified frequency and set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level are calculated.Arithmetic control unitThe set frequency data and the set attenuation amount data of the calculated slot are set in the carrier wave generation circuit and the attenuator in synchronization with each slot in the next frame of the frame in which the GSM frequency change request is input,A test signal sending unit for sending a GSM test signal having a specified frequency and a predetermined signal level to a mobile terminal;It has.
[0037]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0038]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a mobile terminal test apparatus in which a handover test method and a handover test apparatus according to an embodiment of the present invention are incorporated. The same parts as those in FIGS. 7, 8, and 9 are denoted by the same reference numerals, and detailed description of the overlapping parts is omitted.
[0039]
In this mobile terminal test apparatus 12, there are two test signal generators 13 and 14, transmission system evaluation unit 15, calculation control unit 17, test result evaluation unit 18, test condition input unit 19, and display device 20 having the same configuration. It is incorporated.
[0040]
One test signal generator 13 generates a W-CDMA test signal a shown in FIG.1Or GSM test signal a2Test signal s to mobile terminal 1a that can communicate using the GSM communication system and W-CDMA communication system to be tested.1Send out as The other test signal generation unit 14 is connected to the W-CDMA test signal a shown in FIG.1Or GSM test signal a2To the test target mobile terminal 1a.2Send out as
[0041]
The transmission system evaluation unit 15 receives the response signal b from the mobile terminal 1a, and evaluates the transmission function of the mobile terminal 1a based on the response signal b. The test result evaluation unit 18 evaluates the inter-base station handover function and the inter-system handover function of the mobile terminal 1a using the transmission function evaluation received from the transmission system evaluation unit 15, and displays the evaluation result on the display 20. .
[0042]
  For example, the test condition input unit 19 composed of a personal computer (PC) designates a GSM frequency change request specifying a frequency, a change request to a W-CDMA test signal specifying a frequency, and a frequency input by an operator. Request to change the GSM test signal to the arithmetic processing unit 17In sync withSend it out.
[0043]
  The arithmetic processing unit 17 composed of a computer is set in each of the test signal generators 13 and 14 based on a GSM frequency change request, a change request to a W-CDMA test signal, and a change request to a GSM test signal specifying a frequency. Setting tofrequencyData DFW, DFG,SettingAttenuationData DAW ,DAGIs calculated and set in each of the test signal generators 13 and 14.
[0044]
FIG. 2 is a detailed block diagram showing an essential part of the mobile terminal test apparatus 12 of FIG.
Each test signal generator 13, 14 includes a test signal transmitter 21 and an RF controller 22. In the RF control unit 22, a frame generation circuit 23, a test data memory 24, a set frequency data memory 25, and a set attenuation data memory 26 are formed.
[0045]
Then, the frame generation circuit 23 receives the W-CDMA test signal a shown in FIG.1Frame of 10 ms period, or GMS test signal a28 slots of 0.577 ms are incorporated to generate a frame having a period of 4.62 ms. Which signal a1, A2Whether to generate the next frame is based on an instruction from the test condition input unit 19.
[0046]
In the test data memory 24, the W-CDMA test signal a1Test data composed of, for example, a PN code string and GMS test signal a2Test data consisting of, for example, a PN code string to be incorporated into each slot is stored.
[0047]
In the set frequency data memory 25, the W-CDMA test signal a calculated by the arithmetic control unit 17 is stored.1Set frequency data DFWOr the GMS test signal a calculated by the arithmetic control unit 172Frequency data D for each slotFGIs temporarily stored.
[0048]
In the set attenuation data memory 26, the W-CDMA test signal a calculated by the arithmetic control unit 17 is stored.1Set attenuation data DAWOr the GMS test signal a calculated by the arithmetic control unit 172Set attenuation data D for each slotAGIs temporarily stored.
[0049]
  The test signal generators 13 and 14 are connected to the W-CDMA test signal a by the test condition input unit 19 (calculation control unit 17).1In the test signal sending unit 21, the test data read from the test data memory 24 is transferred to the frame built-in circuit 27.InIt is incorporated into a frame of 10 ms period output from the frame generation circuit 23 and sent to the mixer 28.
[0050]
The mixer 28 modulates the carrier signal of the frequency F output from the carrier generation circuit 29 with the signal input from the frame incorporation circuit 27 and sends it to the attenuator (ATT) 30. The attenuator (ATT) 30 adjusts the signal level of the input modulation signal to a predetermined level, so that the W-CDMA test signal a1Is sent from the output terminal 31 to the mobile terminal 1a being tested.
[0051]
The frequency F of the carrier wave signal output from the carrier wave generation circuit 29 is read from the set frequency data memory 25 and set frequency data D set.FWDetermined by Further, the attenuation amount 30 of the attenuator (ATT) is set from the set attenuation amount data D read out from the set attenuation amount data memory 26 and set.AWDetermined by
[0052]
  On the other hand, the test signal generators 13 and 14 are connected to the GSM test signal a by the test condition input unit 19 (calculation control unit 17).2Specified to sendIf the testIn the signal transmission unit 21, the test data read from the test data memory 24 is incorporated into each slot of 0.577 ms in the frame of the 4.62 ms cycle output from the frame generation circuit 23 in the frame incorporation circuit 27. 28.
[0053]
The mixer 28 modulates the carrier signal of the frequency F for each slot output from the carrier generation circuit 29 with the signal input from the frame built-in circuit 27 and sends the modulated signal to an attenuator (ATT) 30. The attenuator (ATT) 30 adjusts the signal level of the input modulation signal to a predetermined level, and the GSM test signal a2Is sent from the output terminal 31 to the mobile terminal 1a being tested.
[0054]
The frequency F for each slot of the carrier signal output from the carrier generation circuit 29 is read from the set frequency data memory 25 and set frequency data D for each slot set for each slot.FGDetermined by The attenuation amount for each slot of the attenuator (ATT) 30 is read from the set attenuation amount data memory 26 and set attenuation amount data D of each slot set for each slot.AGDetermined by
[0055]
  The arithmetic control unit 17 includes test signal generators 13 and 14 that receive W-CDMA test signals a.1During the output periodAnywayThe W-CDMA frame interrupt signal is input from the frame generation circuit 23 every 10 ms. Further, the arithmetic control unit 17 includes test signal generators 13 and 14 that receive the GSM test signal a.2During the output periodAnywayThe GSM frame interrupt signal every 4.62 ms and the GSM slot interrupt signal every 0.577 ms are input from the frame generation circuit 23.
[0056]
  In addition, a GSM frequency change request designating each slot and each frequency F is input to the arithmetic control unit 17 from the test condition input unit 19 in synchronization with the GSM frame interrupt signal as required.
  Further, the calculation control unit 17 has a test condition input unit 19 as required.In inter-system handover from GSM communication system to W-CDMA communication systemW-CDMA test signal a specifying frequency F1Request to change toIn inter-system handover from W-CDMA communication system to GSM communication systemGSM test signal a specifying frequency F2A change request to is entered.
[0057]
As shown in FIG. 3, the mobile terminal test apparatus 12 has
(1) Handover tests between GSM base stations, between W-CDMA / GSM systems, and between GSM / W-CDMA systems using only one test signal generator 13 (hard handover test)
(2) GSM base station handover test using both test signal generators 13 and 14 (soft handover test)
(3) Inter-system handover test between GSM / W-CDMA systems and between W-CDMA / GSM systems using both test signal generators 13 and 14 (soft handover test)
Can be implemented.
[0058]
Here, in order to simplify the description, the processing procedure of the inter-GSM base station and inter-system handover test (hard handover test) using only one test signal generator 13 of (1) will be described.
[0059]
In this case, the arithmetic control unit 17 performs an interrupt process according to the flowchart of FIG.
[0060]
  At S1,When a GSM frame interrupt signal is input from the frame generation circuit 23, Test condition input unit 19From thisGSM frame interrupt signalSynchronizedGSM frequency change request specifying each slot and each frequency FEnteredIn this case (S2), this slot and frequency F are temporarily stored in its own designated memory (S3), and the change instruction flag is set to 1 (S4). In S2, a GSM frequency change request is issued.inputIf not, do nothing.
[0061]
Before describing the interrupt process performed by the arithmetic control unit 17 when the GSM slot interrupt signal in FIG. 4 is input, the main calculation process performed by the arithmetic control unit 17 will be described with reference to FIG.
[0062]
When the change instruction flag = 1 set in S4 of the interrupt process is detected in Q1, each slot and each frequency F written in its designated memory are read, and the set frequency data D of each slot is read.FG(Q2), and the calculated set frequency data D of each slotFGIs written into the set frequency data memory 25 of the RF controller 22 of the test signal generator 13 (Q3). Further, each slot and each frequency F written in its designated memory are read, and set attenuation amount data D of each slot is read out.AGIs calculated (Q4), and the calculated set attenuation amount data D of each slot is calculated.AGIs written into the set attenuation data memory 26 of the RF controller 22 of the test signal generator 13 (Q5).
[0063]
Thereafter, the setting flag of the slot in which the frequency F is set is set to 1 (Q6). Further, the setting flag of the slot where the frequency F is not set is canceled to 0 (Q7). Finally, the change instruction flag is cleared to 0 (Q8).
[0064]
As described above, the arithmetic control unit 17 does not perform the interrupt process but the main calculation process in the GSM test signal a.2Set frequency data D of frequency F set in each slotFGAnd set attenuation data DAGIs calculated.
[0065]
Then, when a GSM slot interrupt signal is input in S5 in the flowchart of FIG. 4, if the setting flag of the corresponding slot is set to 1 in S6, the RF controller 22 of the test signal generator 13 Set frequency data D of the corresponding slot in the set frequency data memory 25FGIs set in the carrier wave generation circuit 29 of the test signal transmission unit 21 (S7). Further, the set frequency data D of the corresponding slot in the set attenuation data memory 26 of the RF controller 22 of the test signal generator 13.FGIs set in the attenuator (ATT) 30 of the test signal transmission unit 21 (S8).
[0066]
If the setting flag of the corresponding slot is not set to 1 in S6, it is determined that there is no need to set the frequency F because no test data is set in the corresponding slot, and nothing is done. .
[0067]
  Of FIG.Regarding interrupt processingIn S9 in the flowchart,Synchronously with W-CDMA frame interrupt, W-CDMA test signal a1Specified frequency F toChange interrupt signalIs input from the frequency F to the set frequency data D described above.FWIs calculated and written into the set frequency data memory 25 of the RF controller 22 of the test signal generator 13 (S10). Further, the set attenuation data D described aboveAWIs calculated and written into the set attenuation data memory 26 of the RF controller 22 (S11).
[0068]
  In this embodiment, since the handover test between W-CDMA base stations is not performed, in the flowchart of FIG. 4, when a W-CDMA frame interrupt signal is input (S13), the frequency is changed. Need to changeWithout setting frequency data D of frequency F FW And set attenuation data D AW Is not calculated,Setting frequency data D stored in the setting frequency data memory 25FWIs set in the carrier wave generation circuit 29 of the test signal transmission unit 21 and the set attenuation data D stored in the set attenuation data memory 26 is set.AWIs set in the attenuator (ATT) 30 of the test signal transmission unit 21 (S12).
[0069]
In the case of carrying out the inter-GSM base station and inter-system handover test (hard handover test) using only one of the test signal generators (1) described above in the mobile terminal test apparatus 12 configured as described above. GSM test signal a2, W-CDMA test signal a1The timing of each interrupt signal, each interrupt process, and the main process when creating the data is shown in the time chart of FIG.
[0070]
  For example, the test signal generator 13 generates a GSM test signal a2OutputDuring the period,Time t1, T2, TThree, TFour,..., A GSM frame interrupt signal (GSMF) is input, and eight GSM slot interrupt signals are input between one GSM frame interrupt signal and the next GSM frame interrupt signal. And time t2The frequency change request is synchronized with the GSM frame interrupt signal.EnteredAnd
[0071]
  Each time each GSM slot interrupt signal is input, the set frequency data D of the corresponding slot in the set frequency data memory 25 and the set attenuation data memory 26FGAnd set attenuation data DAGAre set to the carrier wave generation circuit 29 and the attenuator (ATT) 30. And time t2The frequency change request is synchronized with the GSM frame interrupt signal.EnteredThenslotAnd the frequency F are temporarily stored in the designated memory.
[0072]
Then, time t2Then, the main calculation process is started, and the set frequency data D of each slot designated to change the frequencyFGAnd set attenuation data DAGIs calculated and written to the set frequency data memory 25 and the set attenuation data memory 26. The set frequency data DFGAnd set attenuation data DAGIs calculated and written at time t2To time tThreeComplete within 1 GSM frame period.
[0073]
Therefore, time tThreeAfter the GSM frame interrupt signal, the GSM test signal a in which the changed frequency F is set in the designated slot in synchronization with each GSM slot interrupt signal2Is started to be sent from the test signal generator 13 to the mobile terminal 1a to be tested. Therefore, the mobile terminal test apparatus 12 can perform the GSM base station handover test.
[0074]
  Time tFiveW-CDMA test signal a1Change interrupt signal specifying frequency F(W-CDMA change)Is input from the test signal generator 13 to the W-CDMA test signal a.1Is output from the mobile terminal test apparatus 12 to the mobile terminal 1a to be tested, the GSM test signal a2To W-CDMA test signal a1Changed to Therefore, the mobile terminal test apparatus 12 can perform an inter-system handover test.
[0075]
That is, the W-CDMA test signal a1When the change interrupt signal designating the frequency F is input to the set frequency data D using the designated frequency FFWAnd set attenuation data DAWIs calculated and written to the set frequency data memory 25 and the set attenuation data memory 26. Further, the set frequency data D of the set frequency data memory 25 and the set attenuation data memory 26FWAnd set attenuation data DAWAre set to the carrier wave generation circuit 29 and the attenuator (ATT) 30.
[0076]
The W-CDMA test signal a1In the output period, the set frequency data D of the set frequency data memory 25 and the set attenuation data memory 26 are synchronized with the W-CDMA frame interrupt signal.FWAnd set attenuation data DAWAre set to the carrier wave generation circuit 29 and the attenuator (ATT) 30.
[0077]
The set frequency data DFGAnd set attenuation data DAGCalculation, writing, and setting processing are performed at time t.FiveTo time t6It is completed within 1W-CDMA frame period.
[0078]
As described above, when the GSM communication system handover test is performed in the mobile terminal 1a having the function of performing communication using the W-CDMA communication system and the function of performing communication using the GSM communication system, Frequency data DFGAnd set attenuation data DAGAnd the set frequency data D after the calculationFGAnd set attenuation data DAGIs different from the set frame.
[0079]
On the other hand, when the inter-system handover test from the GSM base station to the W-CDMA base station is performed, the W-CDMA test signal a1Frequency data D required forFWAnd set attenuation data DAWAnd set frequency data DFWAnd set attenuation data DAWAre executed in the same frame.
[0080]
Note that the W-CDMA test signal a in the time chart of FIG.1At time t during the output period6Thereafter, when a GSM frame interrupt signal designating the frequency F is input, the GSM test signal a2The test signal generator 13 receives the W-CDMA test signal a.1Instead of GSM test signal a2Therefore, the inter-system handover test from the W-CDMA base station to the GSM base station is performed.
[0081]
Therefore, the GSM inter-base station handover test and the inter-system handover test can be satisfactorily performed.
[0082]
It should be noted that both test signals s shown in the above (2) and (3) using both test signal generators 13 and 14 are used.1, S2The soft handover test including the overlapping period in which the two are simultaneously output can also be performed by the above-described test procedure.
[0083]
【The invention's effect】
  As described above, in the handover test method and the handover test apparatus of the present invention,According to GSM communication systemThe calculation timing of the set frequency data and the set attenuation data is shifted from the setting timing of the set frequency data and the set attenuation data. Therefore, it is possible to accurately perform a handover test for a mobile terminal adopting the GSM communication method without increasing the calculation processing speed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a mobile terminal test apparatus incorporating a handover test method and a handover test apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a detailed block diagram showing an essential part of the mobile terminal test apparatus according to the embodiment.
FIG. 3 is a diagram showing types of handover tests that can be performed by the mobile terminal test apparatus of the embodiment;
FIG. 4 is a flowchart showing an interrupt processing operation of an arithmetic control unit in the mobile terminal test apparatus of the embodiment;
FIG. 5 is a flowchart showing a main processing operation of an arithmetic control unit in the mobile terminal test apparatus of the embodiment;
FIG. 6 is a time chart showing the operation of the mobile terminal test apparatus according to the embodiment;
FIG. 7 is a diagram for explaining handover
FIG. 8 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional mobile terminal test apparatus.
FIG. 9 is a diagram illustrating a format of each test signal for performing a handover test.
FIG. 10 is a diagram showing a format of a test signal for performing an inter-system handover test
FIG. 11 is a diagram showing a handover test method using both test signal generators.
[Explanation of symbols]
  1a: Mobile terminal
  12 ... Mobile terminal test equipment
  13, 14 ...Test signal generator
  15 ... Transmitting system evaluation section
  17 ... Calculation control unit
  19 ... Test condition input section
  21 ... Test signal sending part
  22 ... RF control unit
  23. Frame generation circuit
  24 ... Test data memory
  25 ... Setting frequency data memory
  26: Set attenuation data memory
  29 ... Carrier wave generation circuit
  30 ... Attenuator (ATT)

Claims (4)

GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによってGSM基地局間ハンドオーバー試験を実施するハンドオーバー試験方法において、
前記GSM試験信号における各フレーム毎に入力されるGSMフレーム割込信号に同期して入力された各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求に応じて、このGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、前記指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出して、
前記GSM周波数変更要求が入力されたフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する
ことを特徴とするハンドオーバー試験方法。
A handover test for performing a handover test between GSM base stations by sending a GSM test signal in which the frequency of each slot changes to a mobile terminal that communicates with the GSM base station using the GSM communication system In the method
In response to a GSM frequency change request specifying the frequency of each slot inputted in synchronization with the GSM frame interrupt signal inputted for each frame in the GSM test signal, the GSM frequency change request is inputted in the frame. In the above, calculating the set frequency data for obtaining the specified frequency and the set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level,
Synchronously with each slot in the next frame of the frame in which the GSM frequency change request is input, set the set frequency data and set attenuation data of the corresponding slot in the carrier wave generation circuit and attenuator of the test signal generator A handover test method characterized by:
GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う手段とW―CDMA基地局との間でW−CDMA通信方式を用いて通信を行う手段とを有する移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによるGSM基地局間ハンドオーバー試験と、前記移動端末に対して送出しているGSM試験信号をW−CDMA試験信号に変更することによる前記GSM通信方式から前記W−CDMA通信方式へのシステム間ハンドオーバー試験とを選択的に実施するハンドオーバー試験方法において、
前記GSM基地局間ハンドオーバー試験を実施する場合、
前記GSM試験信号における各フレーム毎に入力されるGSMフレーム割込信号に同期して入力された各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求に応じて、このGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、前記指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出して、
前記GSM周波数変更要求が入力されたフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する
ことを特徴とするハンドオーバー試験方法。
The mobile terminal having means for communicating using the W-CDMA communication method between the means and the W-CDMA base station that performs communication using the GSM communication method with a GSM base station, each slot and hand-over study between GSM base station by sending a GSM test signal whose frequency varies in the GSM communication system by changing the GSM test signal being sent to the mobile terminal to the W-CDMA test signal In a handover test method for selectively performing an inter-system handover test from a system to the W-CDMA communication system ,
When performing the GSM base station handover test,
In response to a GSM frequency change request specifying the frequency of each slot inputted in synchronization with the GSM frame interrupt signal inputted for each frame in the GSM test signal, the GSM frequency change request is inputted in the frame. And calculating the set frequency data for obtaining the specified frequency and the set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level,
Synchronously with each slot in the next frame of the frame in which the GSM frequency change request is input, set the set frequency data and set attenuation data of the corresponding slot in the carrier wave generation circuit and attenuator of the test signal generator A handover test method characterized by:
GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う手段とW―CDMA基地局との間でW−CDMA通信方式を用いて通信を行う手段を有する移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによるGSM基地局間ハンドオーバー試験と、前記移動端末に対して送出しているW−CDMA試験信号をGSM試験信号に変更することによる前記W−CDMA通信方式から前記GSM通信方式へのシステム間ハンドオーバー試験とを選択的に実施するハンドオーバー試験方法において、
前記GSM基地局間ハンドオーバー試験を実施する場合、
前記GSM試験信号における各フレーム毎に入力されるGSMフレーム割込信号に同期して入力された各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求に応じて、このGSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、前記指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出して、
前記GSM周波数変更要求が入力されたフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、算出された該当スロットの設定周波数データ及び設定減衰量データを試験信号発生部の搬送波発生回路及び減衰器へ設定する
ことを特徴とするハンドオーバー試験方法。
The mobile terminal having means for communicating with the W-CDMA communication system with the means communicating with the W-CDMA base station using a GSM communication method with a GSM base station, each slot wherein by changing the handover test between GSM base station by sending a GSM test signal whose frequency varies, the W-CDMA test signal is sent to the mobile terminal to the GSM test signal W- In a handover test method for selectively performing an inter-system handover test from a CDMA communication system to the GSM communication system ,
When performing the GSM base station handover test,
In response to a GSM frequency change request specifying the frequency of each slot inputted in synchronization with the GSM frame interrupt signal inputted for each frame in the GSM test signal, the GSM frequency change request is inputted in the frame. In the above, calculating the set frequency data for obtaining the specified frequency and the set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level,
Synchronously with each slot in the next frame of the frame in which the GSM frequency change request is input, set the set frequency data and set attenuation data of the corresponding slot in the carrier wave generation circuit and attenuator of the test signal generator A handover test method characterized by:
GSM基地局との間でGSM通信方式を用いて通信を行う移動端末に対して、各スロットの周波数が変化するGSM試験信号を送出することによってGSM基地局間ハンドオーバー試験を実施するハンドオーバー試験装置において、
前記GSM試験信号における各フレーム毎にGSMフレーム割込信号(GSMF)を入力するフレーム発生回路(23)と、
前記GSMフレーム割込信号に同期して各スロットの周波数を指定したGSM周波数変更要求を送出する試験条件入力部(19)と、
該試験条件入力部からの前記GSM周波数変更要求が入力されたフレーム内において、前記指定された周波数を得るための設定周波数データ及び所定の出力信号レベルを得るための設定減衰量データを算出する演算制御部(17)と
前記GSM周波数変更要求が入力したフレームの次のフレームにおける各スロットに同期して、前記算出された該当スロットの設定周波数データ(DFG)及び設定減衰量データ(DAG)を搬送波発生回路(29)及び減衰器(30)に設定して、前記指定された周波数及び所定の信号レベルを有したGSM試験信号を前記移動端末へ送出する試験信号送出部(21)と
を備えたことを特徴とするハンドオーバー試験装置。
A handover test for performing a handover test between GSM base stations by sending a GSM test signal in which the frequency of each slot changes to a mobile terminal that communicates with the GSM base station using the GSM communication system In the device
A frame generation circuit (23) for inputting a GSM frame interrupt signal (GSMF) for each frame in the GSM test signal ;
A test condition input unit (19) for sending a GSM frequency change request designating the frequency of each slot in synchronization with the GSM frame interrupt signal ;
An operation for calculating set frequency data for obtaining the designated frequency and set attenuation data for obtaining a predetermined output signal level within a frame in which the GSM frequency change request from the test condition input unit is input. A control unit (17) ;
The GSM frequency change request in synchronization with each slot in the next frame of the frame input, set frequency data of the calculated corresponding slot (D FG) and set the attenuation data (D AG) a carrier wave generating circuit (29 ) And an attenuator (30), and a test signal sending unit (21) for sending a GSM test signal having the designated frequency and a predetermined signal level to the mobile terminal . A handover test apparatus.
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