JP3807062B2 - Recording method, phase shift detection circuit, and information apparatus using them - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、情報記録媒体への記録方法、及び記録した信号の品質を一定にするための位相ずれ検出回路及びそれらを用いた情報装置に関しており、特に高密度情報記録に対応した情報装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
記録型の光ディスクは大量の情報を記録でき、かつ媒体互換が可能な特徴を備えている。情報の再生はレーザ光を情報記録面に集光し、記録マークによって変調された反射光を検出して行う。情報の記録は再生光よりも大きなパワーのビームを情報記録面に照射することによって、記録マークを熱的に形成して行う。
【0003】
記録型の光ディスク媒体としては大きく(1)光磁気型、(2)相変化型、(3)穴あけ型の3種類があり、書き換え用途としては光磁気型が、1度だけ記録できるライトワンス用途としてはCD−Rに代表される有機色素を用いた穴あけ型が広く普及している。記録型光ディスクの高密度化には、より小さなマークを精密に形成する必要があるため、記録パワーの精密な制御が必要である。
【0004】
ところが、実際の光ディスク装置では周囲温度、レーザの波長、光スポットの歪等の動的な変動の影響のために光源の出力を一定に保ったとしても、情報記録面に所定の温度分布を得ることは難しい。
【0005】
このため、例えば特開平6−195713号公報に記載されているように、ユーザデータを記録する前にテスト領域において記録パワーの最適値を求める「試し書き」と呼ばれる技術が従来より光磁気ディスク、CD−Rに用いられている。
【0006】
従来の試し書き方式は図2に示すように密パターンと疎パターンを交互に記録し、再生信号から密パターンと疎パターンの平均レベルの差、すなわちアシンメトリΔVを検出して、それが略ゼロになる記録パワーPoを最適記録条件として求めるものである。記録パワーPがPoよりも小さいときには記録マークが所定の形状よりも小さいためΔVは負の値となり、記録パワーPがPoよりも大きいときには記録マークが所定の形状よりも大きくなりΔVは正の値となる。従って、適当な範囲で記録パワーを変化させてアシンメトリΔVを検出することによって最適記録パワーPoを求めることができる。この方法では記録マーク長が変化しても記録マーク幅が一定であるときに線形な応答を得ることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
従来のアシンメトリ検出の試し書き方式を相変化光ディスクに適応した場合に発生する問題点について以下に説明する。相変化光ディスクは、結晶とアモルファスの反射率の差を用いて情報を再生できるため、CD−ROM等の装置と同一の再生系を用いることができ、ROM型の光ディスクとの互換性に優れるという特徴がある。記録マークは記録膜をレーザビームで一端溶融したのち急冷して得られたアモルファスマークとして形成される。また、記録マークの消去は、結晶化温度以上、融点以下の温度に保持することによってアモルファスマークを結晶化させておこなわれる。一方で、記録時に一端溶融しても冷却速度が遅ければ再び結晶に戻る「再結晶化」という現象があり、記録マークの形状は到達温度の分布だけでなく、冷却条件も加味して決定されるという特徴がある。この点が相変化光ディスクと光磁気ディスク等その他の記録媒体との主なメカニズムの違いである。
【0008】
ここでは相変化光ディスクの一例としてGeSbTe系相変化材料を記録膜に用い、従来のアシンメトリ方式の試し書きの特性を測定した。ディスク試料の構成としては、基板として直径120mm、厚さ0.6mmのプラスチック基板を用い、その上にZnS−SiO2第1光干渉膜、GeSbTe系相変化記録膜、ZnS−SiO2第2光干渉膜、Al−Ti反射膜、UV保護膜を順次積層したものを用いた。基板にはトラックピッチ約0.7μmのランド・グルーブ記録用のトラック溝を形成した。記録波形は図3に示すような3つの記録レベルPw、Pe、Pbからなるものを用い、チャネルクロックをTwとして、チャネルビット長nTwの記録マークを形成するのにn−1個のTw/2幅パルスを照射した。データの変調方式としては、1Twがディスク上で長さ約0.2μmのマークとして形成されるような8−16変調方式を用いた。最短マーク長は3Tw、最長マーク長は14Twである。記録に用いた光スポットは波長680nmの半導体レーザを光源として開口数0.6の対物レンズで集光したものである。線速度は6m/sの条件で測定を行った。このディスクにランダム信号をオーバライトしたときのパワーマージンの中心値Poは記録パワーPw=10.5mW、消去パワーPe=3.8mWであった。試し書き時の記録パワーはPw:Pe=10.5(mW):3.8(mW)の比率で一定に保ちながら変化させた。ボトムパワーPbは0.5mWで一定とした。ここでは密パターンとして3Tw、疎パターンとして8Twのマークとスペースの繰り返しパターンを選んだ。
【0009】
記録パワーとアシンメトリ量ΔVの関係を図4に示す。図中の縦軸はアシンメトリ量ΔVを疎パターンの信号振幅で規格化したものである。アシンメトリ量ΔVは記録パワーが9〜14mWの範囲で右上がりの特性となったが、プラス側には15%まで変化するのに比較してマイナス側には3%程度しか変化しないことがわかった。また、記録パワーがPoより低パワー側では傾きが緩やかになる傾向がみられ、記録開始点付近で符号が逆転する現象も見られた。さらには、最適記録パワーPoのとき、0となるべきアシンメトリ量ΔVが0にならない。
【0010】
低パワー側でのこうした特性は、先に述べた記録時の再結晶化の影響である。疎パターンに比較して、密パターンではレーザの照射時間が短いために熱のこもりも小さく、より急熱・急冷条件になっており、密パターンの方が再結晶化量が小さく、この差は記録しきい値付近で顕著になるため、結果として疎パターンに比較して、密パターンの方がマーク幅が太くなる効果に因る。
【0011】
アシンメトリ量がプラス側とマイナス側で振れ量が異なり、かつ記録パワーに対してアシンメトリ量が一意に定まらない特性から、従来のアシンメトリ検出の試し書き方式を相変化光ディスクに適用した場合に、最適パワーPoを見つけるには、複雑な処理が必要になる。
【0012】
次に相変化光ディスクの書き換え寿命の特性について説明する。相変化光ディスクでも書き換えを繰り返すに従って劣化が進む。その主なものは(1)記録膜の流動、(2)反射率変化の2点である。記録膜の流動は記録時に記録膜を溶融させた状態での熱応力のために起こると考えられている。反射率の変化は記録膜の流動とも関わるが、熱的なストレスのために記録膜の組成の偏折や干渉膜材料の溶け込み等が原因であると考えられている。
【0013】
一例として実験に用いた相変化光ディスクの劣化特性を図5に示す。図5(a)は記録マーク長と流動の大きさの関係を示すものである。ここでは記録パワーをPoとして連続8万回のオーバライトを行った。各パターンはそれぞれマークとスペースの等しい繰り返しパターンであり、50バイトの間隔をあけて各々200バイトづつのブロックに分けての記録を行った。流動は初期の信号振幅が1/2以下に低下した領域の長さを各ブロックの始端と終端で測定した。図5(a)の表の縦軸は、始端との流動領域の長さである。図5(a)に見られるように、マーク長さが短いほど流動領域の長さが長く、3Twマークでは11Twマークに比較して2倍以上の長さである。流動が発生すると信号振幅の低下、ジッタの増大、反射光量レベルの低下等が発生することになる。
【0014】
また、図5(b)は3Twパターンと8Twパターンの平均反射光量レベルを初期値を100%として規格化して示している。書き換え回数の増加とともに平均反射光量レベルが低下するが、3Twと8Twではその低下のしかたが一致していない。これは、記録膜の劣化のスピードがマーク長に依存していることを示している。
【0015】
つまり、図5から、平均反射光量レベルの差であるアシンメトリ量は、書き換え回数によって変化することが分かる。従って、試し書きを行うテスト領域と実際にユーザデータを記録する領域の書き換え回数の違いがあれば正しい記録パワーを設定できないことになる。
【0016】
以上のように、従来のアシンメトリ検出による試し書きは(1)目標点検出の線形性及び一意性、(2)記録膜の劣化のマーク長依存性、の2つの観点から相変化光ディスクに適さないことがわかった。
【0017】
本発明の目的は、上記問題点を解決し、相変化光ディスクに適した試し書き方法を提供し、それを用いた情報装置を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】
本発明では、上記第1の目的を達成するため、以下の手段を用いた。
(1)疎パターンと密パターンを記録するとマーク長による劣化の違いが生じるため、ランダムマークパターン、好ましくは単一マークの繰り返しパターンの試し書きパターンを記録するように記録パワーを制御して試し書きを行う。
(2)記録パワーを変化させながらデータエッジとクロックエッジの位相ずれを検出し、等価的にジッタを測定して、最適な記録条件を求める。このとき、直接最適な記録条件を求めるか、あるいはジッタがしきい値以下になる記録しきい値を求め、それを定数倍して最適な記録条件を求めるようにする。
【0019】
このような方法による試し書きの有効性を以下説明する。図6は、記録パワーと、データエッジとクロックエッジとのジッタの関係を表している。ここでは、11Twのマーク/スペースを繰り返し記録するようにした場合と、同じランダムマークパターンを10回オーバライト(上書き記録)した場合のジッタを測定した。一般に光ディスクに用いられているECCコードの訂正能力は、再生データのビットエラー率が1/1000〜1/10000が限界であるため、ジッタ約15%がエラー発生しない上限である。従って、図6に示すように、ランダムマークパターンのオーバライト後の再生信号のジッタが15%以下になる記録パワーマージンの範囲の中心が試し書きの目標記録条件である。
【0020】
ここでは、試し書きが様々な光ディスクに対応するように、記録膜の組成、膜構成を変えたサンプルをディスクを5枚準備して同様の測定を行い、試し書きの観点で図7にまとめた。図7(a)の横軸はDC光による記録開始のしきい値とパルス記録のしきい値パワーとの比率ηであり、この値が大きいということはDC光が照射されて記録膜が一端溶融しても再結晶化によって結晶状態に戻ってしまう度合い、すなわち各ディスクの再結晶化のしやすさの度合いを示している。縦軸はジッタ15%における図6のカーブの傾きmを表す。図7(a)より明らかなように、ランダムマークパターンを記録するようにした場合(ランダム信号)ではηの値によってmの値が変化しているのに対して、11Tw繰り返しマークを記録するようにした場合(11Tw繰り返し信号)ではmの値が大きく一定である。記録のしきい値パワーPthを求める場合、mの値が大きいほど検出精度が高く、媒体による変化が小さいほど好ましいので、ランダム信号に比較して11Tw繰り返し信号の方が適している。両者の違いは、単一パターンの繰り返し信号のジッタではデータエッジの揺らぎが主体であるのに対して、ランダム信号のジッタにはエッジの揺らぎ成分の他に、マーク長に依存したシフト成分が含まれるためであると考えられる。
【0021】
図7(b)は最適パワーと記録しきい値パワーの比率αとη値との関係をまとめたものである。図より、特性の異なる5枚のサンプルディスクについて比率αは1.15〜1.30の範囲で分布しており、平均すると約1.25であることが判った。なお、特性の異なる他のディスクを考慮した場合でも比率αは1.1〜1.4の範囲になると考えられる。
【0022】
以上の検討結果から、上述の試し書き方法のうち、単一パターンを記録して、かつ記録のしきい値パワーPthをもとめ比率αを乗じることによって、最も高精度に最適パワーを求められることが分かった。このとき、低パワー側からパワーを徐々にスキャンさせていけば検出点は一意に定まるため、相変化光ディスクに適した試し書きが実現できる。
【0023】
なお、本方式は相変化光ディスクだけでなく光磁気ディスクや穴あけ型のライトワンス光ディスクにも適応可能である。
【0024】
【発明の実施の形態】
《実施例1》 試し書き方式
図1は本発明の位相ずれ検出手段の構成及びそれを用いた試し書きの実験結果を表す。図1(a)において、再生信号からPLL(Phase Locked Loop)回路を用いて抽出されたクロックと試し書きマークを再生したときのエッジパルス(データエッジパルス)とが位相比較器に入力され、両者の位相ずれ分の長さのパルスが生成される。このパルスは積分器によって位相誤差電圧にパルス幅−電圧変換されて、レベル比較器を通ることによって、位相誤差電圧がしきい値よりも大きい場合だけデータエッジパルスがエラーパルスとしてエラーエッジカウンタに転送されてカウントされる。同時に全エッジカウンタでは全データエッジをカウントし、規定値に達するとエラーエッジカウンタの動作をストップさせる。エラーエッジカウンタの値はCPUに取り込まれて処理される。こうした構成によって、全エッジカウンタでカウントされた全エッジ数の内PLLクロックとの位相差がしきい値よりも大きいものの割合として、ジッタ量をCPUに取り込むことができる。
【0025】
この方式の利点は、再生するセクタ内の記録感度むらやサーボ誤差の変動などの影響による位相誤差電圧の変動分を、パルス数として積算することによって平滑化することができ、測定の安定性が増すことである。また、直接位相誤差電圧をADコンバータ等を用いて取り込むよりも回路規模を小さくできるという長所もある。このように、PLLクロックとデータエッジの位相ずれを定量化することによって、ジッタアラナイザ等の測定器から得られるジッタと同等の物理量を光ディスク装置内で測定することが可能になる。
【0026】
図1(b)は本発明の位相ずれ検出方式を用いて試し書きを行った場合の実験結果である。媒体は図6に示したものと同じサンプルを用いた。積分器のゲインはウインドウ幅Tw±50%ずれたときに1.8Vの位相誤差電圧が得られる様に定めた。これは位相ずれ感度0.01V/degに相当する。レベル比較器のしきい値は0.8V(ウインドウ幅の±22%)、エッジカウンタの設定値は2560とした。試し書きパターンは11Twの繰り返し信号記録パワー条件はPw:Pe=11mW:4.5mWで一定とした。図に見られるようにエラーカウント数の記録パワーに対する変化は図6のジッタの特性と同じものが得られた。ジッタ15%に相当するしきい値はエラーカウント数が700に相当した。このときしきい値パワーPth=8.8mWが得られα=1.25倍することによって記録条件Po=11mWが得られた。これは図6の実測で得られた値10.8mWに対し、その誤差は2%以下であった。
【0027】
図8は実際に測定に用いた位相ずれ検出器の回路構成を示す。図中、SCLKはPLLクロック、RDGTはセクタのデータ領域に対応する再生ゲート、PCAはデータエッジパルス、PCBはPLLクロックからデータエッジと比較するパルスだけを抽出したパルス、RESETは積分器のリセット信号、S/Hは位相誤差電圧をサンプルホールドするための制御信号、UPはデータエッジがPLLクロックに比較して位相が進んでいる場合に位相進み量に相当する長さをもつパルス、DOWNはデータエッジがPLLクロックに比較して位相が遅れている場合に位相遅れ量に相当する長さをもつパルス、をそれぞれ表す。
【0028】
この回路の動作を説明するため、図9のタイミングチャートを用いて説明する。PLLクロックとデータの2値化信号(DLDATA)より位相を比較するためのパルスPCA信号、PCB信号を生成する。PCA信号、PCB信号の生成ブロックは図8には示していない別のゲートアレイを用いるが、論理自身は平易であり、周知の手段により生成することができる。PCA信号及びPCB信号からD−フリップフロップとNANDゲートを用いて2つのパルスUP信号とDOWN信号を生成する。UP信号とDOWN信号の論理和すなわちPCA信号とPCB信号の排他的論理和によって位相ずれパルスを得ることができる。これを積分器で1.5Twの期間積分し、RESET信号によりリセットして、積分器の出力(Integrator output)信号とする。積分開始から0.5Twの時点でS/Hによりサンプルホールドを行いレベル比較器の入力(Comparator input)信号とし、レベル比較器で位相ずれのしきい値(Slice level)と比較することによってエラーパルス(Error pulse)信号を得ることができる。本発明では他にエラーパルスとデータエッジの2つのカウンタが必要であるが、簡易な構成であり、周知であるため、ここでは説明を省略する。
【0029】
ここでは位相ずれの検出方法として位相ずれの大きなデータエッジをパルス化してカウントする方法を示したが、上に述べた位相ずれパルスを積分することによって得られる位相ずれ電圧を直接検出して位相ずれ量を求めることもできる。その際には積分値が時間的に揺らぐため、さらに低域パスフィルタ−等を加えて時間的な揺らぎを抑圧してからADコンバータ等で検出するとよい。
【0030】
次にエラーエッジのカウント数とレベル比較器のしきい値、及びジッタとの関係を説明する。図10はエラーエッジのカウント数とレベル比較器のしきい値の関係を示す。先に述べたように積分器の感度は0.01V/degに設定したので位相ずれ±Tw/2はしきい値電圧V1=1.8Vに相当する。ここでは、ジッタが25%(最大値相当)と8%(最小値相当)の場合について検討した。エラーエッジ数は位相ずれのしきい値電圧以上の位相ずれがあるデータエッジのカウント数なので、位相ずれのしきい値電圧を大きくするほどエラーエッジ数は小さくなる。再生信号とクロックのジッタが25%と8%の場合、エラーエッジ数の差が最大となる条件はしきい値電圧V1=0.8Vであった。記録のしきい値ジッタ約15%は両者の間にある。このときジッタの変化に対するエラーエッジ数の変化が最大となり、記録しきい値を見出す試し書きの感度を最大にすることができる。
【0031】
図11はジッタ分布とエラーエッジ数としきい値電圧の関係を摸式的に表したものである。図に示したようにジッタ分布に対して、位相ずれのしきい値電圧以上の位相ずれがある部分、すなわち図中のハッチング部分のエッジがエラーエッジとなり、カウントされる。
【0032】
図12はジッタとエラーエッジ数の関係を測定した結果である。ジッタが増加に伴ってエラーエッジ数が直線的に増加することが判る。従って、エラーエッジ数を検出することで等価的にジッタを測定することが可能であることが確かめられた。ジッタがゼロのときにエラーエッジ数がゼロにならないのは、位相ずれ検出回路のオフセツト、及び応答速度に依存するものであり、位相ずれが小さくなると回路素子が動作しなくなり、UP及びDOWNパルスが発生しなくなることが主因と考えられる。実験に用いたディスクリートIC回路構成によって特性が異なる。しかしながら、検出したいジッタ値15%に対して検出範囲は7%から25%までは確認されたので、試し書きをする上で実用上の問題はない。こうした回路をLSI化するときにも検出範囲と線形性に関する配慮が不可欠である。同様に、位相ずれのしきい値電圧と検出目標となるエラーエッジ数についても、検出感度が低くならないように考慮する必要がある。このようにすれば図1(b)に示したようなパワーとエラーカウントの関係が得られる。本方式では記録しきい値付近で記録パワーの変化に対するエラーカウント数の変化がおおきいため、温度変化や電源電圧変化によって実効的にしきい値電圧V1が変動したとしても、記録パワーを決定する上での誤差を小さくできる。
【0033】
図13は本発明の試し書きのシーケンス(手順)をフローチャートとして示したものである。以下、この手順につき説明する。
【0034】
試し書き処理においては先ず、試し書き準備として所定のトラックにアクセスし、記録パワー等を設定する。このとき、ディスクの撓みの影響等を考慮して、ディスクの内周側の所定領域及び外周側の所定領域等の複数の領域で試し書きを行うようにすると良い。
【0035】
次に試し書きするトラックの再生を試みてトラックチェックを行う。このとき、再生信号からゴミ、キズ、流動等による急峻なレベル変化がある場合には、欠陥を検出したと判別して、別のトラックに移動して同様のトラックチェック処理を繰り返し、欠陥のないトラックに移動する。
【0036】
次に試し書きをするトラックの再生信号の中にデータが記録されているかどうかを判定する。信号があった場合にはDC光による消去動作を行い、トラックに信号が記録されていない状態にする。具体的な欠陥及び信号の検出方法としては、データ信号が1MHz以上の高域の周波数成分が主で、欠陥は100kHz以下の低域の周波数成分が主であることを利用する方法がある。再生信号をフィルタリングして帯域分離した後、それぞれをエンベロープ検波して得た上エンベロープと下エンベロープの差をとれば、データ振幅及び欠陥による信号歪みを検出できる。
【0037】
次に、試し書きトラックのセクタごとにパワーを変化させてディスクに試し書きマーク(ここでは11Tw繰り返しマークあるいはランダムマークパターン)を記録をする。このとき、一般に記録パワー条件の切り替えを瞬時に行うことは難しいため、1セクタおきに記録を行い、記録と記録の間のセクタでパワー設定を行うようにしても良い。
【0038】
情報装置では、11Tw繰り返しマークを記録するのであったら、11Tw繰り返しマークを記録するように制御を行うが、本発明の試し書きでは徐々に記録パワーを変えながら記録するので、ディスク上に記録される試し書きマークは必ず同じマーク長(11Twに相当するマーク長)になるとは限らないことはいうまでもない。なお、このとき、記録パワーは、初めは小さなパワーとし、徐々に大きな記録パワーとするようにして試し書きマークを記録する。これは、初めに大きなパワーから試し書きを行うこととすると、最適記録パワーよりも大きなパワーで試し書きを行う場合もあり、ディスクを傷めてしまう可能性があるからである。また、記録パワーは、PwとPeの比率が一定になるように変化させて走査するようにする。これは、ディスクごとの感度ばらつきや、収差によるスポット歪み等はパワーに換算することができるためである。こうした変動を試し書きで補正するには比率一定のパワー走査が適するが、記録パワーPwのみまたは消去パワーPeのみを変化させても構わない。パワーの変化率としては検出感度と処理時間の兼ね合いから2%−5%の範囲で徐々に変化させることが適当である。
【0039】
次に記録した試し書きマークを再生してエラーエッジ数を読みとる。全エッジカウンタでは全データエッジをカウントし、規定値に達するとエラーエッジカウンタの動作をストップさせるようにして、その中に含まれるエラーエッジ数を読み取るようにする。全データエッジ数は、ディスクフォーマット等によって決まっているので、情報装置にこれを記憶させておけばよい。このとき、上述の通り、試し書きマークは徐々に記録パワーを変えながら記録されており、ディスク上に記録されているマーク長が記録パワーの影響を受けて変動している場合があるので、試し書きマークを再生したときには、当然にPLLクロック信号とマークエッジとの位相がずれることになり、これがエラーエッジパルスとして検出されることになる。
【0040】
ここではセクタ内にゴミや欠陥があった場合の影響を軽減するため、1セクタを4つの領域に分け各領域ごとにエラーエッジをカウントし、得られた4つの結果から最大値、最小値を除いた残りの2点の平均カウント数を求める。これにより、ゴミや欠陥がセクタにあったとしてもその大きさがセクタの1/4以下ならば検出結果から排除することができるようにした。また、媒体の記録感度の周方向のむらの影響を軽減するために、連続する3つの測定値をセクタのエラーエッジ数の1:2:1の比率で加重平均をとっている。
【0041】
こうして求めたエラーエッジ数が記録のしきい値条件を満たすまで、記録と再生を繰り返し、記録のしきい値パワーPthを求める。
【0042】
さらに、定数α(=約1.25)を乗じて最適記録パワーPoを求める。このPoを記録パワーPwとするのだが、記録パワーPwと消去パワーPeは一定の比率であるため、Pwが求まればPeも一義的に求められることはいうまでもない。
【0043】
このようにして求めた最適記録条件を光ディスク装置が記憶しておき、実際にデータを記録するときには、この最適記録条件に従ってデータの記録を行うようにする。
【0044】
なお、試し書きは、ディスクを交換したときに行うこととしたが、試し書き終了後にデータを記録したときにいわゆるRAW(Read After Write)等によって記録パワーに異常があることが分かったときにも行うようにするとよい。ここでは、繰り返しパターンのマーク長を11Twとした場合について説明した。特に11Twに限られるものではないが、あまり短いマーク長であると、上述したような流動が大きくなったり、マークを記録するときに隣接するマークについて熱的影響を与えることもあるので、ある程度長いマーク長とした方が好ましい。
【0045】
図14は図13のシーケンスに従って、実際に試し書きを行ったときの記録パワーとエラーエッジ数との関係を示している。使用した光ディスクのフォーマットはセクタサイズ2kByteである。エラーパルスの生成及び検出には専用に開発したLSIを用いた。セクタを4領域に分割して処理するため、各領域内の信号の全エッジ数は864(360h)とした。また、エラーエッジカウンタとしてLSIに内蔵したものは8bitのカウンタである。この構成ではジッタ15%に相当するエラーエッジ数が128(80h)になるように位相エラーの検出しきい値を設定している。図14に示すエラーエッジ数は上のシーケンスに従って、1セクタおきにデータを記録し、再生時にセクタ内4分割平均化処理、及びセクタ間の平均化処理を施した値である。図14より、記録しきい値パワー(Pth)が10mW、最適記録パワー(Po)が12.5mWとなった。しきい値パワー及び、最適パワーの値は、別途ジッタアナライザを用いて測定した結果と一致したことは言うまでもない。本方法と1万回連続して実行した結果、記録パワーの検出結果は12.5mW±3%となり、十分な精度があることが分かった。
【0046】
図15は本発明の別の実施例のシーケンスを表す。ここでは、記録しきい値パワーを求めるのではなく、実際にオーバライトを行いジッタが最小となる記録パワーを直接求める方法について説明する。
【0047】
本シーケンスでは、セクタに記録データがないことを確認した後、パワーを変化させながら1セクタおきにオーバライトを行う。このとき、より正確に最適パワーを求めるために同じセクタに同一パワーで少なくとも2回連続して記録を行う。このときのエラーパルスの数が最小になる条件を求め、それを記録条件とするものである。本方法では最適条件よりも大きなパワーでのオーバライトが必要になるため、媒体の流動劣化を速めてしまうが、直接オーバライト時のジッタ最小パワーを求められる利点がある。記録する信号としては、特定マーク長さの繰り返し信号でも、媒体のフォーマット及びサーティファイに用いるデータパターン(ランダム信号)でもよい。再生系の設定は、記録する信号の平均マーク長さの違いに応じて全エッジカウンタの設定を変更するだけで基本的シーケンスは同じである。
【0048】
図16は図15のシーケンスに従って試し書きを行った時の記録パワーとエラーカウント数の関係を示している。エラーカウント数が最小になる条件として最適パワー12.5mWを求めることができる。
【0049】
《実施例2》情報装置
実施例1の試し書き方法および位相ずれ検出方法を実装した情報装置の一例を図17を用いて説明する。光ディスク媒体8はモータ162により回転される。中央制御手段151によって指令された光強度になるように光強度制御手段171は光発生手段131を制御して光122を発生させ、この光122は集光手段132によって集光され光スポット7を光ディスク媒体8上に形成する。この光スポット7からの反射光123を用いて、光検出手段133で検出する。この光検出手段は複数に分割された光検出器から構成されている。再生手段191は、この光検出器からの再生信号130を用いて、光ディスク媒体上に記録された情報を再生する。
【0050】
再生手段191には実施例1に示した試し書き信号の検出手段が内蔵されている。また、試し書き時に実施例1に示したように記録パワー変化させながら試し書きパターンの記録を行う機能、試し書き信号検出手段で検出された試し書き信号を取り込む機能及び取り込み結果を処理して最適パワーを決定する機能は中央制御手段151が有している。
【0051】
本発明の情報装置を用いれば、感度の違う媒体や光スポットの変動を補正して最適な記録パワーを求めることができるため、安定して高密度の情報の記録再生が可能になる。
【0052】
ここでは、ジッタがしきい値以下になる低パワー側の条件を求め、それに定数を乗ずることによって記録パワーの最適化をする実施例を示した。同様の装置構成で(1)エラーカウントが最小(ジッタが最小)となる条件を求めることも、(2)ジッタがしきい値以下となる低パワー側の条件と高パワー側の条件を求め、それらの略平均値となるパワー条件を求めることも容易である。
【0053】
なお、本発明の主旨は再生信号の品質を位相ずれ量として検出することによって記録条件を最適化することにあり、相変化光ディスクだけでなく光磁気ディスクや穴あけ型のライトワンス光ディスク、さらには磁気ディスク等にも適応可能である。磁気ディスクや一部の光磁気ディスクの場合、上に述べたレーザパワーに相当する記録条件の制御量は媒体に印加する磁界の強さになるため、磁界の強さを変化させながら位相ずれ量を検出すればよい。
【0054】
【発明の効果】
本発明によれば、データを記録するときの最適記録条件が確実に得られ、安定した高密度記録が可能になる。特に相変化光ディスクの特性に適した試し書きが行えるため、従来の試し書き方法では最適記録条件を求めることができなかった相変化光ディスクに対しても最適記録条件が確実に得ることができ、安定した高密度記録を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の位相ずれ検出方式の構成及びそれを用いた試し書きの実験結果。
【図2】従来のアシンメトリ量を検出する試し書き方式の摸式図。
【図3】記録波形を表す図。
【図4】従来のアシンメトリ方式を相変化ディスクに適応した場合の特性を示す図。
【図5】相変化光ディスクの書き換えによる流動と反射率の変化を示す図。
【図6】記録パワーとデータエッジとクロックエッジのジッタの関係。
【図7】各ディスクにおける試し書きの感度と比率αの関係を表す図。
【図8】本発明の位相ずれ検出器の回路の構成を示す一実施例。
【図9】本発明の位相ずれ検出器の回路動作を表すタイミングチャート。
【図10】エラーエッジ数とレベル比較器のしきい値の関係を示す図。
【図11】ジッタ分布とエラーエッジ数としきい値電圧の関係を摸式的に表した図。
【図12】ジッタとエラーエッジ数の関係を示す図。
【図13】本発明の試し書きのシーケンスの一実施例。
【図14】本発明における記録パワーとエラーエッジ数との関係を示す図。
【図15】本発明の試し書きのシーケンスの別の実施例。
【図16】本発明における記録パワーとエラーエッジ数との関係を示す図。
【図17】本発明の情報装置の構成を示す図。
【符号の説明】
7…光スポット、8…光ディスク媒体、131…光発生手段、132…集光手段、133…光検出手段、151…中央制御手段、191…再生手段。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a recording method on an information recording medium, a phase shift detection circuit for making the quality of a recorded signal constant, and an information apparatus using them, and particularly to an information apparatus compatible with high-density information recording.
[0002]
[Prior art]
A recordable optical disc has a feature capable of recording a large amount of information and being compatible with a medium. Information is reproduced by condensing laser light on the information recording surface and detecting reflected light modulated by the recording mark. Information recording is performed by thermally forming a recording mark by irradiating the information recording surface with a beam having a power higher than that of the reproduction light.
[0003]
There are three types of recordable optical disc media: (1) magneto-optical type, (2) phase change type, and (3) drilling type, and the magneto-optical type is a write-once application that can record only once. For example, a drilling type using an organic dye typified by CD-R is widely used. In order to increase the recording density of a recording optical disk, it is necessary to precisely form a smaller mark, so that precise control of recording power is required.
[0004]
However, in an actual optical disk apparatus, a predetermined temperature distribution is obtained on the information recording surface even if the output of the light source is kept constant due to the influence of dynamic fluctuations such as ambient temperature, laser wavelength, and light spot distortion. It ’s difficult.
[0005]
For this reason, as described in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 6-195713, a technique called “trial writing” for obtaining an optimum value of recording power in a test area before recording user data is conventionally known as a magneto-optical disk, Used for CD-R.
[0006]
In the conventional test writing method, as shown in FIG. 2, the dense pattern and the sparse pattern are alternately recorded, and the difference between the average levels of the dense pattern and the sparse pattern, that is, the asymmetry ΔV is detected from the reproduction signal, and it is substantially zero. Is obtained as the optimum recording condition. When the recording power P is smaller than Po, the recording mark is smaller than the predetermined shape, so ΔV is a negative value. When the recording power P is larger than Po, the recording mark is larger than the predetermined shape, and ΔV is a positive value. It becomes. Therefore, the optimum recording power Po can be obtained by detecting the asymmetry ΔV while changing the recording power within an appropriate range. In this method, a linear response can be obtained when the recording mark width is constant even if the recording mark length changes.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
Problems that occur when the conventional asymmetry detection test writing method is applied to a phase change optical disk will be described below. Since the phase change optical disk can reproduce information using the difference in reflectance between crystal and amorphous, it can use the same reproduction system as an apparatus such as a CD-ROM and is excellent in compatibility with a ROM type optical disk. There are features. The recording mark is formed as an amorphous mark obtained by melting the recording film with a laser beam at one end and then rapidly cooling it. The recording mark is erased by crystallizing the amorphous mark by maintaining the temperature at a temperature higher than the crystallization temperature and lower than the melting point. On the other hand, even if one end melts during recording, there is a phenomenon called `` recrystallization '' that returns to the crystal again if the cooling rate is slow, and the shape of the recording mark is determined not only by the distribution of the reached temperature but also by cooling conditions. There is a feature that. This is the main mechanism difference between the phase change optical disk and other recording media such as a magneto-optical disk.
[0008]
Here, a GeSbTe phase change material was used as a recording film as an example of a phase change optical disk, and the characteristics of a conventional asymmetry type test writing were measured. As a configuration of the disk sample, a plastic substrate having a diameter of 120 mm and a thickness of 0.6 mm is used as a substrate, and a ZnS-SiO2 first optical interference film, a GeSbTe phase change recording film, and a ZnS-SiO2 second optical interference film are formed thereon. A film in which an Al—Ti reflective film and a UV protective film are sequentially laminated is used. A track groove for land / groove recording having a track pitch of about 0.7 μm was formed on the substrate. A recording waveform having three recording levels Pw, Pe, and Pb as shown in FIG. 3 is used, and n-1 Tw / 2 is used to form a recording mark having a channel bit length nTw with a channel clock Tw. A width pulse was irradiated. As a data modulation method, an 8-16 modulation method in which 1 Tw is formed as a mark having a length of about 0.2 μm on the disk was used. The shortest mark length is 3 Tw, and the longest mark length is 14 Tw. The light spot used for recording is a light beam condensed by an objective lens having a numerical aperture of 0.6 using a semiconductor laser having a wavelength of 680 nm as a light source. The linear velocity was measured under the condition of 6 m / s. The center value Po of the power margin when the random signal was overwritten on this disk was the recording power Pw = 10.5 mW and the erasing power Pe = 3.8 mW. The recording power at the time of trial writing was changed while maintaining a constant ratio of Pw: Pe = 10.5 (mW): 3.8 (mW). The bottom power Pb was constant at 0.5 mW. Here, 3Tw as a dense pattern and 8Tw as a sparse pattern and a repeated pattern of spaces are selected.
[0009]
FIG. 4 shows the relationship between the recording power and the asymmetry amount ΔV. The vertical axis in the figure is obtained by normalizing the asymmetry amount ΔV with the signal amplitude of the sparse pattern. The amount of asymmetry ΔV was increased to the right when the recording power was in the range of 9 to 14 mW, but it was found that it changed only about 3% on the minus side compared to 15% on the plus side. . In addition, there was a tendency for the slope to become gentler when the recording power was lower than Po, and a phenomenon that the sign was reversed near the recording start point was also observed. Furthermore, at the optimum recording power Po, the asymmetry amount ΔV that should be zero does not become zero.
[0010]
These characteristics on the low power side are the effect of recrystallization during recording as described above. Compared to the sparse pattern, the dense pattern has a shorter laser irradiation time, so the heat accumulation is smaller and the conditions are more rapid heating / cooling, and the dense pattern has a smaller amount of recrystallization. This becomes prominent near the recording threshold value, and as a result, the dense pattern has a larger mark width than the sparse pattern.
[0011]
Optimum power when the conventional asymmetry detection test writing method is applied to a phase change optical disk because the amount of shake differs between the plus and minus sides and the asymmetry amount is not uniquely determined with respect to the recording power. Finding Po requires complex processing.
[0012]
Next, the characteristics of the rewrite life of the phase change optical disk will be described. Even with a phase change optical disk, deterioration progresses as rewriting is repeated. The main points are (1) recording film flow and (2) reflectance change. The flow of the recording film is considered to occur due to thermal stress in a state where the recording film is melted during recording. The change in reflectivity is related to the flow of the recording film, but is considered to be caused by a deviation in the composition of the recording film or the penetration of the interference film material due to thermal stress.
[0013]
As an example, the deterioration characteristics of the phase change optical disk used in the experiment are shown in FIG. FIG. 5 (a) shows the relationship between the recording mark length and the flow size. Here, continuous overwriting was performed 80,000 times with the recording power Po. Each pattern is a repetitive pattern having the same mark and space, and recording was performed by dividing the block into 200-byte blocks with an interval of 50 bytes. For the flow, the length of the region where the initial signal amplitude decreased to ½ or less was measured at the start and end of each block. The vertical axis of the table in FIG. 5A is the length of the flow region with respect to the start end. As can be seen in FIG. 5A, the shorter the mark length, the longer the flow region, and the 3Tw mark has a length twice or more that of the 11Tw mark. When the flow occurs, a decrease in signal amplitude, an increase in jitter, a decrease in the amount of reflected light, and the like occur.
[0014]
FIG. 5B shows the average reflected light amount level of the 3Tw pattern and the 8Tw pattern normalized with an initial value of 100%. As the number of rewrites increases, the average amount of reflected light decreases, but the decrease is not the same between 3Tw and 8Tw. This indicates that the deterioration speed of the recording film depends on the mark length.
[0015]
That is, it can be seen from FIG. 5 that the asymmetry amount, which is the difference in the average reflected light amount level, changes depending on the number of rewrites. Therefore, the correct recording power cannot be set if there is a difference in the number of rewrites between the test area where trial writing is performed and the area where user data is actually recorded.
[0016]
As described above, the trial writing by the conventional asymmetry detection is not suitable for the phase change optical disk from the two viewpoints of (1) linearity and uniqueness of target point detection and (2) mark length dependence of recording film deterioration. I understood it.
[0017]
An object of the present invention is to solve the above problems, provide a test writing method suitable for a phase change optical disk, and provide an information device using the same.
[0018]
[Means for Solving the Problems]
In the present invention, the following means are used to achieve the first object.
(1) Since recording of a sparse pattern and a dense pattern causes a difference in deterioration due to the mark length, trial writing is performed by controlling the recording power so as to record a trial writing pattern of a random mark pattern, preferably a single mark repeated pattern. I do.
(2) The phase shift between the data edge and the clock edge is detected while changing the recording power, and the jitter is equivalently measured to obtain the optimum recording condition. At this time, the optimum recording condition is directly obtained, or the recording threshold value at which the jitter is equal to or less than the threshold value is obtained, and the optimum recording condition is obtained by multiplying it by a constant.
[0019]
The effectiveness of trial writing by such a method will be described below. FIG. 6 shows the relationship between the recording power and the jitter between the data edge and the clock edge. Here, jitter was measured when 11 Tw marks / spaces were repeatedly recorded and when the same random mark pattern was overwritten (overwritten) 10 times. In general, the ECC code correction capability used for optical disks has a limit of 1/1000 to 1/10000 of the bit error rate of the reproduction data, and therefore, the jitter is about 15% is the upper limit at which no error occurs. Therefore, as shown in FIG. 6, the center of the range of the recording power margin where the jitter of the reproduction signal after overwriting the random mark pattern is 15% or less is the target recording condition for the trial writing.
[0020]
Here, five samples of samples having different recording film compositions and film configurations were prepared so that trial writing could be applied to various optical discs, and the same measurement was performed. . The horizontal axis of FIG. 7A is the ratio η between the threshold value for starting recording by DC light and the threshold power for pulse recording. A large value means that the recording film is exposed to the DC light and the recording film is partially It shows the degree to which the crystalline state is restored by recrystallization even when melted, that is, the degree of ease of recrystallization of each disk. The vertical axis represents the slope m of the curve in FIG. 6 at a jitter of 15%. As is clear from FIG. 7 (a), when a random mark pattern is recorded (random signal), the value of m changes depending on the value of η, whereas an 11Tw repeated mark is recorded. In the case of (11 Tw repetitive signal), the value of m is large and constant. When obtaining the threshold power Pth for recording, the larger the value of m, the higher the detection accuracy, and the smaller the change due to the medium, the better. Therefore, the 11Tw repetitive signal is more suitable than the random signal. The difference between the two is that the jitter of the repetitive signal of a single pattern is mainly the fluctuation of the data edge, while the jitter of the random signal includes a shift component depending on the mark length in addition to the edge fluctuation component. This is thought to be because of this.
[0021]
FIG. 7 (b) summarizes the relationship between the ratio α and η value of the optimum power and the recording threshold power. From the figure, it was found that the ratio α was distributed in the range of 1.15 to 1.30 for five sample disks having different characteristics, and averaged about 1.25. Even when other disks having different characteristics are considered, the ratio α is considered to be in the range of 1.1 to 1.4.
[0022]
From the above examination results, among the above-described trial writing methods, the optimum power can be obtained with the highest accuracy by recording a single pattern and determining the recording threshold power Pth and multiplying by the ratio α. I understood. At this time, if the power is gradually scanned from the low power side, the detection point is uniquely determined, so that trial writing suitable for the phase change optical disk can be realized.
[0023]
Note that this method can be applied not only to a phase change optical disk but also to a magneto-optical disk and a punch-type write-once optical disk.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Example 1 Trial writing method
FIG. 1 shows the configuration of the phase shift detection means of the present invention and the results of a test writing experiment using the same. In FIG. 1A, a clock extracted from a reproduction signal by using a PLL (Phase Locked Loop) circuit and an edge pulse (data edge pulse) when a test writing mark is reproduced are input to a phase comparator. A pulse having a length corresponding to the phase shift is generated. This pulse is pulse width-voltage converted into a phase error voltage by an integrator and passes through a level comparator, so that the data edge pulse is transferred to the error edge counter as an error pulse only when the phase error voltage is larger than the threshold value. And counted. At the same time, the all edge counter counts all data edges, and when the specified value is reached, the operation of the error edge counter is stopped. The value of the error edge counter is captured by the CPU and processed. With such a configuration, the amount of jitter can be taken into the CPU as the ratio of the total number of edges counted by the total edge counter to the phase difference with the PLL clock that is larger than the threshold value.
[0025]
The advantage of this method is that the fluctuation of the phase error voltage due to the effects of uneven recording sensitivity and servo error fluctuations in the sector to be reproduced can be smoothed by integrating the number of pulses, and measurement stability is improved. It is to increase. Further, there is an advantage that the circuit scale can be made smaller than that in which the phase error voltage is directly taken in using an AD converter or the like. Thus, by quantifying the phase shift between the PLL clock and the data edge, it becomes possible to measure a physical quantity equivalent to the jitter obtained from a measuring instrument such as a jitter analyzer in the optical disc apparatus.
[0026]
FIG. 1B shows experimental results when test writing is performed using the phase shift detection method of the present invention. The medium used was the same sample as that shown in FIG. The gain of the integrator was determined so that a phase error voltage of 1.8 V was obtained when the window width Tw ± 50% was shifted. This corresponds to a phase shift sensitivity of 0.01 V / deg. The threshold value of the level comparator was 0.8 V (± 22% of the window width), and the set value of the edge counter was 2560. In the test writing pattern, the repetition signal recording power condition of 11 Tw was constant at Pw: Pe = 11 mW: 4.5 mW. As shown in the figure, the change of the error count number with respect to the recording power was the same as the jitter characteristic of FIG. The threshold value corresponding to a jitter of 15% corresponds to an error count of 700. At this time, the threshold power Pth = 8.8 mW was obtained, and α = 1.25 times was obtained, thereby obtaining the recording condition Po = 11 mW. The error was 2% or less with respect to the value of 10.8 mW obtained by actual measurement in FIG.
[0027]
FIG. 8 shows a circuit configuration of a phase shift detector actually used for measurement. In the figure, SCLK is a PLL clock, RDGT is a reproduction gate corresponding to the data area of the sector, PCA is a data edge pulse, PCB is a pulse obtained by extracting only a pulse to be compared with the data edge from the PLL clock, and RESET is an integrator reset signal. , S / H is a control signal for sampling and holding the phase error voltage, UP is a pulse having a length corresponding to the phase advance amount when the data edge is advanced compared to the PLL clock, and DOWN is data Each of the pulses represents a pulse having a length corresponding to the phase delay amount when the phase is delayed compared to the PLL clock.
[0028]
In order to explain the operation of this circuit, it will be explained with reference to the timing chart of FIG. A pulse PCA signal and a PCB signal for comparing phases are generated from a PLL clock and a data binary signal (DLDATA). The generation block of the PCA signal and the PCB signal uses another gate array not shown in FIG. 8, but the logic itself is simple and can be generated by a known means. Two pulse UP signals and a DOWN signal are generated from the PCA signal and the PCB signal using a D-flip-flop and a NAND gate. A phase shift pulse can be obtained by the logical sum of the UP signal and the DOWN signal, that is, the exclusive logical sum of the PCA signal and the PCB signal. This is integrated for a period of 1.5 Tw by an integrator, reset by a RESET signal, and used as an integrator output signal. At 0.5 Tw from the start of integration, sample hold is performed by S / H to obtain a level comparator input (Comparator input) signal, which is then compared with the phase shift threshold (Slice level) by the level comparator. (Error pulse) signal can be obtained. In the present invention, two counters of error pulse and data edge are necessary. However, since it has a simple configuration and is well known, description thereof is omitted here.
[0029]
Here, as a method of detecting phase shift, a method of pulsing and counting data edges having a large phase shift is shown, but the phase shift voltage obtained by integrating the phase shift pulse described above is directly detected to detect phase shift. The amount can also be determined. In this case, since the integral value fluctuates with time, it may be detected by an AD converter or the like after further suppressing the temporal fluctuation by adding a low-pass filter or the like.
[0030]
Next, the relationship between the number of error edge counts, the threshold value of the level comparator, and jitter will be described. FIG. 10 shows the relationship between the count number of error edges and the threshold value of the level comparator. Since the integrator sensitivity is set to 0.01 V / deg as described above, the phase shift ± Tw / 2 corresponds to the threshold voltage V1 = 1.8V. Here, the case where the jitter is 25% (equivalent to the maximum value) and 8% (equivalent to the minimum value) was examined. Since the number of error edges is the count number of data edges having a phase shift equal to or greater than the phase shift threshold voltage, the error edge count decreases as the phase shift threshold voltage is increased. When the jitter between the reproduction signal and the clock is 25% and 8%, the condition that the difference in the number of error edges becomes the maximum is the threshold voltage V1 = 0.8V. The recording threshold jitter of about 15% is between the two. At this time, the change in the number of error edges with respect to the change in jitter is maximized, and the sensitivity of trial writing for finding the recording threshold can be maximized.
[0031]
FIG. 11 schematically shows the relationship between the jitter distribution, the number of error edges, and the threshold voltage. As shown in the figure, the portion where there is a phase shift greater than the threshold voltage of the phase shift with respect to the jitter distribution, that is, the edge of the hatched portion in the figure becomes an error edge and is counted.
[0032]
FIG. 12 shows the result of measuring the relationship between jitter and the number of error edges. It can be seen that the number of error edges increases linearly as the jitter increases. Therefore, it was confirmed that the jitter can be measured equivalently by detecting the number of error edges. The reason why the number of error edges does not become zero when the jitter is zero depends on the offset of the phase shift detection circuit and the response speed. When the phase shift decreases, the circuit element does not operate, and UP and DOWN pulses The main reason is that it does not occur. The characteristics vary depending on the discrete IC circuit configuration used in the experiment. However, since a detection range of 7% to 25% is confirmed with respect to a jitter value of 15% to be detected, there is no practical problem in trial writing. Consideration regarding the detection range and linearity is indispensable also when such a circuit is made into an LSI. Similarly, it is necessary to consider the threshold voltage of the phase shift and the number of error edges as a detection target so that the detection sensitivity does not decrease. In this way, the relationship between power and error count as shown in FIG. 1B can be obtained. In this method, since the error count changes greatly with respect to the change in recording power near the recording threshold, even when the threshold voltage V1 fluctuates effectively due to temperature change or power supply voltage change, the recording power is determined. The error can be reduced.
[0033]
FIG. 13 is a flowchart showing a test writing sequence (procedure) according to the present invention. Hereinafter, this procedure will be described.
[0034]
In the trial writing process, first, a predetermined track is accessed as preparation for trial writing, and recording power and the like are set. At this time, it is preferable to perform test writing in a plurality of areas such as a predetermined area on the inner circumference side and a predetermined area on the outer circumference side in consideration of the influence of the deflection of the disk.
[0035]
Next, a track check is performed by trying to play the track to be written on trial. At this time, if there is a steep level change due to dust, scratches, flow, etc. from the playback signal, it is determined that a defect has been detected, and the same track check process is repeated after moving to another track, and there is no defect. Go to the track.
[0036]
Next, it is determined whether or not data is recorded in the reproduction signal of the track on which trial writing is performed. When there is a signal, an erasing operation using DC light is performed so that no signal is recorded on the track. As a specific defect and signal detection method, there is a method that utilizes the fact that the data signal mainly includes high frequency components of 1 MHz or higher, and the defect mainly includes low frequency components of 100 kHz or lower. If the difference between the upper envelope and the lower envelope obtained by performing envelope detection on each of the playback signals after filtering the band of the reproduced signal, signal distortion due to data amplitude and defects can be detected.
[0037]
Next, the power is changed for each sector of the trial writing track, and a trial writing mark (here, 11 Tw repeated mark or random mark pattern) is recorded on the disk. At this time, since it is generally difficult to switch the recording power condition instantaneously, recording may be performed every other sector, and power setting may be performed in the sector between recording.
[0038]
In the information device, if the 11Tw repeat mark is recorded, control is performed so as to record the 11Tw repeat mark. However, in the trial writing according to the present invention, recording is performed while gradually changing the recording power, so that the information is recorded on the disc. It goes without saying that the test writing mark does not always have the same mark length (mark length corresponding to 11 Tw). At this time, the test writing mark is recorded so that the recording power is initially low and gradually increased. This is because if trial writing is performed from a large power at the beginning, the trial writing may be performed at a power larger than the optimum recording power, which may damage the disc. The recording power is changed so that the ratio of Pw and Pe is constant, and scanning is performed. This is because sensitivity variations among discs, spot distortion due to aberrations, and the like can be converted into power. In order to correct such fluctuations by trial writing, power scanning with a constant ratio is suitable. However, only the recording power Pw or only the erasing power Pe may be changed. It is appropriate to gradually change the power change rate in the range of 2% -5% in consideration of the detection sensitivity and the processing time.
[0039]
Next, the recorded test writing mark is reproduced to read the number of error edges. In the all edge counter, all data edges are counted, and when the specified value is reached, the operation of the error edge counter is stopped, and the number of error edges contained therein is read. Since the total number of data edges is determined by the disk format or the like, it may be stored in the information device. At this time, as described above, the test writing mark is recorded while gradually changing the recording power, and the mark length recorded on the disc may fluctuate due to the influence of the recording power. When the written mark is reproduced, the PLL clock signal and the mark edge are naturally out of phase, and this is detected as an error edge pulse.
[0040]
Here, in order to reduce the influence of dust and defects in the sector, one sector is divided into four areas, error edges are counted for each area, and the maximum and minimum values are obtained from the four results obtained. The average count of the remaining two points is calculated. As a result, even if dust or a defect exists in the sector, it can be excluded from the detection result if the size is 1/4 or less of the sector. Further, in order to reduce the influence of the unevenness of the recording sensitivity of the medium in the circumferential direction, a weighted average of three consecutive measured values is taken at a ratio of 1: 2: 1 of the number of error edges in the sector.
[0041]
Recording and reproduction are repeated until the number of error edges thus obtained satisfies the recording threshold condition, and the recording threshold power Pth is obtained.
[0042]
Further, the optimum recording power Po is obtained by multiplying by a constant α (= about 1.25). This Po is used as the recording power Pw. However, since the recording power Pw and the erasing power Pe are in a fixed ratio, it goes without saying that if Pw is obtained, Pe is also uniquely obtained.
[0043]
The optical disc apparatus stores the optimum recording conditions obtained in this way, and when actually recording data, the data is recorded according to the optimum recording conditions.
[0044]
Although trial writing was performed when the disc was replaced, when data was recorded after the trial writing was completed, it was also found that there was an abnormality in recording power due to so-called RAW (Read After Write) etc. You should do it. Here, the case where the mark length of the repetitive pattern is 11 Tw has been described. Although it is not particularly limited to 11 Tw, if the mark length is too short, the above-described flow may increase, or the adjacent mark may be thermally affected when the mark is recorded. The mark length is preferred.
[0045]
FIG. 14 shows the relationship between the recording power and the number of error edges when trial writing is actually performed according to the sequence of FIG. The format of the optical disk used is a sector size of 2 kbytes. A specially developed LSI was used to generate and detect error pulses. Since the sector is divided into four areas for processing, the total number of edges of the signal in each area is 864 (360h). An error edge counter built in the LSI is an 8-bit counter. In this configuration, the phase error detection threshold is set so that the number of error edges corresponding to a jitter of 15% is 128 (80 h). The number of error edges shown in FIG. 14 is a value obtained by recording data every other sector in accordance with the above sequence and performing an intra-sector 4-division averaging process and an inter-sector averaging process during reproduction. From FIG. 14, the recording threshold power (Pth) was 10 mW, and the optimum recording power (Po) was 12.5 mW. Needless to say, the values of the threshold power and the optimum power coincide with the results of measurement using a separate jitter analyzer. As a result of continuous execution of this method 10,000 times, the recording power detection result was 12.5 mW ± 3%, which was found to be sufficiently accurate.
[0046]
FIG. 15 shows a sequence of another embodiment of the present invention. Here, a method for directly obtaining the recording power that minimizes the jitter by actually overwriting, instead of obtaining the recording threshold power will be described.
[0047]
In this sequence, after confirming that there is no recording data in the sector, overwriting is performed every other sector while changing the power. At this time, in order to obtain the optimum power more accurately, the recording is continuously performed at least twice with the same power in the same sector. A condition for minimizing the number of error pulses at this time is obtained and used as a recording condition. Since this method requires overwriting with a power larger than the optimum condition, the flow deterioration of the medium is accelerated, but there is an advantage that the minimum jitter power at the time of direct overwriting can be obtained. The signal to be recorded may be a repetitive signal having a specific mark length or a data pattern (random signal) used for the format and certification of the medium. The basic sequence of the playback system is the same by simply changing the setting of all edge counters according to the difference in the average mark length of the signal to be recorded.
[0048]
FIG. 16 shows the relationship between the recording power and the error count when trial writing is performed according to the sequence of FIG. An optimum power of 12.5 mW can be obtained as a condition for minimizing the error count.
[0049]
<< Example 2 >> Information device
An example of an information device in which the trial writing method and the phase shift detection method of the first embodiment are mounted will be described with reference to FIG. The optical disk medium 8 is rotated by a motor 162. The light intensity control means 171 controls the light generation means 131 to generate light 122 so that the light intensity commanded by the central control means 151 is generated, and this light 122 is condensed by the light collection means 132 and the light spot 7 is reflected. It is formed on the optical disk medium 8. Using the reflected light 123 from the light spot 7, the light detection means 133 detects it. This light detection means is composed of a light detector divided into a plurality of parts. The reproduction means 191 reproduces information recorded on the optical disk medium using the reproduction signal 130 from the photodetector.
[0050]
The reproducing means 191 incorporates the test writing signal detecting means shown in the first embodiment. Further, as shown in the first embodiment at the time of trial writing, the function of recording the trial writing pattern while changing the recording power, the function of taking in the trial writing signal detected by the trial writing signal detecting means, and processing the fetching result are optimal. The central control means 151 has the function of determining power.
[0051]
By using the information apparatus of the present invention, it is possible to obtain an optimum recording power by correcting fluctuations in media and light spots having different sensitivities, so that recording and reproduction of high-density information can be stably performed.
[0052]
Here, an embodiment has been described in which the recording power is optimized by obtaining a condition on the low power side where the jitter is equal to or less than the threshold value and multiplying it by a constant. In the same configuration, (1) to obtain the condition that the error count is minimum (jitter is minimum), (2) to obtain the condition on the low power side and the condition on the high power side where the jitter is below the threshold, It is also easy to determine the power condition that is an approximate average value of them.
[0053]
The gist of the present invention is to optimize the recording conditions by detecting the quality of the reproduced signal as a phase shift amount, and not only the phase change optical disc but also the magneto-optical disc, the punch-type write-once optical disc, and the magnetic Applicable to discs and the like. In the case of magnetic disks and some magneto-optical disks, the control amount of the recording conditions corresponding to the laser power described above is the strength of the magnetic field applied to the medium, so the amount of phase shift while changing the strength of the magnetic field May be detected.
[0054]
【The invention's effect】
According to the present invention, optimum recording conditions for recording data can be obtained reliably, and stable high-density recording becomes possible. In particular, since trial writing suitable for the characteristics of the phase change optical disk can be performed, the optimum recording condition can be reliably obtained even for the phase change optical disk for which the conventional recording method cannot obtain the optimum recording condition. High density recording can be performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 shows a configuration of a phase shift detection method of the present invention and a test writing test result using the same.
FIG. 2 is a schematic diagram of a conventional test writing method for detecting the amount of asymmetry.
FIG. 3 is a diagram showing a recording waveform.
FIG. 4 is a diagram showing characteristics when a conventional asymmetry method is applied to a phase change disk;
FIG. 5 is a diagram showing changes in flow and reflectivity due to rewriting of a phase change optical disk.
FIG. 6 shows the relationship between recording power, data edge, and clock edge jitter.
FIG. 7 is a diagram illustrating the relationship between the sensitivity of trial writing and the ratio α in each disk.
FIG. 8 shows an example of a circuit configuration of a phase shift detector according to the present invention.
FIG. 9 is a timing chart showing the circuit operation of the phase shift detector of the present invention.
FIG. 10 is a diagram showing the relationship between the number of error edges and the threshold value of the level comparator.
FIG. 11 is a diagram schematically showing a relationship among a jitter distribution, the number of error edges, and a threshold voltage.
FIG. 12 is a diagram showing the relationship between jitter and the number of error edges.
FIG. 13 shows an example of a trial writing sequence according to the present invention.
FIG. 14 is a diagram showing the relationship between recording power and the number of error edges in the present invention.
FIG. 15 shows another embodiment of the trial writing sequence according to the present invention.
FIG. 16 is a diagram showing the relationship between recording power and the number of error edges in the present invention.
FIG. 17 is a diagram showing a configuration of an information device of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 7 ... Light spot, 8 ... Optical disk medium, 131 ... Light generation means, 132 ... Condensing means, 133 ... Light detection means, 151 ... Central control means, 191 ... Reproduction means.

Claims (9)

光学的情報記録媒体への記録方法であって、
前記光学的情報記録媒体に記録条件を変えながらマーク列を記録する過程、
前記マーク列を再生して再生信号を得る過程、
前記再生信号からクロック信号を生成する過程、
前記再生信号から記録されたマーク列のエッジを検出する過程、
前記エッジと前記クロック信号の位相差を検出する過程、
前記位相差の分布の広がりに応じて記録条件を定める過程、
前記記録条件により、情報を記録することを特徴とする記録方法。
A method for recording on an optical information recording medium,
A process of recording mark rows while changing recording conditions on the optical information recording medium,
A process of reproducing the mark string to obtain a reproduction signal;
Generating a clock signal from the reproduced signal;
Detecting a mark row edge recorded from the reproduction signal;
Detecting a phase difference between the edge and the clock signal;
A process of determining recording conditions according to the spread of the phase difference distribution;
A recording method comprising recording information according to the recording conditions.
光学的情報記録媒体への記録方法であって、
前記光学的情報記録媒体に記録パワー条件を変えながらマーク列を記録する過程、
前記マーク列を再生して再生信号を得る過程、
前記再生信号からクロック信号を生成する過程、
前記再生信号から記録されたマーク列のエッジを検出する過程、
前記エッジと前記クロック信号の位相差を検出する過程、
前記位相差が所定の値よりも大または小であるエッジを抽出する過程、
前記抽出したエッジの数を前記記録条件ごとに計数する過程、
前記計数したエッジ数に応じて、記録パワー条件を定める過程、
前記記録パワー条件により、情報を記録することを特徴とする記録方法。
A method for recording on an optical information recording medium,
A process of recording a mark row while changing a recording power condition on the optical information recording medium,
A process of reproducing the mark string to obtain a reproduction signal;
Generating a clock signal from the reproduced signal;
Detecting a mark row edge recorded from the reproduction signal;
Detecting a phase difference between the edge and the clock signal;
Extracting an edge whose phase difference is larger or smaller than a predetermined value;
Counting the number of extracted edges for each recording condition;
A process of determining a recording power condition according to the counted number of edges,
A recording method comprising recording information according to the recording power condition.
請求項2に記載の記録方法であって、
前記抽出するエッジは前記クロック信号の位相差が所定の値よりも大であるエッジであり、前記抽出したエッジの数が最小になる記録パワーを記録パワーとして定めることを特徴とする記録方法。
The recording method according to claim 2,
The extracted edge is an edge whose phase difference of the clock signal is larger than a predetermined value, and a recording power at which the number of extracted edges is minimized is defined as a recording power.
情報がマーク列で記録された光学的情報記録媒体から再生され入力された
再生信号からクロック信号を生成する手段、
前記再生信号から記録されたマーク列のエッジを検出する手段、
前記エッジと前記クロック信号の位相差を検出する手段、
前記位相差が所定の値よりも大または小であるエッジを抽出する手段、
前記抽出したエッジの数を前記記録条件ごとに計数する手段、
からなることを特徴とする位相ずれ検出回路。
Means for generating a clock signal from a reproduction signal reproduced and inputted from an optical information recording medium in which information is recorded in a mark row;
Means for detecting an edge of a mark row recorded from the reproduction signal;
Means for detecting a phase difference between the edge and the clock signal;
Means for extracting an edge whose phase difference is larger or smaller than a predetermined value;
Means for counting the number of extracted edges for each recording condition;
A phase shift detection circuit comprising:
ディスク状の光学的情報記録媒体に情報を記録・再生する情報装置であって、
前記光学的情報記録媒体を回転させる手段、
半導体レーザのビームを前記光学的情報記録媒体に集光する手段、
記録するデータに応じて前記半導体レーザの出力を変調するレーザ駆動手段、
請求項4に記載の位相ずれ検出回路、
及び前記各手段及び回路の動作を制御するCPUを備え、
請求項1から3に記載の記録方法に従って、前記光学的情報記録媒体へデータ
を記録し、その再生信号を前記位相ずれ検出回路に入力して位相ずれ量を検出し、
前記レーザ出力を定めることを特徴とする情報装置。
An information device for recording and reproducing information on a disc-shaped optical information recording medium,
Means for rotating the optical information recording medium;
Means for condensing a beam of a semiconductor laser on the optical information recording medium;
Laser driving means for modulating the output of the semiconductor laser in accordance with data to be recorded;
The phase shift detection circuit according to claim 4,
And a CPU for controlling the operation of each means and circuit,
According to the recording method according to claim 1, data is recorded on the optical information recording medium, and a reproduction signal is input to the phase shift detection circuit to detect a phase shift amount,
An information device for determining the laser output.
情報記録媒体を装着するごとに前記情報記録媒体に照射する光の記録パワーを
変えながら前記情報記録媒体にマークを記録して前記情報記録媒体に応じた光の
記録パワーを求めるように構成されている情報装置であって、
前記マーク列を再生して再生信号を得る手段、
前記再生信号からクロック信号を生成する手段、
前記再生信号から記録されたマーク列のエッジを検出する手段、
前記エッジと前記クロック信号の位相差を検出する手段、
前記位相差の分布の広がりに応じて記録条件を定める手段、を有し、
前記記録条件により、情報を記録することを特徴とする情報装置。
Each time the information recording medium is mounted, the mark is recorded on the information recording medium while changing the recording power of the light applied to the information recording medium, and the light recording power corresponding to the information recording medium is obtained. An information device comprising:
Means for reproducing the mark string to obtain a reproduction signal;
Means for generating a clock signal from the reproduced signal;
Means for detecting an edge of a mark row recorded from the reproduction signal;
Means for detecting a phase difference between the edge and the clock signal;
Means for determining recording conditions in accordance with the spread of the phase difference distribution,
An information device for recording information according to the recording condition.
情報記録媒体を装着するごとに前記情報記録媒体に照射する光の記録パワーを
変えながら前記情報記録媒体にマークを記録して前記情報記録媒体にデータを記
録する記録条件を求めるように構成されている情報装置であって、
前記マーク列を再生して再生信号を得る手段、
前記再生信号からクロック信号を生成する手段、
前記再生信号から記録されたマーク列のエッジを検出する手段、
前記エッジと前記クロック信号の位相差を検出する手段、
前記位相差が所定の値よりも大または小であるエッジを抽出する手段、
前記抽出したエッジの数を前記記録条件ごとに計数する手段、
前記計数したエッジ数に応じて、記録パワー条件を定める手段、を有し、
前記記録パワー条件により、情報を記録することを特徴とする情報装置。
Each time the information recording medium is mounted, the recording condition for recording the data on the information recording medium is obtained by recording a mark on the information recording medium while changing the recording power of the light applied to the information recording medium. An information device comprising:
Means for reproducing the mark string to obtain a reproduction signal;
Means for generating a clock signal from the reproduced signal;
Means for detecting an edge of a mark row recorded from the reproduction signal;
Means for detecting a phase difference between the edge and the clock signal;
Means for extracting an edge whose phase difference is larger or smaller than a predetermined value;
Means for counting the number of extracted edges for each recording condition;
Means for determining a recording power condition in accordance with the counted number of edges,
An information apparatus for recording information according to the recording power condition.
光学的情報記録媒体への記録方法であって、
前記光学的情報記録媒体に記録パワー条件を変えながら同じ長さのマークとスペースの繰り返しからなるマーク列を記録する過程、
前記マーク列を再生して再生信号を得る過程、
前記再生信号からクロック信号を生成する過程、
前記再生信号から記録されたマーク列のエッジを検出する過程、
前記エッジと前記クロック信号の位相差を検出する過程、
前記位相差の分布の広がりが所定の値よりも小となる記録しきい値パワーを求める過程、前記記録しきい値パワーに定数を乗じて記録パワー条件を定める過程、
前記記録条件により,情報を記録することを特徴とする記録方法。
A method for recording on an optical information recording medium,
A process of recording a mark row consisting of repetition of marks and spaces of the same length while changing the recording power condition on the optical information recording medium,
A process of reproducing the mark string to obtain a reproduction signal;
Generating a clock signal from the reproduced signal;
Detecting a mark row edge recorded from the reproduction signal;
Detecting a phase difference between the edge and the clock signal;
A process of obtaining a recording threshold power at which a spread of the phase difference distribution is smaller than a predetermined value; a process of determining a recording power condition by multiplying the recording threshold power by a constant;
A recording method comprising recording information according to the recording conditions.
請求項8に記載の記録方法であって、
前記記録しきい値パワーは位相差の分布の広がりの標準偏差であるジッター値が概ね15%であって、
前記記録しきい値パワーに乗ずる定数は概ね1.1から1.4の範囲にあることを特徴とする記録方法。
The recording method according to claim 8, wherein
The recording threshold power is approximately 15% jitter value, which is the standard deviation of the spread of the phase difference distribution,
A recording method characterized in that a constant multiplied by the recording threshold power is in a range of approximately 1.1 to 1.4.
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EP1324321A4 (en) 2000-07-28 2006-01-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical disk device and recording power determining method
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JP4045269B2 (en) 2004-10-20 2008-02-13 株式会社日立製作所 Recording method and optical disc apparatus
JP2007004899A (en) * 2005-06-23 2007-01-11 Clarion Co Ltd Optical disk player
JP2007149180A (en) 2005-11-25 2007-06-14 Hitachi Ltd Optical disk device
US8498186B2 (en) 2006-02-24 2013-07-30 Marvell World Trade Ltd. Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for timing calibration for optical disc recording
US8559284B1 (en) 2006-02-24 2013-10-15 Marvell International Ltd. Circuits, architectures, apparatuses, systems, algorithms and methods and software for optimum power calibration for optical disc recording
US8159913B2 (en) 2006-10-17 2012-04-17 Hitachi, Ltd. Optical disc recording apparatus and recording power control method
JP4512582B2 (en) * 2006-12-07 2010-07-28 株式会社日立製作所 Recording / reproducing method and recording / reproducing apparatus
JP4607854B2 (en) * 2006-12-25 2011-01-05 株式会社東芝 Information recording apparatus and information recording method
JP2008251078A (en) * 2007-03-30 2008-10-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Recording power control method for optical disk device
JP5582407B2 (en) * 2008-01-14 2014-09-03 マーベル ワールド トレード リミテッド CIRCUIT, ARCHITECTURE, DEVICE, SYSTEM, ALGORITHM AND METHOD FOR TIMING CALIBRATION FOR OPTICAL DISC RECORDING AND SOFTWARE

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