JP2002025060A - Optical recording/reproducing device and test write method - Google Patents

Optical recording/reproducing device and test write method

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JP2002025060A
JP2002025060A JP2000203580A JP2000203580A JP2002025060A JP 2002025060 A JP2002025060 A JP 2002025060A JP 2000203580 A JP2000203580 A JP 2000203580A JP 2000203580 A JP2000203580 A JP 2000203580A JP 2002025060 A JP2002025060 A JP 2002025060A
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Japan
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recording
pattern
pulse train
pulse
power
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JP2000203580A
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Japanese (ja)
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Hitoshi Takeuchi
仁志 竹内
Junsaku Nakajima
淳策 中嶋
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Sharp Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical recording/reproducing device enabling to test- write with high accuracy. SOLUTION: A test pattern generated by a test pattern generating circuit 13 is recorded on a phase transition recording disk 1. This test pattern is reproduced, and an amplitude and a center level of the reproduced signal are measured by an envelope detecting circuit 14, LPF 15, differential circuit 16, A/D conversion circuits 17 and 18. Then, by a circuit 12 for controlling the recording/ reproducing operation, the pulse width of a pulse train and the intensity of a laser beam are decided in such a manner that an asymmetric value, erase rate, etc., are calculated 9 on the basis of the amplitude and the center level of the reproduced signal. Consequently, the influence generating between parameters is reduced by adequately adjusting each pulse width and the intensity of the laser beam, and the highly accurate test write is attained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、温度変化によって
光学的な状態が変化する記録膜を有する光ディスクの記
録/再生技術に関し、特に、情報の記録動作に先立って
記録時におけるレーザのパワーやレーザ光のパルス幅等
のパラメータを決定するためのテストライトを行なう光
ディスク記録再生装置およびテストライト方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a recording / reproducing technique for an optical disk having a recording film whose optical state changes according to a change in temperature, and more particularly, to the power and laser power of a laser during recording prior to an information recording operation. The present invention relates to an optical disk recording / reproducing apparatus and a test write method for performing a test write for determining parameters such as a pulse width of light.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、マイクロプロセッサの処理速度の
向上やディスプレイ装置の高解像度化等に伴って、処理
すべき情報量が飛躍的に増大し、それに応じて大容量の
情報記録装置の開発が盛んに行なわれている。情報を記
録する方法として、磁気記録、光記録、半導体メモリな
どが挙げられるが、可搬性や保存性などの点から光記録
がその主流として有力視されている。
2. Description of the Related Art In recent years, as the processing speed of microprocessors and the resolution of display devices have increased, the amount of information to be processed has increased dramatically, and accordingly, a large-capacity information recording device has been developed. It is being actively conducted. As a method for recording information, magnetic recording, optical recording, semiconductor memory, and the like can be cited, and optical recording is considered to be the mainstream in terms of portability and storability.

【0003】また、光記録の中でも特に情報の記録/消
去が可能な方式として、アモルファス合金を記録層に使
用し、その磁化の方向による反射光の偏光角度を利用し
て情報を記録する光磁気記録、および合金膜におけるア
モルファス状態と結晶状態とにおける反射率の差を利用
して情報を記録する相変化記録が挙げられる。その中で
も、相変化記録は、記録過程において消去動作が不要な
ことから制御がシンプルとなる点、磁気ヘッドが不要な
ことから装置の構造が簡単となる点などから特に民生機
器への応用が盛んに行なわれている。
[0003] Among the optical recording methods, a method capable of recording / erasing information, in particular, is a magneto-optical method in which an amorphous alloy is used for a recording layer, and information is recorded by utilizing a polarization angle of reflected light according to the direction of magnetization. Recording, and phase change recording in which information is recorded by utilizing a difference in reflectance between an amorphous state and a crystalline state in the alloy film. Above all, phase change recording has been particularly applied to consumer equipment because it simplifies control because no erasing operation is required in the recording process, and simplifies the device structure because a magnetic head is not required. It is being done.

【0004】図11は、相変化記録方式を用いた従来の
情報記録装置の概略構成を示すブロック図である。この
情報記録装置は、円板状の基板に相変化材料の記録膜を
施した相変化記録ディスクを用いて記録/再生を行なう
ものである。この情報記録装置は、相変化記録ディスク
101と、相変化記録ディスク101上にレーザビーム
を集光させることにより情報の記録/再生を行なう光ピ
ックアップ(PU)102と、相変化記録ディスク10
1を回転させるスピンドルモータ103と、相変化記録
ディスク101に記録する情報を所定の規則に従って記
録されるパルス列に変換して出力する記録情報処理回路
104と、記録情報処理回路104から出力されたパル
ス列を所定の規則に従ってパルス列に変換して出力する
記録パルス生成回路105と、記録パルス生成回路10
5から出力されたパルス列に基づいて、所定の規則に従
った強度変調されたレーザビームを出力するように半導
体レーザを制御するレーザ制御回路106と、光ピック
アップ102によって光電変換された信号を所定の振幅
に増幅し、不要な帯域の信号を除去して出力するRF
(Radio Frequency)アンプ107と、RFアンプ10
7から出力された信号を波形等化処理して高域成分を強
調するEQ回路108と、EQ回路108から出力され
た信号を2値の信号に変換する2値化回路109と、2
値化回路109によって出力された信号から再生クロッ
クを抽出するPLL(Phase Locked Loop)回路110
と、PLL回路110によって抽出された再生クロック
に基づいて記録されている情報を復元して出力する再生
データ検出回路111とを含む。
FIG. 11 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional information recording apparatus using a phase change recording method. This information recording apparatus performs recording / reproducing using a phase change recording disk in which a recording film of a phase change material is applied to a disk-shaped substrate. This information recording apparatus includes a phase change recording disk 101, an optical pickup (PU) 102 for recording / reproducing information by condensing a laser beam on the phase change recording disk 101, and a phase change recording disk 10
1; a spindle motor 103 for rotating the spindle motor 1; a recording information processing circuit 104 for converting information to be recorded on the phase change recording disk 101 into a pulse train to be recorded in accordance with a predetermined rule; Recording pulse generation circuit 105 for converting and outputting a pulse train according to a predetermined rule
5, a laser control circuit 106 for controlling a semiconductor laser to output a laser beam intensity-modulated according to a predetermined rule based on a pulse train output from the optical pickup 102, and a signal photoelectrically converted by the optical pickup 102 into a predetermined signal. RF that amplifies to amplitude, removes unnecessary band signals and outputs
(Radio Frequency) Amplifier 107 and RF Amplifier 10
7, an EQ circuit 108 that performs waveform equalization processing on the signal output from the EQ 7 to emphasize high-frequency components, a binarization circuit 109 that converts the signal output from the EQ circuit 108 into a binary signal,
PLL (Phase Locked Loop) circuit 110 for extracting a reproduction clock from the signal output by the value conversion circuit 109
And a reproduction data detection circuit 111 for restoring and outputting information recorded based on the reproduction clock extracted by the PLL circuit 110.

【0005】相変化記録ディスク101には相変化材料
の記録膜が施されており、スパイラル状または同心円状
の溝部または溝間部にトラックが形成されている。スピ
ンドルモータ103は、相変化記録ディスク101を所
定の回転方向に一定回転数で、または集光されたレーザ
ビームが相変化記録ディスク101のトラック上を一定
速度で走査するように回転数を制御して回転させる。
The phase-change recording disk 101 is provided with a recording film of a phase-change material, and has tracks formed in spiral or concentric grooves or inter-grooves. The spindle motor 103 controls the number of revolutions of the phase change recording disk 101 at a constant number of rotations in a predetermined rotation direction, or such that the focused laser beam scans a track of the phase change recording disk 101 at a constant speed. And rotate.

【0006】光ピックアップ102は、レーザダイオー
ド、コリメータレンズ、対物レンズ、フォトダイオー
ド、アクチュエータ等で構成されている。レーザダイオ
ードからのレーザビームを相変化記録ディスク101の
記録膜上に集光し、集光されたレーザビームを相変化記
録ディスク101上に形成されたトラックに追従させ、
その反射光をフォトダイオードによって光電変換するこ
とによって記録された情報が再生される。
[0006] The optical pickup 102 is composed of a laser diode, a collimator lens, an objective lens, a photodiode, an actuator and the like. Focusing the laser beam from the laser diode on the recording film of the phase change recording disk 101, and causing the focused laser beam to follow the track formed on the phase change recording disk 101,
The recorded information is reproduced by photoelectrically converting the reflected light with a photodiode.

【0007】相変化記録ディスク101に施された相変
化材料は、融点以上の温度に加熱した後急冷することに
よりアモルファス状態となり、また結晶化温度以上融点
以下の温度に加熱した後除冷することにより結晶状態と
なる。したがって、相変化材料を用いて記録する際には
記録層の到達温度と、その後の温度変化とを制御する必
要がある。そこで、通常相変化記録においては、記録さ
れる情報のパルス列の最小単位よりも短いパルス列を用
いて、記録膜の到達温度と温度変化とを制御して情報を
記録している。
The phase change material applied to the phase change recording disk 101 is heated to a temperature higher than the melting point and then rapidly cooled to be in an amorphous state, and is further heated to a temperature higher than the crystallization temperature and lower than the melting point and then cooled. Is brought into a crystalline state. Therefore, when recording using a phase change material, it is necessary to control the ultimate temperature of the recording layer and the subsequent temperature change. Therefore, in the normal phase change recording, information is recorded by controlling the temperature reached and the temperature change of the recording film using a pulse train shorter than the minimum unit of the pulse train of the information to be recorded.

【0008】図12は、相変化記録において、情報
“1”をアモルファス状態に対応させて記録する場合に
一般的に用いられる記録パルス列を説明するための図で
ある。記録データ“1”に対応したアモルファスを形成
するための記録パルス列(LD出射波形)は、3つの部
分で構成されている。第1の部分は、幅がTtopで、パ
ワーがPpの単一パルスで記録層の温度を融点以上に加
熱するための部分である。第2の部分は、幅がTmpで、
パワーがPpの複数のパルスで構成され、記録層の温度
を融点以上の一定温度に保つ部分である。また、第3の
部分は、幅がTclで、パワーがPbの単一パルスで構成
され、融点以上に加熱された記録層の温度を融点以下結
晶温度以上に冷却するための部分である。
FIG. 12 is a diagram for explaining a recording pulse train generally used when information "1" is recorded in an amorphous state in phase change recording. A recording pulse train (LD emission waveform) for forming an amorphous phase corresponding to the recording data "1" is composed of three parts. The first portion is a portion for heating the recording layer to a temperature equal to or higher than the melting point by a single pulse having a width of Ttop and a power of Pp. The second part is Tmp in width,
This is a portion composed of a plurality of pulses of power Pp and keeping the temperature of the recording layer at a constant temperature equal to or higher than the melting point. The third part is a part composed of a single pulse having a width of Tcl and a power of Pb for cooling the temperature of the recording layer heated above the melting point to a crystal temperature below the melting point.

【0009】ここで、パワーPpは記録パワーと呼ば
れ、記録層を融点以上に加熱するためのパワーである。
また、パワーPbはバイアスパワーと呼ばれ、記録層の
状態が変化しないようなパワーである。また、記録層を
結晶状態にするためには、図12に示すように記録層を
融点以下結晶化温度以上に加熱するために必要な、消去
パワーと呼ばれるパワーPeでレーザビームを記録層に
照射することで可能である。
Here, the power Pp is called a recording power and is a power for heating the recording layer to a temperature higher than the melting point.
The power Pb is called a bias power and is a power that does not change the state of the recording layer. In order to bring the recording layer into a crystalline state, as shown in FIG. 12, the recording layer is irradiated with a laser beam at a power Pe called erasing power, which is necessary to heat the recording layer below the melting point and above the crystallization temperature. It is possible by doing.

【0010】記録情報処理回路104は、記録する情報
を所定の規則に従って、記録されるパルス列(図12の
記録データ)に変換して出力する。また、記録パルス生
成回路105は、記録情報処理回路104から出力され
たパルス列を所定の規則に従って、パルス列(図12の
LD出射波形が生成される前のパルス列)に変換して出
力する。また、レーザ制御回路106は、記録パルス生
成回路105から出力されたパルス列を所定の規則に従
って、強度変調されたLD出射波形を出力するようにピ
ックアップ102のレーザダイオードを制御する。
The recording information processing circuit 104 converts the information to be recorded into a pulse train to be recorded (recording data in FIG. 12) according to a predetermined rule and outputs the pulse train. Further, the recording pulse generation circuit 105 converts the pulse train output from the recording information processing circuit 104 into a pulse train (a pulse train before the LD emission waveform in FIG. 12 is generated) according to a predetermined rule and outputs the pulse train. Further, the laser control circuit 106 controls the laser diode of the pickup 102 so as to output an LD emission waveform obtained by intensity-modulating the pulse train output from the recording pulse generation circuit 105 according to a predetermined rule.

【0011】このようにして、強度変調されたレーザビ
ームが相変化記録ディスク101上に集光されることに
よって、記録層が加熱される。記録層には、その加熱に
よる到達温度と温度変化とによって、アモルファス化し
た部分と結晶化して部分とが形成される。一般に、アモ
ルファス化した部分(以下、マークと呼ぶ。)は、結晶
化した部分(以下、スペースと呼ぶ。)に比べて反射率
が低くなるため、情報が記録されたトラックからの反射
光の強度を検出することによって、記録された情報を再
生することが可能である。
In this way, the recording layer is heated by converging the intensity-modulated laser beam on the phase-change recording disk 101. The recording layer has an amorphous portion and a crystallized portion due to the ultimate temperature and temperature change due to the heating. In general, the reflectance of an amorphous portion (hereinafter, referred to as a mark) is lower than that of a crystallized portion (hereinafter, referred to as a space). , It is possible to reproduce the recorded information.

【0012】一般に、高密度の光記録においては、記録
されたマークまたはスペースのうち、最も短いもののト
ラック方向の長さは、集光されたレーザビームのスポッ
ト径よりも短く設定されているため、いわゆる符号間干
渉が生じ、最高周波数付近の信号が減衰するため以降の
処理に悪影響を及ぼす。そこで、EQ回路108によっ
て波形等化を行ない、高域成分の信号振幅が理想状態に
近くなるようにしている。
In general, in high-density optical recording, the length of the shortest recorded mark or space in the track direction is set shorter than the spot diameter of the converged laser beam. So-called intersymbol interference occurs, and the signal near the highest frequency is attenuated, which adversely affects subsequent processing. Therefore, waveform equalization is performed by the EQ circuit 108 so that the signal amplitude of the high-frequency component approaches the ideal state.

【0013】以上説明したようにして、相変化記録方式
における情報の記録/再生が行なわれる。しかし、相変
化記録方式は熱を利用した記録方式であるため、同じパ
ワー、同じパルス幅で情報を記録した場合であっても、
記録媒体の構造、記録膜の組成、周囲温度等によって記
録されたマーク/スペースの大きさが変化する。高密度
の光記録においては、マーク/スペースのエッジに情報
を持たせるマークエッジ記録が通常行なわれている。そ
のため、記録されたマーク/スペースのトラック方向の
長さの変化は、再生信号のジッタとなって再生されたデ
ータの誤り率の悪化を招く。
As described above, recording / reproduction of information in the phase change recording method is performed. However, since the phase change recording method is a recording method using heat, even when information is recorded with the same power and the same pulse width,
The size of the recorded mark / space changes depending on the structure of the recording medium, the composition of the recording film, the ambient temperature, and the like. In high-density optical recording, mark edge recording for giving information to the edge of a mark / space is usually performed. For this reason, a change in the length of the recorded mark / space in the track direction causes jitter of a reproduced signal and causes an increase in the error rate of the reproduced data.

【0014】また、上述したように、高密度の光記録に
おいては、トラックピッチが集光されたレーザビームの
スポット径よりも狭く設定されているため、記録された
マーク/スペースの幅の増加は、隣接トラックへのクロ
ストークやクロスライトを発生させる原因となる。ま
た、記録されたマーク/スペースの幅の減少は、再生信
号の振幅を減少させ、再生データの誤り率を悪化させる
原因となる。
As described above, in high-density optical recording, the track pitch is set smaller than the spot diameter of the focused laser beam, so that the width of the recorded mark / space increases. This causes crosstalk and cross writing to adjacent tracks. Also, the decrease in the width of the recorded mark / space reduces the amplitude of the reproduced signal, which causes the error rate of the reproduced data to deteriorate.

【0015】このような理由から、情報の記録動作を行
なう前にテスト信号を記録して、記録時のレーザダイオ
ードのパワーやレーザビームのパルス幅といったパラメ
ータを決定するテストライトの手法が提案されている。
これに関連する従来技術について、以下に説明する。
For this reason, a test write method has been proposed in which a test signal is recorded before an information recording operation is performed, and parameters such as the power of a laser diode and the pulse width of a laser beam at the time of recording are determined. I have.
The related art related to this will be described below.

【0016】特開平2−128326号公報に開示され
た光学的記録再生装置は、情報信号を記録する直前に情
報信号を記録するトラックまたはその近傍のトラック
に、段階的または連続的にレーザ光源の発光量を変化さ
せながら信号を記録し、再生した信号から記録に最適な
レーザ光源の発光量を検出して設定するものである。
An optical recording / reproducing apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-128326 discloses a method of recording a laser beam on a track for recording an information signal or a track near the track immediately before recording an information signal. A signal is recorded while changing the light emission amount, and the optimum light emission amount of the laser light source for recording is detected and set from the reproduced signal.

【0017】また、特開平6−139574号公報に開
示された光ディスク装置は、2個以上の“1”が続くパ
ターンのデータと、2個以上の“0”が続くパターンの
データと、変調方式における最大周波数のパターンのデ
ータとを含むテスト用データを記録し、2個以上の
“1”が続くパターンのデータの再生信号振幅のピーク
値と、2個以上の“0”が続くパターンのデータの再生
信号振幅のピーク値との中心値が、最大周波数のパター
ンのデータの再生信号振幅の平均値とほぼ等しくなるよ
うに半導体レーザの記録パワーを設定するものである。
The optical disk device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-139574 discloses a pattern data having two or more "1" s, a data having a pattern having two or more "0s", and a modulation method. The test data including the data of the pattern of the maximum frequency in the above is recorded, and the peak value of the reproduction signal amplitude of the data of the pattern followed by two or more “1” s and the data of the pattern followed by the two or more “0s” The recording power of the semiconductor laser is set such that the median value of the peak value of the reproduced signal amplitude and the average value of the reproduced signal amplitude of the data of the pattern of the maximum frequency are substantially equal to each other.

【0018】また、特開平9−231571号公報に開
示されたテストライト方法は、所定信号の記録パワーと
その再生信号振幅との関係に基づいて消去状態を形成す
るパワーレベル、所定の長さの異なる2つの信号の記録
パワーとその再生信号の中間値との差の関係に基づいて
記録状態を形成する第1のパワーレベル、所定信号の記
録パワーとその再生微分信号の正負の振幅の差の関係に
基づいて記録状態を形成する第2のパワーレベルをそれ
ぞれ決定し、得られた結果と、記録媒体上のアモルファ
ス状態と消去状態との存在比率から、消去状態および記
録状態を形成する最適パワーレベルを決定するものであ
る。
Further, the test write method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-231571 discloses a test write method in which a power level for forming an erased state based on the relationship between the recording power of a predetermined signal and the amplitude of the reproduced signal, and a predetermined length. A first power level for forming a recording state based on a relationship between a recording power of two different signals and an intermediate value of the reproduction signal, a recording power of a predetermined signal and a difference between a positive and negative amplitude of a reproduction differential signal of the predetermined signal. The second power level for forming the recording state is determined based on the relationship, and the optimum power for forming the erasing state and the recording state is determined based on the obtained result and the ratio of the amorphous state and the erasing state on the recording medium. Determine the level.

【0019】また、特開平6−231463号公報に開
示された光学的情報記録再生装置は、1セクタ内で段階
的に記録パワーを変えて記録し、その再生信号の振幅を
計測して振幅データが最大であった記録パワーを最適記
録パワーと判定するものである。
The optical information recording / reproducing apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-231463 changes the recording power in one sector in a step-by-step manner, measures the amplitude of the reproduced signal, and measures the amplitude data. Is determined as the optimum recording power.

【0020】また、特開平6−295439号公報に開
示された記録方法は、レーザのパワーを一定にしてお
き、テスト記録のパルスの幅を基準となる設定値を中心
に増減させてテスト記録を行ない、その結果を再生して
統計処理を行ない、得られた結果を元にユーザデータを
記録するための記録条件を設定するものである。
Further, in the recording method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-295439, the power of the laser is kept constant, and the pulse width of the test recording is increased or decreased around a set value serving as a reference. Then, the result is reproduced, statistical processing is performed, and recording conditions for recording user data are set based on the obtained result.

【0021】また、特開平9−219021号公報に開
示された情報記録再生方法は、記録パワーを逐次変化さ
せながら未記録部と記録部とからなるパターンに情報を
テスト記録し、このテスト記録した情報を再生して記録
パワーに対応した記録信号振幅をモニタし、規格化され
た傾斜に基づいて記録パワーの過不足を評価することに
より最適記録パワーを決定するものである。
In the information recording / reproducing method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-219021, information is test-recorded in a pattern consisting of an unrecorded portion and a recorded portion while sequentially changing the recording power, and the test recording is performed. The optimum recording power is determined by reproducing information and monitoring the recording signal amplitude corresponding to the recording power, and evaluating the excess or deficiency of the recording power based on the standardized slope.

【0022】また、特開平10−188286号公報に
開示された消去パワー設定方法は、ディスク上のあるト
ラックにテスト信号を記録し、そのトラック上をパワー
PeのDC発光レーザでトレースし、再生した信号のマ
ーク部分の消去の様子を調べ、最適消去パワーの点に消
去パワーを設定する。このトレースに使用するパワーP
eを、記録された信号が消えない小さな値の初期値から
徐々に増加してゆき、予め定められた閾値を越えた点と
その後再び閾値を下回った点のパワーPeとを記憶して
おいて、それらに基づいて最適消去パワーを決定するも
のである。
In the erasing power setting method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-188286, a test signal is recorded on a certain track on a disk, and the track is reproduced by tracing the track with a DC light emitting laser of Pe power. The state of erasing of the mark portion of the signal is checked, and the erasing power is set at the point of the optimum erasing power. Power P used for this trace
e is gradually increased from a small initial value at which the recorded signal does not disappear, and the power Pe at a point exceeding a predetermined threshold and thereafter at a point below the threshold again is stored. , Based on which the optimum erasing power is determined.

【0023】また、特開平10−64064号公報に開
示された光ディスク記録方法は、書込パワー、消去パワ
ー、ボトムパワーをそれぞれ変化させてテスト記録を行
ない、これを再生してアシンメトリ値が最適値となる
か、変調度が最適となるかまたはエラーレートが最低と
なる書込パワー、消去パワー、ボトムパワーの各最適値
を求め、これら最適値の組み合わせを用いて実記録を行
なうものである。
The optical disk recording method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-64064 conducts test recording by changing write power, erase power, and bottom power, respectively, and reproduces the test recording to obtain an optimum asymmetry value. Or the optimum values of the write power, erase power, and bottom power at which the modulation degree becomes optimum or the error rate becomes the lowest, and actual recording is performed using a combination of these optimum values.

【0024】また、特開平10−320777号公報に
開示された記録方法は、同一マーク繰り返しパターンま
たはランダムマークパターンを記録し、再生信号からク
ロックとマークのデータエッジとのずれを検出すること
により、記録のしきい値パワーを求め、これを定数倍し
て記録パワーの最適化を行なうものである。
The recording method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-320777 discloses a method of recording the same mark repetition pattern or random mark pattern and detecting a shift between a clock and a data edge of the mark from a reproduction signal. The threshold power for recording is obtained, and the recording power is optimized by multiplying the threshold power by a constant.

【0025】[0025]

【発明が解決しようとする課題】図13は、上述したパ
ラメータPe、Tcl、Ttop、TmpまたはPpの変化に対
するジッタの変化を示したグラフである。図13(a)
〜図13(e)から分かるように、パラメータによって
ジッタ値に与える影響が異なっている。特に図13
(d)に示すように、上述した第2の部分のパルス列の
パルス幅Tmpがジッタ値に影響を与えやすいパラメータ
であることが分かっている。この理由は、Tmpがマーク
形成時における熱の蓄積を制御するためのパラメータで
あり、熱を蓄積し過ぎるとマークの後端部が後ろへ移動
してマーク長が長くなり、熱の蓄積が不足するとマーク
の後端部が前へ移動してマーク長が短くなることでジッ
タ値が悪化するためである。
FIG. 13 is a graph showing a change in jitter with respect to a change in the parameters Pe, Tcl, Ttop, Tmp or Pp described above. FIG. 13 (a)
As can be seen from FIG. 13E, the effect on the jitter value differs depending on the parameter. In particular, FIG.
As shown in (d), it has been found that the pulse width Tmp of the pulse train of the second portion is a parameter that easily affects the jitter value. The reason for this is that Tmp is a parameter for controlling heat accumulation at the time of mark formation. If heat is accumulated too much, the rear end of the mark moves backward, the mark length becomes longer, and heat accumulation becomes insufficient. Then, the rear end of the mark moves forward and the mark length is shortened, so that the jitter value is deteriorated.

【0026】しかし、上述したように、従来のテストラ
イトの方法は主に記録パワーPpの最適化に関するもの
であり、記録パルスにおけるパルス幅の最適化に関する
ものは開示されていない。
However, as described above, the conventional test write method mainly relates to the optimization of the recording power Pp, and does not disclose the optimization of the pulse width of the recording pulse.

【0027】また、図14は、パラメータPe、Tcl、
Ttop、TmpまたはPpの変化に対するアシンメトリ値の
変化を示したグラフである。図14(a)〜図14
(e)から分かるように、パラメータによってアシンメ
トリ値に与える影響の度合いが違っており、特にTcl、
TtopおよびPpはアシンメトリ値に大きな影響を与え
る。この理由は、比較的短いマークを形成するときの記
録深さがこれら3つのパラメータに影響されやすいため
である。図14(a)〜図14(e)に示すように、パ
ラメータの変化に対してアシンメトリ値はほぼ直線的に
変化するため、テストライトの指標としては適している
が、パラメータ間で影響を受けやすいという問題点があ
る。
FIG. 14 shows parameters Pe, Tcl,
9 is a graph showing a change in asymmetry value with respect to a change in Ttop, Tmp or Pp. 14 (a) to 14
As can be seen from (e), the degree of influence on the asymmetry value differs depending on the parameter, and in particular, Tcl,
Ttop and Pp greatly affect the asymmetry value. The reason is that the recording depth when forming a relatively short mark is easily affected by these three parameters. As shown in FIGS. 14A to 14E, the asymmetry value changes almost linearly with a change in the parameter, and thus is suitable as an index of the test light, but is affected by the parameter. There is a problem that it is easy.

【0028】図15は、パラメータ間によるアシンメト
リ値の影響を説明するための図である。たとえば、媒体
1および媒体2の2種類のディスクについてPpのみに
よるテストライトを行なうとする。ここで、この2枚の
ディスクについて、ジッタ値が最小になるパラメータ値
を測定したところ、Ppについては媒体1および媒体2
がともにPp1であり、Tclについては媒体がTcl1であ
り媒体2がTcl2であったと仮定する。
FIG. 15 is a diagram for explaining the effect of the asymmetry value between the parameters. For example, it is assumed that a test write using only Pp is performed on two types of disks, medium 1 and medium 2. Here, the parameter values that minimize the jitter value of these two disks were measured.
Are both Pp1, and for Tcl, it is assumed that the medium is Tcl1 and the medium 2 is Tcl2.

【0029】Pp以外のパラメータを適当な値に設定
し、Ppを変化させてこの2枚のディスクのアシンメト
リを測定したところ、図15(a)のようになったとす
る。なお、このときのTclの値がTcl1であるとする。
従来のテストライト手法に従えば、アシンメトリが0の
ときのPp値が最適値となるので、媒体1においては最
適値がジッタ値が最小となるPp値に近くなるが、媒体
2においては最適値がジッタ値が最小となるPp値から
かなり離れた値となる。これは、アシンメトリが他のパ
ラメータ、この場合はTcl値の影響を受けたためであ
る。
It is assumed that the parameters other than Pp are set to appropriate values and the asymmetry of the two discs is measured while changing Pp, as shown in FIG. It is assumed that the value of Tcl at this time is Tcl1.
According to the conventional test write method, the Pp value when the asymmetry is 0 becomes the optimum value. Therefore, in the medium 1, the optimum value is close to the Pp value at which the jitter value is minimum, but in the medium 2, the optimum value is Is a value far away from the Pp value at which the jitter value is minimized. This is because the asymmetry was affected by another parameter, in this case the Tcl value.

【0030】図15(b)は、Tcl値とアシンメトリ値
との関係を示すグラフである。図15(b)に示すよう
に、媒体1と媒体2とでは同じTcl値であってもアシン
メトリが異なるため、この2種類のディスクに同一のT
cl値、たとえばTcl1を用いて他のパラメータのテスト
ライトを行なった場合、本来期待した値とは異なった値
になる可能性が高い。従来のテストライト方法において
は、この点に着目したものはなく、安定したテストライ
トが行なえないという問題点があった。
FIG. 15B is a graph showing the relationship between the Tcl value and the asymmetry value. As shown in FIG. 15B, since the asymmetry is different between the medium 1 and the medium 2 even though they have the same Tcl value, the same T
When a test write of another parameter is performed using the cl value, for example, Tcl1, there is a high possibility that the value will be different from the originally expected value. In the conventional test write method, there is no method that pays attention to this point, and there is a problem that a stable test write cannot be performed.

【0031】また、図14(a)に示すように、媒体に
よってはPe値がほとんどアシンメトリ値に影響を与え
ないこともあり、アシンメトリに基づいたPe値のテス
トライトは行なえない場合があることも分かった。
As shown in FIG. 14 (a), depending on the medium, the Pe value hardly affects the asymmetry value, and the test write of the Pe value based on the asymmetry may not be performed. Do you get it.

【0032】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、第1の目的は、高精度なテストライ
トを行なえる光ディスク記録再生装置およびテストライ
ト方法を提供することである。
The present invention has been made to solve the above problems, and a first object of the present invention is to provide an optical disk recording / reproducing apparatus and a test write method capable of performing a highly accurate test write.

【0033】第2の目的は、光ディスク記録再生装置に
要求されている性能に柔軟に対応したテストライトを行
なえる光ディスク記録再生装置およびテストライト方法
を提供することである。
A second object is to provide an optical disk recording / reproducing apparatus and a test writing method capable of performing a test write flexibly corresponding to the performance required of the optical disk recording / reproducing apparatus.

【0034】[0034]

【課題を解決するための手段】本発明のある局面に従え
ば、記録される情報に対応したパルス列を情報の最小単
位よりも細かいパルス列に変換し、細かいパルス列によ
ってレーザビームの強度を変調し、強度変調されたレー
ザビームを媒体上の記録層に集光して加熱し、その温度
分布によって光学的な状態を変化させて情報を記録し、
再生時には記録層に比較的弱いレーザビームを集光し、
その反射光の状態で記録層に記録された情報を再生する
光記録再生装置であって、外部からの動作要求に基づい
て記録再生動作を制御する記録再生動作制御手段と、記
録再生動作制御手段からの指令に基づいて、集光された
レーザビームを所定の位置に移動させるアクセス制御手
段と、記録再生動作制御手段からの指令に基づいて、少
なくとも比較的長いパターンの繰り返しを含む第1の所
定パターンと、少なくとも比較的長いパターンの繰り返
しと比較的短いパターンの繰り返しとを主に含む第2の
所定パターンのいずれかを選択して出力するテストパタ
ーン発生手段と、記録再生動作制御手段からの指令に基
づいて、記録される情報に対応したパルス列かまたはテ
ストパターン発生手段からの出力信号のいずれかを選択
して記録パルス発生手段に出力する選択手段と、選択手
段と記録再生動作制御手段とからの指令に基づいて、記
録層の光学的状態を第1の状態に変化させ得る第1の温
度以上に上昇させるための第1のパルス列と、記録層の
温度を第1の温度以上に保つための第2のパルス列と、
記録層を記録層の光学的状態を第2の状態に変化させ得
る第2の温度以上で第1の温度未満に冷却するための第
3のパルス列とを発生する記録パルス発生手段と、記録
パルス発生手段から出力される3種類のパルス列と記録
再生動作制御手段からの指令とに基づいて、第1の温度
以上に記録層を加熱するための第1のパワーと、記録層
を前記第2の温度以上第1の温度未満に加熱するための
第2のパワーと、記録層の状態が変化しない第3のパワ
ーの間でレーザビームのパワーを変調するレーザ制御手
段と、記録されたパルス列の再生信号振幅を測定する再
生信号振幅測定手段と、記録されたパルス列の再生信号
の中心レベルを測定する再生信号中心レベル測定手段と
を含み、記録再生動作制御手段は、通常の記録に先立っ
て、各種パラメータを決定するテストライトモードに移
行し、所定の位置にレーザビームスポットを移動するよ
う前記アクセス制御手段に指令を出力し、記録パルス発
生手段入力信号として所定のテストパターンが選択され
るよう、テストパターン発生手段および選択手段に指令
を出力し、再生信号振幅測定手段および再生信号中心レ
ベル測定手段の出力を所定のアルゴリズムにしたがって
処理し、第2のパワー、第3のパルス列のパルス幅、第
1のパルス列のパルス幅、第2のパルス列のパルス幅、
第1のパワーの順にパラメータを決定するよう動作す
る。
According to one aspect of the present invention, a pulse train corresponding to information to be recorded is converted into a pulse train finer than the minimum unit of information, and the intensity of the laser beam is modulated by the fine pulse train. Focuses and heats the intensity-modulated laser beam on the recording layer on the medium, records information by changing the optical state according to the temperature distribution,
At the time of reproduction, a relatively weak laser beam is focused on the recording layer,
An optical recording / reproducing apparatus for reproducing information recorded on a recording layer in a state of the reflected light, comprising: a recording / reproducing operation control means for controlling a recording / reproducing operation based on an external operation request; An access control means for moving the focused laser beam to a predetermined position based on a command from the control unit; and a first predetermined pattern including at least a relatively long pattern repetition based on a command from the recording / reproduction operation control means. A pattern, a test pattern generating means for selecting and outputting one of a second predetermined pattern mainly including at least a relatively long pattern repetition and a relatively short pattern repetition, and a command from the recording / reproduction operation control means. , A pulse train corresponding to the information to be recorded or an output signal from the test pattern generator is selected to generate a recording pulse. Means for raising the temperature of the recording layer to a first temperature or higher that can change the optical state of the recording layer to the first state, based on a command from the selecting means output to the means, and a command from the selecting means and the recording / reproducing operation control means. A first pulse train, a second pulse train for keeping the temperature of the recording layer at or above the first temperature,
Recording pulse generating means for generating a third pulse train for cooling the recording layer to a temperature higher than a second temperature which can change an optical state of the recording layer to a second state and lower than the first temperature; and a recording pulse. A first power for heating the recording layer to a first temperature or higher based on the three types of pulse trains output from the generating means and a command from the recording / reproducing operation control means, and a second power supply for heating the recording layer to the second temperature. Laser control means for modulating the power of the laser beam between a second power for heating to a temperature equal to or higher than the first temperature and a third power for which the state of the recording layer does not change, and reproduction of a recorded pulse train A reproducing signal amplitude measuring means for measuring a signal amplitude; and a reproducing signal center level measuring means for measuring a central level of a reproducing signal of a recorded pulse train. Parame To a test write mode for determining the laser beam spot to a predetermined position, output a command to the access control means, a test pattern to select a predetermined test pattern as a recording pulse generating means input signal, A command is output to the generating means and the selecting means, the outputs of the reproduced signal amplitude measuring means and the reproduced signal center level measuring means are processed according to a predetermined algorithm, and the second power, the pulse width of the third pulse train, the first pulse The pulse width of the pulse train, the pulse width of the second pulse train,
It operates to determine the parameters in the order of the first power.

【0035】この順序でパラメータを決定することによ
って、パラメータ間の影響による誤差を少なくすること
ができ、高精度なテストライトが行えるようになる。
By determining the parameters in this order, errors due to the influence between the parameters can be reduced, and a highly accurate test write can be performed.

【0036】好ましくは、比較的長いパターンはレーザ
ビームのスポット径より十分長く、比較的短いパターン
は情報を記録する際に用いる変調方式の最も短いパター
ンである。
Preferably, the relatively long pattern is sufficiently longer than the spot diameter of the laser beam, and the relatively short pattern is the shortest pattern of the modulation method used for recording information.

【0037】好ましくは、第1および第2の所定パター
ンは、通常記録時の同期パターンを含む。
Preferably, the first and second predetermined patterns include a synchronization pattern during normal recording.

【0038】好ましくは、記録再生動作制御手段は、第
2のパワーの決定プロセスにおいて、第1の所定パター
ンが前記記録パルス発生手段に出力されるようにテスト
パターン発生手段および選択手段に指令を出力し、第1
の所定長さの間、所定のパラメータ値で第1の所定パタ
ーンを記録し、記録終了後前記第1の所定パターンの記
録開始位置にレーザビームのスポットを移動させるよ
う、アクセス制御手段に指令を出力し、記録された前記
第1の所定パターンを再生し、第1の長さより短い第2
の所定長さの区間毎の再生信号振幅測定手段の出力を第
1の値として記憶し、再生動作終了後、再度第1の所定
パターンの記録開始位置にレーザビームのスポットを移
動させるよう、アクセス制御手段に指令を出力し、記録
された第1の所定パターンを第2の長さの区間ごとにパ
ワーが増加または減少する強度変調されないレーザビー
ムで消去するよう、記録パルス発生手段およびレーザ制
御手段に指令を出力し、消去動作終了後第1の所定パタ
ーンの記録開始位置にレーザビームのスポットを移動さ
せるよう、アクセス制御手段に指令を出力し、消去され
た第1の所定パターンを再生し、第2の所定の長さの区
間ごとの再生信号振幅測定手段の出力を第2の値として
記憶し、第1の値と第2の値とから第2の長さの区間ご
との消去率を求め、この値から第2のパワーを決定する
よう動作する。
Preferably, the recording / reproduction operation control means outputs an instruction to the test pattern generation means and the selection means so that the first predetermined pattern is output to the recording pulse generation means in the second power determination process. And the first
During the predetermined length, a first predetermined pattern is recorded with a predetermined parameter value, and after the recording is completed, an instruction is issued to the access control means to move the spot of the laser beam to the recording start position of the first predetermined pattern. Outputting and reproducing the recorded first predetermined pattern, the second predetermined pattern being shorter than the first length.
The output of the reproduction signal amplitude measuring means for each section of the predetermined length is stored as a first value, and after the reproduction operation is completed, the laser beam spot is again moved to the recording start position of the first predetermined pattern. Recording pulse generating means and laser control means for outputting a command to the control means and erasing the recorded first predetermined pattern by a laser beam which is not intensity-modulated and whose power increases or decreases every second length section To the access control means to move the spot of the laser beam to the recording start position of the first predetermined pattern after the end of the erasing operation, and to reproduce the erased first predetermined pattern; The output of the reproduction signal amplitude measuring means for each section of the second predetermined length is stored as a second value, and the erasure rate for each section of the second length is calculated from the first value and the second value. Request Operative to determine a second power from this value.

【0039】消去率に基づいて第2のパワーを決定する
ので、不確定な第2の強度とアシンメトリとの関係に影
響されることなく第2の強度を決定するすることが可能
となる。
Since the second power is determined based on the erasure rate, it is possible to determine the second power without being affected by the relationship between the uncertain second power and the asymmetry.

【0040】さらに好ましくは、記録再生動作制御手段
は、隣接する第2の長さの区間での消去率の差を求め、
その値が所定の値以下になる強度変調しないパワーの最
小値を求め、その値に第1の所定の演算を行って補正
し、その結果を第2のパワーの設定値とするように動作
する。
[0040] More preferably, the recording / reproducing operation control means finds a difference in erasure rate between adjacent second length sections,
The minimum value of the power not intensity-modulated so that the value becomes equal to or less than a predetermined value is obtained, the value is corrected by performing a first predetermined operation, and the result is set as a second power setting value. .

【0041】パワーの最小値に第1の所定の演算を行っ
て第2のパワーとすることにより、最適な第2のパワー
を決定することが可能となる。
By performing the first predetermined operation on the minimum value of the power to obtain the second power, it is possible to determine the optimum second power.

【0042】好ましくは、記録再生動作制御手段は、第
3のパルス列のパルス幅の決定プロセスにおいて、第2
の所定パターンが記録パルス発生手段に出力されるよう
にテストパターン発生手段および選択手段に指令を出力
し、所定の位置にレーザビームのスポットを移動させる
よう、アクセス制御手段に指令を出力し、第2の所定パ
ターンを第2の長さの区間ごとに第3のパルス列のパル
ス幅を増加または減少させて記録するよう、記録パルス
発生手段およびレーザ制御手段に指令を出力し、記録動
作終了後第2の所定パターンの記録開始位置にレーザビ
ームのスポットを移動させるよう、アクセス制御手段に
指令を出力し、記録された第2の所定パターンを再生
し、第2の所定の長さの区間ごとの再生信号中心レベル
測定手段の出力を記憶し、記憶された値から第3のパル
ス列のパルス幅を決定するよう動作する。
Preferably, the recording / reproducing operation control means includes a step of determining the second pulse width in the third pulse train.
A command is output to the test pattern generation means and the selection means so that the predetermined pattern is output to the recording pulse generation means, and a command is output to the access control means so as to move the spot of the laser beam to a predetermined position. And outputting a command to the recording pulse generating means and the laser control means so as to record the second predetermined pattern by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train for each section of the second length. 2 to output a command to the access control means to move the spot of the laser beam to the recording start position of the second predetermined pattern, reproduce the recorded second predetermined pattern, and read the second predetermined pattern for each section of the second predetermined length. The output of the reproduction signal center level measuring means is stored, and the pulse width of the third pulse train is determined from the stored value.

【0043】したがって、再生信号が最適となるように
第3のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Accordingly, it is possible to determine the pulse width of the third pulse train so that the reproduced signal is optimized.

【0044】さらに好ましくは、記録再生動作制御手段
は、記憶された値から比較的短いパターンに相当する部
分と比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、第
2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録を
行ったときの第3のパルス列のパルス幅との関係から差
が0になる第3のパルス列のパルス幅を求め、その値に
第2の所定の演算を行って補正しその結果を第3のパル
ス列のパルス幅の設定値とするよう動作する。
More preferably, the recording / reproducing operation control means detects a portion corresponding to a relatively short pattern and a portion corresponding to a relatively long pattern from the stored values, and for each section of the second length. The difference is obtained, the pulse width of the third pulse train whose difference is 0 is obtained from the relationship between the result and the pulse width of the third pulse train at the time of recording, and a second predetermined calculation is performed on the value. The operation is performed so that the result is corrected and the result is used as the set value of the pulse width of the third pulse train.

【0045】したがって、シンメトリが最適となるよう
に第3のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the third pulse train so that symmetry is optimized.

【0046】好ましくは、記録再生動作制御手段は、第
1のパルス列のパルス幅の決定プロセスにおいて、第2
の所定パターンが前記記録パルス発生手段に出力される
ようにテストパターン発生手段および選択手段に指令を
出力し、所定の位置にレーザビームのスポットを移動さ
せるよう、アクセス制御手段に指令を出力し、第2の所
定パターンを第2の長さの区間ごとに第3のパルス列の
パルス幅を増加または減少させて記録するよう、記録パ
ルス発生手段およびレーザ制御手段に指令を出力し、記
録動作終了後第2の所定パターンの記録開始位置にレー
ザビームのスポットを移動させるように、アクセス制御
手段に指令を出力し、記録された第2の所定パターンを
再生し、第2の所定の長さの区間ごとの再生信号中心レ
ベル測定手段の出力を記憶し、記憶された値から第1の
パルス列のパルス幅を決定するよう動作する。
Preferably, the recording / reproducing operation control means includes the step of determining the pulse width of the first pulse train.
A command is output to the test pattern generation means and the selection means so that the predetermined pattern is output to the recording pulse generation means, and a command is output to the access control means so as to move the spot of the laser beam to a predetermined position. A command is output to the recording pulse generation means and the laser control means so as to record the second predetermined pattern by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train for each section of the second length. A command is outputted to the access control means so as to move the spot of the laser beam to the recording start position of the second predetermined pattern, the recorded second predetermined pattern is reproduced, and the section of the second predetermined length is outputted. An operation is performed to store the output of the reproduction signal center level measuring means for each and determine the pulse width of the first pulse train from the stored value.

【0047】したがって、再生信号が最適となるように
第1のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the first pulse train so that the reproduced signal is optimized.

【0048】さらに好ましくは、記録再生動作制御手段
は、記憶された値から比較的短いパターンに相当する部
分と比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、第
2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録を
行ったときの第1のパルス列のパルス幅との関係から差
が0になる前記第1のパルス列を求め、その値に第3の
所定の演算を行って補正しその結果を第3のパルス列の
パルス幅の設定値とするよう動作する。
More preferably, the recording / reproducing operation control means detects a portion corresponding to a relatively short pattern and a portion corresponding to a relatively long pattern from the stored values, and for each section of the second length, The difference is obtained, the first pulse train having a difference of 0 is obtained from the relationship between the result and the pulse width of the first pulse train at the time of recording, and a third predetermined calculation is performed on the value. The operation is performed so that the result of the correction is set as the set value of the pulse width of the third pulse train.

【0049】したがって、アシンメトリが最適となるよ
うに第1のパルス列のパルス幅を決定することが可能と
なる。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the first pulse train so that the asymmetry is optimized.

【0050】好ましくは、記録再生動作制御手段は、第
2のパルス列のパルス幅の決定プロセスにおいて、第2
の所定パターンが記録パルス発生手段に出力されるよう
にテストパターン発生手段および選択手段に指令を出力
し、所定の位置にレーザビームのスポットを移動させる
よう、アクセス制御手段に指令を出力し、第2の所定パ
ターンを第2の長さの区間ごとに第3のパルス列のパル
ス幅を増加または減少させて記録するよう、記録パルス
発生手段およびレーザ制御手段に指令を出力し、記録動
作終了後第2の所定パターンの記録開始位置にレーザビ
ームのスポットを移動させるよう、アクセス制御手段に
指令を出力し、記録された第2の所定パターンを再生
し、第2の所定の長さの区間ごとの再生信号中心レベル
測定手段の出力を記憶し、記憶された値から第2のパル
ス列のパルス幅を決定するよう動作する。
Preferably, the recording / reproducing operation control means includes the second pulse train in the process of determining the pulse width of the second pulse train.
A command is output to the test pattern generation means and the selection means so that the predetermined pattern is output to the recording pulse generation means, and a command is output to the access control means so as to move the spot of the laser beam to a predetermined position. And outputting a command to the recording pulse generating means and the laser control means so as to record the second predetermined pattern by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train for each section of the second length. 2 to output a command to the access control means to move the spot of the laser beam to the recording start position of the second predetermined pattern, reproduce the recorded second predetermined pattern, and read the second predetermined pattern for each section of the second predetermined length. The output of the reproduction signal center level measuring means is stored, and the pulse width of the second pulse train is determined from the stored value.

【0051】したがって、再生信号が最適となるように
第2のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the second pulse train so that the reproduced signal is optimized.

【0052】さらに好ましくは、記録再生動作制御手段
は、記憶された値から比較的短いパターンに相当する部
分と比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、第
2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録を
行ったときの第2のパルス列のパルス幅との関係を2本
の直線に近似し、その2本の直線の交点での第2のパル
ス列のパルス幅を求め、その値に第4の所定の演算を行
って補正しその結果を第2のパルス列のパルス幅の設定
値とするよう動作する。
More preferably, the recording / reproducing operation control means detects a portion corresponding to a relatively short pattern and a portion corresponding to a relatively long pattern from the stored values, and for each section of the second length. The difference is obtained, the relationship between the result and the pulse width of the second pulse train at the time of recording is approximated to two straight lines, and the pulse width of the second pulse train at the intersection of the two straight lines is calculated. The obtained value is corrected by performing a fourth predetermined operation, and the result is used as the set value of the pulse width of the second pulse train.

【0053】したがって、アシンメトリが最適となるよ
うに第2のパルス列のパルス幅を決定することが可能と
なる。
Therefore, the pulse width of the second pulse train can be determined so that the asymmetry is optimized.

【0054】好ましくは、記録再生動作制御手段は、第
1のパワーの決定プロセスにおいて、第2の所定パター
ンが前記記録パルス発生手段に出力されるようにテスト
パターン発生手段および選択手段に指令を出力し、所定
の位置にレーザビームのスポットを移動させるように、
アクセス制御手段に指令を出力し、第2の所定パターン
を第2の長さの区間ごとに第1のパワーを増加または減
少させて記録するよう、記録パルス発生手段およびレー
ザ制御手段に指令を出力し、記録動作終了後第2の所定
パターンの記録開始位置にレーザビームのスポットを移
動させるよう、アクセス制御手段に指令を出力し、記録
された第2の所定パターンを再生し、第2の所定の長さ
の区間ごとの再生信号中心レベル測定手段の出力を記憶
し、記憶された値から第1のパワーを決定するよう動作
する。
Preferably, the recording / reproducing operation control means outputs a command to the test pattern generation means and the selection means so that the second predetermined pattern is output to the recording pulse generation means in the first power determination process. Then, to move the spot of the laser beam to a predetermined position,
A command is outputted to the access control means, and a command is outputted to the recording pulse generating means and the laser control means so as to record the second predetermined pattern by increasing or decreasing the first power for each section of the second length. Then, after the recording operation is completed, a command is outputted to the access control means so as to move the spot of the laser beam to the recording start position of the second predetermined pattern, the recorded second predetermined pattern is reproduced, and the second predetermined pattern is reproduced. The operation is performed to store the output of the reproduction signal center level measuring means for each section of the length, and to determine the first power from the stored value.

【0055】したがって、再生信号が最適となるように
第1の強度を決定することが可能となる。
Therefore, it is possible to determine the first intensity so that the reproduced signal is optimal.

【0056】さらに好ましくは、記録再生動作制御手段
は、記憶された値から比較的短いパターンに相当する部
分と比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、第
2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録を
行ったときの第1のパワーとの関係から差が0になる前
記第1のパワーを求め、その値に第5の所定の演算を行
って補正しその結果を第1のパワーの設定値とするよう
動作する。
More preferably, the recording / reproducing operation control means detects a portion corresponding to a relatively short pattern and a portion corresponding to a relatively long pattern from the stored values, and for each section of the second length. The difference is obtained, the first power at which the difference becomes 0 is obtained from the relationship between the result and the first power at the time of recording, and the value is corrected by performing a fifth predetermined operation on the value. The operation is performed so that the result is set to the first power setting value.

【0057】したがって、アシンメトリが最適となるよ
うに第1の強度を決定することが可能となる。
Therefore, it is possible to determine the first intensity so that the asymmetry is optimized.

【0058】好ましくは、記録再生動作制御手段は、第
2のパワーを決定するプロセスにおいて、第1のパター
ンを記録するとともに、それを記録する際の第1および
第2のパワーを通常記録における最大パワーに設定し、
第1〜第3のパルス列のパルス幅は通常記録における標
準的な値を設定するよう記録パルス発生手段およびレー
ザ制御手段に指令を出力するよう動作する。
Preferably, in the process of determining the second power, the recording / reproducing operation control means records the first pattern and sets the first and second powers for recording the maximum power in the normal recording. Set to power,
The pulse widths of the first to third pulse trains operate so as to output a command to the recording pulse generating means and the laser control means so as to set a standard value in normal recording.

【0059】さらに好ましくは、記録再生動作制御手段
は、第2のパワー以外のパラメータを決定するプロセス
において、現在進行中のプロセス以前のプロセスで決定
されたパラメータについては、その決定された値を設定
し、第2のパターンを記録するよう記録パルス発生手段
およびレーザ制御手段に指令を出力するよう動作する。
More preferably, in the process of determining parameters other than the second power, the recording / reproducing operation control means sets the determined values for the parameters determined in the process before the process currently in progress. Then, it operates to output a command to the recording pulse generating means and the laser control means to record the second pattern.

【0060】好ましくは、再生信号振幅測定手段は、比
較的長いパターンの再生信号の高レベル側のエンベロー
プを検出する高レベルエンベロープ検出手段と、比較的
長いパターンの再生信号の低レベル側のエンベロープを
検出する低レベルエンベロープ検出手段と、高レベルお
よび低レベルエンベロープ検出手段の出力の差を求める
差分手段と、差分手段の出力をA/D変換するA/D変
換手段とを含む。
Preferably, the reproduced signal amplitude measuring means comprises a high level envelope detecting means for detecting a high level envelope of a relatively long pattern reproduced signal and a low level envelope of a relatively long pattern reproduced signal. It includes a low-level envelope detection means for detecting, a difference means for obtaining a difference between outputs of the high-level and low-level envelope detection means, and an A / D conversion means for A / D converting an output of the difference means.

【0061】好ましくは、再生信号中心レベル測定手段
は、比較的長いパターンに対応した周波数より低いカッ
トオフ周波数を有するローパスフィルタ手段と、ローパ
スフィルタ手段の出力をA/D変換するA/D変換手段
とを含む。
Preferably, the reproduction signal center level measuring means includes a low-pass filter having a cutoff frequency lower than a frequency corresponding to a relatively long pattern, and an A / D converter for A / D-converting an output of the low-pass filter. And

【0062】本発明の別の局面に従えば、記録される情
報に対応したパルス列を情報の最小単位よりも細かいパ
ルス列に変換し、細かいパルス列によってレーザビーム
の強度を変調し、強度変調されたレーザビームを媒体上
の記録層に集光して加熱し、その温度分布によって光学
的な状態を変化させて情報を記録する光記録再生装置の
テストライト方法であって、細かいパルス列は少なくと
も記録層の光学的状態を第1の状態に変化させ得る第1
の温度以上に上昇させるための第1のパルス列と、記録
層の温度を第1の温度以上に保つための第2のパルス列
と、記録層を記録層の光学的状態を第2の状態に変化さ
せ得る第2の温度以上で第1の温度未満に冷却するため
の第3のパルス列とを含み、レーザビームの強度は、少
なくとも第1の温度以上に記録層を加熱するための第1
のパワーと、記録層を第2の温度以上第1の温度未満に
加熱するための第2のパワーと、記録層の状態が変化し
ない第3のパワーとを含み、テストライト方法は、第2
のパワーを決定する第1のステップと、第3のパルス列
のパルス幅を決定する第2のステップと、第1のパルス
列のパルス幅を決定する第3のステップと、第2のパル
ス列のパルス幅を決定する第4のステップと、第1のパ
ワーを決定する第5のステップとを含む。
According to another aspect of the present invention, a pulse train corresponding to information to be recorded is converted into a pulse train finer than the minimum unit of information, and the intensity of the laser beam is modulated by the fine pulse train. A test write method for an optical recording / reproducing apparatus in which a beam is focused on a recording layer on a medium and heated, and the optical state is changed according to the temperature distribution to record information. A first state that can change an optical state to a first state;
A first pulse train for raising the temperature of the recording layer above the first temperature, a second pulse train for keeping the temperature of the recording layer above the first temperature, and changing the optical state of the recording layer to the second state. A third pulse train for cooling to a temperature equal to or higher than the second temperature and lower than the first temperature, wherein the intensity of the laser beam is at least equal to the first temperature for heating the recording layer to at least the first temperature.
, A second power for heating the recording layer to a temperature equal to or higher than the second temperature and lower than the first temperature, and a third power that does not change the state of the recording layer.
A first step of determining the power of the first pulse train, a second step of determining the pulse width of the third pulse train, a third step of determining the pulse width of the first pulse train, and the pulse width of the second pulse train And a fifth step of determining a first power.

【0063】この順序でパラメータを決定することによ
って、パラメータ間の影響による誤差を少なくすること
ができ、高精度なテストライトが行えるようになる。
By determining the parameters in this order, errors due to the influence between the parameters can be reduced, and a highly accurate test write can be performed.

【0064】好ましくは、第1のステップは、第1の所
定パターンを記録し、記録されたマークを強度変調しな
いレーザビームで消去するとともに、消去前後でマーク
部分を再生したときの再生信号振幅の比を求め、その結
果から第2のパワーを決定するステップを含む。
Preferably, in the first step, a first predetermined pattern is recorded, the recorded mark is erased by a laser beam which is not intensity-modulated, and the amplitude of a reproduced signal when the mark portion is reproduced before and after the erasure is recorded. Determining a ratio and determining a second power from the result.

【0065】消去率に基づいて第2のパワーを決定する
ので、不確定な第2の強度とアシンメトリとの関係に影
響されることなく第2の強度を決定するすることが可能
となる。
Since the second power is determined based on the erasing rate, the second intensity can be determined without being affected by the uncertain relationship between the second intensity and the asymmetry.

【0066】さらに好ましくは、第2のパワーを決定す
るステップは、第1の所定パターンを第1の長さの区間
に記録するステップと、記録されたマークを第1の長さ
より短い第2の長さの区間ごとにパワーが増加または減
少する強度変調されないレーザビームで消去するステッ
プと、第2の長さの区間ごとの消去率を求め、隣接する
区間の消去率の差が所定の値以下になる最も低いパワー
を求め、このパワー値を第1の演算によって補正して第
2のパワーを決定するステップとを含む。
More preferably, the step of determining the second power includes the step of recording a first predetermined pattern in a section of a first length, and the step of recording a recorded mark in a second section shorter than the first length. Erasing with a non-intensity-modulated laser beam whose power increases or decreases for each length section, and obtains an erasure rate for each second length section, and the difference between the erasure rates of adjacent sections is equal to or less than a predetermined value. And determining the second power by correcting the power value by the first operation to determine the second power.

【0067】パワーの最小値に第1の演算を行って第2
のパワーとすることにより、最適な第2のパワーを決定
することが可能となる。
The first operation is performed on the minimum value of the power to obtain the second value.
With this power, it is possible to determine the optimal second power.

【0068】さらに好ましくは、第1の所定パターン
は、少なくとも集光されたレーザビームのスポット径よ
りも十分に長いパターンの繰り返しを含む。
More preferably, the first predetermined pattern includes a repetition of a pattern that is at least sufficiently longer than the spot diameter of the focused laser beam.

【0069】好ましくは、第2のステップは、比較的短
いパターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返し
とを主に含む第2の所定パターンを記録し、短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと長いパターンの再生
信号の振幅の中心レベルとを検出し、その検出結果に基
づいて第3のパルス列のパルス幅を決定するステップを
含む。
Preferably, in the second step, a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and a center level of the amplitude of a reproduced signal of the short pattern is recorded. Detecting the center level of the amplitude of the reproduced signal having a long pattern and determining the pulse width of the third pulse train based on the detection result.

【0070】したがって、再生信号が最適となるように
第3のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the third pulse train so that the reproduced signal is optimized.

【0071】さらに好ましくは、第3のパルス列のパル
ス幅を決定するステップは、第2の長さの区間ごとに第
3のパルス列のパルス幅を増加または減少させて第2の
所定パターンを記録するステップと、第2の長さの区間
ごとに短いパターンの再生信号の振幅の中心レベルと長
いパターンの再生信号の振幅の中心レベルとを検出して
その差を求めるステップと、第3のパルス列のパルス幅
と中心レベルの差との関係から、中心レベルの差が0に
なる前記第3のパルス列のパルス幅を求め、その結果を
第2の演算によって補正して第3のパルス列のパルス幅
を求めるステップとを含む。
More preferably, in the step of determining the pulse width of the third pulse train, the second predetermined pattern is recorded by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train for each section of the second length. A step of detecting a central level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern and a central level of the amplitude of the reproduced signal of the long pattern for each second length section to obtain a difference therebetween; From the relationship between the pulse width and the difference between the center levels, the pulse width of the third pulse train in which the difference between the center levels becomes 0 is obtained, and the result is corrected by a second operation to obtain the pulse width of the third pulse train. Seeking.

【0072】したがって、シンメトリが最適となるよう
に第3のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the third pulse train so as to optimize the symmetry.

【0073】好ましくは、第3のステップは、比較的短
いパターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返し
とを主に含む第2の所定パターンを記録し、短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと長いパターンの再生
信号の振幅の中心レベルを検出し、その検出結果に基づ
いて第1のパルス列のパルス幅を決定するステップを含
む。
Preferably, in the third step, a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and the center level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern is recorded. Detecting the center level of the amplitude of the reproduced signal having a long pattern, and determining the pulse width of the first pulse train based on the detection result.

【0074】したがって、再生信号が最適となるように
第1のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the first pulse train so that the reproduced signal is optimized.

【0075】さらに好ましくは、第1のパルス列のパル
ス幅を決定するステップは、第2の長さの区間ごとに第
1のパルス列のパルス幅を増加または減少させて第2の
所定パターンを記録するステップと、第2の長さの区間
ごとに短いパターンの再生信号の振幅の中心レベルと長
いパターンの再生信号の振幅の中心レベルとを検出して
その差を求めるステップと、第1のパルス列のパルス幅
と中心レベルの差との関係から、中心レベルの差が0に
なる第1のパルス列のパルス幅を求め、その結果を第3
の演算によって補正することで第1のパルス列のパルス
幅を決定するステップとを含む。
More preferably, in the step of determining the pulse width of the first pulse train, the second predetermined pattern is recorded by increasing or decreasing the pulse width of the first pulse train for each section of the second length. Detecting the difference between the center level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern and the center level of the amplitude of the reproduced signal of the long pattern for each second length section; From the relationship between the pulse width and the difference between the center levels, the pulse width of the first pulse train in which the difference between the center levels is 0 is obtained, and the result is referred to as the third pulse.
And determining the pulse width of the first pulse train by performing the correction by the above calculation.

【0076】したがって、アシンメトリが最適となるよ
うに第1のパルス列のパルス幅を決定することが可能と
なる。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the first pulse train so that asymmetry is optimized.

【0077】好ましくは、第4のステップは、比較的短
いパターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返し
とを主に含む第2の所定パターンを記録し、短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと長いパターンの再生
信号の振幅の中心レベルとを検出し、その検出結果に基
づいて第2のパルス列のパルス幅を決定するステップを
含む。
Preferably, in the fourth step, a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and the center level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern is recorded. Detecting the center level of the amplitude of the reproduced signal having a long pattern and determining the pulse width of the second pulse train based on the detection result.

【0078】したがって、再生信号が最適となるように
第2のパルス列のパルス幅を決定することが可能とな
る。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the second pulse train so that the reproduced signal is optimized.

【0079】さらに好ましくは、第2のパルス列のパル
ス幅を決定するステップは、第2の長さの区間ごとに第
2のパルス列のパルス幅を増加または減少させて第2の
所定パターンを記録するステップと、第2の長さの区間
毎に短いパターンの再生信号の振幅の中心レベルと長い
パターンの再生信号の振幅の中心レベルとを検出してそ
の差を求めるステップと、第2のパルス列のパルス幅と
中心レベルの差との関係を2本の直線で近似し、2本の
直線の交点に対応した第3のパルス列のパルス幅を求
め、その結果を第4の演算によって補正することで第2
のパルス列のパルスを決定するステップとを含む。
More preferably, in the step of determining the pulse width of the second pulse train, the second predetermined pattern is recorded by increasing or decreasing the pulse width of the second pulse train for each section of the second length. Detecting the difference between the central level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern and the central level of the amplitude of the reproduced signal of the long pattern for each section of the second length; The relationship between the pulse width and the difference between the center levels is approximated by two straight lines, the pulse width of a third pulse train corresponding to the intersection of the two straight lines is obtained, and the result is corrected by a fourth operation. Second
And determining the pulses of the pulse train.

【0080】したがって、アシンメトリが最適となるよ
うに第2のパルス列のパルス幅を決定することが可能と
なる。
Therefore, it is possible to determine the pulse width of the second pulse train so that the asymmetry is optimized.

【0081】好ましくは、第5のステップは、比較的短
いパターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返し
とを主に含む第2の所定パターンを記録し、短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと長いパターンの再生
信号の振幅の中心レベルを検出し、その検出結果に基づ
いて第1のパワーを決定するステップを含む。
Preferably, in the fifth step, a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and a center level of an amplitude of a reproduced signal of the short pattern is recorded. Detecting the center level of the amplitude of the reproduced signal having a long pattern and determining the first power based on the detection result.

【0082】したがって、再生信号が最適となるように
第1の強度を決定することが可能となる。
Accordingly, it is possible to determine the first intensity so that the reproduced signal is optimal.

【0083】さらに好ましくは、第1のパワーを決定す
るステップは、第2の長さの区間ごとに第1のパワーを
増加または減少させて第2の所定パターンを記録するス
テップと、第2の長さの区間ごとに短いパターンの再生
信号の振幅の中心レベルと長いパターンの再生信号の振
幅の中心レベルとを検出してその差を求めるステップ
と、第1のパワーと前記中心レベルの差との関係から、
中心レベルの差が0になる第1のパワーを求め、その結
果を第5の演算によって補正することで第1のパワーを
決定するステップとを含む。
More preferably, the step of determining the first power includes the step of increasing or decreasing the first power for each section of the second length to record a second predetermined pattern; Detecting a center level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern and a center level of the amplitude of the reproduced signal of the long pattern for each section of the length to obtain a difference therebetween; From the relationship,
Determining a first power at which the difference between the center levels becomes 0, and correcting the result by a fifth operation to determine the first power.

【0084】したがって、アシンメトリが最適となるよ
うに第1の強度を決定することが可能となる。
Therefore, the first intensity can be determined so that the asymmetry is optimized.

【0085】さらに好ましくは、第2の所定パターンの
うち、比較的短いパターンは情報を記録する際に用いら
れる変調方式の最も短いパターンであり、比較的長いパ
ターンは集光されたレーザビームのスポット径より十分
長いパターンである。
More preferably, among the second predetermined patterns, the relatively short pattern is the shortest pattern of the modulation system used for recording information, and the relatively long pattern is the spot of the focused laser beam. The pattern is sufficiently longer than the diameter.

【0086】さらに好ましくは、第1および第2の所定
パターンは、情報を記録する際の同期信号を含む。
More preferably, the first and second predetermined patterns include a synchronization signal for recording information.

【0087】好ましくは、第1のステップは、第1およ
び第2のパワーを通常記録における最大パワーとし、第
1〜第3のパルス列のパルス幅を通常記録における標準
的な値とし、第1のパターンを記録して第2のパワーを
決定するステップを含む。
Preferably, in the first step, the first and second powers are set to maximum powers in normal recording, the pulse widths of the first to third pulse trains are set to standard values in normal recording, Recording a pattern to determine a second power.

【0088】好ましくは、第2のパワー以外のパラメー
タを決定するステップは、現在進行中のステップ以外の
ステップで決定されたパラメータについては、その決定
された値を用い、未決定のパラメータについては第2の
パワーを決定するステップで採用した値を用いて第2の
パターンを記録する。
Preferably, the step of determining a parameter other than the second power uses the determined value for a parameter determined in a step other than the step currently in progress, and uses the determined value for an undetermined parameter. The second pattern is recorded using the value adopted in the step of determining the power of No. 2.

【0089】[0089]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の形態にお
ける光ディスク記録再生装置の概略構成を示すブロック
図である。この光ディスク記録再生装置は、円板状の基
板に相変化材料の記録膜を施した相変化記録ディスクを
用いて記録/再生を行なうものである。なお、本実施の
形態における光ディスク記録再生装置においては、最短
パターン3T、最長パターン11TのEFM(Eight to
Fourteen Modulation)−Plus変調を用いて記録す
る場合について説明する。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of an optical disk recording / reproducing apparatus according to an embodiment of the present invention. This optical disk recording / reproducing apparatus performs recording / reproduction using a phase-change recording disk in which a recording film of a phase-change material is applied to a disk-shaped substrate. In the optical disk recording / reproducing apparatus according to the present embodiment, the shortest pattern 3T and the longest pattern 11T are EFM (Eight to Eight).
Fourteen Modulation) A case of recording using Plus modulation will be described.

【0090】この光ディスク記録再生装置は、相変化記
録ディスク1と、相変化記録ディスク1上にレーザビー
ムを集光させることにより情報の記録/再生を行なう光
ピックアップ(PU)2と、相変化記録ディスク1を回
転させるスピンドルモータ3と、相変化記録ディスク1
に記録する情報を所定の規則に従って記録されるパルス
列に変換して出力する記録情報処理回路4と、記録情報
処理回路4から出力されたパルス列を所定の規則に従っ
てパルス列に変換して出力する記録パルス生成回路5
と、記録パルス生成回路5から出力されたパルス列を所
定の規則に従って強度変調されたレーザビームを出力す
るように半導体レーザを制御するレーザ制御回路6と、
光ピックアップ2によって光電変換された信号を所定の
振幅に増幅し、不要な帯域の信号を除去して出力するR
Fアンプ7と、RFアンプ7から出力された信号を波形
等化処理して高域成分を強調するEQ回路8と、EQ回
路8から出力された信号を2値の信号に変換する2値化
回路9と、2値化回路9によって出力された信号から再
生クロックを抽出するPLL回路10と、PLL回路1
0によって抽出された再生クロックに基づいて記録され
ている情報を復元して出力する再生データ検出回路11
と、光ディスク記録再生装置の全体的な制御を行なう記
録再生動作制御回路12と、相変化記録ディスク1に書
き込むテストパターンを発生させるテストパターン発生
回路13と、RFアンプ7から出力された信号の上側の
エンベロープおよび下側のエンベロープを検出して出力
するエンベロープ検出回路14と、RFアンプ7からの
信号が入力されるLPF(Low Pass Filter)15と、
エンベロープ検出回路14から出力された上側のエンベ
ロープと下側のエンベロープとの振幅の差分を出力する
差分回路16と、差分回路16の出力信号が入力される
A/D(Analog/Digital)変換回路18と、LPF15
の出力信号が入力されるA/D変換回路17とを含む。
This optical disk recording / reproducing apparatus includes a phase change recording disk 1, an optical pickup (PU) 2 for recording / reproducing information by condensing a laser beam on the phase change recording disk 1, and a phase change recording. A spindle motor 3 for rotating the disk 1 and a phase change recording disk 1
A recording information processing circuit 4 that converts information to be recorded into a pulse train to be recorded according to a predetermined rule and outputs the same, and a recording pulse that converts a pulse train output from the recording information processing circuit 4 to a pulse train according to a predetermined rule and outputs the pulse train Generation circuit 5
A laser control circuit 6 for controlling a semiconductor laser to output a laser beam obtained by intensity-modulating the pulse train output from the recording pulse generation circuit 5 according to a predetermined rule;
R which amplifies the signal photoelectrically converted by the optical pickup 2 to a predetermined amplitude, removes an unnecessary band signal, and outputs the signal.
An F-amplifier 7, an EQ circuit 8 for waveform equalizing the signal output from the RF amplifier 7 to emphasize high-frequency components, and a binarization for converting the signal output from the EQ circuit 8 into a binary signal A circuit 9, a PLL circuit 10 for extracting a reproduction clock from a signal output by the binarization circuit 9, and a PLL circuit 1
A reproduced data detecting circuit 11 for restoring and outputting the recorded information based on the reproduced clock extracted by 0
A recording / reproducing operation control circuit 12 for performing overall control of the optical disk recording / reproducing apparatus; a test pattern generating circuit 13 for generating a test pattern to be written on the phase change recording disk 1; An envelope detection circuit 14 for detecting and outputting the envelope of the first and lower envelopes; an LPF (Low Pass Filter) 15 to which a signal from the RF amplifier 7 is input;
A difference circuit 16 that outputs a difference between the amplitudes of the upper envelope and the lower envelope output from the envelope detection circuit 14, and an A / D (Analog / Digital) conversion circuit 18 to which an output signal of the difference circuit 16 is input. And LPF15
And an A / D conversion circuit 17 to which the output signal is input.

【0091】図1に示す光ディスク記録再生装置に相変
化記録ディスク1が挿入されたとき、または図示しない
コントローラ、たとえばキースイッチ等から記録開始の
指令が記録再生動作制御回路12に入力されたときにテ
ストライトが必要か否かが判断され、テストライトが必
要な場合、たとえば未記録の相変化記録ディスク1が挿
入された場合にテストライト動作が行なわれる。
When the phase change recording disk 1 is inserted into the optical disk recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1, or when a recording start command is input to the recording / reproducing operation control circuit 12 from a controller (not shown), for example, a key switch or the like. It is determined whether or not a test write is necessary. When a test write is required, for example, when an unrecorded phase change recording disk 1 is inserted, a test write operation is performed.

【0092】テストライトが必要であると判断された場
合、記録再生動作制御回路12は、テストパターン発生
回路13、記録パルス生成回路5およびレーザ制御回路
6を制御して相変化記録ディスク1へのテストパターン
の書き込みまたはテストパターンの消去を開始する。こ
のテストパターンの書き込みまたはテストパターンの消
去は、相変化記録ディスク1の所定のセクタに対して行
なわれる。
When it is determined that a test write is necessary, the recording / reproduction operation control circuit 12 controls the test pattern generation circuit 13, the recording pulse generation circuit 5, and the laser control circuit 6 to write data to the phase change recording disk 1. Start writing the test pattern or erasing the test pattern. The writing of the test pattern or the erasing of the test pattern is performed on a predetermined sector of the phase change recording disk 1.

【0093】図2は、テストパターン発生回路13から
出力される2種類のテストパターンを示す図である。図
2(a)に示すテストパターン1は、最長パターンであ
る11Tの繰り返しパターン中に、通常記録と同一間隔
で同期パターンを挿入したものである。また、図2
(b)に示すテストパターン2は、同期パターン間隔の
半分の長さである最短パターン3Tの繰り返しパターン
と、最長パターンである11Tの繰り返しパターンと、
同期パターンとで構成されている。なお、11Tの繰り
返しパターンはレーザビームのスポット径よりも十分に
長いパターンであり、3Tの繰り返しパターンは情報を
記録する際に用いる変調方式の最も短いパターンに対応
している。
FIG. 2 is a diagram showing two types of test patterns output from test pattern generation circuit 13. Test pattern 1 shown in FIG. 2A is a pattern in which a synchronization pattern is inserted at the same interval as that of normal recording in a longest pattern of 11T, which is a repetition pattern. FIG.
The test pattern 2 shown in (b) has a repeating pattern of the shortest pattern 3T which is half the length of the synchronization pattern interval, a repeating pattern of 11T which is the longest pattern,
It consists of a synchronization pattern. The 11T repetition pattern is a pattern sufficiently longer than the spot diameter of the laser beam, and the 3T repetition pattern corresponds to the shortest pattern of the modulation method used when recording information.

【0094】通常の記録状態においては、1セクタ内に
複数の同期パターンが所定間隔で配置されており、図2
に示す2種類のテストパターンを書き込むことによっ
て、1セクタを同期パターン間隔の整数倍の長さに分割
することができる。この長さを基本単位(以下、テスト
ライトセクタと呼ぶ。)としてテストライトを行なうこ
とで、光ディスク記録再生装置に要求されている性能に
柔軟に対応することができる。
In a normal recording state, a plurality of synchronization patterns are arranged at predetermined intervals in one sector.
By writing the two types of test patterns shown in (1), one sector can be divided into integer multiples of the synchronization pattern interval. By performing the test write using this length as a basic unit (hereinafter, referred to as a test write sector), it is possible to flexibly cope with the performance required of the optical disk recording / reproducing apparatus.

【0095】たとえば、少ない時間でテストライトを行
なうのであれば、基本単位であるテストライトセクタを
短くすれば良く、高精度にテストライトを行なうのであ
れば、テストライトセクタを長くすれば良い。ここで、
1セクタ中の同期フレーム(以下、同期パターンの初め
から次の同期パターンの直前までを1単位とし、同期フ
レームと呼ぶ。)の数をSとし、テストライトセクタを
U個の同期フレームで構成するとすると、S/Uが整数
になるものとする。
For example, if the test write is performed in a short time, the test write sector which is a basic unit may be shortened, and if the test write is performed with high accuracy, the test write sector may be lengthened. here,
Assume that the number of synchronization frames in one sector (hereinafter, the period from the beginning of the synchronization pattern to immediately before the next synchronization pattern is defined as one synchronization frame) is S, and the test write sector is composed of U synchronization frames. Then, S / U is assumed to be an integer.

【0096】相変化記録ディスク1からの反射光に含ま
れる再生信号は、RFアンプ7で増幅され、EQ回路
8、エンベロープ検出回路14およびLPF15に入力
される。エンベロープ検出回路14は、テストパターン
に含まれる11Tの繰り返し信号の上側のエンベロープ
と下側のエンベロープとを検出して出力する。LPF1
5は、11Tの繰り返し信号に対応する周波数よりも低
いカットオフ周波数を有しているため、その出力は入力
信号の中心レベルを表わすことになる。
The reproduction signal contained in the reflected light from the phase change recording disk 1 is amplified by the RF amplifier 7 and input to the EQ circuit 8, the envelope detection circuit 14, and the LPF 15. The envelope detection circuit 14 detects and outputs an upper envelope and a lower envelope of the 11T repetitive signal included in the test pattern. LPF1
5 has a lower cutoff frequency than the frequency corresponding to the 11T repetitive signal, so its output will represent the center level of the input signal.

【0097】差分回路16は、エンベロープ検出回路1
4から出力される11Tの繰り返し信号の上側エンベロ
ープと下側エンベロープとの差、すなわち11Tの繰り
返し信号の振幅を求めて出力する。A/D変換回路17
および18は、それぞれLPF15および差分回路16
の出力信号をデジタルデータに変換して、記録再生動作
制御回路12へ出力する。記録再生動作制御回路12
は、A/D変換回路17および18から出力されたデジ
タルデータを後述するアルゴリズムに従って処理し、パ
ラメータを決定する。なお、記録再生動作制御回路12
は、CPU(Central Processing Unit)、DSP(Dig
ital Signal Processor)等がメモリに記録されたプロ
グラムを実行することによって、以下に説明する処理を
実現することが可能である。
The difference circuit 16 is an envelope detection circuit 1
The difference between the upper envelope and the lower envelope of the 11T repetition signal output from 4, ie, the amplitude of the 11T repetition signal, is obtained and output. A / D conversion circuit 17
And 18 are the LPF 15 and the difference circuit 16 respectively.
Is converted into digital data and output to the recording / reproduction operation control circuit 12. Recording / reproduction operation control circuit 12
Processes the digital data output from the A / D conversion circuits 17 and 18 according to an algorithm described later to determine parameters. The recording / reproduction operation control circuit 12
Are CPU (Central Processing Unit), DSP (Dig
The following processing can be realized by executing a program recorded in the memory by an ital Signal Processor or the like.

【0098】図3は、図1に示す記録再生動作制御回路
12の機能的な構成を示すブロック図である。この記録
再生動作制御回路12は、相変化記録ディスク1に記録
するデータを制御するための信号をテストパターン発生
回路13および記録パルス生成回路5へ出力する記録デ
ータ制御部21と、レーザ制御回路6および記録パルス
生成回路5に対し上述したパラメータ設定値を出力する
パラメータ設定部22と、光ピックアップ2を移動させ
るための図示しないスレッドおよびレーザビームを集光
するための対物レンズをトラック横断方向に移動させる
ラジアルアクチュエータの各ドライバに対し、レーザビ
ームを所定のセクタにアクセスさせるための指令信号を
出力するアクセス制御部23と、再生データ検出回路1
1からの同期信号検出信号とA/D変換回路17および
18の出力に基づいて所定の演算を行う演算部24と、
図示しないCPUからの指令と演算部24の演算結果に
基づき、上記記録データ制御部21、パラメータ設定部
22、アクセス制御部23および演算部24を制御する
制御部25とを含む。
FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of the recording / reproduction operation control circuit 12 shown in FIG. The recording / reproducing operation control circuit 12 includes a recording data control unit 21 that outputs a signal for controlling data to be recorded on the phase change recording disk 1 to the test pattern generation circuit 13 and the recording pulse generation circuit 5, and a laser control circuit 6 In addition, a parameter setting unit 22 that outputs the above-described parameter setting value to the recording pulse generation circuit 5 and a thread (not shown) for moving the optical pickup 2 and an objective lens for condensing a laser beam are moved in the cross-track direction. An access control unit 23 for outputting a command signal for causing a laser beam to access a predetermined sector to each driver of the radial actuator to be operated;
An operation unit 24 that performs a predetermined operation based on the synchronization signal detection signal from 1 and the outputs of the A / D conversion circuits 17 and 18;
It includes a recording data control unit 21, a parameter setting unit 22, an access control unit 23, and a control unit 25 for controlling the calculation unit 24 based on a command from a CPU (not shown) and a calculation result of the calculation unit 24.

【0099】図4は、記録再生動作制御回路12の全体
的な処理手順を説明するためのフローチャートである。
本実施の形態においては、Pe、Tcl、Ttop、Tmp、Pp
の順にテストライトを行なう。このとき、テストライト
を行なっているパラメータ以外のパラメータについて
は、既に決定済みであればその値を使用する。また、未
だ決定されていなければ、パワーについては通常記録時
の最大値を使用し、パルス幅については標準的な値を使
用する。このパルス幅の標準的な値とは、ディスク規格
時に決められた標準値や、ディスクメーカで決定されデ
ィスク上に記録されている値を用いれば良い。
FIG. 4 is a flowchart for explaining the overall processing procedure of the recording / reproduction operation control circuit 12.
In the present embodiment, Pe, Tcl, Ttop, Tmp, Pp
Test write is performed in the following order. At this time, for parameters other than the parameter for which test writing is being performed, the values are used if they have already been determined. If the power has not yet been determined, the maximum value during normal recording is used for power, and a standard value is used for pulse width. The standard value of the pulse width may be a standard value determined at the time of disk specification or a value determined by a disk manufacturer and recorded on the disk.

【0100】上述したように、パラメータPe、Tcl、
Ttopはジッタ値へ与える影響が少ないため、他のパラ
メータほど正確に決める必要はないが、TclおよびTto
pについてはアシンメトリ値へ与える影響が大きいの
で、ある程度最適値に近い値を求め、その値で他のパラ
メータのテストライトを行なう必要がある。したがっ
て、これらのパラメータを先にテストライトで決定する
ことによって、従来のテストライト手法において問題と
なっていたパラメータ間の影響による誤差を少なくな
り、精度の高いテストライトが可能となる。
As described above, the parameters Pe, Tcl,
Since Ttop has little effect on the jitter value, it need not be determined as accurately as other parameters, but Tcl and Tto
Since p has a large effect on the asymmetry value, it is necessary to find a value close to the optimum value to some extent, and perform test writing of other parameters with that value. Therefore, by determining these parameters by the test write first, errors due to the influence between the parameters, which has been a problem in the conventional test write method, are reduced, and a highly accurate test write can be performed.

【0101】また、Peのテストライトについては、長
い繰り返しパターンを記録した後、パワーを変化させて
DC消去を行ない、消去前後の再生信号の振幅の比で表
わされる消去率に基づいて決定される。これによって、
従来のテストライト手法において問題となっていた不確
定なPeとアシンメトリとの関係に影響されることな
く、Peを決定することができる。
For a Pe test write, after a long repetitive pattern is recorded, DC erasure is performed by changing the power, and is determined based on the erasure rate expressed by the ratio of the amplitude of the reproduced signal before and after erasure. . by this,
Pe can be determined without being affected by the relationship between uncertain Pe and asymmetry, which has been a problem in the conventional test write method.

【0102】図4に示すように、テストライトが開始さ
れると、まず記録データ制御部21は、記録データとし
て図2(a)に示す11Tの繰り返しパターンと同期パ
ターンとからなるパターン(テストパターン1)が選択
されるようにテストパターン発生回路13および記録パ
ルス生成回路5に指令信号を出力する(S1)。そし
て、パラメータ設定部22によって、パラメータ値Pp
およびPeとして通常記録の最大値PpmaxおよびPemax
を設定し、Ttop、TmpおよびTclとして標準値Ttop
std、TmpstdおよびTclstdを設定した後(S2)、P
eに関するテストライトを実行する(S3)。
As shown in FIG. 4, when the test write is started, first, the recording data control section 21 sets a pattern (test pattern) consisting of a repeating pattern of 11T shown in FIG. An instruction signal is output to the test pattern generation circuit 13 and the recording pulse generation circuit 5 so that 1) is selected (S1). Then, the parameter value Pp is set by the parameter setting unit 22.
And Pe as the maximum values Pp max and Pe max for normal recording
And set the standard value Ttop as Ttop, Tmp and Tcl
After setting std , Tmp std and Tcl std (S2), P
The test write for e is executed (S3).

【0103】図5は、図4のステップS3の処理をさら
に詳細に説明するためのフローチャートである。まず、
アクセス制御部23は、上記スレッドおよびラジアルア
クチュエータの各ドライバに指令を出しレーザビームを
所定のセクタKにアクセスさせる(S31)。相変化記
録ディスク1には、通常ディスク上の相対位置を表わす
アドレス情報が製造時に形成されており、アクセス制御
部31はこれを検出して現在レーザビームが走査してい
るセクタを認識することができる。レーザビームが所定
のセクタKにアクセスされたことが確認されると、記録
データ制御部21はテストパターン発生回路13を制御
して、セクタKから所定のセクタ数Nにわたって11T
の繰り返しパターンと同期パターンとから構成されるテ
ストパターン1を、ステップS2において設定されたパ
ラメータで記録する(S32)。
FIG. 5 is a flowchart for explaining the processing of step S3 in FIG. 4 in more detail. First,
The access control unit 23 issues a command to each driver of the thread and the radial actuator to cause the laser beam to access a predetermined sector K (S31). In the phase change recording disk 1, address information indicating the relative position on the disk is usually formed at the time of manufacture, and the access control unit 31 detects this and recognizes the sector currently scanned by the laser beam. it can. When it is confirmed that the laser beam has accessed the predetermined sector K, the recording data control unit 21 controls the test pattern generation circuit 13 to execute 11T from the sector K to the predetermined number N of sectors.
Is recorded with the parameters set in step S2 (S32).

【0104】次に、アクセス制御部23は、再びレーザ
ビームで所定セクタKにアクセスした後(S33)、相
変化記録ディスク1上に記録されたテストパターンを再
生し、再生データ検出回路11からの同期信号検出信号
とA/D変換回路18からの出力に基づいて、演算部2
4はテストライトセクタ毎に11Tの繰り返し信号の再
生信号平均振幅を求める(S34)。このときのテスト
ライトセクタ毎の再生信号平均振幅をI11i(i=1〜
J,J=N×(S/U))とする。
Next, the access control section 23 accesses the predetermined sector K again with the laser beam (S33), and then reproduces the test pattern recorded on the phase change recording disk 1, and the reproduction data detection circuit 11 Based on the synchronization signal detection signal and the output from the A / D conversion circuit 18, the arithmetic unit 2
No. 4 finds the average amplitude of the reproduced signal of the 11T repetitive signal for each test write sector (S34). At this time, the reproduced signal average amplitude for each test write sector is represented by I11 i (i = 1 to 1).
J, J = N × (S / U)).

【0105】次に、記録モードとしてDC消去モードが
設定され(S35)、パラメータ設定部22はPeにPe
minを設定する(S36)。アクセス制御部23スレッ
ドおよびラジアルアクチュエータに指令を出してレーザ
ビームを所定のセクタKにアクセスし(S37)、強度
変調されないDC光によってDC消去を行なう(S3
8)。このとき、パラメータ設定部22はセクタKから
テストライトセクタ毎にΔPeずつ加算した値をDC消
去パワー設定値としてレーザ制御回路6に出力する。こ
のときのパラメータPeの値は次式によって表わされ
る。
Next, the DC erasing mode is set as the recording mode (S35), and the parameter setting section 22 sets Pe to Pe.
min is set (S36). A command is issued to the access control unit 23 thread and the radial actuator to access the predetermined sector K with the laser beam (S37), and DC erasure is performed by DC light whose intensity is not modulated (S3).
8). At this time, the parameter setting unit 22 outputs a value obtained by adding ΔPe from the sector K for each test write sector to the laser control circuit 6 as a DC erasing power setting value. The value of the parameter Pe at this time is represented by the following equation.

【0106】 Pe=Pemin+ΔPe×(i−1) (i=1〜N) …(1) そして、アクセス制御部23は再び、スレッドおよびラ
ジアルアクチュエータに指令を出してレーザビームを所
定のセクタKにアクセスし(S39)、相変化記録ディ
スク1に記録されているテストパターンを再生し、再生
データ検出回路11からの同期信号検出信号とA/D変
換回路18からの出力に基づいて、演算部24はセクタ
毎に11Tの繰り返し信号の再生信号平均振幅I11e
i(i=1〜J)を求める(S40)。演算部24は、
ステップS34において測定された再生信号平均振幅I
11iと、ステップS40において測定された再生信号平
均振幅I11eiとから次式に示す消去率Eiを算出する
(S41)。
Pe = Pe min + ΔPe × (i−1) (i = 1 to N) (1) Then, the access control unit 23 again issues a command to the sled and the radial actuator to change the laser beam to a predetermined sector K. (S39), and reproduces the test pattern recorded on the phase change recording disk 1. Based on the synchronization signal detection signal from the reproduction data detection circuit 11 and the output from the A / D conversion circuit 18, the arithmetic unit Reference numeral 24 denotes a reproduced signal average amplitude I11e of a repetition signal of 11T for each sector.
i (i = 1 to J) is obtained (S40). The calculation unit 24
The reproduced signal average amplitude I measured in step S34
And 11 i, to calculate the erasure ratio E i shown in the following equation from the measured and the reproduction signal average amplitude I11e i in step S40 (S41).

【0107】 Ei=I11ei/I11i (i=1〜N) …(2) DC消去パワーと消去率Eとの関係は、図10(a)に
示す通りとなる。Peはオーバライト時の消去状態に影
響するパラメータであるので、DC消去時における必要
なパワーを求める必要がある。図10(a)から分かる
ように、消去が十分に行なわれていれば消去率は消去パ
ワーによらず一定となる。そこで、隣接するテストライ
トセクタ間の消去率の差ΔEiを求める。
E i = I 11 e i / I 11 i (i = 1 to N) (2) The relationship between the DC erasing power and the erasing rate E is as shown in FIG. Since Pe is a parameter that affects the erased state at the time of overwriting, it is necessary to find the necessary power at the time of DC erasing. As can be seen from FIG. 10A, if the erasing is performed sufficiently, the erasing rate is constant regardless of the erasing power. Therefore, a difference ΔE i in the erasing rate between adjacent test write sectors is obtained.

【0108】次に、演算部24は、隣接するテストライ
トセクタ間の消去率の差ΔEiを次式によって算出する
(S42)。
Next, the arithmetic section 24 calculates the difference ΔE i in the erasure rate between adjacent test write sectors by the following equation (S 42).

【0109】 ΔEi=Ei-1−Ei (i=2〜J) …(3) 次に、演算部24は、iに2を代入し(S43)、消去
率の差ΔEiと所定値ΔEminとを比較する(S44)。
ΔEiがΔEminよりも大きければ(S44,ΔEi>Δ
min)、iにi+1を代入し(S45)、ステップS
44へ戻って処理を繰り返す。また、ΔEiがΔEmin
下であれば(S44,ΔEi≦ΔEmin)、そのテストラ
イトセクタに対応したDC消去パワーPetmpを次式によ
って算出する。
ΔE i = E i-1 −E i (i = 2 to J) (3) Next, the arithmetic unit 24 substitutes 2 for i (S43), and determines the difference between the erasure rates ΔE i and a predetermined value. The value is compared with the value ΔE min (S44).
If ΔE i is larger than ΔE min (S44, ΔE i > Δ
E min ), i + 1 is substituted for i (S45), and step S
Returning to step 44, the process is repeated. If ΔE i is equal to or less than ΔE min (S44, ΔE i ≦ ΔE min ), the DC erase power Pe tmp corresponding to the test write sector is calculated by the following equation.

【0110】 Petmp=Pemin+ΔPe×(i−1) …(4) このようにして求められたPetmpは、11Tの繰り返し
信号をDC消去するのに必要な最低限の消去パワーであ
る。しかし、実際に情報を記録する際、特にオーバライ
トする場合には消去と記録とが同時に行なわれるため、
(4)式で求められたパワーPetmpでは消去が不十分と
なる。そこで、このPetmpを補正した値を通常記録時に
おけるPe値とする。出願人が行なった実験によれば、
ある種類のディスクではPetmpにある定数γPeを乗算し
た結果がもっとも最適Pe値に近く、他の種類のディス
クではPetmpにある定数γPeを加算した値がもっとも最
適Pe値に近かった。したがって、Peの設定値Peset
次の式(5)または式(6)を用いて算出すれば良い。
Pe tmp = Pe min + ΔPe × (i−1) (4) The Pe tmp thus obtained is the minimum erasing power required for DC erasing the 11T repetitive signal. However, when information is actually recorded, especially when overwriting is performed, erasing and recording are performed simultaneously,
With the power Pe tmp determined by the equation (4), the erasure becomes insufficient. Therefore, a value obtained by correcting this Pe tmp is set as a Pe value at the time of normal recording. According to experiments performed by the applicant,
For some types of disks, the result of multiplying the constant γ Pe in Pe tmp was the closest to the optimum Pe value, and for other types of disks, the value obtained by adding the constant γ Pe in Pe tmp was the closest to the optimum Pe value. Therefore, the set value Pe set of Pe may be calculated using the following equation (5) or equation (6).

【0111】 Peset=Petmp×γPe (γPe≧1) …(5) Peset=Petmp+γPe (γPe≧0) …(6) したがって、たとえば式(5)からPeの設定値Peset
が次式のように求められる(S46)。
[0111] Pe set = Pe tmp × γ Pe (γ Pe ≧ 1) ... (5) Pe set = Pe tmp + γ Pe (γ Pe ≧ 0) ... (6) Therefore, for example, the formula (5) from the Pe setpoint Pe set
Is obtained as in the following equation (S46).

【0112】 Peset={Pemin+ΔPe×(i−1)}×γPe …(7) 演算部24は、(7)式を用いてPeの設定値Peset
算出する。
[0112] Pe set = {Pe min + ΔPe × (i-1)} × γ Pe ... (7) calculating unit 24 calculates a set value Pe The set of Pe with (7).

【0113】再び、図4に示すフローチャートの説明に
戻る。次に、記録データ制御部21は、記録データとし
て図2(b)に示す3Tの繰り返しおよび11Tの繰り
返しパターンと同期パターンとからなるパターン(テス
トパターン2)が選択されるようにテストパターン発生
回路13および記録パルス生成回路5に指令信号を出力
する(S4)。そして、パラメータ設定部22によっ
て、パラメータ値Ppとして通常記録の最大値Ppmax
設定し、PeとしてステップS3で求められたPe set
設定し、TtopおよびTmpとして標準値Ttopstdおよび
Tmpstdを設定した後(S5)、Tclに関するテストラ
イトを実行する(S6)。
Referring again to the flowchart shown in FIG.
Return. Next, the recording data control unit 21 sets the recording data as
3B and 11T repeats shown in FIG.
A pattern consisting of a return pattern and a synchronization pattern (test
Test pattern generation so that
Outputs a command signal to the circuit 13 and the recording pulse generation circuit 5
(S4). Then, the parameter setting unit 22
And the maximum value Pp of the normal recording as the parameter value PpmaxTo
And set Pe as Pe obtained in step S3. setTo
Set Ttop and Tmp as standard values Ttopstdand
TmpstdAfter setting (S5), the test rule for Tcl
The site is executed (S6).

【0114】図6は、図4のステップS6の処理をさら
に詳細に説明するためのフローチャートである。まず、
Tclに最小値Tclminが設定される(S61)。アクセ
ス制御部23は、上記スレッドおよびラジアルアクチュ
エータの各ドライバに指令を出しレーザビームを所定の
セクタLにアクセスさせる(S62)。レーザビームが
所定のセクタLにアクセスされたことが確認されると、
ステップS4で記録データとして設定されたテストパタ
ーン2をステップS5で設定されたパラメータで記録す
る。このとき、セクタLにTclの最小値であるTclmin
で記録を行ない、テストライトセクタ毎にΔTclずつ増
加させて記録を行なう(S63)。このときのTcl値
は、次式によって表わすことができる。
FIG. 6 is a flowchart for explaining the processing of step S6 in FIG. 4 in more detail. First,
The minimum value Tcl min is set to Tcl (S61). The access control unit 23 issues a command to each driver of the thread and the radial actuator to cause the laser beam to access a predetermined sector L (S62). When it is confirmed that the laser beam has accessed the predetermined sector L,
The test pattern 2 set as the print data in step S4 is recorded with the parameters set in step S5. At this time, the minimum value of Tcl, Tcl min
Then, recording is performed while increasing by ΔTcl for each test write sector (S63). The Tcl value at this time can be expressed by the following equation.

【0115】 Tcl=Tclmin+ΔTcl×(i−1) (i=1〜J) …(8) 次に、アクセス制御部23は再び、スレッドおよびラジ
アルアクチュエータに指令を出してレーザビームで所定
セクタLにアクセスし(S64)、相変化記録ディスク
1に記録されているテストパターンを再生する。演算部
24は再生データ検出回路11からの同期信号検出信号
とA/D変換回路17からの出力に基づいて、テストラ
イトセクタ毎に11Tの再生信号の平均中心レベルI11
aiと3Tの再生信号の平均中心レベルI3aiとを求め、
さらに再生データ検出回路11からの同期信号検出信号
とA/D変換回路18からの出力に基づいて、テストラ
イトセクタ毎に11T信号の平均振幅I11iを求める
(S65)。そして、演算部24は、次式によってテス
トライトセクタ毎のアシンメトリASYMiを算出する(S
66)。
Tcl = Tcl min + ΔTcl × (i−1) (i = 1 to J) (8) Next, the access control unit 23 again issues a command to the sled and the radial actuator, and outputs a predetermined sector L with a laser beam. (S64), and the test pattern recorded on the phase change recording disk 1 is reproduced. The arithmetic unit 24 calculates the average center level I11 of the 11T reproduction signal for each test write sector based on the synchronization signal detection signal from the reproduction data detection circuit 11 and the output from the A / D conversion circuit 17.
obtains an average center level I3a i of the reproduced signal a i and 3T,
And based on the output from the synchronization signal detection signal and the A / D conversion circuit 18 from the reproduced data detection circuit 11 calculates an average amplitude I11 i of 11T signal every test write sectors (S65). Then, the arithmetic unit 24 calculates the asymmetry ASYM i for each test write sector by the following equation (S
66).

【0116】 ASYMi=(I11ai−I3ai)/I11i …(9) このようにして算出されたアシンメントリASYMiとTcl
との関係は、本出願人の実験によれば図10(b)のグ
ラフに示すようにほぼ線形性を有することが判ってい
る。そこで、アシンメントリASYMiとTclとの関係を最
小2乗法等を用いて直線近似すると、次式のように表わ
すことができる(S67)。
ASYM i = (I11a i −I3a i ) / I11 i (9) The asymmetry ASYM i and Tcl calculated in this manner
According to the experiment conducted by the present applicant, it has been found that the relationship has substantially linearity as shown in the graph of FIG. Therefore, when linearly approximated using the least square method or the like the relationship between Ashinmentori ASYM i and Tcl, can be expressed by the following equation (S67).

【0117】ASYMi=Tcl×αTcl−βTcl …(10) そして、演算部24は、(9)式からアシンメトリが0
となるTcl値Tcl0を算出する(S68)。
ASYM i = Tcl × α Tcl −β Tcl (10) Then, the arithmetic unit 24 determines from equation (9) that the asymmetry is 0.
A Tcl value Tcl 0 is calculated (S68).

【0118】Tcl0=βTcl/αTcl …(11) 本出願人の実験結果によれば、最適なTcl値はTcl0
りもやや高い値となることが判っており、ある種のディ
スクにおいてはTcl0とある定数γTclとを乗算した結果
がもっとも最適Tcl値に近く、他の種類におけるディス
クにおいてはTcl0とある定数γTclとを加算した結果が
もっとも最適Tcl値に近かった。したがって、演算部2
4は、次式(12)または(13)のいずれかによって
Tclの設定値を算出する(S69)。
Tcl 0 = β Tcl / α Tcl (11) According to the experimental results of the present applicant, it has been found that the optimum Tcl value is slightly higher than Tcl 0 , and that in some discs, is close to the result obtained by multiplying the Tcl 0 phrase constant gamma Tcl most optimum Tcl value, results in a disk obtained by adding the Tcl 0 phrase constant gamma Tcl in other types was close to the most optimal Tcl value. Therefore, the operation unit 2
4 calculates the set value of Tcl by one of the following equations (12) and (13) (S69).

【0119】 Tclset=Tcl0×γTcl (γTcl≧1) …(12) Tclset=Tcl0+γTcl (γTcl≧0) …(13) 再び、図4に示すフローチャートの説明に戻る。次に、
パラメータ設定部22によって、パラメータ値Ppとし
て通常記録の最大値Ppmaxを設定し、Peとしてステッ
プS3で求められたPesetを設定し、Tmpとして標準値
Tmpstdを設定し、Tcl値としてステップS6で求めら
れたTclsetを設定した後(S7)、Ttopに関するテス
トライトを実行する(S8)。
Tcl set = Tcl 0 × γ TclTcl ≧ 1) (12) Tcl set = Tcl 0 + γ TclTcl ≧ 0) (13) Returning to the description of the flowchart shown in FIG. 4 again. next,
The parameter setting unit 22 sets the maximum value Pp max for normal recording as the parameter value Pp, sets Pe set obtained in step S3 as Pe, sets the standard value Tmp std as Tmp, and sets the standard value Tmp std as Tcl value in step S6. After setting the Tcl set obtained in (S7), a test write for Ttop is executed (S8).

【0120】図7は、図4のステップS8の処理をさら
に詳細に説明するためのフローチャートである。まず、
Ttopに最小値Ttopminが設定される(S81)。アク
セス制御部23は、上記スレッドおよびラジアルアクチ
ュエータの各ドライバに指令を出しレーザビームを所定
のセクタMにアクセスさせる(S82)。レーザビーム
が所定のセクタMにアクセスされたことが確認される
と、ステップS4で記録データとして設定されたテスト
パターン2をステップS7において設定されたパラメー
タで記録する。このとき、セクタMにTtopの最小値で
あるTtopminで記録を行ない、テストライトセクタ毎に
ΔTtopずつ増加させて記録を行なう(S83)。この
ときのTtop値は、次式によって表わすことができる。
FIG. 7 is a flowchart for explaining the processing of step S8 in FIG. 4 in more detail. First,
A minimum value Ttop min is set to Ttop (S81). The access control unit 23 issues a command to each driver of the thread and the radial actuator to cause the laser beam to access a predetermined sector M (S82). When it is confirmed that the laser beam has accessed the predetermined sector M, the test pattern 2 set as the recording data in step S4 is recorded with the parameters set in step S7. At this time, recording is performed on the sector M at Ttop min , which is the minimum value of Ttop, and recording is performed while increasing by ΔTtop for each test write sector (S83). The Ttop value at this time can be expressed by the following equation.

【0121】 Ttop=Ttopmin+ΔTtop×(i−1) (i=1〜J) …(14) 次に、アクセス制御部23は再び、スレッドおよびラジ
アルアクチュエータに指令を出してレーザビームを所定
のセクタMにアクセスし(S84)、相変化記録ディス
ク1に記録されているテストパターンを再生する。演算
部24は再生データ検出回路11からの同期信号検出信
号とA/D変換回路17からの出力に基づいて、テスト
ライトセクタ毎に11Tの再生信号の平均中心レベルI
11aiおよび3Tの再生信号の平均中心レベルI3aiとを
求め、さらに再生データ検出回路11からの同期信号検
出信号とA/D変換回路18からの出力に基づいて、テ
ストライトセクタ毎に11Tの再生信号の平均振幅I11
iを測定する(S85)。そして、演算部24は、次式
によってテストライトセクタ毎のアシンメトリASYM i
算出する(S86)。
Ttop = Ttopmin+ ΔTtop × (i−1) (i = 1 to J) (14) Next, the access control unit 23 again sets the thread and the radio
Issues a command to the AL actuator to set the laser beam
(S84), and the phase change recording disk is accessed.
The test pattern recorded in step 1 is reproduced. Calculation
The section 24 receives a synchronization signal detection signal from the reproduction data detection circuit 11.
Test based on the signal and the output from the A / D conversion circuit 17
Average center level I of 11T reproduced signal for each write sector
11aiAnd 3T reproduced signal average center level I3aiAnd
And a synchronization signal detection from the reproduction data detection circuit 11.
Based on the output signal and the output from the A / D conversion circuit 18,
The average amplitude I11 of the reproduced signal of 11T for each write sector
iIs measured (S85). Then, the calculation unit 24 calculates
Asymmetry ASYM per test write sector by iTo
It is calculated (S86).

【0122】 ASYMi=(I11ai−I3ai)/I11i …(15) このようにして算出されたアシンメントリASYMiとTtop
との関係は、本出願人の実験によれば図10(c)のグ
ラフに示すようにほぼ線形性を有することが判ってい
る。そこで、アシンメントリASYMiとTtopとの関係を最
小2乗法等を用いて直線近似すると、次式のように表わ
すことができる(S87)。
ASYM i = (I11a i −I3a i ) / I11 i (15) The asymmetry ASYM i and Ttop thus calculated
According to the experiment conducted by the present applicant, it has been found that the relationship has substantially linearity as shown in the graph of FIG. Then, if the relationship between the asymmetry ASYM i and Ttop is linearly approximated using the least squares method or the like, it can be expressed as the following equation (S87).

【0123】 ASYMi=Ttop×αTtop−βTtop …(16) そして、演算部24は、(16)式からアシンメトリが
0となるTtop値Ttop 0を算出する(S88)。
ASYMi= Ttop × αTtop−βTtop (16) Then, the arithmetic unit 24 calculates the asymmetry from the expression (16).
Ttop value which becomes 0 Ttop 0Is calculated (S88).

【0124】Ttop0=βTtop/αTtop …(17) 本出願人の実験結果によれば、最適なTtop値はTtop0
よりもやや高い値となることが判っており、ある種のデ
ィスクにおいてはTtop0とある定数γTtopとを乗算した
結果がもっとも最適Ttop値に近く、他の種類における
ディスクにおいてはTtop0とある定数γTtopとを加算し
た結果がもっとも最適Ttop値に近かった。したがっ
て、演算部24は、次式(18)または(19)のいず
れかによってTtopの設定値を算出する(S89)。
Ttop 0 = β Ttop / α Ttop (17) According to the experimental results of the present applicant, the optimum Ttop value is Ttop 0.
It is with Ttop 0 in the disk in most optimal Ttop close to values, other types result obtained by multiplying the Ttop 0 phrase constant gamma Ttop in slightly higher value as it has been found comprised certain disc than The result of adding the constant γ Ttop was closest to the optimum Ttop value. Therefore, the calculation unit 24 calculates the set value of Ttop by using either the following equation (18) or (19) (S89).

【0125】 Ttopset=Ttop0×γTtop (γTtop≧1) …(18) Ttopset=Ttop0+γTtop (γTtop≧0) …(19) 再び、図4に示すフローチャートの説明に戻る。次に、
パラメータ設定部22によって、パラメータ値Ppとし
て通常記録の最大値Ppmaxを設定し、Peとしてステッ
プS3で求められたPesetを設定し、Ttopとしてステ
ップS8で求められたTtopsetを設定し、Tcl値として
ステップS6で求められたTclsetを設定した後(S
9)、Tmpに関するテストライトを実行する(S1
0)。
Ttop set = Ttop 0 × γ TtopTtop ≧ 1) (18) Ttop set = Ttop 0 + γ TtopTtop ≧ 0) (19) Returning to the description of the flowchart shown in FIG. 4 again. next,
The parameter setting unit 22 sets the maximum value Pp max of normal recording as the parameter value Pp, sets Pe set obtained in step S3 as Pe, sets Ttop set obtained in step S8 as Ttop, and sets Tcl After setting Tcl set obtained in step S6 as a value (S
9), execute a test write for Tmp (S1)
0).

【0126】図8は、図4のステップS10の処理をさ
らに詳細に説明するためのフローチャートである。ま
ず、Tmpに最小値Tmpminが設定される(S101)。
アクセス制御部23は、上記スレッドおよびラジアルア
クチュエータの各ドライバに指令を出しレーザビームを
所定のセクタQにアクセスさせる(S102)。レーザ
ビームが所定のセクタQにアクセスされたことが確認さ
れると、ステップS4で記録データとして設定されたテ
ストパターン2をステップS9において設定されたパラ
メータで記録する。このとき、セクタQにTmpの最小値
であるTmpminで記録を行ない、テストライトセクタ毎
にΔTmpずつ増加させて記録を行なう(S103)。こ
のときのTmp値は、次式によって表わすことができる。
FIG. 8 is a flowchart for explaining the processing of step S10 in FIG. 4 in more detail. First, a minimum value Tmp min is set to Tmp (S101).
The access control unit 23 issues a command to each driver of the thread and the radial actuator to cause the laser beam to access a predetermined sector Q (S102). When it is confirmed that the laser beam has accessed the predetermined sector Q, the test pattern 2 set as the recording data in step S4 is recorded with the parameters set in step S9. At this time, recording is performed on the sector Q at Tmp min , which is the minimum value of Tmp, and recording is performed while increasing by ΔTmp for each test write sector (S103). The Tmp value at this time can be expressed by the following equation.

【0127】 Tmp=Tmpmin+ΔTmp×(i−1) (i=1〜J) …(20) 次に、アクセス制御部23は再び、スレッドおよびラジ
アルアクチュエータに指令を出してレーザビームを所定
セクタQにアクセスし(S104)、相変化記録ディス
ク1に記録されているテストパターンを再生する。演算
部24は再生データ検出回路11からの同期信号検出信
号とA/D変換回路17からの出力に基づいて、テスト
ライトセクタ毎に11Tの再生信号の平均中心レベルI
11aiと3Tの再生信号の平均中心レベルI3aiとを求
め、さらに再生データ検出回路11からの同期信号検出
信号とA/D変換回路18からの出力とに基づいて、テ
ストライトセクタ毎に11Tの再生信号の平均振幅I11
iを求める(S105)。そして、演算部24は、次式
によってテストライトセクタ毎のアシンメトリASYMi
算出する(S106)。
Tmp = Tmp min + ΔTmp × (i−1) (i = 1 to J) (20) Next, the access control unit 23 again issues a command to the sled and the radial actuator to change the laser beam to the predetermined sector Q. (S104), and the test pattern recorded on the phase change recording disk 1 is reproduced. The arithmetic unit 24 calculates the average center level I of the 11T reproduced signal for each test write sector based on the synchronization signal detection signal from the reproduced data detection circuit 11 and the output from the A / D conversion circuit 17.
11a i and an average center level I3a i of the 3T reproduction signal are obtained. Further, based on the synchronization signal detection signal from the reproduction data detection circuit 11 and the output from the A / D conversion circuit 18, 11Ti is obtained for each test write sector. Average amplitude I11 of the reproduced signal of
i is obtained (S105). The arithmetic unit 24 calculates the asymmetry ASYM i for each test write sectors by the following equation (S106).

【0128】 ASYMi=(I11ai−I3ai)/I11i …(21) このようにして算出されたアシンメントリASYMiとTmp
との関係は、本出願人の実験によれば図10(d)のグ
ラフに示すように下に凸型となり、2本の直線で近似で
きることが判っている。そこで、アシンメントリASYMi
とTmpとの関係を最小2乗法等を用いて2本の直線で近
似すると、次式のように表わすことができる(S10
7)。
ASYM i = (I11a i −I3a i ) / I11 i (21) The asymmetry ASYM i and Tmp calculated in this way
According to the experiment conducted by the present applicant, it has been found that, as shown in the graph of FIG. Therefore, asymmentary ASYM i
When the relationship between Tmp and Tmp is approximated by two straight lines using the least squares method or the like, it can be expressed as the following equation (S10)
7).

【0129】 ASYMi=−Tmp×α1Tmp+β1Tmp (i=1〜H)…(22) ASYMi=Tmp×α2Tmp−β2Tmp (i=H+1〜J)…(23) 上記(22)式および(23)式から2本の直線の交点
のTmpであるTmpcを算出すると次式のようになる。
ASYM i = −Tmp × α1 Tmp + β1 Tmp (i = 1 to H) (22) ASYM i = Tmp × α2 Tmp −β2 Tmp (i = H + 1 to J) (23) Equation (22) and (23) calculating the Tmp c is a Tmp of intersection of the two straight lines from the equation becomes as follows.

【0130】 Tmpc=(β1Tmp+β2Tmp)/(α1Tmp+α2Tmp)…(24) 本出願人の実験結果によれば、ある種のディスクにおい
てはこの2本の直線の交点Tmpcとある定数γTmpとを乗
算した結果がもっとも最適Tmp値に近く、他の種類にお
けるディスクにおいてはTmpcとある定数γTmpとを加算
した結果がもっとも最適Tmp値に近かった。したがっ
て、演算部24は、次式(25)および(26)によっ
てTmpの設定値を算出する(S109)。
Tmp c = (β1 Tmp + β2 Tmp ) / (α1 Tmp + α2 Tmp ) (24) According to the experimental results of the applicant, in a certain kind of disc, there is an intersection Tmp c between these two straight lines. The result of multiplying by the constant γ Tmp was closest to the optimum Tmp value, and in the other types of discs, the result of adding Tmp c to a certain constant γ Tmp was closest to the optimum Tmp value. Therefore, the calculation unit 24 calculates the set value of Tmp by the following equations (25) and (26) (S109).

【0131】 Tmpset=Tmpc×γTmp (γTmp≦1) …(25) Tmpset=Tmpc+γTmp (γTmp≦0) …(26) 再び、図4に示すフローチャートの説明に戻る。次に、
パラメータ設定部22によって、パラメータ値Peとし
てステップS3で求められたPesetを設定し、Ttopと
してステップS8で求められたTtopsetを設定し、Tmp
としてステップS10で求められたTmpsetを設定し、
Tcl値としてステップS6で求められたTclsetを設定
した後(S11)、Ppに関するテストライトを実行す
る(S12)。
Tmp set = Tmp c × γ TmpTmp ≦ 1) (25) Tmp set = Tmp c + γ TmpTmp ≦ 0) (26) The description returns to the flowchart shown in FIG. 4 again. next,
The parameter setting unit 22 sets Pe set obtained in step S3 as the parameter value Pe, sets Ttop set obtained in step S8 as Ttop, and sets Tmp
Is set as Tmp set obtained in step S10,
After setting the Tcl set obtained in step S6 as the Tcl value (S11), a test write for Pp is executed (S12).

【0132】図9は、図4のステップS12の処理をさ
らに詳細に説明するためのフローチャートである。ま
ず、Ppに最大値Ppmaxが設定される(S121)。ア
クセス制御部23は、上記スレッドおよびラジアルアク
チュエータの各ドライバに指令を出しレーザビームを所
定のセクタRにアクセスさせる(S122)。レーザビ
ームが所定のセクタRにアクセスされたことが確認され
ると、ステップS4で記録データとして設定されたテス
トパターン2をステップS11で設定されたパラメータ
で記録する。このとき、セクタRにPpの最大値である
Ppmaxで記録を行ない、テストライトセクタ毎にΔPp
ずつ減少させて記録を行なう(S123)。このときの
Pp値は、次式によって表わすことができる。
FIG. 9 is a flowchart for explaining the processing in step S12 in FIG. 4 in more detail. First, the maximum value Pp max is set to Pp (S121). The access control unit 23 issues a command to each driver of the thread and the radial actuator to cause the laser beam to access a predetermined sector R (S122). When it is confirmed that the laser beam has accessed the predetermined sector R, the test pattern 2 set as the recording data in step S4 is recorded with the parameters set in step S11. At this time, recording is performed on the sector R with Pp max , which is the maximum value of Pp, and ΔPp
The recording is performed while decreasing the recording speed (S123). The Pp value at this time can be expressed by the following equation.

【0133】 Pp=Ppmax−ΔPp×(i−1) (i=1〜J) …(27) 次に、アクセス制御部23は再び、スレッドおよびラジ
アルアクチュエータに指令を出してレーザビームを所定
のセクタRにアクセスし(S124)、相変化記録ディ
スク1に記録されているテストパターンを再生する。演
算部24は再生データ検出回路11からの同期信号検出
信号とA/D変換回路17からの出力とに基づいて、テ
ストライトセクタ毎に11Tの再生信号の平均中心レベ
ルI11aiと3Tの再生信号の平均中心レベルI3aiとを
求め、さらに再生データ検出回路11からの同期信号検
出信号とA/D変換回路18からの出力に基づいて、テ
ストライトセクタ毎に11Tの再生信号の平均振幅I11
iを求める(S125)。そして、演算部24は、次式
によってテストライトセクタ毎のアシンメトリASYM i
算出する(S126)。
Pp = Ppmax-ΔPp × (i−1) (i = 1 to J) (27) Next, the access control unit 23 again executes
Issues a command to the AL actuator to set the laser beam
(S124), and the phase change recording directory is accessed.
The test pattern recorded on the disc 1 is reproduced. Performance
The calculation unit 24 detects a synchronization signal from the reproduction data detection circuit 11.
Based on the signal and the output from the A / D conversion circuit 17,
Average center level of 11T reproduced signal for each write sector
Le I11aiAnd the average center level I3a of the 3T reproduced signaliAnd
And a synchronization signal detection from the reproduction data detection circuit 11.
Based on the output signal and the output from the A / D conversion circuit 18,
The average amplitude I11 of the reproduced signal of 11T for each write sector
iIs obtained (S125). Then, the calculation unit 24 calculates
Asymmetry ASYM per test write sector by iTo
It is calculated (S126).

【0134】 ASYMi=(I11ai−I3ai)/I11i …(28) このようにして算出されたアシンメントリASYMiとPpと
の関係は、本出願人の実験によれば図10(e)のグラ
フに示すようにほぼ線形性を有することが判っている。
そこで、アシンメントリASYMiとPpとの関係を最小2乗
法等を用いて直線近似すると、次式のように表わすこと
ができる(S127)。
ASYM i = (I11a i −I3a i ) / I11 i (28) The relationship between the asymmetry ASYM i and Pp calculated as described above is shown in FIG. As shown in the graph of FIG.
Then, if the relationship between the asymmetry ASYM i and Pp is linearly approximated using the least squares method or the like, it can be expressed as the following equation (S127).

【0135】ASYMi=Pp×αPp−βPp …(29) そして、演算部24は、(29)式からアシンメトリが
0となるPp値Pp0を算出する(S128)。
ASYM i = Pp × α Pp −β Pp (29) Then, the arithmetic unit 24 calculates a Pp value Pp 0 at which the asymmetry becomes 0 from the equation (29) (S128).

【0136】Pp0=βPp/αPp …(30) 本出願人の実験結果によれば、最適なPp値はPp0より
もやや高い値となることが判っており、ある種のディス
クにおいてはPp0とある定数γPpとを乗算した結果がも
っとも最適Pp値に近く、他の種類におけるディスクに
おいてはPp0とある定数γPpとを加算した結果がもっと
も最適Pp値に近かった。したがって、演算部24は、
次式(31)または(32)のいずれかによってPpの
設定値を算出する(S129)。
Pp 0 = β Pp / α Pp (30) According to the experimental results of the present applicant, it has been found that the optimum Pp value is slightly higher than Pp 0 , and in some discs, the Pp 0 phrase constant gamma Pp and close to the result obtained by multiplying the most optimum Pp value, results in a disk obtained by adding the Pp 0 phrase constant gamma Pp in other types was close to the most optimum Pp value. Therefore, the arithmetic unit 24 calculates
The set value of Pp is calculated by one of the following equations (31) and (32) (S129).

【0137】 Ppset=Pp0×γPp (γPp≧1) …(31) Ppset=Pp0+γPp (γPp≧0) …(32) なお、RFアンプ7の出力信号を直接A/D変換し、再
生信号振幅や再生信号中心レベルの検出をデジタル演算
によって求めるようにしても良い。この場合、デジタル
演算の処理部分を記録再生動作制御回路12に含ませる
ことができ、光ディスク記録再生装置の小型化、低コス
ト化を図ることが可能となる。
Pp set = Pp 0 × γ PpPp ≧ 1) (31) Pp set = Pp 0 + γ PpPp ≧ 0) (32) Note that the output signal of the RF amplifier 7 is directly output to A / D-conversion may be performed, and the detection of the reproduction signal amplitude and the reproduction signal center level may be obtained by digital calculation. In this case, the processing part of the digital operation can be included in the recording / reproduction operation control circuit 12, and the size and cost of the optical disk recording / reproduction device can be reduced.

【0138】以上説明したように、本発明の実施の形態
における光ディスク記録再生装置によれば、記録再生動
作制御回路12がレーザのパワーとレーザ光のパルス幅
とを規定するパラメータの最適値を順次設定するように
したので、高精度なテストライトを行なうことができ、
信頼性の高い光記録が行なえる光ディスク記録再生装置
を提供することが可能となった。また、テストライトセ
クタの長さを調整できるようにしたので、光ディスク記
録再生装置に要求されている性能に柔軟に対応したテス
トライトを実現することが可能となった。
As described above, according to the optical disk recording / reproducing apparatus of the embodiment of the present invention, the recording / reproducing operation control circuit 12 sequentially determines the optimum values of the parameters defining the laser power and the pulse width of the laser light. Because it was set, it is possible to perform a highly accurate test light,
It has become possible to provide an optical disk recording / reproducing apparatus capable of performing highly reliable optical recording. Further, since the length of the test write sector can be adjusted, it is possible to realize a test write flexibly corresponding to the performance required of the optical disk recording / reproducing apparatus.

【0139】今回開示された実施の形態は、すべての点
で例示であって制限的なものではないと考えられるべき
である。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請
求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味
および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図さ
れる。
The embodiments disclosed this time are to be considered in all respects as illustrative and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態における光ディスク記録
再生装置の概略構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a schematic configuration of an optical disc recording / reproducing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 テストパターン発生回路13から出力される
2種類のテストパターンを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing two types of test patterns output from a test pattern generation circuit 13;

【図3】 図1に示す記録再生動作制御回路12の機能
的な構成を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of a recording / reproduction operation control circuit 12 shown in FIG.

【図4】 本発明におけるテストライト動作全体を説明
するためのフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart for explaining the entire test write operation in the present invention.

【図5】 図4のステップS3の処理(Peテストライ
ト)をさらに詳細に説明するためのフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart for explaining the processing (Pe test write) of step S3 in FIG. 4 in further detail;

【図6】 図4のステップS6の処理(Tclテストライ
ト)をさらに詳細に説明するためのフローチャートであ
る。
FIG. 6 is a flowchart for explaining the process (Tcl test write) in step S6 of FIG. 4 in more detail;

【図7】 図4のステップS8の処理(Ttopテストラ
イト)をさらに詳細に説明するためのフローチャートで
ある。
FIG. 7 is a flowchart for explaining the processing (Ttop test write) in step S8 of FIG. 4 in more detail;

【図8】 図4のステップS10の処理(Tmpテストラ
イト)をさらに詳細に説明するためのフローチャートで
ある。
FIG. 8 is a flowchart illustrating the process (Tmp test write) in step S10 of FIG. 4 in further detail.

【図9】 図4のステップS12の処理(Ppテストラ
イト)をさらに詳細に説明するためのフローチャートで
ある。
FIG. 9 is a flowchart for explaining the processing (Pp test write) of step S12 in FIG. 4 in more detail;

【図10】 各パラメータと消去率またはアシンメトリ
との関係を示すグラフである。
FIG. 10 is a graph showing a relationship between each parameter and an erasure rate or asymmetry.

【図11】 相変化記録方式を用いた従来の情報記録装
置の概略構成を示すブロック図である。
FIG. 11 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional information recording device using a phase change recording method.

【図12】 相変化記録において、情報“1”を記録す
る場合を説明するための図である。
FIG. 12 is a diagram for describing a case where information “1” is recorded in phase change recording.

【図13】 各パラメータとジッタ値との関係を説明す
るためのグラフである。
FIG. 13 is a graph for explaining a relationship between each parameter and a jitter value.

【図14】 各パラメータとアシンメトリ値との関係を
説明するためのグラフである。
FIG. 14 is a graph for explaining a relationship between each parameter and an asymmetry value.

【図15】 パラメータ間によるアシンメトリ値の影響
を説明するためのグラフである。
FIG. 15 is a graph for explaining the influence of asymmetry values between parameters.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 相変化記録ディスク、2 光ピックアップ、3 ス
ピンドルモータ、4記録情報処理回路、5 記録パルス
生成回路、6 レーザ制御回路、7 RFアンプ、8
EQ回路、9 2値化回路、10 PLL回路、11
再生データ検出回路、12 記録再生動作制御回路、1
3 テストパターン発生回路、14エンベロープ検出回
路、15 LPF、16 差分回路、17,18 A/
D変換回路、21 記録データ制御部、22 パラメー
タ設定部、23 アクセス制御部、24 演算部、25
制御部。
1 phase change recording disk, 2 optical pickup, 3 spindle motor, 4 recording information processing circuit, 5 recording pulse generation circuit, 6 laser control circuit, 7 RF amplifier, 8
EQ circuit, 9 binarization circuit, 10 PLL circuit, 11
Reproduction data detection circuit, 12 recording / reproduction operation control circuit, 1
3 Test pattern generation circuit, 14 envelope detection circuit, 15 LPF, 16 difference circuit, 17, 18 A /
D conversion circuit, 21 recording data control unit, 22 parameter setting unit, 23 access control unit, 24 arithmetic unit, 25
Control unit.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D090 AA01 BB05 CC01 CC06 CC18 DD03 DD05 EE02 HH01 JJ12 KK04 KK05 5D119 AA23 AA26 BA01 BB04 DA01 DA07 FA05 HA19 HA50 HA52 HA60  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5D090 AA01 BB05 CC01 CC06 CC18 DD03 DD05 EE02 HH01 JJ12 KK04 KK05 5D119 AA23 AA26 BA01 BB04 DA01 DA07 FA05 HA19 HA50 HA52 HA60

Claims (33)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 記録される情報に対応したパルス列を情
報の最小単位よりも細かいパルス列に変換し、該細かい
パルス列によってレーザビームの強度を変調し、前記強
度変調されたレーザビームを媒体上の記録層に集光して
加熱し、その温度分布によって光学的な状態を変化させ
て情報を記録し、再生時には記録層に比較的弱いレーザ
ビームを集光し、その反射光の状態で記録層に記録され
た情報を再生する光記録再生装置であって、 外部からの動作要求に基づいて記録再生動作を制御する
記録再生動作制御手段と、 前記記録再生動作制御手段からの指令に基づいて、前記
集光されたレーザビームを所定の位置に移動させるアク
セス制御手段と、 前記記録再生動作制御手段からの指令に基づいて、少な
くとも比較的長いパターンの繰り返しを含む第1の所定
パターンと、少なくとも比較的長いパターンの繰り返し
と比較的短いパターンの繰り返しとを主に含む第2の所
定パターンのいずれかを選択して出力するテストパター
ン発生手段と、 前記記録再生動作制御手段からの指令に基づいて、前記
記録される情報に対応したパルス列かまたは前記テスト
パターン発生手段からの出力信号のいずれかを選択して
記録パルス発生手段に出力する選択手段と、 前記選択手段と前記記録再生動作制御手段とからの指令
に基づいて、記録層の光学的状態を第1の状態に変化さ
せ得る第1の温度以上に上昇させるための第1のパルス
列と、記録層の温度を前記第1の温度以上に保つための
第2のパルス列と、記録層を記録層の光学的状態を第2
の状態に変化させ得る第2の温度以上で前記第1の温度
未満に冷却するための第3のパルス列とを発生する記録
パルス発生手段と、 前記記録パルス発生手段から出力される前記3種類のパ
ルス列と前記記録再生動作制御手段からの指令とに基づ
いて、前記第1の温度以上に記録層を加熱するための第
1のパワーと、記録層を前記第2の温度以上第1の温度
未満に加熱するための第2のパワーと、記録層の状態が
変化しない第3のパワーの間でレーザビームのパワーを
変調するレーザ制御手段と、 記録されたパルス列の再生信号振幅を測定する再生信号
振幅測定手段と、 記録されたパルス列の再生信号の中心レベルを測定する
再生信号中心レベル測定手段とを含み、 前記記録再生動作制御手段は、通常の記録に先立って、
各種パラメータを決定するテストライトモードに移行
し、所定の位置に前記レーザビームスポットを移動する
よう前記アクセス制御手段に指令を出力し、前記記録パ
ルス発生手段入力信号として所定のテストパターンが選
択されるよう、前記テストパターン発生手段および選択
手段に指令を出力し、前記再生信号振幅測定手段および
前記再生信号中心レベル測定手段の出力を所定のアルゴ
リズムにしたがって処理し、前記第2のパワー、前記第
3のパルス列のパルス幅、前記第1のパルス列のパルス
幅、前記第2のパルス列のパルス幅、前記第1のパワー
の順にパラメータを決定するよう動作する、光記録再生
装置。
1. A pulse train corresponding to information to be recorded is converted into a pulse train finer than a minimum unit of information, the intensity of a laser beam is modulated by the fine pulse train, and the intensity-modulated laser beam is recorded on a medium. The light is focused on the layer and heated, and the optical state is changed according to the temperature distribution to record information.When reproducing, a relatively weak laser beam is focused on the recording layer, and the reflected light is reflected on the recording layer. An optical recording / reproducing apparatus for reproducing recorded information, comprising: a recording / reproducing operation control means for controlling a recording / reproducing operation based on an external operation request; and Access control means for moving the focused laser beam to a predetermined position; and at least a relatively long pattern repetition based on a command from the recording / reproduction operation control means. A test pattern generating means for selecting and outputting any one of a first predetermined pattern including at least a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively long pattern and a repetition of a relatively short pattern; Selecting means for selecting either a pulse train corresponding to the information to be recorded or an output signal from the test pattern generating means based on a command from the operation control means and outputting the selected signal to the recording pulse generating means; A first pulse train for raising the optical state of the recording layer to a first temperature or more that can change the optical state of the recording layer to the first state, based on a command from the means and the recording / reproducing operation control means; A second pulse train for keeping the temperature equal to or higher than the first temperature,
Recording pulse generating means for generating a third pulse train for cooling to a temperature equal to or higher than a second temperature which can be changed to a state below the first temperature, and the three types of pulses output from the recording pulse generating means A first power for heating the recording layer to the first temperature or higher based on the pulse train and a command from the recording / reproducing operation control unit; and a first power for heating the recording layer to the second temperature or higher and lower than the first temperature. Laser control means for modulating the power of the laser beam between a second power for heating the laser beam and a third power which does not change the state of the recording layer; and a reproduction signal for measuring the reproduction signal amplitude of the recorded pulse train. Amplitude measuring means, and a read signal center level measuring means for measuring a center level of a read signal of a recorded pulse train, wherein the recording / reproducing operation control means, prior to normal recording,
A transition is made to a test write mode for determining various parameters, a command is output to the access control means to move the laser beam spot to a predetermined position, and a predetermined test pattern is selected as the recording pulse generation means input signal. Thus, a command is output to the test pattern generation means and the selection means, the outputs of the reproduction signal amplitude measurement means and the reproduction signal center level measurement means are processed according to a predetermined algorithm, and the second power and the third power are measured. An optical recording / reproducing apparatus which operates to determine parameters in the order of the pulse width of the pulse train, the pulse width of the first pulse train, the pulse width of the second pulse train, and the first power.
【請求項2】 前記比較的長いパターンは前記レーザビ
ームのスポット径より十分長く、前記比較的短いパター
ンは情報を記録する際に用いる変調方式の最も短いパタ
ーンである、請求項1記載の光記録再生装置。
2. The optical recording according to claim 1, wherein the relatively long pattern is sufficiently longer than a spot diameter of the laser beam, and the relatively short pattern is a shortest pattern of a modulation method used for recording information. Playback device.
【請求項3】 前記第1および第2の所定パターンは、
通常記録時の同期パターンを含む、請求項1記載の光記
録再生装置。
3. The first and second predetermined patterns are:
The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein the optical recording / reproducing apparatus includes a synchronization pattern at the time of normal recording.
【請求項4】 前記記録再生動作制御手段は、前記第2
のパワーの決定プロセスにおいて、前記第1の所定パタ
ーンが前記記録パルス発生手段に出力されるように前記
テストパターン発生手段および前記選択手段に指令を出
力し、第1の所定長さの間、所定のパラメータ値で前記
第1の所定パターンを記録し、記録終了後前記第1の所
定パターンの記録開始位置に前記レーザビームのスポッ
トを移動させるよう、前記アクセス制御手段に指令を出
力し、 記録された前記第1の所定パターンを再生し、第1の長
さより短い第2の所定長さの区間毎の前記再生信号振幅
測定手段の出力を第1の値として記憶し、 再生動作終了後、再度前記第1の所定パターンの記録開
始位置に前記レーザビームのスポットを移動させるよ
う、前記アクセス制御手段に指令を出力し、 記録された前記第1の所定パターンを前記第2の長さの
区間ごとにパワーが増加または減少する強度変調されな
いレーザビームで消去するよう、前記記録パルス発生手
段およびレーザ制御手段に指令を出力し、前記消去動作
終了後前記第1の所定パターンの記録開始位置に前記レ
ーザビームのスポットを移動させるよう、前記アクセス
制御手段に指令を出力し、 前記消去された第1の所定パターンを再生し、前記第2
の所定の長さの区間ごとの前記再生信号振幅測定手段の
出力を第2の値として記憶し、 前記第1の値と第2の値とから前記第2の長さの区間ご
との消去率を求め、この値から前記第2のパワーを決定
するよう動作する、請求項1記載の光記録再生装置。
4. The recording / reproducing operation control means according to claim 2, wherein:
In the power determination process, a command is output to the test pattern generation means and the selection means so that the first predetermined pattern is output to the recording pulse generation means, and a command is output for a first predetermined length. The first predetermined pattern is recorded with the parameter values of the following, and after the recording is completed, a command is outputted to the access control means so as to move the spot of the laser beam to a recording start position of the first predetermined pattern, and The first predetermined pattern is reproduced, and the output of the reproduction signal amplitude measuring means for each section of the second predetermined length shorter than the first length is stored as a first value. Outputting an instruction to the access control means to move a spot of the laser beam to a recording start position of the first predetermined pattern; A command is output to the recording pulse generating means and the laser control means so as to perform erasing with an unmodulated laser beam whose power increases or decreases for each section of the second length. Outputting an instruction to the access control means to move the spot of the laser beam to a recording start position of a predetermined pattern; reproducing the erased first predetermined pattern;
Storing, as a second value, the output of the reproduced signal amplitude measuring means for each section of a predetermined length, and erasing rate for each section of the second length from the first value and the second value. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein the optical recording / reproducing apparatus operates to determine the second power from this value.
【請求項5】 前記記録再生動作制御手段は、隣接する
前記第2の長さの区間での消去率の差を求め、その値が
所定の値以下になる前記強度変調しないパワーの最小値
を求め、その値に第1の所定の演算を行って補正し、そ
の結果を前記第2のパワーの設定値とするように動作す
る、請求項4記載の光記録再生装置。
5. The recording / reproducing operation control means obtains a difference in erasure rate between adjacent second length sections, and determines a minimum value of the intensity-unmodulated power at which the difference becomes equal to or less than a predetermined value. 5. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 4, wherein the optical recording / reproducing apparatus operates so that the obtained value is corrected by performing a first predetermined operation, and the result is set as the set value of the second power.
【請求項6】 前記記録再生動作制御手段は、前記第3
のパルス列のパルス幅の決定プロセスにおいて、前記第
2の所定パターンが前記記録パルス発生手段に出力され
るように前記テストパターン発生手段および前記選択手
段に指令を出力し、所定の位置に前記レーザビームのス
ポットを移動させるよう、前記アクセス制御手段に指令
を出力し、 前記第2の所定パターンを前記第2の長さの区間ごとに
前記第3のパルス列のパルス幅を増加または減少させて
記録するよう、前記記録パルス発生手段およびレーザ制
御手段に指令を出力し、前記記録動作終了後前記第2の
所定パターンの記録開始位置に前記レーザビームのスポ
ットを移動させるよう、前記アクセス制御手段に指令を
出力し、 前記記録された第2の所定パターンを再生し、前記第2
の所定の長さの区間ごとの前記再生信号中心レベル測定
手段の出力を記憶し、 前記記憶された値から前記第3のパルス列のパルス幅を
決定するよう動作する、請求項1記載の光記録再生装
置。
6. The recording / reproducing operation control means, wherein:
In the process of determining the pulse width of the pulse train, a command is output to the test pattern generation means and the selection means so that the second predetermined pattern is output to the recording pulse generation means, and the laser beam is positioned at a predetermined position. And outputting a command to the access control means to move the spot, and recording the second predetermined pattern by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train for each section of the second length. Outputting a command to the recording pulse generating means and the laser control means, and instructing the access control means to move the spot of the laser beam to a recording start position of the second predetermined pattern after the end of the recording operation. Outputting the recorded second predetermined pattern;
2. The optical recording according to claim 1, wherein an output of said reproduction signal center level measuring means is stored for each section having a predetermined length, and the pulse width of said third pulse train is determined from said stored value. Playback device.
【請求項7】 前記記録再生動作制御手段は、前記記憶
された値から前記比較的短いパターンに相当する部分と
比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、前記第
2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録を
行ったときの前記第3のパルス列のパルス幅との関係か
ら前記差が0になる前記第3のパルス列のパルス幅を求
め、その値に第2の所定の演算を行って補正しその結果
を前記第3のパルス列のパルス幅の設定値とするよう動
作する、請求項6記載の光記録再生装置。
7. The recording / reproducing operation control means detects a portion corresponding to the relatively short pattern and a portion corresponding to a relatively long pattern from the stored value, and detects a section corresponding to the second length. The pulse width of the third pulse train in which the difference becomes 0 is obtained from the relationship between the result and the pulse width of the third pulse train when recording is performed, and the second value is added to the value. 7. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 6, wherein said optical recording / reproducing apparatus operates so as to perform the predetermined calculation and correct the result to set the result as the set value of the pulse width of said third pulse train.
【請求項8】 前記記録再生動作制御手段は、前記第1
のパルス列のパルス幅の決定プロセスにおいて、前記第
2の所定パターンが前記記録パルス発生手段に出力され
るように前記テストパターン発生手段および前記選択手
段に指令を出力し、所定の位置に前記レーザビームのス
ポットを移動させるよう、前記アクセス制御手段に指令
を出力し、 前記第2の所定パターンを前記第2の長さの区間ごとに
前記第3のパルス列のパルス幅を増加または減少させて
記録するよう、前記記録パルス発生手段およびレーザ制
御手段に指令を出力し、前記記録動作終了後前記第2の
所定パターンの記録開始位置に前記レーザビームのスポ
ットを移動させるように、前記アクセス制御手段に指令
を出力し、 前記記録された第2の所定パターンを再生し、前記第2
の所定の長さの区間ごとの前記再生信号中心レベル測定
手段の出力を記憶し、 前記記憶された値から前記第1のパルス列のパルス幅を
決定するよう動作する、請求項1記載の光記録再生装
置。
8. The recording / reproducing operation control means, wherein:
In the process of determining the pulse width of the pulse train, a command is output to the test pattern generation means and the selection means so that the second predetermined pattern is output to the recording pulse generation means, and the laser beam is positioned at a predetermined position. And outputting a command to the access control means to move the spot, and recording the second predetermined pattern by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train for each section of the second length. Output a command to the recording pulse generating means and the laser control means, and instruct the access control means to move the spot of the laser beam to a recording start position of the second predetermined pattern after the end of the recording operation. Is output, and the recorded second predetermined pattern is reproduced.
2. The optical recording according to claim 1, further comprising: storing an output of said reproduction signal center level measuring means for each section having a predetermined length, and determining a pulse width of said first pulse train from said stored value. Playback device.
【請求項9】 前記記録再生動作制御手段は、前記記憶
された値から前記比較的短いパターンに相当する部分と
比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、前記第
2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録を
行ったときの前記第1のパルス列のパルス幅との関係か
ら前記差が0になる前記第1のパルス列を求め、その値
に第3の所定の演算を行って補正しその結果を前記第3
のパルス列のパルス幅の設定値とするよう動作する、請
求項8記載の光記録再生装置。
9. The recording / reproducing operation control means detects a portion corresponding to the relatively short pattern and a portion corresponding to the relatively long pattern from the stored value, and detects a section corresponding to the second length. The first pulse train in which the difference is 0 is obtained from the relationship between the result and the pulse width of the first pulse train at the time of recording, and a third predetermined pulse train is obtained. The calculation is performed and the result is corrected.
9. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 8, wherein the optical recording / reproducing apparatus operates so as to set the pulse width of the pulse train to the set value.
【請求項10】 前記記録再生動作制御手段は、前記第
2のパルス列のパルス幅の決定プロセスにおいて、前記
第2の所定パターンが前記記録パルス発生手段に出力さ
れるように前記テストパターン発生手段および前記選択
手段に指令を出力し、所定の位置に前記レーザビームの
スポットを移動させるよう、前記アクセス制御手段に指
令を出力し、 前記第2の所定パターンを前記第2の長さの区間ごとに
前記第3のパルス列のパルス幅を増加または減少させて
記録するよう、前記記録パルス発生手段およびレーザ制
御手段に指令を出力し、前記記録動作終了後前記第2の
所定パターンの記録開始位置に前記レーザビームのスポ
ットを移動させるよう、前記アクセス制御手段に指令を
出力し、 前記記録された第2の所定パターンを再生し、前記第2
の所定の長さの区間ごとの前記再生信号中心レベル測定
手段の出力を記憶し、 前記記憶された値から前記第2のパルス列のパルス幅を
決定するよう動作する、請求項1記載の光記録再生装
置。
10. The recording / reproducing operation control means, wherein in the process of determining a pulse width of the second pulse train, the test pattern generation means and the test pattern generation means are arranged to output the second predetermined pattern to the recording pulse generation means. A command is output to the selection means, and a command is output to the access control means so as to move the spot of the laser beam to a predetermined position. The second predetermined pattern is provided for each section of the second length. A command is output to the recording pulse generating means and the laser control means so as to perform recording by increasing or decreasing the pulse width of the third pulse train, and after completion of the recording operation, the recording is performed at a recording start position of the second predetermined pattern. Outputting a command to the access control means to move the spot of the laser beam; reproducing the recorded second predetermined pattern; 2
2. The optical recording according to claim 1, wherein an output of the reproduction signal center level measuring means is stored for each section having a predetermined length of the predetermined length, and the pulse width of the second pulse train is determined from the stored value. Playback device.
【請求項11】 前記記録再生動作制御手段は、前記
された値から前記比較的短いパターンに相当する部分
と比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、前記
第2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録
を行ったときの前記第2のパルス列のパルス幅との関係
を2本の直線に近似し、その2本の直線の交点での前記
第2のパルス列のパルス幅を求め、その値に第4の所定
の演算を行って補正しその結果を前記第2のパルス列の
パルス幅の設定値とするよう動作する、請求項10記載
の光記録再生装置。
Wherein said recording operation control means, the Symbol
A portion corresponding to the relatively short pattern and a portion corresponding to the relatively long pattern were detected from the memorized values, the difference was obtained for each section of the second length, and the result and recording were performed. The relationship with the pulse width of the second pulse train at that time is approximated to two straight lines, the pulse width of the second pulse train at the intersection of the two straight lines is determined, and the value thereof is set to a fourth predetermined value. 11. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 10, wherein the optical recording / reproducing apparatus operates so as to perform a calculation and correct the result to be a set value of a pulse width of the second pulse train.
【請求項12】 前記記録再生動作制御手段は、前記第
1のパワーの決定プロセスにおいて、前記第2の所定パ
ターンが前記記録パルス発生手段に出力されるように前
記テストパターン発生手段および前記選択手段に指令を
出力し、所定の位置に前記レーザビームのスポットを移
動させるように、前記アクセス制御手段に指令を出力
し、 前記第2の所定パターンを前記第2の長さの区間ごとに
前記第1のパワーを増加または減少させて記録するよ
う、前記記録パルス発生手段およびレーザ制御手段に指
令を出力し、前記記録動作終了後前記第2の所定パター
ンの記録開始位置に前記レーザビームのスポットを移動
させるよう、前記アクセス制御手段に指令を出力し、 前記記録された第2の所定パターンを再生し、前記第2
の所定の長さの区間ごとの前記再生信号中心レベル測定
手段の出力を記憶し、 前記記憶された値から前記第1のパワーを決定するよう
動作する、請求項1記載の光記録再生装置。
12. The test pattern generating means and the selecting means so that the recording / reproducing operation controlling means outputs the second predetermined pattern to the recording pulse generating means in the first power determining process. And outputs a command to the access control means so as to move the spot of the laser beam to a predetermined position. The second predetermined pattern is output for each section of the second length. 1 is output to the recording pulse generating means and the laser control means so as to perform recording by increasing or decreasing the power of No. 1, and after the recording operation is completed, the laser beam spot is placed at the recording start position of the second predetermined pattern. Outputting a command to the access control means so as to move, reproducing the recorded second predetermined pattern;
2. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein an output of said reproduction signal center level measuring means for each section having a predetermined length is stored, and said first power is determined from said stored value.
【請求項13】 前記記録再生動作制御手段は、前記
された値から前記比較的短いパターンに相当する部分
と比較的長いパターンに相当する部分とを検出し、前記
第2の長さの区間ごとにその差を求め、その結果と記録
を行ったときの前記第1のパワーとの関係から前記差が
0になる前記第1のパワーを求め、その値に第5の所定
の演算を行って補正しその結果を前記第1のパワーの設
定値とするよう動作する、請求項12記載の光記録再生
装置。
Wherein said recording operation control means, the Symbol
A portion corresponding to the relatively short pattern and a portion corresponding to the relatively long pattern were detected from the memorized values, the difference was obtained for each section of the second length, and the result and recording were performed. The first power at which the difference becomes 0 is obtained from the relationship with the first power at the time, and the value is corrected by performing a fifth predetermined operation, and the result is set to the set value of the first power. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 12, which operates as follows.
【請求項14】 前記記録再生動作制御手段は、前記第
2のパワーを決定するプロセスにおいて、前記第1のパ
ターンを記録するとともに、それを記録する際の第1お
よび第2のパワーを通常記録における最大パワーに設定
し、第1〜第3のパルス列のパルス幅は通常記録におけ
る標準的な値を設定するよう前記記録パルス発生手段お
よびレーザ制御手段に指令を出力するよう動作する、請
求項1または4記載の光記録再生装置。
14. The recording / reproducing operation control means, in the process of determining the second power, records the first pattern, and normally records the first and second powers at the time of recording the first pattern. And operating to output a command to the recording pulse generating means and the laser control means so that the pulse width of the first to third pulse trains is set to a standard value in normal recording. Or the optical recording / reproducing apparatus according to 4.
【請求項15】 前記記録再生動作制御手段は、前記第
2のパワー以外のパラメータを決定するプロセスにおい
て、現在進行中のプロセス以前のプロセスで決定された
パラメータについては、その決定された値を設定し、前
記第2のパターンを記録するよう前記記録パルス発生手
段およびレーザ制御手段に指令を出力するよう動作す
る、請求項1または請求項6〜14のいずれかに記載の
光記録再生装置。
15. The recording / reproducing operation control means, in a process of determining a parameter other than the second power, sets a determined value for a parameter determined in a process before a process currently in progress. 15. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, wherein the optical recording / reproducing apparatus operates to output a command to the recording pulse generating means and the laser control means to record the second pattern.
【請求項16】 前記再生信号振幅測定手段は、前記比
較的長いパターンの再生信号の高レベル側のエンベロー
プを検出する高レベルエンベロープ検出手段と、 前記比較的長いパターンの再生信号の低レベル側のエン
ベロープを検出する低レベルエンベロープ検出手段と、 前記高レベルおよび低レベルエンベロープ検出手段の出
力の差を求める差分手段と、 前記差分手段の出力をA/D変換するA/D変換手段と
を含む、請求項1記載の光記録再生装置。
16. The reproduction signal amplitude measurement means, comprising: a high level envelope detection means for detecting a high level envelope of the relatively long pattern reproduction signal; and a low level envelope of the relatively long pattern reproduction signal. Low-level envelope detection means for detecting an envelope; difference means for obtaining a difference between outputs of the high-level and low-level envelope detection means; and A / D conversion means for A / D converting an output of the difference means. The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1.
【請求項17】 前記再生信号中心レベル測定手段は、
前記比較的長いパターンに対応した周波数より低いカッ
トオフ周波数を有するローパスフィルタ手段と、 前記ローパスフィルタ手段の出力をA/D変換するA/
D変換手段とを含む、請求項1記載の光記録再生装置。
17. The reproduction signal center level measuring means,
A low-pass filter having a lower cut-off frequency than a frequency corresponding to the relatively long pattern; and an A / D converter for A / D-converting an output of the low-pass filter.
The optical recording / reproducing apparatus according to claim 1, further comprising: a D conversion unit.
【請求項18】 記録される情報に対応したパルス列を
情報の最小単位よりも細かいパルス列に変換し、該細か
いパルス列によってレーザビームの強度を変調し、強度
変調されたレーザビームを媒体上の記録層に集光して加
熱し、その温度分布によって光学的な状態を変化させて
情報を記録する光記録再生装置のテストライト方法であ
って、 前記細かいパルス列は少なくとも記録層の光学的状態を
第1の状態に変化させ得る第1の温度以上に上昇させる
ための第1のパルス列と、記録層の温度を前記第1の温
度以上に保つための第2のパルス列と、記録層を記録層
の光学的状態を第2の状態に変化させ得る第2の温度以
上で前記第1の温度未満に冷却するための第3のパルス
列とを含み、 前記レーザビームの強度は、少なくとも前記第1の温度
以上に記録層を加熱するための第1のパワーと、記録層
を前記第2の温度以上第1の温度未満に加熱するための
第2のパワーと、記録層の状態が変化しない第3のパワ
ーとを含み、 前記テストライト方法は、前記第2のパワーを決定する
第1のステップと、 前記第3のパルス列のパルス幅を決定する第2のステッ
プと、 前記第1のパルス列のパルス幅を決定する第3のステッ
プと、 前記第2のパルス列のパルス幅を決定する第4のステッ
プと、 前記第1のパワーを決定する第5のステップとを含む、
テストライト方法。
18. A pulse train corresponding to information to be recorded is converted into a pulse train finer than the minimum unit of information, the intensity of the laser beam is modulated by the fine pulse train, and the intensity-modulated laser beam is applied to a recording layer on a medium. A test write method for an optical recording / reproducing apparatus for recording information by changing the optical state according to the temperature distribution and heating the light, wherein the fine pulse train at least sets the optical state of the recording layer to the first state. A first pulse train for raising the temperature to or above a first temperature that can be changed to the state described above, a second pulse train for keeping the temperature of the recording layer at or above the first temperature, A third pulse train for cooling the target state to a second state and lower than the first temperature at a second temperature or higher, wherein the intensity of the laser beam is at least the first temperature. As described above, the first power for heating the recording layer, the second power for heating the recording layer to the second temperature or more and less than the first temperature, and the third power where the state of the recording layer does not change. Power, a first step of determining the second power, a second step of determining a pulse width of the third pulse train, and a pulse width of the first pulse train. And a fourth step of determining a pulse width of the second pulse train; and a fifth step of determining the first power.
Test light method.
【請求項19】 前記第1のステップは、第1の所定パ
ターンを記録し、記録されたマークを強度変調しないレ
ーザビームで消去するとともに、消去前後で前記マーク
部分を再生したときの再生信号振幅の比を求め、その結
果から前記第2のパワーを決定するステップを含む、請
求項18記載のテストライト方法。
19. The first step comprises: recording a first predetermined pattern; erasing a recorded mark with a laser beam which is not intensity-modulated; and reproducing a reproduction signal amplitude when reproducing the mark portion before and after erasure. 19. The test write method according to claim 18, further comprising: determining a ratio of the first power to the second power, and determining the second power from the result.
【請求項20】 前記第2のパワーを決定するステップ
は、第1の所定パターンを第1の長さの区間に記録する
ステップと、 記録されたマークを第1の長さより短い第2の長さの区
間ごとにパワーが増加または減少する強度変調されない
レーザビームで消去するステップと、 前記第2の長さの区間ごとの消去率を求め、隣接する区
間の消去率の差が所定の値以下になる最も低いパワーを
求め、このパワー値を第1の演算によって補正して前記
第2のパワーを決定するステップとを含む、請求項19
記載のテストライト方法。
20. The step of determining the second power includes the step of recording a first predetermined pattern in a section of a first length, and the step of recording a recorded mark having a second length shorter than the first length. Erasing with a non-intensity-modulated laser beam whose power increases or decreases in each section, and an erasing rate for each section of the second length is obtained, and a difference between erasing rates in adjacent sections is equal to or less than a predetermined value. And determining the second power by correcting the power value by a first operation to determine the second power.
Test light method described.
【請求項21】 前記第1の所定パターンは、少なくと
も集光されたレーザビームのスポット径よりも十分に長
いパターンの繰り返しを含む、請求項19または20記
載のテストライト方法。
21. The test light method according to claim 19, wherein the first predetermined pattern includes a repetition of a pattern sufficiently longer than at least a spot diameter of a focused laser beam.
【請求項22】 前記第2のステップは、比較的短いパ
ターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返しとを
主に含む第2の所定パターンを記録し、前記短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの
再生信号の振幅の中心レベルとを検出し、その検出結果
に基づいて前記第3のパルス列のパルス幅を決定するス
テップを含む、請求項18記載のテストライト方法。
22. The second step, wherein a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and a center level of the amplitude of the reproduction signal of the short pattern is recorded. 20. The test write method according to claim 18, further comprising: detecting a central level of the amplitude of the reproduced signal having the long pattern and determining a pulse width of the third pulse train based on the detection result.
【請求項23】 前記第3のパルス列のパルス幅を決定
するステップは、前記第2の長さの区間ごとに前記第3
のパルス列のパルス幅を増加または減少させて前記第2
の所定パターンを記録するステップと、 前記第2の長さの区間ごとに前記短いパターンの再生信
号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの再生信号の
振幅の中心レベルとを検出してその差を求めるステップ
と、 前記第3のパルス列のパルス幅と前記中心レベルの差と
の関係から、前記中心レベルの差が0になる前記第3の
パルス列のパルス幅を求め、その結果を第2の演算によ
って補正して前記第3のパルス列のパルス幅を求めるス
テップとを含む、請求項22記載のテストライト方法。
23. The step of determining a pulse width of the third pulse train, wherein the step of determining the pulse width of the third pulse train comprises the step of
Increasing or decreasing the pulse width of the pulse train of
Recording a predetermined pattern of; and detecting, for each section of the second length, a center level of the amplitude of the reproduction signal of the short pattern and a center level of the amplitude of the reproduction signal of the long pattern, and determining a difference therebetween. Determining the pulse width of the third pulse train in which the difference in the center level is 0 from the relationship between the pulse width of the third pulse train and the difference in the center level, and calculating the result in a second operation Determining the pulse width of the third pulse train by correcting the pulse width of the third pulse train.
【請求項24】 前記第3のステップは、比較的短いパ
ターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返しとを
主に含む第2の所定パターンを記録し、前記短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの
再生信号の振幅の中心レベルを検出し、その検出結果に
基づいて前記第1のパルス列のパルス幅を決定するステ
ップを含む、請求項18記載のテストライト方法。
24. The third step, wherein a second predetermined pattern mainly including a repetition of a relatively short pattern and a repetition of a relatively long pattern is recorded, and a center level of an amplitude of a reproduced signal of the short pattern is recorded. 19. The test write method according to claim 18, further comprising: detecting a center level of the amplitude of the reproduced signal having the long pattern and determining a pulse width of the first pulse train based on the detection result.
【請求項25】 前記第1のパルス列のパルス幅を決定
するステップは、前記第2の長さの区間ごとに前記第1
のパルス列のパルス幅を増加または減少させて前記第2
の所定パターンを記録するステップと、 前記第2の長さの区間ごとに前記短いパターンの再生信
号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの再生信号の
振幅の中心レベルとを検出してその差を求めるステップ
と、 前記第1のパルス列のパルス幅と前記中心レベルの差と
の関係から、前記中心レベルの差が0になる前記第1の
パルス列のパルス幅を求め、その結果を第3の演算によ
って補正することで前記第1のパルス列のパルス幅を決
定するステップとを含む、請求項24記載のテストライ
ト方法。
25. The step of determining a pulse width of the first pulse train, wherein the step of determining the pulse width of the first pulse train is performed for each of the second length sections.
Increasing or decreasing the pulse width of the pulse train of
Recording a predetermined pattern of; and detecting, for each section of the second length, a center level of the amplitude of the reproduction signal of the short pattern and a center level of the amplitude of the reproduction signal of the long pattern, and determining a difference therebetween. Determining the pulse width of the first pulse train in which the difference in the center level is 0 from the relationship between the pulse width of the first pulse train and the difference in the center level, and calculating the result as a third operation Determining the pulse width of the first pulse train by correcting the pulse width of the first pulse train.
【請求項26】 前記第4のステップは、比較的短いパ
ターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返しとを
主に含む第2の所定パターンを記録し、前記短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの
再生信号の振幅の中心レベルとを検出し、その検出結果
に基づいて前記第2のパルス列のパルス幅を決定するス
テップを含む、請求項18記載のテストライト方法。
26. The fourth step, wherein a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and a center level of an amplitude of a reproduced signal of the short pattern is recorded. 19. The test write method according to claim 18, further comprising: detecting a central level of the amplitude of the reproduced signal of the long pattern and determining a pulse width of the second pulse train based on the detection result.
【請求項27】 前記第2のパルス列のパルス幅を決定
するステップは、前記第2の長さの区間ごとに前記第2
のパルス列のパルス幅を増加または減少させて前記第2
の所定パターンを記録するステップと、 前記第2の長さの区間毎に前記短いパターンの再生信号
の振幅の中心レベルと前記長いパターンの再生信号の振
幅の中心レベルとを検出してその差を求めるステップ
と、 前記第2のパルス列のパルス幅と前記中心レベルの差と
の関係を2本の直線で近似し、前記2本の直線の交点に
対応した前記第3のパルス列のパルス幅を求め、その結
果を第4の演算によって補正することで前記第2のパル
ス列のパルスを決定するステップとを含む、請求項26
記載のテストライト方法。
27. The step of determining a pulse width of the second pulse train, wherein the step of determining the pulse width of the second pulse train comprises the step of:
Increasing or decreasing the pulse width of the pulse train of
Recording the predetermined pattern, and detecting a difference between the center level of the amplitude of the reproduction signal of the short pattern and the center level of the amplitude of the reproduction signal of the long pattern for each section of the second length, and Determining the relationship between the pulse width of the second pulse train and the difference between the center levels with two straight lines, and calculating the pulse width of the third pulse train corresponding to the intersection of the two straight lines. And determining the pulse of the second pulse train by correcting the result by a fourth operation.
Test light method described.
【請求項28】 前記第5のステップは、比較的短いパ
ターンの繰り返しと比較的長いパターンの繰り返しとを
主に含む第2の所定パターンを記録し、前記短いパター
ンの再生信号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの
再生信号の振幅の中心レベルを検出し、その検出結果に
基づいて前記第1のパワーを決定するステップを含む、
請求項18記載のテストライト方法。
28. The fifth step, wherein a second predetermined pattern mainly including repetition of a relatively short pattern and repetition of a relatively long pattern is recorded, and a center level of an amplitude of a reproduced signal of the short pattern is recorded. And detecting a center level of the amplitude of the reproduction signal of the long pattern, and determining the first power based on the detection result.
The test light method according to claim 18.
【請求項29】 前記第1のパワーを決定するステップ
は、前記第2の長さの区間ごとに前記第1のパワーを増
加または減少させて前記第2の所定パターンを記録する
ステップと、 前記第2の長さの区間ごとに前記短いパターンの再生信
号の振幅の中心レベルと前記長いパターンの再生信号の
振幅の中心レベルとを検出してその差を求めるステップ
と、 前記第1のパワーと前記中心レベルの差との関係から、
前記中心レベルの差が0になる前記第1のパワーを求
め、その結果を第5の演算によって補正することで前記
第1のパワーを決定するステップとを含む、請求項28
記載のテストライト方法。
29. The step of determining the first power comprises: increasing or decreasing the first power for each section of the second length to record the second predetermined pattern; Detecting a difference between the center level of the amplitude of the reproduced signal of the short pattern and the center level of the amplitude of the reproduced signal of the long pattern for each section of the second length; From the relationship with the difference of the center level,
Determining the first power at which the difference between the center levels is 0, and determining the first power by correcting the result by a fifth operation.
Test light method described.
【請求項30】 前記第2の所定パターンのうち、前記
比較的短いパターンは情報を記録する際に用いられる変
調方式の最も短いパターンであり、前記比較的長いパタ
ーンは前記集光されたレーザビームのスポット径より十
分長いパターンである、請求項22〜29のいずれかに
記載のテストライト方法。
30. Among the second predetermined patterns, the relatively short pattern is the shortest pattern of a modulation method used when recording information, and the relatively long pattern is the focused laser beam. The test light method according to any one of claims 22 to 29, wherein the pattern is a pattern sufficiently longer than the spot diameter.
【請求項31】 前記第1および第2の所定パターン
は、情報を記録する際の同期信号を含む、請求項22〜
29のいずれかに記載のテストライト方法。
31. The first and second predetermined patterns include a synchronization signal for recording information.
30. The test light method according to any one of items 29.
【請求項32】 前記第1のステップは、前記第1およ
び第2のパワーを通常記録における最大パワーとし、前
記第1〜第3のパルス列のパルス幅を通常記録における
標準的な値とし、前記第1のパターンを記録して前記第
2のパワーを決定するステップを含む、請求項18〜2
0のいずれかに記載のテストライト方法。
32. The first step, wherein the first and second powers are maximum powers in normal recording, the pulse widths of the first to third pulse trains are standard values in normal recording, 3. The method of claim 1, further comprising the step of recording a first pattern to determine said second power.
0. The test write method according to any one of the above items.
【請求項33】 前記第2のパワー以外のパラメータを
決定するステップは、現在進行中のステップ以外のステ
ップで決定されたパラメータについては、その決定され
た値を用い、未決定のパラメータについては前記第2の
パワーを決定するステップで採用した値を用いて前記第
2のパターンを記録する、請求項18〜29のいずれか
に記載のテストライト方法。
33. The step of determining a parameter other than the second power uses the determined value for a parameter determined in a step other than the step currently in progress, and uses the determined value for an undetermined parameter. 30. The test write method according to claim 18, wherein the second pattern is recorded using a value adopted in the step of determining a second power.
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