JP3802795B2 - Semiconductor manufacturing equipment - Google Patents

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JP3802795B2
JP3802795B2 JP2001335144A JP2001335144A JP3802795B2 JP 3802795 B2 JP3802795 B2 JP 3802795B2 JP 2001335144 A JP2001335144 A JP 2001335144A JP 2001335144 A JP2001335144 A JP 2001335144A JP 3802795 B2 JP3802795 B2 JP 3802795B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被処理基板を加熱するための基板サポート等で用いられる電流導入端子を備える半導体製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造装置には、所定の真空度に減圧される真空チャンバを有するものがあり、この真空チャンバ内には一般に種々の電気機器が設置されている。このような電気機器に対する電気の供給は、真空チャンバの壁面に気密に固定された電流導入端子からケーブルを介して行われるのが一般的である。一例として、静電チャックを備えた従来一般の半導体製造装置の構成を図6に示す。
【0003】
図示するように、半導体製造装置1は、所定の真空度に減圧される真空チャンバ2と、真空チャンバ2内に設置された基板支持装置3とを有している。基板支持装置3は、上面に半導体ウェハWが載置されるセラミック製の基板サポート4と、基板サポート4を支持するステンレス製のステージ5と、両者間に配置されて熱を絶縁する絶縁プレート6とから構成されている。
【0004】
基板サポート4の上面側には電極4aが埋設されている。電極4aの一端は、基板サポート4の下面まで延びており、基板サポート4の下面に設けられた電極端子4bに接続されている。この電極端子4bは、真空チャンバ2の壁面に気密に取り付けられた電流導入端子7にケーブル8によって接続され、また、電流導入端子7は、真空チャンバ2外に設けられた電源9に接続されている。これにより、電極4aにケーブル8を介して電気が供給されると、電極4aと半導体ウェハWとの間に電位差が生じ、基板サポート4は、この電位差により生じた静電力で半導体ウェハWを吸着する静電チャックとして機能する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したような電気機器に対する電気の供給にあっては、ケーブルが真空チャンバ内にあるため、ケーブルの取り回しやメンテナンス等の作業は手間がかかるものであった。
【0006】
そこで、本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、取り付けやメンテナンス等における手間を低減し、容易に電気的な接続を行うことのできる電流導入端子及びそのような電流導入端子を用いた半導体製造装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る半導体製造装置における電流導入端子は、導電性材料からなる柱状体を備えた電流導入端子であって、柱状体には、柱状体の長手方向に直交する方向に延びるスリットが形成されていることを特徴としている。
【0008】
本発明による半導体製造装置において、上述したように構成された電流導入端子を第1の電極端子と第2の電極端子との間に配置すれば、第1の電極端子と第2の電極端子とが正対せずにずれているような場合であっても、柱状体にはスリットが形成されているため、柱状体が撓んで上記ずれを吸収し、柱状体の一端に第1の電極端子を、他端に第2の電極端子をそれぞれ接触させて電気的に接続することが可能となる。したがって、半導体製造装置等においてケーブルを用いることなく、容易に第1の電気機器と第2の電気機器とを電気的に接続することができる。
【0009】
また、スリットは、柱状体の長手方向に直交する第1の方向に延びる第1のスリットと、柱状体の長手方向に直交する方向であって、第1の方向と直角となる第2の方向に延びる第2のスリットとを含むものとすることが好ましい。柱状体は、スリットが延びる方向を軸として撓むため、互いに直角となる2つの方向に延びるスリットを形成すれば、それぞれの方向に柱状体が撓みやすくなるからである。
【0010】
また、第1のスリットが柱状体の長手方向に沿って互い違いに複数形成されると共に、第2のスリットが柱状体の長手方向に沿って互い違いに複数形成されていてもよい。柱状体をあらゆる方向により撓みやすくすることができるからである。
【0011】
また、柱状体の外周を囲むように、筒状の絶縁碍子が設けられていることが好ましい。導電性を有する柱状体と、その周囲の導電性部分との放電を防止するためである。
【0012】
また、第1の電気機器としては、被処理基板が載置される基板サポート内に埋設され、基板サポートを加熱する加熱ヒータがある。第2の電気機器としては、電源が一般的である。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面と共に本発明の好適な一実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書において、「上」、「下」等の語は、図面に示す状態に基づいており、便宜的なものである。また、図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【0014】
図1は、本発明の一実施形態に係る半導体製造装置10の構成を示す概略図であり、図2は、図1の半導体製造装置10に取り付けられた本発明の一実施形態に係る温度測定装置12の構成を示す概略図である。半導体製造装置10は、例えば熱CVD装置等であり、図1に示すように、所定の真空度に減圧される真空チャンバ14を有している。この真空チャンバ14内には、被処理基板である半導体ウェハWを支持するための基板支持装置16が設置されている。
【0015】
基板支持装置16は、上面に被処理基板である半導体ウェハWが載置されるセラミック製の基板サポート18と、基板サポート18を支持するステンレス製のステージ20と、基板サポート18とステージ20との間に配置され、SiO2等の熱的絶縁性に優れた材料からなる絶縁プレート22と、基板サポート18内に埋設され、基板サポート18を加熱する加熱ヒータ24(第1の電気機器)と、加熱ヒータ24用の電極端子26(第1の電極端子)とを備えて構成されている。ステージ20からは、筒状部28が下方に向かって延びており、筒状部28の下端は、真空チャンバ14の底部に形成された開口部30を囲んで真空チャンバ14の底面に気密に取り付けられている。
【0016】
図2に示すように、絶縁プレート22の、基板サポート18内に埋設された加熱ヒータ24用の電極端子26に対向する位置には、貫通孔32が形成されている。また、ステージ20上面の、電極端子26に対向する位置には、凹部34が形成されている。この凹部34の底部には、真空チャンバ14外に設けられた電源(第2の電気機器)36に接続された電極端子38(第2の電極端子)が気密に取り付けられている。電極端子38には、上方に向かって凹部34内に突出したボルト部材40が設けられている。
【0017】
ステージ20の凹部34内には電流導入端子12が配置されている。電流導入端子12は、上下方向に延びる円柱状の柱状体42を備えている。柱状体42には、その長手方向、すなわち上下方向に直交する方向に延びるスリットが例えば8つ形成されている。柱状体42の斜視図を図3に示す。また、図3のIV−IV線に沿っての断面図を図4に示し、V−V線に沿っての断面図を図5に示す。なお、図3、図4及び図5それぞれにおいて、図示するようにx−y座標を設定する。ここで、スリットが延びる方向とは、図示実施形態では、スリットを画す底面(柱状体42の垂直壁面)の延びる方向をいう。柱状体42は、形成されたスリットにより、当該スリットの底面の延びる方向を軸として撓みやすくなる。
【0018】
図3に示すように、柱状体42の上端側には、上方から順にスリット44a、44b、48a及び48bが形成されている。さらに、柱状体42の下端側にも同様に、上方から順にスリット44a、44b、48a及び48bが形成されている。これら8つのスリットは、上下方向に沿ってそれぞれ等間隔に形成されている。
【0019】
スリット44a(第1のスリット)は、図4に示すように、その底面46aがy方向(柱状体42の長手方向に直交する第1の方向)に延びている。また、スリット44bは、スリット44aに対し互い違いに形成されており、その底面46bがスリット44aと同様にy方向に延びている。
【0020】
スリット48a(第2のスリット)は、図5に示すように、その底面50aがx方向(柱状体42の長手方向に直交する第2の方向)に延びている。また、スリット48bは、スリット48aに対し互い違いに形成されており、その底面50bがスリット48aと同様にx方向に延びている。
【0021】
このように、互いに直角となる2つの方向に延びるスリットをそれぞれ互い違いに形成すれば、柱状体42をあらゆる方向に撓みやすくすることができる。
【0022】
また、柱状体42は導電性材料からなり、図2に示すように、その上端部及び下端部には、めねじ部52及びめねじ部54がそれぞれ形成されている。上端部に形成されためねじ部52には、加熱ヒータ24用の電極端子26に形成された孔を通してボルト56が螺合されており、電極端子26と柱状体42とが電気的に接続されている。また、下端部に形成されためねじ部54には、電源36に接続された電極端子38のボルト部材40が螺合されており、電極端子38と柱状体42とが電気的に接続されている。なお、ボルト部材40には、柱状体42の下方に六角ナット58が螺合されている。この六角ナット58は、上方、すなわち柱状体42の下端に向かって締め付けられており、ロックナットとして機能し、柱状体42はボルト部材40に固定されている。
【0023】
以上のように構成された半導体製造装置10及び電流導入端子12によれば、ステージ20は真空チャンバ14に、電源36に接続された電極端子38はステージ20の凹部34にそれぞれ気密に取り付けられており、電流導入端子12は凹部34内に配置されているため、真空チャンバ14内の気密性が破られることはない。
【0024】
さらに、柱状体42と、絶縁プレート22の貫通孔32の内壁面及びステージ20の凹部34の内壁面との間隙には、円筒状の絶縁碍子60が設けられている。これにより、導電性材料からなる柱状体42と、ステンレス製のステージ20との放電を容易かつ確実に防止することができる。
【0025】
次に、基板支持装置16の組み立てについて説明する。絶縁プレート22上に基板サポート18を設置する前の状態において、絶縁プレート22の貫通孔32を通して、ステージ20の凹部34内に絶縁碍子60を設置する。また、凹部34の底部に設けられた電極端子38のボルト部材40に、六角ナット58を螺合する。そして、柱状体42の上端が絶縁プレート22の上面よりも凹んだ状態となるまで、柱状体42下端部のめねじ部54を電極端子38のボルト部材40に螺合する。この状態で、ボルト部材40に螺合された六角ナット58を上方、すなわち柱状体42の下端に向かって締め付け、柱状体42をボルト部材40に固定する。
【0026】
この後、基板サポート18を絶縁プレート22上に取り付け、基板サポート18上面に形成された孔62からボルト56を挿入し、加熱ヒータ24用の電極端子26に形成された孔を通して、ボルト56を柱状体42上端部のめねじ部52に螺合する。このとき、加熱ヒータ24用の電極端子26と電源36に接続された電極端子38とが正対せずにずれているような場合であっても、スリットにより柱状体42が撓むため、柱状体42の上端が基板サポート18の下面に接触するまでボルト56を締め付けて、電極端子26と柱状体42とを確実に接続することができる。したがって、電極端子38と電極端子26とのシビアな位置合わせが不要となる。なお、ボルト56の締め付けにおいては、柱状体42が電極端子38のボルト部材40に六角ナット58により固定されているため、柱状体42が供回りするようなこともない。
【0027】
以上のように、基板サポート16の組み立てにおいて、ケーブルを用いることなく、極めて容易に加熱ヒータ24と電源36とを電気的に接続することができるため、組み立てにおける手間が低減され、作業時間を短縮することが可能となる。
【0028】
次に、半導体製造装置10が、例えば熱CVD装置等であり、基板サポート18が加熱ヒータ24により加熱される場合について説明する。基板サポート18が加熱ヒータ24により加熱されると、熱膨張差により、基板サポート18内に埋設された電極端子26が柱状体42に対して水平方向にずれる。しかし、柱状体42にはスリットが形成されているため、柱状体42が撓んで熱膨張差を吸収することが可能となる。したがって、電極端子26や電極端子38等に生じる熱膨張差によるストレスを減少させることができ、これらの破損を防止することが可能となる。
【0029】
以上、本発明の好適な一実施形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されないことはいうまでもない。
【0030】
上記実施形態では、柱状体に8つのスリットが形成された場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。また、上記実施形態では、スリットは互いに平行な上下一対の平面と平坦な底面とから画されているが、スリットの形状もこれに限定されない。例えば、上下一対の平面は互いに非平行であってもよく、また、底面は湾曲されていてもよい。底面が湾曲されている場合、スリットが延びる方向とは、当該スリットにより柱状体が撓むときの軸となる方向をいう。なお、各スリットの深さやスリットの間隔、或いはスリットの数等は、加熱ヒータ等、電気機器の所要電流値及び電圧値を考慮し、また、熱膨張差が生じた場合に必要とされる撓み量を考慮して、適宜決定される。
【0031】
また、上記実施形態では、加熱ヒータと電源とを電気的に接続する場合について説明したが、本発明によれば、上述したように真空チャンバ内の気密性が破られることがないため、種々の半導体製造装置において、真空チャンバ内に設置された電気機器と、真空チャンバ外に設けられた電源とを電気的に接続することが可能である。また、半導体製造装置における電気機器間の接続に限られず、種々の電気機器間の接続においても適用可能である。
【0032】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、第1の電気機器が有する第1の電極端子と第2の電気機器が有する第2の電極端子とが正対せずにずれているような場合であっても、電流導入端子が備えた柱状体には、その長手方向に直交する方向に延びるスリットが形成されているため、柱状体が撓んで上記ずれを吸収することが可能となる。したがって、柱状体の一端には第1の電極端子を、また、他端には第2の電極端子をそれぞれ確実に接続することができ、容易に第1の電気機器と第2の電気機器とを電気的に接続することが可能となる。また、半導体製造装置においては、真空チャンバ内でケーブルが用いられることがないため、取り付けやメンテナンス等における手間を低減し、作業時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体製造装置の構成を示す概略図である。
【図2】図1の半導体製造装置に取り付けられた電流導入端子の構成を示す概略図である。
【図3】柱状体の斜視図である。
【図4】図3のIV−IV線に沿っての断面図である。
【図5】図3のV−V線に沿っての断面図である。
【図6】従来の半導体製造装置の構成を示す概略図である。
【符号の説明】
10…半導体製造装置、12…電流導入端子、14…真空チャンバ、24…加熱ヒータ、36…電源、26、38…電極端子、42…柱状体、44a、44b、48a、48b…スリット。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus provided with a current introduction terminal used for a substrate support for heating a substrate to be processed.
[0002]
[Prior art]
Some semiconductor manufacturing apparatuses have a vacuum chamber that is depressurized to a predetermined degree of vacuum, and various electric devices are generally installed in the vacuum chamber. The supply of electricity to such an electric device is generally performed via a cable from a current introduction terminal that is airtightly fixed to the wall surface of the vacuum chamber. As an example, FIG. 6 shows a configuration of a conventional general semiconductor manufacturing apparatus including an electrostatic chuck.
[0003]
As shown in the figure, the semiconductor manufacturing apparatus 1 has a vacuum chamber 2 that is depressurized to a predetermined degree of vacuum, and a substrate support device 3 installed in the vacuum chamber 2. The substrate support device 3 includes a ceramic substrate support 4 on which a semiconductor wafer W is mounted, a stainless steel stage 5 that supports the substrate support 4, and an insulating plate 6 that is disposed between them to insulate heat. It consists of and.
[0004]
An electrode 4 a is embedded on the upper surface side of the substrate support 4. One end of the electrode 4 a extends to the lower surface of the substrate support 4 and is connected to an electrode terminal 4 b provided on the lower surface of the substrate support 4. The electrode terminal 4 b is connected to a current introduction terminal 7 which is airtightly attached to the wall surface of the vacuum chamber 2 by a cable 8, and the current introduction terminal 7 is connected to a power source 9 provided outside the vacuum chamber 2. Yes. Thereby, when electricity is supplied to the electrode 4a via the cable 8, a potential difference is generated between the electrode 4a and the semiconductor wafer W, and the substrate support 4 attracts the semiconductor wafer W with the electrostatic force generated by the potential difference. Functions as an electrostatic chuck.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, when supplying electricity to the electrical equipment as described above, since the cable is in the vacuum chamber, operations such as cable handling and maintenance are troublesome.
[0006]
Therefore, the present invention has been made in view of such circumstances, and a current introduction terminal capable of reducing the labor for installation, maintenance, and the like and easily performing electrical connection, and such a current introduction terminal. An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus using the.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the current introduction terminal in the semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention is a current introduction terminal provided with a columnar body made of a conductive material, and the columnar body is orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body. It is characterized in that a slit extending in the direction to be formed is formed.
[0008]
In the semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention , if the current introduction terminal configured as described above is disposed between the first electrode terminal and the second electrode terminal, the first electrode terminal, the second electrode terminal, Even if they are displaced without facing each other, since the slit is formed in the columnar body, the columnar body bends and absorbs the displacement, and the first electrode terminal is provided at one end of the columnar body. Can be electrically connected by bringing the second electrode terminal into contact with the other end. Therefore, the first electric device and the second electric device can be easily electrically connected without using a cable in a semiconductor manufacturing apparatus or the like.
[0009]
The slits are a first slit extending in a first direction orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body, and a second direction perpendicular to the first direction and perpendicular to the longitudinal direction of the columnar body. It is preferable to include the 2nd slit extended to. This is because the columnar body bends about the direction in which the slits extend, so if the slits extending in two directions perpendicular to each other are formed, the columnar body is easily bent in each direction.
[0010]
In addition, a plurality of first slits may be alternately formed along the longitudinal direction of the columnar body, and a plurality of second slits may be alternately formed along the longitudinal direction of the columnar body. This is because the columnar body can be easily bent in all directions.
[0011]
Moreover, it is preferable that the cylindrical insulator is provided so that the outer periphery of a columnar body may be enclosed. This is for preventing discharge between the conductive columnar body and the surrounding conductive portion.
[0012]
The first electric device includes a heater that is embedded in a substrate support on which a substrate to be processed is placed and heats the substrate support. A power source is generally used as the second electric device.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the present specification, terms such as “upper” and “lower” are based on the state shown in the drawings and are for convenience. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
[0014]
FIG. 1 is a schematic view showing a configuration of a semiconductor manufacturing apparatus 10 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a temperature measurement according to an embodiment of the present invention attached to the semiconductor manufacturing apparatus 10 of FIG. 4 is a schematic diagram showing the configuration of the device 12. FIG. The semiconductor manufacturing apparatus 10 is, for example, a thermal CVD apparatus or the like, and has a vacuum chamber 14 that is depressurized to a predetermined degree of vacuum as shown in FIG. In this vacuum chamber 14, a substrate support device 16 for supporting a semiconductor wafer W as a substrate to be processed is installed.
[0015]
The substrate support device 16 includes a ceramic substrate support 18 on which a semiconductor wafer W as a substrate to be processed is placed on an upper surface, a stainless stage 20 that supports the substrate support 18, and the substrate support 18 and the stage 20. An insulating plate 22 made of a material having excellent thermal insulation such as SiO 2 , and a heater 24 (first electric device) embedded in the substrate support 18 and heating the substrate support 18; An electrode terminal 26 (first electrode terminal) for the heater 24 is provided. A cylindrical portion 28 extends downward from the stage 20, and the lower end of the cylindrical portion 28 surrounds an opening 30 formed at the bottom of the vacuum chamber 14 and is airtightly attached to the bottom surface of the vacuum chamber 14. It has been.
[0016]
As shown in FIG. 2, a through hole 32 is formed at a position of the insulating plate 22 facing the electrode terminal 26 for the heater 24 embedded in the substrate support 18. A recess 34 is formed on the upper surface of the stage 20 at a position facing the electrode terminal 26. An electrode terminal 38 (second electrode terminal) connected to a power source (second electrical device) 36 provided outside the vacuum chamber 14 is airtightly attached to the bottom of the recess 34. The electrode terminal 38 is provided with a bolt member 40 that protrudes upward into the recess 34.
[0017]
The current introduction terminal 12 is disposed in the recess 34 of the stage 20. The current introduction terminal 12 includes a columnar body 42 that extends in the vertical direction. The columnar body 42 is formed with, for example, eight slits extending in the longitudinal direction, that is, in a direction orthogonal to the vertical direction. A perspective view of the columnar body 42 is shown in FIG. Further, FIG. 4 shows a cross-sectional view along the line IV-IV in FIG. 3, and FIG. 5 shows a cross-sectional view along the line V-V. 3, 4, and 5, xy coordinates are set as illustrated. Here, the direction in which the slit extends refers to the direction in which the bottom surface (the vertical wall surface of the columnar body 42) that defines the slit extends in the illustrated embodiment. The columnar body 42 is easily bent with the formed slit as an axis in the direction in which the bottom surface of the slit extends.
[0018]
As shown in FIG. 3, slits 44 a, 44 b, 48 a and 48 b are formed in order from the top on the upper end side of the columnar body 42. Further, similarly, slits 44a, 44b, 48a and 48b are formed on the lower end side of the columnar body 42 in order from above. These eight slits are formed at equal intervals along the vertical direction.
[0019]
As shown in FIG. 4, the slit 44 a (first slit) has a bottom surface 46 a extending in the y direction (a first direction orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body 42). The slits 44b are formed alternately with respect to the slits 44a, and the bottom surfaces 46b extend in the y direction in the same manner as the slits 44a.
[0020]
As shown in FIG. 5, the slit 48 a (second slit) has a bottom surface 50 a extending in the x direction (second direction orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body 42). The slits 48b are formed alternately with respect to the slits 48a, and the bottom surfaces 50b extend in the x direction in the same manner as the slits 48a.
[0021]
Thus, if the slits extending in two directions perpendicular to each other are formed alternately, the columnar body 42 can be easily bent in all directions.
[0022]
Further, the columnar body 42 is made of a conductive material, and as shown in FIG. 2, a female screw portion 52 and a female screw portion 54 are formed at the upper end portion and the lower end portion thereof, respectively. A bolt 56 is screwed into the threaded portion 52 through a hole formed in the electrode terminal 26 for the heater 24 so that the electrode terminal 26 and the columnar body 42 are electrically connected. Yes. In addition, the bolt member 40 of the electrode terminal 38 connected to the power source 36 is screwed into the screw portion 54 because it is formed at the lower end, and the electrode terminal 38 and the columnar body 42 are electrically connected. . A hexagon nut 58 is screwed into the bolt member 40 below the columnar body 42. The hexagon nut 58 is fastened upward, that is, toward the lower end of the columnar body 42, functions as a lock nut, and the columnar body 42 is fixed to the bolt member 40.
[0023]
According to the semiconductor manufacturing apparatus 10 and the current introduction terminal 12 configured as described above, the stage 20 is airtightly attached to the vacuum chamber 14 and the electrode terminal 38 connected to the power source 36 is airtightly attached to the recess 34 of the stage 20. In addition, since the current introduction terminal 12 is disposed in the recess 34, the airtightness in the vacuum chamber 14 is not broken.
[0024]
Further, a cylindrical insulator 60 is provided in the gap between the columnar body 42 and the inner wall surface of the through hole 32 of the insulating plate 22 and the inner wall surface of the recess 34 of the stage 20. Thereby, it is possible to easily and reliably prevent discharge between the columnar body 42 made of a conductive material and the stainless stage 20.
[0025]
Next, assembly of the substrate support device 16 will be described. Before the substrate support 18 is installed on the insulating plate 22, the insulator 60 is installed in the recess 34 of the stage 20 through the through hole 32 of the insulating plate 22. Further, a hexagon nut 58 is screwed into the bolt member 40 of the electrode terminal 38 provided at the bottom of the recess 34. Then, the female thread portion 54 at the lower end of the columnar body 42 is screwed into the bolt member 40 of the electrode terminal 38 until the upper end of the columnar body 42 is recessed from the upper surface of the insulating plate 22. In this state, the hexagon nut 58 screwed into the bolt member 40 is tightened upward, that is, toward the lower end of the columnar body 42, and the columnar body 42 is fixed to the bolt member 40.
[0026]
Thereafter, the substrate support 18 is mounted on the insulating plate 22, the bolt 56 is inserted from the hole 62 formed on the upper surface of the substrate support 18, and the bolt 56 is formed in a column shape through the hole formed in the electrode terminal 26 for the heater 24. The body 42 is screwed into the female thread portion 52 at the upper end portion. At this time, even if the electrode terminal 26 for the heater 24 and the electrode terminal 38 connected to the power source 36 are shifted without facing each other, the columnar body 42 is bent by the slit, so that the columnar shape By tightening the bolt 56 until the upper end of the body 42 contacts the lower surface of the substrate support 18, the electrode terminal 26 and the columnar body 42 can be reliably connected. Therefore, severe alignment between the electrode terminal 38 and the electrode terminal 26 is not necessary. In tightening the bolt 56, the columnar body 42 is fixed to the bolt member 40 of the electrode terminal 38 by the hexagon nut 58, so that the columnar body 42 does not rotate.
[0027]
As described above, in assembling the substrate support 16, the heater 24 and the power source 36 can be electrically connected very easily without using a cable. It becomes possible to do.
[0028]
Next, a case where the semiconductor manufacturing apparatus 10 is a thermal CVD apparatus, for example, and the substrate support 18 is heated by the heater 24 will be described. When the substrate support 18 is heated by the heater 24, the electrode terminal 26 embedded in the substrate support 18 is shifted in the horizontal direction with respect to the columnar body 42 due to the difference in thermal expansion. However, since the slits are formed in the columnar body 42, the columnar body 42 can be bent and absorb the difference in thermal expansion. Therefore, it is possible to reduce stress due to the difference in thermal expansion that occurs in the electrode terminal 26, the electrode terminal 38, and the like, and it is possible to prevent these damages.
[0029]
As mentioned above, although one suitable embodiment of the present invention was described in detail, it cannot be overemphasized that the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment.
[0030]
In the above embodiment, the case where eight slits are formed in the columnar body has been described, but the present invention is not limited to this. In the above embodiment, the slit is defined by a pair of upper and lower planes parallel to each other and a flat bottom surface, but the shape of the slit is not limited to this. For example, the pair of upper and lower planes may be non-parallel to each other, and the bottom surface may be curved. When the bottom surface is curved, the direction in which the slit extends refers to a direction serving as an axis when the columnar body is bent by the slit. It should be noted that the depth of each slit, the interval between slits, the number of slits, and the like are required in consideration of required current values and voltage values of electric devices such as heaters, and are also required when there is a difference in thermal expansion. It is determined appropriately in consideration of the amount.
[0031]
In the above embodiment, the case where the heater and the power source are electrically connected has been described. However, according to the present invention, since the airtightness in the vacuum chamber is not broken as described above, there are various cases. In a semiconductor manufacturing apparatus, it is possible to electrically connect an electric device installed in a vacuum chamber and a power source provided outside the vacuum chamber. Further, the present invention is not limited to the connection between the electric devices in the semiconductor manufacturing apparatus, and can be applied to the connection between various electric devices.
[0032]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the first electrode terminal included in the first electrical device and the second electrode terminal included in the second electrical device are shifted from each other without facing each other. Even so, the columnar body provided in the current introduction terminal is formed with slits extending in the direction perpendicular to the longitudinal direction thereof, so that the columnar body can be bent to absorb the deviation. Therefore, the first electrode terminal can be securely connected to one end of the columnar body, and the second electrode terminal can be securely connected to the other end, and the first electric device and the second electric device can be easily connected. Can be electrically connected. Further, in the semiconductor manufacturing apparatus, since no cable is used in the vacuum chamber, it is possible to reduce labor and time for installation and maintenance, and to shorten the working time.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic view showing a configuration of a semiconductor manufacturing apparatus.
FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a current introduction terminal attached to the semiconductor manufacturing apparatus of FIG. 1;
FIG. 3 is a perspective view of a columnar body.
4 is a cross-sectional view taken along the line IV-IV in FIG. 3;
5 is a cross-sectional view taken along line VV in FIG. 3. FIG.
FIG. 6 is a schematic view showing a configuration of a conventional semiconductor manufacturing apparatus.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Semiconductor manufacturing apparatus, 12 ... Current introduction | transduction terminal, 14 ... Vacuum chamber, 24 ... Heater, 36 ... Power supply, 26, 38 ... Electrode terminal, 42 ... Columnar body, 44a, 44b, 48a, 48b ... Slit.

Claims (5)

真空チャンバと、前記真空チャンバ内に設置された、第1の電極端子を有する第1の電気機器と、前記第1の電気機器と異なる第2の電気機器が有する第2の電極端子とを備えた半導体製造装置において
前記第1の電極端子と前記第2の電極端子との間には電流導入端子が配置されており、
前記電流導入端子は、その一端前記第1の電極端子に接触して電気的に接続されると共に、その他端前記第2の電極端子に接触して電気的に接続される、導電性材料からなる柱状体を備え、
前記柱状体には、前記柱状体の長手方向に直交する方向に延びるスリットが形成されていることを特徴とする半導体製造装置。
A vacuum chamber; a first electrical device having a first electrode terminal installed in the vacuum chamber; and a second electrode terminal of a second electrical device different from the first electrical device. in the semiconductor manufacturing apparatus,
A current introduction terminal is disposed between the first electrode terminal and the second electrode terminal,
The current introduction terminals, with its first end is electrically connected in contact with the first electrode terminal, Ru are electrically connected and the other end is in contact with the second electrode terminal, the conductive A columnar body made of materials
The semiconductor manufacturing apparatus, wherein the columnar body is formed with a slit extending in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body.
前記第1の電気機器は、被処理基板が載置される基板サポート内に埋設され、前記基板サポートを加熱する加熱ヒータであることを特徴とする請求項に記載の半導体製造装置。The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1 , wherein the first electric device is a heater that is embedded in a substrate support on which a substrate to be processed is placed and heats the substrate support. 前記スリットは、前記柱状体の長手方向に直交する第1の方向に延びる第1のスリットと、前記柱状体の長手方向に直交する方向であって、前記第1の方向と直角となる第2の方向に延びる第2のスリットとを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体製造装置。 The slit is a first slit extending in a first direction orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body, and a second direction that is orthogonal to the longitudinal direction of the columnar body and is perpendicular to the first direction. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1 , further comprising: a second slit extending in the direction of . 前記第1のスリットが前記柱状体の長手方向に沿って互い違いに複数形成されると共に、前記第2のスリットが前記柱状体の長手方向に沿って互い違いに複数形成されていることを特徴とする請求項3に記載の半導体製造装置。 A plurality of the first slits are alternately formed along the longitudinal direction of the columnar body, and a plurality of the second slits are alternately formed along the longitudinal direction of the columnar body. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 3. 前記柱状体の外周を囲むように、筒状の絶縁碍子が設けられていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体製造装置。 The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein a cylindrical insulator is provided so as to surround an outer periphery of the columnar body .
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